KR20180062815A - 측정시퀀스를 이용한 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스 - Google Patents

측정시퀀스를 이용한 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스 Download PDF

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Abstract

본 개시에 2차 전지 시험 방법은, 측정시퀀스를 생성하는 단계, 생성한 측정시퀀스를 2차전지 측정장치로 전달하는 단계, 2차전지 측정장치로부터 측정된 2차전지의 측정데이터를 전달받는 단계, 및 전달받은 측정데이터를 메타데이터로 생성하는 단계를 포함한다.

Description

측정시퀀스를 이용한 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스{Method and Control Device for testing secondary cell battery using measurement sequence}
본 개시는 측정시퀀스를 이용한 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스에 관한 것이다.
최근 니카드, 니켈수소, 리튬이온, 리튬폴리머 전지등 2차 전지의 보급이 늘어나고 있다. 2차 전지의 특성을 평가하기 위하여 다양한 시험이 행해지고 있다. 2차전지의 충방전 시험, 개방전압 안정화 시험은 많은 시간을 요구할 뿐더러, 측정데이터의 양 또한 방대하여 데이터 처리 및 유의미한 시험결과를 추출하기 까지 많은 시간이 소요된다. 또한, 2차 전지 특성을 평가하기 위하여 여러 시험 항목에 대한 측정이 요구되고 있다. 따라서, 2차 전지의 특성을 빠르고 용이하게 측정하기 위한 2차 전지 시험 방법에 관한 연구가 계속되고 있다.
본 개시는 측정시퀀스를 이용한 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스 를 제공하고자 한다. 본 개시에서는 여러 가지 종류의 2차 전지 측정 시험을 측정 시퀀스의 형태로 조합하여 측정 기기가 자동으로 여러 시험 항목을 시퀀스적으로 수행할 수 있도록 하는 방법 및 제어 디바이스를 제공하고자 한다.
일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법은, 측정시퀀스를 생성하는 단계; 생성한 측정시퀀스를 2차전지 측정장치로 전달하는 단계; 2차전지 측정장치로부터 측정된 2차전지의 측정데이터를 전달받는 단계; 및 전달받은 측정데이터를 메타데이터로 생성하는 단계;를 포함한다.
상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는, 사용자 입력부를 통해 사용자가 시퀀스 블록을 선택하여 상기 측정시퀀스가 생성될 수 있다.
상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는, 사용자 입력부를 통해 사용자가 시퀀스 블록을 생성하여 상기 측정시퀀스가 생성될 수 있다.
상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는, 사용자 입력부를 통해 사용자가 시퀀스 유닛을 생성하여 상기 측정시퀀스가 생성되고, 상기 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함할 수 있다.
상기 사용자 입력부를 통해 시퀀스 유닛의 반복 회수가 입력될 수 있다.
상기 시퀀스 유닛은 제 1 시퀀스 유닛과 제 2 시퀀스 유닛을 포함하고, 제 1 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함하고, 제 2 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함할 수 있다.
상기 시퀀스 유닛은 2차 전지 시험 항목에 대응될 수 있다.
상기 2차 전지 시험 항목은 충방전 항목, 과도 응답 항목, 주파수 응답 항목, 개방 전압 항목, 충방전 사이클 항목 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는, 상기 사용자 입력부를 통해 상기 측정시퀀스의 반복 회수가 입력될 수 있다.
상기 시퀀스 블록은 2차전지의 시험 항목과 대응될 수 있다.
상기 2차전지의 시험 항목은 충전, 방전, 충방전, 주파수응답시험, 교류임피던스측정, 과도응답시험, 직류저항측정, 교류저항측정, 개방전압측정, 휴지, 사이클, 온도 변화 측정 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 메타데이터를 생성하는 단계는, 상기 측정데이터로부터 기설정된 특성인자에 대응하는 특성데이터를 추출하는 단계; 및 상기 특성인자 및 상기 특성데이터로부터 메타데이터를 생성하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 메타데이터는 전자파일로 생성될 수 있다.
일 실시예에 따른 제어 디바이스는, 통신부; 사용자의 명령어가 입력될 수 있는 사용자 입력부; 및 적어도 하나의 프로그램을 실행하고, 상기 사용자 입력부로부터의 사용자의 명령어에 따라 측정시퀀스를 생성하고, 생성된 측정 시퀀스를 상기 통신부를 통하여 외부로 전송하도록 하는 제어부;를 포함하고, 상기 적어도 하나의 프로그램은, 측정시퀀스를 생성하는 단계; 생성한 측정시퀀스를 2차전지 측정장치로 전달하는 단계; 2차전지 측정장치로부터 측정된 2차전지의 측정데이터를 전달받는 단계; 및 전달받은 측정데이터를 메타데이터로 생성하는 단계;를 실행하는 명령어들을 포함한다.
상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는, 상기 사용자 입력부를 통해 사용자가 시퀀스 블록을 선택하여 상기 측정시퀀스가 생성될 수 있다.
상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는, 상기 사용자 입력부를 통해 사용자가 시퀀스 유닛을 생성하여 상기 측정시퀀스가 생성되고, 상기 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함할 수 있다.
상기 사용자 입력부를 통해 시퀀스 유닛의 반복 회수가 입력될 수 있다.
상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는, 상기 사용자 입력부를 통해 상기 측정시퀀스의 반복 회수가 입력될 수 있다.
상기 메타데이터를 생성하는 단계는, 상기 측정데이터로부터 기설정된 특성인자에 대응하는 특성데이터를 추출하는 단계; 및 상기 특성인자 및 상기 특성데이터로부터 메타데이터를 생성하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 메타데이터는 전자파일로 생성될 수 있다.
상기 프로그램은, 상기 시퀀스 블록을 아이콘으로 상기 출력부에 시킬 수 있다.
상기 프로그램은, 상기 시퀀스 블록을 일렬로 배열하여 측정시퀀스를 생성하는 인터페이스를 제공할 수 있다.
상기 프로그램은, 상기 시퀀스 유닛을 생성하는 인터페이스를 제공할 수 있다.
상기 프로그램은, 상기 측정시퀀스의 반복회수를 지정할 수 있는 인터페이스를 제공할 수 있다.
상기 프로그램은, 상기 측정데이터를 그래프로 도시할 수 있다.
일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스는 다양한 종류의 2차 전지 시험 항목을 측정 시퀀스로 관리함으로써, 2차 전지 시험에서 요구되는 일련의 작업들을 자동화하고 규격화하여 용이하게 시험을 수행할 수 있다.
일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스는 여러 가지 종류의 2차 전지 시험 항목을 시퀀스 블록으로 아이콘화 하여 용이하게 2차 전지 특성을 시험할 수 있다.
일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스는 아이콘화된 시퀀스 블록을 배열하여 생성되는 측정 시퀀스를 이용하여 용이하게 2차 전지 특성을 시험할 수 있다.
일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스는 측정시퀀스가 복수의 시퀀스 블록을 포함하는 시퀀스 유닛을 포함하도록 하여 용이하게 2차 전지 특성을 시험할 수 있다. 반복 테스트가 필요한 경우 시퀀스 유닛 단위 별로 반복 테스트를 시행할 수 있다.
