KR20160091957A - Antiglare film - Google Patents

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스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
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Abstract

낮은 헤이즈여도 넓은 관찰 각도에서 우수한 방현성을 가지며, 화상 표시 장치에 배치했을 때, 바램 및 번쩍임의 발생을 충분히 억제할 수 있는 방현 필름을 제공한다.
투명 지지체와, 그 위에 형성된 미세한 표면 요철 형상을 갖는 방현층을 구비하고, 전체 헤이즈가 0.1% 이상 3% 이하, 표면 헤이즈가 0.1% 이상 2% 이하이며, 상기 표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치가 0.2° 이상 1.2° 이하이고, 경사 각도의 표준 편차가 0.1° 이상 0.8° 이하이며, 상기한 표면 요철 형상의 표고의 파워 스펙트럼의, 공간 주파수 0.01 ㎛-1, 공간 주파수 0.02 ㎛-1 및 공간 주파수 0.1 ㎛-1에 있어서의 강도 I(0.01), I(0.02) 및 I(0.1)가 각각 소정의 범위 내인 방현 필름이 제공된다.
Provided is an antiglare film which has excellent antifogging property even at a low viewing angle even at a low haze and can sufficiently suppress the occurrence of flare and glare when placed in an image display device.
1. An optical recording medium comprising a transparent support and an antiglare layer having a fine surface irregularity formed thereon, wherein the total haze is 0.1% or more and 3% or less, the surface haze is 0.1% or more and 2% or less, or less than 0.2 ° 1.2 °, and the standard deviation of the inclination angle less than 0.1 ° 0.8 °, the power spectrum of the altitude of the surface irregularities, the spatial frequency 0.01 ㎛ -1, the spatial frequency and the spatial frequency 0.02 ㎛ -1 And the intensity I (0.01), I (0.02) and I (0.1) at 0.1 m -1 are respectively within a predetermined range.

Description

방현 필름{ANTIGLARE FILM} Antistatic Film {ANTIGLARE FILM}

본 발명은, 방현성이 우수한 방현(안티글레어) 필름에 관한 것이다.The present invention relates to an anti-glare film having excellent anti-glare properties.

액정 디스플레이나 플라즈마 디스플레이 패널, 브라운관(음극선관: CRT) 디스플레이, 유기 일렉트로루미네선스(EL) 디스플레이 등의 화상 표시 장치는, 그 표시면에 외광이 비치는 것에 의한 시인성의 악화를 피하기 위해, 상기 표시면에 방현 필름이 배치되어 있다.An image display apparatus such as a liquid crystal display, a plasma display panel, a cathode ray tube (CRT) display, and an organic electroluminescence (EL) display has a configuration in which, in order to avoid deterioration of visibility due to external light, And an antiglare film is disposed on the surface.

방현 필름으로는, 표면 요철 형상을 구비한 투명 필름이 주로 검토되고 있다. 이러한 방현 필름은, 표면 요철 형상에 의해 외광을 산란 반사시키는 것(외광 산란광)에 의해 비침을 저감시킴으로써 방현성을 발현한다. 그러나, 외광 산란광이 강한 경우에는, 화상 표시 장치의 표시면 전체가 허옇게 되거나, 표시가 탁한 색이 되거나 하는, 소위 「바램」이 발생하는 경우가 있다. 또한, 화상 표시 장치의 화소와 방현 필름의 표면 요철이 간섭하고, 휘도 분포가 발생하여 잘 보이지 않게 되는, 소위 「번쩍임」도 발생하는 경우가 있다. 이상의 점에서, 방현 필름에는, 우수한 방현성을 확보하면서, 이 「바램」이나 「번쩍임」의 발생을 충분히 방지할 것이 요망되고 있다.As the antiglare film, a transparent film having a surface irregularity shape is mainly studied. Such an antiglare film exhibits anti-scattering property by reducing non-reflectance by scattering reflection of external light (external light scattering light) by surface irregularities. However, when the external light scattering light is strong, the entire display surface of the image display apparatus may become blurred or the display may become a whitish color. There is also a case where so-called " flashing " occurs in which the surface irregularities of the antiglare film interfere with the pixels of the image display device, and the luminance distribution is generated and becomes invisible. In view of the above, it is desired that the antiglare film sufficiently prevent the occurrence of this "desire" and "flash" while ensuring excellent antifogging property.

이러한 방현 필름으로서, 예컨대 특허문헌 1에는, 고선명인 화상 표시 장치에 배치했을 때에도 번쩍임이 발생하지 않고, 바램의 발생도 충분히 방지된 방현 필름으로서, 투명 기재 상에 미세한 표면 요철 형상이 형성되어 있고, 상기 표면 요철 형상의 임의의 단면 곡선에 있어서의 평균 길이 PSm이 12 ㎛ 이하, 상기 단면 곡선에 있어서의 산술 평균 높이 Pa와 평균 길이 PSm의 비 Pa/PSm이 0.005 이상 0.012 이하, 상기 표면 요철 형상이 경사 각도 2° 이하인 면의 비율이 50% 이하, 상기 경사 각도 6° 이하인 면의 비율이 90% 이상인 방현 필름이 개시되어 있다.As such an anti-glare film, for example, Patent Document 1 discloses an anti-glare film in which glare does not occur even when placed in a high-definition image display device and fading is sufficiently prevented, Wherein an average length PSm of an arbitrary section curve of the surface irregularity shape is 12 占 퐉 or less, a ratio Pa / PSm of an arithmetic average height Pa to an average length PSm in the section curve is 0.005 or more and 0.012 or less, Wherein a ratio of a face having an oblique angle of 2 DEG or less is 50% or less, and a ratio of a face having an oblique angle of 6 DEG or less is 90% or more.

특허문헌 1에 개시된 방현 필름은, 임의의 단면 곡선에 있어서의 평균 길이 PSm을 매우 작게 함으로써, 번쩍임을 발생시키기 쉽게 하는 50 ㎛ 부근의 주기를 갖는 표면 요철 형상을 없앰으로써, 상기 번쩍임을 효과적으로 억제할 수 있다. 그러나, 특허문헌 1에 개시된 방현 필름은 헤이즈를 보다 작게 하려고 하면(낮은 헤이즈로 하려고 하면), 이 방현 필름을 배치한 화상 표시 장치의 표시면을 비스듬한 방향에서 관찰했을 때의 방현성이 저하되는 경우가 있었다. 따라서, 특허문헌 1에 개시된 방현 필름은, 넓은 관찰 각도에서의 방현성 면에서는 개량의 여지가 남아 있었다.The anti-glare film disclosed in Patent Document 1 effectively suppresses the above-mentioned glare by making the average length PSm in an arbitrary cross-sectional curve very small, thereby eliminating the surface irregularities having a period of about 50 탆 which makes it easier to generate glare . However, in the antiglare film disclosed in Patent Document 1, when the haze is to be made smaller (when trying to make the haze lower), when the display surface of the image display device on which the antiglare film is arranged is observed in the oblique direction, . Therefore, the antiglare film disclosed in Patent Document 1 still had room for improvement in terms of the retardation at a wide viewing angle.

일본 특허 공개 제2007-187952호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2007-187952

본 발명은, 낮은 헤이즈여도 넓은 관찰 각도에서 우수한 방현성을 가지며, 화상 표시 장치에 배치했을 때에, 바램 및 번쩍임의 발생을 충분히 억제할 수 있는 방현 필름을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide an antiglare film which has excellent antiglare property even at a low viewing angle even at low viewing angle and can sufficiently suppress the occurrence of fading and glare when placed in an image display device.

본 발명자는, 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토를 행한 결과, 본 발명을 완성하기에 이르렀다. 즉, 본 발명은,Means for Solving the Problems The present inventors have conducted intensive studies to solve the above problems, and as a result, they have completed the present invention. That is,

투명 지지체와, 그 위에 형성된 미세한 표면 요철 형상을 갖는 방현층을 구비하는 방현 필름으로서,An antiglare film comprising a transparent support and an antiglare layer having a fine surface relief shape formed thereon,

전체 헤이즈가 0.1% 이상 3% 이하이고,The total haze is 0.1% or more and 3% or less,

표면 헤이즈가 0.1% 이상 2% 이하인 방현 필름이며,An antiglare film having a surface haze of 0.1% or more and 2% or less,

상기 표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치가 0.2° 이상 1.2° 이하이고, 경사 각도의 표준 편차가 0.1° 이상 0.8° 이하이며,The average value of the inclination angles of the surface irregularities is 0.2 to 1.2 degrees and the standard deviation of the inclination angles is 0.1 to 0.8 degrees,

상기 표면 요철 형상은, 그 표고의 파워 스펙트럼이 하기 (1)∼(3)의 조건을 모두 만족하는 것을 특징으로 하는 방현 필름이다.The surface irregularity shape is an antiglare film characterized in that the power spectrum of the surface thereof satisfies all of the following conditions (1) to (3).

(1) 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.01)가 2 ㎛4 이상 10 ㎛4 이하인 것;(1) the spatial frequency 0.01 ㎛ - 1 to the intensity I (0.01) or less than 2 4 10 ㎛ 4 in;

(2) 공간 주파수 0.02 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.02)가 0.1 ㎛4 이상 1.5 ㎛4 이하인 것; 및(2) spatial frequency 0.02 ㎛ - 1 to the intensity I (0.02) or less than 0.1 ㎛ 4 4 1.5 ㎛ in; And

(3) 공간 주파수 0.1 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.1)가 0.0001 ㎛4 이상 0.01 ㎛4 이하인 것.3, the spatial frequency 0.1 ㎛ - 1 being less than the intensity I (0.1) is more than 0.0001 ㎛ 4 0.01 ㎛ 4 in.

또한 본 발명의 방현 필름에 있어서는,In the antiglare film of the present invention,

암부와 명부의 폭이 각각 0.125 ㎜, 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 5종류의 광학빗을 이용하여 측정되는 투과 선명도의 합 Tc가 375% 이상이고,The sum Tc of the transmission sharpness measured using five types of optical combs having widths of the arm portion and the bright portion of 0.125 mm, 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm and 2.0 mm is 375% or more,

암부와 명부의 폭이 각각 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 4종류의 광학빗을 이용하여 광의 입사각 45°로 측정되는 반사 선명도의 합 Rc(45)가 180% 이하이며,The sum Rc (45) of the reflection sharpness measured at an incident angle of light of 45 degrees using four kinds of optical combs having widths of the arm portion and the nominal portion of 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm and 2.0 mm is 180% or less,

암부와 명부의 폭이 각각 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 4종류의 광학빗을 이용하여 광의 입사각 60°로 측정되는 반사 선명도의 합 Rc(60)가 240% 이하인 것이 바람직하다.It is preferable that the sum Rc (60) of the reflection sharpness measured at an incident angle of light of 60 degrees using four types of optical combs having widths of the arm portion and the nominal portion of 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm and 2.0 mm is 240% or less.

본 발명에 따르면, 낮은 헤이즈여도 넓은 관찰 각도에서 충분한 방현성을 가지며, 화상 표시 장치에 배치했을 때에 바램 및 번쩍임의 발생이 충분히 억제된 방현 필름을 제공할 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to provide an antiglare film which has sufficient diffusibility at a wide observation angle even at low haze and is sufficiently suppressed from occurrence of flare and glare when placed in an image display device.

