KR20170040745A - Polarizer inspection method - Google Patents
Polarizer inspection method Download PDFInfo
- Publication number
- KR20170040745A KR20170040745A KR1020160125734A KR20160125734A KR20170040745A KR 20170040745 A KR20170040745 A KR 20170040745A KR 1020160125734 A KR1020160125734 A KR 1020160125734A KR 20160125734 A KR20160125734 A KR 20160125734A KR 20170040745 A KR20170040745 A KR 20170040745A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- polarizer
- light
- emitting portion
- protective film
- image
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 51
- 239000003637 basic solution Substances 0.000 claims description 35
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 27
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 27
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 14
- -1 alkali metal salts Chemical class 0.000 description 13
- 239000003929 acidic solution Substances 0.000 description 12
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 12
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 12
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 10
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 10
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 10
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M Lithium hydroxide Chemical compound [Li+].[OH-] WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 6
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 5
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 5
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 5
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000007514 bases Chemical class 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 4
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 4
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 4
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 3
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 229920000219 Ethylene vinyl alcohol Polymers 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N benzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1 WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 2
- 229920006026 co-polymeric resin Polymers 0.000 description 2
- 150000001925 cycloalkenes Chemical class 0.000 description 2
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 2
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005711 Benzoic acid Substances 0.000 description 1
- 229920002284 Cellulose triacetate Polymers 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M Sodium acetate Chemical compound [Na+].CC([O-])=O VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 206010042674 Swelling Diseases 0.000 description 1
- NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N [(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-diacetyloxy-3-[(2s,3r,4s,5r,6r)-3,4,5-triacetyloxy-6-(acetyloxymethyl)oxan-2-yl]oxy-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-triacetyloxy-2-(acetyloxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O1)OC(C)=O)COC(=O)C)[C@@H]1[C@@H](COC(C)=O)O[C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N 0.000 description 1
- 235000011054 acetic acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 235000010233 benzoic acid Nutrition 0.000 description 1
- 238000000861 blow drying Methods 0.000 description 1
- AXCZMVOFGPJBDE-UHFFFAOYSA-L calcium dihydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[Ca+2] AXCZMVOFGPJBDE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000920 calcium hydroxide Substances 0.000 description 1
- 229910001861 calcium hydroxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012461 cellulose resin Substances 0.000 description 1
- 235000015165 citric acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229920005994 diacetyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 238000004043 dyeing Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N iodine Chemical compound II PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N norbornene Chemical compound C1[C@@H]2CC[C@H]1C=C2 JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 1
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011118 polyvinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 229920002689 polyvinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000001632 sodium acetate Substances 0.000 description 1
- 235000017281 sodium acetate Nutrition 0.000 description 1
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000002335 surface treatment layer Substances 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- 238000001291 vacuum drying Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B1/00—Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
- G02B1/04—Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements made of organic materials, e.g. plastics
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B1/00—Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
- G02B1/10—Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
- G02B1/14—Protective coatings, e.g. hard coatings
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
- G02B5/3025—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
- G02B5/3033—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid
Abstract
Description
본 발명은 편광자의 검사 방법 및 제조 방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는 본 발명은 비편광부를 갖는 편광자의 검사 방법 및 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection method and a manufacturing method of a polarizer. More specifically, the present invention relates to a method and a method for inspecting a polarizer having a non-light-emitting portion.
휴대전화, 노트형 퍼스널 컴퓨터(PC) 등의 화상 표시 장치에는 카메라 등의 내부 전자 부품이 탑재되어 있는 것이 있다. 이와 같은 화상 표시 장치의 카메라 성능 등의 향상을 목적으로 하여 여러 가지의 검토가 이루어지고 있다 (예를 들어, 특허문헌 1~7). 그러나, 스마트폰, 터치 패널식의 정보처리 장치의 급속한 보급에 의해, 카메라 성능 등의 더 나은 향상이 요망되고 있다. 또, 화상 표시 장치 형상의 다양화 및 고기능화에 대응하기 위해서, 부분적으로 편광 성능을 갖는 편광판이 요구되고 있다. 이들 요망을 공업적 및 상업적으로 실현하기 위해서는 허용 가능한 비용으로 화상 표시 장치 및/또는 그 부품을 제조하는 것이 요망되는 바, 그러한 기술을 확립하기 위해서는 여러 가지의 검토 사항이 남아 있다.2. Description of the Related Art Some image display devices such as a mobile phone and a notebook type personal computer (PC) are equipped with internal electronic parts such as a camera. Various examinations have been made for the purpose of improving the camera performance and the like of such an image display apparatus (for example,
본 발명은 상기 과제를 해결하기 위해서 이루어진 것으로, 그 주된 목적은 전자 디바이스의 다기능화 및 고기능화를 실현할 수 있고, 또한 품질에 편차가 없는 편광자를 제조할 때, 이 편광자를 고정밀도로 검사하는 방법을 제공하는 데에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems, and its main object is to provide a method of inspecting the polarizer with high precision when a polarizer which can realize the multifunctional and high- .
본 발명의 편광자의 검사 방법은 비편광부를 갖는 편광자의 비편광부를 포함하는 범위에 광을 조사하고, 이 편광자의 투과광상을 촬상하는 공정을 포함한다. 상기 투과광상에 있어서의 비편광부와 다른 부위와의 콘트라스트비(비편광부/다른 부위)는 1.5 이상이다.The inspection method of the polarizer of the present invention includes a step of irradiating light in a range including the non-light-emitting portion of the polarizer having the non-light-emitting portion, and imaging the transmitted light image of the polarizer. The contrast ratio (non-light-emitting portion / other portion) between the non-light-emitting portion and the other portion in the transmitted light image is 1.5 or more.
하나의 실시형태에 있어서는 상기 비편광부의 형상 및/또는 특성을 검사한다.In one embodiment, the shape and / or the characteristic of the non-light-emitting portion is inspected.
하나의 실시형태에 있어서는 상기 편광자를 보호하는 표면 보호 필름을 개재하여 촬상한다.In one embodiment, the image is picked up through a surface protective film for protecting the polarizer.
하나의 실시형태에 있어서는 상기 표면 보호 필름과 촬상부 사이에 다른 광학 부재를 개재하지 않고 촬상한다.In one embodiment, the image is captured without interposing another optical member between the surface protective film and the image pickup section.
본 발명의 다른 국면에 의하면 편광자의 제조 방법이 제공된다. 이 제조 방법은 편광자에 비편광부를 형성하는 공정 및 상기 검사 방법에 의해 검사하는 공정을 포함한다.According to another aspect of the present invention, a method of manufacturing a polarizer is provided. This manufacturing method includes a step of forming a non-light-emitting portion in a polarizer and a step of inspecting by the above inspection method.
하나의 실시형태에 있어서는 상기 비편광부의 형성 후, 연속하여 상기 검사를 실시한다.In one embodiment, the inspection is continuously performed after the formation of the non-light-emitting portion.
하나의 실시형태에 있어서는 편광자에 염기성 용액을 접촉시켜 상기 비편광부를 형성한다.In one embodiment, the polarizer is contacted with a basic solution to form the non-light-emitting portion.
하나의 실시형태에 있어서는 상기 편광자가, 그 적어도 일부가 노출되도록 표면 보호 필름으로 피복된 상태로 상기 염기성 용액의 접촉을 실시한다.In one embodiment, the polarizer is contacted with the basic solution so that at least a part of the polarizer is covered with the surface protection film.
본 발명에 의하면 비편광부를 갖는 편광자를 고정밀도로 검사할 수 있다.According to the present invention, a polarizer having a non-light-emitting portion can be inspected with high accuracy.
도 1은 본 발명의 검사 대상인 편광자의 하나의 구체예를 나타내는 평면도이다.
도 2는 본 발명의 검사 방법의 하나의 실시형태를 나타내는 개략도이다.
도 3은 장척상의 표면 보호 필름의 구체예를 나타내는 개략 평면도이다.
도 4는 편광자와 보호재의 적층의 구체예를 나타내는 개략 사시도이다.
도 5는 본 발명의 하나의 실시형태에 있어서의 편광 필름 적층체의 부분 단면도이다.
도 6 은 본 발명의 하나의 실시형태에 의한 편광판의 개략 사시도이다.Fig. 1 is a plan view showing one specific example of a polarizer to be inspected of the present invention. Fig.
2 is a schematic view showing one embodiment of the inspection method of the present invention.
3 is a schematic plan view showing a specific example of a surface protective film of a long coat.
4 is a schematic perspective view showing a specific example of lamination of a polarizer and a protective material.
5 is a partial cross-sectional view of a polarizing film laminate according to one embodiment of the present invention.
6 is a schematic perspective view of a polarizing plate according to one embodiment of the present invention.
이하, 본 발명의 실시형태에 대해 설명하겠지만, 본 발명이 이들 실시형태에 한정되지는 않는다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described, but the present invention is not limited to these embodiments.
