KR20200026461A - Metal-clad laminate, adhesive sheet, adhesive polyimide resin composition, and circuit board - Google Patents

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KR20200026461A
KR20200026461A KR1020180104413A KR20180104413A KR20200026461A KR 20200026461 A KR20200026461 A KR 20200026461A KR 1020180104413 A KR1020180104413 A KR 1020180104413A KR 20180104413 A KR20180104413 A KR 20180104413A KR 20200026461 A KR20200026461 A KR 20200026461A
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히로아키 야마다
요시키 스토
아키라 모리
도모노리 안도
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닛테츠 케미컬 앤드 머티리얼 가부시키가이샤
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Abstract

Provided are a metal-clad laminate and a circuit board, wherein the metal-clad laminate has an adhesive layer having excellent adhesion, a low dielectric constant and dielectric tangent, and capable of reducing transmission loss even in high-frequency transmission. The adhesive layer in the metal-clad laminate comprising an insulating resin layer, the adhesive layer laminated on at least one side of the insulating resin layer, and a metal layer laminated on the insulating resin layer by interposition of the adhesive layer, has a polyimide containing a tetracarboxylic acid residue and a diamine residue, and the polyimide, based on 100 mol parts of the diamine residue, contains 50 mol parts or more of the diamine residue induced by substitution of two terminal carboxylic acid groups of a dimer acid with a primary aminomethyl group or an amino group.

Description

금속 피복 적층판, 접착 시트, 접착성 폴리이미드 수지 조성물 및 회로 기판{METAL-CLAD LAMINATE, ADHESIVE SHEET, ADHESIVE POLYIMIDE RESIN COMPOSITION, AND CIRCUIT BOARD}Metal-clad laminates, adhesive sheets, adhesive polyimide resin compositions and circuit boards {METAL-CLAD LAMINATE, ADHESIVE SHEET, ADHESIVE POLYIMIDE RESIN COMPOSITION, AND CIRCUIT BOARD}

본 발명은 금속 피복 적층판, 접착 시트, 접착성 폴리이미드 수지 조성물 및 회로 기판에 관한 것이다.The present invention relates to a metal clad laminate, an adhesive sheet, an adhesive polyimide resin composition, and a circuit board.

근년, 전자 기기의 소형화, 경량화, 공간 절약화의 진전에 수반하여, 얇고 경량으로, 가요성을 갖고, 굴곡을 반복해도 우수한 내구성을 갖는 플렉시블 프린트 배선판(FPC; Flexible Printed Circuits)의 수요가 증대하고 있다. FPC는, 한정된 스페이스에서도 입체적 또한 고밀도의 실장이 가능하기 때문에, 예를 들어 HDD, DVD, 스마트폰 등의 전자 기기의 가동 부분의 배선이나, 케이블, 커넥터 등의 부품에 그 용도가 확대되고 있다.In recent years, with the progress of miniaturization, weight reduction, and space saving of electronic devices, the demand for flexible printed circuit boards (FPCs) that are thin, light, flexible, and excellent in durability even after repeated bending has increased. have. Since FPCs can be mounted in a limited space in three dimensions and with high density, for example, their use is expanding to wiring of moving parts of electronic devices such as HDDs, DVDs, smartphones, and components such as cables and connectors.

상술한 고밀도화에 추가하여, 기기의 고성능화가 진행된 점에서, 전송 신호의 고주파화로의 대응도 필요해지고 있다. 고주파 신호를 전송할 때에 전송 경로에 있어서의 전송 손실이 큰 경우, 전기 신호의 손실이나 신호의 지연 시간이 길어지는 등의 문제가 발생한다. 그 때문에, 금후에는 FPC에 있어서도, 전송 손실의 저감이 중요해진다. 고주파화에 대응하기 위해서, 저유전율, 저유전 정접을 특징으로 하는 액정 폴리머를 유전체층으로 한 FPC가 사용되고 있다. 그러나, 액정 폴리머는, 유전 특성이 우수하지만, 내열성이나 금속층과의 접착성에 개선의 여지가 있다.In addition to the above-mentioned densification, since high performance of the device has been advanced, it is also necessary to cope with the high frequency of the transmission signal. If the transmission loss in the transmission path is large when transmitting a high frequency signal, problems such as loss of an electrical signal and a long delay time of the signal occur. Therefore, in future, also in FPC, reduction of transmission loss becomes important. In order to cope with the high frequency, an FPC using a liquid crystal polymer having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent as a dielectric layer is used. However, although the liquid crystal polymer is excellent in dielectric properties, there exists room for improvement in heat resistance or adhesiveness with a metal layer.

FPC 등의 회로 기판의 재료가 되는 금속 피복 적층판에는, 배선 가공되는 금속층과, 절연 수지층을, 접착제 수지에 의한 접착층을 개재하여 접착시킨 형태(3층 금속 피복 적층판)가 알려져 있다(예를 들어, 특허문헌 1). 이러한 3층 금속 피복 적층판을, 고주파 신호 전송을 행하는 회로 기판으로의 이용을 도모하는 데 있어서는, 접착층의 유전 특성의 개선이 중요하다고 생각된다.In the metal clad laminated board used as a material of circuit boards, such as FPC, the form (three-layer metal clad laminated board) which bonded the metal layer to which wiring process and the insulating resin layer through the adhesive layer by adhesive resin is known (for example, , Patent Document 1). In order to use such a three-layer metal-clad laminated board as a circuit board which transmits a high frequency signal, improvement of the dielectric characteristic of an adhesive layer is considered important.

그런데, 폴리이미드를 주성분으로 하는 접착층에 관한 기술로서, 다이머산 등의 지방족 디아민으로부터 유도되는 디아민 화합물을 원료로 하는 폴리이미드와, 적어도 2개의 제1급 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물을 반응시켜서 얻어지는 가교 폴리이미드 수지를, 커버레이 필름의 접착제층에 적용하는 사용하는 것이 제안되어 있다(예를 들어, 특허문헌 2). 특허문헌 2의 가교 폴리이미드 수지는, 환상 실록산 화합물을 포함하는 휘발 성분을 발생시키지 않고, 우수한 땜납 내열성을 갖고, 반복하여 고온에 노출되는 사용 환경에서도, 배선층과 커버레이 필름의 접착력을 저하시키지 않는다고 하는 이점을 갖는 것이다. 그러나, 특허문헌 2에서는, 고주파 신호 전송으로의 적용 가능성이나, 3층 금속 피복 적층판에 있어서의 접착층으로의 적용에 대해서는 검토되어 있지 않다.By the way, as a technique regarding the contact bonding layer which has a polyimide as a main component, it is obtained by making the polyimide which uses diamine compounds derived from aliphatic diamines, such as dimer acid, as a raw material, and the amino compound which has at least two primary amino groups as a functional group reacts. It is proposed to apply crosslinked polyimide resin to the adhesive layer of a coverlay film (for example, patent document 2). The crosslinked polyimide resin of Patent Literature 2 does not generate a volatile component containing a cyclic siloxane compound, has excellent solder heat resistance, and does not lower the adhesive force between the wiring layer and the coverlay film even in a use environment repeatedly exposed to high temperatures. It is to have an advantage. However, in patent document 2, the applicability to high frequency signal transmission and the application to the adhesive layer in a three-layer metal clad laminated board are not examined.

국제 공개 WO2016/031960International publication WO2016 / 031960 일본 특허 제5777944호 공보Japanese Patent No. 5777944

본 발명의 목적은, 접착성이 우수하고, 유전율 및 유전 정접이 작고, 고주파 전송에 있어서도 전송 손실의 저감이 가능한 접착층을 구비한 금속 피복 적층판 및 회로 기판을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a metal-clad laminate and a circuit board having an adhesive layer which is excellent in adhesiveness, small in dielectric constant and dielectric loss tangent, and which can reduce transmission loss even in high frequency transmission.

본 발명자들은, 예의 연구의 결과, 회로 기판에 있어서 배선층과 절연 수지층과의 접착 기능을 담당하는 접착층에 폴리이미드를 사용함과 함께, 해당 폴리이미드의 원료가 되는 모노머의 종류와 양을 제어함으로써, 우수한 접착성을 유지하면서, 저유전율화 및 저유전 정접화가 가능하게 되는 것을 알아내고, 본 발명을 완성하였다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of earnest research, while using a polyimide for the adhesive layer which performs the adhesion function of a wiring layer and an insulated resin layer in a circuit board, by controlling the kind and quantity of the monomer used as a raw material of the said polyimide, It was found that low dielectric constant and low dielectric loss tangent were possible while maintaining excellent adhesion, and completed the present invention.

본 발명의 금속 피복 적층판은, 절연 수지층과, 상기 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 상기 접착층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 갖는 것이다.The metal clad laminated board of this invention has an insulating resin layer, the contact bonding layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the said insulating resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulating resin layer via the said contact bonding layer.

본 발명의 금속 피복 적층판에 있어서의 상기 접착층은, 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 함유하는 폴리이미드를 갖고 있다.The said contact bonding layer in the metal clad laminated board of this invention has the polyimide containing a tetracarboxylic-acid residue and a diamine residue.

그리고, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,And the polyimide is based on 100 mole parts of the diamine residue,

다이머산의 2개 이상의 말단 카르복실산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 한다.It is characterized by containing 50 mol part or more of diamine residues derived from the dimer acid type diamine which the 2 or more terminal carboxylic acid group of dimer acid is substituted by the primary aminomethyl group or an amino group.

본 발명의 금속 피복 적층판에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여, 하기의 일반식 (1) 및/또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기를 합계로 90몰부 이상 함유하고 있어도 된다.In the metal-clad laminate of the present invention, the polyimide is derived from tetracarboxylic anhydride represented by the following general formula (1) and / or (2) with respect to 100 mol parts of the tetracarboxylic acid residue. You may contain 90 mol part or more of tetracarboxylic-acid residues in total.

Figure pat00001
Figure pat00001

일반식 (1) 중, X는 단결합, 또는 하기 식으로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, 일반식 (2) 중, Y로 표시되는 환상 부분은 4원환, 5원환, 6원환, 7원환 또는 8원환으로부터 선택되는 환상 포화 탄화수소기를 형성하고 있는 것을 나타낸다.In general formula (1), X represents a bivalent group chosen from a single bond or the following formula, and the cyclic part represented by Y in general formula (2) is a 4-membered ring, a 5-membered ring, a 6-membered ring, a 7-membered ring, or 8 It shows what forms the cyclic saturated hydrocarbon group chosen from a ring.

Figure pat00002
Figure pat00002

상기 식에 있어서, Z는 -C6H4-, -(CH2)n- 또는 -CH2-CH(-O-C(=O)-CH3)-CH2-를 나타내지만, n은 1 내지 20의 정수를 나타낸다.In the above formula, Z represents -C 6 H 4 -,-(CH 2 ) n- or -CH 2 -CH (-OC (= 0) -CH 3 ) -CH 2- , but n represents 1 to The integer of 20 is shown.

본 발명의 금속 피복 적층판에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,In the metal-clad laminate of the present invention, the polyimide is based on 100 mole parts of the diamine residue,

상기 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 99몰부 이하의 범위 내에서 함유하고 있어도 되고,The diamine residue derived from the said dimer acid type diamine may contain 50 mol part or more and 99 mol part or less,

하기의 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 1몰부 이상 50몰부 이하의 범위 내에서 함유하고 있어도 된다.You may contain the diamine residue derived from at least 1 sort (s) of diamine compounds chosen from the diamine compound represented by following General formula (B1)-(B7) within the range of 1 mol part or more and 50 mol part or less.

Figure pat00003
Figure pat00003

식 (B1) 내지 (B7)에 있어서, R1은 독립적으로 탄소수 1 내지 6의 1가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, 연결기 A는 독립적으로 -O-, -S-, -CO-, -SO-, -SO2-, -COO-, -CH2-, -C(CH3)2-, -NH- 또는 -CONH-로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, n1은 독립적으로 0 내지 4의 정수를 나타낸다. 단, 식 (B3) 중에서 식 (B2)와 중복하는 것은 제외하고, 식 (B5) 중에서 식 (B4)와 중복하는 것은 제외하는 것으로 한다.In formulas (B1) to (B7), R 1 independently represents a monovalent hydrocarbon or alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, and the linking group A is independently —O—, —S—, —CO—, —SO— , -SO 2- , -COO-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , a divalent group selected from -NH- or -CONH-, n 1 independently represent an integer of 0 to 4 Indicates. However, it overlaps with Formula (B2) in Formula (B3), and it overlaps with Formula (B4) in Formula (B5).

본 발명의 금속 피복 적층판은, 상기 금속층이 구리박을 포함하고, 해당 구리박에 있어서의 상기 접착층과 접하는 면이 방청 처리되어 있어도 된다.In the metal-clad laminated board of this invention, the said metal layer contains copper foil, and the surface which contact | connects the said contact bonding layer in this copper foil may be antirust-treated.

본 발명의 회로 기판은, 상기 어느 것의 금속 피복 적층판의 상기 금속층을 배선으로 가공하여 이루어지는 것이다.The circuit board of this invention is a thing formed by processing the said metal layer of any of the said metal clad laminated boards by wiring.

본 발명의 접착 시트는, 절연 수지층과, 상기 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 상기 접착층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 갖는 금속 피복 적층판에 있어서 상기 접착층을 형성하기 위한 접착 시트이다.The adhesive sheet of this invention is a metal-clad laminated board which has an insulating resin layer, the adhesive layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the said insulating resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulating resin layer via the said adhesive layer, It is an adhesive sheet for forming.

본 발명의 접착 시트는, 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 함유하는 폴리이미드를 갖고 있다.The adhesive sheet of the present invention has a polyimide containing a tetracarboxylic acid residue and a diamine residue.

그리고, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,And the polyimide is based on 100 mole parts of the diamine residue,

다이머산의 2개 이상의 말단 카르복실산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 한다.It is characterized by containing 50 mol part or more of diamine residues derived from the dimer acid type diamine which the 2 or more terminal carboxylic acid group of dimer acid is substituted by the primary aminomethyl group or an amino group.

본 발명의 접착 시트에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여, 상기의 일반식 (1) 및/또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기를 합계로 90몰부 이상 함유하고 있어도 된다.In the adhesive sheet of the present invention, the polyimide is tetra-derived from tetracarboxylic anhydride represented by the general formulas (1) and / or (2) above with respect to 100 mol parts of the tetracarboxylic acid residue. You may contain 90 mol part or more of carboxylic acid residues in total.

본 발명의 접착 시트에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,In the adhesive sheet of this invention, the said polyimide is with respect to 100 mol part of the said diamine residue,

상기 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 99몰부 이하의 범위 내에서 함유하고 있어도 되고,The diamine residue derived from the said dimer acid type diamine may contain 50 mol part or more and 99 mol part or less,

상기의 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 1몰부 이상 50몰부 이하의 범위 내에서 함유하고 있어도 된다.You may contain the diamine residue guide | induced from the at least 1 sort (s) of diamine compound chosen from the diamine compound represented by said general formula (B1)-(B7) within 1 to 50 mol part.

본 발명의 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 절연 수지층과, 상기 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 상기 접착층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 갖는 금속 피복 적층판에 있어서 상기 접착층을 형성하기 위한 조성물이다.The adhesive polyimide resin composition of this invention is a metal-clad laminated board which has an insulated resin layer, the contact bonding layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the said insulated resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulating resin layer via the said contact bonding layer. It is a composition for forming the said contact bonding layer.

본 발명의 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 함유하는 폴리이미드를 포함하는 것이다.The adhesive polyimide resin composition of this invention contains the polyimide containing a tetracarboxylic-acid residue and a diamine residue.

그리고, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,And the polyimide is based on 100 mole parts of the diamine residue,

다이머산의 2개의 말단 카르복실산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 한다.It is characterized by containing 50 mol part or more of diamine residues derived from the dimer acid type diamine which the two terminal carboxylic acid group of dimer acid is substituted by the primary aminomethyl group or an amino group.

본 발명의 접착성 폴리이미드 수지 조성물에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여, 상기의 일반식 (1) 및/또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기를 합계로 90몰부 이상 함유하고 있어도 된다.In the adhesive polyimide resin composition of this invention, the said polyimide is tetracarboxylic anhydride represented by said general formula (1) and / or (2) with respect to 100 mol part of the said tetracarboxylic-acid residue. You may contain 90 mol part or more of the tetracarboxylic-acid residue guide | induced from a total.

본 발명의 접착성 폴리이미드 수지 조성물에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,In the adhesive polyimide resin composition of this invention, the said polyimide is with respect to 100 mol part of the said diamine residue,

상기 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 99몰부 이하의 범위 내에서 함유하고 있어도 되고,The diamine residue derived from the said dimer acid type diamine may contain 50 mol part or more and 99 mol part or less,

상기의 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 1몰부 이상 50몰부 이하의 범위 내에서 함유하고 있어도 된다.You may contain the diamine residue guide | induced from the at least 1 sort (s) of diamine compound chosen from the diamine compound represented by said general formula (B1)-(B7) within 1 to 50 mol part.

본 발명의 금속 피복 적층판은, 특정한 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 도입한 폴리이미드에 의해 접착층을 형성함으로써, 접착성의 확보와 저유전율화 및 저유전 정접화를 가능하게 하였다. 본 발명의 금속 피복 적층판을 이용함으로써, 예를 들어 10GHz 이상이라고 하는 고주파 신호를 전송하는 회로 기판 등으로의 적용도 가능하게 된다. 따라서, 회로 기판에 있어서 신뢰성과 수율의 향상을 도모할 수 있다.The metal-clad laminate of the present invention forms an adhesive layer with a polyimide having introduced a specific tetracarboxylic acid residue and a diamine residue, thereby making it possible to secure adhesiveness, lower dielectric constant, and lower dielectric tangent. By using the metal clad laminated board of this invention, application to the circuit board etc. which transmit a high frequency signal of 10 GHz or more, for example is also possible. Therefore, reliability and a yield can be improved in a circuit board.

본 발명의 실시 형태에 대하여 상세하게 설명한다.Embodiments of the present invention will be described in detail.

[금속 피복 적층판][Metal Clad Laminate]

본 실시 형태의 금속 피복 적층판은, 절연 수지층과, 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 접착 층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 구비하고 있고, 소위 3층 금속 피복 적층판이다. 3층 금속 피복 적층판은, 접착층이 절연 수지층의 편면 또는 양면에 설치되어 있으면 되고, 금속층은, 접착 층을 개재하여 절연 수지층의 편면 또는 양면에 설치되어 있으면 된다. 즉, 본 실시 형태의 금속 피복 적층판은, 편면 금속 피복 적층판이어도 되고, 양면 금속 피복 적층판이어도 된다. 본 실시 형태의 금속 피복 적층판의 금속층을 에칭하거나 하여 배선 회로 가공함으로써, 편면 FPC 또는 양면 FPC를 제조할 수 있다.The metal-clad laminated board of this embodiment is equipped with the insulated resin layer, the contact bonding layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the insulated resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulating resin layer via the contact bonding layer, and so-called three-layer metal Coated laminate. In the three-layer metal-clad laminate, the adhesive layer may be provided on one side or both sides of the insulated resin layer, and the metal layer may be provided on one side or both sides of the insulated resin layer via the adhesive layer. In other words, the metal-clad laminate of the present embodiment may be a single-sided metal-clad laminate or a double-sided metal-clad laminate. Single-sided FPC or double-sided FPC can be manufactured by etching the metal layer of the metal-clad laminated board of this embodiment, and wiring circuit processing.

<절연 수지층><Insulation resin layer>

절연 수지층으로서는, 전기적 절연성을 갖는 수지에 의해 구성되는 것이라면 특별히 한정은 없고, 예를 들어 폴리이미드, 에폭시 수지, 페놀 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리테트라플루오로에틸렌, 실리콘, ETFE 등을 들 수 있지만, 폴리이미드에 의해 구성되는 것이 바람직하다. 절연 수지층을 구성하는 폴리이미드층은, 단층이어도 복수층이어도 되지만, 비열가소성 폴리이미드층을 포함하는 것이 바람직하다. 여기서, 「비열가소성 폴리이미드」란, 일반적으로 가열해도 연화, 접착성을 나타내지 않는 폴리이미드인데, 본 발명에서는, 동적 점탄성 측정 장치(DMA)를 사용하여 측정한, 30℃에서의 저장 탄성률이 1.0×109Pa 이상이고, 300℃에서의 저장 탄성률이 3.0×108Pa 이상인 폴리이미드를 말한다.The insulating resin layer is not particularly limited as long as it is made of a resin having electrical insulation properties, and examples thereof include polyimide, epoxy resin, phenol resin, polyethylene, polypropylene, polytetrafluoroethylene, silicone, and ETFE. However, it is preferable that it is comprised by polyimide. Although the polyimide layer which comprises the insulated resin layer may be a single layer, or multiple layers may be sufficient, It is preferable that a non-thermoplastic polyimide layer is included. Here, "non-thermoplastic polyimide" is a polyimide which generally does not show softening and adhesiveness even when heated. In the present invention, the storage modulus at 30 ° C measured using a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA) is 1.0. × 10 9 Pa or more, and refers to the storage modulus of the polyimide at 300 ℃ less than 3.0 × 10 8 Pa.

