KR20190040989A - Waveform restoration device and waveform restoration method - Google Patents
Waveform restoration device and waveform restoration method Download PDFInfo
- Publication number
- KR20190040989A KR20190040989A KR1020197008205A KR20197008205A KR20190040989A KR 20190040989 A KR20190040989 A KR 20190040989A KR 1020197008205 A KR1020197008205 A KR 1020197008205A KR 20197008205 A KR20197008205 A KR 20197008205A KR 20190040989 A KR20190040989 A KR 20190040989A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- waveform
- offset
- pass filter
- filter
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H1/00—Constructional details of impedance networks whose electrical mode of operation is not specified or applicable to more than one type of network
- H03H1/02—Constructional details of impedance networks whose electrical mode of operation is not specified or applicable to more than one type of network of RC networks, e.g. integrated networks
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H17/00—Networks using digital techniques
- H03H17/02—Frequency selective networks
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H7/00—Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
- H03H7/01—Frequency selective two-port networks
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Filters And Equalizers (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거하는 하이패스 필터(2)와, 하이패스 필터(2)의 시정수(τ)를 이용하여, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)로부터, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원하는 파형 복원부(3)를 갖추도록 구성한다. 이에 따라, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거되는 것으로 왜곡되는 교류 신호(Vout)의 파형 왜곡이 보상된다. 그 결과, 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거한 다음, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원할 수 있다.A high pass filter 2 for eliminating an offset included in the AC signal V in input from the signal input terminal 1 and a high pass filter 2 using the time constant τ of the high pass filter 2, (3) for recovering the waveform of the AC signal (V in ) before being input to the high pass filter (2) from the AC signal (V out ) whose offset is removed by the filter (2). Thus, the waveform distortion of the AC signal V out , which is distorted by removing the offset by the high-pass filter 2, is compensated. As a result, the offset included in the AC signal V in can be removed, and the waveform of the AC signal V in before being input to the high-pass filter 2 can be restored.
Description
이 발명은, 교류 신호에 포함되어 있는 오프셋을 제거하는 파형 복원 장치 및 파형 복원 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a waveform reconstruction apparatus and a waveform reconstruction method for eliminating an offset included in an AC signal.
교류 신호를 증폭할 때에는, 예를 들면, 오피 앰프(operational amplifier)를 이용할 수 있다.In amplifying the AC signal, for example, an operational amplifier can be used.
단, 오피 앰프의 입력측에 접속되어 있는 소자의 특성 등의 영향으로, 교류 신호에 오프셋이 포함되어 있는 경우, 교류 신호의 신호 성분과 함께 오프셋도 오피 앰프의 게인에 비례해 커지기 때문에, 오피 앰프의 출력 신호는, 교류 신호에 포함되어 있는 오프셋의 영향을 받는다.However, when an offset is included in the AC signal due to the characteristics of the element connected to the input side of the operational amplifier, the offset increases in proportion to the gain of the operational amplifier as well as the signal component of the AC signal. The output signal is affected by the offset included in the alternating current signal.
오프셋의 영향은, 교류 신호의 신호 성분이 작을수록, 커지기 때문에, 오피 앰프가 교류 신호를 증폭하기 전에, 오프셋이 제거되는 것이 바람직하다.Since the influence of the offset increases as the signal component of the AC signal becomes smaller, it is preferable that the offset is removed before the operational amplifier amplifies the AC signal.
일반적으로는, 예를 들면, 교류 신호의 전압 진폭이 밀리볼트(㎷) 오더이면, 교류 신호에 포함되어 있는 오프셋의 전압은 마이크로 볼트(㎶) 오더 이하인 것이 요구된다.Generally, for example, if the voltage amplitude of the AC signal is in the millivolt order, the voltage of the offset included in the AC signal is required to be equal to or less than the microvolt () order.
이하의 특허문헌 1에는, 하이패스 필터를 이용하여, 교류 신호에 포함되어 있는 오프셋을 제거하는 기술이 개시되어 있다.The following
하이패스 필터나 밴드 패스 필터 등의 오프셋을 제거하는 필터(이하, 「오프셋 제거 필터」라고 한다)를 이용하면, 교류 신호에 포함되어 있는 오프셋을 제거할 수 있다. 그러나, 오프셋 제거 필터는, 교류 신호의 변화가 급격한 부분인 신호의 입상 부분 및 하강 부분에 대해서는 검출할 수 있지만, 교류 신호의 변화가 완만한 부분에 대해서는 검출할 수 없다. 이 때문에, 오프셋 제거 필터에서 출력되는 교류 신호의 파형에 왜곡이 생겨 버리는 경우가 있다는 과제가 있었다.By using a filter for eliminating an offset such as a high-pass filter or a band-pass filter (hereinafter referred to as " offset removing filter "), the offset included in the AC signal can be removed. However, the offset removing filter can detect the granular portion and the falling portion of the signal, which is a sudden change of the AC signal, but can not detect the portion where the AC signal has a gentle change. Therefore, there is a problem that distortion occurs in the waveform of the AC signal output from the offset removing filter.
이 발명은 상기와 같은 과제를 해결하기 위해 이루어진 것으로, 오프셋의 제거에 따라 왜곡되어 있는 교류 신호로부터, 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원할 수 있는 파형 복원 장치 및 파형 복원 방법을 얻는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a waveform restoration apparatus and a waveform restoration method capable of restoring the waveform of an AC signal before being input to an offset removing filter from an AC signal distorted by elimination of an offset .
이 발명에 따른 파형 복원 장치는, 교류 신호에 포함되어 있는 오프셋을 제거하는 오프셋 제거 필터와, 오프셋 제거 필터의 시정수(時定數)를 이용하여, 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호로부터, 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원하는 파형 복원부를 갖추도록 한 것이다.The waveform recovery apparatus according to the present invention includes an offset eliminating filter for eliminating an offset included in an AC signal and an AC signal having an offset removed by an offset eliminating filter using a time constant of the offset eliminating filter, And a waveform reconstruction unit for reconstructing the waveform of the AC signal before being input to the offset removal filter.
이 발명에 따른 파형 복원 장치는, 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호의 신호값의 변화로부터, 오프셋 제거 필터의 시정수를 산출하는 시정수 산출부를 갖추고, 파형 복원부가, 시정수 산출부에 의해 산출된 시정수를 이용하여, 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호로부터, 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원하도록 한 것이다.The waveform recovery apparatus according to the present invention further comprises a time constant calculating section for calculating a time constant of the offset removing filter from a change in the signal value of the AC signal whose offset is removed by the offset removing filter, The waveform of the AC signal before being input to the offset elimination filter is recovered from the AC signal whose offset has been removed by the offset elimination filter by using the time constant calculated by the offset elimination filter.
