KR20180090736A - Surface treated copper foil,and current collector,electrode,and battery using the surface treated copper foil - Google Patents

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Abstract

The present invention provides a surface treated copper foil for a battery in which falling of roughened particles is less and which can obtain good adhesion with an active material. The surface treated copper foil for a battery of the present invention comprises: a copper foil; and a surface treated layer on at least one surface of the copper foil. The surface treated layer has a primary particle layer and a secondary particle layer. A surface of the surface treated layer has a 10-point average roughness (Rz) of 1.8 μm or more when measuring by using a laser microscope with a wavelength of 405 nm based on JIS B0601 1994.

Description

표면 처리 동박 및 이를 이용한 집전체, 전극 및 전지{Surface treated copper foil,and current collector,electrode,and battery using the surface treated copper foil}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a surface treated copper foil, a current collector using the same,

본 발명은 표면 처리 동박 및 이를 이용한 집전체, 전극 및 전지에 관한 것이다.The present invention relates to a surface-treated copper foil, a current collector, an electrode and a battery using the same.

전지, 특히 2차 전지의 음극용 또는 전극용의 집전체로서, 압연 동박과 전해 동박이 사용되고 있다. 어느 쪽의 동박에서도, 양극 또는 음극 활물질과, 집전체로서의 동박의 높은 밀착성이 요구된다. 밀착성을 개선하기 위해서, 동박 표면에 요철을 형성하는 표면 처리를 실시한 예가 있다. 예를 들면, 특허문헌 1에 개시되어 있듯이, 동박 표면을 에머리 페이퍼로 연마함으로써 요철을 형성하여, 밀착성 개선을 목적으로 한다.A rolled copper foil and an electrolytic copper foil are used as a current collector for a negative electrode or an electrode of a battery, particularly a secondary battery. In either copper foil, high adhesion of the positive electrode or the negative active material and the copper foil as the current collector is required. In order to improve the adhesion, there is an example in which surface treatment for forming irregularities on the surface of the copper foil is performed. For example, as disclosed in Patent Document 1, the surface of a copper foil is polished with emery paper to form irregularities to improve the adhesion.

특허문헌 1: 일본 특허공보 제3733067호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Publication No. 3733067

그러나 특허문헌 1에 기재되어 있듯이, 단순히 에머리 페이퍼 등의 연마지로 동박을 연마하여 요철을 형성해도 집전체 동박과 활물질의 충분한 밀착성을 얻을 수 없다는 문제가 있었다.However, as described in Patent Document 1, there is a problem in that sufficient adhesion between the current collector and the active material can not be obtained even if the copper foil is simply polished with abrasive paper such as emery paper to form irregularities.

또한, 동박에 조화 도금에 의한 조화 처리층을 마련하여 요철을 형성한 경우, 조화 입자층의 조화 입자의 탈락이 많이 생긴다는 문제가 있었다.In addition, when the copper foil is provided with the roughened layer by plating with harmonization to form irregularities, there is a problem in that the roughening particle layer looses much of the coarse particles.

본 발명은, 조화 입자의 탈락이 적고 활물질과의 양호한 밀착성을 얻을 수 있는 전지용 표면 처리 동박을 제공하는 것을 과제로 한다.An object of the present invention is to provide a surface-treated copper foil for a battery, in which coarse particles are less likely to fall off and good adhesion with an active material can be obtained.

본 발명자들은 종래 기술에서 충분한 밀착성을 얻을 수 없었던 이유를 열심히 검토한 바, 황산구리 도금욕을 이용하여 조화 처리로 동박 표면에 형성되는 조화 입자는, 비대화한 조화 입자의 중첩으로 인해 불균일이라는 문제를 발견했다. 즉, 조화 입자의 중첩 부분으로부터 조화 입자가 구리 가루로 탈락하여, 집전체 동박과 활물질의 충분한 밀착성을 얻을 수 없다고 하는 문제가 있었다. 여기서, 본 발명자들은 동박의 표면 측에 1차 입자층 및 2차 입자층을 형성하여 얻어지는 표면 처리층의 10점 평균 조도(Rz)를 제어함으로써, 활물질과의 밀착성이 양호해지는 점을 발견했다. 그리고 본 발명은 상기 지견을 기초로 하여 완성한 것이다.The present inventors have earnestly studied the reason why sufficient adhesion can not be obtained in the prior art, and found that the harmful particles formed on the surface of the copper foil by the roughening treatment using the copper sulfate plating bath have a problem of non-uniformity due to superposition of non-large, did. That is, there is a problem that the coarse particles fall off from the superposed portion of the coarse particles to the copper powder, and sufficient adhesion between the current collector copper foil and the active material can not be obtained. Here, the present inventors have found that adhesion to the active material is improved by controlling the 10-point average roughness (Rz) of the surface treatment layer obtained by forming the primary particle layer and the secondary particle layer on the surface side of the copper foil. The present invention has been completed based on the above findings.

즉, 본 발명은, 동박 및 상기 동박 중 적어도 일방의 표면 측에 표면 처리층을 가지는 전지용 표면 처리 동박으로서, 상기 표면 처리층은 1차 입자층, 2차 입자층을 상기 동박의 표면측으로부터 이 순서대로 가지고, 상기 전지용 표면 처리 동박의 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 1.8㎛ 이상인 전지용 표면 처리 동박이다.That is, the present invention is a surface treated copper foil for a battery having a surface treatment layer on the surface side of at least one of a copper foil and a copper foil, wherein the surface treatment layer is formed by laminating a primary particle layer and a secondary particle layer in this order Treated surface-treated copper foil for a battery has a 10-point average roughness (Rz) of 1.8 占 퐉 or more when measured using a laser microscope having a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 전지용 표면 처리 동박의 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)가 0.26㎛ 이상이다.Further, in an embodiment of the present invention, the surface treatment layer surface of the battery surface-treated copper foil is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994, and the arithmetic average roughness Ra is 0.26 탆 or more to be.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 1차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함한다.In one embodiment of the present invention, the primary particle layer includes at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, do.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 2차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함한다.In one embodiment of the present invention, the secondary particle layer includes at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, do.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 표면 처리층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계 100㎍/d㎡ 이상 포함한다.In one embodiment of the present invention, the surface treatment layer is made of at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, 100 mu g / dm < 2 > or more.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 표면 처리층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계 10000㎍/d㎡ 이하 포함한다.In one embodiment of the present invention, the surface treatment layer is made of at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, 10000 占 퐂 / dm2 or less.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 표면 처리층이 Ni을 포함하고, Ni의 부착량이 100㎍/d㎡ 이상이다.In one embodiment of the present invention, the surface treatment layer contains Ni and the adhesion amount of Ni is 100 占 퐂 / dm2 or more.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 표면 처리층이 Ni을 포함하고, Ni의 부착량이 4500㎍/d㎡ 이하이다.In one embodiment of the present invention, the surface treatment layer contains Ni and the adhesion amount of Ni is 4500 占 퐂 / dm2 or less.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 표면 처리층이 Co를 포함하고, Co의 부착량이 100㎍/d㎡ 이상이다.In one embodiment of the present invention, the surface treatment layer contains Co, and the amount of adhesion of Co is 100 占 퐂 / dm2 or more.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 표면 처리층이 Co를 포함해, Co의 부착량이 6000㎍/d㎡ 이하이다.Further, in an embodiment of the present invention, the surface treatment layer contains Co, and the adhesion amount of Co is 6000 占 퐂 / dm2 or less.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 1차 입자층이 Cu로 이루어진다.Further, in an embodiment of the present invention, the primary particle layer is made of Cu.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 2차 입자층이 Cu, Co, Ni로 이루어진다.Further, in an embodiment of the present invention, the secondary particle layer is made of Cu, Co, and Ni.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 동박이 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계로 5질량ppm 이상 0.3질량% 이하 포함한다.In one embodiment of the present invention, the copper foil is made of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, By mass and not more than 5% by mass and not more than 0.3% by mass in total.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 동박이 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계로 5질량ppm 이상 300질량ppm 이하 포함한다.In one embodiment of the present invention, the copper foil is made of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, At least 5 mass ppm and not more than 300 mass ppm.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 동박이 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계로 301질량ppm 이상 0.3질량% 이하 포함한다.In one embodiment of the present invention, the copper foil is made of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, By mass and not more than 0.3% by mass in total.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 표면 처리층이 상기 2차 입자층 상에 추가로 내열층, 방청층, 크로메이트 처리층, 실란 커플링 처리층, 도금층, 수지층으로 이루어지는 군으로부터 선택된 1종 이상의 층을 가진다.Further, in an embodiment of the present invention, the surface treatment layer may further comprise, on the secondary particle layer, at least one selected from the group consisting of a heat resistant layer, a rust prevention layer, a chromate treatment layer, a silane coupling treatment layer, a plated layer, It has more than two layers.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 본 발명의 전지용 표면 처리 동박은 2차 전지용이다.Further, in one embodiment of the present invention, the surface-treated copper foil for a battery of the present invention is for a secondary battery.

또한, 본 발명의 일 실시형태에 있어서, 본 발명의 전지용 표면 처리 동박은, 2차 전지 집전체용이다.Further, in one embodiment of the present invention, the surface-treated copper foil for a battery of the present invention is for a secondary battery current collector.

또한, 본 발명은 상술한 전지용 표면 처리 동박을 가지는 집전체이다.Further, the present invention is a current collector having the above-described surface-treated copper foil for a battery.

또한, 본 발명은 상술한 전지용 표면 처리 동박을 가지는 전극이다.The present invention is also an electrode having a surface-treated copper foil for a battery described above.

또한, 본 발명은 상술한 전지용 표면 처리 동박 또는 집전체 혹은 전극을 가지는 전지이다.Further, the present invention is a battery having the above-described surface-treated copper foil for a battery or a current collector or an electrode.

본 발명에 의하면, 조화 입자의 탈락이 적고, 활물질과의 밀착성이 양호한 전지용 표면 처리 동박을 얻을 수 있다. 또한, 본 발명의 일부 실시형태에 따르면, 더욱 내열 특성이 뛰어난 표면 처리를 구비한 전지용 표면 처리 동박을 얻을 수 있다.According to the present invention, it is possible to obtain a surface-treated copper foil for a battery having less loose coarse particles and having good adhesion to an active material. Further, according to some embodiments of the present invention, it is possible to obtain a surface-treated copper foil for a battery having a surface treatment further excellent in heat resistance.

도 1은 동박의 표면에 종래의 조화 처리를 실시한 경우의 조화 입자 모습을 나타내는 개념도이다.
도 2는 본 발명의 표면 처리층을 가지는 전지용 표면 처리 동박의 표면 처리층의 모습을 나타내는 개념도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a conceptual diagram showing the appearance of harmonized particles when a conventional roughening treatment is performed on the surface of a copper foil. Fig.
2 is a conceptual view showing a surface treatment layer of a surface treated copper foil for a battery having a surface treatment layer of the present invention.

<전지용 표면 처리 동박><Battery-surface-treated copper foil>

본 발명의 전지용 표면 처리 동박(구리 합금박을 포함한다)은, 예를 들면, 전지 또는 2차 전지의 집전체로서 그 위에 활물질 박막을 형성하여 전극을 제작하고, 최종적으로는 이것을 전극(양극 또는 음극의 어느 것이어도 좋다)으로 하는 전지 또는 2차 전지를 제조할 수 있다. 활물질 박막을 집전체상에 형성하는 방법은, 특히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, CVD법, 스퍼터링법, 증착법, 용사(溶射)법, 활물질을 포함하는 액체를 집전체상에 도포하고, 그 후 건조하는 방법 또는 도금법 등을 들 수 있다. 이들 박막 형성 방법 중에서도, CVD법, 스퍼터링법 및 증착법이 특히 바람직하게 이용된다. 또한, 집전체 위에 중간층을 형성하고, 이 중간층 상에 활물질 박막을 형성해도 좋다. 본 발명의 전지용 표면 처리 동박은 공지의 전극, 공지의 집전체, 공지의 전지에 이용할 수 있다. 공지의 전지로는, 예를 들면 리튬 이온 2차 전지, 전고체 2차 전지, 공기 전지(리튬-공기 전지, 아연-공기 전지 등), 나트륨 이온 전지, 마그네슘 이온 전지, 다가(多價) 이온 전지, 양극에 황계열 물질을 이용한 2차 전지, 양극에 산화 환원 활성을 나타내는 유기물을 이용한 2차 전지, 니켈·카드뮴 전지, 망간 전지(건전지), 알칼리 전지(건전지), 리튬 전지(건전지) 등을 들 수 있다. 공지의 전극, 공지의 집전체로는 상술한 공지의 전지에 이용되는 전극, 집전체를 들 수 있다.The surface-treated copper foil for a battery (including the copper alloy foil) of the present invention can be produced by, for example, forming a current collector of a battery or a secondary battery by forming an active material thin film thereon and finally forming an electrode Or a negative electrode), or a secondary battery can be manufactured. The method of forming the active material thin film on the current collector is not particularly limited. For example, a liquid containing a CVD method, a sputtering method, a vapor deposition method, a spraying method, and an active material is applied on a current collector, A post-drying method or a plating method. Of these thin film forming methods, CVD method, sputtering method, and vapor deposition method are particularly preferably used. Further, an intermediate layer may be formed on the current collector, and an active material thin film may be formed on the intermediate layer. The surface-treated copper foil for a battery of the present invention can be used for a known electrode, a known current collector, and a known battery. Examples of the known battery include a lithium ion secondary battery, a full solid secondary battery, an air battery (lithium-air battery, zinc-air battery, etc.), a sodium ion battery, a magnesium ion battery, A secondary battery using a sulfur-based material in the anode, a secondary battery using an organic material showing redox activity on the anode, a nickel-cadmium battery, a manganese battery (dry battery), an alkaline battery (dry battery), a lithium battery (dry battery), etc. . Known electrodes and known collectors include electrodes and collectors used in the above-described known batteries.

<동박><Copper>

본 발명에 이용할 수 있는 동박의 형태에는 특히 제한이 없고, 공지의 동박을 이용할 수 있다. 전형적으로는 본 발명에서 사용하는 동박은, 건식 도금 혹은 습식 도금에 의해 형성한 동박, 전해 동박 혹은 압연 동박의 어느 것이어도 좋다. 일반적으로는, 전해 동박은 황산구리 도금욕으로부터 티탄이나 스테인리스의 드럼상에 구리를 전해 석출하여 제조된다. 또한, 압연 동박은 압연 롤에 의한 소성가공과 열처리를 반복하여 제조된다. 굴곡성이 요구되는 용도에는 압연 동박을 적용하는 경우가 많다. 상술한 동박, 예를 들면 압연 동박을 사용하는 경우, 압연 후 등 동박을 제조한 후에, 소둔 처리(어닐링 처리)를 한 동박을 사용할 수도 있다. 내절곡성 등이 향상하기 때문에, 소둔 처리를 한 압연 동박이 바람직하다.The form of the copper foil usable in the present invention is not particularly limited, and a known copper foil can be used. Typically, the copper foil used in the present invention may be a copper foil formed by dry plating or wet plating, an electrolytic copper foil or a rolled copper foil. Generally, the electrolytic copper foil is produced by electrolytically depositing copper from a copper sulfate plating bath onto a drum of titanium or stainless steel. The rolled copper foil is produced by repeating plastic working and heat treatment by a rolling roll. Rolled copper foil is often applied to applications requiring flexibility. In the case of using the above-described copper foil, for example, a rolled copper foil, a copper foil subjected to annealing treatment (annealing treatment) may be used after producing a copper foil after rolling. It is preferable to use a rolled copper foil subjected to annealing treatment.

