KR20190120704A - Resin Composition - Google Patents

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KR20190120704A
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겐지 가와이
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아지노모토 가부시키가이샤
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Abstract

A purpose of the present invention is to provide: a resin composition which can obtain a cured material which is low in dielectric tangent, excellent in smear removal property, and excellent in adhesiveness with a conductor layer; a resin sheet containing the resin composition; a printed wiring bard provided with an insulating layer formed by using the resin composition; and a semiconductor device. The resin compsition contains: (A) an epoxy resin; (B) an active ester-based curing agent; (C) (meth)acrylic acid ester; and (D) an inorgnaic filler, wherein a content of a component (D), when a nonvolatile component is 100 mass%, is 70 mass% or more, and if a value obtained by dividing the mass of a component (A) by an epoxy equivalent is a and a value obtained by dividing the mass of a component (B) by an active ester equivalent is b, a value of b/a is 1.3 or more.

Description

수지 조성물{Resin Composition}Resin Composition

본 발명은, 수지 조성물에 관한 것이다. 또한, 당해 수지 조성물을 함유하는, 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition. Moreover, it is related with the resin sheet, printed wiring board, and semiconductor device containing the said resin composition.

프린트 배선판의 제조 기술로서는, 내층 회로 기판 위에 절연층과 도체층을 교대로 포개어 쌓는 빌드업 방식에 의한 제조 방법이 알려져 있다. 절연층은, 일반적으로, 수지 조성물을 경화시킴으로써 형성된다. 예를 들면, 특허문헌 1에는, (A) 라디칼 중합성 화합물, (B) 에폭시 수지, (C) 경화제 및 (D) 조화 성분을 함유하는 수지 조성물이 기재되어 있다.As a manufacturing technique of a printed wiring board, the manufacturing method by the buildup system which piles up an insulating layer and a conductor layer alternately on an inner circuit board is known. The insulating layer is generally formed by curing the resin composition. For example, Patent Document 1 describes a resin composition containing a radical polymerizable compound (A), an epoxy resin (B), a curing agent (C), and a roughening component (D).

일본 공개특허공보 특개2014-034580호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2014-034580

내층 회로 기판의 절연층의 형성에 적합한 수지 조성물의 제안은, 특허문헌 1에 기재되어 있는 수지 조성물을 포함하여 다수 이루어지고 있지만, 최근, 유전 정접이 낮은 절연층의 요망이 높아지고 있다.Although many proposals of the resin composition suitable for formation of the insulating layer of an inner-layer circuit board are made including the resin composition described in patent document 1, the demand of the insulating layer with low dielectric tangent is increasing recently.

본 발명자가 검토한 결과, 유전 정접을 낮게 하는 재료를 함유하는 수지 조성물의 경화물은, 도체층 등과의 밀착성을 얻어지기 어렵고, 또한 도통 신뢰성을 확보하기 위한 스미어 제거성이 낮은 것을 알 수 있었다. 최근, 다층 프린트 배선판의 제조시에, 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물의 경화물은, 배선의 미세화 및 고밀도화에 있어서도, 유전 정접이 낮은 것에 더해 충분한 접착성과 스미어 제거성을 갖는 것이 요구되지만, 이들을 충분히 만족시키는 것에 이르고 있지 않은 것이 현 상황이다.As a result of the present inventor's examination, it was found that the hardened | cured material of the resin composition containing the material which lowers dielectric loss tangent is hard to acquire adhesiveness with a conductor layer, etc., and also the smear removal property for ensuring conduction reliability is low. In recent years, in the manufacture of multilayer printed wiring boards, the cured product of the resin composition for forming the insulating layer is required to have sufficient adhesiveness and smear removal property in addition to low dielectric loss tangent, even in the miniaturization and densification of wiring. It is the present situation that is not reaching full satisfaction.

본 발명의 과제는, 유전 정접이 낮고, 스미어 제거성이 뛰어나며, 도체층과의 사이의 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물; 당해 수지 조성물을 함유하는 수지 시트; 당해 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층을 구비하는 프린트 배선판; 및 반도체 장치를 제공하는 것에 있다.The subject of this invention is a resin composition which can obtain the hardened | cured material which is low in dielectric tangent, excellent in smear removal property, and excellent in adhesiveness with a conductor layer; Resin sheet containing the resin composition; Printed wiring board provided with the insulating layer formed using the said resin composition; And a semiconductor device.

본 발명자는, 상기의 과제를 해결하기 위해 예의 검토한 결과, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르계 경화제, (C) (메타)아크릴산에스테르, 및 (D) 무기 충전재를 조합하여 포함하고, (D) 무기 충전재의 함유량, 및 (A) 에폭시 수지와 (B) 활성 에스테르계 경화제와의 양비(量比)를 소정의 범위 내로 한 수지 조성물에 의해, 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 발견하여, 본 발명을 완성시켰다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of earnestly examining in order to solve said subject, it contains (A) epoxy resin, (B) active ester type hardening | curing agent, (C) (meth) acrylic acid ester, and (D) inorganic filler in combination, And the (D) content of the inorganic filler and the resin composition which made the ratio (A) of the epoxy resin and the (B) active ester hardening | curing agent into the predetermined range found that the said subject can be solved, The present invention has been completed.

즉, 본 발명은, 하기의 내용을 포함한다.That is, this invention includes the following content.

[1] (A) 에폭시 수지,[1] (A) epoxy resin,

(B) 활성 에스테르계 경화제,(B) an active ester curing agent,

(C) (메타)아크릴산에스테르, 및(C) (meth) acrylic acid ester, and

(D) 무기 충전재(D) inorganic filler

를 포함하는 수지 조성물로서,As a resin composition comprising

(D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 70질량% 이상이며,When content of (D) component makes non-volatile component in resin composition 100 mass%, it is 70 mass% or more,

(A) 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 a로 하고, (B) 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 b로 한 경우, b/a가 1.3 이상인 수지 조성물.The resin composition whose b / a is 1.3 or more when the value which divided the mass of (A) component by the epoxy equivalent is made into a, and the value which divided the mass of (B) component by the active ester group equivalent into b.

[2] (C) 성분이, 1분자당 2개 이상의 (메타)아크릴로일기를 갖는, [1]에 기재된 수지 조성물.[2] The resin composition according to [1], in which the component (C) has two or more (meth) acryloyl groups per molecule.

[3] (C) 성분이, 환상 구조를 갖는, [1] 또는 [2]에 기재된 수지 조성물.[3] The resin composition according to [1] or [2], in which the component (C) has a cyclic structure.

[4] (C) 성분이, 하기 식 (1)로 표시되는 구조를 갖는 [1] 내지 [3] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[4] The resin composition according to any one of [1] to [3], in which the component (C) has a structure represented by the following formula (1).

Figure pat00001
Figure pat00001

(식 (1) 중, R1 및 R4는 각각 독립적으로 아크릴로일기 또는 메타크릴로일기를 나타내고, R2 및 R3은 각각 독립적으로 2가의 연결기를 나타낸다. 환 A는, 2가의 환상기를 나타낸다.)(In formula (1), R <1> and R <4> represents acryloyl group or a methacryloyl group each independently, and R <2> and R <3> represent a bivalent coupling group each independently. Ring A is a bivalent cyclic group Indicates.)

[5] (A) 성분이, 액상 에폭시 수지 및 고체상 에폭시 수지를 포함하는, [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[5] The resin composition according to any one of [1] to [4], in which the component (A) contains a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin.

[6] (D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 75질량% 이상인, [1] 내지 [5] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[6] The resin composition according to any one of [1] to [5], wherein the content of the component (D) is 75% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.

[7] (C) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%로 한 경우, 1질량% 이상 20질량% 이하인, [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], wherein the content of the component (C) is 1% by mass or more and 20% by mass or less when the resin component in the resin composition is 100% by mass.

[8] 절연 용도에 사용하는, [1] 내지 [7] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[8] The resin composition according to any one of [1] to [7], which is used for insulation applications.

[9] 절연층 형성용인, [1] 내지 [8] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[9] The resin composition according to any one of [1] to [8], which is for forming an insulation layer.

[10] 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, [1] 내지 [9] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[10] The resin composition according to any one of [1] to [9], which is for forming an insulation layer for forming a conductor layer.

[11] 반도체 칩의 밀봉용인, [1] 내지 [10] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[11] The resin composition according to any one of [1] to [10], which is for sealing a semiconductor chip.

[12] 지지체와, 당해 지지체 위에 형성된, [1] 내지 [11] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 포함하는, 수지 시트.[12] A resin sheet comprising a support and a resin composition layer comprising the resin composition according to any one of [1] to [11], which is formed on the support.

[13] [1] 내지 [11] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.[13] A printed wiring board comprising an insulating layer formed of the cured product of the resin composition according to any one of [1] to [11].

[14] [13]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[14] A semiconductor device comprising the printed wiring board described in [13].

본 발명에 의하면, 유전 정접이 낮고, 스미어 제거성이 뛰어나며, 도체층과의 사이의 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물; 당해 수지 조성물을 함유하는 수지 시트; 당해 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층을 구비하는 프린트 배선판; 및 반도체 장치를 제공할 수 있다.According to this invention, resin composition which can obtain the hardened | cured material which is low in dielectric tangent, excellent in smear removal property, and excellent in adhesiveness with a conductor layer; Resin sheet containing the resin composition; Printed wiring board provided with the insulating layer formed using the said resin composition; And a semiconductor device.

이하, 실시형태 및 예시물을 나타내어, 본 발명에 대해 상세하게 설명한다. 단, 본 발명은, 이하에 드는 실시형태 및 예시물에 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 특허청구 범위 및 그 균등의 범위를 일탈하지 않는 범위에서 임의로 변경하여 실시할 수 있다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment and an illustration are shown and this invention is demonstrated in detail. However, this invention is not limited to embodiment and illustration to the following, It can change and implement arbitrarily in the range which does not deviate from the Claim of this invention, and the range of the equality.

[수지 조성물][Resin composition]

본 발명의 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르계 경화제, (C) (메타)아크릴산에스테르, 및 (D) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서, (D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 70질량% 이상이며, (A) 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 a로 하고, (B) 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 b로 한 경우, b/a가 1.3 이상이다.The resin composition of this invention is a resin composition containing (A) epoxy resin, (B) active ester type hardening | curing agent, (C) (meth) acrylic acid ester, and (D) inorganic filler, Comprising: Content of (D) component is When the non-volatile component in the resin composition is 100 mass%, the mass obtained by dividing the mass of the component (A) by the epoxy equivalent is a, and the mass of the component (B) is the active ester group equivalent. When divided by b, b / a is 1.3 or more.

이와 같은 수지 조성물을 사용함으로써, 유전 정접이 낮고, 스미어 제거성이 뛰어나며, 도체층과의 사이의 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻는 것이 가능해진다.By using such a resin composition, it becomes possible to obtain the hardened | cured material which is low in dielectric tangent, excellent in smear removal property, and excellent in adhesiveness with a conductor layer.

수지 조성물은, (A) 내지 (D) 성분에 조합하여, 추가로 임의의 성분을 포함하고 있어도 좋다. 임의의 재료로서는, 예를 들면, (E) 열가소성 수지, (F) 경화제, (G) 경화 촉진제, (H) 중합 개시제, 및 (I) 기타 첨가제 등을 들 수 있다. 이하, 수지 조성물에 포함되는 각 성분에 대해 상세하게 설명한다.The resin composition may further contain arbitrary components in combination with (A)-(D) component. As arbitrary materials, (E) thermoplastic resin, (F) hardening | curing agent, (G) hardening accelerator, (H) polymerization initiator, (I) other additive, etc. are mentioned, for example. Hereinafter, each component contained in a resin composition is explained in full detail.

<(A) 에폭시 수지><(A) Epoxy Resin>

(A) 에폭시 수지로서는, 예를 들면, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀A 형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지, 비스페놀S형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨노볼락형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선상 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As the (A) epoxy resin, for example, bixylenol type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, tris Phenol type epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin , Glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin having butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, Cyclohexane type epoxy resin, cyclohexane dimethanol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin , Trimethylol type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, and the like. An epoxy resin may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

수지 조성물은, (A) 에폭시 수지로서, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, (A) 에폭시 수지의 불휘발 성분 100질량%에 대해, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지의 비율은, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.It is preferable that a resin composition contains the epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule as (A) epoxy resin. From the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention, the ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule to 100% by mass of the nonvolatile component of the (A) epoxy resin is preferably 50% by mass or more. Preferably it is 60 mass% or more, Especially preferably, it is 70 mass% or more.

에폭시 수지에는, 온도 20℃에서 액상의 에폭시 수지(이하 「액상 에폭시 수지」라고 하는 경우가 있음.)와, 온도 20℃에서 고체상의 에폭시 수지(이하 「고체상 에폭시 수지」라고 하는 경우가 있음.)가 있다. 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 고체상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋지만, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 함유하는 것이 바람직하다. (A) 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 사용함으로써, 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에 충분한 가요성이 얻어지거나, 수지 조성물의 경화물의 파단 강도를 향상시키거나 할 수 있다.The epoxy resin is a liquid epoxy resin (hereinafter sometimes referred to as "liquid epoxy resin") at a temperature of 20 ° C, and a solid epoxy resin (hereinafter may be referred to as a "solid epoxy resin") at a temperature of 20 ° C. There is. Although the resin composition may contain only liquid epoxy resin and may contain only solid epoxy resin as (A) epoxy resin, It is preferable to contain a liquid epoxy resin and solid epoxy resin in combination. By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination as (A) epoxy resin, sufficient flexibility is obtained when using it in the form of a resin sheet, or the breaking strength of the hardened | cured material of a resin composition can be improved. .

액상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 액상 에폭시 수지가 바람직하다.As a liquid epoxy resin, the liquid epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule is preferable.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하고, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, glycidyl ester type epoxy resins, glycidylamine type epoxy resins, and phenol novolac type epoxy resins. , An alicyclic epoxy resin having an ester skeleton, a cyclohexane type epoxy resin, a cyclohexane dimethanol type epoxy resin, a glycidylamine type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin is more preferable.

액상 에폭시 수지의 구체예로는 DIC사 제조의 「HP4032」, 「HP4032D 」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「828US」, 「jER828EL」, 「825」, 「에피코트 828EL」(비스페놀A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER807」, 「1750」(비스페놀F형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER152」(페놀노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「630」, 「630LSD」(글리시딜아민형 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「ZX1059」(비스페놀A형 에폭시 수지와 비스페놀F형 에폭시 수지의 혼합품); 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-721」(글리시딜에스테르형 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「셀록사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「ZX1658」, 「ZX1658GS」(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a specific example of a liquid epoxy resin, "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin) by a DIC company; "828US", "jER828EL", "825", and "Epicoat 828EL" by Mitsubishi Chemical Corporation (bisphenol A type epoxy resin); "JER807" and "1750" by Mitsubishi Chemical Corporation (bisphenol F type epoxy resin); "JER152" (Phenol novolak-type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "630" and "630LSD" (glycidylamine type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "ZX1059" by Shin-Nitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd. (mixture of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin); "EX-721" (glycidyl ester type epoxy resin) by Nagase Chemtex Co., Ltd .; "Celoxide 2021P" by Daicel Corporation (alicyclic epoxy resin which has ester frame | skeleton); "PB-3600" by the Daicel company (epoxy resin which has butadiene structure); "ZX1658" and "ZX1658GS" (Liquid 1,4-glycidylcyclohexane type epoxy resin) by Shin-Nitetsu Sumikin Kagaku Co., etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

고체상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 고체상 에폭시 수지가 바람직하고, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계의 고체상 에폭시 수지가 보다 바람직하다.As a solid epoxy resin, the solid epoxy resin which has three or more epoxy groups in 1 molecule is preferable, and the aromatic solid epoxy resin which has three or more epoxy groups in 1 molecule is more preferable.

