KR20190048821A - Apparatus for estimating of lighting device - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 조명기기 평가장치에 관한 발명으로서, 더욱 상세하게는 조명제품의 가속 수명 시험중에 시험을 중단하지 않고 실시간으로 광출력과, 전기 및 온도 특성을 평가하는 조명기기 평가장치에 관한 것이다.The present invention relates to an illuminator evaluating apparatus, and more particularly, to an illuminator evaluating apparatus that evaluates light output, electric power, and temperature characteristics in real time without stopping the test during an accelerated life test of the illuminator.
적분구는 내측에 중공부를 가진 구형의 장치로서, 중공부 내로 광을 받아들여 그 특성을 측정하는 장치이다.The integrating sphere is a spherical device having a hollow portion on the inner side, and is a device that receives light into the hollow portion and measures its characteristics.
적분구를 이용하여 예컨대 엘이디가 발하는 광을 측정하기 위해서는 이 엘이디에 전원을 연결하여 발광시켜야 하는데, 이를 위해 프로브카드가 이용될 수 있다. In order to measure the light emitted by the LED, for example, using an integrating sphere, a power card is connected to the LED to emit light. For this purpose, a probe card can be used.
여기서, 엘이디(LED; Light Emitting Diode)는 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 발광 소자의 일종으로, 발광다이오드(Luminescent diode)라고도 하며, 적분구를 이용하여 엘이디의 광특성을 측정하는 과정을 구체적으로 살펴보면 다음과 같다. Here, a light emitting diode (LED) is a type of light emitting device using a semiconductor that converts electricity into light, which is also referred to as a light emitting diode (LED). The process of measuring the optical characteristics of the LED using an integrating sphere As follows.
먼저 엘이디의 상측에 적분구를 위치시키고, 적분구와 엘이디 사이에 프로브 카드를 위치시킨 상태에서 프로브 카드를 하강하여 엘이디 칩에 접촉시킴으로써 엘이디를 발광시키고, 이 광을 적분구의 수광공을 통해 받아들임으로써 광특성을 측정하게 된다.First, the integrating sphere is placed on the upper side of the LED, and the probe card is lowered in a state where the probe card is positioned between the integrating sphere and the LED, so that the LED is brought into contact with the LED chip to emit light. And the characteristics are measured.
그러나 프로브 카드를 하강시키는 과정에서 프로브 카드와 적분구 사이에 간극이 발생하고, 이 간극으로 광손실이 발생하여 정확한 광특성의 측정이 방해되는 문제점이 있다.However, in the process of lowering the probe card, a gap is generated between the probe card and the integrating sphere, and optical loss is generated in the gap, which hinders accurate measurement of optical characteristics.
한국 등록특허공보 등록번호 제10-1151216호(발명의 명칭: 프로브카드를 구비한 적분구 유닛, 이를 구비한 엘이디 칩 테스트장치, 및 엘이디 칩 분류장치)에는 수광과정에서 광손실이 발생되지 않는 적분구 유닛이 제안되었다.Korean Patent Registration No. 10-1151216 entitled " Integral sphere unit with probe card, LED chip test apparatus having the same, and LED chip sorting apparatus "), An old unit was proposed.
도 1은 종래 기술에 따른 조명기기의 광학특성 평가를 위한 적분구를 나타낸 도면으로서, 도 1에 도시된 바와 같이 적분구 본체(11)는 전체적으로 구형이며 하단부에 프로브 카드부(13)가 일체로 연결되는 목부가 형성되어 있고, 상기 적분구 본체(11)의 측면에는 적분구 본체(11) 내부에 모인 광의 특성을 측정할 수 있는 광특성 측정기(12)가 장착되어 있다. 1, the integrating
그러나 이러한 종래의 조명기기 평가장치는 조명기기의 수명 또는 특성 평가시 일정 시간간격으로 시험을 중단하고, 적분구를 이용한 광학 성능을 평가함으로써, 시험의 중단으로 인한 시험 시간의 증가와, 시험 중단으로 인해 발생하는 조건의 변화를 통해 노이즈가 유발되는 문제점이 있다.However, in the conventional lighting equipment evaluation apparatus, when the lifetime or characteristics of the lighting equipment are evaluated, the test is stopped at predetermined time intervals, and the optical performance using the integral sphere is evaluated. As a result, There is a problem that noise is caused by a change in the condition caused by the noise.