이 발명에 따른 파형 복원 장치는, 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호의 단발 파형의 평균값을 산출하고, 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호로부터 평균값을 감산 함으로써, 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호를 보정하고, 보정 후의 교류 신호를 출력하는 신호 보정부를 갖추고, 파형 복원부가, 신호 보정부로부터 출력된 교류 신호로부터, 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원하도록 한 것이다.The waveform recovery apparatus according to the present invention calculates an average value of a single waveform of an AC signal whose offset has been removed by an offset elimination filter and subtracts an average value from an AC signal whose offset has been removed by an offset elimination filter, And a signal correcting unit for correcting the AC signal whose offset has been removed by the offset correcting unit and outputting the corrected AC signal. The waveform reconstructing unit restores the waveform of the AC signal before being input to the offset eliminating filter from the AC signal output from the signal correcting unit .
이 발명에 따른 파형 복원 장치는, 오프셋 제거 필터가, 하이패스 필터, 혹은, 1차의 밴드 패스 필터이도록 한 것이다.In the waveform recovery apparatus according to the present invention, the offset removing filter is a high-pass filter or a primary band-pass filter.
이 발명에 따른 파형 복원 방법은, 오프셋 제거 필터가, 교류 신호에 포함되어 있는 오프셋을 제거하고, 파형 복원부가, 오프셋 제거 필터의 시정수를 이용하여, 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호로부터, 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원하도록 한 것이다.The waveform reconstruction method according to the present invention is characterized in that the offset elimination filter removes the offset included in the AC signal and the waveform reconstruction unit uses the time constant of the offset elimination filter to generate an AC signal whose offset is removed by the offset elimination filter The waveform of the AC signal before being input to the offset removing filter is restored.
이 발명에 의하면, 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거되는 것으로 왜곡되는 교류 신호의 파형 왜곡이 보상된다. 그 결과, 교류 신호에 포함되어 있는 오프셋을 제거한 다음, 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, the waveform distortion of the AC signal distorted by offset removal is compensated by the offset elimination filter. As a result, there is an effect that the offset included in the AC signal can be removed, and the waveform of the AC signal before input to the offset elimination filter can be restored.
[도 1] 이 발명의 실시 형태 1에 따른 파형 복원 장치를 나타낸 구성도이다.
[도 2] 이 발명의 실시 형태 1에 따른 파형 복원 장치의 하이패스 필터(2)를 나타낸 구성도이다.
[도 3] 이 발명의 실시 형태 1에 따른 파형 복원 장치의 처리 내용인 파형 복원 방법을 나타낸 플로우 차트이다.
[도 4] 오프셋의 제거에 따른 파형의 왜곡을 나타낸 설명도이다.
[도 5] 게인 A가 1, 샘플링 주기 ΔT가 0.01(s), 시정수 τ가 0.1(s)인 하이패스 필터(2)의 파형 검증 예를 나타낸 설명도이다.
[도 6] 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 검증 예를 나타낸 설명도이다.
[도 7] 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.
[도 8] 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.
[도 9] 하이패스 필터(2) 대신에 이용하는 1차의 밴드 패스 필터(5)를 나타낸 구성도이다.
[도 10] 이 발명의 실시 형태 2에 따른 파형 복원 장치를 나타낸 구성도이다.
[도 11] (a)는 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 계측하는 시정수 계측 회로를 나타낸 구성도, (b)는 시정수 계측 회로에서의 시정수 산출부(31)를 나타낸 구성도이다.
[도 12] 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.
[도 13] 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.
[도 14] 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.
[도 15] 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.
[도 16] 이 발명의 실시 형태 3에 따른 파형 복원 장치를 나타낸 구성도이다.
[도 17] 교류 신호(Vout)에 남아 있는 오프셋을 나타낸 설명도이다.
[도 18] 교류 신호(Vout)에 남아 있는 오프셋에 상당하는 교류 신호(Vout)의 단발 파형의 평균값(Vave)을 나타낸 설명도이다.
[도 19] 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 결과를 나타낸 설명도이다.BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a configuration diagram showing a waveform recovery apparatus according to
2 is a configuration diagram showing a high-
3 is a flowchart showing a waveform restoration method which is the processing content of the waveform recovery apparatus according to the first embodiment of the present invention.
4 is an explanatory diagram showing a distortion of a waveform due to removal of an offset;
5 is an explanatory diagram showing a waveform verification example of the high-
6 is an explanatory diagram showing an example of waveform verification of an AC signal V com after waveform recovery by the
7 shows the relationship between the AC signal V out which is the output signal of the
8 shows the relationship between the AC signal V out which is the output signal of the
9 is a configuration diagram showing a primary band-
10 is a configuration diagram showing a waveform recovery apparatus according to
Fig. 11A is a configuration diagram showing a time constant measurement circuit for measuring the time constant? Of the high-
12 shows the relationship between the AC signal V out which is the output signal of the
13 shows the relationship between the AC signal V out which is the output signal of the
14 shows the relationship between the AC signal V out which is the output signal of the
15 shows the relationship between the AC signal V out which is the output signal of the
16 is a configuration diagram showing a waveform recovery apparatus according to
17 is an explanatory diagram showing an offset remaining in the AC signal V out ; FIG.
[Figure 18] is an explanatory diagram showing the average value of the one-shot waveform (V ave) of the alternating signal (V out) corresponding to the offset remaining in the alternating signal (V out).
19 is an explanatory diagram showing a waveform restoration result by the
이하, 이 발명을 보다 상세히 설명하기 위해, 이 발명을 실시하기 위한 형태에 대해, 첨부의 도면을 따라 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, in order to explain the present invention in more detail, embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
실시 형태 1.
도 1은 이 발명의 실시 형태 1에 따른 파형 복원 장치를 나타낸 구성도이다.Fig. 1 is a configuration diagram showing a waveform recovery apparatus according to
도 1에서, 신호 입력 단자(1)는 오프셋이 포함되어 있는 교류 신호(Vin)를 입력하는 단자이다.1, the
하이패스 필터(2)는 신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거하고, 오프셋 제거 후의 교류 신호(Vout)를 출력하는 오프셋 제거 필터이다.The
하이패스 필터(2)는, 교류 신호(Vin)의 변화가 급격한 부분인 신호의 입상 부분 및 하강 부분에 대해서는 검출할 수 있지만, 교류 신호(Vin)의 변화가 완만한 부분에 대해서는 검출할 수 없다. 이 때문에, 하이패스 필터(2)로부터 출력되는 교류 신호(Vout)의 파형에 왜곡이 생겨 버리는 경우가 있다.The
파형 복원부(3)는 하이패스 필터(2)의 시정수(τ)를 이용하여, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)로부터, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원하고, 파형 복원 후의 교류 신호(Vin)를 교류 신호(Vcom)로서 출력하는 디지털 필터이다.The
신호 출력 단자(4)는 파형 복원부(3)로부터 출력된 교류 신호(Vcom)를 외부 출력하는 단자이다.The
도 2는 이 발명의 실시 형태 1에 따른 파형 복원 장치의 하이패스 필터(2)를 나타낸 구성도이다.2 is a configuration diagram showing a high-
도 2에서, 콘덴서(11)는 용량값(C)을 가지고, 일단이 신호 입력 단자(1)와 접속되고, 타단이 파형 복원부(3)와 접속된다.2, the
저항(12)은 저항값(R)을 가지고, 일단이 콘덴서(11)의 타단 및 파형 복원부(3)와 접속되고, 타단이 그라운드(13)와 접속된다.The
하이패스 필터(2)의 시정수 τ는, 콘덴서(11)의 용량값(C)과, 저항(12)의 저항값(R)로부터 산출된다. 산출식은 τ = C×R이다.The time constant? Of the high-
이 실시 형태 1에서는, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ는 산출이 완료된 상태인 것으로 한다.In the first embodiment, it is assumed that the time constant? Of the high-
다음으로 동작에 대해 설명한다.Next, the operation will be described.
