KR20190081135A - Ｏｌｅｄ 시험 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법은 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계; 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계; 및 상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 단계를 포함한다.
Description
본 발명의 실시예들은 파장대가 서로 다른 포토 다이오드들을 이용하여 광원(OLED)의 불량 여부를 테스트할 수 있는 OLED 시험 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 평판 표시장치는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), 전기영동(Electrophoretic) 표시장치 및 OLED(Organic Light Emitting Display) 등을 일컫는다. 이들은 종래 음극선 표시장치(CRT)에 비해 얇고 가벼우며 저전력과 저구동 전압으로 동작할 수 있어, 다양한 전자 장치에 사용되고 있다. 특히, 전기영동(Electrophoretic) 표시장치와 OLED는 기판 상에 형성되는 층들이 탄성력을 갖는 유기층이고, 응답 속도가 빠르고 발광 효율, 휘도 및 시야각이 큰 장점이 있어 플렉서블 표시장치(Flexible Display) 기술을 적용하기 용이한 특징이 있다.
최근에는 상기 평판 표시장치에 사용되는 기판을 유리 기판에서 플렉서블 기판으로 대체하여, 휘거나 접힐 수 있는 유연 OLED를 이용한 플렉서블 표시장치 개발이 활발히 진행되고 있다. 상기 플렉서블 표시장치에는 일정 각도로 유연하게 휘어지는 벤더블(bendable) 표시장치, 접을 수 있는 폴더블(Foldable) 표시장치, 종이처럼 말릴 수 있는 롤러블(Rollable) 표시장치 및 고무판처럼 늘릴 수 있는 스트레처블(stretchable) 표시장치 등이 있다.
OLED를 이용한 플렉서블 표시장치는 기본적으로 표시장치가 휘어지거나 접히는 특성이 있고, 반복적으로 휘거나 접을 경우에는 그렇지 않은 영역과 달리 화면 품의 저하 등의 문제가 발생된다. 따라서 OLED를 이용한 플렉서블 표시장치를 반복적으로 휘거나 접을 경우, OLED의 휨 영역에서 순차적으로 발생하는 화질 품의 차이를 신속하게 분석하여 OLED의 불량 여부를 측정할 필요가 있다.
그런데, 종래에는 OLED의 불량 여부를 측정하기 위하여 하나의 포토 다이오드만을 이용하였다. 다시 말해, 종래기술에 따르면 하나의 포토 다이오드만을 이용하여 OLED에서 발생되는 빛에 대응되는 전압으로 OLED의 조도 변화만을 측정함으로써 OLED의 불량 여부를 알 수 있었으나, OLED의 조도 변화만으로는 OLED의 불량 여부를 정확히 측정하기 어려운 문제가 있었다.
관련 선행기술로는 대한민국 공개특허공보 제10-2017-0098495호(발명의 명칭: 유연 유기발광소자 수명 측정장치, 공개일자: 2017.08.30)가 있다.
본 발명의 일 실시예는 본 발명의 실시예들은 파장대가 서로 다른 포토 다이오드들을 이용하여 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하고, 그 예측 결과를 토대로 광원의 불량 여부를 테스트할 수 있는 OLED 시험 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급한 과제(들)로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제(들)은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법은 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계; 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계; 및 상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 단계를 포함한다.
상기 준비하는 단계는 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드를 준비하는 단계; 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득하는 단계; 일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크하는 단계; 및 상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는 상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하는 단계; 및 상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는 상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하는 단계; 및 상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 장치는 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 포토 다이오드 제공부; 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 광특성 변화 예측부; 및 상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 광원 불량 진단부를 포함한다.
상기 포토 다이오드 제공부는 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드, 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있다.
상기 광특성 변화 예측부는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득하는 전압 값 획득부; 일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크하는 전압 추이 체크부; 및 상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 조도/파장대 변화 예측부를 포함할 수 있다.
상기 조도/파장대 변화 예측부는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측할 수 있다.
상기 조도/파장대 변화 예측부는 상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.
상기 조도/파장대 변화 예측부는 상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 첨부 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 본 발명의 실시예들은 파장대가 서로 다른 포토 다이오드들을 이용하여 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하고, 그 예측 결과를 토대로 광원의 불량 여부를 테스트할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 장치의 사용 상태를 도시한 도면이다.
도 2는 도 1의 OLED 시험 장치의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 3은 시험 대상인 OLED의 파장대와 대응되는 파장대를 가지는 제1 포토 다이오드의 파장 그래프를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 3의 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드와 더 큰 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드 각각의 파장 그래프를 나타낸 도면이다.
