KR20170124062A - Organic Light Emitting Display - Google Patents

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KR20170124062A
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Abstract

An organic light emitting display device according to the present invention includes an (n-1)^th pixel and an n^th pixel which are arranged in a row, a transistor array, and a capacitor. The transistor array includes a driving transistor, a sampling transistor, and a first initial transistor. The capacitor is connected between an input terminal of an initial voltage and the sampling transistor. A gate electrode of the first initial transistor for initializing the driving transistor of the n^th pixel is connected to a scan line of the (n-1)^th pixel, thereby securing a sufficient sampling period to improve the accuracy of the compensation of the driving transistor.

Description

유기발광 표시장치{Organic Light Emitting Display}[0001] The present invention relates to an organic light emitting display,

본 발명은 액티브 매트릭스 타입의 유기발광 표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to an active matrix type organic light emitting display.

액티브 매트릭스 타입의 유기발광 표시장치는 스스로 발광하는 유기발광소자(Organic Light Emitting Diode; OLED)를 포함하며, 응답속도가 빠르고 발광효율, 휘도 및 시야각이 큰 장점이 있다.An active matrix type organic light emitting diode display includes an organic light emitting diode (OLED) that emits light by itself, has a high response speed, and has a high luminous efficiency, luminance, and viewing angle.

자발광 소자인 유기발광소자(OLED)는 도 1과 같은 구조를 갖는다. 유기발광소자(OLED)는 애노드전극 및 캐소드전극과, 이들 사이에 형성된 유기 화합물층을 포함한다. 유기 화합물층은 정공수송층(Hole transport layer, HTL), 발광층(Emission layer, EML), 및 전자수송층(Electron transport layer, ETL)으로 이루어진다. 애노드전극과 캐소드전극에 구동전압이 인가되면 정공수송층(HTL)을 통과한 정공(도면에서 +로 표시)과 전자수송층(ETL)을 통과한 전자(도면에서 -로 표시)가 발광층(EML)으로 이동되어 여기자를 형성하고, 그 결과 발광층(EML)이 가시광을 발생하게 된다. The organic light emitting diode (OLED), which is a self-luminous element, has a structure as shown in FIG. The organic light emitting device OLED includes an anode electrode, a cathode electrode, and an organic compound layer formed therebetween. The organic compound layer includes a hole transport layer (HTL), an emission layer (EML), and an electron transport layer (ETL). When a driving voltage is applied to the anode electrode and the cathode electrode, electrons (denoted by - in the drawing) passing through the hole transport layer (HTL) and the electron transport layer (ETL) And the excitons are formed. As a result, the light emitting layer (EML) generates visible light.

유기발광 표시장치는 높은 명암비와 색재현율 등의 장점을 가지고 있지만, 보상회로 동작 중 유기발광소자의 예기치 않은 발광 등으로 인하여 누설전류가 발생하여 유기발광소자의 효율이 감소할 수 있다.The OLED display has advantages such as a high contrast ratio and a color reproducibility. However, the efficiency of the organic light emitting diode may be reduced due to leakage current due to unexpected light emission of the OLED during operation of the compensation circuit.

언급한 유기발광 표시장치의 화소 구조는 구동트랜지스터, 커패시터 및 복수의 트랜지스터를 포함할 수 있다. 유기발광소자를 구동하기 위해서는 초기화, 샘플링 및 에미션 단계를 거친다.The pixel structure of the organic light emitting display device may include a driving transistor, a capacitor, and a plurality of transistors. In order to drive the organic light emitting device, initialization, sampling, and emissive steps are performed.

초기화는 구동트랜지스터의 게이트 단자 및 유기발광소자의 애노드 단자에 초기전압을 인가함으로써 초기화할 수 있다. 구동트랜지스터의 게이트 단자를 초기화할 때 초기전압(Vini)으로 초기화하고, 이 순간에 유기발광소자 쪽으로 원하지 않는 전류가 흘러 유기발광소자의 효율이 감소할 수 있다. 또한 순간적으로 초기전압(Vini)의 입력단 쪽으로 전류가 과도하게 흘러 초기전압(Vini)의 순간적 떨어짐(drop)으로 인한 화질 불량 및 회로 부품에 손상을 입힐 수 있다.The initialization can be initialized by applying an initial voltage to the gate terminal of the driving transistor and the anode terminal of the organic light emitting element. The gate terminal of the driving transistor is initialized to the initial voltage Vini at the time of initialization and an undesired current flows to the organic light emitting element at this moment to reduce the efficiency of the organic light emitting element. Also, the current may excessively flow toward the input terminal of the initial voltage Vini momentarily, thereby causing an image quality failure due to an instantaneous drop of the initial voltage Vini and damaging circuit components.

또한, 구동트랜지스터는 유기발광소자에 일정한 전류를 흘려주기 위해서는 신뢰성이 확보되어야 한다. 하지만 구동트랜지스터의 반도체층은 시간이 지날수록 반도체층의 특성이 변하게 된다. 즉, 구동트랜지스터의 문턱전압이 마이너스 또는 플러스 전압으로 이동하게 된다. 따라서, 실시간으로 구동트랜지스터의 문턱전압을 보상하고, 유기발광소자를 발광시키기 위해 화소 내에 다수의 트랜지스터 및 커패시터의 배치를 필요로 한다. 즉, 한정된 화소 영역 내에서 트랜지스터가 많아지고 복잡해질 수록 불필요한 공간을 줄여 각각의 요소가 최적으로 배치될 수 있도록 설계마진을 확보하려는 노력이 요구되고 있다.In addition, reliability of the driving transistor must be ensured in order to allow a constant current to flow through the organic light emitting element. However, the characteristic of the semiconductor layer of the driving transistor changes with time. That is, the threshold voltage of the driving transistor is shifted to the negative or positive voltage. Therefore, it is necessary to arrange a plurality of transistors and capacitors in the pixel in order to compensate the threshold voltage of the driving transistor in real time and emit the organic light emitting element. That is, as the number of transistors increases and becomes more complicated in a limited pixel region, it is required to reduce unnecessary space and to secure a design margin so that each element can be optimally arranged.

또한, 고해상도 표시장치를 구현하기 위해서는 발광시켜야 하는 화소의 수가 증가하기 때문에 1 수평기간(H)이 짧아지고, 이에 따라서 샘플링 기간도 줄어들게 된다. 줄어든 샘플링 기간은 구동트랜지스터의 문턱전압 보상의 정확성을 떨어뜨리는 요인이 될 수 있다.Further, in order to implement a high-resolution display device, the number of pixels to emit light increases, so that one horizontal period (H) becomes shorter and the sampling period is accordingly reduced. The reduced sampling period may be a factor that lowers the accuracy of the threshold voltage compensation of the driving transistor.

따라서, 본 명세서의 일실시예에 따른 해결과제는 에미션 기간 이외의 기간에 유기발광소자로 흐르는 전류를 차단하고, 구동트랜지스터의 문턱전압 보상의 정확성을 확보할 수 있는 유기발광 표시장치를 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an organic light emitting diode display capable of blocking a current flowing to an organic light emitting diode during a period other than an emission period and ensuring accuracy of threshold voltage compensation of a driving transistor will be.

또한, 본 명세서의 일실시예에 따른 해결과제는 다수의 트랜지스터 및 커패시터를 연결하기 위한 컨택홀의 개수를 줄임으로써 화소 영역 내에서 설계마진을 확보할 수 있는 유기발광 표시장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an OLED display capable of ensuring a design margin in a pixel region by reducing the number of contact holes for connecting a plurality of transistors and capacitors.

또한, 본 명세서의 일실시예에 따른 해결과제는 충분한 샘플링 기간을 확보함으로써 구동트랜지스터 보상의 정확성을 향상시키기 위한 유기발광 표시장치를 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an organic light emitting diode (OLED) display device for improving the accuracy of driving transistor compensation by ensuring a sufficient sampling period.

또한, 본 명세서의 일실시예에 따른 해결과제는 구동트랜지스터의 반도체층에 영향을 줄 수 있는 이동전하(mobile charge)의 영향을 차단하기 위한 유기발광 표시장치를 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an organic light emitting diode (OLED) display device for blocking an influence of a mobile charge which may affect a semiconductor layer of a driving transistor.

본 명세서의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems of the present invention are not limited to the above-mentioned problems, and other problems not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

본 명세서의 일 실시 예에 의한 유기발광 표시장치는 행으로 배치된 n-1번째 화소 및 n번째 화소, 구동트랜지스터, 샘플링 트랜지스터, 및 제1 이니셜 트랜지스터를 포함하는 트랜지스터 어레이, 초기전압의 입력단 및 샘플링 트랜지스터 사이에 연결되도록 구현된 커패시터, n번째 화소의 구동트랜지스터를 초기화 하기 위한 제1 이니셜 트랜지스터의 게이트전극은 n-1번째 화소의 게이트전극과 연결된다.The OLED display according to an embodiment of the present invention includes a transistor array including n-1-th pixel and n-th pixel, a driving transistor, a sampling transistor, and a first initial transistor arranged in rows, an input terminal of an initial voltage, A gate electrode of the first initial transistor for initializing the driving transistor of the n-th pixel is connected to the gate electrode of the (n-1) th pixel.

본 명세서의 일 실시 예에 의한 유기발광 표시장치는 행으로 배치된 n-1번째 화소 및 n번째 화소, 화소에 각각 배치된 유기발광소자, n-1번째 화소의 제n-1 스캔신호에 연결된 n번째 화소의 이니셜 트랜지스터, n번째 화소에 포함되고, 제n 스캔신호에 연결된 샘플링 트랜지스터, n번째 화소에 포함되고, 제n 에미션신호에 연결된 에미션 트랜지스터 및 유기발광소자를 구동하기 위한 한 프레임은 이니셜 기간, 샘플링 기간, 에미션 기간을 포함한다. 이니셜 기간에서, 제n-1 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호와 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가된다. 샘플링 기간에서, 제n 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가된다. 에미션 기간에서, 제n 에미션신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 스캔신호는 오프 레벨로 인가된다.The organic light emitting display according to an embodiment of the present invention includes organic light emitting devices arranged in rows and arranged in n-1-th and n-th pixels, pixels, respectively, connected to the (n-1) a sampling transistor included in an nth pixel of the nth pixel and connected to the nth scan signal, an emission transistor included in the nth pixel and connected to the nth emission signal, and a frame for driving the organic light emitting element Includes an initial period, a sampling period, and an emission period. In the initial period, the (n-1) th scan signal is applied to the on level and the n th scan signal and the n th emission signal are applied to the off level. In the sampling period, the nth scan signal is applied to the on level and the (n-1) th scan signal and the nth emission signal are applied to the off level. During the emission period, the nth emission signal is applied at the on level, and the (n-1) th scan signal and the (n) th scan signal are applied at the off level.

본 명세서의 실시예들은, 에미션 트랜지스터를 유기발광소자의 애노드 전극에 연결함으로써, 에미션 기간 이외의 기간에 유기발광소자로 흐르는 누설전류를 차단할 수 있다.Embodiments of the present invention can prevent the leakage current flowing to the organic light emitting element during a period other than the emission period by connecting the emission transistor to the anode electrode of the organic light emitting element.

또한, 본 명세서의 실시예들은, 이니셜(Initial) 기간에 초기전압(Vini)이 저전위 구동전압(ELVSS)보다 낮은 전압이 인가됨으로써 유기발광소자의 수명을 향상시킬 수 있다. Also, embodiments of the present invention can improve the lifetime of the organic light emitting device by applying a voltage lower than the low potential driving voltage (ELVSS) at an initial voltage (Vini) during an initial period.

또한, 본 명세서의 실시예들은, 이니셜 기간에서 데이터전압(Vdata)과 초기전압(Vini) 간에 쇼트(short)가 발생하는 것을 미연에 방지할 수 있으며, 화소의 보상을 위한 샘플링 기간이 증가되어 보상 능력이 개선될 수 있다.In addition, embodiments of the present invention can prevent a short between the data voltage (Vdata) and the initial voltage (Vini) in the initial period, and the sampling period for compensating the pixel is increased, The ability can be improved.

또한, 본 명세서의 실시예들은, n번째 화소의 구동트랜지스터를 초기화하기 위한 제1 이니셜 트랜지스터의 게이트전극을 n-1번째 행에 배치된 화소의 게이트전극과 연결함으로써, 구동트랜지스터의 문턱전압 샘플링 기간을 충분히 확보하여 문턱전압 보상의 정확성을 향상시킬 수 있다.In the embodiments of the present invention, the gate electrode of the first initializing transistor for initializing the driving transistor of the n-th pixel is connected to the gate electrode of the pixel arranged in the (n-1) th row, The accuracy of the threshold voltage compensation can be improved.

또한, 본 명세서의 실시예들은, 커패시터의 일전극을 고전위 구동전압의 입력단이 아닌 초기전압의 입력단에 연결함으로써, 컨택홀의 개수를 줄여주고 화소설계 마진을 확보할 수 있는 효과가 있다.In addition, embodiments of the present invention have an effect of reducing the number of contact holes and securing a pixel design margin by connecting one electrode of the capacitor to the input terminal of the initial voltage, not the input terminal of the high-potential driving voltage.

또한, 본 명세서의 실시예들은, 구동트랜지스터의 반도체층 하부에 금속층을 배치함으로써, 구동트랜지스터의 반도체층에 미칠 수 있는 이동전하(mobile charge)에 의한 영향을 줄여줄 수 있는 효과가 있다.Further, the embodiments of the present invention have the effect of reducing the influence of mobile charges on the semiconductor layer of the driving transistor by disposing a metal layer below the semiconductor layer of the driving transistor.

또한, 본 명세서의 실시예들은, 커패시터의 전극을 구동트랜지스터의 게이트전극보다 면적이 넓도록 구현함으로써, 구동트랜지스터의 반도체층에 미칠 수 있는 이동전하(mobile charge)에 의한 영향을 줄여줄 수 있는 효과가 있다.Embodiments of the present invention can reduce the influence of a mobile charge on the semiconductor layer of the driving transistor by realizing the electrode of the capacitor to have a larger area than the gate electrode of the driving transistor .

또한, 본 명세서의 실시예들은, 커패시터의 일전극을 샘플링기간에 동작하는 트랜지스터의 반도체에 대응하는 영역에 배치함으로써, 트랜지스터의 반도체층에 미칠 수 있는 이동전하(mobile charge)에 의한 영향을 줄여줄 수 있는 효과가 있다.Further, the embodiments of the present invention reduce the influence of mobile charge on the semiconductor layer of the transistor by disposing one electrode of the capacitor in the region corresponding to the semiconductor of the transistor operating in the sampling period There is an effect that can be.

또한, 본 명세서의 실시예들은, 커패시터에 연결된 트랜지스터 중 적어도 하나의 트랜지스터는 직렬로 연결된 적어도 2 개 이상의 트랜지스터로 구성함으로써, 누설전류로 인해서 발광 휘도가 왜곡되는 것을 방지할 수 있다.Also, in embodiments of the present invention, at least one of the transistors connected to the capacitor is composed of at least two transistors connected in series, thereby preventing the light emission luminance from being distorted due to the leakage current.

또한, 본 명세서의 실시예들은, 구동트랜지스터 또는 유기발광소자를 초기화하기 위한 이니셜 기간을 이전 행에 배치된 화소의 샘플링 기간에 실시하게 함으로써, 스캔 구동부 및 에미션 구동부만 포함하는 게이트 구동회로를 통해 화소를 구동할 수 있다. 따라서, 기존의 2/3의 공간으로도 화소를 구동할 수 있으므로 네로우 베젤(Narrow-bezel)을 용이하게 구현할 수 있다.Further, the embodiments of the present invention allow the initial period for initializing the driving transistor or the organic light emitting element to be performed during the sampling period of the pixel arranged in the previous row, thereby enabling the driving period of the driving transistor or the organic light emitting element The pixel can be driven. Therefore, the pixel can be driven even in the existing space of 2/3, so that a Narrow-bezel can be easily implemented.

도 1은 유기발광소자와 유기발광소자의 발광원리를 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 유기발광 표시장치를 보여주는 도면.
도 3은 본 발명의 일 화소 구조를 보여주는 등가 회로도.
도 4는 도 3의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도.
도 5a, 도 5b 및 도 5c는 각각 도 4의 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 대응되는 화소의 등가 회로도.
도 6은 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 있어 화소의 노드 A, B, C에 대한 전압값을 나타내는 도면.
도 7은 도 3에 도시된 화소 구조의 일 변형 예들을 보여주는 등가 회로도.
도 8은 도 7의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도.
도 9a, 도 9b 및 도 9c는 각각 도 7의 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 대응되는 화소의 등가 회로도.
도 10은 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 있어 화소의 노드 A, B, C에 대한 전압값을 나타내는 도면.
도 11은 도 7에 도시된 화소 구조의 일 변형 예를 보여주는 등가 회로도.
도 12는 도 3에 도시된 화소 구조의 일 변형 예들을 보여주는 등가 회로도.
도 13은 도 12의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도.
도 14a, 도 14b 및 도 14c는 각각 도 12의 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 대응되는 화소의 등가 회로도.
도 15는 도 12의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도.
도 16 내지 도 18은 스캔 구동부의 시프트 레지스터와 에미션 구동부의 인버터가 게이트 구동회로로 구현되는 다양한 예를 보여 주는 도면들.
도 19는 커패시터가 형성되는 영역의 어레이를 나타내는 도면.
도 20은 도 19에서 I-I' 을 따라 절단한 단면을 나타내는 단면도.
도 21은 비교 예에 의한 커패시터가 형성되는 영역의 어레이를 나타내는 도면.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a view for explaining the principle of light emission of an organic light emitting device and an organic light emitting device. FIG.
2 is a view illustrating an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.
3 is an equivalent circuit diagram showing a one-pixel structure of the present invention.
FIG. 4 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 3. FIG.
5A, 5B, and 5C are equivalent circuit diagrams of pixels corresponding to the initial period, the sampling period, and the emission period of FIG. 4, respectively.
6 is a diagram showing voltage values for nodes A, B, and C of a pixel in the initial period, the sampling period, and the emission period;
FIG. 7 is an equivalent circuit diagram showing one modification of the pixel structure shown in FIG. 3; FIG.
8 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 7. FIG.
9A, 9B, and 9C are equivalent circuit diagrams of pixels corresponding to the initial period, the sampling period, and the emission period of FIG. 7, respectively.
10 is a diagram showing voltage values for nodes A, B, and C of a pixel in the initial period, the sampling period, and the emission period;
Fig. 11 is an equivalent circuit diagram showing a modification of the pixel structure shown in Fig. 7. Fig.
FIG. 12 is an equivalent circuit diagram showing one modification of the pixel structure shown in FIG. 3; FIG.
FIG. 13 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 12; FIG.
14A, 14B, and 14C are equivalent circuit diagrams of pixels corresponding to the initial period, the sampling period, and the emission period of FIG. 12, respectively.
FIG. 15 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 12; FIG.
16 to 18 are diagrams showing various examples in which the shift register of the scan driver and the inverter of the emission driver are implemented as a gate driver circuit.
19 shows an array of regions in which capacitors are formed;
20 is a cross-sectional view showing a cross section cut along II 'in FIG. 19;
21 is a view showing an array of regions where capacitors are formed according to a comparative example;

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention, and the manner of achieving them, will be apparent from and elucidated with reference to the embodiments described hereinafter in conjunction with the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. Is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급한 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.The shapes, sizes, ratios, angles, numbers, and the like disclosed in the drawings for describing the embodiments of the present invention are illustrative, and thus the present invention is not limited thereto. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail. In the case where the word 'includes', 'having', 'done', etc. are used in this specification, other parts can be added unless '~ only' is used. Unless the context clearly dictates otherwise, including the plural unless the context clearly dictates otherwise.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the constituent elements, it is construed to include the error range even if there is no separate description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.In the case of a description of the positional relationship, for example, if the positional relationship between two parts is described as 'on', 'on top', 'under', and 'next to' Or " direct " is not used, one or more other portions may be located between the two portions.

시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.In the case of a description of a temporal relationship, for example, if the temporal relationship is described by 'after', 'after', 'after', 'before', etc., May not be continuous unless they are not used.

제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성 요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.The first, second, etc. are used to describe various components, but these components are not limited by these terms. These terms are used only to distinguish one component from another. Therefore, the first component mentioned below may be the second component within the technical spirit of the present invention.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 It is to be understood that each of the features of the various embodiments of the present invention may be combined or combined with each other, partially or wholly, and technically various interlocking and driving, and that the embodiments may be practiced independently of each other,

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시 예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reference will now be made in detail to the preferred embodiments of the present invention, examples of which are illustrated in the accompanying drawings. Like reference numerals throughout the specification denote substantially identical components. In the following description, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

본 발명의 실시 예에서는 화소를 구성하는 트랜지스터들이 모두 P 타입으로 구현되는 것만을 개시하고 있으나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되지 않고 N 타입으로 구현되는 경우에도 적용될 수 있다.In the embodiment of the present invention, only the transistors constituting the pixel are implemented as P type. However, the technical idea of the present invention is not limited to this, but may be applied to the case of N type.