A. 편광자A. Polarizer
도 1은 본 발명의 검사 대상인 편광자의 하나의 구체예를 나타내는 평면도이다. 편광자 (1) 은 이색성 물질을 포함하는 수지 필름으로 구성된다. 편광자 (1) 에는 작은 원형의 비편광부 (2) 가 편광자 (1) 의 상단부 중앙부에 형성되어 있다.Fig. 1 is a plan view showing one specific example of a polarizer to be inspected of the present invention. Fig. The
비편광부는 임의의 적절한 형태일 수 있다. 예를 들어, 비편광부는 부분적으로 탈색된 탈색부이다. 탈색부는 예를 들어, 레이저 조사 또는 화학 처리에 의해 형성된다. 다른 구체예로서는 비편광부는 관통 구멍이다. 관통 구멍은 예를 들어, 기계적 타발(예를 들어, 펀칭, 톰슨칼 타발, 플로터, 워터 제트) 또는 소정 부분의 제거(예를 들어, 레이저 어블레이션 또는 화학적 용해)에 의해 형성된다.The non-light-emitting portion may be in any suitable form. For example, the non-light-emitting portion is a partially decolored decoloring portion. The decoloring portion is formed by, for example, laser irradiation or chemical treatment. As another specific example, the non-light-emitting portion is a through hole. The through holes are formed by, for example, mechanical punching (e.g., punching, Thomson knife punching, plotter, water jetting) or removal of a predetermined portion (e.g., laser ablation or chemical dissolution).
도시예에서는 작은 원형의 비편광부 (2) 가 편광자 (1) 의 상단부 중앙부에 형성되어 있는데, 비편광부의 수, 배치, 형상, 사이즈 등은 적절히 설계될 수 있다. 예를 들어, 탑재되는 화상 표시 장치의 카메라부의 위치, 형상, 사이즈 등 에 따라 설계된다. 구체적으로는 화상 표시 장치의 카메라 이외의 부분(예를 들어, 화상 표시부)에 비편광부가 대응하지 않도록 설계된다.In the illustrated example, a small circular light-
비편광부의 투과율(예를 들어, 23℃에 있어서의 파장 550 nm의 광으로 측정한 투과율)은 바람직하게는 50 % 이상이며, 보다 바람직하게는 60 % 이상이며, 더욱 바람직하게는 75 % 이상이며, 특히 바람직하게는 90 % 이상이다. 이와 같은 투과율이면, 예를 들어 비편광부가 화상 표시 장치의 카메라부에 대응하도록 편광자를 배치했을 경우에, 카메라의 촬영 성능에 대한 악영향을 방지할 수 있다.The transmittance of the non-light-emitting portion (for example, the transmittance measured with light having a wavelength of 550 nm at 23 DEG C) is preferably 50% or more, more preferably 60% or more, still more preferably 75% , And particularly preferably 90% or more. With such a transmittance, for example, when the polarizer is arranged so as to correspond to the camera section of the image display apparatus, the image pickup performance of the camera can be prevented from being adversely affected.
편광자(비편광부를 제외한 다른 부위)는 바람직하게는 파장 380 nm~780 nm의 어느 것의 파장에서 흡수 이색성을 나타낸다. 편광자(비편광부를 제외한 다른 부위)의 단체 투과율은 바람직하게는 39 % 이상, 보다 바람직하게는 39.5 % 이상, 더욱 바람직하게는 40 % 이상, 특히 바람직하게는 40.5 % 이상이다. 또한, 단체 투과율의 이론상의 상한은 50 % 이며, 실용적인 상한은 46 % 이다. 또, 단체 투과율은 JIS Z8701의 2도 시야(C 광원)에 의해 측정하여 시감도 보정을 행한 Y치이며, 예를 들어 현미 분광 시스템(람다비전 제, LVmicro)을 사용하여 측정할 수 있다. 편광자의 편광도(비편광부 제외)는 바람직하게는 99.9 % 이상, 보다 바람직하게는 99.93 % 이상, 더욱 바람직하게는 99.95 % 이상이다.The polarizer (other region except for the non-light-emitting portion) preferably exhibits absorption dichroism at a wavelength of 380 nm to 780 nm. The transmittance of the polarizer (other portions except for the non-light-emitting portion) is preferably 39% or more, more preferably 39.5% or more, still more preferably 40% or more, particularly preferably 40.5% or more. Further, the theoretical upper limit of the mass transmittance is 50%, and the practical upper limit is 46%. In addition, the unit transmittance is a Y value obtained by measuring the visibility by a 2-degree field of view (C light source) of JIS Z8701 and measuring it using, for example, a brown spectroscopy system (Lambda Vision, LVmicro). The degree of polarization (excluding the non-light-emitting portion) of the polarizer is preferably not less than 99.9%, more preferably not less than 99.93%, further preferably not less than 99.95%.
편광자의 두께는 임의의 적절한 값으로 설정될 수 있다. 두께는 바람직하게는 30μm 이하, 보다 바람직하게는 25μm 이하, 더욱 바람직하게는 20μm 이하, 특히 바람직하게는 10μm 이하이다. 한편으로, 두께는 바람직하게는 0.5μm 이상, 더욱 바람직하게는 1μm 이상이다.The thickness of the polarizer can be set to any suitable value. The thickness is preferably 30 占 퐉 or less, more preferably 25 占 퐉 or less, further preferably 20 占 퐉 or less, particularly preferably 10 占 퐉 or less. On the other hand, the thickness is preferably at least 0.5 탆, more preferably at least 1 탆.
상기 이색성 물질로서는 예를 들어, 요오드, 유기 염료 등을 들 수 있다. 이들은 단독으로, 또는 2종 이상 조합하여 사용될 수 있다. 바람직하게는 요오드가 사용된다.Examples of the dichroic material include iodine, organic dyes, and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Iodine is preferably used.
상기 수지 필름을 형성하는 수지로서는 임의의 적절한 수지가 사용될 수 있다. 바람직하게는 폴리비닐알코올계 수지가 사용된다. 폴리비닐알코올계 수지로서는 예를 들어, 폴리비닐알코올, 에틸렌―비닐알코올 공중합체를 들 수 있다. 폴리비닐알코올은 폴리아세트산 비닐을 비누화함으로써 얻어진다. 에틸렌―비닐알코올 공중합체는 에틸렌―아세트산 비닐 공중합체를 비누화함으로써 얻어진다.As the resin for forming the resin film, any suitable resin may be used. Preferably, a polyvinyl alcohol-based resin is used. Examples of the polyvinyl alcohol-based resin include polyvinyl alcohol and ethylene-vinyl alcohol copolymer. Polyvinyl alcohol is obtained by saponifying polyvinyl acetate. The ethylene-vinyl alcohol copolymer is obtained by saponifying an ethylene-vinyl acetate copolymer.
B. 검사 방법B. Inspection method
본 발명의 검사 방법은 비편광부를 갖는 편광자의 비편광부를 포함하는 범위에 광을 조사하고, 편광자의 투과광상을 촬상하는 공정을 포함한다. 촬상 공정에 있어서는 대표적으로는 상기 비편광부를 갖는 편광자의 일방측으로부터 광을 조사하고, 타방측으로부터 편광자를 투과한 광을 촬상한다.The inspection method of the present invention includes a step of irradiating light in a range including the non-light-emitting portion of the polarizer having the non-light-emitting portion and imaging the transmitted light image of the polarizer. Typically, in the imaging process, light is irradiated from one side of the polarizer having the non-light-deflecting portion, and light is transmitted through the polarizer from the other side.
상기 투과광상에 있어서의 비편광부와 다른 부위와의 콘트라스트 비(비편광부/다른 부위)는 1.5 이상이며, 바람직하게는 1.8 이상이며, 더욱 바람직하게는 2.0 이상이다. 이와 같은 콘트라스트비로 촬상함으로써, 높은 정밀도로 비편광부(예를 들어, 비편광부의 형상 및/또는 특성)를 검사할 수 있게 된다.The contrast ratio (non-light portion / other portion) between the non-light-emitting portion and the other portion in the transmitted light image is 1.5 or more, preferably 1.8 or more, and more preferably 2.0 or more. By imaging with such a contrast ratio, it becomes possible to inspect the non-light-emitting portion (for example, the shape and / or the characteristics of the non-light-emitting portion) with high accuracy.
