KR20180052468A - Pcb 기판의 전기적 검사 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 PCB 기판의 전기적 검사 장치에 관한 것으로, 상하로 분리하여 각각 장방향의 상부 지그(103)과 하부 지그(104)으로 구성하는 지그(100)와, 상기 상부 지그(103)과 하부 지그(104) 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트(105)와, 상기 상부 지그(103)과 하부 지그(104)에는 그 내부에 각각 스프링(111)에 의하여 유동되는 범용 탐침(112)이 설치되고 각각의 범용 탐침(112)에는 PCB 기판과 접촉되는 프로브 핀(113)을 포함하되, 상기 상부 지그(103) 또는 상기 하부 지그(104)에는 PCB 기판의 커넥터를 검사하기 위한 커넥터 전용 탐침(114)을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은 상기 구성에 의해서, 기존에 작업자가 PCB 기판의 커넥터에 검사용 케이블을 일일이 삽입한 후 검사하던 것을 작업자가 일일이 삽입하지 않고도 자동으로 PCB 기판을 측정 및 분석을 가능하도록 하여 작업능률을 향상시키고 인건비를 절약할 수 있는 PCB 기판의 전기적 검사 장치를 제공하는 효과가 발생한다.

Description

PCB 기판의 전기적 검사 장치{PCB(Printed Circuit Board) electrical inspection device}

본 발명은 PCB(Printed Circuit Board) 기판에 대한 전기적 검사를 할 때 사용하는 검사 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 케이블 커넥터 전용 프로브 핀을 구비하여 검사 작업자가 수작업으로 케이블을 PCB 기판의 커넥터에 체결하는 시간을 줄일 수 있어 작업능률을 향상시키고 인건비를 절약할 수 있는 PCB 기판의 전기적 검사 장치에 관한 것이다.

본 발명은 PCB 기판에 대한 전기적 검사를 할 때 사용하는 검사 장치에 관한 것으로, 케이블 커넥터 전용 프로브 핀을 구비하여 검사 작업자가 수작업으로 케이블을 PCB 기판의 커넥터에 연결하지 않고 PCB 기판을 검사하여 검사시간과 인건비를 줄이는데 그 목적이 있는 것이다.

일반적으로 전자 회로 제조기술이 지속적으로 발전하고 배선회로가 주를 이루는 PCB 기판은 다양성(크기, 두께, 회로폭, 표면처리, 연성, 경성, 연경성 조합) 형태로 제조되어 지고 있다.

이와 같은 PCB 기판이 다양성에 따라 검사설비, 검사부품의 제조기술도 PCB 기판의 품질 신뢰성을 향상시키기 위하여 발전하고 있으나, 설비에 맞는 검사 지그와 부품에 맞는 조립기술은 크게 변화가 없는 추세이다.

도 1은 종래기술에 따른 전자부품이 실장된 PCB 기판의 전자회로가 정상적으로 동작하는지를 검사하는 PCB 기판의 검사 장치를 나타낸 구성도이다. 도 1을 참조하면 PCB 기판(1)의 전기적 검사 장치는 상하로 분리하여 각각 장방향의 상부 지그(3)과 하부 지그(4)으로 구성하는 지그(2)를 포함한다. 여기서, 상부 지그(3)와 하부 지그(4) 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트(5)에 의해 연결되고, 샤프트(5)에는 PCB 기판(1) 및 상부 지그(3)과 하부 지그(4)에 각각 구비된 프로브 핀(13)을 보호하기 위해 스프링(6)이 장착되어 있다. 상부 지그(3)와 하부 지그(4)에는 그 내부에 각각 스프링(11)에 의하여 유동되는 범용 탐침(12)이 설치되고 각각의 범용 탐침(12)에는 PCB 기판(1)에 실장된 전자부품의 접점과 전기적으로 접촉되는 프로브 핀(13)을 설치한다. 하부 지그(4)에는 PCB 기판(1)을 고정하는 제품 고정 가이드(21)를 상측으로 돌출되게 설치한다.

케이블 커넥터(31)가 있는 PCB 기판(1)의 경우 케이블 커넥터(31)에 탐침이 아닌 실제 케이블(32)을 연결하여 테스트 신호를 인가해야 하기 때문에 일일이 검사 작업자가 수작업으로 케이블(32)을 PCB 기판(1)의 케이블 커넥터(31)에 연결한 후 테스트를 진행해야 하는 문제가 있다.

등록실용신안 제20-0375619호(2005.02.01. 등록)

상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 기존에 작업자가 PCB 기판의 커넥터에 검사용 케이블을 일일이 삽입한 후 검사하던 것을 작업자가 일일이 삽입하지 않고도 자동으로 PCB 기판을 측정 및 분석을 가능하도록 하여 작업능률을 향상시키고 인건비를 절약할 수 있는 PCB 기판의 전기적 검사 장치를 제공하는 것이다.

그러나 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 위에서 기술된 과제로 제한되지 않으며, 기술되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 구성은 다음과 같다.

