KR20170000122U - Tip checker - Google Patents

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KR20170000122U
KR20170000122U KR2020160007425U KR20160007425U KR20170000122U KR 20170000122 U KR20170000122 U KR 20170000122U KR 2020160007425 U KR2020160007425 U KR 2020160007425U KR 20160007425 U KR20160007425 U KR 20160007425U KR 20170000122 U KR20170000122 U KR 20170000122U
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Abstract

본 고안은 용접 전극 검사장치에 관한 것으로, 그 목적은 스폿용접기에 구비된 전극팁에 대한 연마작업 후, 전극팁의 정렬상태와 전극팁의 연마상태를 안정적으로 검사할 수 있는 용접 전극 검사장치를 제공함에 있다. 이를 위한 본 고안은 스폿용접기에 구비된 두 전극팁의 정렬상태를 검사하는 정렬 검사부; 및 상기 정렬 검사부의 인접한 위치에 설치되며, 상기 두 전극팁의 연마상태를 판정하는 연마 검사부;로 구성되며, 상기 연마 검사부는, 제1컬러센서; 상기 제1컬러센서와 이격된 채로 마주하도록 배치된 제2컬러센서; 상기 제1컬러센서와 상기 제2컬러센서의 사이에서 제1,2컬러센서와 결합되어 제1,2컬러센서를 지지하도록 설치되며, 상기 제1컬러센서에서 발산되는 광을 반사하여 상기 두 전극팁 중 어느 한 전극팁으로 조사함과 더불어 해당 전극팁으로부터 반사되는 반사광을 제1컬러센서로 반사하는 제1반사면과, 상기 제2컬러센서에서 발생되는 광을 반사하여 상기 두 전극팁 중 나머지 한 전극팁으로 조사함과 더불어 해당 전극팁으로부터 반사되는 반사광을 제2컬러센서로 반사하는 제2반사면을 포함하는 센서브라켓; 및 상기 제1컬러센서와 제2컬러센서에서 발생되는 신호를 이용하여 전극팁의 색을 인식하고, 인식된 색으로부터 전극팁의 연마상태에 대한 양부를 판정하는 프로그램이 내장된 판정회로부;로 구성된 것을 특징으로 하는 용접 전극 검사장치를 제공한다.The present invention relates to a welding electrode inspecting apparatus, and an object thereof is to provide a welding electrode inspecting apparatus capable of stably inspecting an alignment state of an electrode tip and a polishing state of an electrode tip after a polishing operation for an electrode tip provided in a spot welding machine . To this end, the present invention relates to an alignment inspection apparatus for inspecting an alignment state of two electrode tips provided in a spot welder; And a polishing inspection unit installed at an adjacent position of the alignment inspection unit and determining a polishing state of the two electrode tips, wherein the polishing inspection unit comprises: a first color sensor; A second color sensor arranged to face away from the first color sensor; And a second color sensor disposed between the first color sensor and the second color sensor and coupled to the first and second color sensors to support the first and second color sensors, A first reflective surface for reflecting the light reflected from the electrode tip to the first color sensor, and a second reflective surface for reflecting the light generated from the second color sensor, A sensor bracket including a second reflecting surface irradiated with one electrode tip and reflecting a light reflected from the electrode tip to a second color sensor; And a determination circuit unit having a program for recognizing the color of the electrode tip using the signals generated from the first color sensor and the second color sensor and determining whether the electrode tip is in a polished state from the recognized color And a welding electrode for welding.

Description

용접 전극 검사장치{Tip checker}{Tip checker}

본 고안은 용접 전극 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 스폿용접기에 마련된 전극팁의 드레싱 후, 전극팁의 정렬상태와 연마상태를 확인하는 용접 전극 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a welding electrode inspecting apparatus, and more particularly, to a welding electrode inspecting apparatus which confirms alignment and polishing state of an electrode tip after dressing of an electrode tip provided in a spot welding machine.

일반적으로 스폿용접은 금속판재와 같은 두 모재를 겹쳐 놓고, 모재의 위와 아래에 전극팁을 댄 상태에서 전극팁을 통해 전류를 흘려보내는 방식으로 접촉면을 국부적으로 가열하는 동시에 전극팁으로 모재를 가압하여 두 모재를 붙이는 용접이다.Generally, the spot welding is performed by locally heating the contact surface in such a manner that two base materials such as a metal plate are overlapped and electric current is flowed through the electrode tip while the electrode tip is placed above and below the base material, It is welding to attach two base materials.

이러한 스폿용접은 조선 산업, 자동차 산업, 플랜트 산업 등 대부분의 산업 분야에서 널리 사용되고 있다.Such spot welding is widely used in most industrial fields such as shipbuilding industry, automobile industry, and plant industry.

특히, 자동차의 생산공정에서 이루어지는 용접의 상당부분은 스폿용접으로 진행되고 있으며, 한 대의 자동차를 생산함에 있어서 수많은 스폿용접이 시행됨에 따라 스폿용접이 자동차의 생산성이나 품질에 미치는 영향이 매우 크다.Particularly, a significant portion of the welding performed in the automobile production process is conducted by spot welding, and as a result of performing a lot of spot welding in producing one automobile, the spot welding affects the productivity and quality of the automobile very much.

상기와 같은 점을 고려하여 자동차의 생산라인과 같이 일정한 패턴으로 스폿용접의 반복이 요구되는 생산현장에서는 다관절 로봇을 기반으로 한 자동 스폿용접기를 이용하여 품질 및 생산성을 향상시킬 수 있도록 하고 있다.In consideration of the above, the production spot where the spot welding is repeated with a certain pattern like the production line of the automobile, it is possible to improve the quality and the productivity by using the automatic spot welder based on the articulated robot.

한편, 스폿용접에 사용되는 전극팁은 용접작업이 반복됨에 따라 끝단부가 마모되어 변형되고 산화막이 형성되며, 이와 같은 상태로 용접작업을 계속하게 되면, 전류 밀도가 저하되어 용접불량이 발생하게 된다.On the other hand, the electrode tip used for spot welding is deformed by abrasion of the end portion as the welding operation is repeated, and an oxide film is formed. If the welding operation is continued in this state, the current density is lowered and welding defect occurs.

