KR20180103554A - 보호계전기 시험장비 운용 장치 및 방법 - Google Patents

보호계전기 시험장비 운용 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 시험신호를 생성하는 시험장비에 전기적으로 연결되도록 구성된 제1 포트와 보호계전기에 전기적으로 연결되도록 구성된 제2 포트 사이의 전기적인 연결 상태를 보호계전기로부터 트립(trip) 신호 또는 클로즈(close) 신호를 전달받음에 따라 변경하는 스위치부와, 스위치부의 동작 시점이 시작 시점 또는 끝 시점인 시험기간 동안에 제1 포트와 제2 포트 사이의 전압 및 전류를 측정하는 측정부와, 측정부의 측정 결과에 따라 시험기간 내의 복수의 시점 별 임피던스를 연산하는 연산부를 포함할 수 있다.

Description

보호계전기 시험장비 운용 장치 및 방법 {Apparatus and method for managing test of protective relay}
본 발명은 보호계전기 시험장비 운용 장치 및 방법에 관한 것이다.
보호계전기 시험장비는 현장에서 보호계전기가 동작할 때 보호계전기에 유입되는 전압 및 전류를 모의하여 시험신호를 생성하고 생성한 시험신호를 보호계전기에 주입하여 보호계전기의 오부동작 여부를 시험할 수 있다.
이러한 보호계전기 시험장비는 보호계전기 동작 데이터를 분석하기 위해 보호계전기의 종류 별로 별도의 프로그램을 사용할 필요가 있다.
현장에는 다양한 종류의 보호계전기가 설치된 경우가 많으므로, 보호계전기 시험장비는 현장에서 사용될 때 다양한 프로그램을 필요로 하는데, 이러한 다양한 프로그램을 미리 확보하지 못할 경우에 시험일정은 지연될 수 있다.
공개특허공보 제10-2012-0002035호
본 발명의 일 실시 예는, 시험장비와 보호계전기 사이에서 진행되는 시험에 개입하여 보호계전기 동작 데이터를 간편하게 확보할 수 있는 보호계전기 시험장비 운용 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 시험신호를 생성하는 시험장비에 전기적으로 연결되도록 구성된 제1 포트와 보호계전기에 전기적으로 연결되도록 구성된 제2 포트 사이의 전기적인 연결 상태를 상기 보호계전기로부터 트립(trip) 신호 또는 클로즈(close) 신호를 전달받음에 따라 변경하는 스위치부; 상기 스위치부의 동작 시점이 시작 시점 또는 끝 시점인 시험기간 동안에 상기 제1 포트와 상기 제2 포트 사이의 전압 및 전류를 측정하는 측정부; 및 상기 측정부의 측정 결과에 따라 상기 시험기간 내의 복수의 시점 별 임피던스를 연산하는 연산부; 를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 방법은, 보호계전기로부터 클로즈(close) 신호를 전달받는 단계; 시험신호를 생성하는 시험장비와 상기 보호계전기의 사이를 상기 클로즈 신호를 전달받음에 따라 전기적으로 연결하는 단계; 상기 시험장비와 상기 보호계전기의 사이의 전압 및 전류를 측정하는 단계; 상기 전압 및 전류에 기초한 임피던스 궤적을 생성 또는 표시하는 단계; 상기 보호계전기로부터 트립(trip) 신호를 전달받는 단계; 및 상기 시험장비와 상기 보호계전기의 사이를 상기 트립 신호를 전달받음에 따라 전기적으로 차단하는 단계; 를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치 및 방법은, 시험장비와 보호계전기 사이에서 진행되는 시험에 개입하여 보호계전기 동작 데이터를 간편하게 확보할 수 있으므로, 시험 진행자가 다양한 보호계전기에 대한 성능정보를 원활하게 확인하도록 지원할 수 있다.
또한 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치 및 방법은, 보호계전기 동작 데이터를 확보하는 과정에서 시험신호가 보호계전기 동작 데이터에 주는 부정적인 영향을 줄일 수 있으므로, 정확한 보호계전기 동작 데이터를 확보할 있다.
또한 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치 및 방법은, 보호계전기 접속 호환성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치를 나타낸 도면이다.
도 2a 내지 도 2c는 보호계전기의 종류에 따른 보호범위를 예시한 도면이다.