도 2는 본 발명의 검사 방법의 하나의 실시형태를 나타내는 개략도이다. 도시하는 바와 같이, 검사 장치 (100) 은 광원부 (110) 와 촬상부 (120) 와 도시하지 않지만 촬상부 (120) 에 의해 촬상한 화상을 처리하기 위한 화상 처리부를 구비한다. 광원부 (110) 은 편광자 (1) (실용적으로는 편광판으로 되어 있다)의 비편광부 (2) 를 포함하는 범위에 광이 조사되도록 배치되어 있다. 촬상부 (120) 은 편광자 (1) 에 대해 광원부 (110) 이 배치되어 있는 측과 반대측에 배치되고, 편광자 (1) 의 투과광상을 촬상한다. 도시하지 않지만, 상기 편광판의 구성에 따라, 광원부 (110) 와 촬상부 (120) 사이에 편광 필터를 배치시켜도 된다.2 is a schematic view showing one embodiment of the inspection method of the present invention. As shown in the figure, the
상기 광원부는 임의의 적절한 광원을 사용하여 구성될 수 있다. 광원은 백색 광원이어도 되고, 단색 광원이어도 된다. 광원은 임의의 적절한 형상으로 할 수 있고, 예를 들어 면 광원, 선 광원, 점 광원 또는 링형 광원일 수 있다. 광원의 구체예로서는 형광등, 할로겐 램프, 메탈 할라이드 램프, LED 등을 들 수 있다.。The light source portion may be constructed using any suitable light source. The light source may be a white light source or a monochromatic light source. The light source may be of any suitable shape and may be, for example, a planar light source, a linear light source, a point light source, or a ring light source. Specific examples of the light source include a fluorescent lamp, a halogen lamp, a metal halide lamp, an LED, and the like.
편광자에 대한 광의 조사 각도(편광자 주면에 대한 광의 조사 각도)는 바람직하게는 89°~91°, 더욱 바람직하게는 89.5°~90.5°이다. 이와 같은 조사 각도에 의하면 편광자의 두께 방향의 윤곽의 거칠기에 대해 고정밀도로 검사할 수 있다.The irradiation angle of light to the polarizer (the angle of irradiation of light with respect to the principal surface of the polarizer) is preferably 89 ° to 91 °, more preferably 89.5 ° to 90.5 °. According to such an irradiation angle, the roughness of the outline of the polarizer in the thickness direction can be inspected with high precision.
상기 촬상부는 대표적으로는 렌즈 및 이미지 센서를 사용하여 구성된 카메라이다. 이미지 센서로서는 CCD형 이미지 센서를 사용해도 되고 CMOS형 이미지 센서를 사용해도 된다.The imaging unit is typically a camera configured using a lens and an image sensor. The image sensor may be a CCD image sensor or a CMOS image sensor.
이미지 센서의 화소수는 바람직하게는 2000 dpi 이상, 더욱 바람직하게는 4000 dpi~6000 dpi 이다. 이와 같은 화소수를 갖는 이미지 센서를 사용함으로써, 고화질의 이미지를 촬상할 수 있기 때문에 보다 고정밀도로 검사할 수 있다.The number of pixels of the image sensor is preferably 2000 dpi or more, more preferably 4000 dpi to 6000 dpi. By using an image sensor having such a number of pixels, a high-quality image can be picked up, so that the inspection can be performed with higher accuracy.
상기 서술한 바와 같이, 촬상시에 편광 필터를 사용하는 경우, 편광 필터의 흡수축 방향이 검사 대상의 편광자의 흡수축 방향과 직교하도록 배치시킨다. 여기서, 「직교」란, 실질적으로 직교인 경우도 포함한다. 여기서, 「실질적으로 직교」란, 90°±3.0°인 경우를 포함하고, 바람직하게는 90°±1.0°, 더욱 바람직하게는 90°±0.5°이다. 도시예에 있어서, 편광 필터를 편광자 (1) 와 촬상부 (120) 사이에 배치시켰을 경우, 편광자 (1) 의 비편광부 (2) 이외의 부분을 투과한 광(직선 편광)이 편광 필터에 흡수되는 한편, 비편광부 (2) 를 투과한 광의 일부는 편광 필터를 투과할 수 있다는 점에서, 편광 필터를 투과한 광을 실질적으로 비편광부의 이미지로 하여 촬상할 수 있다. 또한, 편광 필터는 광원부와 검사 대상이 되는 편광자 사이에 배치시켜도 된다. 상세한 것은 후술하겠지만, 검사 대상이 되는 편광자(편광판)의 형태에 따라, 편광 필터의 사용 유무가 결정될 수 있다.As described above, when a polarizing filter is used at the time of image capturing, the absorption axis direction of the polarizing filter is arranged so as to be orthogonal to the absorption axis direction of the polarizer to be inspected. Here, the term " orthogonal " includes the case where the orthogonal direction is substantially orthogonal. Here, the term " substantially orthogonal " includes the case of 90 DEG +/- 3.0 DEG, preferably 90 DEG +/- 1.0 DEG, and more preferably 90 DEG +/- 0.5 DEG. In the illustrated example, when the polarizing filter is disposed between the
촬상 공정에서 얻어진 화상에 기초하여 편광자의 품질(예를 들어, 비편광부의 형상 및/또는 특성)을 검사한다. 구체적으로는 상기 화상 처리부에서 촬상부로부터 전기신호로서 보내온 화상 데이터의 해석을 실시하여 편광자의 품질을 검사한다. 검사 항목의 구체예로서는 비편광부의 형상 정밀도(원형인 경우에는 진원도 등 ), 윤곽의 거칠기, 윤곽의 급준도, 투과율 등을 들 수 있다. 화상 처리부는 바람직하게는 소정의 기준을 만족시키지 않는 비편광부를 형성 불량으로서 검출한다.(For example, the shape and / or the shape of the non-light-emitting portion) is inspected based on the image obtained in the imaging process. Specifically, the image processing unit analyzes the image data sent from the image pickup unit as an electric signal to check the quality of the polarizer. Specific examples of the inspection items include the shape accuracy of the non-light-emitting portion (roundness in the case of a circle), roughness of the outline, steepness of the outline, and transmittance. The image processing section preferably detects the non-light-deflecting portion which does not satisfy the predetermined criterion as the formation defect.
상기 화상 데이터의 해석은 예를 들어, 휘도 정보에 기초하여 행해질 수 있다. 구체적으로는 얻어지는 화상 데이터(투과광상 데이터)에 있어서는 비편광부의 휘도가 상대적으로 높아지고, 그 밖의 부분의 휘도가 낮아진다는 점에서, 얻어진 화상 데이터중의 콘트라스트비에 기초하여 비편광부로 특정할 수 있다. 또, 특정된 비편광부의 윤곽을 180 등분하여 중심으로부터 각 윤곽부까지의 거리를 구하고, 얻어진 180 개의 거리 데이터중의 최대치에서 최소치를 뺀 값을 진원도의 평가 기준으로 할 수 있다. 예를 들어, 얻어진 값이 소정 값 이하인 경우에, 그 비편광부의 진원도를 양호로 평가할 수 있다. 나아가 또, 비편광부의 윤곽을 180 등분하여 기준이 되는 근사 타원을 구하고, 180 등분한 각 영역에 있어서 근사 타원으로부터 실제의 윤곽까지의 거리의 최대치를 윤곽의 거칠기의 평가 기준으로 할 수 있다. 예를 들어, 얻어진 최대치가 소정 값 이하인 경우에, 그 비편광부의 윤곽의 거칠기를 양호로 평가할 수 있다. 나아가 또, 비편광부 및 그 밖의 부분(비편광부의 주변 부분)의 평균 휘도를 구하고, 비편광부의 평균 휘도를 100 %, 그 밖의 부분의 평균 휘도를 0 % 로 하고, 10 % 와 20 % 의 휘도로 흑과 백으로 2치화했을 때의 비편광부 중심으로부터 180 등분한 각 윤곽까지의 거리의 최대치를 윤곽의 급준도의 평가 기준으로 할 수 있다. 예를 들어, 얻어진 최대치가 소정 값 이하인 경우에, 그 비편광부의 윤곽의 급준도를 양호로 평가할 수 있다.The interpretation of the image data can be performed based on, for example, luminance information. Specifically, in the obtained image data (transmitted light image data), the brightness of the non-light-emitting portion is relatively high and the brightness of the other portions is low, so that the light-emitting portion can be specified based on the contrast ratio in the obtained image data . It is also possible to divide the outline of the specified non-light-emitting portion by 180, determine the distance from the center to each outline portion, and subtract the minimum value from the 180 pieces of obtained distance data. For example, when the obtained value is equal to or less than a predetermined value, roundness of the non-light-emitting portion can be evaluated as good. Further, the outline of the non-light-emitting portion can be divided by 180 to obtain a reference approximate ellipse, and the maximum value of the distance from the approximate ellipse to the actual outline in each 180-divided region can be used as an evaluation reference of the roughness of the outline. For example, when the obtained maximum value is equal to or smaller than a predetermined value, the roughness of the outline of the non-light-emitting portion can be evaluated as good. Further, the average luminance of the non-light-emitting portion and other portions (peripheral portion of the non-light-emitting portion) was determined, and the average luminance of the non-light-emitting portion was 100%, the average luminance of the other portions was 0% The maximum value of the distance from the center of the non-light-emitting portion to each of the 180-divided contours when binarized into black and white can be used as an evaluation reference of the steepness of the outline. For example, when the obtained maximum value is equal to or less than a predetermined value, the steepness of the outline of the non-light-emitting portion can be evaluated as good.
