KR20190116732A - High sensitive hydrogen sensor in oil for sensing hydrogen contained within the oil and method for manufacturing the sensor - Google Patents

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KR20190116732A
KR20190116732A KR1020180039710A KR20180039710A KR20190116732A KR 20190116732 A KR20190116732 A KR 20190116732A KR 1020180039710 A KR1020180039710 A KR 1020180039710A KR 20180039710 A KR20180039710 A KR 20180039710A KR 20190116732 A KR20190116732 A KR 20190116732A
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Abstract

The present invention relates to a hydrogen sensor which can be inserted into oil to sense hydrogen contained in the oil with high sensitivity, and manufacturing method thereof. According to an embodiment of the present invention, the hydrogen sensor comprises: a silicon substrate having a central portion formed of a plurality of truncated cones; a first SiO_2 layer laminated on the silicon substrate; two metal layers stacked on a portion of a periphery of the central portion of the silicon substrate; a second SiO_2 layer laminated on at least a portion of the metal layer; and a Pd layer laminated on the first SiO_2 layer and the second SiO_2 layer.

Description

고감도 수소센서 및 이의 제조방법{High sensitive hydrogen sensor in oil for sensing hydrogen contained within the oil and method for manufacturing the sensor}High sensitive hydrogen sensor in oil for sensing hydrogen contained within the oil and method for manufacturing the sensor}

본 발명은 고감도 수소센서에 관한 것으로서, 특히 오일 내부에 삽입되어 오일에 함유된 수소를 고감도로 센싱할 수 있는 수소센서 및 이의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a high-sensitivity hydrogen sensor, and more particularly, to a hydrogen sensor and a method for manufacturing the same, which can be inserted into the oil to sense the hydrogen contained in the oil with high sensitivity.

유압변압기 등과 같은 고전압 전력설비에는 오일을 절연유로 사용하고 있다. 이러한 전력설비는 고온, 고압의 환경에 노출되므로 열화가 진행됨에 따라 수소 가스의 농도가 증가하게 되므로 오일 내 수소의 농도를 측정하면 오일의 열화 여부를 체크할 수 있다. 실제 유압변압기의 경우 오일 내 용존수소가 1000ppm 이상이면 폭발의 위험이 있다고 보고되고 있다.Oil is used as insulating oil in high voltage power equipment such as hydraulic transformers. Since the power equipment is exposed to high-temperature and high-pressure environments, the concentration of hydrogen gas increases as the deterioration proceeds, and thus, by measuring the concentration of hydrogen in the oil, it is possible to check whether the oil deteriorates. In fact, hydraulic transformers are reported to be at risk of explosion if the dissolved hydrogen in the oil is more than 1000ppm.

오일 내에 함유된 수소를 검출하는 방식으로 광학적인 방식, 점도측정방식, 전기화학적 방법, 가스 크로마토그래프 방식, 기체분리 방식 등이 알려져 있으나, 이러한 방식들은 측정 대상인 액체의 상태를 실시간으로 측정할 수 있는 방식이 아니어서 현장에서 실시간으로 열화 여부를 판단할 수 없다.As a method of detecting hydrogen contained in an oil, an optical method, a viscosity measuring method, an electrochemical method, a gas chromatograph method, and a gas separation method are known, but these methods can measure the state of a liquid to be measured in real time. It is not the way to determine whether the degradation in real time in the field.

종래에 오일 내 함유된 수소를 검출하는 수소센서가 제시되어 있다. 하지만 종래에 제시된 수소센서는 고분자 물질을 사용하거나 고체전기화학식 수소센서소자를 사용해야 하므로 제조비용이 증가하고 고감도 센싱이 어렵다는 문제점이 있다.Conventionally, a hydrogen sensor for detecting hydrogen contained in oil has been proposed. However, the hydrogen sensor presented in the related art has a problem in that manufacturing cost increases and high sensitivity sensing is difficult because a polymer material or a solid state electrochemical hydrogen sensor element should be used.

한국 등록특허 제1579484호Korean Patent No. 1579484 한국 등록특허 제1512189호Korean Patent No. 1512189 한국 등록특허 제0155307호Korean Registered Patent No. 0155307

이에, 본 발명은 종래기술의 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 오일 내에서 오일에 함유된 수소를 고감도로 감지할 수 있는 고감도 수소센서 및 이의 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been proposed to solve the problems of the prior art, and an object thereof is to provide a high-sensitivity hydrogen sensor and a method for manufacturing the same, which can detect hydrogen contained in oil with high sensitivity.

