KR20180014647A - 방사 패턴 결정 시스템 및 방법 - Google Patents

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Abstract

제공된 테스트 신호에 기초하여 복수의 안테나 소자들을 포함하는 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템으로서, 제1 표면 및 제2 표면에서 상기 안테나 소자들이 상기 테스트 신호로 구동되는 경우 상기 안테나 소자들에 의해 방출된 신호들의 진폭을 측정하거나 상기 제1 표면 및 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들로 상기 테스트 신호를 방사하는 다수의 프로브들로서, 상기 테스트 신호를 방사하는 상기 프로브들을 이용하여 상기 안테나 소자들이 상기 프로브들에 의해 방출된 신호들을 수신하고 측정된 각 진폭들을 제공하며, 상기 제1 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제1 거리가 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제2 거리보다 작은, 상기 다수의 프로브들; 및 측정된 상기 진폭들에 기초하여 상기 안테나 어레이의 방사 패턴을 계산하는 패턴 계산부를 포함한다.

Description

방사 패턴 결정 시스템 및 방법{SYSTEM AND A METHOD FOR DETERMINING A RADIATION PATTERN}
본 발명은 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템 및 방법과 관련된다.
무선 신호들을 사용하는 임의의 시스템에도 적용 가능하나, 본 발명은 무선 통신 디바이스들을 테스트하는 것과 함께 설명될 것이다.
근대의 무선 통신 디바이스들은 정보 및/또는 음성을 전송하기 위해 무선 주파수 신호들을 사용한다. 이러한 통신 디바이스들의 제조업자들은 통신 디바이스들의 효율을 향상시키면서 동시에 법적 규제들이나 규격들을 충족시키기 위해 항상 노력한다.
그러므로, 개발하는 동안, 생산하는 동안, 그리고 생산 이후에 이러한 통신 디바이스들의 광범위한 테스트가 수행된다. 이러한 테스트는 품질 보증 및 규정 준수 테스트들을 제공한다. 하나의 테스트는 각 디바이스의 안테나 어레이의 원거리장(far field)을 결정하는 단계를 포함한다.
RF 디바이스들의 원거리장(far field)의 테스트를 개선하고자 하는 요구가 있다.
본 발명은 제공된 테스트 신호에 기초하여 복수의 안테나 소자들 즉, 둘 이상의 안테나 소자들을 포함하는 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템을 제공한다. 상기 시스템은 제1 표면 및 제2 표면에서 상기 안테나 소자들이 상기 테스트 신호로 구동되는 경우 상기 안테나 소자들에 의해 방출된 신호들의 진폭을 측정하거나 상기 제1 표면 및 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들로 상기 테스트 신호를 방사하는 다수의 즉, 하나 이상의 프로브들로서, 상기 테스트 신호를 방사하는 상기 프로브들을 이용하여 상기 안테나 소자들이 상기 프로브들에 의해 방출된 신호들을 수신하고 측정된 각 진폭들을 제공하며, 상기 제1 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제1 거리가 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제2 거리보다 작은, 상기 다수의 프로브들; 및 측정된 상기 진폭들에 기초하여 상기 안테나 어레이의 방사 패턴을 계산하는 패턴 계산부를 포함한다.
본 발명은 또한 제공된 테스트 신호에 기초하여 복수의 안테나 소자들을 포함하는 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법을 제공한다. 상기 방법은 제1 표면 및 제2 표면에서 다수의 즉, 하나 이상의 프로브들에 의해 상기 안테나 소자들이 상기 테스트 신호로 구동되는 경우 상기 안테나 소자들에 의해 방출된 신호들의 진폭을 측정하는 단계 또는 상기 프로브들에 의해 상기 제1 표면 및 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들로 상기 테스트 신호를 방사하는 단계로서, 상기 테스트 신호를 방사하는 상기 프로브들을 이용하여 상기 안테나 소자들이 상기 프로브들에 의해 방출된 신호들을 수신하고 측정된 각 진폭들을 제공하며, 상기 제1 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제1 거리가 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제2 거리보다 작은, 단계; 및 측정된 상기 진폭들에 기초하여 상기 안테나 어레이의 방사 패턴을 계산하는 단계를 포함한다.
예를 들어, 스마트폰이나 다른 모바일 장비, 특히 소위 5G 장비와 같은 근대의 통신 시스템들에 있어서, 안테나 어레이들은 콤팩트 안테나 시스템들(compact antenna systems)을 제공하기 위해 사용될 수 있다. 이러한 안테나 어레이들은 빔 포밍(beam forming)을 수행할 수 있으며, 이에 따라 모바일 데이터 통신에서 신호 품질 또는 신호 강도를 향상시키는 이점이 있다.
이미 상술한 바와 같이, 어떠한 표준들과 같은 법적 또 기타 규칙들을 준수하기 위해 예를 들어, 방출, 특히 안테나 어레이들의 방사 패턴이나 원거리장(far field)을 측정할 필요가 있다. 게다가, 예를 들어, 프로브들이 테스트 신호를 방사하고 안테나 소자들이 방사된 테스트 신호를 수신하는 경우, 방사 패턴이 수신 방향으로 측정될 수 있다.
단일 측정에서의 진폭과 위상 값을 포함하는 근거리장의 측정으로부터 원거리장을 계산할 가능성이 있다. 그러나, 진폭 측정과 비교해서 무선 신호의 위상을 측정하는 것이 기술적으로 훨씬 더 복잡하다.
따라서, 본 발명은 오직 진폭 측정치에만 기초하여 안테나 어레이의 방사 패턴을 결정하는 시스템을 제공한다.