도 3은 이 발명의 실시 형태 1에 따른 파형 복원 장치의 처리 내용인 파형 복원 방법을 나타낸 플로우 차트이다.3 is a flowchart showing a waveform restoration method which is the processing content of the waveform recovery apparatus according to the first embodiment of the present invention.
하이패스 필터(2)는, 신호 입력 단자(1)로부터 교류 신호(Vin)가 입력되면, 그 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거하고, 오프셋 제거 후의 교류 신호(Vout)를 파형 복원부(3)로 출력한다(도 3의 단계(ST1)).High-pass filter (2) is, when the AC signal (V in) from a signal input terminal (1) input, the alternating signal (V in), AC signal after removing an offset that is included, and an offset removing the (V out) To the waveform reconstruction unit 3 (step ST1 in Fig. 3).
하이패스 필터(2)는, 신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 주파수 성분 중, 시정수 τ로 정해지는 컷오프 주파수 보다 높은 주파수 성분 만을 통과시키고, 컷오프 주파수 이하의 주파수 성분을 차단하는 필터이다.The
이 때문에, 하이패스 필터(2)는, 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋의 주파수가 컷오프 주파수 이하이면, 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거할 수 있다.Therefore, the high-
따라서, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 결정하는 콘덴서(11)의 용량값(C) 및 저항(12)의 저항값(R)은, 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거할 수 있는 값으로 선정된다.Therefore, the capacitance value C of the
다만, 오프셋의 제거에 따라, 교류 신호(Vout)의 파형이 왜곡되기 때문에, 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)는 파형이 왜곡된다.However, since the waveform of the AC signal V out is distorted due to the removal of the offset, the waveform of the AC signal V out , which is the output signal of the high-
도 4는 오프셋의 제거에 따른 파형의 왜곡을 나타낸 설명도이다.Fig. 4 is an explanatory view showing a waveform distortion due to removal of an offset. Fig.
도 4에서는, 하이패스 필터(2)의 입력 신호인 교류 신호(Vin)의 파형이 펄스 파형인 예를 나타내고 있다.4 shows an example in which the waveform of the AC signal V in , which is the input signal of the high-
도 4에 나타낸 것처럼, 하이패스 필터(2)에 의해 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋이 제거되지만, 하이패스 필터(2)에 의한 오프셋의 제거에 따라, 교류 신호(Vout)의 파형이 왜곡되어, 교류 신호(Vout)의 파형이 펄스 파형이 아니게 되는 것을 알 수 있다.The offset included in the AC signal V in is removed by the
도 5는 게인 A가 1, 샘플링 주기 ΔT가 0.01(s), 시정수 τ가 0.1(s)인 하이패스 필터(2)의 파형 검증 예를 나타낸 설명도이다.5 is an explanatory diagram showing a waveform verification example of the high-
도 5의 예에서는, 하이패스 필터(2)의 입력 신호인 교류 신호(Vin)의 파형이 펄스 파형이고, 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)의 파형이 펄스 파형이 아니다.5, the waveform of the alternating current signal V in , which is the input signal of the
파형 복원부(3)는, 하이패스 필터(2)로부터 오프셋 제거 후의 교류 신호(Vout)를 받으면, 하이패스 필터(2)의 산출 완료된 시정수 τ = C×R을 이용하여, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)로부터, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원하고, 파형 복원 후의 교류 신호(Vin)를 교류 신호(Vcom)로서 신호 출력 단자(4)에 출력한다(도 3의 단계(ST2)).The
즉, 파형 복원부(3)는, 하이패스 필터(2)의 산출 완료된 시정수 τ = C×R를 이용하는 디지털 역필터 연산을 실시 함으로써, 오프셋의 제거에 따라 왜곡되어 있는 교류 신호(Vout)에 대한 파형 복원 처리를 실시한다.That is, the
이하, 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 처리를 구체적으로 설명한다.Hereinafter, waveform recovery processing by the
하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)는, 라플라스 변환의 변수인 라플라스 변수 s를 이용하면, 이하의 식(1)과 같이 나타낼 수 있다.The AC signal V out , which is the output signal of the high-
식(1)에서, I는 콘덴서(11) 및 저항(12)을 흐르는 전류이다.In the equation (1), I is the current flowing through the
신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)와, 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)와의 관계는, 이하의 식(2)과 같이 나타낼 수 있다.The relationship between the AC signal V in input from the
또한, 신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)와, 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)와의 관계는, 식(1)을 I의 식으로 변형하여, I의 식을, 식(2)에 대입하면, 이하의 식(3)과 같이 나타낼 수 있다.The relationship between the AC signal V in input from the
신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)는, 식(3)을 변형 함으로써, 이하의 식(4)와 같이 나타낼 수 있다.The AC signal V in input from the
또한, 신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)는, 식(4)를 라플라스 역변환 함으로써, 이하의 식(5)와 같이 나타낼 수 있다.The AC signal V in input from the
식(5)에서, t는 시각이다.In equation (5), t is time.