도 1은 방현 필름의 표면 요철 형상의 경사 각도를 설명하기 위한 모식도이다.
도 2는 방현 필름의 표면 요철 형상의 경사 각도의 측정 방법을 설명하기 위한 모식도이다.
도 3은 방현 필름의 표면 요철 형상의 표고를 간단히 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 방현 필름의 표면 요철 형상의 표고가 이산적으로 얻어지는 상태를 나타낸 모식도이다.
도 5는 이산 함수로서 얻어진 표면 요철 형상의 표고의 2차원 파워 스펙트럼으로부터 1차원 파워 스펙트럼을 계산하는 상태를 나타낸 모식도이다.
도 6은 방현 필름의 표면 요철 형상의 표고의 1차원 파워 스펙트럼 I(f)를 공간 주파수 f에 대하여 나타낸 도면이다.
도 7은 금형의 제조 방법(전반 부분)의 바람직한 일례를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 8은 금형의 제조 방법(후반 부분)의 바람직한 일례를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 방현 필름의 제조 방법에 이용되는 제조 장치의 바람직한 일례를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 10은 본 발명의 방현 필름의 제조 방법에 있어서, 적합한 예비 경화 공정을 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 11은 번쩍임 평가를 위한 유닛셀을 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 12는 번쩍임 평가 장치를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 13은 실시예 1∼3 및 비교예 1에서 이용한 패턴 A의 일부를 나타낸 도면이다.
도 14는 비교예 2에서 이용한 패턴 B의 일부를 나타낸 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic view for explaining inclination angles of surface irregularities of an antiglare film. FIG.
2 is a schematic view for explaining a method of measuring the inclination angle of the surface relief shape of the antiglare film.
3 is a view for simply explaining the elevation of the surface relief shape of the antiglare film.
4 is a schematic view showing a state in which the elevation of the surface relief shape of the antiglare film is discretely obtained.
5 is a schematic diagram showing a state in which a one-dimensional power spectrum is calculated from a two-dimensional power spectrum of an elevation of a surface unevenness obtained as a discrete function.
6 is a view showing the one-dimensional power spectrum I (f) of the elevation of the surface relief shape of the antiglare film with respect to the spatial frequency f.
Fig. 7 is a diagram schematically showing a preferable example of the manufacturing method (first half portion) of the mold.
Fig. 8 is a diagram schematically showing a preferable example of the method for manufacturing a mold (latter half).
9 is a diagram schematically showing a preferred example of the production apparatus used in the method for producing an antiglare film of the present invention.
10 is a diagram schematically showing an appropriate preliminary curing step in the method for producing an antiglare film of the present invention.
11 is a diagram schematically showing a unit cell for glare evaluation.
12 is a diagram schematically showing a flashing evaluation apparatus.
13 is a view showing a part of a pattern A used in Examples 1 to 3 and Comparative Example 1. Fig.
14 is a view showing a part of a pattern B used in Comparative Example 2. Fig.

이하, 본 발명의 바람직한 실시형태를 필요에 따라 도면을 참조하여 설명하지만, 상기 도면에 나타내는 치수 등은, 보기 쉽게 하기 위해 임의로 되어 있다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings as necessary, but the dimensions and the like shown in the drawings are arbitrary for easy viewing.

본 발명의 방현 필름은 표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치가 0.2° 이상 1.2° 이하이고, 경사 각도의 표준 편차가 0.1° 이상 0.8° 이하이며, 표면 요철 형상의 표고의 파워 스펙트럼의 공간 주파수 0.01 ㎛-1, 0.02 ㎛-1, 및 0.1 ㎛- 1에 있어서의 강도가 각각 상기한 범위에 있는 것을 특징으로 한다.The antiglare film of the present invention is characterized in that the average value of the inclination angles of the surface irregularities is 0.2 to 1.2 degrees and the standard deviation of the inclination angles is 0.1 to 0.8 degrees and the spatial frequency of the power spectrum of the surface irregularities -1, 0.02 ㎛ -1, and 0.1 ㎛ - the intensity in the first characterized in that in the above-described ranges, respectively.

우선은, 본 발명의 방현 필름에 관하여, 경사 각도의 평균치 및 표준 편차, 그리고 표면 요철 형상의 표고의 파워 스펙트럼을 구하는 방법에 대해서 설명한다.Firstly, with respect to the antiglare film of the present invention, a description will be given of a method of obtaining an average value and a standard deviation of inclination angles and a power spectrum of an elevation of surface irregularity shape.

[경사 각도의 평균치 및 표준 편차][Average value and standard deviation of inclination angle]

경사 각도의 평균치 및 표준 편차를 구하는 방법에 대해서 설명한다.A method of obtaining an average value and a standard deviation of the tilt angles will be described.

본 발명자는, 방현 필름의 표면 요철 형상을 특정한 경사 각도 분포를 나타내도록 하는 것이, 우수한 방현 성능을 가지며, 또한 바램을 효과적으로 방지한 화상 표시 장치를 얻는 데 있어서 매우 유효하다는 것을 발견하였다. 즉, 본 발명의 방현 필름은, 표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치가 0.2° 이상 1.2° 이하이고, 경사 각도의 표준 편차가 0.1° 이상 0.8° 이하이다. 상기 경사 각도의 평균치가 0.2°를 하회하는 경우에는, 표면 요철 형상의 요철이 거의 평탄한 면이 되어, 충분한 방현 성능을 발현할 수 없게 될 우려가 있다. 표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치가 1.2°를 상회하는 경우에는, 그 경사 각도가 급준해져서, 주위로부터의 광을 집광하기 쉬워지기 때문에, 이러한 방현 필름을 구비한 화상 표시 장치는 바램이 발생하기 쉬워진다. 또한, 경사 각도의 표준 편차가 0.1°를 하회하는 경우에는, 표면 요철 형상이 균일해져서, 충분한 방현 성능을 발현하지 않을 가능성이 있다. 경사 각도의 표준 편차가 0.8°를 상회하는 경우에는, 평균치가 소정의 범위 내였다고 해도 표면 요철 형상에 경사 각도가 급준한 영역이 존재하게 되어, 이러한 방현 필름을 구비한 화상 표시 장치는 바램이 발생하기 쉬워진다.The inventor of the present invention has found that it is very effective in obtaining an image display device which has excellent anti-glare performance and effectively prevents fade, in order to make the surface irregularity shape of the antiglare film exhibit a specific inclined angle distribution. That is, in the antiglare film of the present invention, the average value of the inclination angles of the surface irregularities is 0.2 to 1.2 degrees, and the standard deviation of the inclination angles is 0.1 to 0.8 degrees. When the average value of the tilt angle is less than 0.2 deg., The unevenness of the surface irregularity shape becomes a substantially flat surface, and there is a possibility that sufficient antiglare performance can not be exhibited. When the average value of the inclination angle of the surface irregularity shape exceeds 1.2 degrees, the inclination angle becomes steep and the light from the surroundings can be easily condensed. Therefore, the image display apparatus provided with such an antiglare film tends to cause fading Loses. In addition, when the standard deviation of the tilt angle is less than 0.1 deg., The surface irregularity shape becomes uniform, and there is a possibility that sufficient antiglare performance may not be exhibited. In the case where the standard deviation of the tilt angle exceeds 0.8 deg., Even if the average value is within the predetermined range, there is a region where the tilt angle is steep in the surface irregularity shape, and the image display apparatus provided with such an anti- It becomes easier to do.

본 발명에서 말하는 「표면 요철 형상의 경사 각도」란, 도 1에 도시된 방현 필름(1) 표면의 임의의 점 P에서, 필름의 주법선 방향(5)에 대한 국소적인 법선(6)이 이루는 각도 ψ를 의미한다. 이 국소적인 법선(6)이 이루는 각도 ψ는, 점 P에서의 요철의 영향을 가미한다. 표면 요철 형상의 경사 각도는, 공초점 현미경, 간섭 현미경, 원자간력 현미경(AFM) 등의 장치에 의해 측정되는 표면 형상의 3차원 정보로부터 구할 수 있다.The term "angle of inclination of the surface irregularity shape" in the present invention means an angle of inclination of the surface irregularity shape at an arbitrary point P on the surface of the antiglare film 1 shown in FIG. Means an angle ψ. The angle ψ formed by the local normal line 6 affects the influence of the unevenness at the point P. The inclination angle of the surface relief shape can be obtained from three-dimensional information of the surface shape measured by a confocal microscope, an interference microscope, an atomic force microscope (AFM), or the like.

도 2는 표면 요철 형상의 경사 각도의 측정 방법을 설명하기 위한 모식도이다. 구체적인 경사 각도의 결정 방법을 설명하면, 도 2에 도시된 바와 같이, 점선으로 표시되는 가상적인 평면 FGHI 상의 주목점 A를 결정하고, 거기를 지나는 x축 상의 주목점 A의 근방에, 점 A에 대하여 거의 대칭으로 점 B 및 D를, 또한 점 A를 지나는 y축 상의 주목점 A의 근방에, 점 A에 대하여 거의 대칭으로 점 C 및 E를 취하고, 이들 점 B, C, D, E에 대응하는 필름면 상의 점 Q, R, S, T를 결정한다. 또한, 도 2에서는, 필름면 내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시하고, 필름 두께 방향의 좌표를 z로 표시하고 있다. 평면 FGHI는, y축 상의 점 C를 지나는 x축에 평행한 직선, 및, 이 y축 상의 점 E를 지나는 x축에 평행한 직선과, x축 상의 점 B를 지나는 y축에 평행한 직선, 및, 이 x축 상의 점 D를 지나는 y축에 평행한 직선과의 각각의 교점 F, G, H, I에 의해 형성되는 면이다. 또한, 도 2에서는, 평면 FGHI에 대하여, 실제의 필름면의 위치가 위쪽에 오도록 그려져 있지만, 주목점 A가 취하는 위치에 따라 당연하지만, 실제의 필름면의 위치가 평면 FGHI의 위쪽에 오는 경우도 있고, 아래쪽에 오는 경우도 있다.2 is a schematic view for explaining a method of measuring the inclination angle of the surface relief shape. 2, a notable point A on a hypothetical plane FGHI indicated by a dotted line is determined, and a point A is determined in the vicinity of a noteworthy point A on the x-axis passing through the noteworthy point A Points C and E are taken symmetrically with respect to the point A in the vicinity of the point A and the point A on the y-axis passing through the point A in a substantially symmetrical manner and correspond to these points B, C, D and E The points Q, R, S, and T on the film surface are determined. In Fig. 2, the orthogonal coordinates in the film plane are represented by (x, y), and the coordinates in the film thickness direction are represented by z. The plane FGHI is defined by a straight line parallel to the x-axis passing through the point C on the y-axis and a straight line parallel to the x-axis passing through the point E on the y-axis and a straight line parallel to the y- And a straight line parallel to the y-axis passing through the point D on the x-axis. 2, the position of the actual film surface is drawn to the upper side with respect to the plane FGHI. However, depending on the position where the point of interest A is taken, the position of the actual film surface may be on the upper side of the plane FGHI There are also cases that come to the bottom.

그리고, 얻어지는 표면 형상 데이터(표면 요철 형상의 표면 형상 데이터)의 경사 각도는, 주목점 A에 대응하는 실제의 필름면 상의 점 P와, 그 근방에 취해진 4점 B, C, D, E에 대응하는 실제의 필름면 상의 Q, R, S, T의 합계 5점에 의해 펼쳐지는 폴리곤 4평면, 즉, 4개의 삼각형 PQR, PRS, PST, PTQ의 각 법선 벡터(6a, 6b, 6c, 6d)를 평균하여 얻어지는 평균 법선 벡터(6)의 극각을 구함으로써 얻을 수 있다. 이와 같이 하여 각 측정점에 대해서 경사 각도를 구한 후, 경사 각도의 평균치와 표준 편차가 계산된다.The inclination angle of the obtained surface shape data (surface shape data of the surface irregularity shape) corresponds to the point P on the actual film surface corresponding to the remarked point A and the four points B, C, D and E taken in the vicinity thereof 6b, 6c, and 6d of the polygon 4 plane, that is, the four triangles PQR, PRS, PST, and PTQ expanded by five points of Q, R, S, and T on the actual film plane, Of the average normal vector 6 obtained by averaging the average normal vectors. After obtaining the tilt angle with respect to each measurement point in this manner, the average value and the standard deviation of the tilt angle are calculated.

표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치를 0.2° 이상 1.2 ° 이하로 하고, 경사 각도의 표준 편차를 0.1° 이상 0.8° 이하로 하기 위해서는, 미립자를 분산시킨 수지 용액을 투명 지지체 상에 도포하고, 미립자를 도포막 표면에 노출시킴으로써 랜덤한 요철을 투명 지지체 상에 형성하는 방법이라면, 미립자의 입경 및 분산 상태와 도포막의 막 두께를 조정하면 된다. 일반적으로, 미립자의 입경이 일정한 조건 하에서는, 도포막의 막 두께를 증가시키는 것에 의해, 경사 각도의 평균치는 저하된다. 또한, 미립자의 분산 상태가 양호, 즉 미립자가 균일하게 투명 지지체 상에 배치되어 있을수록, 경사 각도의 표준 편차는 작아진다.In order to set the average value of the inclination angle of the surface irregular shape to 0.2 to 1.2 degrees and to set the standard deviation of the inclination angle to 0.1 to 0.8 degrees, a resin solution in which the fine particles are dispersed is applied on the transparent support, If the method is to form random irregularities on the transparent support by exposing to the surface of the coating film, the particle size and dispersion state of the fine particles and the film thickness of the coating film may be adjusted. Generally, under the condition that the particle size of the fine particles is constant, the average value of the inclination angle is lowered by increasing the film thickness of the coating film. Further, the better the dispersion state of the fine particles, that is, the more uniformly the fine particles are arranged on the transparent support, the smaller the standard deviation of the tilt angle.