상기와 같은 용접불량을 미연에 방지하기 위하여 자동 스폿용접기의 주변에 팁 드레서를 설치하여 주기적으로 자동 스폿용접기에 마련된 전극팁에 대한 연마 작업 즉, 드레싱 작업이 이루어지도록 하고 있다.In order to prevent the welding defect as described above, a tip dresser is installed around the automatic spot welder to perform the polishing work for the electrode tip periodically provided in the automatic spot welder, that is, the dressing work.

상기 드레싱 작업은 전극팁의 끝단을 커터를 이용하여 둥글게 연마하는 것으로 이루어진다.The dressing operation is performed by rounding the end of the electrode tip using a cutter.

이처럼 팁 드레서를 이용하여 자동 스폿용접기에 구비된 전극팁에 대한 연마작업을 주기적으로 실시하고 있지만, 팁 드레서에 설치된 커터의 불량이나 기타 다른 원인으로 인하여 전극팁에 대한 연마작업이 제대로 이루어지지 못하는 경우가 발생되고 있으며, 이를 제때 인식하지 못할 경우, 용접불량이 발생되어 생산된 제품을 폐기하거나 다시 작업해야만 하므로, 시간 및 비용에 있어서 큰 손실을 유발하게 되는 문제점이 있다.Although the electrode tip provided in the automatic spot welder is periodically polished using the tip dresser, if the electrode tip is not polished due to a defect in the cutter installed in the tip dresser or other causes And if it is not recognized in time, there is a problem that welding failure occurs and the produced product must be discarded or reworked, resulting in a large loss in time and cost.

공개특허공보 제10-2009-0108896호(2009.10.19.공개)Published Patent Application No. 10-2009-0108896 (published on October 19, 2009)

본 고안은 상기와 같은 문제점을 고려하여 이루어진 것으로, 본 고안의 목적은 스폿용접기에 구비된 전극팁에 대한 연마작업 후, 전극팁의 정렬상태와 전극팁의 연마상태를 안정적으로 검사할 수 있는 용접 전극 검사장치를 제공함에 있다.The present invention has been accomplished in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a welding apparatus capable of stably inspecting an alignment state of an electrode tip and a polishing state of an electrode tip after a polishing operation for an electrode tip provided in a spot welder, And an electrode inspection apparatus.

상기한 바와 같은 목적을 달성하고 종래의 결점을 제거하기 위한 과제를 수행하는 본 고안은 스폿용접기에 구비된 두 전극팁이 미리 설정된 정렬위에서 삽입되도록 이루어진 검사구멍이 형성된 이동검사블록을 포함하여 미리 설정된 정렬위치로부터 어긋난 전극팁과의 간섭에 의해 이동검사블록이 이동할 때 이를 감지하여 이상신호를 발생하는 정렬 검사부; 및 상기 정렬 검사부의 인접한 위치에 설치되며, 상기 두 전극팁의 끝단부 색을 검출하고, 검출된 색을 이용하여 전극팁의 연마상태를 판정하는 연마 검사부;로 구성되며, 상기 연마 검사부는, 제1컬러센서; 상기 제1컬러센서와 이격된 채로 마주하도록 배치된 제2컬러센서; 상기 제1컬러센서와 상기 제2컬러센서의 사이에서 제1,2컬러센서와 결합되어 제1,2컬러센서를 지지하도록 설치되며, 상기 제1컬러센서에서 발산되는 광을 반사하여 상기 두 전극팁 중 어느 한 전극팁으로 조사함과 더불어 해당 전극팁으로부터 반사되는 반사광을 제1컬러센서로 반사하는 제1반사면과, 상기 제2컬러센서에서 발생되는 광을 반사하여 상기 두 전극팁 중 나머지 한 전극팁으로 조사함과 더불어 해당 전극팁으로부터 반사되는 반사광을 제2컬러센서로 반사하는 제2반사면을 포함하는 센서브라켓; 및 상기 제1컬러센서와 제2컬러센서에서 발생되는 신호를 이용하여 전극팁의 색을 인식하고, 인식된 색으로부터 전극팁의 연마상태에 대한 양부를 판정하는 프로그램이 내장된 판정회로부;로 구성된 것을 특징으로 하는 용접 전극 검사장치를 제공한다.The present invention for achieving the object and eliminating the drawbacks of the prior art includes a movement inspection block having an inspection hole formed such that two electrode tips of the spot welder are inserted on a predetermined alignment, An alignment inspection unit for sensing the movement of the movement inspection block due to interference with the electrode tip deviated from the alignment position and generating an abnormal signal; And a polishing inspection unit installed at an adjacent position of the alignment inspection unit and detecting a color of an end of the two electrode tips and determining a polishing state of the electrode tip using the detected color, 1 color sensor; A second color sensor arranged to face away from the first color sensor; And a second color sensor disposed between the first color sensor and the second color sensor and coupled to the first and second color sensors to support the first and second color sensors, A first reflective surface for reflecting the light reflected from the electrode tip to the first color sensor, and a second reflective surface for reflecting the light generated from the second color sensor, A sensor bracket including a second reflecting surface irradiated with one electrode tip and reflecting a light reflected from the electrode tip to a second color sensor; And a determination circuit unit having a program for recognizing the color of the electrode tip using the signals generated from the first color sensor and the second color sensor and determining whether the electrode tip is in a polished state from the recognized color And a welding electrode for welding.

한편 상기 용접 전극 검사장치에 있어서, 상기 이동검사블록은 전극팁의 이동방향과 평행한 방향으로 연장된 가이드 샤프트를 따라 이동하도록 가이드 샤프트에 결합되고, 상기 가이드 샤프트에는 이동검사블록을 사이에 두고 마주하면서 이동검사블록을 탄성지지하는 2개의 스프링이 설치되며, 상기 연마 검사부는 이동검사블록의 측면부에 고정되게 설치되어 이동검사블록과 함께 상기 두 스프링에 의해 탄성지지되게 구성될 수 있다.On the other hand, in the welding electrode inspection apparatus, the movement inspection block is coupled to a guide shaft so as to move along a guide shaft extending in a direction parallel to the movement direction of the electrode tip, And the polishing inspection part is fixed to the side part of the movement inspection block and is elastically supported by the two springs together with the movement inspection block.