이하, 도 2 내지 도 11을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 11. FIG.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 유기발광 표시장치를 보여준다. 2 illustrates an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 유기발광 표시장치는 화소들(PXL)이 형성된 표시패널(10)과, 데이터라인들(14)을 구동시키기 위한 데이터 구동회로(12)와, 게이트라인들(15)을 구동시키기 위한 게이트 구동회로(13)와, 데이터 구동회로(12) 및 게이트 구동회로(13)의 구동 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 콘트롤러(11)를 구비한다.2, the OLED display includes a display panel 10 on which pixels PXL are formed, a data driving circuit 12 for driving the data lines 14, A gate driving circuit 13 for driving the gate lines 15 and a timing controller 11 for controlling the driving timings of the data driving circuit 12 and the gate driving circuit 13. [

표시패널(10)에는 다수의 데이터라인들(14)과 다수의 게이트라인들(15)이 교차되고, 이 교차영역마다 화소(PXL)들이 매트릭스 형태로 배치된다. 동일 수평라인 상에 배치된 화소(PXL)들은 하나의 화소행을 이룬다. 일 화소행에 배치된 화소(PXL)들은 일 게이트라인(15)에 접속되며, 일 게이트라인(15)은 적어도 하나 이상의 스캔라인과 적어도 하나 이상의 에미션라인을 포함할 수 있다. 즉, 각 화소(PXL)는 1개의 데이터라인(14)과, 적어도 하나 이상의 스캔라인 및 에미션라인에 접속될 수 있다. 화소(PXL)들은 전원발생부로부터 고전위 및 저전위 구동전압(ELVDD, ELVSS)과 초기전압(Vini)을 공통으로 공급받을 수 있다. 이니셜 기간 및 샘플링 기간에서 유기발광소자(OLED)의 불필요한 발광이 방지되도록 초기전압(Vini)은 유기발광소자(OLED)의 동작전압보다 충분히 낮은 전압 범위 내에서 선택될 수 있다. 즉, 저전위 구동전압(ELVSS)과 같거나 저전위 구동전압(ELVSS)보다 낮게 설정될 수 있다. 따라서, 이니셜(Initial) 기간에 초기전압(Vini)은 저전위 구동전압(ELVSS)보다 낮은 전압으로 인가되어 유기발광소자(OLED)의 불필요한 발광이 억제되고, 그 결과 유기발광소자(OLED)의 수명을 향상시킬 수 있다.In the display panel 10, a plurality of data lines 14 and a plurality of gate lines 15 cross each other, and the pixels PXL are arranged in a matrix form for each of the intersection regions. The pixels PXL arranged on the same horizontal line form one pixel row. Pixels PXL arranged in one pixel line are connected to one gate line 15 and one gate line 15 may include at least one scan line and at least one emission line. That is, each pixel PXL may be connected to one data line 14 and at least one scan line and an emission line. The pixels PXL can receive the high and low potential driving voltages ELVDD and ELVSS and the initial voltage Vini from the power generating unit in common. The initial voltage Vini may be selected within a voltage range sufficiently lower than the operating voltage of the organic light emitting device OLED so that unnecessary light emission of the organic light emitting device OLED is prevented in the initial period and the sampling period. That is, it may be set to be equal to or lower than the low-potential driving voltage ELVSS. Therefore, in the initial period, the initial voltage Vini is applied at a voltage lower than the low-level driving voltage ELVSS to suppress unnecessary light emission of the organic light emitting device OLED, and as a result, the lifetime of the organic light emitting device OLED Can be improved.

화소(PXL)를 구성하는 트랜지스터(TFT)들은 산화물 반도체층을 포함한 트랜지스터로 구현될 수 있다. 산화물 반도체층은 전자 이동도, 공정 편차 등을 모두 고려할 때 표시패널(10)의 대면적화에 유리하다. 산화물 반도체로 형성할 경우, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin Zinc Oxide), 또는 IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide) 등으로 형성할 수 있으나, 이에 한정하는 것은 아니다. 다만, 본 발명은 이에 한정되지 않고 트랜지스터의 반도체층을 비정질 실리콘(amorphous silicon, a-Si), 다결정 실리콘(polycrystalline silicon, poly-Si), 또는 또는 유기물 (organic) 반도체 등으로 형성될 수 있다. 각 화소(PXL)는 구동트랜지스터의 문턱전압 변화를 보상하기 위해 다수의 트랜지스터들과 커패시터를 포함하는데, 본 발명은 다수의 트랜지스터들 중 구동트랜지스터의 문턱전압을 보상하고, 문턱전압을 보상하기 위한 샘플링 기간을 확보할 수 있는 화소 구조를 제안한다. 이에 대해서는 도 3 내지 도 11을 통해 상세히 후술한다.The transistors (TFTs) constituting the pixel PXL may be implemented as a transistor including an oxide semiconductor layer. The oxide semiconductor layer is advantageous for large-sized display panel 10 when considering both electron mobility and process variations. When formed of an oxide semiconductor, it may be formed of indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), indium tin zinc oxide (ITZO), or indium gallium zinc oxide (IGZO). However, the present invention is not limited to this, and the semiconductor layer of the transistor may be formed of amorphous silicon (a-Si), polycrystalline silicon (poly-Si), or organic semiconductor. Each pixel PXL includes a plurality of transistors and a capacitor to compensate for a threshold voltage change of the driving transistor. The present invention includes a method of compensating a threshold voltage of a driving transistor among a plurality of transistors, We propose a pixel structure that can secure a period. This will be described in detail later with reference to FIG. 3 to FIG.

한편, 각 화소(PXL)에서 커패시터의 일측 전극에 소스전극 또는 드레인전극이 연결된 트랜지스터는 누설 전류(off current)의 영향이 최대한 억제되도록 서로 직렬 연결된 적어도 2개 이상의 트랜지스터를 포함하도록 구성할 수 있다. 이때, 2개 이상의 트랜지스터들은 동일한 제어신호에 의해 스위칭된다. 예를 들어, 도 3에서와 같이, T3는 동일한 제어신호에 의해 스위칭되며 서로 직렬 연결된 T3A와 T3B를 포함하는 더블 게이트형 트랜지스터로 설계될 수 있다. 그리고 T5는 동일한 제어신호에 의해 스위칭되며 서로 직렬 연결된 T5A와 T5B를 포함하는 더블 게이트형 트랜지스터로 설계될 수 있다. 이하에서 언급되는 더블 게이트형 트랜지스터는 두 개의 트랜지스터가 서로 직렬 연결된 구조를 의미한다.Meanwhile, the transistor having the source electrode or the drain electrode connected to one electrode of the capacitor in each pixel PXL may include at least two transistors connected in series so that the influence of an off current is minimized. At this time, two or more transistors are switched by the same control signal. For example, as in FIG. 3, T3 may be designed as a double gate type transistor that is switched by the same control signal and includes T3A and T3B connected in series with each other. And T5 can be designed as a double gate type transistor which is switched by the same control signal and includes T5A and T5B connected in series with each other. The double gate type transistor described below refers to a structure in which two transistors are connected in series to each other.

또한, 도 7에서와 같이, T3 및 T5이외에, T6도 T6A와 T6B를 포함하는 더블 게이트형 트랜지스터로 설계될 수 있다. 또한, 도 11에서와 같이, T3 및 T5이외에, T2도 T2A와 T2B를 포함하는 더블 게이트형 트랜지스터로 설계될 수 있다. 또한, 도 12에서와 같이, T2도 T2A와 T2B를 포함하는 더블 게이트형 트랜지스터로 설계될 수 있다. In addition to T3 and T5, as in Fig. 7, T6 can also be designed as a double gate type transistor including T6A and T6B. 11, in addition to T3 and T5, T2 may also be designed as a double gate type transistor including T2A and T2B. 12, T2 may also be designed as a double gate type transistor including T2A and T2B.

즉, 커패시터에 연결된 트랜지스터 중 적어도 하나의 트랜지스터는 직렬로 연결된 적어도 두 개의 트랜지스터로 구성함으로써, 누설전류로 인해서 발광 휘도가 왜곡되는 것을 방지할 수 있다.That is, at least one of the transistors connected to the capacitor is constituted by at least two transistors connected in series, so that the light emission luminance can be prevented from being distorted due to the leakage current.

다시 도 2를 참조하면, 타이밍 콘트롤러(11)는 외부로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 표시패널(10)의 해상도에 맞게 재정렬하여 데이터 구동회로(12)에 공급한다. 또한, 타이밍 콘트롤러(11)는 수직 동기신호(Vsync), 수평 동기신호(Hsync), 도트클럭신호(DCLK) 및 데이터 인에이블신호(DE) 등의 타이밍 신호들에 기초하여 데이터 구동회로(12)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어신호(DDC)와, 게이트 구동회로(13)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어신호(GDC)를 발생한다.Referring again to FIG. 2, the timing controller 11 rearranges the digital video data (RGB) input from the outside according to the resolution of the display panel 10 and supplies the digital video data RGB to the data driving circuit 12. The timing controller 11 is also connected to the data driving circuit 12 based on timing signals such as a vertical synchronizing signal Vsync, a horizontal synchronizing signal Hsync, a dot clock signal DCLK and a data enable signal DE, A data control signal DDC for controlling the operation timing of the gate driving circuit 13 and a gate control signal GDC for controlling the operation timing of the gate driving circuit 13. [

데이터 구동회로(12)는 데이터 제어신호(DDC)를 기반으로 타이밍 콘트롤러(11)로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 아날로그 데이터전압으로 변환한다. The data driving circuit 12 converts the digital video data RGB input from the timing controller 11 into an analog data voltage based on the data control signal DDC.

게이트 구동회로(13)는 게이트 제어신호(GDC)를 기반으로 스캔신호와 에미션신호를 생성할 수 있다. 게이트 구동회로(13)는 스캔 구동부와 에미션 구동부를 포함할 수 있다. 스캔 구동부는 각 화소행마다 연결된 적어도 하나 이상의 스캔라인을 구동하기 위해 행 순차 방식으로 스캔신호를 생성하여 스캔라인들에 공급할 수 있다. 에미션 구동부는 각 화소행마다 연결된 적어도 하나 이상의 에미션라인을 구동하기 위해 행 순차 방식으로 에미션신호를 생성하여 에미션라인들에 공급할 수 있다.The gate driving circuit 13 may generate a scan signal and an emission signal based on the gate control signal GDC. The gate drive circuit 13 may include a scan driver and an emission driver. The scan driver may generate a scan signal in a row-sequential manner to supply at least one scan line connected to each pixel row to the scan lines. The emission driving unit may generate an emission signal in a row-sequential manner to supply at least one emission line connected to each pixel row to the emission lines.

이러한 게이트 구동회로(13)는 GIP(Gate-driver In Panel) 방식에 따라 표시패널(10)의 비 표시영역 상에 직접 형성될 수 있다. The gate drive circuit 13 may be formed directly on the non-display area of the display panel 10 in accordance with a GIP (Gate-Driver In Panel) method.

도 3은 본 발명의 일 화소 구조를 보여주는 등가 회로도이다. 그리고, 도 4는 도 3의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도이다.3 is an equivalent circuit diagram showing the one-pixel structure of the present invention. 4 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 3. FIG.

도 3을 참조하면, n(n은 자연수)번째 화소 행에 배치된 각 화소(PXL)는 유기발광소자(OLED), 구동트랜지스터(DT), 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2), 제3 트랜지스터(T3), 제4 트랜지스터(T4), 제5 트랜지스터(T5), 및 커패시터(Cstg)를 포함한다.Referring to FIG. 3, each pixel PXL disposed in n (n is a natural number) pixel row includes an organic light emitting diode OLED, a driving transistor DT, a first transistor T1, a second transistor T2, A third transistor T3, a fourth transistor T4, a fifth transistor T5, and a capacitor Cstg.

유기발광소자(OLED)는 구동트랜지스터(DT)로부터 공급되는 구동 전류에 의해 발광한다. 유기발광소자(OLED)의 애노드전극과 캐소드전극 사이에는 다층의 유기 화합물층이 형성된다. 유기 화합물층은 적어도 하나의 정공전달층 및 전자전달층과, 발광층(Emission layer, EML)을 포함할 수 있다. 여기서, 정공전달층은 발광층으로 정공을 주입하거나 정공을 전달하는 층으로, 예를 들어, 정공주입층(Hole injection layer, HIL), 정공수송층(Hole transport layer, HTL), 및 전자저지층(Electron blocking layer, EBL) 등일 수 있다. 그리고, 전자전달층은 발광층에 전자를 주입하거나 전자를 전달하는 층으로, 예를 들어, 전자수송층(Electron transport layer, ETL), 전자주입층(Electron Injection layer, EIL), 및 정공저지층(Hole blocking layer, HBL) 등일 수 있다. 유기발광소자(OLED)의 애노드전극은 노드 C에 접속되고, 유기발광소자의 캐소드전극은 저전위 구동전압(ELVSS)의 입력단에 접속된다.The organic light emitting element OLED emits light by a driving current supplied from the driving transistor DT. A multilayer organic compound layer is formed between the anode electrode and the cathode electrode of the organic light emitting diode OLED. The organic compound layer may include at least one hole transporting layer, an electron transporting layer, and an emission layer (EML). Here, the hole transport layer is a layer that injects holes into the light emitting layer or transmits holes, for example, a hole injection layer (HIL), a hole transport layer (HTL), and an electron blocking layer blocking layer, EBL). The electron transport layer is a layer for injecting electrons into the light emitting layer or for transporting electrons, for example, an electron transport layer (ETL), an electron injection layer (EIL), and a hole blocking layer blocking layer, HBL). The anode electrode of the organic light emitting element OLED is connected to the node C, and the cathode electrode of the organic light emitting element is connected to the input terminal of the low potential driving voltage ELVSS.

구동 트랜지스터(DT)는 자신의 소스-게이트 간 전압(Vsg)에 따라 유기발광소자(OLED)에 인가되는 구동전류를 제어한다. 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극은 노드 A에 접속되고, 소스전극은 노드 D에 접속되며, 드레인전극은 노드 B에 접속된다.The driving transistor DT controls the driving current applied to the organic light emitting element OLED according to its source-gate voltage Vsg. The gate electrode of the driving transistor DT is connected to the node A, the source electrode is connected to the node D, and the drain electrode is connected to the node B.

제1 트랜지스터(T1)는 데이터라인(14)과 노드 D 사이에 접속되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 따라 온/오프 된다. 제1 트랜지스터(T1)의 게이트전극은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제1 트랜지스터(T1)의 소스전극은 데이터라인(14)에 접속되며, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인전극은 노드 D에 접속된다.The first transistor T1 is connected between the data line 14 and the node D and turned on / off according to the nth scan signal SCAN (n). The gate electrode of the first transistor T1 is connected to the nth first scan line to which the nth scan signal SCAN (n) is applied and the source electrode of the first transistor T1 is connected to the data line 14 And the drain electrode of the first transistor T1 is connected to the node D.

제2 트랜지스터(T2)는 노드 D와 고전위 구동전압(ELVDD)의 입력단 사이에 접속되고, 제n 에미션신호(EM(n))에 따라 온/오프 된다. 제2 트랜지스터(T2)의 게이트전극은 제n 에미션신호(EM(n))가 인가되는 n번째 제1 에미션라인에 접속되고, 제2 트랜지스터(T2)의 소스전극은 고전위 구동전압(ELVDD)의 입력단에 접속되며, 제2 트랜지스터(T2)의 드레인전극은 노드 D에 접속된다.The second transistor T2 is connected between the node D and the input terminal of the high potential driving voltage ELVDD and turned on / off according to the nth emission signal EM (n). The gate electrode of the second transistor T2 is connected to the nth first emission line to which the nth emission signal EM (n) is applied and the source electrode of the second transistor T2 is connected to the high potential driving voltage ELVDD, and the drain electrode of the second transistor T2 is connected to the node D.

제3 트랜지스터(T3)는 노드 A와 노드 B 사이에 접속되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 따라 온/오프 된다. 제3 트랜지스터(T3)의 게이트전극은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제3 트랜지스터(T3)의 소스전극은 노드 A에 접속되며, 제3 트랜지스터(T3)의 드레인전극은 노드 B에 접속된다. 여기서, 제3 트랜지스터(T3)는 샘플링 트랜지스터라고 지칭할 수도 있다.The third transistor T3 is connected between the node A and the node B and turned on / off according to the n-th scan signal SCAN (n). The gate electrode of the third transistor T3 is connected to the nth first scan line to which the nth scan signal SCAN (n) is applied, the source electrode of the third transistor T3 is connected to the node A, And the drain electrode of the third transistor T3 is connected to the node B. Here, the third transistor T3 may be referred to as a sampling transistor.

제4 트랜지스터(T4)는 노드 B와 노드 C 사이에 접속되고, 제n 에미션신호(EM(n))에 따라 온/오프 된다. 제4 트랜지스터(T4)의 게이트전극은 제n 에미션신호(EM(n))가 인가되는 n번째 제1 에미션라인에 접속되고, 제4 트랜지스터(T4)의 소스전극은 노드 B에 접속되며, 제4 트랜지스터(T4)의 드레인전극은 노드 C에 접속된다. 여기서 제4 트랜지스터(T4)는 에미션 트랜지스터라고 지칭할 수도 있다.The fourth transistor T4 is connected between the node B and the node C, and is turned on / off according to the nth emission signal EM (n). The gate electrode of the fourth transistor T4 is connected to the nth first emission line to which the nth emission signal EM (n) is applied and the source electrode of the fourth transistor T4 is connected to the node B , And the drain electrode of the fourth transistor T4 is connected to the node C. Here, the fourth transistor T4 may be referred to as an emission transistor.

제5 트랜지스터(T5)는 노드 A와 초기전압(Vini)의 입력단 사이에 접속되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 따라 온/오프 된다. 제5 트랜지스터(T5)의 게이트전극은 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제5 트랜지스터(T5)의 소스전극은 노드 A에 접속되며, 제5 트랜지스터(T5)의 드레인전극은 초기전압(Vini)의 입력단에 접속된다. 여기서, 제5 트랜지스터(T5)는 제1 이니셜 트랜지스터라고 지칭할 수도 있다.The fifth transistor T5 is connected between the node A and the input terminal of the initial voltage Vini and is turned on / off according to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1). The gate electrode of the fifth transistor T5 is connected to the (n-1) th first scan line to which the n-1th scan signal SCAN (n-1) is applied, the source electrode of the fifth transistor T5 is connected to the A and the drain electrode of the fifth transistor T5 is connected to the input terminal of the initial voltage Vini. Here, the fifth transistor T5 may be referred to as a first initial transistor.

그리고, 커패시터(Cstg)는 노드 A와 초기전압(Vini)의 입력단 사이에 접속된다.The capacitor Cstg is connected between the node A and the input terminal of the initial voltage Vini.

도 4 내지 도 6을 참조하여, 도 3의 화소 동작을 설명한다. 도4는 도3의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도이다. 그리고, 도 4는 도 3의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도이다. 그리고, 도 5a, 도 5b 및 도 5c는 각각 도 4의 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 동작하는 화소의 등가 회로도이다. 그리고, 도 6 은 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 있어 화소의 노드 A, B, C에 대한 전압값을 나타내는 도면이다.The pixel operation of FIG. 3 will be described with reference to FIGS. 4 to 6. FIG. 4 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 4 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 3. FIG. 5A, 5B, and 5C are equivalent circuit diagrams of pixels operating in the initial period, the sampling period, and the emission period of FIG. 4, respectively. 6 is a diagram showing the voltage values for the nodes A, B, and C of the pixel in the initial period, the sampling period, and the emission period.

한 프레임기간은, 도 4와 같이 노드 A 를 초기화하는 이니셜 기간(Pi), 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 샘플링하여 노드 A에 저장하는 샘플링 기간(Ps), 및 샘플링된 문턱전압을 포함하여 구동트랜지스터(DT)의 소스-게이트 간 전압을 프로그래밍하고, 상기 프로그래밍된 소스-게이트 간 전압에 따른 구동전류로 유기발광소자(OLED)를 발광시키는 에미션 기간(Pe)으로 나뉘어질 수 있다. 도 4에서는 초기화 동작을 n-1번째 수평 기간(Hn-1)에서 행함으로써 n번째 수평 기간(Hn)을 모두 샘플링 동작에 할애할 수 있게 된다. 따라서, 샘플링 기간(Ps)을 충분히 확보할 수 있으므로, 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 보다 정확히 샘플링할 수 있는 효과가 있다.One frame period includes the initial period Pi for initializing the node A as shown in Fig. 4, the sampling period Ps for sampling the threshold voltage of the driving transistor DT and storing it in the node A, and the sampled threshold voltage And an emission period Pe for programming the source-gate voltage of the driving transistor DT and causing the organic light emitting diode OLED to emit light with a drive current corresponding to the programmed source-gate voltage. In FIG. 4, the initialization operation is performed in the (n-1) -th horizontal period Hn-1, so that the n-th horizontal period Hn can be allotted to the sampling operation. Therefore, since the sampling period Ps can be sufficiently secured, there is an effect that the threshold voltage of the driving transistor DT can be more accurately sampled.