또한, 시험 중단과 시험의 재시작으로 인한 사용자 오차(Error)가 발생하여 조명기기의 광학 특성을 정확하게 평가할 수 없는 문제점이 있다.In addition, there is a problem that the optical characteristics of the lighting apparatus can not be accurately evaluated because a user error occurs due to the suspension of the test and the restart of the test.
이러한 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 조명제품의 가속 수명 시험중에 시험을 중단하지 않고 실시간으로 광출력과, 전기 및 온도 특성을 평가하는 조명기기 평가장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve such problems, it is an object of the present invention to provide a lighting device evaluating apparatus which evaluates light output, electric power, and temperature characteristics in real time without stopping the test during the accelerated life test of the lighting product.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 내부에 측정 대상 조명기기가 설치된 챔버부와, 상기 챔버부와 분리된 외부에 이동 가능하게 적분반구를 설치하여 상기 측정 대상 조명기기의 광학 성능을 검출하는 데이터 측정부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for measuring an optical performance of a measurement target illuminating apparatus, the apparatus comprising: a chamber having an illumination device to be measured installed therein; and an integrating hemisphere movably disposed outside the chamber, And a measurement unit.
또한, 본 발명에 따른 상기 조명기기 평가장치는 회전 가능하게 설치된 지그에 조명기기가 고정되도록 하고, 이웃한 조명기기에서 발광된 빛이 측정 대상 조명기기로 유입되는 것을 차단하는 차단막을 구비한 챔버부; 및 상기 측정 대상 조명기기의 측정시 적분반구를 이동시켜 상기 챔버부에 밀착되도록 하고, 상기 적분반구를 통해 검출한 측정 대상 조명기기의 광학 성능을 측정하는 데이터 측정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The apparatus for evaluating illuminators according to the present invention may further include a chamber part having a shielding film for fixing the illuminating device to a rotatably mounted jig and for blocking light emitted from neighboring illuminating devices to the illuminating device to be measured, ; And a data measuring unit for measuring the optical performance of the illumination device to be measured, which is detected through the integration hemisphere, by moving the integration hemisphere when measuring the illumination device to be measured, so as to be in close contact with the chamber part.
또한, 본 발명에 따른 상기 챔버부는 상기 조명기기가 일정 온도 조건에 노출되도록 내부 온도가 제어되는 것을 특징으로 한다.In addition, the chamber part according to the present invention is characterized in that the internal temperature is controlled so that the lighting device is exposed to a constant temperature condition.
또한, 본 발명에 따른 상기 챔버부는 내부에 수납공간을 형성한 챔버 하우징; 상기 챔버 하우징에 설치되어 조명기기를 고정하는 지그; 상기 챔버 하우징의 내부 온도가 임의의 온도가 되도록 가열하는 히터부; 상기 챔버 하우징의 내부 온도 및 상기 조명기기의 온도를 검출하는 복수의 센서부; 및 상기 챔버 하우징의 내부에 설치되어 이웃한 조명기기에서 발광된 빛이 측정 대상 조명기기로 유입되는 것을 차단하는 차단막을 포함하는 것을 특징으로 한다.Further, the chamber part according to the present invention includes a chamber housing having a storage space therein; A jig installed in the chamber housing to fix the lighting device; A heater for heating the internal temperature of the chamber housing to a predetermined temperature; A plurality of sensor units for detecting an internal temperature of the chamber housing and a temperature of the illuminator; And a blocking film installed inside the chamber housing to block the light emitted from the neighboring illumination device from being introduced into the illumination device to be measured.
또한, 본 발명에 따른 상기 챔버부는 상기 지그가 일정 방향으로 회전하도록 구동력을 제공하는 지그 구동부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the chamber unit according to the present invention may further include a jig driving unit for providing a driving force to rotate the jig in a predetermined direction.