본 발명에 따른 PCB 기판(101)의 전기적 검사 장치는 상하로 분리하여 각각 장방향의 상부 지그(103)와 하부 지그(104)로 구성하는 지그(100)와,

상기 상부 지그(103)과 하부 지그(104) 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트(105)와,

상기 상부 지그(103)와 하부 지그(104)에는 그 내부에 각각 스프링(111)에 의하여 유동되는 범용 탐침(112)과,

상기 범용 탐침(112) 각각에 구비되어 PCB 기판(101)과 접촉되는 프로브 핀(113)을 포함하되,

상기 상부 지그(103) 또는 상기 하부 지그(104)에는 PCB 기판(101)의 커넥터(131)를 검사하기 위한 커넥터 전용 탐침(114)을 구비한다.

상기 샤프트(105)는 PCB 기판과 상부 지그(103) 및 하부 지그(104)에 각각 구비된 프로브 핀(113)을 보호하기 위한 스프링(106)을 포함한다.

상기 하부 지그(104)에는 상측으로 돌출되어 상기 PCB 기판을 고정하는 제품 고정 가이드(121)를 포함한다.

상기 커넥터 프로브 핀(114)은 PCB 기판(101)에 실장된 커넥터(131)의 형태에 따라 상기 상부 지그(103) 또는 상기 하부 지그(104)에 선택적으로 구비된다.

상기 커넥터 프로브 핀(114)은 모듈 형태로 구성되어 상기 상부 지그(103) 또는 상기 하부 지그(104)에 선택적으로 탈부착될 수 있도록 구현한다.

상기와 같은 구성을 가지는 본 발명에 따르면, 기존에 작업자가 PCB 기판의 커넥터에 검사용 케이블을 일일이 삽입한 후 검사하던 것을 작업자가 일일이 삽입하지 않고도 자동으로 PCB 기판을 측정 및 분석이 가능하여 작업능률을 향상시키고 작업시간과 인건비를 줄일 수 있는 효과가 있다.

도 1은 종래기술에 따른 PCB 기판의 전기적 검사 장치를 나타내는 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 PCB 기판의 전기적 검사 장치를 나타내는 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 커넥터 프로브 핀(114)이 구비된 상부 지그(103)를 나타내는 사시도이다.

이하에서는 첨부된 도면이 참조되어 본 발명이 설명될 것이다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 따라서 여기에서 설명되는 실시예로 한정되는 것은 아니다. 발명의 명확한 설명을 위해, 도면에서 설명과 관계없는 부분은 생략되었다. 그리고 명세서 전체에서 유사한 부분에는 유사한 도면 부호가 붙었다.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결(접속, 접촉, 결합)"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 부재를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 구비할 수 있다는 것을 의미한다.

본 명세서에서 사용된 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은, 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 " 가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품, 또는 이들을 조합한 것이 존재한다는 것을 의미하지, 하나 또는 그 이상의 다른, 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품, 또는 이들을 조합한 것의 존재가 배제된다는 것을 의미하지 않는다.

본 발명의 일 실시예에 따른 PCB 기판(101)의 전기적 검사 장치는 지그(102), 샤프트(105), 범용 탐침(112), 프로브 핀(113) 및 커넥터 프로브 핀(114)을 포함한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 PCB 기판의 전기적 검사 장치를 나타내는 구성도이다.

상기 지그(102)는 상하로 분리하여 각각 장방향의 상부 지그(103)와 하부 지그(104)로 구성한다. 상기 상부 지그(103)와 하부 지그(104) 각각의 모서리를 관통하여 샤프트(105)가 설치되어 상기 상부 지그(103)와 하부 지그(104)가 연결된다.

이때, 상기 하부 지그(104)에는 그 내부에 각각 스프링(111)에 의하여 유동되는 범용 탐침(112)이 설치되고 각각의 범용 탐침(112)에는 PCB 기판(101)에 실장된 전자부품의 접점들과 접촉되는 프로브 핀(113)을 포함한다. 여기서, 전자부품이 PCB 기판(101)에 실장되는 방식에 따라 범용 탐침(112)이 상부 지그(103) 또는 하부 지그(104)에 구비된다.

또한, 상기 상부 지그(103)에는 PCB 기판(101)의 커넥터(131)를 통해 테스트 신호를 인가하기 위한 커넥터 프로브 핀(114)을 구비한다. 여기서 커넥터 프로브 핀(114)은 모듈 형태로 구성되어 상부 지그(103) 또는 하부 지그(104)에 선택적으로 탈착 가능하도록 구현하는 것이 바람직하다.

상기 샤프트(105)는 상부 지그(103) 및 하부 지그(104)에 각각 구비된 프로브 핀(113)이 과도한 압력에 의해 PCB 기판(101)에 눌리는 것을 보호하기 위한 스프링(106)을 포함한다.

상기 하부 지그(104)에는 상측으로 돌출되어 상기 PCB 기판(101)을 고정하는 제품 고정 가이드(121)를 포함한다.

상기와 같이 구성된 본 발명의 PCB 기판의 전기적 검사 장치의 동작을 설명하면 다음과 같다.