본 발명의 실시 예에 따른 수소센서는, 중앙부가 복수의 원뿔대 형상으로 이루어진 실리콘기판; 상기 실리콘기판 상에 적층된 제1 SiO2 층; 상기 실리콘기판의 중앙부의 주변부 중 일부에 적층된 2개의 금속층; 상기 금속층의 적어도 일부에 적층된 제2 SiO2 층; 및 상기 제1 SiO2 층 및 제2 SiO2 층에 적층된 Pd 층을 포함한다.Hydrogen sensor according to an embodiment of the present invention, the central portion of the silicon substrate made of a plurality of truncated conical shape; A first SiO 2 layer laminated on the silicon substrate; Two metal layers stacked on a part of the periphery of the central portion of the silicon substrate; A second SiO 2 layer laminated on at least a portion of the metal layer; And a Pd layer laminated on the first SiO2 layer and the second SiO2 layer.

본 발명에서, 상기 2개의 금속층은 상기 실리콘기판의 양쪽 끝단부에 서로 대향하도록 각각 형성된다.In the present invention, the two metal layers are formed so as to face each other at both ends of the silicon substrate.

본 발명에서, 상기 금속층은 알루미늄(Al)을 포함한다.In the present invention, the metal layer includes aluminum (Al).

본 발명에서, 상기 Pd 층은 Pd, Pd와 Mo의 혼합물, Pd와 Cr의 혼합물, 또는 Pd, Mo 및 Cr의 혼합물 중 선택된 하나를 포함한다.In the present invention, the Pd layer comprises one selected from Pd, a mixture of Pd and Mo, a mixture of Pd and Cr, or a mixture of Pd, Mo and Cr.

또한, 본 발명의 실시 예에 따른 수소센서의 제조방법은, 직육면체 형상의 실리콘기판의 중앙부를 복수의 원뿔대로 형성하는 제1단계; 상기 원뿔대를 포함한 실리콘기판 상에 제1 SiO2 층을 형성하는 제2단계; 상기 실리콘기판의 중앙부를 제외한 주변부의 일부의 위치에 있는 상기 제1 SiO2 층의 상면에 복수의 금속층을 형성하는 제3단계; 상기 금속층의 상면에 제2 SiO2 층을 형성하는 제4단계; 및 상기 제2 SiO2 층의 상면에 Pd 층을 형성하는 제5단계를 포함한다.In addition, the hydrogen sensor manufacturing method according to an embodiment of the present invention, the first step of forming a central portion of the rectangular parallelepiped silicon substrate as a plurality of cones; A second step of forming a first SiO 2 layer on the silicon substrate including the truncated cone; A third step of forming a plurality of metal layers on an upper surface of the first SiO 2 layer at a position of a part of the peripheral portion except for the central portion of the silicon substrate; A fourth step of forming a second SiO 2 layer on an upper surface of the metal layer; And a fifth step of forming a Pd layer on an upper surface of the second SiO 2 layer.

본 발명에서, 상기 제1단계는, 상기 실리콘기판의 상면에 SiO2 층을 적층하는 적층단계; 상기 실리콘기판의 중앙부에 기설정된 크기와 간격으로 복수의 위치의 SiO2를 제외한 나머지 SiO2를 제거하는 제1제거단계; 상기 나머지 SiO2가 제거된 실리콘기판을 TMAH 용액 또는 KOH 용액에 일정시간 침지시켜 상기 SiO2가 남아있는 부분을 제외하고 나머지 실리콘기판을 식각하여 상기 실리콘기판의 중앙부를 상기 복수의 원뿔대로 형성하는 형성단계; 및 상기 복수의 원뿔대의 상면에 남아있는 SiO2를 제거하는 제2제거단계를 포함한다.In the present invention, the first step, laminating step of laminating a SiO 2 layer on the upper surface of the silicon substrate; A first removal step of removing the remaining SiO2 except for the SiO2 in a plurality of positions at predetermined sizes and intervals in the central portion of the silicon substrate; Forming a central portion of the silicon substrate as the plurality of cones by etching the remaining silicon substrate by immersing the silicon substrate from which the remaining SiO 2 has been removed in a TMAH solution or KOH solution for a predetermined time except for the remaining portion of SiO 2; And a second removal step of removing SiO 2 remaining on the top surfaces of the plurality of truncated cones.

본 발명에서, 상기 형성단계에서 상기 실리콘기판은 깊이방향과 폭방향으로 식각되는 양이 서로 다르다.In the present invention, the silicon substrate in the forming step is different from each other in the amount of etching in the depth direction and the width direction.

본 발명에서, 상기 제거단계는, 상기 기설정된 크기와 간격으로 복수의 위치에 마스크를 유지하는 단계; 및 포토공정을 통해 상기 마스크에 대응되는 위치의 SiO2를 제외한 나머지 SiO2를 제거하는 단계를 포함한다.In the present invention, the removing step, the step of maintaining the mask in a plurality of positions at the predetermined size and interval; And removing the remaining SiO 2 except for the SiO 2 at the position corresponding to the mask through a photo process.