동박 재료로는 터프 피치동(JIS H3100 합금 번호 C1100)이나 무산소동(JIS H3100 합금 번호 C1020 또는 JIS H3510 합금 번호 C1011)이나 인탈산동(JIS H3100 합금 번호 C1201, C1220 또는 C1221)이나 전기 구리와 같은 고순도의 구리 외에, 예를 들면 Sn 함유 구리, Ag 함유 구리, 상술한 고순도의 구리에 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및/또는 Mg 등으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 첨가한 구리합금, Ni 및 Si 등을 첨가한 콜슨계 구리합금과 같은 구리합금도 사용 가능하다. 또한, 공지의 조성을 가지는 동박 및 구리 합금박도 사용 가능하다. 또한, 본 명세서에서 용어 「동박」을 단독으로 이용했을 때는 구리 합금박도 포함하는 것으로 한다. 또한, 동박 재료로는 상술한 고순도의 구리에 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계로 5질량ppm 이상, 바람직하게는 10질량ppm 이상, 바람직하게는 15질량ppm 이상, 바람직하게는 20질량ppm 이상, 바람직하게는 25질량ppm 이상, 바람직하게는 30질량ppm 이상, 바람직하게는 35질량ppm 이상, 바람직하게는 40질량ppm 이상, 바람직하게는 45질량ppm 이상, 바람직하게는 50질량ppm 이상, 바람직하게는 301질량ppm 이상, 바람직하게는 310질량ppm 이상, 바람직하게는 350질량ppm 이상, 바람직하게는 380질량ppm 이상, 바람직하게는 400질량ppm 이상, 바람직하게는 500질량ppm 이상 첨가한 구리합금을 이용하는 것도 가능하다. 또한, 동박 재료로는 상술한 고순도의 구리에 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계로 50질량% 이하, 바람직하게는 40질량% 이하, 바람직하게는 30질량% 이하, 바람직하게는 20질량% 이하, 바람직하게는 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하, 바람직하게는 1질량% 이하, 바람직하게는 0.8질량% 이하, 바람직하게는 0.6질량% 이하, 바람직하게는 0.5질량% 이하, 바람직하게는 0.3질량% 이하, 바람직하게는 0.28질량% 이하, 바람직하게는 0.25질량% 이하, 바람직하게는 0.23질량% 이하, 바람직하게는 0.20질량% 이하, 바람직하게는 0.17질량% 이하, 바람직하게는 0.15질량% 이하, 바람직하게는 300질량ppm 이하 첨가한 구리합금을 이용하는 것도 가능하다. 상술한 고순도의 구리에 첨가한 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 원소의 합계 농도가 높은 경우(예를 들면, 301질량ppm 이상), 동박의 강도가 보다 높아지기 때문에 유효하다. 또한, In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 원소의 합계 농도가 낮은 경우(예를 들면, 300질량ppm 이하), 굴곡성이 뛰어나기 때문에 유효하다.Examples of the copper foil material are tough pitch copper (JIS H3100 alloy No. C1100), oxygen free copper (JIS H3100 alloy No. C1020 or JIS H3510 alloy No. C1011), indaturated copper (JIS H3100 alloy No. C1201, C1220 or C1221) Cu, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni and Si are added to the above-mentioned high-purity copper, for example, , Copper alloy containing at least one selected from the group consisting of Zr, B and / or Mg, and copper alloy such as Colson copper alloy containing Ni and Si added can also be used. A copper foil and a copper alloy foil having a known composition can also be used. In the present specification, when the term &quot; copper foil &quot; is used singly, copper alloy foil is also included. As the copper foil material, a group of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B and Mg is added to the above- , Preferably not less than 15 mass ppm, preferably not less than 20 mass ppm, preferably not less than 25 mass ppm, preferably not more than 30 mass ppm, more preferably not less than 30 mass ppm, Preferably not less than 35 mass ppm, preferably not less than 40 mass ppm, preferably not less than 45 mass ppm, preferably not less than 50 mass ppm, preferably not less than 301 mass ppm, preferably not less than 310 mass ppm Or more, preferably 350 mass ppm or more, preferably 380 mass ppm or more, preferably 400 mass ppm or more, preferably 500 mass ppm or more. As the copper foil material, a group of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B and Mg is added to the above- , Preferably not more than 30 mass%, preferably not more than 20 mass%, preferably not more than 10 mass%, preferably not more than 5 mass%, more preferably not more than 5 mass% Preferably not more than 0.5 mass%, preferably not more than 0.3 mass%, preferably not more than 0.28 mass%, more preferably not more than 0.5 mass%, preferably not more than 0.8 mass% Preferably not more than 0.25 mass%, preferably not more than 0.23 mass%, preferably not more than 0.20 mass%, preferably not more than 0.17 mass%, preferably not more than 0.15 mass%, preferably not more than 300 mass ppm It is also possible to use one copper alloy. A metal selected from the group consisting of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B and Mg added to the above- (For example, 301 mass ppm or more), the strength of the copper foil becomes higher, which is effective. The total concentration of one or more elements selected from the group consisting of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, (For example, not more than 300 mass ppm) is excellent because of excellent flexibility.

<표면 처리층><Surface Treatment Layer>

표면 처리층은 1차 입자층과 2차 입자층을 동박측으로부터 이 순서대로 가진다. 표면 처리층은 1차 입자층과 2차 입자층을 동박측으로부터 이 순서대로 가져서 조화 입자의 탈락을 원인으로 분말이 탈락하는 경우가 저감한다. 또한, 표면 처리층은 1차 입자층과 2차 입자층을 동박측으로부터 이 순서대로 가져서, 동박과 활물질의 밀착성이 양호하게 되는 효과를 갖는다. 이것은 1차 입자층과 2차 입자층을 마련함으로써 조화 입자가 잘 접히지 않기 때문으로 추정된다. 또한, 표면 처리층은 1차 입자층과 2차 입자층을 동박측으로부터 이 순서대로 가져서, 동박의 내열성이 향상한다. 1차 입자층 및 2차 입자층은 상기 도금층으로 형성할 수 있다. 이 2차 입자의 특징은, 상기 1차 입자 위에 성장한 1 또는 복수개의 입자이다. 또는 2차 입자층은 상기 1차 입자 위에 성장한 정상 도금층이다. 2차 입자는 수지상이어도 좋다. 즉, 본 명세서에서 용어 「2차 입자층」을 이용한 경우에는, 피복 도금 등의 정상 도금층도 포함되는 것으로 한다. 또한, 2차 입자층은 조화 입자에 의해 형성되는 층을 1층 이상 가지는 층이어도 좋고, 정상 도금층을 1층 이상 가지는 층이어도 좋으며, 조화 입자에 의해 형성되는 층과 정상 도금층을 각각 1층 이상 가지는 층이어도 좋다. 또한, 표면 처리층은 1차 입자층이나 2차 입자층 이외의 하나 또는 복수의 다른 층을 가져도 좋다. 또한, 정상 도금이란, 한계 전류 밀도 이하의 전류 밀도의 조건으로 실시하는 도금을 의미한다.The surface treatment layer has a primary particle layer and a secondary particle layer in this order from the copper foil side. The surface treatment layer has a primary particle layer and a secondary particle layer in this order from the copper foil side, and the case where the powder falls off due to the fall off of the coarse particles is reduced. Further, the surface treatment layer has an effect that the adhesion between the copper foil and the active material is improved by having the primary particle layer and the secondary particle layer in this order from the copper foil side. This is presumably due to the fact that the harmonic particles are not folded well by providing the primary particle layer and the secondary particle layer. Further, the surface treatment layer has the primary particle layer and the secondary particle layer in this order from the copper foil side, so that the heat resistance of the copper foil is improved. The primary particle layer and the secondary particle layer can be formed of the above-mentioned plating layer. The characteristics of the secondary particles are one or a plurality of particles grown on the primary particles. Or the secondary particle layer is a normal plating layer grown on the primary particle. The secondary particles may be dendritic. That is, when the term "secondary particle layer" is used in the present specification, a normal plating layer such as coating plating is also included. The secondary particle layer may be a layer having one or more layers formed by coarsely grained particles or a layer having one or more normal plating layers and may be a layer formed by coarsely grained particles and a layer having one or more normal plating layers . The surface treatment layer may have one or a plurality of different layers other than the primary particle layer or the secondary particle layer. The normal plating means plating performed under the condition of a current density equal to or lower than the critical current density.

또한, 1차 입자층이란, 동박 위에 직접 형성되어 있는 조화 입자와, 상기 조화 입자 위에 중첩되어 있는 조화 입자로서, 동박 위에 직접 형성되어 있는 조화 입자와 조성이 같거나, 동박 위에 직접 형성되어 있는 조화 입자가 함유하는 원소와 같은 원소를 가지는 조화 입자를 포함하는 층으로 한다. 2차 입자층이란, 1차 입자층에 포함되는 조화 입자 위에 형성되어 있는 조화 입자로서, 1차 입자층을 형성하는 조화 입자와는 조성이 다르거나, 또는 1차 입자층을 형성하는 조화 입자가 포함하지 않는 원소를 포함하는 조화 입자를 포함하는 층으로 한다.The primary particle layer is a layer in which the coarse particles directly formed on the copper foil and the coarse particles superimposed on the coarse particles have the same composition as the coarse particles directly formed on the copper foil or the coarse particles directly formed on the copper foil Is a layer containing harmonic grains having the same element as the element contained in the grains. The secondary particle layer is a coarse particle formed on the coarse particle contained in the primary particle layer and has a composition different from that of the coarse particle forming the primary particle layer or an element containing no coarse particles forming the primary particle layer As a layer containing harmonic particles.

또한, 상술한 1차 입자 및/또는 2차 입자를 구성하는 원소의 유무, 및/또는 상기 원소의 농도 혹은 부착량을 측정할 수 없는 경우에는, 1차 입자 및 2차 입자는 예를 들면 주사형 전자현미경 사진으로 관찰했을 때, 겹쳐 보이는 입자로서 동박측(아래쪽)에 존재하는 입자 및 겹쳐있지 않은 입자를 1차 입자로 하고, 겹쳐 보이는 입자로서 다른 입자 위에 존재하는 입자를 2차 입자로 판정할 수 있다. 또한, 동박 위에 구리 등의 기초 도금층(정상 도금층)이 마련되어 있는 경우에는, 상술한 「동박 위에 직접 형성되어 있는 조화 입자」는 상기 기초 도금층 상에 직접 형성되어 있는 조화 입자도 포함하는 것으로 한다.When the presence or absence of the elements constituting the primary particles and / or the secondary particles and / or the concentration or the amount of the elements can not be measured, the primary particles and the secondary particles are, for example, When observed with an electron microscope photograph, the particles existing on the copper foil side (lower side) and the non-overlapping particles as the overlapping particles are regarded as primary particles and the particles existing on other particles as overlapping particles are judged as secondary particles . When the base plating layer (normal plating layer) such as copper is provided on the copper foil, the above-mentioned &quot; coarsely grained particles directly formed on the copper foil &quot; includes coarsely grained particles directly formed on the base plating layer.

본 발명의 전지용 표면 처리 동박은, 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거해서, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용하여 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 1.8㎛ 이상이다. Rz가 1.8㎛ 미만이면, 도 1의 개념도에 나타내듯이, 동박상의 조화 입자는 가늘고 긴 수지상으로 분포하고, 이 가늘고 긴 수지상 입자는 외력에 의해 수지의 일부가 접히고 쉽거나, 또는 근원으로부터 탈락하기 때문에, 활물질과의 밀착성이 양호하지 않다. 한편, Rz가 1.8㎛ 이상이면, 도 2의 개념도와 같이 날카로운 시작이 없어지고 둥그스름한 형상의 입자가 성장하기 때문에, 수지가 잘 꺾이지 않고, 근원으로부터 잘 탈락하지도 않는다. 그 결과, 활물질과의 밀착성이 향상한다. 이 관점에서, 10점 평균 조도(Rz)는, 보다 바람직하게는 1.9㎛ 이상, 보다 바람직하게는 2.0㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 2.1㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 2.2㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 2.3㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 2.35㎛ 이상이다. 10점 평균 조도(Rz)의 상한은 특히 한정할 필요는 없지만, 전형적으로는 예를 들면 10㎛ 이하, 바람직하게는 8㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 3.30㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 3.20㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 3.10㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 3.05㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 3㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2.95㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2.90㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2.85㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2.80㎛ 이하이다. Rz가 3㎛ 이하 등으로 어느 정도 작은 경우, 조화 입자가 더욱 탈락하기 어려워져서 활물질과의 밀착성이 보다 양호하게 되었다고 추정한다. 또한, 표면 처리층이 동박의 양면에 존재하는 경우, 일방의 10점 평균 조도(Rz)가 상기 범위 내이면 본 발명의 효과를 나타내므로, 일방의 10점 평균 조도(Rz)를 상기 범위 내로 하면 좋고, 양쪽의 10점 평균 조도(Rz)를 상기 범위 내로 해도 좋다.The surface-treated copper foil for a battery of the present invention has a 10-point average roughness (Rz) of 1.8 占 퐉 or more when the surface treatment layer surface is measured using a laser microscope having a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994. If Rz is less than 1.8 占 퐉, as shown in the conceptual diagram of Fig. 1, the coarse grains of the copper foil are distributed in the form of elongated dendrites, and the elongated dendritic particles are easily broken by external force, Therefore, the adhesion to the active material is not good. On the other hand, if Rz is 1.8 占 퐉 or more, the sharp start is lost as shown in the conceptual diagram of Fig. 2, and the rounded shape of the particles grows, so that the resin does not break well and does not fall off well from the root. As a result, the adhesion with the active material improves. From this viewpoint, the 10-point average roughness Rz is more preferably 1.9 占 퐉 or more, more preferably 2.0 占 퐉 or more, further preferably 2.1 占 퐉 or more, further preferably 2.2 占 퐉 or more, further preferably 2.3 Mu m or more, and more preferably 2.35 mu m or more. The upper limit of the 10-point average roughness (Rz) is not particularly limited, but is typically 10 μm or less, preferably 8 μm or less, more preferably 5 μm or less, further preferably 3.30 μm or less, More preferably not more than 3.20 占 퐉, still more preferably not more than 3.10 占 퐉, still more preferably not more than 3.05 占 퐉, still more preferably not more than 3 占 퐉, still more preferably not more than 2.95 占 퐉, still more preferably not more than 2.90 占 퐉 Is not more than 2.85 占 퐉, and more preferably not more than 2.80 占 퐉. It is presumed that when the Rz is small to 3 탆 or less, the coarsened particles are less likely to fall off and the adhesion with the active material becomes better. When the surface treatment layer is present on both surfaces of the copper foil, the effects of the present invention are exhibited when one of the ten-point average roughness Rz falls within the above range. Therefore, if one of the ten- And the 10-point average roughness (Rz) on both sides may be within the above range.

또한, 상술한 「표면 처리층 표면」이란, 전지용 표면 처리 동박이 1차 입자층, 2차 입자층, 내열층, 방청층, 크로메이트 처리층, 실란 커플링 처리층, 도금층 등 복수의 층을 가지는 경우에는 상기 복수의 층의 최외층 표면을 의미한다.When the surface-treated copper foil for a battery has a plurality of layers such as a primary particle layer, a secondary particle layer, a heat resistant layer, a rust prevention layer, a chromate treatment layer, a silane coupling treatment layer and a plated layer Means the outermost layer surface of the plurality of layers.