한편 상기 용접 전극 검사장치에 있어서, 상기 연마 검사부는, 상기 센서브라켓에 설치되며, 상기 제1,2반사면이 설치된 구멍으로 공기를 분사하여 제1,2반사면이나 그 주변의 이물질을 제거하는 공기세척수단;이 더 포함될 수 있다.Meanwhile, in the welding electrode inspection apparatus, the polishing inspection unit is installed in the sensor bracket, and air is sprayed through the holes provided with the first and second reflection surfaces to remove foreign substances on the first and second reflection surfaces An air cleaning means may be further included.

한편 상기 용접 전극 검사장치에 있어서, 상기 연마 검사부는, 상기 센서브라켓과 결합되어 센서브라켓을 지지하며, 상기 이동검사블록 또는 팁 드레서에 결합되는 연결브라켓을 더 포함하되, 상기 연결브라켓에는 제1,2반사면이 설치된 구멍이 외부로 노출되어 이물질이 유입되는 것을 방지하도록 차단하는 가림편이 더 형성될 수 있다.The welding electrode inspection apparatus may further include a connection bracket coupled to the sensor bracket to support the sensor bracket and coupled to the movement inspection block or the tip dresser, 2, a blocking slit may be further formed to block the hole provided with the reflecting surface from being exposed to the outside to prevent foreign matter from entering.

상기와 같은 특징을 갖는 본 고안에 의하면, 스폿용접기에 구비된 전극팁에 대한 연마작업 후, 두 전극팁의 정렬상태와 연마상태를 정확하게 검사할 수 있게 되므로, 전극팁의 불량으로 인한 용접불량의 발생을 미연에 방지할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention having such characteristics as described above, since the alignment state and the polishing state of the two electrode tips can be accurately inspected after the polishing of the electrode tip of the spot welder, There is an effect that it is possible to prevent the occurrence of the trouble.

또한, 스프링에 의해 탄성지지된 이동검사블록에 연마 검사부가 설치되어 함께 움직이도록 함으로써, 스프링의 추가적인 설치 없이도 연마 검사부에 대한 완충구조를 구현할 수 있는 효과가 있다.In addition, since the polishing inspection part is provided on the movement inspection block elastically supported by the spring and moved together, the buffer structure for the polishing inspection part can be implemented without the additional installation of the spring.

또한, 제1,2컬러센서로부터 발산되거나 수신되는 광의 경로 상에 유입된 이물질을 공기분사를 통해 주기적으로 제거할 수 있으므로, 유지관리의 편의성을 높일 수 있고, 연마 검사부의 오작동을 줄여 검사장치의 신뢰성을 높일 수 있는 효과가 있다.In addition, since the foreign substances introduced into the path of the light emitted or received from the first and second color sensors can be periodically removed by air injection, the convenience of maintenance can be improved and the malfunction of the polishing inspection unit can be reduced, The reliability can be enhanced.

도 1 은 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 용접 전극 검사장치의 사시도,
도 2 는 본 고안에 따른 용접 전극 검사장치가 팁 드레서에 설치된 상태를 보인 사시도,
도 3 은 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 정렬 검사부의 사시도,
도 4 는 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 연마 검사부의 분해 사시도,
도 5 는 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 연마 검사부의 내부 구조도,
도 6 은 본 고안에 따른 연마 검사부가 이동검사블록의 측면에 고정되게 설치된 정면도.1 is a perspective view of a welding electrode inspection apparatus according to a preferred embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a perspective view showing a state where a welding electrode inspection apparatus according to the present invention is installed in a tip dresser,
FIG. 3 is a perspective view of an alignment inspection unit according to a preferred embodiment of the present invention;
4 is an exploded perspective view of a polishing inspection unit according to a preferred embodiment of the present invention,
5 is an internal structural view of a polishing inspection unit according to a preferred embodiment of the present invention;
6 is a front view of the abrasion testing part according to the present invention fixedly installed on the side of the movement testing block.

이하, 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부된 도면과 연계하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 본 고안을 설명함에 있어서, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 고안의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

도 1은 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 용접 전극 검사장치의 사시도를, 도 2는 본 고안에 따른 용접 전극 검사장치가 팁 드레서에 설치된 상태를 보인 사시도를 도시하고 있다.FIG. 1 is a perspective view of a welding electrode inspection apparatus according to a preferred embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view showing a state in which a welding electrode inspection apparatus according to the present invention is installed in a tip dresser.

본 고안에 따른 용접 전극 검사장치는 팁 드레서(300)에 의한 전극팁(T1,T2)의 연마작업 후, 전극팁(T1,T2)의 정렬상태와 전극팁(T1,T2)의 연마상태를 연속적으로 검사할 수 있도록 한 것으로, 정렬 검사부(100)와 연마 검사부(200)로 구성된다.The apparatus for inspecting a welding electrode according to the present invention is characterized in that after the polishing of the electrode tips T1 and T2 by the tip dresser 300 the alignment of the electrode tips T1 and T2 and the polishing of the electrode tips T1 and T2 And is composed of an alignment inspection unit 100 and a polishing inspection unit 200.

한편, 도 2에는 상기 정렬 검사부(100)와 연마 검사부(200)로 구성된 용접 전극 검사장치가 팁 드레서(300)의 측면에 장착된 구조가 도시되어 있다.2 illustrates a structure in which a welding electrode inspection apparatus including the alignment inspection unit 100 and the polishing inspection unit 200 is mounted on a side surface of the tip dresser 300. As shown in FIG.

도 3은 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 정렬 검사부의 사시도를 도시하고 있다.3 is a perspective view of an alignment inspection unit according to a preferred embodiment of the present invention.

상기 정렬 검사부(100)는 스폿용접기에 마련된 두 전극팁(T1,T2)이 올바른 위치에 정렬되어 있는지를 검사하는 것으로, 고정브라켓(110), 이동검사블록(120), 센서(130)로 구성된다.The alignment inspection unit 100 checks whether the two electrode tips T1 and T2 provided in the spot welder are aligned at the correct positions and is composed of the fixing bracket 110, the movement inspection block 120, do.

