KR20160101099A

KR20160101099A - 검사 스트립 커넥터 접점 보호

Info

Publication number: KR20160101099A
Application number: KR1020167019396A
Authority: KR
Inventors: 데이비드 엘더; 스티븐 셋포드; 앨런 폴크너; 라이언 월쉬
Original assignee: 시락 게엠베하 인터내셔날
Priority date: 2013-12-23
Filing date: 2014-12-22
Publication date: 2016-08-24
Also published as: AU2014370088A1; CN105848579A; RU2016130097A3; JP2017502281A; RU2016130097A; AU2014370088B2; CA2934613A1; JP6562924B2; WO2015100200A1; US9575051B2; US20150177174A1; EP3086712A1; CA2934613C

Abstract

검사 측정기의 검사 스트립 포트 커넥터(200, 300, 400)는 유체 샘플을 수용하기 위한 샘플 챔버를 포함하는 분석 검사 스트립(206, 406)을 수용한다. 검사 스트립을 가로질러 밀봉 위치로 이동되도록 구성된 시일(203, 205, 403)을 갖는 밀봉 기구에 의해, 유체 샘플이 검사 스트립 포트 커넥터의 내부 구역을 오염시키는 것이 방지된다.

Description

검사 스트립 커넥터 접점 보호{TEST STRIP CONNECTOR CONTACT PROTECTION}

우선권

본 국제특허 출원은 2013년 12월 23일자로 출원된 선행 출원인 미국 특허 출원 제14/138,730호에 대한 파리 조약 및 35 USC §119 하의 우선권의 이익을 주장하며, 이 선행 출원은 본 명세서에 참고로 포함된다.

본 출원은 일반적으로 분석물(analyte) 측정 시스템의 분야에 관한 것이고, 보다 구체적으로 샘플 유체 및 다른 오염물의 침투를 방지하기 위한 시일 가드(seal guard)를 포함하는 검사 측정기(test meter)에 관한 것이다.

혈액 내 포도당의 결정으로 예시되는 바와 같이 생물학적 유체 내의 분석물을 측정하는 시스템은 전형적으로, 통상 분석 검사 스트립(analytical test strip)의 형태로 바이오센서를 수용하도록 구성되는 검사 측정기를 포함한다. 이러한 측정 시스템들 중 많은 것이 휴대 가능하고, 검사가 짧은 시간량 안에 완료될 수 있기 때문에, 환자는 그의 개인 일상에 대한 현저한 방해 없이 그의 일상 생활의 통상적인 과정에서 그러한 장치를 사용할 수 있다. 예를 들어, 당뇨병을 가진 사람은 목표 범위 내에서의 그들의 혈당의 혈당 조절을 보장하기 위해 자가 관리 과정의 일부로서 하루에 몇 번 그들의 혈당 수준을 측정할 수 있다.

소량의 혈액 샘플에 기초하여 개인의 혈당 레벨을 측정할 수 있는 다수의 입수 가능한 휴대용 전자 장치들이 현재 존재한다. 검사 스트립이 측정기의 검사 스트립 포트 내로 삽입되는데, 검사 스트립 포트는 삽입된 검사 스트립과 기계적 및 전기적으로 맞닿는 검사 스트립 포트 커넥터를 포함한다. 샘플의 분석을 개시하기 위해, 개인이 랜싯(lancet) 또는 유사한 장치를 사용하여 그들의 손가락을 찌르고 검사 스트립 상으로 혈액 샘플을 제공하는 것이 요구된다. 검사 스트립들은 검사 스트립들의 작은 크기와 기하학적 구조 및 일부 사용자들에게 있어 손으로 다루는 데에 있어서의 한계로 인해 사용자들에 의해 조작되기에 종종 곤란할 수 있다. 사용자는 분석 시퀀스가 측정기에 의해 전자적으로 수행되는 샘플 챔버 내로 적용된 샘플이 들어가도록 검사 스트립의 특정 영역 상으로 샘플을 적절하게 적용할 필요가 있다. 측정기와 검사 스트립 사이의 전기 연결부가 깨끗하게 유지되고 샘플 유체와 같은 오염물에 의해 방해받지 않는 것이 중요하다. 샘플로부터 유체 간섭은 제공된 샘플의 분석물 농도를 전자 회로가 잘못 읽게 할 것이고 또한 검사 측정기의 작동 수명에 영향을 미칠 수 있다. 따라서, 적절한 전기적 맞닿음 및 검사 스트립과 분석물 측정기 사이의 통신은, 샘플 또는 다른 오염물로부터의 유체 침투가 검사 스트립 포트 커넥터를 통해 측정기 내로 들어가는 것이 방지된다면, 보장될 것이다. 따라서, 유체 침투를 차단 또는 달리 방지하는 특징부를 포함하는 검사 측정기를 제공하는 것이 유리할 것이다.

본 명세서에 포함되고 본 명세서의 일부를 구성하는 첨부 도면은 본 발명의 현재 바람직한 실시예를 예시하며, 위에서 주어진 개괄적인 설명 및 아래에서 주어지는 상세한 설명과 함께 본 발명의 특징부를 설명하는 역할을 한다(여기서, 동일한 도면 부호는 동일한 요소를 나타낸다).
도 1a는 검사 측정기 및 분석 검사 스트립을 포함하는, 예시적인 분석물 측정 시스템의 다이어그램.
도 1b는 도 1a의 검사 측정기의 예시적인 처리 시스템의 다이어그램.
도 2a 및 도 2b는 도 1a의 검사 측정기의 검사 스트립 포트 커넥터 내부로의 접근을 허용 및 거부하도록 선택적으로 개방 및 폐쇄되는 가동 부분을 포함하는, 검사 측정기의 예시적인 검사 스트립 포트 커넥터의, 단면으로 취해진, 각자의 측면도.
도 3a 및 도 3b는 도 1a의 검사 측정기의 검사 스트립 포트 커넥터의 내부로의 접근을 허용 및 거부하도록 선택적으로 개방 및 폐쇄되는 가동 부분을 갖는 검사 측정기의 다른 예시적인 검사 스트립 포트 커넥터의 각자의 측면도.
도 4a는 검사 측정기 하우징 내부에서 개별적으로 분배되는 검사 스트립들을 수용하기 위한 검사 스트립 포트 커넥터의 다른 실시예의 평면도.
도 4b는 도 4a의 검사 스트립 커넥터의 저부 부재의 상부 대면도(top facing view).
도 4c는 도 4a 및 도 4b의 검사 스트립 커넥터의 사시도.
도 5는 도 2a 내지 도 4c의 검사 스트립 포트 커넥터들을 갖는 검사 측정기에 의해 수행되는 예시적인 단계들의 흐름도.

하기의 설명은 분석물 검사 측정기에 관한 것이고, 더 구체적으로는 측정기 내로의 오염물의 침투를 방지하도록 유연성 시일 가드를 가지고 구성된 검사 스트립 커넥터에 관한 실시예가 상세히 논의된다. 후속하는 논의에 걸쳐, 첨부 도면에 관하여 적합한 기준틀을 제공하기 위하여 몇몇 용어가 사용된다. "상부", "저부", "제1", "제2", "위", "아래", "전방", "후방" 등을 포함할 수 있는 이들 용어는, 구체적으로 표현되는 곳을 제외하고는, 첨부된 청구범위를 포함한, 논의된 본 발명의 개념의 의도된 범주를 변경하도록 의도되지는 않는다. 후속하는 실시예는 혈당 측정 측정기 및 시스템에 특정되지만, 논의된 개념은 다른 시스템 및/또는 측정기에 적용 가능할 것이라는 점이 바로 명백할 것이다. 이와 관련하여, 상세한 설명은 도면을 참조하여 읽어야 하며, 도면에서 상이한 도면 내의 동일한 요소는 동일한 도면 부호로 지시된다. 반드시 축척대로 도시된 것이 아닌 도면은 선택된 실시예를 도시하고, 본 발명의 범주를 제한하는 것으로 의도되지 않는다. 상세한 설명은 본 발명의 원리를 제한이 아닌 예로서 예시한다. 이러한 설명은 명백하게 당업자가 본 발명을 제조 및 사용할 수 있게 할 것이고, 현재 본 발명을 실시하는 최선의 모드로 여겨지는 것을 비롯한, 본 발명의 몇몇 실시예, 개작, 변형, 대안 및 사용을 기술한다.