일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스는 측정 시퀀스를 생성, 제작, 저장, 편집 할 수 있도록 하여 2차 전지 특성 시험을 용이하게 수행할 수 있다.
일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스는 시험디바이스로부터 전달받은 측정 데이터로부터 메타데이터를 생성할 수 있어, 대용량의 측정데이터를 저장하거나 열람하지 않고도 메타데이터만으로도 시험과 관련된 유의미한 정보를 확인할 수 있다.
일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스는 시험디바이스로부터 전달받은 측정 데이터로부터 그래프를 도시할 수도 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 제어 디바이스 및 2차 전지 측정 장치의 블록도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 시퀀스 블록들을 나타내는 도면이다.
도 3은 일 실시예에 따른 측정 시퀀스를 나타내는 도면이다.
도 4는 일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법을 나타내는 순서도이다.
도 5는 일 실시예에 따른 측정시퀀스 생성방법을 나타내는 순서도이다.
도 6은 다른 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법을 나타내는 순서도이다.
도 7은 일 실시예에 따른 제어 디바이스의 출력부에서 도시되는 인터페이스를 나타낸 화면이다.
도 8은 일 실시예에 따른 제어 디바이스의 출력부에서 도시되는 그래프를 나타낸 화면이다.
도 9는 다른 실시예에 따른 제어 디바이스의 출력부에서 도시되는 그래프를 나타낸 화면이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여, 예시적인 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스에 대해 상세하게 설명한다. 도면상에서 각 구성요소의 크기는 설명의 명료성과 편의상 과장되어 있을 수 있다. 또한, 이하에 설명되는 실시예는 단지 예시적인 것에 불과하며, 이러한 실시예들로부터 다양한 변형이 가능하다. 이하에서, "전면" 이나 "앞"이라고 기재된 것은 접촉하여 바로 앞에 있는 것뿐만 아니라 비 접촉으로 전면부에 있는 것도 포함할 수 있다. 본 명세서에서 사용되는 제어부 및 메모리부의 용어는 각기 별도의 구성디바이스를 지칭하는 것이 아닌 각 역할을 수행하는 부를 지칭하는 것으로 단일 구성의 연산디바이스부가 제어부, 메모리부의 역할을 동시에 수행하는 것도 개념상 포함하는 용어일 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 제어 제어 디바이스(1000) 및 2차 전지 측정 장치(2000)의 블록도이다. 본 실시예에 따른 제어 제어 디바이스(1000)는 사용자 입력부(1100), 출력부(1200), 제어부(1300), 및 통신부(1500)를 포함할 수 있다.
사용자 입력부(1100)는, 사용자가 제어 디바이스(1000)를 제어하기 위한 데이터를 입력하는 수단을 의미한다. 예를 들어, 사용자 입력부(1100)에는 키보드(keyboard), 마우스(mouse), 키 패드(key pad), 돔 스위치 (dome switch), 터치 패드(접촉식 정전 용량 방식, 압력식 저항막 방식, 적외선 감지 방식, 표면 초음파 전도 방식, 적분식 장력 측정 방식, 피에조 효과 방식 등), 조그 휠, 조그 스위치 등이 있을 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
출력부(1200)는, 오디오 신호 또는 비디오 신호를 출력할 수 있다. 예를 들어, 출력부(1200)는 비디오 신호를 출력하는 출력부나 오디오 신호를 출력하는 음향 출력부를 포함할 수 있다.
제어부(1300)는 통상적으로 제어 디바이스(1000)의 전반적인 동작을 제어한다. 예를 들어, 제어부(1300)는 메모리(미도시)에 저장된 프로그램들을 실행함으로써, 사용자 입력부(1100), 출력부(1200), 통신부(1500) 등을 전반적으로 제어할 수 있다.
구체적으로 제어부(1300)는, 제어 디바이스(1000)에 설치된 측정시퀀스 관리 프로그램에 의해 제공되는 시퀀스 블록을 선택하여 측정시퀀스를 생성하거나 또는 사용자 입력부(1100)를 통한 사용자의 데이터를 입력받아 새로운 시퀀스 블록을 생성할 수 있다. 제어부(1300)는, 제어 디바이스(1000)에 설치된 측정시퀀스 관리 프로그램에 의해 상기 시퀀스 블록을 포함하는 측정시퀀스를 생성하여 통신부(1500)로 전달할 수 있다. 통신부는 측정시퀀스를 포함하는 제어 신호(I1)을 2차 전지 측정장치(2000)로 송신(I1)할 수 있다. 또한, 제어부(1300)는 측정시퀀스의 생성 과정 및 생성된 측정시퀀스를 출력부(1200)에 출력하여 사용자가 이를 실시간으로 확인하도록 할 수 있다.
시퀀스 블록은 각각의 2차 전지 측정 시험 내용과 대응하는 단위 유닛을 의미한다. 2차 전지 측정 시험은 예를 들어, 충방전 시험 항목, 주파수 응답 항목, 과도 응답 항목, 직류 저항 측정 항목, 교류 저항 측정 항목, 개방 전압 항목의 여섯가지 시험 항목을 포함할 수 있으며, 각 시험 항목 별로 구체적인 시험 내용을 포함할 수 있다. 예를 들어, 2차 전지의 구체적인 시험 내용은, 충전 용량, 방전 용량, 쿨롱 효율, 정전류 충전용량, 정전압 충전용량, 전류감쇠율, 방전중 최대 전력, 방전중 최저 전력, 에너지 총량, 충방전 효율, 복소 임피던스 측정값, 직류저항값, 교류저항값, 개방 전압값 등을 포함할 수 있다.
시퀀스 블록은 미리 준비되어 메모리(미도시)에 저장되어 있을 수 있다. 예를 들어, 제어부(1300)에서 기생성되어 있던 시퀀스 블록들을 메모리(미도시)로부터 읽어들여 출력부에 해당 시퀀스 블록들을 표시할 수 있다. 예를 들어, 프로그램은 2차 전지 시험 항목 및 구체적인 시험 내용에 대응될 것으로 예상되는 복수의 시퀀스 블록을 미리 저장하고 있을 수 있다. 사용자는 사용자 입력부(1100)를 통해 시퀀스 블록들을 선택, 편집, 배치하여 측정 시퀀스를 원하는 대로 생성할 수 있다. 사용자는 사용자 입력부(1100)를 통해 새로운 시퀀스 블록을 생성할 수도 있다. 제어부(1300)가 제공하는 측정시퀀스 관리 프로그램은, 사용자가 이러한 시퀀스 블록의 선택, 편집, 생성을 수행할 수 있는 일체의 인터페이스를 제공할 수 있다. 또한, 측정시퀀스 관리 프로그램은, 사용자가 시퀀스 블록을 배열하여 측정시퀀스를 생성할 수 있는 일체의 인터페이스를 제공할 수 있다.
