KR20160108628A - 부품 검사 장치 - Google Patents

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KR20160108628A
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Abstract

본 발명은 선형 이동 방식을 이용하여 작업 위치에 놓여진 부품의 위치를 정밀하게 조정함으로써 협소한 공간 내에서 검사를 할 수 있음과 동시에 부품 검사의 정확성을 높일 수 있는 부품 검사 장치를 개시한다. 본 발명의 부품 검사 장치는, 복수개의 일렬로 고정된 검사 영역 간에 복수개의 검사용 정밀 부품이 이동되며 검사받는 부품 검사 장치에 있어서, 검사용 부품이 상기 검사 영역 내에 진입함에 따라 성능 검사를 수행하고, 상기 검사용 부품의 상기 검사 영역에 대한 위치 정보를 생성하며, 생성된 상기 위치 정보를 출력하는 검사부; 상기 위치 정보를 입력받고, 입력된 상기 위치 정보에 따라 구동 신호를 생성하며, 생성된 상기 구동 신호를 출력하는 제어부; 및 상기 복수개의 검사용 부품 중 제1 검사용 부품이 안착되는 구조를 가지고, 상기 구동 신호를 입력받으며, 상기 구동 신호에 따라, 상기 제1 검사용 부품의 위치를 조정하여 상기 제1 검사용 부품을 상기 검사 영역 내에 정합하는 동작 및 상기 제1 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 동작을 수행하는 제1 선형동작부를 포함한다.

Description

부품 검사 장치{APPARATUS FOR TESTING COMPONENTS}
본 발명은 부품 검사 장치에 관한 것으로, 보다 자세하게는 선형 이동 방식을 이용하여 작업 위치에 놓여진 부품의 위치를 정밀하게 조정함으로써 협소한 공간 내에서 검사를 할 수 있음과 동시에 부품 검사의 정확성을 높일 수 있는 부품 검사 장치에 관한 것이다.
최근의 스마트 폰, 태블릿 PC 등의 모바일 디바이스에는 정밀 부품, 특히, 카메라 모듈이 장착되는 것이 일반적이며, 소비자의 요구에 부합하도록 초소형화, 고해상도 및 고화소화 되고 있는 실정이다.
카메라 모듈은 이미지센서가 장착된 하우징과 이미지센서의 전방에 장착된 렌즈로 구성되고, 렌즈와 이미지센서의 이격된 간격의 차이에 따라 이미지센서로 입력되는 화상의 선명도, 색감, 명암 등이 설정된다.
일반적으로 카메라 모듈의 해상도 검사를 포함한 다양한 검사는 카메라 모듈에서 해상도 차트를 촬영한 이미지를 기반으로 이루어진다. 따라서 카메라 모듈에서 해상도 차트를 촬영한 이미지 중심과 해상도 차트의 중심이 일치되지 않는 경우에는 검사의 신뢰성이 저하되므로 카메라 모듈에서 해상도 차트를 촬영한 이미지 중심과 해상도 차트의 중심을 일치시키는 것이 매우 중요하다.
도 1을 참조하면, 카메라 모듈에서 해상도 차트를 촬영한 이미지 중심과 해상도 차트의 중심을 일치시키기 위한 종래의 카메라 모듈 검사 장치는, 회전 트레이(10)와, 회전 트레이(10)의 일단에 결합된 카메라 모듈이 장착되는 안착 지그(12)와, 안착 지그(12)의 위치를 조정할 수 있는 정렬 지그(14)로 이루어졌다.
즉, 광원부(미도시)를 고정시키고, 안착 지그(12)에 카메라 모듈을 안착시킨 다음 정렬 지그(14)를 통해 안착 지그(12)의 위치를 조정함으로써 카메라 모듈에서 해상도 차트를 촬영한 이미지 중심과 해상도 차트의 중심을 일치시켰다.
하지만 종래의 카메라 모듈 검사 장치는 회전 이동 방식을 채택함으로써 단순히 작업 영역을 공유할 수는 있으나 정밀한 위치 정합 동작 및 개별 위치에 대한 보정이 어려운 문제점이 있었다. 또한 회전 트레이가 설치되어야 하므로 검사 장치가 점유하는 공간이 비교적 크다는 문제점이 있었다.
본 발명의 목적은 상기 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여, 선형 이동 방식을 이용하여 작업 위치에 놓여진 부품의 위치를 정밀하게 조정함으로써 협소한 공간 내에서 검사를 할 수 있음과 동시에 부품 검사의 정확성을 높일 수 있는 부품 검사 장치를 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 부품 검사 장치는, 복수개의 일렬로 고정된 검사 영역 간에 복수개의 검사용 정밀 부품이 이동되며 검사받는 부품 검사 장치에 있어서, 검사용 부품이 상기 검사 영역 내에 진입함에 따라 성능 검사를 수행하고, 상기 검사용 부품의 상기 검사 영역에 대한 위치 정보를 생성하며, 생성된 상기 위치 정보를 출력하는 검사부; 상기 위치 정보를 입력받고, 입력된 상기 위치 정보에 따라 구동 신호를 생성하며, 생성된 상기 구동 신호를 출력하는 제어부; 및 상기 복수개의 검사용 부품 중 제1 검사용 부품이 안착되는 구조를 가지고, 상기 구동 신호를 입력받으며, 상기 구동 신호에 따라, 상기 제1 검사용 부품의 위치를 조정하여 상기 제1 검사용 부품을 상기 검사 영역 내에 정합하는 동작 및 상기 제1 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 동작을 수행하는 제1 선형동작부를 포함한다.
상기 제1 선형동작부는, 상기 구동 신호에 따라 상기 제1 검사용 부품의 경사도 또는 회전을 조정하는 제1 회전 조정부; 상기 구동 신호에 따라 상기 제1 검사용 부품을 X방향, Y방향 또는 Z방향으로 이동시키는 제1 거리 조정부; 및 상기 구동 신호에 따라 상기 제1 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 제1 선형이동부를 포함할 수 있다.
상기 검사부는, 상기 검사 영역에 촬상 영역을 제공하고, 상기 촬상 영역에 관한 촬상 정보를 획득하는 촬상 정보 수집부; 및 상기 촬상 정보를 입력받고, 상기 촬상 정보를 이용하여 상기 검사용 부품의 상기 검사 영역에 대한 상기 위치 정보를 생성하는 위치 정보 생성부를 포함할 수 있다.
상기 본 발명의 부품 검사 장치는, 상기 복수개의 검사용 부품 중 상기 제1 검사용 부품과는 다른 제2 검사용 부품이 안착되는 구조를 가지고, 상기 구동 신호를 입력받으며, 상기 구동 신호에 따라, 상기 제2 검사용 부품의 위치를 조정하여 상기 제2 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 중 상기 제1 검사용 부품이 위치한 검사 영역과는 다른 검사 영역 내에 정합하는 동작 및 상기 제2 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 동작을 수행하는 제2 선형동작부를 더 포함할 수 있다.
상기 제2 선형동작부는, 상기 구동 신호에 따라 상기 제2 검사용 부품의 경사도 또는 회전을 조정하는 제2 회전 조정부; 상기 구동 신호에 따라 상기 제2 검사용 부품을 X방향, Y방향 또는 Z방향으로 이동시키는 제2 거리 조정부; 및 상기 구동 신호에 따라 상기 제2 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 제2 선형이동부를 포함할 수 있다.
상기 제1 선형이동부는, 상기 구동 신호에 따라 상기 복수개의 검사 영역 중 마지막 검사 영역으로부터 첫 번째 검사 영역으로 이동하는 경우에, 상기 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로에 대하여 직각인 제1 직각 방향으로 상기 제1 검사용 부품이 상기 마지막 검사 영역을 이탈할 때까지 이동하고, 상기 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로와 반대 방향으로 상기 첫 번째 검사 영역의 측면에 이르기까지 이동하며, 상기 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로에 대하여 상기 제1 직각 방향과 반대인 제2 직각 방향으로 상기 제1 검사용 부품이 상기 첫 번째 검사 영역에 진입할 때까지 이동하는 것이 바람직하다.