먼저, 상기 하부 지그(104)에 구비된 제품 고정 가이드(121)에 의해 PCB 기판(101)이 고정된다. 여기서 제품 고정 가이드(121)는 스프링과 가이드(도시하지 않음)에 의해 PCB 기판(101)을 용이하게 고정할 수 있도록 구현하는 것이 바람직하다. 그리고 PCB 기판(101)을 하부 지그(104)에 연결시키는 방법은 기계에 의한 방법과 사람에 의한 방법으로 선택적으로 수행할 수 있다.

상기와 같은 상태에서 전기적 검사가 끝나게 되면 상부 지그(103)과 하부 지그(104)가 벌어지게 되고, 이 상태에서 PCB 기판(101)을 교체하여 다시 전기적 검사를 하면 된다.

PCB 기판(101)이 하부 지그(104)에 고정되면 샤프트(105)에 연결된 상부 지그(103)가 하강하여 PCB 기판(101)을 일정 압력으로 누르게 된다. 여기서, 상부 지그(103)가 하강하는 방법은 일반적인 프레스 가공 방법과 동일하게 구성할 수 있기 때문에 상세한 설명은 생략하기로 한다.

따라서 하부 지그(104)에 구비된 범용 탐침(112)이 PCB 기판(101)의 해당 접점에 접촉되고 상부 지그(103)에 의해 가해지는 압력이 일정 압력 수치 이상이 되면 범용 탐침(112)이 PCB 기판(101)에 실장된 전자부품의 해당 접점에 전기적으로 접촉되어 PCB 기판(101)에 실장된 전자 부품들의 상태 측정 및 분석이 가능해 진다.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 커넥터 프로브 핀(114)이 구비된 상부 지그(103)를 나타내는 사시도이다.

도 3을 참조하면, 상부 지그(103)에 구비된 커넥터 프로브 핀(114)이 PCB 기판(101)의 커넥터(131) 접점에 전기적으로 접촉하며, 커넥터 프로브 핀(114)을 통해 인가된 테스트 신호가 커넥터(131)의 접점에 인가된다.

따라서 상부 지그(103)에 구비된 커넥터 프로브 핀(114)은 커넥터(131)에 케이블을 연결하여 테스트 신호를 인가하는 방법과 동일하게 테스트 신호를 커넥터(131)를 통해 PCB 기판(101)의 전자부품에 인가할 수 있다.

여기서, 상기 커넥터 프로브 핀(114)은 PCB 기판(101)에 실장된 커넥터(131)의 형태에 따라 상부 지그(103) 또는 하부 지그(104)에 선택적으로 구비된다. 따라서 상기 커넥터 프로브 핀(114)은 모듈 형태로 구성되어 상부 지그(103) 또는 하부 지그(104)에 선택적으로 탈부착될 수 있도록 구현하는 것이 바람직하다.

전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.

본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

1, 101 : PCB 기판
2, 102 : 지그
3, 103 : 상부 지그
4, 104 : 하부 지그
5, 105 : 샤프트
6, 106, 11, 111 : 스프링
12, 112 : 범용 탐침
13, 113 : 프로브 핀
114 : 커넥터 프로브 핀
21, 121 : 제품 고정 가이드
31, 131 : 커넥터
32 : 케이블

Claims (5)

1. 상하로 분리하여 각각 장방향의 상부 지그(103)와 하부 지그(104)로 구성하는 지그(100)와,
   상기 상부 지그(103)과 하부 지그(104) 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트(105)와,
   상기 상부 지그(103)와 하부 지그(104)에는 그 내부에 각각 스프링(111)에 의하여 유동되는 범용 탐침(112)과,
   상기 범용 탐침(112) 각각에 구비되어 PCB 기판(101)과 접촉되는 프로브 핀(113)을 포함하되,
   상기 상부 지그(103) 또는 상기 하부 지그(104)에는 PCB 기판(101)의 커넥터(131)를 검사하기 위한 커넥터 전용 탐침(114)을 구비하는 것을 특징으로 하는 PCB 기판의 전기적 검사 장치.
   
2. 제1항에 있어서,
   상기 샤프트(105)는 PCB 기판과 상부 지그(103) 및 하부 지그(104)에 각각 구비된 프로브 핀(113)을 보호하기 위한 스프링(106)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 기판의 전기적 검사 장치.
   
3. 제1항에 있어서,
   상기 하부 지그(104)에는 상측으로 돌출되어 상기 PCB 기판을 고정하는 제품 고정 가이드(121)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 기판의 전기적 검사 장치.
   
4. 제1항에 있어서,
   상기 커넥터 프로브 핀(114)은 PCB 기판(101)에 실장된 커넥터(131)의 형태에 따라 상기 상부 지그(103) 또는 상기 하부 지그(104)에 구비되는 것을 특징으로 하는 PCB 기판의 전기적 검사 장치.
   
5. 제4항에 있어서,
   상기 커넥터 프로브 핀(114)은 모듈 형태로 구성되어 상기 상부 지그(103) 또는 상기 하부 지그(104)에 탈부착 될 수 있도록 구비되는 것을 특징으로 하는 PCB 기판의 전기적 검사 장치.

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