측정시퀀스는 복수의 시퀀스 블록을 포함하는 시퀀스 유닛을 포함할 수 있다. 시퀀스 유닛은 복수의 시퀀스 블록을 포함하는 단위 그룹일 수 있다. 예를 들어, 2차 전지 시험 항목은 크게 충방전 항목, 주파수 응답 항목, 과도 응답 항목, 직류 저항 측정 항목, 교류 저항 측정 항목, 개방 전압 항목 등을 포함할 수 있으며, 각 항목 별로 여러 시험 내용이 대응될 수 있다. 따라서, 측정 시퀀스를 생성함에 있어 기본 단위 유닛인 시퀀스 블록으로만 배열하는 것보다, 중간 그룹인 시퀀스 유닛 별로 시퀀스 블록을 배열할 수 있도록 하는 것이 2차 전지 시험 측정의 시퀀스 관리에 용이할 수 있다. 예를 들어, 시퀀스 유닛은 사용자가 측정하고 싶은 2차 전지 특성 시험 항목의 어느 하나에 대응할 수 있다. 예를 들어, 시퀀스 유닛은 충방전 항목, 주파수 응답 항목, 과도 응답 항목, 개방 전압 항목 중 어느 하나의 항목에 대응될 수 있다. 그러나 시퀀스 유닛이 전술한 시험 항목에만 대응되는 것으로 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시퀀스 유닛이 충방전 항목에 대응된다고 가정하면, 충방전 시퀀스 유닛은 충전 시험 시퀀스 블록과 방전 시험 시퀀스 블록을 포함할 수 있다. 예를 들어, 주파수 응답 시퀀스 유닛은 주파수 시험 시퀀스 블록을 포함할 수 있다. 2차 전지 시험 측정에 있어서, 하나의 시험 항목을 반복 측정하여 해당 시험 항목 특성을 확인할 수 있으므로, 시퀀스 유닛으로 각 시험 항목을 정의 할 경우, 시퀀스 유닛별로 반복회수를 지정하여 각 시퀀스 유닛 별로 반복 측정을 용이하게 할 수 있다. 예를 들어, 측정시퀀스가 충방전 시퀀스 유닛과 주파수 응답 시퀀스 유닛를 포함하면, 충방전 시퀀스 유닛이 m번 반복되도록 지정하고, 주파수 응답 시퀀스가 n번 반복되도록 지정할 수 있다. 따라서, 1번 한번의 측정시퀀스가 2차 전지 측정장치(2000)에 전달됨으로써, 충방전 시퀀스 유닛을 m번 반복 시험하고, 주파수 응답 시퀀스를 n번 반복 시험하도록 할 수 있다.
통신부(1500)는, 제어 디바이스(1000)와 2차 전지 측정장치(2000) 간의 통신을 수행하게 하는 하나 이상의 구성요소를 포함할 수 있다. 예를 들어, 통신부(1500)는, 근거리 통신부, 이동 통신부, 직접 연결부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
근거리 통신부(short-range wireless communication unit)는, 블루투스 통신부, BLE(Bluetooth Low Energy) 통신부, 근거리 무선 통신부(Near Field Communication unit), WLAN(와이파이) 통신부, 지그비(Zigbee) 통신부, 적외선(IrDA, infrared Data Association) 통신부, WFD(Wi-Fi Direct) 통신부, UWB(ultra wideband) 통신부, Ant+ 통신부 등을 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
이동 통신부는, 이동 통신망 상에서 기지국, 외부의 단말, 서버 중 적어도 하나와 무선 신호를 송수신한다. 여기에서, 무선 신호는, 음성 호 신호, 화상 통화 호 신호 또는 문자/멀티미디어 메시지 송수신에 따른 다양한 형태의 데이터를 포함할 수 있다.
직접 연결부는, 복수의 장치를 물리적으로 연결하여 데이터를 송수신하는 통신부를 의미하는 것으로, USB 케이블, 직렬 케이블, 병렬 케이블, 랜 케이블, 데이터 케이블을 비롯한 다양한 방식의 케이블로 데이터를 송수신할 수 있는 일체의 통신부를 포함할 수 있다.
제어 디바이스(1000)는 메모리(미도시)를 더 포함할 수도 있다. 메모리(미도시)는 제어부(1300)의 내부에 포함될 수도 있고, 제어부(1300)와 별도의 구성요소로 외부에 마련될 수도 있다. 메모리는 플래시 메모리 타입(flash memory type), 하드디스크 타입(hard disk type), 멀티미디어 카드 마이크로 타입(multimedia card micro type), 카드 타입의 메모리(예를 들어 SD 또는 XD 메모리 등), 램(RAM, Random Access Memory) SRAM(Static Random Access Memory), 롬(ROM, Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM(Programmable Read-Only Memory), 자기 메모리, 자기 디스크, 광디스크 중 적어도 하나의 타입의 저장매체를 포함할 수 있다.
메모리는 측정시퀀스 관리 프로그램을 포함하는 적어도 하나 이상의 프로그램들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리는 측정데이터 관리 프로그램을 저장할 수 있다. 자세한 내용은 도 7 내지 9에서 후술한다.
2차 전지 측정 장치(2000)는 2차 전지 테스트부(2100)와 통신부(2200)를 포함할 수 있다. 2차 전지 측정 장치(2000)와 제어 디바이스(1000)는 별도 장치로 구성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니며, 동일 장치로 구성될 수도 있다.
2차 전지 테스트부(2100)는 2차 전지의 특성을 확인하기 위하여 2차 전지의 특성을 시험할 수 있다. 예를 들어, 2차 전지 테스트부(2100)는 적어도 하나의 시험 항목에 대하여 2차 전지 특성을 시험할 수 있다. 시험 항목은 예를 들어, 충방전 항목, 과도 응답 항목, 주파수 응답 항목, 직류 저항 측정 항목, 교류 저항 측정 항목, 개방 전압 항목, 충방전 사이클 항목을 포함할 수 있다. 시험 항목은 전술한 실시예에 한정되지 않으며, 2차 전지의 특성을 시험할 수 있는 다양한 시험 항목을 포함할 수 있다. 상기 시험 항목은 전술한 시퀀스 유닛과 대응될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
구체적으로 2차 전지 테스트부(2100)는 시험 항목에 따르는 구체적 시험 내용을 수행할 수 있다. 2차 전지의 시험 내용은, 예를 들어, 충전 용량, 방전 용량, 쿨롱 효율, 정전류 충전용량, 정전압 충전용량, 전류감쇠율, 방전중 최대 전력, 방전중 최저 전력, 에너지 총량, 충방전 효율, 복소 임피던스 측정값, 직류저항값, 교류저항값, 개방 전압값 등을 포함할 수 있다. 시험 내용은 전술한 시퀀스 블록과 대응될 수 있다. 시퀀스 블록은 사용자가 새롭게 정의하여 생성하고 편집할 수 있다.
측정 대상인 통신부(2200)는 제어 디바이스(1000)로부터 전달받는 제어 신호(I1)를 수신하고, 2차 전지의 특성을 시험한 결과인 측정 데이터를 포함하는 결과 신호(I2)를 송신할 수 있다. 통신부(2200)의 구체적인 구성은 전술한 통신부(1500)와 실질적으로 동일할 수 있으므로 중복되는 내용은 생략한다.