본 발명에서, 상기 제2제거단계는, CF4와 O2의 혼합가스를 이용한 플라즈마 환경에서 건식에칭(dry etching)을 통해 상기 SiO2를 제거한다.In the present invention, the second removing step, the SiO 2 is removed by dry etching in a plasma environment using a mixed gas of CF 4 and O 2.

본 발명에서, 상기 제3단계는, 상기 제1 SiO2 층의 상면에 금속층을 적층하는 단계; 및 상기 실리콘기판의 중앙부를 제외한 주변부의 일부의 위치에 대응하는 2개의 금속층을 제외하고 나머지 금속층을 에칭공정을 통해 제거하는 단계를 포함한다.In the present invention, the third step, the step of laminating a metal layer on the upper surface of the first SiO 2 layer; And removing the remaining metal layers except the two metal layers corresponding to the positions of a part of the peripheral portion except the center portion of the silicon substrate through an etching process.

본 발명에서, 상기 제4단계는, 상기 금속층의 상면의 일부에 상기 제2 SiO2를 직접 적층하거나 또는 상기 금속층 및 상기 제1 SiO2 층을 포함한 상면에 상기 제2 SiO2 층을 적층한 후, 상기 금속층 상에 마스크를 유지하여 기설정된 포토공정을 통해 상기 마스크에 대응되는 위치의 제2 SiO2를 제외한 나머지 제2 SiO2를 제거하여 상기 금속층 상면의 제2 SiO2 층을 형성한다.In the present invention, in the fourth step, the second SiO 2 is directly deposited on a portion of the upper surface of the metal layer or the second SiO 2 layer is laminated on the upper surface including the metal layer and the first SiO 2 layer, and then the metal layer. A second SiO 2 layer on the upper surface of the metal layer is formed by removing a second SiO 2 except for the second SiO 2 at a position corresponding to the mask by maintaining a mask on the mask.

본 발명에서, 상기 Pd 층은 Pd, Pd와 Mo의 혼합물, Pd와 Cr의 혼합물, 또는 Pd, Mo 및 Cr의 혼합물 중 선택된 하나를 포함한다.In the present invention, the Pd layer comprises one selected from Pd, a mixture of Pd and Mo, a mixture of Pd and Cr, or a mixture of Pd, Mo and Cr.

본 발명에 의하면 오일 내부에 삽입되어 오일에 함유되어 있는 수소 가스를 고감도로 실시간 센싱이 가능하다.According to the present invention, the hydrogen gas inserted into the oil can be sensed in real time with high sensitivity.

또한, 본 발명에 의하면 수소센서를 오일 내부에 삽입하여 오일 내에 함유된 수소 가스를 검출함으로써 오일의 열화 정도를 실시간으로 파악할 수 있다.In addition, according to the present invention it is possible to determine the degree of degradation of the oil in real time by inserting a hydrogen sensor in the oil to detect the hydrogen gas contained in the oil.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 고감도 수소센서의 사시도이다.
도 2는 도 1에서 A-A' 단면도이다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 고감도 수소센서의 제조를 위한 제조공정도이다.
1 is a perspective view of a high sensitivity hydrogen sensor according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA ′ in FIG. 1.
3 and 4 are manufacturing process diagrams for the production of a high-sensitivity hydrogen sensor according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 실시 예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명의 실시 예를 설명함에 있어, 관련된 공지구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 실시 예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In adding reference numerals to the components of each drawing, it should be noted that the same reference numerals are assigned to the same components as much as possible even though they are shown in different drawings. In addition, in describing the embodiments of the present invention, if it is determined that the detailed description of the related well-known configuration or function interferes with the understanding of the embodiments of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

또한, 본 발명의 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the components of the embodiments of the present disclosure, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are only for distinguishing the components from other components, and the nature, order or order of the components are not limited by the terms. If a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, that component may be directly connected or connected to that other component, but between components It will be understood that may be "connected", "coupled" or "connected".

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 고감도 수소센서의 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 수소센서의 A-A' 단면도이다.1 is a perspective view of a high sensitivity hydrogen sensor according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a cross-sectional view taken along the line A-A 'of the hydrogen sensor shown in FIG.