도 3a 및 도 3b는 보호계전기의 보호범위와 임피던스 궤적을 예시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 방법을 나타낸 순서도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치의 내부동작을 나타낸 순서도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치의 성능정보 생성 및 임피던스 궤적을 나타낸 순서도이다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 실시 예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치를 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치(100)는, 제1 포트(110), 제2 포트(120), 제3 포트(130), 스위치부(140), 측정부(150), 연산부(160), 표시부(170) 및 설정부(180) 중 적어도 일부를 포함할 수 있으며, 시험장비(200)와 보호계전기(300) 사이에서 진행되는 시험에 개입할 수 있다.
제1 포트(110)는 시험신호를 생성하는 시험장비(200)에 전기적으로 연결되도록 구성될 수 있다. 상기 시험신호는 시험전압과 시험전류를 포함할 수 있으며, 서로 다른 위상의 3개의 시험전압과 3개의 시험전류를 포함할 수 있다. 따라서, 상기 제1 포트(110)는 시험전압이 통과하는 3개의 접속포트와 시험전류가 통과하는 3개의 접속포트를 포함할 수 있다.
제2 포트(120)는 보호계전기(300)에 전기적으로 연결되도록 구성될 수 있다. 상기 제2 포트(120)는 상기 제1 포트(110)에 대응되도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 포트(120)는 시험전압이 통과하는 3개의 접속포트와 시험전류가 통과하는 3개의 접속포트를 포함할 수 있다.
설계에 따라, 보호계전기 시험장비 운용 장치(100)는 제2 포트(120)에 접속되는 접속단자의 종류와 다른 종류의 접속단자가 접속되도록 구성되고 보호계전기(300)에 전기적으로 연결되도록 구성된 다수의 제3 포트(미도시)를 더 포함할 수 있다.
즉 보호계전기 시험장비 운용 장치(100)가 보호계전기(300)에 접속하기 위한 접속단자는 보호계전기(300)의 종류에 따라 달라질 수 있으므로, 보호계전기 시험장비 운용 장치(100)는 다양한 포트를 구비함으로써 보호계전기 접속 호환성을 향상시킬 수 있다.
제4 포트(130)는 보호계전기(300)로부터 트립(trip) 신호 또는 클로즈(close) 신호를 전달받도록 구성될 수 있다. 트립 신호와 클로즈 신호는 시험전압 및/또는 시험전류가 보호계전기(300)의 동작범위 내에 속할 때 보호계전기(300)에 의해 생성될 수 있다.
스위치부(140)는 제4 포트(130)로부터 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받음에 따라 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이의 전기적인 연결 상태를 변경할 수 있다.
이에 따라, 보호계전기 시험장비 운용 장치(100)는 보호계전기 동작 데이터를 확보하는 과정에서 시험신호가 보호계전기 동작 데이터에 주는 부정적인 영향을 줄일 수 있으므로, 정확한 보호계전기 동작 데이터를 확보할 있다.
예를 들어, 상기 스위치부(140)는 IGBT나 사이리스터와 같은 전력용 반도체를 포함할 수 있으며, 상기 전력용 반도체의 각 단자가 제1, 제2, 제3 포트(110, 120, 130)에 전기적으로 연결되도록 구성될 수 있다.
또한, 상기 스위치부(140)는 클로즈 신호를 전달받을 때 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이를 전기적으로 연결시키고 트립 신호를 전달받을 때 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이의 전기적인 연결을 차단시키도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 상기 스위치부(140)는 클로즈 신호를 입력받음에 따라 하이 전압을 생성하여 전력용 반도체로 출력하고 트립 신호를 입력받음에 따라 로우 전압을 생성하여 전력용 반도체로 출력하는 회로를 포함할 수 있다.
한편, 보호계전기 시험장비 운용 장치(100)는 다수의 제3 포트를 포함할 경우에 상기 다수의 제3 포트로부터 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받음에 따라 제1 포트와 제3 포트 사이의 전기적인 연결 상태를 변경하는 다수의 제2 스위치부(미도시)를 더 포함할 수 있다. 이에 따라, 보호계전기 접속 호환성과 보호계전기 동작 데이터의 정확도는 모두 확보될 수 있다.
측정부(150)는 스위치부(140)의 동작 시점에 기초한 시험기간 동안의 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이의 전압 및 전류를 측정할 수 있다. 예를 들어, 상기 시험시간은 스위치부(140)가 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이를 전기적으로 연결시킨 시점부터 스위치부(140)가 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이의 전기적인 연결을 차단한 시점까지일 수 있다.