제어 신호(I1)는 측정시퀀스를 포함할 수 있다. 측정시퀀스는 2차 전지 테스트부(2100)가 2차 전지의 측정 시험을 시퀀스적으로 수행할 수 있도록 명령하는 명령어일 수 있다. 측정시퀀스는 측정 시험의 종류, 반복 회수, 측정 시험 순서 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 측정 시퀀스는 복수의 시퀀스 블록을 포함할 수 있다. 예를 들어, 측정 시퀀스는 적어도 하나의 시퀀스 유닛을 포함하고, 하나의 시퀀스 유닛은 복수의 시퀀스 블록을 포함할 수 있다. 예를 들어, 측정 시퀀스는 적어도 하나의 시퀀스 유닛을 포함하고, 상기 적어도 하나의 시퀀스 유닛은 반복회수가 지정될 수 있다. 예를 들어, 측정 시퀀스는 반복회수가 지정될 수 있다. 자세한 내용은 도 2 및 도 3에서 후술하도록 한다.
결과 신호(I2)는 측정시퀀스에 따라 수행된 2차 전지 측정 시험의 결과인 측정 데이터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 결과 신호(I2)는 2차 전지 정보 데이터, 2차 전지 시험 데이터 중 적어도 하나를 더 포함할 수도 있다. 2차 전지 정보 데이터는 측정 대상인 2차 전지와 관련되는 정보를 의미한다. 예를 들어, 2차 전지 정보 데이터는 제품 정보, 구성 재료 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제품 정보는 제품 모델명, 시리얼 번호, 형태, 규격, 중량, 부피, 공칭용량 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 구성 재료 정보는 양극 정보, 음극 정보, 전해질 정보 등을 포함할 수 있다. 이러한 2차 전지 기초 정보는 예시에 불과하며 전술한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 2차 전지 시험 데이터는 시험 일시, 시각, 장소, 시험 장치 종류, 시험 장치 모델, 사용자 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 시험 데이터는 시험 제어 변수를 포함할 수 있다. 예를 들어, 시험 제어 변수는 시험 항목, 개방 전압, 충전전류, 방전전류, 충전율, 방전율, 충전도, 온도, 사이클, 교류 섭동 전류 등을 포함할 수 있다. 이러한 시험 조건은 예시에 불과하며 전술한 실시예에 한정되는 것은 아니다.
결과 신호(I2)는 2차 전지 측정 장치(2000)가 측정시퀀스를 수행하는 도중에 실시간(real-time)으로 제어 디바이스(1000)로 전송될 수 있다. 결과 신호(I2)가 실시간으로 제어 디바이스(1000)로 전송되는 경우에는 사용자가 출력부를 통해 2차 전지의 시험 특성을 실시간으로 확인할 수 있을 수 있다. 이 경우, 사용자는 전달된 측정 시퀀스가 완료되는 것을 기다리지 않고서도 2차 전지의 특성을 확인하는 것이 가능할 수 있어 시간 및 비용을 절감할 수 있다.
결과 신호(I2)는 사용자가 측정데이터를 요구하는 제어 신호(I1)를 송신했을 때 전송될 수도 있다. 이 경우, 2차 전지 측정 장 2차 전지 측정 장치(2000)가 별도의 메모리부(미도시)를 포함하여, 측정시퀀스를 수행하는 과정에서 도출된 측정데이터를 메모리부(미도시)에 저장하고, 사용자가 제어 신호(I1)를 송신했을 때, 메모리부(미도시)에서 읽어 들인 측정데이터를 결과 신호(I2)로 전송할 수도 있다. 이 경우는, 제어 디바이스(1000)와 2차 전지 측정 장치(2000)의 통신부 간이 항상 연결상태를 유지하지 않아도 되며, 측정데이터를 메모리부(미도시)에 저장할 수 있어 데이터 손실을 예방할 수 있다.
도 2는 일 실시예에 따른 시퀀스 블록들을 나타내는 도면이다. 도 2를 참조하면, 여러 종류의 2차 전지 시험 항목에 각각 대응하는 시퀀스 블록들이 도시되어 있다.
시퀀스 블록은 아이콘(icon)으로 표시될 수 있다. 예를 들어, 시퀀스 블록은 블록 형태의 아이콘으로 출력부부에 표시될 수 있다. 제어부(1300)에서 제공하는 측정시퀀스 관리 프로그램은 시퀀스 블록이 블록 형태의 아이콘으로 표시되도록 출력부(1200)를 제어할 수 있다. 사용자는 시퀀스 블록을 선택함으로써, 대응되는 2차 전지 시험을 선택할 수 있다. 예를 들어, 녹색의 C, 50% 라고 기재된 시퀀스 블록을 선택하면, 50%까지 2차 전지를 충전하는 충전 시험이 선택될 수 있다. 사용자는 시퀀스 블록을 편집하여 대응되는 2차 전지 시험의 구체적 시험 조건을 변경할 수 있다. 예를 들어, 녹색의 C, 50% 라고 기재된 시퀀스 블록을 편집하여, 100% 까지 2차 전지를 충전하는 충전 시험으로 변경할 수 있다. 제어부(1300)는 아이콘이 사용자의 편집 내용을 반영한 형태로 표시되도록 출력부(1200)를 제어할 수 있다.
도 2를 참조하면, D 아이콘은 방전 시험을 나타내고, C/D 아이콘은 충방전 시험을 나타내고, FR 아이콘은 주파수 시험을 나타내고, ACR 아이콘은 교류 임피던스 측정 시험을 나타내고, TR 아이콘은 과도 응답 시험을 나타내고, DCR 아이콘은 직류 저항 측정을 나타내고, OCV 아이콘은 개방 전압 측정을 나타내고, Rest 아이콘은 휴지를 나타내고, Cycle 아이콘은 사이클 시험을 나타내고, T 아이콘은 온도 변화 및 측정 시험 항목을 나타낼 수 있다. 사용자는 필요에 따라 다른 시험 항목을 추가하고, 이에 대응하는 시퀀스 블록을 새롭게 생성할 수 있다. 제어부(1300)에서 제공하는 측정시퀀스 관리 프로그램은 시퀀스 블록의 아이콘 형태를 편집할 수 있는 편집툴을 제공할 수 있다.
도 3은 일 실시예에 따른 측정 시퀀스(3000)를 나타내는 도면이다. 도 3을 참조하면, 측정시퀀스(3000)는 복수의 시퀀스 블록(3111, 3112, 3211, 3212, 3213, 3311, 3312, 3313)과 복수의 시퀀스 유닛(3100, 3200, 3300)을 포함할 수 있다. 복수의 시퀀스 유닛(3100, 3200, 3300)은 반복회수(3100-1, 3200-1, 3300-1)가 지정될 수 있다.