또한, 상기와 같은 관점에서, 본 발명의 전지용 표면 처리 동박은 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)를 0.26㎛ 이상으로 하는 것이 바람직하다. 이러한 산술 평균 조도(Ra)는, 보다 바람직하게는 0.28㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.30㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.32㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.34㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.36㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.38㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.40㎛ 이상이다. 산술 평균 조도(Ra)의 상한은 특히 한정할 필요는 없지만, 전형적으로는 예를 들면 5.0㎛ 이하, 바람직하게는 4.5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 4.0㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 3.5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 3.0㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2.5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2.0㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1.5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1.0㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 0.5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 0.45㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 0.44㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 0.41㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 0.40㎛ 이하이다. 또한, 표면 처리층이 동박의 양면에 존재하는 경우, 일방의 산술 평균 조도(Ra)가 상기 범위 내이면 본 발명의 효과를 나타내므로, 일방의 산술 평균 조도(Ra)를 상기 범위 내로 하면 좋고, 양쪽의 산술 평균 조도(Ra)를 상기 범위 내로 해도 좋다.In view of the above, the surface-treated copper foil for a battery of the present invention has an arithmetic mean roughness (Ra) of 0.26 탆 or more when measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994 . The arithmetic average roughness Ra is more preferably 0.28 占 퐉 or more, more preferably 0.30 占 퐉 or more, still more preferably 0.32 占 퐉 or more, still more preferably 0.34 占 퐉 or more, and still more preferably 0.36 占 퐉 or more Preferably not less than 0.38 mu m, and more preferably not less than 0.40 mu m. The upper limit of the arithmetic average roughness (Ra) is not particularly limited, but is typically 5.0 탆 or less, preferably 4.5 탆 or less, more preferably 4.0 탆 or less, further preferably 3.5 탆 or less Preferably 3.0 μm or less, more preferably 2.5 μm or less, further preferably 2.0 μm or less, further preferably 1.5 μm or less, further preferably 1.0 μm or less, further preferably 0.5 μm or less, Is not more than 0.45 mu m, more preferably not more than 0.44 mu m, further preferably not more than 0.41 mu m, further preferably not more than 0.40 mu m. When the surface treatment layer is present on both surfaces of the copper foil, the effect of the present invention is exhibited when the arithmetic mean roughness Ra of one side is within the above range. Therefore, the arithmetic average roughness Ra of one of the surfaces may be within the above- The arithmetic mean roughness Ra of both sides may be within the above range.

상기 1차 입자층의 평균 입자 지름을 0.1~0.6㎛로 하는 것이 바람직하다. 또한, 2차 입자층의 평균 입자 지름을 0.01~0.45㎛로 하는 것이 바람직하다. 여기서 입자 지름이란 주사형 전자현미경으로 동박의 바로 위에서 사진 촬영하여 조화 입자를 관찰한 경우, 상기 입자를 둘러싸는 최소 원의 지름을 의미한다. 또한, 평균 입자 지름이란, 복수의 조화 입자의 입자 지름의 산술 평균값을 의미한다. 구체적으로는, 상기 1차 입자층의 평균 입자 지름은 상술한 주사형 전자현미경으로 촬영한 사진에서 가로 4㎛×세로 3㎛의 영역에 존재하는 1차 입자층 조화 입자의 입자 지름의 산술 평균값을 의미한다. 또한, 상기 2차 입자층의 평균 입자 지름은 상술한 주사형 전자현미경으로 촬영한 사진에서, 가로 4㎛×세로 3㎛의 영역에 존재하는 2차 입자층 조화 입자의 입자 지름의 산술 평균값을 의미한다.It is preferable that the primary particle layer has an average particle diameter of 0.1 to 0.6 탆. The average particle size of the secondary particle layer is preferably 0.01 to 0.45 mu m. Here, the particle diameter means the diameter of the minimum circle surrounding the particles when the coarse particles are observed by photographing from above the copper foil with a scanning electron microscope. The average particle diameter means an arithmetic mean value of the particle diameters of a plurality of coarsely grained particles. Specifically, the average particle diameter of the primary particle layer means an arithmetic average value of the particle diameters of the primary particle layer coarsening particles existing in the region of 4 占 퐉 x 3 占 퐉 in the photograph taken by the scanning electron microscope described above . The average particle diameter of the secondary particle layer means an arithmetic average value of the particle diameter of the secondary particle layer coarsening particles present in the region of 4 占 퐉 占 3 占 퐉 in the photograph taken by the scanning electron microscope described above.

또한, 1차 입자층의 평균 입자 지름은 1차 입자층을 형성할 때에 사용하는 도금액 중, 도금에 의해 동박에 부착하는 원소의 농도를 낮게 하거나, 및/또는 전류 밀도를 높게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 길게 하거나, 및/또는 도금 횟수를 많게 하는 등에 의해서 크게 할 수 있다. 또한, 1차 입자층의 평균 입자 지름은 1차 입자층을 형성할 때에 사용하는 도금액 중, 도금에 의해 동박에 부착하는 원소의 농도를 높게 하거나, 및/또는 전류 밀도를 낮게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 짧게 하거나, 및/또는 도금 횟수를 줄이는 등에 의해 작게 할 수 있다.The average particle diameter of the primary particle layer can be adjusted by adjusting the concentration of elements attached to the copper foil by plating and / or by increasing the current density and / or the surface treatment The time can be increased by lengthening the time (energizing time for plating) and / or increasing the number of times of plating. The average particle diameter of the primary particle layer can be adjusted by increasing the concentration of elements attached to the copper foil by plating and / or by lowering the current density and / or surface treatment The time can be reduced by shortening the time (energizing time at the time of plating) and / or reducing the number of times of plating.

또한, 2차 입자층의 평균 입자 지름은 2차 입자층을 형성할 때에 사용하는 도금액 중, 도금에 의해 동박에 부착하는 원소의 농도를 낮게 하거나, 및/또는 전류 밀도를 높게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 길게 하거나, 및/또는 도금 횟수를 많이 하는 등에 의해, 크게 할 수 있다. 또한, 2차 입자층의 평균 입자 지름은 2차 입자층을 형성할 때에 사용하는 도금액 중, 도금에 의해 동박에 부착하는 원소의 농도를 높게 하거나, 및/또는 전류 밀도를 낮게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 짧게 하거나, 및/또는 도금 횟수를 줄이는 등에 의해, 작게 할 수 있다.The average particle diameter of the secondary particle layer is preferably set such that the concentration of the element adhered to the copper foil is lowered by plating and / or the current density is increased and / or the surface treatment The time can be increased by lengthening the time (energizing time at the time of plating) and / or increasing the number of times of plating. The average particle diameter of the secondary particle layer can be adjusted by increasing the concentration of elements attached to the copper foil by plating and / or by lowering the current density and / or surface treatment The time can be reduced by shortening the time (energization time at the time of plating) and / or reducing the number of times of plating.

본 발명의 전지용 표면 처리 동박은, 표면 처리층에서의 1차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 원소를 가질 수 있다. 표면 처리층에서의 1차 입자층은 Cu, W, Ti, As, Cr 및 P로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 원소를 가지는 것이 바람직하다. 표면 처리층에서의 1차 입자층은 Cu, W, As 및 P로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 원소를 가지는 것이 바람직하다. 분말이 떨어지는 것을 더욱 방지하기 쉬워지기 때문이다. 또한, 2차 입자층에 대해서도, Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 원소를 가질 수 있다. 그리고 상술한 1차 입자층 및 2차 입자층에 포함되는 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 원소의 합계 부착량은, 예를 들면 100㎍/d㎡ 이상으로 할 수 있다. 합계 부착량의 상한도 특별히 제한은 없지만, 예를 들면 10000㎍/d㎡ 이하로 할 수 있다. 또한, 상술한 1차 입자층 및 2차 입자층에 포함되는 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 원소의 합계 부착량은, 예를 들면 100㎍/d㎡ 이상으로 할 수 있다. 합계 부착량의 상한도 특별히 제한은 없지만, 예를 들면 10000㎍/d㎡ 이하로 할 수 있다.In the surface-treated copper foil for a battery of the present invention, the primary particle layer in the surface treatment layer is one or more selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, It may have two or more kinds of elements. It is preferable that the primary particle layer in the surface treatment layer has at least one element selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, Cr and P. It is preferable that the primary particle layer in the surface treatment layer has at least one element selected from the group consisting of Cu, W, As and P. This makes it easier to prevent the powder from falling off. The secondary particle layer may have one or more elements selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn. The total deposition amount of at least one element selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn contained in the above- , For example, 100 占 퐂 / dm2 or more. The upper limit of the total adhesion amount is not particularly limited, but may be, for example, 10000 占 퐂 / dm2 or less. In addition, one or two or more elements selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn contained in the primary particle layer and the secondary particle layer Can be, for example, 100 占 퐂 / dm2 or more. The upper limit of the total adhesion amount is not particularly limited, but may be, for example, 10000 占 퐂 / dm2 or less.

전지 용량 향상의 관점에서, 전극 활물질은 단순한 카본계 활물질로부터 실리콘계나 복수 종을 혼합한 복합계 활물질이 검토되고 있다. 이러한 실리콘계 활물질을 사용하는 경우에는, 폴리이미드계 바인더가 사용되는 경우가 있고, 접합에는 300℃ 이상의 가열이 필요하다. 따라서, 활물질과의 밀착성이 양호하면 본 발명의 목적을 달성할 수 있지만, 300℃ 이상 가열 후에도 동박 표면의 산화 변색이 생기지 않는 내열 특성도 가지는 2차 전지 집전체용 동박인 것이 보다 바람직하다. 상기 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 1종 또는 2종 이상의 원소를 선택하여, 상기 부착량에 따라서 2차 입자층을 형성함으로써, 상기 내열 특성의 향상이 가능하다.From the standpoint of improving the battery capacity, a composite active material obtained by mixing a silicon-based material or a plurality of materials from a simple carbon-based active material has been studied. When such a silicon-based active material is used, a polyimide-based binder may be used, and heating at 300 DEG C or more is required for bonding. Therefore, it is more preferable that the copper foil is a copper foil for a secondary battery current collector having heat resistance characteristics that does not cause oxidative discoloration on the surface of the copper foil even after heating at 300 DEG C or higher, although the object of the present invention can be achieved when the adhesion with the active material is good. Wherein at least one element selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn is selected and a secondary particle layer is formed in accordance with the above- The heat resistance characteristics can be improved.

본 발명의 전지용 표면 처리 동박의 표면 처리층은 Ni을 포함하지 않는 경우이거나, 또는, 표면 처리층이 Ni을 포함하는 경우가 있다. 표면 처리층이 Ni을 포함하는 경우에는, 표면 처리층에서의 Ni 부착량은 100㎍/d㎡ 이상인 것이 바람직하다. 상기 Ni의 부착량이 100㎍/d㎡를 밑돌면, 내열성이 현저하게 악화된다는 문제가 생기는 경우가 있다. 표면 처리층이 Ni을 포함하는 경우에는, 표면 처리층에서의 Ni 부착량은 4500㎍/d㎡ 이하인 것이 바람직하다. 4500㎍/d㎡를 넘으면, Ni 막두께가 두꺼워져서, 상기 저항값이 상승하고, 집전체용 동박으로서 상기 특성이 저하한다는 문제가 생길 우려가 있다. 상기 Ni의 부착량은, 보다 바람직하게는 200㎍/d㎡ 이상, 더욱 바람직하게는 300㎍/d㎡ 이상, 더욱 바람직하게는 400㎍/d㎡ 이상이다. 또한, 상기 Ni의 부착량은, 보다 바람직하게는 4400㎍/d㎡ 이하, 더욱 바람직하게는 4300㎍/d㎡ 이하, 더욱 바람직하게는 4200㎍/d㎡ 이하, 더욱 바람직하게는 4100㎍/d㎡ 이하, 더욱 바람직하게는 4000㎍/d㎡ 이하, 더욱 바람직하게는 3950㎍/d㎡ 이하이다. 또한, 표면 처리층이 Ni을 포함한 경우, Ni을 포함하지 않는 경우와 비교해서 표면 처리 동박의 내약품성이 향상한다는 효과를 나타내는 경우가 있다.The surface treatment layer of the surface-treated copper foil for a battery of the present invention may not contain Ni, or the surface treatment layer may contain Ni. When the surface treatment layer contains Ni, the amount of Ni adhered to the surface treatment layer is preferably 100 占 퐂 / dm2 or more. If the adhesion amount of Ni is less than 100 / / dm 2, a problem that the heat resistance remarkably deteriorates may occur. When the surface treatment layer contains Ni, it is preferable that the amount of Ni deposited on the surface treatment layer is 4500 占 퐂 / dm2 or less. If it exceeds 4500 占 퐂 / dm2, the Ni film thickness becomes thick, and the above-mentioned resistance value rises and there is a possibility that the above-mentioned characteristic as the copper foil for current collector is lowered. The adhesion amount of Ni is more preferably 200 占 퐂 / dm2 or more, further preferably 300 占 퐂 / dm2 or more, and further preferably 400 占 퐂 / dm2 or more. The deposition amount of Ni is more preferably 4,400 占 퐂 / dm2 or less, still more preferably 4,300 占 퐂 / dm2 or less, still more preferably 4,200 占 퐂 / dm2 or less, still more preferably 4,100 占 퐂 / dm2 More preferably 4000 占 퐂 / dm2 or less, and further preferably 3950 占 퐂 / dm2 or less. When the surface treatment layer contains Ni, the chemical resistance of the surface-treated copper foil may be improved as compared with the case where the surface treatment layer does not contain Ni.

본 발명의 전지용 표면 처리 동박의 표면 처리층은 Co를 포함하지 않는 경우, 또는 표면 처리층이 Co를 포함하는 경우가 있다. 표면 처리층이 Co를 포함하는 경우에는, 표면 처리층에서의 Co의 부착량은 100㎍/d㎡ 이상인 것이 바람직하다. 상기 Co의 부착량이 100㎍/d㎡를 밑돌면, 내열성이 현저하게 악화되는 문제가 생기는 경우가 있다. 또한, 표면 처리층이 Co를 포함하는 경우에는, 표면 처리층에서의 Co 부착량은 6000㎍/d㎡ 이하인 것이 바람직하다. 6000㎍/d㎡를 넘으면, Co의 막 두께가 두꺼워져서 자성이 발현하고, 전지용 동박, 특히 집전체용 동박으로서 전기 특성이 뒤떨어진다고 하는 문제가 생길 우려가 있다. 상기 Co의 부착량은, 보다 바람직하게는 200㎍/d㎡ 이상, 보다 바람직하게는 300㎍/d㎡ 이상, 보다 바람직하게는 400㎍/d㎡ 이상, 보다 바람직하게는 500㎍/d㎡ 이상, 보다 바람직하게는 600㎍/d㎡ 이상, 보다 바람직하게는 700㎍/d㎡ 이상, 보다 바람직하게는 800㎍/d㎡ 이상, 보다 바람직하게는 900㎍/d㎡ 이상, 보다 바람직하게는 1000㎍/d㎡ 이상이다. 또한, 상기 Co의 부착량은, 보다 바람직하게는 5500㎍/d㎡ 이하, 보다 바람직하게는 5000㎍/d㎡ 이하, 보다 바람직하게는 4500㎍/d㎡ 이하, 보다 바람직하게는 4300㎍/d㎡ 이하, 보다 바람직하게는 4200㎍/d㎡ 이하, 보다 바람직하게는 4100㎍/d㎡ 이하, 보다 바람직하게는 4000㎍/d㎡ 이하, 보다 바람직하게는 3950㎍/d㎡ 이하이다. 또한, 표면 처리층이 Co를 포함하는 경우, Co를 포함하지 않는 경우와 비교하여 표면 처리 동박의 내후성이 향상하는 효과를 나타내는 경우가 있다.The surface treatment layer of the surface-treated copper foil for a battery of the present invention may contain Co, or the surface treatment layer may include Co. When the surface treatment layer contains Co, the adhesion amount of Co in the surface treatment layer is preferably 100 占 퐂 / dm2 or more. If the coating amount of Co is less than 100 / / dm 2, the heat resistance may be significantly deteriorated. When the surface treatment layer contains Co, it is preferable that the Co deposition amount in the surface treatment layer is 6000 占 퐂 / dm2 or less. If it is more than 6000 占 퐂 / dm2, the thickness of Co becomes thick and magnetic property is developed, and there is a possibility that a problem that the electric characteristics are deteriorated as a battery copper foil, especially a copper foil for current collecting, may arise. The coating amount of Co is more preferably not less than 200 μg / dm 2, more preferably not less than 300 μg / dm 2, more preferably not less than 400 μg / dm 2, more preferably not less than 500 μg / More preferably at least 600 μg / dm 2, more preferably at least 700 μg / dm 2, even more preferably at least 800 μg / dm 2, even more preferably at least 900 μg / dm 2, / d &lt; 2 &gt; The coating amount of Co is more preferably 5500 占 퐂 / dm2 or less, more preferably 5000 占 퐂 / dm2 or less, still more preferably 4500 占 퐂 / dm2 or less, still more preferably 4300 占 퐂 / dm2 More preferably not more than 4200 μg / dm 2, more preferably not more than 4100 μg / dm 2, more preferably not more than 4000 μg / dm 2, and still more preferably not more than 3950 μg / dm 2. When the surface treatment layer contains Co, the effect of improving the weather resistance of the surface-treated copper foil may be enhanced as compared with the case where the surface treatment layer does not include Co.