예를 들어, 상기 측정부(150)는 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이의 전압을 소정의 비율로 복사할 수 있는 변압기와, 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이의 전류를 소정의 비율로 복사할 수 있는 변류기와, 복사된 전압 및 전류에서 잡음을 제거하는 필터와, 서지 전압 또는 서지 전류로부터 보호하기 위한 보호 회로와, 복사된 전압 및 전류를 디지털 값으로 변환하는 ADC를 포함할 수 있다.
한편, 도 1은 상기 측정부(150)가 제1 포트(110)와 스위치부(140) 사이 노드의 전압 및 전류를 측정하는 것으로 도시하였으나, 상기 측정부(150)는 스위치부(140)와 제2 포트(120) 사이 노드의 전압 및 전류를 측정할 수도 있다.
또한, 상기 측정부(150)는 특정 샘플링 주파수(예: 2.88kHz)로 제1 포트(110)와 제2 포트(120) 사이의 전압 및 전류를 각각 샘플링할 수 있다.
연산부(160)는 측정부(150)의 측정 결과에 따라 시험기간내의 복수의 시점 별 임피던스를 연산할 수 있다. 연산부(160)에 의해 연산된 임피던스 각각이 복수의 시점 각각에 대응되므로, 연산부(160)는 시험기간 동안의 임피던스 궤적을 파악할 수 있다.
이에 따라, 보호계전기 시험장비 운용 장치(100)는 보호계전기 동작 데이터를 간편하게 확보할 수 있으며, 시험 진행자가 다양한 보호계전기에 대한 성능정보를 원활하게 확인하도록 지원할 수 있다.
예를 들어, 상기 연산부(160)는 측정부(150)에 의해 측정된 전압 및 전류 각각에 대한 DFT(Discrete Fourier Transform) 및 복소수화를 수행하여 임피던스를 연산함으로써, 임피던스의 크기 및 위상을 연산할 수 있다. 여기서, 위상은 저항 성분과 리액턴스 성분간의 비율에 대응되는 값이다. 한편, DFT의 주기당 포인트 수는 48개일 수 있으나 이에 한정되지 않으며, 정밀도와 연산속도를 고려하여 적절히 결정될 수 있다.
또한, 상기 연산부(160)는 상기 임피던스 궤적이 보호계전기(300)의 보호범위와 만나는 시점의 임피던스에 기초하여 보호계전기(300)의 성능정보를 생성할 수 있다. 상기 보호범위는 보호계전기(300)의 동작범위에 대응되는 임피던스 범위를 의미한다. 상기 보호범위의 경계 내 각 지점의 임피던스의 크기 및 위상이 서로 다르므로, 상기 연산부(160)는 상기 시점의 임피던스의 크기 및/또는 위상을 기준 임피던스의 크기 및/또는 위상과 비교하고, 비교 결과에 따라 보호계전기(300)의 정상동작 여부를 파악할 수 있다.
또한, 상기 연산부(160)는 시험기간 중 측정된 전압 또는 전류가 보호계전기(300)의 동작범위 내에 속할 때의 임피던스를 기준 임피던스와 비교하고 임피던스 비교 결과에 기초하여 보호계전기(300)의 성능정보를 생성할 수 있다. 만약 보호계전기(300)가 과전압 또는 과전류를 감지하여 동작할 경우, 상기 동작범위는 정상 전압범위보다 높은 전압범위를 가지거나 정상 전류범위보다 높은 전류범위를 가질 수 있다. 여기서, 상기 연산부(160)가 연산한 임피던스와 기준 임피던스 간의 차이값이 크다는 것은 보호계전기(300)가 과전압 또는 과전류를 늦게 감지하거나 부정확하게 감지한다는 것을 의미할 수 있다. 따라서, 상기 연산부(160)는 연산한 임피던스와 기준 임피던스 간의 차이값이 작을수록 보호계전기(300)의 성능이 우수하다고 판단할 수 있다.
또한, 상기 연산부(160)는 스위치부(140)가 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받은 시점부터 측정된 전압 또는 전류가 보호계전기(300)의 동작범위 내에 속하는 시점까지의 기간을 제1 기준기간과 비교하고 제1 기준기간 비교 결과에 기초하여 보호계전기(300)의 정정동작 성능정보를 생성할 수 있다. 여기서, 제1 기준기간은 시험장비(200)에 의해 모의된 시험신호의 패턴에 대응될 수 있다. 즉, 상기 연산부(160)는 제1 기준기간 비교 결과를 통해 보호계전기(300) 시험을 추가로 검증할 수 있다.