고체상 에폭시 수지로서는, 비크실레놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지가 바람직하고, 나프톨형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.As a solid epoxy resin, a bixylenol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, a cresol novolak type epoxy resin, a dicyclopentadiene type epoxy resin, a trisphenol type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, a Phenyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin are preferable, and naphthol type epoxy resin and naphthalene type epoxy resin are more preferable. desirable.

고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-4700」, 「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-690」(크레졸노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-695」(크레졸노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-7200」, 「HP-7200HH」, 「HP-7200H」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「EXA-7311」, 「EXA-7311-G3」, 「EXA-7311-G4」, 「EXA-7311-G4S」, 「HP6000」(나프틸렌에테르형 에폭시 수지); 니폰 카야쿠사 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지); 니폰 카야쿠사 제조의 「NC7000L」(나프톨노볼락형 에폭시 수지); 니폰 카야쿠사 제조의 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「ESN475V」(나프톨형 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「ESN485」(나프톨노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX4000H」, 「YX4000」, 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지); 오사카 가스 케미컬사 제조의 「PG-100」, 「CG-500」; 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7760」(비스페놀AF형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER1010」(고체상 비스페놀A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이것들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a specific example of a solid epoxy resin, "HP4032H" (naphthalene type epoxy resin) by DIC Corporation; "HP-4700" and "HP-4710" (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin) by DIC Corporation; "N-690" (cresol novolak-type epoxy resin) by DIC Corporation; "N-695" (cresol novolak-type epoxy resin) by DIC Corporation; "HP-7200", "HP-7200HH", "HP-7200H" (dicyclopentadiene type epoxy resin) by DIC Corporation; "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", and "HP6000" by a DIC company (naphthylene ether type epoxy resin); Nippon Kayaku Co., Ltd. "EPPN-502H" (trisphenol type epoxy resin); Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC7000L" (naphthol novolak-type epoxy resin); Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin); "ESN475V" (naphthol type epoxy resin) by Shin-Nitetsu Sumikin Kagaku Corporation; "ESN485" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd. (naphthol novolac type epoxy resin); "YX4000H", "YX4000", "YL6121" (biphenyl type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; Mitsubishi Chemical Corporation "YX4000HK" (bixenol type epoxy resin); "YX8800" (Anthracene type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "PG-100" and "CG-500" by Osaka Gas Chemical Co., Ltd .; "YL7760" (Bisphenol AF type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "YL7800" (fluorene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "JER1010" by the Mitsubishi Chemical Corporation (solid bisphenol A epoxy resin); "JER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation, etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

(A) 에폭시 수지로서 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합해서 사용하는 경우, 그것들의 양비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 바람직하게는 1:1 내지 1:20, 보다 바람직하게는 1:1.5 내지 1:15, 특히 바람직하게는 1:2 내지 1:10이다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지와의 양비가 이러한 범위에 있음으로써, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻을 수 있다. 또한, 통상적으로는, 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에, 적당한 점착성이 생긴다. 또한, 통상적으로는, 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에, 충분한 가요성이 얻어져, 취급성이 향상된다. 또한, 통상적으로는, 충분한 파단 강도를 갖는 경화물을 얻을 수 있다.(A) When using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination as an epoxy resin, these ratios (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) are mass ratio, Preferably it is 1: 1-1: 20, More preferably, Preferably 1: 1.5 to 1:15, particularly preferably 1: 2 to 1:10. When the ratio between the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin is in this range, the desired effect of the present invention can be remarkably obtained. Moreover, when using normally in the form of a resin sheet, moderate adhesiveness arises. Moreover, when using normally in the form of a resin sheet, sufficient flexibility is obtained and handling property improves. Moreover, the hardened | cured material which has sufficient breaking strength normally can be obtained.

(A) 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50g/eq. 내지 5000g/eq., 보다 바람직하게는 50g/eq. 내지 3000g/eq., 더욱 바람직하게는 80g/eq. 내지 2000g/eq., 보다 더 바람직하게는 110g/eq. 내지 1000g/eq.이다. 이 범위가 됨으로써, 수지 조성물층의 경화물의 가교 밀도가 충분해지고, 표면 거칠기가 작은 절연층을 형성할 수 있다. 에폭시 당량은, 1당량의 에폭시기를 포함하는 에폭시 수지의 질량이다. 이 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라 측정할 수 있다.(A) The epoxy equivalent of an epoxy resin becomes like this. Preferably it is 50 g / eq. To 5000 g / eq., More preferably 50 g / eq. To 3000 g / eq., More preferably 80 g / eq. To 2000 g / eq., Even more preferably 110 g / eq. To 1000 g / eq. By setting it as this range, the crosslinking density of the hardened | cured material of a resin composition layer becomes enough, and the insulating layer with a small surface roughness can be formed. Epoxy equivalent is the mass of the epoxy resin containing 1 equivalent of epoxy group. This epoxy equivalent can be measured according to JISK7236.

(A) 에폭시 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 100 내지 5000, 보다 바람직하게는 250 내지 3000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1500이다.(A) The weight average molecular weight (Mw) of an epoxy resin becomes like this. Preferably it is 100-5000, More preferably, it is 250-3000, More preferably, it is 400-1500 from a viewpoint which remarkably acquires the desired effect of this invention.

수지의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해, 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.The weight average molecular weight of resin can be measured as a value of polystyrene conversion by the gel permeation chromatography (GPC) method.

(A) 에폭시 수지의 함유량은, 양호한 기계 강도, 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 8질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 25질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하, 특히 바람직하게는 15질량% 이하이다. 또한, 본 발명에서, 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 별도 명시가 없는 한, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때의 값이다.(A) When content of epoxy resin sets the nonvolatile component in a resin composition to 100 mass% from a viewpoint of obtaining the insulating layer which shows favorable mechanical strength and insulation reliability, Preferably it is 1 mass% or more, More preferably, 5 mass% or more, More preferably, it is 8 mass% or more. The upper limit of the content of the epoxy resin is preferably 25% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, particularly preferably 15% by mass or less from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. In addition, in this invention, content of each component in a resin composition is a value at the time of making non-volatile component in a resin composition 100 mass% unless there is particular notice.

<(B) 활성 에스테르계 경화제><(B) Active Ester Curing Agent>

수지 조성물은, (B) 활성 에스테르계 경화제를 함유한다. 활성 에스테르계 경화제를 사용하면, 통상 유전 정접을 낮게 할 수 있는 한편 스미어 제거성이 떨어진다. 하지만, 본 발명의 수지 조성물은, (C) 성분 및 소정량의 (D) 성분을 함유하고, 또 (A) 성분 및 (B) 성분의 양비를 소정의 범위 내가 되도록 조정하므로, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 스미어 제거성 및 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻는 것이 가능해진다.The resin composition contains the (B) active ester curing agent. The use of an active ester curing agent usually results in a low dielectric loss tangent while poor smear removal. However, the resin composition of the present invention contains the component (C) and a predetermined amount of the component (D), and adjusts the amount ratio of the component (A) and the component (B) to be within a predetermined range, thereby lowering the dielectric tangent. In addition, it becomes possible to obtain the hardened | cured material excellent in smear removal property and adhesiveness.

(B) 활성 에스테르계 경화제로서는, 일반적으로 페놀에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의, 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 당해 활성 에스테르계 경화제는, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들면 벤조산, 아세트산, 숙신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀A, 비스페놀F, 비스페놀S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀A, 메틸화 비스페놀F, 메틸화 비스페놀S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀노볼락 등을 들 수 있다. 여기서, 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합하여 얻어지는 디페놀 화합물을 말한다.(B) As an active ester type hardening | curing agent, generally two ester groups with high reaction activity, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxy amine ester, and ester of a heterocyclic hydroxy compound, are contained in 1 molecule. The compound which has the above is used preferably. It is preferable that the said active ester type hardening | curing agent is obtained by condensation reaction of a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound, a hydroxy compound, and / or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound, a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid and pyromellitic acid. As the phenol compound or naphthol compound, for example, hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, Trihydroxy benzophenone, tetrahydroxy benzophenone, a fluoroglucin, benzene triol, a dicyclopentadiene type diphenol compound, a phenol novolak, etc. are mentioned. Here, a "dicyclopentadiene type diphenol compound" means the diphenol compound obtained by condensing 2 molecules of phenol to 1 molecule of dicyclopentadiene.

구체적으로는, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르계 경화제, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 그 중에서도 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하고, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르계 경화제가 더욱 바람직하다. 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르계 경화제로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하다. 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조」란, 페닐렌-디사이클로펜틸렌-페닐렌으로 이루어진 2가의 구조 단위를 나타낸다.Specifically, dicyclopentadiene type active ester curing agent, active ester curing agent containing naphthalene structure, active ester curing agent containing phenol of phenol novolac, and active ester curing agent containing benzomonide of phenol novolak A hardening | curing agent is preferable, Especially, the active ester type hardening | curing agent containing a naphthalene structure, the dicyclopentadiene type active ester type hardening | curing agent are more preferable, and the dicyclopentadiene type active ester type hardening | curing agent is still more preferable. As the dicyclopentadiene type active ester curing agent, an active ester curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure is preferable. "Dicyclopentadiene type diphenol structure" shows the bivalent structural unit which consists of phenylene dicyclopentylene phenylene.

(B) 활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서, 「EXB9451」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 223g/eq.), 「EXB9460」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 223g/eq.), 「EXB9460S」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 223g/eq.), 「HPC-8000-65T」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 223g/eq.), 「HPC-8000H-65TM」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 224g/eq.), 「HPC8000L-65TM」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 220g/eq.), 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서 「EXB-8100L-65T」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 234g/eq.), 「EXB8150-60T」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 226g/eq.), 「EXB9416-70BK」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 274g/eq.), 「PC1300-02」(에어 워터사 제조, 활성 에스테르기 당량 200g/eq.), 인 함유 활성 에스테르계 경화제로서 「EXB9401」(DIC사 제조, 활성 에스테르기 당량 307g/eq.), 페놀노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「DC808」(미츠비시 케미컬사 제조, 활성 에스테르기 당량 149g/eq.), 페놀노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「YLH1026」(미츠비시 케미컬사 제조), 「YLH1030」(미츠비시 케미컬사 제조), 「YLH1048」(미츠비시 케미컬사 제조) 등을 들 수 있다.(B) As a commercial item of an active ester hardening | curing agent, as an active ester hardening | curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, "EXB9451" (made by DIC Corporation, active ester group equivalent 223 g / eq.), "EXB9460" ( DIC company make, active ester group equivalent 223 g / eq.), "EXB9460S" (DIC company make, active ester group equivalent 223 g / eq.), "HPC-8000-65T" (DIC company make, active ester group equivalent 223 g / eq.), "HPC-8000H-65TM" (made by DIC, active ester group equivalent of 224 g / eq.), "HPC8000L-65TM" (made by DIC, active ester group equivalent: 220 g / eq.), and naphthalene structure "EXB-8100L-65T" (Active ester group equivalent 234 g / eq.), "EXB8150-60T" (made by DIC Corporation, active ester group equivalent 226 g / eq.) As an active ester hardening | curing agent to make, "EXB9416" -70 BK "(made by DIC, active ester group equivalent 274 g / eq.)," PC1300-02 "(made by Air Water, active ester group equivalent 200 g / eq.), Phosphorus containing As an ester ester curing agent "EXB9401" (DIC Corporation, active ester group equivalent 307 g / eq.), Phenol novolac acetylide active ester curing agent "DC808" (Mitsubishi Chemical Corporation, active ester group equivalent 149 g / eq.) and "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), "YLH1030" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) and the like as an active ester curing agent which is a phenol phenol of phenol novolac. .

(B) 활성 에스테르계 경화제의 활성 에스테르기 당량은, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻는 관점에서, 바람직하게는 50g/eq. 내지 500g/eq., 보다 바람직하게는 50g/eq. 내지 400g/eq., 더욱 바람직하게는 100g/eq. 내지 300g/eq.이다. 활성 에스테르기 당량은, 1당량의 활성 에스테르기를 포함하는 활성 에스테르계 경화제의 질량이다.The active ester group equivalent of the (B) active ester curing agent is preferably 50 g / eq from the viewpoint of lowering the dielectric tangent and obtaining a cured product excellent in adhesion. To 500 g / eq., More preferably 50 g / eq. To 400 g / eq., More preferably 100 g / eq. To 300 g / eq. Active ester group equivalent is the mass of the active ester type hardening | curing agent containing 1 equivalent of active ester group.

(A) 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 a로 한다. 이 값 「a」는, (A) 성분이 함유하는 에폭시기의 당량수(eq.)를 나타낸다. 또한, (B) 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 b로 한다. 이 값 「b」는, (B) 성분이 함유하는 활성 에스테르기의 당량수(eq.)를 나타낸다. 이 경우, b/a는, 1.3 이상이며, 바람직하게는 1.35 이상, 보다 바람직하게는 1.4 이상이다. 상한치는, 바람직하게는 5 이하, 보다 바람직하게는 3 이하, 더욱 바람직하게는 2 이하이다. b/a를 이러한 범위 내가 되도록 (A) 성분 및 (B) 성분의 양비를 조정함으로써, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻는 것이 가능해진다. 여기서, 수지 조성물 중에 (A) 성분이 2종 이상 함유하는 경우, 상기 a는, 수지 조성물 중에 존재하는 각 에폭시 수지의 질량을 각 에폭시 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값이다. 또한, (B) 성분이 2종 이상 함유하는 경우, 상기 b는, 수지 조성물 중에 존재하는 각 활성 에스테르계 경화제의 질량을 각 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값이다.The value which divided the mass of (A) component by the epoxy equivalent is made into a. This value "a" shows the equivalent number (eq.) Of the epoxy group which (A) component contains. In addition, the value which divided | diluted the mass of (B) component by the active ester group equivalent is set to b. This value "b" shows the equivalent number (eq.) Of the active ester group which (B) component contains. In this case, b / a is 1.3 or more, Preferably it is 1.35 or more, More preferably, it is 1.4 or more. Preferably an upper limit is 5 or less, More preferably, it is 3 or less, More preferably, it is 2 or less. By adjusting the ratio between the components (A) and (B) so that b / a is within this range, the dielectric tangent can be lowered and a cured product excellent in adhesion can be obtained. Here, when (A) component contains 2 or more types in a resin composition, said a is the value which totaled the value which divided the mass of each epoxy resin which exists in a resin composition by each epoxy equivalent. In addition, when (B) component contains 2 or more types, said b is the value which totaled the value which divided the mass of each active ester type hardening | curing agent which exists in a resin composition by each active ester group equivalent.

(B) 활성 에스테르계 경화제의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 3질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상이다. 또한, 상한은 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하, 더욱 바람직하게는 15질량% 이하이다. (B) 성분의 함유량을 이러한 범위 내로 함으로써, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻는 것이 가능해진다.When the content of the (B) active ester curing agent is 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition, preferably 1% by mass or more, more preferably 3% by mass or more, still more preferably 5% by mass or more. to be. Moreover, an upper limit becomes like this. Preferably it is 30 mass% or less, More preferably, it is 20 mass% or less, More preferably, it is 15 mass% or less. By making content of (B) component into such a range, dielectric loss tangent can be made low and the hardened | cured material excellent in adhesiveness can be obtained.