상기 고정브라켓(110)은 이동검사블록(120)과 센서(130)를 지지하는 것으로, 팁 드레서(300)의 인접한 곳에 위치하도록 별도의 구조물에 설치되거나, 팁 드레서(300)에 직접 고정되게 설치될 수 있다.The fixing bracket 110 supports the movement inspection block 120 and the sensor 130 and may be installed in a separate structure so as to be positioned adjacent to the tip dresser 300 or may be fixed to the tip dresser 300 .

한편, 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 고정브라켓(110)은 수직판재(111)의 정면 상단과 하단에 수평판재(112,113)가 각각 설치되어 ㄷ자 모양으로 형성되고, 상기 수직판재(111)의 배면에는 미도시된 구조물 또는 팁 드레서(300)에 고정브라켓(110)을 고정할 수 있도록 연장된 구조를 갖는 고정판재(114)가 설치되며, 상기 두 수평판재(112,113)의 사이에 상호 이격된 채로 평행한 구조를 유지하면서 두 수평판재(112,113)를 연결하는 2개의 가이드 샤프트(115,116)가 설치된 것으로 구성된다.The fixing bracket 110 according to a preferred embodiment of the present invention includes a vertical plate member 111 and a vertical plate member 111. The fixing bracket 110 is formed in a U-shape with horizontal plate members 112 and 113 at the upper and lower ends of the vertical plate member 111, A fixed plate member 114 having an elongated structure for fixing the fixing bracket 110 to the unshown structure or the tip dresser 300 is provided and the two horizontal plate members 112 and 113 are spaced apart from each other And two guide shafts 115 and 116 for connecting the two horizontal plate members 112 and 113 while maintaining a parallel structure.

참고로, 상기 가이드 샤프트(115,116)는 상기 이동검사블록(120)의 이동을 지지하는 축으로써, 이동검사블록(120)을 탄성지지하기 위한 2개의 스프링(117,118)이 각각의 가이드 샤프트(115,116)에 설치되며, 각각의 가이드 샤프트(115,116)에 설치된 2개의 스프링(117,118)은 이동검사블록(120)을 사이에 두고 마주하는 구조를 갖도록 가이드 샤프트(115,116)에 설치된다.The guide shafts 115 and 116 are shafts for supporting the movement of the movement inspection block 120. Two springs 117 and 118 for elastically supporting the movement inspection block 120 are provided on the guide shafts 115 and 116, And the two springs 117 and 118 provided on the respective guide shafts 115 and 116 are installed on the guide shafts 115 and 116 so as to have a structure in which they face each other with the movement inspection block 120 interposed therebetween.

상기 이동검사블록(120)은 앞서 설명된 바와 같이, 상기 고정브라켓(110)에 구비된 가이드 샤프트(115,116)에 결합되어 가이드 샤프트(115,116)의 지지를 받으며 상하로 이동이 가능한 구조를 갖도록 설치되며, 상기 전극팁(T1,T2)의 정렬상태를 검사하기 위한 검사구멍(121)이 형성된 것으로 구성된다.As described above, the movement inspection block 120 is installed to have a structure that is coupled to the guide shafts 115 and 116 provided in the fixing bracket 110 and is supported by the guide shafts 115 and 116 and can be moved up and down And an inspection hole 121 for inspecting an alignment state of the electrode tips T1 and T2.

한편, 상기 검사구멍(121)은 전극팁(T1,T2)의 직경 보다 조금 큰 직경을 가지며, 상기 이동검사블록(120)을 관통하되, 상기 전극팁(T1,T2)이 삽입되는 방향과 평행한 방향으로 이동검사블록(120)을 관통하도록 형성되며, 자동 스폿용접기에 미리 설정된 정렬검사위치로 전극팁(T1,T2)이 위치하였을 때, 그 중심이 전극팁(T1,T2)의 중심축선에 일치하도록 형성된다.The inspection hole 121 has a diameter slightly larger than the diameter of the electrode tips T1 and T2 and extends through the movement inspection block 120 so as to be parallel to the direction in which the electrode tips T1 and T2 are inserted And the centers of the electrode tips T1 and T2 are set so as to penetrate the movement inspection block 120 in one direction so that when the electrode tips T1 and T2 are positioned at the predetermined alignment inspection positions in the automatic spot welder, .

이러한 검사구멍(121)에 의하면, 상기 정렬검사위치에서 전극팁(T1,T2)이 이동검사블록(120)과의 간섭없이 상기 검사구멍(121)으로 삽입되는 경우, 해당 전극팁(T1,T2)은 올바른 위치에 정렬된 것으로 볼 수 있다.According to the inspection hole 121, when the electrode tips T1 and T2 are inserted into the inspection hole 121 without interfering with the movement inspection block 120, the electrode tips T1 and T2 ) Can be viewed as aligned in the correct position.

상기 센서(130)는 전극팁(T1,T2)과의 간섭으로 인해 이동검사블록(120)이 이동할 경우, 이를 감지하여 신호를 발생하는 것으로, 상기 이동검사블록(120)의 측면부에서 이동검사블록(120)의 이웃한 곳에 위치하도록 상기 고정브라켓(110)에 고정되게 설치된다.The sensor 130 detects a movement of the movement inspection block 120 due to interference with the electrode tips T1 and T2 to generate a signal. And is fixed to the fixing bracket 110 so as to be positioned adjacent to the fixing bracket 120.

이러한 센서(130)는 공지의 근접센서(130)로 구성될 수 있다.Such a sensor 130 may be constituted by a known proximity sensor 130.

또한, 상기 고정브라켓(110)에는 이동검사블록(120)이 초기 위치에서 정지된 상태를 유지할 수 있도록 돕는 볼플런저(140)가 설치되며, 상기 볼플런저(140)는 센서(130)의 옆에 위치하도록 고정브라켓(110)에 설치된다.A ball plunger 140 is provided on the fixing bracket 110 to help the movement check block 120 maintain its stopped state at an initial position. The ball plunger 140 is disposed on the side of the sensor 130 As shown in FIG.

이와 같이 구성된 정렬 검사부(100)는 등록특허공보 제1278543호에 개시되어 있는 바, 상기 정렬 검사부(100)에 대한 보다 구체적인 설명은 생략하도록 한다.The alignment inspection unit 100 constructed as described above is disclosed in Korean Patent Registration No. 1278543, and a detailed description of the alignment inspection unit 100 will be omitted.