제어부(1300)에서 제공하는 측정시퀀스 관리 프로그램은 사용자가 시퀀스 블록을 일렬로 배열하여 측정시퀀스를 생성할 수 있는 일체의 인터페이스를 제공할 수 있다. 예를 들어, 사용자는 사용자 입력부(1100)를 통해 시퀀스 블록을 선택하고 드래그&드랍하여 측정시퀀스 생성 란에 시퀀스 블록을 배열할 수 있다. 예를 들어, 시퀀스 블록을 왼쪽에서부터 오른쪽으로 순차적으로 배열하면, 왼쪽에 있는 시퀀스 블록부터 순차적으로 2차 전지 측정 시험이 수행될 수 있다. 이는 예시에 불과하며 한정되는 것은 아니다.
제어부(1300)에서 제공하는 측정시퀀스 관리 프로그램은 사용자가 시퀀스 유닛을 생성하는 인터페이스를 제공할 수 있다. 예를 들어, 측정시퀀스 관리 프로그램은 사용자가 시퀀스 유닛을 괄호, 도형, 영역의 형태로 생성할 수 있도록 인터페이스를 제공할 수 있다. 제어부(1300)에서 제공하는 측정시퀀스 관리 프로그램은 사용자가 시퀀스 유닛의 반복회수를 지정할 수 있는 인터페이스를 제공할 수 있다. 예를 들어, 사용자는 확인하고자 하는 시험 항목에 대응하는 시퀀스 유닛을 생성하고, 그 시퀀스 유닛의 내부에 해당 시험 항목과 대응하는 시퀀스 블록을 배열할 수 있다. 예를 들어, 시퀀스 유닛은 충방전 항목, 과도 응답 항목, 주파수 응답 항목, 개방 전압 항목, 충방전 사이클 항목 중 어느 하나와 대응될 수 있다.
도 3을 참조하면, 측정시퀀스(3000)에 제 1 시퀀스 유닛(3100), 제 2 시퀀스 유닛(3200), 제 3 시퀀스 유닛(3300)이 포함될 수 있다. 제 1 시퀀스 유닛(3100)은 충방전 시험 항목에 대응하고, 제 2 시퀀스 유닛(3200), 제 3 시퀀스유닛(3300)은 주파수 응답 시험 항목에 대응할 수 있다. 제 1 시퀀스 유닛(3100)은 충전 시험 시퀀스 블록(3111)과 방전 시험 시퀀스 블록(3112)를 포함할 수 있다. 충전 시험 시퀀스 블록(3111)을 방전 시험 시퀀스 블록(3112)의 좌측에 배열하여, 시퀀스 순서를 정할 수 있다. 예를 들어, 충전 시험 시퀀스 블록(3111)이 방전 시험 시퀀스 블록(3112)보다 우선적으로 수행되고, 순차적으로 방전 시험 시퀀스 블록(3112)이 수행될 수 있다. 예를 들어, 제 1 시퀀스 유닛(3100)의 반복회수(3100-1)가 지정될 수 있다. 예를 들어, 제 1 시퀀스 유닛(3100)의 반복회수(3100-1)가 9로 지정될 수 있다. 예를 들어, 제 2 시퀀스 유닛(3200)은, 충전 시험 시퀀스 블록(3211), 휴지 시퀀스 블록(3212), 주파수 시험 시퀀스 블록(3213)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제 2 시퀀스 유닛(3200)은 반복회수(3200-1)가 5로 지정될 수 있다. 예를 들어, 제 3 시퀀스 유닛(3300)은, 방전 시험 시퀀스 블록(3311), 휴지 시퀀스 블록(3212), 주파수 시험 시퀀스 블록(3313)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제 3 시퀀스 유닛(3300)의 반복회수(3300-1)은 5로 지정될 수 있다.
제어부(1300)에서 제공하는 측정시퀀스 관리 프로그램은 사용자가 생성한 측정시퀀스 전체의 반복회수(3000-1)를 지정할 수도 있다. 예를 들어, 측정시퀀스(3000)은 반복회수(3000-1)이 1000으로 지정될 수 있다. 측정시퀀스(3000)의 반복회수(3000-1)의 의미는, 측정시퀀스(3000)가 포함하는 모든 시퀀스 유닛(3100, 3200, 3300) 및 그 시퀀스 블록들(3111, 3112, 3211, 3212, 3213, 3311, 3312, 3313)에 대한 2차 전지 측정 시험이 수행된 것을 측정시퀀스(3000)의 1회 수행으로 할 때, 측정시퀀스(3000)를 반복회수(3000-1)만큼 반복 적으로 수행할 것을 지시하는 수치를 의미한다.
본 실시예에 따른 측정시퀀스(3000)는 측정시퀀스 관리 프로그램에 의해 생성,편집 될 수 있다. 측정시퀀스 관리 프로그램은 아이콘화 된 시퀀스 블록 및 시퀀스 유닛 그리고 측정 시퀀스를 바탕으로 2차 전지 측정 시험을 간이하게 반복적으로 수행할 수 있는 인터페이스를 제공하며, 제어부(도 1의 1300)에 의해 제어될 수 있다.
도 4는 일 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법을 나타내는 순서도이다. 도 5는 일 실시예에 따른 측정시퀀스 생성방법을 나타내는 순서도이다.
도 4를 참조하면, 사용자 입력부를 통해 측정시퀀스를 생성하는 단계(S101), 생성된 측정시퀀스를 2차전지 측정장치로 전달하는 단계(S102), 2차전지 측정장치로부터 측정시퀀스에 따라 측정된 2차전지의 측정데이터를 전달받는 단계(S103), 전달받은 측정데이터를 메타데이터로 생성하는 단계(S104)를 포함할 수 있다.
사용자 입력부를 통해 측정시퀀스를 생성하는 단계(S101)는 사용자가 적어도 두개의 시퀀스 블록을 배열하여 측정시퀀스를 생성할 수 있다. 사용자는 사용자 입력부(도 1의 110)를 통해 출력부에 도시된 시퀀스 블록 중 적어도 두 개를 선택하여 측정시퀀스 상에 배열할 수 있다. 측정시퀀스 관리 프로그램은 사용자가 시퀀스 블록을 배열하여 측정시퀀스를 생성하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. 예를 들어, 측정시퀀스 관리 프로그램은 미리 저장된 시퀀스 블록을 사용자의 입력에 따라 출력부에 표시하고, 생성 중인 측정시퀀스 란을 화면에 표시할 수 있다. 사용자는 시퀀스 블록을 측정시퀀스 란에 사용자 입력부를 통해 배열할 수 있다. 예를 들어, 사용자는 시퀀스 블록을 클릭하거나, 드래그&드랍하여 측정 시퀀스 란에 배열할 수 있다.