또한, 신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)는, 식(5)를 후퇴차분(Backward difference)으로 전개 함으로써, 식(5)를, 이하의 식(6)과 같이 근사(近似)할 수 있다.The AC signal V in input from the
식(6)에서, ΔT는 하이패스 필터(2)의 샘플링 주기이며, 하이패스 필터(2)는 샘플링 주기 ΔT로, 신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)를 샘플링 한다.In formula (6), ΔT is the sampling period of the high-
또한, n, i는 하이패스 필터(2)의 샘플링 번호, I는 임의로 설정되는 값이며, 예를 들면, I = 100이다.In addition, n and i are sampling numbers of the high-
식(6)에서의 교류 신호(Vout)는, 오프셋의 제거에 따라 파형이 왜곡되어 있는 하이패스 필터(2)의 출력 신호이며, 식(6)에서의 교류 신호(Vin)는, 파형이 왜곡되지 않은 하이패스 필터(2)의 입력 신호이다. 또한, 식(6)에서의 CR는, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ에 상당한다.The AC signal V out in the equation (6) is an output signal of the high-
그래서, 파형 복원부(3)는, 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)를 식(6)에 대입 함으로써, 디지털 역필터 연산을 실시하고, 그 연산 결과인 교류 신호(Vin)를 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)로서 신호 출력 단자(4)에 출력한다.The
도 6은 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 검증 예를 나타낸 설명도이다.6 is an explanatory diagram showing an example of waveform verification of the AC signal V com after waveform recovery by the
도 6의 경우도, 하이패스 필터(2)의 게인 A가 1, 샘플링 주기 ΔT가 0.01(s), 시정수 τ가 0.1(s) 이다. 도 6에 나타낸 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형은, 도 5에 나타낸 하이패스 필터(2)의 입력 신호인 교류 신호(Vin)의 파형과 거의 유사한 파형이 된다.6, the gain A of the high-
도 7 및 도 8은 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.7 and 8 show the waveforms of the AC signal V out which is the output signal of the
도 7(a)∼도 7(c)는 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형이 sin파인 예를 나타내고, 도 8(a)∼도 8(c)는 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형이 펄스 파형인 예를 나타내고 있다.7A to 7C show an example in which the waveform of the AC signal V in input to the
도 7 및 도 8에서, 「단발 입력 파형」은 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형, 「HPF 파형」은 하이패스 필터(2)로부터 출력된 교류 신호(Vout)의 파형이다.7 and 8, the "single-shot input waveform" indicates the waveform of the AC signal V in input to the high-
또한, 「복원 파형」은 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형이다.The " restored waveform " is a waveform of the AC signal V com after the waveform restoration by the
도 7 및 도 8에서는, 어느 예에서도, 하이패스 필터(2)의 게인 A가 1, 시정수 τ가 0.000115(s)로 공통되어 있다.In both of Figs. 7 and 8, the gain A of the high-
하이패스 필터(2)의 샘플링 주기 ΔT는, 도 7(a)가 2.50×10-6(s), 도 7(b)가 5.00×10-6(s), 도 7(c)가 1.00×10-5(s), 도 8(a)가 5.00×10-6(s), 도 8(b)가 1.00×10-6(s), 도 8(c)가 1.00×10-5(s) 이다.The sampling period? T of the high-
교류 신호(Vin)의 주파수는, 도 7(a)가 1000(Hz), 도 7(b)가 500(Hz), 도 7(c)가 333(Hz), 도 8(a)가 1000(Hz), 도 8(b)가 500(Hz), 도 8(c)가 333(Hz) 이다.The frequency of the alternating current signal V in is 1000 Hz in Fig. 7A, 500 Hz in Fig. 7B, 333 Hz in Fig. (Hz), Fig. 8 (b) is 500 (Hz), and Fig. 8 (c) is 333 (Hz).
도 7 및 도 8로부터 알 수 있듯이, 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋이 하이패스 필터(2)에 의해 제거되고, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형이 파형 복원부(3)에 의해 복원되어, 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형이, 하이패스 필터(2)에 입력되는 교류 신호(Vin)의 파형과 거의 유사한 파형이 된다.7 and 8, the offset included in the AC signal V in is removed by the high-
이상에서 명백해진 것처럼, 이 실시 형태 1에 의하면, 신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거하는 하이패스 필터(2)와, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 이용하여, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)로부터, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원하는 파형 복원부(3)를 갖추도록 구성했으므로, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거되는 것으로 왜곡되는 교류 신호(Vout)의 파형 왜곡이 보상된다. 그 결과, 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거한 다음, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.As described above, according to the first embodiment, the high-
이 실시 형태 1에서는, 하이패스 필터(2)가, 신호 입력 단자(1)로부터 입력된 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거하는 예를 나타냈지만, 오프셋을 제거하는 오프셋 제거 필터는, 하이패스 필터(2)로 한정되지 않고, 예를 들면, 1차의 밴드 패스 필터(5)여도 무방하다.In the first embodiment, the high-pass filter (2) is the AC signal input from the signal input terminal (1) Despite an example of removing the offset contained in the (V in), the offset removal filter for removing the offset is
도 9는 하이패스 필터(2) 대신에 이용하는 1차의 밴드 패스 필터(5)를 나타낸 구성도이며, 도 9에서, 도 2와 동일 부호는 동일 또는 상당 부분을 나타내므로 설명을 생략한다.9 is a configuration diagram showing a primary band-
콘덴서(21)는 용량값(C1)을 가지고, 일단이 신호 입력 단자(1)와 접속된다.The capacitor 21 has a capacitance value C 1 and one end is connected to the
저항(22)은 저항값(R1)을 가지고, 일단이 콘덴서(21)의 타단과 접속되고, 타단이 그라운드(13)와 접속된다.The
저항(23)은 저항값(R2)을 가지고, 일단이 콘덴서(21)의 타단과 접속되고, 타단이 파형 복원부(3)와 접속된다.The
콘덴서(24)는 용량값(C2)을 가지고, 일단이 저항(23)의 타단 및 파형 복원부(3)와 접속되고, 타단이 그라운드(13)와 접속된다.The
도 9에 나타낸 밴드 패스 필터(5)의 전달 함수는, 이하의 식(7)과 같이 표현되고, 식(7)에 포함되어 있는 Vin에 대해 풀면, ViN은 이하의 식(8)과 같이 표현된다.The transfer function of the band-
파형 복원부(3)는, 하이패스 필터(2) 대신에 밴드 패스 필터(5)를 이용하는 경우, 밴드 패스 필터(5)의 시정수 τ를 이용하여, 밴드 패스 필터(5)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)로부터, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원한다.When the band-
즉, 파형 복원부(3)는, 밴드 패스 필터(5)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)를 식(8)에 대입 함으로써, 디지털 역필터 연산을 실시하고, 그 연산 결과인 교류 신호(Vin)를 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)로서 신호 출력 단자(4)에 출력한다.That is, the
식(8)에 나타낸 것처럼, n번째 샘플링의 입력 값인 Vin(n)을 Vout(n)의 샘플링 데이터 만으로 나타낼 수 있기 때문에, 파형의 복원 처리가 가능하다.As shown in Expression (8), since the input value V in (n) of the n-th sampling can be represented only by the sampling data of V out (n), it is possible to restore the waveform.
따라서, 밴드 패스 필터(5)를 이용하는 경우에서도, 밴드 패스 필터(5)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.Therefore, even when the band-
실시 형태 2.
이 실시 형태 2에서는, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)의 신호값의 변화로부터, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 산출하는 예를 설명한다.In the second embodiment, an example of calculating the time constant? Of the high-
도 10은 이 발명의 실시 형태 2에 따른 파형 복원 장치를 나타낸 구성도이다. 도 10에서, 도 1과 동일 부호는 동일 또는 상당 부분을 나타내므로 설명을 생략한다.10 is a configuration diagram showing a waveform recovery apparatus according to
시정수 산출부(6)는 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)의 신호값의 변화로부터, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 산출하고, 그 산출한 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 파형 복원부(3)에 출력한다.The time
다음으로 동작에 대해 설명한다.Next, the operation will be described.