도 4는 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 연마 검사부의 분해 사시도를, 도 5는 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 연마 검사부의 내부 구조도를, 도 6은 본 고안에 따른 연마 검사부가 이동검사블록의 측면에 고정되게 설치된 정면도를 도시하고 있다.FIG. 4 is an exploded perspective view of a polishing inspection unit according to a preferred embodiment of the present invention, FIG. 5 is an internal structural view of a polishing inspection unit according to a preferred embodiment of the present invention, FIG. And is fixed to the side surface.

상기 연마 검사부(200)는 팁 드레서(300)에 의한 전극팁(T1,T2)의 연마작업이 이루어진 난 후, 전극팁(T1,T2)의 끝단부 색을 검출하고, 이를 바탕으로 전극팁(T1,T2)의 연마상태를 판정하는 것으로, 제1컬러센서(210), 제2컬러센서(220), 센서브라켓(230), 판정회로부(240)로 구성된다.After the polishing of the electrode tips T1 and T2 by the tip dresser 300 is performed, the abrasion testing unit 200 detects the color of the end portions of the electrode tips T1 and T2, T1 and T2 and includes a first color sensor 210, a second color sensor 220, a sensor bracket 230, and a determination circuit section 240.

상기 제1컬러센서(210)와 제2컬러센서(220)는 상호 마주한 채로 이격된 구조를 갖도록 배치되며, 서로를 향하여 측정광을 발산하도록 구성된다.The first color sensor 210 and the second color sensor 220 are arranged to face each other and are configured to emit measurement light toward each other.

한편, 상기 제1,2컬러센서(210,220)는 일반적으로 널리 사용되고 있는 컬러센서 즉, 측정대상물로 광을 조사하고, 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 수신하여 해당 측정대상물의 색에 상응하는 신호를 발생하는 컬러센서로 구성될 수 있다.The first and second color sensors 210 and 220 emit light to a generally used color sensor, that is, a measurement object, receive reflected light reflected from the measurement object, and generate a signal corresponding to the color of the measurement object And a color sensor for sensing a color.

상기 센서브라켓(230)은 제1,2컬러센서(210,220)를 지지하는 것과 함께 제1,2컬러센서(210,220)로부터 발산되는 광을 전극팁(T1,T2)으로 유도하고, 더불어 전극팁(T1,T2)으로부터 반사되는 반사광을 제1,2컬러센서(210,220)로 유도하는 것이다.The sensor bracket 230 supports the first and second color sensors 210 and 220 and guides the light emitted from the first and second color sensors 210 and 220 to the electrode tips T1 and T2, T1 and T2 to the first and second color sensors 210 and 220, respectively.

보다 구체적으로, 상기 센서브라켓(230)은 제1,2컬러센서(210,220)가 상호 이격된 채로 마주하는 구조로 장착될 수 있도록 좌우 양측면부에 각각 형성된 센서장착부(231,232)와, 상기 두 센서장착부(231,232)를 연결하는 구조를 갖도록 형성된 제1관통구멍(233)과, 상기 두 센서장착부(231,232)의 사이에서 제1관통구멍(233)과 교차하되 수평방향으로 연장되게 형성된 제2관통구멍(234)과, 상기 제1,2관통구멍(233,234)과 교차하되 수직방향으로 연장되게 형성된 제3관통구멍(235)과, 상기 제2관통구멍(234)에 설치된 반사경(236)으로 구성된다.More specifically, the sensor bracket 230 includes sensor mounting portions 231 and 232 respectively formed on both left and right side portions so that the first and second color sensors 210 and 220 can be mounted with the first and second color sensors 210 and 220 facing each other, A second through hole 233 formed so as to have a structure connecting the first through holes 231 and 232 and a second through hole 233 formed between the two sensor mounting portions 231 and 232 so as to intersect the first through hole 233, A third through hole 235 formed to extend in the vertical direction and intersecting the first and second through holes 233 and 234 and a reflector 236 provided in the second through hole 234.

한편, 상기 센서장착부(231,232)는 센서브라켓(230)의 좌우 측면부로부터 일정한 깊이로 함몰된 홈구조를 갖도록 형성되어 그 내부로 컬러센서(130)의 일부가 삽입되도록 구성된다.The sensor mounting portions 231 and 232 are formed to have a recessed groove structure at a predetermined depth from the left and right side portions of the sensor bracket 230 so that a part of the color sensor 130 is inserted into the sensor mounting portions 231 and 232.

참고로, 상기와 같이 형성된 센서장착부(231,232)에 삽입되는 컬러센서(130)는 센서브라켓(230)의 상부에서 삽입되는 볼트(B1)와 체결되어 센서브라켓(230)에 고정된다.The color sensor 130 inserted into the sensor mounting portions 231 and 232 is fixed to the sensor bracket 230 by being fastened to the bolt B1 inserted in the upper portion of the sensor bracket 230.

상기 제1관통구멍(233)은 센서장착부(231,232)에 장착된 컬러센서(130)로부터 발산되는 광 그리고 전극팁(T1,T2)으로부터 반사되어 컬러센서(130)로 수신되는 광이 이동하는 통로를 제공하는 것으로, 상기 센서장착부(231,232)에 컬러센서(130)가 설치되는 경우, 컬러센서(130)에 구비된 발광부 및 수광부에 일치하도록 형성된다.The first through hole 233 is formed in a path through which the light emitted from the color sensor 130 mounted on the sensor mounting portions 231 and 232 and the light reflected by the electrode tips T1 and T2 and received by the color sensor 130 move When the color sensor 130 is installed on the sensor mounting portions 231 and 232, the light emitting portion and the light receiving portion of the color sensor 130 are formed to coincide with each other.

상기 제2관통구멍(234)은 광의 경로를 바꿔주는 반사경(236)이 설치되는 공간을 제공하는 것으로, 센서브라켓(230)을 수평방향으로 관통하는 구조를 갖도록 형성된다.The second through hole 234 provides a space in which the reflector 236 for changing the light path is installed and is formed to have a structure that horizontally penetrates the sensor bracket 230.