사용자 입력부를 통해 측정시퀀스를 생성하는 단계(S101)는 사용자가 적어도 하나의 시퀀스 유닛을 생성하여 측정시퀀스를 생성할 수 있다. 적어도 하나의 시퀀스 유닛은 적어도 두개의 시퀀스 블록을 포함할 수 있다. 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함하며, 시퀀스 유닛은 2차 전지 시험 항목에 대응될 수 있다. 시퀀스 블록이 단위 유닛이라면, 시퀀스 유닛은 단위 유닛을 포함하는 단위 그룹에 해당할 수 있다. 시험 항목에 대응하는 시퀀스 유닛 단위로 측정시퀀스를 생성함으로써 2차 전지 특성 시험의 관리가 보다 용이해질 수 있다. 측정시퀀스 관리 프로그램은 사용자가 시퀀스 유닛을 생성하여 측정시퀀스를 생성하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. 사용자는 사용자 입력부(도 1의 110)를 통해 측정시퀀스 란에 시퀀스 유닛을 생성할 수 있다. 예를 들어, 시퀀스 유닛은 괄호, 도형, 영역 등으로 표시될 수 있다. 출력부 상에 표시되는 측정시퀀스 생성 란에 시퀀스 유닛을 생성하고, 해당 시퀀스 유닛안에 출력부에 도시된 시퀀스 블록 중 적어도 두 개를 선택하여 배열할 수 있다. 사용자는 시퀀스 유닛 별로 반복회수를 다르게 지정할 수 있다. 시퀀스유닛의 반복회수를 지정하지 않는 것도 가능하다. 사용자는 측정시퀀스에 반복회수를 지정할 수 있다. 측정시퀀스의 반복회수를 지정하지 않는 것도 가능하다.
도 5를 참조하면, 측정시퀀스를 생성하는 단계(S101)는, 사용자가 사용자 입력부를 통해 시퀀스 블록을 생성하거나 또는 선택하고(S101-1), 사용자가 사용자 입력부를 통해 시퀀스 유닛을 생성하고(S101-2), 생성된 시퀀스 유닛을 배치하여 측정시퀀스를 생성(S101-3)할 수 있다.
사용자는 측정시퀀스 관리 프로그램이 제공하는 인터페이스에 따라, 시퀀스 블록을 생성 또는 선택 및 편집할 수 있다(S101-1). 사용자는 측정시퀀스 관리 프로그램이 제공하는 인터페이스에 따라, 시퀀스 유닛을 생성(S101-2)할 수 있다. 시퀀스 유닛을 생성(S101-2)하는 단계는, 괄호, 도형, 영역 등으로 표시되는 시퀀스 유닛을 마련하고, 시퀀스 유닛에 적어도 두개의 시퀀스 블록을 배열하여 생성될 수 있다. 생성된 시퀀스 유닛을 배열하여 측정시퀀스를 생성(S101-3)할 수 있다. 도 5에 도시된 순서도는 하나의 실시예에 불과하며 서술한 순서에 한정되는 것은 아니다. 시퀀스 유닛을 생성하지 않고 시퀀스 블록만으로도 측정시퀀스를 생성할 수 있다. 나아가, 시퀀스 유닛의 반복회수를 지정하는 단계나, 측정시퀀스의 반복회수를 지정하는 단계가 추가적으로 포함될 수 있다.
사용자 입력부를 통해 측정시퀀스를 생성하는 단계(S101)는 사용자가 측정 시퀀스의 반복회수를 지정할 수도 있다. 측정시퀀스를 1회에 걸쳐 수행하는 것이 아니라 지정된 반복회수만큼 반복적으로 2차 전지 특성 시험을 수행하게 명령하는 것이 가능할 수 있다.
생성된 측정시퀀스를 2차전지 측정장치로 전달하는 단계(S102)는, 제어 디바이스(도 1의 1000)가 측정시퀀스를 2차전지 측정장치(도 1의 2000)으로 전달하는 단계일 수 있다. 예를 들어, 사용자가 생성한 측정시퀀스는 제어부(도 1의 1300)의 제어에 따라 통신부(1500)로 전달되고 2차전지 측정장치(도 1의 2000)로 전송될 수 있다.
2차전지 측정장치로부터 측정시퀀스에 따라 측정된 2차전지의 측정데이터를 전달받는 단계(S103)는, 2차전지 측정장치(도 1의 2000)이 측정시퀀스에 따라 수행한 시험 내용에 따른 측정데이터를 제어 디바이스(도 1의 1000)에서 수신하는 단계일 수 있다. 예를 들어, 제어 디바이스(도 1의 1000)는 2차전지의 측정데이터를 2차전지 측정장치(도 1의 2000)이 측정시퀀스에 따라 2차 전지 시험을 수행하는 과정에 실시간으로 수신 받을 수 있다. 예를 들어, 제어 디바이스(도 1의 1000)는 2차전지 측정장치(도 1의 2000)의 메모리부(미도시)에 저장되어 있던 2차전지의 측정데이터를 비동기적으로 수신받을 수 있다. 예를 들어, 제어 디바이스(도 1의 1000)는 사용자의 요청에 따라, 제어 신호(I1)를 2차 전지 측정장치(도 1의 2000)으로 전송할 수 있다. 2차 전지 측정장치(도 1의 2000)는 제어 신호(I1)를 수신받고, 메모리부(미도시)에 저장되어 있던 측정데이터를 제어 디바이스(도 1의 1000)로 송신할 수도 있다.
전달받은 측정데이터를 메타데이터로 생성하는 단계(S104)는 측정데이터를 가공하여 메타데이터로 생성할 수 있다.
측정데이터는 2차전지 측정장치(도 1의 2000)가 측정한 시퀀스 블록과 관련되는 복수의 데이터를 포함할 수 있다. 측정데이터의 내용은 2차전지 측정장치(도 1의 2000)가 측정한 시험 항목에 따라 변경될 수 있다. 측정데이터로부터 시험 항목에 따라 기설정(pre-determined)된 특성인자에 대응하는 특성데이터를 추출할 수 있다. 특성인자는 각 시험 항목 별로 미리 설정되어 제어 디바이스(도 1의 1000)의 제어부(1300), 메모리(미도시) 등에 저장되어 있을 수 있다. 특성인자는 2차 전지의 특성을 파악할 수 있는 특징적 변수일 수 있다. 특성인자는 외부 입력에 의해 설정이 변경될 수 있다. 예를 들어, 사용자 입력부(1100)에서 사용자가 특성인자를 변경한 경우, 메모리(미도시)에 저장된 특성인자가 변경될 수 있다. 특성데이터는 특성인자에 대응하는 데이터이다. 예를 들어, 특성데이터는 측정데이터 중 일부의 데이터에 해당할 수 있다. 예를 들어, 특성데이터는 측정데이터를 수학적 연산 알고리즘으로 연산하여 변환하여 도출한 데이터일 수도 있다. 수학적 연산 알고리즘은 함수로 피팅, 미분, 적분 등의 수학적 방법을 포함할 수 있다. 수학적 연산 알고리즘은 전술한 수학적 방법을 프로그래밍적으로 접근하여 제어부(1300)가 이를 수행할 수 있는 일체의 코드를 포함할 수 있다. 기설정된 특성인자의 종류에 따라서 특성데이터를 측정데이터에서 바로 도출할 것인지, 측정데이터를 수학적 연산 알고리즘으로 연산하여 변환하여 도출할 것인지 정해질 수 있다. 이러한 판단은 제어부(1300)에서 이루어질 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 메모리(미도시)에 특성인자 및 특성데이터 도출 방법이 미리 저장되어 있고, 2차 전지 시험 방법이 실행되면, 제어부(1300)는 메모리 (미도시)로부터 저장된 특성인자 및 특성데이터 방법을 읽어들여, 자동으로 측정 데이터로부터 특성인자 및 특성데이터를 도출할 수 있다. 따라서, 사용자가 측정 데이터로부터 유의미한 결과를 도출하기 위한 연산을 직접 수행하지 않고, 제어부(1300)나 메모리 (미도시)에 의해 자동으로 수행됨으로써 더 간이하고 빠른 2차 전지의 특성 시험이 가능할 수 있다.