진폭 정보만을 포함하는 근거리장의 측정치에 기초하여 원거리장을 계산하기 위해, 본 발명은 안테나 소자들까지 제1 거리만큼 떨어진 제1 표면과 안테나 소자들까지 제2 거리만큼 떨어진 제2 표면에서의 안테나 소자들의 방출을 측정한다. 여기서, 표면이라는 용어는 프로브가 움직이는 가상 표면을 의미한다. 상기 표면은 3차원 공간에서의 평면들 또는 임의의 형상을 지닌 곡면일 수 있다. 상기 표면들은 안테나 소자들의 총 방사 전력의 적어도 50%, 60%, 70%, 80% 또는 그 이상, 예를 들어 90%를 차단하거나 감싸도록 형성될 수 있다.
다른 방향에서의 측정들 또한 가능하다. 이는 테스트 신호가 프로브들에 의해 방사되며 안테나 어레이의 안테나 소자들에 의해 수신되는 것을 의미한다. 이 경우 안테나 어레이는 측정부를 포함하여 신호 진폭들을 측정하고 측정된 진폭을 직접 제공하거나 또는 예를 들어, 테스트 커넥터 또는 무선으로 수신된 신호를 단지 전달함으로써, 시스템 또는 테스트 시스템의 측정부에 측정된 진폭들을 간접적으로 제공할 수 있다.
패턴 계산부는 예를 들어, 안테나 패턴 즉, 안테나의 원거리장(far field)을 계산하기 위한 확장된 평면파(extended Plane Wave) 기반의 고속 불규칙 안테나 필드 변환 알고리즘(Fast Irregular Antenna Field Transformation Algorithm, FIAFTA)을 사용할 수 있다. 이러한 알고리즘은 예를 들어, 카를로스 로페즈(Carlos Lopez) 등에 의한 "평면파 확장 기반의 진폭 전용 데이터를 위한 고속 불규칙 안테나 필드 변환 알고리즘(Extending the Plane Wave Based Fast Irregular Antenna Field Transformation Algorithm for Amplitude-Only Data)"에 개시되어 있다. 상기 간행물의 내용은 본원에 전체로서 참조로 포함된다. FIAFTA 알고리즘의 상세한 설명들은 예를 들어, A. D. Yaghjian에 의한 "근거리-장 안테나 측정 개요(An overview of near-field antenna measurements)"와 IEEE Antennas Propag, vol. 49, no. 2, pp 170-178의 "무위상 평면 근거리-장 측정에 대한 새로운 시각 : 한계, 시뮬레이션, 측정 및 하이브리드 솔루션(A new look at phaseless planar near-field measurements: limitations, simulations, measurements, and a hybrid solution)"에서 찾을 수 있다. 상기 간행물의 내용은 본원에 전체로서 참조로 포함된다.
따라서 본 발명은 진폭들만을 측정하고 필수적이지는 않게 위상들을 측정하는 간단한 프로브들과 함께 작동할 수 있는 시스템을 제공한다. 이러한 간단한 프로브들은 개발 및 구축이 쉬우며 이에 따라 시스템의 복잡성을 줄일 뿐만 아니라 더 경제적인 시스템을 제공한다.
게다가 본 발명의 실시 형태들은 또한 종속항들, 명세서, 도면들에서 개시된다.
가능한 실시 형태에서, 테스트 신호가 안테나 소자들에 인가되는 경우 테스트 신호는 정적 RF 신호 즉, 일정 진폭, 일정 주파수 및 일정 위상을 가지는 신호를 방출하도록 안테나 소자들을 구동시킬 수 있다.
가능한 실시 형태에서, 테스트 신호는 디지털 명령 신호로서 안테나 어레이의 신호 처리부에 제공될 수 있다. 상기 신호 처리부는 예를 들어, 스마트폰의 송수신 등일 수 있으며, 테스트 신호를 수신하고 테스트 신호에서의 정보에 따라 단일 안테나 소자들을 구동시키는 각 RF 신호들을 발생시킬 수 있다.
가능한 실시 형태에서, 테스트 신호는 단일의 안테나 소자들을 직접 구동시키는 RF 신호로서 제공될 수 있다. 이 경우에서 직접이라는 것은 예를 들어, 송수신기에 의해 신호가 명령어에서 실제 RF 신호로 변환되지 않음을 의미한다. 상기 직접이라는 것은 신호 발생기가 테스트 커넥터를 통해 안테나 어레이에 직접 연결되는 것을 의미할 수 있으나 반드시 그러한 것은 아니다. 신호 발생기는 예를 들어, 시스템의 일부나 예를 들어, 피시험 장치의 유닛, 예를 들어 스마트폰일 수 있다.
가능한 실시 형태에서, 제1 표면에서 안테나 소자까지의 제1 거리는 측정된 진폭들로 단일의 안테나 소자들을 구별하는 거리이다. 또한, 제2 표면에서 안테나 소자들까지의 제2 거리는 측정된 진폭들로 단일의 안테나 소자들을 구별하지 못하는 거리이다. 만약 측정된 진폭치로 단일의 안테나 소자들을 구별할 수 있다면, 모든 단일의 안테나 소자의 영향이 세부적으로 측정될 수 있다. 반대로, 제2 거리에서 중첩된 장이 측정될 수 있다. 이러한 두 가지 다른 유형의 정보는 추후 안테나 어레이의 장거리-장을 계산하기 위한 기반을 제공한다.
가능한 실시 형태에서, 제1 거리는
Figure pat00001
보다 작을 수 있으며, 여기서 λ0는 테스트 신호의 파장이다. 제2 거리는
Figure pat00002
보다 클 수 있다.
가능한 실시 형태에서, 제1 거리는 Δd과 Δd의 2배(Δ2d) 사이가 될 수 있으며, 여기서 Δd는 균일하게 또는 불균일하게 이격된 소자들를 가지는 안테나 어레이에서의 단인 안테나 소자들 간의 가장 작은 거리이다. 제2 거리는 Δd의 2배(Δ2d)보다 더 클 수 있다. 제1 거리와 제2 거리는 가변적, 즉 일정하지 않을 수 있음에 유의한다. 이는 또한 표면들이 모든 지점들에서 안테나 어레이로부터 등 간격으로 이격되어 있지 않다는 것을 의미한다. 이는 특히 곡면이 예를 들어, 타원형 또는 원형 표면을 갖는 원통 형상의 벽인 케이스일 수 있다.
가능한 실시 형태에서, 안테나 어레이는 라돔(radom)을 포함할 수 있으며 제1 거리는 라돔의 외부 표면으로부터 안테나 어레이까지의 거리일 수 있다. 이는 프로브들이 라돔의 외부 표면 위로 밀려나거나 라돔과 거의 접촉할 수 있음을 의미한다.
가능한 실시 형태에서, 제1 거리에서 사용되는 프로브들의 구경은 제2 거리에서 사용되는 프로브들의 구경보다 작을 수 있다.
가능한 실시 형태에서, 제1 거리에서 사용되는 프로브들의 구경은 제1 거리 또는 제2 거리에서의 아크 세그먼트의 두 종단점들의 거리로 각각 정의될 수 있다. 아크 세그먼트는 각도(α)는
Figure pat00003