하이패스 필터(2)의 시정수 τ는, 콘덴서(11)의 용량값(C)과, 저항(12)의 저항값(R)으로부터 산출하지 않아도, 예를 들면, 도 11(a)에 나타낸 시정수 계측 회로를 이용하면, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 계측할 수 있다.The time constant? Of the high-
단, 도 11(a)에 나타낸 시정수 계측 회로를 이용하여, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 계측해도, 예를 들면, 도 1에 나타낸 것처럼, 시정수 계측이 완료된 하이패스 필터(2)를 파형 복원부(3)의 전단(前段)에 접속해 실제로 사용을 개시하면, 하이패스 필터(2)에 포함되어 있는 콘덴서(11)는, 일반적으로 경년 열화를 일으키기 때문에, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ의 오차가 증가하게 된다.However, even if the time constant? Of the high-
즉, 콘덴서(11)가, 예를 들면, 온도 보상용 세라믹 콘덴서 또는 필름 콘덴서이면, 경년 열화를 대부분 무시할 수 있지만, 콘덴서(11)가 B 특성의 콘덴서인 경우, 콘덴서(11)의 용량값(C)은 1000 시간에 약 -3% 감소하는 것이 알려져 있다.For example, when the
이 때문에, 계측 완료한 하이패스 필터(2)의 시정수 τ에 대해서도, 콘덴서(11)의 경년 열화에 따라 오차가 증가해, 파형 복원부(3)에 의한 파형의 복원 정밀도가 저하한다.Therefore, also with respect to the time constant? Of the high-
따라서, 파형 복원부(3)에 의한 파형의 복원 정밀도를 예를 들면 1% 이내의 오차로 하려면, 약 100 시간 마다, 예를 들면, 도 11(a)에 나타낸 시정수 계측 회로를 이용해, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 다시 계측할 필요가 있다.Therefore, in order to set the error of the waveform reconstruction by the
또한, 도 11(a)에 나타낸 시정수 계측 회로를 이용하여, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 재계측하는 경우, 일단, 하이패스 필터(2)와 파형 복원부(3)의 접속을 해제하고, 하이패스 필터(2)를 도 11(a)에 나타낸 시정수 계측 회로에 조입(組入)할 필요가 있다.When the time constant? Of the high-
도 11(a)는 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 계측하는 시정수 계측 회로를 나타낸 구성도이다.11 (a) is a configuration diagram showing a time constant measuring circuit for measuring the time constant? Of the high-
도 11(b)는 시정수 계측 회로에서의 시정수 산출부(31)를 나타낸 구성도이다.11 (b) is a block diagram showing the time
도 11(a) 및 도 11(b)에서, 오피 앰프(30)는 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)를 증폭하는 증폭기이다.11A and 11B, the
시정수 산출부(31)는 N(N은 2 이상의 정수)개의 전원 단자(32-1∼32-N)와, 멀티 플렉서(33)와, 저항체 센서(34)를 갖추고 있다.The time
전원 단자(32-1∼32-N)는 전압(Vcc1∼VccN)이 인가되는 단자이다.The power supply terminals 32-1 to 32-N are terminals to which the voltages Vcc1 to VccN are applied.
멀티 플렉서(33)는 N개의 전원 단자(32-1∼32-N) 중, 저항체 센서(34)와 접속되는 전원 단자(32)를 단계적으로 절환(切換)하는 절환기이다. 이에 따라, 저항체 센서(34)에 인가되는 전압(Vcc)은, 예를 들면, 전압(Vcc1)로부터 전압(VccN)이 될 때까지 단계적으로 절환된다.The
저항체 센서(34)는 일단이 멀티 플렉서(33) 및 하이패스 필터(2)의 입력 측과 접속되고, 타단이 그라운드와 접속된다.One end of the
저항체 센서(34)는 검지하는 적외선에 의해 저항값이 변화하는 광도전 소자로 불리는 센서이다. 저항체 센서(34)는 주위 온도가 0∼50℃인 범위에서 저항체 센서(34)의 변동 온도가 ±5℃ 이내가 되는 상태로, 입력 광이 없는 상태에서는, 저항값이 거의 변화하지 않는 특성을 가지고 있다. 따라서, 예를 들면, 주위 온도 23℃에서 저항체 센서(34)의 시정수 계측을 실시하는 경우, 저항체 센서(34)의 시정수 계측이 종료할 때까지의 온도가 18℃∼28℃이면 무방하다.The
시정수 산출부(31)는, 멀티 플렉서(33)에 의해, 저항체 센서(34)에 인가되는 전압(Vcc)을 단계적으로 변화시키면서, 저항체 센서(34)로부터 출력되는 전압 신호의 파형을 계측하고, 각각 계측한 전압 신호의 파형으로부터, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 산출한다.The time
도 12 및 도 13은 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.12 and 13 are diagrams showing waveforms of the AC signal V out which is the output signal of the
도 12(a)∼도 12(c)는 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형이 sin파인 예를 나타내고, 도 13(a)∼도 13(c)는 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형이 펄스 파형인 예를 나타내고 있다.12 (a) to 12 (c) show an example in which the waveform of the AC signal V in input to the high-
도 12 및 도 13에서, 「단발 입력 파형」은 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형, 「HPF 파형」은 하이패스 필터(2)로부터 출력된 교류 신호(Vout)의 파형이다.12 and 13, the "single-shot input waveform" indicates the waveform of the AC signal V in input to the high-
또한, 「복원 파형」은 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형이다.The " restored waveform " is a waveform of the AC signal V com after the waveform restoration by the
도 12 및 도 13에서는, 어느 예에서도, 하이패스 필터(2)의 게인 A가 1, 시정수 τ가 0.0001(s)로 공통되어 있다. 단, 이 시정수 τ(=0.0001(s))는 오차를 포함하고 있기 때문에, 실제 시정수 τ(=0.000115(s))와 상이한 것으로 한다.In both of Figs. 12 and 13, the gain A of the high-
하이패스 필터(2)의 샘플링 주기 ΔT는, 도 12(a)가 2.50×10-6(s), 도 12(b)가 5.00×10-6(s), 도 12(c)가 1.00×10-5(s), 도 13(a)가 5.00×10-6(s), 도 13(b)가 1.00×10-6(s), 도 13(c)가 1.00×10-5(s) 이다.The sampling period? T of the high-
교류 신호(Vin)의 주파수는, 도 12(a)가 1000(Hz), 도 12(b)가 500(Hz), 도 12(c)가 333(Hz), 도 13(a)가 1000(Hz), 도 13(b)가 500(Hz), 도 13(c)가 333(Hz) 이다.The frequency of the alternating current signal V in is set such that the frequency of the AC signal V in is 1000 Hz in FIG 12A, 500 Hz in FIG 12B, 333 Hz in FIG 12C, (Hz), Fig. 13 (b) is 500 (Hz), and Fig. 13 (c) is 333 (Hz).