도 5a에서 이니셜 기간(Pi)에 동작하는 트랜지스터는 실선으로 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 4 및 도 5a를 참조하면, 이니셜 기간(Pi)은 n-1번째 화소행의 데이터 기입에 할당된 n-1번째 수평 기간(Hn-1)에 포함된다. 이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))는 로우 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))와 제n 에미션신호(EM(n))는 하이 레벨로 인가된다. 여기서 로우 레벨은 온 레벨이고, 하이 레벨은 오프 레벨이다. 이하에서는, 설명을 용이하게 하기 위해 로우 레벨을 온 레벨로, 하이 레벨을 오프 레벨로 설명하기로 한다.In FIG. 5A, the transistor operating in the initial period Pi is shown by a dotted line, and the transistor not operating in the solid line. Referring to FIGS. 4 and 5A, the initial period Pi is included in the (n-1) -th horizontal period Hn-1 allocated to the data writing of the (n-1) th pixel row. In the initial period Pi, the n-1 scan signal SCAN (n-1) is applied at a low level and the nth scan signal SCAN (n) and the nth emission signal EM (n) Is applied at a high level. Here, the low level is the on level and the high level is the off level. Hereinafter, for ease of explanation, the low level is referred to as an on level and the high level is referred to as an off level.

이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 응답하여 제5 트랜지스터(T5)가 턴 온 됨으로써, 노드 A는 초기전압(Vini)으로 초기화된다. 이때, 제5 트랜지스터(T5)는 제1 이니셜 트랜지스터로 지칭할 수 있으며, 제1 이니셜 트랜지스터의 게이트전극은 n-1번째 행에 배치된 화소의 게이트 전극과 연결됨으로써, 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)의 샘플링 기간을 충분히 확보하여 문턱전압(Vth) 보상의 정확성을 향상시킬 수 있다. 이렇게 샘플링 동작에 앞서 노드 A를 초기화함으로써 샘플링의 신뢰성을 높이고, 유기발광소자(OLED)의 불필요한 발광을 방지할 수 있다. 이를 위해, 초기전압(Vini)은 유기발광소자(OLED)의 동작전압보다 충분히 낮은 전압 범위 내에서 선택할 수 있으며, 저전위 구동전압(ELVSS)과 같거나 저전위 구동전압(ELVSS)보다 낮게 설정될 수 있다. 그리고, 이니셜 기간(Pi)에서, 노드 D에는 이전 프레임의 데이터전압(Vdata(n))이 유지되어 있다.In the initial period Pi, the fifth transistor T5 is turned on in response to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1), whereby the node A is initialized to the initial voltage Vini. In this case, the fifth transistor T5 may be referred to as a first initial transistor, and the gate electrode of the first initial transistor may be connected to the gate electrode of the pixel arranged in the (n-1) The sampling period of the voltage Vth can be sufficiently secured and the accuracy of the compensation of the threshold voltage Vth can be improved. By initializing the node A prior to the sampling operation, it is possible to enhance the reliability of sampling and to prevent unnecessary emission of the organic light emitting diode OLED. To this end, the initial voltage Vini can be selected within a voltage range sufficiently lower than the operating voltage of the organic light emitting diode OLED and is set to be equal to or lower than the low-potential driving voltage ELVSS . In the initial period Pi, the data voltage Vdata (n) of the previous frame is held at the node D.

도 5b에서, 샘플링 기간(Ps)에 동작하는 트랜지스터는 실선으로, 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 4 및 도 5b를 참조하면, 샘플링 기간(Ps)은 n번째 화소행의 데이터 기입에 할당된 n번째 수평 기간(Hn)에 포함된다. 샘플링 기간(Ps)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 에미션신호(EM(n))는 오프 레벨로 인가된다. 샘플링 기간(Ps)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 응답하여 제1 및 제3 트랜지스터(T1, T3)가 턴 온 됨으로써, 구동트랜지스터(DT)는 다이오드 커넥션(diode connection, 게이트전극과 드레인전극이 쇼트되어 트랜지스터(TFT)가 다이오드처럼 동작함)되고, 노드 D에는 데이터전압(Vdata(n))이 인가된다.In Fig. 5B, the transistor operating in the sampling period Ps is indicated by a solid line, and the transistor not operating is indicated by a dotted line. Referring to FIGS. 4 and 5B, the sampling period Ps is included in the n-th horizontal period Hn allocated to the data writing of the n-th pixel row. 1) th scanning signal SCAN (n-1) and the n-th emission signal EM (n) are applied in the on period, in the sampling period Ps, Is applied at an off level. In the sampling period Ps, the first and third transistors T1 and T3 are turned on in response to the n-th scan signal SCAN (n), so that the driving transistor DT is diode- And the drain electrode are short-circuited so that the transistor TFT functions as a diode), and the data voltage Vdata (n) is applied to the node D.

샘플링 기간(Ps)에서, 구동트랜지스터(DT)의 소스-드레인 사이에는 전류(Ids)가 흐르며, 이 전류(Ids)에 의해 노드 A의 전위는 초기화 상태인 초기전압(Vini)에서 데이터전압(Vdata(n))과 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 뺀 값(Vdata(n)-Vth)까지 높아진다. 초기전압(Vini)은 저전위 구동전압(ELVSS)과 같거나 낮은 전압이다. 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극인 노드 A의 전압값이 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)을 포함하게 됨으로써, 이어지게 될 에미션 기간(Pe)에서 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)이 소거된 상태의 구동전류를 발생시킬 수 있다.In the sampling period Ps, a current Ids flows between the source and the drain of the driving transistor DT, and the potential of the node A is changed from the initial voltage Vini, which is the initial state, to the data voltage Vdata (n) -Vth obtained by subtracting the threshold voltage of the drive transistor DT from the threshold voltage of the drive transistor DT. The initial voltage Vini is equal to or lower than the low potential driving voltage ELVSS. The voltage value of the node A which is the gate electrode of the driving transistor DT includes the threshold voltage Vth of the driving transistor DT so that the threshold voltage Vth of the driving transistor DT in the emission period Pe Can be generated in the erased state.

도 5c에서 에미션 기간(Pe)에 동작하는 트랜지스터는 실선으로, 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 4 및 도 5c를 참조하면, 에미션 기간(Pe)은 한 프레임기간 중에서 이니셜 기간(Pi)과 샘플링 기간(Ps)을 제외한 나머지 기간에 해당된다. 에미션 기간(Pe)에서, 제n 에미션신호(EM(n))는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 스캔신호(SCAN(n))는 오프 레벨로 인가된다.In FIG. 5C, the transistor operating in the emission period Pe is indicated by a solid line, and the transistor not operating is indicated by a dotted line. Referring to FIGS. 4 and 5C, the emission period Pe corresponds to the remaining period except for the initial period Pi and the sampling period Ps in one frame period. The nth emission signal EM (n) is applied at the ON level and the n th scan signal SCAN (n-1) and the n th scan signal SCAN (n) are applied in the emission period Pe, Is applied at an off level.

에미션 기간(Pe)에서, 제n 에미션신호(EM(n))에 응답하여 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 됨으로써 구동트랜지스터(DT)의 소스전극에 고전위 구동전압(ELVDD)을 연결한다. 또한, 제n 에미션신호(EM(n))에 응답하여 제4 트랜지스터(T4)가 턴 온 됨으로써 노드 B 및 노드 C의 전위를 유기발광소자(OLED)의 동작전압(Voled)으로 동일하게 한다.In the emission period Pe, the second transistor T2 is turned on in response to the nth emission signal EM (n) to connect the high potential driving voltage ELVDD to the source electrode of the driving transistor DT do. The fourth transistor T4 is turned on in response to the nth emission signal EM (n) to make the potentials of the nodes B and C equal to the operating voltage Voled of the organic light emitting device OLED .

이때, 제4 트랜지스터(T4)는 유기발광소자(OLED)의 애노드 전극에 연결되어 에미션 기간(Pe) 이외의 이니셜 기간(Pi) 및 샘플링 기간(Ps)에는 턴 오프 됨으로써, 에미션 기간(Pe) 이외의 기간에 유기발광소자(OLED)로 흐르는 누설전류를 차단할 수 있다. 여기서 제4 트랜지스터(T4)는 에미션 트랜지스터라고 지칭될 수 있다.At this time, the fourth transistor T4 is connected to the anode electrode of the organic light emitting device OLED and is turned off during the initial period Pi and the sampling period Ps other than the emission period Pe, so that the emission period Pe The leakage current flowing to the organic light emitting diode OLED can be cut off. Here, the fourth transistor T4 may be referred to as an emission transistor.

에미션 기간(Pe)에서 유기발광소자(OLED)에 흐르는 구동전류(Ioled)에 대한 관계식은 하기 수학식 1과 같이 된다. 유기발광소자(OLED)는 구동전류에 의해 발광함으로써 원하는 표시 계조를 구현하게 된다.The relational expression for the driving current Ioled flowing in the organic light emitting device OLED in the emission period Pe is as shown in the following equation (1). The organic light emitting device OLED emits light by a driving current to realize a desired display gradation.

[수학식 1][Equation 1]

IOLED=k/2(Vsg-Vth)2 = k/2(Vs-Vg-Vth)2 = k/2(VDD-Vdata+Vth - Vth)2 = k/2(VDD-Vdata)2 I OLED = k / 2 (Vsg -Vth) 2 = k / 2 (Vs-Vg-Vth) 2 = k / 2 (VDD-Vdata + Vth - Vth) 2 = k / 2 (VDD-Vdata) 2

수학식 1에서, k/2는 구동트랜지스터(DT)의 전자 이동도, 기생 커패시턴스 및 채널 용량 등에 의해 결정되는 비례 상수를 나타낸다.In Equation (1), k / 2 represents a proportional constant determined by electron mobility, parasitic capacitance, channel capacity, and the like of the driving transistor DT.

구동전류(Ioled) 수식은 k(Vsg-Vth)2인데, 에미션 기간(Pe)을 통해 프로그래밍 된 Vsg에는 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분이 이미 포함되어 있으므로, 수학식 1과 같이 구동전류(Ioled) 관계식에서 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분은 소거되게 된다. 이를 통해, 문턱전압(Vth)의 변화가 구동전류(Ioled)에 미치는 영향을 최소화할 수 있다.Since the driving current (Ioled) formula k (Vsg-Vth) 2 inde, the threshold voltage (Vth) component of the Vsg programmed with the emission period (Pe), the driving transistor (DT) is already included, equation (1) and The threshold voltage (Vth) component of the driving transistor DT is erased in the driving current Ioled relation. Thus, the influence of the change in the threshold voltage Vth on the driving current Ioled can be minimized.

도 6은 상기 도 5a 내지 5c에서 설명한 이니셜 기간(Pi), 샘플링 기간(Ps), 에미션 기간(Pe)에 노드 A, 노드 B, 노드 C에 입력되는 전압값을 표로써 나타내고 있다. 샘플링 기간(Ps)을 거친 노드 A는 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분을 포함하게 됨으로써, 에미션 기간(Pe)에서 유기발광소자가 발광할 때, 구동트랜지스터(DT)의 구동전류(Ioled)는 문턱전압(Vth) 성분을 소거하여 원하는 표시 계조를 나타낼 수 있다. FIG. 6 is a table showing voltage values input to the node A, the node B, and the node C in the initial period Pi, the sampling period Ps, and the emission period Pe described in FIGS. 5A to 5C. The node A that has passed through the sampling period Ps includes the threshold voltage Vth component of the driving transistor DT so that when the organic light emitting element emits light in the emission period Pe, (Ioled) may cancel the threshold voltage (Vth) component to indicate a desired display gradation.

도 7은 도 3에 도시된 화소 구조의 일 변형 예를 보여주는 등가 회로도이다. 그리고, 도 8은 도 7의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도이다. 도 9a, 도 9b 및 도 9c는 각각 도 7의 이니셜 기간, 샘플링 기간, 및 에미션 기간에 대응되는 화소의 등가 회로도이다. 그리고, 도 10은 이니셜 기간, 샘플링 기간, 및 에미션 기간에 있어 화소의 노드 A, 노드 B, 노드 C에 대한 전압값을 나타내는 도면이다.7 is an equivalent circuit diagram showing a modification of the pixel structure shown in FIG. 8 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 7. FIG. 9A, 9B, and 9C are equivalent circuit diagrams of pixels corresponding to the initial period, the sampling period, and the emission period of FIG. 7, respectively. 10 is a diagram showing voltage values for node A, node B, and node C of the pixel in the initial period, the sampling period, and the emission period.

도 7의 화소(PXL)는 도 3의 화소(PXL)에 제6 트랜지스터(T6)를 더 구성한다. 도 7의 화소(PXL)에서는, 초기전압(Vini)의 입력단과 노드 C 사이에 제6 트랜지스터(T6)가 접속된다. 제6 트랜지스터(T6)의 게이트전극은 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제6 트랜지스터(T6)의 소스전극은 노드 C에 접속되며, 제6 트랜지스터(T6)의 드레인전극은 초기전압(Vini)의 입력단에 접속된다. 도 7의 화소(PXL)는 제6 트랜지스터(T6)를 더 포함함으로써 노드 C 전위를 고정시켜 샘플링의 정확성을 높일 수 있다. 따라서, 회로의 동작 안정성을 높일 수 있다. 여기서, 제6 트랜지스터(T6)는 제2 이니셜 트랜지스터라고 지칭할 수도 있다.The pixel PXL of FIG. 7 further includes a sixth transistor T6 in the pixel PXL of FIG. In the pixel PXL shown in Fig. 7, the sixth transistor T6 is connected between the input terminal of the initial voltage Vini and the node C. The gate electrode of the sixth transistor T6 is connected to the (n-1) th first scan line to which the n-1th scan signal SCAN (n-1) is applied, the source electrode of the sixth transistor T6 is connected to the C, and the drain electrode of the sixth transistor T6 is connected to the input terminal of the initial voltage Vini. The pixel PXL of FIG. 7 further includes the sixth transistor T6, thereby fixing the potential of the node C to improve the accuracy of sampling. Therefore, the operation stability of the circuit can be enhanced. Here, the sixth transistor T6 may be referred to as a second initial transistor.

도 7에서 제6 트랜지스터(T6)를 제외한 나머지 구성 요소들은 도 3을 참조하여 설명한 구성들과 실질적으로 동일하다.In FIG. 7, the remaining components except the sixth transistor T6 are substantially the same as those described with reference to FIG.

도 7 내지 도 10을 참조하여, 도 7의 화소 동작을 설명한다. 도 8은 도 7의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도이다. 그리고, 도 9a, 도 9b 및 도 9c는 각각 도 7의 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 대응되는 화소의 등가 회로도이다. 그리고, 도 10은 이니셜 기간, 샘플링기간, 및 에미션 기간에 있어 화소의 노드 A, B, C에 대한 전압값을 나타내는 도면이다.The pixel operation of Fig. 7 will be described with reference to Figs. 7 to 10. Fig. 8 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 9A, 9B, and 9C are equivalent circuit diagrams of pixels corresponding to the initial period, the sampling period, and the emission period of FIG. 7, respectively. 10 is a diagram showing the voltage values for the nodes A, B, and C of the pixels in the initial period, the sampling period, and the emission period.

도 8에 도시한 바와 같이, 한 프레임기간은, 노드 A와 노드 C를 초기화하는 이니셜 기간(Pi), 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 샘플링하여 노드 A에 저장하는 샘플링 기간(Ps), 및 샘플링된 문턱전압을 포함하여 구동트랜지스터(DT)의 소스-게이트 간 전압을 프로그래밍하고, 상기 프로그래밍된 소스-게이트 간 전압에 따른 구동전류로 유기발광소자(OLED)를 발광시키는 에미션 기간(Pe)으로 나뉘어질 수 있다. 도 7에서는 초기화 동작을 n-1번째 수평 기간(Hn-1)에서 행함으로써 n번째 수평 기간(Hn)을 모두 샘플링 동작에 할애할 수 있게 된다. 따라서, 샘플링 기간(Ps)을 충분히 확보할 수 있으므로, 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 보다 정확히 샘플링할 수 있는 효과가 있다.8, one frame period includes a initial period Pi for initializing the node A and the node C, a sampling period Ps for sampling the threshold voltage of the driving transistor DT and storing the sampled threshold voltage in the node A, A source-gate voltage of the driving transistor DT is programmed including a sampled threshold voltage and an emission period Pe for causing the organic light emitting diode OLED to emit light with a driving current corresponding to the programmed source- ≪ / RTI > In Fig. 7, the initialization operation is performed in the (n-1) -th horizontal period (Hn-1), so that the n-th horizontal period Hn can be allotted to the sampling operation. Therefore, since the sampling period Ps can be sufficiently secured, there is an effect that the threshold voltage of the driving transistor DT can be more accurately sampled.

도 9a에서 이니셜 기간(Pi)에 동작하는 트랜지스터는 실선으로, 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 8 및 도 9a를 참조하면, 이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))와 제n 에미션신호(EM(n))는 오프 레벨로 인가된다. 이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 응답하여 제5 및 제6 트랜지스터(T5, T6)가 턴 온됨으로써, 노드 A와 노드 C는 초기전압(Vini)으로 초기화된다. 이때, 제5 및 제6 트랜지스터(T5, T6)의 게이트전극은 n-1번째 행에 배치된 화소의 게이트전극과 연결되어, 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)의 샘플링 기간을 충분히 확보하여 문턱전압 보상의 정확성을 향상시킬 수 있다. 즉, 샘플링 동작에 앞서 노드 A와 노드 C가 초기화되므로 샘플링의 신뢰성을 높일 수 있고, 유기발광소자(OLED)의 불필요한 발광을 방지할 수 있다.In FIG. 9A, the transistor operating in the initial period Pi is indicated by a solid line and the transistor not operating is indicated by a dotted line. 8 and 9A, in the initial period Pi, the n-1 scan signal SCAN (n-1) is applied at the ON level and the n-th scan signal SCAN (n) The emission signal EM (n) is applied at the off level. In the initial period Pi, the fifth and sixth transistors T5 and T6 are turned on in response to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1) ). At this time, the gate electrodes of the fifth and sixth transistors T5 and T6 are connected to the gate electrodes of the pixels arranged in the (n-1) th row, so that the sampling period of the threshold voltage Vth of the driving transistor DT is sufficiently secured So that the accuracy of the threshold voltage compensation can be improved. That is, since the node A and the node C are initialized prior to the sampling operation, reliability of sampling can be improved and unnecessary light emission of the organic light emitting diode OLED can be prevented.

도 9b에서 샘플링 기간(Ps)에 동작하는 트랜지스터는 실선으로, 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 8 및 도 9b를 참조하면, 샘플링 기간(Ps)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 에미션신호(EM(n))는 오프 레벨로 인가된다. 샘플링 기간(Ps)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 응답하여 제1 및 제3 트랜지스터(T1, T3)가 턴 온 됨으로써, 구동트랜지스터(DT)는 다이오드 커넥션(diode connection, 게이트전극과 드레인전극이 쇼트되어 트랜지스터가 다이오드처럼 동작함)되고, 노드 D에는 데이터전압(Vdata(n))이 인가된다. In FIG. 9B, the transistors operating in the sampling period Ps are indicated by solid lines, and the transistors not operating are indicated by broken lines. 8 and 9B, in the sampling period Ps, the n-th scan signal SCAN (n) is applied at the ON level and the n-1 scan signal SCAN (n-1) The emission signal EM (n) is applied at the off level. In the sampling period Ps, the first and third transistors T1 and T3 are turned on in response to the n-th scan signal SCAN (n), so that the driving transistor DT is diode- And the drain electrode are short-circuited so that the transistor acts as a diode), and the data voltage Vdata (n) is applied to the node D.

따라서, 샘플링 기간(Ps)에서, 구동트랜지스터(DT)의 소스-드레인 사이에는 전류(Ids)가 흐르며, 이 전류(Ids)에 의해 노드 A의 전위는 초기화 상태인 초기전압(Vini)에서 데이터전압(Vdata(n))과 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 뺀 값(Vdata(n)-Vth)까지 높아진다. 초기전압(Vini)은 저전위 구동전압(ELVSS)과 같거나 낮은 전압이다. 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극인 노드 A의 전압값이 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)을 포함하게 됨으로써, 이어지게 될 에미션 기간(Pe)에서 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)이 소거된 상태의 구동전류를 발생시킬 수 있다.Therefore, in the sampling period Ps, the current Ids flows between the source and the drain of the driving transistor DT, and the potential of the node A is changed from the initial voltage Vini, which is the initial state, (Vdata (n) -Vth) obtained by subtracting the threshold voltage (Vdata (n)) of the driving transistor DT from the threshold voltage of the driving transistor DT. The initial voltage Vini is equal to or lower than the low potential driving voltage ELVSS. The voltage value of the node A which is the gate electrode of the driving transistor DT includes the threshold voltage Vth of the driving transistor DT so that the threshold voltage Vth of the driving transistor DT in the emission period Pe Can be generated in the erased state.