또한, 후술하는 본 발명의 방현 필름을 얻기 위해서 바람직한 방법에 있어서는, 에칭 공정의 에칭량과 제2 도금 공정의 도금 두께를 조정함으로써, 본 발명의 요건을 만족하는 방현 필름을 얻을 수 있다. 에칭 공정의 에칭량을 감소시키거나, 혹은 제2 도금 공정의 도금 두께를 증가시킴으로써, 경사 각도의 평균치 및 표준 편차를 작게 할 수 있다.In the preferred method for obtaining the antiglare film of the present invention described later, an antiglare film satisfying the requirements of the present invention can be obtained by adjusting the etching amount of the etching step and the plating thickness of the second plating step. The average value and the standard deviation of the tilt angle can be reduced by reducing the etching amount of the etching process or increasing the plating thickness of the second plating process.

[표면 요철 형상의 표고의 파워 스펙트럼][Power spectrum of elevation of surface irregularities]

이하, 방현 필름의 표면 요철 형상의 표고의 파워 스펙트럼에 대해서 설명한다. 도 2는, 본 발명의 방현 필름의 표면을 모식적으로 나타낸 단면도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 방현 필름(1)은, 투명 지지체(101)와 그 위에 형성된 방현층(102)을 가지며, 방현층(102)은, 투명 지지체(101)와 반대측에 미세한 요철(2)을 갖는 표면 요철 형상을 구비한다.Hereinafter, the power spectrum of the elevation of the surface relief shape of the antiglare film will be described. 2 is a cross-sectional view schematically showing the surface of an antiglare film of the present invention. 2, the antiglare film 1 of the present invention has a transparent support 101 and an antiglare layer 102 formed on the transparent support 101. The antiglare layer 102 is formed on the opposite side of the transparent support 101 And has a surface relief shape having fine irregularities (2).

여기서, 본 발명에서 말하는 「표면 요철 형상의 표고」란, 필름(1) 표면의 임의의 점 P와, 표면 요철 형상의 평균 높이에 있어서 상기 높이를 갖는 가상적인 평면(103)(표고는 기준으로 0 ㎛)과의 필름의 주법선 방향(5)(상기 가상적인 평면(103)에 있어서의 법선 방향)에 있어서의 직선 거리를 의미한다.Herein, the "height of the surface irregular surface shape" in the present invention means an arbitrary point P on the surface of the film (1) and a virtual plane (103) having the height at the average height of the surface irregular surface 0 占 퐉) in the main normal direction 5 of the film (normal direction in the virtual plane 103).

실제로는, 방현 필름은 도 1에 모식적으로 나타낸 바와 같이, 2차원 평면 상에 미세한 요철이 형성된 방현층을 갖는다. 그래서, 표면 요철 형상의 표고는 도 1에 도시된 바와 같이, 필름면 내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시했을 때에, 좌표(x, y)의 2차원 함수 h(x, y)로 나타낼 수 있다.Actually, the antiglare film has, as schematically shown in Fig. 1, an antiglare layer in which fine irregularities are formed on a two-dimensional plane. 1, the elevation of the surface relief shape is represented by a two-dimensional function h (x, y) of the coordinates (x, y) when the rectangular coordinates in the film plane are represented by (x, y) .

표면 요철 형상의 표고는, 공초점 현미경, 간섭 현미경, 원자간력 현미경(AFM) 등의 장치에 의해 측정되는 표면 형상의 3차원 정보로부터 구할 수 있다. 측정기에 요구되는 수평 분해능은, 적어도 5 ㎛ 이하, 바람직하게는 2 ㎛ 이하이며, 또한 수직 분해능은, 적어도 0.1 ㎛ 이하, 바람직하게는 0.01 ㎛ 이하이다. 이 측정에 적합한 비접촉 3차원 표면 형상·거칠기 측정기로는, New View 5000 시리즈(Zygo Corporation사 제조), 3차원 현미경 PLμ2300(Sensofar사 제조) 등을 들 수 있다. 측정 면적은, 표고의 파워 스펙트럼의 분해능이 0.005 ㎛-1 이하일 필요가 있기 때문에, 적어도 200 ㎛×200 ㎛로 하는 것이 바람직하고, 500 ㎛×500 ㎛ 이상으로 하는 것이 보다 바람직하다.The elevation of the surface irregularities can be obtained from three-dimensional information of the surface shape measured by a confocal microscope, an interference microscope, an atomic force microscope (AFM), or the like. The horizontal resolution required for the measuring instrument is at least 5 μm or less, preferably 2 μm or less, and the vertical resolution is at least 0.1 μm or less, preferably 0.01 μm or less. The non-contact three-dimensional surface shape / roughness measuring instrument suitable for this measurement includes a New View 5000 series (manufactured by Zygo Corporation) and a 3-dimensional microscope PLμ2300 (manufactured by Sensofar). The measurement area is preferably at least 200 탆 x 200 탆, more preferably at least 500 탆 x 500 탆, since the resolution of the power spectrum of the elevation is required to be 0.005 탆 -1 or less.

다음으로, 2차원 함수 h(x, y)로부터 표고의 파워 스펙트럼을 구하는 방법에 대해서 설명한다. 우선, 2차원 함수 h(x, y)로부터, 식 (1)로 정의되는 2차원 푸리에 변환에 의해 2차원 함수 H(fx, fy)를 구한다.Next, a method of obtaining the power spectrum of elevation from the two-dimensional function h (x, y) will be described. First, a two-dimensional function H (f x , f y ) is obtained from a two-dimensional function h (x, y) by a two-dimensional Fourier transform defined by equation (1).

Figure pct00001
Figure pct00001

여기서 fx 및 fy는 각각 x 방향 및 y 방향의 주파수이며, 길이의 역수의 차원을 갖는다. 또한, 식 (1) 중의 π는 원주율, i는 허수 단위이다. 얻어진 2차원 함수 H(fx, fy)의 절대치를 제곱함으로써, 2차원 파워 스펙트럼 I(fx, fy)를 식 (2)에 의해 구할 수 있다.Where f x and f y are frequencies in the x and y directions, respectively, and have a dimension of the reciprocal of the length. In the equation (1),? Is the circumferential ratio and i is the imaginary unit. The two-dimensional power spectrum I (f x , f y ) can be obtained by the formula (2) by squaring the absolute values of the obtained two-dimensional functions H (f x , f y ).

Figure pct00002
Figure pct00002

이 2차원 파워 스펙트럼 I(fx, fy)는, 방현 필름이 갖는 표면 요철 형상의 공간 주파수 분포를 나타내고 있다. 방현 필름은 등방적이기 때문에, 표면 요철 형상의 표고의 2차원 파워 스펙트럼을 나타내는 2차원 함수 I(fx, fy)는, 원점(0, 0)으로부터의 거리 f에만 의존하는 1차원 함수 I(f)로 나타낼 수 있다. 다음으로, 2차원 함수 I(fx, fy)로부터 1차원 함수 I(f)를 구하는 방법을 나타낸다. 우선, 표고의 2차원 파워 스펙트럼인 2차원 함수 I(fx, fy)를 식 (3)에 기초하여 극좌표로 표시한다.This two-dimensional power spectrum I (f x , f y ) represents the spatial frequency distribution of the surface irregularities of the antiglare film. Since the antiglare film is isotropic, the two-dimensional function I (f x , f y ) representing the two-dimensional power spectrum of the surface irregularities is a one-dimensional function I (f x , f y ) dependent only on the distance f from the origin f). Next, a method of obtaining the one-dimensional function I (f) from the two-dimensional function I (f x , f y ) is shown. First, the two-dimensional function I (f x , f y ), which is the two-dimensional power spectrum of the elevation, is displayed in polar coordinates based on equation (3).

Figure pct00003
Figure pct00003

여기서 θ는 푸리에 공간 중의 편각이다. 1차원 함수 I(f)는 극좌표 표시한 2차원 함수 I(fcosθ, fsinθ)의 회전 평균을 식 (4)에 기초하여 계산함으로써 구할 수 있다. 표고의 2차원 파워 스펙트럼인 2차원 함수 I(fx, fy)의 회전 평균으로부터 구해지는 1차원 함수 I(f)를, 이하에서는 1차원 파워 스펙트럼 I(f)라고도 한다.Where θ is the angle of declination in the Fourier space. The one-dimensional function I (f) can be obtained by calculating the rotation average of the two-dimensional function I (fcosθ, fsinθ) displayed in polar coordinates on the basis of equation (4). The one-dimensional function I (f) obtained from the rotation average of the two-dimensional function I (f x , f y ), which is the two-dimensional power spectrum of the elevation, is also referred to as a one-dimensional power spectrum I (f).

Figure pct00004
Figure pct00004

본 발명의 방현 필름은, 표면 요철 형상의 표고로부터 계산되는 1차원 파워 스펙트럼 I(f)의 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.01)와, 공간 주파수 0.02 ㎛-1에 있어서의 강도 I(0.02)와, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에 있어서의 강도 I(0.1)가 특정한 범위 내인 것을 특징으로 하는 것이다.0.01 ㎛ spatial frequency of the one-dimensional power spectrum I (f), which is calculated from the elevation of the anti-glare film, the surface irregularities of the present invention and the intensity I (0.01) in the first, the intensity of the spatial frequency 0.02 ㎛ -1 I (0.02) and the intensity I (0.1) at a spatial frequency of 0.1 탆 -1 are within a specific range.

이하, 방현 필름이 갖는 표면 요철 형상의 표고의 2차원 파워 스펙트럼을 구하는 방법을 더욱 구체적으로 설명한다. 상기한 공초점 현미경, 간섭 현미경, 원자간력 현미경 등에 의해 실제로 측정되는 표면 형상의 3차원 정보는 일반적으로 이산적인 값, 즉, 다수의 측정점에 대응하는 표고로서 얻어진다. 도 4는 표고를 나타내는 함수 h(x, y)가 이산적으로 얻어지는 상태를 나타낸 모식도이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 필름면 내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시하고, 필름 투영면(3) 상에, x축 방향으로 Δx마다 분할한 선과, y축 방향으로 Δy마다 분할한 선을 파선으로 나타내면, 실제의 측정에서는, 표면 요철 형상의 표고는 필름 투영면(3) 상의 각 파선으로 분할된 면적 Δx×Δy마다의 이산적인 표고치로서 얻어진다.Hereinafter, a method of obtaining the two-dimensional power spectrum of the elevation of the surface relief shape of the antiglare film will be described in more detail. The three-dimensional information of the surface shape actually measured by the confocal microscope, the interference microscope, the atomic force microscope and the like is generally obtained as discrete values, i.e., elevations corresponding to a plurality of measurement points. Fig. 4 is a schematic diagram showing a state in which a function h (x, y) representing an elevation is discretely obtained. As shown in Fig. 4, a rectangular coordinate in the film plane is represented by (x, y), and a line segmented by Δx in the x-axis direction on the film projection plane 3 and a line segmented by Δy in the y- In the actual measurement, the elevation of the surface irregularity shape is obtained as a discrete table correction value for each area? X 占 y divided by each dashed line on the film projection surface 3.

얻어지는 표고치의 수는 측정 범위와, Δx 및 Δy에 의해 정해지고, 도 4에 도시된 바와 같이 x축 방향의 측정 범위를 X=MΔx로 하고, y축 방향의 측정 범위를 Y=NΔy로 하면, 얻어지는 표고치의 수는 M×N개이다.If the measurement range in the x-axis direction is X = M? X and the measurement range in the y-axis direction is Y = N? Y as shown in Fig. 4, the number of the obtained elevation values is determined by the measurement range and? X and? Y, The number of the obtained elevation values is M × N.

도 4에 도시된 바와 같이 필름 투영면(3) 상의 주목점 A의 좌표를 (mΔx, nΔy)[여기서 m은 0 이상 M-1 이하이고, n은 0 이상 N-1 이하임]로 하면, 주목점 A에 대응하는 필름면 상의 점 P의 표고는 h(mΔx, nΔy)로 나타낼 수 있다.(M? X, n? Y) (where m is not less than 0 but not more than M-1 and n is not less than 0 but not more than N-1) as shown in Fig. 4, The elevation of the point P on the film surface corresponding to the point A can be represented by h (m? X, n? Y).