본 명세서에 사용되는 바와 같이, 용어 "환자" 또는 "사용자"는 임의의 사람 또는 동물 대상을 지칭하며, 본 시스템 또는 방법을 사람에 대한 용도로 제한하고자 하는 것은 아니지만, 사람 환자에 대한 본 발명의 사용이 바람직한 실시예를 나타낸다.

용어 "샘플"은 성분의 유무, 성분의 농도와 같은, 그의 특성들 중 임의의 것의 정성적 또는 정량적 결정을 받도록 의도되는 일정 체적의 액체, 용액 또는 현탁액, 예컨대 분석물 등을 의미한다. 본 발명의 실시예는 사람과 동물의 전혈 샘플에 적용 가능하다. 본 명세서에 기술된 바와 같은 본 발명의 맥락에서의 전형적인 샘플은 혈액, 혈장, 혈청, 그의 현탁액 및 헤마토크릿(haematocrit)을 포함한다.

설명 및 청구범위 전반에 걸쳐 수치 값과 관련하여 사용되는 용어 "약"은 당업자에게 익숙하고 허용 가능한 정확도의 구간을 나타낸다. 이 용어를 지배하는 구간은 바람직하게는 + 10%이다. 달리 명시되지 않는 한, 상기에 기술된 용어는 본 명세서에 기술된 바와 같은 그리고 청구범위에 따른 본 발명의 범주를 좁히도록 의도되지 않는다.

도 1a를 참고하면, 분석물 검사 측정기(10) 및 검사 측정기(10)와 함께 사용되는 검사 스트립(24)을 포함하는 분석물 측정 시스템(100)이 예시되어 있다. 분석물 검사 측정기(10)는 검사 스트립(24)의 일 단부를 수용하기 위한 검사 스트립 포트 개구(22)를 포함하는 하우징(11)에 의해 한정된다. 검사 스트립 포트 개구(22)에 근접한 하우징(11) 내부에는 본 명세서에서 기술되는 바와 같은 다양한 예시적인 실시예를 갖는 검사 스트립 포트 커넥터가 배치되어 있다. 검사 스트립 포트 커넥터는 내부에 삽입된 때의 검사 스트립(24)과 기계적 및 전기적으로 맞닿는다. 전술된 바와 같이 그리고 예시적인 실시예에 따르면, 분석물 검사 측정기(10)는 혈당 측정기이고, 검사 스트립은 혈당 측정을 수행하기 위해 검사 스트립 포트 개구(22) 내로 삽입될 수 있는 포도당 검사 스트립(24)의 형태로 제공된다. 분석물 측정기(10)는, 이러한 예시적인 실시예에 따라, 도 1a에 예시된 바와 같이, 하우징(11)의 전방을 향한 면 상에 각각 배치된 복수의 사용자 인터페이스 버튼들 또는 키패드(16) 및 디스플레이(14)뿐만 아니라, 하우징(11)의 저부를 향한 면 상에 그리고 검사 스트립 포트 개구(22)의 반대편에 배치된 데이터 포트(13)를 추가로 포함한다. 검사 측정기(10)의 전술한 특징부의 위치설정은 쉽게 변화될 수 있다. 미리 결정된 개수의 포도당 검사 스트립(24)들이 하우징(11) 내에 저장되고, 혈당 검사 시에 사용되도록 접근 가능하게 될 수 있다. 본 명세서에 설명된 일 실시예에서, 검사 스트립(24)들은 검사 스트립 포트 커넥터 내로 개별 검사 스트립(24)을 내부에서 분배하는 하우징(11) 내부의 분배기 내에 저장될 수 있다.

복수의 사용자 인터페이스 버튼(16)들은 데이터의 입력을 허용하고, 데이터의 출력을 프롬프트(prompt)하며, 디스플레이(14) 상에 제시되는 메뉴들을 탐색하고, 명령을 실행시키도록 구성될 수 있다. 출력 데이터는, 예를 들어 디스플레이(14) 상에 제시되는 분석물 농도를 나타내는 값들을 포함할 수 있다. 디스플레이(14) 상에 표시되는 프로그래밍된 프롬프트를 통해 사용자 입력이 요청될 수 있으며, 이에 대한 사용자의 응답은 명령 실행을 개시할 수 있거나 분석물 측정기(10)의 메모리 모듈 내에 저장될 수 있는 데이터를 포함할 수 있다. 구체적으로 그리고 이러한 예시적인 실시예에 따르면, 사용자 인터페이스 버튼(16)은, 사용자가 디스플레이(14) 상에 제시되는 사용자 인터페이스를 통해 탐색하는 것을 허용하는 마킹(marking), 예컨대 상향-하향 화살표, 텍스트 문자 "OK" 등을 포함한다. 본 명세서에서 버튼(16)이 별개의 스위치로 도시되지만, 가상 버튼을 가진 디스플레이(14) 상의 터치 스크린 인터페이스가 또한 이용될 수 있다. 디스플레이(14)는 활주식 디스플레이, 힌지식 디스플레에 또는 기울임식 디스플레이와 같은 가동형 디스플레이를 포함할 수 있다.

포도당 측정 시스템(100)의 전자 구성요소들은, 예를 들어 하우징(11) 내에 위치되는 인쇄 회로 기판 상에 배치되고, 본 명세서에 설명되는 시스템(100)의 데이터 관리 유닛(140)을 형성할 수 있다. 도 1b는 이 실시예의 목적을 위해 하우징(11) 내에 배치되는 전자 서브시스템(subsystem)들 중 몇몇을, 단순화된 개략적인 형태로 도시한다. 데이터 관리 유닛(140)은 마이크로프로세서, 칩셋의 형태에서와 같은 마이크로프로세서 블록, 마이크로컨트롤러, 주문형 집적회로(application specific integrated circuit, "ASIC"), 혼합 신호 프로세서(mixed signal processor, "MSP"), 필드 프로그램가능 게이트 어레이(field programmable gate array, "FPGA") 또는 이들의 조합의 형태인 처리 유닛(122)을 포함하고, 후술되는 바와 같이, 인쇄 회로 기판 상에 포함되거나 이에 연결되는 다양한 전자 모듈들에 전기적으로 연결된다.

본 예시적인 실시예에 따르면, 처리 유닛(122)은 검사 스트립 포트 개구(22)를 통해 접근 가능하고, AFE(analog front end) 서브시스템(125)에 의해 작동되는 검사 스트립 포트 커넥터(strip port connector, "SPC") 회로(104)에 전기적으로 연결된다. AFE 서브시스템(125)은 혈당 검사 동안에 SPC 회로(104)에 전기적으로 연결된다. 선택된 분석물 농도를 측정하기 위해, SPC 회로(104)는 일정전위기(potentiostat) 또는 트랜스임피던스 증폭기를 사용하여 샘플 챔버 내 위치되는 혈액 샘플을 갖는 분석물 검사 스트립(24)의 전극들을 가로질러 저항 또는 임피던스를 검출하고, 전류 측정치를, 전형적으로 데시리터당 밀리그램 또는 리터당 밀리몰(mg/dl 또는 mmol/l) 단위로, 디스플레이(14) 상에 제시하기 위한 디지털 형태로 변환시킨다. 처리 유닛(122)은 인터페이스(123) 상의 AFE 서브시스템(125)을 통해 SPC 회로(104)로부터 입력을 수신하도록 구성될 수 있으며, 또한 일정전위기 기능 및 전류 측정 기능의 일부를 수행할 수 있다.