이며, 여기서 λ0은 예를 들어, 측정 매개체(일반적으로 자유-공간)에서의 테스트 신호의 파장이며, Lmax는 안테나 어레이를 둘러싸는 가장 작은 구, 또는 안테나 어레이를 지닌 디바이스의 반경이다.
가능한 실시 형태에서, 제1 거리에서 사용되는 프로브들의 구경(WD1)은
Figure pat00004
로 정의되며, 여기서 λ0은 예를 들어, 측정 매개체(일반적으로 자유-공간)에서의 테스트 신호의 파장이다.
가능한 실시 형태에서, 제2 거리에서 사용되는 프로브들의 구경(WD2)은
Figure pat00005
Figure pat00006
로 정의될 수 있으며, 여기서 D2는 제2 거리이며, λ0은 예를 들어 측정 매개체(일반적으로 자유-공간)에서의 테스트 신호의 파장이며, Lmax는 안테나 어레이를 둘러싸는 가장 작은 구 또는 안테나 어레이를 지닌 디바이스의 반경이다.
가능한 실시 형태에서, 상기 제1 표면 및/또는 제2 표면은 구 및/또는 타원 및/또는 원통 및/또는 평면의 적어도 하나의 부분을 포함하며, 특히 상기 제1표면 및/또는 제2 표면은 다른 형상들을 포함할 수 있다.
가능한 실시 형태에서, 상기 시스템은 제1 축을 중심으로 회전 가능한 기계적 구조를 포함할 수 있으며, 제1 축으로부터 제1 거리만큼 떨어진 적어도 하나의 프로브를 포함할 수 있으며, 제1 축으로부터 제2 거리만큼 떨어진 적어도 하나의 다른 프로브를 포함할 수 있다. 기계적 구조는 예를 들어, 제1 축의 반대편에서 제1 거리 및 제2 거리 내에 있으며 제1 축을 향하는 프로브들을 포함할 수 있다. 기계적 구조를 회전시키는 경우, 기계적 구조는 제1 거리 내 프로브들에 의해 형성된 원통의 가상적인 상부 또는 하부에 위치하는 프로브들을 더 포함할 수 있다. 기계적 구조가 제1 축을 중심으로 회전하는 경우, 제1 및 제2 거리에서의 프로브들은 원통 벽에서 각각 이동하며, 제1 축을 중심에 있는 프로브들은 제1 거리에서 제공된 원통의 상부 및 하부를 덮는다. 그러므로, 피시험 장치가 제1 축에 위치하는 동안, 기계적 구조는 단일의 회전으로 필요한 세부 사항들을 기록하도록 할 수 있다.
임의의 다른 기계적 구조 또한 사용될 수 있음이 이해된다. 예를 들어, 로봇 팔과 같은 구조가 피시험 장치의 주변에서 프로브를 움직이는 데 사용될 수 있다.
본 발명은 오직 진폭 측정치에만 기초하여 안테나 어레이의 방사 패턴을 결정하는 시스템을 제공한다.
따라서 본 발명은 진폭들만을 측정하고 필수적이지는 않게 위상들을 측정하는 간단한 프로브들과 함께 작동할 수 있는 시스템을 제공한다. 이러한 간단한 프로브들은 개발 및 구축이 쉬우며 이에 따라 시스템의 복잡성을 줄일 뿐만 아니라 더 경제적인 시스템을 제공한다.
본 발명 및 이의 이점을 더 완전히 이해하기 위해, 첨부된 도면들과 함께 이하의 설명이 참조된다. 본 발명은 도면들의 개략적인 도시들에서 구체화된 예시적인 실시 형태들을 이용하여 아래에서 더 상세히 설명된다.
도 1은 본 발명과 함께 사용되는 안테나 어레이의 블록도를 나타낸다.
도 2는 본 발명과 함께 사용되는 다른 안테나 어레이의 블록도를 나타낸다.
도 3은 본 발명에 따른 시스템의 일 실시 형태의 블록도를 나타낸다.
도 4는 본 발명에 따른 시스템의 다른 실시 형태의 블록도를 나타낸다.
도 5는 본 발명에 따른 방법의 일 실시 형태의 흐름도를 나타낸다.
도 6은 다른 안테나 어레이의 도면을 나타낸다.
도면에서의 동일한 참조 부호들은 다른 언급이 없는 한 동일한 구성 요소들을 나타낸다.
도 1은 다섯 개의 안테나 소자들(2, 3)을 포함하는 안테나 어레이(1)를 나타낸다. 간소화를 위해 첫 번째와 마지막 안테나 소자들(2, 3)만이 참조 부호와 함께 제공된다.
안테나 소자들(2, 3)은 단일의 열(column)에 배열된다. 이는 안테나 어레이(1)가 1 차원의 안테나 어레이(1)인 것을 의미하며, 단일의 안테나 소자들(2, 3)은 수직 축 상에 위치한다. 단일의 안테나 소자들(2, 3)은 Δd1 거리만큼 떨어져 위치한다.
도 1에서 제1 표면(5)은 안테나 어레이(1)로부터 제1 거리(D1)만큼 떨어진 위치에서 점선으로 표시된다. 나아가, 제2 표면(6)은 안테나 어레이(1)로부터 제2 거리(D2)만큼 떨어진 위치에서 점선으로 표시된다. 두 표면(5, 6)은 안테나 어레이의 중심 축이나 다른 적절한 축을 중심으로 점선을 회전시킴으로써(화살표에 의해 암시됨) 형성된다.
도 1에 도시된 바와 같이 두 표면(5, 6)은 동일한 형상을 가질 필요가 없다. 여기서, 제1 표면(5)은 원통 형상인 반면, 제2 표면(6)은 구 형상이다. 임의의 형상들의 조합 또한 가능함에 유의한다.
각 축을 중심으로 점선을 360° 회전시킴으로써 측정이 수행될 수 있다. 그러나, 점선을 반드시 360° 회전시켜야 하는 것은 아니다. 안테나 소자들(2, 3)에 의해 방출된 전력의 기 결정된 양이 각 표면(5, 6)에 포함되는 조건하에서 더 작은 회전이 수행될 수 있다. 방출된 전력이 표면들에 더 많이 포함될수록, 계산된 원거리장(far field)의 정확도가 더 향상될 것이다.
도 2는 본 발명과 함께 사용되는 다른 안테나 어레이(10)를 나타낸다. 안테나 어레이(10)는 4개의 열과 5개의 행 즉, 20개의 안테나 소자들(11, 12, 13)을 포함한다.
도 2에 도시된 바와 같이 안테나 소자들(11, 12, 13) 간의 수직 거리(Δd1)는 안테나 소자들(11, 12, 13) 간의 수평 거리(Δd2)보다 더 크다.
만약 본 발명의 시스템이 이러한 안테나 어레이(10)와 함께 사용되는 경우, 거리 Δd1, Δd2에 기초하여 계산된 모든 값들은 예를 들어, 상기 거리들 중 더 작은 것에 의해 계산될 수 있다.
도 3은 도 1에 도시된 복수의 안테나 소자들(2, 3)을 포함하는 안테나 어레이(1)의 방사 패턴 결정 시스템(100)을 나타낸다. 시스템(100)은 임의의 다른 안테나 어레이와 함께 사용될 수 있다.
시스템(100)은 단일의 안테나 소자들(2, 3)을 구동시키기 위한 테스트 신호(102)를 발생시키는 신호 발생기(101)를 포함한다. 테스트 신호(102)는 정적인 RF 신호 즉, 일정한 진폭, 위상 및 주파수를 갖는 RF 신호를 방출하도록 안테나 소자들(2, 3)을 구동시킨다. 도 3에서 신호 발생기(101)는 파선으로 표시된다. 이는 신호 발생기(101)가 시스템(100) 일부분의 일 실시 형태로서 존재할 수 있음을 나타낸다. 그러나, 신호 발생기(101)는 시스템(100)의 외부, 예를 들어, 피시험 장치의 일부로서 존재할 수도 있다. 신호 발생기(101)는 예를 들어, 테스트되는 스마트폰에 통합되어 존재할 수 있다.