<(C) (메타)아크릴산에스테르><(C) (meth) acrylic acid ester>

수지 조성물은, (C) (메타)아크릴산에스테르를 함유한다. (C) (메타)아크릴산에스테르를 수지 조성물에 함유시킴으로써, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 스미어 제거성이 뛰어난 경화물을 얻는 것이 가능해진다. (A) 성분 및 (B) 성분의 양비를 소정의 범위 내가 되도록 조정함으로써, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 밀착성이 뛰어난 경화물이 얻어지지만, 스미어 제거성이 떨어지는 경향이 있기 때문에, 본 발명에서는 (C) 성분을 수지 조성물에 함유시킴으로써 스미어 제거성을 향상시키는 것이 가능해진다.The resin composition contains (C) (meth) acrylic acid ester. By containing (C) (meth) acrylic acid ester in a resin composition, it becomes possible to make dielectric loss tangent low and to obtain the hardened | cured material excellent in smear removal property. By adjusting the ratio of the component (A) and the component (B) to be within a predetermined range, the dielectric tangent can be lowered and a cured product excellent in adhesion is obtained, but the smear removal property tends to be inferior. In it, it becomes possible to improve smear removal property by containing (C) component in a resin composition.

여기서, 용어 「(메타)아크릴산」이란, 아크릴산 및 메타크릴산, 및 이것들의 조합을 포함한다.Here, the term "(meth) acrylic acid" includes acrylic acid and methacrylic acid, and combinations thereof.

(C) (메타)아크릴산에스테르는, 유전 정접을 낮게 하고, 스미어 제거성이 뛰어난 경화물을 얻는 관점에서, 1분자당 2개 이상의 (메타)아크릴로일기를 갖는 것이 바람직하다. 용어 「(메타)아크릴로일기」란, 아크릴로일기 및 메타크릴로일 기 및 이것들의 조합을 포함한다.(C) It is preferable that (meth) acrylic acid ester has two or more (meth) acryloyl groups per molecule from a viewpoint of making low dielectric loss tangent and obtaining hardened | cured material excellent in smear removal property. The term "(meth) acryloyl group" includes acryloyl group and methacryloyl group and combinations thereof.

(C) (메타)아크릴산에스테르는, 유전 정접을 낮게하고, 스미어 제거성이 뛰어난 경화물을 얻는 관점에서, 환상 구조를 갖는 것이 바람직하다. 환상 구조로서는, 2가의 환상기가 바람직하다. 2가의 환상기로서는, 지환식 구조를 포함하는 환상기 및 방향환 구조를 포함하는 환상기 중 어느 것이라도 좋다. 그 중에서도, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 지환식 구조를 포함하는 환상기인 것이 바람직하다.(C) It is preferable that (meth) acrylic acid ester has a cyclic structure from a viewpoint of making dielectric hard tanning low and obtaining the hardened | cured material excellent in smear removal property. As a cyclic structure, a bivalent cyclic group is preferable. As a bivalent cyclic group, any of the cyclic group containing an alicyclic structure and the cyclic group containing an aromatic ring structure may be sufficient. Especially, it is preferable that it is a cyclic group containing an alicyclic structure from a viewpoint which remarkably acquires the desired effect of this invention.

2가의 환상기는, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 3원환 이상, 보다 바람직하게는 4원환 이상, 더욱 바람직하게는 5원환 이상이며, 바람직하게는 20원환 이하, 보다 바람직하게는 15원환 이하, 더욱 바람직하게는 10원환 이하이다. 또한, 2가의 환상기로서는, 단환 구조라도 좋고, 다환 구조라도 좋다.From the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention, the divalent cyclic group is preferably at least 3 membered ring, more preferably at least 4 membered ring, still more preferably at least 5 membered ring, preferably at most 20 membered ring, more preferably. Preferably it is 15 or less ring, More preferably, it is 10 or less ring. Moreover, as a bivalent cyclic group, a monocyclic structure may be sufficient and a polycyclic structure may be sufficient.

2가의 환상기에서의 환은, 탄소 원자 이외의 헤테로 원자에 의해 환의 골격이 구성되어 있어도 좋다. 헤테로 원자로서는, 예를 들면, 산소 원자, 황 원자, 질소 원자 등을 들 수 있고, 산소 원자가 바람직하다. 헤테로 원자는 상기 환에 1개 갖고 있어도 좋고, 2개 이상을 갖고 있어도 좋다.As for the ring in a bivalent cyclic group, the skeleton of a ring may be comprised by hetero atoms other than a carbon atom. As a hetero atom, an oxygen atom, a sulfur atom, a nitrogen atom, etc. are mentioned, for example, An oxygen atom is preferable. One hetero atom may have it in the said ring, and may have two or more.

2가의 환상기의 구체예로서는, 하기의 2가의 기 (i) 내지 (xi)를 들 수 있다. 그 중에서도, 2가의 환상기로서는, (x) 또는 (xi)가 바람직하다.Specific examples of the divalent cyclic group include the following divalent groups (i) to (xi). Especially, as a bivalent cyclic group, (x) or (xi) is preferable.

Figure pat00002
Figure pat00002

2가의 환상기는, 치환기를 갖고 있어도 좋다. 이와 같은 치환기로서는, 예를 들면, 할로겐 원자, 알킬기, 알콕시기, 아릴기, 아릴알킬기, 실릴기, 아실기, 아실옥시기, 카르복시기, 술포기, 시아노기, 니트로기, 하이드록시기, 머캅토기, 옥소기 등을 들 수 있고, 알킬기가 바람직하다.The divalent cyclic group may have a substituent. As such a substituent, for example, a halogen atom, an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, an arylalkyl group, a silyl group, an acyl group, an acyloxy group, a carboxyl group, a sulfo group, a cyano group, a nitro group, a hydroxyl group, a mercapto group , Oxo group, and the like, and an alkyl group is preferable.

(메타)아크릴로일기는, 2가의 환상기에 직접 결합하고 있어도 좋고, 2가의 연결기를 통해 결합하고 있어도 좋다. 2가의 연결기로서는, 예를 들면, 알킬렌기, 알케닐렌기, 아릴렌기, 헤테로아릴렌기, -C(=O)O-, -O-, -NHC(=O)-, -NC(=O)N-, -NHC(=O)O-, -C(=O)-, -S-, -SO-, -NH- 등을 들 수 있고, 이것들을 복수 조합한 기라도 좋다. 알킬렌기로서는, 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 6의 알킬렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 5의 알킬렌기, 또는 탄소 원자수 1 내지 4의 알킬렌기가 더욱 바람직하다. 알킬렌기는, 직쇄, 분기, 환상의 어느 것이라도 좋다. 이와 같은 알킬렌기로서는, 예를 들면, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, 부틸렌기, 펜틸렌기, 헥실렌기, 1,1-디메틸에틸렌기 등을 들 수 있고, 메틸렌기, 에틸렌기, 1,1-디메틸에틸렌기가 바람직하다. 알케닐렌기로서는, 탄소 원자수 2 내지 10의 알케닐렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 6의 알케닐렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 5의 알케닐렌기가 더욱 바람직하다. 아릴렌기, 헤테로아릴렌기로서는, 탄소 원자수 6 내지 20의 아릴렌기 또는 헤테로아릴렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴렌기 또는 헤테로아릴렌기가 보다 바람직하다. 2가의 연결기로서는, 알킬렌기가 바람직하고, 그 중에서도 메틸렌기, 1,1-디메틸에틸렌기가 바람직하다.The (meth) acryloyl group may be directly bonded to a divalent cyclic group, or may be bonded via a divalent linking group. As a bivalent coupling group, an alkylene group, an alkenylene group, an arylene group, a hetero arylene group, -C (= O) O-, -O-, -NHC (= O)-, -NC (= O) N-, -NHC (= O) O-, -C (= O)-, -S-, -SO-, -NH-, etc. can be mentioned, The group which combined these in multiple numbers may be sufficient. As the alkylene group, an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms is preferable, an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, or alkyl having 1 to 4 carbon atoms More preferably. The alkylene group may be any of linear, branched or cyclic. Examples of such alkylene groups include methylene groups, ethylene groups, propylene groups, butylene groups, pentylene groups, hexylene groups, 1,1-dimethylethylene groups, and the like. 1-dimethylethylene group is preferable. As the alkenylene group, an alkenylene group having 2 to 10 carbon atoms is preferable, an alkenylene group having 2 to 6 carbon atoms is more preferable, and an alkenylene group having 2 to 5 carbon atoms is more preferable. As an arylene group and a hetero arylene group, a C6-C20 arylene group or heteroarylene group is preferable, and a C6-C10 arylene group or heteroarylene group is more preferable. As a bivalent coupling group, an alkylene group is preferable and a methylene group and 1, 1- dimethyl ethylene group are especially preferable.

(C) (메타)아크릴산에스테르는, 하기 식 (1)로 표시되는 것이 바람직하다.(C) It is preferable that (meth) acrylic acid ester is represented by following formula (1).

Figure pat00003
Figure pat00003

(식 (1) 중, R1 및 R4는 각각 독립적으로 아크릴로일기 또는 메타크릴로일기를 나타내고, R2 및 R3은 각각 독립적으로 2가의 연결기를 나타낸다. 환 A는, 2가의 환상기를 나타낸다.)(In formula (1), R <1> and R <4> represents acryloyl group or a methacryloyl group each independently, and R <2> and R <3> represent a bivalent coupling group each independently. Ring A is a bivalent cyclic group Indicates.)

R1 및 R4는 각각 독립적으로 아크릴로일기 또는 메타크릴로일기를 나타내고, 아크릴로일기가 바람직하다.R 1 and R 4 each independently represent acryloyl group or methacryloyl group, and acryloyl group is preferable.

R2 및 R3은 각각 독립적으로 2가의 연결기를 나타낸다. 2가의 연결기로서는, 상기의 2가의 연결기와 동일하다.R 2 and R 3 each independently represent a divalent linking group. As a bivalent coupling group, it is the same as said bivalent coupling group.

환 A는, 2가의 환상기를 나타낸다. 환 A로서는, 상기의 2가의 환상기와 동일하다.Ring A represents a divalent cyclic group. As ring A, it is the same as said bivalent cyclic group.

환 A는, 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기로서는, 상기의 2가의 환상기를 갖고 있어도 좋은 치환기와 동일하다.Ring A may have a substituent. As a substituent, it is the same as the substituent which may have said bivalent cyclic group.

이하, (C) 성분의 구체예를 나타내지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, although the specific example of (C) component is shown, this invention is not limited to this.

Figure pat00004
Figure pat00004

(C) 성분은, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 신나카무라 카가쿠코교사 제조의 「A-DOG」, 쿄에이샤 카가쿠사 제조의 「DCP-A」 등을 들 수 있다. (C) 성분은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.A commercial item may be used for (C) component, For example, "A-DOG" by the Shin-Nakamura Kagaku Kogyo Co., Ltd. "DCP-A" by the Kyogisha Co., Ltd., etc. are mentioned. (C) A component may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type.

(C) 성분의 함유량은, 본 발명의 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 3질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상이다. 상한은 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 18질량% 이하, 더욱 바람직하게는 15질량% 이하, 또는 10질량% 이하이다. 수지 조성물의 「수지 성분」이란, 수지 조성물에 포함되는 불휘발 성분 중, (D) 무기 충전재를 제외한 성분을 말한다.When content of (C) component makes the resin component in a resin composition 100 mass% from the viewpoint of remarkably obtaining the effect of this invention, Preferably it is 1 mass% or more, More preferably, it is 3 mass% or more, More Preferably it is 5 mass% or more. Preferably an upper limit is 20 mass% or less, More preferably, it is 18 mass% or less, More preferably, it is 15 mass% or less, or 10 mass% or less. The "resin component" of a resin composition means the component except the (D) inorganic filler among the non volatile components contained in a resin composition.

<(D) 무기 충전재><(D) inorganic filler>

수지 조성물은, (D) 무기 충전재를 함유한다. (D) 무기 충전재의 함유량은, 유전 정접을 낮게 하고, 스미어 제거성을 향상시키는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 70질량% 이상이고, 바람직하게는 73질량% 이상, 보다 바람직하게는 75질량% 이상이며, 바람직하게는 90질량% 이하, 보다 바람직하게는 85질량% 이하, 더욱 바람직하게는 80질량% 이하이다. 무기 충전재의 함유량이 70질량% 이상이 되면, 밀착성이 저하되기 쉬운 경향이 있지만, 본 발명의 수지 조성물은, (A) 성분 및 (B) 성분의 양비를 소정의 범위 내가 되도록 조정하므로, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 스미어 제거성 및 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻는 것이 가능해진다.The resin composition contains the inorganic filler (D). (D) Content of an inorganic filler is 70 mass% or more, Preferably it is 73 mass% when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass% from a viewpoint of making dielectric loss tangent low and improving smear removal property. As mentioned above, More preferably, it is 75 mass% or more, Preferably it is 90 mass% or less, More preferably, it is 85 mass% or less, More preferably, it is 80 mass% or less. When content of an inorganic filler becomes 70 mass% or more, there exists a tendency for adhesiveness to fall easily, but since the resin composition of this invention adjusts the ratio of (A) component and (B) component so that it may become in a predetermined range, dielectric loss tangent It can be made low, and it becomes possible to obtain the hardened | cured material excellent in smear removal property and adhesiveness.

무기 충전재의 재료로서는, 무기 화합물을 사용한다. 무기 충전재의 재료의 예로서는, 실리카, 알루미나, 유리, 코디에라이트, 규소 산화물, 황산바륨, 탄산바륨, 탈크, 클레이, 운모분, 산화아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화망간, 붕산알루미늄, 탄산스트론튬, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무트, 산화티탄, 산화지르코늄, 티탄산바륨, 티탄산지르콘 산바륨, 지르콘산바륨, 지르콘산칼슘, 인산지르코늄, 및 인산텅스텐산지르코늄 등을 들 수 있다. 이것들 중에서도 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들면, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등을 들 수 있다. 또한, 실리카로서는, 구상 실리카가 바람직하다. (D) 무기 충전재는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합해서 사용해도 좋다.As a material of an inorganic filler, an inorganic compound is used. Examples of the material of the inorganic filler include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, carbonate Calcium, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, zirconium titanate, zirconate Barium acid, calcium zirconate, zirconium phosphate, zirconium tungsten phosphate, and the like. Among these, silica is especially suitable. Examples of the silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica, and the like. In addition, as silica, spherical silica is preferable. (D) An inorganic filler may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

(D) 무기 충전재의 시판품으로서는, 예를 들면, 덴카 카가쿠 코교사 제조의 「UFP-30」; 신닛테츠 스미킨 머티리얼즈사 제조의 「SP60-05」, 「SP507-05」; 아도마텍스사 제조의 「YC100C」, 「YA050C」, 「YA050C-MJE」, 「YA010C」; 덴카사 제조의 「UFP-30」; 토쿠야마사 제조의 「실필 NSS-3N」,「실필 NSS-4N」, 「실필 NSS-5N」; 아도마텍스사 제조의 「SC2500SQ」, 「SO-C4」, 「SO-C2」, 「SO-C1」; 등을 들 수 있다.As a commercial item of the (D) inorganic filler, it is "UFP-30" by the Denka Kagaku Kogyo Co., Ltd .; "SP60-05" and "SP507-05" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Materials; "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE", and "YA010C" by Ado-Matex Corporation; "UFP-30" by the Denka Corporation; "Handwriting NSS-3N", "Handwriting NSS-4N", "Handwriting NSS-5N" manufactured by Tokuyama Co .; "SC2500SQ", "SO-C4", "SO-C2", "SO-C1" made by Ado-Matex Corporation; Etc. can be mentioned.

(D) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.05㎛ 이상, 특히 바람직하게는 0.1㎛ 이상이며, 바람직하게는 5㎛ 이하, 보다 바람직하게는 2㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1㎛ 이하이다.The average particle diameter of the inorganic filler (D) is preferably 0.01 µm or more, more preferably 0.05 µm or more, particularly preferably 0.1 µm or more, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. 5 micrometers or less, More preferably, it is 2 micrometers or less, More preferably, it is 1 micrometer or less.