여기서, 측정 간격 Δx 및 Δy는, 측정 기기의 수평 분해능에 의존하고, 양호한 정밀도로 표면 요철 형상을 평가하기 위해서는, Δx 및 Δy는 모두 5 ㎛ 이하인 것이 바람직하고, 2 ㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 또한, 측정 범위 X 및 Y는 전술한 바와 같이, 모두 200 ㎛ 이상이 바람직하고, 500 ㎛ 이상이 보다 바람직하다.Here, the measurement intervals [Delta] x and [Delta] y depend on the horizontal resolution of the measuring instrument, and in order to evaluate the surface irregularity shape with good precision, both [Delta] x and [Delta] y are preferably 5 [micro] m or less and more preferably 2 [micro] m or less. In addition, as described above, the measurement ranges X and Y are all preferably 200 m or more, and more preferably 500 m or more.

이와 같이 실제의 측정에서는, 표면 요철 형상의 표고를 나타내는 함수는, M×N개의 값을 갖는 이산 함수 h(x, y)로서 얻어진다. 그래서, 표면 요철 형상의 표고의 2차원 함수 h(x, y)의 2차원 푸리에 변환에 의해 구해지는 2차원 함수 H(fx, fy)도, 식 (1)을 이산적으로 계산한 이산 푸리에 변환에 의해 식 (5)와 같이 이산 함수로서 구할 수 있다.In this way, in actual measurement, the function indicating the elevation of the surface relief shape is obtained as a discrete function h (x, y) having M x N values. Therefore, the two-dimensional function H (f x , f y ) obtained by the two-dimensional Fourier transform of the two-dimensional function h (x, y) of the elevation of the surface irregularities can also be expressed as discrete Can be obtained as a discrete function by the Fourier transform as shown in equation (5).

Figure pct00005
Figure pct00005

여기서, 식 (5) 중의 j는 -M/2 이상 M/2 이하의 정수이고, k는 -N/2 이상 N/2 이하의 정수이다. 또한, Δfx 및 Δfy는 각각 x 방향 및 y 방향의 주파수 간격이며, 식 (6) 및 식 (7)에 의해 정의된다.Here, j in the equation (5) is an integer of -M / 2 or more and M / 2 or less, and k is an integer of -N / 2 or more and N / 2 or less. Further,? F x and? F y are frequency intervals in the x direction and y direction, respectively, and are defined by equations (6) and (7).

Figure pct00006
Figure pct00006

Figure pct00007
Figure pct00007

2차원 파워 스펙트럼 I(fx, fy)는 식 (5)에 의해 구해진 이산 함수 H(fx, fy)의 절대치를 제곱함으로써 식 (8)에 나타내는 바와 같이 구할 수 있다.The two-dimensional power spectrum I (f x , f y ) can be obtained as shown in equation (8) by squaring the absolute value of the discrete function H (f x , f y ) obtained by equation (5).

Figure pct00008
Figure pct00008

식 (8)에 있어서, |H(jΔfx, kΔfy)|2를 MNΔxΔy로 나눈 이유는, 실제의 측정의 경우에는 측정 면적에 따라 적분 범위가 상이한 것을 규격화하기 위함이다.In the equation (8), | H (j? F x , k? F y ) | 2 is divided by MN DELTA x DELTA y in order to standardize the fact that the integral range differs depending on the measurement area in the case of actual measurement.

이산 함수로서 얻어진 2차원 파워 스펙트럼 I(fx, fy)도 방현 필름이 갖는 표면 요철 형상의 공간 주파수 분포를 나타내고 있다. 또한, 방현 필름은 등방적이기 때문에, 표면 요철 형상의 표고의 2차원 파워 스펙트럼을 나타내는 2차원 이산 함수 I(fx, fy)도 원점(0, 0)으로부터의 거리 f에만 의존하는 1차원 이산 함수 I(f)로 나타낼 수 있다. 2차원 이산 함수 I(fx, fy)로부터 1차원 이산 함수 I(f)를 구하는 경우도 식 (4)와 마찬가지로 회전 평균을 계산하면 된다. 2차원 이산 함수 I(fx, fy)의 이산적인 회전 평균은 식 (9)에 의해 계산할 수 있다.The two-dimensional power spectrum I (f x , f y ) obtained as a discrete function also shows the spatial frequency distribution of the surface relief shape of the antiglare film. Since the antiglare film is isotropic, the two-dimensional discrete function I (f x , f y ) representing the two-dimensional power spectrum of the surface irregular shape is also a one-dimensional discrete function (f x , f y ) depending only on the distance f from the origin Can be expressed as a function I (f). When the one-dimensional discrete function I (f) is obtained from the two-dimensional discrete function I (f x , f y ), the rotation average can be calculated as in the case of the equation (4). The discrete rotational averages of the two-dimensional discrete function I (f x , f y ) can be calculated by equation (9).

Figure pct00009
Figure pct00009

여기서, M≥N인 경우, l은 0 이상 N/2 이하의 정수이며, M<N인 경우, l은 0 이상 M/2 이하의 정수이다. 또한, Δf는 원점으로부터의 거리의 간격이며, Δf=(Δfx+Δfy)/2로 했다. 또한, Θ(x)는 식 (10)으로 정의되는 헤비사이드 함수이고, fjk는 (j, k)에 있어서의 원점으로부터의 거리이며, 식 (11)에 의해 계산된다.Here, when M &gt; = N, 1 is an integer of 0 or more and N / 2 or less, and when M &lt; N, l is an integer of 0 or more and M / 2 or less. Further,? F is the distance between the origin and? F = (? F x +? F y ) / 2. Further, Θ (x) is a Heaviside function defined by equation (10), and f jk is the distance from the origin at (j, k) and is calculated by equation (11).

Figure pct00010
Figure pct00010

Figure pct00011
Figure pct00011

식 (9)에 나타내는 계산에 대해서 도 5를 이용하여 설명한다. 함수 Θ(fjk-(l-1/2)Δf)는, fjk가 (l-1/2)Δf 미만일 때에는 0이고, (l-1/2)Δf 이상일 때에는 1이며, 함수 Θ(fjk-(l+1/2)Δf)는, fjk가 (l+1/2)Δf 미만일 때에는 0이고, (l+1/2)Δf 이상일 때에는 1이기 때문에, 식 (9)의 Θ(fjk-(l-1/2)Δf)-Θ(fjk-(l+1/2)Δf)는, fjk가 (l-1/2)Δf 이상 (l-1/2)Δf 미만일 때에만 1이 되고, 그 이외의 경우에는 0이 된다. 여기서 fjk는 주파수 공간에 있어서, 원점 ○(fx=0, fy=0)으로부터의 거리이기 때문에, 식 (9)의 분모는 원점 ○으로부터의 거리 fjk가 (l-1/2)Δf 이상 (l+1/2)Δf 미만에 위치하는 모든 점(도 5 중의 ●점)의 개수를 계산하고 있게 된다. 또한, 식 (9)의 분자는 원점 ○으로부터의 거리 fjk가 (l-1/2)Δf 이상 (l+1/2)Δf 미만에 위치하는 모든 점의 I(fx, fy)의 합계치(도 5 중의 ●점에서의 I(fx, fy)의 합계치)를 계산하고 있게 된다.The calculation shown in Expression (9) will be described with reference to FIG. The function Θ (f jk - (l-1/2) Δf) is 0 when f jk is less than (l-1/2) Δf and is 1 when it is more than (l-1/2) jk - (l + 1/2) Δf) is 0 when f jk is less than (l + 1/2) Δf and is 1 when it is not less than (l + f jk - (l-1/ 2) Δf) -Θ (f jk - (l + 1/2) Δf) are, f jk is (l-1/2) Δf or more (l-1/2) Δf below 1, and 0 otherwise. Where f jk is in a frequency space, the origin ○ (f x = 0, f y = 0) , because the distance it is from, the denominator of equation (9) is the distance from the origin ○ f jk is (l-1/2) The number of all the points (points in Fig. 5) located below? F or above (l + 1/2)? F is calculated. The numerator of equation (9) is a numerator of I (f x , f y ) of all points located at a distance f jk from the origin O to (l-1/2) (A total value of I (f x , f y ) at the point [omega] in Fig. 5) is calculated.

일반적으로, 상기한 방법에 의해 구해지는 1차원 파워 스펙트럼은, 측정에 있어서의 잡음을 포함하고 있다. 여기서 1차원 파워 스펙트럼을 구하는 데 있어서, 이 잡음의 영향을 없애기 위해서는, 방현 필름 상의 복수 개소의 표면 요철 형상의 표고를 측정하고, 각각의 표면 요철 형상의 표고로부터 구해지는 1차원 파워 스펙트럼의 평균치를 1차원 파워 스펙트럼 I(f)로서 이용하는 것이 바람직하다. 방현 필름 상의 표면 요철 형상의 표고를 측정하는 개소의 수는 3개소 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 5개소 이상이다.Generally, the one-dimensional power spectrum obtained by the above method includes noise in measurement. In order to eliminate the influence of the noise in obtaining the one-dimensional power spectrum, the elevation of the surface irregularities at a plurality of locations on the antiglare film is measured, and the average value of the one-dimensional power spectrum obtained from the elevation of the surface irregularities is It is preferable to use it as the one-dimensional power spectrum I (f). The number of sites for measuring the elevation of the surface irregularities on the anti-ghost film is preferably 3 or more, and more preferably 5 or more.

도 6에, 이와 같이 하여 얻어진 표면 요철 형상의 표고의 1차원 파워 스펙트럼의 I(f)를 나타낸다. 도 6의 1차원 파워 스펙트럼 I(f)는 방현 필름 상의 5개소의 상이한 개소의 표면 요철 형상의 표고로부터 구해진 1차원 파워 스펙트럼을 평균한 것이다.Fig. 6 shows I (f) of the one-dimensional power spectrum of the elevation of the surface irregularity shape thus obtained. The one-dimensional power spectrum I (f) in FIG. 6 is obtained by averaging the one-dimensional power spectra obtained from the elevation of the surface concave-convex shapes at five different places on the antiglare film.

본 발명의 방현 필름은, 표면 요철 형상의 표고로부터 계산되는 1차원 파워 스펙트럼 I(f)의 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.01)가 2 ㎛4 이상 10 ㎛4 이하이고, 공간 주파수 0.02 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.02)가 0.1 ㎛4 이상 1.5 ㎛4 이하이며, 공간 주파수 0.1 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.1)가 0.0001 ㎛4 이상 0.01 ㎛4 이하인 것을 특징으로 한다. 여기서 1차원 파워 스펙트럼 I(f)는 이산 함수로서 얻어지기 때문에, 특정한 공간 주파수 f1에 있어서의 강도 I(f1)를 구하기 위해서는 식 (12)에 나타낸 바와 같이 내삽하여 계산하면 된다.The anti-glare film of the invention, the surface spatial frequency 0.01 ㎛ of a one-dimensional power spectrum I (f), which is calculated from the altitude of the concave-convex shape - and the intensity I (0.01) in the 1 2 ㎛ 4 or more and 10 ㎛ 4, space frequency 0.02 ㎛ - the intensity I (0.02) in the first and at least 0.1 ㎛ 4 1.5 ㎛ 4 or less, the spatial frequency 0.1 ㎛ - the intensity I (0.1) in a 1 characterized in that not more than 0.0001 ㎛ 4 more than 0.01 ㎛ 4 do. Since the one-dimensional power spectrum I (f) is obtained as a discrete function, the intensity I (f 1 ) at a specific spatial frequency f 1 can be interpolated as shown in equation (12).

Figure pct00012
Figure pct00012

본 발명의 방현 필름은, 상기한 특정 공간 주파수에 있어서의 강도를 각각 소정의 범위로 함으로써, 후술하는 헤이즈와, 전술한 표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치의 상승 효과에 의해, 바램이나 번쩍임의 발생을 양호하게 방지하면서, 우수한 방현성을 발현시킨다. 이러한 효과를 더욱 발현시키기 위해서는, 강도 I(0.01)는, 2.5 ㎛4 이상 9 ㎛4 이하가 바람직하고, 3 ㎛4 이상 8 ㎛4 이하가 더욱 바람직하다. 마찬가지로, 강도 I(0.02)는 0.2 ㎛4 이상 1.2 ㎛4 이하가 바람직하고, 0.25 ㎛4 이상 1 ㎛4 이하가 더욱 바람직하며, 강도 I(0.1)는, 0.0003 ㎛4 이상 0.0075 ㎛4 이하가 바람직하고, 0.0005 ㎛4 이상 0.005 ㎛4 이하가 더욱 바람직하다.The antiglare film of the present invention has the strength at the specific spatial frequency set in each of the predetermined ranges to cause occurrence of fainting and glare due to the synergistic effect of the haze described later and the average value of the inclination angles of the surface concave- , While exhibiting excellent anti-glare properties. In order to further exhibit such an effect, the intensity I (0.01) is preferably not less than 2.5 μm 4 and not more than 9 μm 4 , more preferably not less than 3 μm 4 and not more than 8 μm 4 . Likewise, the strength I (0.02) is preferably 0.2 to 4 μm and not more than 1.2 μm 4, more preferably 0.25 to 4 μm and 1 μm 4 or less, and the strength I (0.1) is preferably not less than 0.0003 μm 4 and not more than 0.0075 μm 4 , more preferably from 0.0005 ㎛ 4 or more than 4 0.005 ㎛.