폴리이미드는, 특정한 산 무수물과 디아민 화합물을 반응시켜서 얻어지는 전구체의 폴리아미드산을 이미드화하여 제조되므로, 산 무수물과 디아민 화합물을 설명함으로써, 비열가소성 폴리이미드의 구체예가 이해된다(후술하는 접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드에 대해서도 동일함). 또한, 본 발명에 있어서의 폴리이미드로서는, 소위 폴리이미드 외에, 폴리아미드이미드, 폴리벤즈이미다졸, 폴리이미드에스테르, 폴리에테르이미드, 폴리실록산이미드 등의 구조 중에 이미드기를 갖는 것이 포함된다.Since a polyimide is manufactured by imidating the polyamic acid of the precursor obtained by making a specific acid anhydride and a diamine compound react, the specific example of a non-thermoplastic polyimide is understood by explaining an acid anhydride and a diamine compound (forming the adhesive layer mentioned later) The same applies to the thermoplastic polyimide. In addition to the so-called polyimide, the polyimide in the present invention includes those having an imide group in structures such as polyamideimide, polybenzimidazole, polyimide ester, polyetherimide and polysiloxaneimide.

(산 무수물)(Acid anhydride)

비열가소성 폴리이미드층을 구성하는 비열가소성 폴리이미드에 사용되는 산 무수물로서는, 예를 들어 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 이무수물, 피로멜리트산 이무수물, 1,4-페닐렌비스(트리멜리트산모노에스테르) 이무수물, 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 이무수물, 4,4'-옥시디프탈산 무수물, 2,3',3,4'-비페닐테트라카르복실산 이무수물, 2,2',3,3'-, 2,3,3',4'- 또는 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 이무수물, 2,3',3,4'-디페닐에테르테트라카르복실산 이무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)에테르 이무수물, 3,3",4,4"-, 2,3,3",4"- 또는 2,2",3,3"-p-테르페닐테트라카르복실산 이무수물, 2,2-비스(2,3- 또는 3,4-디카르복시페닐)-프로판 이무수물, 비스(2,3- 또는 3,4-디카르복시페닐)메탄 이무수물, 비스(2,3- 또는 3,4-디카르복시페닐)술폰 이무수물, 1,1-비스(2,3- 또는 3,4-디카르복시페닐)에탄 이무수물, 1,2,7,8-, 1,2,6,7- 또는 1,2,9,10-페난트렌-테트라카르복실산 이무수물, 2,3,6,7-안트라센테트라카르복실산 이무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)테트라플루오로프로판 이무수물, 2,3,5,6-시클로헥산 이무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카르복실산 이무수물, 1,4,5,8-나프탈렌테트라카르복실산 이무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르복실산 이무수물, 4,8-디메틸-1,2,3,5,6,7-헥사히드로나프탈렌-1,2,5,6-테트라카르복실산 이무수물, 2,6- 또는 2,7-디클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르복실산 이무수물, 2,3,6,7-(또는 1,4,5,8-)테트라클로로나프탈렌-1,4,5,8-(또는 2,3,6,7-)테트라카르복실산 이무수물, 2,3,8,9-, 3,4,9,10-, 4,5,10,11- 또는 5,6,11,12-페릴렌-테트라카르복실산 이무수물, 시클로펜탄-1,2,3,4-테트라카르복실산 이무수물, 피라진-2,3,5,6-테트라카르복실산 이무수물, 피롤리딘-2,3,4,5-테트라카르복실산 이무수물, 티오펜-2,3,4,5-테트라카르복실산 이무수물, 4,4'-비스(2,3-디카르복시페녹시)디페닐메탄 이무수물, 2,2-비스〔4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐〕프로판 이무수물, 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물, p-페닐렌비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물), 에틸렌글리콜 비스안히드로트리멜리테이트 등의 산 이무수물을 들 수 있다.As an acid anhydride used for the non-thermoplastic polyimide which comprises a non-thermoplastic polyimide layer, it is 3,3 ', 4,4'-biphenyl tetracarboxylic dianhydride, a pyromellitic dianhydride, 1,4, for example. -Phenylenebis (trimelitic acid monoester) dianhydride, 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfontetracarboxylic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic anhydride, 2,3', 3 , 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2 ', 3,3'-, 2,3,3', 4'- or 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic Acid dianhydride, 2,3 ', 3,4'-diphenylethertetracarboxylic dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) ether dianhydride, 3,3 ", 4,4"-, 2 , 3,3 ", 4"-or 2,2 ", 3,3" -p-terphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (2,3- or 3,4-dicarboxyphenyl) Propane dianhydride, bis (2,3- or 3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (2,3- or 3,4-dicarboxyphenyl) sulfon dianhydride, 1,1-bis (2 , 3- or 3,4- Carboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,2,7,8-, 1,2,6,7- or 1,2,9,10-phenanthrene-tetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7 Anthracenetetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) tetrafluoropropane dianhydride, 2,3,5,6-cyclohexane dianhydride, 1,2,5,6 -Naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 4,8-dimethyl-1,2 , 3,5,6,7-hexahydronaphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 2,6- or 2,7-dichloronaphthalene-1,4,5,8-tetracar Acid dianhydrides, 2,3,6,7- (or 1,4,5,8-) tetrachloronaphthalene-1,4,5,8- (or 2,3,6,7-) tetracarboxyl Acid dianhydrides, 2,3,8,9-, 3,4,9,10-, 4,5,10,11- or 5,6,11,12-perylene-tetracarboxylic dianhydride, cyclo Pentane-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, pyrazine-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride Anhydride, pyrrolidine-2,3,4,5-tetracarboxylic dianhydride, thiophene-2,3,4,5-tetracarboxylic dianhydride, 4,4'-bis (2,3- Dicarboxyphenoxy) diphenylmethane dianhydride, 2,2-bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride, 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic acid Acid dianhydrides, such as anhydride, p-phenylene bis (trimelitic acid monoester acid anhydride), and ethylene glycol bis-anhydro trimellitate, are mentioned.

(디아민 화합물)(Diamine compound)

비열가소성 폴리이미드층을 구성하는 비열가소성 폴리이미드에 사용되는 디아민 화합물로서는, 방향족 디아민 화합물 또는 지방족 디아민 화합물을 들 수 있다. 그것들의 구체예로서는, 1,4-디아미노벤젠(p-PDA; 파라페닐렌디아민), 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐(m-TB), 2,2'-n-프로필-4,4'-디아미노비페닐(m-NPB), 4-아미노페닐-4'-아미노벤조에이트(APAB), 2,2-비스-[4-(3-아미노페녹시)페닐]프로판, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]술폰, 비스[4-(3-아미노페녹시)비페닐, 비스[1-(3-아미노페녹시)]비페닐, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]메탄, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(3-아미노페녹시)]벤조페논, 9,9-비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]플루오렌, 2,2-비스-[4-(4-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판, 2,2-비스-[4-(3-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 4,4'-메틸렌디-o-톨루이딘, 4,4'-메틸렌디-2,6-크실리딘, 4,4'-메틸렌-2,6-디에틸아닐린, 3,3'-디아미노디페닐에탄, 3,3'-디아미노비페닐, 3,3'-디메톡시벤지딘, 3,3"-디아미노-p-테르페닐, 4,4'-[1,4-페닐렌비스(1-메틸에틸리덴)]비스아닐린, 4,4'-[1,3-페닐렌비스(1-메틸에틸리덴)]비스아닐린, 비스(p-아미노시클로헥실)메탄, 비스(p-β-아미노-t-부틸페닐)에테르, 비스(p-β-메틸-δ-아미노펜틸)벤젠, p-비스(2-메틸-4-아미노펜틸)벤젠, p-비스(1,1-디메틸-5-아미노펜틸)벤젠, 1,5-디아미노나프탈렌, 2,6-디아미노나프탈렌, 2,4-비스(β-아미노-t-부틸)톨루엔, 2,4-디아미노톨루엔, m-크실렌-2,5-디아민, p-크실렌-2,5-디아민, m-크실릴렌디아민, p-크실릴렌디아민, 2,6-디아미노 피리딘, 2,5-디아미노 피리딘, 2,5-디아미노-1,3,4-옥사디아졸, 피페라진, 2'-메톡시-4,4'-디아미노벤즈아닐리드, 4,4'-디아미노벤즈아닐리드, 1,3-비스[2-(4-아미노페닐)-2-프로필]벤젠, 6-아미노-2-(4-아미노페녹시)벤조옥사졸, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 다이머산의 2개의 말단 카르복실산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머산형 디아민 등의 디아민 화합물을 들 수 있다.As a diamine compound used for the non-thermoplastic polyimide which comprises a non-thermoplastic polyimide layer, an aromatic diamine compound or an aliphatic diamine compound is mentioned. Specific examples thereof include 1,4-diaminobenzene (p-PDA; paraphenylenediamine), 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl (m-TB), and 2,2'- n-propyl-4,4'-diaminobiphenyl (m-NPB), 4-aminophenyl-4'-aminobenzoate (APAB), 2,2-bis- [4- (3-aminophenoxy) Phenyl] propane, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) biphenyl, bis [1- (3-aminophenoxy)] biphenyl, bis [ 4- (3-aminophenoxy) phenyl] methane, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] ether, bis [4- (3-aminophenoxy)] benzophenone, 9,9-bis [4 -(3-aminophenoxy) phenyl] fluorene, 2,2-bis- [4- (4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane, 2,2-bis- [4- (3-aminophenoxy Phenyl] hexafluoropropane, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 4,4'-methylenedi-o-toluidine, 4,4'-methylenedi-2,6- Xyldine, 4,4'-methylene-2,6-diethylaniline, 3,3'-diaminodiphenylethane, 3,3'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethock Benzidine, 3,3 "-diamino-p-terphenyl, 4,4 '-[1,4-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, 4,4'-[1,3- Phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, bis (p-aminocyclohexyl) methane, bis (p-β-amino-t-butylphenyl) ether, bis (p-β-methyl-δ- Aminopentyl) benzene, p-bis (2-methyl-4-aminopentyl) benzene, p-bis (1,1-dimethyl-5-aminopentyl) benzene, 1,5-diaminonaphthalene, 2,6-dia Minonaphthalene, 2,4-bis (β-amino-t-butyl) toluene, 2,4-diaminotoluene, m-xylene-2,5-diamine, p-xylene-2,5-diamine, m-ch Silylenediamine, p-xylylenediamine, 2,6-diamino pyridine, 2,5-diamino pyridine, 2,5-diamino-1,3,4-oxadiazole, piperazine, 2'- Methoxy-4,4'-diaminobenzanilide, 4,4'-diaminobenzanilide, 1,3-bis [2- (4-aminophenyl) -2-propyl] benzene, 6-amino-2- (4-aminophenoxy) benzoxazole, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, dimer acid 2 And diamine compounds such as dimer acid type diamine in which the terminal carboxylic acid groups are substituted with a primary aminomethyl group or an amino group.

비열가소성 폴리이미드에 있어서, 상기 산 무수물, 디아민 화합물의 종류나, 2종 이상의 산 무수물, 디아민 화합물을 적용하는 경우의 각각의 몰비를 선정함으로써, 열팽창 계수, 저장 탄성률, 인장 탄성률 등을 제어할 수 있다. 또한, 비열가소성 폴리이미드에 있어서, 폴리이미드의 구조 단위를 복수 갖는 경우에는, 블록으로서 존재해도, 랜덤으로 존재하고 있어도 되지만, 면 내 변동을 억제하는 관점에서, 랜덤으로 존재하는 것이 바람직하다.In the non-thermoplastic polyimide, the thermal expansion coefficient, storage modulus, tensile modulus, and the like can be controlled by selecting the types of the acid anhydride and the diamine compound, and the molar ratios in the case of applying two or more acid anhydrides and the diamine compound. have. Moreover, in the non-thermoplastic polyimide, when it has two or more structural units of a polyimide, although it exists as a block or may exist at random, it is preferable to exist at random from a viewpoint of suppressing in-plane fluctuations.

절연 수지층의 두께는, 예를 들어 1 내지 125㎛의 범위 내에 있는 것이 바람직하고, 5 내지 50㎛의 범위 내가 보다 바람직하다. 절연 수지층의 두께가 상기 하한값에 만족하지 않으면, 충분한 전기 절연성을 담보할 수 없는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다. 한편, 절연 수지층의 두께가 상기 상한값을 초과하면, 금속 피복 적층판의 휨이 발생하기 쉬워지는 등의 문제가 발생한다. 또한, 절연 수지층의 두께와 접착층의 두께의 비(절연 수지층의 두께/접착층의 두께)는 0.5 내지 2.0의 범위 내가 바람직하다. 이러한 비율로 함으로써, 금속 피복 적층판의 휨을 억제할 수 있다.It is preferable to exist in the range of 1-125 micrometers, for example, and, as for the thickness of an insulated resin layer, the inside of the range which is 5-50 micrometers is more preferable. When the thickness of an insulated resin layer does not satisfy | fill the said lower limit, the problem of not being able to ensure sufficient electrical insulation may arise. On the other hand, when the thickness of an insulated resin layer exceeds the said upper limit, the problem that a warpage of a metal-clad laminated board becomes easy to generate | occur | produce arises. In addition, the ratio (thickness of the thickness of the insulating resin layer / adhesive layer) of the thickness of the insulating resin layer and the thickness of the adhesive layer is preferably in the range of 0.5 to 2.0. By setting it as such a ratio, the curvature of a metal clad laminated board can be suppressed.

절연 수지층을 구성하는 비열가소성 폴리이미드층은 저열 팽창성이고, 열팽창 계수(CTE)가 바람직하게는 10ppm/K 이상 30ppm/K 이하의 범위 내, 보다 바람직하게는 10ppm/K 이상 25ppm/K 이하의 범위 내이다. CTE가 10ppm/K 미만이거나, 또는 30ppm/K를 초과하면, 휨이 발생하거나, 치수 안정성이 저하되거나 한다. 사용하는 원료의 조합, 두께, 건조·경화 조건을 적절히 변경함으로써 원하는 CTE를 갖는 폴리이미드층으로 할 수 있다.The non-thermoplastic polyimide layer constituting the insulating resin layer is low thermally expandable, and the coefficient of thermal expansion (CTE) is preferably in the range of 10 ppm / K or more and 30 ppm / K or less, more preferably 10 ppm / K or more and 25 ppm / K or less. In range If the CTE is less than 10 ppm / K or more than 30 ppm / K, warpage occurs or dimensional stability is degraded. It can be set as the polyimide layer which has a desired CTE by changing suitably the combination of the raw material to be used, thickness, and drying and hardening conditions.

절연 수지층은, 예를 들어 회로 기판에 적용하는 경우에 있어서, 유전 손실의 악화를 억제하기 위해서, 10GHz에 있어서의 유전 정접(Tanδ)은 0.02 이하, 보다 바람직하게는 0.0005 이상 0.01 이하의 범위 내, 더욱 바람직하게는 0.001 이상 0.008 이하의 범위 내가 좋다. 절연 수지층의 10GHz에 있어서의 유전 정접이 0.02를 초과하면, FPC 등의 회로 기판에 사용했을 때에, 고주파 신호의 전송 경로 상에서 전기 신호의 손실 등의 문제가 발생하기 쉬워진다. 한편, 절연 수지층의 10GHz에 있어서의 유전 정접의 하한값은 특별히 제한되지 않지만, 회로 기판의 절연 수지층으로서의 물성 제어를 고려하고 있다.In the case where the insulating resin layer is applied to, for example, a circuit board, in order to suppress deterioration of the dielectric loss, the dielectric tangent (Tanδ) at 10 GHz is 0.02 or less, more preferably in the range of 0.0005 or more and 0.01 or less. More preferably, it is good in the range of 0.001 or more and 0.008 or less. When the dielectric loss tangent at 10 GHz of the insulated resin layer exceeds 0.02, problems such as loss of an electrical signal are likely to occur on a transmission path of a high frequency signal when used for a circuit board such as an FPC. On the other hand, the lower limit of the dielectric loss tangent at 10 GHz of the insulated resin layer is not particularly limited, but physical property control as the insulated resin layer of the circuit board is considered.

절연 수지층은, 예를 들어 회로 기판의 절연층으로서 적용하는 경우에 있어서, 임피던스 정합성을 확보하기 위해서, 절연층 전체로서, 10GHz에 있어서의 유전율이 4.0 이하인 것이 바람직하다. 절연 수지층에 10GHz에 있어서의 유전율이 4.0을 초과하면, FPC 등의 회로 기판에 사용했을 때에, 절연 수지층의 유전 손실 악화에 연결되고, 고주파 신호의 전송 경로 상에서 전기 신호의 손실 등의 문제가 발생하기 쉬워진다.In the case where the insulating resin layer is applied as an insulating layer of a circuit board, for example, in order to ensure impedance matching, the dielectric constant at 10 GHz is preferably 4.0 or less as the whole insulating layer. When the dielectric constant at 10 GHz of the insulated resin layer exceeds 4.0, when used in a circuit board such as an FPC, the dielectric loss of the insulated resin layer is deteriorated, and problems such as loss of an electrical signal on a transmission path of a high frequency signal are caused. It is easy to occur.

절연 수지층은, 필요에 따라, 필러를 함유해도 된다. 필러로서는, 예를 들어 이산화규소, 산화알루미늄, 산화마그네슘, 산화베릴륨, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화규소, 불화알루미늄, 불화칼슘, 유기 포스핀산의 금속염 등을 들 수 있다. 이것들은 1종 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.The insulated resin layer may contain a filler as needed. Examples of the filler include silicon dioxide, aluminum oxide, magnesium oxide, beryllium oxide, boron nitride, aluminum nitride, silicon nitride, aluminum fluoride, calcium fluoride, metal salts of organic phosphinic acid, and the like. These can be used 1 type or in mixture of 2 or more types.

<접착층><Adhesive layer>

접착층은, 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 함유하는 폴리이미드를 포함하는 것이고, 열가소성 폴리이미드를 포함하는 것이 바람직하다. 여기서, 「열가소성 폴리이미드」란, 일반적으로 유리 전이 온도(Tg)를 명확하게 확인할 수 있는 폴리이미드인데, 본 발명에서는, DMA를 사용하여 측정한, 30℃에서의 저장 탄성률이 1.0×108Pa 이상이고, 300℃에서의 저장 탄성률이 3.0×107Pa 미만인 폴리이미드를 말한다. 또한, 본 발명에 있어서, 테트라카르복실산 잔기란, 테트라카르복실산 이무수물로부터 유도된 4가의 기를 의미하고, 디아민 잔기란, 디아민 화합물로부터 유도된 2가의 기를 의미한다.The adhesive layer contains a polyimide containing a tetracarboxylic acid residue derived from tetracarboxylic anhydride and a diamine residue derived from a diamine compound, and preferably contains a thermoplastic polyimide. Here, "thermoplastic polyimide" is generally a polyimide which can clearly confirm the glass transition temperature (Tg), but in the present invention, the storage modulus at 30 ° C. measured using DMA is 1.0 × 10 8 Pa It is the above and says the polyimide whose storage elastic modulus in 300 degreeC is less than 3.0 * 10 <7> Pa. In addition, in this invention, a tetracarboxylic acid residue means the tetravalent group derived from tetracarboxylic dianhydride, and a diamine residue means the divalent group derived from a diamine compound.

(테트라카르복실산 잔기)(Tetracarboxylic acid residue)

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여, 하기의 일반식 (1) 및/또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기(이하, 「테트라카르복실산 잔기 (1), 「테트라카르복실산 잔기 (2)」라고 기재하는 경우가 있음)를, 합계로 90몰부 이상 함유하는 것이 바람직하다. 본 발명에서는, 테트라카르복실산 잔기 (1) 및/또는 (2)를 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여 합계로 90몰부 이상 함유시킴으로써, 접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드에 용제 가용성을 부여함과 함께, 열가소성 폴리이미드의 유연성과 내열성의 양립이 도모하기 쉬워 바람직하다. 테트라카르복실산 잔기 (1) 및/또는 (2)의 합계가 90몰부 미만에서는, 열가소성 폴리이미드의 용제 용해성이 저하되는 경향이 된다.The thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer is a tetracarboxylic acid residue derived from tetracarboxylic anhydride represented by following General formula (1) and / or (2) with respect to 100 mol part of tetracarboxylic acid residue ( Hereinafter, it is preferable to contain "tetracarboxylic acid residue (1) and the" tetracarboxylic acid residue (2) "may be 90 mol part or more in total. In the present invention, the solvent solubility is imparted to the thermoplastic polyimide forming the adhesive layer by containing tetracarboxylic acid residues (1) and / or (2) in total of 90 mol parts or more with respect to 100 mol parts of the tetracarboxylic acid residues. In addition, both the flexibility and the heat resistance of the thermoplastic polyimide are easy to achieve, and are preferable. When the sum total of tetracarboxylic-acid residue (1) and / or (2) is less than 90 mol part, the solvent solubility of a thermoplastic polyimide will fall.