또한, 본 발명에 따른 상기 챔버 하우징은 일측에 형성한 개구부; 및 상기 개구부에 설치되고, 측정 대상 조명기기에서 발광된 빛이 투과되도록 하는 윈도우를 포함하는 것을 특징으로 한다.Further, the chamber housing according to the present invention may have an opening formed at one side thereof; And a window provided in the opening to allow light emitted from the illumination device to be measured to pass therethrough.
또한, 본 발명에 따른 상기 챔버 하우징은 적분반구의 내주면과 밀착하여 외부의 빛이 상기 적분반구의 내측으로 유입되는 것을 차단하는 밀폐부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the chamber housing according to the present invention may further include a sealing part which is in close contact with an inner circumferential surface of the integrating hemisphere to block external light from entering the inside of the integrating hemisphere.
또한, 본 발명에 따른 상기 지그는 지그 구동부와 연결되는 지그 회전축; 및 상기 지그 회전축을 중심으로 설치되고, 상기 조명기기를 고정하는 복수의 지그 프레임을 포함하는 것을 특징으로 한다.The jig according to the present invention may further include: a jig rotating shaft connected to the jig driving unit; And a plurality of jig frames provided around the jig rotary shaft for fixing the illumination device.
또한, 본 발명에 따른 상기 데이터 측정부는 적분반구가 이동 가능하게 지지하는 측정부 프레임; 상기 챔버와 밀착하여 측정 대상 조명기기에서 출력되는 광학 정보를 검출하는 적분반구; 상기 챔버부와 조명기기에서 검출한 온도 정보를 수신하는 온도 수집부; 상기 적분반구에서 검출한 측정 대상 조명기기의 광학 정보를 수신하는 광 검출부; 상기 적분반구가 챔버로 이동하여 밀착되도록 하거나 또는 상기 챔버로부터 분리되도록 구동력을 제공하는 적분반구 구동부; 및 상기 챔버가 일정 온도를 유지하도록 온도 제어신호와, 상기 지그가 회전되도록 지그 제어신호와, 상기 적분반구가 이동되도록 적분반구 제어신호를 출력하고, 상기 온도 수집부와, 광 검출부에서 수집된 데이터를 모니터링 및 저장하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the data measuring unit according to the present invention may include a measurement unit frame that supports the integral hemisphere movably; An integration hemisphere which is in close contact with the chamber and detects optical information output from the illumination device to be measured; A temperature collecting unit for receiving temperature information detected by the chamber unit and the lighting device; A photodetector receiving optical information of the illumination device to be measured detected by the integration hemisphere; An integral hemispherical driver for providing a driving force for allowing the integration hemisphere to move into and close to the chamber or to be separated from the chamber; And a temperature control signal for causing the chamber to maintain a predetermined temperature, a jig control signal for rotating the jig, and an integration hemisphere control signal for moving the integration hemisphere, wherein the temperature collection unit, And a controller for monitoring and storing the data.
또한, 본 발명에 따른 상기 광 검출부는 측정 대상 조명기기의 광출력을 검출하는 포토디텍터(PD) 또는 상기 측정 대상 조명기기의 색온도, 색좌표, 연색지수를 검출하는 스펙트로미터로 이루어진 것을 특징으로 한다.Further, the photodetector according to the present invention is characterized by comprising a photodetector (PD) for detecting the light output of the illumination device to be measured or a spectrometer for detecting the color temperature, the color coordinate, and the color rendering index of the illumination device to be measured.
본 발명은 검사대상 조명기기의 광학 성능을 평가하는 과정에 시험의 중단으로 인한 시험시간의 증가를 방지하고, 시험 중단으로 인해 발생되는 조건의 변화를 차단하여 데이터의 잡음을 제거할 수 있으며, 측정에 의한 사용자 오차를 제거하여 조명기기의 광학 특성을 정확하게 평가할 수 있는 장점이 있다.The present invention can prevent the increase of the test time due to the interruption of the test in the process of evaluating the optical performance of the illumination device to be inspected and remove the noise of the data by blocking the change of the condition caused by the test interruption, It is possible to accurately evaluate the optical characteristics of the lighting apparatus.