상기 제3관통구멍(235)은 전극팁(T1,T2)으로 조사되는 광 및 전극팁(T1,T2)으로부터 반사되는 광이 이동하는 통로를 제공하는 것으로, 상기 제1,2관통구멍(233,234)과 교차하면서 센서브라켓(230)을 수직방향으로 관통하는 구조를 갖도록 형성된다.The third through hole 235 provides a passage through which the light emitted from the electrode tips T1 and T2 and the light reflected from the electrode tips T1 and T2 travels. The first and second through holes 233 and 234 And penetrates the sensor bracket 230 in the vertical direction.

상기 반사경(236)은 제2관통구멍(234)의 내부에 위치하도록 설치되며, 상기 제1컬러센서(210)에서 발산되는 광을 반사하여 상기 두 전극팁(T1,T2) 중 어느 한 전극팁(T2)으로 조사함과 더불어 해당 전극팁(T2)으로부터 반사되는 반사광을 제1컬러센서(210)로 반사하는 제1반사면(236a)과, 상기 제2컬러센서(220)에서 발생되는 광을 반사하여 상기 두 전극팁(T1,T2) 중 나머지 한 전극팁(T1)으로 조사함과 더불어 해당 전극팁(T1)으로부터 반사되는 반사광을 제2컬러센서(220)로 반사하는 제2반사면(236b)을 포함하는 것으로 구성된다.The reflector 236 is disposed inside the second through hole 234 and reflects the light emitted from the first color sensor 210 to reflect the light emitted from one of the two electrode tips T1 and T2 A first reflective surface 236a that irradiates the first electrode 210 with the second color sensor T2 and reflects the light reflected from the electrode tip T2 to the first color sensor 210, And reflects the reflected light from the electrode tip T1 to the second color sensor 220. The second electrode of the second color sensor 220 is reflected by the other electrode tip T1, (236b).

상기 판정회로부(240)는 제1컬러센서(210)와 제2컬러센서(220)에서 발생되는 신호를 전달받아 전극팁(T1,T2)의 색을 인식하고, 인식된 색으로부터 전극팁(T1,T2)의 연마상태에 대한 양부를 판정하는 프로그램이 내장된 컨트롤러로 이루어질 수 있다.The determination circuit 240 receives the signals generated from the first color sensor 210 and the second color sensor 220 and recognizes the colors of the electrode tips T1 and T2. , T2) of the polishing surface of the wafer W.

참고로, 구리합금으로 이루어진 전극팁(T1,T2)의 경우, 정상적인 연마작업이 이루어졌을 때 구리합금이 갖는 본연의 색인 구리색이 검출되는 것이 정상이므로, 전극팁(T1,T2)이 갖는 본연의 색에 대응하는 색정보를 판정회로부(240)에 미리 입력해두게 되면, 판정회로부(240)는 제1,2컬러센서(210,220)에서 발생되는 신호로부터 얻어지는 색이 미리 입력된 색정보에 포함되는지를 판단함으로써, 해당 전극팁(T1,T2)의 연마상태에 대한 양부를 판정할 수 있다.For reference, in the case of the electrode tips T1 and T2 made of a copper alloy, it is normal that the original copper color of the copper alloy is detected when the normal polishing operation is performed. Therefore, the electrode tips T1 and T2, If the color information corresponding to the color is input to the determination circuit unit 240 in advance, the determination circuit unit 240 determines whether the color obtained from the signals generated by the first and second color sensors 210 and 220 is included in the previously input color information It is possible to judge whether or not the electrode tips T1 and T2 are polished.

이와 같은 판정회로부(240)는 팁 드레서(300)에 마련된 컨트롤러에 포함되어 함께 구성되거나, 별도의 컨트롤러로 구성될 수도 있다.The determination circuit unit 240 may be included in the controller provided in the tip dresser 300, or may be configured as a separate controller.

한편, 상기와 같이 구성된 연마 검사부(200)는 연결브라켓(250)에 의해 상기 이동검사블록(120)과 결합되어 이동검사블록(120)과 함께 움직이도록 구성될 수 있으며, 이러한 경우 전극팁(T1,T2)과 연마 검사부(200)의 접촉시 발생되는 충격을 완화하기 위한 별도의 완충구조를 구성하지 않더라도 정렬 검사부(100)에 구비된 스프링(117,118)에 의해 완충효과를 얻을 수 있는 이점이 있다.The polishing inspection unit 200 configured as described above may be configured to be coupled with the movement inspection block 120 by the connection bracket 250 to move together with the movement inspection block 120. In this case, Even if a separate buffer structure for mitigating an impact generated upon contact between the abrasive test unit 200 and the abrasive test unit 200 is not formed, the buffering effect can be obtained by the springs 117 and 118 provided in the alignment inspection unit 100 .

보다 구체적으로, 상기 연결브라켓(250)은 센서브라켓(230)의 아래쪽에서 센서브라켓(230)을 받쳐주는 형태를 갖도록 센서브라켓(230)의 저면에서 볼트(B2) 체결에 의해 센서브라켓(230)과 결합되고, 상기 센서브라켓(230)에 형성된 제3관통구멍(235)에 대응하는 구멍(251)이 형성되어 전극팁(T2)을 연결브라켓(250)을 통해 제3관통구멍(235)에 위치시킬 수 있도록 구성되며, 한 쪽 측면부에는 수직방향으로 절곡된 구조로 형성되어 상기 이동검사블록(120)의 측면부에 밀착된 채로 볼트체결에 의해 이동검사블록(120)에 결속되는 고정편(252)이 형성되어 있다.More specifically, the connection bracket 250 is fixed to the sensor bracket 230 by fastening the bolt B2 on the bottom surface of the sensor bracket 230 so as to support the sensor bracket 230 below the sensor bracket 230. [ And a hole 251 corresponding to the third through hole 235 formed in the sensor bracket 230 is formed so that the electrode tip T2 is connected to the third through hole 235 through the connection bracket 250 And a fixing part 252 which is formed on one side surface and bent in a vertical direction and is tightly fastened to the side surface of the movement inspection block 120 and is fastened to the movement inspection block 120 by bolting, Is formed.