도 1 및 도 2를 참조하면 본 발명의 실시 예에 따른 고감도 수소센서(100)는 직육면체 형상의 실리콘기판(110)을 포함한다. 실리콘기판(110)의 중앙부(A)는 복수의 원뿔대(120)로 형성된다. 여기서 원뿔대(120)는 원뿔을 밑면에 평행한 평면으로 잘랐을 때 꼭짓점이 있는 위쪽을 뺀 나머지 부분으로 이루어진 입체도형을 말한다. 이러한 각 원뿔대(120)의 높이(L1)는 2~4㎛이고 윗면(121)의 폭(L2)은 350~450㎚이며 윗면(121) 간의 간격(L3)은 5~6㎛인 것이 바람직하다.1 and 2, the high-sensitivity hydrogen sensor 100 according to the embodiment of the present invention includes a silicon substrate 110 having a rectangular parallelepiped shape. The central portion A of the silicon substrate 110 is formed of a plurality of truncated cones 120. Here, the truncated cone 120 refers to a three-dimensional figure consisting of the remaining portion except for the top of the vertex when the cone is cut into a plane parallel to the base. It is preferable that the height L1 of each truncated cone 120 is 2-4 micrometers, the width L2 of the upper surface 121 is 350-450 nm, and the space | interval L3 between the upper surfaces 121 is 5-6 micrometers. .

이처럼 중앙부(A)가 복수의 원뿔대(120)로 형성된 실리콘기판(110) 상에 제1 이산화규소(SiO2) 층(130)이 적층된다. 즉, 복수의 원뿔대(120)를 포함하여 실리콘기판(110)의 모든 영역에 제1 SiO2 층(130)이 적층된다.As such, the first silicon dioxide (SiO 2) layer 130 is stacked on the silicon substrate 110 having the central portion A formed of a plurality of truncated cones 120. That is, the first SiO 2 layer 130 is stacked on all regions of the silicon substrate 110 including the plurality of truncated cones 120.

또한, 실리콘기판(110) 상에서 중앙부(A)의 주변에 있는 주변부(B) 중 일부에 두 개의 금속층(140)이 각각 형성된다. 도면의 일례와 같이 금속층(140)은 실리콘기판(110)의 양쪽 끝단부에 서로 대향하도록 각각 형성될 수도 있다. 이러한 금속층(140)은 도전성을 갖는 도전체를 포함함이 바람직하며, 일례로 알루미늄(Al)층이 될 수 있다. 금속층(140)은 300㎚~1㎛의 두께로 적층됨이 바람직하다.In addition, two metal layers 140 are formed on a part of the peripheral portion B around the central portion A on the silicon substrate 110, respectively. As shown in the example of the figure, the metal layer 140 may be formed to face each other at both ends of the silicon substrate 110, respectively. The metal layer 140 preferably includes a conductive material, and may be, for example, an aluminum (Al) layer. The metal layer 140 is preferably laminated to a thickness of 300nm ~ 1㎛.

이로써 실리콘기판(110)의 중앙부(A)가 복수의 원뿔대(120) 형상으로 이루어지고 그 상면에 제1 SiO2 층(130)이 적층되며, 이러한 제1 SiO2 층(130)의 상면 중 주변부(B)에 대응하는 위치에 2개의 금속층(140)이 각각 형성되는 것이다.As a result, the central portion A of the silicon substrate 110 is formed in the shape of a plurality of truncated cones 120, and the first SiO 2 layer 130 is stacked on the upper surface of the silicon substrate 110. The peripheral portion B of the upper surface of the first SiO 2 layer 130 is formed. Each of the two metal layers 140 is formed at a position corresponding to).

또한, 각 금속층(140)의 상부에 제2 SiO2 층(150)이 각각 적층된다.In addition, a second SiO 2 layer 150 is stacked on top of each metal layer 140.

또한, 복수의 원뿔대(120)에 적층된 제1 SiO2 층(130)과 제2 SiO2 층(150)의 상면에 각각 팔라듐(Pd) 층(160)이 형성된다. 이러한 Pd 층(160)은 순수 Pd를 포함할 수도 있고, Pd와 Mo의 혼합물, Pd와 Cr의 혼합물, 또는 Pd, Mo 및 Cr의 혼합물 중 하나를 포함할 수도 있다.In addition, a palladium (Pd) layer 160 is formed on top surfaces of the first SiO 2 layer 130 and the second SiO 2 layer 150 stacked on the plurality of truncated cones 120. This Pd layer 160 may comprise pure Pd and may comprise one of a mixture of Pd and Mo, a mixture of Pd and Cr, or a mixture of Pd, Mo and Cr.

이와 같이 본 발명에 따른 수소센서(100)는 실리콘기판(110)의 일부를 복수의 원뿔대(120)로 형성하고 이에 Pd 층(160)을 형성함으로써 Pd 층(160)이 수소와 접촉하는 면적을 증대시켜 수소감지 성능이 향상되도록 한다. As described above, the hydrogen sensor 100 according to the present invention forms a portion of the silicon substrate 110 as a plurality of truncated cones 120 and forms the Pd layer 160 therein, thereby reducing the area where the Pd layer 160 contacts with hydrogen. To increase the hydrogen detection performance.