비편광부의 투과율은 예를 들어, 비편광부의 평균 휘도치, 최대 휘도치 및 최소 휘도치를 구하고, 최대 휘도치를 평균 휘도치로 나눈 수치 또는 최소 휘도치를 평균 휘도치로 나눈 수치에 기초하여 평가할 수 있다. 구체적으로는 비편광부에 편광 기능이 잔존하고 있고 투과율이 낮은 경우에 얻어지는 값도 낮아진다.The transmittance of the non-light-emitting portion can be evaluated based on, for example, a value obtained by dividing the maximum brightness value by the average brightness value, the maximum brightness value and the minimum brightness value of the non-light-emitting portion, or a numerical value obtained by dividing the maximum brightness value by the average brightness value. Specifically, the polarization function remains in the non-light-emitting portion and the value obtained when the transmittance is low is also lowered.
C. 비편광부를 갖는 편광자의 제조 방법C. Manufacturing method of polarizer having non-light-emitting portion
본 발명의 비편광부를 갖는 편광자의 제조 방법은 편광자에 비편광부를 형성하는 것 및 상기 검사 방법에 의해 비편광부를 검사하는 것을 포함한다.The method for producing a polarizer having a non-light-emitting portion of the present invention includes forming a non-light-emitting portion in a polarizer and inspecting the non-light portion by the inspection method.
C－1. 비편광부의 형성C-1. Formation of non-light-emitting part
편광자는 대표적으로는 상기 수지 필름에 팽윤 처리, 연신 처리, 상기 이색성 물질에 의한 염색 처리, 가교 처리, 세정 처리, 건조 처리 등의 각종 처리를 실시함으로써 얻어진다. 각종 처리를 실시할 때, 수지 필름은 기재 위에 형성된 수지층이어도 된다. 상기 비편광부의 형성은 편광자의 제작 공정 도중에 할 수도 있다.The polarizer is typically obtained by subjecting the resin film to various treatments such as swelling treatment, stretching treatment, dyeing treatment with the dichroic substance, crosslinking treatment, washing treatment, and drying treatment. When various treatments are carried out, the resin film may be a resin layer formed on the substrate. The non-light-emitting portion may be formed during the polarizer manufacturing process.
바람직하게는 비편광부는 탈색부이다. 이와 같은 구성에 의하면, 기계적으로(예를 들어, 톰슨칼 타발, 플로터, 워터 제트 등을 사용하여 기계적으로 잘라내는 방법에 의해), 관통 구멍이 형성되어 있는 경우에 비해, 크랙, 델라미네이션(층간 박리), 점착제 비어져나옴 등의 품질상의 문제가 회피된다. 탈색부는 바람직하게는 편광자(이색성 물질을 포함하는 수지 필름)의 원하는 위치에 염기성 용액을 접촉시킴으로써 형성된다. 이와 같은 방법에 의해 형성되는 비편광부는 다른 부위(비접촉부)보다 이색성 물질의 함유량이 낮은 저농도부로 될 수 있다. 저농도부는 이색성 물질 자체의 함유량이 낮기 때문에, 레이저광 등에 의해 이색성 물질을 분해하여 탈색부가 형성되어 있는 경우에 비해, 비편광부의 투명성이 양호하게 유지된다.Preferably, the non-light-emitting portion is a decoloring portion. According to such a structure, cracks, delaminations (cracks, cracks, cracks, etc.) are generated as compared with the case where the through holes are formed mechanically (for example, by a mechanical cutting method using a Thomson knife cutter, a plotter, Peeling), and the problem of quality such as release of the pressure-sensitive adhesive are avoided. The decoloring portion is preferably formed by contacting a basic solution to a desired position of a polarizer (a resin film containing a dichroic substance). The non-light-emitting portion formed by such a method can be a low-density portion having a lower content of a dichroic substance than other portions (non-contact portions). Since the low-density portion has a low content of the dichroic substance itself, the transparency of the non-light-emitting portion is favorably maintained as compared with the case where the dichromatic material is decomposed by laser light or the like to form a decolorized portion.
상기 저농도부의 이색성 물질의 함유량은 바람직하게는 1.0 중량 % 이하, 보다 바람직하게는 0.5 중량 % 이하, 더욱 바람직하게는 0.2 중량 % 이하이다. 저농도부의 이색성 물질의 함유량의 하한치는 통상, 검출 한계치 이하이다. 상기 다른 부위에 있어서의 이색성 물질의 함유량과 저농도부에 있어서의 이색성 물질의 함유량과의 차이는 바람직하게는 0.5 중량 % 이상, 더욱 바람직하게는 1 중량 % 이상이다. 이색성 물질로서 요오드를 사용하는 경우, 요오드 함유량은 예를 들어, 형광 X선 분석으로 측정한 X선 강도로부터, 미리 표준 시료를 사용하여 작성한 검량선에 의해 구해진다.The content of the dichroic substance in the low-concentration portion is preferably 1.0% by weight or less, more preferably 0.5% by weight or less, and still more preferably 0.2% by weight or less. The lower limit value of the content of the dichroic substance in the low density portion is usually below the detection limit value. The difference between the content of the dichroic substance in the other region and the content of the dichroic substance in the low concentration region is preferably 0.5% by weight or more, more preferably 1% by weight or more. When iodine is used as the dichroic substance, the iodine content is determined from a calibration curve prepared in advance using a standard sample from, for example, X-ray intensity measured by fluorescent X-ray analysis.
상기 염기성 용액에 포함되는 염기성 화합물로서는 임의의 적절한 화합물이 사용될 수 있다. 염기성 화합물로서는 예를 들어, 수산화 나트륨, 수산화 칼륨, 수산화 리튬 등의 알칼리 금속의 수산화물, 수산화 칼슘 등의 알칼리 토금속의 수산화물, 탄산나트륨 등의 무기 알칼리 금속염, 아세트산 나트륨 등의 유기 알칼리 금속염, 암모니아수 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 바람직하게는 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 수산화물이 사용되고, 더욱 바람직하게는 수산화 나트륨, 수산화 칼륨, 수산화 리튬이 사용된다. 이색성 물질을 효율적으로 이온화할 수 있고, 보다 간편하게 탈색부를 형성할 수 있다. 이들 염기성 화합물은 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다.As the basic compound contained in the basic solution, any suitable compound may be used. Examples of the basic compound include hydroxides of alkali metals such as sodium hydroxide, potassium hydroxide and lithium hydroxide; hydroxides of alkaline earth metals such as calcium hydroxide; inorganic alkali metal salts such as sodium carbonate; organic alkali metal salts such as sodium acetate; . Among them, hydroxides of an alkali metal and / or an alkaline earth metal are preferably used, and sodium hydroxide, potassium hydroxide and lithium hydroxide are more preferably used. The dichroic substance can be efficiently ionized and the decolorized portion can be formed more easily. These basic compounds may be used alone or in combination of two or more.
염기성 용액의 용매로서는 물, 알코올이 바람직하게 사용된다. 염기성 용액의 농도는 예를 들어 0.01 N~5 N 이며, 바람직하게는 0.05 N~3 N 이며, 더욱 바람직하게는 0.1 N~2.5 N 이다. 염기성 용액의 액온은 예를 들어 20℃~50℃ 이다. 염기성 용액의 접촉 시간은 편광자의 두께, 염기성 용액에 포함되는 염기성 화합물의 종류나 농도에 따라 설정될 수 있다. 접촉 시간은 예를 들어 5초~30분이며, 바람직하게는 5초~5분이다.As the solvent of the basic solution, water and alcohol are preferably used. The concentration of the basic solution is, for example, 0.01 N to 5 N, preferably 0.05 N to 3 N, and more preferably 0.1 N to 2.5 N. The liquid temperature of the basic solution is, for example, 20 ° C to 50 ° C. The contact time of the basic solution can be set according to the thickness of the polarizer, and the kind or concentration of the basic compound contained in the basic solution. The contact time is, for example, 5 seconds to 30 minutes, preferably 5 seconds to 5 minutes.
염기성 용액의 접촉 방법으로서는 임의의 적절한 방법이 채용될 수 있다. 예를 들어, 편광자에 대해, 염기성 용액을 적하, 도공, 스프레이하는 방법, 편광자를 염기성 용액에 침지하는 방법을 들 수 있다. 염기성 용액의 접촉시에, 원하는 부위 이외에 염기성 용액이 접촉하지 않도록, 임의의 적절한 보호재로 편광자를 보호해도 된다. 이와 같은 보호재로서는 예를 들어, 보호 필름, 표면 보호 필름이 사용된다. 보호 필름은 편광자의 보호 필름으로서 그대로 사용될 수 있는 것이다. 표면 보호 필름은 편광자의 제조시에 일시적으로 사용되는 것이다. 표면 보호 필름은 임의의 적절한 타이밍으로 편광자로부터 제거되기 때문에, 대표적으로는 편광자에 점착제층을 개재하여 첩합된다. 보호재의 다른 구체예로서는 포토레지스트 등을 들 수 있다. 또, 상기 편광자의 제작 공정에서 사용되는 기재도 보호재로서 사용할 수 있다.As a method of contacting the basic solution, any suitable method may be employed. For example, a method of dropping, coating and spraying a basic solution with respect to a polarizer, and a method of immersing a polarizer in a basic solution. When the basic solution is contacted, the polarizer may be protected by any appropriate protection material so that the basic solution is not in contact with the desired site. As such a protective material, for example, a protective film or a surface protective film is used. The protective film can be used as a protective film of a polarizer as it is. The surface protective film is used temporarily in the production of the polarizer. Since the surface protective film is removed from the polarizer at any appropriate timing, it is typically bonded to the polarizer via a pressure-sensitive adhesive layer. Another specific example of the protective material is photoresist. A substrate used in the production process of the polarizer may also be used as a protective material.
