KR20170027746A - 소재의 표면처리정도 측정방법 및 시스템 - Google Patents

소재의 표면처리정도 측정방법 및 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은 표면촬상부로 조명의 존재하에 소재의 표면을 촬상하는 단계; 상기 표면촬상부의 촬상을 통해 얻어진 상기 소재의 표면의 이미지정보를 획득하는 단계; 이미지정보와 표면처리정도의 상관관계를 이용하여 상기 획득된 이미지정보로부터 상기 소재의 표면처리정도를 산출하는 단계; 및 상기 얻어진 표면처리정도를 기준값과 비교하는 단계를 포함하는 소재의 표면처리정도 측정방법 및 시스템을 제공한다.

Description

소재의 표면처리정도 측정방법 및 시스템{SURFACE TREATMENT DEGREE DETECTING METHOD OF MATERIAL AND THE SYSTEM}
본 발명은 소재의 표면처리정도 측정방법 및 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 각종 판형상 혹은 박막형 소재의 표면에 대한 표면처리정도, 예를 들어 도금형성정도(니켈도금, 구리도금, 아연도금막의 형성정도)나 피막형성정도(예를 들어, 인산염 피막의 두께)를 현장에서 실시간으로 신속하고 정확하게 측정할 수 있도록 해주는 소재의 표면처리정도 측정방법 및 시스템에 관한 것이다.
일반적으로 소재 표면에 특정한 목적을 위해 도금 혹은 피막을 입히는 것과 같은 표면처리 기술이 공지되어 있다. 예를 들어 금속의 표면에 화학적으로 특정한 물질을 입혀 금속의 성질을 변경시키고자 하는 목적에서 이러한 기술이 공공연하게 사용되고 있다.
이러한 표면처리의 예로는 각종 금속 도금 예로, 니켈도금, 구리도금, 아연도금을 전해 혹은 무전해도금 방법에 의해 소재 표면에 형성하거나, 금속의 고유성질을 바꾸기 위한 것으로 피막형성을 하는 경우로써, 예로 인산염 피막을 형성하는 경우를 들 수 있다. 특히 인산염피막의 경우에는 인산철계, 인산아연계, 인산망간계, 인산칼슘계, 인산주석계, 인산납계 피막 등으로 구분되며, 이들 인산염 피막은 금속(주로 철강)을 묽은 인산과 화학적으로 반응시켜 금속의 표면을 난용성의 결정질 인산염으로 만들어 금속의 고유성질을 바꾸는 것으로, 예를 들어 도장하지(인산아연, 인산아연칼슘, 인산철 등), 방청 및 윤활(인산아연, 인산망간 등), 금속가공(인산아연) 등 다양한 용도에 맞게 선택되어진다.
이들 도금 내지 피막은 요구되는 특성을 만족하기 위해 소재의 표면 상에 도금 혹은 피막의 형성과정 혹은 도금 혹은 피막이 형성된 이후 사후 관리단계에서 이들 막의 두께가 적정한 수준에 있는지 측정되어질 수 있거나 관리되어질 수 있어야 한다.
현재 대부분의 공정에서 이들 막의 두께는 육안에 의한 식별이 이루어지고 있는 수준으로 정확성이 떨어질 뿐만 아니라, 일일이 모든 소재에 대하여 검사해주어야 하는 면에서 검사자에게는 매우 성가시고 힘든 일로 인식되어 오고 있다.
특히, 제품생산이 완료된 후에나 막의 두께를 구할 수 있는 경우에는 만일 소재가 불량으로 판정될 경우 제품 전체를 폐기하거나 다시 막을 입혀야 하는 문제가 있고, 연속적으로 소재가 생산되는 상황에서는 시료의 채취가 불가능하며, 시료의 채취를 위해 생산라인을 정지하여야 하므로 생산에 지장을 초래하는 문제가 있다. 따라서, 상기와 같은 방법에 의하여서는 얻어진 측정값을 다음 생산공정에 반영할 수밖에 없고 만약 생산완료된 제품에 문제가 있다면 십수시간 생산한 제품을 폐기할 수 밖에 없는 문제가 있다.