(D) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입자 직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자 직경 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중앙(median) 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재 100mg, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 측정하여 담아, 초음파로 10분간 분산시킨 것을 사용할 수 있다. 측정 샘플을, 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치를 사용하여, 사용 광원 파장을 청색 및 적색으로 하고, 플로우 셀 방식으로 (D) 무기 충전재의 체적 기준의 입자 직경 분포를 측정하여, 얻어진 입자 분포로부터 중앙 직경으로서 평균 입자 직경을 산출했다. 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치로서는, 예를 들면 호리바 세이사쿠쇼사 제조의 「LA-960」 등을 들 수 있다.(D) The average particle diameter of an inorganic filler can be measured by the laser diffraction scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the laser diffraction scattering particle diameter distribution measuring device can measure the particle diameter distribution of the inorganic filler on a volume basis and measure the median diameter as the average particle diameter. As a measurement sample, 100 mg of inorganic fillers and 10 g of methyl ethyl ketones were measured in a vial bottle, and what disperse | distributed for 10 minutes by the ultrasonic wave can be used. From the particle distribution obtained by using a laser diffraction type particle diameter distribution measuring device, the wavelength of the used light source was set to blue and red, and the particle size distribution of the volume standard of the inorganic filler (D) was measured by a flow cell method. The average particle diameter was calculated as the median diameter. As a laser diffraction type particle diameter distribution measuring apparatus, "LA-960" by Horiba Seisakusho Co., etc. is mentioned, for example.

(D) 무기 충전재의 비표면적은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 1㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 2㎡/g 이상, 특히 바람직하게는 3㎡/g 이상이다. 상한에 특단의 제한은 없지만, 바람직하게는 60㎡/g 이하, 50㎡/g 이하 또는 40㎡/g 이하이다. 비표면적은, BET법에 따라, 비표면적 측정 장치(마운테크사 제조 Macsorb HM-1210)를 사용하여 시료 표면에 질소 가스를 흡착시키고, BET 다점법을 사용하여 비표면적을 산출함으로써 얻어진다.(D) The specific surface area of the inorganic filler is preferably 1 m 2 / g or more, more preferably 2 m 2 / g or more, particularly preferably 3 m 2 / g or more from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. to be. Although there is no restriction | limiting in particular in an upper limit, Preferably it is 60 m <2> / g or less, 50 m <2> / g or less, or 40 m <2> / g or less. A specific surface area is obtained by adsorb | sucking nitrogen gas to a sample surface using a specific surface area measuring apparatus (Macsorb HM-1210 by Mountain Tech Co., Ltd.) according to the BET method, and calculating specific surface area using the BET multipoint method.

(D) 무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리제로서는, 예를 들면, 불소 함유 실란 커플링제, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란, 오가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등을 들 수 있다. 또한, 표면 처리제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다.(D) It is preferable that an inorganic filler is processed with the surface treating agent from a viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. As the surface treatment agent, for example, a fluorine-containing silane coupling agent, an aminosilane-based coupling agent, an epoxysilane-based coupling agent, a mercaptosilane-based coupling agent, a silane-based coupling agent, an alkoxysilane, an organosilazane compound, a titanate-based coupler Ring agent etc. are mentioned. In addition, a surface treating agent may be used individually by 1 type, and may be used combining two or more types arbitrarily.

표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노 프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM-7103」(3,3,3-트리플루오로프로필트리메톡시실란) 등을 들 수 있다.As a commercial item of a surface treating agent, Shin-Etsu Kagaku Kogyo Co., Ltd. "KBM403" (3-glycidoxy propyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Kagaku Kogyo Co., Ltd. "KBM803" (3-mercaptopropyl trimethoxy) Silane), Shin-Etsu Kagaku Kogyo Co., Ltd. "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane), Shin-Etsu Kagaku Kogyo Co., Ltd. "KBM573" (N-phenyl-3-amino propyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Kagaku Kogyo Co., Ltd. "SZ-31" (hexamethyldisilazane), Shin-Etsu Kagaku Kogyo Co., Ltd. "KBM103" (phenyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Kagaku Kogyo Co., Ltd. "KBM-4803" (long chain epoxy type silane coupler) Ring agent), "KBM-7103" (3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane) by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., etc. are mentioned.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 소정의 범위에 들어가는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 무기 충전재 100질량부는, 0.2질량부 내지 5질량부의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.2질량부 내지 3질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.3질량부 내지 2질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다.It is preferable that the grade of the surface treatment by a surface treating agent exists in a predetermined range from a viewpoint of the dispersibility improvement of an inorganic filler. Specifically, 100 parts by mass of the inorganic filler is preferably surface-treated with a surface treating agent of 0.2 parts by mass to 5 parts by mass, preferably surface-treated with 0.2 parts by mass to 3 parts by mass, and preferably 0.3 parts by mass to 2 parts by mass. It is preferable that it is surface-treated.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량에 따라 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니시의 용융 점도 및 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 억제하는 관점에서, 1mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment by a surface treating agent can be evaluated according to the amount of carbon per unit surface area of an inorganic filler. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg / m 2 or more, more preferably 0.1 mg / m 2 or more, and even more preferably 0.2 mg / m 2 or more. On the other hand, 1 mg / m <2> or less is preferable, 0.8 mg / m <2> or less is more preferable, 0.5 mg / m <2> or less is more preferable from a viewpoint of suppressing the raise of the melt viscosity of a resin varnish and a sheet form.

무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 첨가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용하여 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바 세이사쿠쇼사 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after washing the inorganic filler after the surface treatment with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with the surface treating agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25 ° C. for 5 minutes. After the supernatant is removed and the solids are dried, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" by Horiba Seisakusho Co., etc. can be used.

<(E) 열가소성 수지><(E) Thermoplastic Resin>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 추가로 (E) 열가소성 수지를 포함하고 있어도 좋다.The resin composition may further contain (E) thermoplastic resin as an arbitrary component other than the component mentioned above.

(E) 성분으로서의 열가소성 수지로서는, 예를 들면, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리부타디엔 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리술폰 수지, 폴리에테르술폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점, 및, 표면 거칠기가 작고 도체층과의 밀착성이 특히 뛰어난 절연층을 얻는 관점에서, 페녹시 수지가 바람직하다. 또한, 열가소성 수지는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As the thermoplastic resin as the component (E), for example, a phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyether sulfone Resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, polyester resin and the like. Especially, a phenoxy resin is preferable from a viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of this invention, and a viewpoint of obtaining an insulating layer with a small surface roughness and especially excellent adhesiveness with a conductor layer. In addition, a thermoplastic resin may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more type.

페녹시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀A 골격, 비스페놀F 골격, 비스페놀S 골격, 비스페놀아세토페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디사이클로펜타디엔 골격, 노보넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 및 트리메틸사이클로헥산 골격으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종류 이상의 골격을 갖는 페녹시 수지를 들 수 있다. 페녹시 수지의 말단은, 페놀성 수산기, 에폭시기 등의 어느 관능기라도 좋다.As the phenoxy resin, for example, bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton And phenoxy resins having one or more kinds of skeletons selected from the group consisting of anthracene skeletons, adamantane skeletons, terpene skeletons, and trimethylcyclohexane skeletons. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group and an epoxy group.

페녹시 수지의 구체예로서는, 미츠비시 케미컬사 제조의 「1256」 및 「4250」(모두 비스페놀A 골격 함유 페녹시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX8100 」(비스페놀S 골격 함유 페녹시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX6954」(비스페놀아세토페논 골격 함유 페녹시 수지); 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「FX280」 및 「FX293」; 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7500BH30」, 「YX6954BH30」, 「YX7553」, 「YX7553BH30」, 「YL7769BH30」, 「YL6794」, 「YL7213」, 「YL7290」 및 「YL7482」; 등을 들 수 있다.As a specific example of phenoxy resin, "1256" and "4250" by Mitsubishi Chemical Corporation (both bisphenol A frame | skeleton containing phenoxy resin); "YX8100" (Bisphenol S frame | skeleton containing phenoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "YX6954" by Mitsubishi Chemical Corporation (bisphenol acetophenone skeleton containing phenoxy resin); "FX280" and "FX293" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Corporation; "YL7500BH30", "YX6954BH30", "YX7553", "YX7553BH30", "YL7769BH30", "YL6794", "YL7213", "YL7290" and "YL7482" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; Etc. can be mentioned.

폴리비닐아세탈 수지로서는, 예를 들면, 폴리비닐포르말 수지, 폴리비닐부티랄 수지를 들 수 있고, 폴리비닐부티랄 수지가 바람직하다. 폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는, 덴키 카가쿠코교사 제조의 「덴카 부티랄 4000-2」, 「덴카 부티랄 5000-A」, 「덴카 부티랄 6000-C」, 「덴카 부티랄 6000-EP」; 세키스이 카가쿠코교사 제조의 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈(예를 들면 BX-5Z), KS 시리즈(예를 들면 KS-1), BL 시리즈, BM 시리즈; 등을 들 수 있다.As polyvinyl acetal resin, polyvinyl formal resin and polyvinyl butyral resin are mentioned, for example, A polyvinyl butyral resin is preferable. As a specific example of polyvinyl acetal resin, "Denka butyral 4000-2", "Denka butyral 5000-A", "Denka butyral 6000-C" and "Denka butyral 6000-EP" by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd. make. ; Sekisui Kagaku Co., Ltd. Esrek BH series, BX series (for example BX-5Z), KS series (for example, KS-1), BL series, BM series; Etc. can be mentioned.

폴리이미드 수지의 구체예로서는, 신닛폰리카사 제조의 「리카코트 SN20」 및 「리카코트 PN20」을 들 수 있다. 폴리이미드 수지의 구체예로서는 또한, 2관능성 하이드록실기 말단 폴리부타디엔, 디이소시아네이트 화합물 및 4염기산 무수물을 반응시켜 얻어지는 선형 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2006-37083호 기재의 폴리이미드), 폴리실록산 골격 함유 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2002-12667호 및 일본 공개특허공보 특개2000-319386호 등에 기재의 폴리이미드) 등의 변성 폴리이미드를 들 수 있다.As a specific example of a polyimide resin, "Rica coat SN20" and "Rica coat PN20" by Shin-Nippon Rica company are mentioned. As a specific example of a polyimide resin, Linear polyimide (polyimide of Unexamined-Japanese-Patent No. 2006-37083) obtained by making bifunctional hydroxyl-group-end polybutadiene, a diisocyanate compound, and tetrabasic anhydride react also, polysiloxane Modified polyimides, such as a skeleton containing polyimide (polyimide of Unexamined-Japanese-Patent No. 2002-12667, Unexamined-Japanese-Patent No. 2000-319386, etc.), are mentioned.

폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는, 토요보사 제조의 「바이로맥스 HR11NN」 및 「바이로맥스 HR16NN」을 들 수 있다. 폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는 또한, 히타치 카세이사 제조의 「KS9100」, 「KS9300」(폴리실록산 골격 함유 폴리아미드이미드) 등의 변성 폴리아미드이미드를 들 수 있다.As a specific example of polyamideimide resin, "Biromax HR11NN" and "Biromax HR16NN" by Toyobo Co., Ltd. are mentioned. Specific examples of the polyamideimide resin include modified polyamideimide such as "KS9100" and "KS9300" (polysiloxane skeleton-containing polyamideimide) manufactured by Hitachi Kasei Co., Ltd.

폴리에테르술폰 수지의 구체예로서는, 스미토모 카가쿠사 제조의 「PES5003P」 등을 들 수 있다.As a specific example of polyether sulfone resin, "PES5003P" by Sumitomo Kagaku Corporation, etc. are mentioned.

폴리페닐렌에테르 수지의 구체예로서는, 미츠비시 가스 카가쿠사 제조의 올리고페닐렌에테르·스티렌 수지 「OPE-2St 1200」 등을 들 수 있다.As an example of polyphenylene ether resin, Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd. oligophenylene ether styrene resin "OPE-2St 1200" etc. are mentioned.

폴리술폰 수지의 구체예로서는, 솔베이 어드벤스 폴리머즈사 제조의 폴리술폰 「P1700」, 「P3500」 등을 들 수 있다.As a specific example of polysulfone resin, the polysulfone "P1700", "P3500", etc. by Solvay Advanced Polymers are mentioned.

(E) 열가소성 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 바람직하게는 8,000 이상, 보다 바람직하게는 10,000 이상, 특히 바람직하게는 20,000 이상이며, 바람직하게는 70,000 이하, 보다 바람직하게는 60,000 이하, 특히 바람직하게는 50,000 이하이다.(E) The weight average molecular weight (Mw) of the thermoplastic resin is preferably 8,000 or more, more preferably 10,000 or more, and particularly preferably 20,000 or more, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. 70,000 or less, More preferably, it is 60,000 or less, Especially preferably, it is 50,000 or less.

(E) 열가소성 수지의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.2질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.3질량% 이상이고, 바람직하게는 5질량% 이하, 보다 바람직하게는 3질량% 이하, 더욱 바람직하게는 1질량% 이하이다.The content of the (E) thermoplastic resin is, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention, when the nonvolatile component in the resin composition is 100 mass%, preferably 0.1 mass% or more, and more preferably 0.2 mass% As mentioned above, More preferably, it is 0.3 mass% or more, Preferably it is 5 mass% or less, More preferably, it is 3 mass% or less, More preferably, it is 1 mass% or less.

<(F) 경화제><(F) Curing agent>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 또한, (F) 경화제를 포함하고 있어도 좋다. 단, (B) 활성 에스테르계 경화제는 (F) 경화제에 포함시키지 않는다. (F) 경화제로서는, 예를 들면, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 절연 신뢰성을 향상시키는 관점에서, (F) 경화제는, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 및 카르보디이미드계 경화제의 어느 1종 이상인 것이 바람직하고, 페놀계 경화제를 포함하는 것이 보다 바람직하다. 경화제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.In addition to the component mentioned above, the resin composition may contain (F) hardening | curing agent further as arbitrary components. However, the (B) active ester curing agent is not included in the (F) curing agent. (F) As a hardening | curing agent, a phenol type hardening | curing agent, a naphthol type hardening | curing agent, a benzoxazine type hardening | curing agent, a cyanate ester type hardening | curing agent, a carbodiimide type hardening | curing agent, etc. are mentioned, for example. Especially, it is preferable that (F) hardening | curing agent is any 1 or more types of a phenol type hardening | curing agent, a naphthol type hardening | curing agent, a cyanate ester type hardening | curing agent, and a carbodiimide type hardening | curing agent from a viewpoint of improving insulation reliability, It is more preferable to include. A hardening | curing agent may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노 볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제, 또는 노볼락 구조를 갖는 나프톨계 경화제가 바람직하다. 또한, 도체층과의 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다.As a phenol type hardening | curing agent and a naphthol type hardening | curing agent, the phenol type hardening | curing agent which has a novolak structure, or the naphthol hardening | curing agent which has a novolak structure is preferable from a heat resistance and water resistance viewpoint. Moreover, a nitrogen-containing phenol type hardening | curing agent is preferable from a viewpoint of adhesiveness with a conductor layer, and a triazine skeleton containing phenol type hardening | curing agent is more preferable.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 메이와 카세이사 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 닛폰 카야쿠사 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN-495V」, 「SN375」, 「SN395」, DIC사 제조의 「TD-2090」, 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-1356」, 「LA3018-50P」, 「EXB-9500」 등을 들 수 있다.As a specific example of a phenol type hardening | curing agent and a naphthol type hardening | curing agent, "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" by Meiwa Kasei Co., Ltd. "NHN" by Nippon Kayaku Co., Ltd., "CBN" , "GPH", "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN-495V", "SN375", "SN395" by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Corporation) And "TD-2090", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA3018-50P", "EXB-9500" by DIC Corporation, etc. are mentioned.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, 쇼와 코분시사 제조의 「HFB2006M」, 시코쿠 카세이코교사 제조의 「P-d」, 「F-a」를 들 수 있다.As a specific example of a benzoxazine type hardening | curing agent, "HFB2006M" by the Showa Kobunshi company, "P-d" by the Shikoku Kasei Co., Ltd., and "F-a" are mentioned.