도 1은 종래 기술에 따른 조명기기의 광학특성 평가를 위한 적분구를 나타낸 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 조명기기 평가장치를 나타낸 사시도.
도 3은 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 구성을 나타낸 블록도.
도 4는 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 온도 측정부 구조를 나타낸 단면도.
도 5는 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 온도 측정부 구조를 나타낸 다른 단면도.
도 6은 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 온도 측정부 구조를 나타낸 다른 단면도.
도 7은 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 측정과정을 나타낸 예시도.1 is a perspective view showing an integrating sphere for evaluating optical characteristics of a lighting apparatus according to the related art.
2 is a perspective view showing an illumination device evaluating apparatus according to the present invention.
3 is a block diagram showing a configuration of an illumination apparatus evaluation apparatus according to the present invention.
4 is a cross-sectional view showing the structure of a temperature measuring unit of the lighting equipment evaluating apparatus according to the present invention.
5 is another cross-sectional view showing a structure of a temperature measuring unit of the lighting equipment evaluating apparatus according to the present invention.
FIG. 6 is another cross-sectional view showing a structure of a temperature measuring unit of the lighting equipment evaluating apparatus according to the present invention. FIG.
FIG. 7 is an exemplary view showing a measuring process of the lighting apparatus evaluating apparatus according to the present invention; FIG.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT Hereinafter, a preferred embodiment of an illuminator evaluation apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 따른 조명기기 평가장치를 나타낸 사시도이고, 도 3은 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 구성을 나타낸 블록도이며, 도 4는 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 온도 측정부 구조를 나타낸 단면도이고, 도 5는 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 온도 측정부 구조를 나타낸 다른 단면도이며, 도 6은 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 온도 측정부 구조를 나타낸 다른 단면도이고, 도 7은 본 발명에 따른 조명기기 평가장치의 측정과정을 나타낸 예시도이다.FIG. 2 is a perspective view showing a lighting apparatus evaluation apparatus according to the present invention, FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of a lighting apparatus evaluation apparatus according to the present invention, 6 is a sectional view showing another structure of a temperature measuring unit of the illuminator evaluation apparatus according to the present invention, and FIG. 6 is a sectional view showing the structure of a temperature measuring unit according to the present invention. FIG. 7 is a view illustrating an example of a measuring process of the lighting equipment evaluating apparatus according to the present invention.