또한, 상기 연결브라켓(250)에는 반사경(236)이 설치된 제2관통구멍(234)이 외부로 노출되는 것을 방지하여 제2관통구멍(234)을 통해 이물질이 유입되는 것을 차단하기 위한 가림편(253)이 측면부에 절곡된 구조로 형성될 수 있다.The connection bracket 250 is provided with a cover member 234 for preventing the second through hole 234 provided with the reflector 236 from being exposed to the outside and blocking foreign substances from flowing through the second through hole 234, 253 may be formed by bending the side portions.

또한, 상기와 같이 구성된 연마 검사부(200)에 있어서, 상기 제2관통구멍(234)으로 공기를 분사하여 반사경(236)의 제1,2반사면(236a,236b)이나 그 주위에 존재하는 이물질을 제거하는 공기세척수단(260)이 더 포함될 수 있다.In the polishing inspection unit 200 configured as described above, air is sprayed to the second through holes 234 to form the first and second reflecting surfaces 236a and 236b of the reflecting mirror 236 and foreign substances And an air cleaning unit 260 for removing the air.

상기 공기세척수단(260)은 제2관통구멍(234)에 설치되며, 공기압축기(compressor)와 같은 압축공기 공급장비와 연결되어 제2관통구멍(234)의 내부로 비교적 높은 압력으로 공기를 분사하도록 하는 니플로 구성될 수 있다.The air cleaning means 260 is installed in the second through hole 234 and connected to compressed air supply equipment such as an air compressor to inject air into the second through hole 234 at a relatively high pressure The nipple may be formed of a nipple.

상기와 같이 구성된 본 고안에 따른 용접 전극 검사장치는 연마작업을 마친 전극팁(T1,T2)의 정렬상태와 연마상태를 연속하여 검사하게 되므로, 전극팁(T1,T2)의 불량으로 인한 용접결함을 방지할 수 있다.The welding electrode inspecting apparatus according to the present invention configured as described above continuously inspects the alignment state and the polishing state of the electrode tips T1 and T2 after the polishing operation and thus the welding defects due to the defects of the electrode tips T1 and T2 Can be prevented.

한편, 전극팁(T1,T2)의 연마상태검사는 정렬 검사부(100)를 통해 전극팁(T1,T2)의 정렬상태가 양호한 것으로 판정된 전극팁(T1,T2)에 대해서 다음과 같은 과정을 통해 이루어지게 된다.The inspection of the polishing conditions of the electrode tips T1 and T2 is performed as follows for the electrode tips T1 and T2 determined to have good alignment of the electrode tips T1 and T2 through the alignment inspection unit 100 .

스폿용접기에 구비된 두 전극팁(T1,T2) 중, 어느 한 전극팁(T1)의 끝단은 제3관통구멍(235)의 상단부에 밀착되어 제3관통구멍(235)의 상단부를 폐쇄하도록 위치시키고, 나머지 한 전극팁(T2)의 끝단은 제3관통구멍(235)의 하단부에 밀착되어 제3관통구멍(235)의 하단부를 폐쇄하도록 위치시킨다.The tip of one of the two electrode tips T1 and T2 of the spot welder is brought into close contact with the upper end of the third through hole 235 to close the upper end of the third through hole 235 And the other end of the electrode tip T2 is brought into close contact with the lower end of the third through hole 235 to close the lower end of the third through hole 235. [

이후, 상기 제1,2컬러센서(210,220)가 작동하여 광을 발산하게 되며, 상기 제1컬러센서(210)에서 발산되는 광은 제1반사면(236a)을 통해 반사되어 아래쪽에 위치한 전극팁(T2)으로 조사되고, 상기 제2컬러센서(220)에서 발산되는 광은 제2반사면(236b)을 통해 반사되어 위쪽에 위치한 전극팁(T1)으로 조사된다.The first and second color sensors 210 and 220 are operated to emit light. The light emitted from the first color sensor 210 is reflected through the first reflection surface 236a, And the light emitted from the second color sensor 220 is reflected through the second reflective surface 236b and irradiated to the upper electrode tip T1.

이처럼 각각의 전극팁(T1,T2)으로 조사된 광은 전극팁(T1,T2)으로부터 반사되며, 각각 전극팁(T1,T2)으로부터 반사되는 반사광은 다시 반사경(236)을 통해 반사된 후 제1,2컬러센서(210,220)로 각각 유입되므로, 두 전극팁(T1,T2)에 대한 색정보를 획득하게 된다.The light beams irradiated to the electrode tips T1 and T2 are reflected from the electrode tips T1 and T2 and the reflected light beams reflected from the electrode tips T1 and T2 are reflected through the reflector 236, Color sensors 210 and 220, respectively, so that color information on the two electrode tips T1 and T2 is obtained.

참고로, 본 고안에 따른 연마 검사부(200)는 센서브라켓(230)의 내부에서 광이 조사되고 반사되면서 전극팁(T1,T2)에 대한 색정보를 획득하게 되므로, 외부 빛이 외란으로 작용하는 것을 최소화하여 보다 정확한 색정보의 획득이 가능하게 된다.Since the abrasion testing unit 200 according to the present invention obtains color information about the electrode tips T1 and T2 while being irradiated with light and reflected inside the sensor bracket 230, It is possible to acquire more accurate color information.

한편, 상기 제1,2컬러센서(210,220)에서 획득되는 색정보는 판정회로부(240)로 전달되며, 판정회로부(240)는 컬러센서(130)에서 획득된 색정보와, 해당 전극팁(T1,T2)에 대응하여 미리 입력된 색정보를 이용하여 해당 전극팁(T1,T2)의 연마상태에 대한 양부를 판정하게 된다.The color information obtained by the first and second color sensors 210 and 220 is transmitted to the determination circuit unit 240. The determination circuit unit 240 compares the color information obtained from the color sensor 130 with the color information , T2) of the electrode tips (T1, T2) using the previously inputted color information.