테스트 신호(102)는 예를 들어, 디지털 명령 신호로서 안테나 어레이(1)의 신호 처리부(미도시)에 제공될 수 있다. 이러한 명령 신호는 각 RF 신호와 안테나 소자들(2, 3)을 구동시키기 위해 필요한 정보를 신호 처리부, 예를 들어 송수신기에 제공할 것이다. 대안으로서, 테스트 신호(102)는 단일의 안테나 소자들(2, 3)을 구동시키기 위한 RF 신호로서 제공될 수 있다. 이 경우, RF 신호는 신호 처리부 대신 신호 발생기(101)에서 발생된다.
시스템(100)은 두 개의 프로브들(103, 104)을 더 포함한다. 두 개의 프로브들(103, 104)의 개수는 단지 예시적으로 선택되며 임의의 개수의 프로브들이 상기 시스템(100)에서 사용될 수 있다. 프로브들(103, 104)은 단일의 안테나 소자들(2, 3)에서 방출된 신호들의 진폭(105, 106)을 측정한다.
프로브들(103, 104)은 안테나 어레이(1)로부터 두 개의 다른 거리(D1, D2)에 위치하며 테스트 신호(102)가 구동되는 경우 안테나 소자들(2, 3)에 의해 방출된 신호들의 진폭을 측정한다.
프로브들(103, 104)은 안테나 어레이(1)에 대해 상대적으로 움직일 수 있다. 상대적으로 움직일 수 있다는 것은 프로브들(103, 104), 안테나 어레이(1) 중 어느 하나 또는 이들 모두가 움직일 수 있다는 것을 의미한다. 도 1의 5를 참조하면 프로브(103)는 움직이면서 제1 표면의 스캔을 수행한다. 도 1의 6을 참조하면 프로브(104)는 제2 표면의 스캔을 수행한다. 일 실시 형태에 있어서, 오직 하나의 프로브(103, 104)만이 제1 표면과 제2 표면의 스캔을 수행할 수 있도록 제공되어 움직일 수 있다. 이에 맞는 기계적인 움직임 구조가 제공될 수 있다.
안테나 소자들(2, 3)과 제1 표면(5)의 거리(D1)는 안테나 소자들(2, 3)과 제2 표면의 거리(D2)보다 작다.
제1 표면(5) 및 제2 표면(6)은 임의의 형상을 가질 수 있다. 이들은 특히 구, 타원 또는 원통의 적어도 하나의 부분을 포함할 수 있다. 제1 표면(5) 및 제2 표면(6)은 특히 서로 다른 형상들을 포함할 수 있다.
안테나 어레이(1) 또는 안테나 소자들(2, 3)과 제1 표면(5)의 거리(D1)는 측정된 진폭들(105)로 단일의 안테나 소자들을 구별하는 거리이다. 동시에, 안테나 어레이(1) 또는 안테나 소자들(2, 3)과 제2 표면(6)의 거리는 측정된 진폭들(106)로 단일의 안테나 소자들(2, 3)을 구별하지 못하는 거리이다.
제1 거리는 특히 단일 안테나 소자들(2, 3)의 거리 Δd와 Δd의 2배(Δ2d) 사이일 수 있다. 도 2를 참조하여 이미 설명한 바와 같이, 만약 단일의 안테나 소자들(2, 3) 간에 2개의 다른 거리가 존재하는 경우, 더 작은 거리가 Δd로 선택될 수 있다. 몇몇 안테나 어레이(1)는 라돔(radom)이라 불리는 커버를 포함한다. 이러한 안테나 어레이(1)에 있어서 제1 거리(D1)는 라돔의 외부 표면에서 안테나 어레이(1)까지의 거리일 수 있다.
프로브들(103, 104)는 예를 들어, 안테나들을 포함한다. 제1 거리(D1)에서 사용되는 프로브들(103) 즉, 각 안테나들의 구경은 제2 거리(D2)에서 사용되는 프로브들(104)의 구경보다 작을 수 있다.
프로브들(103, 104)의 구경은 예를 들어, 제1 거리 또는 제2 거리 내 아크 세그먼트(arc segment)의 2개의 종단점들의 거리로 각각 정의될 수 있으며, 아크 세그먼트는 각도(α)는
Figure pat00007
이며, λ0는 테스트 신호의 파장, Lmax는 안테나 어레이(1, 10)를 둘러싸는 가장 작은 구의 반경이다. 상기 계산은 도 6을 참조하여 이후에 설명될 것이다.
제1 거리(D1)에서 사용되는 프로브들(103)의 구경(WD1)을 계산하는 다른 공식은
Figure pat00008
로 정의되며, λ0는 테스트 신호(102)의 파장이다. 이 경우, 제2 거리(D2)에서 사용되는 프로브(104)의 구경(WD1)은
Figure pat00009
Figure pat00010
로 정의되며, D2는 제2 거리이며, λ0는 테스트 신호의 파장이며, Lmax는 안테나 어레이를 둘러싸는 가장 작은 구의 반경이다. 상기 계산 또한 도 6을 참조하여 이후에 설명될 것이다.
시스템(100)은 제1 거리(D1) 및 제2 거리(D2)에서 측정된 진폭(105, 106)에 기초하여 안테나 어레이(1)의 방사 패턴(108)을 계산하는 패턴 계산부(107)를 더 포함할 수 있다. 패턴 계산부(107)는 복수의 다른 서브 유닛들, 모듈들 또는 기능들을 포함할 수 있다. 이러한 서브 유닛들은 예를 들어, 공간 상에서 복수의 측정점들에서의 프로브 신호의 진폭을 측정하는 패턴 측정부, 및 근거리장(near-field) 진폭 패턴이라 불리는 측정된 진폭들을 후처리하는 패턴 계산기가 될 수 있다.
패턴 계산부(107)는 예를 들어, 안테나 패턴 즉, 안테나의 원거리장(far field)을 계산하기 위한 확장된 평면파(extended Plane Wave) 기반의 고속 불규칙 안테나 필드 변환 알고리즘(Fast Irregular Antenna Field Transformation Algorithm, FIAFTA)을 사용할 수 있다. 이러한 알고리즘은 예를 들어, 카를로스 로페즈(Carlos Lopez) 등에 의한 "평면파 확장 기반의 진폭 전용 데이터를 위한 고속 불규칙 안테나 필드 변환 알고리즘(Extending the Plane Wave Based Fast Irregular Antenna Field Transformation Algorithm for Amplitude-Only Data)"에 개시되어 있다. 상기 간행물의 내용은 본원에 전체로서 참조로 포함된다. FIAFTA 알고리즘의 상세한 설명들은 예를 들어, A. D. Yaghjian에 의한 "근거리-장 안테나 측정 개요(An overview of near-field antenna measurements)"와 IEEE Antennas Propag, vol. 49, no. 2, pp 170-178의 "무위상 평면 근거리-장 측정에 대한 새로운 시각 : 한계, 시뮬레이션, 측정 및 하이브리드 솔루션(A new look at phaseless planar near-field measurements: limitations, simulations, measurements, and a hybrid solution)"에서 찾을 수 있다. 상기 간행물의 내용은 본원에 전체로서 참조로 포함된다.