도 2 내지 도 7에 나타낸 바와 같이, 본 발명에 따른 조명기기 평가장치는 내부에 측정 대상 조명기기(400)가 설치된 챔버부(100)와, 상기 챔버부(100)와 분리된 외부에 이동 가능하게 적분반구(220)를 설치하여 상기 측정 대상 조명기기(400)의 광학 성능을 검출하는 데이터 측정부(200)를 포함하여 구성된다.2 to 7, the lighting apparatus evaluating apparatus according to the present invention includes a
상기 챔버부(100)는 회전 가능하게 설치된 지그(120)에 조명기기(400, 400', 400")가 고정되도록 하고, 상기 조명기기(400, 400', 400")가 일정 온도 조건에 노출되도록 내부 온도가 제어되며, 이웃한 조명기기(400', 400")에서 발광된 빛이 측정 대상 조명기기(400)로 유입되는 것을 차단하는 차단부재를 구비한 구성으로서, 챔버 하우징(110)과, 지그(120)와, 지그 구동부(130)와, 히터부(140)와, 센서부(150)와, 차단막(160)을 포함하여 구성된다.The
상기 챔버 하우징(110)은 내부에 수납공간을 형성한 구성으로서, 내부에는 지그(120)와, 센서부(150)와, 차단막(160)이 설치되는 상부영역과, 지그 구동부(130)와, 히터부(140)가 설치되는 하부영역으로 구분된다.The
또한, 상기 챔버 하우징(110)은 일측에 개구부(111)가 설치되고, 상기 개구부(111)에는 측정 대상 조명기기(400)에서 발광된 빛이 투과되어 외부의 적분반구(220)에서 측정할 수 있도록 투명재질의 윈도우(112)가 설치된다.The
또한, 상기 챔버 하우징(110)은 윈도우(112)가 설치된 챔버 하우징(110)의 외부 표면에 적분반구(220)의 내주면과 밀착하여 외부의 빛이 상기 적분반구(220)의 내측으로 유입되는 것을 차단하는 밀폐부(113)가 설치된다.The
상기 지그(120)는 챔버 하우징(110)의 상부영역에 설치되어 조명기기(400, 400', 400")를 고정하는 구성으로서, 지그 회전축(121)과, 복수의 지그 프레임(122, 122', 122")을 포함하여 구성된다.The
상기 지그 회전축(121)은 일측이 지그 구동부(130)와 연결되어 상기 지그 프레임(122, 122', 122")이 상기 지그 구동부(130)의 동작에 따라 회전되도록 지지한다.One side of the jig
상기 지그 프레임(122, 122', 122")은 판 형상의 부재로서, 지그 회전축(121)을 중심으로 일정 각도(예를 들면, 120°) 간격으로 서로 이격되어 설치되고, 상기 지그 프레임(122, 122')의 사이에 측정 대상 조명기기(400, 400', 400")가 설치되어 고정될 수 있도록 한다.The
상기 지그 구동부(130)는 챔버 하우징(110)의 하부영역에 설치되어 지그(120)가 일정 방향으로 회전하도록 구동력을 제공하는 구성으로서, 바람직하게는 모터로 이루어진다.The
상기 히터부(140)는 챔버 하우징(110)의 하부영역에 설치되고, 데이터 측정부(200)에서 전송되는 온도 제어신호에 따라 온/오프되어 상기 챔버 하우징(110)의 내부 온도가 일정 온도를 유지하도록 상기 챔버 하우징(110)의 내부를 가열한다.The
상기 센서부(150)는 챔버 하우징(110)의 내부 온도 및 측정 대상 조명기기(400, 400', 400")의 온도를 검출하고, 사용자의 필요에 따라 일부의 센서부(150)는 상기 조명기기(400, 400', 400")의 임의의 위치에 부착하여 온도를 검출할 수도 있다.The
상기 차단막(160)은 챔버 하우징(110)의 내부에 설치되어 측정 대상 조명기기(400)가 측정을 위해 회전하여 윈도우(112) 측으로 배치되면, 이웃한 조명기기(400', 400")에서 발광된 빛이 상기 챔버 하우징(110)의 내벽을 통해 반사되어 상기 측정 대상 조명기기(400)로 유입되는 것을 차단하는 구성으로서, 상기 챔버 하우징(110)의 내벽과 지그(120) 사이에 설치된다.The
상기 데이터 측정부(200)는 측정 대상 조명기기(400)의 측정시 적분반구(220)를 이동시켜 챔버부(100)에 형성된 윈도우(112)에 밀착되도록 하고, 상기 적분반구(220)를 통해 검출한 측정 대상 조명기기(400)의 광학 성능을 측정하는 구성으로서, 측정부 프레임(210), 적분반구(220), 온도 수집부(230), 광 검출부(240), 적분반구 구동부(250) 및 제어부(260)를 포함하여 구성된다.The
상기 측정부 프레임(210)은 적분반구(220)가 이동 가능하게 지지하여 챔버부(100)와 밀착되거나 또는 상기 챔버부(100)와 분리되도록 안내하는 구성으로서, 상기 적분반구(220)가 이동하는 레일부(211)를 포함하여 구성된다.The
