KR20170081776A - Display device and electronic device having the same - Google Patents
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Abstract
표시 장치는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 화소들에 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부, 화소들에서 공급되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 복수의 아날로그 디지털 컨버터들을 포함하는 데이터 구동부, 디지털 신호의 균일도에 기초하여 기준 채널들을 선택하고 기준 채널들의 게인 및 오프셋을 연산하는 ADC 편차 연산부 및 스캔 구동부, 데이터 구동부 및 ADS 편차 연산부를 제어하는 타이밍 제어부를 포함한다.The display device includes a display panel including a plurality of pixels, a scan driver for supplying a scan signal to the pixels, a data driver including a plurality of analog-to-digital converters for converting an analog signal supplied from the pixels into a digital signal, And a timing controller for controlling the scan driver, the data driver, and the ADS deviation calculator. The ADC controller calculates the gain and offset of the reference channels based on the uniformity.
Description
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 관한 것이다.The present invention relates to a display device and an electronic apparatus including the same.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시 장치들이 개발되고 있다. 평판 표시 장치로는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD), 전계 방출 표시 장치(Field Emission Display; FED), 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel PDP) 및 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display; OLED) 등이 있다. 특히, 유기 발광 표시 장치는 넓은 시야각, 빠른 응답 속도, 얇은 두께, 낮은 소비 전력 등의 여러 가지 장점들을 가지기 때문에 유망한 차세대 표시 장치로 각광받고 있다.2. Description of the Related Art Recently, various flat panel display devices capable of reducing weight and volume, which are disadvantages of cathode ray tubes (CRTs), have been developed. As a flat panel display device, a liquid crystal display (LCD), a field emission display (FED), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting display (OLED) . In particular, organic light emitting display devices are attracting attention as promising next generation display devices because they have various advantages such as wide viewing angle, fast response speed, thin thickness and low power consumption.
유기 발광 표시 장치는 데이터 드라이버를 구비하고, 각각의 데이터 드라이버는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)를 포함할 수 있다. 아날로그 디지털 컨버터는 표시 패널에서 공급되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환할 수 있다. 이러한 아날로그 디지털 컨버터의 편차로 인해 발생하는 오차를 감소시키기 위해 표시 장치의 출하 전에 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 설정할 수 있다.The organic light emitting display includes a data driver, and each data driver may include an analog-to-digital converter (ADC). The analog-to-digital converter can convert the analog signal supplied from the display panel into a digital signal. The gain and offset of the analog-to-digital converter can be set prior to shipment of the display device to reduce the error caused by the deviation of the analog-to-digital converter.
본 발명의 일 목적은 출하 전 아날로그 디지털 컨버터(ADC)의 게인 및 오프셋을 연산하여 저장하는 표시 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a display device for calculating and storing gain and offset of a pre-shipment analog-to-digital converter (ADC).
본 발명의 다른 목적은 출하 전 아날로그 디지털 컨버터(ADC)의 게인 및 오프셋을 연산하여 저장하는 표시 장치를 포함하는 전자 기기를 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an electronic device including a display device for calculating and storing gain and offset of a pre-shipment analog-to-digital converter (ADC).
그러나, 본 발명이 목적은 상술한 목적으로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.However, the object of the present invention is not limited to the above-described objects, and various modifications may be made without departing from the spirit and scope of the present invention.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 화소들에 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부, 상기 화소들에서 공급되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 복수의 아날로그 디지털 컨버터들을 포함하는 데이터 구동부, 상기 디지털 신호의 균일도에 기초하여 기준 채널들을 선택하고, 상기 기준 채널들의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산하는 ADC 편차 연산부 및 상기 스캔 구동부, 상기 데이터 구동부 및 상기 ADC 편차 연산부를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 포함할 수 있다. According to an aspect of the present invention, there is provided a display device including a display panel including a plurality of pixels, a scan driver for supplying a scan signal to the pixels, An ADC deviation arithmetic unit operable to select reference channels based on the uniformity of the digital signal and to calculate the gain and the offset of the reference channels; And a timing controller for generating a control signal for controlling the data driver and the ADC deviation calculator.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 상기 화소들과 연결되는 데이터 라인들 또는 센싱 라인들을 통해 상기 아날로그 신호를 공급받을 수 있다.According to an embodiment, the data driver may receive the analog signals through data lines or sensing lines connected to the pixels.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 복수의 센싱 라인들과 대응되는 각각의 채널 별로 상기 아날로그 신호들을 입력받는 입력부 및 상기 입력부의 각 채널에 구비되어 상기 센싱 라인들에 공급되는 상기 아날로그 신호들을 상기 디지털 신호로 변환하는 상기 아날로그 디지털 컨버터를 포함할 수 있다.According to an embodiment, the data driver includes an input unit for receiving the analog signals for each channel corresponding to a plurality of sensing lines, and a controller for controlling the analog signals supplied to the sensing lines, And converting the digital signal into a digital signal.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 상기 입력부의 각 채널에 구비되어 상기 아날로그 신호들을 순차적으로 상기 아날로그 디지털 컨버터에 공급하는 멀티플렉서를 더 포함할 수 있다.According to an embodiment, the data driver may further include a multiplexer provided in each channel of the input unit and sequentially supplying the analog signals to the analog-digital converter.
일 실시예에 의하면, 상기 ADC 편차 연산부는 상기 기준 채널들을 선택하는 채널 선택부 및 상기 기준 채널들과 연결된 상기 아날로그 디지털 컨버터들 각각의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산하는 모델링부를 포함할 수 있다.According to an embodiment, the ADC deviation calculation unit may include a channel selection unit for selecting the reference channels and a modeling unit for calculating the gain and the offset of each of the analog digital converters connected to the reference channels.
일 실시예에 의하면, 상기 채널 선택부는 상기 디지털 신호들의 임펄스 성분을 제거하고, 상기 채널 내의 상기 디지털 데이터들의 평균 값에 기초하여 상기 채널 내의 상기 디지털 신호의 상기 균일도를 구할 수 있다.According to one embodiment, the channel selector may remove the impulse component of the digital signals and obtain the uniformity of the digital signal within the channel based on an average value of the digital data in the channel.
일 실시예에 의하면, 상기 채널 선택부는 상기 균일도가 높은 채널을 상기 기준 채널로 선택할 수 있다.According to an embodiment, the channel selector may select a channel having the high uniformity as the reference channel.
일 실시예에 의하면, 상기 모델링부는 상기 화소에 테스트 전압을 공급하고, 상기 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 상기 디지털 신호에 기초하여 상기 아날로그 디지털 컨버터의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산할 수 있다.According to one embodiment, the modeling unit may supply a test voltage to the pixel, and calculate the gain and the offset of the analog-digital converter based on the digital signal output from the analog-digital converter.
일 실시예에 의하면, 상기 ADC 편차 연산부는 상기 타이밍 제어부와 연결되거나 상기 타이밍 제어부 내에 포함될 수 있다.According to an embodiment, the ADC deviation calculation unit may be connected to the timing control unit or included in the timing control unit.