도 9c에서 에미션 기간(Pe)에 동작하는 트랜지스터는 실선으로, 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 8 및 도 9c를 참조하면, 에미션 기간(Pe)에서, 제n 에미션신호(EM(n))는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 스캔신호(SCAN(n)) 는 오프 레벨로 인가된다. 에미션 기간(Pe)에서, 제n 에미션신호(EM(n))에 응답하여 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 됨으로써 구동트랜지스터(DT)의 소스전극에 고전위 구동전압(ELVDD)을 연결한다. 또한, 제n 에미션신호(EM(n))에 응답하여 제4 트랜지스터(T4)가 턴 온 됨으로써 노드 B 및 노드 C의 전위를 유기발광소자(OLED)의 동작전압(Voled)으로 동일하게 한다.In Fig. 9C, the transistor operating in the emission period Pe is indicated by a solid line, and the transistor not operating is indicated by a dotted line. 8 and 9C, in the emission period Pe, the nth emission signal EM (n) is applied at the ON level, and the n-1 scan signal SCAN (n-1) And the nth scan signal SCAN (n) is applied at an off level. In the emission period Pe, the second transistor T2 is turned on in response to the nth emission signal EM (n) to connect the high potential driving voltage ELVDD to the source electrode of the driving transistor DT do. The fourth transistor T4 is turned on in response to the nth emission signal EM (n) to make the potentials of the nodes B and C equal to the operating voltage Voled of the organic light emitting device OLED .

이때, 제4 트랜지스터(T4)는 유기발광소자의 애노드 전극에 연결되어 에미션 기간(Pe) 이외의 이니셜 기간(Pi) 및 샘플링 기간(Ps)에는 턴 오프 됨으로써, 에미션 기간(Pe) 이외의 기간에 유기발광소자로 흐르는 누설전류를 차단할 수 있다.에미션 기간(Pe)에서 유기발광소자(OLED)에 흐르는 구동전류(Ioled)에 대한 관계식은 하기 수학식 2와 같이 된다. 유기발광소자(OLED는 구동전류에 의해 발광함으로써 원하는 표시 계조를 구현하게 된다.At this time, the fourth transistor T4 is connected to the anode electrode of the organic light emitting element and is turned off during the initial period Pi and the sampling period Ps other than the emission period Pe, The relationship between the driving current Ioled flowing in the organic light emitting device OLED in the emission period Pe is expressed by the following equation (2). OLED emits light by a driving current to realize a desired display gradation.

[수학식 2]&Quot; (2) "

IOLED=k/2(Vsg-Vth)2 = k/2((Vs-Vg)-Vth)2 = k/2((VDD-Vdata+Vth) - Vth)2 = k/2(VDD-Vdata)2 I OLED = k / 2 (Vsg -Vth) 2 = k / 2 ((Vs-Vg) -Vth) 2 = k / 2 ((VDD-Vdata + Vth) - Vth) 2 = k / 2 (VDD-Vdata ) 2

수학식 2에서, k/2는 구동트랜지스터(DT)의 전자 이동도, 기생 커패시턴스 및 채널 용량 등에 의해 결정되는 비례 상수를 지시한다.In Equation (2), k / 2 indicates a proportional constant determined by electron mobility, parasitic capacitance, channel capacitance, and the like of the driving transistor DT.

구동전류(Ioled) 수식은 k(Vsg-Vth)2인데, 에미션 기간(Pe)을 통해 프로그래밍 된 Vsg에는 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분이 이미 포함되어 있으므로, 수학식 2과 같이 구동전류(Ioled) 관계식에서 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분은 소거된다. 따라서, 문턱전압(Vth) 변화가 구동전류(Ioled)에 미치는 영향이 최소화될 수 있다.Since the driving current (Ioled) formula k (Vsg-Vth) 2 inde, the threshold voltage (Vth) component of the Vsg programmed with the emission period (Pe), the driving transistor (DT) is already included, equation (2) and Similarly, the threshold voltage (Vth) component of the driving transistor DT is erased in the driving current Ioled relation. Therefore, the influence of the change in the threshold voltage Vth on the drive current Ioled can be minimized.

도 10은 상기 도 9a 내지 9c에서 설명한 이니셜 기간(Pi), 샘플링 기간(Ps), 에미션 기간(Pe)에 노드 A, 노드 B, 노드 C에 입력되는 전압값을 표로써 나타내고 있다. 샘플링 기간(Ps)을 거친 노드 A는 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분을 포함하게 됨으로써, 에미션 기간(Pe)에서 유기발광소자가 발광할 때, 구동트랜지스터(DT)의 구동전류(Ioled)는 문턱전압(Vth) 성분을 소거하여 원하는 표시 계조를 나타낼 수 있다.10 is a table showing voltage values input to the nodes A, B, and C in the initial period Pi, the sampling period Ps, and the emission period Pe described in FIGS. 9A to 9C. The node A that has passed through the sampling period Ps includes the threshold voltage Vth component of the driving transistor DT so that when the organic light emitting element emits light in the emission period Pe, (Ioled) may cancel the threshold voltage (Vth) component to indicate a desired display gradation.

도 11은 도 7에 도시된 화소 구조의 일 변형 예를 보여주는 등가 회로도이다. 도 11은 도 7에 대비하여 제2 트랜지스터(T2), 제3 트랜지스터(T3) 및 제5 트랜지스터(T5)의 연결관계의 변형예를 나타낸다.11 is an equivalent circuit diagram showing a modification of the pixel structure shown in FIG. 11 shows a modification of the connection relationship of the second transistor T2, the third transistor T3 and the fifth transistor T5 in comparison with FIG.

구동트랜지스터(DT)는 자신의 소스-게이트 간 전압(Vsg)에 따라 유기발광소자(OLED)에 인가되는 구동전류를 제어한다. 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극은 노드 A에 접속되고, 구동트랜지스터(DT)의 소스전극은 노드 D에 접속되며, 구동트랜지스터(DT)의 드레인전극은 노드 B에 접속된다.The driving transistor DT controls the driving current applied to the organic light emitting element OLED according to its source-gate voltage Vsg. The gate electrode of the driving transistor DT is connected to the node A, the source electrode of the driving transistor DT is connected to the node D, and the drain electrode of the driving transistor DT is connected to the node B.

제1 트랜지스터(T1)는 데이터라인(14)과 노드 D 사이에 접속되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 따라 온/오프 된다. 제1 트랜지스터(T1)의 게이트전극은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제1 트랜지스터(T1)의 소스전극은 데이터라인(14)에 접속되며, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인전극은 노드 D에 접속된다.The first transistor T1 is connected between the data line 14 and the node D and turned on / off according to the nth scan signal SCAN (n). The gate electrode of the first transistor T1 is connected to the nth first scan line to which the nth scan signal SCAN (n) is applied and the source electrode of the first transistor T1 is connected to the data line 14 And the drain electrode of the first transistor T1 is connected to the node D.

제2 트랜지스터(T2)는 노드 D와 고전위 구동전압(ELVDD)의 입력단 사이에 접속되고, 제n 에미션신호(EM(n))에 따라 온/오프 된다. 제2 트랜지스터(T2)의 게이트전극은 제n 에미션신호(EM(n))가 인가되는 n번째 제1 에미션라인에 접속되고, 제2 트랜지스터(T2)의 소스전극은 고전위 구동전압(ELVDD)의 입력단에 접속되며, 제2 트랜지스터(T2)의 드레인전극은 노드 D에 접속된다.The second transistor T2 is connected between the node D and the input terminal of the high potential driving voltage ELVDD and turned on / off according to the nth emission signal EM (n). The gate electrode of the second transistor T2 is connected to the nth first emission line to which the nth emission signal EM (n) is applied and the source electrode of the second transistor T2 is connected to the high potential driving voltage ELVDD, and the drain electrode of the second transistor T2 is connected to the node D.

제3 트랜지스터(T3)는 노드 A와 노드 B 사이에 접속되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 따라 온/오프 된다. 제3 트랜지스터(T3)의 게이트전극은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제3 트랜지스터(T3)의 소스전극은 노드 B에 접속되며, 제3 트랜지스터(T3)의 드레인전극은 노드 A에 접속된다.The third transistor T3 is connected between the node A and the node B and turned on / off according to the n-th scan signal SCAN (n). The gate electrode of the third transistor T3 is connected to the nth first scan line to which the nth scan signal SCAN (n) is applied, the source electrode of the third transistor T3 is connected to the node B, And the drain electrode of the third transistor T3 is connected to the node A. [

제4 트랜지스터(T4)는 노드 B와 노드 C 사이에 접속되고, 제n 에미션신호(EM(n))에 따라 온/오프 된다. 제4 트랜지스터(T4)의 게이트전극은 제n 에미션신호(EM(n))가 인가되는 n번째 제1 에미션라인에 접속되고, 제4 트랜지스터(T4)의 소스전극은 노드 B에 접속되며, 제4 트랜지스터(T4)의 드레인전극은 노드 C에 접속된다.The fourth transistor T4 is connected between the node B and the node C, and is turned on / off according to the nth emission signal EM (n). The gate electrode of the fourth transistor T4 is connected to the nth first emission line to which the nth emission signal EM (n) is applied and the source electrode of the fourth transistor T4 is connected to the node B , And the drain electrode of the fourth transistor T4 is connected to the node C.

제5 트랜지스터(T5)는 노드 A와 초기전압(Vini)의 입력단 사이에 접속되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 따라 온/오프 된다. 제5 트랜지스터(T5)의 게이트전극은 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제5 트랜지스터(T5)의 소스전극은 노드 A에 접속되며, 제5 트랜지스터(T5)의 드레인전극은 초기전압(Vini)의 입력단에 접속된다.The fifth transistor T5 is connected between the node A and the input terminal of the initial voltage Vini and is turned on / off according to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1). The gate electrode of the fifth transistor T5 is connected to the (n-1) th first scan line to which the n-1th scan signal SCAN (n-1) is applied, the source electrode of the fifth transistor T5 is connected to the A and the drain electrode of the fifth transistor T5 is connected to the input terminal of the initial voltage Vini.

제6 트랜지스터(T6)는 초기전압(Vini)의 입력단과 노드 C 사이에 접속되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 따라 온/오프 된다. 제6 트랜지스터(T6)의 게이트전극은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제6 트랜지스터(T6)의 소스전극은 노드 C에 접속되며, 제6 트랜지스터(T6)의 드레인전극은 초기전압(Vini)의 입력단에 접속된다.The sixth transistor T6 is connected between the input terminal of the initial voltage Vini and the node C, and is turned on / off according to the nth scan signal SCAN (n). The gate electrode of the sixth transistor T6 is connected to the nth first scan line to which the nth scan signal SCAN (n) is applied, the source electrode of the sixth transistor T6 is connected to the node C, The drain electrode of the sixth transistor T6 is connected to the input terminal of the initial voltage Vini.

그리고, 커패시터(Cstg)는 노드 A와 고전위 구동전압(ELVDD)의 입력단 사이에 접속된다.The capacitor Cstg is connected between the node A and the input terminal of the high potential driving voltage ELVDD.

한 프레임기간은, 도 11과 같이 노드 A와 노드 C를 초기화하는 이니셜 기간(Pi), 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 샘플링하여 노드 A에 저장하는 샘플링 기간(Ps), 및 샘플링된 문턱전압을 포함하여 구동트랜지스터(DT)의 소스-게이트 간 전압을 프로그래밍하고, 상기 프로그래밍된 소스-게이트 간 전압에 따른 구동전류로 유기발광소자(OLED)를 발광시키는 에미션 기간(Pe)으로 나뉘어질 수 있다. 도 11에서는 n-1번째 수평 기간(Hn-1) 동안 구동트랜지스터의 게이트전압 초기화 동작을 수행하고, n번째 수평 기간(Hn) 동안 유기발광소자(OLED)의 초기화 동작과 함께 샘플링 동작까지 행한다. 즉, 이니셜 기간(Pi)과 샘플링 기간(Ps)은 n번째 수평 기간(Hn) 내에 포함된다.One frame period includes the initial period Pi for initializing the node A and the node C as shown in Fig. 11, the sampling period Ps for sampling the threshold voltage of the driving transistor DT and storing the sampled threshold voltage in the node A, And an emission period Pe for causing the organic light emitting diode OLED to emit light with a drive current corresponding to the programmed source-to-gate voltage of the driving transistor DT, have. 11, the gate voltage initializing operation of the driving transistor is performed during the (n-1) -th horizontal period Hn-1 and the sampling operation is performed together with the initializing operation of the organic light emitting device OLED during the n-th horizontal period Hn. That is, the initial period Pi and the sampling period Ps are included in the n-th horizontal period Hn.

이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))와 제n 에미션신호(EM(n))는 오프 레벨로 인가된다. 이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 응답하여 제5 트랜지스터(T5)가 턴 온 됨으로써, 노드 A는 초기전압(Vini)으로 초기화된다. 따라서, 샘플링 동작에 앞서 노드 A가 초기화되므로 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 샘플링의 신뢰성을 높일 수 있다.In the initial period Pi, the n-1 scan signal SCAN (n-1) is applied at the ON level and the nth scan signal SCAN (n) and the nth emission signal EM (n) Is applied at an off level. In the initial period Pi, the fifth transistor T5 is turned on in response to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1), whereby the node A is initialized to the initial voltage Vini. Therefore, since the node A is initialized prior to the sampling operation, the reliability of the sampling of the threshold voltage (Vth) of the driving transistor DT can be enhanced.

샘플링 기간(Ps)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 에미션신호(EM(n))는 오프 레벨로 인가된다. 샘플링 기간(Ps)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 응답하여 제1, 제3, 및 제6 트랜지스터(T1, T3, T6)가 턴 온 됨으로써, 구동트랜지스터(DT)는 다이오드 커넥션(diode connection, 게이트전극과 드레인전극이 쇼트되어 트랜지스터가 다이오드처럼 동작함)되고, 노드 D에는 데이터전압(Vdata(n))이 인가된다. 따라서, 샘플링 기간(Ps)에서, 구동트랜지스터(DT)의 소스-드레인 사이에는 전류(Ids)가 흐르며, 이 전류(Ids)에 의해 노드 A의 전위는 초기화 상태인 초기전압(Vini)에서 데이터전압(Vdata(n))과 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 뺀 값(Vdata(n)-Vth)까지 높아진다. 초기전압(Vini)은 저전위 구동전압(ELVSS)과 같거나 낮은 전압이다. 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극인 노드 A의 전압값이 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)을 포함하게 됨으로써, 이어지게 될 에미션 기간(Pe)에서 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)이 소거된 상태의 구동전류를 발생시킬 수 있다. 또한, 샘플링 동작에 앞서 노드 C가 초기화되므로 유기발광소자(OLED)의 불필요한 발광을 방지할 수 있다. 1) th scanning signal SCAN (n-1) and the n-th emission signal EM (n) are applied in the on period, in the sampling period Ps, Is applied at an off level. In the sampling period Ps, the first, third, and sixth transistors T1, T3, and T6 are turned on in response to the n-th scan signal SCAN (n) (diode connection, the gate electrode and the drain electrode are short-circuited so that the transistor acts as a diode), and the data voltage Vdata (n) is applied to the node D. Therefore, in the sampling period Ps, the current Ids flows between the source and the drain of the driving transistor DT, and the potential of the node A is changed from the initial voltage Vini, which is the initial state, (Vdata (n) -Vth) obtained by subtracting the threshold voltage (Vdata (n)) of the driving transistor DT from the threshold voltage of the driving transistor DT. The initial voltage Vini is equal to or lower than the low potential driving voltage ELVSS. The voltage value of the node A which is the gate electrode of the driving transistor DT includes the threshold voltage Vth of the driving transistor DT so that the threshold voltage Vth of the driving transistor DT in the emission period Pe Can be generated in the erased state. In addition, since the node C is initialized prior to the sampling operation, unnecessary light emission of the organic light emitting diode OLED can be prevented.

에미션 기간(Pe)은 한 프레임기간 중에서 이니셜 기간(Pi)과 샘플링 기간(Ps)을 제외한 나머지 기간에 해당된다. 에미션 기간(Pe)에서, 제n 에미션신호(EM(n))는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 스캔신호(SCAN(n))는 오프 레벨로 인가된다. 에미션 기간(Pe)에서, 제n 에미션신호(EM(n))에 응답하여 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 됨으로써 구동트랜지스터(DT)의 소스전극에 고전위 구동전압(ELVDD)을 연결하고, 제n 에미션신호(EM(n))에 응답하여 제4 트랜지스터(T4)가 턴 온 됨으로써 노드 B 및 노드 C의 전위를 유기발광소자(OLED)의 동작전압(Voled)으로 동일하게 한다. The emission period Pe corresponds to the remaining period except for the initial period Pi and the sampling period Ps in one frame period. The nth emission signal EM (n) is applied at the ON level and the n th scan signal SCAN (n-1) and the n th scan signal SCAN (n) are applied in the emission period Pe, Is applied at an off level. In the emission period Pe, the second transistor T2 is turned on in response to the nth emission signal EM (n) to connect the high potential driving voltage ELVDD to the source electrode of the driving transistor DT And the fourth transistor T4 is turned on in response to the nth emission signal EM (n) to make the potentials of the nodes B and C equal to the operating voltage Voled of the organic light emitting device OLED .

이때, 제4 트랜지스터(T4)는 유기발광소자(OLED)의 애노드 전극에 연결되어 에미션 기간(Pe) 이외의 이니셜 기간(Pi) 및 샘플링 기간(Ps)에는 턴 오프 됨으로써, 에미션 기간(Pe) 이외의 기간에 유기발광소자로 흐르는 누설전류를 차단할 수 있다.At this time, the fourth transistor T4 is connected to the anode electrode of the organic light emitting device OLED and is turned off during the initial period Pi and the sampling period Ps other than the emission period Pe, so that the emission period Pe The leakage current flowing to the organic light emitting element can be cut off.

에미션 기간(Pe)에서 유기발광소자(OLED)에 흐르는 구동전류(Ioled)에 대한 관계식은 도 9c에서 설명한 수학식 2와 동일하게 적용된다. 따라서, 유기발광소자(OLED)는 구동전류에 의해 발광함으로써 원하는 표시 계조를 구현할 수 있다. 수학식 2를 참고하면, 구동전류(Ioled) 수식은 k(Vsg-Vth)2이므로, 에미션 기간(Pe)을 통해 프로그래밍된 소스-게이트 간 전압(Vsg)에는 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분이 이미 포함되어 있으므로, 수학식 2과 같이 구동전류(Ioled) 관계식에서 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분은 소거된다. 따라서, 문턱전압(Vth) 변화가 구동전류(Ioled)에 미치는 영향이 최소화될 수 있다.The relation expression for the driving current Ioled flowing in the organic light emitting diode OLED in the emission period Pe is applied in the same manner as in Equation 2 described in FIG. 9C. Accordingly, the organic light emitting element OLED can emit light by a driving current to realize a desired display gradation. The threshold voltage of the gate between the voltage (Vsg), the driving transistor (DT) - Referring to equation (2), drive current (Ioled) formula k (Vsg-Vth) 2 because it is a source program through the emission period (Pe) The threshold voltage (Vth) component of the driving transistor DT is erased in the driving current (Ioled) relation as shown in Equation (2). Therefore, the influence of the change in the threshold voltage Vth on the drive current Ioled can be minimized.

도 12는 도 3에 도시된 화소 구조의 일 변형 예를 보여주는 등가 회로도이다. 그리고, 도 13은 도 12의 화소에 인가되는 데이터신호와 게이트신호를 보여주는 파형도이다. 도 14a, 도 14b 및 도 14c는 각각 도 12의 이니셜 기간, 샘플링 기간, 및 에미션 기간에 대응되는 화소의 등가 회로도이다.12 is an equivalent circuit diagram showing a modification of the pixel structure shown in FIG. 13 is a waveform diagram showing a data signal and a gate signal applied to the pixel of FIG. 12. FIG. 14A, 14B, and 14C are equivalent circuit diagrams of pixels corresponding to the initial period, the sampling period, and the emission period of FIG. 12, respectively.

도 12을 참조하면, n(n은 자연수)번째 화소 행에 배치된 각 화소(PXL)는 유기발광소자(OLED), 구동트랜지스터(DT), 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2), 제3 트랜지스터(T3), 제4 트랜지스터(T4), 제5 트랜지스터(T5), 제6 트랜지스터(T6), 및 커패시터(Cstg)를 포함한다.12, each pixel PXL disposed in n (n is a natural number) pixel row includes an organic light emitting diode OLED, a driving transistor DT, a first transistor T1, a second transistor T2, A third transistor T3, a fourth transistor T4, a fifth transistor T5, a sixth transistor T6, and a capacitor Cstg.