이 실시예에 따른 분석물 검사 스트립(24)은 전기화학 셀 또는 샘플 챔버를 포함하는 포도당 검사 스트립의 형태이다. 검사 스트립(24)은 그 상에 하나 이상의 전극 또는 도전성 코팅이 침착될 수 있는 하나 이상의 비다공성의 비도전성 기재(substrate) 또는 층에 의해 한정된다. 이들 전극은 작동 전극, 기준 전극, 상대(counter) 전극, 또는 조합형 상대/기준 전극으로서 기능할 수 있다. 추가적인 비전도성 층은 전극의 구조물(들)의 평면 치수를 한정하도록 적용될 수 있다. 검사 스트립(24)은 또한 복수의 전기 접촉 패드들을 포함할 수 있으며, 여기서 각각의 전극은 적어도 하나의 전기 접촉 패드와 전기 연통 상태에 있을 수 있다. 스트립 포트 커넥터(104)는 가요성의 전도성 프롱들의 형태의 전기 접촉부들을 사용하여 전기 접촉 패드들에 전기적으로 인터페이싱하고 전극들과의 그리고 이에 의해 전기화학 셀과의 전기적 연통을 형성하도록 구성될 수 있다. 검사 스트립(24)은 작동 전극을 포함한, 검사 스트립(24) 내의 하나 이상의 전극들 위에 배치된 시약 층을 추가로 포함한다. 시약 층은 효소 및 매개체를 포함할 수 있다. 시약 층에 사용하기에 적합한 예시적인 효소는 포도당 산화 효소, (피롤로퀴놀린 퀴논 보조-인자("PQQ")를 가진) 포도당 탈수소 효소, 및 (플라빈 아데닌 다이뉴클레오티드 보조-인자("FAD")를 가진) 포도당 탈수소 효소를 포함한다. 포도당을 결정하는 데 사용되는 것 외의 효소, 예를 들어 락트산을 위한 락트산 탈수소효소, β-하이드록시부티레이트(케톤체)를 위한 β-하이드록시부티레이트 탈수소효소가 또한 적용 가능하다. 시약 층에 사용하기에 적합한 예시적인 매개체는, 이러한 경우에 산화된 형태인 페리시안화물을 포함한다. 원하는 스트립 동작 특성에 따라 다른 매개체, 예를 들어, 페로센, 퀴논 또는 오스뮴-기반 매개체가 동등하게 적용 가능할 수 있다. 시약 층은 포도당을 효소 부산물로 물리적으로 변환시키고 이 과정에서 포도당 농도에 비례하는 소정 양의 환원된 매개 물질(예컨대, 페로시안화물)을 생성하도록 구성될 수 있다. 그리고 나서, 작동 전극은 환원된 매개체의 농도를 전류 크기의 형태로 측정하는 데 사용될 수 있다. 이어서, 마이크로컨트롤러(122)는 전류 크기를, 수치 값(mg/dl 또는 mmol/l 단위)이 디스플레이(14) 상에 제시될 수 있는 포도당 농도로 변환시킬 수 있다. 다른 검사 스트립 및 측정기 상세 사항을 포함하는 예시적인 분석물 시스템을, 마치 본 출원 내에 완전히 기재된 것처럼 본 명세서에 참고로 포함된, 발명의 명칭이 "샘플 내의 분석물을 측정하기 위한 시스템 및 방법(System and Method for Measuring an Analyte in a Sample)"인 미국 특허 출원 공개 제2009/0301899 A1호에서 찾아 볼 수 있다.

여전히 도 1b를 참조하면, 디스플레이 프로세서 및 디스플레이 버퍼를 포함할 수 있는 디스플레이 모듈(119)은, 출력 데이터를 수신하여 표시하기 위한 그리고 처리 유닛(122)의 제어 하에서 사용자 인터페이스 입력 옵션들을 표시하기 위한 통신 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다. 그러한 메뉴 옵션과 같은 사용자 인터페이스의 구조는 사용자 인터페이스 모듈(103)에 저장되고, 혈당 측정 시스템(100)의 사용자에게 메뉴 옵션을 제시하기 위해 처리 유닛(122)에 의해 액세스 가능하다. 오디오 모듈(120)이 DMU(140)에 의해 수신되거나 저장된 오디오 데이터를 출력하기 위한 스피커(121)를 포함한다. 오디오 출력은 예를 들어 통지(notification), 리마인더(reminder), 및 알람(alarm)을 포함할 수 있거나, 디스플레이(14) 상에 제시되는 표시 데이터와 함께 재생되는 오디오 데이터를 포함할 수 있다. 그러한 저장된 오디오 데이터는 처리 유닛(122)에 의해 접근될 수 있고 적절한 시기들에서 재생 데이터로서 실행될 수 있다. 사용자 입력 모듈(102)은 사용자 인터페이스 버튼(16)들을 통해 입력들을 수신하고, 입력들은 처리되어 통신 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)으로 전송된다. 처리 유닛(122)은, 이후에 필요한 대로 나중에 접근, 업로드 또는 표시될 수 있는 혈당 측정치들의 날짜 및 시간을 기록하기 위해 인쇄 회로 기판에 연결된 디지털 시각 계시기(digital time-of-day clock)에의 전기적 접근을 가질 수 있다.

휘발성 랜덤 액세스 메모리(random access memory, "RAM")(112); 판독 전용 메모리(read only memory, "ROM"), 비휘발성 RAM("NVRAM") 또는 플래시 메모리를 포함할 수 있는 비휘발성 메모리(113); 및 데이터 포트(13)를 통해 외부 휴대용 메모리 장치에 연결하기 위한 회로(114)를 포함하지만 이로 한정되지 않는 메모리 모듈(101)이 통신 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다. 외부 메모리 장치는 썸드라이브(thumb drive)에 내장된 플래시 메모리 장치, 휴대용 하드 디스크 드라이브, 데이터 카드, 또는 임의의 다른 형태의 전자 저장 장치를 포함할 수 있다. 이하에 설명되는 바와 같이, 온보드(on-board) 메모리는 분석물 측정기(10)의 작동을 위해 처리 유닛(122)에 의해 실행되는 다양한 내장된 어플리케이션들을 포함할 수 있다. 온보드 메모리는 또한 사용자의 혈당 측정치와 관련된 날짜 및 시간을 포함하는 사용자의 혈당 측정치의 이력을 저장하는 데 사용될 수 있다. 이하 설명되는 바와 같이, 분석물 측정기(10) 또는 데이터 포트(13)의 무선 전송 성능을 사용하여, 그러한 측정 데이터는 연결된 컴퓨터들 또는 다른 처리 장치들로 유선 또는 무선 전송을 통해 전송될 수 있다. 모터 제어 모듈(105)이 본 명세서에 기술된 분석물 측정 시스템(100)의 하우징(11) 내부에 수납된 모터에 전압 신호를 제공하기 위한 모터 제어 회로를 포함할 수 있다. 처리 유닛(122)은 모터 활성화 신호를 모터 제어 모듈(105)에 전달할 수 있고, 이어서 모터 제어 모듈은 검사 측정기(10)에 의해 수행되는 다양한 기계적 기능을 활성화시키기 위한 온-보드 모터에 전송된 적절한 전압 신호를 통해 실행되는, 예를 들어 본 명세서에 기술된 바와 같이 유체 샘플에 의한 유체 침투에 대항하여 검사 트립 포트 커넥터를 밀봉하도록 검사 트립 포트 커넥터 내에서 부재를 활성화시키기 위해 모터가 사용될 수 있다. 모터 제어 모듈(105)은 아날로그 전압 제어 회로, 직교 신호 제어 회로, 또는 디지털 펄스-폭-변조(digital pulse-width-modulated, PWM) 모터 제어 신호를 구현할 수 있다.