본 발명은 상기한 바와 같이 종래기술이 가지는 문제를 해결하기 위해 제안된 것으로,
그 목적은 각종 판형상 혹은 박막형 소재의 표면에 대한 표면처리정도, 예를 들어 도금형성정도(니켈도금, 구리도금, 아연도금막의 형성정도)나 피막형성정도(예를 들어, 인산염 피막의 두께)를 현장에서 실시간으로 신속하고 정확하게 측정할 수 있도록 해주는 소재의 표면처리정도 측정방법 및 시스템을 제공함에 있다.
상기한 바와 같은 본 발명의 기술적 과제는 다음과 같은 수단에 의해 달성되어진다.
(1) 표면촬상부로 조명의 존재하에 소재의 표면을 촬상하는 단계;
상기 표면촬상부의 촬상을 통해 얻어진 상기 소재의 표면의 이미지정보를 획득하는 단계;
이미지정보와 표면처리정도의 상관관계를 이용하여 상기 획득된 이미지정보로부터 상기 소재의 표면처리정도를 산출하는 단계; 및
상기 얻어진 표면처리정도를 기준값과 비교하는 단계를 포함하는 소재의 표면처리정도 측정방법.
(2) 상기 (1)에 있어서,
이미지정보는 명도, 휘도, 색도, 거칠기, 또는 광택도인 것을 특징으로 하는 소재의 표면처리정도 측정방법.
(3) 상기 (1)에 있어서,
소재는 금속판 또는 금속박인 것을 특징으로 하는 소재의 표면처리정도 측정방법.
(4) 조명의 존재하에 소재의 표면을 촬상하는 표면촬상부;
상기 표면촬상부의 촬상을 통해 얻어진 상기 소재의 표면의 이미지정보를 획득하는 이미지처리부;
이미지정보와 표면처리정도의 상관관계를 이용하여 상기 획득된 이미지정보로부터 상기 소재의 표면처리정도를 산출하는 표면처리정도산출부; 및
상기 얻어진 표면처리정도를 기준값과 비교하여 양부를 판단하는 양부판단부를 포함하는 소재의 표면처리정도 측정시스템.
(5) 상기 (4)에 있어서,
이미지정보는 명도, 휘도, 색도, 거칠기, 또는 광택도인 것을 특징으로 하는 소재의 표면처리정도 측정시스템.
(6) 상기 (4)에 있어서,
표면처리정도산출부는 이미지정보와 표면처리정도의 상관관계로부터 얻어진 표면처리정도함수가 저장된 함수저장부; 상기 함수저장부에 저장된 표면처리정도함수를 호출하는 함수호출부; 상기 호출된 표면처리정도함수를 이용하여 상기 획득된 이미지정보에 대응되는 표면처리정도를 산출하는 함수연산처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 소재의 표면처리정도 측정시스템.
(7) 상기 (4)에 있어서,
상기 소재에 대한 표면처리정도에 대하여 양부판단부에 의해 부적합으로 판단되면, 이러한 정보를 표면처리부를 제어하는 제어부에 피드백시켜 표면처리정도를 조절하도록 하는 표면처리정도조절부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 소재의 표면처리정도 측정시스템.
본 발명에 의하면, 각종 소재의 표면에 대한 표면처리정도, 예를 들어 도금형성정도(니켈도금, 구리도금, 아연도금막의 형성정도)나 피막형성정도(예를 들어, 인산염 피막의 두께)를 현장에서 실시간으로 신속하고 정확하게 측정할 수 있도록 하여 불량률을 낮추고, 생산성을 제고할 수 있도록 공정관리가 가능하도록 한다.
도 1은 본 발명에 따른 소재의 표면처리정도 측정시스템의 일 실시예이다.
도 2는 본 발명에 따른 소재의 표면처리정도 측정방법의 이해를 돕기 위해 제시되는 처리대상인 이미지의 일 예시도이다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시 형태를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 첨부된 도면과 함께 이하에 개시될 상세한 설명은 본 발명의 예시적인 실시형태를 설명하고자 하는 것이며, 본 발명이 실시될 수 있는 유일한 실시형태를 나타내고자 하는 것이 아니다. 이하의 상세한 설명은 본 발명의 완전한 이해를 제공하기 위해서 구체적 세부사항을 포함한다. 그러나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 이러한 구체적 세부사항 없이도 실시될 수 있음을 안다.