바람직하게는 염기성 용액의 접촉시에, 편광자 표면은 그 적어도 일부가 노출되도록 표면 보호 필름으로 피복되어 있다. 도시예의 편광자는 예를 들어, 수지 필름에 작은 원형의 관통공이 형성된 표면 보호 필름을 첩합하고, 이것에 염기성 용액을 접촉시킴으로써 제작된다. 그 때, 편광자의 다른 편측(관통공이 형성된 표면 보호 필름이 배치되어 있지 않은 쪽)도 보호되고 있는 것이 바람직하다.Preferably, upon contact of the basic solution, the surface of the polarizer is coated with a surface protective film such that at least a portion thereof is exposed. The polarizer of the illustrated example is produced by, for example, bonding a surface protective film having a small circular through-hole to a resin film, and bringing a basic solution into contact with the surface protective film. At this time, it is preferable that the other side of the polarizer (the side where the surface protective film on which the through hole is formed is not disposed) is also protected.
하나의 실시형태에 있어서는 장척상의 편광자(수지 필름)에 장척상의 표면 보호 필름을 적층하여 얻어진 편광 필름 적층체를 준비하고, 이것에 염기성 용액을 접촉시킨다. 장척상의 표면 보호 필름에는 예를 들어, 그 길이 방향 및/또는 폭방향으로 소정의 간격으로 관통공이 형성되어 있다. 여기서, 「장척상」이란, 폭에 비해 길이가 충분히 긴 가늘고 긴 형상을 의미하고, 예를 들어 폭에 비해 길이가 10배 이상, 바람직하게는 20배 이상의 가늘고 긴 형상을 포함한다.In one embodiment, a polarizing film laminate obtained by laminating an elongated-phase surface protective film on a long-axis polarizer (resin film) is prepared, and a basic solution is brought into contact with the laminated film. In the surface protecting film of the elongated phase, for example, through holes are formed at predetermined intervals in the longitudinal direction and / or the width direction. Here, the term " elongated shape " means an elongated shape having a length sufficiently longer than the width, and includes, for example, a shape elongated by 10 times or more, preferably 20 times or more.
상기 장척상의 편광자에 있어서 흡수축은 목적에 따라 임의의 적절한 방향으로 설정될 수 있다. 흡수축의 방향은 예를 들어, 장척 방향이어도 되고 폭방향이어도 된다. 장척 방향으로 흡수축을 갖는 편광자는 예를 들어, 제조 효율이 우수하다는 이점이 있다. 폭방향으로 흡수축을 갖는 편광자는 예를 들어, 장척 방향으로 지상축을 갖는 위상차 필름과 롤 투 롤로 적층할 수 있다는 이점이 있다. 하나의 실시형태에 있어서는 흡수축은 장척 방향 또는 폭방향으로 실질적으로 평행이며, 또한 편광자의 폭방향 양단은 장척 방향으로 평행하게 슬릿 가공되어 있다. 이와 같은 구성에 의하면, 편광자의 단변을 기준으로 재단할 수 있고, 원하는 위치에 비편광부를 가지고, 또한 적절한 방향으로 흡수축을 갖는 복수의 편광자를 용이하게 제조할 수 있다. 또한, 편광자의 흡수축은 상기 연신 처리에 있어서의 연신 방향으로 대응할 수 있다.In the long-axis polarizer, the absorption axis may be set in any appropriate direction depending on the purpose. The direction of the absorption axis may be, for example, a long direction or a width direction. A polarizer having an absorption axis in the longitudinal direction has an advantage of, for example, excellent manufacturing efficiency. The polarizer having the absorption axis in the width direction is advantageous in that it can be laminated with a roll-to-roll film and a retardation film having a slow axis in the longitudinal direction, for example. In one embodiment, the absorption axis is substantially parallel to the longitudinal direction or the width direction, and both widthwise ends of the polarizer are slit parallel to the longitudinal direction. According to such a configuration, it is possible to easily manufacture a plurality of polarizers that can be cut with respect to the short side of the polarizer, have a non-light-emitting portion at a desired position, and have an absorption axis in a proper direction. The absorption axis of the polarizer may correspond to the stretching direction in the stretching treatment.
도 3은 장척상의 표면 보호 필름의 구체예를 나타내는 개략 평면도이다. 표면 보호 필름 (20) 의 폭은 적층하는 장척상의 편광자와 동일 또는 편광자보다 광폭으로 되어 있다. 표면 보호 필름 (20) 에는 장척 방향 및 폭방향의 어느 쪽에나 실질적으로 등간격으로 작은 원형의 관통공 (21, 21…) 이 형성되어 있다. 관통공의 배치 패턴은 원하는 편광자에 대응하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 관통공은 얻어지는 편광자를 소정 사이즈의 화상 표시 장치에 장착하기 위해 소정 사이즈로 재단(예를 들어, 장척 방향 및/또는 폭방향으로의 절단, 타발)했을 때에, 그 화상 표시 장치의 카메라부에 대응하도록 배치된다. 또, 관통공의 형상은 원하는 비편광부의 형상에 대응할 수 있다.3 is a schematic plan view showing a specific example of a surface protective film of a long coat. The width of the surface
장척상의 편광자와 장척상의 보호재(도시예에서는 관통공이 형성된 표면 보호 필름)의 적층은 도 4에 나타내는 바와 같이, 롤 투 롤에 의해 행해지는 것이 바람직하다. 본 명세서에 있어서, 「롤 투 롤」이란, 롤상의 필름을 반송하면서 서로의 장척 방향을 일치시켜 적층하는 것을 말한다.The lamination of the long-axis polarizer and the protective material of the elongated phase (the surface protective film having the through hole in the illustrated example) is preferably carried out by roll-to-roll as shown in Fig. In the present specification, the term " roll-to-roll "
도 5는 본 발명의 하나의 실시형태에 있어서의 편광 필름 적층체의 부분 단면도이다. 편광 필름 적층체 (10) 은 편광자 (1) 와 편광자 (1) 의 일방면측(도시예에서는 상면측)에 배치된 제1 표면 보호 필름 (20) 과 편광자 (1) 의 타방면측(도시예에서는 하면측)에 배치된 보호 필름 (30) 및 제2 표면 보호 필름 (40) 을 구비한다. 편광 필름 적층체 (10) 은 그 일방면측(도시예에서는 상면측)에 편광자 (1) 이 노출된 노출부 (11, 11…) 을 갖는다. 노출부 (11) 은 제1 표면 보호 필름 (20) 에 관통공 (21) 을 형성함으로써 형성되어 있다.5 is a partial cross-sectional view of a polarizing film laminate according to one embodiment of the present invention. The
상기 표면 보호 필름의 형성 재료로서는 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지 등의 에스테르계 수지, 노르보르넨계 수지 등의 시클로올레핀계 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 올레핀계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 이들 공중합체 수지 등을 들 수 있다. 바람직하게는 에스테르계 수지(특히, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지)이다. 탄성률이 충분히 높아, 예를 들어 반송 및/또는 첩합시에 장력을 가해도 관통공의 변형이 잘 일어나지 않기 때문이다. 표면 보호 필름의 두께는 대표적으로는 20μm~250μm 이며, 바람직하게는 30μm~150μm 이다.Examples of the material for forming the surface protective film include ester resins such as polyethylene terephthalate resins, cycloolefin resins such as norbornene resins, olefin resins such as polyethylene and polypropylene, polyamide resins, polycarbonate resins, And copolymer resins thereof. An ester-based resin (particularly, a polyethylene terephthalate-based resin) is preferable. This is because the elastic modulus is sufficiently high, for example, that the deformation of the through hole does not occur even when a tensile force is applied at the time of carrying and / or applying. The thickness of the surface protective film is typically 20 占 퐉 to 250 占 퐉, preferably 30 占 퐉 to 150 占 퐉.