또한, 상기 연산부(160)는 스위치부(140)가 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받은 시점부터 추가적인 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받는 시점까지의 기간을 제2 기준기간과 비교하고 제2 기준기간 비교 결과에 기초하여 보호계전기(300)의 지연동작 성능정보를 생성할 수 있다.
통상 보호계전기(300)는 약간의 기계적 동작 시간을 소비하므로, 안정적으로 동작하기 위한 쿨링 타임을 가지기 위해서 지연동작을 할 수 있다. 상기 연산부(160)는 제2 기준기간 비교 결과를 통해 지연동작의 성능을 검증할 수 있다.
이처럼, 상기 연산부(160)에 의해 연산된 복수의 시점 별 임피던스는 보호계전기 성능정보 생성 및 분석에 다양하게 활용될 수 있으므로, 시험 진행자의 시험 진행을 다양한 측면에서 지원할 수 있다.
표시부(170)는 저항 성분 축(R)과 리액턴스 성분 축(X)을 가지는 좌표에 연산부(160)에 의해 연산된 임피던스를 실시간으로 표시하여 임피던스 궤적을 표시할 수 있다. 시험 진행자가 보호계전기의 정상적인 동작에 따른 임피던스 궤적을 알고 있을 경우, 시험 진행자는 상기 임피던스 궤적을 확인하고 보호계전기에 대한 성능정보를 더욱 원활하게 파악할 수 있다.
보호계전기의 정상적인 동작에 따른 기준 임피던스 궤적은 보호계전기의 종류에 따라 달라질 수 있으므로, 상기 표시부(170)는 연산한 임피던스 궤적을 기준 임피던스 궤적과 함께 표시할 수 있다. 이에 따라, 시험 진행자는 보호계전기의 정상적인 동작에 따른 임피던스 궤적을 알고 있지 않더라도 임피던스 궤적을 확인하고 보호계전기에 대한 성능정보를 더욱 원활하게 파악할 수 있다.
설정부(180)는 보호계전기(300)의 종류 정보를 입력받고 상기 종류 정보에 기초하여 보호계전기(300)의 동작범위 및 기준 임피던스를 설정할 수 있다. 또한, 상기 설정부(180)는 시험장비의 종류 정보를 입력받고 상기 종류 정보에 기초하여 제1 기준기간의 길이 또는 제2 기준기간의 길이를 설정할 수 있다. 상기 제1 기준기간은 2초일 수 있고, 상기 제2 기준기간은 20초일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
이에 따라, 보호계전기 시험장비 운용 장치(100)는 보호계전기 접속 호환성을 향상시킬 수 있다.
도 2a 내지 도 2c는 보호계전기의 종류에 따른 보호범위를 예시한 도면이다.
도 2a는 비율차동계전기의 보호범위를 나타내고, 도 2b는 거리계전기의 보호범위를 나타내고, 도 2c는 계자상실계전기의 보호범위를 나타낸다.
도 3a 및 도 3b는 보호계전기의 보호범위와 임피던스 궤적을 예시한 도면이다.
도 3a 및 도 3b를 참조하면, 사각형 박스는 보호계전기의 보호범위를 나타내고, 곡선은 임피던스 궤적을 나타낸다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 임피던스 궤적이 보호범위 내에 들어오는 시점의 임피던스에 기초하여 보호계전기의 성능정보를 생성할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 방법을 나타낸 순서도이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 방법은, 클로즈 신호 수신 단계(S110), 연결 단계(S120), 측정 단계(S130), 임피던스 궤적 표시 단계(S140), 트립 신호 수신 단계(S150) 및 차단 단계(S160)를 포함할 수 있으며, 반복될 수 있다.
클로즈 신호 수신 단계(S110)에서의 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 보호계전기로부터 클로즈(close) 신호를 전달받을 수 있다.
연결 단계(S120)에서의 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 시험신호를 생성하는 시험장비와 상기 보호계전기의 사이를 상기 클로즈 신호를 전달받음에 따라 전기적으로 연결할 수 있다.
측정 단계(S130)에서의 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 상기 시험장비와 상기 보호계전기의 사이의 전압 및 전류를 측정할 수 있다.
임피던스 궤적 표시 단계(S140)에서의 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 상기 전압 및 전류에 기초한 임피던스 궤적을 생성 또는 표시할 수 있다.
트립 신호 수신 단계(S150)에서의 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 상기 보호계전기로부터 트립(trip) 신호를 전달받을 수 있다.