몇몇 경우, 본 발명의 개념이 모호해지는 것을 피하기 위하여 공지의 구조 및 장치는 생략되거나, 각 구조 및 장치의 핵심기능을 중심으로 한 블록도 형식으로 도시될 수 있다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함(comprising 또는 including)"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "…부", "…기", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다. 또한, "일(a 또는 an)", "하나(one)", "그(the)" 및 유사 관련어는 본 발명을 기술하는 문맥에 있어서(특히, 이하의 청구항의 문맥에서) 본 명세서에 달리 지시되거나 문맥에 의해 분명하게 반박되지 않는 한, 단수 및 복수 모두를 포함하는 의미로 사용될 수 있다.
본 발명의 실시예들을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명의 실시예에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
이하, 본 발명의 내용을 보다 상세하게 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 소재의 표면처리정도 측정방법은,
표면촬상부로 조명의 존재하에 소재의 표면을 촬상하는 단계;
상기 표면촬상부의 촬상을 통해 얻어진 상기 소재의 표면의 이미지정보를 획득하는 단계;
이미지정보와 표면처리정도의 상관관계를 이용하여 상기 획득된 이미지정보로부터 상기 소재의 표면처리정도를 산출하는 단계; 및
상기 얻어진 표면처리정도를 기준값과 비교하는 단계를 포함한다.
본 발명에서 측정의 대상이 되는 「소재」는 표면에 소정의 물질로 도금 혹은 피막이 형성되어지거나, 박막 그 자체로 되는 것인 한 특별히 한정되는 것은 아니며, 예를 들어, 정지상태 혹은 이동 중인 상태에서 소재의 표면처리정도가 측정되어질 것이 요구되어지는 중간적인 제품 내지 최종 제품의 어떠한 것도 포함한다. 따라서, 금속판, 금속박, 각종 필름, 전자회로 내지 전자기기에 사용되는 각종 소재 등도 모두 본 발명의 「소재」에 포함될 수 있다.
본 발명에서 표면촬상부는 소재의 표면을 촬상하기 위한 것으로, 비젼센서 또는 카메라를 이용하여 라인스캐닝 방식 또는 에어리어 스캐닝 방식으로 소재의 표면을 촬상한다. 비젼센서일 경우 자체적으로 이미지처리부가 내장된 경우에는 별도의 이미지처리를 위한 외부장치를 둘 필요는 없다. 통상적인 라인스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라와 같은 경우 획득한 이미지의 처리를 위한 외부 PC와 같은 이미지처리부를 필요로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 소재의 표면처리정도 측정시스템의 일예를 보여주고 있다.
본 발명에 따른 소재의 표면처리정도 측정시스템은 조명(10)의 존재하에 소재의 표면을 촬상하는 표면촬상부(20); 상기 표면촬상부(20)의 촬상을 통해 얻어진 상기 소재의 표면의 이미지정보를 획득하는 이미지처리부(30); 이미지정보와 표면처리정도의 상관관계를 이용하여 상기 획득된 이미지정보로부터 상기 소재의 표면처리정도를 산출하는 표면처리정도산출부(40); 및 상기 얻어진 표면처리정도를 기준값과 비교하여 양부를 판단하는 양부판단부(50)를 포함한다.
본 발명에 따른 소재의 표면처리정도 측정시스템은 바람직하게는 상기 소재(100)에 대한 표면처리정도에 대하여 양부판단부(50)에 의해 부적합으로 판단되면, 이러한 정보를 표면처리부(200)를 제어하는 제어부(210)에 피드백시켜 표면처리정도를 조절하도록 하는 표면처리정도조절부(60)을 더 포함한다.
상기 표면처리정도산출부(40)는 바람직하게는 이미지정보와 표면처리정도의 상관관계로부터 얻어진 표면처리정도함수가 저장된 함수저장부(41); 상기 함수저장부에 저장된 표면처리정도함수를 호출하는 함수호출부(42); 및 상기 호출된 표면처리정도함수를 이용하여 상기 획득된 이미지정보에 대응되는 표면처리정도를 산출하는 함수연산처리부(43);를 포함한다.