도 3 및 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 고감도 수소센서의 제조를 위한 제조공정도이다.3 and 4 are manufacturing process diagrams for the production of a high-sensitivity hydrogen sensor according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, (a)에는 직육면체 형상의 실리콘기판(110)에 SiO2 층(111)을 적층한다. 이러한 SiO2 층(111)의 적층에는 예컨대 PECVD 공법을 이용할 수 있다. (b)에는 복수의 마스크(112)를 기설정된 개수와 간격으로 유지한 채 기설정된 포토공정을 통해 마스크(112)에 대응되는 위치의 SiO2(113)를 제외한 나머지 SiO2를 제거하도록 한다. 이와 같이 일부 SiO2가 제거된 형상이 (c)에 도시된다.Referring to FIG. 3, in (a), an SiO 2 layer 111 is laminated on a rectangular silicon substrate 110. For example, a PECVD method may be used to stack the SiO 2 layer 111. (b) removes the remaining SiO2 except for the SiO2 113 at the position corresponding to the mask 112 through a preset photo process while maintaining the plurality of masks 112 at a predetermined number and intervals. The shape in which some SiO 2 is removed is shown in (c).

(d)에는 (c)의 결과물을 TMAH 용액 또는 KOH 용액에 침지시키는 공정을 나타낸다. 이러한 침지공정은 80~90℃의 TMAH 용액 또는 KOH 용액에 90~150초로 담그도록 한다. (d) shows the process of immersing the result of (c) in TMAH solution or KOH solution. This immersion process is to immerse in 90 ~ 150 seconds in 80 ~ 90 ℃ TMAH solution or KOH solution.

이러한 침지공정에 의해 (e)와 같이 SiO2가 남아있는 부분을 제외하고 나머지 실리콘기판(110)은 식각된다. 이때, 침지공정에서 실리콘기판(110)이 식각될 때 실리콘기판(110)의 특성상 깊이와 폭은 식각되는 정도가 다르다. 즉, 본 실시 예에서는 깊이방향과 폭방향으로 식각되는 양이 서로 다른 실리콘기판(110)을 마련하도록 한다.By the immersion process, the remaining silicon substrate 110 is etched except for the portion where SiO 2 remains as shown in (e). At this time, when the silicon substrate 110 is etched in the immersion process, the depth and width of the silicon substrate 110 are different. That is, in this embodiment, the silicon substrate 110 having different amounts of etching in the depth direction and the width direction is provided.

이와 같이 실리콘기판(110)의 깊이와 폭의 식각정도가 다르기 때문에 (e)와 같이 실리콘기판(110)은 그 일부(중앙부)가 복수의 원뿔대(120) 형상으로 만들어지는 것이다. 다시 말하면, SiO2가 남아있는 부분은 식각되지 않아 각 원뿔대(120)의 윗면(121)이 되고, 나머지 SiO2가 없는 부분은 식각되는 것이다. 원뿔대(120)의 높이(L1)는 2~4㎛이고 윗면(121)의 폭(L2)은 350~450㎚이며 윗면(121) 간의 간격(L3)은 5~6㎛인 것이 바람직하다.As described above, since the degree of etching of the depth and width of the silicon substrate 110 is different, a part (center) of the silicon substrate 110 is formed in the shape of a plurality of truncated cones 120 (e). In other words, the portion where SiO 2 remains is not etched to become the top surface 121 of each truncated cone 120, and the portion without SiO 2 is etched. It is preferable that the height L1 of the truncated cone 120 is 2-4 micrometers, the width L2 of the upper surface 121 is 350-450 nm, and the space | interval L3 between the upper surfaces 121 is 5-6 micrometers.

(f)는 각 원뿔대(120)의 윗면(121)에 각각 남아있는 SiO2를 제거한 결과를 도시한다. 이러한 SiO2 제거를 위해 예컨대 RIE 장비에서 CF4와 O2의 혼합가스를 이용한 플라즈마 환경에서 건식에칭(dry etching)을 실시한다.(f) shows the result of removing SiO2 remaining on the top surface 121 of each truncated cone 120, respectively. In order to remove SiO 2, dry etching is performed in a plasma environment using a mixed gas of CF 4 and O 2, for example, in a RIE device.

다음으로, 도 4를 참조하여 수소센서의 제조방법을 이어서 설명한다. 도 4에서 (a)는 도 3에 도시된 (f)의 형상에서 A-A' 단면을 도시한 것이다. (a)에는 실리콘기판(110)의 중앙부(A)가 복수의 원뿔대(120) 형상으로 이루어진 구성을 도시한다.Next, the manufacturing method of a hydrogen sensor is demonstrated next with reference to FIG. In Figure 4 (a) shows a cross-sectional view A-A 'in the shape of (f) shown in FIG. (a) shows a configuration in which the central portion A of the silicon substrate 110 has a plurality of truncated cones 120.

(b)에서는 이러한 실리콘기판(110)의 상면에 제1 SiO2 층(130)이 적층된다.In (b), the first SiO 2 layer 130 is stacked on the upper surface of the silicon substrate 110.