또한, 본 발명에 있어서, 표면 처리층에서의 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, Sn, P 등의 원소의 부착량을 규정하고 있지만, 1차 입자층 및 2차 입자층을 포함하는 표면 처리층에 존재하는 원소의 부착량의 총량을 규정하는 것이다. 또한, 이들의 표면 처리층이 동박의 양쪽 면에 존재하는 경우에는, 일방의 면의 표면 처리층에서의 규정이고, 양쪽 면에 형성된 표면 처리층에 함유되는 원소(예를 들면 Ni 등)의 합계값은 아니다.The deposition amount of elements such as Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, Sn and P in the surface treatment layer is specified in the present invention. And defines the total amount of adhesion of elements present in the surface treatment layer including the tea particle layer. When these surface treatment layers are present on both surfaces of the copper foil, the total amount of elements (for example, Ni) contained in the surface treatment layer defined on the surface treatment layer of one surface It is not a value.

본 발명의 전지용 표면 처리 동박의 표면 처리층은, Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, Sn, P 등의 원소의 부착량이 상기 범위 내이면, 그 종류 및 부착량을 필요에 따라서 변경할 수 있지만, 활물질 박막과의 밀착성을 더욱 향상시키는 관점에서, 1차 입자층이 Cu로 이루어지는 것이 바람직하다. 여기서, 「1차 입자층이 Cu로 이루어진다」는 것은 「1차 입자층이 Cu만을 포함한다」것, 그리고 「1차 입자층이 Cu와 불가피적 불순물만을 포함한다」것을 포함하는 개념이다. 또한, 표면 처리 동박의 내열성을 향상시키는 관점에서, 2차 입자층이 Cu, Co, Ni로 이루어지는 것이 바람직하다. 여기서, 「2차 입자층이 Cu, Co, Ni로 이루어진다」는 것은 「2차 입자층이 Cu, Co 및 Ni 만을 포함한다」것, 그리고 「2차 입자층이 Cu, Co 및 Ni와 불가피적 불순물만을 포함한다」것을 포함하는 개념이다.When the adhesion amount of elements such as Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, Sn and P in the surface treatment layer of the surface treatment copper foil for a battery of the present invention is within the above range, The deposition amount can be changed as necessary, but it is preferable that the primary particle layer is made of Cu from the viewpoint of further improving the adhesion with the active material thin film. Here, "the primary particle layer is made of Cu" is a concept that "the primary particle layer contains only Cu" and that "the primary particle layer contains Cu and inevitable impurities". From the viewpoint of improving the heat resistance of the surface-treated copper foil, it is preferable that the secondary particle layer is made of Cu, Co and Ni. Here, &quot; the secondary particle layer is made of Cu, Co, and Ni &quot; means that the secondary particle layer contains Cu, Co, and Ni only and that the secondary particle layer contains only Cu, Co and Ni and inevitable impurities And the like.

또한, 표면 처리층이 함유하는 원소의 부착량은, 표면 처리층을 형성할 때에 사용하는 표면 처리액 중의 상기 원소의 농도를 높게 하거나, 및/또는 표면 처리가 도금인 경우에는 전류 밀도를 높게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 길게 하는 등에 의해, 많게 할 수 있다. 또한, 표면 처리층이 함유하는 원소의 부착량은, 표면 처리층을 형성할 때에 사용하는 표면 처리액 중의 상기 원소의 농도를 낮게 하거나, 및/또는 표면 처리가 도금인 경우에는, 전류 밀도를 낮게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 짧게 하는 등에 의해, 줄일 수 있다.The adhesion amount of the element contained in the surface treatment layer can be adjusted by increasing the concentration of the element in the surface treatment liquid used for forming the surface treatment layer and / or increasing the current density when the surface treatment is plating, And / or by increasing the surface treatment time (electrification time at the time of plating), or the like. The deposition amount of the element contained in the surface treatment layer is preferably set such that the concentration of the element in the surface treatment liquid used when forming the surface treatment layer is lowered and / or when the surface treatment is plating, the current density is lowered , And / or by shortening the surface treatment time (electrification time at the time of plating), and the like.

<1차 입자층, 2차 입자층의 형성 조건><Formation Conditions of Primary Particle Layer and Secondary Particle Layer>

본 발명의 전지용 표면 처리 동박의 표면 처리층은, 동박의 표면측으로부터 1차 입자층 및 2차 입자층을 순서대로 형성한다. 1차 입자층 및 2차 입자층은 동박의 표면 측으로부터 직접 형성해도 좋고, 동박의 표면 측에 기초 도금층을 형성하여, 그 다음 1차 입자층 및 2차 입자층을 순서대로 형성해도 좋다. 상술한 기초 도금층은 Cu 도금층이어도 좋다. 1차 입자층, 2차 입자층의 형성 조건을 이하에 제시하지만, 이는 어디까지나 바람직한 예를 나타내는 것으로써, 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 1.8㎛ 이상이면, 하기에 표시하는 것 외의 도금 조건에 지장을 주지 않는다.The surface treatment layer of the surface-treated copper foil for a battery of the present invention forms a primary particle layer and a secondary particle layer in this order from the surface side of the copper foil. The primary particle layer and the secondary particle layer may be formed directly from the surface side of the copper foil or the base plating layer may be formed on the surface side of the copper foil and then the primary particle layer and the secondary particle layer may be formed in order. The above-mentioned base plating layer may be a Cu plating layer. The conditions for forming the primary particle layer and the secondary particle layer are shown below. However, this is only a preferable example, and the surface treatment layer surface is measured using a laser microscope having a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994 If the 10-point average roughness (Rz) is 1.8 占 퐉 or more, the plating conditions other than those shown below are not adversely affected.

또한, 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)는, 1차 입자층, 및/또는 2차 입자층을 형성할 때에 사용하는 도금액 중, 도금에 의해 동박에 부착하는 원소의 농도를 낮게 하거나, 및/또는 전류 밀도를 높게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 길게 하거나, 및/또는 도금 횟수를 많게 하는 등에 의해, 크게 할 수 있다. 또한, 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)는, 1차 입자층 및/또는 2차 입자층을 형성할 때에, 사용하는 표면 처리액 중, 도금에 의해 동박에 부착하는 원소의 농도를 높게 하거나, 및/또는 전류 밀도를 낮게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 짧게 하는 등에 의해, 작게 할 수 있다.The 10-point average roughness (Rz) when the surface treatment layer surface is measured using a laser microscope having a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 is used for forming the primary particle layer and / or the secondary particle layer And / or the surface treatment time (electrification time at the time of plating) is made long, and / or the electroplating is carried out, It can be increased by increasing the number of times. The 10-point average roughness (Rz) measured when the surface treatment layer surface is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994 can be measured by using the surface roughness of the primary particle layer and / By increasing the concentration of the element to be adhered to the copper foil and / or lowering the current density and / or shortening the surface treatment time (electrification time at the time of plating) in the surface treatment liquid, Can be made small.

또한, 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)는, 1차 입자층 및/또는 2차 입자층을 형성할 때에, 사용하는 도금액 중, 도금에 의해 동박에 부착하는 원소의 농도를 낮게 하거나, 및/또는 전류 밀도를 높게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 길게 하는 등에 의해, 크게 할 수 있다. 또한, 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)는, 1차 입자층 및/또는 2차 입자층을 형성할 때에, 사용하는 도금액 중, 도금에 의해 동박에 부착하는 원소의 농도를 높게 하거나, 및/또는 전류 밀도를 낮게 하거나, 및/또는 표면 처리 시간(도금을 할 때의 통전 시간)을 짧게 하거나, 및/또는 도금 횟수를 줄이는 등에 의해, 작게 할 수 있다.The arithmetic mean roughness (Ra) when the surface treatment layer surface is measured using a laser microscope having a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994 is preferably in the range of It is possible to increase the concentration of the element to be adhered to the copper foil by plating and / or by increasing the current density and / or by lengthening the surface treatment time (plating time for plating) have. The arithmetic mean roughness (Ra) when the surface treatment layer surface is measured using a laser microscope having a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994 is preferably in the range of It is possible to increase the concentration of the element attached to the copper foil and / or lower the current density and / or to shorten the surface treatment time (energization time at the time of plating) by plating and / Or the like can be reduced.

·1차 입자층Primary particle layer

1차 입자 도금액(A)으로 처리한 후, 1차 입자 도금액(B)으로 처리하는 경우는 이하의 조건으로 1차 입자층을 형성할 수 있다.In the case of treatment with the primary particle plating solution (B) after the treatment with the primary particle plating solution (A), the primary particle layer can be formed under the following conditions.

(1차 입자 도금액(A)에 의한 처리)(Treatment with primary particle plating solution (A)) [

<전해액 조성><Electrolyte Composition>

구리:5~15g/LCopper: 5 ~ 15g / L

황산:70~80g/LSulfuric acid: 70 to 80 g / L

<제조 조건><Manufacturing Conditions>

전류 밀도:40~60A/d㎡Current density: 40 to 60 A / dm 2

전해액 온도:25~35℃Electrolyte temperature: 25 ~ 35 ℃

전해 시간:0.5~1.6초Delivery time: 0.5-1.6 seconds

(1차 입자 도금액(B)에 의한 처리)(Treatment with primary particle plating solution (B)

<전해액 조성><Electrolyte Composition>

구리:20~50g/LCopper: 20 to 50 g / L

황산:60~100g/LSulfuric acid: 60 to 100 g / L

<제조 조건><Manufacturing Conditions>

전류 밀도:4~10A/d㎡Current density: 4 to 10 A / dm 2

전해액 온도:35~55℃Electrolyte temperature: 35 ~ 55 ℃

전해 시간:1.4~2.5초Delivery time: 1.4 to 2.5 seconds

1차 입자 도금액(I)에 의한 처리만으로 1차 입자층을 형성하는 경우는 이하의 1차 입자 도금액(I)에 의한 처리 1 또는, 1차 입자 도금액(I)에 의한 처리 2에 기재한 조건으로 실시할 수 있다.In the case where the primary particle layer is formed only by the treatment with the primary particle plating solution (I), the treatment with the primary particle plating solution (I) or the treatment with the primary particle plating solution (I) .

(1차 입자 도금액(I)에 의한 처리 1)(Treatment with primary particle plating solution (I) 1)

<전해액 조성><Electrolyte Composition>

구리:10~45g/LCopper: 10 ~ 45g / L

코발트:5~30g/LCobalt: 5 ~ 30g / L

니켈:5~30g/LNickel: 5 to 30 g / L

pH:2.8~3.2pH: 2.8 to 3.2

<제조 조건><Manufacturing Conditions>

전류 밀도:30~45A/d㎡Current density: 30 ~ 45A / dm2

전해액 온도:30~40℃Electrolyte temperature: 30 ~ 40 ℃

전해 시간:0.3~0.8초Delivery time: 0.3 to 0.8 seconds

(1차 입자 도금액(I)에 의한 처리 2)(Treatment with primary particle plating solution (I) 2)

<전해액 조성><Electrolyte Composition>

구리:5~15g/LCopper: 5 ~ 15g / L

니켈:3~30g/LNickel: 3 to 30 g / L

pH:2.6~3.0pH: 2.6-3.0

<제조 조건><Manufacturing Conditions>

전류 밀도:50~70A/d㎡Current density: 50 to 70 A / dm 2

전해액 온도:30~40℃Electrolyte temperature: 30 ~ 40 ℃

전해 시간:0.3~0.9초Electrolysis time: 0.3 to 0.9 seconds

·2차 입자층Secondary particle layer

2차 입자층을 형성하는 경우는, 이하의 2차 입자 도금액(I) 또는 2차 입자 도금액(II)에 의한 처리로 실시할 수 있다.In the case of forming the secondary particle layer, it can be carried out by treatment with the following secondary particle plating solution (I) or secondary particle plating solution (II).

(2차 입자 도금액(I)에 의한 처리)(Treatment with secondary particle plating solution (I)) [

<전해액 조성><Electrolyte Composition>

구리:10~15g/LCopper: 10 ~ 15g / L

코발트:5~15g/LCobalt: 5 to 15 g / L

니켈:5~15g/LNickel: 5 to 15 g / L

pH:2.8~3.2pH: 2.8 to 3.2

<제조 조건><Manufacturing Conditions>

전류 밀도:20~40A/d㎡Current density: 20 to 40 A / dm 2

전해액 온도:33~37℃Electrolyte temperature: 33 ~ 37 ℃

전해 시간:0.5~1.0초Electrolysis time: 0.5 to 1.0 second

(2차 입자 도금액(II)에 의한 처리)(Treatment with secondary particle plating solution (II)) [

<전해액 조성><Electrolyte Composition>

구리:5~12g/LCopper: 5 ~ 12g / L

니켈:2~11g/LNickel: 2 to 11 g / L

pH:2.8pH: 2.8

<제조 조건><Manufacturing Conditions>

전류 밀도:55~65A/d㎡Current density: 55 to 65 A / dm 2

전해액 온도:35~40℃Electrolyte temperature: 35 ~ 40 ℃

전해 시간:0.3~0.9초Electrolysis time: 0.3 to 0.9 seconds

<피복 도금>&Lt; Coating plating &

2차 입자층 상에 피복 도금을 실시할 수 있다. 피복 도금을 형성함으로써, 내열성 향상의 효과를 기대할 수 있다. 피복 도금으로 형성하는 층은, 예를 들면, Zn-Cr 합금층, Ni-Mo 합금층, Zn층, Co-Mo 합금층, Co-Ni 합금층, Ni-W 합금층, Ni-Zn 합금층, Ni-P 합금층, Ni-Fe 합금층, Ni-Al 합금층, Co-Zn 합금층, Co-P 합금층, Zn-Co 합금층, Ni층, Co층, Cr층, Al층, Sn층, Sn-Ni층, Ni-Sn층 또는 Zn-Ni 합금층 등과 같은, Zn, Cr, Ni, Fe, Ta, Cu, Al, P, W, Mn, Sn, As, Ti, Mo 및 Co 등으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종의 원소로 이루어지는 금속층, 또는 Zn, Cr, Ni, Fe, Ta, Cu, Al, P, W, Mn, Sn, As, Ti, Mo 및 Co로 이루어지는 군으로부터 선택되는 2종 또는 3종 이상을 포함하는 합금층 또는 상술한 원소군으로부터 선택되는 2종 또는 3종 이상의 원소로 이루어지는 합금층을 들 수 있다.Coating on the secondary particle layer can be carried out. By forming the coating plating, the effect of improving the heat resistance can be expected. The layer formed by the coating plating may be a Zn-Cr alloy layer, a Ni-Mo alloy layer, a Zn layer, a Co-Mo alloy layer, a Co-Ni alloy layer, a Ni-W alloy layer, A Ni-P alloy layer, a Ni-Fe alloy layer, a Ni-Al alloy layer, a Co-Zn alloy layer, a Co-P alloy layer, a Zn-Co alloy layer, a Ni layer, a Co layer, Ni, Fe, Ta, Cu, Al, P, W, Mn, Sn, As, Ti, Mo, Co, etc., such as a Sn-Ni layer, a Ni-Sn layer or a Zn- And a metal layer composed of one kind of element selected from the group consisting of Zn, Cr, Ni, Fe, Ta, Cu, Al, P, W, Mn, Sn, As, Ti, Mo and Co An alloy layer containing two or more kinds, or an alloy layer comprising two or more kinds of elements selected from the above-mentioned element group.