메타데이터의 생성은 특성인자 및 특성인자 별 특성데이터를 메타데이터로 생성할 수 있다. 메타데이터는 데이터를 구조화한 데이터로, 다른 데이터를 설명해주기 위한 데이터를 의미한다. 예를 들어, 메타데이터는 시험항목별 특성인자와 특성데이터를 포함하도록 생성됨으로써, 측정데이터를 간이하게 설명할 수 있다. 따라서, 2차전지 측정장치(도 1의 2000)가 2차 전지의 특성을 시험한 결과를 측정데이터로 저장하는 대신, 특성인자와 특성데이터를 포함하는 메타데이터를 생성하여 저장할 수 있다.
메타데이터는 전자파일 형태로 생성될 수 있다. 예를 들어, 메타데이터는 컴퓨터로 생성, 편집 및 저장할 수 있는 디지털 문서 또는 전자 문서로 생성될 수 있다. 예를 들어, 메타데이터는 확장 가능 마크업 언어 등 검색이 가능한 구조화된 언어로 작성된 디지털 문서 또는 전자 문서로 생성될 수 있다. 예를 들어, 메타데이터는 기설정된 특성인자를 필드로 하도록 생성될 수 있다. 예를 들어, 메타데이터는 기설정된 특성인자와 그에 대응하는 추출된 특성데이터를 행과 열로 구성한 스프레드 시트 형식의 전자 문서로 생성될 수 있다.
도 6은 다른 실시예에 따른 2차 전지 시험 방법을 나타내는 순서도이다. 도 6을 참조하면, 사용자 입력부를 통해 측정시퀀스를 생성하는 단계(S201), 생성된 측정시퀀스를 2차전지 측정장치로 전달하는 단계(S202), 2차전지 측정장치로부터 측정시퀀스에 따라 측정된 2차전지의 측정데이터를 전달받는 단계(S203), 전달받은 측정데이터를 메타데이터로 생성하는 단계(S204) 및 전달받은 측정데이터를 그래프로 도시하는 단계(S205)를 포함할 수 있다.
전달받은 측정데이터를 그래프로 도시하는 단계(S205)는 제어 디바이스(도 1의 1000)에서 제어부(1300)가 전달받은 측정데이터를 그래프로 변환하여 출력부 상에 표시할 수 있다. 예를 들어, 측정데이터가 제어 디바이스(도 1의 1000) 실시간으로 전송되는 경우, 그래프는 연속적으로 전송받은 측정데이터를 반영하도록 갱신될 수 있다. 예를 들어, 측정데이터가 제어 디바이스(도 1의 1000)로 비동기적으로 전송되는 경우, 그래프는 전송받은 측정데이터를 반영하는 그래프를 도시할 수 있다.
제어부(도 1의 1300)는 측정데이터를 수학적 알고리즘으로 변환하지 않고 그래프를 도시할 수 있다. 제어부(도 1의 1300)는 측정데이터를 수학적 알고리즘으로 변환한 수치를 이용하여 그래프를 도시할 수도 있다.
도 7은 일 실시예에 따른 제어 디바이스의 출력부에서 도시되는 인터페이스를 나타낸 화면이다. 도 7을 참조하면, 측정시퀀스 관리 프로그램(700)은 측정시퀀스 관리부(710), 그래프 도시부(720), 컨트롤 패널(730), 상태표시부(740), 2차전지 기초 정보 표시부(750), 시험조건 표시부(760), 측정데이터 표시부(770)을 포함할 수 있다.
측정시퀀스 관리부(710)는 측정시퀀스를 생성, 편집하고, 현재 진행중인 측정시퀀스를 표시할 수 있다. 측정시퀀스가 현재 2차 전지 측정장치(도 1의 2000)으로 전달되어 측정시퀀스에 따라 시험이 수행중인 경우에는 진행상태를 나타내는 바(bar)가 함께 도시될 수 있다.
그래프 도시부(720)는 측정데이터에 따른 그래프가 도시될 수 있다.
컨트롤 패널(730)은 측정시퀀스 관리 프로그램(700)을 제어하는 다양한 제어 아이콘을 포함할 수 있다. 컨트롤 패널(730)은 측정시퀀스의 전송, 저장, 로드, 측정시험 중단, 그래프 도시, 프로그램 종료, 설정 변경 등의 기능을 수행할 수 있다.
상태표시부(740)는 2차 전지 측정 장치(도 1의 2000)이 시험 진행 중인 2차 전지에 인가하는 각종 변수의 상태를 실시간으로 반영하여 표시할 수 있다. 예를 들어, 상태표시부(740)는 전압, 전류, 시간, 온도, 등의 변수와 그 해당 수치를 표시할 수 있다.
2차전지 기초 정보 표시부(750)는 시험 진행 중인 2차 전지와 관련된 기초 정보를 표시할 수 있다. 기초 정보는 제품 정보, 구성 재료 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제품 정보는 제품 모델명, 시리얼 번호, 형태, 규격, 중량, 부피, 공칭용량 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 구성 재료 정보는 양극 정보, 음극 정보, 전해질 정보 등을 포함할 수 있다. 이러한 2차 전지 기초 정보는 예시에 불과하며 전술한 실시예에 한정되는 것은 아니다.
시험조건 표시부(760)는 시험 진행 중인 2차 전지와 관련된 시험 조건을 표시할 수 있다. 예를 들어, 시험 조건은 시험 일시, 시각, 장소, 시험 장치 종류, 시험 장치 모델, 사용자 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 시험 조건은 시험 제어 변수를 포함할 수 있다. 예를 들어, 시험 제어 변수는 시험 항목, 개방 전압, 충전전류, 방전전류, 충전율, 방전율, 충전도, 온도, 사이클, 교류 섭동 전류 등을 포함할 수 있다. 이러한 시험 조건은 예시에 불과하며 전술한 실시예에 한정되는 것은 아니다.
측정데이터 표시부(770)는 2차 전지 측정 장치(도 1의 2000)로부터 전달받은 측정데이터가 도시될 수 있다. 측정데이터 표시부(770)는 그래프 도시부(720)와 연동될 수 있다. 예를 들어, 측정데이터 표시부(770)에 표시된 측정 데이터의 수치중 일부를 x축으로 하고 일부를 y축으로 하여 그래프 도시부(720)에 그래프로 도시될 수 있다.