I(0.01)가 상기 범위를 하회하는 경우에는, 비스듬한 방향에서 방현 필름을 관찰했을 때의 방현 효과에 기여하는 100 ㎛ 정도(공간 주파수로 0.01 ㎛-1에 상당)의 주기의 기복이 작아지고, 방현성이 불충분해진다. I(0.01)가 상기 범위를 상회하는 경우에는, 100 ㎛ 정도의 주기의 기복이 너무 커져, 방현 필름의 미세 요철이 거칠어지고, 헤이즈가 상승하는 경향이 있기 때문에 바람직하지 않다.When I (0.01) is less than the above range, undulations of a period of about 100 占 퐉 (corresponding to 0.01 占 퐉 -1 at a spatial frequency), which contributes to the antiglare effect when the antiglare film is observed in an oblique direction, The repellency becomes insufficient. When I (0.01) exceeds the above range, undulations of the period of about 100 占 퐉 become too large, the micro concavity and convexity of the antiglare film becomes rough, and the haze tends to rise.

I(0.02)가 상기 범위를 하회하는 경우에는, 정면에서 방현 필름을 관찰했을 때의 방현 효과에 기여하는 50 ㎛ 정도(공간 주파수로 0.02 ㎛-1에 상당)의 주기의 기복이 작아지고, 방현성이 불충분해진다. I(0.02)가 상기 범위를 상회하는 경우에는, 50 ㎛ 정도의 주기의 기복이 너무 커져, 번쩍임이 발생하게 된다.When the I (0.02) is less than the above range, the undulations of the period of about 50 占 퐉 (corresponding to 0.02 占 퐉 -1 at the spatial frequency) contributing to the antiglare effect when the antiglare film is observed at the front face are reduced, The present state becomes insufficient. When I (0.02) exceeds the above range, undulation of a period of about 50 占 퐉 becomes too large and glare occurs.

I(0.1)가 상기 범위를 하회하는 경우에는, 10 ㎛ 정도(공간 주파수로 0.1 ㎛-1에 상당)의 단주기의 요철 형상이 매우 적고, 방현 필름의 표면 요철 형상이 장주기의 요철 형상만으로 형성되게 되어, 방현 필름의 표면 질감이 거칠어지기 때문에 바람직하지 않다. I(0.1)가 상기 범위를 상회하는 경우에는, 10 ㎛ 정도의 단주기의 표면 요철 형상에 의한 산란이 강해져서, 바램이 발생하기 쉬워진다.In the case where I (0.1) is less than the above range, the concavity and convexity of the short period of about 10 占 퐉 (corresponding to 0.1 占 퐉 -1 at the spatial frequency) is very small and the surface irregularity shape of the antiglare film is formed only in the concavo- And the surface texture of the antiglare film becomes rough, which is not preferable. When I (0.1) exceeds the above range, scattering due to the surface irregularities of a short period of about 10 占 퐉 becomes strong, and desire is liable to occur.

[전체 헤이즈, 표면 헤이즈][Total haze, surface haze]

본 발명의 방현 필름은, 방현성을 발현하고, 바램을 방지하기 위해, 수직 입사광에 대한 전체 헤이즈가 0.1% 이상 3% 이하의 범위이며, 표면 헤이즈가 0.1% 이상 2% 이하의 범위의 것이다. 방현 필름의 전체 헤이즈는, JIS K 7136에 나타내는 방법에 준거한 방법에 의해 측정할 수 있다. 전체 헤이즈 또는 표면 헤이즈가 0.1%를 하회하는 방현 필름을 배치한 화상 표시 장치는, 충분한 방현성을 발현하지 못하기 때문에 바람직하지 않다. 또한, 전체 헤이즈가 3%를 상회하는 경우, 또는 표면 헤이즈가 2%를 상회하는 경우의 방현 필름은, 상기 방현 필름을 배치한 화상 표시 장치가, 바램을 발생하는 것이 되기 때문에 바람직하지 않다. 또한, 이러한 화상 표시 장치는, 그 콘트라스트도 불충분해진다는 문제도 있다.The antiglare film of the present invention has a total haze of not less than 0.1% and not more than 3% with respect to the normal incident light and exhibits a surface haze of not less than 0.1% and not more than 2% in order to exhibit antifogging properties and prevent fretting. The total haze of the antiglare film can be measured by a method in accordance with the method described in JIS K7136. An image display device in which an antiglare film having a total haze or surface haze of less than 0.1% is disposed is not preferable because it does not exhibit sufficient diffusibility. The antiglare film when the total haze exceeds 3% or the surface haze exceeds 2% is not preferable because the image display device in which the antiglare film is disposed causes fading. In addition, such an image display apparatus also has a problem that the contrast thereof becomes insufficient.

전체 헤이즈에서 표면 헤이즈를 빼서 구할 수 있는 내부 헤이즈는 낮을수록 바람직하고, 구체적으로는 2.5% 이하인 것이 바람직하다. 상기 내부 헤이즈가 2.5%를 상회하는 방현 필름을 배치한 화상 표시 장치는, 그 콘트라스트가 저하되는 경향이 있다.The lower the internal haze that can be obtained by subtracting the surface haze from the total haze, the more desirable it is, and specifically the haze is preferably 2.5% or less. An image display device in which an antiglare film having an internal haze of more than 2.5% is disposed has a tendency to lower its contrast.

[투과 선명도 Tc, 반사 선명도 Rc(45), 및 반사 선명도 Rc(60)][Transmission clarity Tc, reflection sharpness Rc (45), and reflection sharpness Rc (60)]

본 발명의 방현 필름은, 하기하는 측정 조건에서 구해지는 투과 선명도의 합 Tc가 375% 이상인 것이 바람직하다. 투과 선명도의 합 Tc는, JIS K 7105에 준거하는 방법에 의해 소정 폭의 광학빗을 이용하여 상의 선명도를 각각 측정하고, 그 합계를 구함으로써 산출된다. 구체적으로는, 암부와 명부의 폭의 비가 1:1이고, 그 폭이 0.125 ㎜, 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 5종류의 광학빗을 이용하여 상의 선명도를 각각 측정하고, 그 합계를 구하여, Tc로 한다. Tc가 375%를 하회하는 방현 필름은, 보다 고선명도의 화상 표시 장치에 배치한 경우에, 번쩍임이 발생하기 쉬워지는 경우가 있다. Tc의 상한은, 그 최대치인 500% 이하의 범위에서 선택되지만, 이 Tc가 지나치게 높으면, 정면으로부터의 방현성이 저하되기 쉬운 화상 표시 장치가 얻어지기 때문에, 예컨대 450% 이하인 것이 바람직하다.In the antiglare film of the present invention, it is preferable that the sum Tc of the transmission clarity determined under the following measurement conditions is 375% or more. The sum of transmission sharpness Tc is calculated by measuring the sharpness of each image by using an optical comb of a predetermined width by a method in accordance with JIS K 7105, and then calculating the sum. Specifically, the image clarity was measured using five kinds of optical combs each having a ratio of the width of the arm portion and the width of the name portion of 1: 1 and the widths of 0.125 mm, 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm and 2.0 mm, To obtain Tc. When the anti-glare film having a Tc of less than 375% is arranged in an image display device with higher image clarity, the anti-glare film may easily become flicker. The upper limit of Tc is selected within a range of 500% or less of its maximum value. However, if the Tc is excessively high, an image display apparatus which easily deteriorates the retardation from the front surface can be obtained.

본 발명의 방현 필름은, 입사각 45°의 입사광으로 측정되는 반사 선명도 Rc(45)가 180% 이하인 것이 바람직하다. 반사 선명도 Rc(45)는, 상기 Tc와 마찬가지로, JIS K 7105에 준거하는 방법으로 측정되는 것이며, 상기 5종류의 광학빗 중, 그 폭이 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 4종류의 광학빗을 이용하여 측정된 상의 선명도를 각각 측정하고, 그 합계를 구하여, Rc(45)로 한다. Rc(45)가 180% 이하이면, 이러한 방현 필름을 배치한 화상 표시 장치는, 정면 및 비스듬한 방향에서 관찰했을 때의 방현성이 보다 양호해지므로 바람직하다. Rc(45)의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 바램이나 번쩍임의 발생을 양호하게 억제하기 위해서는, 예컨대 80% 이상인 것이 바람직하다.The antiglare film of the present invention preferably has a reflectance sharpness Rc (45) measured with incident light at an incident angle of 45 degrees of 180% or less. The reflection sharpness Rc (45) is measured by a method in accordance with JIS K 7105 in the same manner as Tc. Four types of optical combs having the widths of 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm, and 2.0 mm And the total of the measured sharpnesses is obtained as Rc (45). When the Rc (45) is 180% or less, the image display device having such an antiglare film is preferable because the retardation when viewed from the front and oblique directions becomes better. The lower limit of the Rc (45) is not particularly limited, but is preferably 80% or more, for example, in order to suppress occurrence of desire or glare.

본 발명의 방현 필름은, 입사각 60°의 입사광으로 측정되는 반사 선명도 Rc(60)가 240% 이하인 것이 바람직하다. 반사 선명도 Rc(60)는, 입사각을 변경하는 것 이외에는, 반사 선명도 Rc(45)와 동일한 JIS K 7105에 준거하는 방법으로 측정된다. Rc(60)가 240% 이하이면, 그 방현 필름을 배치한 화상 표시 장치는, 비스듬한 방향에서 관찰했을 때의 방현성이 보다 양호해지므로 바람직하다. Rc(60)의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 바램이나 번쩍임의 발생을 보다 양호하게 억제하기 위해서는, 예컨대 150% 이상인 것이 바람직하다.The antiglare film of the present invention preferably has a reflectance sharpness Rc (60) of 240% or less as measured with incident light at an incident angle of 60 °. The reflection sharpness Rc (60) is measured by a method in accordance with JIS K 7105 which is the same as the reflection sharpness Rc (45) except that the incident angle is changed. When the Rc (60) is 240% or less, the image display device provided with the antiglare film is preferable because the retardation when observed in the oblique direction becomes better. The lower limit of the Rc (60) is not particularly limited, but is preferably 150% or more, for example, in order to further suppress occurrence of desire or glare.

[본 발명의 방현 필름의 제조 방법][Method of producing antiglare film of the present invention]

본 발명의 방현 필름은, 예컨대 이하와 같이 하여 제조된다. 제1 방법은, 소정의 패턴에 기초한 표면 요철 형상이, 성형 표면에 형성된 미세 요철 형성용 금형을 준비하고, 상기 금형의 요철면의 형상을 투명 지지체에 전사한 후, 요철면의 형상이 전사된 투명 지지체를 금형으로부터 박리한다는 방법이다. 제2 방법은, 미립자, 수지(바인더) 및 용제를 포함하고, 이러한 미립자가 수지 용액에 분산된 조성물을 준비하고, 상기 조성물을 투명 지지체 상에 도포하고, 필요에 따라 건조시킴으로써 형성한 도포막(미립자를 포함하는 도포막)을 경화시킨다는 방법이다. 제2 방법에서는, 도포막 두께나 미립자의 응집 상태를, 상기 조성물의 조성이나 상기 도포막의 건조 조건 등에 의해 조정함으로써, 미립자를 도포막의 표면에 노출시켜, 랜덤한 요철을 투명 지지체 상에 형성한다. 방현 필름의 생산 안정성, 생산 재현성의 관점에서는, 제1 방법에 의해 본 발명의 방현 필름을 제조하는 것이 바람직하다.The antiglare film of the present invention is produced, for example, as follows. The first method is a method in which a surface irregular shape based on a predetermined pattern is prepared by preparing a mold for forming fine irregularities formed on a molding surface and transferring the shape of the irregular surface of the mold to the transparent support, And the transparent support is peeled from the mold. A second method is a coating method comprising the steps of preparing a composition containing fine particles, a resin (binder) and a solvent and dispersing the fine particles in a resin solution, applying the composition onto a transparent support, A coating film containing fine particles) is cured. In the second method, fine particles are exposed on the surface of the coating film to form random irregularities on the transparent support by adjusting the coating film thickness and the coagulation state of the fine particles by the composition of the composition and the drying conditions of the coating film. From the viewpoints of production stability and production reproducibility of the antiglare film, it is preferable to produce the antiglare film of the present invention by the first method.