(c)에서는 제1 SiO2 층(130)의 상면 중 실리콘기판(110)에서 중앙부(A)를 제외한 주변부(B)의 일부의 위치에 금속층(140)을 적층한다. 도면에는 도시하지 않았으나 다른 예로서 제1 SiO2 층(130)의 상면에 금속층(140)을 0.5~1㎛의 두께로 증착한 후, 실리콘기판(110)에서 중앙부(A)를 제외한 주변부(B)의 일부의 위치에 대응하는 금속층(140)을 제외하고 나머지 금속층은 소정의 에칭공정을 통해 제거할 수도 있다. 이러한 공정을 통해 (c)와 같이 실리콘기판(110)의 주변부(B) 중 2군데에 각각 금속층(140)이 남아있게 된다. 금속층(140)은 도전성의 도체를 포함하며, 일례로 Al층으로 형성될 수 있다.In (c), the metal layer 140 is laminated on a portion of the upper portion of the first SiO 2 layer 130 at the portion of the peripheral portion B except the central portion A of the silicon substrate 110. Although not shown in the drawing, as another example, the metal layer 140 is deposited on the upper surface of the first SiO 2 layer 130 to a thickness of 0.5 to 1 μm, and then the peripheral portion B of the silicon substrate 110 except for the center portion A is deposited. Except for the metal layer 140 corresponding to the position of a portion of the remaining metal layer may be removed through a predetermined etching process. Through this process, as shown in (c), the metal layer 140 remains in each of two peripheral portions B of the silicon substrate 110. The metal layer 140 includes a conductive conductor and may be formed of, for example, an Al layer.

(d)에서는 각 금속층(140)의 상면의 적어도 일부에 제2 SiO2 층(150)을 적층한다. 이러한 제2 SiO2 층(150)은 일례로 각 금속층(140)의 상면의 일부에 직접 적층될 수도 있고, 다른 예로 (d)에서 2개의 금속층(140) 및 제1 SiO2 층(130)을 포함한 전체 상면에 제2 SiO2 층(150)을 적층한 후, 각 금속층(140) 상에 원하는 크기의 마스크(미도시)를 유지한 채 기설정된 포토공정을 통해 해당 마스크에 대응되는 위치의 SiO2를 제외한 나머지 SiO2를 제거함으로써 2개의 제2 SiO2 층(150)만 남기도록 할 수도 있다. 제2 SiO2 층(150)은 금속층(140)의 절연 및 산화방지를 위한 것이다.In (d), the second SiO 2 layer 150 is laminated on at least a portion of the upper surface of each metal layer 140. For example, the second SiO 2 layer 150 may be directly stacked on a part of the upper surface of each metal layer 140. In another example, the second SiO 2 layer 150 may include the two metal layers 140 and the first SiO 2 layer 130. After stacking the second SiO 2 layer 150 on the upper surface, the remaining photoresist is removed except for SiO 2 at a position corresponding to the mask through a preset photo process while maintaining a mask (not shown) of a desired size on each metal layer 140. Removal of SiO2 may leave only two second SiO2 layers 150. The second SiO 2 layer 150 is to insulate and prevent oxidation of the metal layer 140.

(e)에서는 Pd 층(160)을 제2 SiO2 층(150)과 각 원뿔대(120)에 적층된 제1 SiO2 층(130)의 상면에 각각 적층한다. 이때, Pd 층(160)은 Pd, Pd와 Mo의 혼합물, Pd와 Cr의 혼합물, Pd, Mo, Cr의 혼합물 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 이러한 Pd 층(160)은 수소감지 기능을 수행한다. In (e), the Pd layer 160 is laminated on the upper surface of the second SiO 2 layer 150 and the first SiO 2 layer 130 stacked on each truncated cone 120, respectively. In this case, the Pd layer 160 may include any one of Pd, a mixture of Pd and Mo, a mixture of Pd and Cr, a mixture of Pd, Mo, and Cr. The Pd layer 160 performs a hydrogen detection function.

이와 같이 제조된 수소센서에서는 Pd 층(160)에 접촉되는 수소가스에 의해 전극에 유도되는 전압의 크기에 따라 수소의 양을 센싱하도록 한다.In the hydrogen sensor manufactured as described above, the amount of hydrogen is sensed according to the magnitude of the voltage induced in the electrode by the hydrogen gas contacting the Pd layer 160.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에서는 실리콘기판의 일부 영역이 복수의 원뿔대 형상으로 이루어지도록 하고 그 원뿔대의 표면에 SiO2 층과 Pd 층을 적층하여 Pd층의 면적이 더 증가하도록 한다. 이는 Pd층의 면적의 증대로 수소와 접촉하는 면적이 커지도록 하기 위한 것이다.As described above, in the present invention, a portion of the silicon substrate is formed in a plurality of truncated conical shapes, and the SiO 2 layer and the Pd layer are laminated on the surface of the truncated cone to further increase the area of the Pd layer. This is to increase the area of contact with hydrogen by increasing the area of the Pd layer.