도 4는 복수의 안테나 소자들을 포함하는 안테나 어레이의 방사 패턴을 결정하는 다른 시스템(200)의 블록도를 나타낸다. 도 4에서 안테나 어레이는 도시되어 있지 않으나 테스트 목적상 축(201) 상에 위치할 수 있다.
대신에 일종의 포탈(portal)을 형성하는 기계적 구조(202)가 도시된다. 이는 기계적 구조(202)가 접지판(210)에 장착되며, 2개의 사이드 포스트들(211, 212; side posts)를 포함하는 것을 의미하며, 하나의 수직 포스트(214)는 그 하단에 있는 사이드 포스트들(211,212)을 연결하고, 하나의 수직 포스트(215)는 그 상단에 있는 사이드 포스트들(211, 212)를 연결한다.
기계적 구조(202)는 축(201)을 중심으로 회전 가능하게 장착된다. 축(201)은 접지판(210)의 중심에 위치하지 않는다. 대신에 축(201)은 편심되게 위치한다. 이는 제1 포스트(212)가 축(201)로부터 제1 거리(D1)만큼 떨어져 위치하는 것을 의미한다. 제2 포스트(211)는 축(201)로부터 제2 거리(D2)만큼 떨어져 위치한다. 접지판(201)이 회전하는 경우, 포스트(212)는 제1 거리(D1) 내 축(201)에 위치하거나 축(201)의 근처에 위치한 임의의 피시험 장치(DUT : Device Under Test)를 중심으로 원운동을 수행할 것이다. 포스트(211)은 제2 거리(D2) 내 DUT를 중심으로 원운동을 수행할 것이다.
또한, 구조(202)는 수평 및 수직하게 선형적으로 이동하여 측정 프로브들(203 내지 209)을 닫힌 표면(a closed surface) 상에 놓아 측정의 공간 해상도(spatial resolution)를 증가시킬 수 있다. 이는 예를 들어, 선형 액츄에어터 또는 선형 움직임 메커니즘(미도시)으로 달성될 수 있다.
기계적 구조(201)가 회전하는 경우, 포스트들(211, 212) 상의 프로브들(203 내지 207)은 각 거리(D1, D2) 내 DUT를 중심으로 움직이도록 위치한다. 수직 포스트들(213, 214) 상의 프로브들(208, 209)은 축(201)에 장착되거나 축(201)의 근처에 장착되고 이에 따라 DUT의 상부 및 하부를 덮게 된다. 모든 프로브들(203 내지 209)은 축(201), 즉 DUT에 집중된다.
도 4의 기계적 구조는 예를 들어, 도 3에 따른 시스템의 일부분일 수 있다. 프로브들(203 내지 209)의 배열은 단지 예시적인 것으로 이해될 수 있다. 임의의 개수의 프로브들이 각 DUT에 적당하게 기계적 구조(200)의 임의의 포스트(211, 212, 213, 214)에서 위치할 수 있다. 또한, 기계적 구조의 임의의 부분이 수정될 수 있다. 예를 들어, 접지판(210)은 하부 수직 포스트(214)로 교체될 수 있으며 또한 수직 포스트들은 생략될 수 있다. 다른 거리에서 프로브들을 회전시키는 임의의 기계적 구조는 동시에 기계적 구조(200)의 목적을 달성한다.
도 5는 복수의 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)을 포함하는 안테나 어레이(1, 10)의 방사 패턴(108) 결정 방법의 흐름도를 나타낸다.
상기 방법은 테스트 신호(102)를 발생시키는 단계(S1)와 발생된 테스트 신호(102)로 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)을 구동시키는 단계를 포함한다. 테스트 신호(102)는 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)에 인가되는 경우 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)을 구동시켜 정적 RF 신호를 방출하도록 할 수 있다. 테스트 신호(102)는 예를 들어, 안테나 어레이(1, 10)의 신호 처리부로 향하는 디지털 명령 신호로서 각 RF 신호들을 발생시킬 수 있다. 대안적으로, 테스트 신호(102)는 단일의 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)을 직접 구동시키는 RF 신호로서 제공될 수 있다.
또한, 테스트 신호(102)로 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)이 구동되는 경우, 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)에 의해 방출된 신호들의 진폭(105, 106)은 제1 표면(5) 및 제2 표면(6)에서 다수의 프로브들(103, 104, 203 내지 209)로 측정된다(S2). 제1 표면(5)에서 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)까지의 제1 거리(D1)는 제2 표면(6)에서 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)까지의 제2 거리(D2)보다 작다. 제1 표면 및 제2 표면은 구, 타원 또는 원통의 적어도 일부분을 포함할 수 있으며, 제1 표면 및 제2 표면은 서로 다른 형상들을 포함할 수도 있다.
제1 표면에서 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)까지의 제1 거리(D1)는 측정된 진폭들(105, 106)로 단일의 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)을 구별하는 거리이다. 또한, 제2 표면에서의 거리(D2)는 측정된 진폭들(105, 106)로 단일의 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13)을 더 이상 구별하지 못하는 거리이다.