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트, 올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀노볼락 및 크레졸노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트 에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자 재팬사 제조의 「PT30」 및 「PT60」(페놀노볼락형 다관능 시아네이트 에스테르 수지), 「ULL-950S」(다관능 시아네이트 에스테르 수지), 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되고 삼량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다.As a cyanate ester type hardening | curing agent, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene- 1, 5- phenylene cyanate), 4,4'- methylene bis (2, 6-, for example) Dimethylphenylcyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4- Cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-sia Bifunctional cyanate resins such as natephenyl) thioether and bis (4-cyanatephenyl) ether, polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolac and cresol novolak, and these cyanate resins are partially triazine Prepolymer etc. can be mentioned. As a specific example of cyanate ester type hardening | curing agent, "PT30" and "PT60" (phenol phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resin) by Lonza Japan company, "ULL-950S" (polyfunctional cyanate ester resin), "BA230 And "BA230S75" (a prepolymer in which part or all of the bisphenol A dicyanate is triazineated and is trimer).

카르보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 닛신보 케미컬사 제조의 「V-03」, 「V-07」 등을 들 수 있다.As a specific example of a carbodiimide-type hardening | curing agent, "V-03", "V-07", etc. by Nisshinbo Chemical Co., Ltd. are mentioned.

(A) 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 a로 하고, (F) 성분의 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 f로 한다. 이 값 「f」는, (F) 성분이 함유하는 반응기의 당량수(eq.)를 나타낸다. 이 경우, f/a는, 바람직하게는 0.001 이상, 보다 바람직하게는 0.005 이상, 더욱 바람직하게는 0.01 이상이며, 바람직하게는 3 이하, 보다 바람직하게는 2 이하, 더욱 바람직하게는 1 이하이다. 여기서, 경화제의 반응기란, 활성 수산기 등이며, 경화제의 종류에 따라 다르다. 수지 조성물 중에 (F) 성분이 2종 이상 함유하는 경우, 상기 f는, 수지 조성물 중에 존재하는 각 (F) 성분의 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 (F) 성분에 대해 합계한 값이다. 에폭시 수지와 경화제와의 양비를 이러한 범위로 함으로써, 수지 조성물의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.The value which divided the mass of (A) component by the epoxy equivalent is set to a, and the value which divided the mass of (F) component by the reactor equivalent is set to f. This value "f" shows the equivalent number (eq.) Of the reactor which (F) component contains. In this case, f / a becomes like this. Preferably it is 0.001 or more, More preferably, it is 0.005 or more, More preferably, it is 0.01 or more, Preferably it is 3 or less, More preferably, it is 2 or less, More preferably, it is 1 or less. Here, the reactor of a hardening | curing agent is an active hydroxyl group etc., and changes with kinds of hardening | curing agent. When 2 or more types of (F) components are contained in a resin composition, said f is the value which totaled the value which divided the mass of each (F) component which exists in a resin composition by the reactor equivalent, with respect to all (F) components. By making the ratio of an epoxy resin and a hardening | curing agent into such a range, the heat resistance of the hardened | cured material of a resin composition improves more.

(F) 경화제의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.2질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.3질량% 이상이다. 상한은, 바람직하게는 5질량% 이하, 보다 바람직하게는 3질량% 이하, 더욱 바람직하게는 1질량% 이하이다.The content of the (F) curing agent is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.2% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. More preferably, it is 0.3 mass% or more. Preferably an upper limit is 5 mass% or less, More preferably, it is 3 mass% or less, More preferably, it is 1 mass% or less.

(A) 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 a로 하고, (B) 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 b로 하고, (F) 성분의 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 f로 한 경우, (b+f)/a는, 바람직하게는 1.1 이상, 보다 바람직하게는 1.3 이상, 더욱 바람직하게는 1.5 이상이다. 상한값은 바람직하게는 5 이하, 보다 바람직하게는 3 이하, 더욱 바람직하게는 2 이하이다. (b+f)/a를 이러한 범위 내가 되도록 (A) 성분, (B) 성분 및 (F) 성분의 양비를 조정함으로써, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 스미어 제거성 및 밀착성이 뛰어난 경화물을 얻는 것이 가능해진다.The value obtained by dividing the mass of component (A) by the epoxy equivalent is a, the value of the component (B) divided by the active ester group equivalent is b, and the value of the component (F) divided by the reactor equivalent is f (B + f) / a becomes like this. Preferably it is 1.1 or more, More preferably, it is 1.3 or more, More preferably, it is 1.5 or more. Preferably an upper limit is 5 or less, More preferably, it is 3 or less, More preferably, it is 2 or less. By adjusting the ratio of (A) component, (B) component and (F) component so that (b + f) / a falls within such a range, the cured product excellent in smear removal property and adhesiveness can be made low in dielectric loss tangent. It becomes possible to obtain.

<(G) 경화 촉진제><(G) Curing Accelerator>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 추가로, (G) 경화 촉진제를 포함하고 있어도 좋다.The resin composition may further contain the (G) hardening accelerator as an arbitrary component other than the component mentioned above.

경화 촉진제로서는, 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 바람직하고, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 보다 바람직하다. 경화 촉진제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a hardening accelerator, a phosphorus hardening accelerator, an amine hardening accelerator, an imidazole hardening accelerator, a guanidine hardening accelerator, a metal hardening accelerator, etc. are mentioned, for example. Especially, a phosphorus hardening accelerator, an amine hardening accelerator, an imidazole hardening accelerator, and a metal hardening accelerator are preferable, and an amine hardening accelerator, an imidazole hardening accelerator, and a metal hardening accelerator are more preferable. A hardening accelerator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있고, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다.As a phosphorus hardening accelerator, a triphenyl phosphine, a phosphonium borate compound, tetraphenyl phosphonium tetraphenyl borate, n-butyl phosphonium tetraphenyl borate, tetrabutyl phosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenyl, for example Phosphonium thiocyanate, tetraphenyl phosphonium thiocyanate, butyl triphenyl phosphonium thiocyanate, etc. are mentioned, A triphenyl phosphine and tetrabutyl phosphonium decanoate are preferable.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있고, 4-디메틸아미노피리딘, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다.Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) phenol, and 1,8. -Diazabicyclo (5,4,0) -undecene, and the like, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다 졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지와의 어덕트체를 들 수 있고, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다.As imidazole series hardening accelerator, 2-methylimidazole, 2-undecyl imidazole, 2-heptadecyl imidazole, 1,2- dimethyl imidazole, 2-ethyl-4-methyl, for example. Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methyl Midazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl 4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecyl imidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium Trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecyl Imidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s- Triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazineisocyanuric acid moiety False, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2, 3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, 2-phenylimidazoline And adducts of imidazole compounds such as imidazole compounds and epoxy resins, and 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 미츠비시 케미컬사 제조의 「P200-H50」 등을 들 수 있다.A commercial item may be used as an imidazole series hardening accelerator, For example, "P200-H50" by Mitsubishi Chemical Corporation etc. is mentioned.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1- 메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있고, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다.Examples of the guanidine-based curing accelerators include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, and diphenylguanidine. , Trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, 1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, 1- (o-tolyl) biguanide, and the like. Preference is given to 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene.

금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II) 아세틸아세토네이트, 코발트(III) 아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II) 아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II) 아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III) 아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II) 아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II) 아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들면, 옥틸산아연, 옥틸산주석, 나프텐산아연, 나프텐산코발트, 스테아르산주석, 스테아르산아연 등을 들 수 있다.As a metal type hardening accelerator, the organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, tin, is mentioned, for example. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Organic iron complexes such as an organic zinc complex, iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organometallic salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate and zinc stearate.

(G) 경화 촉진제의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직 0.03질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.05질량% 이상이고, 바람직하게는 0.3질량% 이하, 보다 바람직하게는 0.2질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.1질량% 이하이다.(G) When content of the hardening accelerator makes the nonvolatile component in a resin composition 100 mass% from a viewpoint which remarkably acquires the desired effect of this invention, Preferably it is 0.01 mass% or more, More preferably, 0.03 mass% or more, More preferably, it is 0.05 mass% or more, Preferably it is 0.3 mass% or less, More preferably, it is 0.2 mass% or less, More preferably, it is 0.1 mass% or less.

<(H) 중합 개시제><(H) polymerization initiator>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 추가로, (H) 중합 개시제를 포함하고 있어도 좋다. (H) 중합 개시제는, 통상 (C) 성분에서의 (메타)아크릴로일기의 가교를 촉진시키는 기능을 갖는다. (H) 중합 개시제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종류 이상을 병용해도 좋다.In addition to the component mentioned above, the resin composition may further contain (H) polymerization initiator as arbitrary components. The polymerization initiator (H) usually has a function of promoting crosslinking of the (meth) acryloyl group in the component (C). (H) A polymerization initiator may be used individually by 1 type, or may use two or more types together.

(H) 중합 개시제로서는, 예를 들면, t-부틸쿠밀퍼옥사이드, t-부틸퍼옥시아세테이트, α,α'-디(t-부틸퍼옥시)디이소프로필벤젠, t-부틸퍼옥시라우레이트, t-부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, t-부틸퍼옥시네오데카노에이트, t-부틸퍼옥시벤조에이트 등의 과산화물을 들 수 있다.(H) As a polymerization initiator, for example, t-butyl cumyl peroxide, t-butyl peroxy acetate, (alpha), (alpha) '-di (t-butyl peroxy) diisopropyl benzene, t-butyl peroxy laurate and peroxides such as t-butylperoxy-2-ethylhexanoate, t-butylperoxy neodecanoate and t-butylperoxybenzoate.

(H) 중합 개시제의 시판품으로서는, 예를 들면, 니치유사 제조의 「퍼부틸C」, 「퍼부틸A」, 「퍼부틸P」, 「퍼부틸L」, 「퍼부틸O」, 「퍼부틸ND」, 「퍼부틸Z」, 「퍼쿠밀P」, 「퍼쿠밀D」 등을 들 수 있다.(H) As a commercial item of a polymerization initiator, "Perbutyl C", "Perbutyl A", "Perbutyl P", "Perbutyl L", "Perbutyl O", "perbutyl" by Nichi Oil Co., Ltd. ND "," Perbutyl Z "," Percumyl P "," Percumyl D ", etc. are mentioned.

(H) 중합 개시제의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저하게 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.03질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.05질량% 이상이고, 바람직하게는 0.5질량% 이하, 보다 바람직하게는 0.3질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.1질량% 이하이다.(H) When content of a polymerization initiator makes the nonvolatile component in a resin composition 100 mass% from a viewpoint which remarkably acquires the desired effect of this invention, Preferably it is 0.01 mass% or more, More preferably, it is 0.03 mass% As mentioned above, More preferably, it is 0.05 mass% or more, Preferably it is 0.5 mass% or less, More preferably, it is 0.3 mass% or less, More preferably, it is 0.1 mass% or less.

<(I) 기타 첨가제><(I) other additives>

수지 조성물은, 상술한 성분 이외에, 임의의 성분으로서, 추가로 기타 첨가제를 포함하고 있어도 좋다. 이와 같은 첨가제로서는, 예를 들면, 유기 충전재; 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제 등의 수지 첨가제; 등을 들 수 있다. 이러한 첨가제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.In addition to the component mentioned above, the resin composition may further contain other additive as an arbitrary component. As such an additive, For example, Organic filler; Resin additives such as thickeners, antifoaming agents, leveling agents and adhesion imparting agents; Etc. can be mentioned. These additives may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

<수지 조성물의 물성, 용도><Physical properties and uses of the resin composition>

수지 조성물을 130℃에서 30분간, 그 후 170℃에서 30분간 열경화시킨 경화물은, 스미어 제거성이 뛰어나다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기의 경화물에 비아홀을 형성하면, 비아홀 바닥부의 최대 스미어 길이가 5㎛ 미만인 절연층을 형성한다. 스미어 제거성은, 후술하는 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.The hardened | cured material which thermosetted the resin composition for 30 minutes at 130 degreeC after that for 30 minutes shows the characteristic which is excellent in smear removal property. Therefore, when the via hole is formed in the cured product, an insulating layer having a maximum smear length of less than 5 mu m in the bottom of the via hole is formed. Smear removal property can be measured by the method as described in the Example mentioned later.

수지 조성물을 130℃에서 30분간, 그 후 170℃에서 30분간 열경화시킨 경화물은, 도금 도체층과의 사이의 접착성(필 강도)이 뛰어나다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기의 경화물은, 도금 도체층과의 밀착성이 뛰어난 절연층을 형성한다. 도금 도체층과의 밀착 강도로서는, 바람직하게는 0.2kgf/cm 이상, 보다 바람직하게는 0.3kgf/cm 이상, 더욱 바람직하게는 0.4kgf/cm 이상이다. 한편, 밀착 강도의 상한값은 특별히 한정되지 않지만, 5kgf/cm 이하 등으로 할 수 있다. 상기의 도금 도체층과의 밀착 강도의 평가는, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The hardened | cured material which thermosetted the resin composition for 30 minutes at 130 degreeC after that for 30 minutes shows the characteristic which is excellent in adhesiveness (fill strength) with a plating conductor layer. Therefore, the said hardened | cured material forms the insulating layer excellent in adhesiveness with a plating conductor layer. As adhesive strength with a plating conductor layer, Preferably it is 0.2 kgf / cm or more, More preferably, it is 0.3 kgf / cm or more, More preferably, it is 0.4 kgf / cm or more. On the other hand, the upper limit of the adhesion strength is not particularly limited, but may be 5 kgf / cm or less. Evaluation of the adhesive strength with said plating conductor layer can be measured in accordance with the method as described in the Example mentioned later.

수지 조성물을 200℃에서 90분간 열경화시킨 경화물은, 유전 정접이 낮다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기의 경화물은, 유전 정접이 낮은 절연층을 형성한다. 유전 정접으로서는, 바람직하게는 0.005 이하, 보다 바람직하게는 0.004 이하, 0.003 이하이다. 한편, 유전 정접의 하한값은 특별히 한정되지 않지만, 0.0001 이상 등으로 할 수 있다. 상기의 유전 정접의 평가는, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The hardened | cured material which thermosetted the resin composition at 200 degreeC for 90 minutes shows the characteristic that dielectric loss tangent is low. Therefore, the said hardened | cured material forms the insulating layer with low dielectric tangent. As dielectric loss tangent, Preferably it is 0.005 or less, More preferably, it is 0.004 or less and 0.003 or less. On the other hand, the lower limit of the dielectric tangent is not particularly limited, but may be 0.0001 or more. Evaluation of said dielectric loss tangent can be measured according to the method as described in the Example mentioned later.

본 발명의 수지 조성물은, 유전 정접을 낮게 할 수 있는 동시에, 스미어 제거성 및 접착력이 뛰어난 절연층을 형성할 수 있다. 따라서, 본 발명의 수지 조성물은, 절연 용도의 수지 조성물로서 적합하게 사용할 수 있다. 구체적으로는, 절연층 위에 형성되는 도체층(재배선층을 포함함)을 형성하기 위한 당해 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다.The resin composition of this invention can make dielectric loss tangent low, and can form the insulating layer excellent in smear removal property and adhesive force. Therefore, the resin composition of this invention can be used suitably as a resin composition of insulation use. Specifically, it can be suitably used as a resin composition (resin composition for forming insulation layer for forming conductor layer) for forming the insulation layer for forming a conductor layer (including a rewiring layer) formed on the insulation layer. have.

또한, 후술하는 다층 프린트 배선판에 있어서, 다층 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(다층 프린트 배선판의 절연층 형성용 수지 조성물), 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다.Moreover, in the multilayer printed wiring board mentioned later, resin composition (resin composition for insulating layer formation of a multilayer printed wiring board) for forming the insulating layer of a multilayer printed wiring board, and resin composition (printed wiring board) for forming the interlayer insulation layer of a printed wiring board. Can be suitably used as the resin composition for forming an interlayer insulating layer.