피복 도금은, 이하의 피복 도금액 등에 의한 처리를 실시하여, 또는 이것들을 조합하여 실시할 수 있다. 또한, 습식 도금으로 구비할 수 없는 금속층, 및/또는 합금층은 스퍼터링, 물리 증착(PVD), 화학 증착(CVD) 등의 건식 도금법에 의해 구비할 수 있다.Coating plating can be carried out by treating with the following coating plating solution or the like, or by combining them. The metal layer and / or alloy layer which can not be provided by wet plating can be provided by a dry plating method such as sputtering, physical vapor deposition (PVD), or chemical vapor deposition (CVD).

·피복 도금액에 의한 처리(1) Zn-Cr· Treatment with plating solution (1) Zn-Cr

액 조성:중크롬산 칼륨 1~10g/L, Zn 0.1~5g/LLiquid composition: Potassium dichromate 1 ~ 10g / L, Zn 0.1 ~ 5g / L

액온:40~60℃Solution temperature: 40 to 60 ° C

pH:0.5~10pH: 0.5 to 10

전류 밀도:0.01~2.6A/d㎡Current density: 0.01 to 2.6 A / dm 2

통전 시간:0.05~30초Energization time: 0.05 to 30 seconds

·피복 도금액에 의한 처리(2) Ni-Mo· Treatment with plating solution (2) Treatment with Ni-Mo

액 조성:황산 니켈 270~280g/L, 염화 니켈 35~45g/L, 초산(酢酸) 니켈 10~20g/L, 몰리브덴산 나트륨 1~60g/L, 구연산삼나트륨 10~50g/L, 도데실 황산나트륨 50~90 ppmLiquid composition: 270 to 280 g / L of nickel sulfate, 35 to 45 g / L of nickel chloride, 10 to 20 g / L of nickel acetate, 1 to 60 g / L of sodium molybdate, 10 to 50 g / Sodium sulfate 50 to 90 ppm

액온:20~65℃Temperature: 20 to 65 ° C

pH:4~12pH: 4-12

전류 밀도:0.5~5A/d㎡Current density: 0.5 to 5 A / dm 2

통전 시간:0.1~5초Power-on time: 0.1 to 5 seconds

·피복 도금액에 의한 처리(3) Zn· Treatment with plating solution (3) Zn

액 조성:Zn 1~15g/LSolution composition: Zn 1 ~ 15g / L

액온:25~50℃Solution temperature: 25 ~ 50 ℃

pH:2~6pH: 2-6

전류 밀도:0.5~5A/d㎡Current density: 0.5 to 5 A / dm 2

통전 시간:0.01~0.3초Energization time: 0.01 to 0.3 seconds

·피복 도금액에 의한 처리(4) Co-Mo(4) Treatment with Co-Mo

액 조성:Co 1~20g/L, 몰리브덴산 나트륨 1~60g/L, 구연산 나트륨 10~110g/LLiquid composition: Co 1 ~ 20g / L, sodium molybdate 1 ~ 60g / L, sodium citrate 10 ~ 110g / L

액온:25~50℃Solution temperature: 25 ~ 50 ℃

pH:5~7pH: 5 to 7

전류 밀도:1~4A/d㎡Current density: 1 to 4 A / dm 2

통전 시간:0.1~5초Power-on time: 0.1 to 5 seconds

·피복 도금액에 의한 처리(5) Co-Ni· Treatment with coating solution (5) Co-Ni

액 조성:Co 1~20g/L, Ni 1~20g/LLiquid composition: Co 1 to 20 g / L, Ni 1 to 20 g / L

액온:30~80℃Temperature: 30 ~ 80 ℃

pH:1.5~3.5pH: 1.5 to 3.5

전류 밀도:1~20A/d㎡Current density: 1 to 20 A / dm 2

통전 시간:0.1~4초Power supply time: 0.1 to 4 seconds

·피복 도금액에 의한 처리(6) Zn-Ni· Treatment with plating solution (6) Treatment with Zn-Ni

액 조성:Zn 1~30g/L, Ni 1~30g/LSolution composition: Zn 1 to 30 g / L, Ni 1 to 30 g / L

액온:40~50℃Solution temperature: 40 ~ 50 ℃

pH:2~5pH: 2 to 5

전류 밀도:0.5~5A/d㎡Current density: 0.5 to 5 A / dm 2

통전 시간:0.01~0.3초Energization time: 0.01 to 0.3 seconds

·피복 도금액에 의한 처리(7) Ni-W· Treatment with plating solution (7) Treatment with Ni-W

액 조성:Ni 1~30g/L, W 1~300mg/LSolution composition: Ni 1 to 30 g / L, W 1 to 300 mg / L

액온:30~50℃Temperature: 30 ~ 50 ℃

pH:2~5pH: 2 to 5

전류 밀도:0.1~5A/d㎡Current density: 0.1 to 5 A / dm 2

통전 시간:0.01~0.3초Energization time: 0.01 to 0.3 seconds

·피복 도금액에 의한 처리(8) Ni-P· Treatment with coating plating solution (8) Treatment with Ni-P

액 조성:Ni 1~30g/L, P 1~10g/LSolution composition: Ni 1 to 30 g / L, P 1 to 10 g / L

액온:30~50℃Temperature: 30 ~ 50 ℃

pH:2~5pH: 2 to 5

전류 밀도:0.1~5A/d㎡Current density: 0.1 to 5 A / dm 2

통전 시간:0.01~0.3초Energization time: 0.01 to 0.3 seconds

<그 외의 표면 처리><Other Surface Treatment>

또한, 본 발명의 전지용 표면 처리 동박의 표면 처리층은, 2차 입자층 또는 상술한 피복 도금층 상에 추가로 내열층, 방청층, 크로메이트 처리층, 실란 커플링 처리층, 도금층, 수지층으로 이루어지는 군으로부터 선택된 1종 이상의 층을 가져도 좋다. 또한, 상술한 내열층, 방청층, 크로메이트 처리층, 실란 커플링 처리층, 도금층, 수지층은 각각 복수의 층을 형성해도 좋다(예를 들면, 2층 이상, 3층 이상 등).The surface-treated layer of the surface-treated copper foil for a battery of the present invention may further comprise a heat-resistant layer, a rust-preventive layer, a chromate treatment layer, a silane coupling treatment layer, a plated layer and a resin layer on the secondary particle layer or the above- May be used. The heat-resistant layer, the rust-preventive layer, the chromate treatment layer, the silane coupling treatment layer, the plating layer, and the resin layer may each have a plurality of layers (for example, two or more layers, three layers or more).

내열층, 방청층으로는 공지의 내열층, 방청층을 이용할 수 있다. 예를 들면, 내열층 및/또는 방청층은 니켈, 아연, 주석, 코발트, 몰리브덴, 구리, 텅스텐, 인, 비소, 크롬, 바나듐, 티탄, 알루미늄, 금, 은, 백금족 원소, 철, 탄탈의 군으로부터 선택되는 1종 이상의 원소를 포함하는 층이어도 좋고, 니켈, 아연, 주석, 코발트, 몰리브덴, 구리, 텅스텐, 인, 비소, 크롬, 바나듐, 티탄, 알루미늄, 금, 은, 백금족 원소, 철, 탄탈의 군으로부터 선택되는 1종 이상의 원소로 이루어지는 금속층 또는 합금층이어도 좋다. 또한, 내열층 및/또는 방청층은 상술한 원소를 포함하는 산화물, 질화물, 규화물을 포함해도 좋다. 또한, 내열층 및/또는 방청층은 니켈-아연 합금을 포함하는 층이어도 좋다. 또한, 내열층 및/또는 방청층은 니켈-아연 합금층이어도 좋다. 상기 니켈-아연 합금층은, 불가피 불순물을 제외하고 니켈을 50wt%~99wt%, 아연을 50wt%~1wt% 함유하는 것이어도 좋다. 상기 니켈-아연 합금층의 아연 및 니켈의 합계 부착량이 5~1000mg/㎡, 바람직하게는 10~500mg/㎡, 바람직하게는 20~100mg/㎡이어도 좋다. 또한, 상기 니켈-아연 합금을 포함하는 층 또는 상기 니켈-아연 합금층의 니켈 부착량과 아연 부착량의 비(=니켈의 부착량/아연의 부착량)가 1.5~10인 것이 바람직하다. 또한, 상기 니켈-아연 합금을 포함하는 층 또는 상기 니켈-아연 합금층의 니켈의 부착량은 0.5mg/㎡~500mg/㎡인 것이 바람직하고, 1mg/㎡~50mg/㎡인 것이 보다 바람직하다. 내열층 및/또는 방청층이 니켈-아연 합금을 포함하는 층인 경우, 스루홀이나 비어 홀 등의 내벽부가 디스미어액과 접촉했을 때에 동박과 수지 기판의 계면이 디스미어액에 잘 침식당하지 않고, 동박과 수지 기판의 밀착성이 향상한다.As the heat-resistant layer and the rust-preventive layer, known heat-resistant layers and rust-preventive layers can be used. For example, the heat-resistant layer and / or the rust-preventive layer may be formed of a material selected from the group consisting of nickel, zinc, tin, cobalt, molybdenum, copper, tungsten, phosphorus, arsenic, chromium, vanadium, titanium, aluminum, gold, silver, Or a layer containing at least one element selected from the group consisting of nickel, zinc, tin, cobalt, molybdenum, copper, tungsten, phosphorus, arsenic, chromium, vanadium, titanium, aluminum, gold, silver, platinum group elements, May be a metal layer or an alloy layer composed of at least one element selected from the group of Further, the heat-resistant layer and / or the anticorrosion layer may contain an oxide, a nitride, or a silicide including the above-described elements. Further, the heat resistant layer and / or the rust preventive layer may be a layer containing a nickel-zinc alloy. Further, the heat resistant layer and / or the rust preventive layer may be a nickel-zinc alloy layer. The nickel-zinc alloy layer may contain 50 wt% to 99 wt% of nickel and 50 wt% to 1 wt% of zinc, except for unavoidable impurities. The total adhesion amount of zinc and nickel in the nickel-zinc alloy layer may be 5 to 1000 mg / m 2, preferably 10 to 500 mg / m 2, and preferably 20 to 100 mg / m 2. It is also preferable that the ratio of the nickel adhesion amount to the zinc adhesion amount (= adhesion amount of nickel / adhesion amount of zinc) of the nickel-zinc alloy layer or the nickel-zinc alloy layer is 1.5 to 10. The adhesion amount of the nickel-zinc alloy layer or nickel in the nickel-zinc alloy layer is preferably 0.5 mg / m 2 to 500 mg / m 2, more preferably 1 mg / m 2 to 50 mg / m 2. When the heat-resistant layer and / or the rust-preventive layer is a layer containing a nickel-zinc alloy, the interface between the copper foil and the resin substrate is not eroded well by the liquid when the inner wall of the through hole, the via hole, The adhesion between the copper foil and the resin substrate is improved.

예를 들면, 내열층 및/또는 방청층은 부착량이 1mg/㎡~100mg/㎡, 바람직하게는 5mg/㎡~50mg/㎡의 니켈 또는 니켈 합금층과, 부착량이 1mg/㎡~80mg/㎡, 바람직하게는 5mg/㎡~40mg/㎡의 주석층을 차례대로 적층한 것이어도 좋고, 상기 니켈 합금층은 니켈-몰리브덴 합금, 니켈-아연 합금, 니켈-몰리브덴-코발트 합금, 니켈-주석 합금의 어느 1종으로 구성되어도 좋다.For example, the heat-resistant layer and / or the rust-preventive layer may be formed of a nickel or nickel alloy layer having an adhesion amount of 1 mg / m2 to 100 mg / m2, preferably 5 mg / m2 to 50 mg / m2 and an adhesion amount of 1 mg / m2 to 80 mg / m2, M 2 to 40 mg / m 2, and the nickel alloy layer may be formed of a nickel-molybdenum alloy, a nickel-zinc alloy, a nickel-molybdenum-cobalt alloy, or a nickel-tin alloy It may be composed of one kind.

본 명세서에 있어서, 크로메이트 처리층이란 무수 크롬산, 크롬산, 중크롬산, 크롬산염 또는 중크롬산염을 포함하는 액으로 처리된 층을 말한다. 크로메이트 처리층은 Co, Fe, Ni, Mo, Zn, Ta, Cu, Al, P, W, Sn, As 및 Ti 등의 원소(금속, 합금, 산화물, 질화물, 황화물 등 어떠한 형태라도 좋다)를 포함해도 좋다. 크로메이트 처리층의 구체적인 예로는, 무수 크롬산 또는 중크롬산칼륨 수용액으로 처리한 크로메이트 처리층이나, 무수 크롬산 또는 중크롬산칼륨 및 아연을 포함하는 처리액으로 처리한 크로메이트 처리층 등을 들 수 있다.In the present specification, the chromate treatment layer refers to a layer treated with a liquid containing chromic acid anhydride, chromic acid, bichromic acid, chromic acid salt or dichromate. The chromate treatment layer contains elements (metals, alloys, oxides, nitrides, sulfides and the like) such as Co, Fe, Ni, Mo, Zn, Ta, Cu, Al, P, W, Sn, As and Ti Maybe. Specific examples of the chromate treatment layer include a chromate treatment layer treated with an aqueous solution of chromic anhydride or potassium dichromate, a chromate treatment layer treated with a treatment liquid containing chromic anhydride or potassium dichromate and zinc, and the like.

실란 커플링 처리층은, 공지의 실란 커플링제를 사용해 형성해도 좋고, 에폭시계 실란, 아미노계 실란, 메타크릴록시계 실란, 메르캅토계 실란, 비닐계 실란, 이미다졸계 실란, 트리아진계 실란 등의 실란 커플링제 등을 사용해서 형성해도 좋다. 또한, 이러한 실란 커플링제는 2종 이상 혼합해서 사용해도 좋다. 그 중에서도, 아미노계 실란 커플링제 또는 에폭시계 실란 커플링제를 이용해서 형성한 것이 바람직하다.The silane coupling treatment layer may be formed using a well-known silane coupling agent, or may be formed using an epoxy silane, an amino silane, a methacryloyl clock silane, a mercapto silane, a vinyl silane, an imidazole silane, a triazine silane, Of a silane coupling agent or the like. These silane coupling agents may be used in combination of two or more. Among them, it is preferable to use an amino-based silane coupling agent or an epoxy-based silane coupling agent.

또한, 동박, 표면 처리층, 내열층, 방청층, 실란 커플링 처리층 또는 크로메이트 처리층의 표면에, 예를 들면 국제 공개 번호 WO2008/053878, 일본 공개특허공보 2008-111169호, 일본 특허공보 제5024930호, 국제 공개 번호 WO2006/028207, 일본 특허공보 제4828427호, 국제 공개 번호 WO2006/134868, 일본 특허공보 제5046927호, 국제 공개 번호 WO2007/105635, 일본 특허공보 제5180815호, 일본 공개특허공보 2013-19056호에 기재한 표면 처리를 실시할 수 있다.The surface of the copper foil, the surface treatment layer, the heat resistant layer, the rust preventive layer, the silane coupling treatment layer or the chromate treatment layer may be coated with a surface treatment agent such as those described in International Publication Nos. WO2008 / 053878, Japanese Laid-open Patent Publication No. 5024930, International Publication Nos. WO2006 / 028207, Japanese Patent Publication No. 4828427, International Publication Nos. WO2006 / 134868, JP 5046927, WO2007 / 105635, JP 5180815, -19056 can be carried out.

[실시예][Example]

이하, 실시예 및 비교예에 근거하여 설명한다. 또한, 본 실시예는 어디까지나 일례이며, 이 예에만 제한되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described based on Examples and Comparative Examples. Note that this embodiment is merely an example, and is not limited to this example.