제1 거리(D1)는 예를 들어, Δd와 Δd의 2배(Δ2d) 사이일 수 있으며, Δd은 단일의 안테나 소자들(2, 3, 11, 12, 13) 간의 거리이다. 만약 안테나 어레이(1, 10)가 라돔(radom)을 포함하는 경우, 제1 거리(D1)는 라돔의 외부 표면에서 안테나 어레이(1, 10)까지의 거리일 수 있다.
프로브들(103, 104, 203 내지 209)은 예를 들어, 안테나들일 수 있다. 제1 거리(D1)에서 사용되는 프로브들(103, 104, 203 내지 209)의 구경은 제2 거리(D2)에서 사용되는 프로브들(103, 104, 203 내지 209)의 구경보다 작을 수 있다.
예를 들어, 제1 거리(D1) 또는 제2 거리(D2)에서 사용되는 프로브들(103, 104, 203 내지 209)의 구경은 제1 거리(D1) 또는 제2 거리(D2) 내 아크 세그먼트의 2개의 종단점들의 거리로 각각 정의될 수 있으며, 아크 세그먼트는 각도(α)는
Figure pat00011
이며, λ0은 테스트 신호(102)의 파장, Lmax는 안테나 어레이(1, 10)를 둘러싸는 가장 작은 구의 반경이다.
제1 거리(D1)에서 사용되는 프로브들(103, 104, 203 내지 209)의 구경(WD1)을 계산하는 다른 공식은
Figure pat00012
이며, λ0은 테스트 신호(102)의 파장이다.
제2 거리(D2)에 사용되는 프로브(103, 104, 203 내지 209)의 구경(WD2)을 구하는 다른 공식은
Figure pat00013
Figure pat00014
이며, D2는 제2 거리이며, λ0은 테스트 신호(102)의 파장이며, Lmax는 안테나 어레이(1, 10)를 둘러싸는 가장 작은 구멍의 반경이다.
마지막으로, 안테나 어레이(1, 10)의 방사 패턴(108)은 제1 표면 및 제2 표면에서 측정된 진폭(105, 106)에 기초하여 계산된다(S3).
도 6은 다른 안테나 어레이(600)의 도면을 나타낸다. 안테나 어레이(600)는 안테나 어레이(600)에 맞는 가장 작은 원(601)에 의해 둘러싸인다. 상기 원은 직경(602)을 가진다.
도 6의 도면은 안테나 어레이(600)의 방사를 측정하기 위해 사용되는 프로브들의 구경을 계산하는 방식을 설명하기 위하여 제공된다.
각도 α를 갖는 아크 세그먼트가 도면에 도시된다. 각도 α는 아래와 같이 계산될 수 있다.
Figure pat00015
Lmax는 원(601)의 반경이다.
거리(D1)에서 사용되는 프로브들의 구경은
Figure pat00016
보다 작도록 계산될 수 있다. 거리(D1)에서 사용되는 프로브들의 구경은
Figure pat00017
로 계산될 수 있다.
대안적으로, 각 프로브들의 구경들은 각 아크 세그먼트의 종단점들(603, 604 또는 605, 606) 간의 거리만큼 클 수 있다.
대안적으로, 완전한 DUT 주변의 가장 작은 원은 상술한 계산들을 위한 기초로서 사용될 수 있다.
비록 본 명세서에서 구체적인 실시 형태들이 도시되고 설명되었으나, 다양한 대체적인 및/또는 동등한 구현들이 존재한다는 것은 본 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 이해될 것이다. 예시적인 실시 형태 또는 예시적인 실시 형태들은 단지 예시들에 불과하며, 어떠한 방식으로 범위, 적용 가능성 또는 구성을 제한하는 것으로 의도되지 않음이 분명하다. 오히려, 전술한 요약 및 상세한 설명은 적어도 하나의 예시적인 실시 형태를 구현하기 위한 편리한 로드맵을 당업자에게 제공하며, 청구범위 및 법적 균등물들의 범위를 벗어나지 않으면서 예시적인 실시 형태에서 설명된 구성 요소들의 기능 및 방식에 다양한 변경이 가해질 수 있다. 일반적으로, 본 출원은 본 명세서에서 논의된 구체적인 실시 형태들의 임의의 적용 또는 변경들을 포괄하도록 의도된다.
전술한 상세한 설명에서, 다양한 특징들은 본 개시 내용을 단순화할 목적으로 하나 또는 그 이상의 예들로서 함께 그룹화된다. 상기 설명은 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 이해되어야 한다. 이는 본 발명의 범위 내에서 포함될 수 있는 모든 대안물들, 변형물들, 균등물들을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 다른 많은 예들은 본 기술 분야에서 통상의 지식을 가진자가 상술한 설명을 검토하면서 명백해질 것이다.
전술한 설명에서 사용된 구체적인 명칭은 본 발명의 이해를 제공하기 위하여 사용된다. 그러나, 구체적인 세부사항들은 발명의 실시를 위해 요구되지 않는다는 점은 제공된 본 명세서의 설명을 고려하면 본 기술 분야에서 통상의 지식을 가진자에게 명백해질 것이다. 따라서, 전술한 본 발명의 구체적인 실시 형태의 설명들은 예시와 설명의 목적으로 제공된다. 이들은 본 발명을 개시된 정확한 형태들로 제한하거나 완전하게 되도록 의도된 것이 아니다. 상기 개시들을 고려하여 많은 변형들 및 수정들이 가능함이 분명하다. 상기 실시 형태들은 본 발명의 원리 및 실제적인 응용을 가장 잘 설명하도록 선택되었으며, 그렇게 함으로써 본 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 다른자가 본 발명 및 의도된 특정 용도에 적합한 다양한 변형들을 갖는 여러 실시 형태들을 가장 잘 이용할 수 있다. 설명 전체에 걸쳐, "구비하는" 및 "어떤 점에서"라는 용어들은 각각 "포함하는" 및 "그 점에서"이라는 용어들의 평범한 영문 균등물로서 사용된다. 또한, "제1", "제2" 및 "제3"등의 용어는 단지 라벨들(labels)로서 사용되며 수치적 요구 사항들을 부가하거나 또는 해당 객체들의 중요도를 순위화하기 위한 것이 아니다.
1, 10 : 안테나 어레이
2, 3, 11, 12, 13 : 안테나 소자
5: 제1 표면
6 : 제2 표면
D1 : 제1 거리
D2 : 제2 거리
100 : 시스템
101 : 신호 발생기
102 : 테스트 신호
103, 104 : 프로브
105, 106 : 진폭
107 : 패턴 계산부
108 : 방사 패턴
200 : 시스템
201 : 축
202 : 기계적 구조
203 내지 209 : 프로브들
210 : 접지판
211 내지 214 : 포스트