여기서는, 본 발명의 방현 필름의 제조 방법으로서 바람직한 제1 방법에 대해서 상세히 설명한다.Here, a first method preferable as a method for producing an antiglare film of the present invention will be described in detail.

전술한 바와 같은 특성을 갖는 표면 요철 형상의 방현층을 양호한 정밀도로 형성하기 위해서는, 준비하는 미세 요철 형성용 금형(이하, 「금형」이라고 약기하는 경우가 있음)이 중요하다. 보다 구체적으로는, 금형이 갖는 표면 요철 형상(이하, 「금형 요철 표면」이라고 하는 경우가 있음)이 소정의 패턴에 기초하여 형성되어 있고, 이 소정 패턴이, 그 1차원 파워 스펙트럼의 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.01)와 공간 주파수 0.02 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.02)의 비 Γ(0.02)/Γ(0.01)가 0.05 이상 1.2 이하이고, 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.01)와 공간 주파수 0.1 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.1)의 비 Γ(0.1)/Γ(0.01)가 4 이상 25 이하이면 바람직하다. 여기서, 「패턴」이란, 방현 필름이 갖는 방현층의 표면 요철 형상을 형성하기 위한 화상 데이터나 투광부와 차광부를 갖는 마스크 등을 의미하는 것이고, 이하, 「패턴」이라고 약기하기로 한다.In order to form the antiglare layer having the surface irregularities having the above-described characteristics with good precision, the fine irregularities forming mold (hereinafter sometimes abbreviated as &quot; mold &quot;) is important. More specifically, the surface irregularities (hereinafter sometimes referred to as &quot; mold irregularities &quot;) of the metal mold are formed on the basis of a predetermined pattern, and the predetermined pattern has a spatial frequency of 0.01 ㎛ - strength at 1 Γ (0.01) and the spatial frequency 0.02 ㎛ - and the ratio Γ (0.02) / Γ (0.01 ) of the intensity Γ (0.02) in the first 1.2 to 0.05, the spatial frequency 0.01 ㎛ - 1 strength Γ (0.01) and the spatial frequency in the 0.1 ㎛-ratio Γ (0.1) / Γ (0.01 ) of the intensity Γ (0.1) in the first is preferred if at least 25 4 or less. Here, the &quot; pattern &quot; means image data for forming a surface irregularity shape of the antiglare layer of the antiglare film, a mask having a light transmitting portion and a light shielding portion, and the like.

우선은, 본 발명의 방현 필름이 갖는 방현층의 표면 요철 형상을 형성하기 위한 패턴을 정하는 방법에 대해서 설명한다.First, a method for determining a pattern for forming the surface relief shape of the antiglare layer of the antiglare film of the present invention will be described.

패턴의 2차원 파워 스펙트럼을 구하는 방법을, 예컨대 상기 패턴이 화상 데이터인 경우에 대해서 나타낸다. 우선, 상기 화상 데이터를 2계조의 2치화 화상 데이터로 변환한 후, 그 계조를 2차원 함수 g(x, y)로 나타낸다. 얻어진 2차원 함수 g(x, y)를 하기 식 (13)과 같이 푸리에 변환하여 2차원 함수 G(fx, fy)를 계산하고, 하기 식 (14)에 나타내는 바와 같이, 얻어진 2차원 함수 G(fx, fy)의 절대치를 제곱함으로써, 2차원 파워 스펙트럼 Γ(fx, fy)를 구한다. 여기서, x 및 y는 화상 데이터면 내의 직교 좌표를 나타낸다. 또한, fx 및 fy는 각각 x 방향 및 y 방향의 주파수를 나타내고 있고, 길이의 역수의 차원을 갖는다.A method of obtaining the two-dimensional power spectrum of the pattern is shown, for example, when the pattern is image data. First, after converting the image data into binarized image data of two gradations, the gradation is represented by a two-dimensional function g (x, y). Dimensional function G (f x , f y ) by Fourier transforming the obtained two-dimensional function g (x, y) as shown in the following equation (13) By squaring the absolute value of G (f x , f y ), a two-dimensional power spectrum Γ (f x , f y ) is obtained. Here, x and y represent the Cartesian coordinates in the image data plane. Further, f x and f y represent frequencies in the x and y directions, respectively, and have dimensions of reciprocal of length.

Figure pct00013
Figure pct00013

식 (13) 중의 π는 원주율, i는 허수 단위이다.In the equation (13),? Is the circumferential rate and i is the imaginary unit.

Figure pct00014
Figure pct00014

이 2차원 파워 스펙트럼 Γ(fx, fy)는 패턴의 공간 주파수 분포를 나타내고 있다. 통상, 방현 필름은 등방적일 것이 요구되기 때문에, 본 발명의 방현 필름 제조용 패턴도 등방적이게 된다. 그 때문에, 패턴의 2차원 파워 스펙트럼을 나타내는 2차원 함수 Γ(fx, fy)는, 원점(0, 0)으로부터의 거리 f에만 의존하는 1차원 함수 Γ(f)로 나타낼 수 있다. 다음으로, 2차원 함수 Γ(fx, fy)로부터 1차원 함수 Γ(f)를 구하는 방법을 설명한다. 우선, 패턴의 계조의 2차원 파워 스펙트럼인 2차원 함수 Γ(fx, fy)를 식 (15)와 같이 극좌표로 표시한다.This two-dimensional power spectrum Γ (f x , f y ) represents the spatial frequency distribution of the pattern. Normally, since the antiglare film is required to be isotropic, the pattern for producing the antiglare film of the present invention becomes isotropic. Therefore, the two-dimensional function Γ (f x , f y ) representing the two-dimensional power spectrum of the pattern can be represented by a one-dimensional function Γ (f) depending only on the distance f from the origin (0, 0). Next, a method for obtaining the one-dimensional function Γ (f) from the two-dimensional function Γ (f x , f y ) will be described. First, the two-dimensional function Γ (f x , f y ), which is the two-dimensional power spectrum of the gradation of the pattern, is expressed in polar coordinates as shown in equation (15).

Figure pct00015
Figure pct00015

여기서, θ는 푸리에 공간 중의 편각이다. 1차원 함수 Γ(f)는 극좌표 표시한 2차원 함수 Γ(fcosθ, fsinθ)의 회전 평균을 식 (16)과 같이 계산함으로써 구할 수 있다. 패턴의 계조의 2차원 파워 스펙트럼인 2차원 함수 Γ(fx, fy)의 회전 평균으로부터 구해지는 1차원 함수 Γ(f)를, 이하에서는 1차원 파워 스펙트럼 Γ(f)라고도 한다.Here,? Is a declination angle in the Fourier space. The one-dimensional function Γ (f) can be obtained by calculating the rotation average of the two-dimensional function Γ (fcosθ, fsinθ) in polar coordinates, as shown in Eq. (16). Dimensional function Γ (f) obtained from the rotation average of the two-dimensional function Γ (f x , f y ), which is the two-dimensional power spectrum of the gradation of the pattern, is also referred to as a one-dimensional power spectrum Γ (f).

Figure pct00016
Figure pct00016

본 발명의 방현 필름을 양호한 정밀도로 얻기 위해서는, 패턴의 1차원 파워 스펙트럼의 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.01)와 공간 주파수 0.02 ㎛-1에 있어서의 강도 Γ(0.02)의 비 Γ(0.02)/Γ(0.01)가 0.05 이상 1.2 이하이며, 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.01)와 공간 주파수 0.1 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.1)의 비 Γ(0.1)/Γ(0.01)가 4 이상 25 이하인 것이 바람직하다.In order to obtain an anti-glare film of the present invention with good precision, the spatial frequency of the one-dimensional power spectrum of the pattern is 0.01 ㎛ - the ratio of the strength Γ (0.01) and the spatial frequency 0.02 ㎛ strength Γ (0.02) at the -1 in the first Γ (0.02) / Γ (0.01 ) is 0.05, and 1.2 or less, the spatial frequency 0.01 ㎛-ratio Γ (0.1 strength Γ (0.1) in the first-strength in the first Γ (0.01) and the spatial frequency 0.1 ㎛ ) /? (0.01) is preferably 4 or more and 25 or less.

패턴의 2차원 파워 스펙트럼을 구하는 경우에는, 계조의 2차원 함수 g(x, y)는 통상, 이산 함수로서 얻어진다. 그 경우에는, 이산 푸리에 변환에 의해, 2차원 파워 스펙트럼을 계산하면 된다. 패턴의 1차원 파워 스펙트럼은, 패턴의 2차원 파워 스펙트럼으로부터, 동일하게 하여 구할 수 있다.When the two-dimensional power spectrum of the pattern is obtained, the two-dimensional function g (x, y) of the gradation is usually obtained as a discrete function. In this case, the two-dimensional power spectrum may be calculated by discrete Fourier transform. The one-dimensional power spectrum of the pattern can be obtained in the same way from the two-dimensional power spectrum of the pattern.

또한, 얻어지는 표면 요철 형상을 균일하고 연속적인 곡면으로 하기 위해, 2차원 함수 g(x, y)의 평균치는, 2차원 함수 g(x, y)의 최대치와, 2차원 함수 g(x, y)의 최소치의 차의 30∼70%인 것이 바람직하다. 금형 요철 표면을 리소그래피법에 의해 제조하는 경우에는, 이 2차원 함수 g(x, y)는 패턴의 개구율이 된다. 금형 요철 표면을 리소그래피법에 의해 제조하는 경우에 관하여, 여기서 말하는 패턴의 개구율을 정의해 둔다. 리소그래피법에 이용하는 레지스트가 포지티브 레지스트인 경우의 개구율은, 상기 포지티브 레지스트의 도포막에 화상 데이터를 묘화했을 때, 상기 도포막의 전체 표면 영역에 대한, 노광되는 영역의 비율을 의미한다. 한편, 리소그래피법에 이용하는 레지스트가 네거티브 레지스트인 경우의 개구율은, 상기 네거티브 레지스트의 도포막에 화상 데이터를 묘화할 때, 상기 도포막의 전체 표면 영역에 대한, 노광되지 않는 영역의 비율을 의미한다. 리소그래피법이 일괄 노광인 경우의 개구율은, 투광부와 차광부를 갖는 마스크의 투광부의 비율을 의미한다.The average value of the two-dimensional function g (x, y) is determined by the maximum value of the two-dimensional function g (x, y) and the maximum value of the two-dimensional function g ) Of the difference between the minimum value and the minimum value. In the case where the surface of the mold concavity and convexity is manufactured by the lithography method, this two-dimensional function g (x, y) is the aperture ratio of the pattern. With respect to the case where the surface of the mold concavity and convexity is manufactured by the lithography method, the aperture ratio of the pattern described here is defined. The aperture ratio when the resist used in the lithography method is a positive resist means the ratio of the exposed area to the entire surface area of the coating film when image data is drawn on the coating film of the positive resist. On the other hand, the aperture ratio when the resist used in the lithography method is a negative resist means the ratio of the unexposed area to the entire surface area of the coating film when image data is drawn on the coating film of the negative resist. The aperture ratio when the lithography method is a batch exposure means the ratio of the transparent portion of the mask having the transparent portion and the shielding portion.

본 발명의 방현 필름은, 패턴의 1차원 파워 스펙트럼의 강도비 Γ(0.02)/Γ(0.01) 및, Γ(0.1)/Γ(0.01)의 각각을, 상기한 범위로 하여, 원하는 금형을 제조하고, 상기 금형을 이용한 제1 방법에 따르면 제조할 수 있다.The antiglare film of the present invention can be produced by forming each of the intensity ratios Γ (0.02) / Γ (0.01) and Γ (0.1) / Γ , And can be produced according to the first method using the mold.