이상에서, 본 발명의 실시 예를 구성하는 모든 구성 요소들이 하나로 결합하거나 결합하여 동작하는 것으로 설명되었다고 해서, 본 발명이 반드시 이러한 실시 예에 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명의 목적 범위 안에서라면, 그 모든 구성 요소들이 하나 이상으로 선택적으로 결합하여 동작할 수도 있다. 또한, 이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재할 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미가 있다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.In the above description, all elements constituting the embodiments of the present invention are described as being combined or operating in combination, but the present invention is not necessarily limited to the embodiments. In other words, within the scope of the present invention, all of the components may be selectively operated in combination with one or more. In addition, the terms "comprise", "comprise" or "having" described above mean that the corresponding component may be inherent unless specifically stated otherwise, and thus excludes other components. It should be construed that it may further include other components instead. All terms, including technical and scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art unless otherwise defined. Terms used generally, such as terms defined in a dictionary, should be interpreted to coincide with the contextual meaning of the related art, and shall not be interpreted in an ideal or excessively formal sense unless explicitly defined in the present invention.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those skilled in the art to which the present invention pertains may make various modifications and changes without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention but to describe the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The protection scope of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the equivalent scope should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

110 : 실리콘기판 120 : 원뿔대
130 : 제1 SiO2 층 140 : 금속층
150 : 제2 SiO2 층 160 : Pd 층
110: silicon substrate 120: truncated cone
130: first SiO 2 layer 140: metal layer
150: second SiO 2 layer 160: Pd layer

Claims (12)

중앙부가 복수의 원뿔대 형상으로 이루어진 실리콘기판;
상기 실리콘기판 상에 적층된 제1 SiO2 층;
상기 실리콘기판의 중앙부의 주변부 중 일부에 적층된 2개의 금속층;
상기 금속층의 적어도 일부에 적층된 제2 SiO2 층; 및
상기 제1 SiO2 층 및 제2 SiO2 층에 적층된 Pd 층을 포함하는 수소센서.
A silicon substrate having a central portion formed of a plurality of truncated cones;
A first SiO 2 layer laminated on the silicon substrate;
Two metal layers stacked on a part of the periphery of the central portion of the silicon substrate;
A second SiO 2 layer laminated on at least a portion of the metal layer; And
And a Pd layer stacked on the first SiO2 layer and the second SiO2 layer.
제1항에 있어서, 상기 2개의 금속층은 상기 실리콘기판의 양쪽 끝단부에 서로 대향하도록 각각 형성되는 수소센서.The hydrogen sensor of claim 1, wherein the two metal layers are formed to face each other at both ends of the silicon substrate. 제2항에 있어서, 상기 금속층은 알루미늄(Al)을 포함하는 수소센서.The hydrogen sensor of claim 2, wherein the metal layer comprises aluminum (Al). 제1항에 있어서, 상기 Pd 층은 Pd, Pd와 Mo의 혼합물, Pd와 Cr의 혼합물, 또는 Pd, Mo 및 Cr의 혼합물 중 선택된 하나를 포함하는 수소센서.The hydrogen sensor of claim 1, wherein the Pd layer comprises one selected from Pd, a mixture of Pd and Mo, a mixture of Pd and Cr, or a mixture of Pd, Mo and Cr. 직육면체 형상의 실리콘기판의 중앙부를 복수의 원뿔대로 형성하는 제1단계;
상기 원뿔대를 포함한 실리콘기판 상에 제1 SiO2 층을 형성하는 제2단계;
상기 실리콘기판의 중앙부를 제외한 주변부의 일부의 위치에 있는 상기 제1 SiO2 층의 상면에 복수의 금속층을 형성하는 제3단계;
상기 금속층의 상면에 제2 SiO2 층을 형성하는 제4단계; 및
상기 제2 SiO2 층의 상면에 Pd 층을 형성하는 제5단계를 포함하는 수소센서의 제조방법.
A first step of forming a central portion of a rectangular parallelepiped silicon substrate as a plurality of cones;
A second step of forming a first SiO 2 layer on the silicon substrate including the truncated cone;
A third step of forming a plurality of metal layers on an upper surface of the first SiO 2 layer at a position of a portion of the peripheral portion except the center portion of the silicon substrate;
A fourth step of forming a second SiO 2 layer on an upper surface of the metal layer; And
And a fifth step of forming a Pd layer on the upper surface of the second SiO 2 layer.
제5항에 있어서, 상기 제1단계는,
상기 실리콘기판의 상면에 SiO2 층을 적층하는 적층단계;
상기 실리콘기판의 중앙부에 기설정된 크기와 간격으로 복수의 위치의 SiO2를 제외한 나머지 SiO2를 제거하는 제1제거단계;
상기 나머지 SiO2가 제거된 실리콘기판을 TMAH 용액 또는 KOH 용액에 일정시간 침지시켜 상기 SiO2가 남아있는 부분을 제외하고 나머지 실리콘기판을 식각하여 상기 실리콘기판의 중앙부를 상기 복수의 원뿔대로 형성하는 형성단계; 및
상기 복수의 원뿔대의 상면에 남아있는 SiO2를 제거하는 제2제거단계를 포함하는 수소센서의 제조방법.
The method of claim 5, wherein the first step,
A laminating step of laminating an SiO 2 layer on an upper surface of the silicon substrate;
A first removal step of removing the remaining SiO2 except for the SiO2 in a plurality of positions at predetermined sizes and intervals in the central portion of the silicon substrate;
Forming a central portion of the silicon substrate by the plurality of cones by etching the silicon substrate from which the remaining SiO 2 has been removed in a TMAH solution or a KOH solution for a predetermined time and then etching the remaining silicon substrate except for the remaining portion of SiO 2; And
And a second removing step of removing SiO 2 remaining on the upper surface of the plurality of truncated cones.
제6항에 있어서, 상기 형성단계에서 상기 실리콘기판은 깊이방향과 폭방향으로 식각되는 양이 서로 다른 수소센서의 제조방법.The method of claim 6, wherein in the forming step, the silicon substrate is etched in a depth direction and a width direction different from each other. 제6항에 있어서, 상기 제거단계는,
상기 기설정된 크기와 간격으로 복수의 위치에 마스크를 유지하는 단계; 및
포토공정을 통해 상기 마스크에 대응되는 위치의 SiO2를 제외한 나머지 SiO2를 제거하는 단계를 포함하는 수소센서의 제조방법.
The method of claim 6, wherein the removing step,
Maintaining a mask at a plurality of positions at the predetermined sizes and intervals; And
And removing the remaining SiO2 except for the SiO2 at the position corresponding to the mask through a photo process.
제6항에 있어서, 상기 제2제거단계는,
CF4와 O2의 혼합가스를 이용한 플라즈마 환경에서 건식에칭(dry etching)을 통해 상기 SiO2를 제거하는 수소센서의 제조방법.
The method of claim 6, wherein the second removing step,
A method of manufacturing a hydrogen sensor for removing the SiO 2 by dry etching in a plasma environment using a mixed gas of CF 4 and O 2.
제5항에 있어서, 상기 제3단계는,
상기 제1 SiO2 층의 상면에 금속층을 적층하는 단계; 및
상기 실리콘기판의 중앙부를 제외한 주변부의 일부의 위치에 대응하는 2개의 금속층을 제외하고 나머지 금속층을 에칭공정을 통해 제거하는 단계를 포함하는 수소센서의 제조방법.
The method of claim 5, wherein the third step,
Depositing a metal layer on an upper surface of the first SiO 2 layer; And
And removing the remaining metal layers through an etching process except for the two metal layers corresponding to the positions of a part of the periphery except for the central portion of the silicon substrate.
제5항에 있어서, 상기 제4단계는,
상기 금속층의 상면의 일부에 상기 제2 SiO2를 직접 적층하거나 또는 상기 금속층 및 상기 제1 SiO2 층을 포함한 상면에 상기 제2 SiO2 층을 적층한 후, 상기 금속층 상에 마스크를 유지하여 기설정된 포토공정을 통해 상기 마스크에 대응되는 위치의 제2 SiO2를 제외한 나머지 제2 SiO2를 제거하여 상기 금속층 상면의 제2 SiO2 층을 형성하도록 하는 수소센서의 제조방법.
The method of claim 5, wherein the fourth step,
After the second SiO 2 is directly deposited on a portion of the upper surface of the metal layer or the second SiO 2 layer is laminated on the upper surface including the metal layer and the first SiO 2 layer, a predetermined photo process is maintained by holding a mask on the metal layer. Method of manufacturing a hydrogen sensor to form a second SiO2 layer on the upper surface of the metal layer by removing the remaining second SiO2 except the second SiO2 of the position corresponding to the mask through.
제5항에 있어서, 상기 Pd 층은 Pd, Pd와 Mo의 혼합물, Pd와 Cr의 혼합물, 또는 Pd, Mo 및 Cr의 혼합물 중 선택된 하나를 포함하는 수소센서의 제조방법.The method of claim 5, wherein the Pd layer comprises one selected from Pd, a mixture of Pd and Mo, a mixture of Pd and Cr, or a mixture of Pd, Mo, and Cr.
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