도 8은 일 실시예에 따른 제어 디바이스의 출력부에서 도시되는 그래프를 나타낸 화면이다. 도 9는 다른 실시예에 따른 제어 디바이스의 출력부에서 도시되는 그래프를 나타낸 화면이다. 제어부(도 1의 1300)는 측정시퀀스 관리 프로그램과는 별도의 측정데이터 관리 프로그램을 포함할 수 있다. 측정데이터 관리 프로그램은 측정데이터를 그래프로 도시하거나, 메타데이터화 하는 기능을 포함할 수 있다. 도 8을 참조하면, 측정데이터 관리 프로그램은 시험항목 별로 별도의 그래프를 동일한 출력부에 복수개 도시할 수 있다. 도 9를 참조하면, 측정데이터 관리 프로그램은 서로 다른 시험항목 별로 측정데이터를 비교하거나, 그래프를 비교할 수 있다.
지금까지, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 2차 전지 시험 방법 및 제어 디바이스에 대한 예시적인 실시예가 설명되고 첨부된 도면에 도시되었다. 그러나, 이러한 실시예는 단지 본 발명을 예시하기 위한 것이고 이를 제한하지 않는다는 점이 이해되어야 할 것이다. 그리고 본 발명은 도시되고 설명된 부분에 국한되지 않는다는 점이 이해되어야 할 것이다. 이는 다양한 다른 변형이 본 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일어날 수 있기 때문이다.
1000 : 제어 디바이스
1100 : 사용자 입력부
1200 : 출력부
1300 : 제어부
1500 : 통신부
2000 : 2차 전지 측정 장치
2100 : 2차 전지 테스트부
2200 : 통신부
3000: 측정시퀀스
3100, 3200, 3300 : 시퀀스 유닛
3111, 3112, 3211, 3212, 3213, 3311, 3312, 3313 : 시퀀스 블록
3100-1, 3200-1, 3300-1 : 시퀀스 유닛 반복회수
3000-1 : 측정 시퀀스 반복회수
700 : 화면
710 : 측정 시퀀스
720 : 그래프
730 : 컨트롤 패널
740 : 2차 전지 상태창
750 : 2차 전지 기초 정보
760 : 2차 전지 시험 정보
770 : 측정데이터

Claims (23)

  1. 측정시퀀스를 생성하는 단계;
    생성한 측정시퀀스를 2차전지 측정장치로 전달하는 단계;
    2차전지 측정장치로부터 측정된 2차전지의 측정데이터를 전달받는 단계; 및
    전달받은 측정데이터를 메타데이터로 생성하는 단계;를 포함하는 2차 전지 시험 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는,
    사용자 입력부를 통해 사용자가 선택한 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 배열하여 상기 측정시퀀스가 생성되는 2차 전지 시험 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는,
    사용자 입력부를 통해 사용자가 생성한 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 배열하여 상기 측정시퀀스가 생성되는 2차 전지 시험 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는,
    사용자 입력부를 통해 사용자가 시퀀스 유닛을 생성하여 상기 측정시퀀스가 생성되고,
    상기 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함하는 2차 전지 시험 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 사용자 입력부를 통해 시퀀스 유닛의 반복 회수가 입력되는 2차 전지 시험 방법.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 시퀀스 유닛은 제 1 시퀀스 유닛과 제 2 시퀀스 유닛을 포함하고, 제 1 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함하고, 제 2 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함하는 2차 전지 시험 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는,
    상기 사용자 입력부를 통해 상기 측정시퀀스의 반복 회수가 입력되는 2차 전지 시험 방법.
  8. 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 시퀀스 블록은 2차전지의 시험 항목과 대응되는 2차 전지 시험 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 2차전지의 시험 항목은 충전, 방전, 충방전, 주파수응답시험, 교류임피던스측정, 과도응답시험, 직류저항측정, 교류저항측정, 개방전압측정, 휴지, 사이클, 온도 변화 측정 중 적어도 하나를 포함하는 2차 전지 시험 방법.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 메타데이터를 생성하는 단계는,
    상기 측정데이터로부터 기설정된 특성인자에 대응하는 특성데이터를 추출하는 단계; 및
    상기 특성인자 및 상기 특성데이터로부터 메타데이터를 생성하는 단계;를 포함하는 2차 전지 시험 방법.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 메타데이터는 전자파일로 생성되는 2차 전지 시험 방법.
  12. 통신부;
    사용자의 명령어가 입력될 수 있는 사용자 입력부;
    적어도 하나의 프로그램을 실행하고, 상기 사용자 입력부로부터의 사용자의 명령어에 따라 측정시퀀스를 생성하고, 생성된 측정 시퀀스를 상기 통신부를 통하여 외부로 전송하도록 하는 제어부; 및
    상기 실행된 프로그램이 표시되는 출력부;를 포함하고,
    상기 적어도 하나의 프로그램은,
    측정시퀀스를 생성하는 단계;
    생성한 측정시퀀스를 2차전지 측정디바이스로 전달하는 단계;
    2차전지 측정디바이스로부터 측정된 2차전지의 측정데이터를 전달받는 단계; 및
    전달받은 측정데이터를 메타데이터로 생성하는 단계;를 실행하는 명령어들을 포함하는 제어 디바이스.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는,
    상기 사용자 입력부를 통해 사용자가 시퀀스 블록을 선택하여 상기 측정시퀀스가 생성되는 제어 디바이스.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는,
    상기 사용자 입력부를 통해 사용자가 시퀀스 유닛을 생성하여 상기 측정시퀀스가 생성되고,
    상기 시퀀스 유닛은 적어도 두 개의 시퀀스 블록을 포함하는 제어 디바이스.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 사용자 입력부를 통해 시퀀스 유닛의 반복 회수가 입력되는 제어 디바이스.
  16. 제 14 항에 있어서,
    상기 측정시퀀스를 생성하는 단계는,
    상기 사용자 입력부를 통해 상기 측정시퀀스의 반복 회수가 입력되는 제어 디바이스.
  17. 제 12 항에 있어서,
    상기 메타데이터를 생성하는 단계는,
    상기 측정데이터로부터 기설정된 특성인자에 대응하는 특성데이터를 추출하는 단계; 및
    상기 특성인자 및 상기 특성데이터로부터 메타데이터를 생성하는 단계;를 포함하는 제어 디바이스.
  18. 제 12 항에 있어서,
    상기 메타데이터는 전자파일로 생성되는 제어 디바이스.
  19. 제 13 항에 있어서,
    상기 프로그램은, 상기 시퀀스 블록을 아이콘으로 상기 출력부에 출력시키는 제어 디바이스.
  20. 제 13 항에 있어서,
    상기 프로그램은, 상기 시퀀스 블록을 일렬로 배열하여 측정시퀀스를 생성하는 인터페이스를 제공하는 제어 디바이스.
  21. 제 14 항에 있어서,
    상기 프로그램은, 상기 시퀀스 유닛을 생성하는 인터페이스를 제공하는 제어 디바이스.
  22. 제 12 항에 있어서,
    상기 프로그램은, 상기 측정시퀀스의 반복회수를 지정할 수 있는 인터페이스를 제공하는 제어 디바이스.
  23. 제 12 항에 있어서,
    상기 프로그램은, 상기 측정데이터를 그래프로 도시하는 제어 디바이스.
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