이와 같은 강도비를 갖는 1차원 파워 스펙트럼의 패턴을 작성하기 위해서는, 도트를 랜덤으로 배치하여 작성한 패턴이나 난수 혹은 계산기에 의해 생성된 유사 난수에 의해 농담을 결정한 랜덤한 명도 분포를 갖는 패턴(예비 패턴)을 미리 작성하고, 상기 예비 패턴으로부터 특정한 공간 주파수 범위의 성분을 제거한다. 이 특정한 공간 주파수 범위의 성분 제거에는, 상기 예비 패턴을 밴드 패스 필터에 통과시키면 된다.In order to generate a pattern of a one-dimensional power spectrum having such an intensity ratio, a pattern prepared by randomly arranging dots or a pattern having a random brightness distribution in which the density is determined by a random number or a similar random number generated by a calculator ), And removes a component in a specific spatial frequency range from the preliminary pattern. To remove the component of the specific spatial frequency range, the preliminary pattern may be passed through a bandpass filter.

소정 패턴에 기초한 표면 요철 형상이 형성된 방현층을 갖는 방현 필름을 제조하기 위해, 상기 소정 패턴에 기초하여 형성된 표면 요철 형상을 투명 지지체에 전사하기 위한 금형 요철 표면을 갖는 금형을 제조한다. 이러한 금형을 이용하는 상기 제1 방법은, 방현층을 투명 지지체 상에 제작하는 것을 특징으로 하는 엠보스법이다.In order to produce an antiglare film having an antiglare layer provided with a surface relief shape based on a predetermined pattern, a mold having a mold relief surface for transferring a surface relief shape formed on the basis of the predetermined pattern to a transparent support is produced. The first method using such a mold is an emboss method in which an antiglare layer is formed on a transparent support.

상기 엠보스법으로는, 광경화성 수지를 이용하는 광 엠보스법, 열가소성 수지를 이용하는 핫 엠보스법 등이 예시된다. 그 중에서도, 생산성의 관점에서, 광 엠보스법이 바람직하다.Examples of the embossing method include an optical embossing method using a photo-curable resin, a hot embossing method using a thermoplastic resin, and the like. Above all, from the viewpoint of productivity, the optical emboss method is preferable.

광 엠보스법은, 투명 지지체 상(투명 지지체의 표면)에 광경화성 수지층을 형성하고, 그 광경화성 수지층을 금형의 금형 요철 표면에 압착시키면서 경화시킴으로써, 금형의 금형 요철 표면의 형상을, 광경화성 수지층에 전사한다는 방법이다. 구체적으로는, 투명 지지체 상에 광경화성 수지를 도포하여 형성한 광경화성 수지층을, 금형 요철 표면에 밀착시킨 상태에서, 투명 지지체 측으로부터 광(상기 광은 광경화성 수지가 경화될 수 있는 것을 이용함)을 조사하여 광경화성 수지(광경화성 수지층에 포함되는 광경화성 수지)를 경화시키고, 그 후, 경화 후의 광경화성 수지층이 형성된 투명 지지체를 금형으로부터 박리한다. 이러한 제조 방법으로 얻어지는 방현 필름은, 경화 후의 광경화성 수지층이 방현층이 된다. 또한, 제조의 용이성에서 보면, 광경화성 수지로는 자외선 경화성 수지가 바람직하고, 상기 자외선 경화성 수지를 이용하는 경우에는, 조사하는 광은 자외선을 이용한다(광경화성 수지로서, 자외선 경화성 수지를 이용하는 엠보스법을 이하, 「UV 엠보스법」이라고 함). 편광 필름과 일체화한 방현 필름을 제조하기 위해서는, 투명 지지체로서 편광 필름을 이용하고, 여기서 설명한 엠보스법에 있어서 투명 지지체를 편광 필름으로 치환하여 실시하면 된다.The optical embossing method is a method in which a photo-curable resin layer is formed on a transparent support (a surface of a transparent support), and the photo-curable resin layer is cured on the surface of the metal mold concavity and convexity, It is a method of transferring to a photocurable resin layer. Specifically, the photo-curing resin layer formed by applying the photo-curable resin on the transparent support is placed in close contact with the surface of the mold unevenness, and light (the light which can be cured by the photo-curable resin is used from the transparent support side ) Is cured to cure the photo-curable resin (the photo-curing resin included in the photo-curable resin layer), and then the transparent support on which the photo-curable resin layer after curing is formed is peeled from the mold. In the antiglare film obtained by such a production method, the photocurable resin layer after curing becomes an antiglare layer. From the viewpoint of ease of manufacture, ultraviolet curable resin is preferable as the photo-curing resin. When the ultraviolet curable resin is used, ultraviolet light is used as the light to be irradiated (as the photo-curable resin, an emboss method Hereinafter referred to as &quot; UV emboss method &quot;). In order to produce an antiglare film integrated with a polarizing film, a polarizing film may be used as the transparent support, and the transparent support may be replaced with a polarizing film in the embossing method described herein.

UV 엠보스법에 이용하는 자외선 경화성 수지의 종류는, 특별히 한정되지 않고, 시판되고 있는 수지 중에서, 이용하는 투명 지지체의 종류나 자외선의 종류에 따라 적절한 것을 이용할 수 있다. 이러한 자외선 경화성 수지는, 자외선 조사에 의해 광중합하는 모노머(다작용성 모노머), 올리고머 및 폴리머, 그리고 이들의 혼합물을 포함하는 개념이다. 또한, 자외선 경화성 수지의 종류에 따라 적절하게 선택된 광개시제를 조합하여 이용함으로써, 자외선보다 파장이 긴 가시광이라도 경화가 가능한 수지를 이용할 수도 있다. 이 자외선 경화성 수지의 적합예 등의 설명은 후술한다.The type of the ultraviolet ray-curable resin used in the UV embossing method is not particularly limited, and among commercially available resins, an appropriate one may be used depending on the kind of the transparent support and the kind of the ultraviolet ray. Such a UV-curable resin is a concept including a monomer (multifunctional monomer), an oligomer and a polymer which are photopolymerized by ultraviolet irradiation, and a mixture thereof. Further, by using a photoinitiator suitably selected depending on the kind of the ultraviolet ray-curable resin, a resin capable of curing even visible light having a longer wavelength than ultraviolet ray can be used. Examples of the compatibility of the ultraviolet-curable resin and the like will be described later.

UV 엠보스법에 이용하는 투명 지지체로는, 예컨대 유리나 플라스틱 필름 등을 이용할 수 있다. 플라스틱 필름으로는 알맞은 투명성, 기계 강도를 갖고 있으면 사용 가능하다. 구체적으로는, 예컨대, TAC(트리아세틸셀룰로오스) 등의 셀룰로오스아세테이트계 수지; 아크릴계 수지; 폴리카보네이트계 수지; 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르계 수지; 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 수지 등으로 이루어진 투명 수지 필름을 들 수 있다. 이들 투명 수지 필름은, 용제 캐스트 필름이어도 좋고, 압출 필름이어도 좋다.As the transparent support used in the UV embossing method, for example, glass or a plastic film can be used. Plastic films can be used if they have appropriate transparency and mechanical strength. Specifically, for example, a cellulose acetate-based resin such as TAC (triacetylcellulose); Acrylic resin; Polycarbonate resin; Polyester-based resins such as polyethylene terephthalate; And a transparent resin film made of a polyolefin-based resin such as polyethylene or polypropylene. These transparent resin films may be solvent cast films or extruded films.

투명 지지체의 두께는, 예컨대 10∼500 ㎛이고, 바람직하게는 10∼100 ㎛이며, 보다 바람직하게는 10∼60 ㎛이다. 투명 지지체의 두께가 이 범위이면, 충분한 기계 강도를 갖는 방현 필름이 얻어지는 경향이 있고, 상기 방현 필름을 구비한 화상 표시 장치는, 한층 더 번쩍임을 발생하기 어려운 것이 된다.The thickness of the transparent support is, for example, 10 to 500 占 퐉, preferably 10 to 100 占 퐉, and more preferably 10 to 60 占 퐉. When the thickness of the transparent support is within this range, an antiglare film having sufficient mechanical strength tends to be obtained, and the image display device provided with the antiglare film is more likely to cause glare.

한편, 핫 엠보스법은, 열가소성 수지로 형성된 투명 수지 필름을, 가열하여 연화시킨 상태에서 금형 요철 표면에 압착시켜, 상기 금형 요철 표면의 표면 요철 형상을 투명 수지 필름에 전사하는 방법이다. 핫 엠보스법에 이용하는 투명 수지 필름도, 실질적으로 광학적으로 투명한 것이면 어떠한 것이어도 좋고, 구체적으로는, UV 엠보스법에 이용하는 투명 수지 필름으로서 예시한 것을 들 수 있다.On the other hand, the hot emboss method is a method in which a transparent resin film formed of a thermoplastic resin is pressed and bonded to the surface of the mold concavity and convexity while being heated and softened, and the surface concavo-convex shape of the mold concave and convex surface is transferred to the transparent resin film. The transparent resin film used in the hot embossing method may be any substantially transparent as long as it is substantially optically transparent. Specifically, those exemplified as the transparent resin film used in the UV embossing method may be mentioned.

계속해서, 엠보스법에 이용하는 금형을 제조하는 방법에 대해서 설명한다.Next, a method of manufacturing a mold used in the embossing method will be described.

금형의 제조 방법에 대해서는, 상기 금형의 성형면이, 전술한 소정 패턴에 기초하여 형성된 표면 요철 형상을 투명 지지체 상에 전사할 수 있는(소정 패턴에 기초하여 형성된 표면 요철 형상의 방현층을 형성할 수 있는) 금형 요철 표면이 되는 범위에서, 특별히 제한되지 않지만, 상기 표면 요철 형상의 방현층을 양호한 정밀도로, 또한, 양호한 재현성으로 제조하기 위해, 리소그래피법이 바람직하다. 또한, 상기 리소그래피법은, [1] 제1 도금 공정과, [2] 연마 공정과, [3] 감광성 수지막 형성 공정과, [4] 노광 공정과, [5] 현상 공정과, [6] 에칭 공정과, [7] 감광성 수지막 박리 공정과, [8] 제2 도금 공정을 포함하는 것이 바람직하다.With regard to the method for producing a mold, it is preferable that the mold surface of the above-mentioned mold is formed so that a surface irregularity formed on the basis of the aforementioned predetermined pattern can be transferred onto the transparent support In order to produce the antiglare layer having the surface irregularity shape with good precision and good reproducibility, the lithography method is preferable. The lithography method may further include the steps of [1] a first plating step, [2] a polishing step, [3] a photosensitive resin film forming step, [4] an exposure step, [5] An etching step, a photosensitive resin film peeling step, and a second plating step.

도 7은 금형의 제조 방법의 전반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 나타낸 도면이다. 도 7은 각 공정에서의 금형의 단면을 모식적으로 나타내고 있다. 이하, 도 7을 참조하면서, 본 발명의 방현 필름 제조용 금형의 제조 방법의 각 공정에 대해서 상세히 설명한다.Fig. 7 is a diagram schematically showing a preferred example of the first half of the manufacturing method of the mold. Fig. 7 schematically shows a cross section of a mold in each step. Hereinafter, with reference to FIG. 7, each step of the method for producing a mold for producing an antiglare film of the present invention will be described in detail.

[1] 제1 도금 공정[1] First plating process

우선, 금형 제조에 이용하는 기재(금형용 기재)를 준비하고, 상기 금형용 기재의 표면에, 구리 도금을 행한다. 이와 같이, 금형용 기재의 표면에 구리 도금을 행함으로써, 후술하는 제2 도금 공정에서의 크롬 도금의 밀착성이나 광택성을 향상시킬 수 있다. 구리 도금은, 피복성이 높고, 또한 평활화 작용이 강하기 때문에, 금형용 기재의 미소한 요철이나 보이드 등을 메워 평탄하고 광택이 있는 표면을 형성할 수 있다. 그 때문에, 이와 같이 하여 구리 도금을 금형용 기재 표면에 행함으로써, 후술하는 제2 도금 공정에서 크롬 도금을 행했다고 해도, 기재에 존재하고 있던 미소한 요철이나 보이드에서 기인하는 것으로 생각되는 크롬 도금 표면의 거칠음이 해소되고, 또한, 구리 도금의 피복성이 높기 때문에, 미세한 크랙의 발생이 저감된다. 따라서, 소정 패턴에 기초한 표면 요철 형상(미세 요철 표면 형상)을 금형용 기재 성형면에 작성했다고 해도, 미소한 요철이나 보이드, 크랙 등의 하지(下地)(금형용 기재) 표면의 영향으로 인한 어긋남을 충분히 방지할 수 있다.First, a base material (base material for mold) used in the production of a mold is prepared, and copper is plated on the surface of the base material for a die. As described above, by performing copper plating on the surface of the mold base material, the adhesion and gloss of the chromium plating in the second plating process, which will be described later, can be improved. Copper plating has a high covering property and a strong smoothing action, so that it is possible to form a smooth and glossy surface by filling minute unevenness and voids of the substrate for a mold. Therefore, even if chromium plating is performed in the second plating process described later, by performing the copper plating on the surface of the substrate for a die in this manner, the surface of the chromium plating surface, which is considered to be caused by minute unevenness and voids existing in the substrate The roughness is eliminated and the coating property of the copper plating is high, so that occurrence of fine cracks is reduced. Therefore, even if the surface irregularities based on the predetermined pattern (fine irregularities) are formed on the mold base material molding surface, the irregularities due to the influence of the surface of the base (base material) .