Figure pat00004
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일반식 (1) 중, X는 단결합, 또는 하기 식으로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, 일반식 (2) 중, Y로 표시되는 환상 부분은 4원환, 5원환, 6원환, 7원환 또는 8원환으로부터 선택되는 환상 포화 탄화수소기를 형성하고 있는 것을 나타낸다.In general formula (1), X represents a bivalent group chosen from a single bond or the following formula, and the cyclic part represented by Y in general formula (2) is a 4-membered ring, a 5-membered ring, a 6-membered ring, a 7-membered ring, or 8 It shows what forms the cyclic saturated hydrocarbon group chosen from a ring.

Figure pat00005
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상기 식에 있어서, Z는 -C6H4-, -(CH2)n- 또는 -CH2-CH(-O-C(=O)-CH3)-CH2-를 나타내지만, n은 1 내지 20의 정수를 나타낸다.In the above formula, Z represents -C 6 H 4 -,-(CH 2 ) n- or -CH 2 -CH (-OC (= 0) -CH 3 ) -CH 2- , but n represents 1 to The integer of 20 is shown.

테트라카르복실산 잔기 (1)을 유도하기 위한 테트라카르복실산 이무수물로서는, 예를 들어 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 이무수물(BPDA), 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 이무수물(BTDA), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 이무수물, 4,4'-옥시디프탈산 무수물(ODPA), 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디 프탈산 무수물(6FDA), 2,2-비스〔4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐〕프로판 이무수물(BPADA), p-페닐렌비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) 등을 들 수 있다.Examples of the tetracarboxylic dianhydride for deriving the tetracarboxylic acid residue (1) include 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA), 3,3', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfontetracarboxylic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic anhydride (ODPA), 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (6FDA), 2,2-bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride (BPADA), p-phenyl Lenbis (trimelitic acid monoester acid anhydride) and the like.

또한, 테트라카르복실산 잔기 (2)를 유도하기 위한 테트라카르복실산 이무수물로서는, 예를 들어 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복실산 이무수물, 1,2,3,4-시클로펜탄테트라카르복실산 이무수물, 1,2,4,5-시클로헥산테트라카르복실산 이무수물, 1,2,4,5-시클로헵탄테트라카르복실산 이무수물, 1,2,5,6-시클로옥탄테트라카르복실산 이무수물 등을 들 수 있다.Moreover, as tetracarboxylic dianhydride for inducing the tetracarboxylic acid residue (2), for example, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4- Cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,5-cycloheptane tetracarboxylic dianhydride, 1,2,5,6 -Cyclooctane tetracarboxylic dianhydride, etc. are mentioned.

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 상기 일반식 (1) 또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물 이외의 산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기를 함유할 수 있다. 테트라카르복실산 잔기 (1) 또는 (2) 이외의 산 무수물 잔기로서는, 전술한 절연 수지층에 있어서의 비열가소성 폴리이미드층을 구성하는 비열가소성 폴리이미드에 사용되는 산 무수물로서 예시한 것의 잔기를 들 수 있다.The thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer is a tetracarboxylic-acid residue derived from acid anhydrides other than tetracarboxylic anhydride represented by said General formula (1) or (2) in the range which does not impair the effect of this invention. It may contain. As acid anhydride residues other than tetracarboxylic-acid residue (1) or (2), the residue of what was illustrated as an acid anhydride used for the non-thermoplastic polyimide which comprises the non-thermoplastic polyimide layer in the insulating resin layer mentioned above is mentioned. Can be mentioned.

(디아민 잔기)(Diamine residues)

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 디아민 잔기의 100몰부에 대하여, 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 다이머산형 디아민 잔기를 50몰부 이상, 바람직하게는 50몰부 이상 함유한다. 다이머산형 디아민 잔기를 상기의 양으로 함유함으로써, 접착층의 유전 특성을 개선시킴과 함께, 접착층에 필요한 유연성을 확보할 수 있다. 디아민 잔기의 100몰부에 대하여, 다이머산형 디아민 잔기가 50몰부 미만이면, 절연 수지층과 금속층 사이에 개재하는 접착층으로서 충분한 접착성이 얻어지지 않는 경우가 있고, 또한 금속 피복 적층판의 휨이 발생하는 경우가 있다.The thermoplastic polyimide forming the adhesive layer contains 50 mol parts or more, preferably 50 mol parts or more of dimer acid type diamine residues derived from dimer acid type diamine with respect to 100 mol parts of diamine residues. By containing the dimer acid type diamine residue in the said quantity, the dielectric property of an adhesive layer can be improved and the flexibility required for an adhesive layer can be ensured. When the dimer acid type diamine residue is less than 50 mol part with respect to 100 mol part of a diamine residue, sufficient adhesiveness may not be obtained as an adhesive layer interposed between an insulated resin layer and a metal layer, and the curvature of a metal clad laminated board arises. There is.

여기서, 다이머산형 디아민이란, 다이머산의 2개의 말단 카르복실산기(-COOH)가 1급의 아미노메틸기(-CH2-NH2) 또는 아미노기(-NH2)로 치환되어 이루어지는 디아민을 의미한다. 다이머산은, 불포화 지방산의 분자 간 중합 반응에 의해 얻어지는 기지의 이염기산이며, 그 공업적 제조 프로세스는 업계에서 거의 표준화되고 있고, 탄소수가 11 내지 22의 불포화 지방산을 점토 촉매 등으로 이량화하여 얻어진다. 공업적으로 얻어지는 다이머산은, 올레산이나 리놀레산 등의 탄소수 18의 불포화 지방산을 이량화함으로써 얻어지는 탄소수 36의 이염기산이 주성분인데, 정제의 정도에 따라, 임의량의 모노머산(탄소수 18), 삼량체 산(탄소수 54), 탄소수 20 내지 54의 다른 중합 지방산을 함유한다. 본 발명에서는, 다이머산은 분자 증류에 의해 다이머산 함유량을 90중량% 이상으로까지 높인 것을 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 이량체화 반응 후에는 이중 결합이 잔존하는데, 본 발명에서는, 추가로 수소 첨가 반응하여 불포화도를 저하시킨 것도 다이머산에 포함하는 것으로 한다.Here, the dimer acid type is a diamine, the two terminal carboxylic acid groups (-COOH) of the dimer acid is substituted with amino group (-CH 2 -NH 2) or amino group (-NH 2) of the first class means comprising diamine. Dimer acid is a known dibasic acid obtained by intermolecular polymerization of unsaturated fatty acids, and its industrial production process is almost standardized in the industry, and is obtained by dimerizing unsaturated fatty acids having 11 to 22 carbon atoms with a clay catalyst or the like. . The industrially obtained dimer acid is a dibasic acid having 36 carbon atoms obtained by dimerizing an unsaturated fatty acid having 18 carbon atoms such as oleic acid or linoleic acid, and according to the degree of purification, an arbitrary amount of monomeric acid (18 carbon atoms) and trimer acid (54 carbon atoms) and other polymerized fatty acids having 20 to 54 carbon atoms are contained. In this invention, it is preferable to use what dimer acid raised the dimer acid content to 90 weight% or more by molecular distillation. In addition, although a double bond remains after a dimerization reaction, in this invention, what was further hydrogenated and the degree of unsaturation is also included in dimer acid.

다이머산형 디아민의 특징으로서, 다이머산의 골격에서 유래되는 특성을 폴리이미드에 부여할 수 있다. 즉, 다이머산형 디아민은, 분자량 약 560 내지 620의 거대 분자의 지방족이므로, 분자의 몰 부피를 크게 하고, 폴리이미드의 극성기를 상대적으로 저감시킬 수 있다. 이러한 다이머산형 디아민의 특징은, 폴리이미드의 내열성 저하를 억제하면서, 유전율과 유전 정접을 작게 하여 유전 특성을 향상시키는 것에 기여한다고 생각된다. 또한, 2개의 자유롭게 움직이는 탄소수 7 내지 9의 소수쇄와, 탄소수 18에 가까운 길이를 갖는 2개의 쇄상의 지방족 아미노기를 가지므로, 폴리이미드에 유연성을 부여할 뿐만 아니라, 폴리이미드를 비대상적인 화학 구조나 비평면적인 화학 구조로 할 수 있으므로, 폴리이미드의 저유전율화 및 저유전 정접화를 도모할 수 있다고 생각된다.As a characteristic of the dimer acid type diamine, the characteristic derived from the skeleton of a dimer acid can be provided to a polyimide. That is, since the dimer acid type diamine is aliphatic of the macromolecule of the molecular weight about 560-620, it can enlarge the molar volume of a molecule | numerator and can reduce the polar group of polyimide relatively. It is thought that such a characteristic of the dimer-type diamine contributes to improving the dielectric properties by reducing the dielectric constant and dielectric loss tangent while suppressing the decrease in heat resistance of the polyimide. In addition, it has two freely moving hydrophobic chains having 7 to 9 carbon atoms and two chain aliphatic amino groups having a length close to 18 carbon atoms, which not only gives flexibility to the polyimide but also has a non-target chemical structure. Since it is possible to have a non-planar chemical structure, it is thought that low dielectric constant and low dielectric loss tangent can be achieved.

다이머산형 디아민은, 시판품이 입수 가능하고, 예를 들어 크로다 재팬사제의 PRIAMINE1073(상품명), 동 PRIAMINE1074(상품명), 동 PRIAMINE1075(상품명), 코그니스 재팬사제의 바사민 551(상품명), 동 바사민 552(상품명) 등을 들 수 있다.A commercial item is available for the dimer-type diamine, for example, PRIAMINE1073 (brand name), copper PRIAMINE1074 (brand name), copper PRIAMINE1075 (brand name), copper BASamine 551 (brand name) made by Cogness Japan company, the copper bar Samine 552 (brand name) etc. are mentioned.

또한, 접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 하기의 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를, 전체 디아민 성분 100몰부에 대하여, 합계로 1몰부 이상 50몰부 이하의 범위 내에서 함유하는 것이 바람직하고, 1몰부 이상 20몰부 이하의 범위 내에서 함유하는 것이 보다 바람직하다. 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물은, 굴곡성을 갖는 분자 구조를 갖기 때문에, 이것들로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물을 상기 범위 내의 양으로 사용함으로써, 폴리이미드 분자쇄의 유연성을 향상시켜, 열가소성을 부여할 수 있다. 디아민 (B1) 내지 디아민 (B7)의 합계량이 전체 디아민 성분의 100몰부에 대하여 50몰부를 초과하면, 폴리이미드의 용제 용해성이 낮아지는 경우가 있고, 1몰부 미만이면 폴리이미드의 유연성이 부족하고, 고온에서의 가공성이 저하되는 경우가 있다.In addition, the thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer has a diamine residue derived from at least 1 sort (s) of diamine compounds chosen from the diamine compounds represented by the following general formula (B1)-(B7) with respect to 100 mol part of all diamine components. In total, it is preferable to contain in 1 mol part or more and 50 mol part or less, and it is more preferable to contain in 1 mol part or more and 20 mol part or less. Since the diamine compounds represented by the general formulas (B1) to (B7) have a molecular structure having flexibility, the flexibility of the polyimide molecular chain by using at least one diamine compound selected from these in an amount within the above range Can be improved and thermoplasticity can be provided. When the total amount of diamines (B1) to diamine (B7) exceeds 50 mol parts with respect to 100 mol parts of all the diamine components, the solvent solubility of polyimide may become low, and if it is less than 1 mol part, the flexibility of polyimide will be insufficient, Workability at high temperature may decrease.

Figure pat00006
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식 (B1) 내지 (B7)에 있어서, R1은 독립적으로 탄소수 1 내지 6의 1가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, 연결기 A는 독립적으로 -O-, -S-, -CO-, -SO-, -SO2-, -COO-, -CH2-, -C(CH3)2-, -NH- 또는 -CONH-로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, n1은 독립적으로 0 내지 4의 정수를 나타낸다. 단, 식 (B3) 중에서 식 (B2)와 중복하는 것은 제외하고, 식 (B5) 중에서 식 (B4)와 중복하는 것은 제외하는 것으로 한다.In formulas (B1) to (B7), R 1 independently represents a monovalent hydrocarbon or alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, and the linking group A is independently —O—, —S—, —CO—, —SO— , -SO 2- , -COO-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , a divalent group selected from -NH- or -CONH-, n 1 independently represent an integer of 0 to 4 Indicates. However, it overlaps with Formula (B2) in Formula (B3), and it overlaps with Formula (B4) in Formula (B5).

또한, 식 (B1) 내지 (B7)에 있어서, 말단의 2개의 아미노기에 있어서의 수소 원자는 치환되어 있어도 되고, 예를 들어 -NR2R3(여기서, R2, R3은, 독립하여 알킬기 등의 임의의 치환기를 의미함)이어도 된다.In the formulas (B1) to (B7), the hydrogen atom in the terminal two amino groups may be substituted, for example, -NR 2 R 3 (wherein R 2 and R 3 are independently an alkyl group). Arbitrary substituents, such as these) may be sufficient.

식 (B1)로 표시되는 디아민(이하, 「디아민 (B1)」이라고 기재하는 경우가 있음)은, 2개의 벤젠환을 갖는 방향족 디아민이다. 이 디아민 (B1)은 적어도 하나의 벤젠환에 직결한 아미노기와 2가의 연결기 A가 메타 위치에 있음으로써, 폴리이미드 분자쇄가 갖는 자유도가 증가하여 높은 굴곡성을 갖고 있고, 폴리이미드 분자쇄의 유연성의 향상에 기여한다고 생각된다. 따라서, 디아민 (B1)을 사용함으로써 폴리이미드의 열가소성이 높아진다. 여기서, 연결기 A로서는 -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -CO-, -SO2-, -S-, -COO-가 바람직하다.The diamine represented by Formula (B1) (hereinafter may be described as "diamine (B1)") is an aromatic diamine which has two benzene rings. This diamine (B1) has an amino group and a divalent linking group A directly connected to at least one benzene ring in the meta position, thereby increasing the degree of freedom of the polyimide molecular chain and having high bendability. It seems to contribute to improvement. Therefore, the thermoplasticity of a polyimide becomes high by using diamine (B1). As the linking group A, -O-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , -CO-, -SO 2- , -S-, and -COO- are preferable.

디아민 (B1)로서는, 예를 들어 3,3'-디아미노디페닐메탄, 3,3'-디아미노디페닐프로판, 3,3'-디아미노디페닐술피드, 3,3'-디아미노디페닐술폰, 3,3-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐메탄, 3,4'-디아미노디페닐프로판, 3,4'-디아미노디페닐술피드, 3,3'-디아미노벤조페논, (3,3'-비스아미노)디페닐아민 등을 들 수 있다.As diamine (B1), it is 3,3'- diamino diphenylmethane, 3,3'- diamino diphenyl propane, 3,3'- diamino diphenyl sulfide, 3,3'- diamino, for example. Diphenylsulfone, 3,3-diaminodiphenylether, 3,4'-diaminodiphenylether, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylpropane, 3,4 '-Diaminodiphenyl sulfide, 3,3'-diaminobenzophenone, (3,3'-bisamino) diphenylamine, etc. are mentioned.

식 (B2)로 표시되는 디아민(이하, 「디아민 (B2)」라고 기재하는 경우가 있음)은, 3개의 벤젠환을 갖는 방향족 디아민이다. 이 디아민 (B2)는, 적어도 하나의 벤젠환에 직결한 아미노기와 2가의 연결기 A가 메타 위치에 있음으로써, 폴리이미드 분자쇄가 갖는 자유도가 증가하여 높은 굴곡성을 갖고 있고, 폴리이미드 분자쇄의 유연성의 향상에 기여한다고 생각된다. 따라서, 디아민 (B2)를 사용함으로써 폴리이미드의 열가소성이 높아진다. 여기서, 연결기 A로서는, -O-가 바람직하다.The diamine represented by Formula (B2) (hereinafter may be described as "diamine (B2)") is an aromatic diamine which has three benzene rings. The diamine (B2) has a high degree of flexibility due to an increase in the degree of freedom of the polyimide molecular chain by having an amino group and a divalent linking group A directly connected to at least one benzene ring in a meta position, and the flexibility of the polyimide molecular chain. It seems to contribute to improvement. Therefore, the thermoplasticity of a polyimide becomes high by using diamine (B2). Here, as the linking group A, -O- is preferable.

디아민 (B2)로서는, 예를 들어 1,4-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 3-[4-(4-아미노페녹시)페녹시]벤젠아민, 3-[3-(4-아미노페녹시)페녹시]벤젠아민 등을 들 수 있다.Examples of the diamine (B2) include 1,4-bis (3-aminophenoxy) benzene, 3- [4- (4-aminophenoxy) phenoxy] benzeneamine, and 3- [3- (4-amino Phenoxy) phenoxy] benzeneamine etc. are mentioned.

식 (B3)으로 표시되는 디아민(이하, 「디아민 (B3)」이라고 기재하는 경우가 있음)은, 3개의 벤젠환을 갖는 방향족 디아민이다. 이 디아민 (B3)은, 1개의 벤젠환에 직결한, 2개의 2가의 연결기 A가 서로 메타 위치에 있음으로써, 폴리이미드 분자쇄가 갖는 자유도가 증가하여 높은 굴곡성을 갖고 있고, 폴리이미드 분자쇄의 유연성의 향상에 기여한다고 생각된다. 따라서, 디아민 (B3)을 사용함으로써, 폴리이미드의 열가소성이 높아진다. 여기서, 연결기 A로서는, -O-가 바람직하다.The diamine represented by Formula (B3) (hereinafter may be described as "diamine (B3)") is an aromatic diamine which has three benzene rings. The diamine (B3) has a high degree of flexibility due to an increase in the degree of freedom of the polyimide molecular chain due to the presence of two divalent linking groups A directly connected to one benzene ring in a meta position, and thus the polyimide molecular chain It seems to contribute to the improvement of flexibility. Therefore, the thermoplasticity of a polyimide becomes high by using diamine (B3). Here, as the linking group A, -O- is preferable.

디아민 (B3)으로서는, 예를 들어 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠(TPE-R), 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠(APB), 4,4'-[2-메틸-(1,3-페닐렌)비스옥시]비스아닐린, 4,4'-[4-메틸-(1,3-페닐렌)비스옥시]비스아닐린, 4,4'-[5-메틸-(1,3-페닐렌)비스옥시]비스아닐린 등을 들 수 있다.As diamine (B3), it is 1, 3-bis (4-amino phenoxy) benzene (TPE-R), 1, 3-bis (3-amino phenoxy) benzene (APB), 4,4'-, for example. [2-methyl- (1,3-phenylene) bisoxy] bisaniline, 4,4 '-[4-methyl- (1,3-phenylene) bisoxy] bisaniline, 4,4'-[5 -Methyl- (1,3-phenylene) bisoxy] bisaniline and the like.

식 (B4)로 표시되는 디아민(이하, 「디아민 (B4)」라고 기재하는 경우가 있음)은, 4개의 벤젠환을 갖는 방향족 디아민이다. 이 디아민 (B4)는, 적어도 하나의 벤젠환에 직결한 아미노기와 2가의 연결기 A가 메타 위치에 있음으로써 높은 굴곡성을 갖고 있고, 폴리이미드 분자쇄의 유연성의 향상에 기여한다고 생각된다. 따라서, 디아민 (B4)를 사용함으로써, 폴리이미드의 열가소성이 높아진다. 여기서, 연결기 A로서는 -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -SO2-, -CO-, -CONH-가 바람직하다.Diamine (Hereinafter, it may describe as "diamine (B4)") represented by Formula (B4) is aromatic diamine which has four benzene rings. This diamine (B4) has high flexibility by having the amino group and the divalent linking group A directly connected to at least one benzene ring in the meta position, and is thought to contribute to the improvement of the flexibility of the polyimide molecular chain. Therefore, thermoplasticity of a polyimide becomes high by using diamine (B4). As the linking group A, -O-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , -SO 2- , -CO-, and -CONH- are preferable.

디아민 (B4)로서는, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]메탄, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]프로판, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]술폰, 비스[4-(3-아미노페녹시)]벤조페논, 비스[4,4'-(3-아미노페녹시)]벤즈아닐리드 등을 들 수 있다.Examples of the diamine (B4) include bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] methane, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] propane and bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] ether , Bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy)] benzophenone, bis [4,4 '-(3-aminophenoxy)] benzanilide, etc. Can be mentioned.

식 (B5)로 표시되는 디아민(이하, 「디아민 (B5)」라고 기재하는 경우가 있음)은, 4개의 벤젠환을 갖는 방향족 디아민이다. 이 디아민 (B5)는, 적어도 하나의 벤젠환에 직결한, 2개의 2가의 연결기 A가 서로 메타 위치에 있음으로써, 폴리이미드 분자쇄가 갖는 자유도가 증가하여 높은 굴곡성을 갖고 있고, 폴리이미드 분자쇄의 유연성의 향상에 기여한다고 생각된다. 따라서, 디아민 (B5)를 사용함으로써, 폴리이미드의 열가소성이 높아진다. 여기서, 연결기 A로서는 -O-가 바람직하다.The diamine represented by Formula (B5) (hereinafter may be described as "diamine (B5)") is an aromatic diamine which has four benzene rings. The diamine (B5) has a high degree of flexibility and a high degree of flexibility because the two divalent linking groups A directly connected to at least one benzene ring are in a meta position with each other and thus have a high flexibility. It is thought to contribute to the improvement of flexibility. Therefore, thermoplasticity of a polyimide becomes high by using diamine (B5). Here, as the linking group A, -O- is preferable.