무선 모듈(106)이 하나 이상의 내부 안테나(107)를 통한 무선 디지털 데이터 전송 및 수신을 위한 송수신기 회로를 포함할 수 있고, 통신 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다. 무선 송수신기 회로는 집적 회로 칩, 칩셋, 처리 유닛(122)을 통해 동작 가능한 프로그램가능 기능, 또는 이들의 조합의 형태일 수 있다. 무선 송수신기 회로들 각각은 상이한 무선 전송 표준과 호환 가능하다. 예를 들어, 무선 송수신기 회로(108)는 와이파이(WiFi)로 알려진 무선 근거리 네트워크(Wireless Local Area Network) IEEE 802.11 표준과 호환 가능할 수 있다. 송수신기 회로(108)는 분석물 측정기(10)에 근접한 와이파이 액세스 포인트를 검출하고 그러한 검출된 와이파이 액세스 포인트로부터 데이터를 전송 및 수신하도록 구성될 수 있다. 무선 송수신기 회로(109)는 블루투스 프로토콜(Bluetooth protocol)과 호환 가능할 수 있고, 분석물 측정기(10)에 근접한 블루투스 허브로부터 전송된 데이터를 검출 및 처리하도록 구성된다. 무선 송수신기 회로(110)는 근접장 통신(near field communication, "NFC") 표준과 호환 가능할 수 있고, 예를 들어 분석물 측정기(10)에 근접한 NFC 준수 판독기 장치와의 무선 통신을 확립하도록 구성된다. 무선 송수신기 회로(111)는 셀룰러 네트워크(cellular network)와의 셀룰러 통신을 위한 회로를 포함할 수 있고, 이용 가능한 셀룰러 통신 타워를 검출하고 그에 연결하도록 구성된다.

전원 장치 모듈(116)은 하우징(11) 내의 모든 모듈 및 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결되어 그에 전력을 공급한다. 전원 모듈(116)은 표준형 또는 충전식 배터리(118)를 포함할 수 있거나, 분석물 측정기(10)가 AC 전력의 공급원에 연결될 때 AC 전원(117)이 작동될 수 있다. 전원 모듈(116)이 또한, 처리 유닛(122)이 전원 모듈(116)의 배터리 전력 모드에서 잔류 전력 레벨을 모니터링할 수 있도록, 통신 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다.

분석물 측정기(10)에 의한 사용을 위해 외부 저장소를 연결시키는 것에 더하여, 데이터 포트(13)가 연결 리드(lead)에 부착된 적합한 커넥터를 수용하는 데 사용될 수 있음으로써, 분석물 측정기(10)가 개인용 컴퓨터와 같은 외부 장치에 연결되게 한다. 데이터 포트(13)는, 직렬, USB 또는 병렬 포트와 같은, 데이터, 전력 또는 이들의 조합의 전송을 허용하는 임의의 포트일 수 있다.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 분석물 측정기(10)를 위한 예시적인 검사 스트립 포트 커넥터(200)의 측면도가 도시되어 있는데, 여기서 검사 스트립(206)이 양방향 화살표(214)에 의해 지시된 방향들을 따라 삽입되고 후속적으로 제거된다. 이 실시예에서, 검사 스트립 포트(200)는 상부 및 저부 부재(202, 204)들을 각각 포함하고, 부재들 각각은 검사 측정기 하우징(11)의 일 단부에 배치된 힌지(210)에 의해 서로 연결된다. 이러한 예시적인 실시예에 따르면, 검사 스트립(206)은 검사 스트립 포트(200) 내로 삽입되도록 구성 및 크기 설정되는 검사 스트립(206)의 제1 단부에서의 전기 접촉 패드(216)들을 포함한다. 적어도 2개의 접촉 패드들을 포함하는 접촉 패드(216)들은 도시된 바와 같이 검사 스트립(206)의 상부 표면 상에, 또는 검사 스트립(206)의 저부 표면 상에, 또는 이들의 조합에 배치될 수 있다. 본 명세서에 기술된 검사 스트립(206)의 샘플 챔버(230) 또는 전기화학 셀은 제1 단부에 대향하는 검사 스트립(206)의 제2 단부에 근접하여 배치된다. 샘플 챔버(230)는 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 적용된 혈액 샘플의 수용을 가능하게 하도록 검사 스트립 포트(200) 외부의 위치에서 사용자에게 접근 가능할 수 있다. 사용자가 샘플 챔버(230)에 샘플을 적용한 후, 샘플은 SPC 회로(104)에 의해 검출되고, 분석 시퀀스가 통상적인 과정에서처럼 처리 유닛(122)에 의해 개시된다.

여전히 도 2a 및 도 2b를 참조하면 그리고 본 예시적인 실시예에 따르면, 포트의 상부 및 저부 부재들은 상부 부재(202)가 저부 부재(204)에 대해 이동될 수 있는 내부 수납부(enclosure)를 한정하는데, 저부 부재는 하우징(11)의 일체형 부분 또는 개별 구성요소로서 고정된다. 양방향 화살표(208)에 의해 지시된 바와 같은 상향 방향으로의 포트(200)의 상부 요소(202)의 이동은 도 2a에 더 구체적으로 도시된 바와 같이 검사 스트립(206)이 한정된 내부 수납부에 대한 접근을 허용한다. 검사 스트립(206)은 이어서 사용자에 의해 그 내부로 삽입될 수 있고, 검사 스트립 접촉 패드 또는 패드(216)들이 적어도 2개의 전기 접점(212)들과 전기적 연결을 이루도록 제 위치에 위치된 때 검사 스트립 포트(200) 내의 분석 위치에 배치되며, 전기 접점들 각각은 접촉 패드(216)들 중 하나에 대응하고, 전기 접점들은 상부 부재(202)를 폐쇄할 때에만 맞닿는, 상부 부재(202)의 내부 표면 상에 제공된 적어도 하나의 접점을 포함한다. 언급된 바와 같이, 샘플 챔버(230)를 포함하는 부분을 포함하는 검사 스트립의 제2 단부는, 내부에 샘플을 도입하기 위하여 검사 측정기(10)의 사용자에 의한 샘플 챔버(230)에 대한 접근을 제공하기 위하여 스트립 포트(200)에 대해 외부에 유지된다.

여전히 도 2a 및 도 2b를 참조하면 그리고 이 실시예에 따르면, 포트의 입구를 형성하는 상부 및 저부 부재(202, 204)들의 힌지 연결되지 않은 단부들 각각에는 각자의 상부 및 저부 접촉 시일(203, 205)들을 포함한 시일 부재들이 각각 제공된다. 도 2b에 예시된 바와 같이, 양방향 화살표(208)에 의해 지시된 바와 같이 하향으로 상부 부재(202)를 이동시킴으로써 수동으로 수행될 수 있는 상부 부재(202)의 폐쇄 시, 상부 부재(202)의 상부 접촉 시일 요소(203)는 그의 중간 축방향 부분에서 삽입된 검사 스트립의 상부 표면에 맞닿아 이를 가압하도록 구성된다. 일반적으로 고정된 대응하는 저부 접촉 시일 요소(205)가 상부 접촉 시일 요소(203)에 직접 대향하여 배치되어 이들 사이에 정합 접촉을 형성하고, 이는 또한 접촉 시일(203, 205)들의 외부 측으로부터 접촉 시일(203, 205)의 내부 측으로의 유체(225)의 침투를 방지하기 위하여 도 2b에 도시된 바와 같이 검사 스트립(206)이 접촉 시일 요소(203, 205)들 사이에서 집히도록 검사 스트립(221)의 저부 표면을 가압한다. 접촉 시일 요소(203, 205)들은, 고무 또는 다른 탄성중합체와 같은, 바람직하게는 유연성인 유체-불침투성 재료로부터 형성된다. 이 실시예에 따르면, 접촉 시일 요소들은 상부 및 저부 부재(202, 204)들에 형성된 대응하는 홈들 내에 배치되는데, 여기서 홈들은 접촉 시일 요소(202, 204)들의 곡률과 정합하는 곡률을 포함할 수 있다. 시일 요소(203, 205)들은, 상부 및 저부 부재(202, 204)들이 폐쇄될 때 적합한 유체 시일이 형성된다면, 임의의 적합한 형태(예컨대, 원형, 다각형)를 가질 수 있다. 시일 부재(203, 205)들은 서로 접촉할 때 그리고 검사 스트립(206)과 접촉할 때 약간 변형될 수 있다.