<1차 입자층 및 2차 입자층><Primary Particle Layer and Secondary Particle Layer>

우선, 표 1의 「동박기재의 조성」란에 기재한 조성을 가지는 잉곳을 용제하고, 이 잉곳을 900℃로부터 열간 압연하여 두께 10mm의 판을 얻었다. 그 후, 냉간압연과 소둔을 반복하고, 최종적으로 12㎛ 두께의 동박에 냉간압연하여, 압연 동박을 얻었다. 또한, 실시예 7의 전해 동박으로서 두께 9㎛의 제이엑스 금속 주식회사제 HLP박을 준비했다.First, the ingot having the composition shown in the column of &quot; Composition of the copper foil base material &quot; in Table 1 was melted and the ingot was hot-rolled from 900 DEG C to obtain a plate having a thickness of 10 mm. Thereafter, cold rolling and annealing were repeated, and finally, cold rolled to a copper foil having a thickness of 12 탆 to obtain a rolled copper foil. Further, as the electrolytic copper foil of Example 7, an HLP foil of 9 占 퐉 thick made by JE X-Metal Co., Ltd. was prepared.

또한, 표 1의 「동박기재의 조성」란의 TPC는 터프 피치동(JIS H3100 합금 번호 C1100), OFC는 무산소동(JIS H3100 합금 번호 C1020)을 의미한다. 즉, 예를 들면 실시예 2의 「190 ppm Ag-TPC」는 터프 피치동에 190질량ppm의 Ag를 첨가한 것을 의미한다. 또한, 예를 들면 실시예 4의 「1200 ppm Sn-OFC」는 무산소동에 1200질량ppm의 Sn을 첨가한 것을 의미한다.TPC in the "composition of the copper foil substrate" in Table 1 means tough pitch copper (JIS H3100 alloy number C1100) and OFC means oxygen-free copper (JIS H3100 alloy number C1020). That is, for example, "190 ppm Ag-TPC" in Example 2 means that 190 mass ppm of Ag is added to tough pitch copper. For example, "1200 ppm Sn-OFC" in Example 4 means 1200 mass ppm Sn added to oxygen-free copper.

계속해서, 상기 압연 동박의 표면 또는 상기 전해 동박의 매트면(석출면, M면) 측의 표면을 전해 탈지, 수세, 산세한 후, 각 동박기재의 상기 표면에 표 1에 나타내는 조건으로 1차 입자층 및/또는 2차 입자층을 형성했다. 표 1에 「1차 입자층 도금 전류 조건 A」 및 「1차 입자층 도금 전류 조건 B」가 기재된 실시예, 비교예는, A에 기재되어 있는 조건으로 도금을 실시한 후, B에 기재되어 있는 조건으로 추가로 도금을 실시한 것을 의미한다. 1차 입자층 및 2차 입자층을 형성하기 위한 도금액 조건은 표 1의 「1차 입자층 도금액 A」, 「1차 입자층 도금액 B」, 「2차 입자층 도금액」란 및 이하에 나타낸다. 예를 들면, 「1차 입자층 도금액 A」란에 (1)로 기재되어 있는 경우, 하기 「1차 입자층 A 형성 단계에서의 도금액 조건」의 「도금액(1)」을 이용하여 1차 입자층 A를 형성한 것을 의미한다.Subsequently, the surface of the rolled copper foil or the surface of the electrolytic copper foil on the side of the mat surface (precipitated surface, M side) was subjected to electrolytic degreasing, water washing and pickling, Thereby forming a particle layer and / or a secondary particle layer. In Examples and Comparative Examples in which "Primary Particle Layer Plating Current Condition A" and "Primary Particle Layer Plating Current Condition B" are listed in Table 1, the plating was performed under the conditions described in A, It means that plating is further performed. The conditions of the plating solution for forming the primary particle layer and the secondary particle layer are shown in Table 1 below in the "primary particle layer plating solution A", "primary particle layer plating solution B", "secondary particle layer plating solution" For example, when (1) is described in the column of &quot; primary particle layer plating solution A &quot;, the primary particle layer A is formed by using "plating solution (1)" of the "plating solution condition in primary particle layer A formation step" .

(1차 입자층 A 형성 단계에서의 도금액조건)(Plating solution condition in the primary particle layer A forming step)

·도금액(1)· Plating solution (1)

액 조성: 구리 11g/L, 황산 50g/LLiquid composition: copper 11 g / L, sulfuric acid 50 g / L

액온: 25℃Solution temperature: 25 ℃

pH: 1.0~2.0pH: 1.0 to 2.0

·도금액(2)· Plating solution (2)

액 조성: 구리 11g/L, 텅스텐 3mg/L, 황산 50g/LLiquid composition: copper 11 g / L, tungsten 3 mg / L, sulfuric acid 50 g / L

액온: 25℃Solution temperature: 25 ℃

pH: 1.0~2.0pH: 1.0 to 2.0

·도금액(3)· Plating solution (3)

액 조성: 구리 11g/L, 비소 100mg/L, 황산 50g/LLiquid composition: copper 11 g / L, arsenic 100 mg / L, sulfuric acid 50 g / L

액온: 25℃Solution temperature: 25 ℃

pH: 1.0~2.0pH: 1.0 to 2.0

·도금액(4)· Plating solution (4)

액 조성: 구리 11g/L, 티탄 6mg/L, 황산 50g/LLiquid composition: copper 11 g / L, titanium 6 mg / L, sulfuric acid 50 g / L

액온: 25℃Solution temperature: 25 ℃

pH: 1.0~2.0pH: 1.0 to 2.0

·도금액(5)· Plating solution (5)

액 조성: 구리 11g/L, 크롬 3mg/L, 황산 50g/LLiquid composition: copper 11 g / L, chromium 3 mg / L, sulfuric acid 50 g / L

액온: 25℃Solution temperature: 25 ℃

pH: 1.0~2.0pH: 1.0 to 2.0

(1차 입자층 B 형성 단계에서의 도금액조건)(Plating solution condition in the primary particle layer B formation step)

·도금액(1)· Plating solution (1)

액 조성: 구리 22g/L, 황산 100g/LLiquid composition: copper 22 g / L, sulfuric acid 100 g / L

액온: 50℃Solution temperature: 50 ° C

pH: 1.0~2.0pH: 1.0 to 2.0

(2차 입자층 형성 단계에서의 도금 조건)(Plating conditions in the secondary particle layer formation step)

·도금액(1)· Plating solution (1)

액 조성: 구리 15g/L, 니켈 8g/L, 코발트 8g/LLiquid composition: Copper 15 g / L, Nickel 8 g / L, Cobalt 8 g / L

액온: 36℃Solution temperature: 36 ℃

pH: 2.7pH: 2.7

·도금액(2)· Plating solution (2)

액 조성: 구리 15g/L, 니켈 8g/L, 인 1g/LLiquid composition: copper 15 g / L, nickel 8 g / L, phosphorus 1 g / L

액온: 36℃Solution temperature: 36 ℃

pH: 2~3pH: 2-3

·도금액(3)· Plating solution (3)

액 조성: 구리 15g/L, 니켈 8g/L, 코발트 8g/L, 몰리브덴 8g/LLiquid composition: Copper 15 g / L, Nickel 8 g / L, Cobalt 8 g / L, Molybdenum 8 g / L

액온: 36Temperature: 36

pH: 2~3pH: 2-3

·도금액(4)· Plating solution (4)

액 조성: 구리 15g/L, 니켈 8g/L, 텅스텐 3g/LLiquid composition: Copper 15 g / L, Nickel 8 g / L, Tungsten 3 g / L

액온: 36℃Solution temperature: 36 ℃

pH: 2~3pH: 2-3

·도금액(5)· Plating solution (5)

액 조성: 구리 15g/L, 몰리브덴 8g/L, 코발트 8g/LLiquid composition: copper 15 g / L, molybdenum 8 g / L, cobalt 8 g / L

액온: 36℃Solution temperature: 36 ℃

pH: 2~3pH: 2-3

<피복 도금>&Lt; Coating plating &

계속해서, 1차 입자층 만이 형성된 것은 1차 입자층 상에, 1차 입자층 및 2차 입자층이 형성된 것은 2차 입자층 상에, 표 1에 나타내는 피복 도금을 형성했다. 각각의 구체적인 조건을 이하에 기재한다.Subsequently, only the primary particle layer was formed on the primary particle layer in which the primary particle layer and the secondary particle layer were formed, on which the coated plating shown in Table 1 was formed on the secondary particle layer. Each specific condition will be described below.

(1) Ni층(1) Ni layer

도금액 조성:Ni 10g/LComposition of plating solution: Ni 10 g / L

pH:2.5pH: 2.5

온도:50℃Temperature: 50 ° C

전류 밀도(Dk):12A/d㎡Current density (Dk): 12 A / dm &lt; 2 &gt;

도금 시간:0.5초Plating time: 0.5 seconds

도금 횟수:2회Plating: 2 times

(2) Ni-Co 합금층(2) Ni-Co alloy layer

도금욕 조성:Ni 10g/L, Co 5g/LPlating bath composition: Ni 10 g / L, Co 5 g / L

pH:2.5pH: 2.5

온도:50℃Temperature: 50 ° C

전류 밀도(Dk):10A/d㎡Current density (Dk): 10 A / dm &lt; 2 &gt;

도금 시간:0.5초Plating time: 0.5 seconds

도금 횟수:2회Plating: 2 times

(3) Ni-Zn 합금층(3) Ni-Zn alloy layer

도금욕 조성:Ni 10g/L, Zn 5g/LPlating bath composition: Ni 10 g / L, Zn 5 g / L

pH:3.5pH: 3.5

온도:40℃Temperature: 40 ° C

전류 밀도(Dk):2A/d㎡Current density (Dk): 2A / dm &lt; 2 &gt;

도금 시간:1초Plating time: 1 second

도금 횟수:2회Plating: 2 times

<전해 크로메이트 처리><Electrolytic chromate treatment>

상기 피복 도금을 형성한 후, 실시예 1~7, 비교예 2, 3에서는 이하의 전해 크로메이트 처리를 실시했다.After the coated plating was formed, the following electrolytic chromate treatment was carried out in Examples 1 to 7 and Comparative Examples 2 and 3.

액 조성:중크롬산 칼륨 3g/L, Zn 0.5g/LLiquid composition: potassium dichromate 3 g / L, Zn 0.5 g / L

액온:40~60℃Solution temperature: 40 to 60 ° C

pH:4.0pH: 4.0

전류 밀도(Dk):2.0A/d㎡Current density (Dk): 2.0 A / dm &lt; 2 &gt;

도금 시간:0.6초Plating time: 0.6 seconds

도금 횟수:2회Plating: 2 times

<실란 커플링 처리>&Lt; Silane coupling treatment &gt;

실시예 1~7, 비교예 2, 3에서는 전해 크로메이트 처리를 실시한 후, 추가로 이하의 실란 커플링 처리를 실시했다.In Examples 1 to 7 and Comparative Examples 2 and 3, electrolytic chromate treatment was carried out, and further, the following silane coupling treatment was carried out.

실란 커플링제:N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란Silane coupling agent: N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane

실란 커플링제 농도:1.0vol%Silane coupling agent concentration: 1.0 vol%

처리 온도:25℃Processing temperature: 25 ° C

처리 시간:3초Processing time: 3 seconds

비교예 4는, 표 1에 나타내듯이, 상기 소정의 조건으로 1차 입자층 및 2차 입자층을 형성하는 대신, 표면을 조화시킨 압연 롤로 조질 압연한 표면을 대기 분위기에서 열산화 처리하고, 그 다음 1% CO를 포함하는 질소 분위기에서 가열 환원 처리했다.In Comparative Example 4, as shown in Table 1, instead of forming the primary particle layer and the secondary particle layer under the above-described predetermined conditions, the surface roughly roughened with a rolling roll was heat-oxidized in an atmospheric environment, % CO in a nitrogen atmosphere.

비교예 5는, 표 1에 나타내듯이, 상기 소정의 조건으로 1차 입자층 및 2차 입자층을 형성하는 대신, 다음 조건으로 차례대로 제1 Cu 도금, 제2 Cu 도금 및 제3 Cu 도금을 실시했다.In Comparative Example 5, as shown in Table 1, instead of forming the primary particle layer and the secondary particle layer under the above-described predetermined conditions, the first Cu plating, the second Cu plating, and the third Cu plating were carried out successively under the following conditions .

(제1 Cu 도금 조건)(First Cu plating condition)

도금욕 조성:Cu 150g/L~250g/L, 황산 100g/LPlating bath composition: Cu 150 g / L to 250 g / L, sulfuric acid 100 g / L

pH:1.0pH: 1.0

온도:40℃Temperature: 40 ° C

전류 밀도(Dk):5A/d㎡Current density (Dk): 5 A / dm &lt; 2 &gt;

도금 시간:7초Plating time: 7 seconds

도금 횟수:1회Plating: 1 time

(제2 Cu 도금 조건)(Second Cu plating condition)

도금욕 조성:Cu 50g/L~150g/L, 황산 130g/LPlating bath composition: Cu 50 g / L to 150 g / L, sulfuric acid 130 g / L

pH:1.0pH: 1.0

온도:25℃Temperature: 25 ℃

전류 밀도(Dk):40A/d㎡Current density (Dk): 40 A / dm 2

도금 시간:7초Plating time: 7 seconds

도금 횟수:1회Plating: 1 time

(제3 Cu 도금 조건)(Third Cu plating condition)

도금욕 조성:Cu 150g/L~250g/L, 황산 100g/LPlating bath composition: Cu 150 g / L to 250 g / L, sulfuric acid 100 g / L

pH:1.0pH: 1.0

온도:40℃Temperature: 40 ° C

전류 밀도(Dk):5A/d㎡Current density (Dk): 5 A / dm &lt; 2 &gt;

도금 시간:7초Plating time: 7 seconds

도금 횟수:1회Plating: 1 time

(10점 평균 조도(Rz)의 측정)(Measurement of ten-point average roughness (Rz)) [

각 실험예의 표면 처리 후의 동박에 대해서, 올림푸스사제 레이저 현미경 OLS4000으로 표면 조도(Rz)를 측정했다. Rz는 JIS B0601 1994에 준거한다. 대물렌즈 50배를 사용하여 동박 표면 관찰에서 평가 길이 258㎛, 절단치 제로의 조건으로, 압연 동박에 대해서는 압연 방향과 수직인 방향(TD)의 측정으로, 또는 전해 동박에 대해서는 전해 동박의 제조 장치에서의 전해 동박의 진행 방향과 수직인 방향(TD)의 측정으로, 각각 측정 위치를 바꾸어 10회 실시하여, 10회 측정에서의 평균값을 구했다. 또한, 레이저 현미경에 의한 표면 조도(Rz)의 측정 환경 온도는 23~25℃로 했다. 양면에 표면 처리층을 마련한 동박에 대해서는, 양면 모두 10점 평균 조도(Rz)가 같은 값이 되었다.The surface roughness (Rz) of the copper foil after the surface treatment in each of the experimental examples was measured with a laser microscope OLS4000 manufactured by Olympus. Rz is in accordance with JIS B0601 1994. The measurement was carried out by measuring the direction (TD) perpendicular to the rolling direction with respect to the rolled copper foil under the condition of an evaluation length of 258 탆 and a cutting edge by observing the surface of the copper foil using an objective lens 50 times, And the direction (TD) perpendicular to the traveling direction of the electrolytic copper foil at the measurement position was changed 10 times to obtain an average value in 10 measurements. The measurement environment temperature of the surface roughness (Rz) by the laser microscope was 23 to 25 占 폚. For the copper foil provided with the surface treatment layer on both sides, the 10-point average roughness (Rz) on both surfaces became the same value.