Claims (25)

  1. 제공된 테스트 신호에 기초하여 복수의 안테나 소자들을 포함하는 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템으로서,
    제1 표면 및 제2 표면에서 상기 안테나 소자들이 상기 테스트 신호로 구동되는 경우 상기 안테나 소자들에 의해 방출된 신호들의 진폭을 측정하거나 상기 제1 표면 및 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들로 상기 테스트 신호를 방사하는 다수의 프로브들로서, 상기 테스트 신호를 방사하는 상기 프로브들을 이용하여 상기 안테나 소자들이 상기 프로브들에 의해 방출된 신호들을 수신하고 측정된 각 진폭들을 제공하며, 상기 제1 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제1 거리가 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제2 거리보다 작은, 상기 다수의 프로브들; 및
    측정된 상기 진폭들에 기초하여 상기 안테나 어레이의 방사 패턴을 계산하는 패턴 계산부를 포함하는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 테스트 신호는, 상기 안테나 소자들에 인가되는 경우 상기 안테나 소자들이 정적 RF 신호를 방출하도록 상기 안테나 소자들을 구동시키는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  3. 제1항의 있어서,
    상기 테스트 신호는, 디지털 명령 신호로서 상기 안테나 어레이의 신호 처리부에 제공되는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 테스트 신호는, 단일의 상기 안테나 소자들을 직접 구동시키는 RF 신호로서 제공되는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 거리는 측정된 상기 진폭들로 단일의 상기 안테나 소자들을 구별하는 거리이며, 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 거리는 측정된 상기 진폭들로 단일의 상기 안테나 소자들을 구별하지 못하는 거리인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  6. 제1항에 있어서
    상기 제1 거리는 Δd와 Δd의 2배 사이이며, 상기 Δd은 상기 안테나 어레이에서 단일의 상기 안테나 소자들 간의 가장 작은 거리인, 안테나 어레이의 방사 패턴 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 안테나 어레이는 라돔(radom)을 포함하며, 상기 제1 거리는 상기 라돔의 외부 표면에서 상기 안테나 어레이까지의 거리인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 거리에서 사용되는 상기 프로브들의 구경은, 상기 제2 거리에서 사용되는 상기 프로브들의 구경보다 작은, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제1 거리 또는 상기 제2 거리에서 사용되는 상기 프로브들의 구경은 상기 제1 거리 또는 상기 제2 거리 내 아크 세그먼트(arc segment)의 두 종단점들의 거리로 각각 정의되며, 상기 아크 세그먼트 각도(α)는
    Figure pat00018