상기 적분반구(220)는 챔버부(100)와 밀착하여 측정 대상 조명기기(400)에서 출력되는 광학 정보를 검출하는 반구형상의 부재로서, 측정부 프레임(210)의 레일부(211)를 따라 이동 가능하게 설치된 적분반구 프레임(221)에 배치되고, 상기 적분반구 프레임(221)의 이동에 따라 상기 챔버부(100)와 밀착되거나 또는 분리되고, 상기 챔버부(100)와 밀착되면 상기 챔버부(100)에 설치된 측정 대상 조명기기(400)에서 출력되는 광학 정보를 검출하여 케이블(300)를 통해 연결된 광 검출부(240)로 전송한다.The integrating
상기 온도 수집부(230)는 챔버부(100)의 내부와 지그(120)에 설치된 각각의 조명기기(400, 400', 400")에서 검출한 온도 정보를 수신하고, 상기 수신된 온도 정보는 제어부(260)로 전송한다.The
상기 광 검출부(240)는 적분반구(220)에서 검출한 측정 대상 조명기기(400)의 광학 정보를 수신하는 구성으로서, 상기 측정 대상 조명기기(400)의 휘도, 광속, 광도, 조도, 파장 등의 광출력을 검출하는 포토디텍터(Photodetector)로 이루어진다.The
또한, 상기 광 검출부(240)는 측정 대상 조명기기(400)의 분광분포, 색온도, 색좌표, 연색지수를 검출하는 스펙트로미터(Spectrometer)로 이루어질 수 있으며, 포토디텍터와 스펙트로미터를 함께 설치할 수도 있다. The
상기 적분반구 구동부(250)는 적분반구 프레임(221)을 이동시켜 적분반구(220)가 챔버부(100)와 밀착되도록 하거나 또는 상기 챔버부(100)로부터 분리되도록 구동력을 제공하는 구성으로서, 제어부(260)에서 출력되는 적분반구 제어신호에 따라 동작하며, 공압 또는 유압으로 동작하는 액추에이터 또는 전기신호에 따라 동작하는 모터로 이루어진다.The integral
상기 제어부(260)는 조명기기 평가장치의 전체적인 동작을 제어하는 구성으로서, 사용자가 설정하는 시험온도에 따라 챔버부(100)가 일정 온도를 유지하도록 히터부(140)로 온도 제어신호를 출력한다.The
또한, 상기 제어부(260)는 측정이 시작된 후 검사 시간에 도달하면, 측정 대상 조명기기(400)가 측정 위치에 위치되도록 지그 구동부(130)로 지그 제어 신호를 출력하여 지그(120)가 측정 위치에 배치되도록 한다.The
또한, 상기 제어부(260)는 측정이 시작되면, 적분반구(220)가 챔버부(110)로 이동되도록 적분반구 구동부(250)로 적분반구 제어신호를 출력하고, 측정이 종료되면, 상기 적분반구(220)가 챔버부(110)와 분리되도록 적분반구 제어신호를 출력한다.When the measurement is started, the
또한, 상기 제어부(260)는 온도 수집부(230)와, 광 검출부(240)에서 수집된 데이터를 모니터링 및 저장하고, 미리 저장된 평가 프로그램과 광학 정보 분석 프로그램을 통해 조명기기(400)의 광학 성능을 평가 및 분석한다.The
또한, 상기 제어부(260)는 상기 평가 및 분석 결과를 디스플레이수단을 통해 출력할 수 있다.Also, the
상기와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the appended claims. It can be understood that
따라서 검사대상 조명기기의 광학 성능을 평가하는 과정에 시험의 중단으로 인한 시험시간의 증가를 방지하고, 시험 중단으로 인해 발생되는 조건의 변화를 차단하여 데이터의 잡음을 제거할 수 있으며, 측정에 의한 사용자 오차를 제거하여 조명기기의 광학 특성을 정확하게 평가할 수 있게 된다.Therefore, it is possible to prevent the increase of the test time due to the interruption of the test in the process of evaluating the optical performance of the illumination device to be tested, to remove the noise of the data by blocking the change of the condition caused by the test interruption, It is possible to accurately evaluate the optical characteristics of the lighting apparatus by eliminating user errors.
또한, 본 발명의 실시예를 설명하는 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있으며, 상술된 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있으므로, 이러한 용어들에 대한 해석은 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In the course of the description of the embodiments of the present invention, the thicknesses of the lines and the sizes of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of explanation, , Which may vary depending on the intentions or customs of the user, the operator, and the interpretation of such terms should be based on the contents throughout this specification.