도 12 및 도 13의 예에서는, 하이패스 필터(2)에 포함되어 있는 콘덴서(11)의 경년 열화 등에 의해 하이패스 필터(2)의 시정수 τ가 오차를 포함하고 있기 때문에, 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형이, 하이패스 필터(2)에 입력되는 교류 신호(Vin)의 파형과 어긋나 버리고 있다. 특히, 도 12(c), 도 13(a)∼(c)는, 파형의 어긋남이 현저하게 나타나고 있다.12 and 13, since the time constant? Of the high-
이 실시 형태 2에서는, 도 11(a)에 나타낸 시정수 계측 회로를 이용하여, 시정수 산출부(6)가, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)의 신호값의 변화로부터, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 산출하도록 한다.In the second embodiment, the time
즉, 시정수 산출부(6)는, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)가 최대치(E)가 되는 시각을 경과 시간 tτ의 계측 개시점으로 하고, 교류 신호(Vout)가 최대치(E)의 1/e(≒E의 36.8%)의 값이 될 때까지의 경과 시간 tτ를 계측한다.That is, the time
그리고, 시정수 산출부(6)는, 경과 시간 tτ를 하이패스 필터(2)의 시정수 τ로서, 파형 복원부(3)에 출력한다.Then, the time
파형 복원부(3)는, 시정수 산출부(6)로부터 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 수취하면, 상기 실시 형태 1과 마찬가지로, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 이용하여, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)로부터, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형을 복원하고, 파형 복원 후의 교류 신호(Vin)를, 교류 신호(Vcom)로서 신호 출력 단자(4)에 출력한다.When the time constant τ of the
도 14 및 도 15는 각종 교류 신호(Vin)가 하이패스 필터(2)에 입력된 경우의 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout) 및 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형 예를 나타낸 설명도이다.14 and 15 are various AC signal (V in) and the output signal of the AC signal (V out) and the AC signal after the recovery waveform of the high-pass filter (2) in the case where the input to the high-pass filter (2) (V com Fig.
도 14(a)∼도 14(c)는 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형이 sin파인 예를 나타내고, 도 15(a)∼도 15(c)는 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형이 펄스 파형인 예를 나타내고 있다.14A to 14C show an example in which the waveform of the AC signal V in input to the
도 14 및 도 15에서, 「단발 입력 파형」은 하이패스 필터(2)에 입력된 교류 신호(Vin)의 파형, 「HPF 파형」은 하이패스 필터(2)로부터 출력된 교류 신호(Vout)의 파형이다.14 and 15, the "single-shot input waveform" indicates the waveform of the AC signal V in input to the high-
또한, 「복원 파형」은 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형이다.The " restored waveform " is a waveform of the AC signal V com after the waveform restoration by the
도 14 및 도 15에서는, 어느 예에서도, 하이패스 필터(2)의 게인 A가 1, 시정수 τ가 0.000115(s)로 공통되어 있다.14 and 15, the gain A of the high-
하이패스 필터(2)의 샘플링 주기 ΔT는, 도 14(a)가 2.50×10-6(s), 도 14(b)가 5.00×10-6(s), 도 14(c)가 1.00×10-5(s), 도 15(a)가 5.00×10-6(s), 도 15(b)가 1.00×10-6(s), 도 15(c)가 1.00×10-5(s) 이다.The sampling period? T of the high-
교류 신호(Vin)의 주파수는, 도 14(a)가 1000(Hz), 도 14(b)가 500(Hz), 도 14(c)가 333(Hz), 도 15(a)가 1000(Hz), 도 15(b)가 500(Hz), 도 15(c)가 333(Hz) 이다.The frequency of the alternating current signal V in is 1000 Hz in Fig. 14A, 500 Hz in Fig. 14B, 333 Hz in Fig. 14C, 1000 (Hz), Fig. 15 (b) is 500 (Hz), and Fig. 15 (c) is 333 (Hz).
도 14 및 도 15로부터 알 수 있듯이, 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋은 하이패스 필터(2)에 의해 제거되고, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ는 시정수 산출부(6)에 의해 산출되고, 하이패스 필터(2)에 입력되기 전의 교류 신호(Vin)의 파형은 파형 복원부(3)에 의해 복원되고, 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형이, 하이패스 필터(2)에 입력되는 교류 신호(Vin)의 파형과 거의 유사한 파형이 된다.14 and 15, the offset included in the AC signal V in is removed by the high-
이상에서 명백해진 것처럼, 이 실시 형태 2에 의하면, 시정수 산출부(6)가, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)의 신호값의 변화로부터, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 산출하도록 구성했으므로, 하이패스 필터(2)에 포함되어 있는 콘덴서(11)가 경년 열화를 일으켜도, 하이패스 필터(2)의 시정수 τ를 정확하게 파악하는 것이 가능해진다. 그 결과, 콘덴서(11)가 경년 열화를 일으켜도, 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 정밀도의 저하를 방지할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.As described above, according to the second embodiment, the time
실시 형태 3.Embodiment 3:
하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)는, 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋이 제거된 신호이지만, 교류 신호(Vout)에 오프셋이 완전히 제거되지 않고 잔존하는 경우가 있다.The AC signal V out which is the output signal of the
파형 복원부(3)는, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)의 파형을 복원할 때, 식(6)에 나타낸 것처럼, 복수의 샘플링 시의 교류 신호(Vout)(i)를 적산하는 처리를 실시한다. 이 때문에, 완전히 제거되지 않고, 각 샘플링 시의 교류 신호(Vout)(i)에 잔존해 있는 오프셋이 적더라도, 잔존하는 오프셋이 적산되어, 파형 복원부(3)의 출력 신호인 교류 신호(Vcom)가 큰 오차를 포함하는 경우가 있다.The
이 실시 형태 3에서는, 완전히 제거되지 않고, 교류 신호(Vout)에 잔존해 있는 오프셋을 제거하는 예를 설명한다.In the third embodiment, an example is described in which an offset remaining in the AC signal V out is removed without being completely removed.
도 16은 이 발명의 실시 형태 3에 따른 파형 복원 장치를 나타낸 구성도이다. 도 16에서, 도 1과 동일 부호는 동일 또는 상당 부분을 나타내므로 설명을 생략한다.16 is a configuration diagram showing a waveform recovery apparatus according to
신호 보정부(7)는 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)의 단발 파형의 평균값(Vave)을 산출하고, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)로부터 평균값(Vave)을 감산 함으로써, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)를 보정하고, 보정 후의 교류 신호(Vout -H)를 출력한다.The
다음으로 동작에 대해 설명한다.Next, the operation will be described.
도 17은 교류 신호(Vout)에 남아 있는 오프셋을 나타낸 설명도이다.17 is an explanatory diagram showing an offset remaining in the AC signal V out .