일 실시예에 의하면, 상기 ADC 편차 연산부는 상기 데이터 구동부와 연결되거나 상기 데이터 구동부 내에 포함될 수 있다.According to an embodiment, the ADC deviation calculator may be connected to the data driver or included in the data driver.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기는 표시 장치 및 상기 표시 장치를 제어하는 프로세서를 포함할 수 있다. 상기 표시 장치는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 화소들에 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부, 상기 화소들에서 공급되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 복수의 아날로그 디지털 컨버터들을 포함하는 데이터 구동부, 상기 디지털 신호의 균일도에 기초하여 기준 채널들을 선택하고, 상기 기준 채널들의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산하는 ADC 편차 연산부 및 상기 스캔 구동부, 상기 데이터 구동부 및 상기 ADC 편차 연산부를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 포함할 수 있다. According to another aspect of the present invention, there is provided an electronic apparatus including a display device and a processor for controlling the display device. The display device includes a display panel including a plurality of pixels, a scan driver for supplying a scan signal to the pixels, a data driver including a plurality of analog-to-digital converters for converting an analog signal supplied from the pixels into a digital signal, An ADC deviation calculation unit for selecting reference channels based on the uniformity of the digital signal, calculating the gain and the offset of the reference channels, and a control signal for controlling the scan driver, the data driver, and the ADC deviation calculator And a timing control unit.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 상기 화소들과 연결되는 데이터 라인들 또는 센싱 라인들을 통해 상기 아날로그 신호를 공급받을 수 있다.According to an embodiment, the data driver may receive the analog signals through data lines or sensing lines connected to the pixels.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 복수의 센싱 라인들과 대응되는 각각의 채널 별로 상기 아날로그 신호들을 입력받는 입력부 및 상기 입력부의 각 채널에 구비되어 상기 센싱 라인들에 공급되는 상기 아날로그 신호들을 상기 디지털 신호로 변환하는 상기 아날로그 디지털 컨버터를 포함할 수 있다.According to an embodiment, the data driver includes an input unit for receiving the analog signals for each channel corresponding to a plurality of sensing lines, and a controller for controlling the analog signals supplied to the sensing lines, And converting the digital signal into a digital signal.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 상기 입력부의 각 채널에 구비되어 상기 아날로그 신호들을 순차적으로 상기 아날로그 디지털 컨버터에 공급하는 멀티플렉서를 더 포함할 수 있다.According to an embodiment, the data driver may further include a multiplexer provided in each channel of the input unit and sequentially supplying the analog signals to the analog-digital converter.
일 실시예에 의하면, 상기 ADC 편차 연산부는 상기 기준 채널들을 선택하는 채널 선택부 및 상기 기준 채널들과 연결된 상기 아날로그 디지털 컨버터들 각각의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산하는 모델링부를 포함할 수 있다.According to an embodiment, the ADC deviation calculation unit may include a channel selection unit for selecting the reference channels and a modeling unit for calculating the gain and the offset of each of the analog digital converters connected to the reference channels.
일 실시예에 의하면, 상기 채널 선택부는 상기 디지털 신호들의 임펄스 성분을 제거하고, 상기 채널 내의 상기 디지털 데이터들의 평균 값에 기초하여 상기 채널 내의 상기 디지털 신호의 상기 균일도를 구할 수 있다.According to one embodiment, the channel selector may remove the impulse component of the digital signals and obtain the uniformity of the digital signal within the channel based on an average value of the digital data in the channel.
일 실시예에 의하면, 상기 채널 선택부는 상기 균일도가 높은 채널을 상기 기준 채널로 선택할 수 있다.According to an embodiment, the channel selector may select a channel having the high uniformity as the reference channel.
일 실시예에 의하면, 상기 모델링부는 상기 화소에 테스트 전압을 공급하고, 상기 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 상기 디지털 신호에 기초하여 상기 아날로그 디지털 컨버터의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산할 수 있다.According to one embodiment, the modeling unit may supply a test voltage to the pixel, and calculate the gain and the offset of the analog-digital converter based on the digital signal output from the analog-digital converter.
일 실시예에 의하면, 상기 ADC 편차 연산부는 상기 타이밍 제어부와 연결되거나 상기 타이밍 제어부 내에 포함될 수 있다.According to an embodiment, the ADC deviation calculation unit may be connected to the timing control unit or included in the timing control unit.
일 실시예에 의하면, 상기 ADC 편차 연산부는 상기 데이터 구동부와 연결되거나 상기 데이터 구동부 내에 포함될 수 있다.According to an embodiment, the ADC deviation calculator may be connected to the data driver or included in the data driver.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기는 표시 장치의 출하 전에 데이터 구동부에 포함되는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들의 균일도에 기초하여 기준 채널을 선택하고, 기준 채널들과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 모델링함으로써, 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 연산할 수 있다. 따라서, 아날로그 디지털 컨버터의 편차 보정 정확도가 향상될 수 있다. 다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.The display device and the electronic apparatus including the display device according to the embodiments of the present invention select the reference channel based on the uniformity of the digital signals output from the analog digital converter included in the data driver before shipment of the display device, By modeling the gain and offset of the connected analog-to-digital converter, the gain and offset of the analog-to-digital converter can be calculated. Therefore, the deviation correction accuracy of the analog digital converter can be improved. However, the effects of the present invention are not limited to the above-described effects, and may be variously extended without departing from the spirit and scope of the present invention.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2a 및 도 2b는 도 1의 표시 장치에 포함되는 화소의 일 예를 나타내는 회로도들이다.
도3a 및 도 3b는 도 1의 표시 장치에 포함되는 데이터 구동부의 일 예를 나타내는 도면들이다.
도 3c는 도 3a 및 도 3b의 데이터 구동부를 설명하기 위한 그래프이다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함되는 ADC 편차 연산부를 나타내는 블록도이다.
도 5는 도 4의 ADC 편차 연산부에 포함되는 채널 선택부의 동작을 나타내는 순서도이다.
도 6은 도 4의 ADC 편차 연산부에 포함되는 모델링부의 동작을 설명하기 위한 그래프들이다.
도 7은 도 4의 ADC 편차 연산부에 포함되는 모델링부의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
도 9는 도 8의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.1 is a block diagram showing a display device according to embodiments of the present invention.
2A and 2B are circuit diagrams showing an example of a pixel included in the display device of FIG.
3A and 3B are views showing an example of a data driver included in the display device of FIG.
3C is a graph for explaining the data driver of FIGS. 3A and 3B.
4 is a block diagram showing an ADC deviation calculation unit included in the display device of FIG.
5 is a flowchart illustrating an operation of the channel selection unit included in the ADC deviation calculation unit of FIG.
6 is a graph illustrating the operation of the modeling unit included in the ADC deviation calculation unit of FIG.
7 is a diagram for explaining the operation of the modeling unit included in the ADC deviation calculation unit of FIG.
8 is a block diagram showing an electronic apparatus according to embodiments of the present invention.
9 is a diagram showing an example in which the electronic device of FIG. 8 is implemented as a smartphone.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The same reference numerals are used for the same constituent elements in the drawings and redundant explanations for the same constituent elements are omitted.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이고, 도 2a는 도 1의 표시 장치에 포함되는 화소의 일 예를 나타내는 회로도이고, 도 2b는 도 1의 표시 장치에 포함되는 화소의 다른 예를 나타내는 회로도이다.FIG. 2A is a circuit diagram showing an example of a pixel included in the display device of FIG. 1, and FIG. 2B is a circuit diagram of a display device according to an embodiment of the present invention And is a circuit diagram showing another example of the pixel.
도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 스캔 구동부(120), 데이터 구동부(130), ADC 편차 연산부(140) 및 타이밍 제어부(150)를 포함할 수 있다.1, the
표시 패널(110)에는 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들이 형성되고, 스캔 라인들과 데이터 라인들이 교차하는 영역에 복수의 화소들이 형성될 수 있다. A plurality of scan lines and a plurality of data lines may be formed in the
도 2a를 참조하면, 화소들 각각은 유기 발광 다이오드(EL), 스위칭 트랜지스터(T1), 저장 커패시터(C), 구동 트랜지스터(TD) 및 센싱 트랜지스터(TS)를 포함할 수 있다. 이 경우, 구동 트랜지스터(TD)는 스캔 라인(SL)으로부터 공급되는 스캔 신호(SCAN)(SCAN)에 응답하여 스위칭 트랜지스터(T1)가 턴온될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(T1)가 턴온되어 데이터 라인(DL)으로부터 공급되는 데이터 신호(DATA)(DATA)가 저장 커패시터(C)에 저장될 수 있다. 구동 트랜지스터(TD)는 데이터 신호(DATA)(DATA)에 기초하여 유기 발광 다이오드(EL)에 공급될 구동 전류를 생성할 수 있다. 유기 발광 다이오드(EL)는 구동 전류에 따라 발광할 수 있다. 센싱 트랜지스터(TS)는 센싱 신호(A_SENSE)(SENSE)에 응답하여 턴온되어 유기 발광 다이오드(EL)의 애노드 전극과 센싱 라인(SENL)을 연결할 수 있다. 센싱 트랜지스터(TS)가 턴온되는 경우, 유기 발광 다이오드(EL)에 흐르는 전류가 센싱 라인(SENL)을 통해 데이터 구동부(130)로 공급될 수 있다.Referring to FIG. 2A, each of the pixels may include an organic light emitting diode (EL), a switching transistor Tl, a storage capacitor C, a driving transistor TD, and a sensing transistor TS. In this case, the driving transistor TD may be turned on in response to the scan signal SCAN (SCAN) supplied from the scan line SL. The data signal DATA (DATA) supplied from the data line DL can be stored in the storage capacitor C while the switching transistor Tl is turned on. The driving transistor TD can generate a driving current to be supplied to the organic light emitting diode EL based on the data signal DATA. The organic light emitting diode EL can emit light in accordance with the driving current. The sensing transistor TS may be turned on in response to the sensing signal A_SENSE (SENSE) to connect the sensing line SENL with the anode electrode of the organic light emitting diode EL. When the sensing transistor TS is turned on, a current flowing in the organic light emitting diode EL can be supplied to the
도 2b를 참조하면, 화소들 각각은 유기 발광 다이오드(EL), 스위칭 트랜지스터(T1), 저장 커패시터(C), 구동 트랜지스터(TD) 및 센싱 트랜지스터(TS)를 포함할 수 있다. 도 2b의 화소는 센싱 트랜지스터(TS)가 유기 발광 다이오드(EL)의 애노드 전극과 데이터 라인(DL)에 형성되는 것을 제외하고, 도 2a의 화소와 동일한 구성을 가지므로, 중복되는 설명은 생략하도록 한다. 도 2b의 화소의 유기 발광 다이오(EL)의 애노드 전극과 데이터 라인(DL) 사이에 센싱 트랜지스터(TS)가 형성될 수 있다. 센싱 트랜지스터(TS)는 센싱 신호(A_SENSE)(SENSE)에 응답하여 턴온되어 유기 발광 다이오드(EL)의 애노드 전극과 데이터 라인(DL)을 연결할 수 있다. 센싱 트랜지스터(TS)가 턴온되는 경우, 유기 발광 다이오드(EL)에 흐르는 전류가 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 구동부(130)로 공급될 수 있다. 이 때, 데이터 라인을 통해 데이터 신호(DATA)가 공급되는 시점과 데이터 라인을 통해 유기 발광 다이오드에 흐르는 전류가 센싱되는 시점이 다를 수 있다.Referring to FIG. 2B, each of the pixels may include an organic light emitting diode (EL), a switching transistor Tl, a storage capacitor C, a driving transistor TD, and a sensing transistor TS. The pixel of FIG. 2B has the same configuration as the pixel of FIG. 2A, except that the sensing transistor TS is formed on the anode electrode and the data line DL of the organic light emitting diode EL, do. The sensing transistor TS may be formed between the anode electrode of the organic light emitting diode EL of the pixel of FIG. 2B and the data line DL. The sensing transistor TS is turned on in response to the sensing signal A_SENSE (SENSE) to connect the anode electrode of the organic light emitting diode EL and the data line DL. When the sensing transistor TS is turned on, a current flowing in the organic light emitting diode EL can be supplied to the
스캔 구동부(120)는 표시 장치(100)의 표시 패널(110)에 형성되는 스캔 라인들을 통해 스캔 신호(SCAN)들을 화소들에 공급할 수 있다.The
데이터 구동부(130)는 데이터 출력부 및 센싱부를 포함할 수 있다.The
데이터 구동부(130)의 데이터 출력부는 타이밍 제어부(150)로부터 영상 신호(R, G, B) 또는 보정된 영상 신호(R', G', B')를 입력 받을 수 있다. 데이터 출력부는 상기 영상 신호(R, G, B) 또는 보정된 영상 신호(R', G', B')에 상응하는 데이터 신호(DATA)를 표시 패널(110)에 공급할 수 있다. 데이터 구동부(130)의 센싱부는 화소와 연결되는 센싱 라인 또는 데이터 라인을 통해 유기 발광 다이오드를 흐르는 전류를 센싱할 수 있다. 데이터 구동부(130)의 센싱부는 입력부 및 아날로그 디지털 컨버터를 포함할 수 있다. 입력부는 센싱 라인들 또는 데이터 라인들과 대응되는 채널 별로 아날로그 신호들, 즉, 센싱 신호(A_SENSE)들을 입력받을 수 있다. 이 때, 채널은 복수의 센싱 라인들 또는 복수의 데이터 라인들과 대응될 수 있다. 예를 들어, 하나의 채널은 4개의 센싱 라인들에 대응될 수 있다. 입력부의 각 채널에는 아날로그 디지털 컨버터(Analog Digital Converter; ADC)가 구비될 수 있다. 입력부를 통해 공급되는 센싱 신호(A_SENSE)들은 데이터 구동부(130)에 포함되는 아날로그 디지털 컨버터를 통해 디지털 신호(D_SENSE)로 변환될 수 있다. 각각의 디지털 신호(D_SENSE)들은 상기 아날로그 신호에 상응하는 ADC 코드를 가질 수 있다. 데이터 구동부(130)의 센싱부는 입력부의 각 채널에 구비되어 센싱 신호(A_SENSE)들을 순차적으로 아날로그 디지털 컨버터에 공급하는 멀티플렉서를 더 포함할 수 있다. 데이터 구동부(130)의 센싱부에서 출력되는 디지털 신호(D_SENSE)는 타이밍 제어부(150)에 공급되어 영상 신호(R, G, B)를 보상할 수 있다. The data output unit of the
데이터 구동부(130)는 복수의 아날로그 디지털 컨버터들을 포함하고, 아날로그 디지털 컨버터들 각각의 게인(G)과 오프셋(O)에 따라 아날로그 디지털 컨버터들 간의 편차가 발생할 수 있다. 이 때, 이웃하는 아날로그 디지털 컨버터들의 디지털 신호(D_SENSE)를 채널 간 오프셋이라 할 수 있다. 이를 개선하기 위해 ADC 편차 연산부(140)에서 제품, 즉, 표시 장치(100)의 출하 전에 아날로그 디지털 컨버터의 게인(G) 및 오프셋(O) 초기 값을 설정할 수 있다.The
도 1에는 ADC 편차 연산부(140)가 데이터 구동부(130)에 연결되는 것으로 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, ADC 편차 연산부(140)는 데이터 구동부(130) 내에 포함될 수 있다. 또한, ADC 편차 연산부(140)는 타이밍 제어부(150)에 연결되거나, 타이밍 제어부(150) 내에 포함될 수 있다. 한편, ADC 편차 연산부(140)는 제품 출하 전 아날로그 디지털 컨버터의 게인(G) 및 오프셋(O) 초기 값을 설정하기 위해 데이터 구동부(130)에 연결되는 외부 장치일 수 있다.1, the
ADC 편차 연산부(140)는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호(D_SENSE)의 균일도에 기초하여 기준 채널들을 선택하고, 기준 채널들의 게인(G) 및 오프셋(O)을 연산할 수 있다. ADC 편차 연산부(140)는 채널 선택부 및 모델링부를 포함할 수 있다. 채널 선택부는 기준 채널을 선택할 수 있다. 채널 선택부는 채널과 연결된 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호(D_SENSE)들의 균일도를 연산하고, 균일도가 높은 채널들을 순서대로 기준 채널들로 선택할 수 있다. 예를 들어, 채널 선택부는 200개의 채널 중에서 균일도가 높은 20개의 채널을 기준 채널로 선택할 수 있다. 채널 선택부의 구체적인 동작에 대해서는 도 5를 참조하여 후술하기로 한다. 모델링부는 기준 채널들과 연결된 아날로그 디지털 컨버터들 각각의 게인(G) 및 오프셋(O)을 모델링할 수 있다. 모델링부는 표시 패널(110)의 화소들에 테스트 전압을 공급하고, 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호(D_SENSE)에 기초하여 아날로그 디지털 컨버터의 게인(G) 및 오프셋(O)을 연산할 수 있다. 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 ADC 코드는 표시 패널(110)에 공급되는 테스트 전압을 변경함으로써 제어할 수 있다. 모델링부는 각각의 ADC 코드에서 채널 간 오프셋을 연산할 수 있다. 모델링부는 기 설정된 ADC 코드에서 연산되는 채널 간 오프셋에 기초하여 아날로그 디지털 컨버터의 게인(G) 및 오프셋(O)을 모델링할 수 있다. 모델링부는 기준 채널들과 연결된 아날로그 디지털 컨버터들의 게인(G) 및 오프셋(O)을 모델링하고, 상기 게인(G)과 오프셋(O)의 평균값을 메모리에 저장할 수 있다. 이 때, 메모리는 타이밍 제어부(150)에 포함될 수 있다. 모델링부의 구체적인 동작에 대해서는 도 6 및 도 7을 참조하여 후술하기로 한다.The
타이밍 제어부(150)는 스캔 구동부(120), 데이터 구동부(130) 및 ADC 편차 연산부(140)를 제어하는 제어 신호를 생성할 수 있다. 타이밍 제어부(150)는 외부 장치를 통해 영상 신호(R, G, B)를 공급받고, 데이터 구동부(130)에서 공급되는 센싱 신호(A_SENSE) 및 메모리에 저장된 아날로그 디지털 컨버터의 게인(G)과 오프셋(O)에 기초하여 보정 신호를 데이터 구동부(130)에 출력할 수 있다.The
상술한 바와 같이, 도 1의 표시 장치(100)는 표시 장치(100)의 출하 전에 ADC 편차 연산부(140)에서 표시 장치(100)의 데이터 구동부(130)에 포함되는 아날로그 디지털 컨버터의 게인(G) 및 오프셋(O)을 연산하여 저장할 수 있다. ADC 편차 연산부(140)는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호(D_SENSE)들의 균일도가 높은 채널들을 기준 채널로 선택하고, 기준 채널들과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터의 게인(G) 및 오프셋(O)을 모델링할 수 있다. 따라서, 아날로그 디지털 컨버터의 편차 보정 정확도를 높일 수 있다.As described above, the
도 3a 및 도 3b는 도 1의 표시 장치에 포함되는 데이터 구동부의 일 예를 나타내는 도면들이고, 도 3c는 도 3a 및 도 3b의 데이터 구동부를 설명하기 위한 그래프이다.3A and 3B are views showing an example of a data driver included in the display device of FIG. 1, and FIG. 3C is a graph illustrating a data driver of FIGS. 3A and 3B.
도 3a를 참조하면, 데이터 구동부(130)는 입력부(132) 및 아날로그 디지털 컨버터를 포함할 수 있다. 데이터 구동부(130)는 복수의 데이터 드라이브 집적 회로(Integrated Circuit; IC)들로 구현될 수 있다. 각각의 데이터 드라이브 집적 회로는 입력부(132)를 통해 표시 패널(110)에서 공급되는 아날로그 신호(A_S0, A_S1, A_S2, ...)를 전달받고, 아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)를 통해 아날로그 신호(A_S0, A_S1, A_S2, ...)를 디지털 신호(D_S0, D_S1, D_S2, ...)로 변환할 수 있다.Referring to FIG. 3A, the
입력부(132)는 표시 패널(110)의 센싱 라인들과 연결되어, 센싱 라인들을 통해 센싱 신호(A_S0, A_S1, A_S2, ...)를 공급받을 수 있다. 예를 들어, 입력부(132)는 유기 발광 다이오드를 흐르는 전류를 센싱하는 적분기를 통해 센싱 신호(A_S0, A_S1, A_S2, ...)를 공급받을 수 있다. 입력부(132)는 복수의 센싱 라인들과 대응되는 각각의 채널 별로 센싱 신호들(A_S0, A_S1, A_S2, ...), 즉, 아날로그 신호들을 입력받을 수 있다. 예를 들어, 도 3a에 도시된 바와 같이, 하나의 채널은 4개의 센싱 라인들에 대응될 수 있다.The
아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)는 입력부(132)의 각 채널에 구비되어 센싱 라인들에 공급되는 센싱 신호들(A_S0, A_S1, A_S2, ...)을 디지털 신호(D_S0, D_S1, D_S2, ...)로 변환할 수 있다. 예를 들어, 데이터 드라이브 집적 회로가 200개의 센싱 라인들과 연결되고, 하나의 채널이 4개의 센싱 라인들과 대응되는 경우, 상기 데이터 드라이브 집적 회로는50개의 채널에 연결되는 50개의 아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)를 포함할 수 있다. 아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)에서 출력되는 디지털 신호들(D_S0, D_S1, D_S2, ...)은ADC 편차 연산부로 공급될 수 있다.The analog-to-
도 3b에 도시된 바와 같이, 데이터 구동부(130)는 멀티플렉서(132, 133, 134)를 더 포함할 수 있다. 멀티플렉서(132, 133, 134)는 입력부(132)의 각 채널에 구비되어 아날로그 신호들(A_S0, A_S1, A_S2, ...)을 순차적으로 아날로그 디지털 컨버터(135, 136, 137)에 공급할 수 있다. 예를 들어, 하나의 채널이 4개의 센싱 라인들과 대응되는 경우, 데이터 구동부(130)는 4x1의 멀티플렉서를 구비할 수 있다.As shown in FIG. 3B, the
다시, 도 3a를 참조하면, 아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)의 게인 및 오프셋에 따라 채널별로 출력되는 디지털 신호(D_S0, D_S1, D_S2, ...)에 차이가 발생할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(110)에 일정한 계조를 출력하는 테스트 전압을 공급하고, 센싱 라인을 통해 유기 발광 다이오드에 흐르는 전류를 센싱하는 경우, 유기 발광 다이오드의 특성 편차 및 아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)의 편차에 의해 디지털 신호(D_S0, D_S1, D_S2, ...)의 편차가 발생할 수 있다. 다만, 제품의 출하 전 유기 발광 다이오드의 특성 편차는 미세하므로, 본 발명의 실시예에서는 아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)의 편차를 감소시키는 내용에 대해 설명하기로 한다. 표시 패널(110)에 일정한 계조를 출력하는 테스트 전압을 공급하고, 센싱 라인을 통해 유기 발광 다이오드에 흐르는 전류를 센싱하는 경우, 동일한 아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)에서 출력되는 디지털 신호들(D_S0, D_S1, D_S2, ...)은 비슷한 ADC코드를 가질 수 있다. 그러나, 아날로그 디지털 컨버터(134, 136, 138)의 게인 및 오프셋 편차에 따라 상이한 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들(D_S0, D_S1, D_S2, ...)은 서로 다른 ADC코드를 가질 수 있다. 도 3a에 도시된 데이터 구동부(130)에 있어서, 0번째 채널(CH0)과 연결되는 제 0 아날로그 디지털 컨버터(134)에서 출력되는 디지털 신호들(D_S0, D_S1, D_S2, D_S3)은 비슷한 ADC 코드를 갖고, 1번째 채널(CH1)과 연결되는 제 1 아날로그 디지털 컨버터(136)에서 출력되는 디지털 신호들(D_S4, D_S5, D_S6, D_S7)은 제 0 아날로그 디지털 컨버터(134)에서 출력되는 디지털 신호들(D_S0, D_S1, D_S2, D_S3)과 상이한 값을 가질 수 있다. 도 3c를 참조하면, 0번째 채널(CH0)과 연결되는 제 0 아날로그 디지털 컨버터(134)에서 출력되는 디지털 신호들(D_S0, D_S1, D_S2, D_S3)은 500ㅁ5의 범위의 ADC 코드를 갖고, 1번째 채널(CH1)과 연결되는 제 1 아날로그 디지털 컨버터(136)에서 출력되는 디지털 신호들(D_S4, D_S5, D_S6, D_S7)은 550ㅁ5의 범위의 ADC 코드를 가질 수 있다. 이 때, 제 0 아날로그 디지털 컨버터(134)의 마지막 디지털 데이터(즉, D_S3)와 제 1 아날로그 디지털 컨버터(136)의 첫 번째 디지털 데이터(즉, D_S4)의 차이를 제 1 아날로그 디지털 컨버터(136)의 채널 간 오프셋(ΔCH)으로 정의할 수 있다. 즉, 채널 간 오프셋(ΔCH)은 인접한 아날로그 디지털 컨버터들에 있어서, 이웃하는 디지털 신호들에 상응하는 ADC 코드들의 차일 수 있다.Referring back to FIG. 3A, a difference may occur in the digital signals D_S0, D_S1, D_S2,..., Output on a channel-by-channel basis according to the gains and offsets of the analog-to-
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함되는 ADC 편차 연산부를 나타내는 블록도이다.4 is a block diagram showing an ADC deviation calculation unit included in the display device of FIG.
도 4를 참조하면, ADC 편차 연산부(140)는 채널 선택부(142) 및 모델링부(144)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4, the
채널 선택부(142)는 디지털 신호(D_S0, ..., D_Sm)의 균일도에 기초하여 기준 채널(CH(n))들을 선택할 수 있다. 채널 선택부(142)는 채널과 연결된 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들(D_S0, ..., D_Sm)을 공급받고, 채널 별로 디지털 신호들(D_S0, ..., D_Sm)의 균일도를 연산할 수 있다. 채널 선택부(142)는 균일도가 높은 순서대로 기준 채널(CH(n))들을 설정할 수 있다. 채널 선택부(142)에서 설정된 기준 채널(CH(n))들에 대한 정보가 모델링부(144)로 공급될 수 있다.The
모델링부(144)는 기준 채널(CH(n))들과 연결된 아날로그 디지털 컨버터 각각의 게인 및 오프셋을 연산할 수 있다. 모델링부(144)는 기준 채널(CH(n))들과 연결된 아날로그 컨버터에서 공급되는 디지털 신호들(D_S0, ..., D_Sm)을 공급받고, 이에 기초하여 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 모델링할 수 있다. 모델링부는 기준 채널들과 연결된 아날로그 디지털 컨버터들의 게인의 평균값(G)과 오프셋의 평균값(O)을 메모리에 저장할 수 있다.The
도 5는 도 4의 ADC 편차 연산부에 포함되는 채널 선택부의 동작을 나타내는 순서도이다.5 is a flowchart illustrating an operation of the channel selection unit included in the ADC deviation calculation unit of FIG.
도 5를 참조하면, 채널 선택부는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들의 임펄스 성분을 제거(S100)하고, 각 채널의 균일도를 연산(S120)하며, 기준 채널을 설정(S140)할 수 있다. Referring to FIG. 5, the channel selection unit may remove the impulse component of the digital signals output from the analog digital converter (S100), calculate the uniformity of each channel (S120), and set a reference channel (S140).
채널 선택부는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들의 임펄스 성분을 제거(S100)할 수 있다. 채널 선택부는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들 중에서 노이즈에 의한 임펄스 성분을 제거하여 데이터의 정확도를 높일 수 있다. 예를 들어, 채널 선택부는 기준 데이터를 설정하고, 기준 데이터 이상 또는 이하의 값을 갖는 디지털 신호를 임펄스 성분으로 선택하고, 이를 제거할 수 있다. 채널 선택부는 임펄스 성분을 제거한 나머지 디지털 신호들의 평균 값을 연산할 수 있다. 예를 들어, 하나의 채널이 4개의 센싱 라인들과 대응되는 경우, 채널 선택부는 아날로그 디지털 컨버터로부터 4개의 디지털 신호를 공급받고, 상기 기준 데이터 이상 또는 이하의 값을 갖는 1개의 디지털 신호를 임펄스 신호로써 제거하며, 임펄스 신호를 제외한 나머지 3개의 디지털 신호의 평균 값을 연산할 수 있다.The channel selection unit may remove the impulse component of the digital signals output from the analog digital converter (S100). The channel selection unit can increase the accuracy of data by removing impulse components due to noise from digital signals output from the analog digital converter. For example, the channel selection unit may set the reference data, and may select a digital signal having a value greater than or equal to the reference data as an impulse component, and remove the digital signal. The channel selection unit may calculate an average value of the remaining digital signals after removing the impulse component. For example, when one channel corresponds to four sensing lines, the channel selector receives four digital signals from the analog digital converter, and outputs one digital signal having a value equal to or greater than the reference data to an impulse signal , And the average value of the remaining three digital signals excluding the impulse signal can be calculated.
채널 선택부는 각 채널의 균일도를 연산(S120)할 수 있다. 채널 선택부는 [수학식 1]을 이용하여 채널의 균일도를 연산할 수 있다.The channel selection unit may calculate the uniformity of each channel (S120). The channel selector may calculate the uniformity of the channel using Equation (1).
[수학식 1][Equation 1]
UNIFORMITY[CH(n)] = Avg(n) + [MAX(n)-MIN(n)]UNIFORMITY [CH (n)] = Avg (n) + [MAX (n) - MIN (n)
이 때, UNIFORMITY[CH(n)]은 n번째 채널의 균일도를 나타내고, Avg(n)은 n번째 채널에서 임펄스 성분을 제외한 나머지 디지털 신호들의 평균값을 나타내고, MAX(n)은 n번째 채널에서 임펄스 성분을 제외한 나머지 디지털 신호들 중 가장 큰 값(즉, 최대값)을 나타내며, MIN(n)은 n번째 채널에서 임펄스 성분을 제외한 나머지 디지털 신호들 중 가장 작은 값(즉, 최소값)을 나타낸다. 채널 선택부는 [수학식 1]을 이용하여 채널 별 균일도를 연산할 수 있다.In this case, UNIFORMITY [CH (n)] represents the uniformity of the n-th channel, Avg (n) represents the average value of the remaining digital signals excluding the impulse component in the n-th channel, MIN (n) represents the smallest value (i.e., the minimum value) of the remaining digital signals excluding the impulse component in the n-th channel. The channel selection unit can calculate the uniformity for each channel using Equation (1).
채널 선택부는 채널의 균일도에 기초하여 기준 채널을 설정(S140)할 수 있다. 채널 선택부는 균일도가 높은 채널들을 기준 채널로 설정할 수 있다. 예를 들어, 채널 선택부는 RANK 함수를 이용하여 기준 채널을 설정할 수 있다. 예를 들어, 채널 선택부는 50개의 채널 중에서 균일도가 높은 5개의 채널을 기준 채널로 선택할 수 있다.The channel selection unit may set the reference channel based on the uniformity of the channel (S140). The channel selection unit can set channels having high uniformity as reference channels. For example, the channel selection unit can set the reference channel using the RANK function. For example, the channel selector may select five channels having a high degree of uniformity among the fifty channels as the reference channel.
도 6은 도 4의 ADC 편차 연산부에 포함되는 모델링부의 동작을 설명하기 위한 그래프들이고, 도 7은 도 4의 ADC 편차 연산부에 포함되는 모델링부의 동작을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 6 is a graph for explaining the operation of the modeling unit included in the ADC deviation calculation unit of FIG. 4, and FIG. 7 is a diagram for explaining the operation of the modeling unit included in the ADC deviation calculation unit of FIG.
모델링부는 기준 채널들과 연결된 아날로그 디지털 컨버터 각각의 게인 및 오프셋을 연산할 수 있다. The modeling unit can calculate the gain and offset of each of the analog-to-digital converters connected to the reference channels.
표시 패널에 테스트 전압을 인가하면 유기 발광 다이오드에는 이에 상응하는 구동 전류가 흐를 수 있다. 데이터 구동부의 입력부는 구동 전류에 상응하는 아날로그 신호를 입력 받고, 아날로그 디지털 컨버터는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환할 수 있다. 각각의 디지털 신호들은 상기 아날로그 신호에 상응하는 ADC 코드를 가질 수 있다. 즉, 표시 패널에 공급되는 테스트 전압을 변경하면, 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는ADC 코드가 변경될 수 있다. 기 설정된 ADC 코드에서 출력되는 채널 간 오프셋(ΔCH)에 기초하여 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 모델링할 수 있다.When a test voltage is applied to the display panel, a corresponding driving current can flow through the organic light emitting diode. The input section of the data driver receives an analog signal corresponding to the drive current, and the analog-to-digital converter can convert the analog signal into a digital signal. Each of the digital signals may have an ADC code corresponding to the analog signal. That is, if the test voltage supplied to the display panel is changed, the ADC code output from the analog-to-digital converter can be changed. The gain and offset of the analog-to-digital converter can be modeled based on the interchannel offset (DELTA CH) output from the predefined ADC code.
도 6을 참조하면, 각각의 채널에서 ADC 코드와 채널 간 오프셋(ΔCH)이 경향성을 갖는 것을 확인할 수 있다. 이 때, 채널 간 오프셋(ΔCH)은 도3a를 참조하여 설명한 바와 같이 인접한 아날로그 디지털 컨버터들에 있어서, 이웃하는 디지털 신호들에 상응하는 디지털 신호의 차로 연산할 수 있다. 디지털 신호와 채널 간 오프셋(ΔCH)은 [수학식 2]와 같이 기울기와 절편을 갖는 1차 방정식으로 모델링될 수 있다.Referring to FIG. 6, it can be seen that the ADC code and the channel offset (DELTA CH) tend to have a tendency in each channel. At this time, the interchannel offset (DELTA CH) can be calculated by a difference between digital signals corresponding to neighboring digital signals in adjacent analog digital converters as described with reference to FIG. 3A. The digital signal to channel offset (DELTA CH) can be modeled as a linear equation with slope and intercept as shown in Equation (2).
[수학식 2]&Quot; (2) "
CHANNEL OFFSET(n) = GAIN(n) x ADC Code(n, j) + OFFSET(n)CHANNEL OFFSET (n) = GAIN (n) x ADC Code (n, j) + OFFSET (n)
이 때, CHANNEL OFFSET(n)은 n번째 채널과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터의 채널 간 오프셋을 나타내고, GAIN(n)은 n번째 채널과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터의 게인을 나타내고, ADC Code(n, j)는 n번째 채널의 j번째 디지털 신호의 ADC 코드를 나타내며, OFFSET(n)은 n번째 채널과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터의 오프셋을 나타낸다. n번째 채널과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터의 오프셋은 표시 패널에 블랙을 출력하는 테스트 전압을 인가하였을 출력되는 디지털 신호의 값이다. 즉, 1차 방정식의 기울기가 아날로그 디지털 컨버터의 게인이 되고, Y절편이 오프셋이 될 수 있다.In this case, CHANNEL OFFSET (n) represents the channel-to-channel offset of the analog digital converter connected to the n-th channel, GAIN (n) represents the gain of the analog- ) Represents the ADC code of the j-th digital signal of the n-th channel, and OFFSET (n) represents the offset of the analog-to-digital converter connected to the n-th channel. The offset of the analog digital converter connected to the n-th channel is the value of the output digital signal that is applied to the test voltage that outputs black to the display panel. That is, the slope of the linear equation becomes the gain of the analog digital converter, and the Y intercept can be offset.
도 7을 참조하면, 모델링부는 5개의 ADC 코드(ADC1, ADC2, ADC3, ADC4, ADC5)에 대응하는 채널 간 오프셋(ΔCH)을 연산하고, 상기 5개의 ADC 코드(ADC1, ADC2, ADC3, ADC4, ADC5)와 채널 간 오프셋(ΔCH)을 기울기와 절편을 갖는 1차 방정식으로 모델링할 수 있다. 이 때, 5개의 ADC 코드(ADC1, ADC2, ADC3, ADC4, ADC5)는 0V의 테스트 전압, 로우 레벨의 테스트 전압, 미들 레벨의 테스트 전압 및 하이 레벨의 테스트 전압에 상응하는 디지털 신호들일 수 있다. 로우 레벨의 테스트 전압에 상응하는 디지털 신호가 감쇠(damping)될 수 있으므로, 보다 정확한 데이터를 얻기 위해서 표시 패널에 서로 다른 레벨을 갖는 두 개의 로우 레벨의 테스트 전압을 인가할 수 있다. 도 7에는 5개의 테스트 전압을 인가하여 아날로그 디지털 컨버터의 게인과 오프셋을 모델링하는 방법에 대해 설명하였으나, 테스트 전압의 개수는 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 모델링부는 10개의 테스트 전압에 상응하는 ADC 코드 및 채널 간 오프셋(ΔCH)에 기초하여 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 모델링할 수 있다. 다만, 테스트 전압의 개수가 많아질수록 상기 디지털 신호를 저장하는 메모리의 용량이 커질 수 있고, 연산 속도가 느려질 수 있다.7, the modeling unit calculates an interchannel offset (DELTA CH) corresponding to five ADC codes (ADC1, ADC2, ADC3, ADC4, ADC5), and outputs the five ADC codes ADC1, ADC2, ADC3, ADC4, ADC5) and channel-to-channel offset (ΔCH) can be modeled as a linear equation with slope and intercept. At this time, the five ADC codes ADC1, ADC2, ADC3, ADC4, and ADC5 may be digital signals corresponding to a test voltage of 0V, a low level test voltage, a middle level test voltage, and a high level test voltage. A digital signal corresponding to a low level test voltage can be damped so that two low level test voltages having different levels can be applied to the display panel to obtain more accurate data. In FIG. 7, a method of modeling gain and offset of an analog digital converter by applying five test voltages has been described, but the number of test voltages is not limited thereto. For example, the modeling unit may model the gain and offset of the analog-to-digital converter based on the ADC code and the interchannel offset (DELTA CH) corresponding to the ten test voltages. However, as the number of test voltages increases, the capacity of the memory for storing the digital signal may increase and the operation speed may be slowed down.
모델링부는 채널 선택부에서 설정된 기준 채널들과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터들의 게인 및 오프셋을 연산할 수 있다. 모델링부는 연산된 게인 및 오프셋의 평균값을 메모리에 저장할 수 있다. 이 때, 메모리는 타이밍 제어부에 포함될 수 있다.The modeling unit may calculate a gain and an offset of the analog digital converters connected to the reference channels set in the channel selecting unit. The modeling unit can store the average value of the calculated gain and offset in the memory. At this time, the memory may be included in the timing control section.
상술한 바와 같이, ADC 편차 연산부는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들의 균일도가 높은 채널들을 기준 채널로 선택하고, 기준 채널들과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 모델링함으로써, 아날로그 디지털 컨버터의 편차 보정 정확도를 높일 수 있다.As described above, the ADC deviation calculator selects channels having high uniformity of the digital signals output from the analog-to-digital converter as reference channels, and models gains and offsets of the analog-to-digital converters connected to the reference channels, The deviation correction accuracy can be increased.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이고, 도 9는 도 8의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.FIG. 8 is a block diagram illustrating an electronic device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a diagram illustrating an example in which the electronic device of FIG. 8 is implemented as a smartphone.
도 8 및 도 9를 참조하면, 전자 기기(200)는 프로세서(210), 메모리 장치(220), 저장 장치(230), 입출력 장치(240), 파워 서플라이(250) 및 표시 장치(260)를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 장치(260)는 도 1의 표시 장치(200)에 상응할 수 있다. 나아가, 전자 기기(200)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다. 한편, 도 9에 도시된 바와 같이, 전자 기기(200)는 스마트폰(300)으로 구현될 수 있으나, 전자 기기(200)가 그에 한정되는 것은 아니다.8 and 9, the
프로세서(210)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(210)는 마이크로프로세서(micro processor), 중앙 처리 장치(CPU) 등일 수 있다. 프로세서(210)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통하여 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 또한, 프로세서(210)는 주변 구성요소 상호연결(Peripheral Component Interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다. 메모리 장치(220)는 전자 기기(200)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(220)는 EPROM, EEPROM, 플래시 메모리, PRAM(Phase Change Random Access Memory), RRAM(Resistance Random Access Memory), MRAM(Magnetic Random Access Memory), FRAM(Ferroelectric Random Access Memory) 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 DRAM(Dynamic Random Access Memory), SRAM(Static Random Access Memory), 모바일 DRAM 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다. 저장 장치(230)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(Hard Dist Drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다.
입출력 장치(240)는 키보드, 키패드, 터치패드, 터치스크린, 마우스 등과 같은 입력 수단 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 표시 장치(260)는 입출력 장치(240) 내에 구비될 수도 있다. 파워 서플라이(250)는 전자 기기(200)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다. 표시 장치(260)는 상기 버스들 또는 다른 통신 링크를 통해서 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 상술한 바와 같이, 표시 장치(260)는 표시 패널, 스캔 구동부, 데이터 구동부, ADC 편차 연산부 및 타이밍 제어부를 포함할 수 있다. 표시 패널에는 복수의 스캔 라인들 및 복수의 데이터 라인들이 형성되고, 스캔 라인들과 데이터 라인들이 교차하는 영역에 복수의 화소들이 형성될 수 있다. 스캔 구동부는 표시 장치의 표시 패널에 형성되는 스캔 라인들을 통해 스캔 신호들을 화소들에 공급할 수 있다. 데이터 구동부는 화소와 연결되는 센싱 라인 또는 데이터 라인을 통해 유기 발광 다이오드를 흐르는 전류를 센싱할 수 있다. 데이터 구동부는 입력부 및 아날로그 디지털 컨버터를 포함할 수 있다. 입력부는 센싱 라인들 또는 데이터 라인들과 대응되는 채널 별로 아날로그 신호들, 즉, 센싱 신호들을 입력받을 수 있다. 이 때, 채널은 복수의 센싱 라인들 또는 데이터 라인들과 대응될 수 있다. 입력부의 각 채널에는 아날로그 디지털 컨버터(Analog Digital Converter; ADC)가 구비될 수 있다. 입력부를 통해 공급되는 센싱 신호들은 데이터 구동부에 포함되는 아날로그 디지털 컨버터를 통해 디지털 신호로 변환될 수 있다. 데이터 구동부는 입력부의 각 채널에 구비되어 센싱 신호들을 순차적으로 아날로그 디지털 컨버터에 공급하는 멀티플렉서를 더 포함할 수 있다. 데이터 구동부는 복수의 아날로그 디지털 컨버터들을 포함할 수 있다. 이 때, 상기 아날로그 디지털 컨버터들 각각의 게인과 오프셋에 따라 아날로그 디지털 컨버터들 간의 편차가 발생할 수 있다. 이를 개선하기 위해 ADC 편차 연산부에서 제품, 즉, 표시 장치의 출하 전에 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋 초기 값을 설정할 수 있다. ADC 편차 연산부는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호의 균일도에 기초하여 기준 채널들을 선택하고, 기준 채널들의 게인 및 오프셋을 연산할 수 있다. ADC 편차 연산부는 채널 선택부 및 모델링부를 포함할 수 있다. 채널 선택부는 채널과 연결된 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들의 균일도를 연산하고, 균일도가 높은 순서대로 기준 채널들로 선택할 수 있다. 모델링부는 표시 패널의 화소들에 테스트 전압을 공급하고, 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호에 기초하여 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 연산할 수 있다. 모델링부는 기준 채널들과 연결된 아날로그 디지털 컨버터들의 게인 및 오프셋을 모델링하고, 상기 게인과 오프셋의 평균값을 메모리에 저장할 수 있다. 타이밍 제어부는 스캔 구동부, 데이터 구동부 및 ADC 편차 연산부를 제어하는 제어 신호를 생성할 수 있다. 타이밍 제어부는 외부 장치를 통해 영상 신호를 공급받고, 데이터 구동부에서 공급되는 센싱 신호 및 메모리에 저장된 아날로그 디지털 컨버터의 게인과 오프셋에 기초하여 보정 신호를 데이터 구동부에 출력할 수 있다.The input /
상술한 바와 같이, 도 8의 전자 기기는 출하 전 데이터 구동부에 포함되는 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 연산하여 저장하는 표시 장치를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 장치는 아날로그 디지털 컨버터에서 출력되는 디지털 신호들의 균일도가 높은 채널들을 기준 채널로 선택하고, 기준 채널들과 연결되는 아날로그 디지털 컨버터의 게인 및 오프셋을 모델링함으로써, 아날로그 디지털 컨버터의 편차 보정 정확도를 높일 수 있다.As described above, the electronic apparatus of FIG. 8 may include a display device for calculating and storing the gain and offset of the analog-to-digital converter included in the pre-shipment data driver. At this time, the display device selects channels having high uniformity of the digital signals output from the analog-to-digital converter as reference channels and models the gain and offset of the analog-to-digital converters connected to the reference channels, .
본 발명은 표시 장치를 구비한 모든 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북, 디지털 카메라, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 타블렛 PC, 피디에이(PDA), 피엠피(PMP), MP3 플레이어, 네비게이션, 비디오폰 등에 적용될 수 있다.The present invention can be applied to all electronic apparatuses having a display device. For example, the present invention can be applied to a television, a computer monitor, a notebook, a digital camera, a mobile phone, a smart phone, a smart pad, a tablet PC, a PDA, a PMP, an MP3 player,
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It will be understood that the invention may be modified and varied without departing from the scope of the invention.
100: 표시 장치
110: 표시 패널
120: 스캔 구동부
130: 데이터 구동부
140: ADC 편차 연산부
150: 타이밍 제어부100: display device 110: display panel
120: scan driver 130:
140: ADC deviation calculation unit 150: timing control unit
Claims (20)
상기 화소들에 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부;
상기 화소들에서 공급되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 복수의 아날로그 디지털 컨버터들을 포함하는 데이터 구동부;
상기 디지털 신호의 균일도에 기초하여 기준 채널들을 선택하고, 상기 기준 채널들의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산하는 ADC 편차 연산부; 및
상기 스캔 구동부, 상기 데이터 구동부 및 상기 ADC 편차 연산부를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 포함하는 표시 장치.A display panel including a plurality of pixels;
A scan driver for supplying a scan signal to the pixels;
A data driver including a plurality of analog-to-digital converters for converting an analog signal supplied from the pixels into a digital signal;
An ADC deviation operator for selecting reference channels based on the uniformity of the digital signal, and calculating the gain and the offset of the reference channels; And
And a timing controller for generating a control signal for controlling the scan driver, the data driver, and the ADC deviation calculator.
복수의 센싱 라인들과 대응되는 각각의 채널 별로 상기 아날로그 신호들을 입력받는 입력부; 및
상기 입력부의 각 채널에 구비되어 상기 센싱 라인들에 공급되는 상기 아날로그 신호들을 상기 디지털 신호로 변환하는 상기 아날로그 디지털 컨버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.The apparatus of claim 1, wherein the data driver
An input unit for receiving the analog signals for each channel corresponding to the plurality of sensing lines; And
And the analog-to-digital converter provided in each channel of the input unit and converting the analog signals supplied to the sensing lines into the digital signal.
상기 입력부의 각 채널에 구비되어 상기 아날로그 신호들을 순차적으로 상기 아날로그 디지털 컨버터에 공급하는 멀티플렉서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.The display device according to claim 3, wherein the data driver
And a multiplexer provided in each channel of the input unit and sequentially supplying the analog signals to the analog digital converter.
상기 기준 채널들을 선택하는 채널 선택부; 및
상기 기준 채널들과 연결된 상기 아날로그 디지털 컨버터들 각각의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산하는 모델링부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.The apparatus of claim 1, wherein the ADC deviation calculation unit
A channel selector for selecting the reference channels; And
And a modeling unit for calculating the gain and the offset of each of the analog digital converters connected to the reference channels.
복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
상기 화소들에 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부;
상기 화소들에서 공급되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 복수의 아날로그 디지털 컨버터들을 포함하는 데이터 구동부;
상기 디지털 신호의 균일도에 기초하여 기준 채널들을 선택하고, 상기 기준 채널들의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산하는 ADC 편차 연산부; 및
상기 스캔 구동부, 상기 데이터 구동부 및 상기 ADC 편차 연산부를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 포함하는 전자 기기.A display device and an electronic device including a processor for controlling the display device, wherein the display device
A display panel including a plurality of pixels;
A scan driver for supplying a scan signal to the pixels;
A data driver including a plurality of analog-to-digital converters for converting an analog signal supplied from the pixels into a digital signal;
An ADC deviation operator for selecting reference channels based on the uniformity of the digital signal, and calculating the gain and the offset of the reference channels; And
And a timing controller for generating a control signal for controlling the scan driver, the data driver, and the ADC deviation calculator.
복수의 센싱 라인들과 대응되는 각각의 채널 별로 상기 아날로그 신호들을 입력받는 입력부; 및
상기 입력부의 각 채널에 구비되어 상기 센싱 라인들에 공급되는 상기 아날로그 신호들을 상기 디지털 신호로 변환하는 상기 아날로그 디지털 컨버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 기기.12. The display device according to claim 11, wherein the data driver
An input unit for receiving the analog signals for each channel corresponding to the plurality of sensing lines; And
And an analog-to-digital converter provided in each channel of the input unit for converting the analog signals supplied to the sensing lines into the digital signal.
상기 입력부의 각 채널에 구비되어 상기 아날로그 신호들을 순차적으로 상기 아날로그 디지털 컨버터에 공급하는 멀티플렉서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 기기.14. The method of claim 13, wherein the data driver
Further comprising: a multiplexer provided in each channel of the input unit for sequentially supplying the analog signals to the analog-to-digital converter.
상기 기준 채널들을 선택하는 채널 선택부; 및
상기 기준 채널들과 연결된 상기 아날로그 디지털 컨버터들 각각의 상기 게인 및 상기 오프셋을 연산하는 모델링부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 기기.12. The apparatus of claim 11, wherein the ADC deviation calculation unit
A channel selector for selecting the reference channels; And
And a modeling unit for calculating the gain and the offset of each of the analog digital converters connected to the reference channels.
12. The electronic apparatus according to claim 11, wherein the ADC deviation calculation unit is connected to the data driver or is included in the data driver.
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