100 : 챔버부
110 : 챔버 하우징
111 : 개구부
112 : 윈도우
113 : 밀폐부
120 : 지그
121 : 지그 회전축
122, 122', 122" : 지그 프레임
130 : 지그 구동부
140 : 히터부
150 : 센서부
160 : 차단막
200 : 데이터 측정부
210 : 측정부 프레임
211 : 레일부
220 : 적분반구
221 : 적분반구 프레임
230 : 온도 수집부
240 : 광 검출부
250 : 적분반구 구동부
260 : 제어부
300 : 케이블
400, 400', 400" : 조명기기100: chamber part 110: chamber housing
111: opening 112: window
113: sealing part 120: jig
121:
130: jig driving part 140: heater part
150: sensor part 160:
200: data measuring section 210: measuring section frame
211: rail part 220: integral hemisphere
221: integral hemisphere frame 230: temperature collecting unit
240: optical detector 250: integral hemispherical driver
260: control unit 300: cable
400, 400 ', 400 ": Lighting equipment
Claims (10)
상기 조명기기 평가장치는 회전 가능하게 설치된 지그(120)에 조명기기(400, 400', 400")가 고정되도록 하고, 이웃한 조명기기(400', 400")에서 발광된 빛이 측정 대상 조명기기(400)로 유입되는 것을 차단하는 차단막(160)을 구비한 챔버부(100); 및
상기 측정 대상 조명기기(400)의 측정시 적분반구(220)를 이동시켜 상기 챔버부(100)에 밀착되도록 하고, 상기 적분반구(220)를 통해 검출한 측정 대상 조명기기(400)의 광학 성능을 측정하는 데이터 측정부(200)를 포함하는 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.The method according to claim 1,
The illuminating device evaluating device allows the illuminating devices 400, 400 'and 400 "to be fixed to the jig 120 rotatably installed and the light emitted from neighboring illuminating devices 400' and 400" A chamber part (100) having a shielding film (160) for blocking entrance to the device (400); And
The measurement target illuminator 400 may be moved such that the integrating hemisphere 220 is moved to be in close contact with the chamber 100 and the optical performance of the measurement target illuminator 400 detected through the integration hemisphere 220 And a data measuring unit (200) for measuring the illuminance of the illuminating device.
상기 챔버부(100)는 상기 조명기기(400, 400', 400")가 일정 온도 조건에 노출되도록 내부 온도가 제어되는 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.3. The method of claim 2,
Wherein the interior temperature of the chamber part (100) is controlled such that the illumination device (400, 400 ', 400 ") is exposed to a constant temperature condition.
상기 챔버부(100)는 내부에 수납공간을 형성한 챔버 하우징(110);
상기 챔버 하우징(110)에 설치되어 조명기기(400, 400', 400")를 고정하는 지그(120);
상기 챔버 하우징(110)의 내부 온도가 임의의 온도가 되도록 가열하는 히터부(140);
상기 챔버 하우징(110)의 내부 온도 및 상기 조명기기(400, 400', 400")의 온도를 검출하는 복수의 센서부(150); 및
상기 챔버 하우징(110)의 내부에 설치되어 이웃한 조명기기(400', 400")에서 발광된 빛이 측정 대상 조명기기(400)로 유입되는 것을 차단하는 차단막(160)을 포함하는 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.The method of claim 3,
The chamber unit 100 includes a chamber housing 110 having a storage space therein;
A jig 120 installed in the chamber housing 110 to fix the illumination devices 400, 400 ', 400 ";
A heater unit 140 for heating the internal temperature of the chamber housing 110 to an arbitrary temperature;
A plurality of sensor units 150 for detecting an internal temperature of the chamber housing 110 and a temperature of the illumination devices 400, 400 ', and 400 "
And a blocking layer 160 installed in the chamber housing 110 to block the light emitted from the neighboring illuminating devices 400 'and 400' from flowing into the illuminating device 400 to be measured. A lighting device evaluation device.
상기 챔버부(100)는 상기 지그(120)가 일정 방향으로 회전하도록 구동력을 제공하는 지그 구동부(130)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.5. The method of claim 4,
Wherein the chamber part (100) further comprises a jig driving part (130) for providing driving force to rotate the jig (120) in a predetermined direction.