차단 단계(S160)에서의 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 상기 시험장비와 상기 보호계전기의 사이를 상기 트립 신호를 전달받음에 따라 전기적으로 차단할 수 있다.
도 4에는 도시되지 않지만, 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 방법은, 보호계전기의 종류 정보를 입력받는 단계와, 상기 종류 정보에 대응되는 보호계전기의 보호범위를 설정하는 단계와, 생성하는 임피던스 궤적이 상기 보호범위와 만나는 시점 또는 지점을 연산하는 단계와, 상기 시점 또는 지점에 기초하여 상기 보호계전기의 성능정보를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치의 내부동작을 나타낸 순서도이다.
도 5를 참조하면, 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 전술한 제1 및 제2 기준시간과 같은 장치 동작시간을 설정(S210)하고, 전술한 시험전압, 시험전류와 같은 고장 전압, 전류를 입력(S220)받고, 임피던스 연산(S230)에 따라 보호계전기의 임피던스 궤적을 작성(S240)하고, 보호계전기의 동작(S235)에 따른 트립 신호(Trip signal) 출력(S245)에 따라 스위치를 off하여 전압, 전류를 차단(S250)하고, 보호계전기의 궤적 작성을 중단(S260)하고, 보호계전기의 클로즈 신호(Close signal) 출력(S270)에 따라 스위치를 on하여 전압, 전류를 다시 입력(S280)받을 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 장치의 성능정보 생성 및 임피던스 궤적을 나타낸 순서도이다.
도 6을 참조하면, 보호계전기 시험장비 운용 장치는, 보호계전기 정정치(보호범위)를 입력(S310)하고, 보호범위를 표시(S320)하고, 고장 전압, 전류를 연산하여 보호계전기 임피던스 궤적을 입력(S330)하고, 보호계전기의 트립(trip) 신호의 입력 여부를 확인(S340)하고, 고장 전압, 전류를 부하전류, 부하전압과 비교하여 고장상을 판별(S350)하고, 제1 기준시간 비교와 제2 기준시간 비교를 수행(S360)하고, 고장상이 보호범위 내에 속하는지 비교(S365)하고, S360단계 및 S365단계의 비교 결과에 따라 Success의 성능정보를 출력(S370)하거나 Fail의 성능정보를 출력(S375)하고, 성능정보가 출력되거나 트립 신호가 제2 기준시간(예: 20초)동안 입력되지 않을 경우에 시험을 중단(S390)할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시 예에 따른 보호계전기 시험장비 운용 방법은 프로세서, 메모리, 스토리지, 입력 디바이스, 출력 디바이스 및 통신 접속을 포함하는 컴퓨팅 환경에 의해 수행될 수 있다. 상기 입력 디바이스는 클로즈 신호 또는 트립 신호를 수신할 수 있으며, 상기 프로세서는 임피던스 궤적을 연산하고 성능정보를 생성할 수 있으며, 상기 메모리는 프로세서의 연산 방법을 저장하고 기준 임피던스 궤적, 제1 및 제2 기준기간을 저장할 수 있으며, 스토리지는 상기 메모리의 갱신(update) 동작을 지원할 수 있으며, 출력 디바이스는 스위치부로 제어 신호를 출력하거나 임피던스 궤적을 표시할 수 있다.
또한, 본 실시 예에서 사용되는 '~부' 라는 용어는 소프트웨어 또는 FPGA(field-programmable gate array) 또는 ASIC과 같은 하드웨어 구성요소를 의미하며, '~부'는 어떤 역할들을 수행한다. 그렇지만 '~부'는 소프트웨어 또는 하드웨어에 한정되는 의미는 아니다. '~부'는 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일 예로서 '~부'는 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스들, 함수들, 속성들, 프로시저들, 서브루틴들, 프로그램 코드의 세그먼트들, 드라이버들, 펌웨어, 마이크로코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조들, 테이블들, 어레이들, 및 변수들을 포함한다. 구성요소들과 '~부'들 안에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소들 및 '~부'들로 결합되거나 추가적인 구성요소들과 '~부'들로 더 분리될 수 있다. 뿐만 아니라, 구성요소들 및 '~부'들은 디바이스 또는 시스템 내의 하나 또는 그 이상의 CPU들을 재생시키도록 구현될 수도 있다.
이상에서는 본 발명을 실시 예로써 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며, 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형이 가능할 것이다.