본 고안은 상술한 특정의 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 고안의 요지를 벗어남이 없이 당해 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.It is to be understood that the present invention is not limited to the specific preferred embodiments described above and that various modifications can be made by those skilled in the art without departing from the scope of the present invention, Of course, such modifications are within the scope of the claims.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100: 정렬 검사부 111: 수직판재
112, 113: 수평판재 114: 고정판재
115, 116: 가이드 샤프트 117, 118: 스프링
120: 이동검사블록 121: 검사구멍
200: 연마 검사부 210: 제1컬러센서
220: 제2컬러센서 230: 센서브라켓
231, 232: 센서장착부 233: 제1관통구멍
234: 제2관통구멍 235: 제3관통구멍
236: 반사경 236a: 제1반사면
236b: 제2반사면 240: 판정회로부
250: 연결브라켓 251: 구멍
252: 고정편 253: 가림편
260: 공기세척수단Description of the Related Art
100: alignment inspection part 111:
112, 113: horizontal plate member 114: fixed plate member
115, 116: guide shaft 117, 118: spring
120: Movement inspection block 121: Inspection hole
200: abrasion inspection part 210: first color sensor
220: second color sensor 230: sensor bracket
231, 232: sensor mounting portion 233: first through hole
234: second through hole 235: third through hole
236: reflector 236a: first reflection surface
236b: second reflecting surface 240:
250: connection bracket 251: hole
252: Fixing piece 253: Closing piece
260: Air cleaning means

Claims (4)

스폿용접기에 구비된 두 전극팁이 미리 설정된 정렬위에서 삽입되도록 이루어진 검사구멍이 형성된 이동검사블록을 포함하여 미리 설정된 정렬위치로부터 어긋난 전극팁과의 간섭에 의해 이동검사블록이 이동할 때 이를 감지하여 이상신호를 발생하는 정렬 검사부; 및
상기 정렬 검사부의 인접한 위치에 설치되며, 상기 두 전극팁의 끝단부 색을 검출하고, 검출된 색을 이용하여 전극팁의 연마상태를 판정하는 연마 검사부;로 구성되며,
상기 연마 검사부는,
제1컬러센서;
상기 제1컬러센서와 이격된 채로 마주하도록 배치된 제2컬러센서;
상기 제1컬러센서와 상기 제2컬러센서의 사이에서 제1,2컬러센서와 결합되어 제1,2컬러센서를 지지하도록 설치되며, 상기 제1컬러센서에서 발산되는 광을 반사하여 상기 두 전극팁 중 어느 한 전극팁으로 조사함과 더불어 해당 전극팁으로부터 반사되는 반사광을 제1컬러센서로 반사하는 제1반사면과, 상기 제2컬러센서에서 발생되는 광을 반사하여 상기 두 전극팁 중 나머지 한 전극팁으로 조사함과 더불어 해당 전극팁으로부터 반사되는 반사광을 제2컬러센서로 반사하는 제2반사면을 포함하는 센서브라켓; 및
상기 제1컬러센서와 제2컬러센서에서 발생되는 신호를 이용하여 전극팁의 색을 인식하고, 인식된 색으로부터 전극팁의 연마상태에 대한 양부를 판정하는 프로그램이 내장된 판정회로부;로 구성된 것을 특징으로 하는 용접 전극 검사장치.And a movement inspection block having an inspection hole formed so that two electrode tips provided in the spot welder are inserted over a predetermined alignment. When the movement inspection block moves due to interference with the electrode tip shifted from a predetermined alignment position, An alignment inspection unit for generating an alignment mark; And
And a polishing inspection unit installed at an adjacent position of the alignment inspection unit and detecting a color of an end of the two electrode tips and determining a polishing state of the electrode tip using the detected color,
The polishing-
A first color sensor;
A second color sensor arranged to face away from the first color sensor;
And a second color sensor disposed between the first color sensor and the second color sensor and coupled to the first and second color sensors to support the first and second color sensors, A first reflective surface for reflecting the light reflected from the electrode tip to the first color sensor, and a second reflective surface for reflecting the light generated from the second color sensor, A sensor bracket including a second reflecting surface irradiated with one electrode tip and reflecting a light reflected from the electrode tip to a second color sensor; And
And a determination circuit unit having a program for recognizing the color of the electrode tip using the signals generated from the first color sensor and the second color sensor and determining whether the electrode tip is polished from the recognized color Characterized by a welding electrode inspection device. 청구항 1에 있어서,
상기 이동검사블록은 전극팁의 이동방향과 평행한 방향으로 연장된 가이드 샤프트를 따라 이동하도록 가이드 샤프트에 결합되고, 상기 가이드 샤프트에는 이동검사블록을 사이에 두고 마주하면서 이동검사블록을 탄성지지하는 2개의 스프링이 설치되며,
상기 연마 검사부는 이동검사블록의 측면부에 고정되게 설치되어 이동검사블록과 함께 상기 두 스프링에 의해 탄성지지된 것을 특징으로 하는 용접 전극 검사장치.The method according to claim 1,
Wherein the movement inspection block is coupled to the guide shaft so as to move along a guide shaft extending in a direction parallel to the movement direction of the electrode tip, A plurality of springs are installed,
Wherein the abrasion testing unit is fixed to a side portion of the movement inspection block and is elastically supported by the two springs together with the movement inspection block. 청구항 1에 있어서,
상기 연마 검사부는,
상기 센서브라켓에 설치되며, 상기 제1,2반사면이 설치된 구멍으로 공기를 분사하여 제1,2반사면이나 그 주변의 이물질을 제거하는 공기세척수단;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 용접 전극 검사장치.The method according to claim 1,
The polishing-
And an air cleaning unit installed in the sensor bracket and spraying air through the holes provided with the first and second reflection surfaces to remove foreign matters on the first and second reflection surfaces and their surroundings. Inspection device. 청구항 1에 있어서,
상기 연마 검사부는,
상기 센서브라켓과 결합되어 센서브라켓을 지지하며, 상기 이동검사블록 또는 팁 드레서에 결합되는 연결브라켓을 더 포함하되,
상기 연결브라켓에는 제1,2반사면이 설치된 구멍이 외부로 노출되어 이물질이 유입되는 것을 방지하도록 차단하는 가림편이 더 형성된 것을 특징으로 하는 용접 전극 검사장치.The method according to claim 1,
The polishing-
And a connection bracket coupled to the sensor bracket for supporting the sensor bracket and coupled to the movement test block or the tip dresser,
Wherein the connection bracket is further provided with a shielding part for blocking the opening of the hole provided with the first and second reflection surfaces to the outside to prevent foreign matter from entering.
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