유기발광소자(OLED)는 구동트랜지스터(DT)로부터 공급되는 구동 전류에 의해 발광한다. 유기발광소자(OLED)의 애노드전극과 캐소드전극 사이에는 다층의 유기 화합물층이 형성된다. 유기발광소자(OLED)의 애노드전극은 노드 C에 접속되고, 유기발광소자(OLED)의 캐소드전극은 저전위 구동전압(ELVSS)의 입력단에 접속된다.The organic light emitting element OLED emits light by a driving current supplied from the driving transistor DT. A multilayer organic compound layer is formed between the anode electrode and the cathode electrode of the organic light emitting diode OLED. The anode electrode of the organic light emitting element OLED is connected to the node C, and the cathode electrode of the organic light emitting element OLED is connected to the input terminal of the low potential driving voltage ELVSS.

구동트랜지스터(DT)는 자신의 소스-게이트 간 전압(Vsg)에 따라 유기발광소자(OLED)에 인가되는 구동전류를 제어한다. 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극은 노드 A에 접속되고, 소스전극은 고전위 구동전압(ELVDD)의 입력단에 접속되며, 드레인전극은 노드 B에 접속된다.The driving transistor DT controls the driving current applied to the organic light emitting element OLED according to its source-gate voltage Vsg. The gate electrode of the driving transistor DT is connected to the node A, the source electrode is connected to the input terminal of the high potential driving voltage ELVDD, and the drain electrode is connected to the node B.

제1 트랜지스터(T1)는 데이터라인(14)과 노드 D 사이에 접속되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 따라 온/오프된다. 제1 트랜지스터(T1)의 게이트전극은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제1 트랜지스터(T1)의 소스전극은 데이터라인(14)에 접속되며, 제1 트랜지스터(T1)의 드레인전극은 노드 D에 접속된다.The first transistor T1 is connected between the data line 14 and the node D and turned on / off according to the nth scan signal SCAN (n). The gate electrode of the first transistor T1 is connected to the nth first scan line to which the nth scan signal SCAN (n) is applied and the source electrode of the first transistor T1 is connected to the data line 14 And the drain electrode of the first transistor T1 is connected to the node D.

제2 트랜지스터(T2)는 노드 A와 노드 B 사이에 접속되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 따라 온/오프 된다. 제2 트랜지스터(T2)의 게이트전극은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제2 트랜지스터(T2)의 소스전극은 노드 D에 접속되며, 제2 트랜지스터(T2)의 드레인전극은 노드 A에 접속된다.The second transistor T2 is connected between the node A and the node B and turned on / off according to the n-th scan signal SCAN (n). The gate electrode of the second transistor T2 is connected to the nth first scan line to which the nth scan signal SCAN (n) is applied, the source electrode of the second transistor T2 is connected to the node D, The drain electrode of the second transistor T2 is connected to the node A.

제3 트랜지스터(T3)는 노드 D와 초기전압(Vini)의 입력단 사이에 접속되고, 제n 에미션신호(EM(n))에 따라 온/오프 된다. 제3 트랜지스터(T3)의 게이트전극은 제n 에미션신호(EM(n))가 인가되는 n번째 제1 에미션라인에 접속되고, 제3 트랜지스터(T3)의 소스전극은 노드 D에 접속되며, 제3 트랜지스터(T3)의 드레인전극은 초기전압(Vini)의 입력단에 접속된다.The third transistor T3 is connected between the node D and the input terminal of the initial voltage Vini and is turned on / off according to the nth emission signal EM (n). The gate electrode of the third transistor T3 is connected to the nth first emission line to which the nth emission signal EM (n) is applied and the source electrode of the third transistor T3 is connected to the node D , And the drain electrode of the third transistor T3 is connected to the input terminal of the initial voltage Vini.

제4 트랜지스터(T4)는 노드 B와 노드 C 사이에 접속되고, 제n 에미션신호(EM(n))에 따라 온/오프 된다. 제4 트랜지스터(T4)의 게이트전극은 제n 에미션신호(EM(n))가 인가되는 n번째 제1 에미션라인에 접속되고, 제4 트랜지스터(T4)의 소스전극은 노드 B에 접속되며, 제4 트랜지스터(T4)의 드레인전극은 노드 C에 접속된다.The fourth transistor T4 is connected between the node B and the node C, and is turned on / off according to the nth emission signal EM (n). The gate electrode of the fourth transistor T4 is connected to the nth first emission line to which the nth emission signal EM (n) is applied and the source electrode of the fourth transistor T4 is connected to the node B , And the drain electrode of the fourth transistor T4 is connected to the node C.

제5 트랜지스터(T5)는 노드 A와 초기전압(Vini)의 입력단 사이에 접속되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 따라 온/오프 된다. 제5 트랜지스터(T5)의 게이트전극은 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제5 트랜지스터(T5)의 소스전극은 노드 A에 접속되며, 제5 트랜지스터(T5)의 드레인전극은 초기전압(Vini)의 입력단에 접속된다.The fifth transistor T5 is connected between the node A and the input terminal of the initial voltage Vini and is turned on / off according to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1). The gate electrode of the fifth transistor T5 is connected to the (n-1) th first scan line to which the n-1th scan signal SCAN (n-1) is applied, the source electrode of the fifth transistor T5 is connected to the A and the drain electrode of the fifth transistor T5 is connected to the input terminal of the initial voltage Vini.

제6 트랜지스터(T6)는 노드 C와 초기전압(Vini)의 입력단 사이에 접속되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 따라 온/오프 된다. 제6 트랜지스터(T6)의 게이트전극은 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제6 트랜지스터(T6)의 소스전극은 노드 C에 접속되며, 제6 트랜지스터(T6)의 드레인전극은 초기전압(Vini)의 입력단에 접속된다.The sixth transistor T6 is connected between the node C and the input terminal of the initial voltage Vini and is turned on / off according to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1). The gate electrode of the sixth transistor T6 is connected to the (n-1) th first scan line to which the n-1th scan signal SCAN (n-1) is applied, the source electrode of the sixth transistor T6 is connected to the C, and the drain electrode of the sixth transistor T6 is connected to the input terminal of the initial voltage Vini.

그리고, 커패시터(Cstg)는 노드 A와 노드 D 사이에 접속된다. Then, the capacitor Cstg is connected between the node A and the node D.

상술한 바와 같이, 도 12의 화소(PXL)는 노드 A와 노드 D 사이에 커패시터(Cstg)를 포함함으로써, 노드 D에 걸리는 전압의 변화에 따라 노드 A에 걸리는 전압이 변화된다. 구동트랜지스터(DT)는 노드 A에서 변화되는 전압에 응답하여 유기발광소자(OLED)에 공급되는 전류량을 결정한다. 이에 따라, 회로의 동작 안정성을 높이는 동시에 유기발광소자(OLED)의 휘도를 용이하게 제어할 수 있다.As described above, the pixel PXL of FIG. 12 includes the capacitor Cstg between the node A and the node D, so that the voltage applied to the node A changes according to the change of the voltage applied to the node D. The driving transistor DT determines the amount of current supplied to the organic light emitting element OLED in response to the voltage changed at the node A. [ Thus, the operation stability of the circuit can be improved and the luminance of the organic light emitting diode OLED can be easily controlled.

또한, 도 12의 화소(PXL)를 통해 이니셜 기간에서 데이터전압(Vdata)과 초기전압(Vini) 간에 쇼트(short)가 발생하는 것을 미연에 방지할 수 있으며, 화소의 보상을 위한 샘플링 기간이 증가되어 보상 능력이 개선될 수 있다.In addition, it is possible to prevent a short between the data voltage (Vdata) and the initial voltage (Vini) in the initial period through the pixel (PXL) of FIG. 12, So that the compensation ability can be improved.

도 13 내지 도 14c를 참조하여, 도 12의 화소 동작을 설명한다.The pixel operation of Fig. 12 will be described with reference to Figs. 13 to 14C.

한 프레임기간은, 노드 A와 노드 C를 초기화하는 이니셜 기간(Pi), 노드 D에 데이터전압(Vdata(n))을 저장하고 구동트랜지스터(DT)의 소스-게이트 간 전압이 문턱전압과 동일해질 때까지 구동트랜지스터(DT)를 동작하는 샘플링 기간(Ps), 노드 A에서 변화되는 전압에 응답하여 구동되는 구동트랜지스터(DT)의 구동전류로 유기발광소자(OLED)를 발광시키는 에미션 기간(Pe)으로 나뉘어질 수 있다. 도 13에서는 초기화 동작을 n-1번째 수평 기간(Hn-1)에서 행함으로써 n번째 수평 기간(Hn)을 모두 샘플링 동작에 할애할 수 있게 된다. 따라서, 샘플링 기간(Ps)을 충분히 확보할 수 있으므로, 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압을 보다 정확히 샘플링할 수 있는 효과가 있다.One frame period stores the initial period Pi for initializing the node A and the node C and the data voltage Vdata (n) at the node D so that the source-gate voltage of the driving transistor DT becomes equal to the threshold voltage A sampling period Ps for operating the driving transistor DT and an emission period Pe for emitting the organic light emitting element OLED with the driving current of the driving transistor DT driven in response to the voltage changed at the node A. [ ). ≪ / RTI > In Fig. 13, the initialization operation is performed in the (n-1) -th horizontal period Hn-1, so that the n-th horizontal period Hn can be allotted to the sampling operation. Therefore, since the sampling period Ps can be sufficiently secured, there is an effect that the threshold voltage of the driving transistor DT can be more accurately sampled.

도 14a에서 이니셜 기간(Pi)에 동작하는 트랜지스터 실선으로, 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 13 및 도 14a를 참조하면, 이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호(SCAN(n))와 제n 에미션신호(EM(n))는 오프 레벨로 인가된다. 이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 응답하여 제5 및 제6 트랜지스터(T5, T6)가 턴 온됨으로써, 노드 A와 노드C는 초기전압(Vini)으로 초기화된다. In Fig. 14A, a transistor solid line operating in the initial period Pi and a transistor not operating are shown by dotted lines. 13 and 14A, in the initial period Pi, the n-1 scan signal SCAN (n-1) is applied at the ON level and the n-th scan signal SCAN (n) The emission signal EM (n) is applied at the off level. In the initial period Pi, the fifth and sixth transistors T5 and T6 are turned on in response to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1) ).

이니셜 기간(Pi)에서, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 응답하여 제5 및 제6 트랜지스터(T5, T6)가 턴 온 됨으로써, 노드 A와 노드 C는 초기전압(Vini)으로 초기화된다. 이렇게 샘플링 동작에 앞서 노드 A와 노드 C를 초기화함으로써, 샘플링의 신뢰성을 높이고, 유기발광소자(OLED)의 불필요한 발광을 방지할 수 있다. 이를 위해, 초기전압(Vini)은 유기발광소자(OLED)의 동작전압보다 충분히 낮은 전압 범위 내에서 선택할 수 있으며, 저전위 구동전압(ELVSS)과 같거나 저전위 구동전압(ELVSS)보다 낮게 설정될 수 있다. In the initial period Pi, the fifth and sixth transistors T5 and T6 are turned on in response to the (n-1) th scan signal SCAN (n-1) ). By initializing the node A and the node C prior to the sampling operation, it is possible to increase the reliability of sampling and to prevent unnecessary light emission of the organic light emitting element OLED. To this end, the initial voltage Vini can be selected within a voltage range sufficiently lower than the operating voltage of the organic light emitting diode OLED and is set to be equal to or lower than the low-potential driving voltage ELVSS .

도 14b에서, 샘플링 기간(Ps)에 동작하는 트랜지스터는 실선으로, 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 13 및 도 14b를 참조하면, 샘플링 기간(Ps)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 에미션신호(EM(n))는 오프 레벨로 인가된다. 샘플링 기간(Ps)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 응답하여 제1 및 제2 트랜지스터(T1, T2)가 턴 온 됨으로써, 구동트랜지스터(DT)는 다이오드 커넥션(diode connection, 게이트전극과 드레인전극이 쇼트되어 트랜지스터가 다이오드처럼 동작함)되고, 노드 D에는 데이터전압(Vdata(n))이 인가되고, 노드 A에는 고전위 구동전압(ELVDD)이 유입된다. 여기서 노드 D와 노드 A 사이에 커패시터(Cstg)가 배치됨으로써, 노드 D와 노드 A 각각에는 독립적으로 서로 다른 전압이 걸릴 수 있다.In Fig. 14B, the transistor operating in the sampling period Ps is indicated by a solid line, and the transistor not operating is indicated by a dotted line. 13 and 14B, in the sampling period Ps, the n-th scan signal SCAN (n) is applied at the ON level and the n-1 scan signal SCAN (n-1) The emission signal EM (n) is applied at the off level. In the sampling period Ps, the first and second transistors T1 and T2 are turned on in response to the n-th scan signal SCAN (n), so that the driving transistor DT is diode- (N) is applied to the node D, and the high potential driving voltage ELVDD is applied to the node A. In this case, Here, since the capacitor Cstg is arranged between the node D and the node A, the node D and the node A can independently receive different voltages.

따라서, 샘플링 기간(Ps)에서, 구동트랜지스터(DT)는 소스-게이트 간 전압이 문턱전압과 동일해질 때까지 동작하며, 구동트랜지스터(DT)가 동작하는 동안 노드 A에는 고전위 구동전압(ELVDD)이 유입된다.Therefore, in the sampling period Ps, the driving transistor DT operates until the source-gate voltage becomes equal to the threshold voltage, and the high-potential driving voltage ELVDD is applied to the node A while the driving transistor DT is operating. .

도 14c에서 에미션 기간(Pe)에 동작하는 트랜지스터는 실선으로, 동작하지 않는 트랜지스터는 점선으로 도시하였다. 도 13 및 도 14c를 참조하면, 에미션 기간(Pe)에서, 제n 에미션신호(EM(n))는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 스캔신호(SCAN(n))는 오프 레벨로 인가된다. 에미션 기간(Pe)에서, 제n 에미션신호(EM(n))에 응답하여 제3 트랜지스터(T3)가 턴 온 됨으로써 초기화 전압이 노드 D에 인가된다. 노드 D의 전위 변화분(Vdata-Vinit)에 대한 커패시터(Cstgg)의 전압이 노드 A에 반영된다. 즉, 노드 D의 전위 변화분이 노드 A에도 반영됨으로써, 구동트랜지스터(DT)의 게이트-소스 간 전압(Vgs)이 프로그래밍된다. 이에 따라, 구동트랜지스터(DT)는 노드 A에서 변화되는 전압에 응답하여 유기발광소자(OLED)에 공급되는 전류량을 결정한다.In Fig. 14C, the transistor operating in the emission period Pe is indicated by a solid line, and the transistor not operating is indicated by a dotted line. 13 and 14C, in the emission period Pe, the nth emission signal EM (n) is applied at the ON level, and the n-1 scan signal SCAN (n-1) And the nth scan signal SCAN (n) is applied at an off level. In the emission period Pe, the initialization voltage is applied to the node D by turning on the third transistor T3 in response to the nth emission signal EM (n). The voltage of the capacitor Cstgg with respect to the potential change (Vdata-Vinit) of the node D is reflected to the node A. [ That is, the potential change of the node D is also reflected to the node A, so that the gate-source voltage Vgs of the driving transistor DT is programmed. Thus, the driving transistor DT determines the amount of current supplied to the organic light emitting element OLED in response to the voltage changed at the node A. [

또한, 제n 에미션신호(EM(n))에 응답하여 제4 트랜지스터(T4)가 턴 온 됨으로써 노드 C의 전위를 유기발광소자(OLED)의 동작전압(Voled)으로 동일하게 한다.The fourth transistor T4 is turned on in response to the nth emission signal EM (n) to make the potential of the node C equal to the operating voltage Voled of the organic light emitting diode OLED.

에미션 기간(Pe)에서 유기발광소자(OLED)에 흐르는 구동전류(Ioled)에 대한 관계식은 하기 수학식 3과 같이 된다. 유기발광소자(OLED)는 구동전류에 의해 발광함으로써 원하는 표시 계조를 구현하게 된다.The relation for the driving current Ioled flowing in the organic light emitting diode OLED in the emission period Pe is as shown in the following equation (3). The organic light emitting device OLED emits light by a driving current to realize a desired display gradation.

이때, 제4 트랜지스터(T4)는 유기발광소자의 애노드 전극에 연결되어 에미션 기간(Pe) 이외의 이니셜 기간(Pi) 및 샘플링 기간(Ps)에는 턴 오프 됨으로써, 에미션 기간(Pe) 이외의 기간에 유기발광소자로 흐르는 누설전류를 차단할 수 있다.At this time, the fourth transistor T4 is connected to the anode electrode of the organic light emitting element and is turned off during the initial period Pi and the sampling period Ps other than the emission period Pe, The leakage current flowing to the organic light emitting element can be cut off.

[수학식 3]&Quot; (3) "

IOLED=k/2(Vsg-Vth)2 = k/2((Vs-Vg)-Vth)2 = k/2((VDD-((VDD- (Vdata- Vinit)-Vth) - Vth)2 = k/2(Vdata -Vinit)2 I OLED = k / 2 Vsg-Vth 2 = k / 2 Vs-Vg-Vth 2 k / 2 VDD - Vdata Vinit Vth 2 = k / 2 (Vdata-Vinit) 2

수학식 3에서, k/2는 구동트랜지스터(DT)의 전자 이동도, 기생 커패시턴스 및 채널 용량 등에 의해 결정되는 비례 상수를 나타낸다.In Equation (3), k / 2 represents a proportional constant determined by electron mobility, parasitic capacitance, channel capacity, and the like of the driving transistor DT.

구동전류(Ioled) 수식은 k(Vsg-Vth)2인데, 에미션 기간(Pe)을 통해 프로그래밍 된 Vsg에는 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분이 이미 포함되어 있으므로, 수학식 3과 같이 구동전류(Ioled) 관계식에서 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth) 성분은 소거된다. 이를 통해, 문턱전압(Vth) 변화가 구동전류(Ioled)에 미치는 영향이 제거된다.Since the threshold voltage (Vth) component of the driving transistor DT is already included in Vsg programmed through the emission period (Pe), the equation (3) Similarly, the threshold voltage (Vth) component of the driving transistor DT is erased in the driving current Ioled relation. Thus, the influence of the change in the threshold voltage Vth on the drive current Ioled is eliminated.

이상 설명한 바와 같이, 한 프레임이 이니셜 기간(Pi), 샘플링 기간(Ps), 에미션 기간(Pe)으로 나누어지는 것을 중심으로 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 도 15에 도시된 바와 같이, 이니셜 기간(Pi), 에미션 기간(Pe) 사이에 홀드 기간(Ph)이 더 포함될 수 있다.As described above, although one frame is mainly divided into the initial period Pi, the sampling period Ps, and the emission period Pe, the present invention is not limited thereto. As shown in Fig. 15, A hold period Ph may further be included between the period Pi and the emission period Pe.

홀드 기간(Ph)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))는 오프 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 제n 에미션신호(EM(n))는 오프 레벨로 인가된다.1) th scan signal SCAN (n-1) and the n-th emission signal EM (n) are applied in off-level in the hold period Ph, Is applied at an off level.

이와 같이, 홀드 기간(Ph)에서, 제n 스캔신호(SCAN(n))가 오프 레벨로 인가되는 동안 제n 에미션신호(EM(n))를 온 레벨로 인가하지 않고, 일정시간 동안 오프 레벨로 유지한다. 이에 따라, 제n 스캔신호(SCAN(n))와 제n 에미션신호(EM(n))가 동시에 동기될 때 발생될 수 있는 전류 변화 또는 전압 변화에 따른 노이즈를 미연에 방지할 수 있다. 도 15의 나머지 구성 요소들은 도 8에서 설명한 것과 실질적으로 동일하다.Thus, during the hold period Ph, the nth emission signal EM (n) is not applied to the ON level while the nth scan signal SCAN (n) is applied at the off level, Level. Thus, it is possible to prevent a noise due to a current change or a voltage change that may be generated when the nth scan signal SCAN (n) and the nth emission signal EM (n) are simultaneously synchronized. The remaining components of Fig. 15 are substantially the same as those described in Fig.

기존에는 제n 스캔신호1(SCAN1(n)), 제n 스캔신호2(SCAN(2(n)), 및 제n 에미션신호(EM(n))으로 형성됨으로써, 화소별로 3개의 GIP 블록을 사용하였다. 하지만,, 도 2 내지 도 15를 통해, 설명한 본 명세서의 화소의 구조는 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1)), 제n 스캔신호(SCAN(n)) 및 제n 에미션신호(EM(n))으로 동작이 가능하다. 이에 따라 본 명세서의 화소 구조는 2개 블록으로 이루어진 GIP로 화소 구동이 가능하다. 따라서, GIP 형성 영역의 폭을 좁힐 수 있기 때문에 네로우 베젤(Narrow bezel)의 구현이 가능할 수 있다.(N) scan signal 1 (SCAN1 (n)), the nth scan signal 2 (SCAN (2 (n)) and the nth emission signal EM (n) The structure of the pixel of the present invention described with reference to Figs. 2 to 15 is the same as that of the first embodiment except that the n-1 scan signal SCAN (n-1), the nth scan signal SCAN (n) the pixel structure of the present specification can drive a pixel with a GIP composed of two blocks. Therefore, since the width of the GIP forming region can be narrowed, Implementation of a narrow bezel may be possible.

도 16 내지 도 18은 스캔 구동부의 시프트 레지스터와 에미션 구동부의 인버터가 게이트 구동회로로 구현되는 다양한 예를 보여 주는 도면들이다.16 to 18 are diagrams showing various examples in which the shift register of the scan driver and the inverter of the emission driver are implemented as a gate driver circuit.

도 16은 도 2의 게이트 구동회로(13)을 자세히 표현한 도면이다. 도 16을 참조하면, 게이트 구동회로는 스캔 구동부(S1(n))와 에미션 구동부(EM Inv.(n))를 포함할 수 있다.FIG. 16 is a diagram showing the gate drive circuit 13 of FIG. 2 in detail. 16, the gate driving circuit may include a scan driver S1 (n) and an emission driver (EM Inv. (N)).

스캔 구동부는 각 화소행마다 연결된 적어도 하나 이상의 스캔라인을 구동하기 위해 행 순차 방식으로 스캔신호를 생성하여 스캔라인들에 공급할 수 있다. 스캔 구동부는 시프트 레지스터(Shift Register)를 포함한다. 시프트 레지스터(Shift Register)는 종속적으로 접속된 A스테이지들(A stages, S1(1) 내지 S1(n+1))을 포함한다. 에미션 구동부는 각 화소행마다 연결된 적어도 하나 이상의 에미션라인을 구동하기 위해 행 순차 방식으로 에미션신호를 생성하여 에미션라인들에 공급할 수 있다. 에미션 구동부는 인버터(Inverter)를 포함한다. 인버터(Inverter)는 종속적으로 접속된 B스테이지들(Bstages, EM Inv(1) 내지 EM Inv(N+1))을 포함한다.The scan driver may generate a scan signal in a row-sequential manner to supply at least one scan line connected to each pixel row to the scan lines. The scan driver includes a shift register. The shift register includes A stages, S1 (1) to S1 (n + 1), which are connected in a dependent manner. The emission driving unit may generate an emission signal in a row-sequential manner to supply at least one emission line connected to each pixel row to the emission lines. The emission driving unit includes an inverter. The inverter includes the B stages (Bstages, EM Inv (1) to EM Inv (N + 1)) which are connected in a dependent manner.

A스테이지들(S1(1) 내지 S1(n+1))과 B스테이지들(EM Inv.(1) 내지 EM Inv.(n+1))은 화상이 표시되는 액티브 영역을 중심으로 대칭되어 액티브 영역의 양측에 배치될 수 있다.The A stages S1 (1) to S1 (n + 1) and the B stages EM Inv. (1) to EM Inv. (N + 1) are symmetrically symmetric about the active region Can be disposed on both sides of the region.

A스테이지(S1(n-1))들은 스타트 펄스(S1VST)에 응답하여 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))를 동시에 출력한다. A스테이지(S1(n-1))는 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 별도의 캐리 신호(Carry signal)를 출력하여 스타트 펄스(S1VST)로서 다음 스테이지인 A스테이지(S1(n))에 동시에 공급할 수 있다. 캐리 신호는 다음 단 스테이지의 스타트 펄스로서 입력될 수 있다.The A stages S1 (n-1) simultaneously output the n-1 scan signal SCAN (n-1) in response to the start pulse S1VST. The A stage S1 (n-1) outputs a carry signal different from the n-1 scan signal SCAN (n-1) and outputs a carry signal S1VST as a start pulse S1VST, (n). The carry signal can be input as the next stage single-stage start pulse.

제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))는 N-1번째 화소의 n-1번째 스캔라인과 n번째 화소의 n-1번째 스캔라인 각각에 동시에 공급되면서 B스테이지(EM Inv.(n)) 및 A스테이지(S1(n))에 공급된다.The n-1th scan signal SCAN (n-1) is simultaneously supplied to the n-1th scan line of the (N-1) th pixel and the n-1th scan line of the nth pixel, n) and the A stage S1 (n).

B스테이지(EM Inv.(n))들은 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))가 공급되면, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 동기되면서 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))에 반전되는 제n 에미션신호(EM(n))를 n번째 화소의 에미션라인에 동시에 공급한다.1) th scan signal SCAN (n-1) while being supplied with the n-1 scan signal SCAN (n-1) The nth emission signal EM (n) inverted to the scan signal SCAN (n-1) is simultaneously supplied to the emission line of the n-th pixel.

A스테이지(S1(n))들은 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))가 공급되거나, 제n-1 스캔신호(SCAN(n-1))와 캐리 신호가 공급되면, 스타트 신호(Vst), 클럭(GCLK) 등의 스캔 타이밍 제어신호들에 응답하여 제n 스캔신호(SCAN(n))를 n번째 화소의 n번째 스캔라인에 동시에 공급한다.The A stages S1 (n) are supplied with the n-1 scan signal SCAN (n-1) or the n-1 scan signal SCAN (n-1) The nth scan signal SCAN (n) is simultaneously supplied to the nth scan line of the nth pixel in response to the scan timing control signals such as the scan signal Vst and the clock GCLK.

제n 스캔신호(SCAN(n))는 n번째 화소의 n번째 스캔라인과 n+1번째 픽셀의 n번째 스캔라인 각각에 동시에 공급되면서 B스테이지(EM Inv.(n+1)) 및 A스테이지(S1(n+1))에 공급된다.The nth scan signal SCAN (n) is simultaneously supplied to the nth scan line of the nth pixel and the nth scan line of the (n + 1) th pixel, and the B stage EM Inv. (N + (S1 (n + 1)).

B스테이지(EM INV.(n+1))들은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 공급되면, 제n 스캔신호(SCAN(n))에 동기되면서 제n 스캔신호(SCAN(n))에 반전되는 제n+1 에미션신호(EM(n+1))를 N+1번째 픽셀의 에미션라인에 동시에 공급한다.The nth scan signal SCAN (n) is supplied to the B stages EM INV. (N + 1) in synchronization with the nth scan signal SCAN (n) (N + 1) th emission signal EM (n + 1) which is inverted to the (N + 1) -th pixel.

A스테이지(S1(n+1))들은 제n 스캔신호(SCAN(n))가 공급되거나, 제1 스캔신호(SCAN(n))와 캐리 신호가 공급되면, 스타트 신호(Vst), 클럭(GCLK) 등의 스캔 타이밍 제어신호들에 대응되는 제n+1 스캔신호(SCAN(n+1))를 n+1번째 픽셀의 n+1번째 스캔라인에 동시에 공급한다.When the n-th scan signal SCAN (n) is supplied or the first scan signal SCAN (n) and the carry signal are supplied, the A-stages S1 (n + 1) (N + 1) th scan line SCAN (n + 1) corresponding to the scan timing control signals of the (n + 1) th scan line,

기존에는 화소를 구동하기 위해서 게이트 구동회로가 제1 스캔 구동부, 제2 스캔 구동부 및 에미션 구동부로 구성되었다. 그리고, 게이트 구동회로는 적어도 3 개의 블록인 A스테이지 내지 C스테이지가 배치되어야만 화소를 구동할 수 있었다. 그러나, 본 실시예는 스캔 구동부 및 에미션 구동부만으로도 화소를 구동할 수 있다. 이에 따라, 본 실시예는 A스테이지와 B스테이지만으로도 화소를 구동할 수 있다. 따라서, 본 실시예는 기존의 2/3의 공간으로도 화소를 구동할 수 있으므로 네로우 베젤(Narrow-bezel)을 용이하게 구현할 수 있다.Conventionally, in order to drive a pixel, a gate drive circuit is composed of a first scan driver, a second scan driver, and an emission driver. Further, the gate driving circuit can drive the pixels only when the A stage to the C stage, which are at least three blocks, are disposed. However, in this embodiment, the pixels can be driven by only the scan driver and the emission driver. Accordingly, the present embodiment can drive a pixel with only the A-stage and the B-stage. Therefore, the present embodiment can easily drive the narrow bezel because the pixel can be driven even in the existing 2/3 space.

도 17을 참조하면, A스테이지들(S1(1) 내지 S1(2n)) 중 홀수 번째의 A스테이지들(S1(1) 내지 S1(2n-1))과, B스테이지들(EM Inv.(1) 내지 EM Inv.(2n)) 은 액티브 영역의 일측에 배치될 수 있고, A스테이지들(S1(1) 내지 S1(2n)) 중 짝수 번째의 A스테이지들(S1(1) 내지 S1(2n))과, B스테이지들(EM Inv.(2) 내지 EM Inv.(2n)) 은 액티브 영역의 타측에 배치될 수 있다.17, odd-numbered A stages S1 (1) to S1 (2n-1) among the A stages S1 (1) to S1 (2n) and B stages 1) to EM Inv. (2n) may be disposed on one side of the active region and the even-numbered A stages S1 (1) to S1 (2n) of the A stages S1 2n) and B stages (EM Inv. (2) to EM Inv. (2n)) may be placed on the other side of the active area.

이에 따라, 액티브 영역의 일측에 배치되는 첫 번째의 A스테이지들(S1(1) 내지 S1(2n))과 B스테이지들(EM Inv.(1) 내지 EM Inv.(2n))이 동작하고 난 후 액티브 영역의 타측에 배치되는 두 번째의 A스테이지들(S1(2) 내지 S1(2n))과 B스테이지들(EM Inv.(2) 내지 EM Inv.(2n))가 동작할 수 있다. 즉, A스테이지들(S1(1) 내지 S1(2n))과 B스테이지들(EM Inv.(1) 내지 EM Inv.(n+1))이 지그재그 방향이면서 순차적으로 동작할 수 있다.Thereby, the first A stages (S1 (1) to S1 (2n)) and the B stages (EM Inv. (1) to EM Inv. (2n)) arranged on one side of the active region The second A stages (S1 (2) to S1 (2n)) and the B stages (EM Inv. (2) to EM Inv. (2n)) disposed on the other side of the active region can operate. That is, the A stages S1 (1) to S1 (2n) and the B stages (EM Inv. (1) to EM Inv. (N + 1)) can operate sequentially in the zigzag direction.

액티브 영역의 일측에 배치된 A스테이지(S1(2n-1))는 스타트펄스(S1VST)에 응답하여 제2n-1 스캔신호(SCAN(2n-1))를 출력하고, B스테이지(EM Inv.(2n-1))도 스타트펄스(S1VST)에 응답하여 제2n-1 에미션신호(EM(2n-1))를 출력한다. A스테이지(S1(2n-1))로부터 출력된 스캔신호(SCAN(2n-1))는 액티브 영역의 타측에 배치된 A스테이지(S1(2n))와 B스테이지(EM Inv.(2n))로 입력되고, A스테이지(S1(2n))와 B스테이지(EM Inv.(2n))로 입력된 스캔신호(SCAN(2n-1))에 응답하여 각각 스캔신호(SCAN(2n)) 및 에미션신호(EM(2n))을 출력하게 되며, 출력된 스캔신호(SCAN(2n))는 다시 일측에 배치된 A스테이지(S1(2n+1)) 및 B스테이지(EM Inv.(2n+1))에 입력된다.The A stage S1 (2n-1) arranged on one side of the active region outputs the second n-1 scan signal SCAN (2n-1) in response to the start pulse S1VST and the B stage EM Inv. (2n-1) also outputs the second n-1 emission signal EM (2n-1) in response to the start pulse S1VST. The scan signal SCAN (2n-1) output from the A stage S1 (2n-1) is supplied to the A stage S1 (2n) and the B stage (EM Inv. 2n) And the scan signals SCAN (2n) and Em (2n-1) are input in response to the scan signal SCAN (2n-1) input to the A stage (S1 (2n)) and the B stage (EM Inv (2n + 1) and the B stage (EM (2n + 1)) arranged on one side and the B stage ).

상술한 바와 같이, 본 실시 예는 홀수 번째 배치되는 A스테이지들 및 B스테이지들과, 짝수 번째 배치되는 A스테이지들 및 B스테이지들을 분리하여 배치함으로써, 공간활용의 자유도를 개선하는 동시에 네로우 베젤(Narrow-bezel)을 용이하게 구현할 수 있다.As described above, the present embodiment separately arranges the A-stages and the B-stages arranged at odd-numbered positions and the A-stages and B-stages arranged at even-numbered positions to improve the freedom of space utilization, Narrow-bezel) can be easily implemented.

도 18을 참조하면, A스테이지들(S1(1) 내지 S1(n+1))은 액티브 영역의 일측에 배치될 수 있고, B스테이지들(EM Inv.(1) 내지 EM Inv.(n+1))은 액티브 영역의 티측에 배치될 수 있다.18, A stages (S1 (1) to S1 (n + 1)) can be disposed on one side of the active area and B stages (EM Inv. 1) may be disposed on the tee side of the active area.

이에 따라, 액티브 영역의 타측에 배치되는 B스테이지들(EM Inv.(1) 내지 EM Inv.(n+1))은 액티브 영역의 일측에 배치되는 A스테이지들(S1(1) 내지 S1(n+1))에 대응되어 배치된다. 액티브 영역의 일측에 배치되는 A스테이지들(S1(1) 내지 S1(n+1))과 액티브 영역의 타측에 배치되는 B스테이지들(EM Inv.(1) 내지 EM Inv.(n+1))은 순차적으로 동작할 수 있다.Thus, the B stages (EM Inv. (1) to EM Inv. (N + 1)) disposed on the other side of the active region are A stages (S1 +1)). (1) to EM (n + 1) arranged on one side of the active region and B stages (EM Inv. (1) to EM Inv ) Can operate sequentially.

액티브 영역의 양측에 배치된 A스테이지(S1(n)) 및 B스테이지(EM Inv.(n))는 각각 다른 스타트 신호(VST,EVST)에 응답하여 신호를 화소에 입력할 수 있다. The A stage S1 (n) and the B stage EM Inv. (N) arranged on both sides of the active region can input signals to the pixels in response to the different start signals VST and EVST.

A스테이지(S1(n))는 스타트 신호(SVST)에 응답하여 A스테이지(S1(n))에서 출력된 스캔신호(SCAN(n))는 n번째 화소에 신호를 전달함과 동시에 n+1번째 화소에 신호를 인가하고, A스테이지(S1(n+1))의 스타트 신호를 입력할 수 있다. 이때, B스테이지(EM Inv.(n))는 스타트 신호(EVST)에 응답하여 에미션신호(EM(n))를 N번째 화소에 인가하고, B스테이지(EM Inv.(n+1))에 신호를 입력시킴으로써, A스테이지와 B스테이지는 동시에 순차적으로 동작할 수 있다.In the A stage S1 (n), the scan signal SCAN (n) output from the A stage S1 (n) in response to the start signal SVST transfers the signal to the nth pixel, Th pixel and input the start signal of the A stage (S1 (n + 1)). At this time, the B stage (EM Inv. (N)) applies the emission signal EM (n) to the Nth pixel in response to the start signal EVST and the B stage EM Inv. (N + The A stage and the B stage can be operated at the same time in sequence.

상술한 바와 같이, 본 실시예는 A스테이지들(S1(1) 내지 S1(n+1))과 B스테이지들(EM Inv.(1) 내지 EM Inv.(n+1))을 분리하여 배치함으로써, 공간활용의 자유도 또는 설계의 자유도를 개선할 수 있으며, 네로우 베젤(Narrow-bezel)을 용이하게 구현할 수 있다.As described above, the present embodiment separates and arranges the A stages (S1 (1) to S1 (n + 1)) and the B stages (EM Inv. (1) to EM Inv. Thus, freedom of space utilization or freedom of design can be improved, and a narrow bezel can be easily implemented.

도 19는 도 7에 도시된 화소에서 커패시터(Cstg)의 양 전극과 접속하는 노드의 어레이 배치를 나타내는 도면이다. 19 is a diagram showing an array arrangement of nodes connected to both electrodes of the capacitor Cstg in the pixel shown in Fig.

도 19를 참조하면, 제5 트랜지스터(T5)는 반도체층(210), 게이트전극, 드레인전극(221), 및 소스전극을 포함하고, 제6 트랜지스터(T6)는 반도체층(210), 게이트전극(220), 드레인전극(221), 및 소스전극을 포함하며, 커패시터(Cstg)는 제1 전극(225) 및 제2 전극을 포함한다. 커패시터(Cstg)의 제1 전극(225)은 초기전압(Vini) 입력단으로부터 신호를 인가받는 초기전압라인(Vini)과 제5 트랜지스터(T5) 및 제6 트랜지스터(T6)의 드레인전극(221)에 연결되며, 제2 전극은 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극(235)에 해당한다. 따라서, 제1 전극(225)과 제2 전극(235)의 오버랩 부분에 정전용량을 형성할 수 있다. 이때, 제5 트랜지스터(T5)의 소스전극은 컨택홀(271)을 통해서 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극(235)에 연결되고, 제6 트랜지스터(T6)의 소스전극은 유기발광소자의 애노드에 연결될 수 있다. 또한, 구동트랜지스터(DT)의 반도체층(250)은 게이트전극(235) 아래에 형성되고, 소스 컨택홀(261), 드레인 컨택홀(263)은 각각 다른 트랜지스터의 소스 또는 드레인 전극과 연결할 수 있다.19, the fifth transistor T5 includes a semiconductor layer 210, a gate electrode, a drain electrode 221, and a source electrode. The sixth transistor T6 includes a semiconductor layer 210, A source electrode 220, a drain electrode 221, and a source electrode, and the capacitor Cstg includes a first electrode 225 and a second electrode. The first electrode 225 of the capacitor Cstg is connected to the initial voltage line Vini receiving the signal from the initial voltage Vini input terminal and the drain electrode 221 of the fifth transistor T5 and the sixth transistor T6 And the second electrode corresponds to the gate electrode 235 of the driving transistor DT. Therefore, an electrostatic capacity can be formed at the overlapping portion of the first electrode 225 and the second electrode 235. The source electrode of the fifth transistor T5 is connected to the gate electrode 235 of the driving transistor DT through the contact hole 271 and the source electrode of the sixth transistor T6 is connected to the anode of the organic light- Can be connected. The semiconductor layer 250 of the driving transistor DT is formed under the gate electrode 235 and the source contact hole 261 and the drain contact hole 263 can be connected to the source or drain electrode of another transistor, respectively .

이때, 커패시터(Cstg)의 제1 전극(225)은 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극(235) 보다 면적이 넓도록 구현함으로써, 제1 전극(225)에 초기전압(Vini)이 인가됨으로써, 기판(110)에 형성된 이동전하(mobile charge)의 영향을 억제할 수 있다. 따라서, 이동전하(mobile charge)의 영향으로 구동트랜지스터(DT)의 구동전류가 감소되는 것을 개선할 수 있다. 여기서, 초기전압(Vini)은 마이너스 전압일 수 있다. The first electrode 225 of the capacitor Cstg is formed to have a larger area than the gate electrode 235 of the driving transistor DT so that the initial voltage Vini is applied to the first electrode 225, It is possible to suppress the influence of the mobile charge formed on the substrate 110. Therefore, the driving current of the driving transistor DT can be prevented from being reduced due to the influence of the mobile charge. Here, the initial voltage Vini may be a negative voltage.

또한, 커패시터(Cstg)의 제1 전극(225)은 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극(235)에 연결되어 샘플링 기간에 동작하는 제3 트랜지스터(T3)의 반도체층에 대응하는 영역에 배치함으로써, 제3 트랜지스터(T3)의 반도체층에 미칠 수 있는 이동전하(mobile charge)에 의한 영향을 줄여줄 수 있는 효과가 있다. 커패시터(Cstg)의 제1 전극(225)의 배치는 도 7에 한정되지 않으며, 다른 실시예에도 적용할 수 있다.The first electrode 225 of the capacitor Cstg is connected to the gate electrode 235 of the driving transistor DT and disposed in a region corresponding to the semiconductor layer of the third transistor T3 that operates in the sampling period, The effect of the mobile charge on the semiconductor layer of the third transistor T3 can be reduced. The arrangement of the first electrode 225 of the capacitor Cstg is not limited to that shown in Fig. 7, and can be applied to other embodiments.

또는, 구동트랜지스터(DT)의 반도체층(250) 하부에 금속층(114)을 배치함으로써, 기판(110)에 형성된 이동전하(mobile charge)가 구동트랜지스터(DT)의 반도체층(250)에 미치는 영향을 억제할 수 있으며, 금속층(114)은 구동트랜지스터(DT)의 반도체층(250)의 크기와 같거나 크게 형성할 수 있다.The metal layer 114 may be disposed below the semiconductor layer 250 of the driving transistor DT so that a mobile charge formed on the substrate 110 affects the semiconductor layer 250 of the driving transistor DT. And the metal layer 114 may be formed to be equal to or larger than the size of the semiconductor layer 250 of the driving transistor DT.

이때, 금속층(114)은 실리콘(Si) 등의 반도체 또는 도전성의 금속, 예를 들어 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중에서 적어도 하나이거나, 둘 이상의 합금으로 형성될 수 있다.At this time, the metal layer 114 may be formed of a semiconductor such as silicon (Si) or a conductive metal such as molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium ), Neodymium (Nd), and copper (Cu), or may be formed of two or more alloys.

또한, 커패시터(Cstg)의 제1 전극은 고전위 구동전압의 입력단(ELVDD)으로부터 신호를 인가받는 고전위라인(VDD)에 연결하지 않고 초기전압라인(Vini)에 연결함으로써 컨택홀의 개수를 줄일 수 있는 설계를 할 수 있다. The first electrode of the capacitor Cstg may be connected to the initial voltage line Vini without being connected to the high potential line VDD from the input terminal ELVDD of the high potential driving voltage so that the number of the contact holes may be reduced You can do the design.

도 21은 도 7의 커패시터(Cstg)의 일전극이 초기전압라인(Vini)에 연결되지 않고 고전위라인(VDD)에 연결되어 있는 비교예이다. FIG. 21 is a comparative example in which one electrode of the capacitor Cstg of FIG. 7 is connected to the high potential line VDD without being connected to the initial voltage line Vini.

도 21을 참조하며, 제2 트랜지스터(T2)는 컨택홀(282)을 통해 고전위라인(VDD)에 연결되어 있고, 커패시터(Cstg)의 제1 전극(225) 또한 고전위라인(VDD)에 다른 컨택홀(281)을 통하여 연결되어 있다. 따라서, 커패시터(Cstg)와 고전위라인(VDD)를 연결하기 위한 컨택홀(281)이 추가되었다. 하지만 도 7 및 도 19처럼, 커패시터(Cstg)의 일전극이 초기전압라인(Vini)에 연결되는 경우, 커패시터(Cstg)의 제1 전극(225)은 제5 트랜지스터(T5)와 제6 트랜지스터(T6)의 드레인전극 및 초기전압라인(Vini)은 하나의 컨택홀을 통해 연결됨으로써 도 21의 비교 예와 비교하여 컨택홀의 개수를 감소시킬 수 있다. 따라서, 커패시터의 일전극을 고전위라인(VDD)이 아닌 초기전압라인(Vini) 에 연결함으로써, 컨택홀의 개수를 줄일 수 있어 화소설계 마진을 확보할 수 있는 효과가 있다.21, the second transistor T2 is connected to the high potential line VDD through the contact hole 282 and the first electrode 225 of the capacitor Cstg is also connected to the high potential line VDD And is connected through another contact hole 281. Therefore, a contact hole 281 for connecting the capacitor Cstg and the high potential line VDD has been added. However, when one electrode of the capacitor Cstg is connected to the initial voltage line Vini as shown in FIGS. 7 and 19, the first electrode 225 of the capacitor Cstg is connected to the fifth transistor T5 and the sixth transistor T6 and the initial voltage line Vini are connected to each other through one contact hole, the number of contact holes can be reduced as compared with the comparative example of FIG. Therefore, by connecting one electrode of the capacitor to the initial voltage line Vini instead of the high potential line VDD, the number of contact holes can be reduced, thereby ensuring a pixel design margin.

이하, 도 19에서 I-I' 을 따라 절단한 단면을 도 20을 참조하여 살펴보면 다음과 같다.Hereinafter, a section cut along the line I-I 'in FIG. 19 will be described with reference to FIG.

도 20을 참조하면, 기판(110) 상에 제1 버퍼층(120)이 위치한다. 제1 버퍼층(120)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있다.Referring to FIG. 20, a first buffer layer 120 is disposed on a substrate 110. The first buffer layer 120 may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof.

기판(110)은 유리, 금속, 플라스틱 또는 폴리이미드계열의 절연층일 수 있으며, 두 개층 이상으로 형성될 수 있다. 유기발광 표시장치가 플렉서블(flexible) 유기발광 표시장치인 경우에는 플라스틱 등과 같은 유연한 재질로 이루어질 수도 있다. 또한, 플렉서블(flexible) 구현에 용이한 유기발광소자를 차량용 조명장치나 차량용 표시장치에 적용할 경우, 차량의 구조나 외관의 형상에 맞춰 차량용 조명장치나 차량용 표시장치의 다양한 설계 및 디자인의 자유도가 확보될 수 있다.The substrate 110 may be an insulating layer of glass, metal, plastic, or polyimide type, and may be formed of two or more layers. When the organic light emitting display is a flexible organic light emitting display, it may be made of a flexible material such as plastic. Further, when the organic light emitting device, which is easy to implement in a flexible manner, is applied to a vehicular illumination device or a vehicle display device, flexibility in designing and designing a vehicle lighting device or a vehicle display device in accordance with the structure of the vehicle or the appearance Can be secured.

제1 버퍼층(120) 상에는 금속층(114)이 배치될 수 있으며, 금속층(114) 상에는 제2 버퍼층(130)이 위치한다. 제2 버퍼층(130)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있다. A metal layer 114 may be disposed on the first buffer layer 120 and a second buffer layer 130 may be disposed on the metal layer 114. The second buffer layer 130 may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or multiple layers thereof.

제2 버퍼층(130) 상에는 반도체층(210)이 위치한다. 반도체층(210)은 실리콘 반도체나 산화물 반도체로 이루어질 수 있다. 제6 트랜지스터(T6)의 반도체층(210)은 드레인 영역(215), 소스 영역, 저농도 도핑영역(LDD) 및 이들 사이에 위치하는 채널 영역(211)을 포함한다. 반도체층(210)의 불순물은 붕소(B), 알루미늄(Al), 갈륨(Ga) 및 인듐(In) 중 적어도 하나의 p형 불순물을 이용할 수 있다. 그리고, 구동트랜지스터(DT) 및 제5 트랜지스터(T5)의 반도체층 역시 제6 트랜지스터(T6)의 반도체층(210)과 동일한 공정으로 형성될 수 있다. The semiconductor layer 210 is located on the second buffer layer 130. The semiconductor layer 210 may be formed of a silicon semiconductor or an oxide semiconductor. The semiconductor layer 210 of the sixth transistor T6 includes a drain region 215, a source region, a lightly doped region LDD, and a channel region 211 located therebetween. The impurity of the semiconductor layer 210 may be at least one p-type impurity selected from the group consisting of boron (B), aluminum (Al), gallium (Ga), and indium (In) The semiconductor layer of the driving transistor DT and the fifth transistor T5 may also be formed in the same process as the semiconductor layer 210 of the sixth transistor T6.

반도체층(210) 상에는 제1 절연막(140)이 위치한다. 제1 절연막(140)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있다. A first insulating layer 140 is formed on the semiconductor layer 210. The first insulating layer 140 may be a silicon oxide (SiOx), a silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof.

제6 트랜지스터(T6)의 게이트 전극(220)은 반도체층(210)의 채널 영역(211)상에 위치한다. 게이트전극(220)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나이거나 둘 이상의 합금으로 형성될 수 있다. 구동트랜지스터(DT) 및 제5 트랜지스터(T5)의 게이트전극(235)은 제6 트랜지스터(T6)의 게이트전극(220)과 동일한 공정으로 형성될 수 있다. The gate electrode 220 of the sixth transistor T6 is located on the channel region 211 of the semiconductor layer 210. [ The gate electrode 220 may be formed of any one or two of Mo, Al, Cr, Au, Ni, Ni, Nd, Or more. The gate electrode 235 of the driving transistor DT and the fifth transistor T5 may be formed in the same process as the gate electrode 220 of the sixth transistor T6.

게이트 전극들(220, 235) 상에는 제2 절연막(150)이 위치한다. 제2 절연막(150)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있다. The second insulating layer 150 is located on the gate electrodes 220 and 235. The second insulating layer 150 may be a silicon oxide (SiOx), a silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof.

제2 절연막(150) 상에는 초기전압라인(Vini) 과 연결되는 커패시터(Cstg)의 제1 전극(225)이 위치한다.A first electrode 225 of a capacitor Cstg connected to the initial voltage line Vini is located on the second insulating layer 150.

즉, 초기전압라인(Vini)과 연결되는 제1 전극(225) 및 구동트랜지스터(DT)의 게이트전극(235)과 연결되는 제2 전극(235)은 오버랩하여 배치되어 커패시터(Cstg)를 형성한다. 또한, 제1 전극(225)이 제2 전극(235)보다 면적이 넓도록 구현함으로써, 구동트랜지스터의 반도체층에 미칠 수 있는 이동전하(mobile charge)에 의한 영향을 줄여줄 수 있는 효과가 있다.That is, the first electrode 225 connected to the initial voltage line Vini and the second electrode 235 connected to the gate electrode 235 of the driving transistor DT are overlapped with each other to form a capacitor Cstg . In addition, since the first electrode 225 has a larger area than the second electrode 235, the influence of mobile charges on the semiconductor layer of the driving transistor can be reduced.

커패시터(Cstg)의 제1 전극(225) 상에는 제3 절연막(160)이 배치된다. 제3 절연막(160)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있다. A third insulating film 160 is disposed on the first electrode 225 of the capacitor Cstg. The third insulating layer 160 may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof.

제3 절연막(160)이 형성된 이후에는, 제1 내지 제3 절연막(140, 150, 160)과 커패시터(Cstg)의 제1 전극(225)이 선택적으로 식각되어서 컨택홀(223)이 형성된다. 컨택홀(223)에 의해서 제6 트랜지스터(T6)의 반도체층(210) 일부분이 노출된다. After the third insulating layer 160 is formed, the first to third insulating layers 140, 150 and 160 and the first electrode 225 of the capacitor Cstg are selectively etched to form the contact hole 223. A part of the semiconductor layer 210 of the sixth transistor T6 is exposed by the contact hole 223. [

제3 절연막(160) 상에는 컨택홀(223)에 형성되는 제6 트랜지스터(T6)의 드레인전극(221)이 위치한다. 제6 트랜지스터(T6)의 드레인전극(221)은 제5 트랜지스터(T5)의 드레인전극과 동일 컨택홀(223)을 공유하며, 초기전압라인(Vini, 225)과 연결되어 있다. 드레인전극(221)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어질 수 있다. 또한, 드레인전극(221) 이 다중층일 경우에는 몰리브덴/알루미늄-네오디뮴의 2중층, 티타늄/알루미늄/티타늄, 몰리브덴/알루미늄/몰리브덴 또는 몰리브덴/알루미늄-네오디뮴/몰리브덴의 3중층으로 이루어질 수 있다.A drain electrode 221 of the sixth transistor T6 formed in the contact hole 223 is located on the third insulating film 160. [ The drain electrode 221 of the sixth transistor T6 shares the same contact hole 223 with the drain electrode of the fifth transistor T5 and is connected to the initial voltage line Vini 225. The drain electrode 221 may be formed of any one of Mo, Al, Cr, Au, Ni, Ni, Nd, Based alloy. When the drain electrode 221 is a multilayer, it may be formed of a triple layer of molybdenum / aluminum-neodymium, titanium / aluminum / titanium, molybdenum / aluminum / molybdenum or molybdenum / aluminum-neodymium / molybdenum.

드레인전극(221) 상에는 제4 절연막(170)이 위치한다. 제4 절연막(170)은 하부 구조의 단차를 완화시키기 위한 평탄화막일 수 있으며, 폴리이미드(polyimide), 벤조사이클로부틴계 수지(benzocyclobutene series resin), 아크릴레이트(acrylate) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. A fourth insulating layer 170 is formed on the drain electrode 221. The fourth insulating film 170 may be a planarizing film for alleviating the step difference of the lower structure and may be formed of organic materials such as polyimide, benzocyclobutene series resin, and acrylate.

위에서 언급한 트랜지스터들의 소스전극 및 드레인전극은 바꾸어 적용할 수도 있다. 특히 구동트랜지스터(DT) 이외의 온/오프 역할을 하는 제1 트랜지스터 내지 제6 트랜지스터에 적용할 수 있다.The source electrode and the drain electrode of the above-mentioned transistors may alternatively be applied. In particular, the present invention can be applied to the first to sixth transistors which serve as on / off functions other than the driving transistor DT.

그리고, 본 명세서의 유기발광 표시장치는 TV, 모바일(Mobile), 테블릿 PC(Tablet PC), 모니터(Monitor), 스마트와치, 노트북 컴퓨터(Laptop Computer), 및 차량용 표시장치 등을 포함한 표시장치 등에 적용될 수 있다. 그리고, 플랫(flat) 디스플레이, 밴더블(bandable) 디스플레이, 폴더블(foldable) 디스플레이, 롤러블(rollable) 디스플레이 등 다양한 형태로 구현한 표시장치 등에 적용할 수 있다.The organic light emitting display of the present invention can be applied to a display device including a TV, a mobile, a tablet PC, a monitor, a smart watch, a laptop computer, Can be applied. In addition, the present invention can be applied to a display device implemented in various forms such as a flat display, a bandable display, a foldable display, and a rollable display.

본 명세서의 실시예에 따른 유기발광 표시장치는 다음과 같이 설명될 수 있다.The organic light emitting display according to the embodiment of the present invention can be described as follows.

본 명세서의 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치는 다수의 화소들이 구비된 표시패널, 표시패널의 스캔라인들과 에미션라인들을 구동하는 게이트 구동회로 및 표시패널의 데이터라인들을 구동하는 데이터 구동회로를 구비하고, 화소들 중에서 n(n은 자연수)번째 화소행에 배치된 각 화소는 노드 C에 접속된 애노드전극과 저전위 구동전압의 입력단에 접속된 캐소드전극을 갖는 유기발광소자와 노드 A에 접속된 게이트전극, 노드 D에 접속된 소스전극, 및 노드 B에 접속된 드레인전극을 포함하여 유기발광소자에 인가되는 구동전류를 제어하는 구동트랜지스터와, 데이터라인과 노드 D 사이에 접속된 제1 트랜지스터와, 노드 D와 고전위 구동전압의 입력단 사이에 접속된 제2 트랜지스터와, 노드 A와 노드 B 사이에 접속된 제3 트랜지스터와, 노드 B와 노드 C 사이에 접속된 제4 트랜지스터와, 노드 A와 초기전압의 입력단 사이에 접속된 제5 트랜지스터와, 노드 A와 초기전압의 입력단 사이에 접속된 커패시터를 포함한다. 따라서, 구동트랜지스터의 문턱접압 샘플링 기간을 충분히 확보하여 문턱전압 보상의 정확성을 향상시킬 수 있다.An OLED display according to an exemplary embodiment of the present invention includes a display panel having a plurality of pixels, a gate driving circuit driving scan lines and emission lines of the display panel, and a data driving circuit Each pixel arranged in n (n is a natural number) pixel column among the pixels has an organic light emitting element having an anode electrode connected to a node C and a cathode electrode connected to an input terminal of a low potential driving voltage, A driving transistor for controlling a driving current to be applied to the organic light emitting element, the driving transistor including a connected gate electrode, a source electrode connected to the node D, and a drain electrode connected to the node B; A second transistor connected between the node D and an input terminal of the high potential driving voltage, a third transistor connected between the node A and the node B, a node B and a node C A fifth transistor connected between the node A and the input terminal of the initial voltage, and a capacitor connected between the node A and the input terminal of the initial voltage. Therefore, the threshold voltage sampling period of the driving transistor can be sufficiently secured, and the accuracy of the threshold voltage compensation can be improved.

한 프레임기간은, 노드 A를 초기화하는 이니셜 기간과, 구동트랜지스터의 문턱전압을 샘플링하여 노드 A에 저장하는 샘플링 기간과, 샘플링된 문턱전압을 포함하여 구동트랜지스터의 소스-게이트 간 전압을 프로그래밍하고, 프로그래밍된 소스-게이트 간 전압에 따른 구동전류로 유기발광소자를 발광시키는 에미션 기간을 포함할 수 있다. 제5 트랜지스터의 게이트전극은 제n-1 스캔신호가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제1 트랜지스터 및 제3 트랜지스터 각각의 게이트전극은 제n 스캔신호가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제2 트랜지스터 및 제4 트랜지스터의 게이트전극은 제n 에미션신호가 인가되는 n번째 제1 에미션라인에 접속될 수 있다. 이니셜 기간에서, 상기 제n-1 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호와 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다. 샘플링 기간에서, 제n 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 상기 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다. 에미션 기간에서, 제n 에미션신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 스캔신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다.One frame period includes the initial period for initializing the node A, the sampling period for sampling the threshold voltage of the driving transistor and storing it in the node A, the source-gate voltage of the driving transistor including the sampled threshold voltage, And an emission period in which the organic light emitting element is caused to emit light by a driving current according to the programmed source-gate voltage. The gate electrode of the fifth transistor is connected to the (n-1) th first scan line to which the (n-1) th scan signal is applied, and the gate electrode of each of the first and third transistors is connected to the n- 1 scan line, and the gate electrodes of the second transistor and the fourth transistor may be connected to the nth first emission line to which the nth emission signal is applied. In the initial period, the (n-1) th scan signal may be applied at an on level, and the n th scan signal and the n th emission signal may be applied at an off level. In the sampling period, the nth scan signal is applied to the on level and the (n-1) th scan signal and the nth emission signal may be applied to the off level. In the emission period, the nth emission signal is applied at the on level, and the (n-1) th scan signal and the (n) th scan signal may be applied in off-level.

초기전압의 입력단과 노드 C 사이에 접속되는 제6 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.And a sixth transistor connected between the input terminal of the initial voltage and the node C.

한 프레임기간은, 노드 A와 노드 C를 초기화하는 이니셜 기간과, 구동트랜지스터의 문턱전압을 샘플링하여 노드 A에 저장하는 샘플링 기간과, 샘플링된 문턱전압을 포함하여 구동트랜지스터의 소스-게이트 간 전압을 프로그래밍하고, 프로그래밍된 소스-게이트 간 전압에 따른 구동전류로 유기발광소자를 발광시키는 에미션 기간을 포함할 수 있다. 제5 트랜지스터 및 제6 트랜지스터 각각의 게이트전극은 제n-1 스캔신호가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제1 트랜지스터 및 제3 트랜지스터 각각의 게이트전극은 제n 스캔신호가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되며, 제2 트랜지스터 및 제4 트랜지스터 각각의 게이트전극은 제n 에미션신호가 인가되는 n번째 에미션라인에 접속될 수 있다. 이니셜 기간에서, 제n-1 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호와 상기 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다. 샘플링 기간에서, 제n 스캔신호는 온 레벨로 인가되며, 제n-1 스캔신호와 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다. 에미션 기간에서, 제n 에미션신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 스캔신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다.One frame period includes the initial period for initializing the node A and the node C, the sampling period for sampling the threshold voltage of the driving transistor and storing the sampled threshold voltage in the node A, and the sampling-period voltage of the driving transistor including the sampled threshold voltage And an emission period during which the organic light emitting element is caused to emit light by a driving current according to the programmed source-gate voltage. The gate electrodes of the fifth transistor and the sixth transistor are connected to the (n-1) th first scan line to which the (n-1) th scan signal is applied, and the gate electrodes of the first transistor and the third transistor are connected to the And the gate electrode of each of the second transistor and the fourth transistor may be connected to the nth emission line to which the nth emission signal is applied. In the initial period, the (n-1) th scan signal is applied to the on level and the n th scan signal and the n th emission signal may be applied to the off level. In the sampling period, the nth scan signal is applied to the on level, and the (n-1) th scan signal and the nth emission signal are applied to the off level. In the emission period, the nth emission signal is applied at the on level, and the (n-1) th scan signal and the (n) th scan signal may be applied in off-level.

한 프레임기간은, 노드 A와 노드 C를 초기화하는 이니셜 기간과, 구동트랜지스터의 문턱전압을 샘플링하여 노드 A에 저장하는 샘플링 기간과, 샘플링된 문턱전압을 포함하여 구동트랜지스터의 소스-게이트 간 전압을 프로그래밍하고, 프로그래밍된 소스-게이트 간 전압에 따른 구동전류로 상기 유기발광소자를 발광시키는 에미션 기간을 포함할 수 있다. 제5 트랜지스터 각각의 게이트전극은 제n-1 스캔신호가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제1 트랜지스터, 제3 트랜지스터 및 제6 트랜지스터 각각의 게이트전극은 제n 스캔신호가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되며, 제2 트랜지스터 및 제4 트랜지스터 각각의 게이트전극은 제n 에미션신호가 인가되는 n번째 에미션라인에 접속될 수 있다. 이니셜 기간에서, 제n-1 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호와 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가되며, 샘플링 기간에서, 제n 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 상기 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다. 에미션 기간에서, 제n 에미션신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 스캔신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다.One frame period includes the initial period for initializing the node A and the node C, the sampling period for sampling the threshold voltage of the driving transistor and storing the sampled threshold voltage in the node A, and the sampling-period voltage of the driving transistor including the sampled threshold voltage And an emission period during which the organic light emitting element is caused to emit light by a driving current according to the programmed source-gate voltage. The gate electrode of each of the fifth transistors is connected to the (n-1) th first scan line to which the (n-1) th scan signal is applied, and the gate electrodes of the first transistor, the third transistor, And the gate electrode of each of the second transistor and the fourth transistor may be connected to the nth emission line to which the nth emission signal is applied. In the initial period, the (n-1) th scan signal is applied to the on level, the n th scan signal and the n th emission signal are applied to the off level, the n th scan signal is applied to the on level during the sampling period, the n-1 scan signal and the nth emission signal may be applied in off-level. In the emission period, the nth emission signal is applied at the on level, and the (n-1) th scan signal and the (n) th scan signal may be applied in off-level.