110: 제1 포트
120: 제2 포트
130: 제4 포트
140: 스위치부
150: 측정부
160: 연산부
170: 표시부
180: 설정부
200: 시험장비
300: 보호계전기

Claims (12)

  1. 시험신호를 생성하는 시험장비에 전기적으로 연결되도록 구성된 제1 포트와 보호계전기에 전기적으로 연결되도록 구성된 제2 포트 사이의 전기적인 연결 상태를 상기 보호계전기로부터 트립(trip) 신호 또는 클로즈(close) 신호를 전달받음에 따라 변경하는 스위치부;
    상기 스위치부의 동작 시점이 시작 시점 또는 끝 시점인 시험기간 동안에 상기 제1 포트와 상기 제2 포트 사이의 전압 및 전류를 측정하는 측정부; 및
    상기 측정부의 측정 결과에 따라 상기 시험기간 내의 복수의 시점 별 임피던스를 연산하는 연산부; 를 포함하는 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    저항 성분 축과 리액턴스 성분 축을 가지는 좌표에 상기 연산부에 의해 연산된 임피던스를 상기 복수의 시점 순으로 표시하여 임피던스 궤적을 표시하는 표시부를 더 포함하는 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 표시부는 상기 임피던스 궤적을 상기 보호계전기의 보호범위와 함께 표시하고,
    상기 연산부는 상기 임피던스 궤적이 상기 보호범위와 만나는 시점의 임피던스에 기초하여 상기 보호계전기의 성능정보를 생성하는 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 연산부는 상기 복수의 시점 중 상기 전압 또는 상기 전류가 상기 보호계전기의 동작범위 내에 속하는 시점의 임피던스를 기준 임피던스와 비교하고 기준 임피던스 비교 결과에 기초하여 상기 보호계전기의 성능정보를 생성하는 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 보호계전기의 종류 정보를 입력받고 상기 종류 정보에 기초하여 상기 보호계전기의 동작범위 및 상기 기준 임피던스를 설정하는 설정부를 더 포함하는 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 연산부는 상기 스위치부가 상기 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받은 시점부터 상기 전압 또는 상기 전류가 상기 보호계전기의 동작범위 내에 속하는 시점까지의 기간을 제1 기준기간과 비교하고 제1 기준기간 비교 결과에 기초하여 상기 보호계전기의 정정동작 성능정보를 생성하는 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 연산부는 상기 스위치부가 상기 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받은 시점부터 추가적인 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받는 시점까지의 기간을 제2 기준기간과 비교하고 제2 기준기간 비교 결과에 기초하여 상기 보호계전기의 지연동작 성능정보를 생성하는 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 시험장비의 종류 정보를 입력받고 상기 종류 정보에 기초하여 상기 제1 기준기간의 길이 또는 상기 제2 기준기간의 길이를 설정하는 설정부를 더 포함하는 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 보호계전기에 전기적으로 연결되도록 구성된 제3 포트와 상기 제1 포트 사이의 전기적인 연결 상태를 상기 트립 신호 또는 클로즈 신호를 전달받음에 따라 변경하는 제2 스위치부를 더 포함하고,
    상기 제2 포트와 상기 제3 포트는 서로 다른 종류의 접속단자가 연결되도록 구성된 보호계전기 시험장비 운용 장치.
  10. 보호계전기로부터 클로즈(close) 신호를 전달받는 단계;
    시험신호를 생성하는 시험장비와 상기 보호계전기의 사이를 상기 클로즈 신호를 전달받음에 따라 전기적으로 연결하는 단계;
    상기 시험장비와 상기 보호계전기의 사이의 전압 및 전류를 측정하는 단계;
    상기 전압 및 전류에 기초한 임피던스 궤적을 생성 또는 표시하는 단계;
    상기 보호계전기로부터 트립(trip) 신호를 전달받는 단계; 및
    상기 시험장비와 상기 보호계전기의 사이를 상기 트립 신호를 전달받음에 따라 전기적으로 차단하는 단계; 를 포함하는 보호계전기 시험장비 운용 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 임피던스 궤적이 상기 보호계전기의 보호범위와 만나는 시점 또는 지점을 연산하는 단계; 및상기 시점 또는 지점에 기초하여 상기 보호계전기의 성능정보를 생성하는 단계; 를 더 포함하는 보호계전기 시험장비 운용 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 보호계전기의 종류 정보를 입력받는 단계; 및
    상기 종류 정보에 대응되는 상기 보호범위를 설정하는 단계; 를 더 포함하는 보호계전기 시험장비 운용 방법.
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