디아민 (B5)로서는, 4-[3-[4-(4-아미노페녹시)페녹시]페녹시]아닐린, 4,4'-[옥시비스(3,1-페닐렌 옥시)]비스아닐린 등을 들 수 있다.Examples of the diamine (B5) include 4- [3- [4- (4-aminophenoxy) phenoxy] phenoxy] aniline, 4,4 '-[oxybis (3,1-phenylene oxy)] bisaniline, and the like. Can be mentioned.

식 (B6)으로 표시되는 디아민(이하, 「디아민 (B6)」이라고 기재하는 경우가 있음)은, 4개의 벤젠환을 갖는 방향족 디아민이다. 이 디아민 (B6)은, 적어도 2개의 에테르 결합을 가짐으로써 높은 굴곡성을 갖고 있고, 폴리이미드 분자쇄의 유연성의 향상에 기여한다고 생각된다. 따라서, 디아민 (B6)을 사용함으로써, 폴리이미드의 열가소성이 높아진다. 여기서, 연결기 A로서는 -C(CH3)2-, -O-, -SO2-, -CO-가 바람직하다.The diamine represented by Formula (B6) (hereinafter may be described as "diamine (B6)") is an aromatic diamine which has four benzene rings. This diamine (B6) has high flexibility by having at least two ether bonds, and is considered to contribute to the improvement of the flexibility of a polyimide molecular chain. Therefore, thermoplasticity of a polyimide becomes high by using diamine (B6). As the linking group A, -C (CH 3 ) 2- , -O-, -SO 2- , and -CO- are preferable.

디아민 (B6)으로서는, 예를 들어 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판(BAPP), 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]에테르(BAPE), 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]술폰(BAPS), 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]케톤(BAPK) 등을 들 수 있다.As the diamine (B6), for example, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane (BAPP), bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ether (BAPE), bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone (BAPS), bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ketone (BAPK), etc. are mentioned.

식 (B7)로 표시되는 디아민(이하, 「디아민 (B7)」이라고 기재하는 경우가 있음)은, 4개의 벤젠환을 갖는 방향족 디아민이다. 이 디아민 (B7)은, 디페닐 골격의 양측에, 각각 굴곡성이 높은 2가의 연결기 A를 갖기 때문에, 폴리이미드 분자쇄의 유연성의 향상에 기여한다고 생각된다. 따라서, 디아민 (B7)을 사용함으로써, 폴리이미드의 열가소성이 높아진다. 여기서, 연결기 A로서는, -O-가 바람직하다.The diamine represented by Formula (B7) (hereinafter may be described as "diamine (B7)") is an aromatic diamine which has four benzene rings. Since this diamine (B7) has the bivalent coupling group A which is highly flexible in each side of a diphenyl skeleton, it is thought that it contributes to the improvement of the flexibility of a polyimide molecular chain. Therefore, the thermoplasticity of a polyimide becomes high by using diamine (B7). Here, as the linking group A, -O- is preferable.

디아민 (B7)로서는, 예를 들어 비스[4-(3-아미노페녹시)]비페닐, 비스[4-(4-아미노페녹시)]비페닐 등을 들 수 있다.As diamine (B7), bis [4- (3-amino phenoxy)] biphenyl, bis [4- (4-amino phenoxy)] biphenyl, etc. are mentioned, for example.

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 상기 다이머산형 디아민 및 디아민 (B1) 내지 (B7) 이외의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 포함할 수 있다. 상기 다이머산형 디아민 및 디아민 (B1) 내지 (B7) 이외의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기로서는, 전술한 절연 수지층에 있어서의 비열가소성 폴리이미드층을 구성하는 비열가소성 폴리이미드에 사용되는 디아민 화합물로서 예시한 것의 잔기를 들 수 있다.The thermoplastic polyimide forming the adhesive layer may contain diamine residues derived from diamine compounds other than the dimer acid diamines and diamines (B1) to (B7) within a range that does not impair the effects of the invention. As a diamine residue derived from the said dimer acid type diamine and diamine compounds other than diamine (B1)-(B7), it is a diamine compound used for the non-thermoplastic polyimide which comprises the non-thermoplastic polyimide layer in the insulating resin layer mentioned above. The residue of what was illustrated is mentioned.

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드에 있어서, 상기 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기의 종류나, 2종 이상의 테트라카르복실산 잔기 또는 디아민 잔기를 적용하는 경우의 각각의 몰비를 선정함으로써, 열팽창 계수, 인장 탄성률, 유리 전이 온도 등을 제어할 수 있다. 또한, 열가소성 폴리이미드에 있어서, 폴리이미드의 구조 단위를 복수 갖는 경우에는, 블록으로서 존재해도, 랜덤으로 존재하고 있어도 되지만, 랜덤으로 존재하는 것이 바람직하다.In the thermoplastic polyimide forming the adhesive layer, the thermal expansion coefficient and the tensile strength are selected by selecting the kind of the tetracarboxylic acid residue and the diamine residue or the molar ratios when two or more tetracarboxylic acid residues or diamine residues are applied. Modulus of elasticity, glass transition temperature and the like can be controlled. In addition, in the thermoplastic polyimide, in the case of having a plurality of structural units of the polyimide, although present as a block or may exist randomly, it is preferable to exist randomly.

열가소성 폴리이미드의 이미드기 농도는, 33중량% 이하인 것이 바람직하다. 여기서, 「이미드기 농도」는, 폴리이미드 중의 이미드기부(-(CO)2-N-)의 분자량을, 폴리이미드의 구조 전체의 분자량으로 나눈 값을 의미한다. 이미드기 농도가 33중량%를 초과하면, 수지 자체의 분자량이 작아짐과 함께, 극성기의 증가에 의해 저흡습성도 악화된다. 본 실시 형태에서는, 상기 디아민 화합물의 조합을 선택함으로써, 열가소성 폴리이미드 중의 분자의 배향성을 제어함으로써, 이미드기 농도 저하에 수반하는 CTE의 증가를 억제하고, 저흡습성을 담보하고 있다. 또한, 폴리이미드의 흡습성이 높아지면, 폴리이미드 필름의 유전 특성의 악화 요인이 되므로, 저흡습성의 담보는 유전율 및 유전 정접의 증대를 방지할 수 있기 때문에 바람직하다.It is preferable that the imide group concentration of a thermoplastic polyimide is 33 weight% or less. Here, "imide group concentration" means the value which divided the molecular weight of the imide group part (-(CO) 2- N-) in a polyimide by the molecular weight of the whole structure of a polyimide. When an imide group concentration exceeds 33 weight%, while the molecular weight of resin itself becomes small, low hygroscopicity also worsens by increase of a polar group. In this embodiment, by selecting the combination of the said diamine compound, by controlling the orientation of the molecule | numerator in a thermoplastic polyimide, the increase of CTE accompanying the fall of imide group concentration is suppressed, and low hygroscopicity is ensured. In addition, when the hygroscopicity of the polyimide is increased, it becomes a deterioration factor of the dielectric properties of the polyimide film. Therefore, the low hygroscopic collateral can be prevented from increasing the dielectric constant and dielectric loss tangent.

열가소성 폴리이미드의 중량 평균 분자량은, 예를 들어 10,000 내지 400,000의 범위 내가 바람직하고, 20,000 내지 350,000의 범위 내가 보다 바람직하다. 중량 평균 분자량이 10,000 미만이면, 접착층의 강도가 저하되어서 취화되기 쉬운 경향이 된다. 한편, 중량 평균 분자량이 400,000을 초과하면, 과도하게 점도가 증가하여 도공 작업 시에 접착층의 두께 불균일, 줄무늬 등의 불량이 발생하기 쉬운 경향이 된다.The inside of the range of 10,000-400,000 is preferable, for example, and the inside of the range of 20,000-350,000 of the weight average molecular weight of a thermoplastic polyimide is more preferable. When the weight average molecular weight is less than 10,000, the strength of the adhesive layer is lowered and tends to be brittle. On the other hand, when the weight average molecular weight exceeds 400,000, the viscosity increases excessively, and there is a tendency that defects such as thickness unevenness and streaks of the adhesive layer tend to occur during coating work.

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 예를 들어 회로 기판의 절연 수지층과 배선층 사이에 개재하는 것인 것으로부터, 구리의 확산을 억제하기 위하여 완전히 이미드화된 구조가 가장 바람직하다. 단, 폴리이미드의 일부가 아미드산이 되고 있어도 된다. 그 이미드화율은, 푸리에 변환 적외 분광 광도계(시판품: 니혼 분코제 FT/IR620)를 사용하여, 1회 반사 ATR법으로 폴리이미드 박막의 적외선 흡수 스펙트럼을 측정함으로써, 1015cm-1 부근의 벤젠환 흡수체를 기준으로 하여, 1780cm-1의 이미드기에서 유래되는 C=O 신축의 흡광도로부터 산출할 수 있다.Since the thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer is interposed between the insulating resin layer and wiring layer of a circuit board, for example, the structure fully imidated in order to suppress the spread | diffusion of copper is the most preferable. However, a part of polyimide may be amic acid. The imidation ratio measured the infrared absorption spectrum of a polyimide thin film by a one-time reflection ATR method using a Fourier transform infrared spectrophotometer (commercial product: FT / IR620 made from Nippon Bunko Corporation), and the benzene ring absorber of 1015 cm <-1> vicinity. Based on the above, it can be calculated from the absorbance of C═O stretching derived from an imide group of 1780 cm −1 .

(가교 형성)(Bridge formation)

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드가 케톤기를 갖는 경우에, 해당 케톤 기와, 적어도 2개의 제1급의 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물의 아미노기를 반응시켜서 C=N 결합을 형성시킴으로써 가교 구조를 형성할 수 있다. 가교 구조의 형성에 의해, 접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드의 내열성을 향상시킬 수 있다. 케톤기를 갖는 열가소성 폴리이미드를 형성하기 위하여 바람직한 테트라카르복실산 무수물로서는, 예를 들어 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 이무수물(BTDA)을, 디아민 화합물로서는, 예를 들어 4,4'-비스(3-아미노페녹시)벤조페논(BABP), 1,3-비스[4-(3-아미노페녹시)벤조일]벤젠(BABB) 등의 방향족 디아민을 들 수 있다.When the thermoplastic polyimide forming the adhesive layer has a ketone group, a crosslinked structure can be formed by reacting the ketone group with an amino group of an amino compound having at least two primary amino groups as a functional group to form a C = N bond. have. By forming a crosslinked structure, the heat resistance of the thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer can be improved. As a preferable tetracarboxylic anhydride in order to form the thermoplastic polyimide which has a ketone group, 3,3 ', 4,4'- benzophenone tetracarboxylic dianhydride (BTDA) is mentioned as a diamine compound, for example. For example, aromatic diamine, such as 4,4'-bis (3-amino phenoxy) benzophenone (BABP) and 1, 3-bis [4- (3-amino phenoxy) benzoyl] benzene (BABB), is mentioned.

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드의 가교 형성에 사용 가능한 상기 아미노 화합물로서는, 디히드라지드 화합물, 방향족 디아민, 지방족 아민 등을 예시할 수 있다. 이들 중에서도, 디히드라지드 화합물이 바람직하다. 디히드라지드 화합물을 사용한 경우에는, 다른 아미노 화합물을 사용한 경우에 비하여 가교 후의 경화 시간을 단축시킬 수 있다. 디히드라지드 화합물로서는, 예를 들어 옥살산디히드라지드, 말론산디히드라지드, 숙신산디히드라지드, 글루타르산디히드라지드, 아디프산디히드라지드, 피멜산디히드라지드, 수베르산디히드라지드, 아젤라산디히드라지드, 세바스산디히드라지드, 도데칸이산디히드라지드, 말레산디히드라지드, 푸마르산디히드라지드, 디글리콜산디히드라지드, 타르타르산디히드라지드, 말산디히드라지드, 프탈산디히드라지드, 이소프탈산디히드라지드, 테레프탈산디히드라지드, 2,6-나프토에이산디히드라지드, 4,4-비스벤젠디히드라지드, 1,4-나프토산디히드라지드, 2,6-피리딘이산디히드라지드, 이타콘산디히드라지드 등의 디히드라지드 화합물이 바람직하다. 이상의 디히드라지드 화합물은, 단독이어도 되고, 2종류 이상 혼합하여 사용할 수도 있다.As said amino compound which can be used for crosslinking of the thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer, a dihydrazide compound, an aromatic diamine, an aliphatic amine, etc. can be illustrated. Among these, a dihydrazide compound is preferable. When using a dihydrazide compound, the hardening time after crosslinking can be shortened compared with the case where another amino compound is used. As a dihydrazide compound, for example, oxalic acid dihydrazide, malonic acid dihydrazide, succinic acid dihydrazide, glutaric acid dihydrazide, adipic acid dihydrazide, fimel acid dihydrazide, subersandihydrazide, azela dihydrazide Gide, sebacic acid hydrazide, dodecane diacid hydrazide, maleic acid hydrazide, fumaric acid hydrazide, diglycolic acid hydrazide, tartaric acid hydrazide, malsan hydrazide, phthalic acid hydrazide, isophthalic hydrazide Gide, terephthalic acid dihydrazide, 2,6-naphthoic acid dihydrazide, 4,4-bisbenzene dihydrazide, 1,4-naphthosan dihydrazide, 2,6-pyridine diacid dihydrazide, itaconic acid Dihydrazide compounds, such as hydrazide, are preferable. The above dihydrazide compounds may be used alone or in combination of two or more thereof.

<접착층의 제조><Production of Adhesive Layer>

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 상기의 테트라카르복실산 이무수물과 디아민 화합물을 용매 중에서 반응시켜, 폴리아미드산을 생성한 뒤 가열 폐환시킴으로써 제조할 수 있다. 예를 들어, 테트라카르복실산 이무수물과 디아민 화합물을 거의 등몰로 유기 용매 중에 용해시켜서, 0 내지 100℃의 범위 내의 온도에서 30분 내지 24시간 교반하고 중합 반응시킴으로써 폴리이미드의 전구체인 폴리아미드산이 얻어진다. 반응에 있어서는, 생성되는 전구체가 유기 용매 중에 5 내지 50중량%의 범위 내, 바람직하게는 10 내지 40중량%의 범위 내가 되도록 반응 성분을 용해한다. 중합 반응에 사용하는 유기 용매로서는, 예를 들어 N,N-디메틸포름아미드(DMF), N,N-디메틸아세트아미드(DMAc), N,N-디에틸아세트아미드, N-메틸-2-피롤리돈(NMP), 2-부타논, 디메틸술폭시드(DMSO), 헥사메틸포스포르아미드, N-메틸카프로락탐, 황산디메틸, 시클로헥사논, 디옥산, 테트라히드로푸란, 디글라임, 트리글라임, 크레졸 등을 들 수 있다. 이들 용매를 2종 이상 병용하여 사용할 수도 있고, 또한 크실렌, 톨루엔과 같은 방향족 탄화수소의 병용도 가능하다. 또한, 이러한 유기 용매의 사용량으로서는 특별히 제한되는 것은 아니지만, 중합 반응에 의해 얻어지는 폴리아미드산 용액의 농도가 5 내지 50중량% 정도가 되는 것과 같은 사용량으로 조정하여 사용하는 것이 바람직하다.The thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer can be manufactured by making said tetracarboxylic dianhydride and a diamine compound react in a solvent, generating a polyamic acid, and heat-closing. For example, the polyamic acid which is a precursor of a polyimide is dissolved by dissolving the tetracarboxylic dianhydride and the diamine compound in an organic solvent at about equimolar in about 30 minutes to 24 hours at a temperature within the range of 0 to 100 ° C. Obtained. In reaction, the reaction component is melt | dissolved so that the produced precursor may exist in the range of 5-50 weight% in an organic solvent, Preferably it exists in the range of 10-40 weight%. As an organic solvent used for a polymerization reaction, for example, N, N-dimethylformamide (DMF), N, N-dimethylacetamide (DMAc), N, N-diethylacetamide, N-methyl-2-pi Ralidone (NMP), 2-butanone, dimethyl sulfoxide (DMSO), hexamethylphosphoramide, N-methylcaprolactam, dimethyl sulfate, cyclohexanone, dioxane, tetrahydrofuran, diglyme, triglyme And cresols. Two or more types of these solvents may be used in combination, and in addition, combinations of aromatic hydrocarbons such as xylene and toluene may be used in combination. The amount of the organic solvent used is not particularly limited, but it is preferable to adjust the amount of the organic solvent to an amount such that the concentration of the polyamic acid solution obtained by the polymerization reaction is about 5 to 50% by weight.

합성된 폴리아미드산은 통상, 반응 용매 용액으로서 사용하는 것이 유리하지만, 필요에 따라 농축, 희석 또는 다른 유기 용매로 치환할 수 있다. 또한, 폴리아미드산은 일반적으로 용매 가용성이 우수하므로, 유리하게 사용된다. 폴리아미드산의 용액 점도는, 500cps 내지 100,000cps의 범위 내인 것이 바람직하다. 이 범위를 벗어나면, 코터 등에 의한 도공 작업 시에 필름에 두께 불균일, 줄무늬 등의 불량이 발생하기 쉬워진다.The synthesized polyamic acid is usually advantageously used as a reaction solvent solution, but may be concentrated, diluted or substituted with other organic solvents as necessary. In addition, polyamic acids are advantageously used because they are generally excellent in solvent solubility. The solution viscosity of the polyamic acid is preferably in the range of 500 cps to 100,000 cps. If it is out of this range, defects, such as thickness nonuniformity and a stripe, will arise easily in a film at the time of coating work by a coater etc.

폴리아미드산을 이미드화시켜서 열가소성 폴리이미드를 형성시키는 방법은, 특별히 제한되지 않고, 예를 들어 상기 용매 중에서, 80 내지 400℃의 범위 내의 온도 조건에서 1 내지 24시간 걸쳐서 가열한다고 하는 열처리가 적합하게 채용된다.The method of imidating a polyamic acid and forming a thermoplastic polyimide is not specifically limited, For example, the heat processing of heating over 1 to 24 hours at the temperature conditions within the range of 80-400 degreeC in the said solvent suitably is suitable. Are employed.

이상과 같이 하여 얻어진 열가소성 폴리이미드를 가교 형성시키는 경우에는, 케톤기를 갖는 열가소성 폴리이미드를 포함하는 수지 용액에, 상기 아미노 화합물을 첨가하고, 열가소성 폴리이미드 중의 케톤기와 아미노 화합물의 제1급 아미노기를 축합 반응시킨다. 이 축합 반응에 의해, 수지 용액은 경화하여 경화물이 된다. 이 경우, 아미노 화합물의 첨가량은, 케톤기 1몰에 대하여, 제1급 아미노기가 합계로 0.004몰 내지 1.5몰, 바람직하게는 0.005몰 내지 1.2몰, 보다 바람직하게는 0.03몰 내지 0.9몰, 가장 바람직하게는 0.04몰 내지 0.5몰이 되도록 아미노 화합물을 첨가할 수 있다. 케톤기 1몰에 대하여 제1급 아미노기가 합계로 0.004몰 미만이 되는 것과 같은 아미노 화합물의 첨가량에서는, 아미노 화합물에 의한 열가소성 폴리이미드의 가교가 충분하지 않기 때문에, 경화시킨 후의 접착층에 있어서 내열성이 발현하기 어려운 경향이 되고, 아미노 화합물의 첨가량이 1.5몰을 초과하면 미반응된 아미노 화합물이 열 가소제로서 작용하여, 접착층의 내열성을 저하시키는 경향이 있다.When crosslinking forming the thermoplastic polyimide obtained as mentioned above, the said amino compound is added to the resin solution containing the thermoplastic polyimide which has a ketone group, and the ketone group in a thermoplastic polyimide condenses the primary amino group of an amino compound. React. By this condensation reaction, a resin solution hardens and becomes a hardened | cured material. In this case, the amount of the amino compound added is 0.004 mol to 1.5 mol, preferably 0.005 mol to 1.2 mol, more preferably 0.03 mol to 0.9 mol, most preferably 1 mol of the primary amino group with respect to 1 mol of the ketone group. For example, the amino compound may be added to be 0.04 mol to 0.5 mol. Since the crosslinking of the thermoplastic polyimide by an amino compound is not enough in the addition amount of the amino compound in which the primary amino group becomes less than 0.004 mol in total with respect to 1 mol of ketone groups, heat resistance is expressed in the adhesive layer after hardening When the amount of the amino compound added exceeds 1.5 mol, the unreacted amino compound acts as a plasticizer, which tends to lower the heat resistance of the adhesive layer.