하이패스 필터(2)가 교류 신호(Vin)에 포함되어 있는 오프셋을 제거하는 처리를 실시해도, 도 17에 나타낸 것처럼, 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)에 오프셋이 남는 경우가 있다.Even when the
완전히 제거되지 않고, 교류 신호(Vout)에 잔존하는 오프셋은, 예를 들면, 신호 출력 단자(4)에 접속되는 오피 앰프(30)(도 11(a)를 참조)의 바이어스 전류에 기인하는 것이다.The offset remaining in the AC signal V out is not completely removed and the offset due to the bias current of the operational amplifier 30 (see FIG. 11 (a)) connected to the
즉, 오피 앰프(30)의 바이어스 전류가 하이패스 필터(2)의 저항(12)에 유입되기 때문에, 교류 신호(Vout)에 잔존하는 오프셋이 발생한다.That is, since the bias current of the
신호 보정부(7)는, 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)를 받으면, 교류 신호(Vout)의 단발 파형의 평균값(Vave)을 산출한다.The
오피 앰프(30)의 바이어스 전류에 기인하는 오프셋이 발생하지 않는 경우, 교류 신호(Vout)의 단발 파형에서의 정(正)의 전압의 적분 양과, 부(負)의 전압의 적분 양이 같아지기 때문에, 교류 신호(Vout)의 단발 파형의 평균값(Vave)은 0이 된다.When the offset caused by the bias current of the
한편, 오피 앰프(30)의 바이어스 전류에 기인하는 오프셋이 발생하고 있는 경우, 오프셋의 분(分) 만큼, 교류 신호(Vout)의 단발 파형에서의 정(正)의 전압의 적분 양과 부(負)의 전압의 적분 양 사이에 차분이 생기고, 그 차분은, 교류 신호(Vout)의 단발 파형의 평균값(Vave)에 상당한다. 이 때문에, 교류 신호(Vout)의 단발 파형의 평균값(Vave)은, 교류 신호(Vout)에 남아 있는 오프셋에 상당한다.On the other hand, when an offset due to the bias current of the
도 18은 교류 신호(Vout)에 남아 있는 오프셋에 상당하는 교류 신호(Vout)의 단발 파형의 평균값(Vave)을 나타낸 설명도이다.Figure 18 is a drawing showing an average value of one-shot waveform (V ave) of the alternating signal (V out) corresponding to the offset remaining in the alternating signal (V out).
다음으로, 신호 보정부(7)는, 교류 신호(Vout)에 남아 있는 오프셋을 제거하기 위해, 하이패스 필터(2)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)로부터, 오프셋에 상당하는 평균값(Vave)을 감산하고, 감산 후의 교류 신호(Vout -H)를 보정 후의 교류 신호로서 파형 복원부(3)에 출력한다.Next, the
감산 후의 교류 신호(Vout -H)는, 남아 있는 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)에 상당한다.The subtracted AC signal V out -H corresponds to the AC signal V out from which the remaining offset has been removed.
도 19는 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 결과를 나타낸 설명도이다.Fig. 19 is an explanatory diagram showing the waveform restoration result by the
도 19(a)는 신호 보정부(7)에 의해 교류 신호(Vout)가 보정되지 않은 경우의 파형 복원부(3)의 파형 복원 결과를 나타내고, 도 19(b)는 신호 보정부(7)에 의해 교류 신호(Vout)가 보정되어 있는 경우의 파형 복원부(3)의 파형 복원 결과를 나타내고 있다.19 (a) shows the waveform restoration result of the
도 19에서, 실선으로 나타내지는 「입력」은 교류 신호(Vin)의 파형을 나타내고, 점선으로 나타내지는 「복원」은 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형을 나타내고 있다.In Fig. 19, the "input" indicated by the solid line represents the waveform of the AC signal (V in ), and the "restoration" indicated by the dotted line represents the waveform of the AC signal (V com ) after waveform recovery.
신호 보정부(7)에 의해 교류 신호(Vout)가 보정되지 않은 경우, 도 19(a)에 나타낸 것처럼, 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형은, 교류 신호(Vout)에 남아 있는 오프셋의 영향으로, 하이패스 필터(2)에 입력되는 교류 신호(Vin)의 파형과 상이하다.When the AC signal V out is not corrected by the
신호 보정부(7)에 의해 교류 신호(Vout)가 보정된 경우, 도 19(b)에 나타낸 것처럼, 파형 복원부(3)에 의한 파형 복원 후의 교류 신호(Vcom)의 파형은, 하이패스 필터(2)에 입력되는 교류 신호(Vin)의 파형과 거의 유사한 파형이 된다.When the AC signal V out is corrected by the
이상에서 명백해진 것처럼, 이 실시 형태 3에 의하면, 신호 보정부(7)가, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)의 단발 파형의 평균값(Vave)을 산출하고, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)로부터 평균값(Vave)을 감산 함으로써, 하이패스 필터(2)에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호(Vout)를 보정하도록 구성했으므로, 교류 신호(Vout)에 남아 있는 오프셋의 영향이 제거된다. 그 결과, 상기 실시 형태 1, 2로부터, 파형 복원부(3)의 파형 복원 정밀도를 높일 수 있는 효과를 얻을 수 있다.As described above, according to the third embodiment, the
이 실시 형태 3에서는, 신호 보정부(7)가 도 1의 파형 복원 장치에 적용되는 예를 나타내고 있지만, 도 10의 파형 복원 장치에 적용되는 것도 무방하다.In the third embodiment, the
또한, 하이패스 필터(2) 대신에, 밴드 패스 필터(5)가 이용되는 경우, 신호 보정부(7)가, 밴드 패스 필터(5)의 출력 신호인 교류 신호(Vout)를 보정하도록 해도 무방하다.Even when the band-
이상과 같이, 본 발명의 내용을 실시 형태에 근거해 설명했지만, 본 발명의 내용은 실시 형태의 내용 만으로 한정되는 것이 아니고, 청구항에 기재된 내용 및 그 균등한 범위 내에서, 변경 가능한 것은 물론이다.As described above, the contents of the present invention have been described on the basis of the embodiments, but the contents of the present invention are not limited to the contents of the embodiments but can be changed within the scope of the claims and the equivalents thereof.
1: 신호 입력 단자
2: 하이패스 필터(오프셋 제거 필터)
3: 파형 복원부
4: 신호 출력 단자
5: 밴드 패스 필터(오프셋 제거 필터)
6: 시정수 산출부
7: 신호 보정부
11: 콘덴서
12: 저항
13: 그라운드
21, 24: 콘덴서
22, 23: 저항
30: 오피 앰프
31: 시정수 산출부
32-1∼32-N: 전원 단자
33: 멀티 플렉서
34: 저항체 센서1: Signal input terminal
2: High-pass filter (offset elimination filter)
3: Waveform restoration unit
4: Signal output terminal
5: Bandpass filter (offset removal filter)
6: time constant calculation unit
7:
11: Capacitor
12: Resistance
13: Ground
21, 24: Capacitors
22, 23: Resistance
30: Op Amp
31: time constant calculation unit
32-1 to 32-N: Power supply terminal
33: Multiplexer
34: Resistor sensor
Claims (5)
상기 오프셋 제거 필터의 시정수를 이용하여, 상기 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호로부터, 상기 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원하는 파형 복원부
를 갖춘 파형 복원 장치.An offset removing filter for removing an offset included in the AC signal,
And a waveform reconstruction unit for reconstructing the waveform of the AC signal before being input to the offset elimination filter from the AC signal whose offset is removed by the offset elimination filter, using the time constant of the offset elimination filter,
.