상기 서술한 바와 같이, 표면 보호 필름은 일시적으로 편광자를 보호하는 것이라는 점에서, 그 형성 수지의 배향성에 편차가 있어도 실용상 문제 없다. 예를 들어, 표면 보호 필름은 파장 590 nm 에 있어서의 면내 위상차가 500 nm~3000 nm 인 범위를 가질 수 있다. 면내 위상차 Re는 식：Re=(nx－ny)×d 에 의해 구해진다. 여기서, 「nx」는 면내의 굴절률이 최대가 되는 방향(지상축 방향)의 굴절률이며, 「ny」는 면내에서 지상축과 직교하는 방향(진상축 방향)의 굴절률이며, 「d」는 필름의 두께(nm)이다. 또, 표면 보호 필름은 배향각이 ―40°~＋40°의 범위를 가질 수 있다. 배향각은 표면 보호 필름을 편광자에 적층시켰을 때에, 편광자의 흡수축에 대해 표면 보호 필름의 지상축이 이루는 각도이다.As described above, since the surface protective film temporarily protects the polarizer, there is no practical problem even if there is a deviation in the orientation property of the formed resin. For example, the surface protective film may have a range of in-plane retardation of 500 nm to 3000 nm at a wavelength of 590 nm. Plane retardation Re is obtained by the formula: Re = (nx-ny) xd. Here, " nx " is a refractive index in a direction in which the in-plane refractive index becomes the maximum (slow axis direction), " ny " is a refractive index in a direction (fast axis direction) perpendicular to the slow axis in the plane, Thickness (nm). The surface protective film may have an orientation angle in a range of -40 ° to + 40 °. The orientation angle is an angle formed by the slow axis of the surface protective film with respect to the absorption axis of the polarizer when the surface protective film is laminated on the polarizer.
제1 표면 보호 필름은 도 3에 나타내는 바와 같이 소정의 패턴으로 배치된 관통공을 갖는다. 관통공의 위치는 비편광부가 형성되는 위치에 대응한다. 관통공의 형상은 원하는 비편광부의 형상에 대응한다. 관통공은 예를 들어, 기계적 타발(예를 들어, 펀칭, 톰슨칼 타발, 플로터, 워터 제트) 또는 필름의 소정 부분의 제거(예를 들어, 레이저 어블레이션 또는 화학적 용해)에 의해 형성된다.The first surface protective film has through-holes arranged in a predetermined pattern as shown in Fig. The position of the through hole corresponds to the position where the non-polarizing portion is formed. The shape of the through hole corresponds to the shape of the desired light-blocking portion. The through-holes are formed by, for example, mechanical punching (e.g., punching, Thomson knife cut, plotter, water jet) or removal of certain portions of the film (e.g., laser ablation or chemical dissolution).
표면 보호 필름은 예를 들어, 염기성 용액의 접촉 후, 임의의 적절한 타이밍으로 박리 제거된다.The surface protective film is peeled off at any appropriate timing, for example, after the contact of the basic solution.
상기 보호 필름의 형성 재료로서는 예를 들어, 디아세틸셀룰로오스, 트리아세틸셀룰로오스 등의 셀룰로오스계 수지, (메타) 아크릴계 수지, 시클로올레핀계 수지, 폴리프로필렌 등의 올레핀계 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지 등의 에스테르계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 이들 공중합체 수지 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는 바람직하게는 10μm~100μm 이다.Examples of the material for forming the protective film include cellulose resins such as diacetylcellulose and triacetylcellulose, olefinic resins such as (meth) acrylic resins, cycloolefin resins and polypropylene, and polyethylene terephthalate resins Ester-based resins, polyamide-based resins, polycarbonate-based resins, and copolymer resins thereof. The thickness of the protective film is preferably 10 mu m to 100 mu m.
보호 필름의 편광자를 적층시키지 않는 면에는 표면 처리층으로서 하드 코트층이나 반사 방지 처리, 확산 내지 안티글레어를 목적으로 한 처리가 실시되어 있어도 된다. 보호 필름은 대표적으로는 접착제층을 개재하여 편광자에 첩합된다.The surface of the protective film on which the polarizer is not laminated may be subjected to a treatment for the purpose of hard coat layer, antireflection treatment, diffusion or anti-glare as the surface treatment layer. The protective film is typically bonded to the polarizer via an adhesive layer.
하나의 실시형태에 있어서는 상기 염기성 용액은 편광자와 접촉 후, 임의의 적절한 수단에 의해 편광자로부터 제거된다. 이와 같은 실시형태에 의하면, 예를 들어 편광자의 사용에 수반하는 비편광부의 투과율의 저하를 보다 확실하게 방지할 수 있다. 염기성 용액의 제거 방법의 구체예로서는 세정, 웨이스트 등에 의한 닦아내기 제거, 흡인 제거, 자연 건조, 가열 건조, 송풍 건조, 감압 건조 등을 들 수 있다. 바람직하게는 염기성 용액은 세정된다. 세정에 사용하는 세정액으로서는 예를 들어, 물(순수), 메탄올, 에탄올 등의 알코올 및 이들의 혼합 용매 등을 들 수 있다. 바람직하게는 물이 사용된다. 세정 횟수는 특별히 한정되지 않고, 복수회 세정해도 된다. 염기성 용액을 건조에 의해 제거하는 경우, 그 건조 온도는 예를 들어 20℃~100℃ 이다.In one embodiment, the basic solution is removed from the polarizer by contact with the polarizer and by any suitable means. According to this embodiment, for example, it is possible to more reliably prevent deterioration of the transmittance of the non-light-emitting portion accompanying the use of the polarizer. Specific examples of the method for removing the basic solution include wiping off with a cleaning, a waist, and the like, suction removal, natural drying, heat drying, air blow drying, and vacuum drying. Preferably, the basic solution is cleaned. Examples of the cleaning liquid used for cleaning include water (pure water), alcohols such as methanol and ethanol, and mixed solvents thereof. Preferably, water is used. The number of times of cleaning is not particularly limited, and it may be washed plural times. When the basic solution is removed by drying, the drying temperature is, for example, 20 ° C to 100 ° C.
바람직하게는 상기 염기성 용액과의 접촉 후, 염기성 용액을 접촉시킨 접촉부에 있어서, 수지 필름에 포함되는 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 저감시킨다. 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 저감시킴으로써, 치수 안정성이 우수한 비편광부를 얻을 수 있다. 구체적으로는 가습 환경하에 있어서도, 염기성 용액과의 접촉에 의해 형성된 비편광부의 형상을 그대로 유지할 수 있다.Preferably, the alkali metal and / or alkaline earth metal contained in the resin film is reduced at the contact portion in contact with the basic solution after the contact with the basic solution. By reducing the alkali metal and / or alkaline earth metal, a non-light-emitting portion having excellent dimensional stability can be obtained. Specifically, even in a humidified environment, the shape of the non-light-emitting portion formed by contact with the basic solution can be maintained as it is.
염기성 용액을 접촉시킴으로써, 접촉부에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 수산화물이 잔존할 수 있다. 또, 염기성 용액을 접촉시킴으로써, 접촉부에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 금속염(예를 들어, 붕산염)이 생성될 수 있다. 이들은 수산화물 이온을 생성시킬 수 있고, 생성된 수산화물 이온은 접촉부 주위에 존재하는 이색성 물질(예를 들어, 요오드 착물)에 작용(분해·환원)하여 비편광 영역을 넓힐 수 있다. 따라서, 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속염을 저감시킴으로써, 시간 경과적으로 비편광 영역이 넓어지는 것을 억제하여 원하는 비편광부 형상이 유지될 수 있다고 생각된다.By contacting a basic solution, a hydroxide of an alkali metal and / or an alkaline earth metal may remain at the contact portion. Further, by contacting a basic solution, a metal salt of an alkali metal and / or an alkaline earth metal (for example, a borate salt) may be formed at the contact portion. These can generate hydroxide ions, and the generated hydroxide ions can act on the dichroic material (for example, iodine complex) existing around the contact portion to decompose and reduce the nonpolarized region. Therefore, by reducing the alkali metal and / or alkaline earth metal salt, it is considered that the desired non-light-shielding shape can be maintained by suppressing the widening of the unpolarized region over time.
상기 비편광부는 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 함유량이 3.6 중량 % 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 2.5 중량 % 이하이며, 더욱 바람직하게는 1.0 중량 % 이하이며, 특히 바람직하게는 0.5 중량 % 이하이다. 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 함유량은 예를 들어, 형광 X선 분석에 의해 측정한 X선 강도로부터 미리 표준 시료를 사용하여 작성한 검량선에 의해 구할 수 있다.The content of the alkali metal and / or alkaline earth metal is preferably 3.6% by weight or less, more preferably 2.5% by weight or less, further preferably 1.0% by weight or less, particularly preferably 0.5% by weight or less to be. The content of the alkali metal and / or alkaline earth metal can be determined, for example, by a calibration curve prepared using a standard sample from the X-ray intensity measured by fluorescent X-ray analysis.
상기 저감시키는 방법으로서는 바람직하게는 염기성 용액과의 접촉부에 산성 용액을 접촉시키는 방법이 사용된다. 이와 같은 방법에 의하면, 산성 용액에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 효율적으로 이행시켜, 그 함유량을 저감시킬 수 있다. 산성 용액과의 접촉은 상기 염기성 용액의 제거 후에 행해도 되고, 염기성 용액을 제거하지 않아도 된다.As the reduction method, a method in which an acidic solution is brought into contact with a contact portion with a basic solution is preferably used. According to this method, the alkali metal and / or the alkaline earth metal can be efficiently transferred to the acidic solution and the content thereof can be reduced. The contact with the acidic solution may be performed after the removal of the basic solution, or the basic solution may not be removed.