도 5는 도 2의 광특성 변화 예측부의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 더욱 구체적으로 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 2는 도 1의 OLED 시험 장치의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 3은 시험 대상인 OLED의 파장대와 대응되는 파장대를 가지는 제1 포토 다이오드의 파장 그래프를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 3의 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드와 더 큰 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드 각각의 파장 그래프를 나타낸 도면이다.
도 5는 도 2의 광특성 변화 예측부의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 더욱 구체적으로 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
본 발명의 이점 및/또는 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭한다.
또한, 이하 실시되는 본 발명의 바람직한 실시예는 본 발명을 이루는 기술적 구성요소를 효율적으로 설명하기 위해 각각의 시스템 기능구성에 기 구비되어 있거나, 또는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적으로 구비되는 시스템 기능 구성은 가능한 생략하고, 본 발명을 위해 추가적으로 구비되어야 하는 기능 구성을 위주로 설명한다. 만약 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 하기에 도시하지 않고 생략된 기능 구성 중에서 종래에 기 사용되고 있는 구성요소의 기능을 용이하게 이해할 수 있을 것이며, 또한 상기와 같이 생략된 구성 요소와 본 발명을 위해 추가된 구성 요소 사이의 관계도 명백하게 이해할 수 있을 것이다.
또한, 이하의 설명에 있어서, 신호 또는 정보의 "전송", "통신", "송신", "수신" 기타 이와 유사한 의미의 용어는 일 구성요소에서 다른 구성요소로 신호 또는 정보가 직접 전달되는 것뿐만이 아니라 다른 구성요소를 거쳐 전달되는 것도 포함한다. 특히 신호 또는 정보를 일 구성요소로 "전송" 또는 "송신"한다는 것은 그 신호 또는 정보의 최종 목적지를 지시하는 것이고 직접적인 목적지를 의미하는 것이 아니다. 이는 신호 또는 정보의 "수신"에 있어서도 동일하다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 장치의 사용 상태를 도시한 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 시험 대상인 광원인 OLED(유기발광다이오드)는 OLED 모듈(105)에 다수 구비될 수 있다. 상기 광원은 상기 OLED 를 비롯하여 LED, LCD 등을 모두 포함할 수 있지만, 본 실시예에서는 상기 OLED를 상기 광원으로 한정하여 설명하기로 한다. 이는 설명의 편의 및 용이한 이해를 위한 것일 뿐 본 발명의 권리범위를 줄이기 위함이 아님은 자명하다.
상기 OLED가 다수 구비되는 OLED 모듈(105)은 이송 플레이트(106) 위에 놓인 후 시험 위치로 이송될 수 있다. 상기 OLED 모듈(105)이 시험 위치로 이송되면, 상기 OLED 시험 장치(110)는 상기 OLED 모듈(105)에 구비된 다수의 OLED 각각에 대한 테스트를 수행하고, 이러한 테스트를 통해 상기 OLED 각각에 대한 불량 여부를 확인할 수 있다.
이를 위해, 상기 OLED 모듈(105)의 상부에는 센서 고정부(101)가 상기 OLED 모듈(105)과 대향되는 구조로 이격되게 배치될 수 있다. 상기 센서 고정부(101) 하부면에는 상기 OLED 모듈(105)에 구비되는 각 OLED에서 발생되는 빛을 측정하도록 포토 다이오드 세트(102)가 일정 간격으로 구비될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서는 상기 포토 다이오드 세트(102)가 3개의 포토 다이오드로 구성될 수 있으며, 상기 3개의 포토 다이오드 각각은 서로 다른 파장대를 가지는 것이 바람직하다. 이는 상기 각 OLED에서 발생되는 빛에 대응되는 전압의 출력 값을 통해 조도 변화뿐만 아니라 파장대 변화도 함께 측정하여 이를 토대로 상기 각 OLED의 불량 여부를 보다 정확하게 테스트하기 위함이다.
상기 포토 다이오드 세트(102)가 구비되는 센서 고정부(101) 하단에는 각 포토 다이오드 세트(102)별로 칸막이(104)가 배치될 수 있다. 상기 칸막이(104)는 각 포토 다이오드 세트(102)를 구획하는 역할을 하며, 이를 통해 상기 OLED에서 발생되는 빛의 밝기를 측정 시 인접된 좌우 OLED의 빛을 차단할 수 있다.