가교 형성을 위한 축합 반응의 조건은, 열가소성 폴리이미드에 있어서의 케톤기와 아미노 화합물의 제1급 아미노기가 반응하여 이민 결합(C=N 결합)을 형성하는 조건이라면, 특별히 제한되지 않는다. 가열 축합의 온도는, 축합에 의해 생성되는 물을 계외로 방출시키기 위해서, 또는 열가소성 폴리이미드의 합성 후에 계속해서 가열 축합 반응을 행하는 경우에 당해 축합 공정을 간략화하기 위함 등의 이유로, 예를 들어 120 내지 220℃의 범위 내가 바람직하고, 140 내지 200℃의 범위 내가 보다 바람직하다. 반응 시간은, 30분 내지 24시간 정도가 바람직하고, 반응의 종점은, 예를 들어 푸리에 변환 적외 분광 광도계(시판품: 니혼 분코제 FT/IR620)를 사용하여, 적외선 흡수 스펙트럼을 측정함으로써, 1670cm-1 부근의 폴리이미드 수지에 있어서의 케톤기에서 유래하는 흡수 피크의 감소 또는 소실 및 1635cm-1 부근의 이민기에서 유래되는 흡수 피크의 출현에 의해 확인할 수 있다.The conditions of the condensation reaction for crosslinking are not particularly limited as long as the ketone group and the primary amino group of the amino compound in the thermoplastic polyimide react to form an imine bond (C = N bond). The temperature of the heat condensation is, for example, 120 to simplify the condensation step in order to release the water produced by condensation out of the system or to carry out the heat condensation reaction after the synthesis of the thermoplastic polyimide. The inside of the range of -220 degreeC is preferable, and the inside of the range which is 140-200 degreeC is more preferable. The reaction time is preferably about 30 minutes to 24 hours, and the end point of the reaction is 1670 cm by measuring an infrared absorption spectrum using a Fourier transform infrared spectrophotometer (commercially available product: FT / IR620 manufactured by Nihon Bunko Co., Ltd.). It can confirm by the reduction or disappearance of the absorption peak derived from the ketone group in polyimide resin of 1 vicinity, and the appearance of the absorption peak derived from the imine group of 1635 cm <-1> vicinity.

열가소성 폴리이미드의 케톤기와 아미노 화합물의 제1급의 아미노기의 가열 축합은, 예를 들어 (a) 열가소성 폴리이미드의 합성(이미드화)에 계속해서, 아미노 화합물을 첨가하여 가열하는 방법, (b) 디아민 성분으로서 미리 과잉량의 아미노 화합물을 투입해 두고, 열가소성 폴리이미드의 합성(이미드화)에 계속해서, 이미드화 또는 아미드화에 관여하지 않는 나머지의 아미노 화합물과 함께 열가소성 폴리이미드를 가열하는 방법, 또는, (c) 아미노 화합물을 첨가한 열가소성 폴리이미드의 조성물(후술하는 접착성 폴리이미드 수지 조성물)을 소정의 형상으로 가공한 후(예를 들어 임의의 기재에 도포한 후나 필름 형상으로 형성한 후)에 가열하는 방법 등에 의해 행할 수 있다.The heat condensation of the ketone group of the thermoplastic polyimide with the primary amino group of the amino compound is, for example, followed by (a) synthesis (imidization) of the thermoplastic polyimide, followed by addition of an amino compound and heating (b) A method in which an excess amount of an amino compound is added as a diamine component in advance, followed by synthesis (imidation) of the thermoplastic polyimide, followed by heating the thermoplastic polyimide together with the remaining amino compound not involved in imidization or amidation; Or (c) after processing the composition (adhesive polyimide resin composition mentioned later) of the thermoplastic polyimide which added the amino compound to predetermined shape (for example, after apply | coating to arbitrary base materials or forming into a film shape), Can be performed by a heating method).

(접착층의 두께)(Thickness of the adhesive layer)

접착층의 두께는, 예를 들어 0.1 내지 100㎛의 범위 내에 있는 것이 바람직하고, 0.3 내지 50㎛의 범위 내가 보다 바람직하다. 본 실시 형태의 3층 금속 피복 적층판에 있어서, 접착층의 두께가 상기 하한값에 만족하지 않으면, 충분한 접착성을 담보할 수 없거나 하는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다. 한편, 접착층의 두께가 상기 상한값을 초과하면, 치수 안정성이 저하되는 등의 문제가 발생한다. 또한, 절연 수지층과 접착층의 적층체인 절연층 전체의 저유전율화 및 저유전 정접화의 관점에서, 접착층의 두께는, 3㎛ 이상으로 하는 것이 바람직하다.It is preferable to exist in the range of 0.1-100 micrometers, for example, and, as for the thickness of an adhesive layer, the inside of the range which is 0.3-50 micrometers is more preferable. In the three-layer metal-clad laminate of the present embodiment, if the thickness of the adhesive layer does not satisfy the lower limit, there may be a problem that sufficient adhesiveness cannot be secured. On the other hand, when the thickness of an adhesive layer exceeds the said upper limit, problems, such as a dimensional stability fall, arise. Moreover, it is preferable that the thickness of an adhesive layer shall be 3 micrometers or more from a viewpoint of the low dielectric constant of the whole insulating layer which is a laminated body of an insulated resin layer and an adhesive layer, and low dielectric loss tangent.

(접착층의 CTE)(CTE of adhesive layer)

접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 고열팽창성이고, CTE가 바람직하게는 35ppm/K 이상, 보다 바람직하게는 35ppm/K 이상 80ppm/K 이하의 범위 내, 더욱 바람직하게는 35ppm/K 이상 70ppm/K 이하의 범위 내이다. 사용하는 원료의 조합, 두께, 건조·경화 조건을 적절히 변경함으로써 원하는 CTE를 갖는 폴리이미드층으로 할 수 있다.The thermoplastic polyimide forming the adhesive layer is highly thermally expandable, and CTE is preferably in the range of 35 ppm / K or more, more preferably in the range of 35 ppm / K or more and 80 ppm / K or less, still more preferably 35 ppm / K or more and 70 ppm / K It is in the following ranges. It can be set as the polyimide layer which has a desired CTE by changing suitably the combination of the raw material to be used, thickness, and drying and hardening conditions.

(접착층의 유전 정접)(Dielectric Junction of Adhesive Layer)

접착층은, 예를 들어 회로 기판에 적용하는 경우에 있어서, 유전 손실의 악화를 억제하기 위해서, 10GHz에 있어서의 유전 정접(Tanδ)은 0.004 이하, 보다 바람직하게는 0.001 이상 0.004 이하의 범위 내, 더욱 바람직하게는 0.002 이상 0.003 이하의 범위 내가 좋다. 접착층의 10GHz에 있어서의 유전 정접이 0.004를 초과하면, FPC 등의 회로 기판에 사용했을 때에, 고주파 신호의 전송 경로 상에서 전기 신호의 손실 등의 문제가 발생하기 쉬워진다. 한편, 접착층의 10GHz에 있어서의 유전 정접의 하한값은 특별히 제한되지 않는다.In the case where the adhesive layer is applied to, for example, a circuit board, in order to suppress the deterioration of the dielectric loss, the dielectric tangent (Tanδ) at 10 GHz is 0.004 or less, more preferably in the range of 0.001 or more and 0.004 or less. Preferably it is good in the range of 0.002 or more and 0.003 or less. When the dielectric loss tangent at 10 GHz of the adhesive layer exceeds 0.004, problems such as loss of an electrical signal are likely to occur on a transmission path of a high frequency signal when used for a circuit board such as an FPC. On the other hand, the lower limit of the dielectric loss tangent at 10 GHz of the adhesive layer is not particularly limited.

(접착층의 유전율)(Dielectric constant of adhesive layer)

접착층은, 예를 들어 회로 기판의 절연층으로서 적용하는 경우에 있어서, 임피던스 정합성을 확보하기 위해서, 10GHz에 있어서의 유전율이 4.0 이하인 것이 바람직하다. 접착층에 10GHz에 있어서의 유전율이 4.0을 초과하면, FPC 등의 회로 기판에 사용했을 때에, 접착층의 유전 손실 악화에 연결되고, 고주파 신호의 전송 경로 상에서 전기 신호의 손실 등의 문제가 발생하기 쉬워진다.In the case where the adhesive layer is applied, for example, as an insulating layer of a circuit board, in order to ensure impedance matching, the dielectric constant at 10 GHz is preferably 4.0 or less. When the dielectric constant at 10 GHz of the adhesive layer exceeds 4.0, when used for a circuit board such as an FPC, the dielectric loss of the adhesive layer is deteriorated, and problems such as loss of an electrical signal on a transmission path of a high frequency signal are likely to occur. .

(필러)(filler)

접착층은 필요에 따라, 필러를 함유해도 된다. 필러로서는, 예를 들어 이산화규소, 산화알루미늄, 산화마그네슘, 산화베릴륨, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화규소, 불화알루미늄, 불화칼슘, 유기 포스핀산의 금속염 등을 들 수 있다. 이것들은 1종 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.The adhesive layer may contain a filler as necessary. Examples of the filler include silicon dioxide, aluminum oxide, magnesium oxide, beryllium oxide, boron nitride, aluminum nitride, silicon nitride, aluminum fluoride, calcium fluoride, metal salts of organic phosphinic acid, and the like. These can be used 1 type or in mixture of 2 or more types.

<금속층><Metal layer>

본 실시 형태의 금속 피복 적층판에 있어서의 금속층의 재질로서는, 특별히 제한은 없지만, 예를 들어 구리, 스테인리스, 철, 니켈, 베릴륨, 알루미늄, 아연, 인듐, 은, 금, 주석, 지르코늄, 탄탈륨, 티타늄, 납, 마그네슘, 망간 및 이들의 합금 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 특히 구리 또는 구리 합금이 바람직하다. 또한, 후술하는 본 실시 형태의 회로 기판에 있어서의 배선층의 재질도 금속층과 동일하다.There is no restriction | limiting in particular as a material of the metal layer in the metal clad laminated board of this embodiment, For example, copper, stainless steel, iron, nickel, beryllium, aluminum, zinc, indium, silver, gold, tin, zirconium, tantalum, titanium , Lead, magnesium, manganese and alloys thereof. Among these, copper or a copper alloy is particularly preferable. In addition, the material of the wiring layer in the circuit board of this embodiment mentioned later is the same as that of a metal layer.

금속층의 두께는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 금속층으로서 구리박을 사용하는 경우, 바람직하게는 35㎛ 이하이고, 보다 바람직하게는 5 내지 25㎛의 범위 내가 좋다. 생산 안정성 및 핸들링성의 관점에서, 구리박의 두께 하한값은 5㎛로 하는 것이 바람직하다. 또한, 구리박을 사용하는 경우에는, 압연 구리박이어도 전해 구리박이어도 된다. 또한, 구리박으로서는, 시판되고 있는 구리박을 사용할 수 있다.Although the thickness of a metal layer is not specifically limited, For example, when using copper foil as a metal layer, Preferably it is 35 micrometers or less, More preferably, it is good in the range of 5-25 micrometers. It is preferable that the lower limit of the thickness of copper foil shall be 5 micrometers from a viewpoint of production stability and handling property. In addition, when using copper foil, it may be rolled copper foil or electrolytic copper foil. Moreover, as copper foil, commercially available copper foil can be used.

(방청 처리)(Rust prevention processing)

본 실시 형태에 있어서의 금속층으로서, 구리박을 사용하는 경우, 해당 구리박은 모재 구리박과, 상기 모재 구리박에 있어서의 접착층(또는 절연 수지층) 형성면측의 표면 상에 형성된 방청 처리층을 구비하고 있는 것이 바람직하다. 방청 처리에 의해, 금속 피복 적층판의 배선 가공 시에 있어서의 구리박과 접착층의 접착 강도의 저하 억제, 에칭에 의한 약액에 대한 내성 저하의 억제를 도모할 수 있다. 모재 구리박은, 전해 구리박 및 압연 구리박 중 어느 것이어도 된다. 이러한 모재 구리박의 두께는, 일반적인 동장 적층판에 사용되는 구리박의 두께 범위라면 특별히 제한은 없지만, 동장 적층판의 가요성 관점에서, 70㎛ 이하인 것이 바람직하다. 두께가 70㎛를 초과하면 얻어지는 동장 적층판의 용도가 한정되기 때문에 바람직하지 않다. 또한, 동장 적층판을 플렉시블 동장 적층판으로서 사용하는 경우에 있어서는, 상기 모재 구리박의 두께가 5 내지 35㎛의 범위인 것이 바람직하다. 상기 모재 구리박의 두께가 5㎛ 미만에서는, 제조 시에 있어서 주름 등이 들어가기 쉽고, 얇은 구리박의 제조에 비용이 드는 경향이 있고, 한편, 두께가 35㎛를 초과하면, 얻어지는 동장 적층판을 사용한 경우에 있어서, 퍼스널 컴퓨터, 휴대 전화나 휴대 정보 단말기(PDA)의 표시부인 액정 디스플레이를 구동하는 IC 실장 기판 등의 박형화나 소형화가 불충분해지는 경향이 있다.When using copper foil as a metal layer in this embodiment, this copper foil is equipped with a base material copper foil and the rust-preventing layer formed on the surface of the adhesion layer (or insulating resin layer) formation surface side in the said base material copper foil. It is desirable to do it. By antirust process, suppression of the fall of the adhesive strength of copper foil and an adhesive layer at the time of wiring process of a metal clad laminated board, and suppression of the fall of the tolerance with respect to the chemical liquid by etching can be aimed at. The base metal copper foil may be either an electrolytic copper foil or a rolled copper foil. Although the thickness of such a base material copper foil will not be restrict | limited especially if it is the thickness range of the copper foil used for a general copper clad laminated board, From a flexible viewpoint of a copper clad laminated board, it is preferable that it is 70 micrometers or less. When thickness exceeds 70 micrometers, since the use of the copper clad laminated board obtained is limited, it is not preferable. Moreover, when using a copper clad laminated board as a flexible copper clad laminated board, it is preferable that the thickness of the said base material copper foil is 5-35 micrometers. When the thickness of the said base material copper foil is less than 5 micrometers, wrinkles etc. are easy to enter at the time of manufacture, and there exists a tendency for cost of manufacture of a thin copper foil, and when the thickness exceeds 35 micrometers, the copper clad laminated board obtained is used. In some cases, there is a tendency that thickness reduction and miniaturization of an IC mounting substrate for driving a liquid crystal display which is a display unit of a personal computer, a cellular phone or a portable information terminal (PDA) become insufficient.

상기 모재 구리박, 구리박과 접착층 사이의 접착 강도(필 강도)나 내약품성을 향상시킨다는 관점으로부터, 표면에 조화(粗化) 처리를 실시한 것을 사용하는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 모재 구리박의 10점 평균 조도(Rz)는, 상기 관점 및 얻어지는 동장 적층판의 굴곡성 및 도체 손실 저감의 관점에서, 예를 들어 1.5㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.1 내지 1.0㎛의 범위인 것이 보다 바람직하다.It is preferable to use the thing which performed the roughening process to the surface from a viewpoint of improving the adhesive strength (fill strength) and chemical-resistance between the said base material copper foil, copper foil, and an adhesive layer. And 10 point average roughness (Rz) of the said base material copper foil is 1.5 micrometers or less from a viewpoint of the said viewpoint and the flexibility and conductor loss reduction of the obtained copper clad laminated board, for example, It is preferable that it is the range of 0.1-1.0 micrometer. More preferred.

본 발명에 따른 방청 처리층은, 상기 모재 구리박에 있어서의 상기 접착층의 형성면측의 표면 상에 형성되는 방청성을 갖는 층이다. 본 발명에 있어서는, 이러한 방청 처리층을 상기 모재 구리박에 형성시킴으로써 상기 모재 구리박에 충분한 방청성을 부여함과 함께, 접착층과 구리박 사이의 접착 강도를 향상시키는 것이 가능하게 된다. 이러한 방청 처리층의 두께는, 예를 들어 10 내지 50nm의 범위인 것이 바람직하다. 두께가 상기 하한 미만에서는, 모재 구리박 표면이 균일하게 덮이지 않고 충분한 방청 효과가 얻어지기 어려워지는 경향이 있고, 한편, 상기 상한을 초과하면, 방청 처리층의 구리 에칭액에 대한 용해성(에칭성)이 불충분해지는 경향이 있다.The antirust process layer which concerns on this invention is a layer which has antirust property formed on the surface of the formation surface side of the said contact bonding layer in the said base material copper foil. In the present invention, by providing such a rust preventive treatment layer on the base material copper foil, it is possible to provide sufficient rust prevention property to the base material copper foil and to improve the adhesive strength between the adhesive layer and the copper foil. It is preferable that the thickness of such an antirust process layer is a range of 10-50 nm, for example. If the thickness is less than the lower limit, the surface of the base material copper foil is not uniformly covered, and a sufficient rust preventing effect tends to be difficult to be obtained. On the other hand, if the upper limit is exceeded, solubility in the copper etching solution of the rust-prevented layer (etchability) This tends to be insufficient.

상기 방청 처리층은, 아연을 함유하는 도금 처리층과 크로메이트 처리층을 구비하는 것이 바람직하다. 이러한 처리층은, 아연 화합물을 함유하는 도금액을 사용하여, 상기 모재 구리박의 표면에 도금 처리를 실시함으로써 아연 도금 처리층을 형성하고, 또한 크로메이트 처리층을 구비함으로써, 방청 효과 및 접착층과의 접착성을 더욱 향상시킬 수 있다. 상기 크로메이트 처리층은, 상기 방청 처리층의 표면 상에 크롬산화물 등을 함유하는 크로메이트 처리제를 사용하여, 침지 또는 전해 크로메이트 처리를 실시함으로써 형성할 수 있다.It is preferable that the said antirust process layer is equipped with the plating process layer and chromate treatment layer containing zinc. Such a treatment layer forms a zinc plating treatment layer by plating the surface of the base material copper foil using a plating solution containing a zinc compound, and further comprises a chromate treatment layer, thereby providing an antirust effect and adhesion with an adhesive layer. You can improve the sex further. The chromate treatment layer can be formed by performing immersion or electrolytic chromate treatment using a chromate treatment agent containing chromium oxide or the like on the surface of the rustproof treatment layer.

또한, 상기 방청 처리층 중에 있어서의 아연 함유량이 0.01mg/dm2 이상인 것이 바람직하다. 아연 함유량이 상기 하한 미만에서는, 방청 처리층의 구리 에칭액에 대한 용해성(에칭성)이 불충분해지는 동시에, 방청 처리층의 동장 적층판의 제조 시에 있어서의 열 열화에 의해 접착층과 구리박 사이의 접착 강도가 불충분해지는 경향이 있다. 또한, 방청 처리층의 에칭성, 및 접착층과 구리박 사이의 접착 강도를 더욱 향상시킨다는 관점으로부터, 아연 함유량은 0.01 내지 1.5mg/dm2의 범위인 것이 보다 바람직하다.Moreover, it is preferable that zinc content in the said antirust process layer is 0.01 mg / dm <2> or more. If zinc content is less than the said minimum, the solubility (etching property) with respect to the copper etching liquid of an antirust process layer will become inadequate, and the adhesive strength between an adhesive layer and copper foil by the thermal deterioration at the time of manufacture of the copper clad laminated board of an antirust process layer. Tends to be insufficient. Moreover, it is more preferable that zinc content is the range of 0.01-1.5 mg / dm <2> from a viewpoint of further improving the etching property of an antirust process layer, and the adhesive strength between an adhesive layer and copper foil.

또한, 상기 방청 처리층 중에 아연 이외의 금속을 함유해도 된다. 아연 이외의 금속으로서는, 예를 들어 니켈, 코발트, 몰리브덴 등을 들 수 있다. 예를 들어 상기 방청 처리층 중에 있어서의 니켈 함유량이 0.1mg/dm2 이상인 것이 바람직하다. 니켈 함유량이 상기 하한 미만에서는, 구리박 표면의 방청 효과가 충분하지 않고, 가열 후나 고온이나 고습도의 환경 하에서 구리박 표면의 변색이 일어나기 쉬워지는 경향이 있다. 또한, 방청 처리층이나 접착층에 모재 구리박으로부터의 구리가 확산하는 것을 충분히 방지한다는 관점에서, 니켈 함유량은 0.1 내지 3mg/dm2의 범위인 것이 보다 바람직하다.Moreover, you may contain metal other than zinc in the said antirust process layer. As metals other than zinc, nickel, cobalt, molybdenum, etc. are mentioned, for example. For example, the nickel content in the rustproof treatment layer is 0.1 mg / dm 2 It is preferable that it is above. When nickel content is less than the said minimum, the rust prevention effect of the copper foil surface is not enough, and there exists a tendency for the discoloration of the copper foil surface to occur easily after heating or in an environment of high temperature and high humidity. Moreover, it is more preferable that nickel content is the range of 0.1-3 mg / dm <2> from a viewpoint of fully preventing the copper from a base material copper foil spread | diffused to an rustproof process layer or an contact bonding layer.

니켈은, 구리에 대하여 전체율 고용체이고, 합금 상태를 만들어 낼 수 있고, 또는 니켈은, 구리에 대하여 확산하기 쉽고, 합금 상태를 만들기 쉽다. 이러한 상태는, 구리 단체와 비교하여 전기 저항이 크고, 바꾸어 말하면 도전율이 작아진다. 이러한 점에서, 상기 방청 처리층중에 니켈이 많이 포함되면, 니켈과 합금화한 구리의 저항 증대가 발생한다. 그 결과, 표피 효과에 의한 신호 배선의 저항 증대에 의한 신호 전송 시의 손실이 커진다. 이러한 관점에서, 본 실시 형태의 동장 적층판에 있어서, 예를 들어 10GHz라고 하는 고주파 전송을 행하는 회로 기판 등에 공정에 사용하는 경우, 니켈량을 0.01mg/dm2 이하로 억제하는 것이 바람직하다.Nickel is a total solid solution solid with respect to copper, and can produce an alloy state, or nickel is easy to diffuse with respect to copper, and it is easy to make an alloy state. In such a state, electrical resistance is large compared with copper single body, in other words, electrical conductivity becomes small. In this regard, when a large amount of nickel is contained in the rust-preventing layer, an increase in resistance of copper alloyed with nickel occurs. As a result, the loss in signal transmission due to an increase in the resistance of the signal wiring due to the skin effect is increased. From such a viewpoint, in the copper clad laminated board of this embodiment, when using for a process, such as a circuit board which performs a high frequency transmission of 10 GHz, for example, it is preferable to suppress the amount of nickel to 0.01 mg / dm <2> or less.

상기 방청 처리층 중의 니켈량을 0.01mg/dm2 이하로 억제하는 경우, 상기 방청 처리층 중에 적어도 코발트 및 몰리브덴을 함유하는 것이 바람직하다. 이러한 방청 처리층은, 니켈이 0.01mg/dm2 이하이고, 코발트가 0.01 내지 0.5mg/dm2의 범위 내, 몰리브덴이 0.01 내지 0.5mg/dm2의 범위 내이고, 또한 코발트 원소 및 몰리브덴 원소의 총량(Co+Mo)이 0.1 내지 0.7mg/dm2의 범위 내가 되도록 제어되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 범위 내로 함으로써, 동장 적층판의 배선 가공 시에 있어서의 배선 간의 수지 부분의 에칭 잔사를 억제하고, 에칭에 의한 약액에 대한 내성 저하의 억제 및 구리박과 수지 간의 접착 강도 및 그 장기 신뢰성의 저하를 억제할 수 있다.0.01 mg / dm 2 of nickel in the antirust layer When suppressing below, it is preferable to contain at least cobalt and molybdenum in the said antirust process layer. The rust-prevented layer has a nickel content of 0.01 mg / dm 2 or less, a cobalt content of 0.01 to 0.5 mg / dm 2 , a molybdenum content of 0.01 to 0.5 mg / dm 2 , and a cobalt element and a molybdenum element. It is preferable to control so that total amount (Co + Mo) may be in the range of 0.1-0.7 mg / dm <2> . By setting it in such a range, the etching residue of the resin part between wirings at the time of the wiring process of a copper clad laminated board is suppressed, suppression of the fall of the tolerance with respect to the chemical liquid by etching, and the fall of the adhesive strength between copper foil and resin, and its long-term reliability. It can be suppressed.

또한, 본 실시 형태의 동장 적층판에 사용하는 구리박은, 상기 방청 처리 외에, 접착력의 향상을 목적으로서, 구리박의 표면에, 예를 들어 사이딩, 알루미늄 알코올레이트, 알루미늄 킬레이트, 실란 커플링제 등에 의한 표면 처리를 실시해도 된다.Moreover, the copper foil used for the copper clad laminated board of this embodiment is the surface of a copper foil with a siding, aluminum alcoholate, aluminum chelate, a silane coupling agent, etc. for the purpose of improving adhesive force other than the said antirust process. You may perform a process.

<금속 피복 적층판의 제조 방법><Method for producing metal clad laminate>

금속 피복 적층판은, 예를 들어 접착층과 절연 수지층이 적층된 수지 필름을 준비하고, 그 접착층측에, 금속을 스퍼터링하여 시드층을 형성한 후, 예를 들어 도금에 의해 금속층을 형성함으로써 제조해도 된다.Even if a metal-clad laminated board prepares the resin film which laminated | stacked the contact bonding layer and the insulated resin layer, for example, sputter | spatters a metal and forms a seed layer in the contact bonding layer side, for example, even if it manufactures by forming a metal layer by plating, do.

또한, 금속 피복 적층판은, 접착층과 절연 수지층이 적층된 수지 필름을 준비하고, 그 접착층측에, 구리박 등의 금속박을 열 압착 등의 방법으로 라미네이트함으로써 제조해도 된다.In addition, you may manufacture a metal clad laminated board by preparing the resin film which laminated | stacked the contact bonding layer and the insulated resin layer, and laminating metal foils, such as copper foil, by the method of thermocompression bonding on the contact bonding layer side.

또한, 금속 피복 적층판은, 구리박 등의 금속박 상에, 접착층을 형성하기 위한 도포액을 캐스트하고, 건조하여 도포막으로 하고, 해당 도포막 상에, 절연 수지층을 형성하기 위한 도포액을 캐스트하고, 건조하여 도포막으로 한 후, 일괄하여 열처리함으로써 제조해도 된다. 이 경우, 접착층을 형성하기 위한 도포액으로서는, 접착성 폴리이미드 수지 조성물(후술)이나, 접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드의 전구체인 폴리아미드산 용액을 사용할 수 있다. 또한, 접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드에 대해서는, 상기 방법에서 가교 형성을 시켜도 된다.Moreover, a metal-clad laminated board casts the coating liquid for forming an adhesive layer on metal foil, such as copper foil, and makes it into a coating film, and casts the coating liquid for forming an insulating resin layer on this coating film. You may manufacture by drying and heat-processing collectively after making it into a coating film. In this case, as a coating liquid for forming an adhesive layer, the adhesive polyimide resin composition (after-mentioned) and the polyamic-acid solution which is a precursor of the thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer can be used. In addition, about the thermoplastic polyimide which forms an adhesive layer, you may make bridge formation in the said method.

[회로 기판][Circuit board]

본 실시 형태의 금속 피복 적층판은, 주로 FPC, 리지드·플렉스 회로 기판 등의 회로 기판 재료로 하여 유용하다. 즉, 본 실시 형태의 금속 피복 적층판의 금속층을 통상의 방법에 의해 패턴 상에 가공하여 배선층을 형성함으로써, 본 발명의 일 실시 형태인 FPC를 제조할 수 있다.The metal clad laminated board of this embodiment is useful mainly as circuit board materials, such as an FPC and a rigid flex circuit board. That is, the FPC which is one Embodiment of this invention can be manufactured by processing the metal layer of the metal clad laminated board of this embodiment on a pattern by a conventional method, and forming a wiring layer.

[접착 시트][Adhesive sheet]

본 실시 형태의 접착 시트는, 절연 수지층과, 상기 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 상기 접착층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 갖는 금속 피복 적층판에 있어서 상기 접착층을 형성하기 위한 접착 시트이다. 이 접착 시트는, 상술한 접착층을 형성하는 열가소성 폴리이미드를 시트 형상으로 형성하여 이루어지는 것이다. 즉, 접착 시트를 형성하는 열가소성 폴리이미드는, 상기 접착층과 동일하게, 소정량의 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 포함하는 것이다.The adhesive sheet of this embodiment is the said adhesive layer in the metal-clad laminated board which has an insulated resin layer, the adhesive layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the said insulated resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulated resin layer via the said adhesive layer. It is an adhesive sheet for forming. This adhesive sheet is formed by forming the thermoplastic polyimide which forms the adhesive layer mentioned above in a sheet form. That is, the thermoplastic polyimide which forms an adhesive sheet contains a predetermined amount of tetracarboxylic-acid residue and diamine residue similarly to the said adhesive layer.

접착 시트는 구리박, 유리판, 폴리이미드계 필름, 폴리아미드계 필름, 폴리에스테르계 필름 등의 임의의 기재에 적층된 상태여도 된다. 접착 시트의 두께, 열팽창 계수, 유전 정접, 유전율 등은, 상기 접착층에 준한다. 또한, 접착 시트는, 필러 등의 임의 성분을 함유할 수 있다.The adhesive sheet may be laminated | stacked on arbitrary base materials, such as a copper foil, a glass plate, a polyimide film, a polyamide film, and a polyester film. The thickness of the adhesive sheet, the coefficient of thermal expansion, the dielectric tangent, the dielectric constant and the like correspond to the adhesive layer. In addition, an adhesive sheet can contain arbitrary components, such as a filler.

본 실시 형태의 접착 시트의 제조 방법 형태로서, 예를 들어 [1] 지지 기재에, 폴리아미드산의 용액을 도포·건조하고, 열처리하여 이미드화한 후, 지지 기재로부터 박리하여 접착 시트를 제조하는 방법, [2] 지지 기재에, 폴리아미드산의 용액을 도포·건조한 후, 폴리아미드산의 겔 필름을 지지 기재로부터 박리하고, 열처리하여 이미드화하여 접착 시트를 제조하는 방법, [3] 지지 기재에, 접착성 폴리이미드 수지 조성물(후술)의 용액을 도포·건조한 후, 지지 기재로부터 박리하여 접착 시트를 제조하는 방법을 들 수 있다. 또한, 접착 시트를 구성하는 열가소성 폴리이미드에 대해서, 상기 방법으로 가교 형성을 시켜도 된다.As a manufacturing method form of the adhesive sheet of this embodiment, for example, [1] the support base material is apply | coated and dried, the solution of polyamic acid, heat-processes, and imidizes, and peels from a support base material, and manufactures an adhesive sheet, for example. [2] a method for producing an adhesive sheet by applying a method of drying a polyamic acid to a supporting substrate and drying the polyamic acid from the supporting substrate, followed by heat treatment to imidize the method. After apply | coating and drying the solution of adhesive polyimide resin composition (after-mentioned), the method of peeling from a support base material and manufacturing an adhesive sheet is mentioned. Moreover, you may make crosslinking formation with respect to the thermoplastic polyimide which comprises an adhesive sheet by the said method.

폴리이미드 용액(또는 폴리아미드산 용액)을 지지 기재 상에 도포하는 방법으로서는 특별히 제한되지 않고, 예를 들어 콤마, 다이, 나이프, 립 등의 코터로 도포하는 것이 가능하다. 제조되는 접착 시트는, 폴리아미드산 용액 중에서 이미드화를 완결시킨 폴리이미드 용액을 지지 기재 상에 도포·건조시킴으로써 형성하는 것이 바람직하다. 본 실시 형태의 폴리이미드는 용제 가용성이므로, 폴리아미드산을 용액의 상태에서 이미드화하고, 폴리이미드의 도포액으로서 그대로 사용할 수 있으므로 유리하다.The method of applying the polyimide solution (or polyamic acid solution) on the support substrate is not particularly limited, and for example, it is possible to apply a coater such as a comma, a die, a knife, or a lip. It is preferable to form the adhesive sheet manufactured by apply | coating and drying the polyimide solution which completed imidation in a polyamic-acid solution on a support base material. Since the polyimide of this embodiment is solvent soluble, it is advantageous because the polyamic acid can be imidated in the state of a solution and can be used as it is as a coating liquid of polyimide.

이상과 같이 하여 얻어지는 접착 시트는, 이것을 사용하여 회로 기판의 접착층을 형성한 경우에, 우수한 유연성과 유전 특성(저유전율 및 저유전 정접)을 갖는 것이 되고, 예를 들어 FPC, 리지드·플렉스 회로 기판 등의 접착층으로서 바람직한 특성을 갖는 것이 된다.The adhesive sheet obtained as described above has excellent flexibility and dielectric properties (low dielectric constant and low dielectric loss tangent) when the adhesive layer of the circuit board is formed using this, for example, FPC, rigid flex circuit board It becomes what has a characteristic characteristic as adhesive layers, such as these.

[접착성 폴리이미드 수지 조성물]Adhesive Polyimide Resin Composition

본 실시 형태의 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 절연 수지층과, 상기 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 상기 접착층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 갖는 금속 피복 적층판에 있어서 상기 접착층을 형성하기 위한 것이다. 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 함유하는 폴리이미드를 포함하는 것이고, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여, 다이머산의 2개의 말단 카르복실산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상, 바람직하게는 80몰부 이상 함유하고, 상기 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여, 상기 일반식 (1) 및/또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기를 90몰부 이상 함유한다.The adhesive polyimide resin composition of this embodiment is a metal-clad laminated board which has an insulated resin layer, the contact bonding layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the said insulated resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulating resin layer via the said contact bonding layer. In to form the adhesive layer. Adhesive polyimide resin composition contains the polyimide containing a tetracarboxylic-acid residue and a diamine residue, and two terminal carboxylic acid groups of a dimer acid are the primary aminomethyl group with respect to 100 mol part of the said diamine residue. Or 50 mol parts or more, preferably 80 mol parts or more of the diamine residue derived from the dimer acid type diamine substituted by the amino group, and with respect to 100 mol parts of the said tetracarboxylic-acid residue, the said General formula (1) and / or ( 90 mol part or more of tetracarboxylic-acid residues derived from the tetracarboxylic anhydride represented by 2) are contained.

또한, 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 상기 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 1몰부 이상 50몰부 이하의 범위 내에서 함유하는 것이 바람직하다.In addition, the adhesive polyimide resin composition has a diamine moiety derived from at least one diamine compound selected from the diamine compounds represented by the general formulas (B1) to (B7) within a range of 1 mole part to 50 mole parts or less. It is preferable to contain.

본 실시 형태의 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 용제 가용성이고, 임의 성분으로서, 유기 용매를 함유할 수 있다. 바람직한 유기 용매로서는, 예를 들어 N,N-디메틸포름아미드, N,N-디메틸아세트아미드(DMAC), N-메틸-2-피롤리돈, 2-부타논, 디메틸술폭시드, 황산디메틸, 시클로헥사논, 디옥산, 테트라히드로푸란, 디글라임, 트리글라임 등을 들 수 있다. 이들 용매는, 2종 이상 병용하여 사용할 수도 있고, 또한 크실렌, 톨루엔과 같은 방향족 탄화수소의 병용도 가능하다.The adhesive polyimide resin composition of this embodiment is solvent soluble and can contain an organic solvent as an arbitrary component. As a preferable organic solvent, for example, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide (DMAC), N-methyl-2-pyrrolidone, 2-butanone, dimethyl sulfoxide, dimethyl sulfate, cyclo Hexanone, dioxane, tetrahydrofuran, diglyme, triglyme, etc. are mentioned. These solvent can also be used in combination of 2 or more types, and can also use together the aromatic hydrocarbons, such as xylene and toluene.

본 실시 형태의 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 또한 별도의 임의 성분으로서, 상술한 가교 형성에 사용하는 적어도 2개의 제1급의 아미노기를 관능기로서 갖는 아미노 화합물, 무기 필러, 가소제, 에폭시 수지 등의 다른 수지 성분, 경화촉진제, 커플링제, 충전제, 안료, 용제, 난연제 등을 적절히 배합할 수 있다.The adhesive polyimide resin composition of this embodiment is another arbitrary component, such as an amino compound, an inorganic filler, a plasticizer, an epoxy resin, etc. which have at least two primary amino groups used for the crosslinking formation described above as functional groups. Another resin component, a hardening accelerator, a coupling agent, a filler, a pigment, a solvent, a flame retardant, etc. can be mix | blended suitably.

이상과 같이 하여 얻어지는 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 이것을 사용하여 접착층 또는 접착 시트를 형성한 경우에, 우수한 유연성과 유전 특성(저유전율 및 저유전 정접)을 갖는 것이 되고, 예를 들어 FPC, 리지드·플렉스 회로 기판 등의 접착층 형성 재료로 하여 바람직하게 적용할 수 있다.The adhesive polyimide resin composition obtained as described above has excellent flexibility and dielectric properties (low dielectric constant and low dielectric loss tangent) when the adhesive layer or the adhesive sheet is formed using this, for example, FPC, rigid Applicable suitably as adhesive layer forming materials, such as a flex circuit board.

[실시예]EXAMPLE

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하는데, 본 발명은 이들의 실시예에 의해 전혀 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 실시예에 있어서, 특별히 언급하지 않는 한 각종 측정, 평가는 하기에 의한 것이다.EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention concretely, this invention is not limited at all by these Examples. In addition, in the following Examples, unless otherwise indicated, various measurements and evaluation are based on the following.

[열팽창 계수(CTE)의 측정][Measurement of coefficient of thermal expansion (CTE)]

3mm×20mm의 사이즈의 폴리이미드 필름을, 서모 메카니컬 애널라이저(Bruker사제, 상품명; 4000SA)를 사용하여, 5.0g의 하중을 가하면서 일정한 승온 속도로 30℃로부터 300℃까지 승온시키고, 추가로 그 온도에서 10분 유지한 후, 5℃/분의 속도로 냉각하여, 250℃에서 100℃까지의 평균 열팽창 계수(열팽창 계수)를 구하였다.The polyimide film of the size of 3mm x 20mm was heated up from 30 degreeC to 300 degreeC at a constant temperature increase rate, applying the load of 5.0g using a thermomechanical analyzer (Bruker company make, brand name; 4000SA), and also the temperature After hold | maintaining at 10 minutes, it cooled at the speed | rate of 5 degree-C / min, and calculated | required the average thermal expansion coefficient (thermal expansion coefficient) from 250 degreeC to 100 degreeC.

[구리박의 표면 조도의 측정][Measurement of Surface Roughness of Copper Foil]

구리박의 표면 조도는, AFM(브루커·에이 엑스 에스사제, 상품명: Dimension Icon형 SPM), 프로브(브루커·에이 엑스 에스사제, 상품명: TESPA(NCHV), 선단 곡률 반경 10nm, 용수철 상수 42N/m)를 사용하여, 탭핑 모드에서, 구리박 표면의 80㎛×80㎛의 범위에 대하여 측정하고, 10점 평균 조도(Rzjis)를 구하였다.The surface roughness of copper foil is AFM (Bruker-A-X-S Corporation, brand name: Dimension Icon type SPM), probe (Bruker-A-X-S Corporation, brand name: TESPA (NCHV), tip curvature radius 10nm, a spring constant 42N / m), in the tapping mode, it measured about the range of 80 micrometers x 80 micrometers of the copper foil surface, and calculated | required 10-point average roughness (Rzjis).

[금속 석출 처리한 구리박의 표면 금속 원소 측정][Measurement of Surface Metal Elements of Copper Foils Treated with Metals]

구리박의 분석면 이면을 마스킹한 뒤에, 1N-질산으로 분석면을 용해하고, 100mL에 정용(定容)한 후에 퍼킨엘머사제 유도 결합 플라스마 발광 분광 분석 장치(ICP-AES) Optima4300을 사용하여 측정하였다.After masking the analytical surface of the copper foil, the analytical surface was dissolved with 1N-nitric acid, and fixed to 100 mL, and then measured using Perkin Elmer's Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy (ICP-AES) Optima4300. It was.

[휨의 평가 방법][Evaluation method of warpage]

휨의 평가는, 이하가 방법으로 행하였다. 10cm×10cm의 필름을 두고, 필름의 4모서리의 휘어 올라가고 있는 높이의 평균을 측정하고, 10mm 이하를 「양호」, 10mm를 초과하는 경우를 「불가」로 하였다.Evaluation of curvature was performed by the following method. A 10 cm × 10 cm film was placed, and the average of the heights of warping of the four corners of the film was measured, and 10 mm or less was defined as “good” and the case of exceeding 10 mm as “not possible”.

[유전율(Dk) 및 유전 정접(Df)의 측정][Measurement of dielectric constant (Dk) and dielectric loss tangent (Df)]

유전율 및 유전 정접은, 공동 공진기 섭동법 유전율 평가 장치(Agilent사제, 상품명; 벡터 네트워크 애널라이저 E8363C) 및 스플릿 포스트 유전체 공진기(SPDR 공진기)를 사용하여, 주파수 10GHz에 있어서의 수지 시트(또는 절연 수지층에 수지 시트가 적층한 절연층)의 유전율 및 유전 정접을 측정하였다. 또한, 측정에 사용한 수지 시트(또는 절연 수지층에 수지 시트가 적층한 절연층)는, 온도; 24 내지 26℃, 습도; 45 내지 55%의 조건 하에서, 24시간 방치한 것이다.The dielectric constant and dielectric loss tangent are formed on a resin sheet (or insulating resin layer) at a frequency of 10 GHz by using a cavity resonator perturbation dielectric constant evaluation device (manufactured by Agilent, trade name; vector network analyzer E8363C) and a split post dielectric resonator (SPDR resonator). The dielectric constant and dielectric loss tangent of the insulating layer laminated | stacked by the resin sheet were measured. In addition, the resin sheet (or the insulating layer which the resin sheet laminated | stacked on the insulated resin layer) used for the measurement is temperature; 24 to 26 ° C., humidity; It is left to stand for 24 hours on 45-55% of conditions.

[레이저 가공성의 평가 방법][Evaluation Method of Laser Workability]

레이저 가공성의 평가는, 이하의 방법으로 행하였다. UV-YAG, 제3 고조파 355nm의 레이저광을 주파수 60kHz, 1.0W의 강도로 조사하여 바닥이 있는 비아 가공하고, 접착제층에 리세스나 언더컷이 발생하지 않는 것을 「가능」, 접착제층에 리세스나 언더컷이 발생한 것을 「불가」라고 평가하였다.Evaluation of laser workability was performed with the following method. UV-YAG, the third harmonic 355nm laser light is irradiated at a frequency of 60 kHz and 1.0 W, and the bottom via is processed, and it is possible that recess or undercut does not occur in the adhesive layer. This occurrence was evaluated as "impossible."

[필 강도의 측정][Measurement of Peel Strength]

필 강도는, 이하의 방법으로 행하였다. 인장 시험기(도요 세끼 세이사꾸쇼제, 스트로그래프 VE)를 사용하여, 시험편 폭 5mm의 절연 수지층을 접착제층의 90° 방향으로, 속도 50mm/min으로 인장했을 때의 박리 강도를 측정하였다. 또한, 필 강도가 0.9kN/m 이상을 「양호」, 필 강도가 0.4kN/m 이상 0.9kN/m 미만을 「가능」, 필 강도가 0.4kN/m 미만을 「불가」라고 평가하였다.Peel strength was performed by the following method. The peeling strength at the time of pulling the insulated resin layer of the test piece width 5mm in the 90 degree direction of an adhesive bond layer at the speed | rate 50mm / min using the tensile tester (made by Toyo Seiki Seisakusho, strograph VE) was measured. Moreover, the peeling strength evaluated 0.9 kN / m or more as "good", the peeling strength was 0.4 kN / m or more and less than 0.9 kN / m as "possible", and the peeling strength was less than 0.4 kN / m as "not possible".

본 실시예에서 사용한 약호는 이하의 화합물을 나타낸다.The symbol used in the present Example shows the following compounds.

BTDA: 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 이무수물BTDA: 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride

BPDA: 3,3',4,4'-디페닐테트라카르복실산 이무수물BPDA: 3,3 ', 4,4'-diphenyltetracarboxylic dianhydride

6FDA: 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물6FDA: 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride

BPADA: 2,2-비스〔4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐〕프로판 이무수물BPADA: 2,2-bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride

PMDA: 피로멜리트산 이무수물PMDA: pyromellitic dianhydride

APB: 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠APB: 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene

BAPP: 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판BAPP: 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane

DDA: 탄소수 36의 지방족 디아민(크로다 재팬 가부시키가이샤제, 상품명; PRIAMINE1074, 아민가; 210mgKOH/g, 환상 구조 및 쇄상 구조의 이량체 디아민의 혼합물, 이량체 성분의 함유량; 95중량% 이상)DDA: C 36 aliphatic diamine (manufactured by Croda Japan Co., Ltd., trade name; PRIAMINE1074, amine number; 210 mgKOH / g, mixture of dimer diamine of cyclic and chain structure, content of dimer component; 95 wt% or more)

m-TB: 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐m-TB: 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl

ODPA: 4,4'-옥시디프탈산 무수물(별명; 5,5'-옥시비스-1,3-이소벤조푸란디온)ODPA: 4,4'-oxydiphthalic anhydride (alias; 5,5'-oxybis-1,3-isobenzofurandone)

N-12: 도데칸이산디히드라지드N-12: Dodecane Isandihydrazide

NMP: N-메틸-2-피롤리돈NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

DMAc: N,N-디메틸아세트아미드DMAc: N, N-dimethylacetamide

(합성예 1)Synthesis Example 1

<접착층용의 수지 용액의 제조><Production of Resin Solution for Adhesive Layer>

1000ml의 세퍼러블 플라스크에, 56.18g의 BTDA(0.174몰), 93.82g의 DDA(0.176몰), 210g의 NMP 및 140g의 크실렌을 장입하고, 40℃에서 1시간 잘 혼합하여, 폴리아미드산 용액을 제조하였다. 이 폴리아미드산 용액을 190℃로 승온하고, 4시간 가열, 교반하여, 140g의 크실렌을 첨가하고 이미드화를 완결한 폴리이미드 용액 1(고형분; 30중량%, 점도; 5,100cps, 중량 평균 분자량; 66,100)을 제조하였다.Into a 1000 ml separable flask, 56.18 g of BTDA (0.174 mole), 93.82 g of DDA (0.176 mole), 210 g of NMP and 140 g of xylene were charged and mixed well at 40 ° C. for 1 hour to prepare a polyamic acid solution. Prepared. The polyamic acid solution was heated to 190 ° C., heated and stirred for 4 hours to add 140 g of xylene and completed imidization. Polyimide solution 1 (solid content; 30 wt%, viscosity; 5,100 cps, weight average molecular weight; 66,100).

(합성예 2 내지 10)Synthesis Examples 2 to 10

<접착층용의 수지 용액의 제조><Production of Resin Solution for Adhesive Layer>

표 1에 나타내는 원료 조성으로 한 것 외에는, 합성예 1과 동일하게 하여 폴리이미드 용액 2 내지 10을 제조하였다.Except having set it as the raw material composition shown in Table 1, it carried out similarly to the synthesis example 1, and manufactured the polyimide solution 2-10.

Figure pat00007
Figure pat00007

(합성예 11)Synthesis Example 11

<접착층용의 수지 용액의 제조><Production of Resin Solution for Adhesive Layer>

합성예 1에서 제조한 폴리이미드 용액 1의 100g(고형분으로서 30g)에 1.1g의 N-12(0.004몰)을 배합하고, 0.1g의 NMP 및 10g의 크실렌을 첨가하여 희석하고, 추가로 1시간 교반함으로써 폴리이미드 용액 11을 제조하였다.1.1 g of N-12 (0.004 mol) was added to 100 g (30 g as a solid) of the polyimide solution 1 prepared in Synthesis Example 1, diluted with addition of 0.1 g of NMP and 10 g of xylene, and further 1 hour. The polyimide solution 11 was prepared by stirring.

(합성예 12 내지 17)Synthesis Examples 12 to 17

<접착층용의 수지 용액의 제조><Production of Resin Solution for Adhesive Layer>

표 2에 나타내는 폴리이미드 용액 5 내지 10을 사용한 것 이외에는, 합성예 11과 동일하게 하여 폴리이미드 용액 12 내지 17을 제조하였다.Except having used the polyimide solution 5-10 shown in Table 2, it carried out similarly to the synthesis example 11, and manufactured the polyimide solution 12-17.

Figure pat00008
Figure pat00008

(합성예 18)Synthesis Example 18

<절연 수지층용의 폴리이미드 필름의 제조><Production of Polyimide Film for Insulation Resin Layer>

질소 기류 하에서, 300ml의 세퍼러블 플라스크에, 2.196g의 DDA(0.0041몰), 16.367g의 m-TB(0.0771몰) 및 212.5g의 DMAc를 투입하고, 실온에서 교반하여 용해시켰다. 이어서, 4.776g의 BPDA(0.0162몰) 및 14.161g의 PMDA(0.0649몰)를 첨가한 후, 실온에서 3시간 교반을 계속하여 중합 반응을 행하고, 폴리아미드산 용액 P(점도; 26,000cps)를 제조하였다.Under a stream of nitrogen, 2.196 g of DDA (0.0041 mol), 16.367 g of m-TB (0.0771 mol) and 212.5 g of DMAc were added to a 300 ml separable flask, followed by stirring at room temperature to dissolve. Subsequently, 4.776 g of BPDA (0.0162 mol) and 14.161 g of PMDA (0.0649 mol) were added, followed by stirring for 3 hours at room temperature to carry out the polymerization reaction to prepare a polyamic acid solution P (viscosity; 26,000 cps). It was.

구리박(표면 조도 Rz; 2.1㎛)에 폴리아미드산 용액 P를 경화 후의 두께가 약 25㎛가 되도록 균일하게 도포한 후, 120℃에서 가열 건조하고 용매를 제거하였다. 또한, 120℃에서 360℃까지 단계적인 열처리를 행하고, 이미드화를 완결하여, 금속 피복 적층체 P를 제조하였다. 금속 피복 적층체 P에 대해서, 염화제2철 수용액을 사용하여 구리박을 에칭 제거하고, 폴리이미드 필름 P(CTE; 20ppm/K, Dk; 2.95, Df; 0.0041)를 제조하였다.The polyamic acid solution P was uniformly coated on the copper foil (surface roughness Rz; 2.1 µm) so that the thickness after curing was about 25 µm, followed by heating to dryness at 120 ° C. to remove the solvent. Furthermore, step heat treatment was performed from 120 degreeC to 360 degreeC, the imidation was completed, and the metal coating laminated body P was manufactured. About the metal-clad laminate P, copper foil was etched away using the ferric chloride aqueous solution, and polyimide film P (CTE; 20 ppm / K, Dk; 2.95, Df; 0.0041) was produced.

(제작예 1)(Production Example 1)

<접착층용의 수지 시트의 제조><Production of Resin Sheet for Adhesive Layer>

폴리이미드 용액 1을 이형 처리된 PET 필름의 편면에 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 행한 후, 박리함으로써, 수지 시트 1a(두께; 25㎛)를 제조하였다. 수지 시트 1a의 유전율(Dk) 및 유전 정접(Df)을 표 3에 나타내었다.The resin sheet 1a (thickness; 25 micrometers) was produced by apply | coating the polyimide solution 1 to the single side | surface of the mold-released PET film, and drying at 80 degreeC for 15 minutes, and peeling. The dielectric constant (Dk) and dielectric loss tangent (Df) of the resin sheet 1a are shown in Table 3.

(제작예 2 내지 7)(Production Examples 2 to 7)

<접착층용의 수지 시트의 제조><Production of Resin Sheet for Adhesive Layer>

폴리이미드 용액 1을 사용하고, 제작예 1과 동일하게 하여, 수지 시트의 두께를 변경한 수지 시트 1b 내지 1g를 제조하였다. 수지 시트 1b 내지 1g의 유전율(Dk) 및 유전 정접(Df)을 표 3에 나타내었다.Using the polyimide solution 1, it carried out similarly to manufacture example 1, and manufactured resin sheet 1b-1g which changed the thickness of the resin sheet. The dielectric constant (Dk) and dielectric loss tangent (Df) of the resin sheets 1b to 1g are shown in Table 3.

Figure pat00009
Figure pat00009

(제작예 8 내지 16)(Production Examples 8 to 16)

<접착층용의 수지 시트의 제조><Production of Resin Sheet for Adhesive Layer>

표 4에 나타내는 폴리이미드 용액을 사용한 것 이외에는, 제작예 1과 동일하게 하여, 두께가 25㎛의 수지 시트 2a 내지 10a를 제조하였다. 수지 시트 2a 내지 10a의 유전율(Dk) 및 유전 정접(Df)을 표 4에 나타내었다.Except having used the polyimide solution shown in Table 4, it carried out similarly to Production Example 1, and manufactured resin sheet 2a-10a of 25 micrometers in thickness. The dielectric constants (Dk) and dielectric tangent (Df) of the resin sheets 2a to 10a are shown in Table 4.

Figure pat00010
Figure pat00010

(제작예 17)(Production Example 17)

<방청 처리를 갖는 구리박의 제조><Production of Copper Foil Having Antirust Treatment>

전해 구리박(두께; 12㎛, 수지층측의 MD 방향(Machine Direction; 긴 구리박의 흐름 방향)의 표면 조도 Rz; 0.3㎛)을 준비하였다. 이 구리박의 표면에 조화 처리를 행한 후, 코발트 및 몰리브덴의 소정량 포함한 도금 처리(금속 석출 처리)하고, 또한 아연 도금 및 크로메이트 처리를 순차 행하여, 구리박 1(Ni; 0.01mg/dm2 이하, Co; 0.23mg/dm2, Mo; 0.36mg/dm2, Zn; 0.11mg/dm2, Cr; 0.14mg/dm2)을 제조하였다.Electrolytic copper foil (thickness; 12 micrometers) and surface roughness Rz (0.3 micrometer) of MD direction (Machine Direction (flow direction of long copper foil)) by the resin layer side were prepared. After the roughening treatment was performed on the surface of the copper foil, plating treatment containing a predetermined amount of cobalt and molybdenum (metal precipitation treatment) was performed, followed by zinc plating and chromate treatment, and copper foil 1 (Ni; 0.01 mg / dm 2 or less). , Co; 0.23mg / dm 2, Mo; 0.36mg / dm 2, Zn; 0.11mg / dm 2, Cr; to 0.14mg / dm 2) was prepared.

[실시예 1]Example 1

구리박 1(표면 조도 Rz; 0.3㎛) 상에, 수지 시트 1a(두께; 25㎛, Dk; 2.4, Df; 0.0020)를 두고, 또한 그 위에 폴리이미드 필름 1(도레 듀퐁사제, 상품명; 캡톤 EN-S, 두께; 25㎛, CTE; 16ppm/K, Dk; 3.79, Df; 0.0126)을 겹친 상태에서, 온도 170℃, 압력 0.85MPa, 시간 1분의 조건에서 진공 라미네이트하고, 그 후 오븐에서 온도 160℃, 시간 1시간의 조건에서 가열하여, 동장 적층판 1을 제조하였다. 동장 적층판 1의 평가 결과를 표 5에 나타내었다.Resin sheet 1a (thickness; 25 micrometers, Dk; 2.4, Df; 0.0020) was put on copper foil 1 (surface roughness Rz; 0.3 micrometer), and polyimide film 1 (made by Toray Dupont, brand name; Kapton EN) was placed on it. -S, thickness; 25 μm, CTE; 16 ppm / K, Dk; 3.79, Df; 0.0126), vacuum laminated at conditions of temperature 170 ° C., pressure 0.85 MPa, hour 1 minute, then temperature in oven It heated on the conditions of 160 degreeC and time 1 hour, and manufactured the copper clad laminated board 1. Table 5 shows the evaluation results of the copper clad laminate 1.

[실시예 2]Example 2

수지 시트 1a 대신에 수지 시트 1g(두께; 50㎛,, Dk; 2.4, Df; 0.0020)를 사용한 것 이외에, 실시예 1과 동일하게 하여, 동장 적층판 2를 제조하였다. 동장 적층판 2의 평가 결과를 표 5에 나타내었다.A copper clad laminate 2 was produced in the same manner as in Example 1 except that 1 g (thickness; 50 μm, Dk; 2.4, Df; 0.0020) of the resin sheet was used instead of the resin sheet 1a. The evaluation results of the copper clad laminate 2 are shown in Table 5.

[실시예 3]Example 3

수지 시트 1a 대신에 수지 시트 1g를 사용한 것, 및 폴리이미드 필름 1 대신에 액정 폴리머 필름 3(쿠라레사제, 상품명; CT-Z, 두께; 50㎛, CTE; 18ppm/K, Dk; 3.40, Df; 0.0022)을 사용한 것 이외에, 실시예 1과 동일하게 하여, 동장 적층판 3을 제조하였다. 동장 적층판 3의 평가 결과를 표 5에 나타내었다.The resin sheet 1g was used instead of the resin sheet 1a, and the liquid crystal polymer film 3 (made by Kuraray Corporation, brand name; CT-Z, thickness; 50 micrometers, CTE; 18 ppm / K, Dk; 3.40, Df instead of the polyimide film 1) Copper clad laminate 3 was produced in the same manner as in Example 1, except that 0.0022) was used. Table 5 shows the evaluation results of the copper clad laminate 3.

실시예 1 내지 3의 결과를 통합하여 표 5에 나타내었다.Table 5 summarizes the results of Examples 1-3.

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Figure pat00011

[실시예 4]Example 4

합성예 18에서 제조한 폴리이미드 필름 P의 편면에, 폴리이미드 용액 1을 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 행하여, 절연 필름 4(접착층의 두께; 3㎛)를 제조하였다. 구리박 1의 방청 처리면측에 절연 필름 4의 접착층면을 겹친 상태에서, 온도 170℃, 압력 0.85MPa, 시간 1분의 조건에서, 진공 라미네이트하고, 그 후 오븐에서 온도 160℃, 시간 1시간의 조건에서 가열하여, 동장 적층판 4를 제조하였다. 동장 적층판 4의 평가 결과를 표 6에 나타내었다.The polyimide solution 1 was apply | coated to the single side | surface of the polyimide film P manufactured by the synthesis example 18, and it dried for 15 minutes at 80 degreeC, and produced the insulation film 4 (thickness of an adhesive layer; 3 micrometers). In the state which laminated | stacked the contact bonding layer surface of the insulation film 4 on the rust-preventing surface side of copper foil 1, it vacuum- laminates on conditions of temperature 170 degreeC, pressure 0.85 MPa, and 1 minute, and after that temperature in an oven of 160 degreeC and time for 1 hour It heated on conditions, and produced the copper clad laminated board 4. Table 6 shows the results of the evaluation of the copper clad laminate 4.

[실시예 5]Example 5

접착층의 두께를 1㎛로 한 것 이외에, 실시예 4와 동일하게 하여, 동장 적층판 5를 제조하였다. 동장 적층판 5의 평가 결과를 표 6에 나타내었다.A copper clad laminate 5 was produced in the same manner as in Example 4 except that the thickness of the adhesive layer was 1 μm. Table 6 shows the results of the evaluation of the copper clad laminate 5.

[실시예 6]Example 6

접착층의 두께를 0.3㎛로 한 것 이외에, 실시예 4와 동일하게 하여, 동장 적층판 6을 제조하였다. 동장 적층판 6의 평가 결과를 표 6에 나타내었다.A copper clad laminate 6 was produced in the same manner as in Example 4 except that the thickness of the adhesive layer was 0.3 μm. The evaluation results of the copper clad laminate 6 are shown in Table 6.

실시예 4 내지 6의 결과를 통합하여 표 6에 나타내었다.Table 6 summarizes the results of Examples 4-6.

Figure pat00012
Figure pat00012

[실시예 7]Example 7

실시예 4에서 제조한 동장 적층판 4의 폴리이미드 필름면에, 폴리이미드 용액 1을 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 행하여, 접착층의 두께를 3㎛로 한 후, 구리박 1의 방청 처리면을 접착층면에 겹친 상태에서, 온도 170℃, 압력 0.85MPa, 시간 1분의 조건에서, 진공 라미네이트하고, 그 후 오븐에서 온도 160℃, 시간 1시간의 조건에서 가열하여, 동장 적층판 7을 제조하였다. 동장 적층판 7의 평가 결과를 표 7에 나타내었다.The polyimide solution 1 was apply | coated to the polyimide film surface of the copper clad laminated board 4 manufactured in Example 4, and it dried for 15 minutes at 80 degreeC, after making the thickness of an adhesive layer 3 micrometers, the antirust process surface of copper foil 1 Was laminated on the surface of the adhesive layer at a temperature of 170 ° C., a pressure of 0.85 MPa and a time of 1 minute, and then vacuum laminated, and then heated in an oven at a temperature of 160 ° C. and a time of 1 hour to prepare a copper clad laminate 7. . The evaluation results of the copper clad laminate 7 are shown in Table 7.

[실시예 8]Example 8

접착층의 두께를 1㎛로 한 것 이외에, 실시예 7과 동일하게 하여, 동장 적층판 8을 제조하였다. 동장 적층판 8의 평가 결과를 표 7에 나타내었다.A copper clad laminate 8 was produced in the same manner as in Example 7 except that the thickness of the adhesive layer was 1 μm. Table 7 shows the evaluation results of the copper clad laminate 8.

[실시예 9]Example 9

접착층의 두께를 0.3㎛로 한 것 이외에, 실시예 7과 동일하게 하여, 동장 적층판 9를 제조하였다. 동장 적층판 9의 평가 결과를 표 7에 나타내었다.A copper clad laminate 9 was produced in the same manner as in Example 7 except that the thickness of the adhesive layer was 0.3 μm. Table 7 shows the evaluation results of the copper clad laminate 9.

실시예 7 내지 9의 결과를 통합하여 표 7에 나타내었다.Table 7 summarizes the results of Examples 7-9.

Figure pat00013
Figure pat00013

[실시예 10]Example 10

폴리이미드 필름 1의 편면에, 폴리이미드 용액 1을 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 행하여, 절연 필름 5(접착층의 두께; 12㎛)를 제조하였다. 구리박 1의 방청 처리면측에 절연 필름 5의 접착층면을 겹친 상태에서, 온도 170℃, 압력 0.85MPa, 시간 1분의 조건에서, 진공 라미네이트하고, 그 후 오븐에서 온도 160℃, 시간 1시간의 조건에서 가열하여, 동장 적층판 10을 제조하였다. 동장 적층판 10의 평가 결과를 표 8에 나타내었다.The polyimide solution 1 was apply | coated to the single side | surface of the polyimide film 1, and it dried for 15 minutes at 80 degreeC, and produced the insulation film 5 (thickness of an adhesive layer; 12 micrometers). In the state which laminated | stacked the contact bonding layer surface of the insulating film 5 on the rust-preventing surface side of copper foil 1, it vacuum- laminates on conditions of temperature 170 degreeC, pressure 0.85 MPa, and time for 1 minute, and after that in an oven of temperature 160 degreeC, time 1 hour It heated on conditions, and produced the copper clad laminated board 10. Table 8 shows the evaluation results of the copper clad laminate 10.

[실시예 11]Example 11

구리박 1의 방청 처리면측에, 폴리이미드 용액 1을 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 행하여, 구리박을 구비한 필름 6(접착층의 두께; 5㎛)을 제조하였다. 구리박을 구비한 필름 6의 접착층면과 폴리이미드 필름 2(도레 듀퐁사제, 상품명; 캡톤 EN, 두께; 5㎛, CTE; 16ppm/K, Dk; 3.70, Df; 0.0076)를 겹친 상태에서, 온도 170℃, 압력 0.85MPa, 시간 1분의 조건에서 진공 라미네이트하고, 그 후 오븐에서 온도 160℃, 시간 1시간의 조건에서 가열하여, 동장 적층판 11을 제조하였다. 동장 적층판 11의 평가 결과를 표 8에 나타내었다.The polyimide solution 1 was apply | coated to the rust-prevention surface side of copper foil 1, and it dried at 80 degreeC for 15 minutes, and manufactured the film 6 (thickness of an adhesive layer; 5 micrometers) with copper foil. In the state where the adhesive layer surface of the film 6 provided with copper foil and polyimide film 2 (made by Toray Dupont, brand name; Kapton EN, thickness; 5 micrometers, CTE; 16 ppm / K, Dk; 3.70, Df; 0.0076) were overlapped It vacuum-laminated on the conditions of 170 degreeC, the pressure of 0.85 Mpa, and 1 minute of time, and after that, it heated in the oven on the conditions of the temperature of 160 degreeC, and 1 hour, and manufactured the copper clad laminated board 11. The evaluation result of the copper clad laminated board 11 is shown in Table 8.

[실시예 12]Example 12

실시예 4에서 제조한 동장 적층판 4의 폴리이미드 필름면에, 폴리이미드 용액 13을 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 행하여, 접착층의 두께를 25㎛로 한 후, 구리박 1의 방청 처리면을 접착층면에 겹친 상태에서, 온도 170℃, 압력 0.85MPa, 시간 1분의 조건에서, 진공 라미네이트하고, 그 후 오븐에서 온도 160℃, 시간 1시간의 조건에서 가열하여, 동장 적층판 12를 제조하였다. 동장 적층판 12의 평가 결과를 표 8에 나타내었다.The polyimide solution 13 was apply | coated to the polyimide film surface of the copper clad laminated board 4 manufactured in Example 4, and it dried for 15 minutes at 80 degreeC, and made the thickness of an adhesive layer 25 micrometers, Then, the antirust process surface of copper foil 1 Was laminated on the surface of the adhesive layer, vacuum laminated at a temperature of 170 ° C, a pressure of 0.85 MPa and a time of 1 minute, and then heated in a oven at a temperature of 160 ° C and a time of 1 hour to prepare a copper clad laminate 12. . Table 8 shows the evaluation results of the copper clad laminate 12.

[실시예 13]Example 13

실시예 4에서 제조한 동장 적층판 4의 폴리이미드 필름면에, 폴리이미드 용액 16을 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 행하여, 접착층의 두께를 25㎛로 한 후, 구리박 1의 방청 처리면을 접착층면에 겹친 상태에서, 온도 170℃, 압력 0.85MPa, 시간 1분의 조건에서, 진공 라미네이트하고, 그 후 오븐에서 온도 160℃, 시간 1시간의 조건에서 가열하여, 동장 적층판 13을 제조하였다. 동장 적층판 13의 평가 결과를 표 8에 나타내었다.The polyimide solution 16 was apply | coated to the polyimide film surface of the copper clad laminated board 4 manufactured in Example 4, and it dried for 15 minutes at 80 degreeC, and made the thickness of an adhesive layer 25 micrometers, and then the rust-treated surface of copper foil 1 Was laminated on the surface of the adhesive layer, vacuum laminated at a temperature of 170 ° C., a pressure of 0.85 MPa and a time of 1 minute, and then heated in a oven at a temperature of 160 ° C. and a time of 1 hour to prepare a copper clad laminate 13. . Table 8 shows the evaluation results of the copper clad laminate 13.

Figure pat00014
Figure pat00014

(합성예 19 내지 21)Synthesis Examples 19 to 21

<접착층용의 수지 용액의 제조><Production of Resin Solution for Adhesive Layer>

표 9에 나타내는 원료 조성으로 한 것 이외에는, 합성예 1과 동일하게 하여 폴리이미드 용액 19 내지 21을 제조하였다.Except having set it as the raw material composition shown in Table 9, it carried out similarly to the synthesis example 1, and manufactured the polyimide solution 19-21.

Figure pat00015
Figure pat00015

(제작예 18 내지 20)(Production Examples 18 to 20)

<접착층용의 수지 시트의 제조><Production of Resin Sheet for Adhesive Layer>

표 10에 나타내는 폴리이미드 용액을 사용한 것 이외에는, 제작예 1과 동일하게 하여, 두께가 25㎛의 수지 시트 18a 내지 20a를 제조하였다. 수지 시트 18a 내지 20a의 유전율(Dk) 및 유전 정접(Df)을 표 10에 나타내었다.Except having used the polyimide solution shown in Table 10, it carried out similarly to Production Example 1, and manufactured the resin sheets 18a-20a of 25 micrometers in thickness. Dielectric constants (Dk) and dielectric tangent (Df) of the resin sheets 18a to 20a are shown in Table 10.

Figure pat00016
Figure pat00016

(비교예 1)(Comparative Example 1)

폴리이미드 필름 1의 편면에, 폴리이미드 용액 19를 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 행하여, 절연 필름 7(접착층의 두께; 12㎛)을 제조하였다. 구리박 1의 방청 처리면측에 절연 필름 7의 접착층면을 겹친 상태에서, 온도 170℃, 압력 0.85MPa, 시간 1분의 조건에서, 진공 라미네이트하고, 그 후 오븐에서 온도 160℃, 시간 1시간의 조건에서 가열하여, 동장 적층판 18을 제조하였다. 동장 적층판 18의 평가 결과를 표 11에 나타내었다.The polyimide solution 19 was apply | coated to the single side | surface of the polyimide film 1, and it dried at 80 degreeC for 15 minutes, and produced the insulation film 7 (thickness of an adhesive layer; 12 micrometers). In the state which laminated | stacked the contact bonding layer surface of the insulating film 7 on the rust-preventing surface side of copper foil 1, it vacuum- laminates on conditions of temperature 170 degreeC, pressure 0.85 MPa, and 1 minute, and after that temperature in an oven of 160 degreeC and time for 1 hour It heated on conditions, and produced the copper clad laminated board 18. Table 11 shows the evaluation results of the copper clad laminate 18.

(비교예 2)(Comparative Example 2)

폴리이미드 용액 20을 사용한 것 이외에, 비교예 1과 동일하게 하여, 동장 적층판 19를 제조하였다. 동장 적층판 19의 평가 결과를 표 11에 나타내었다.A copper clad laminate 19 was produced in the same manner as in Comparative Example 1 except that Polyimide Solution 20 was used. Table 11 shows the evaluation results of the copper clad laminate 19.

(비교예 3)(Comparative Example 3)

폴리이미드 용액 21을 사용한 것 이외에, 비교예 1과 동일하게 하여, 동장 적층판 20을 제조하였다. 동장 적층판 20의 평가 결과를 표 11에 나타내었다.A copper clad laminate 20 was produced in the same manner as in Comparative Example 1 except that Polyimide Solution 21 was used. The evaluation results of the copper clad laminate 20 are shown in Table 11.

Figure pat00017
Figure pat00017

이상, 본 발명의 실시 형태를 예시의 목적으로 상세하게 설명했지만, 본 발명은 상기 실시 형태에 제약되는 일은 없고, 다양한 변형이 가능하다.As mentioned above, although embodiment of this invention was described in detail for the purpose of illustration, this invention is not restrict | limited to the said embodiment, A various deformation | transformation is possible.

Claims (11)

절연 수지층과, 상기 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 상기 접착층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 갖는 금속 피복 적층판이며,
상기 접착층은, 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 함유하는 폴리이미드를 갖고 있고,
상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,
다이머산의 2개의 말단 카르복실산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 하는 금속 피복 적층판.
It is a metal clad laminated board which has an insulated resin layer, the contact bonding layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the said insulated resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulating resin layer via the said contact bonding layer,
The adhesive layer has a polyimide containing a tetracarboxylic acid residue and a diamine residue,
The polyimide is based on 100 mole parts of the diamine residue,
A metal-coated laminate comprising at least 50 mole parts of a diamine residue derived from a dimer acid type diamine in which two terminal carboxylic acid groups of dimer acid are substituted with a primary aminomethyl group or an amino group.
제1항에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여,
하기의 일반식 (1) 및/또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기를 합계로 90몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 하는 금속 피복 적층판.
Figure pat00018

[일반식 (1) 중, X는 단결합, 또는 하기 식으로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, 일반식 (2) 중, Y로 표시되는 환상 부분은 4원환, 5원환, 6원환, 7원환 또는 8원환으로부터 선택되는 환상 포화 탄화수소기를 형성하고 있는 것을 나타냄]
Figure pat00019

[상기 식에 있어서, Z는 -C6H4-, -(CH2)n- 또는 -CH2-CH(-O-C(=O)-CH3)-CH2-를 나타내지만, n은 1 내지 20의 정수를 나타냄]
The polyimide of claim 1, wherein the polyimide is based on 100 moles of the tetracarboxylic acid residue.
A metal-coated laminate comprising at least 90 mol parts in total of tetracarboxylic acid residues derived from tetracarboxylic anhydrides represented by the following General Formulas (1) and / or (2).
Figure pat00018

[In general formula (1), X represents a bivalent group chosen from a single bond or a following formula, and the cyclic part represented by Y in general formula (2) represents a 4-membered ring, a 5-membered ring, a 6-membered ring, a 7-membered ring, or Forms cyclic saturated hydrocarbon groups selected from eight-membered rings]
Figure pat00019

[Wherein Z represents —C 6 H 4 —, — (CH 2 ) n — or —CH 2 —CH (—OC (═O) —CH 3 ) —CH 2 —, but n represents 1 An integer of from 20 to 20]
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,
상기 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 99몰부 이하의 범위 내에서 함유하고,
하기의 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 1몰부 이상 50몰부 이하의 범위 내에서 함유하는 금속 피복 적층판.
Figure pat00020

[식 (B1) 내지 (B7)에 있어서, R1은 독립적으로 탄소수 1 내지 6의 1가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, 연결기 A는 독립적으로 -O-, -S-, -CO-, -SO-, -SO2-, -COO-, -CH2-, -C(CH3)2-, -NH- 또는 -CONH-로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, n1은 독립적으로 0 내지 4의 정수를 나타내고, 단, 식 (B3) 중에서 식 (B2)와 중복하는 것은 제외하고, 식 (B5) 중에서 식 (B4)와 중복하는 것은 제외하는 것으로 함]
The polyimide of claim 1 or 2, wherein the polyimide is based on 100 mole parts of the diamine moiety.
It contains a diamine residue derived from the said dimer-type diamine within 50 mol part or more and 99 mol part or less,
A metal-coated laminate comprising a diamine residue derived from at least one diamine compound selected from diamine compounds represented by the following general formulas (B1) to (B7) within a range of 1 mole part to 50 mole parts.
Figure pat00020

[In formula (B1)-(B7), R <1> represents a C1-C6 monovalent hydrocarbon group or an alkoxy group independently, and linking group A is independently -O-, -S-, -CO-, -SO -, -SO 2- , -COO-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , a divalent group selected from -NH- or -CONH-, n 1 independently represent an integer of 0 to 4 Wherein, except for overlapping with formula (B2) in formula (B3), overlapping with formula (B4) in formula (B5) is excluded.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 금속층이 구리박을 포함하고, 해당 구리박에 있어서의 상기 접착층과 접하는 면이 방청 처리되어 있는 금속 피복 적층판.The metal-clad laminate as described in any one of Claims 1-3 in which the said metal layer contains copper foil and the surface which contact | connects the said contact bonding layer in this copper foil is rust-proofed. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 기재된 금속 피복 적층판의 상기 금속층을 배선으로 가공하여 이루어지는 회로 기판.The circuit board which processes the said metal layer of the metal clad laminated board as described in any one of Claims 1-4 by wiring. 절연 수지층과, 상기 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 상기 접착층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 갖는 금속 피복 적층판에 있어서 상기 접착층을 형성하기 위한 접착 시트이며,
상기 접착 시트는, 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 함유하는 폴리이미드를 갖고 있고,
상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,
다이머산의 2개의 말단 카르복실산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 하는 접착 시트.
An adhesive sheet for forming the said adhesive layer in the metal clad laminated board which has an insulated resin layer, the contact bonding layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the said insulated resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulating resin layer via the said contact bonding layer,
The adhesive sheet has a polyimide containing a tetracarboxylic acid residue and a diamine residue,
The polyimide is based on 100 mole parts of the diamine residue,
An adhesive sheet comprising at least 50 mole parts of a diamine residue derived from a dimer acid type diamine in which two terminal carboxylic acid groups of a dimer acid are substituted with a primary aminomethyl group or an amino group.
제6항에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여,
하기의 일반식 (1) 및/또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기를 합계로 90몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 하는 접착 시트.
Figure pat00021

[일반식 (1) 중, X는 단결합, 또는 하기 식으로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, 일반식 (2) 중, Y로 표시되는 환상 부분은 4원환, 5원환, 6원환, 7원환 또는 8원환으로부터 선택되는 환상 포화 탄화수소기를 형성하고 있는 것을 나타냄]
Figure pat00022

[상기 식에 있어서, Z는 -C6H4-, - (CH2)n- 또는 -CH2-CH(-O-C(=O)-CH3)-CH2-를 나타내지만, n은 1 내지 20의 정수를 나타냄]
The polyimide of claim 6, wherein the polyimide is based on 100 mole parts of the tetracarboxylic acid residue,
The adhesive sheet containing 90 mol part or more of total tetracarboxylic-acid residues derived from tetracarboxylic anhydride represented by following General formula (1) and / or (2) below.
Figure pat00021

[In general formula (1), X represents a bivalent group chosen from a single bond or a following formula, and the cyclic part represented by Y in general formula (2) represents a 4-membered ring, a 5-membered ring, a 6-membered ring, a 7-membered ring, or Forms cyclic saturated hydrocarbon groups selected from eight-membered rings]
Figure pat00022

[Wherein Z represents —C 6 H 4 —, — (CH 2 ) n — or —CH 2 —CH (—OC (═O) —CH 3 ) —CH 2 —, but n represents 1 An integer of from 20 to 20]
제6항 또는 제7항에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,
상기 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 99몰부 이하의 범위 내에서 함유하고,
하기의 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 1몰부 이상 50몰부 이하의 범위 내에서 함유하는 것
을 특징으로 하는 접착 시트.
Figure pat00023

[식 (B1) 내지 (B7)에 있어서, R1은 독립적으로 탄소수 1 내지 6의 1가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, 연결기 A는 독립적으로 -O-, -S-, -CO-, -SO-, -SO2-, -COO-, -CH2-, -C(CH3)2-, -NH- 또는 -CONH-로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, n1은 독립적으로 0 내지 4의 정수를 나타내고, 단, 식 (B3) 중에서 식 (B2)와 중복하는 것은 제외하고, 식 (B5) 중에서 식 (B4)와 중복하는 것은 제외하는 것으로 함]
The polyimide of claim 6 or 7, wherein the polyimide is based on 100 mole parts of the diamine residue,
It contains a diamine residue derived from the said dimer-type diamine within 50 mol part or more and 99 mol part or less,
Containing diamine residues derived from at least one diamine compound selected from the diamine compounds represented by the following general formulas (B1) to (B7) within a range of 1 to 50 mol parts.
Adhesive sheet characterized in that.
Figure pat00023

[In formula (B1)-(B7), R <1> represents a C1-C6 monovalent hydrocarbon group or an alkoxy group independently, and linking group A is independently -O-, -S-, -CO-, -SO -, -SO 2- , -COO-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , a divalent group selected from -NH- or -CONH-, n 1 independently represent an integer of 0 to 4 Wherein, except for overlapping with formula (B2) in formula (B3), overlapping with formula (B4) in formula (B5) is excluded.
절연 수지층과, 상기 절연 수지층의 적어도 편측의 면에 적층된 접착층과, 상기 접착층을 개재하여 상기 절연 수지층에 적층된 금속층을 갖는 금속 피복 적층판에 있어서 상기 접착층을 형성하기 위한 접착성 폴리이미드 수지 조성물이며,
상기 접착성 폴리이미드 수지 조성물은, 테트라카르복실산 잔기 및 디아민 잔기를 함유하는 폴리이미드를 포함하는 것이고,
상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,
다이머산의 2개의 말단 카르복실산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 하는 접착성 폴리이미드 수지 조성물.
Adhesive polyimide for forming the said contact bonding layer in the metal clad laminated board which has an insulated resin layer, the contact bonding layer laminated | stacked on the surface of at least one side of the said insulating resin layer, and the metal layer laminated | stacked on the said insulating resin layer via the said contact bonding layer. Resin composition,
The said adhesive polyimide resin composition contains the polyimide containing a tetracarboxylic-acid residue and a diamine residue,
The polyimide is based on 100 mole parts of the diamine residue,
Adhesive polyimide resin composition characterized by containing 50 mol part or more of diamine residues derived from the dimer acid type diamine which the two terminal carboxylic acid groups of dimer acid are substituted by the primary aminomethyl group or an amino group.
제9항에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 테트라카르복실산 잔기의 100몰부에 대하여, 하기의 일반식 (1) 및/또는 (2)로 표시되는 테트라카르복실산 무수물로부터 유도되는 테트라카르복실산 잔기를 합계로 90몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 하는 접착성 폴리이미드 수지 조성물.
Figure pat00024

[일반식 (1) 중, X는 단결합, 또는 하기 식으로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, 일반식 (2) 중, Y로 표시되는 환상 부분은 4원환, 5원환, 6원환, 7원환 또는 8원환으로부터 선택되는 환상 포화 탄화수소기를 형성하고 있는 것을 나타냄]
Figure pat00025

[상기 식에 있어서, Z는 -C6H4-, -(CH2)n- 또는 -CH2-CH(-O-C(=O)-CH3)-CH2-를 나타내지만, n은 1 내지 20의 정수를 나타냄]
The said polyimide is tetracarboxyl derived from the tetracarboxylic anhydride represented by following General formula (1) and / or (2) with respect to 100 mol part of the said tetracarboxylic-acid residue. The adhesive polyimide resin composition containing 90 mol part or more of acid residues in total.
Figure pat00024

[In general formula (1), X represents a bivalent group chosen from a single bond or a following formula, and the cyclic part represented by Y in general formula (2) represents a 4-membered ring, a 5-membered ring, a 6-membered ring, a 7-membered ring, or Forms cyclic saturated hydrocarbon groups selected from eight-membered rings]
Figure pat00025

[Wherein Z represents —C 6 H 4 —, — (CH 2 ) n — or —CH 2 —CH (—OC (═O) —CH 3 ) —CH 2 —, but n represents 1 An integer of from 20 to 20]
제9항 또는 제10항에 있어서, 상기 폴리이미드는, 상기 디아민 잔기의 100몰부에 대하여,
상기 다이머산형 디아민으로부터 유도되는 디아민 잔기를 50몰부 이상 99몰부 이하의 범위 내에서 함유하고,
하기의 일반식 (B1) 내지 (B7)로 표시되는 디아민 화합물로부터 선택되는 적어도 1종의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 1몰부 이상 50몰부 이하의 범위 내에서 함유하는 접착성 폴리이미드 수지 조성물.
Figure pat00026

[식 (B1) 내지 (B7)에 있어서, R1은 독립적으로 탄소수 1 내지 6의 1가의 탄화수소기 또는 알콕시기를 나타내고, 연결기 A는 독립적으로 -O-, -S-, -CO-, -SO-, -SO2-, -COO-, -CH2-, -C(CH3)2-, -NH- 또는 -CONH-로부터 선택되는 2가의 기를 나타내고, n1은 독립적으로 0 내지 4의 정수를 나타내고, 단, 식 (B3) 중에서 식 (B2)와 중복하는 것은 제외하고, 식 (B5) 중에서 식 (B4)와 중복하는 것은 제외하는 것으로 함]
The polyimide of claim 9 or 10, wherein the polyimide is based on 100 mole parts of the diamine moiety.
It contains a diamine residue derived from the said dimer-type diamine within 50 mol part or more and 99 mol part or less,
Adhesive polyimide resin composition containing diamine residue derived from at least 1 sort (s) of diamine compound chosen from diamine compound represented by following General formula (B1)-(B7) within 1 mol part-50 mol part.
Figure pat00026

[In formula (B1)-(B7), R <1> represents a C1-C6 monovalent hydrocarbon group or an alkoxy group independently, and linking group A is independently -O-, -S-, -CO-, -SO -, -SO 2- , -COO-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , a divalent group selected from -NH- or -CONH-, n 1 independently represent an integer of 0 to 4 Wherein, except for overlapping with formula (B2) in formula (B3), overlapping with formula (B4) in formula (B5) is excluded.
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