상기 산성 용액에 포함되는 산성 화합물로서는 임의의 적절한 산성 화합물을 사용할 수 있다. 산성 화합물로서는 예를 들어, 염산, 황산, 질산, 불화 수소 등의 무기산, 포름산, 옥살산, 시트르산, 아세트산, 벤조산 등의 유기산 등을 들 수 있다. 산성 용액에 포함되는 산성 화합물은 이들 중에서도, 바람직하게는 무기산이며, 더욱 바람직하게는 염산, 황산, 질산이다. 이들 산성 화합물은 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다.As the acidic compound contained in the acidic solution, any appropriate acidic compound can be used. Examples of the acidic compound include inorganic acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid and hydrogen fluoride, and organic acids such as formic acid, oxalic acid, citric acid, acetic acid and benzoic acid. Among these, the acidic compound contained in the acidic solution is preferably an inorganic acid, more preferably hydrochloric acid, sulfuric acid or nitric acid. These acidic compounds may be used alone or in combination of two or more.
산성 용액의 용매로서는 물, 알코올이 바람직하게 사용된다. 산성 용액의 농도는 예를 들어 0.01 N~5 N 이며, 바람직하게는 0.05 N~3 N 이며, 더욱 바람직하게는 0.1 N~2.5 N 이다. 산성 용액의 액온은 예를 들어 20℃~50℃ 이다. 산성 용액의 접촉 시간은 예를 들어 5초~5분이다. 또한, 산성 용액의 접촉 방법은 상기 염기성 용액의 접촉 방법과 동일한 방법이 채용될 수 있다. 또, 산성 용액은 편광자로부터 제거될 수 있다. 산성 용액의 제거 방법은 상기 염기성 용액의 제거 방법과 동일한 방법이 채용될 수 있다.As the solvent of the acidic solution, water and alcohol are preferably used. The concentration of the acidic solution is, for example, 0.01 N to 5 N, preferably 0.05 N to 3 N, and more preferably 0.1 N to 2.5 N. The liquid temperature of the acidic solution is, for example, 20 ° C to 50 ° C. The contact time of the acidic solution is, for example, 5 seconds to 5 minutes. The contact method of the acidic solution may be the same as the contact method of the basic solution. Further, the acidic solution can be removed from the polarizer. The removal of the acidic solution may be carried out in the same manner as the removal of the basic solution.
C－2. 비편광부의 검사C-2. Inspection of non-miners
비편광부의 형성 후, 상기 검사 방법에 의해 비편광부의 검사를 실시한다. 검사를 실시할 때, 편광자에 상기 표면 보호 필름이 적층된 상태여도 되고, 표면 보호 필름이 박리된 상태여도 된다. 또, 검사를 실시할 때, 편광자는 적어도 편측에 보호 필름이 첩합된 편광판의 상태인 것이 바람직하다.After the formation of the non-light-emitting portion, the non-light-emitting portion is inspected by the above inspection method. When the inspection is performed, the surface protective film may be laminated on the polarizer, or the surface protective film may be peeled off. When the inspection is carried out, it is preferable that the polarizer is in a state of a polarizing plate in which a protective film is adhered at least on one side.
하나의 실시형태에 있어서는 비편광부의 형성 후, 연속하여 비편광부의 검사를 실시한다. 편광자가 장척상인 경우에는 비편광부의 형성 후, 일단, 편광자를 권취하지 않고, 비편광부의 검사를 실시한다. 예를 들어, 도 5에 나타내는 바와 같은 편광 필름 적층체에 대해 비편광부를 형성한 후, 그 상태 그대로 비편광부의 검사 공정에 제공한다. 이와 같이, 비편광부의 형성 후에 연속하여 검사를 실시함으로써 (구체적으로는 형성된 비편광부의 사이즈가 소정의 사이즈보다 큰지 작은지를 판별함으로써), 예를 들어, 상기 염기성 용액과의 접촉 공정에 있어서의 문제(예를 들어, 표면 보호 필름의 관통공 상태, 염기성 용액의 침지 상태)를 조기에 검지할 수 있다.In one embodiment, after the formation of the non-light-emitting portion, the inspection of the non-light portion is continuously performed. In the case where the polarizer is the elongated phase, after the formation of the non-light-emitting portion, inspection of the non-light portion is carried out without winding the polarizer once. For example, after a non-light-emitting portion is formed on a polarizing film laminate as shown in Fig. 5, the non-light-emitting portion is provided to the inspection step of the non-light-emitting portion as it is. As described above, by continuously performing the inspection after the formation of the non-light-emitting portion (specifically, by determining whether the size of the light-blocking portion formed is larger or smaller than the predetermined size), for example, (For example, the through-hole state of the surface protective film and the immersion state of the basic solution) can be detected early.
검사 대상이 되는 편광자에 표면 보호 필름이 적층되어 있는 경우(특히, 촬상측에 표면 보호 필름이 적층되어 있는 경우)에는 상기 편광 필터 등의 다른 광학 부재를 개재하지 않고 촬상하는 것이 바람직하다. 상기 서술한 바와 같이, 표면 보호 필름은 그 형성 수지의 배향성에 편차가 있는 경우가 있고, 편광 필터를 개입시킴으로써 반대로 상기 콘트라스트비의 편차가 커질 수 있다. 따라서, 편광 필터를 개재하지 않고 촬상함으로써, 상기 콘트라스트비를 안정적으로 만족시킬 수 있다.It is preferable to take an image without interposing another optical member such as a polarizing filter when the surface protective film is laminated on the polarizer to be inspected (in particular, when the surface protective film is laminated on the image pickup side). As described above, the surface protective film may have a deviation in the orientation property of the forming resin, and when the polarizing filter is interposed, the deviation of the contrast ratio can be increased. Therefore, by taking images without interposing the polarizing filter, the contrast ratio can be stably satisfied.
검사 후, 편광자는 실용적으로는 편광판으로서 제공될 수 있다. 하나의 실시형태에 있어서는 편광판은 다른 부재에 첩합하기 위한 점착제층을 갖는다. 바람직하게는 이 점착제층 표면에는 세퍼레이터가 임시 부착되어, 실제로 사용할 때까지 점착제층을 보호함과 함께, 도 6에 나타내는 바와 같이 롤 형성을 가능하게 하고 있다.After the inspection, the polarizer can be practically provided as a polarizing plate. In one embodiment, the polarizing plate has a pressure-sensitive adhesive layer for bonding to another member. Preferably, a separator is temporarily adhered to the surface of the pressure-sensitive adhesive layer to protect the pressure-sensitive adhesive layer until the pressure-sensitive adhesive layer is actually used, and roll formation as shown in Fig. 6 is enabled.
본 발명의 제조 방법에 의해 얻어지는 편광자는 스마트폰 등의 휴대전화, 노트형 PC, 태블릿 PC 등의 카메라 부착 화상 표시 장치(액정 표시 장치, 유기 EL 디바이스)에 바람직하게 사용된다.The polarizer obtained by the production method of the present invention is preferably used in a camera-equipped image display device (liquid crystal display device, organic EL device) such as a mobile phone such as a smart phone, a notebook PC, and a tablet PC.
1 편광자
2 비편광부
10 편광 필름 적층체
11 노출부
20 표면 보호 필름
21 관통공
30 보호 필름
40 표면 보호 필름
100 검사 장치
110 광원부
120 촬상부1 polarizer
2 nonlinear section
10 polarizing film laminate
11 Exposure
20 Surface Protective Film
21 through hole
30 protective film
40 Surface Protective Film
100 inspection equipment
110 Light source
120 image pickup unit
Claims (8)
상기 투과광상에 있어서의 비편광부와 다른 부위와의 콘트라스트비(비편광부/다른 부위)는 1.5 이상인, 편광자의 검사 방법.And a step of irradiating light in a range including the non-light-emitting portion of the polarizer having the non-light-emitting portion, and imaging the transmitted light image of the polarizer,
And the contrast ratio (non-light-emitting portion / other portion) between the non-light-emitting portion and the other portion in the transmitted light image is 1.5 or more.
상기 비편광부의 형상 및/또는 특성을 검사하는, 편광자의 검사 방법.The method according to claim 1,
And the shape and / or the characteristic of the non-light-emitting portion are inspected.
상기 편광자를 보호하는 표면 보호 필름을 개재하여 촬상하는, 편광자의 검사 방법.The method according to claim 1,
Wherein the polarizing element is imaged through a surface protective film for protecting the polarizer.
상기 표면 보호 필름과 촬상부 사이에 다른 광학 부재를 개재하지 않고 촬상하는, 편광자의 검사 방법.The method of claim 3,
Wherein the image is picked up without interposing another optical member between the surface protective film and the image pickup section.
제 1 항에 기재된 검사 방법에 의해 검사하는 공정을 포함하는, 비편광부를 갖는 편광자의 제조 방법.A step of forming a non-light-emitting portion in the polarizer, and
A method for producing a polarizer having a non-light-deflecting portion, comprising the step of inspecting by the inspection method according to claim 1.