또한, 예를 들면, 이하의 (1) 내지 (6) 공정을 거쳐 반도체 칩 패키지가 제조되는 경우, 본 발명의 수지 조성물은, 재배선층을 형성하기 위한 절연층으로서의 재배선 형성층용의 수지 조성물(재배선 형성층 형성용의 수지 조성물), 및 반도체 칩을 밀봉하기 위한 수지 조성물(반도체 칩 밀봉용의 수지 조성물)로서도 적합하게 사용할 수 있다. 반도체 칩 패키지가 제조될 때, 밀봉층 위에 추가로 재배선층을 형성해도 좋다.For example, when a semiconductor chip package is manufactured through the following (1)-(6) processes, the resin composition of this invention is a resin composition for redistribution formation layers as an insulating layer for forming a redistribution layer ( It can be used suitably also as a resin composition for redistribution formation layer formation, and the resin composition (resin composition for semiconductor chip sealing) for sealing a semiconductor chip. When the semiconductor chip package is manufactured, a redistribution layer may be further formed on the sealing layer.

(1) 기재에 가고정 필름을 적층하는 공정,(1) a step of laminating a temporarily fixed film on a substrate;

(2) 반도체 칩을, 가고정 필름 위에 가고정하는 공정,(2) process of temporarily fixing a semiconductor chip on a temporarily fixed film,

(3) 반도체 칩 위에 밀봉층을 형성하는 공정,(3) forming a sealing layer on the semiconductor chip;

(4) 기재 및 가고정 필름을 반도체 칩으로부터 박리하는 공정,(4) Process of peeling a base material and a temporarily fixed film from a semiconductor chip,

(5) 반도체 칩의 기재 및 가고정 필름을 박리한 면에, 절연층으로서의 재배선 형성층을 형성하는 공정, 및(5) a step of forming a rewiring forming layer as an insulating layer on the surface from which the base material and the temporary fixing film of the semiconductor chip are peeled off, and

(6) 재배선 형성층 위에, 도체층으로서의 재배선층을 형성하는 공정(6) Process of forming redistribution layer as conductor layer on redistribution formation layer

또한, 본 발명의 수지 조성물은, 부품 매립성이 양호한 절연층을 형성하는 점에서, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다.Moreover, the resin composition of this invention can be used suitably also when a printed wiring board is a circuit board with components, from the point which forms the insulating layer with favorable component embedding.

[수지 시트][Resin Sheet]

본 발명의 수지 시트는, 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된, 본 발명의 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층을 포함한다.The resin sheet of this invention contains a support body and the resin composition layer formed from the resin composition of this invention provided on the said support body.

수지 조성물층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화, 및 당해 수지 조성물의 경화물이 박막이라도 절연성이 뛰어난 경화물을 제공할 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 50㎛ 이하, 보다 바람직하게는 40㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 30㎛ 이하이다. 수지 조성물층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 5㎛ 이상, 10㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The thickness of the resin composition layer is preferably 50 µm or less, more preferably 40 µm or less, from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board and providing a cured product excellent in insulation even if the cured product of the resin composition is a thin film. More preferably, it is 30 micrometers or less. Although the minimum of the thickness of a resin composition layer is not specifically limited, Usually, 5 micrometers or more, 10 micrometers or more can be made.

지지체로서는, 예를 들면, 플라스틱 재료로 이루어지는 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있으며, 플라스틱 재료로 이루어지는 필름, 금속박이 바람직하다.As a support body, the film which consists of plastic materials, metal foil, and a release paper is mentioned, for example, The film which consists of plastic materials, and metal foil are preferable.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어지는 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있다.), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있다.) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하 「PC」라고 약칭하는 경우가 있다.), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When using the film which consists of plastic materials as a support body, as a plastics material, for example, polyethylene terephthalate (it may abbreviate as "PET" hereafter), and polyethylene naphthalate (hereinafter abbreviated as "PEN"). Polyester, polycarbonate (hereinafter sometimes referred to as "PC"), acrylic such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide ( PES), polyether ketone, polyimide, etc. are mentioned. Especially, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is especially preferable.

지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는, 예를 들면, 동박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 동박이 바람직하다. 동박으로서는, 동의 단금속으로 이루어지는 박을 사용해도 좋고, 동과 다른 금속(예를 들면, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티타늄 등)과의 합금으로 이루어지는 박을 사용해도 좋다.When using metal foil as a support body, copper foil, aluminum foil etc. are mentioned as metal foil, for example, copper foil is preferable. As copper foil, the foil which consists of a single metal of copper may be used, and the foil which consists of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. .

지지체는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리를 실시해도 좋다.The support body may perform a mat process, a corona treatment, and an antistatic process to the surface joined with a resin composition layer.

또한, 지지체로서는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 린텍사 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」, 도레사 제조의 「루미라 T60」, 테이진사 제조의 「퓨렉스」, 유니티카사 제조의 「유니필」 등을 들 수 있다.In addition, as a support body, you may use the support body with a release layer which has a mold release layer in the surface joined with a resin composition layer. As a mold release agent used for the mold release layer of a support body with a mold release layer, 1 or more types of mold release agents chosen from the group which consists of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin are mentioned, for example. A support body with a release layer may use a commercial item, for example, "SK-1", "AL-5" and "AL-" by Lintec Co., Ltd., which are PET films having a release layer containing an alkyd resin-based release agent as a main component. 7 "," Lumira T60 "by Toray Corporation," Purex "by Teijin Co.," Unipill "by Unitika, etc. are mentioned.

지지체의 두께로서는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하며, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.Although it does not specifically limit as thickness of a support body, The range of 5 micrometers-75 micrometers is preferable, and the range which is 10 micrometers-60 micrometers is more preferable. In addition, when using the support body with a release layer, it is preferable that the thickness of the whole support body with a release layer is the said range.

일 실시형태에서, 수지 시트는, 또한 필요에 따라, 그 외의 층을 포함하고 있어도 좋다. 이러한 그 외의 층으로서는, 예를 들면, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 형성된, 지지체에 준한 보호 필름 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집을 억제할 수 있다.In one embodiment, the resin sheet may further contain other layers as needed. As such another layer, the protective film etc. which conformed to the support body formed in the surface (that is, the surface on the opposite side to a support body) which are not joined to the support body of a resin composition layer are mentioned, for example. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, they are 1 micrometer-40 micrometers. By laminating | stacking a protective film, adhesion | attachment and a scratch of dust etc. to the surface of a resin composition layer can be suppressed.

수지 시트는, 예를 들면, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니시를 조제하고, 이 수지 바니시를, 다이 코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 또한 건조시켜 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.A resin sheet can be manufactured by preparing the resin varnish which melt | dissolved the resin composition in the organic solvent, for example, apply | coating this resin varnish on a support body using a die coater, etc., and also drying and forming a resin composition layer. .

유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤(MEK) 및 사이클로헥사논 등의 케톤류; 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카비톨아세테이트 등의 아세트산에스테르류; 셀로솔브 및 부틸카비톨 등의 카비톨류; 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류; 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드(DMAc) 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용제 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As an organic solvent, For example, ketones, such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK), and cyclohexanone; Acetate esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate; Carbitols such as cellosolve and butyl carbitol; Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; Amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone. An organic solvent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 방법에 의해 실시해도 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 바니시 중의 유기 용제의 비점에 따라서도 다르지만, 예를 들면 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 바니시를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써, 수지 조성물층을 형성할 수 있다.You may perform drying by well-known methods, such as heating and hot air injection. Although drying conditions are not specifically limited, It drys so that content of the organic solvent in a resin composition layer may be 10 mass% or less, Preferably it is 5 mass% or less. Although it depends also on the boiling point of the organic solvent in a resin varnish, For example, when using the resin varnish containing an organic solvent of 30 mass%-60 mass%, it is made to dry by 3 to 10 minutes at 50 degreeC-150 degreeC, The composition layer can be formed.

수지 시트는, 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 박리함으로써 사용 가능해진다.A resin sheet can be wound up and preserve | saved in roll shape. When a resin sheet has a protective film, it can be used by peeling a protective film.

[프린트 배선판][Printed wiring board]

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함한다.The printed wiring board of this invention contains the insulating layer formed of the hardened | cured material of the resin composition of this invention.

프린트 배선판은, 예를 들면, 상기 수지 시트를 사용하여, 하기 (I) 및 (II)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.A printed wiring board can be manufactured by the method containing the process of following (I) and (II) using the said resin sheet, for example.

(I) 내층 기판 위에, 수지 시트의 수지 조성물층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) The process of laminating so that the resin composition layer of a resin sheet may bond with an inner layer board | substrate on an inner layer board | substrate

(II) 수지 조성물층을 열경화하여 절연층을 형성하는 공정(II) Process of thermosetting a resin composition layer to form an insulating layer

공정 (I)에서 사용하는 「내층 기판」이란, 프린트 배선판의 기판이 되는 부재로서, 예를 들면, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 당해 기판은, 그 편면 또는 양면에 도체층을 갖고 있어도 좋고, 이 도체층은 패턴 가공되어 있어도 좋다. 기판의 편면 또는 양면에 도체층(회로)이 형성된 내층 기판은 「내층 회로 기판」이라고 하는 경우가 있다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 할 중간 제조물도 본 발명에서 말하는 「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용할 수 있다.The "inner layer substrate" used in the step (I) is a member that becomes a substrate of a printed wiring board. For example, a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene And ether substrates. In addition, the said board | substrate may have a conductor layer in the single side | surface or both surfaces, and this conductor layer may be pattern-processed. The inner layer substrate in which the conductor layer (circuit) is formed on one side or both sides of the substrate may be referred to as an "inner layer circuit board". Moreover, when manufacturing a printed wiring board, the intermediate | middle manufacture to which the insulation layer and / or conductor layer should be formed further is also included in the "inner layer board" said by this invention. In the case where the printed wiring board is a circuit board with built-in parts, an inner layer board with built-in parts can be used.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 예를 들면, 지지체측에서 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 행할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함.)로서는, 예를 들면, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 또한, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니라, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 사이에 두고 프레스하는 것이 바람직하다.Lamination | stacking of an inner layer board | substrate and a resin sheet can be performed by heat-pressing a resin sheet to an inner layer board | substrate on the support body side, for example. As a member (henceforth a "heat-compression bonding member") which heat-presses a resin sheet to an inner layer board | substrate, a heated metal plate (SUS hard plate etc.), a metal roll (SUS roll), etc. are mentioned, for example. In addition, it is preferable not to press the heat-compression member directly to the resin sheet, but to press the elastic material such as heat-resistant rubber in between so that the resin sheet sufficiently follows the surface irregularities of the inner layer substrate.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에 있어서, 가열 압착 온도는, 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이며, 가열 압착 압력은, 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이며, 가열 압착 시간은, 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은, 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건 하에서 실시한다.You may perform lamination | stacking of an inner layer board | substrate and a resin sheet by the vacuum lamination method. In the vacuum lamination method, the heat compression temperature is preferably in the range of 60 ° C to 160 ° C, more preferably 80 ° C to 140 ° C, and the heat compression pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably. Is in the range of 0.29 MPa to 1.47 MPa, and the heat crimping time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably in the range of 30 seconds to 300 seconds. Lamination is preferably performed under reduced pressure conditions of 26.7 hPa or less.

적층은, 시판의 진공 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 시판의 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, 메이키세이사쿠쇼사 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코 머티리얼즈사 제조의 베큠 어플리케이터, 배치식 진공 가압 라미네이터 등을 들 수 있다.Lamination can be performed by a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Seisakusho, a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials, a batch vacuum pressurized laminator, and the like.

적층 후에, 상압 하(대기압 하), 예를 들면, 가열 압착 부재를 지지체측에서 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 행하여도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는, 시판의 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 또한, 적층과 평활화 처리는, 상기의 시판의 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 행해도 좋다.After lamination, a smoothing treatment of the laminated resin sheets may be performed by pressing the pressurized member under normal pressure (atmospheric pressure), for example, on the support side. The press conditions of the smoothing process can be made into the same conditions as the heat crimping conditions of the lamination. The smoothing process can be performed by a commercially available laminator. In addition, lamination | stacking and smoothing process may be performed continuously using said commercially available vacuum laminator.

지지체는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 제거해도 좋고, 공정 (II) 후에 제거해도 좋다.The support may be removed between step (I) and step (II) or may be removed after step (II).

공정 (II)에서, 수지 조성물층을 열경화하여 절연층을 형성한다. 수지 조성물층의 열경화 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.In step (II), the resin composition layer is thermosetted to form an insulating layer. The thermosetting conditions of a resin composition layer are not specifically limited, You may use the conditions employ | adopted normally when forming the insulating layer of a printed wiring board.

예를 들면, 수지 조성물층의 열경화 조건은, 수지 조성물의 종류 등에 따라서도 다르지만, 경화 온도는 바람직하게는 120℃ 내지 240℃, 보다 바람직하게는 150℃ 내지 220℃, 더욱 바람직하게는 170℃ 내지 210℃이다. 경화 시간은 바람직하게는 5분간 내지 120분간, 보다 바람직하게는 10분간 내지 100분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간으로 할 수 있다.For example, although the thermosetting conditions of a resin composition layer differ also according to the kind of resin composition, etc., hardening temperature becomes like this. Preferably it is 120 degreeC-240 degreeC, More preferably, it is 150 degreeC-220 degreeC, More preferably, 170 degreeC To 210 ° C. The curing time is preferably 5 minutes to 120 minutes, more preferably 10 minutes to 100 minutes, still more preferably 15 minutes to 100 minutes.

수지 조성물층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들면, 수지 조성물층을 열경화시키기에 앞서, 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 115℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 110℃ 이하)의 온도에서, 수지 조성물층을 5분간 이상(바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간) 예비 가열해도 좋다.Before thermosetting the resin composition layer, the resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition layer, the resin composition layer is formed at a temperature of 50 ° C. or more and less than 120 ° C. (preferably 60 ° C. or more and 115 ° C. or less, more preferably 70 ° C. or more and 110 ° C. or less). You may preheat for 5 minutes or more (preferably 5 minutes-150 minutes, More preferably, 15 minutes-120 minutes, More preferably, 15 minutes-100 minutes).

프린트 배선판을 제조할 때에는, (III) 절연층에 천공하는 공정, (IV) 절연층을 조화(粗化) 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이러한 공정 (III) 내지 공정 (V)는, 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지의 각종 방법에 따라 실시해도 좋다. 또한, 지지체를 공정 (II)의 후에 제거하는 경우, 당해 지지체의 제거는, 공정 (II)와 공정 (III)과의 사이, 공정 (III)과 공정 (IV)의 사이, 또는 공정 (IV)와 공정 (V)와의 사이에 실시해도 좋다. 또한, 필요에 따라, 공정 (II) 내지 공정 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복해서 실시하여, 다층 배선판을 형성해도 좋다.When manufacturing a printed wiring board, you may perform the process of perforating to an insulating layer (III), the process of roughening a (IV) insulating layer, and the process of forming a conductor layer (V). Such steps (III) to (V) may be carried out in accordance with various methods known to those skilled in the art used for the production of printed wiring boards. In addition, when removing a support after step (II), removal of the support is performed between step (II) and step (III), between step (III) and step (IV), or step (IV). You may implement between and process (V). In addition, as needed, you may form repeatedly the formation of the insulating layer and conductor layer of process (II)-process (V), and may form a multilayer wiring board.

공정 (III)은, 절연층에 천공하는 공정이며, 이것에 의해 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (III)은, 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따라, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용하여 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라 적절하게 결정해도 좋다.Step (III) is a step of drilling in the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. Process (III) may be performed using a drill, a laser, a plasma, etc. according to the composition of the resin composition used for formation of an insulating layer, etc., for example. You may decide suitably the dimension and shape of a hole according to the design of a printed wiring board.