상기 포토 다이오드 세트(102)와 상기 OLED 모듈(105) 사이에는 상기 칸막이(104)와 교차하게 배치되는 투과율 조정 덮개(103)가 구비될 수 있다. 상기 투과율 조정 덮개(103)는 상기 OLED 모듈(105)의 각 OLED로부터 너무 밝은 빛이 발생되는 밝기를 줄여주는 역할을 할 수 있다. 이러한 투과율 조정 덮개(103)는 필요에 따라 구비되지 않을 수도 있다.
이하에서는 도 1의 OLED 시험 장치(110)에 대해 도 2를 참조하여 구체적으로 설명한다.
도 2는 도 1의 OLED 시험 장치(110)의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 OLED 시험 장치(110)는 포토 다이오드 제공부(210), 광특성 변화 예측부(220), 광원 불량 진단부(230), 및 제어부(240)를 포함할 수 있다.
상기 포토 다이오드 제공부(210)는 서로 다른 파장대를 가지는 복수의 포토 다이오드를 제공할 수 있다. 구체적으로, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 시험 대상인 OLED의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있다.
이때, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 제2 및 제3 포토 다이오드를 준비함에 있어서, 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드, 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있다. 참고로, 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드는 앞서 도 1에서 언급한 바와 같이 상기 포토 다이오드 세트(102)의 구성 요소들이다.
예를 들면, 상기 OLED의 파장대가 750nm인 경우, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 먼저 도 3에 도시된 바와 같이 상기 OLED의 파장대와 동일 또는 유사한 파장대를 가지는 제1 포토 다이오드를 준비할 수 있다. 그리고, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 도 4에 도시된 바와 같이 상기 제1 포토 다이오드[photodiode (B)]의 파장대를 기준으로, 750nm보다 큰 파장대인 950nm를 가지는 제2 포토 다이오드[photodiode (C)]와, 750nm보다 작은 파장대인 600nm를 가지는 제3 포토 다이오드[photodiode (A)]를 준비할 수 있다.
상기와 같은 제1 내지 제3 포토 다이오드를 제공하기 위해, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 이송 플레이트(106) 위에 상기 OLED 모듈(105)이 놓이면 이를 감지하여 상기 이송 플레이트(106)의 움직임을 제어할 수 있다. 이로써, 상기 이송 플레이트(106)가 시험 위치로 이동하게 되고, 이를 통해 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있게 된다.
상기 광특성 변화 예측부(220)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측할 수 있다. 이를 위해, 상기 광특성 변화 예측부(220)는 도 5에 도시된 바와 같이 전압 값 획득부(510), 전압 추이 체크부(520), 및 조도/파장대 변화 예측부(530)를 포함하여 구성될 수 있다. 참고로, 도 5는 도 2의 광특성 변화 예측부(220)의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
상기 전압 값 획득부(510)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 OLED에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 측정하고, 일정 주기 단위로 측정된 각각의 전압 값을 획득할 수 있다.
상기 전압 추이 체크부(520)는 일정 주기 단위로 획득된 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크할 수 있다. 즉, 상기 전압 추이 체크부(520)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 일정 기간 동안 증가했는지 또는 감소했는지를 체크할 수 있다.
상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 OLED의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측할 수 있다. 구체적으로, 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 전압 추이 체크부(520)의 체크 결과에 따른 전압 값의 추이 정보를 바탕으로 상기 OLED의 조도 변화가 있는지, 있다면 어떤 변화(증가 또는 감소)가 있는지를 예측할 수 있으며, 나아가 상기 OLED의 파장대 변화가 있는지를 예측할 수 있다.
예를 들면, 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 OLED의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측할 수 있다.
또한, 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 OLED의 파장대 변화 및 조도 변화가 모두 있는 것으로 예측할 수 있으며, 상술하면 상기 OLED의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하고, 상기 OLED의 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 OLED의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.
또한, 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 OLED의 파장대 변화 및 조도 변화가 모두 있는 것으로 예측할 수 있으며, 상술하면 상기 OLED의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하고, 상기 OLED의 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 OLED의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.
상기 광원 불량 진단부(230)는 상기 OLED의 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 OLED의 불량 여부를 테스트할 수 있다. 즉, 상기 광원 불량 진단부(230)는 상기 OLED의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 경우에 상기 OLED의 테스트 결과가 불량인 것으로 진단할 수 있다. 또한, 상기 광원 불량 진단부(230)는 상기 OLED의 파장대 변화가 증가 또는 감소 추이로 있고 이로 인해 상기 OLED의 조도 변화가 있는 것으로 예측되는 경우 상기 OLED의 테스트 결과가 불량인 것으로 진단할 수 있다.