    이며, λ0은 상기 테스트 신호의 파장이고, Lmax는 상기 안테나 어레이를 둘러싸는 가장 작은 구의 반경인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 제1 거리(D1)에서 사용되는 상기 프로브들의 구경(WD1)은
    Figure pat00019

    로 정의되며, λ0은 상기 테스트 신호의 파장인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 제2 거리(D2)에 사용되는 상기 프로브들의 구경(WD2)은
    Figure pat00020

    Figure pat00021

    로 정의되며, D2는 상기 제2 거리이고, λ0은 상기 테스트 신호의 파장이며, Lmax는 상기 안테나 어레이를 둘러싸는 가장 작은 구의 반경인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 제1 표면 및/또는 상기 제2 표면은 구 및/또는 타원 및/또는 원통 및/또는 평면의 적어도 하나의 부분을 포함하며, 상기 제1 표면 및/또는 상기 제2 표면은 서로 다른 형상들을 포함하는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  13. 제1항에 있어서,
    기계적 구조를 포함하며,
    상기 기계적 구조는, 제1 축을 중심으로 회전 가능하며 상기 제1 축으로부터 상기 제1 거리만큼 떨어진 적어도 하나의 프로브 및 상기 제1 축으로부터 상기 제2 거리만큼 떨어진 적어도 하나의 다른 프로브를 포함하는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 시스템.
  14. 테스트 신호가 제공되는 복수의 안테나 소자들을 포함하는 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법으로서,
    제1 표면 및 제2 표면에서 다수의 프로브들에 의해 상기 안테나 소자들이 상기 테스트 신호로 구동되는 경우 상기 안테나 소자들에 의해 방출된 신호들의 진폭을 측정하는 단계 또는 상기 프로브들에 의해 상기 제1 표면 및 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들로 상기 테스트 신호를 방사하는 단계로서, 상기 테스트 신호를 방사하는 상기 프로브들을 이용하여 상기 안테나 소자들이 상기 프로브들에 의해 방출된 신호들을 수신하고 측정된 각 진폭들을 제공하며, 상기 제1 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제1 거리가 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 제2 거리보다 작은, 단계; 및
    측정된 상기 진폭들에 기초하여 상기 안테나 어레이의 방사 패턴을 계산하는 단계를 포함하는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 테스트 신호는, 상기 안테나 소자들에 인가되는 경우 상기 안테나 소자들이 정적 RF 신호를 방출하도록 상기 안테나 소자들을 구동시키는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  16. 제14항에 있어서,
    상기 테스트 신호는, 상기 안테나 어레이의 신호 처리부로 향하는 디지털 명령 신호를 포함하는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 테스트 신호는, 단일의 상기 안테나 소자들을 직접 구동시키는 RF 신호로서 제공되는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  18. 제14항에 있어서,
    상기 제1 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 거리는 측정된 상기 진폭들로 단일의 상기 안테나 소자들을 구별하는 거리이며, 상기 제2 표면에서 상기 안테나 소자들까지의 거리는 측정된 상기 진폭들로 단일의 상기 안테나 소자들을 구별하지 못하는 거리인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  19. 제14항에 있어서
    상기 제1 거리는 Δd와 Δd의 2배 사이이며, 상기 Δd은 상기 안테나 어레이에서 단일의 상기 안테나 소자들 간의 거리인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  20. 제14항에 있어서,
    상기 안테나 어레이는 라돔(radom)을 포함하며, 상기 제1 거리는 상기 라돔의 외부 표면에서 상기 안테나 어레이까지의 거리인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  21. 제14항에 있어서,
    상기 제1 거리에서 사용되는 상기 프로브들의 구경은, 상기 제2 거리에서 사용되는 상기 프로브들의 구경보다 작은, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  22. 제21항에 있어서,
    상기 제1 거리 또는 상기 제2 거리에서 사용되는 상기 프로브들의 구경은 상기 제1 거리 또는 상기 제2 거리 내 아크 세그먼트(arc segment)의 두 종단점들의 거리로 각각 정의되며, 상기 아크 세그먼트 각도(α)는
    Figure pat00022

    이며, λ0은 상기 테스트 신호의 파장이고, Lmax는 상기 안테나 어레이를 둘러싸는 가장 작은 구의 반경인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  23. 제21항에 있어서,
    상기 제1 거리(D1)에서 사용되는 상기 프로브들의 구경(WD1)은
    Figure pat00023

    로 정의되며, λ0은 상기 테스트 신호의 파장인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정방법.
  24. 제21항에 있어서,
    상기 제2 거리(D2)에 사용되는 상기 프로브들의 구경(WD2)은
    Figure pat00024

    Figure pat00025

    로 정의되며, D2는 상기 제2 거리이고, λ0은 상기 테스트 신호의 파장이며, Lmax는 상기 안테나 어레이를 둘러싸는 가장 작은 구의 반경인, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.
  25. 제14항에 있어서,
    상기 제1 표면 및/또는 상기 제2 표면은 구 및/또는 타원 및/또는 원통의 적어도 하나의 부분을 포함하며, 상기 제1 표면 및/또는 상기 제2 표면은 서로 다른 형상들을 포함하는, 안테나 어레이의 방사 패턴 결정 방법.


KR1020170031138A 2016-08-01 2017-03-13 방사 패턴 결정 시스템 및 방법 KR102283698B1 (ko)

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