공정 (IV)는, 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 통상, 이 공정 (IV)에서, 스미어 제거도 행하여진다. 조화 처리의 수순, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 수순, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들면, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이 순으로 실시하여 절연층을 조화 처리할 수 있다. 조화 처리에 사용하는 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이며, 당해 알칼리 용액으로서는, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들면, 아토테크 재팬사 제조의 「스웰링 딥 세큐리간스 P」,「스웰링 딥 세큐리간스 SBU」 등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1분간 내지 20분간 침지함으로써 행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 절연층을 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. 조화 처리에 사용하는 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해한 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알칼리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60℃ 내지 100℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜서 행하는 것이 바람직하다. 또한, 알칼리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들면, 아토테크 재팬사 제조의 「컨센트레이트 컴팩트 CP」, 「도징 솔루션 세큐리간스 P」 등의 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 또한, 조화 처리에 사용하는 중화액으로서는, 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 예를 들면, 아토테크 재팬사 제조의 「리덕션 솔루션 세큐리간트 P」를 들 수 있다. 중화액에 의한 처리는, 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 대상물을, 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.Process (IV) is a process of roughening an insulating layer. Usually, smear removal is also performed in this process (IV). The procedure and conditions of the roughening process are not particularly limited, and known procedures and conditions usually used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be adopted. For example, the swelling treatment with the swelling liquid, the roughening treatment with the oxidizing agent, and the neutralization treatment with the neutralizing liquid can be performed in this order to roughen the insulating layer. Although it does not specifically limit as a swelling liquid used for a roughening process, Alkali solution, surfactant solution, etc. are mentioned, Preferably it is an alkali solution, As said alkali solution, sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution are more preferable. Examples of commercially available swelling liquids include "Swelling Deep Securigans P" manufactured by Atotech Japan, "Swelling Deep Securigans SBU", and the like. Although the swelling process by a swelling liquid is not specifically limited, For example, it can be performed by immersing an insulating layer for 1 to 20 minutes in 30 degreeC-90 degreeC swelling liquid. It is preferable to immerse an insulating layer for 5 to 15 minutes in 40 degreeC-80 degreeC swelling liquid from a viewpoint of suppressing swelling of resin of an insulating layer to a suitable level. Although it does not specifically limit as an oxidizing agent used for a roughening process, For example, the alkaline permanganate solution which melt | dissolved potassium permanganate and sodium permanganate in the aqueous solution of sodium hydroxide is mentioned. It is preferable to perform roughening processing by oxidizing agents, such as alkaline permanganic acid solution, by immersing an insulating layer for 10 to 30 minutes in the oxidizing agent solution heated to 60 to 100 degreeC. Moreover, as for the density | concentration of the permanganate in alkaline permanganate solution, 5-10 mass% is preferable. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as "Concentrate Compact CP" and "Dosing Solution Securigans P" manufactured by Atotech Japan. Moreover, as a neutralization liquid used for a roughening process, an acidic aqueous solution is preferable, As a commercial item, "Reduction solution security P by the Atotech Japan company" is mentioned, for example. The treatment with the neutralizing liquid can be performed by immersing the treated surface on which the roughening treatment with the oxidizing agent is applied in the neutralizing liquid at 30 ° C. to 80 ° C. for 5 minutes to 30 minutes. In view of workability, a method of immersing the object subjected to the roughening treatment with an oxidizing agent in a neutralizing liquid at 40 ° C. to 70 ° C. for 5 minutes to 20 minutes is preferable.

일 실시형태에서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 바람직하게는 400nm 이하, 보다 바람직하게는 350nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5nm 이상, 보다 바람직하게는 1nm 이상 등으로 할 수 있다. 또한, 조화 처리 후의 절연층 표면의 자승 평균 평방근 조도(Rq)는, 바람직하게는 400nm 이하, 보다 바람직하게는 350nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5nm 이상, 보다 바람직하게는 1nm 이상 등으로 할 수 있다. 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra) 및 자승 평균 평방근 조도(Rq)는, 비접촉형 표면 조도계를 사용하여 측정할 수 있다.In one embodiment, the arithmetic mean roughness Ra of the insulating layer surface after a roughening process becomes like this. Preferably it is 400 nm or less, More preferably, it is 350 nm or less, More preferably, it is 300 nm or less. Although it does not specifically limit about a minimum, Preferably it is 0.5 nm or more, More preferably, you may be 1 nm or more. Moreover, the square root mean square roughness Rq of the surface of the insulating layer after a roughening process becomes like this. Preferably it is 400 nm or less, More preferably, it is 350 nm or less, More preferably, it is 300 nm or less. Although it does not specifically limit about a minimum, Preferably it is 0.5 nm or more, More preferably, you may be 1 nm or more. Arithmetic mean roughness Ra and square root mean square roughness Rq of the insulating layer surface can be measured using a non-contact surface roughness meter.

공정 (V)는, 도체층을 형성하는 공정이며, 절연층 위에 도체층을 형성한다. 도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티타늄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은, 단일 금속층이어도 합금층이어도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들면, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·티타늄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 그 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금, 구리·티타늄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다.Process (V) is a process of forming a conductor layer, and forms a conductor layer on an insulating layer. The conductor material used for a conductor layer is not specifically limited. In a suitable embodiment, the conductor layer comprises at least one metal selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and as the alloy layer, for example, an alloy of two or more metals selected from the group described above (for example, nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy and copper-titanium) Alloy) layer. Among them, from the viewpoint of the versatility of the conductor layer formation, the cost, the ease of patterning, and the like, a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy or a copper-nickel alloy , An alloy layer of a copper-titanium alloy is preferable, and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of nickel-chromium alloy is more preferable, and a single metal layer of copper This is more preferable.

도체층은, 단층 구조라도, 다른 종류의 금속 또는 합금으로 이루어지는 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층된 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 티타늄의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may be a single layer structure or a multilayer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different kinds of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.Although the thickness of a conductor layer is based on the design of a desired printed wiring board, it is generally 3 micrometers-35 micrometers, Preferably they are 5 micrometers-30 micrometers.

일 실시형태에 있어서, 도체층은, 도금에 의해 형성해도 좋다. 예를 들면, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있고, 제조의 간편성의 관점에서, 세미 어디티브법에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 이하, 도체층을 세미 어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, by plating on the surface of an insulating layer by conventionally well-known techniques, such as a semiadditive method and a full additive method, the conductor layer which has a desired wiring pattern can be formed, and from a viewpoint of the simplicity of manufacture, a semi It is preferable to form by the additive method. Hereinafter, the example which forms a conductor layer by the semiadditive method is shown.

우선, 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 이어서, 형성된 도금 시드층 위에, 원하는 배선 패턴에 대응하여 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 위에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Subsequently, a mask pattern for exposing a part of the plating seed layer is formed on the formed plating seed layer corresponding to the desired wiring pattern. After the metal layer is formed by electroplating on the exposed plating seed layer, the mask pattern is removed. Thereafter, the unnecessary plating seed layer can be removed by etching or the like to form a conductor layer having a desired wiring pattern.

[반도체 장치][Semiconductor Device]

본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 사용하여 제조할 수 있다.The semiconductor device of this invention contains the printed wiring board of this invention. The semiconductor device of this invention can be manufactured using the printed wiring board of this invention.

반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대 전화, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 탈 것(예를 들면, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기 등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Examples of the semiconductor device include various semiconductor devices provided in electrical appliances (for example, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (for example, motorcycles, automobiles, trams, ships, and aircrafts). Can be.

본 발명의 반도체 장치는, 프린트 배선판의 도통 개소에, 부품(반도체 칩)을 실장(實裝)함으로써 제조할 수 있다. 「도통 개소」란, 「프린트 배선판에서의 전기 신호를 전달하는 개소」로서, 그 장소는 표면이라도, 매립된 부분이라도 어느 것이라도 상관 없다. 또한, 반도체 칩은 반도체 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.The semiconductor device of this invention can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) in the conduction part of a printed wiring board. A "conduction point" is a "point which transmits an electric signal in a printed wiring board", and the place may be either a surface or a buried part. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor material.

반도체 장치를 제조할 때의 반도체 칩의 실장 방법은, 반도체 칩이 유효하게 기능하기만 하면, 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립 칩 실장 방법, 범플리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법, 등을 들 수 있다. 여기서, 「범플리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법」이란, 「반도체 칩을 프린트 배선판의 오목부에 매립하여, 반도체 칩과 프린트 배선판 위의 배선을 접속시키는 실장 방법」을 말한다.The method for mounting a semiconductor chip at the time of manufacturing the semiconductor device is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding method, a flip chip mounting method, a bumpless build-up layer (BBUL) The mounting method by, the mounting method by an anisotropic conductive film (ACF), the mounting method by a non-conductive film (NCF), etc. are mentioned. Here, "the mounting method by a bumpless build-up layer (BBUL)" means "the mounting method which embeds a semiconductor chip in the recessed part of a printed wiring board, and connects the semiconductor chip and the wiring on a printed wiring board."

[실시예]EXAMPLE

이하, 본 발명에 대하여, 실시예를 나타내어 구체적으로 설명한다. 단, 본 발명은 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다. 이하의 설명에 있어서, 양을 나타내는 「부」 및 「%」는, 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다. 또한, 이하에 설명하는 조작은, 별도 명시가 없는 한, 상온 상압의 환경에서 행하였다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, an Example is shown and this invention is demonstrated concretely. However, the present invention is not limited to the following examples. In the following description, "part" and "%" which represent quantity mean the "mass part" and the "mass%", respectively, unless there is particular notice. In addition, the operation demonstrated below was performed in the environment of normal temperature normal pressure, unless otherwise specified.

[실시예 1]Example 1

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조 「ZX1059」, 비스페놀A형과 비스페놀F형의 1:1 혼합품, 에폭시 당량 169g/eq) 10부, 및, 나프톨형 에폭시 수지(신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330g/eq.) 50부를, 솔벤트나프타 40부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 이것을 실온으로까지 냉각하여, 에폭시 수지의 용해 조성물을 조제했다.10 parts of bisphenol-type epoxy resins ("ZX1059" made by Shin-Nitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., 1: 1 mixed product of bisphenol A type and bisphenol F type, epoxy equivalent 169 g / eq), and naphthol type epoxy resin (Shin-Nitetsu Smykin) 50 parts of Kagaku Corporation "ESN475V" and epoxy equivalent weight of about 330 g / eq.) Were melt | dissolved by stirring, stirring 40 parts of solvent naphtha. This was cooled to room temperature and the dissolution composition of the epoxy resin was prepared.

이 에폭시 수지의 용해 조성물에, 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠사 제조 「YX7553BH30」, 불휘발분 30질량%의 MEK와 사이클로헥사논의 1:1 용액) 5부, 트리아진 골격 및 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 활성기 당량 약 151g/eq., 불휘발분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 5부, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223g/eq., 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 110부, (메타)아크릴산에스테르(A-DOG, 신나카무라 카가쿠사 제조) 15부, 경화 촉진제(1-벤질-2-페닐이미다졸(1B2PZ), 불휘발분 10질량%의 MEK 용액) 5부, 중합 개시제로서 퍼부틸P(니치유사 제조, 불휘발분 20%의 MEK 용액) 2부, 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 비표면적 5.9㎡/g, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」) 510부, 사이클로헥사논 10부, MEK 10부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여, 수지 바니시를 제작하였다.Phenolic system which has 5 parts of phenoxy resins ("YX7553BH30" by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd., 1: 1 solution of MEK and cyclohexanone of 30 mass% of non volatile matters), a triazine frame | skeleton, and novolak structure to the dissolution composition of this epoxy resin. 5 parts of hardening | curing agents ("LA-3018-50P" by DIC Corporation, active group equivalent approximately 151 g / eq., Non-volatile content 50% 2-methoxypropanol solution), active ester type hardening | curing agent (DIC company "HPC-8000-65T , 223 g / eq. Of active group equivalent, 110 parts of toluene solution of 65 mass% of non volatile matter, 15 parts of (meth) acrylic acid ester (A-DOG, Shin-Nakamura Kagaku Co., Ltd.), a hardening accelerator (1-benzyl-2-) Phenylimidazole (1B2PZ), 5 parts of non-volatile matter 10% by mass MEK solution), 2 parts of perbutyl P (manufactured by Nichi Oil, MEK solution of 20% non-volatile content) as a polymerization initiator, amine alkoxysilane compound (Shin-Etsuka Spherical Silica (average particle diameter: 0.5 µm, specific surface area: 5.9 m 2 / g, adomatics) surface treated with Kakukogyo Co., Ltd. Prepared "SO-C2"), 510 parts of cyclohexanone, 10 parts MEK 10 parts mixed and uniformly dispersed in a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish.

A-DOG는 이하에 나타내는 구조를 갖는다.A-DOG has a structure shown below.

Figure pat00005
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지지체로서, 이형층을 구비한 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름(린텍사 제조 「AL5」, 두께 38㎛)을 준비했다. 이 지지체의 이형층 위에, 상기의 수지 바니시를, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 25㎛가 되도록 균일하게 도포했다. 그 후, 수지 바니시를 80℃ 내지 100℃(평균 90℃)에서 6분간 건조시켜, 지지체 및 수지 조성물층을 포함하는 수지 시트를 얻었다.As a support body, the polyethylene terephthalate (PET) film ("AL5" by Lintec company, thickness 38 micrometers) provided with the release layer was prepared. On the release layer of this support body, said resin varnish was apply | coated uniformly so that the thickness of the resin composition layer after drying might be 25 micrometers. Then, the resin varnish was dried at 80 degreeC-100 degreeC (average 90 degreeC) for 6 minutes, and the resin sheet containing a support body and a resin composition layer was obtained.

[실시예 2]Example 2

실시예 1에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223g/eq., 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 110부를, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000L-65TM」, 활성기 당량 220g/eq., 불휘발분 65%의 톨루엔·MEK 혼합 용액) 110부로 변경했다. 이상의 사항 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니시, 수지 시트를 제작했다.In Example 1, 110 parts of an active ester system hardener ("HPC-8000-65T" by DIC Corporation, about 223 g / eq. Of active group equivalents, a toluene solution of 65 mass% of non volatile matters), an active ester system hardener (made by DIC Corporation) 110 parts of "HPC-8000L-65TM", an active group equivalent of 220 g / eq., And a toluene-MEK mixed solution having a nonvolatile content of 65%). A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 1 except for the above matters.

[실시예 3]Example 3

실시예 1에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223g/eq., 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액) 110부를, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「EXB-8150-60T」, 활성기 당량 230g/eq., 불휘발분 60%의 톨루엔 용액) 120부로 변경했다. 이상의 사항 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니시, 수지 시트를 제작했다.In Example 1, 110 parts of an active ester system hardener ("HPC-8000-65T" by DIC Corporation, about 223 g / eq. Of active group equivalents, a toluene solution of 65 mass% of non volatile matters), an active ester system hardener (made by DIC Corporation) 120 parts of "EXB-8150-60T", the active group equivalent 230g / eq., And the toluene solution of 60% of non volatile matters) were changed. A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 1 except for the above matters.

[실시예 4]Example 4

실시예 3에 있어서, 아크릴산에스테르(A-DOG, 신나카무라 카가쿠사 제조) 15 부를, 아크릴산에스테르(DCP-A, 쿄에이샤 카가쿠사 제조) 15부로 변경했다. 이상의 사항 이외에는, 실시예 3과 동일하게 하여 수지 바니시, 수지 시트를 제작했다.In Example 3, 15 parts of acrylic ester (A-DOG, manufactured by Shin-Nakamura Kagaku Co., Ltd.) was changed to 15 parts of acrylic ester (DCP-A, manufactured by Kyogisha Co., Ltd.). A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 3 except for the above matters.