상기 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호의 신호값의 변화로부터, 상기 오프셋 제거 필터의 시정수를 산출하는 시정수 산출부
를 갖추고,
상기 파형 복원부는,
상기 시정수 산출부에 의해 산출된 시정수를 이용하여, 상기 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호로부터, 상기 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원하는
것을 특징으로 하는 파형 복원 장치.The method according to claim 1,
Calculating a time constant of the offset removing filter from a change in the signal value of the AC signal whose offset is removed by the offset removing filter,
Respectively,
Wherein the waveform reconstructing unit comprises:
The waveform of the AC signal before being input to the offset removing filter is recovered from the AC signal whose offset is removed by the offset removing filter using the time constant calculated by the time constant calculating unit
Wherein the waveform recovery unit comprises:
상기 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호의 단발 파형의 평균값을 산출하고, 상기 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호로부터 상기 평균값을 감산 함으로써, 상기 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호를 보정하고, 보정 후의 교류 신호를 출력하는 신호 보정부
를 갖추고,
상기 파형 복원부는,
상기 오프셋 제거 필터의 시정수를 이용하여, 상기 신호 보정부로부터 출력된 보정 후의 교류 신호로부터, 상기 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원하는
것을 특징으로 하는 파형 복원 장치.The method according to claim 1,
Calculating an average value of a single waveform of the AC signal whose offset has been removed by the offset elimination filter and subtracting the average value from the AC signal whose offset has been removed by the offset elimination filter, A signal correcting section for correcting the AC signal and outputting the corrected AC signal,
Respectively,
Wherein the waveform reconstructing unit comprises:
The waveform of the AC signal before being input to the offset removing filter is restored from the corrected AC signal output from the signal correcting unit using the time constant of the offset eliminating filter
Wherein the waveform recovery unit comprises:
상기 오프셋 제거 필터는, 하이패스 필터, 혹은, 1차의 밴드 패스 필터
인 것을 특징으로 하는 파형 복원 장치.The method according to claim 1,
The offset removing filter may be a high pass filter or a primary band pass filter
And the waveform reconstruction apparatus.
파형 복원부가, 상기 오프셋 제거 필터의 시정수를 이용하여, 상기 오프셋 제거 필터에 의해 오프셋이 제거된 교류 신호로부터, 상기 오프셋 제거 필터에 입력되기 전의 교류 신호의 파형을 복원하는
파형 복원 방법.The offset removal filter removes the offset included in the AC signal,
The waveform reconstruction unit restores the waveform of the AC signal before being input to the offset elimination filter from the AC signal whose offset has been removed by the offset elimination filter using the time constant of the offset elimination filter
Waveform restoration method.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2016/083672 WO2018087914A1 (en) | 2016-11-14 | 2016-11-14 | Waveform restoration device and waveform restoration method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20190040989A true KR20190040989A (en) | 2019-04-19 |
KR102189714B1 KR102189714B1 (en) | 2020-12-11 |
Family
ID=62109627
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020197008205A KR102189714B1 (en) | 2016-11-14 | 2016-11-14 | Waveform Restoration Device and Waveform Restoration Method |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6712071B2 (en) |
KR (1) | KR102189714B1 (en) |
CN (1) | CN109792236A (en) |
WO (1) | WO2018087914A1 (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001339265A (en) * | 2000-05-29 | 2001-12-07 | Maspro Denkoh Corp | Waveform correcting circuit |
JP2003133981A (en) | 2001-10-25 | 2003-05-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Dual-mode receiver and receiving method |
JP2005026792A (en) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Ricoh Co Ltd | Waveform shaping circuit and image forming apparatus |
KR20170063194A (en) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | 삼성전자주식회사 | Method for recovering input signal in amplifier circuit and amplifier circuit thereof |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5521959A (en) * | 1994-02-09 | 1996-05-28 | Harris Corporation | Programmable source for supplying controllably variable AC/DC voltage output for telephone line measurement apparatus |
JP4091671B2 (en) * | 1995-08-08 | 2008-05-28 | 松下電器産業株式会社 | DC offset compensator |
CN100347764C (en) * | 2003-10-28 | 2007-11-07 | 松下电器产业株式会社 | Information playback apparatus, in-line circuit, and method for implementing in-line circuit on information playback apparatus |
-
2016
- 2016-11-14 KR KR1020197008205A patent/KR102189714B1/en active IP Right Grant
- 2016-11-14 JP JP2018549739A patent/JP6712071B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2016-11-14 WO PCT/JP2016/083672 patent/WO2018087914A1/en active Application Filing
- 2016-11-14 CN CN201680089759.9A patent/CN109792236A/en active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001339265A (en) * | 2000-05-29 | 2001-12-07 | Maspro Denkoh Corp | Waveform correcting circuit |
JP2003133981A (en) | 2001-10-25 | 2003-05-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Dual-mode receiver and receiving method |
JP2005026792A (en) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Ricoh Co Ltd | Waveform shaping circuit and image forming apparatus |
KR20170063194A (en) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | 삼성전자주식회사 | Method for recovering input signal in amplifier circuit and amplifier circuit thereof |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
변종길 외5인, 뇌파 파라미터를 이용한 무선 원격 조종관구의 개발, 산업자원부, 2004. 10. 30.* * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2018087914A1 (en) | 2019-07-11 |
KR102189714B1 (en) | 2020-12-11 |
CN109792236A (en) | 2019-05-21 |
JP6712071B2 (en) | 2020-06-17 |
WO2018087914A1 (en) | 2018-05-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9632163B2 (en) | Method and system for calibrating a shunt resistor | |
JP4352562B2 (en) | Signal processing device | |
JP5474707B2 (en) | Detection circuit and voltage detection device for voltage detection device | |
CN108693399B (en) | Current measurement technique to compensate for shunt drift | |
JP2008275634A (en) | Circuit and method for measuring distances | |
US8525529B2 (en) | Impedance detection circuit and adjustment method of impedance detection circuit | |
US8633714B2 (en) | Impedance detecting circuit and impedance detection method | |
JPH057154A (en) | A/d converter circuit | |
JP4977741B2 (en) | Current detector | |
JP4642413B2 (en) | Current detector | |
KR102189714B1 (en) | Waveform Restoration Device and Waveform Restoration Method | |
JP6489081B2 (en) | Sensor device | |
JPS6340812A (en) | Temperature dependency drift and temperature independency drift of capacitive sensor and sensitivity compensation circuit arrangement | |
JP7027963B2 (en) | Current measuring device and radiation detection device | |
JP2004128958A (en) | Class d amplifier | |
JP6389161B2 (en) | Sensor interface calibration device | |
KR102128024B1 (en) | Apparatus and method for sensing registance with ripple reduction | |
JP2006222701A (en) | Output correction circuit for a/d converter | |
JP6352117B2 (en) | Filter device and filtering method | |
JP6315273B2 (en) | Insulation state measuring device | |
JP3048745B2 (en) | Analog input device | |
JP5312905B2 (en) | Resistance measuring device | |
JP6732679B2 (en) | Current detection circuit | |
KR101660403B1 (en) | Correlation double sampling circuit | |
JP6373765B2 (en) | Filter device and filtering method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |