KR20170067193A - 결함 탐상 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 선재의 저온조직을 검출할 수 있는 결함 탐상 장치에 관한 것으로서, 상기 결함 탐상 장치는 선재가 통과하는 베이스 프레임과, 상기 베이스 프레임에 배치되고 선재의 길이 방향으로 자기장을 형성시켜 선재에 인가하고 누설 자기장을 검출하여 출력신호를 발생시키는 제1 검출수단과, 상기 제1 검출수단과 일정 간격 이격 배치되게 상기 베이스 프레임에 마련되고 선재의 원주 방향으로 자기장을 형성시켜 선재에 인가하고 누설 자기장을 검출하여 출력신호를 발생시키는 제2 검출수단, 그리고 상기 제1 검출수단과 상기 제2 검출수단으로부터 출력신호를 수신하여 선재의 결함을 검출하는 신호처리부를 포함한다. 이러한 구성으로, 저온조직의 상분율이 증가함에 따라 자속밀도가 감소하는 특성을 이용하여 저온조직의 혼재 유무를 신속하고 정확하게 측정할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.

Description

결함 탐상 장치{APPARATUS FOR DETECTING DEFECT}
본 발명은 결함 탐상 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 선재의 저온조직을 검출할 수 있는 결함 탐상 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 스프링강 선재는 빌레트(billets) 소재로부터 조압연, 중간압연, 사상압연 과정을 거치고, 수냉대를 지나 권취기를 통해 원형의 와이어 형태로 적재된 다음 공냉대 구간에서 제품이 요구되는 특성에 맞게 냉각과정을 거쳐 제품으로 생산된다. 이때, 공냉대 구간을 진행하는 소재들의 폭방향으로 소재의 밀집도에 차이가 존재하는데 코일의 겹침이 많은 폭방향 양쪽 가장자리부는 핫스팟(hot-spot)이 존재하는 경우가 발생하게 되어, 이 지점에서는 최대온도와 최소온도의 차가 150°나 되는 경우가 생긴다.
이러한 공냉대 구간에서 대부분의 조직변태가 이루어지지만, 핫스팟 부가 존재하는 경우에는 해당 부위가 고온으로 유지되어 공냉대에서 변태가 완료되지 않게 되며, 가공발열에 의한 복열이 심하게 발생하는 경우에도 공냉대에서 변태가 완료되지 않게 된다. 이렇게 공냉대 구간에서 조직변태가 이루어지지 않은 경우 코일 이송 중에 저온조직이 생성되는 문제를 발생시키게 된다.
이렇게 생산된 선재 제품에 저온조직이 발생하면 1차 수요가 공정에서 인발작업 중 소재가 단선되거나 전단(shear)에 의하여 절단작업 시 소재가 파손되는 문제를 야기시키므로 안전사고의 위험이 있을 뿐만 아니라 연속 공정에서의 작업효율 및 생산성이 크게 저하되는 문제점이 있다.
따라서, 선재 제품에 저온조직의 존재 유무를 파악하기 위한 검출 장치가 필요한 실정이다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로서, 선재에 자기장을 인가하고 누설자속을 측정하여 저온조직을 검출할 수 있는 결함 탐상 장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 결함 탐상 장치는, 선재가 통과하는 베이스 프레임; 상기 베이스 프레임에 배치되고, 선재의 길이방향으로 자기장을 형성시켜 선재에 인가하고, 누설 자기장을 검출하여 출력신호를 발생시키는 제1 검출수단; 상기 제1 검출수단과 일정 간격 이격 배치되게 상기 베이스 프레임에 마련되고, 선재의 원주방향으로 자기장을 형성시켜 선재에 인가하고, 누설 자기장을 검출하여 출력신호를 발생시키는 제2 검출수단; 및 상기 제1 검출수단과 상기 제2 검출수단으로부터 출력신호를 수신하여 선재의 결함을 검출하는 신호처리부;를 포함한다.
상기 신호처리부는, 상기 제1 검출수단에서 검출한 출력신호와 상기 제2 검출수단에서 검출한 출력신호를 처리하여 저온조직을 검출할 수 있다.
그리고, 상기 신호처리부는, 상기 제1 검출수단과 상기 제2 검출수단에서 검출한 출력신호를 처리하고, 이동하는 선재의 속도를 고려하여 선재에서 저온조직의 위치를 파악할 수도 있다.
또한, 상기 신호처리부는, 이동하는 선재의 동일한 위치에서 상기 제1 검출수단에서 검출한 출력신호와 상기 제2 검출수단에서 검출한 출력신호를 처리하여 저온조직의 크기를 파악할 수도 있다.
상기 베이스 프레임에 배치되고, 선재의 진행방향에 대하여 수직한 방향으로 이동되게 마련되어 상기 제1 검출수단과 상기 제2 검출수단을 선재에 근접하게 이동시키는 이동부;를 더 포함할 수도 있다.
상기 제1 검출수단은, 선재의 길이방향으로 돌출되게 상기 베이스 프레임에 배치되는 제1 지지 프레임; 상기 제1 지지 프레임에 구비되고, 선재의 길이방향으로 자기장을 발생시키는 제1 자기장 생성부; 및 상기 제1 지지 프레임에 구비되고, 선재에서 누설되는 자기장을 검출하는 제1 센서부;를 포함할 수 있다.
그리고, 상기 제1 검출수단은, 상기 제1 지지 프레임에 구비되고, 선재에 구름 접촉되는 롤러가 마련되며, 상기 제1 자기장 생성부가 선재와 일정 간격으로 이격 배치되게 지지하는 제1 지지부;를 더 포함할 수도 있다.
또한, 상기 제1 검출수단은, 복수로 마련되어 선재의 둘레를 따라 등간격으로 배치될 수도 있다.
상기 제2 검출수단은, 선재의 원주방향으로 돌출되게 상기 베이스 프레임에 배치되는 제2 지지 프레임; 상기 제2 지지 프레임에 구비되고, 선재의 원주방향으로 자기장을 발생시키는 제2 자기장 생성부; 및 상기 제2 지지 프레임에 구비되고, 선재에서 누설되는 자기장을 검출하는 제2 센서부;를 포함할 수 있다.
그리고, 상기 제2 검출수단은, 상기 제2 지지 프레임에 구비되고, 선재에 구름 접촉되는 롤러가 마련되며, 상기 제2 자기장 생성부가 선재와 일정 간격으로 이격 배치되게 지지하는 제2 지지부;를 더 포함할 수도 있다.
또한, 상기 제2 검출수단은, 한쌍으로 마련되고, 선재를 중심으로 180° 각도를 이루도록 배치될 수도 있다.
나아가, 상기 제2 검출수단은, 두쌍으로 마련되고, 어느 한쌍과 다른 한쌍이 선재의 길이방향으로 일정 간격 이격 되어 90° 각도를 이루도록 배치될 수도 있다.
본 발명에 의한 결함 탐상 장치에 따르면, 저온조직의 상분율이 증가함에 따라 자속밀도가 감소하는 특성을 이용하여 저온조직의 혼재 유무를 신속하고 정확하게 측정할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
도 1은 스프링강인 선재에서 저온조직이 발생하는 다양한 형태를 개략적으로 도시해 보인 단면,
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치를 개략적으로 도시해 보인 사시도,
도 3은 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치에서 제1 검출수단을 발췌하여 개략적으로 도시해 보인 사시도,
도 4는 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치에서 제1 검출수단을 발췌하여 개략적으로 도시해 보인 측면도,
도 5는 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치에서 제2 검출수단을 발췌하여 개략적으로 도시해 보인 사시도,
도 6은 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치에서 제2 검출수단을 발췌하여 개략적으로 도시해 보인 정면도,
도 7은 스프링강 선재의 저온조직 상분율에 따른 선재의 단면 및 자속밀도를 개략적으로 나타낸 표,
도 8의 (a)는 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치를 이용하여 검출한 저온조직을 나타낸 그림,
도 8의 (b)는 상기 도 8의 (a)에서 I-I’ 라인의 프로파일을 개략적으로 도시해 보인 그래프이다.
본 발명의 특징들에 대한 이해를 돕기 위하여, 이하 본 발명의 실시예와 관련된 결함 탐상 장치에 대하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.
이하 설명되는 실시예의 이해를 돕기 위하여 첨부된 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
이하에서는 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 구체적인 실시예에 대하여 설명한다.
도 1은 스프링강인 선재에서 저온조직이 발생하는 다양한 형태를 개략적으로 도시해 보인 단면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 스프링강인 선재의 단면을 잘라서 조직을 살펴보면 저온조직(L)은 일정한 패턴을 가지지 않고 매우 불규칙적으로 다양한 형태로 형성된다. 이는 선재가 이동하는 온라인 작업공정에서 선재에 포함되어 있는 저온조직의 혼재 유무를 검출하기 위해서는 센서가 소재단면의 원주 방향 전체를 커버할 수 있는 구조를 가져야 함을 의미한다.
이에, 본 발명에서는 둥근 측정면을 가진 선재를 자화시킬 수 있는 자기장 생성부 즉, 자석과 센서부를 선재의 원주 방향으로 등간격으로 설치하고 이들의 중심위치로 선재가 통과하게 되어 조직의 차이에 따른 자기장 변화를 검출하고, 이들이 시간에 따른 조직변화를 민감하게 표현할 수 있도록 신호처리부에 의한 신호 처리과정을 거치면 기지조직과 다른 특성을 갖는 저온조직의 혼재 유무를 온라인 상에서 검출할 수 있다.
이하에서 보다 구체적으로 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치에 대하여 살펴본다.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치를 개략적으로 도시해 보인 사시도이다. 도 3 및 도 4는 상기 결함 탐상 장치에서 제1 검출수단을 발췌하여 개략적으로 도시해 보인 사시도 및 측면도이고, 도 5 및 도 6은 상기 결함 탐상 장치에서 제2 검출수단을 발췌하여 개략적으로 도시해 보인 사시도 및 정면도이다.
도 2 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치(100)는 선재(R)가 통과하는 베이스 프레임(200)과, 상기 베이스 프레임(200)에 배치되고 선재(R)의 길이 방향으로 자기장을 형성시켜 선재(R)에 인가하고 누설 자기장을 검출하여 출력신호를 발생시키는 제1 검출수단(300)과, 상기 제1 검출수단(300)과 일정 간격 이격 배치되게 상기 베이스 프레임(200)에 마련되고 선재(R)의 원주 방향으로 자기장을 형성시켜 선재에 인가하고 누설 자기장을 검출하여 출력신호를 발생시키는 제2 검출수단(400), 그리고 상기 제1 검출수단(300)과 상기 제2 검출수단(400)으로부터 출력신호를 수신하여 선재(R)의 결함을 검출하는 신호처리부(500)를 포함한다.
상기 베이스 프레임(200)은 선재(R)가 이동하는 경로 상에 배치되고, 중심이 관통되어 선재(R)가 이동한다. 그리고, 상기 베이스 프레임(200)은 상기 제1 검출수단(300) 및 제2 검출수단(400)이 선재(R)의 둘레를 따라 배치되도록 지지한다. 또한, 상기 베이스 프레임(200)의 관통된 중심에는 도면에 도시되지는 않았지만 볼 베어링 등이 마련되어 선재(R)의 직선 이동을 가이드 할 수 있고, 다양한 직경의 선재(R)가 관통하여 이동될 수 있도록 마련되는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 베이스 프레임(200)에 배치되고, 선재(R)의 진행방향에 대하여 수직한 방향으로 이동되게 마련되어 상기 제1 검출수단(300)과 상기 제2 검출수단(400)을 선재에 근접하게 이동시키는 이동부(210)를 더 포함할 수 있다. 즉, 선재(R)가 다양한 폭으로 마련되는 경우 상기 베이스 프레임(200)을 통하여 통과하는 선재(R)의 폭에 대응하여 상기 제1 검출수단(300)과 상기 제2 검출수단(400)을 선재(R)의 이동방향에 대하여 수직한 방향으로 이동시켜 선재와 상기 제1 검출수단(300) 및 제2 검출수단(400)의 간격을 일정하게 유지할 수 있다. 이러한 상기 이동부(210)는 상기 베이스 프레임(200)에 슬라이딩 이동되게 구비되고, 다양한 기계적 이동수단에 의하여 이동될 수 있다.
상기 제1 검출수단(300)은 선재(R)의 길이 방향으로 돌출되게 상기 베이스 프레임(200)에 배치되는 제1 지지 프레임(310)과, 상기 제1 지지 프레임(310)에 구비되고 선재(R)의 길이 방향으로 자기장을 발생시키는 제1 자기장 생성부(320)와, 상기 제1 지지 프레임(310)에 구비되고 선재(R)에서 누설되는 자기장을 검출하는 제1 센서부(330)를 포함한다.
여기서, 상기 제1 자기장 생성부(320)는 선재(R)의 길이 방향으로 자기장을 발생시키고, 선재(R)를 자화 시킬 수 있는 영구자석 또는 전자석으로 마련될 수 있다. 즉, 상기 제1 자기장 생성부(320)에서 N극과 S극이 선재(R)의 길이 방향으로 배치되어 선재(R)의 길이 방향으로 자기장을 발생시켜 선재(R)를 자화시킨다.
그리고, 상기 제1 검출수단(300)은 상기 제1 지지 프레임(310)에 구비되고, 선재(R)에 구름 접촉되는 롤러(341)가 마련되며, 상기 제1 자기장 생성부(320)가 선재(R)와 일정 간격으로 이격 배치되게 지지하는 제1 지지부(340)를 더 포함한다.
즉, 상기 제1 지지부(340)의 롤러(341)는 상기 제1 자기장 생성부(320)보다 아래쪽으로 돌출 위치되어 있어, 상기 제1 지지 프레임(310)을 선재(R) 방향으로 이동시키면 상기 제1 지지부(340)의 롤러(341)가 선재(R)의 표면에 안착되어 더 이상 이동할 수 없게 되고, 상기 제1 자기장 생성부(320)가 항시 선재(R)와 일정 간격 이격 배치될 수 있다.
여기서, 상기 제1 지지 프레임(310)은 상기 베이스 프레임(200)에서 직선 이동하는 이동부(210)에 체결되어 상기 제1 자기장 생성부(320)와 제1 센서부(330)를 이동시키도록 마련될 수 있다.
나아가, 상기 제1 검출수단(300)은 선재(R)의 둘레를 따라 복수로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 검출수단(300)이 4개로 마련되는 경우, 90° 간격을 가지고 상기 선재(R)의 둘레를 따라 배치될 수 있다.
상기 제2 검출수단(400)은 선재(R)의 원주 방향으로 돌출되게 상기 베이스 프레임(200)에 배치되는 제2 지지 프레임(410)과, 상기 제2 지지 프레임(410)에 구비되고 선재(R)의 원주 방향으로 자기장을 발생시키는 제2 자기장 생성부(420)와, 상기 제2 지지 프레임(410)에 구비되고 선재(R)에서 누설되는 자기장을 검출하는 제2 센서부(430)를 포함한다.
여기서, 상기 제2 자기장 생성부(420)는 선재(R)의 원주 방향으로 자기장을 발생시키고, 선재(R)를 자화 시킬 수 있는 영구자석 또는 전자석으로 마련될 수 있다. 즉, 상기 제2 자기장 생성부(420)에서 N극과 S극이 선재(R)의 길이 방향에 대하여 수직한 방향으로 배치되어 선재(R)의 원주 방향으로 자기장을 발생시켜 선재(R)를 자화 시키도록 배치된다.
그리고, 상기 제2 검출수단(400)은 상기 제2 지지 프레임(410)에 구비되고, 선재(R)에 구름 접촉되는 롤러(441)가 마련되며, 상기 제2 자기장 생성부(420)가 선재(R)와 일정 간격으로 이격 배치되게 지지하는 제2 지지부(440)를 포함한다.
즉, 상기 제2 지지부(440)의 롤러(441)는 상기 제2 자기장 생성부(420)보다 아래쪽으로 돌출 위치되어 있어, 상기 제2 지지 프레임(410)을 선재(R) 방향으로 이동시키면 상기 제2 지지부(440)의 롤러(441)가 선재(R)의 표면에 안착되어 더 이상 이동할 수 없게 되고, 상기 제2 자기장 생성부(420)가 항시 선재(R)와 일정 간격 이격 배치될 수 있다.
여기서, 상기 제2 지지 프레임(410)은 상기 베이스 프레임(200)에서 직선 이동하는 이동부(210)에 체결되어 상기 제2 자기장 생성부(420)와 제2 센서부(430)를 이동시키도록 마련될 수 있다.
또한, 상기 제2 검출수단(400)은 한쌍으로 마련되고 선재(R)를 중심으로 180° 각도를 이루도록 배치된다. 즉, 상기 제2 검출수단(400)은 한쌍으로 마련되어 선재(R)의 양측에 배치되어 선재(R)의 원주 방향으로 자기장을 형성하여 보다 넓은 영역을 자화 시킬 수 있어 보다 정밀하게 내부 결함을 검출할 수 있다.
나아가, 상기 제2 검출수단(400)을 더 구비하는 경우에는, 예를 들어, 상기 제2 검출수단(400)을 두쌍으로 마련하는 경우에는 어느 한쌍과 다른 한쌍이 선재(R)의 길이 방향으로 일정 간격 이격 되어 90° 각도를 이루도록 배치한다. 즉, 상기 제2 검출수단(400)이 4개로 마련되면, 어느 한쌍과 다른 한쌍 각각이 선재(R)를 중심으로 180° 각도를 이루도록 배치되고, 상기 어느 한쌍과 다른 한쌍은 일정 간격 이격 배치되어 90° 각도를 이루도록 배치된다. 즉, 상기 제2 검출수단(400) 각각은 90° 각도를 이루도록 배치된다.
이는, 상기 제2 자기장 생성부(420)의 N극과 S극이 선재(R)의 길이 방향에 대하여 수직한 방향으로 배치되므로 선재(R)의 둘레를 따라 일정 수량만 배치될 수 있으므로 한쌍씩 이격 배치하여 최종적으로 복수의 제2 검출수단(400)이 선재(R)의 둘레를 따라 등간격으로 배치될 수 있다.
상기 신호처리부(500)는 상기 제1 검출수단(300)의 제1 센서부(330)에서 검출한 출력신호와 상기 제2 검출수단(400)의 제2 센서부(430)에서 검출한 출력신호를 처리하여 저온조직을 검출한다. 즉, 스프링강인 선재(R)의 기지조직 내에 저온조직인 마르텐사이트(martensite) 조직이 형성되면 저온조직의 상분율이 증가하게 되고, 저온조직의 상분율이 증가함에 따라 자속밀도의 세기는 반비례적으로 감소하게 된다. 따라서, 이러한 자속밀도의 변화를 이용하여 저온조직의 혼재 유무를 검출할 수 있다.
보다 구체적으로, 도 7은 스프링강 선재의 저온조직 상분율에 따른 선재의 단면 및 자속밀도를 개략적으로 나타낸 표이다. 도 7을 참조하면, 저온조직의 상분율이 0%인 경우 자속밀도는 0.69T이고, 저온조직의 상분율이 100%인 경우에는 자속밀도가 0.32T인 것을 확인할 수 있다. 즉, 저온조직의 상분율이 증가함에 따라 자속밀도가 감소함을 알 수 있다.
그리고, 상기 신호처리부(500)는 상기 제1 검출수단(300)과 상기 제2 검출수단(400)에서 검출한 출력신호를 처리하고, 이동하는 선재(R)의 속도를 고려하여 선재(R)에서 저온조직의 위치를 파악할 수 있다.
즉, 상기 제1 검출수단(300)과 상기 제2 검출수단(400)은 일정 간격 이격 배치되어 있어 상기 제1 검출수단(300)에서 검출된 신호와 상기 제2 검출수단(400)에서 검출된 신호는 시간 차가 발생하게 되는데 이러한 시간차는 선재(R)의 이동 속도에 대응된다. 따라서, 상기 신호처리부(500)는 선재(R)의 이동속도 데이터를 이용하여 선재(R)의 동일한 위치에서의 출력신호를 처리하고, 선재(R)에서 저온조직의 위치를 파악할 수 있다.
나아가, 상기 신호처리부(500)는 이동하는 선재(R)의 동일한 위치에서 상기 제1 검출수단(300)에서 검출한 출력신호와 상기 제2 검출수단(400)에서 검출한 출력신호를 처리하여 저온조직의 크기를 파악할 수도 있다. 즉, 상기 제1 검출수단(300)은 선재의 길이 방향으로 자기장을 형성하여 선재에서 누설되는 자기장을 검출하여 처리하고, 상기 제2 검출수단(400)은 선재의 원주 방향으로 자기장을 형성하여 선재에서 누설되는 자기장을 검출하여 처리하여, 상기 두 검출 데이터를 결합하여 3차원 형상의 저온조직 형태를 파악할 수 있다. 이를 통하여, 저온조직의 길이, 폭, 깊이를 파악할 수 있다.
보다 구체적으로, 도 8의 (a)는 본 발명의 실시예에 의한 결함 탐상 장치를 이용하여 검출한 저온조직을 나타낸 그림이고, 도 8의 (b)는 상기 도 8의 (a)에서 I-I’ 라인의 프로파일을 개략적으로 도시해 보인 그래프이다. 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 제1 검출수단(300)과 상기 제2 검출수단(400)을 통하여 검출한 출력신호를 처리하여 저온조직의 폭, 길이, 높이를 파악할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 가능함은 물론이다.
100 : 결함 탐상 장치 200 : 베이스 프레임
210 : 이동부 300 : 제1 검출수단
310 : 제1 지지프레임 320 : 제1 자기장 생성부
330 : 제1 센서부 340 : 제1 지지부
400 : 제2 검출수단 410 : 제2 지지프레임
420 : 제2 자기장 생성부 430 : 제2 센서부
440 : 제2 지지부 500 : 신호처리부

Claims (12)

  1. 선재가 통과하는 베이스 프레임;
    상기 베이스 프레임에 배치되고, 선재의 길이 방향으로 자기장을 형성시켜 선재에 인가하고, 누설 자기장을 검출하여 출력신호를 발생시키는 제1 검출수단;
    상기 제1 검출수단과 일정 간격 이격 배치되게 상기 베이스 프레임에 마련되고, 선재의 원주 방향으로 자기장을 형성시켜 선재에 인가하고, 누설 자기장을 검출하여 출력신호를 발생시키는 제2 검출수단; 및
    상기 제1 검출수단과 상기 제2 검출수단으로부터 출력신호를 수신하여 선재의 결함을 검출하는 신호처리부;
    를 포함하는 결함 탐상 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 신호처리부는,
    상기 제1 검출수단에서 검출한 출력신호와 상기 제2 검출수단에서 검출한 출력신호를 처리하여 저온조직을 검출하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 신호처리부는,
    상기 제1 검출수단과 상기 제2 검출수단에서 검출한 출력신호를 처리하고, 이동하는 선재의 속도를 고려하여 선재에서 저온조직의 위치를 파악하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 신호처리부는,
    이동하는 선재의 동일한 위치에서 상기 제1 검출수단에서 검출한 출력신호와 상기 제2 검출수단에서 검출한 출력신호를 처리하여 저온조직의 크기를 파악하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 프레임에 배치되고, 선재의 진행방향에 대하여 수직한 방향으로 이동되게 마련되어 상기 제1 검출수단과 상기 제2 검출수단을 선재에 근접하게 이동시키는 이동부;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1 검출수단은,
    선재의 길이 방향으로 돌출되게 상기 베이스 프레임에 배치되는 제1 지지 프레임;
    상기 제1 지지 프레임에 구비되고, 선재의 길이 방향으로 자기장을 발생시키는 제1 자기장 생성부; 및
    상기 제1 지지 프레임에 구비되고, 선재에서 누설되는 자기장을 검출하는 제1 센서부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 검출수단은,
    상기 제1 지지 프레임에 구비되고, 선재에 구름 접촉되는 롤러가 마련되며, 상기 제1 자기장 생성부가 선재와 일정 간격으로 이격 배치되게 지지하는 제1 지지부;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 제1 검출수단은,
    복수로 마련되어 선재의 둘레를 따라 등간격으로 배치되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 제2 검출수단은,
    선재의 원주 방향으로 돌출되게 상기 베이스 프레임에 배치되는 제2 지지 프레임;
    상기 제2 지지 프레임에 구비되고, 선재의 원주 방향으로 자기장을 발생시키는 제2 자기장 생성부; 및
    상기 제2 지지 프레임에 구비되고, 선재에서 누설되는 자기장을 검출하는 제2 센서부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제2 검출수단은,
    상기 제2 지지 프레임에 구비되고, 선재에 구름 접촉되는 롤러가 마련되며, 상기 제2 자기장 생성부가 선재와 일정 간격으로 이격 배치되게 지지하는 제2 지지부;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 제2 검출수단은,
    한쌍으로 마련되고, 선재를 중심으로 180° 각도를 이루도록 배치되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 제2 검출수단은,
    두쌍으로 마련되고, 어느 한쌍과 다른 한쌍이 선재의 길이 방향으로 일정 간격 이격 되어 90° 각도를 이루도록 배치되는 것을 특징으로 하는 결함 탐상 장치.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109115865A (zh) * 2018-09-18 2019-01-01 中国石油大学(北京) 盘式连续油管损伤检测装置
CN111474321A (zh) * 2020-05-20 2020-07-31 山东理工职业学院 一种汽车轴检测装置及检测方法
KR20220156398A (ko) * 2021-05-18 2022-11-25 한국수력원자력 주식회사 오스테나이트 스테인레스강 관제품의 표면에 생성되는 응력 유기 준안정 마르텐사이트 측정 시스템 및 측정 평가 방법

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