DCP-A는, 이하에 나타내는 구조를 갖는다.DCP-A has a structure shown below.

Figure pat00006
Figure pat00006

[실시예 5]Example 5

실시예 4에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「EXB-8150-60T」, 활성기 당량 230g/eq., 불휘발분 60%의 톨루엔 용액)의 양을 120부에서 140부로 변경하고, 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」)의 양을 510부에서 520부로 변경했다. 이상의 사항 이외에는, 실시예 4와 동일하게 하여 수지 바니시, 수지 시트를 제작했다.In Example 4, the amount of the active ester curing agent (“EXB-8150-60T” manufactured by DIC Corporation, active group equivalent 230 g / eq., Toluene solution having a nonvolatile content of 60%) was changed from 120 parts to 140 parts, and the amine system The amount of spherical silica (average particle diameter: 0.5 µm, manufactured by Adomattex Co., Ltd., "SO-C2" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM573" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was changed from 510 parts to 520 parts. A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 4 except for the above matters.

[비교예 1]Comparative Example 1

실시예 3에 있어서, 아크릴산에스테르(A-DOG, 신나카무라 카가쿠사 제조) 15부를 사용하지 않고, 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」)의 양을 510부에서 480부로 변경했다. 이상의 사항 이외에는, 실시예 3과 동일하게 하여 수지 바니시, 수지 시트를 제작했다.In Example 3, spherical silica (average particles) surface-treated with an amine alkoxysilane compound ("KBM573" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) without using 15 parts of acrylic ester (A-DOG, manufactured by Shin-Nakamura Kagaku Co., Ltd.). 0.5 micrometer in diameter, and the amount of "DO-C2" by Ado-Matex Corporation were changed from 510 parts to 480 parts. A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 3 except for the above matters.

[비교예 2]Comparative Example 2

실시예 3에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「EXB-8150-60T」,활성기 당량 230g/eq., 불휘발분 60%의 톨루엔 용액)의 양을 120부에서 80부로 변경하고, 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」)의 양을 510부에서 450부로 변경했다. 이상의 사항 이외에는, 실시예 3과 동일하게 하여 수지 바니시, 수지 시트를 제작했다.In Example 3, the amount of the active ester curing agent (“EXB-8150-60T” manufactured by DIC Corporation, active group equivalent 230 g / eq., Toluene solution having a nonvolatile content of 60%) was changed from 120 parts to 80 parts, and the amine type The amount of spherical silica (average particle diameter: 0.5 µm, manufactured by Ado-Matex, Inc., "SO-C2" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM573" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was changed from 510 parts to 450 parts. A resin varnish and a resin sheet were produced in the same manner as in Example 3 except for the above matters.

[스미어 제거성, 및 도금 필 강도(Peel strength)의 평가][Evaluation of Smear Removability and Plating Peel Strength]

<평가 기판 A의 제작><Production of Evaluation Board A>

(1) 내장 기판의 바탕 처리(1) background processing of embedded substrate

내층 기판으로서, 표면에 동박을 갖는 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박 두께 18㎛, 기판 두께 0.8mm, 파나소닉사 제조 「R1515A」)을 준비했다. 이 내층 기판의 표면의 동박을, 마이크로 에칭제(멕사 제조 「CZ8101」)를 사용하여, 동 에칭량 1㎛로 에칭하여, 조화 처리를 행하였다. 그 후, 190℃에서 30분 건조를 행하였다.As an inner layer board | substrate, the glass cloth base material epoxy resin double-sided copper clad laminated board (copper foil thickness 18 micrometers, board | substrate thickness 0.8mm, Panasonic Corporation "R1515A") which has copper foil on the surface was prepared. The copper foil of the surface of this inner layer board | substrate was etched by the etching amount of 1 micrometer using the microetching agent ("CZ8101" by Mex Corporation), and the roughening process was performed. Then, drying was performed at 190 degreeC for 30 minutes.

(2) 수지 시트의 적층·경화(2) Lamination and Curing of Resin Sheet

상술한 실시예 및 비교예에서 얻은 수지 시트를, 배치식 진공 가압 라미네이터(닛코 머티리얼즈사 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터 「CVP700」)를 사용하여, 수지 조성물층이 상기의 내층 기판과 접합하도록, 내층 기판의 양면에 라미네이트했다. 이 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 온도 100℃, 압력 0.74MPa에서 30초간 압착함으로써, 실시했다.Inner layer board | substrate so that the resin composition layer may bond with the said inner layer board | substrate using the batch type vacuum pressurizing laminator (2 stage buildup laminator "CVP700" made by Nikko Materials) by using the resin sheet obtained by the Example and comparative example which were mentioned above. Laminated on both sides of the. This laminate was pressure-reduced for 30 seconds, and after making atmospheric pressure 13 hPa or less, it crimped | bonded for 30 second at the temperature of 100 degreeC, and the pressure of 0.74 Mpa.

이어서, 라미네이트된 수지 시트를, 대기압 하, 100℃, 압력 0.5MPa에서 60초간, 열프레스 평활화했다. 또한 이것을, 130℃의 오븐에 투입하여 30분간 가열하고, 이어서 170℃의 오븐으로 옮겨 30분간 가열했다.Subsequently, the laminated resin sheet was heat press smoothed for 60 seconds at 100 degreeC and the pressure of 0.5 MPa under atmospheric pressure. Furthermore, this was put into 130 degreeC oven, and it heated for 30 minutes, Then, it transferred to 170 degreeC oven, and heated for 30 minutes.

(3) 비아홀의 형성(3) formation of via holes

비아 메카닉스사 제조의 CO2 레이저 가공기(LK-2K212/2C)를 사용하여, 주파수 2000Hz로 펄스 폭 3μ초, 출력 0.95W, 쇼트 수 3의 조건으로 절연층을 가공하여, 절연층 표면에서의 탑 지름(직경)이 50㎛, 절연층 바닥면에서의 직경이 40㎛의 비아홀을 형성했다. 또한 그 후 PET 필름을 박리했다.Using a CO 2 laser processing machine (LK-2K212 / 2C) manufactured by Via Mechanics Co., Ltd., the insulating layer was processed under a condition of pulse width of 3 μsec, output of 0.95 W, and the number of shots 3 at a frequency of 2000 Hz, and the top of the insulating layer surface A via hole having a diameter (diameter) of 50 µm and a diameter of 40 µm at the bottom surface of the insulating layer was formed. Moreover, the PET film was peeled after that.

(4) 조화 처리(4) coordination treatment

내층 기판을, 팽윤액인 아토테크 재팬사의 스웰링 딥 세큐리간트 P에 60℃에서 10분간 침지했다. 다음으로, 조화액인 아토테크 재팬사의 컨센트레이트 컴팩트P(KMnO4: 60g/L, NaOH: 40g/L의 수용액)에 80℃에서 20분간 침지했다. 마지막으로, 중화액인 아토테크 재팬사의 리덕션 솔루션 세큐리간트 P에 40℃에서 5분간 침지했다. 얻어진 기판을 평가 기판 A라고 했다.The inner layer substrate was immersed at 60 ° C. for 10 minutes in the swelling deep security P, manufactured by Atotech Japan Co., which is a swelling liquid. Next, the blend solution of Ato Tech Japan Corporation Concentrate compact was dipped P (KMnO 4: aqueous solution of 40g / L: 60g / L, NaOH) at 80 ℃ 20 minutes. Finally, it was immersed for 5 minutes in 40 degreeC reduction solution Securigant P of Atotech Japan which is neutralization liquid. The obtained board | substrate was called evaluation board | substrate A.

<비아홀 바닥부의 잔사 평가(스미어 제거성의 평가)><Residue Evaluation at the Bottom of Via Hole (Evaluation of Smear Removal)>

평가 기판 A의 비아홀의 바닥부의 주위를 주사 전자 현미경(SEM)으로 관찰하고, 얻어진 화상으로부터 비아홀 바닥부의 벽면으로부터의 최대 스미어 길이를 측정하고, 이하의 기준으로 평가했다.The circumference | surroundings of the bottom part of the via hole of the evaluation board | substrate A were observed with the scanning electron microscope (SEM), and the maximum smear length from the wall surface of the via hole bottom part was measured from the obtained image, and the following references | standards evaluated.

○: 최대 스미어 길이가 5㎛ 미만.(Circle): Maximum smear length is less than 5 micrometers.

×: 최대 스미어 길이가 5㎛ 이상.X: Maximum smear length is 5 micrometers or more.

<도금 필 강도의 측정><Measurement of Plating Peel Strength>

평가 기판 A를, PdCl2를 포함하는 무전해 도금 용액에 40℃에서 5분간 침지하고, 다음으로 무전해 구리 도금액에 25℃에서 20분간 침지했다. 150℃에서 30분간 가열하여 어닐 처리를 행한 후에, 에칭 레지스트를 형성하고, 에칭에 의한 패턴 형성 후에, 황산 구리 전해 도금을 행하여, 30㎛ 두께의 도체층을 형성했다. 다음으로, 어닐 처리를 200℃에서 60분간 행하여, 얻어진 기판을 평가 기판 B라고 했다.The evaluation board A, the electroless containing PdCl 2 was immersed for 5 minutes at 40 ℃ in the plating solution, and was then immersed in an electroless copper plating solution for 20 minutes at 25 ℃ with. After heating at 150 degreeC for 30 minutes and performing an annealing process, an etching resist was formed and after the pattern formation by etching, copper sulfate electroplating was performed and the conductor layer of 30 micrometers thickness was formed. Next, the annealing process was performed at 200 degreeC for 60 minutes, and the obtained board | substrate was called evaluation board | substrate B.

평가 기판 B의 도체층에, 폭 10mm, 길이 150mm의 부분의 칼집을 넣고, 이 일단을 벗겨 집기 도구(티에스이사 제작, 오토컴형 시험기 AC-50C-SL)로 집어, 실온(25℃)에서, 50mm/분의 속도로 수직 방향으로 100mm를 떼어냈을 때의 하중(kgf/cm)을 측정했다.A sheath of 10 mm in width and 150 mm in length is placed in the conductor layer of the evaluation board B, and this end is peeled off and picked up by a pick-up tool (manufactured by TS Co., Autocom Type Tester AC-50C-SL), at room temperature (25 ° C), The load (kgf / cm) when 100 mm was removed in the vertical direction at a speed of 50 mm / min was measured.

[유전 정접의 측정][Measurement of Dielectric Tangent]

각 실시예 및 각 비교예에서 얻어진 수지 시트를 190℃에서 90분 가열 경화시켜서, PET 필름을 박리하여 시트 형상의 경화물을 얻었다. 그 경화물을, 폭 2mm, 길이 80mm의 시험편으로 절단하여, 칸토 오요우 덴시 카이하츠사 제조 공동 공진기 섭동법 유전율 측정 장치 CP521 및 애질런트 테크놀로지사 제조 네트워크 애널라이저 E8362B를 사용하여, 공동 공진법으로 측정 주파수 5.8GHz로 유전 정접(tanδ)의 측정을 행하였다. 2개의 시험편에 대하여 측정을 행하고, 평균값을 산출했다.The resin sheet obtained by each Example and each comparative example was heat-hardened at 190 degreeC for 90 minutes, the PET film was peeled off, and the sheet-like hardened | cured material was obtained. The cured product was cut into a test piece having a width of 2 mm and a length of 80 mm, and measured using a cavity resonance method using a cavity resonator perturbation dielectric constant measuring device CP521 manufactured by Kanto Ohio Denshi Kaihatsu Co., Ltd. and a network analyzer E8362B manufactured by Agilent Technologies. The dielectric loss tangent (tanδ) was measured at GHz. Two test pieces were measured and the average value was computed.

Figure pat00007
Figure pat00007

표 중, 「a」는, (A) 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 나타내고, 「b」는, (B) 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 나타내고, 「f」는, (F) 성분의 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 나타낸다. 「(C) 성분의 함유량」은, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%로 한 경우의 (C) 성분의 함유량을 나타내고, 「(D) 성분의 함유량」은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우의 (D) 성분의 함유량을 나타낸다.In the table, "a" represents the value obtained by dividing the mass of the component (A) by epoxy equivalent, and "b" represents the value obtained by dividing the mass of the component (B) by the active ester group equivalent, and "f" represents The value obtained by dividing the mass of the component (F) by the reactor equivalent. "Content of (C) component" shows content of (C) component when the resin component in a resin composition is made into 100 mass%, and "content of (D) component is 100 the non-volatile component in a resin composition. Content of (D) component in the case of mass% is shown.

실시예 1 내지 5에 있어서, (E) 성분 내지 (H) 성분을 함유하지 않는 경우라도, 정도에 차는 있지만, 상기 실시예와 동일한 결과에 귀착됨을 확인하였다.In Examples 1-5, even if it did not contain (E) component-(H) component, although it differed in grade, it confirmed that it resulted in the same result as the said Example.

Claims (14)

(A) 에폭시 수지,
(B) 활성 에스테르계 경화제,
(C) (메타)아크릴산에스테르, 및
(D) 무기 충전재
를 포함하는 수지 조성물로서,
(D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 70질량% 이상이며,
(A) 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 a로 하고, (B) 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 b로 한 경우, b/a가 1.3 이상인, 수지 조성 물.
(A) epoxy resin,
(B) an active ester curing agent,
(C) (meth) acrylic acid ester, and
(D) inorganic filler
As a resin composition comprising
When content of (D) component makes non-volatile component in resin composition 100 mass%, it is 70 mass% or more,
The resin composition whose b / a is 1.3 or more, when the value which divided | diluted the mass of (A) component by the epoxy equivalent was made into a, and the value which divided | diluted the mass of the component (B) by the active ester group equivalent into b.
제1항에 있어서, (C) 성분이, 1분자당 2개 이상의 (메타)아크릴로일기를 갖는, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 in which (C) component has two or more (meth) acryloyl groups per molecule. 제1항에 있어서, (C) 성분이, 환상 구조를 갖는, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 in which (C) component has a cyclic structure. 제1항에 있어서, (C) 성분이, 하기 식 (1)로 표시되는 구조를 갖는, 수지 조성물.
Figure pat00008

(식 (1) 중, R1 및 R4는 각각 독립적으로 아크릴로일기 또는 메타크릴로일기를 나타내고, R2 및 R3은 각각 독립적으로 2가의 연결기를 나타낸다. 환 A는, 2가의 환상기를 나타낸다.)
The resin composition of Claim 1 in which (C) component has a structure represented by following formula (1).
Figure pat00008

(In formula (1), R <1> and R <4> represents acryloyl group or a methacryloyl group each independently, and R <2> and R <3> represent a bivalent coupling group each independently. Ring A is a bivalent cyclic group Indicates.)
제1항에 있어서, (A) 성분이, 액상 에폭시 수지 및 고체상 에폭시 수지를 포함하는, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 in which (A) component contains a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin. 제1항에 있어서, (D) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, 75질량% 이상인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 whose content of (D) component is 75 mass% or more, when the non volatile component in a resin composition is 100 mass%. 제1항에 있어서, (C) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%로 한 경우, 1질량% 이상 20질량% 이하인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is 1 mass% or more and 20 mass% or less when content of (C) component makes the resin component in a resin composition 100 mass%. 제1항에 있어서, 절연 용도에 사용하는, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 used for insulation uses. 제1항에 있어서, 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is for forming an insulation layer. 제1항에 있어서, 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is for insulation layer formation for forming a conductor layer. 제1항에 있어서, 반도체 칩의 밀봉용인, 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is for sealing of a semiconductor chip. 지지체와, 당해 지지체 위에 형성된, 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 포함하는, 수지 시트.The resin sheet containing the support body and the resin composition layer containing the resin composition of any one of Claims 1-11 formed on the said support body. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.The printed wiring board containing the insulating layer formed of the hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 1-11. 제13항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.The semiconductor device containing the printed wiring board of Claim 13.
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