상기 챔버 하우징(110)은 일측에 형성한 개구부(111); 및
상기 개구부(111)에 설치되고, 측정 대상 조명기기(400)에서 발광된 빛이 투과되도록 하는 윈도우(112)를 포함하는 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.6. The method of claim 5,
The chamber housing 110 includes an opening 111 formed at one side thereof; And
And a window (112) provided in the opening (111) and allowing light emitted from the illumination device (400) to be measured to pass therethrough.
상기 챔버 하우징(110)은 적분반구(220)의 내주면과 밀착하여 외부의 빛이 상기 적분반구(220)의 내측으로 유입되는 것을 차단하는 밀폐부(113)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.The method according to claim 6,
Wherein the chamber housing (110) further comprises a sealing part (113) which is in close contact with an inner peripheral surface of the integrating hemisphere (220) to block external light from flowing into the interior of the integrating hemisphere (220) Evaluation device.
상기 지그(120)는 지그 구동부(130)와 연결되는 지그 회전축(121); 및
상기 지그 회전축(121)을 중심으로 설치되고, 상기 조명기기(400, 400', 400")를 고정하는 복수의 지그 프레임(122, 122', 122")을 포함하는 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.6. The method of claim 5,
The jig 120 includes a jig rotating shaft 121 connected to the jig driving unit 130; And
And a plurality of jig frames (122, 122 ', 122 ") installed around the jig rotary shaft (121) and fixing the lighting devices (400, 400', 400" Device.
상기 데이터 측정부(200)는 적분반구(220)가 이동 가능하게 지지하는 측정부 프레임(210);
상기 챔버부(100)와 밀착하여 측정 대상 조명기기(400)에서 출력되는 광학 정보를 검출하는 적분반구(220);
상기 챔버부(100)와 조명기기(400, 400', 400")에서 검출한 온도 정보를 수신하는 온도 수집부(230);
상기 적분반구(220)에서 검출한 측정 대상 조명기기(400)의 광학 정보를 수신하는 광 검출부(240);
상기 적분반구(220)가 챔버부(100)로 이동하여 밀착되도록 하거나 또는 상기 챔버부(100)로부터 분리되도록 구동력을 제공하는 적분반구 구동부(250); 및
상기 챔버부(100)가 일정 온도를 유지하도록 온도 제어신호와, 상기 지그(120)가 회전되도록 지그 제어신호와, 상기 적분반구(220)가 이동되도록 적분반구 제어신호를 출력하고, 상기 온도 수집부(230)와, 광 검출부(240)에서 수집된 데이터를 모니터링 및 저장하는 제어부(260)를 포함하는 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.The method of claim 3,
The data measuring unit 200 includes a measurement unit frame 210 for movably supporting the integration hemisphere 220;
An integration hemisphere 220 which is in close contact with the chamber part 100 and detects optical information output from the illumination device 400 to be measured;
A temperature collecting unit 230 for receiving temperature information detected by the chamber unit 100 and the illumination devices 400, 400 ', and 400 ";
A photodetector 240 for receiving the optical information of the illumination target device 400 detected by the integration hemisphere 220;
An integral hemispherical driving unit 250 for providing a driving force for allowing the integration hemisphere 220 to move to the chamber unit 100 to be closely contacted or separated from the chamber unit 100; And
A temperature control signal, a jig control signal for rotating the jig 120, and an integration hemisphere control signal for moving the integration hemisphere 220 so that the chamber unit 100 maintains a predetermined temperature, And a control unit (260) for monitoring and storing the data collected by the optical detection unit (240).
상기 광 검출부(240)는 측정 대상 조명기기(400)의 광출력을 검출하는 포토디텍터(PD) 또는 상기 측정 대상 조명기기(400)의 색온도, 색좌표, 연색지수를 검출하는 스펙트로미터로 이루어진 것을 특징으로 하는 조명기기 평가장치.10. The method of claim 9,
The photodetector 240 may include a photodetector PD for detecting the optical output of the illumination device 400 or a spectrometer for detecting the color temperature, the color coordinate, and the color rendering index of the illumination device 400 Of the lighting device.
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