상기 표면촬상부(20)로부터 얻어진 이미지는 이미지처리부(30)에서 처리된다. 여기서 이미지처리란 표면촬상부(20)에서 획득한 이미지로부터 표면의 이미지정보를 얻는 과정을 말한다.
상기 본 발명에서 이미지정보는 표면처리정도와 일정한 상관관계를 보이는 종속변수로써, 명도, 휘도, 색도, 거칠기, 또는 광택도 정보일 수 있다. 이와 같이 본 발명에 따른 이미지정보는 소재(100) 표면에 도금층 혹은 각종 피막층(110)의 형성과 같은 표면처리가 행해질 경우 표면처리정도에 따라 종속하여 변화하는 성질을 나타내며, 본 발명은 이러한 이미지정보를 이용하여 각종 소재의 표면처리정도를 측정하고 관리하고자 하는 것이다.
예를 들어, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표면촬상부(20)에서 얻어진 시편의 표면상태를 보여주는 이미지로써, 본 발명의 실시예에 의하면 녹색과 백색조명 하에 표면촬상부(20)로 카메라를 이용하여 소재인 금속 강판에 형성된 인산염 피막의 두께별 색도 변화를 관찰한 결과, 피막의 두께변화에 따라 소재 표면의 색도가 변하는 것을 확인할 수 있다.
즉, 소재 표면상에 인산염의 부착량이 122 mg/㎡에서 432 mg/㎡으로 증가함에 따라 소재 표면의 색상이 녹색으로부터 어두운 색으로 변화가 발생하는 것을 확인할 수 있다. 이는 밝은 강철면에 어두운 인산염이 부착되어질수록 점점 어두운 색을 발휘함에 따른 것이다.
따라서, 상기 실시예에 의하면 이러한 이미지정보 중 하나인 색도 변화를 측정하는 것만으로도 인산염에 의한 소재의 표면처리정도를 측정하는 것이 가능해진다.
본 발명에 따른 표면처리정도 측정시스템을 구성하는 표면처리정도산출부(40)는 상기와 같이 이미지처리부(30)에서 얻어진 이미지정보와 표면처리정도의 상관관계를 이용하여 상기 획득된 이미지정보로부터 상기 소재의 표면처리정도를 산출한다.
표면처리정도는 도 2의 본 발명의 실시예에 의하면 인산염 부착량으로 표시될 수 있으며, 인산염 부착량과 색도정보와의 상관관계를 이용하여 표면처리정도함수(또는 표준곡선)를 얻을 수 있다. 이러한 표면처리정도를 나타내는 함수는 미리 함수저장부(41)에 등록저장되고, 이미지정보가 획득될 때마다 함수호출부(42)에 의해 호출되어진다.
본 발명의 실시예에서 색도정보는 이미지를 구성하는 각 픽셀에 대한 RGB 값을 얻어 이로부터 전체 픽셀에 대한 색상분포를 이용하는 것일 수 있다. 예로, 검은색의 증가 정도를 RGB 값을 십진수값 0이 되는 픽셀의 개수를 측정하거나, 기타 전체 픽셀의 RGB 평균값을 얻거나, 또는 기타 다른 공지의 통계학적인 측정방법이 이용되어질 수 있음은 물론이다. 따라서, 이미지정보 중 하나인 색도정보를 표준곡선인 표면처리정도함수에 대입하게 되면, 이에 대응이 되는 인산염 부착량을 함수연산처리부(43)가 산출하게 된다.
상기 본 발명의 실시예에서는 색도정보를 예로 하여 설명하고 있지만, 명도, 휘도, 거칠기, 또는 광택도 정보의 경우에도 동일한 원리가 적용되어질 수 있음은 물론이다. 예를 들어, 거칠기 정보의 경우에는 소재표면에 형성된 산과 마루의 명도차를 이용하여 이를 비교하는 것으로 간단하게 이미지정보가 얻어질 수 있다.
상기와 같은 과정에 의해 얻어진 이미지정보로부터 소재의 표면처리정도를 얻을 수 있고, 이와 같이 얻어진 표면처리정도를 기준값과 비교하여 양부판단부(50)에 의해 양부가 판단되어진다. 이러한 결과는 화면표시부(70)를 통해 사용자에게 제공되어진다.