상기 제어부(240)는 상기 OLED 시험 장치(110), 즉 상기 포토 다이오드 제공부(210), 상기 광특성 변화 예측부(220), 상기 광원 불량 진단부(230) 등의 동작을 전반적으로 제어할 수 있다.
이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성 요소, 소프트웨어 구성 요소, 및/또는 하드웨어 구성 요소 및 소프트웨어 구성 요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성 요소는, 예를 들어, 프로세서, 컨트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPA(field programmable array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 컨트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
여기서 설명하는 OLED 시험 방법은 본 발명의 하나의 실시예에 불과하며, 그 이외에 필요에 따라 다양한 단계들이 부가될 수 있고, 하기의 단계들도 순서를 변경하여 실시될 수 있으므로, 본 발명이 하기에 설명하는 각 단계 및 그 순서에 한정되는 것은 아니다. 이는 도 7 및 도 8에 대한 설명에도 마찬가지로 적용될 수 있다.
도 1, 도 2 및 도 6을 참조하면, 단계(610)에서 OLED 시험 장치(110)의 포토 다이오드 제공부(210)는 광원(OLED)의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드를 준비할 수 있다.
다음으로, 단계(620)에서 상기 OLED 시험 장치(110)의 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드를 준비할 수 있다.
다음으로, 단계(630)에서 상기 OLED 시험 장치(110)의 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있다.
다음으로, 단계(640)에서 상기 OLED 시험 장치(110)의 광특성 변화 예측부(220)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측할 수 있다.
다음으로, 단계(650)에서 상기 OLED 시험 장치(110)의 광원 불량 진단부(230)는 상기 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원(OLED)의 불량 여부를 테스트할 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 2, 도 5 및 도 7을 참조하면, 단계(710)에서 상기 광특성 변화 예측부(220)의 전압 값 획득부(510)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원(OLED)에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득할 수 있다.
다음으로, 단계(720)에서 상기 광특성 변화 예측부(220)의 전압 추이 체크부(520)는 일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크할 수 있다.
다음으로, 단계(730)에서 상기 광특성 변화 예측부(220)의 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 더욱 구체적으로 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 5 및 도 8을 참조하면, 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하는 경우(810, 820, 830의 "예" 방향), 단계(840)에서 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 광원(OLED)의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측할 수 있다.
또한, 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 감소하는 경우(810, 820, 830의 "아니오" 방향)에도, 단계(840)에서 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 광원(OLED)의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측할 수 있다.
다음으로, 상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우(820, 830의 "아니오" 방향, 810의 "예" 방향), 단계(850)에서 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 광원(OLED)의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원(OLED)의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.
다음으로, 상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우(810, 820의 "아니오" 방향, 830의 "예" 방향), 단계(860)에서 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 광원(OLED)의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원(OLELD)의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CDROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 청구범위와 균등한 것들도 후술하는 청구범위의 범위에 속한다.
110: OLED 시험 장치
210: 포토 다이오드 제공부
220: 광특성 변화 예측부
230: 광원 불량 진단부
240: 제어부
510: 전압 값 획득부
520: 전압 추이 체크부
530: 조도/파장대 변화 예측부
210: 포토 다이오드 제공부
220: 광특성 변화 예측부
230: 광원 불량 진단부
240: 제어부
510: 전압 값 획득부
520: 전압 추이 체크부
530: 조도/파장대 변화 예측부
Claims (12)
- 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계;
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계; 및
상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 준비하는 단계는
상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드를 준비하는 단계; 및
상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득하는 단계;
일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크하는 단계; 및
상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
- 제3항에 있어서,
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
- 제3항에 있어서,
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는
상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하는 단계; 및
상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
- 제3항에 있어서,
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는
상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하는 단계; 및
상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
- 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 포토 다이오드 제공부;
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 광특성 변화 예측부; 및
상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 광원 불량 진단부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
- 제7항에 있어서,
상기 포토 다이오드 제공부는
상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드, 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
- 제7항에 있어서,
상기 광특성 변화 예측부는
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득하는 전압 값 획득부;
일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크하는 전압 추이 체크부; 및
상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 조도/파장대 변화 예측부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
- 제9항에 있어서,
상기 조도/파장대 변화 예측부는
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
- 제9항에 있어서,
상기 조도/파장대 변화 예측부는
상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
- 제9항에 있어서,
상기 조도/파장대 변화 예측부는
상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
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