상기 비편광부의 형성 후, 연속하여 상기 검사를 실시하는, 제조 방법.6. The method of claim 5,
And after the formation of the non-light-emitting portion, the inspection is continuously performed.
편광자에 염기성 용액을 접촉시켜 상기 비편광부를 형성하는, 제조 방법.6. The method of claim 5,
And the polarizer is brought into contact with a basic solution to form the light-blocking portion.
상기 편광자가, 그 적어도 일부가 노출되도록 표면 보호 필름으로 피복된 상태로 상기 염기성 용액의 접촉을 실시하는, 제조 방법.8. The method of claim 7,
Wherein the polarizer is contacted with the basic solution so that at least a part of the polarizer is covered with the surface protection film.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JPJP-P-2015-197685 | 2015-10-05 | ||
| JP2015197685A JP6795883B2 (en) | 2015-10-05 | 2015-10-05 | Polarizer manufacturing method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20170040745A true KR20170040745A (en) | 2017-04-13 |
Family
ID=58537531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020160125734A KR20170040745A (en) | 2015-10-05 | 2016-09-29 | Polarizer inspection method |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6795883B2 (en) |
| KR (1) | KR20170040745A (en) |
| CN (3) | CN113341494B (en) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6986614B2 (en) * | 2015-10-05 | 2021-12-22 | 日東電工株式会社 | How to manufacture a transducer |
| JP6795883B2 (en) * | 2015-10-05 | 2020-12-02 | 日東電工株式会社 | Polarizer manufacturing method |
| CN109872670B (en) * | 2017-12-05 | 2021-11-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | Display screen, display device, display circuit and brightness compensation method thereof |
| CN113167963B (en) * | 2018-12-11 | 2023-08-11 | 住友化学株式会社 | Polarizing film and method for producing same |
| JPWO2021029190A1 (en) * | 2019-08-13 | 2021-02-18 | ||
| KR20220123122A (en) * | 2020-02-14 | 2022-09-05 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | Optical laminate and image display device provided with a pressure-sensitive adhesive layer, and their manufacturing method |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20040212555A1 (en) | 2003-04-23 | 2004-10-28 | Falco Mark A. | Portable electronic device with integrated display and camera and method therefore |
| JP2007241314A (en) | 2007-06-06 | 2007-09-20 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Display device with sensor attached thereto, and electronic apparatus |
| JP2011081315A (en) | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Sony Corp | Optical unit and image pickup device |
| JP2012137738A (en) | 2010-10-29 | 2012-07-19 | Apple Inc | Displays with polarizer windows and opaque masking layers for electronic devices |
| KR20120118205A (en) | 2011-04-18 | 2012-10-26 | 주식회사 엘지화학 | Polarizer having hole for cammera, lcd panel and display apparatus utilizing the same |
| KR101293210B1 (en) | 2010-12-15 | 2013-08-05 | 주식회사 엘지화학 | Method and apparatus for forming hole of polarizing plate for display device |
| US20140118826A1 (en) | 2012-10-30 | 2014-05-01 | Apple Inc. | Displays With Polarizer Layers for Electronic Devices |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3676092B2 (en) * | 1998-09-28 | 2005-07-27 | 株式会社リコー | Surface defect inspection equipment |
| JP3671904B2 (en) * | 2001-12-13 | 2005-07-13 | ノーリツ鋼機株式会社 | Scanning method |
| CN100399075C (en) * | 2002-04-23 | 2008-07-02 | 日东电工株式会社 | Polarizing element, polarizing light source and picture display device using them |
| JP3651676B2 (en) * | 2002-07-11 | 2005-05-25 | 株式会社東芝 | Inspection method and photomask |
| JP4869053B2 (en) * | 2006-01-11 | 2012-02-01 | 日東電工株式会社 | LAMINATED FILM MANUFACTURING METHOD, LAMINATED FILM DEFECT DETECTING METHOD, LAMINATED FILM DEFECT DETECTOR, LAMINATED FILM, AND IMAGE DISPLAY DEVICE |
| JP5348580B2 (en) * | 2008-01-31 | 2013-11-20 | 住友化学株式会社 | Manufacturing method of polarizing plate |
| JP5244848B2 (en) * | 2009-05-01 | 2013-07-24 | 日東電工株式会社 | Manufacturing method of polarizer |
| KR20100125537A (en) * | 2009-05-21 | 2010-12-01 | 동우 화인켐 주식회사 | Method for preparing polarization grating screen, polarization grating screen and 3d display device comprising the same |
| CN103038678B (en) * | 2010-06-30 | 2015-06-03 | 3M创新有限公司 | Diffuse reflective optical films with spatially selective birefringence reduction |
| JP2014010296A (en) * | 2012-06-29 | 2014-01-20 | V Technology Co Ltd | Exposure device and fpr production method |
| JP2014081482A (en) * | 2012-10-16 | 2014-05-08 | Nitto Denko Corp | Polarizer and image display device |
| JP2014164085A (en) * | 2013-02-25 | 2014-09-08 | Nitto Denko Corp | Polarizer and image display device |
| JP2014167547A (en) * | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Nitto Denko Corp | Method of manufacturing image display device |
| JP6255186B2 (en) * | 2013-08-07 | 2017-12-27 | 日東電工株式会社 | Optical member inspection method, optical product manufacturing method, and optical member inspection apparatus |
| KR20150085398A (en) * | 2014-01-15 | 2015-07-23 | 동우 화인켐 주식회사 | Inspecting method for stain of polarizing plate |
| WO2015145658A1 (en) * | 2014-03-27 | 2015-10-01 | 日東電工株式会社 | Polarizer and image display device |
| JP6795883B2 (en) * | 2015-10-05 | 2020-12-02 | 日東電工株式会社 | Polarizer manufacturing method |
-
2015
- 2015-10-05 JP JP2015197685A patent/JP6795883B2/en active Active
-
2016
- 2016-09-29 KR KR1020160125734A patent/KR20170040745A/en active IP Right Grant
- 2016-09-30 CN CN202110529378.0A patent/CN113341494B/en active Active
- 2016-09-30 CN CN202110529999.9A patent/CN113341495B/en active Active
- 2016-09-30 CN CN201610873657.8A patent/CN106990470B/en active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20040212555A1 (en) | 2003-04-23 | 2004-10-28 | Falco Mark A. | Portable electronic device with integrated display and camera and method therefore |
| JP2007241314A (en) | 2007-06-06 | 2007-09-20 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Display device with sensor attached thereto, and electronic apparatus |
| JP2011081315A (en) | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Sony Corp | Optical unit and image pickup device |
| JP2012137738A (en) | 2010-10-29 | 2012-07-19 | Apple Inc | Displays with polarizer windows and opaque masking layers for electronic devices |
| KR101293210B1 (en) | 2010-12-15 | 2013-08-05 | 주식회사 엘지화학 | Method and apparatus for forming hole of polarizing plate for display device |
| KR20120118205A (en) | 2011-04-18 | 2012-10-26 | 주식회사 엘지화학 | Polarizer having hole for cammera, lcd panel and display apparatus utilizing the same |
| US20140118826A1 (en) | 2012-10-30 | 2014-05-01 | Apple Inc. | Displays With Polarizer Layers for Electronic Devices |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP6795883B2 (en) | 2020-12-02 |
| CN113341494A (en) | 2021-09-03 |
| JP2017072647A (en) | 2017-04-13 |
| CN113341495A (en) | 2021-09-03 |
| CN106990470B (en) | 2021-06-04 |
| CN113341494B (en) | 2023-05-16 |
| CN106990470A (en) | 2017-07-28 |
| CN113341495B (en) | 2022-12-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR20170040745A (en) | Polarizer inspection method | |
| KR20180015768A (en) | Polarizer, polarization plate, and image display device | |
| KR101868676B1 (en) | Polarizer production method | |
| KR20170054539A (en) | Polarizer, polarization plate, and image display device | |
| KR20170038689A (en) | Method of producing polarizing plate | |
| JP6807637B2 (en) | Polarizer inspection method and polarizing plate manufacturing method | |
| JP6604805B2 (en) | Polarizer inspection method and polarizing plate manufacturing method | |
| KR20210124118A (en) | Polarizing plate inspection method and inspection apparatus | |
| JP6955075B2 (en) | Polarizer manufacturing method | |
| JP6986614B2 (en) | How to manufacture a transducer | |
| JP6666101B2 (en) | Inspection method for long polarizer | |
| JP6898492B2 (en) | Polarizer inspection method and polarizing plate manufacturing method | |
| CN117929404A (en) | Method for manufacturing polarizing plate and device for inspecting unpolarized portion of polarizing plate | |
| JP6706476B2 (en) | Inspection method for long polarizer | |
| JP6556008B2 (en) | Inspection method for long polarizers | |
| JP2017068106A (en) | Inspection method, inspection system and manufacturing method of long-sized polarizer | |
| JP6695670B2 (en) | Polarizing plate manufacturing method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right |