언급된 바와 같이 그리고 접촉 시일 요소(203, 205)들 사이에 시일을 형성함과 동시에, 상부 포트 부재의 내부 측의 전기 접점(212)들은 상부 포트 부재(202)가 폐쇄 위치로 이동될 때 검사 스트립(206)의 접촉 패드(216)들과 전기적으로 맞닿는다. 따라서, 샘플(225)의 임의의 누설 또는 오적용이 검사 스트립 포트 커넥터(200)의 내부에 도달하는 것이 방지되면서 유체 샘플이 샘플 챔버(230)에 적용될 수 있고, 따라서 검사 스트립 포트(200)의 전기 접점(212)들과 검사 스트립(206)의 접촉 패드(216)들 사이에 전달되는 전기 신호와 간섭하지 않을 수 있다. 샘플 챔버 내로의 유체 침투로부터의 보호를 제공함에 더하여, 접촉 시일(203, 205)들은 또한 샘플이 샘플 챔버(230) 내에 제공된 후에 보통의 과정에서처럼 검사 측정기(10)가 분석을 수행하는, 도 2b에 도시된 바와 같은 적절한 위치에 검사 스트립을 고정하는 것을 돕는다.

검사 스트립 포트 커넥터(300)의 다른 실시예가 도 3a 및 도 3b를 참조하여 기술되는데, 여기서 검사 스트립 포트 커넥터(200)는 검사 측정기(10)의 검사 스트립 포트 개구(22)에 근접하여 검사 측정기 하우징(11) 내부에 수납된다. 이러한 특정 실시예에서, 검사 스트립 포트 커넥터(200)는 도 2a 및 도 2b와 관련하여 전술된 실시예와 동작이 동일하다. 그러나, 그리고 상부 부재가 이전 실시예에서처럼 수동으로 접근될 수 없기 때문에, 스트립 포트 커넥터(200)는 검사 스트립 포트 커넥터(200)의 상부 부재(202)를 개방 및 폐쇄하기 위하여 스트립 포트 커넥터에 연결되고 모터 제어 모듈(106)을 통해 처리 유닛(122)에 의해 전송되는 제어 신호에 의해 작동되는 모터(302)를 추가로 포함한다. 모터(302)는 스텝퍼 모터, 소형 d.c. 모터, 선형 모터, 솔레노이드, 또는 형상 기억 합금과 같은 다른 유형의 액추에이터를 포함할 수 있다. 이 실시예에서, 상부 부재(202)는 검사 측정기(10)가 절전 상태에 있을 때, 도 3a에 도시된 바와 같이, (디폴트) 개방 위치에 유지될 수 있고, 검사 스트립(206)이 내부에 삽입된 후에 도 3b에 도시된 바와 같이 폐쇄 위치로 이동할 수 있다. 모터(302)는 모터를 활성화시키기 위하여 처리 유닛(122)에 신호를 부여하는 버튼(16)들 중 하나를 사용자가 누르는 것에 의해 상부 포트 부재(202)를 폐쇄하도록 활성화될 수 있다. 일 실시예에서, 검사 스트립 포트 커넥터(200)는 검사 스트립(206)의 삽입을 검출하기 위하여 내부에 배치된 검출기(304)를 포함할 수 있다. 그러한 검출기는, 삽입된 검사 스트립(206)에 의해 개시될 때 신호를 처리 유닛(122)에 전송하는 기계적으로 작동되는 스위치, 광-다이오드 기반 방출기/검출기 쌍, 또는 다른 유형의 검출 기구로 구성될 수 있다. 신호의 수신 시, 처리 유닛(122)은 검사 스트립(206) 상으로 상부 포트 부재(202)를 폐쇄하도록 모터(302)를 활성화시킬 수 있다. 도 2a 및 도 2b와 관련하여 기술된 실시예의 작동과 유사하게, 샘플 챔버(230) 또는 전기화학 셀을 포함하는 검사 스트립(206)의 일부분은, 샘플 챔버(230)가 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 샘플 챔버에 제공된 샘플을 수용할 수 있도록 그리고 분석 시퀀스가 보통의 과정에서처럼 개시될 수 있도록, 검사 스트립 포트 커넥터(300) 외부의 위치에서 사용자에게 접근 가능하도록 유지된다.

본 명세서에 사용된 검사 스트립 및 검사 측정기의 형태가 변경될 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들어 그리고 도 4a 내지 도 4c를 참조하면, 다른 예시적인 검사 스트립(406)을 수용하도록 구성된 검사 스트립 포트 커넥터(400)의 다른 실시예가 도시되어 있다. 이 특정 실시예에서 그리고 제1 및 제2 축방향 단부들을 갖는 축방향으로 한정된 기재 이외에, 검사 스트립(406)은 검사 스트립(406)의 대향하는 측방향 단부들에서 접촉 패드(402, 404)들을 포함하고, 여기서 샘플 챔버(430)는 검사 스트립(406)의 중심 부분에 근접하여 배치된다. 이 형태의 설계를 갖는 검사 스트립의 일례가, 그 전체 내용이 본 명세서에 참고로 포함된 미국 특허 출원 공개 제2012-0267245-A1호에 더 상세히 기술되어 있다.

검사 스트립 포트 커넥터(400)는 포트 커넥터(400)의 내부 측에서 이격 관계로 배치된 힌지 부분(411, 413)들에 의해 힌지식으로 연결된 가동 상부 포트 부재(450) 및 고정 저부 포트 부재(460)를 포함한다. 이 특정 실시예에 따르면, 힌지 부분(411)은 상부 포트 부재(450)와 일체로 형성되는 반면, 힌지 부분(413)은 고정 저부 포트 부재와 일체로 형성된다. 힌지 부분(411, 413)들은 상부 포트 부재(450)가 중심으로 회전되는 힌지 축과 일치하는 위치에서 둘 모두의 힌지 부분(411, 413)들을 통해 연장되는 핀(415)(도 4a에 가상선으로 도시됨)에 의해 함께 회전 가능하게 링크될 수 있다. 한 세트의 전기 접점(412, 414)들이 저부 부재(460)의 상부 표면(461) 상에 배치되고, 이 상부 표면은 검사 스트립 포트 커넥터(400)가 폐쇄된 때 상부 포트 부재(450)의 저부 표면(451)에 대면한다. 대안적으로, 전기 접점(412, 414)들은 상부 포트 부재(450)의 내부 또는 저부 표면(451) 상에 적절하게 배치될 수 있다. 유사하게, 검사 스트립(406)은 그의 상부 또는 하부 표면 상에 대응하게 접촉 패드(402, 404)들을 포함할 수 있다. 어느 하나의 실시예에서, 전기 접점(412, 414)들은 상부 포트 부재(450)가 고정 저부 포트 부재(460) 상에 폐쇄될 때 검사 스트립 접촉 패드(412, 404)들과 각각 전기적으로 맞닿도록 적합하게 위치된다. 전술된 실시예와 유사하게, 상부 포트 부재(450)는 포트 커넥터(400)를 선택적으로 개방 및 폐쇄하도록 사용자 또는 모터(도시되지 않음)와 연관된다.