양부판단부(50)에 의해 부적합으로 판단되면, 표면처리정도조절부(60)는 이러한 정보를 표면처리부(210)를 제어하는 제어부(200)에 피드백시켜 해당 문제가 되는 소재의 표면처리정도를 정상수준으로 조절하도록 한다.
이와 같이 본 발명에 따른 소재의 표면처리정도 측정방법 및 측정시스템을 이용하면 소재의 생산 공정 중 예를 들어 도금층이나 피막이 정상적으로 형성되어졌는지 여부를 실시간으로 확인이 가능해지며, 이미 생산되어 다양한 설비에 사용 중인 소재가 시간에 따라 점차 감소되어진 피막의 두께를 측정하여 관리하는 측면에서도 이용되어질 수 있음은 물론이다.
본 명세서에 설명된 각종 기술들의 구현들은 디지털 전자 회로조직으로, 또는 컴퓨터 하드웨어, 펌웨어, 소프트웨어로, 또는 그들의 조합들로 구현될 수 있다. 이들의 구현에는 데이터 처리 장치, 예를 들어 프로그램가능 프로세서, 컴퓨터, 또는 다수의 컴퓨터들의 동작에 의한 처리를 위해, 또는 이 동작을 제어하기 위해, 컴퓨터 프로그램 제품, 즉 정보 캐리어, 예를 들어 기계 판독가능 저장 장치(컴퓨터 판독가능 매체) 또는 전파 신호에서 유형적으로 구체화된 컴퓨터 프로그램으로서 구현될 수 있다.
상술한 이미지처리부(30), 표면처리정도산출부(40), 양부판단부(50) 등은 컴파일된 또는 인터프리트된 언어들을 포함하는 임의의 형태의 프로그래밍 언어로 기록될 수 있고, 독립형 프로그램으로서 또는 모듈, 구성요소, 서브루틴, 또는 컴퓨팅 환경에서의 사용에 적절한 다른 유닛으로서 포함하는 임의의 형태로 전개될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 하나의 사이트에서 하나의 컴퓨터 또는 다수의 컴퓨터들 상에서 처리되도록 또는 다수의 사이트들에 걸쳐 분배되고 통신 네트워크에 의해 상호 연결되도록 전개될 수 있다.
한편, 본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 실시 예들은 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시 예들 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형 예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.
10: 조명
20: 표면촬상부
30: 이미지처리부
40: 표면처리정도산출부
41: 함수저장부
42: 함수호출부
43: 함수연산처리부
50: 양부판단부
60: 표면처리정도조절부
70: 화면표시부
100: 소재
110: 도금층 혹은 피막층
200: 제어부
210: 표면처리부

Claims (1)

  1. 표면촬상부로 조명의 존재하에 인산염이 부착된 소재의 표면을 촬상하는 단계;
    상기 표면촬상부의 촬상을 통해 얻어진 상기 인산염이 부착된 소재의 표면의 색도정보를 획득하는 단계;
    색도정보와 표면처리정도의 상관관계를 이용하여 상기 획득된 이미지정보로부터 상기 소재 표면의 인산염 피막의 두께정보를 포함하는 표면처리정도를 산출하는 단계; 및
    상기 얻어진 표면처리정도를 기준값과 비교하는 단계를 포함하는 소재의 표면처리정도 측정방법.

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109115775A (zh) * 2018-08-08 2019-01-01 长沙理工大学 一种基于机器视觉的槟榔等级检测方法
KR20190078425A (ko) * 2017-12-26 2019-07-04 주식회사 포스코 인산염 커버리지 측정방법
CN114752976A (zh) * 2021-05-31 2022-07-15 株式会社荏原制作所 预湿模块、脱气液循环系统和预湿方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190078425A (ko) * 2017-12-26 2019-07-04 주식회사 포스코 인산염 커버리지 측정방법
CN109115775A (zh) * 2018-08-08 2019-01-01 长沙理工大学 一种基于机器视觉的槟榔等级检测方法
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KR102467232B1 (ko) * 2021-05-31 2022-11-16 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 프리웨트 모듈, 탈기액 순환 시스템, 및 프리웨트 방법
US11833551B2 (en) 2021-05-31 2023-12-05 Ebara Corporation Pre-wet module, deaerated liquid circulation system, and pre-wet method

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