(산술 평균 조도(Ra)의 측정)(Measurement of arithmetic mean roughness (Ra)) [

각 실험예의 표면 처리 후의 동박에 대해서, 올림푸스사제 레이저 현미경 OLS4000으로 표면 조도(Ra)를 측정했다. Ra는 JIS B0601 1994에 준거한다. 대물렌즈 50배를 사용하여 동박 표면의 관찰에서 평가 길이 258㎛, 절단치 제로의 조건으로, 압연 동박에 대해서는 압연 방향과 수직인 방향(TD)의 측정으로, 또는 전해 동박에 대해서는 전해 동박의 제조 장치에서의 전해 동박의 진행 방향과 수직인 방향(TD)의 측정으로, 각각 측정 위치를 바꾸어 10회 실시하여, 10회 측정에서의 평균값을 구했다. 또한, 레이저 현미경에 의한 표면 조도(Ra)의 측정 환경 온도는 23~25℃로 했다. 양면에 표면 처리층을 마련한 동박에 대해서는, 양면 모두 산술 평균 조도(Ra)가 같은 값이 되었다.The surface roughness (Ra) of the copper foil after surface treatment in each of the experimental examples was measured with a laser microscope OLS4000 manufactured by Olympus. Ra is in accordance with JIS B0601 1994. (TD) perpendicular to the rolling direction with respect to the rolled copper foil under the condition of an evaluation length of 258 占 퐉 and a cutting edge by observing the surface of the copper foil using an objective lens 50 times or by the measurement of the electrolytic copper foil By measuring the direction (TD) perpendicular to the traveling direction of the electrolytic copper foil in the apparatus, the measuring positions were changed 10 times to obtain an average value in 10 measurements. The measurement environmental temperature of the surface roughness (Ra) measured by a laser microscope was 23 to 25 占 폚. With respect to the copper foil provided with the surface treatment layer on both sides, the arithmetic mean roughness (Ra) was the same on both sides.

(Co, Ni 및 그 외의 원소의 부착량 측정)(Measurement of deposition amount of Co, Ni and other elements)

Co, Ni 및 그 외의 원소의 부착량은 동박 샘플의 표면처리층을 농도 20질량%의 초산(硝酸) 수용액으로 용해하여 ICP 발광 분석으로 측정했다. 동박의 양면에 표면 처리층을 마련한 실시예, 비교예에서는, 한쪽 면에 내(耐)산 테이프 등의 마스킹을 하고, 한쪽 면의 표면 처리층을 용해하여 Co, Ni 및 그 외의 원소의 부착량을 측정했다. 그 후, 상술한 마스킹으로 다른 쪽 면에 대해서 Co, Ni 및 그 외의 원소의 부착량을 측정하든지, 혹은, 다른 샘플을 이용해서 다른 쪽 면의 Co, Ni 및 그 외의 원소의 부착량을 측정했다. 또한, 표 1에 기재한 값은 한쪽 면의 값으로 했다. 양면에 표면 처리층을 마련한 동박에 대해서는, 양면 모두 Co, Ni 및 그 외의 원소의 부착량이 같은 값이 되었다. 또한, Co, Ni 및 그 외의 원소가 농도 20질량%의 초산 수용액에 용해하지 않는 경우에는, Co, Ni 및 그 외의 원소를 용해시킬 수 있는 액을 이용하여 용해한 후에 상술한 ICP 발행 분석에 의해 측정을 실시해도 좋다. 또한, Co, Ni 및 그 외의 원소를 용해시킬 수 있는 액에는 공지의 액이나, 공지의 산성 액이나, 공지의 알칼리성 액을 이용해도 좋다.Co, Ni, and other elements were determined by ICP emission analysis by dissolving the surface treated layer of the copper foil sample in an aqueous solution of acetic acid (nitric acid) having a concentration of 20 mass%. In Examples and Comparative Examples in which the surface treatment layer was provided on both surfaces of the copper foil, one surface was masked with an anti-acid tape or the like, and the surface treatment layer on one surface was dissolved to adjust the adhesion amount of Co, Ni, Respectively. Thereafter, the amount of Co, Ni and other elements deposited on the other side was measured by the masking described above, or the amounts of Co, Ni and other elements deposited on the other side were measured using other samples. In addition, the values shown in Table 1 were values on one side. With respect to the copper foil provided with the surface treatment layer on both surfaces, the adhesion amounts of Co, Ni and other elements on both surfaces became the same value. When Co, Ni and other elements do not dissolve in an aqueous acetic acid solution having a concentration of 20 mass%, it is dissolved by using a solution capable of dissolving Co, Ni and other elements, and then measured by ICP issuance analysis . In addition, as the solution capable of dissolving Co, Ni and other elements, a known solution, a known acid solution, or a known alkaline solution may be used.

(입자 탈락 평가)(Particle drop evaluation)

(1) 테이프 테스트(1) Tape testing

표면 처리 동박의 표면 처리된 쪽 표면상에 투명한 멘딩 테이프를 붙이고, 이 테이프를 180° 방향으로 벗겼을 때에 테이프 점착면에 부착하는 탈락 입자에 의해 테이프가 변색하는 모습에서 분말이 떨어지는 것을 평가했다. 테이프의 변색이 없는 경우는 「◎」, 회색이 되는 경우는 「○」, 테이프가 검게 변색하는 경우는 「×」이라고 했다.A transparent mending tape was stuck on the surface-treated side of the surface-treated copper foil, and when the tape was peeled off in the direction of 180 DEG, the falling of the powder due to the discoloring particles adhering to the tape sticking surface was evaluated. Quot ;, &quot;? &Quot;, &quot;? &Quot;, and &quot; x &quot; when the tape turns black.

(2) 반송 롤 확인(2) Checking the transport roll

2차 전지의 제조 공정에서는, 집전체용 동박 위에 전극 활물질을 코팅할 때에, 롤투롤 반송 라인이 사용된다. 그 때문에 반송 라인의 롤 위에 집전체용 동박 표면 처리의 조화 입자의 탈락이 발생하는 것은 문제가 된다. 집전체용 동박의 제품 폭을 조정하기 위해서 사용하는 슬릿 라인 장치를 사용하여, 반송용 롤은 동박 반송의 수천 미터마다 한 번 청소하는 경우가 많지만, 롤의 오염 상태에 따라서 수율을 평가했다. 롤이 거의 더러워지지 않은 상태를 「◎」, 약간 고착이 보이는 상태를 「○」, 롤이 현저하게 더러워져 있는 상태를 「×」라고 했다.In the manufacturing process of the secondary battery, when the electrode active material is coated on the copper foil for current collector, a roll-to-roll transfer line is used. For this reason, it is a problem that the coarse grains of the copper foil surface treatment for current collector fall off on the roll of the conveying line. The yield of the conveying roll was evaluated according to the contamination state of the roll, although the conveying roll was often cleaned once every several thousands meters of the conveying of the copper foil by using the slit line device used for adjusting the product width of the copper foil for collectors. The state in which the roll was hardly dirty was indicated by &quot; &quot;, the state in which the fixing was slightly observed was indicated by &quot; &quot;, and the state in which the roll was remarkably dirty was indicated by &quot;

(활물질과의 밀착성 평가)(Evaluation of adhesion with active material)

활물질과의 밀착성은, 이하의 순서에 따라서 평가했다.The adhesion with the active material was evaluated according to the following procedure.

(1) 평균지름 9㎛의 인공 흑연과 폴리염화비닐리덴을 중량비 1:9로 혼합하고, 이것을 용제 N-메틸-2-피롤리돈에 분산시킨다.(1) Artificial graphite having an average diameter of 9 占 퐉 and polyvinylidene chloride were mixed at a weight ratio of 1: 9 and dispersed in solvent N-methyl-2-pyrrolidone.

(2) 동박의 표면에 상기 활물질을 도포한다.(2) The active material is applied to the surface of the copper foil.

(3) 활물질을 도포한 동박을 건조기에서 90℃×30분 동안 가열한다. 또한, 이 때에는 실란 커플링제는 구리 표면에 OH기가 결합되어 있지 않기 때문에, 미반응의 실란 커플링제와의 탈수 반응에 의해 구리 표면과 반응하는 경우는 거의 없다.(3) The copper foil coated with the active material is heated in a drier at 90 占 폚 for 30 minutes. At this time, the silane coupling agent hardly reacts with the copper surface due to the dehydration reaction with the unreacted silane coupling agent because the OH group is not bonded to the copper surface.

(4) 건조 후, 20 mm 각으로 잘라내어, 1.5톤/m㎡×20초 동안 하중을 가한다.(4) After drying, cut into 20 mm square and apply a load of 1.5 ton / m ㎡ × 20 seconds.

(5) 상기 샘플을 커터로 격자 모양으로 베어낸 자국을 형성하여, 시판하는 점착 테이프(셀로 테이프(등록상표))를 붙이고, 무게 2kg의 롤러를 두어 1번 왕복시켜서 점착 테이프를 압착한다.(5) A mark formed by cutting the sample with a cutter in a lattice shape is formed, a commercially available adhesive tape (Cellotape (registered trademark)) is attached, and a roller having a weight of 2 kg is placed and reciprocated once to press the adhesive tape.

(6) 점착 테이프를 벗기고, 동박상에 잔존한 활물질은 표면의 화상을 PC에 도입하여, 이진화로 구리 표면의 금속 광택 부분과 활물질이 잔존하는 흑색 부분을 구별하여 활물질의 잔존율을 산출했다. 잔존율은 각 샘플 3개의 평균값으로 했다. 활물질 밀착성의 판정은 잔존율 50% 미만을 「×」, 50% 이상 70% 미만을 「△」, 70% 이상 80% 미만을 「○」, 80% 이상 90% 미만을 「◎」, 90% 이상을 「◎◎」이라고 했다.(6) The adhesive tape was peeled off, and the surface image of the active material remained on the copper foil was introduced into the PC to distinguish the metallic luster portion of the copper surface from the black portion where the active material remained by binarization, and the residual ratio of the active material was calculated. The residual ratio was the average value of three samples. , &Quot;? &Quot;, &quot;? &Quot;, &quot;? &Quot;, and &quot; The above was called "◎ ◎".

(내열 평가)(Heat resistance evaluation)

표면 처리 동박을 20cm×20cm 크기로 절단한 후, 300℃로 가열한 오븐 중에 동박 절단 샘플을 투입하여, 15초 경과 후에 동박 샘플을 오븐에서 꺼내어 표면 처리의 산화 변색 정도를 평가했다. 산화 변색이 전혀 발생하지 않은 것을 「○」, 20cm×20cm 크기의 3할 미만으로 검게 산화 변색이 발생한 것을 「△」, 3할 이상으로 검게 산화 변색이 발생한 것을 「×」로 했다.The surface-treated copper foil was cut into a size of 20 cm x 20 cm, and then the copper foil cut sample was put into an oven heated to 300 캜. After 15 seconds passed, the copper foil sample was taken out of the oven to evaluate the oxidative discoloration degree of the surface treatment. , &Quot;? &Quot;, &quot;? &Quot;, &quot; C &quot;, and &quot; x &quot;

[표 1-1][Table 1-1]

Figure pat00001
Figure pat00001

[표 1-2][Table 1-2]

Figure pat00002
Figure pat00002

(평가 결과)(Evaluation results)

실시예 1~14는 모두 입자 탈락 평가가 좋고, 활물질과의 밀착성이 좋으며, 내열성도 양호했다.In all of Examples 1 to 14, particle drop evaluation was good, adhesion with active material was good, and heat resistance was good.

비교예 1은 2차 입자층을 마련하지 않았기 때문에, 10점 평균 조도(Rz) 및 산술 평균 조도(Ra)가 소정의 범위에서 벗어나고, 그로 인해 입자 탈락 평가, 밀착성이 모두 불량이었다. 또한, 2차 입자층을 형성하지 않고, 피복 도금도 마련하지 않았기 때문에 내열성도 불량이었다.In Comparative Example 1, since the secondary particle layer was not provided, the 10-point average roughness (Rz) and the arithmetic mean roughness (Ra) deviated from a predetermined range, and therefore, both the dropout evaluation and the adhesion were all poor. Further, since the secondary particle layer was not formed and no coating was provided, the heat resistance was also poor.

비교예 2는 1차 입자층을 마련하지 않았기 때문에, 10점 평균 조도(Rz)가 소정의 범위에서 벗어나고, 그로 인해 입자 탈락 평가, 밀착성이 모두 불량이었다.In Comparative Example 2, since the primary particle layer was not provided, the 10-point average roughness (Rz) deviated from the predetermined range, and therefore, the dropout evaluation and adhesion were all poor.

비교예 3은 1차 입자층 및 2차 입자층을 마련했지만, 10점 평균 조도(Rz) 및 산술 평균 조도(Ra)가 소정의 범위에서 벗어났기 때문에, 밀착성의 평가는 「△」에 머물렀다.In Comparative Example 3, the primary particle layer and the secondary particle layer were provided. However, since the 10-point average roughness (Rz) and the arithmetic mean roughness (Ra) were out of the predetermined range, the evaluation of the adhesion remained at?.

비교예 4는 10점 평균 조도(Rz)가 소정의 범위 내이지만, 압연 처리만으로는 1차 입자층 및 2차 입자층을 차례대로 형성할 수 없기 때문에, 밀착성이 불충분했다. 또한, 피복 도금층도 마련하지 않았기 때문에 내열성능이 불량했다.In Comparative Example 4, the 10-point average roughness (Rz) was within a predetermined range, but the adhesion was insufficient because the primary particle layer and the secondary particle layer could not be formed sequentially by the rolling treatment alone. In addition, since no coated plating layer was provided, the heat resistance was poor.

비교예 5는 10점 평균 조도(Rz)가 소정의 범위 내이지만, 이러한 도금 조건에서는 1차 입자층 및 2차 입자층을 차례대로 형성할 수 없기 때문에, 입자 탈락 테스트 결과가 바람직하지 않고, 밀착성이 불충분했다.In Comparative Example 5, the 10-point average roughness (Rz) was within the predetermined range. However, since the primary particle layer and the secondary particle layer can not be formed sequentially in this plating condition, the result of particle drop test is not preferable, did.

Claims (28)