도 4b는 개방 단부에서 시일 요소(403)를 포함하는 저부 포트 부재(460)의 평면도를 나타낸다. 이 실시예에 따른 가요성의 기다란 시일 요소(403)는 저부 부재(460)의 상부 표면(461) 내부에 배치되고 전기 접점(412, 414)들을 둘러싸도록 구성된다. 도시되지 않았지만, 시일 요소(403)의 실질적으로 전체 길이가 상부 포트 부재(450)의 시일 요소의 정합 표면과 만나서 밀봉 접촉 영역을 생성하도록, 유사하게 배치되고 동일한 대응하는 시일 요소가 상부 포트 부재(450)의 저부 또는 내부 표면(451)에 배치될 수 있다. 시일 요소(403)는 저부 포트 부재(460)의 홈 내에 부착되거나, 억지 끼워맞춤되거나 달리 배치되고, 이는 상부 포트 부재(450)의 시일 요소가 상부 포트 부재(450)의 홈 내에 유사하게 부착되거나, 억지 끼워맞춤되거나 달리 배치되는 것과 같다. 이들 시일 요소는 도 2a 및 도 2b의 실시예에서 시일 요소(203, 205)의 특성과 유사한 특성을 포함한다. 즉, 시일 요소는 유체 불침투성인 순응성의 유연성 고무 또는 유사한 재료로 만들어질 수 있고, 그의 단면의 적어도 일부분은 원형 단면과 같은 만곡된 정합 표면을 포함할 수 있다. 상부 및 저부 부재(450, 460)들의 정합 시일 요소들은 그들 사이에서 접촉 패드(412, 414)들에 근접한 검사 스트립(406)의 부분들을 집어서, 샘플 챔버(430)로부터 멀리 검사 스트립을 따라 이동할 수 있는 임의의 샘플 유체의 전기 접점(412, 414)들에서의 유체 침투를 방지한다. 전술된 바와 같이, 정합 시일 요소는 또한 검사 스트립(406)을 분석 위치(420)에 고정시키는 역할을 하는데(도 2a), 여기서 샘플 챔버 입구(429)는 검사 스트립 포트 커넥터(400) 외부에서 샘플을 수용하기 위해 노출되어 접근 가능하다.

검사 스트립 포트 커넥터(400)의 아키텍처는, 도 4c에 사시도로서 도시된 바와 같이, 검사 스트립 포트 커넥터(400) 후방의 저장 위치로부터 복수의 검사 스트립들이 검사 스트립 포트 커넥터에 공급되게 한다. 검사 스트립(406)은, 도 4c의 화살표(410)에 의해 지시된 바와 같이, 슬롯 형성 부분(405, 407)들을 통한 그리고 상부 및 저부 포트 부재(450, 460)들의 후방 측 및 이들 사이의 공간을 통한 삽입에 의해, 개방 위치에 있을 때의 검사 스트립 포트 커넥터(400) 내로 삽입될 수 있다. 검사 스트립(406)은 실질적으로 강성인 검사 스트립 슬라이더(431)의 사용에 의해 검사 측정기(10)의 하우징(11) 내부의 초기 저장 위치로부터 검사 스트립 포트 커넥터(400)를 통해 검사 스트립의 분석 위치(420)를 향해 가압된다(도 4a). 검사 스트립 슬라이더(431)는, 슬라이더(431)가 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 방향(410)으로 수동으로 가압됨에 따라, 접촉 패드(402, 404)들에 각각 근접한 검사 스트립(406)의 부분들과 접촉할 수 있는 아암(arm)(434, 435)들을 포함한다. 슬라이더(431)는 검사 측정기(10)의 하우징(11) 외부에서 접근 가능한 버튼 또는 탭(tab)(432)을 포함할 수 있어, 사용자가 버튼 또는 탭에 손가락 압력을 가하여, 슬라이더(431)가 화살표(410)의 방향으로 전방으로 활주하게 하고 검사 스트립(406)과 접촉하게 하며, 검사 스트립을 검사 측정기 하우징(11) 내의 저장 위치로부터 전방으로 스트립 포트 커넥터(400)를 통해, 슬라이더 버튼(432)이 해제될 수 있는 분석 위치(420)로 밀게 할 수 있도록 한다. 이 삽입 기구는 또한, 예를 들어 모터 구동식 삽입 기구 또는 유사한 선형 액추에이터의 수동 또는 자동 활성화에 의해 자동화될 수 있다. 검사 스트립(406)이 분석 위치(420)에 도달한 후 버튼(432)을 해제할 때, 상부 부재(450)는 검사 스트립(406)을 분석 위치(420)에 고정하도록 폐쇄될 수 있다. 복수의 검사 스트립(406)들이 예를 들어 스택 대형(stack formation)으로 검사 측정기 하우징(11) 내부에 저장될 수 있고, 여기서 버튼(432)의 각각의 해제에 의해, 예를 들어 스프링 로딩된(spring loaded) 기구에 의해 다른 검사 스트립(406)이 스택의 상부로 가압됨으로써, 검사 스트립 슬라이더(431)는 또 다시 검사 스트립 포트 커넥터(400) 내의 분석 위치로 다른 검사 스트립(406)을 분배하기 위하여 사용자에 의해 다시 한번 더 조작될 수 있다.

당업자는 본 명세서에서 기술된 검사 스트립 포트 커넥터 실시예(200, 300, 400)가 도시된 것들 이외의 다양한 구성을 가질 수 있고, 본 명세서에 개시된 그리고 당업계에 알려진 특징부들의 임의의 조합을 포함할 수 있다는 것을 인식할 것이다. 예를 들어, 검사 스트립 포트 커넥터(200, 300, 400)의 상부 부재(202, 450)는 본 명세서에 개시된 실시예들 중 임의의 실시예에서 수동으로 또는 모터 구동 방식으로 개방 또는 폐쇄될 수 있다. 유사하게, 검사 스트립 포트 커넥터의 저부 부재는 본 명세서에서 예시적인 실시예에 기술된 바와 같은 상부 부재 대신에 이동 가능할 수 있거나, 상부 및 저부 부재들 둘 모두가 조합되어 이동 가능할 수 있다. 검사 스트립(206, 406)은 또한 본 명세서에 기술된 실시예들 이외에 다양한 형상들을 포함할 수 있다. 또한, 각각의 검사 스트립(206, 406)은 샘플 내의 동일한 (포도당) 및/또는 상이한 분석물을 측정하기 위해 다양한 위치에서 샘플 챔버를 포함할 수 있다. 검사 스트립(206, 406)은 전형적으로 검사 스트립 포트 커넥터 실시예(200, 300, 400)에 대한 취급 및 연결을 허용하도록 충분한 구조적 완전성을 갖는 강성, 반강성, 또는 가요성 층의 형태이고, 검사 스트립의 공통 표면 상에서, 반대편 표면들 상에서, 동일 단부 또는 대향 단부들에서, 또는 이들의 조합에서 2개 이상의 전기 접촉 패드들을 포함할 수 있다. 따라서, 스트립 포트 커넥터 실시예(200, 300, 400)는 접촉 패드들 중 하나와 맞닿도록 각각 적절하게 위치된 전기 접점들을 포함할 것이다.

도 5를 참조하면, 도 2a 및 도 2b에 도시된 것과 같은 검사 스트립 포트 커넥터(200)를 사용함에 있어서 수행되는 예시적인 단계들을 예시하는 흐름도가 도시되어 있지만, 이 방법은 본 명세서에 기술된 검사 스트립 포트 커넥터의 다른 실시예에 적용 가능할 수 있다. 단계(501)에서, 검사 스트립 포트 커넥터(200)의 상부 부재(202)는 검사 스트립(206)을 삽입하기 위하여 검사 스트립 포트 커넥터(200)의 내부에 접근이 될 수 있도록 개방된다. 검사 스트립(206)의 일단부가 단계(502)에서 검사 스트립 포트 커넥터(200) 내에 삽입되고, 단계(503)에서 상부 부재(202)가 삽입된 검사 스트립(206)의 상부 상에서 폐쇄되는데, 이는 검사 스트립(206)에 적용된 샘플로부터의 유체 침투를 방지하도록 검사 스트립 포트 커넥터(200)의 내부를 밀봉한다. 단계(504)에서, 샘플은 검사 측정기(10)에 의해 검출된 검사 스트립에 적용되고, 보통의 과정에서처럼 샘플 상에서 분석이 수행된다.

당업자에 의해 인식되는 바와 같이, 본 발명의 태양들은 처리 시스템, 방법, 또는 기구로서 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명의 태양들은 전적으로 하드웨어인 실시예, 전적으로 소프트웨어인 실시예(펌웨어, 상주 소프트웨어, 마이크로-코드 등을 포함), 또는 본 명세서에서 일반적으로 "회로", "회로소자(circuitry)", "모듈", "서브시스템" 및/또는 "시스템"으로서 모두 언급될 수 있는 소프트웨어 및 하드웨어 태양들을 조합한 실시예의 형태를 취할 수 있다. 또한, 본 발명의 태양은 컴퓨터 판독 가능 프로그램 코드가 그 상에 구현된 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 매체(들)로 구현된 컴퓨터 프로그램 제품의 형태를 취할 수 있다.

수행된 작업 및 측정치를 나타내는 프로그램 코드 및/또는 데이터가, 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 매체(들)의 임의의 조합을 포함하지만 이로 한정되지 않는 임의의 적절한 매체를 사용하여 저장될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 저장 매체는, 예를 들어 전자, 자기, 광, 전자기, 적외선 또는 반도체 시스템, 기구 또는 장치, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합일 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 저장 매체의 보다 구체적인 예들은 하기를 포함할 것이다: 하나 이상의 와이어들을 갖는 전기 연결부, 휴대용 컴퓨터 디스켓, 하드 디스크, 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독 전용 메모리(ROM), 삭제 가능 프로그램 가능 판독 전용 메모리(erasable programmable read-only memory, EPROM; 또는 플래시 메모리), 광섬유, 휴대용 콤팩트 디스크 판독 전용 메모리(CD-ROM), 광 저장 장치, 자기 저장 장치, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합. 본 명세서의 맥락에서, 컴퓨터 판독가능 저장 매체는 명령어 실행 시스템, 기기 또는 장치에 의해 또는 이와 관련하여 사용되는 프로그램을 포함하거나 저장할 수 있는 임의의 유형의(tangible) 비일시적(non-transitory) 매체일 수 있다.

수행된 작업 및 측정치를 나타내는 프로그램 코드 및/또는 데이터는 무선, 유선(wireline), 광섬유 케이블, RF 등, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합을 포함하지만 이로 한정되지 않는 임의의 적절한 매체를 사용하여 전송될 수 있다.

부호의 설명

10 분석물 측정기

11 하우징, 측정기

13 데이터 포트

14 디스플레이

16 사용자 인터페이스 버튼

22 스트립 포트 커넥터 개구

24 검사 스트립

100 분석물 측정 시스템

101 메모리 모듈

102 버튼/키패드 모듈

103 사용자 인터페이스 모듈

104 검사 스트립 포트 커넥터 회로

105 모터 제어 모듈

106 송수신기 모듈

107 안테나

108 와이파이 모듈

109 블루투스 모듈

110 NFC 모듈

111 셀 모듈

112 RAM 모듈

113 ROM 모듈

114 외부 저장소

116 전원 모듈

117 AC 전원

118 배터리 전원

119 디스플레이 모듈

120 오디오 모듈

121 스피커

122 마이크로컨트롤러 (처리 유닛)

123 통신 또는 전력 인터페이스

125 검사 스트립 분석물 모듈 - AFE

140 데이터 관리 유닛

200 검사 스트립 포트 커넥터

202 상부 부재

203 상부 접촉 시일

204 저부 부재

205 저부 접촉 시일

206 검사 스트립

208 양방향 화살표

210 힌지

212 전기 접점

214 화살표

216 접촉 패드

220 상부면, 검사 스트립

221 저부면, 검사 스트립

225 샘플 유체

230 샘플 챔버(전기화학 셀)

300 검사 스트립 포트 커넥터, 수납됨

302 모터

304 스트립 검출기

400 검사 스트립 포트 커넥터

402 접촉 패드

403 접촉 시일

404 접촉 패드

405 진입 슬롯

406 검사 스트립

407 진입 슬롯

410 화살표

411 힌지 부분, 상부 부재

412 전기 접점, 스트립 포트 커넥터

413 힌지 부분, 저부 부재

414 전기 접점, 스트립 포트 커넥터

420 분석 위치, 검사 스트립

429 샘플 챔버 입구

430 샘플 챔버

431 검사 스트립 슬라이더

432 슬라이더 버튼

434 슬라이더 아암

436 슬라이더 아암

450 상부 부재

451 저부 표면, 상부 부재

460 저부 부재

461 상부 표면, 저부 부재

501 단계 ― 검사 스트립 포트 커넥터를 개방함

502 단계 ― 검사 스트립을 분석 위치로 삽입함

503 단계 ― 검사 스트립 포트 커넥터를 폐쇄함

504 단계 ― 샘플을 검출하고 분석을 수행함

본 발명이 특정 변형 및 예시적인 특징부에 관하여 기술되었지만, 당업자는 본 발명이 기술된 변형 또는 특징부로 제한되지 않음을 인식할 것이다. 게다가, 전술된 방법 및 단계가 소정 순서로 일어나는 소정 이벤트를 나타내는 경우에, 당업자는 소정 단계의 순서가 변경될 수 있고, 그러한 변경은 본 발명의 변형에 따름을 인지할 것이다. 부가적으로, 소정 단계들은 가능한 경우 병렬 프로세스로 동시에 수행될 수 있을 뿐만 아니라, 상기에 기술된 바와 같이 순차적으로 수행될 수 있다. 따라서, 본 발명의 사상 내에 있거나 청구범위에서 확인되는 본 발명과 동등한 본 발명의 변형이 존재하는 경우, 본 특허는 그러한 변형도 포함하는 것으로 의도된다.

Claims

분석물 검사 측정기(analyte test meter)로서,
분석 검사 스트립을 수용하도록 구성된 검사 스트립 포트 커넥터(test strip port connector)를 포함하고,
상기 포트 커넥터는 상기 수용된 분석 검사 스트립의 적어도 하나의 전기 접촉 패드와 맞닿기 위한 적어도 하나의 전기 접점을 포함하고, 상기 수용된 분석 검사 스트립은 유체 샘플을 수용하기 위한 샘플 챔버를 추가로 포함하며,
상기 포트 커넥터는 내부를 한정하고 가동 부분(movable portion)을 가지며, 상기 가동 부분은 상기 가동 부분이 개방 위치로 이동될 때 검사 스트립이 상기 커넥터 내로 삽입되게 하고, 상기 커넥터는 상기 유체 샘플이 상기 커넥터 내로 침투하는 것에 대항하여 상기 검사 스트립 포트 커넥터를 밀봉하도록 구성되는 적어도 하나의 시일 요소(seal element)를 추가로 포함하고, 상기 밀봉 기구는 상기 가동 부분이 상기 삽입된 검사 스트립 주위에서의 폐쇄 위치로 이동될 때 상기 삽입된 검사 스트립을 가로지른 밀봉 위치로 이동되도록 구성되는, 분석물 검사 측정기.
제1항에 있어서, 상기 가동 부분은 상기 포트 커넥터에 힌지 연결되는, 분석물 검사 측정기.
제2항에 있어서, 상기 가동 부분은 상기 개방 위치와 상기 폐쇄 위치 사이에서 수동으로 이동되도록 구성되는, 분석물 검사 측정기.
제3항에 있어서, 상기 개방 위치와 상기 폐쇄 위치 사이에서 상기 포트 커넥터의 가동 부분을 자동적으로 이동시키도록 구성되는 모터를 추가로 포함하는 분석물 검사 측정기.
제1항에 있어서, 상기 적어도 하나의 시일 요소는 유체-불침투성의 유연성 재료의 섹션을 포함하는, 분석물 검사 측정기.
제5항에 있어서, 상기 적어도 하나의 시일 요소는 상기 가동 부분이 상기 폐쇄 위치로 이동될 때 각각의 시일 요소가 상기 삽입된 검사 스트립의 대응하는 표면들과 맞닿아 이를 가압하도록 상기 포트 커넥터의 가동 부분 및 대응하는 비가동 부분 각각에 부착되는, 분석물 검사 측정기.
제6항에 있어서, 상기 포트 커넥터의 가동 부분 및 대응하는 비가동 부분의 시일 요소들은 상기 가동 부분이 상기 폐쇄 위치로 이동될 때 각각의 시일 요소가 상기 삽입된 검사 스트립의 대응하는 반대편 표면들과 맞닿아 이를 가압하도록 서로 직접 대향하여 배치되는, 분석물 검사 측정기.
제1항에 있어서, 상기 샘플 챔버는 상기 포트 커넥터 내로 삽입되지 않은 상기 검사 스트립의 제1 단부에 배치되고, 상기 검사 스트립은 상기 제1 단부에 대향하고 상기 포트 커넥터 내로 삽입되는 상기 검사 스트립의 제2 단부에서 적어도 하나의 접촉 패드를 포함하며, 상기 적어도 하나의 시일 요소는 상기 검사 스트립의 중간 축방향 부분에서 접촉하는, 분석물 검사 측정기.
검사 측정기로서,
제1 분석 검사 스트립의 접촉 패드와 맞닿기 위한 전기 접점을 포함하는 검사 스트립 포트 커넥터를 포함하고,
상기 제1 분석 검사 스트립은 상기 제1 분석 검사 스트립의 제1 단부에 있는 상기 접촉 패드 및 상기 제1 분석 검사 스트립의 대향 단부에 있는 샘플 챔버를 포함하며,
상기 포트 커넥터는 상기 포트 커넥터에 의해 한정된 수납부(enclosure)에 대한 접근을 허용하기 위하여 개방 위치와 폐쇄 위치 사이에서 이동 가능한 부분을 갖고, 상기 가동 부분을 상기 폐쇄 위치로 이동시키는 것은 상기 검사 스트립을 상기 전기 접점과의 맞닿음 상태로 고정시키고 상기 검사 측정기 내로의 유체의 침투를 방지하도록 유체 시일을 생성하는, 검사 측정기.
제9항에 있어서,
상기 제1 분석 검사 스트립을 내부에 저장하기 위한 하우징; 및
상기 제1 분석 검사 스트립을 상기 하우징으로부터 상기 검사 스트립 포트 커넥터 내로 삽입하도록 작동 가능하고, 상기 전기 접점을 상기 제1 분석 검사 스트립의 접촉 패드와 맞닿게 하기 위한 슬라이더(slider)를 추가로 포함하는, 검사 측정기.
제10항에 있어서, 상기 제1 분석 검사 스트립과 함께 상기 하우징 내에 저장된 제2 분석 검사 스트립을 추가로 포함하고, 상기 제2 분석 검사 스트립은 상기 슬라이더를 사용하여 상기 하우징으로부터 상기 검사 스트립 포트 커넥터 내로 삽입되도록 구성되는, 검사 측정기.
제9항에 있어서, 상기 포트 커넥터는 상기 검사 스트립을 상기 전기 접점과의 맞닿음 상태로 고정시키고 상기 샘플 챔버로부터 상기 전기 접점을 밀봉하기 위한 적어도 하나의 시일 요소를 포함하는, 검사 측정기.
제12항에 있어서, 상기 검사 스트립 포트 커넥터는 상기 가동 부분의 내부 표면 상에 배치된 제1 시일 요소 및 상기 포트 커넥터의 대응하는 부분의 내부 표면 상의 제2 시일 요소를 포함하여, 상기 가동 부분을 상기 폐쇄 위치로 이동시키는 것이 상기 제1 및 제2 시일 요소들이 삽입된 검사 스트립의 대응하는 표면들과 밀봉식으로 맞닿게 하는, 검사 측정기.
제13항에 있어서, 상기 제1 및 제2 시일 요소들은 상기 가동 부분이 상기 폐쇄 위치로 이동될 때 상기 제1 및 제2 시일 요소들이 상기 삽입된 검사 스트립의 대응하는 반대편 표면들과 맞닿도록 서로 직접 대향하여 배치되는, 검사 측정기.
제14항에 있어서, 상기 가동 부분은 힌지에 의해 상기 포트 커넥터에 연결되고, 상기 가동 부분은 상기 가동 부분을 상기 힌지를 중심으로 회전시킴으로써 상기 개방 위치 및 상기 폐쇄 위치로 이동되는, 검사 측정기.
제15항에 있어서, 상기 가동 부분을 상기 힌지를 중심으로 회전시키기 위한 모터를 추가로 포함하는, 검사 측정기.
제16항에 있어서, 상기 제1 및 제2 시일 요소들은 유연성 고무로 제조되는, 검사 측정기.
체액 샘플 내의 분석물을 결정하는 데 분석 검사 스트립과 함께 사용하기 위한 핸드헬드 검사 측정기(hand-held test meter)로서,
상기 핸드헬드 검사 측정기는,
분석 검사 스트립을 수용하도록 구성된 스트립 포트 커넥터를 포함하고,
상기 스트립 포트 커넥터는,
적어도 하나의 전기 접점, 및
상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입된 분석 검사 스트립 주위에서 클램핑함으로써, 상기 분석 검사 스트립에 적용된 체액 샘플이 상기 적어도 하나의 전기 접점과 접촉하는 것을 방지하도록 구성된 시일을 포함하는, 핸드헬드 검사 측정기.
체액 샘플 내의 분석물을 결정하기 위한 방법으로서,
핸드헬드 검사 측정기의 스트립 포트 커넥터 내로 분석 검사 스트립을 삽입하는 단계;
상기 삽입된 분석 검사 스트립 주위에서 상기 스트립 포트 커넥터의 시일을 클램핑하는 단계;
상기 분석 검사 스트립에 체액 샘플을 적용하는 단계; 및
상기 핸드헬드 검사 측정기를 사용하여 상기 체액 샘플 내의 분석물을 결정하는 단계
를 포함하는, 체액 샘플 내의 분석물을 결정하기 위한 방법.
제19항에 있어서, 상기 스트립 포트 커넥터의 시일을 클램핑하는 상기 단계는 상기 삽입된 검사 스트립의 접촉 패드를 상기 스트립 포트 커넥터 내에 배치된 전기 접점과 전기적으로 맞닿게 하는 단계를 포함하는, 체액 샘플 내의 분석물을 결정하기 위한 방법.