상기 제2 선형이동부는, 상기 구동 신호에 따라 상기 복수개의 검사 영역 중 마지막 검사 영역으로부터 첫 번째 검사 영역으로 이동하는 경우에, 상기 제2 직각 방향으로 상기 제2 검사용 부품이 상기 마지막 검사 영역을 이탈할 때까지 이동하고, 상기 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로와 반대 방향으로 상기 첫 번째 검사 영역의 측면에 이르기까지 이동하며, 상기 제1 직각 방향으로 상기 제2 검사용 부품이 상기 첫 번째 검사 영역에 진입할 때까지 이동하는 것이 바람직하다.
상기 제1 선형 이동부는, 첫 번째 검사 영역부터 순차적으로 마지막 검사 영역인 N - N은 자연수 - 번째 검사 영역까지 이동하고, N번째 검사 영역에서 다시 첫 번째 검사 영역으로 이동하는 방식에 따라 순환적으로 이동하는 것이 바람직하다.
상기 제2 선형 이동부는, 상기 제1 선형이동부에 관련된 검사 영역의 직전 검사 영역에 상기 제1 선형이동부에 뒤이어 이동하는 방식으로, 첫 번째 검사 영역부터 순차적으로 마지막 검사 영역인 N - N은 자연수 - 번째 검사 영역까지 이동하고, N번째 검사 영역에서 다시 첫 번째 검사 영역으로 이동하는 방식에 따라 순환적으로 이동하는 것이 바람직하다.
본 발명은 선형 이동 방식을 이용하여 작업 위치에 놓여진 부품의 위치를 정밀하게 조정함으로써 종래의 원판형 무한회전 인덱스 테이블을 제거하는 것이 가능하며, 원판형 인덱스 테이블이 제거됨에 따라 부품 검사 장치의 소형화 및 경제성이 향상되는 효과를 갖는다.
또한 회전 이동 방식이 아닌 선형 이동 방식을 이용함으로써 회전 운동에 의한 각도 오차에 따른 부품 위치의 부정확성을 개선하는 효과를 갖는다.
도 1은 종래의 부품 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 검사 장치의 구조를 도시한 도면이다.
도 4는 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제1 선형 동작부를 상세하게 도시한 도면이다.
도 5a는 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제1 선형 동작부의 구조를 상부에서 바라본 도면이다.
도 5b는 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제1 선형 동작부의 구조의 단면을 도시한 도면이다.
도 6은 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 검사부를 상세하게 도시한 도면이다.
도 7은 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제2 선형 동작부를 상세하게 도시한 도면이다.
개시된 기술에 관한 설명은 구조적 내지 기능적 설명을 위한 실시예에 불과하므로, 개시된 기술의 권리범위는 본문에 설명된 실시예에 의하여 제한되는 것으로 해석되어서는 아니 된다. 즉, 실시예는 다양한 변경이 가능하고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로 개시된 기술의 권리범위는 기술적 사상을 실현할 수 있는 균등물들을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
한편, 본 출원에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다.
“제1”, “제2” 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다. 예를 들어, 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결될 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 한편, 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 실시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
각 단계들은 문맥상 명백하게 특정 순서를 기재하지 않은 이상 명기된 순서와 다르게 일어날 수 있다. 즉, 각 단계들은 명기된 순서와 동일하게 일어날 수도 있고 실질적으로 동시에 수행될 수도 있으며 반대의 순서대로 수행될 수도 있다.
여기서 사용되는 모든 용어들은 다르게 정의되지 않는 한, 개시된 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미를 지니는 것으로 해석될 수 없다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 검사 장치를 도시한 도면이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 검사 장치의 구조를 도시한 도면이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 검사 장치는 검사부(100), 제어부(200), 제1 선형 동작부(300) 및 제2 선형 동작부(400)를 포함한다.
검사부(100)는, 검사용 부품이 검사 영역 내에 진입함에 따라 성능 검사를 수행하고, 검사용 부품의 검사 영역에 대한 위치 정보를 생성하며, 생성된 위치 정보를 제어부(200)로 출력한다. 여기서, 검사용 부품은 정밀 부품, 특히, 카메라 모듈인 것이 바람직하고, 검사 영역은 복수개의 영역으로 구비되며, 검사 영역 내에 검사용 부품이 들어오면 검사부(100)가 검사 동작을 수행하게 된다.
또한, 제어부(200)는, 검사부(100)로부터 위치 정보를 입력받고, 입력된 위치 정보에 따라 구동 신호를 생성하며, 생성된 구동 신호를 제1 선형 동작부(300) 및 제2 선형 동작부(400)로 출력한다. 즉, 제어부(200)는 입력된 위치 정보에 따라 초소형 부품의 작업 위치 값의 오차를 0에 가깝게 조정하기 위한 구동 신호를 생성하여 출력하게 되고, 이러한 구동 신호에 따라 제1 선형 동작부(300) 및 제2 선형 동작부(400)가 초소형 부품의 작업 위치를 정렬하게 된다.
한편, 제1 선형동작부(300)는, 복수개의 검사용 부품 중 제1 검사용 부품이 안착되는 구조를 가지고, 제어부(200)로부터 구동 신호를 입력받으며, 입력된 구동 신호에 따라, 제1 검사용 부품의 위치를 조정하여 제1 검사용 부품을 검사 영역 내에 정합하는 동작 및 제1 검사용 부품을 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 동작을 수행한다. 즉, 제1 선형동작부(300)는, 초소형 부품을 안착한 채로 복수개의 작업 영역 간을 선형으로 이동함으로써 회전 동작에 따른 원형 이동 시에 비하여 작업 영역 진입 시 오차가 작아지게 된다. 다시 말하면, 2개 이상의 검사 영역에서 검사를 진행하는 경우에, 검사 영역의 개수가 많아질수록 검사 장치의 회전판이 커지게 되고 이에 따라 회전 반경 또한 증가하므로 회전 각도의 작은 오차가 있어도 위치 정렬에 있어서는 큰 오차가 발생하게 되나, 본 발명의 제1 선형동작부(300)는 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동하므로, 검사 영역의 개수의 증가가 있더라도 초소형 부품의 위치 정렬에 있어서 오차 증가를 수반하지 않게 된다.
또한, 제2 선형동작부(400)는, 복수개의 검사용 부품 중 제1 검사용 부품과는 다른 제2 검사용 부품이 안착되는 구조를 가지고, 제어부(200)로부터 구동 신호를 입력받으며, 입력받은 구동 신호에 따라, 제2 검사용 부품의 위치를 조정하여 제2 검사용 부품을 복수개의 검사 영역 중 제1 검사용 부품이 위치한 검사 영역과는 다른 검사 영역 내에 정합하는 동작 및 제2 검사용 부품을 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 동작을 수행한다. 즉, 제1 선형동작부(300) 및 제2 선형동작부(400)는, 각각 초소형 부품을 한 개씩 안착하고 서로 다른 검사 영역 내에 각자의 초소형 부품을 이동시킬 수 있다. 이 때, 복수개의 검사용 부품 중 제1 검사용 부품과는 다른 제2 검사용 부품의 의미는, 제1 검사용 부품과 제2 검사용 부품이 다른 종류라는 의미가 아니라, 제1 검사용 부품과 제2 검사용 부품이 별개의 부품으로써 각각 제1 선형동작부(300) 및 제2 선형동작부(400)에 한 개씩 안착된다는 의미이다. 물론, 제1 검사용 부품과 제2 검사용 부품이 서로 다른 종류의 초소형 부품이어도 무방하다. 또한, 제1 선형동작부(300) 및 제2 선형동작부(400)는, 초소형 부품으로써 카메라 모듈이 안착되는 경우에는 트레이 상부에 카메라 모듈이 안착되는 안착 지그를 구비하는 것이 바람직하다.
도 4는 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제1 선형 동작부(300)를 상세하게 도시한 도면이고, 도 5a 및 도 5b는 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제1 선형 동작부(300)의 구조를 도시한 도면이다.
도 4 및 도 5a 및 도 5b에 의하면, 본 발명의 부품 검사 장치를 구성하는 제1 선형 동작부(300)는, 제1 회전 조정부(310), 제1 거리 조정부(320) 및 제1 선형 이동부(330)를 포함한다. 이 때, 도 5a는 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제1 선형 동작부(300)의 구조를 상부에서 바라본 도면이고, 도 5b는 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제1 선형 동작부(300)의 구조의 단면을 도시한 도면으로, 각 구조의 배치에 대한 도시는 이해를 돕기 위한 개략도로서 각 구성요소의 종횡적 배치 가능한 일례를 나타낼 뿐으로 이에 한정되지 않는다.
제1 회전 조정부(310)는, 제어부(200)로부터 구동 신호를 입력받고, 입력된 구동 신호에 따라 제1 검사용 부품의 경사도 또는 회전을 조정한다. 즉, 제1 회전 조정부(310)는, Y방향의 경사를 조정하는 Y경사 조정 모터(311), X방향의 경사를 조정하는 X경사 조정 모터(312) 및 회전 동작을 수행하는 제1 회전 모터(313a) 및 제2 회전 모터(313b)를 구비하고, 제어부(200)(도 5a 및 도 5b에는 미도시)에서 입력된 구동 신호에 따라 제1 검사용 부품이 검사 영역 내에 정확히 정렬될 수 있도록 Y경사 조정 모터(311), X경사 조정 모터(312), 제1 회전 모터(313a) 및 제2 회전 모터(313b)를 구동한다. 이 때, 제1 회전 조정부(310)내 각각의 모터의 개수는 추가될 수도 있고, 감소할 수도 있으며, 편의상 모터의 신호 입출력 관계는 도 5a 및 도 5b에 도시되지 않았다.
또한, 제1 거리 조정부(320)는 제어부(200)로부터 입력받은 구동 신호에 따라 제1 검사용 부품을 X방향, Y방향 또는 Z방향으로 이동시킨다. 즉, 제1 거리 조정부(320)는 X방향 및 Y방향의 거리를 조정하는 XY방향 모터(321), X방향의 거리를 조정하는 X방향 모터(322), 및 Z방향의 거리를 조정하는 2개의 Z방향 모터(323a, 323b)를 구비하고, 제어부(200)(도 5b에는 미도시)에서 입력된 구동 신호에 따라 제1 검사용 부품이 검사 영역 내에 정확히 정렬될 수 있도록 XY방향 모터(321), X방향 모터(322) 및 2개의 Z방향 모터(323a, 323b)를 구동한다. 이 때, 제1 거리 조정부(320)내 각각의 모터의 개수는 추가될 수도 있고, 감소할 수도 있으며, XY방향 모터는 X방향 모터와 Y방향 모터로 분리되어 구현될 수도 있으며, 편의상 모터의 신호 입출력 관계는 도 5b에 도시되지 않았다.
한편, 제1 선형이동부(330)는, 제어부(200)로부터 입력받은 구동 신호에 따라 제1 검사용 부품을 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동한다. 이 때, 제1 선형이동부(330)는, 제1 거리 조정부(320)를 기준으로 Y방향으로 선형 이동하는 데, 전진 이동 뿐 아니라 후진 이동도 수행할 수 있으며, 이에 따라 무한 순환 방식의 작업을 수행할 수 있도록 한다.
도 6은 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 검사부(100)를 상세하게 도시한 도면이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 검사부(100)는, 촬상 정보 수집부(110) 및 위치 정보 생성부(120)를 포함한다.
촬상 정보 수집부(110)는, 검사 영역에 촬상 영역을 제공하고, 촬상 영역에 관한 촬상 정보를 획득한다. 이 때, 촬상 정보 수집부(110)가 제공하는 촬상 영역은, 검사용 부품이 카메라 모듈인 경우 해상도 차트(미도시)인 것이 바람직하고, 차트에 다양한 형상이 표시될 수 있으며, 안착 지그(미도시)에 부착되는 카메라 모듈에 의해 촬영될 수 있도록 배치되는 것이 바람직하다. 한편, 촬상 정보 수집부(110)에 의하여 획득되는 촬상 정보는, 검사용 부품인 카메라 모듈에 의하여 촬영된 해상도 차트의 영상 정보일 수 있다.
또한, 위치 정보 생성부(120)는, 촬상 정보 수집부(110)로부터 촬상 정보를 입력받고, 촬상 정보를 이용하여 검사용 부품의 검사 영역에 대한 위치 정보를 생성하며, 생성된 위치 정보를 제어부(200)로 출력한다. 즉, 위치 정보 생성부(120)가 생성하는 위치 정보는, 검사용 부품이 카메라 모듈인 경우에, 안착 지그(미도시)에 부착되는 카메라 모듈에 의해 해상도 차트를 촬영한 이미지 중심과 해상도 차트의 이미지 중심의 차이를 제어부(200)가 인식하게 하고, 제어부(200)가 해상도 차트를 촬영한 이미지 중심과 해상도 차트의 이미지 중심을 일치시키는 방향으로 구동 신호를 생성할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
도 7은 도 2의 부품 검사 장치를 구성하는 제2 선형 동작부(400)를 상세하게 도시한 도면이다.
도 7에 의하면, 본 발명의 부품 검사 장치를 구성하는 제2 선형 동작부(400)는, 제2 회전 조정부(410), 제2 거리 조정부(420) 및 제2 선형 이동부(430)를 포함한다.
제2 회전 조정부(410)는, 제어부(200)로부터 구동 신호를 입력받고, 입력된 구동 신호에 따라 제2 검사용 부품의 경사도 또는 회전을 조정한다. 여기서, 제2 회전 조정부(410)의 상세 구조는 제1 회전 조정부(310)와 유사하므로 그 설명은 생략한다.
또한, 제2 거리 조정부(420)는 제어부(200)로부터 입력받은 구동 신호에 따라 제2 검사용 부품을 X방향, Y방향 또는 Z방향으로 이동시킨다. 여기서, 제2 거리 조정부(420)의 상세 구조는 제1 거리 조정부(320)와 유사하므로 그 설명은 생략한다.
한편, 제2 선형이동부(430)는, 제어부(200)로부터 입력받은 구동 신호에 따라 제2 검사용 부품을 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동한다. 이 때, 제2 선형이동부(430)는, 제2 거리 조정부(420)를 기준으로 Y방향으로 선형 이동하는 데, 전진 이동 뿐 아니라 후진 이동도 수행할 수 있으며, 이에 따라 무한 순환 방식의 작업을 수행할 수 있도록 한다.
도 2 내지 도 7에 의하여 본 발명의 일 실시예에 의한 제1 선형 이동부(330) 및 제2 선형 이동부(430)의 동작에 대하여 설명하면 하기와 같다.
제1 선형이동부(330)는, 제어부(200)로부터 입력받은 구동 신호에 따라 복수개의 검사 영역(510, 520, 530) 중 마지막 검사 영역(520)으로부터 첫 번째 검사 영역(530)으로 이동하는 경우에, 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로(610)에 대하여 직각인 제1 직각 방향(620)으로 제1 검사용 부품이 마지막 검사 영역(520)을 이탈할 때까지 마지막 검사 영역에서 멀어지는 방향(620)으로 이동하고, 복수개의 검사 영역(510, 520, 530) 간을 선형으로 이동한 경로(610)와 반대 방향(630)으로 첫 번째 검사 영역(530)의 측면에 이르기까지 이동하며, 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로(610)에 대하여 제1 직각 방향(620)과 반대인 제2 직각 방향(640)으로 제1 검사용 부품이 첫 번째 검사 영역(530)에 진입할 때까지 첫 번째 검사 영역(530)에 가까워지는 방향으로 이동하게 된다.
한편, 제2 선형이동부(430)는, 제어부(200)로부터 입력받은 구동 신호에 따라 복수개의 검사 영역(510, 520, 530) 중 마지막 검사 영역(520)으로부터 첫 번째 검사 영역(530)으로 이동하는 경우에, 제2 직각 방향(640)으로 제2 검사용 부품이 마지막 검사 영역(520)을 이탈할 때까지 마지막 검사 영역(520)에서 멀어지는 방향(640)으로 이동하고, 복수개의 검사 영역(510, 520, 530) 간을 선형으로 이동한 경로(610)와 반대 방향(630)으로 첫 번째 검사 영역(530)의 측면에 이르기까지 이동하며, 제1 직각 방향(620)으로 제2 검사용 부품이 첫 번째 검사 영역(530)에 진입할 때까지 첫 번째 검사 영역(530)에 가까워지는 방향(620)으로 이동한다.
이 때, 검사 영역이 2개인 경우에는, 제1 선형이동부(330)가 제1 직각 방향(620)으로 제1 검사용 부품이 마지막 검사 영역(520)을 이탈할 때까지 마지막 검사 영역에서 멀어지는 방향(620)으로 이동한 후, 제2 선형이동부(430)가 마지막 검사 영역에서 첫 번째 검사 영역으로 이동할 때에는 제2 직각 방향(640)으로 이동할 필요 없이 형으로 이동한 경로(610)와 반대 방향(630)으로 후진하는 방식으로 이동하는 것도 가능하다.
즉, 제1 선형 이동부(330)는, 첫 번째 검사 영역(530)부터 순차적으로 그 다음 검사 영역(510)을 거쳐 마지막 검사 영역인 N(N은 자연수)번째 검사 영역(520)까지 이동하고(도 3에는 3개의 검사 영역 만 도시되어 있으나, N개까지 확장 가능), N번째 검사 영역(520)에서 다시 첫 번째 검사 영역(530)으로 이동하는 방식에 따라 순환적으로 이동하게 된다.
한편, 제2 선형 이동부(430)는, 제1 선형 이동부(330)에 관련된 검사 영역의 직전 검사 영역에 제1 선형 이동부(330)에 뒤이어 이동하는 방식으로, 첫 번째 검사 영역(530)부터 순차적으로 그 다음 검사 영역(510)을 거쳐 마지막 검사 영역인 N(N은 자연수)번째 검사 영역(520)까지 이동하고, N번째 검사 영역(520)에서 다시 첫 번째 검사 영역(530)으로 이동하는 방식에 따라 순환적으로 이동하게 된다.
이러한 개시된 기술인 방법 및 장치는 이해를 돕기 위하여 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 개시된 기술의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.
10: 회전 트레이
12: 안착 지그
14: 정렬 지그
100: 검사부
110: 촬상 정보 수집부
120: 위치 정보 생성부
200: 제어부
300: 제1 선형 동작부
310: 제1 회전 조정부
311: Y경사 조정 모터
312: X경사 조정 모터
313a: 제1 회전 모터
313b: 제2 회전 모터
320: 제1 거리 조정부
321: XY방향 모터
322: X방향 모터
323a, 323b: Z방향 모터
330: 제1 선형 이동부
400: 제2 선형 동작부
410: 제2 회전 조정부
420: 제2 거리 조정부
430: 제2 선형 이동부
510, 520, 530: 검사 영역
610, 620, 630, 640: 이동 방향

Claims (9)

  1. 복수개의 일렬로 고정된 검사 영역 간에 복수개의 검사용 정밀 부품이 이동되며 검사받는 부품 검사 장치에 있어서,
    검사용 부품이 상기 검사 영역 내에 진입함에 따라 성능 검사를 수행하고, 상기 검사용 부품의 상기 검사 영역에 대한 위치 정보를 생성하며, 생성된 상기 위치 정보를 출력하는 검사부;
    상기 위치 정보를 입력받고, 입력된 상기 위치 정보에 따라 구동 신호를 생성하며, 생성된 상기 구동 신호를 출력하는 제어부; 및
    상기 복수개의 검사용 부품 중 제1 검사용 부품이 안착되는 구조를 가지고, 상기 구동 신호를 입력받으며, 상기 구동 신호에 따라, 상기 제1 검사용 부품의 위치를 조정하여 상기 제1 검사용 부품을 상기 검사 영역 내에 정합하는 동작 및 상기 제1 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 동작을 수행하는 제1 선형동작부를 포함하는 부품 검사 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 제1 선형동작부는,
    상기 구동 신호에 따라 상기 제1 검사용 부품의 경사도 또는 회전을 조정하는 제1 회전 조정부;
    상기 구동 신호에 따라 상기 제1 검사용 부품을 X방향, Y방향 또는 Z방향으로 이동시키는 제1 거리 조정부; 및
    상기 구동 신호에 따라 상기 제1 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 제1 선형이동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 부품 검사 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 검사부는,
    상기 검사 영역에 촬상 영역을 제공하고, 상기 촬상 영역에 관한 촬상 정보를 획득하는 촬상 정보 수집부; 및
    상기 촬상 정보를 입력받고, 상기 촬상 정보를 이용하여 상기 검사용 부품의 상기 검사 영역에 대한 상기 위치 정보를 생성하는 위치 정보 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 부품 검사 장치.
  4. 청구항 2에 있어서,
    상기 복수개의 검사용 부품 중 상기 제1 검사용 부품과는 다른 제2 검사용 부품이 안착되는 구조를 가지고, 상기 구동 신호를 입력받으며, 상기 구동 신호에 따라, 상기 제2 검사용 부품의 위치를 조정하여 상기 제2 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 중 상기 제1 검사용 부품이 위치한 검사 영역과는 다른 검사 영역 내에 정합하는 동작 및 상기 제2 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 동작을 수행하는 제2 선형동작부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 부품 검사 장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 제2 선형동작부는,
    상기 구동 신호에 따라 상기 제2 검사용 부품의 경사도 또는 회전을 조정하는 제2 회전 조정부;
    상기 구동 신호에 따라 상기 제2 검사용 부품을 X방향, Y방향 또는 Z방향으로 이동시키는 제2 거리 조정부; 및
    상기 구동 신호에 따라 상기 제2 검사용 부품을 상기 복수개의 검사 영역 간에 선형으로 이동하는 제2 선형이동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 부품 검사 장치.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 제1 선형이동부는, 상기 구동 신호에 따라 상기 복수개의 검사 영역 중 마지막 검사 영역으로부터 첫 번째 검사 영역으로 이동하는 경우에, 상기 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로에 대하여 직각인 제1 직각 방향으로 상기 제1 검사용 부품이 상기 마지막 검사 영역을 이탈할 때까지 이동하고, 상기 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로와 반대 방향으로 상기 첫 번째 검사 영역의 측면에 이르기까지 이동하며, 상기 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로에 대하여 상기 제1 직각 방향과 반대인 제2 직각 방향으로 상기 제1 검사용 부품이 상기 첫 번째 검사 영역에 진입할 때까지 이동하는 것을 특징으로 하는 부품 검사 장치.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 제2 선형이동부는, 상기 구동 신호에 따라 상기 복수개의 검사 영역 중 마지막 검사 영역으로부터 첫 번째 검사 영역으로 이동하는 경우에, 상기 제2 직각 방향으로 상기 제2 검사용 부품이 상기 마지막 검사 영역을 이탈할 때까지 이동하고, 상기 복수개의 검사 영역 간을 선형으로 이동한 경로와 반대 방향으로 상기 첫 번째 검사 영역의 측면에 이르기까지 이동하며, 상기 제1 직각 방향으로 상기 제2 검사용 부품이 상기 첫 번째 검사 영역에 진입할 때까지 이동하는 것을 특징으로 하는 부품 검사 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 제1 선형이동부는, 첫 번째 검사 영역부터 순차적으로 마지막 검사 영역인 N - N은 자연수 - 번째 검사 영역까지 이동하고, N번째 검사 영역에서 다시 첫 번째 검사 영역으로 이동하는 방식에 따라 순환적으로 이동하는 것을 특징으로 하는 부품 검사 장치.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 제2 선형이동부는, 상기 제1 선형이동부에 관련된 검사 영역의 직전 검사 영역에 상기 제1 선형이동부에 뒤이어 이동하는 방식으로, 첫 번째 검사 영역부터 순차적으로 마지막 검사 영역인 N - N은 자연수 - 번째 검사 영역까지 이동하고, N번째 검사 영역에서 다시 첫 번째 검사 영역으로 이동하는 방식에 따라 순환적으로 이동하는 것을 특징으로 하는 부품 검사 장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108668519A (zh) * 2018-06-20 2018-10-16 深圳市鑫信腾科技有限公司 一种转盘式多工位检测设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100924116B1 (ko) * 2009-07-15 2009-10-29 김대봉 카메라 모듈 완성품의 검사 장치 및 방법
KR20100100533A (ko) * 2009-03-06 2010-09-15 (주)알티에스 전자부품 검사장치
KR20120034369A (ko) * 2010-10-01 2012-04-12 한국영상기술(주) 고속 부품 검사 장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100100533A (ko) * 2009-03-06 2010-09-15 (주)알티에스 전자부품 검사장치
KR100924116B1 (ko) * 2009-07-15 2009-10-29 김대봉 카메라 모듈 완성품의 검사 장치 및 방법
KR20120034369A (ko) * 2010-10-01 2012-04-12 한국영상기술(주) 고속 부품 검사 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108668519A (zh) * 2018-06-20 2018-10-16 深圳市鑫信腾科技有限公司 一种转盘式多工位检测设备

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