동박; 및
상기 동박 중 적어도 일방의 표면 측에 표면 처리층을 가지고,
상기 표면 처리층은 1차 입자층, 2차 입자층을 가지며,
상기 표면 처리 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 1.8㎛ 이상인,
전지용 표면 처리 동박.
Copper foil; And
A surface treatment layer on the surface side of at least one of the copper foils,
Wherein the surface treatment layer has a primary particle layer and a secondary particle layer,
Wherein the surface-treated surface has a 10-point average roughness (Rz) of 1.8 占 퐉 or more when measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994,
Copper foil for surface treatment of batteries.
제1항에 있어서,
상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)가 0.26㎛ 이상인 전지용 표면 처리 동박.
The method according to claim 1,
Wherein the surface treatment layer surface has an arithmetic mean roughness (Ra) of 0.26 탆 or more when measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994.
제1항에 있어서,
상기 1차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
The method according to claim 1,
Wherein the primary particle layer comprises at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn.
제2항에 있어서,
상기 1차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
3. The method of claim 2,
Wherein the primary particle layer comprises at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn.
제1항에 있어서,
상기 2차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
The method according to claim 1,
Wherein the secondary particle layer comprises at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn.
제2항에 있어서,
상기 2차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
3. The method of claim 2,
Wherein the secondary particle layer comprises at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn.
제3항에 있어서,
상기 2차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
The method of claim 3,
Wherein the secondary particle layer comprises at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn.
제4항에 있어서,
상기 2차 입자층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
5. The method of claim 4,
Wherein the secondary particle layer comprises at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계 100㎍/d㎡ 이상 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the surface treatment layer comprises at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn in a total surface area of 100 mu g / Copper foil.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계 10000㎍/d㎡ 이하 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the surface treatment layer comprises at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P and Sn in a total amount of 10000 / / Copper foil.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리층이 Ni을 포함하고, Ni의 부착량이 100㎍/d㎡ 이상인 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the surface treatment layer contains Ni and the adhesion amount of Ni is 100 占 퐂 / dm2 or more.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리층이 Ni을 포함하고, Ni의 부착량이 4500㎍/d㎡ 이하인 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the surface treatment layer contains Ni and the adhesion amount of Ni is 4500 占 퐂 / dm2 or less.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리층이 Co를 포함하고, Co의 부착량이 100㎍/d㎡ 이상인 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the surface treatment layer contains Co and the amount of Co is 100 mu g / dm &lt; 2 &gt; or more.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리층이 Co를 포함하고, Co의 부착량이 6000㎍/d㎡ 이하인 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the surface treatment layer contains Co and the amount of Co deposited is 6000 占 퐂 / dm2 or less.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 1차 입자층이 Cu로 이루어지는 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the primary particle layer is made of Cu.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 2차 입자층이 Cu, Co, Ni로 이루어지는 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the secondary particle layer is made of Cu, Co, and Ni.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
이하의 (17-1)~(17-8)의 어느 1개 또는 2개 또는 3개 또는 4개 또는 5개 또는 6개 또는 7개 또는 8개를 만족시키는 전지용 표면 처리 동박.
(17-1) 상기 표면 처리층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계 100㎍/d㎡ 이상 포함한다
(17-2) 상기 표면 처리층은 Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, P 및 Sn으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계 10000㎍/d㎡ 이하 포함한다
(17-3) 상기 표면 처리층이 Ni을 포함하고, Ni의 부착량이 100㎍/d㎡ 이상이다
(17-4) 상기 표면 처리층이 Ni을 포함하고, Ni의 부착량이 4500㎍/d㎡ 이하이다
(17-5) 상기 표면 처리층이 Co를 포함하고, Co의 부착량이 100㎍/d㎡ 이상이다
(17-6) 상기 표면 처리층이 Co를 포함하고, Co의 부착량이 6000㎍/d㎡ 이하이다
(17-7) 상기 1차 입자층이 Cu로 이루어진다
(17-8) 상기 2차 입자층이 Cu, Co, Ni로 이루어진다
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
The surface treated copper foil for a battery satisfies any one or two or three or four or five or six or seven or eight of the following (17-1) to (17-8).
(17-1) The surface-treated layer contains at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, Include
(17-2) The surface treatment layer may contain at least one selected from the group consisting of Cu, W, Ti, As, V, Mo, Ni, Co, Cr, Zn, Include
(17-3) The surface treatment layer contains Ni and the adhesion amount of Ni is 100 占 퐂 / dm2 or more
(17-4) The surface treatment layer contains Ni and the adhesion amount of Ni is 4500 占 퐂 / dm2 or less
(17-5) The method according to (17-5), wherein the surface treatment layer contains Co and the adhesion amount of Co is 100 占 퐂 /
(17-6) the surface treatment layer contains Co, and the amount of deposited Co is 6000 占 퐂 / dm2 or less
(17-7) The primary particle layer is made of Cu
(17-8) The secondary particle layer is made of Cu, Co, Ni
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
이하의 (18-1) 및 (18-2) 중 어느 1개 또는 2개를 만족시키는 전지용 표면 처리 동박.
(18-1) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 이하의 (18-1-1) 및 (18-1-2) 중 어느 1개 또는 2개를 만족시킨다
(18-1-1) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 이하의 어느 1개를 만족시킨다
·1.9㎛ 이상이다
·2.0㎛ 이상이다
·2.1㎛ 이상이다
(18-1-2) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 이하의 어느 1개를 만족시킨다
·10㎛ 이하이다
·8㎛ 이하이다
·5㎛ 이하이다
·3.30㎛ 이하이다
·3.20㎛ 이하이다
·3.10㎛ 이하이다
·3.05㎛ 이하이다
·2.85㎛ 이하이다
(18-2) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)가 이하의 (18-2-1) 및 (18-2-2) 중 어느 1개 또는 2개를 만족시킨다
(18-2-1) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)가 이하의 어느 1개를 만족시킨다
·0.28㎛ 이상이다
·0.30㎛ 이상이다
·0.32㎛ 이상이다
(18-2-2) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)가 이하의 어느 1개를 만족시킨다
·5.0㎛ 이하이다
·4.5㎛ 이하이다
·4.0㎛ 이하이다
·3.5㎛ 이하이다
·3.0㎛ 이하이다
·2.5㎛ 이하이다
·2.0㎛ 이하이다
·1.5㎛ 이하이다
·1.0㎛ 이하이다
·0.45㎛ 이하이다
·0.44㎛ 이하이다
·0.41㎛ 이하이다
·0.40㎛ 이하이다
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
A surface-treated copper foil for a battery satisfying any one or two of the following (18-1) and (18-2).
(18-1) The 10-point average roughness (Rz) when the surface treatment layer surface is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 is as follows: 18-1-1 and 18 -1-2) &lt; / RTI &gt;
(18-1-1) The 10-point average roughness (Rz) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 satisfies any one of the following
· It is more than 1.9㎛
· It is 2.0 μm or more
· It is more than 2.1㎛
(18-1-2) The 10-point average roughness (Rz) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 satisfies any one of the following
· 10 μm or less
· 8 μm or less
· 5 μm or less
3.30 μm or less
· It is less than 3.20㎛
· Less than 3.10 μm
· Less than 3.05 μm
2.85 μm or less
(18-2) The arithmetic mean roughness (Ra) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994 is (18-2-1) and (18-2-1) 2-2) &lt; / RTI &gt;
(18-2-1) The arithmetic average roughness (Ra) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope having a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 satisfies any one of the following
· It is more than 0.28 μm
· It is more than 0.30 μm
· It is more than 0.32 μm
(18-2-2) Arithmetic mean roughness (Ra) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 satisfies any one of the following
· It is 5.0 μm or less
· 4.5 μm or less
· It is 4.0 μm or less
· Less than 3.5 μm
· It is 3.0 μm or less
· Less than 2.5 μm
· Not more than 2.0 μm
· It is 1.5 μm or less
· It is not more than 1.0 μm
· 0.45 μm or less
· 0.44 μm or less
· 0.41 μm or less
· It is not more than 0.40 μm
제17항에 있어서,
이하의 (19-1) 및 (19-2) 중 어느 1개 또는 2개를 만족시키는 전지용 표면 처리 동박.
(19-1) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 이하의 (19-1-1) 및 (19-1-2) 중 어느 1개 또는 2개를 만족시킨다
(19-1-1) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 이하의 어느 1개를 만족시킨다
·1.9㎛ 이상이다
·2.0㎛ 이상이다
·2.1㎛ 이상이다
(19-1-2) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 10점 평균 조도(Rz)가 이하의 어느 1개를 만족시킨다
·10㎛ 이하이다
·8㎛ 이하이다
·5㎛ 이하이다
·3.30㎛ 이하이다
·3.20㎛ 이하이다
·3.10㎛ 이하이다
·3.05㎛ 이하이다
·2.85㎛ 이하이다
(19-2) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)가 이하의 (19-2-1) 및 (19-2-2) 중 어느 1개 또는 2개를 만족시킨다
(19-2-1) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)가 이하의 어느 1개를 만족시킨다
·0.28㎛ 이상이다
·0.30㎛ 이상이다
·0.32㎛ 이상이다
(19-2-2) 상기 표면 처리층 표면을 JIS B0601 1994에 준거하여, 파장 405nm의 레이저 현미경을 이용해서 측정했을 때의 산술 평균 조도(Ra)가 이하의 어느 1개를 만족시킨다
·5.0㎛ 이하이다
·4.5㎛ 이하이다
·4.0㎛ 이하이다
·3.5㎛ 이하이다
·3.0㎛ 이하이다
·2.5㎛ 이하이다
·2.0㎛ 이하이다
·1.5㎛ 이하이다
·1.0㎛ 이하이다
·0.45㎛ 이하이다
·0.44㎛ 이하이다
·0.41㎛ 이하이다
·0.40㎛ 이하이다
18. The method of claim 17,
A surface-treated copper foil for a battery satisfying any one or two of the following (19-1) and (19-2).
(19-1) The 10-point average roughness (Rz) when the surface treatment layer surface is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994 is (19-1-1) and -1-2) &lt; / RTI &gt;
(19-1-1) The 10-point average roughness (Rz) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 satisfies any one of the following
· It is more than 1.9㎛
· It is 2.0 μm or more
· It is more than 2.1㎛
(19-1-2) The 10-point average roughness (Rz) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 satisfies any one of the following
· 10 μm or less
· 8 μm or less
· 5 μm or less
3.30 μm or less
· It is less than 3.20㎛
· Less than 3.10 μm
· Less than 3.05 μm
2.85 μm or less
(19-2) The arithmetic mean roughness (Ra) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm in accordance with JIS B0601 1994 is (19-2-1) and (19-2-1) 2-2) &lt; / RTI &gt;
(19-2-1) The arithmetic mean roughness (Ra) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 satisfies any one of the following
· It is more than 0.28 μm
· It is more than 0.30 μm
· It is more than 0.32 μm
(19-2-2) Arithmetic mean roughness (Ra) when the surface of the surface treatment layer is measured using a laser microscope with a wavelength of 405 nm according to JIS B0601 1994 satisfies any one of the following
· It is 5.0 μm or less
· 4.5 μm or less
· It is 4.0 μm or less
· Less than 3.5 μm
· It is 3.0 μm or less
· Less than 2.5 μm
· Not more than 2.0 μm
· It is 1.5 μm or less
· It is not more than 1.0 μm
· 0.45 μm or less
· 0.44 μm or less
· 0.41 μm or less
· It is not more than 0.40 μm
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 동박이 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계로 5질량ppm 이상 0.3질량% 이하 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the copper foil is at least one selected from the group consisting of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, 5 mass ppm or more and 0.3 mass% or less.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 동박이 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계로 5질량ppm 이상 300질량ppm 이하 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the copper foil is at least one selected from the group consisting of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, 5 mass ppm or more and 300 mass ppm or less.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 동박이 In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, B 및 Mg로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 합계로 301질량ppm 이상 0.3질량% 이하 포함하는 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the copper foil is at least one selected from the group consisting of In, Au, Pd, Ag, Cr, Fe, P, Ti, Sn, Zn, Mn, Mo, Co, Ni, Si, Zr, A surface-treated copper foil for a battery comprising 301 mass ppm or more and 0.3 mass% or less.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리층이, 상기 2차 입자층 상에 추가로 내열층, 방청층, 크로메이트 처리층, 실란 커플링 처리층, 도금층, 수지층으로 이루어지는 군으로부터 선택된 1종 이상의 층을 가지는 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the surface treatment layer further comprises at least one layer selected from the group consisting of a heat resistant layer, a rust prevention layer, a chromate treatment layer, a silane coupling treatment layer, a plating layer and a resin layer on the secondary particle layer.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
2차 전지용인, 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
A surface - treated copper foil for a secondary battery.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
2차 전지 집전체용인, 전지용 표면 처리 동박.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Copper foil for surface treatment of batteries for secondary batteries.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 기재된 전지용 표면 처리 동박을 가지는 집전체.9. A current collector having a surface-treated copper foil for a battery according to any one of claims 1 to 8. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 기재된 전지용 표면 처리 동박을 가지는 전극.9. An electrode having a surface-treated copper foil for a battery according to any one of claims 1 to 8. 이하의 (28-1)~(28-3) 중 어느 1개를 가지는 전지.
(28-1) 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 기재된 전지용 표면 처리 동박,
(28-2) 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 기재된 전지용 표면 처리 동박을 가지는 집전체,
(28-3) 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 기재된 전지용 표면 처리 동박을 가지는 전극.
A battery having any one of the following (28-1) to (28-3).
(28-1) The surface-treated copper foil for a battery according to any one of claims 1 to 8,
(28-2) A current collector having a surface-treated copper foil for a battery according to any one of claims 1 to 8,
(28-3) An electrode having a surface-treated copper foil for a battery according to any one of claims 1 to 8.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021125410A1 (en) * 2019-12-19 2021-06-24 일진머티리얼즈 주식회사 Surface-treated copper foil, method for producing same, and negative electrode for secondary battery including same

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10581081B1 (en) 2019-02-01 2020-03-03 Chang Chun Petrochemical Co., Ltd. Copper foil for negative electrode current collector of lithium ion secondary battery
JP6726780B1 (en) * 2019-03-04 2020-07-22 ナミックス株式会社 Copper foil, negative electrode current collector for lithium ion battery including the same, and method for producing the same
CN109877470A (en) * 2019-03-19 2019-06-14 东华大学 A kind of preparation method of lithium ion battery porous copper foil
JP2023040316A (en) * 2020-02-21 2023-03-23 三井金属鉱業株式会社 Surface-treated metallic foil and metal clad laminate

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3733067B2 (en) 1999-10-22 2006-01-11 三洋電機株式会社 Lithium battery electrode and lithium secondary battery
KR20120098818A (en) * 2010-01-25 2012-09-05 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 Copper foil for secondary battery negative electrode power collector
KR20150070380A (en) * 2012-11-09 2015-06-24 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 Surface-treated copper foil and laminate using same, copper-clad laminate, printed circuit board, and electronic device
KR20160119269A (en) * 2010-06-28 2016-10-12 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 Electrolytic copper foil, electrolytic copper foil for lithium ion secondary battery, electrode for lithium ion secondary battery using the electrolytic copper foil, and lithium ion secondary battery using the electrode

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7476449B2 (en) * 2003-02-27 2009-01-13 Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. Electromagnetic shielding copper foil, method of production thereof and electromagnetic shield
JP5080719B2 (en) * 2004-06-10 2012-11-21 三井金属鉱業株式会社 Metal foil with carrier foil, method for producing metal foil with carrier foil, and current collector of non-aqueous electrolyte secondary battery using the metal foil with carrier foil
WO2008078755A1 (en) * 2006-12-27 2008-07-03 Panasonic Corporation Cell, electrode, and collector used in them
JP5090028B2 (en) * 2007-03-16 2012-12-05 福田金属箔粉工業株式会社 Copper foil for negative electrode current collector of lithium secondary battery and method for producing the same
JP2009215604A (en) * 2008-03-10 2009-09-24 Hitachi Cable Ltd Copper foil and manufacturing method thereof
JP2010103061A (en) * 2008-10-27 2010-05-06 Hitachi Cable Ltd Negative electrode copper alloy foil of secondary battery and manufacturing method for the same
JP5448616B2 (en) * 2009-07-14 2014-03-19 古河電気工業株式会社 Copper foil with resistance layer, method for producing the copper foil, and laminated substrate
JP4948654B2 (en) * 2010-03-01 2012-06-06 古河電気工業株式会社 Copper foil for negative electrode current collector of lithium ion secondary battery, manufacturing method thereof, negative electrode of lithium ion secondary battery, manufacturing method thereof
CN102884660A (en) * 2010-03-01 2013-01-16 古河电气工业株式会社 Surface treatment method for copper foil, surface treated copper foil and copper foil for negative electrode collector of lithium ion secondary battery
KR101823187B1 (en) * 2010-12-27 2018-01-29 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 Lithium-ion secondary battery, electrode for secondary battery, and electrolytic copper foil for secondary battery electrode
WO2013047272A1 (en) * 2011-09-30 2013-04-04 Jx日鉱日石金属株式会社 Copper foil excellent in adhesion with resin, method for manufacturing same, and printed wiring board or battery negative electrode material using electrolytic copper foil
MY169065A (en) * 2012-03-29 2019-02-12 Jx Nippon Mining & Metals Corp Surface-treated copper foil
JP6172083B2 (en) * 2014-08-04 2017-08-02 トヨタ自動車株式会社 Lithium solid state secondary battery and manufacturing method thereof

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3733067B2 (en) 1999-10-22 2006-01-11 三洋電機株式会社 Lithium battery electrode and lithium secondary battery
KR20120098818A (en) * 2010-01-25 2012-09-05 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 Copper foil for secondary battery negative electrode power collector
KR20160119269A (en) * 2010-06-28 2016-10-12 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 Electrolytic copper foil, electrolytic copper foil for lithium ion secondary battery, electrode for lithium ion secondary battery using the electrolytic copper foil, and lithium ion secondary battery using the electrode
KR20150070380A (en) * 2012-11-09 2015-06-24 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 Surface-treated copper foil and laminate using same, copper-clad laminate, printed circuit board, and electronic device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021125410A1 (en) * 2019-12-19 2021-06-24 일진머티리얼즈 주식회사 Surface-treated copper foil, method for producing same, and negative electrode for secondary battery including same

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