이니셜 기간은 n-1번째 수평 기간 내에 포함되고, 샘플링 기간은 n번째 수평 기간 내에 포함될 수 있다.The initial period may be included in the (n-1) -th horizontal period, and the sampling period may be included in the n-th horizontal period.

각 화소에서 커패시터의 일측 전극에 소스전극 또는 드레인전극이 접속된 트랜지스터는 서로 직렬 접속된 적어도 2개 이상의 트랜지스터들을 포함하고, 2개 이상의 트랜지스터들은 동일한 제어신호에 의해 스위칭될 수 있다.A transistor having a source electrode or a drain electrode connected to one electrode of a capacitor in each pixel includes at least two transistors connected in series to each other and two or more transistors can be switched by the same control signal.

커패시터의 제1 전극은 제5 트랜지스터의 반도체층과 소스전극 사이에서 위치한 절연막들 사이에 위치하고, 커패시터의 제1 전극과 제5 트랜지스터의 드레인전극 및 제6 트랜지스터의 드레인전극과 컨택홀을 통해서 동시에 접속될 수 있다.The first electrode of the capacitor is located between the insulating films located between the semiconductor layer and the source electrode of the fifth transistor and is connected to the first electrode of the capacitor through the drain electrode of the fifth transistor and the drain electrode of the sixth transistor through the contact hole .

구동트랜지스터의 반도체층 하부에는 금속층을 더 포함할 수 있다.The driving transistor may further include a metal layer under the semiconductor layer.

초기전압의 입력단에서 초기전압을 제공받는 커패시터의 제1 전극은 구동트랜지스터의 게이트전극에 대응하여 배치될 수 있다.The first electrode of the capacitor which is supplied with the initial voltage at the input terminal of the initial voltage may be arranged corresponding to the gate electrode of the driving transistor.

초기전압의 입력단에서 초기전압을 제공받는 커패시터의 제1 전극은 샘플링기간에 동작하는 제3 트랜지스터의 반도체층에 대응하는 영역에 배치될 수 있다.The first electrode of the capacitor which is supplied with the initial voltage at the input terminal of the initial voltage may be disposed in a region corresponding to the semiconductor layer of the third transistor operating during the sampling period.

커패시터의 제1 전극은 노드 A에 접속된 구동트랜지스터의 게이트전극이고, 제2 전극은 초기전압의 입력단에 접속된 전극에 대응되며, 제1 전극이 고전위 구동전압의 입력단에 연결되지 않고 초기전압의 입력단에 연결될 수 있다.The first electrode of the capacitor corresponds to the gate electrode of the driving transistor connected to the node A, the second electrode corresponds to the electrode connected to the input terminal of the initial voltage, the first electrode does not connect to the input terminal of the high- Lt; / RTI >

본 명세서의 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치는 다수의 화소들이 구비된 표시패널, 표시패널의 스캔라인들과 에미션라인들을 구동하는 게이트 구동회로 및 표시패널의 데이터라인들을 구동하는 데이터 구동회로를 구비하고, 화소들 중에서 n(n은 자연수)번째 화소행에 배치된 각 화소는 노드 C에 접속된 애노드전극과 저전위 구동전압의 입력단에 접속된 캐소드전극을 갖는 유기발광소자와 노드 A에 접속된 게이트전극, 고전위 구동전압의 입력단에 접속된 소스전극, 및 노드 B에 접속된 드레인전극을 포함하여 유기발광소자에 인가되는 구동전류를 제어하는 구동트랜지스터와 데이터라인과 노드 D 사이에 접속된 제1 트랜지스터와 노드 A와 노드 B 사이에 접속된 제2 트랜지스터와 노드 D와 초기전압의 입력단 사이에 접속된 제3 트랜지스터와 노드 B와 노드 C 사이에 접속된 제4 트랜지스터와 노드 A와 초기전압의 입력단 사이에 접속된 제5 트랜지스터와 초기전압의 입력단과 노드 C 사이에 접속된 제6 트랜지스터와 노드 A와 노드 D 사이에 접속된 커패시터를 포함한다. 따라서, 구동트랜지스터는 노드 A에서 변화되는 전압에 응답하여 유기발광소자(OLED)에 공급되는 전류량을 결정한다. 이에 의해 회로의 동작 안정성을 높이는 동시에 유기발광소자(OLED)의 휘도를 용이하게 제어할 수 있다. 그리고, 이니셜 기간에서 데이터전압(Vdata)과 초기전압(Vini) 간에 쇼트(short)가 발생하는 것을 미연에 방지할 수 있으며, 화소의 보상을 위한 샘플링 기간이 증가되어 보상 능력이 개선될 수 있다.An OLED display according to an exemplary embodiment of the present invention includes a display panel having a plurality of pixels, a gate driving circuit driving scan lines and emission lines of the display panel, and a data driving circuit Each pixel arranged in n (n is a natural number) pixel column among the pixels has an organic light emitting element having an anode electrode connected to a node C and a cathode electrode connected to an input terminal of a low potential driving voltage, A driving transistor for controlling the driving current applied to the organic light emitting element, including a connected gate electrode, a source electrode connected to the input terminal of the high potential driving voltage, and a drain electrode connected to the node B, A second transistor connected between the node A and the node B, a third transistor connected between the node D and an input terminal of the initial voltage, and a node B A fifth transistor connected between the node A and the input terminal of the initial voltage, a sixth transistor connected between the input terminal of the initial voltage and the node C, and a fourth transistor connected between the node A and the node D, Capacitors. Therefore, the driving transistor determines the amount of current supplied to the organic light emitting element OLED in response to the voltage changed at the node A. [ Thus, the operation stability of the circuit can be improved and the luminance of the organic light emitting diode OLED can be easily controlled. In addition, it is possible to prevent a short between the data voltage (Vdata) and the initial voltage (Vini) in the initial period, and the sampling period for compensating the pixel can be increased to improve the compensation capability.

한 프레임기간은 노드 A와 노드 C를 초기화하는 이니셜 기간과, 구동트랜지스터의 문턱전압을 샘플링하여 노드 A(노드 D)에 저장하는 샘플링 기간과, 샘플링된 문턱전압을 포함하여 구동트랜지스터의 소스-게이트 간 전압을 프로그래밍하고, 프로그래밍된 소스-게이트 간 전압에 따른 구동전류로 유기발광소자를 발광시키는 에미션 기간을 포함할 수 있다. 제5 및 제6 트랜지스터의 게이트전극은 제n-1 스캔신호가 인가되는 n-1번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제1 및 제2 트랜지스터 각각의 게이트전극은 제n 스캔신호가 인가되는 n번째 제1 스캔라인에 접속되고, 제3 및 제4 트랜지스터의 게이트전극은 제n 에미션신호가 인가되는 n번째 제1 에미션라인에 접속될 수 있다. 이니셜 기간에서, 제n-1 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호와 상기 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다. 샘플링 기간에서, 제n 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가된다. 에미션 기간에서, 제n 에미션신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 스캔신호는 오프 레벨로 인가될 수 있다.One frame period includes a initial period for initializing the node A and the node C, a sampling period for sampling the threshold voltage of the driving transistor and storing the sampled threshold voltage in the node A (node D), and a source- And an emission period in which the organic light emitting element is caused to emit light with a drive current corresponding to the programmed source-gate voltage. The gate electrodes of the fifth and sixth transistors are connected to the (n-1) th first scan line to which the (n-1) th scan signal is applied, and the gate electrodes of the first and second transistors are connected to the Th first scanning line, and the gate electrodes of the third and fourth transistors may be connected to the nth first emission line to which the nth emission signal is applied. In the initial period, the (n-1) th scan signal is applied to the on level and the n th scan signal and the n th emission signal may be applied to the off level. In the sampling period, the nth scan signal is applied to the on level and the (n-1) th scan signal and the nth emission signal are applied to the off level. In the emission period, the nth emission signal is applied at the on level, and the (n-1) th scan signal and the (n) th scan signal may be applied in off-level.

이니셜 기간은 n-1번째 수평 기간 내에 포함되고, 샘플링 기간은 n번째 수평 기간 내에 포함될 수 있다.The initial period may be included in the (n-1) -th horizontal period, and the sampling period may be included in the n-th horizontal period.

제2 트랜지스터는 서로 직렬 접속된 적어도 2개 이상의 트랜지스터들을 포함하고, 2개 이상의 트랜지스터들은 동일한 제어신호에 의해 스위칭될 수 있다.The second transistor includes at least two transistors connected in series to each other, and the two or more transistors can be switched by the same control signal.

본 명세서의 일 실시 예에 의한 유기발광 표시장치에 있어서, 행으로 배치된 n-1번째 화소 및 n번째 화소, 구동트랜지스터, 샘플링 트랜지스터, 및 제1 이니셜 트랜지스터를 포함하는 트랜지스터 어레이, 초기전압의 입력단 및 샘플링 트랜지스터 사이에 연결되도록 구현된 커패시터, n번째 화소의 구동트랜지스터를 초기화하기 위한 제1 이니셜 트랜지스터의 게이트전극은 n-1번째 화소의 게이트전극과 연결함으로써, 구동트랜지스터의 문턱전압 샘플링 기간을 충분히 확보하여 문턱전압 보상의 정확성을 향상시킬 수 있다.The OLED display according to one embodiment of the present invention includes a transistor array including n-1-th and n-th pixels arranged in rows, a driving transistor, a sampling transistor, and a first initial transistor, The gate electrode of the first initial transistor for initializing the driving transistor of the n-th pixel is connected to the gate electrode of the (n-1) -th pixel so that the threshold voltage sampling period of the driving transistor is sufficiently So that the accuracy of the threshold voltage compensation can be improved.

커패시터는 고전위 구동전압이 아닌 초기전압을 제공받기 위해 연결됨으로써 컨택홀의 개수가 최소화될 수 있다.The number of contact holes can be minimized by connecting the capacitors to receive an initial voltage rather than a high potential driving voltage.

커패시터는 초기전압의 입력단과 연결된 전극 및 초기전압의 입력단과 전극을 연결시켜주는 하나의 컨택홀을 포함하고, 하나의 컨택홀을 통해 유기발광소자의 일전극에 마이너스전압을 제공하기 위한 제2 이니셜 트랜지스터의 드레인 전극 또는 소스 전극과 연결될 수 있다.The capacitor includes an electrode connected to the input terminal of the initial voltage and one contact hole connecting the input terminal of the initial voltage and the electrode, and a second initial electrode for providing a negative voltage to one electrode of the organic light emitting element through one contact hole. And may be connected to a drain electrode or a source electrode of the transistor.

커패시터는 초기전압을 제공받는 제1 전극 및 트랜지스터와 연결된 제2 전극을 포함하고, 제1 전극은 제2 전극보다 넓게 형성될 수 있다.The capacitor includes a first electrode provided with an initial voltage and a second electrode connected to the transistor, and the first electrode may be formed wider than the second electrode.

구동트랜지스터의 반도체층 하부에 배치된 금속층을 포함할 수 있다.And a metal layer disposed under the semiconductor layer of the driving transistor.

커패시터의 제1 전극은 샘플링 트랜지스터의 반도체층에 대응하는 영역에 배치될 수 있다.The first electrode of the capacitor may be disposed in an area corresponding to the semiconductor layer of the sampling transistor.

제1 이니셜 트랜지스터는 서로 직렬 접속된 적어도 2 개 이상의 트랜지스터를 포함하고, 적어도 2 개 이상의 트랜지스터들은 동일한 제어신호에 의해 스위칭될 수 있다.The first initial transistor includes at least two transistors connected in series to each other, and at least two transistors can be switched by the same control signal.

샘플링 트랜지스터는 서로 직렬 접속된 적어도 2 개 이상의 트랜지스터를 포함하고, 적어도 2 개 이상의 트랜지스터들은 동일한 제어신호에 의해 스위칭될 수 있다.The sampling transistor includes at least two transistors connected in series to each other, and at least two transistors can be switched by the same control signal.

구동트랜지스터에 의해 발광하는 유기발광소자 및 유기발광소자가 발광기간 이외의 기간에 발광하지 않도록 발광을 차단하는 에미션 트랜지스터를 포함할 수 있다.An organic light emitting element that emits light by the driving transistor, and an emission transistor that blocks light emission so that the organic light emitting element does not emit light in a period other than the light emitting period.

본 명세서의 일 실시예에 의한 유기발광 표시장치에 있어서, 행으로 배치된 n-1번째 화소 및 n번째 화소, 화소에 각각 배치된 유기발광소자, n-1번째 화소의 제n-1 스캔신호에 연결된 n번째 화소의 이니셜 트랜지스터, n번째 화소에 포함되고, 제n 스캔신호에 연결된 샘플링 트랜지스터, n번째 화소에 포함되고, 제n 에미션신호에 연결된 에미션 트랜지스터 및 유기발광소자를 구동하기 위한 한 프레임은 이니셜 기간, 샘플링 기간, 에미션 기간을 포함한다. 이니셜 기간에서, 제n-1 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n 스캔신호와 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가된다. 샘플링 기간에서, 제n 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가된다. 에미션 기간에서, 제n 에미션신호는 온 레벨로 인가되고, 제n-1 스캔신호와 제n 스캔신호는 오프 레벨로 인가된다.In the organic light emitting diode display according to an embodiment of the present invention, the organic light emitting elements arranged in the (n-1) th pixel and the (n) A sampling transistor included in an nth pixel connected to the nth scan signal, an emission transistor included in an nth pixel and connected to the nth emission signal, and an organic light emitting diode One frame includes an initial period, a sampling period, and an emission period. In the initial period, the (n-1) th scan signal is applied to the on level and the n th scan signal and the n th emission signal are applied to the off level. In the sampling period, the nth scan signal is applied to the on level and the (n-1) th scan signal and the nth emission signal are applied to the off level. During the emission period, the nth emission signal is applied at the on level, and the (n-1) th scan signal and the (n) th scan signal are applied at the off level.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

10 : 표시패널 11 : 타이밍 콘트롤러
12 : 데이터 구동회로 13 : 게이트 구동회로
14 : 데이터라인 15 : 게이트라인
10: Display panel 11: Timing controller
12: data driving circuit 13: gate driving circuit
14: Data line 15: Gate line

Claims (11)

행으로 배치된 n-1번째 화소 및 n번째 화소;
구동트랜지스터, 샘플링 트랜지스터, 및 제1 이니셜 트랜지스터를 포함하는 트랜지스터 어레이;
초기전압의 입력단 및 상기 샘플링 트랜지스터 사이에 연결되도록 구현된 커패시터;
상기 n번째 화소의 구동트랜지스터를 초기화 하기 위한 상기 제1 이니셜 트랜지스터의 게이트전극은 n-1번째 화소의 게이트전극과 연결된 유기발광 표시장치.
An (n-1) -th pixel and an n-th pixel arranged in a row;
A transistor array including a driving transistor, a sampling transistor, and a first initial transistor;
A capacitor implemented to be coupled between an input of the initial voltage and the sampling transistor;
And the gate electrode of the first initial transistor for initializing the driving transistor of the nth pixel is connected to the gate electrode of the (n-1) th pixel.
제 1 항에 있어서,
상기 커패시터는 고전위 구동전압이 아닌 초기전압을 제공받기 위해 연결됨으로써 컨택홀의 개수가 최소화 되는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the capacitors are connected to receive an initial voltage other than a high potential driving voltage, thereby minimizing the number of contact holes.
제 1 항에 있어서,
상기 커패시터는 상기 초기전압의 입력단과 연결된 전극; 및
상기 초기전압의 입력단과 상기 전극을 연결시켜주는 하나의 컨택홀을 포함하고, 상기 하나의 컨택홀을 통해 유기발광소자의 일전극에 마이너스전압을 제공하기 위한 제2 이니셜 트랜지스터의 드레인 전극 또는 소스 전극과 연결된 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
An electrode connected to an input terminal of the initial voltage; And
A source electrode and a drain electrode of the second initial transistor for providing a negative voltage to one electrode of the organic light emitting diode through the one contact hole, And an organic light emitting diode (OLED).
제 1 항에 있어서,
상기 커패시터는 초기전압을 제공받는 제1 전극 및 상기 트랜지스터와 연결된 제2 전극을 포함하고, 상기 제1 전극은 상기 제2 전극보다 넓게 형성된 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the capacitor includes a first electrode that receives an initial voltage and a second electrode that is connected to the transistor, wherein the first electrode is wider than the second electrode.
제 1 항에 있어서,
상기 구동트랜지스터의 반도체층 하부에 배치된 금속층을 포함하는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
And a metal layer disposed under the semiconductor layer of the driving transistor.
제 1 항에 있어서,
상기 커패시터의 제1 전극은 상기 샘플링 트랜지스터의 반도체층에 대응하는 영역에 배치된 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the first electrode of the capacitor is disposed in a region corresponding to the semiconductor layer of the sampling transistor.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 이니셜 트랜지스터는 서로 직렬 접속된 적어도 2 개 이상의 트랜지스터를 포함하고, 상기 적어도 2 개 이상의 트랜지스터들은 동일한 제어신호에 의해 스위칭되는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the first initial transistor includes at least two transistors connected in series to each other, and the at least two transistors are switched by the same control signal.
제 1 항에 있어서,
상기 샘플링 트랜지스터는 서로 직렬 접속된 적어도 2 개 이상의 트랜지스터를 포함하고, 상기 두 개의 트랜지스터들은 동일한 제어신호에 의해 스위칭되는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the sampling transistor includes at least two transistors connected in series to each other, and the two transistors are switched by the same control signal.
제 1 항에 있어서,
상기 구동트랜지스터에 의해 발광하는 유기발광소자; 및
상기 유기발광소자가 발광기간 이외의 기간에 발광하지 않도록 발광을 차단하는 에미션 트랜지스터를 포함하는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
An organic light emitting element emitting light by the driving transistor; And
And an emission transistor for blocking light emission so that the organic light emitting element does not emit light in a period other than a light emitting period.
제 9 항에 있어서,
상기 에미션 트랜지스터는 상기 유기발광소자의 애노드 전극과 연결되는 유기발광 표시장치
10. The method of claim 9,
The emissive transistor is connected to the anode electrode of the organic light emitting diode.
행으로 배치된 n-1번째 화소 및 n번째 화소;
상기 화소에 각각 배치된 유기발광소자;
상기 n-1번째 화소의 제n-1 스캔신호에 연결된 n번째 화소의 이니셜 트랜지스터;
상기 n번째 화소에 포함되고, 제n 스캔신호에 연결된 샘플링 트랜지스터;
상기 n번째 화소에 포함되고, 제n 에미션신호에 연결된 에미션 트랜지스터; 및
상기 유기발광소자를 구동하기 위한 한 프레임은 이니셜 기간, 샘플링 기간, 에미션 기간을 포함하고,
상기 이니셜 기간에서, 상기 제n-1 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 상기 제n 스캔신호와 상기 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가되며,
상기 샘플링 기간에서, 상기 제n 스캔신호는 온 레벨로 인가되고, 상기 제n-1 스캔신호와 상기 제n 에미션신호는 오프 레벨로 인가되며;
상기 에미션 기간에서, 상기 제n 에미션신호는 온 레벨로 인가되고, 상기 제n-1 스캔신호와 상기 제n 스캔신호는 오프 레벨로 인가되는 유기발광 표시장치.
An (n-1) -th pixel and an n-th pixel arranged in a row;
An organic light emitting element disposed in each of the pixels;
An initial transistor of an n-th pixel connected to the (n-1) th scan signal of the (n-1) th pixel;
A sampling transistor included in the n-th pixel and connected to the n-th scan signal;
An emission transistor included in the nth pixel and connected to the nth emission signal; And
One frame for driving the organic light emitting element includes a initial period, a sampling period, and an emission period,
In the initial period, the (n-1) th scan signal is applied to the on level, the n th scan signal and the n th emission signal are applied to the off level,
In the sampling period, the n-th scan signal is applied to the on level, the n-1 scan signal and the n-th emission signal are applied to the off level,
Wherein the n th emission signal is applied at an on level and the n th scan signal and the n th scan signal are applied in an off level in the emission period.
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