제1 도금 공정의 구리 도금에 이용되는 구리로는, 구리의 순금속을 이용하여도 좋고, 구리를 주성분으로 하는 합금(구리 합금)을 이용하여도 좋다. 따라서, 구리 도금에 이용되는 「구리」는, 구리 및 구리 합금을 포함하는 개념이다. 구리 도금은, 전해 도금이어도 좋고, 무전해 도금이어도 좋지만, 제1 도금 공정의 구리 도금은, 전해 도금을 이용하는 것이 바람직하다. 또한, 제1 도금 공정에서의 바람직한 도금층은, 구리 도금층으로 이루어진 것뿐만 아니라, 구리 도금층과, 구리 이외의 금속으로 이루어진 도금층이 적층된 것이어도 좋다.As the copper used for the copper plating in the first plating step, a pure metal of copper may be used, or an alloy (copper alloy) containing copper as a main component may be used. Therefore, &quot; copper &quot; used for copper plating is a concept including copper and a copper alloy. The copper plating may be electrolytic plating or electroless plating, but it is preferable to use electrolytic plating for copper plating in the first plating step. The preferable plating layer in the first plating step may be not only a copper plating layer but also a copper plating layer and a plating layer formed of a metal other than copper.

금형용 기재의 표면 상에 구리 도금을 행하여 형성되는 도금층은 너무 얇으면, 하지 표면의 영향(미소한 요철이나 보이드, 크랙 등)을 완전히 배제할 수 없기 때문에, 그 두께는 50 ㎛ 이상인 것이 바람직하다. 도금층 두께의 상한은 임계적이지 않지만, 비용 등을 고려했을 경우에는, 500 ㎛ 정도 이하이면 바람직하다.When the plating layer formed by performing copper plating on the surface of the mold base material is too thin, the influence of the base surface (minute unevenness, voids, cracks, etc.) can not be completely eliminated. Although the upper limit of the thickness of the plating layer is not critical, it is preferably about 500 占 퐉 or less in consideration of cost and the like.

금형용 기재는 금속 재료로 이루어진 기재가 바람직하다. 또한, 비용의 관점에서는 상기 금속 재료의 재질로는, 알루미늄, 철 등이 바람직하다. 또한 금형용 기재의 취급의 편리성에서 보면, 경량인 알루미늄으로 이루어진 기재가 금형용 기재로서 특히 바람직하다. 또한, 여기서 말하는 알루미늄이나 철도, 각각 순금속일 필요는 없고, 알루미늄 또는 철을 주성분으로 하는 합금이어도 좋다.The substrate for a mold is preferably a substrate made of a metal material. From the viewpoint of cost, aluminum, iron, or the like is preferable as a material of the metal material. From the viewpoint of handling convenience of the mold base material, a base material made of lightweight aluminum is particularly preferable as a mold base material. The aluminum or the railway referred to herein is not necessarily a pure metal, and may be an alloy containing aluminum or iron as a main component.

금형용 기재의 형상은, 본 발명의 방현 필름의 제조 방법에 따라 적절한 형상의 것이면 된다. 구체적으로는, 평판상 기재, 원주상 기재 또는 원통상(롤 형상) 기재 등으로부터 선택된다. 본 발명의 방현 필름을 연속적으로 제조하는 경우에는, 금형은 롤 형상이면 바람직하다. 이러한 금형은 롤 형상의 금형용 기재로부터 제조된다.The shape of the base material for the mold may be any suitable shape according to the method for producing an antiglare film of the present invention. Specifically, it is selected from a flat substrate, a cylindrical substrate, or a cylindrical (roll-shaped) substrate. In the case of continuously producing the antiglare film of the present invention, the mold preferably has a roll shape. Such a mold is manufactured from a rolled mold base material.

[2] 연마 공정[2] Polishing process

계속되는 연마 공정에서는, 전술한 제1 도금 공정에서 구리 도금이 행해진 금형용 기재의 표면(도금층)을 연마한다. 본 발명의 방현 필름의 제조 방법에 이용하는 금형의 제조 방법에서는, 상기 연마 공정을 거쳐, 금형용 기재 표면을, 경면에 가까운 상태로까지 연마하는 것이 바람직하다. 금형용 기재로서 이용하는 평판상 기재나 롤 형상 기재의 시판품은, 원하는 정밀도로 하기 위해, 절삭이나 연삭 등의 기계 가공이 행해지고 있는 경우가 많고, 이에 따라 금형용 기재 표면에는 미세한 가공 자국이 남아 있다. 그 때문에, 제1 도금 공정에 의해 도금(바람직하게는, 구리 도금)층을 형성했다고 해도, 상기 가공 자국이 남는 경우가 있다. 또한, 제1 도금 공정에서의 도금을 행했다고 해도, 금형용 기재의 표면이 완전히 평활해진다고는 할 수 없다. 즉, 이러한 깊은 가공 자국 등이 남은 표면이 있는 금형용 기재에 대하여, 후술하는 [3]∼[8]의 공정을 행했다고 해도, 얻어지는 금형 표면의 표면 요철 형상이 소정 패턴에 기초한 표면 요철 형상과는 상이한 경우가 있거나, 가공 자국 등에서 유래되는 요철이 포함되는 경우가 있거나 한다. 가공 자국 등의 영향이 남아 있는 금형을 이용하여 방현 필름을 제조한 경우에는, 목적으로 하는 방현성 등의 광학 특성을 충분히 발현할 수 없어, 예기치 못한 영향을 미칠 우려가 있다.In the subsequent polishing step, the surface (plating layer) of the substrate for copper which has undergone copper plating in the above-described first plating step is polished. In the method for producing a mold used in the method for producing an antiglare film of the present invention, it is preferable that the surface of the mold base is polished to a state close to a mirror surface through the above polishing step. Commercial products such as a flat substrate or a roll substrate used as a substrate for a mold often have been subjected to machining such as cutting or grinding in order to obtain a desired accuracy. As a result, a fine workpiece remains on the surface of the substrate for a die. Therefore, even if a plating (preferably copper plating) layer is formed by the first plating step, the above-mentioned processing mark may remain. Further, even if plating is performed in the first plating step, the surface of the mold base material can not be completely smoothed. That is, even if the steps [3] to [8] to be described later are carried out on the substrate for a mold having such a deep processing mark remaining on the surface, the surface irregularity of the obtained mold surface differs from the surface irregular shape based on the predetermined pattern There may be cases in which irregularities originating from a processing station or the like are included. When an antiglare film is produced by using a mold having an influence of a processing station or the like remaining thereon, optical characteristics such as desired antiglare properties can not be sufficiently exhibited, which may cause unexpected effects.

연마 공정에서 적용하는 연마 방법은 특별히 제한되지 않고, 연마 대상이 되는 금형용 기재의 형상·성상에 따른 연마 방법이 선택된다. 연마 공정에 적용할 수 있는 연마 방법을 구체적으로 예시하면, 기계 연마법, 전해 연마법 및 화학 연마법 등을 들 수 있다. 이들 중, 기계 연마법으로는, 초마무리법, 랩핑, 유체 연마법, 버프 연마법 등 중 어느 것이나 사용할 수 있다. 또한, 연마 공정에서 절삭 공구를 이용하여 경면 절삭함으로써, 금형용 기재의 표면을 경면으로 하여도 좋다. 이 경우의 절삭 공구의 재질·형상은 금형용 기재의 재질(금속 재료)의 종류에 따라, 초경 바이트, CBN 바이트, 세라믹 바이트, 다이아몬드 바이트 등을 사용할 수 있지만, 가공 정밀도의 관점에서는 다이아몬드 바이트를 이용하는 것이 바람직하다. 연마 후의 표면 조도는, JIS B 0601에 준거한 중심선 평균 거칠기(Ra)로 나타내어, 0.1 ㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.05 ㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 연마 후의 중심선 평균 거칠기(Ra)가 0.1 ㎛보다 크면, 최종적으로 얻어지는 금형의 금형 요철 표면에, 이러한 표면 조도의 영향이 남을 우려가 있다. 또한, 중심선 평균 거칠기(Ra)의 하한에 대해서는 특별히 제한되지 않는다. 따라서, 연마 공정에서의 가공 시간(연마 시간)이나 가공 비용의 관점에서, 하한을 정하면 된다.The polishing method used in the polishing step is not particularly limited, and a polishing method in accordance with the shape and properties of the substrate for a mold to be polished is selected. Specific examples of the polishing method applicable to the polishing step include mechanical polishing, electrolytic polishing, and chemical polishing. Among these, as the mechanical polishing, a super finishing method, a lapping method, a fluid polishing method, and a buff polishing method can be used. Further, the surface of the mold base may be mirror-finished by mirror-cutting using a cutting tool in the polishing step. In this case, the material and shape of the cutting tool can be selected from among cemented carbide, CBN, ceramic, and diamond bite depending on the type of material (metallic material) of the mold base material. From the viewpoint of machining accuracy, desirable. The surface roughness after polishing is preferably 0.1 占 퐉 or less and more preferably 0.05 占 퐉 or less as expressed by a centerline average roughness (Ra) according to JIS B 0601. If the centerline average roughness (Ra) after polishing is larger than 0.1 占 퐉, the surface roughness of the finally obtained metal mold irregularities may be influenced by such surface roughness. The lower limit of the center line average roughness Ra is not particularly limited. Therefore, the lower limit may be set in view of the processing time (polishing time) and the processing cost in the polishing step.

[3] 감광성 수지막 형성 공정[3] Photosensitive resin film forming process

계속해서, 감광성 수지막 형성 공정을, 도 7을 참조하여 설명한다.Next, the photosensitive resin film forming process will be described with reference to Fig.

감광성 수지막 형성 공정에서는, 전술한 연마 공정에 의해 얻어진 경면 연마를 행한 금형용 기재(40)의 표면(41)에, 감광성 수지를 용매에 용해한 용액(감광성 수지 용액)을 도포하고, 가열·건조시킴으로써, 감광성 수지막(레지스트막)을 형성한다. 도 7에서는, 금형용 기재(40)의 표면(41)에 감광성 수지막(50)이 형성된 상태를 모식적으로 나타내고 있다(도 7의 (b)).In the step of forming a photosensitive resin film, a solution (photosensitive resin solution) in which a photosensitive resin is dissolved in a solvent is applied to the surface 41 of the mold base material 40 subjected to the mirror polishing obtained by the above-mentioned polishing step and heated and dried , And a photosensitive resin film (resist film) are formed. 7 schematically shows a state in which the photosensitive resin film 50 is formed on the surface 41 of the mold base material 40 (Fig. 7 (b)).

감광성 수지로는 종래 공지된 감광성 수지를 이용할 수 있고, 이미 레지스트로서 시판되고 있는 것을 그대로, 또는 필요에 따라 여과 등으로 정제하고 나서 이용할 수도 있다. 예컨대, 감광 부분이 경화되는 성질을 갖는 네거티브형의 감광성 수지로는, 분자 중에 아크릴로일기 또는 메타크릴로일기를 갖는 (메트)아크릴산에스테르의 단량체나 프리폴리머, 비스아지드와 디엔고무의 혼합물, 폴리비닐신나마이트계 화합물 등을 이용할 수 있다. 또한, 현상에 의해 감광 부분이 용출되고, 미감광 부분만이 남는 성질을 갖는 포지티브형의 감광성 수지로는 페놀 수지계나 노볼락 수지계 등을 이용할 수 있다. 이러한 포지티브형 또는 네거티브형의 감광성 수지는, 포지티브 레지스트나 네거티브 레지스트로서 시장에서 용이하게 입수할 수도 있다. 또한, 감광성 수지 용액은, 필요에 따라, 증감제, 현상 촉진제, 밀착성 개질제, 도포성 개량제 등의 각종 첨가제가 배합되어 있어도 좋고, 이러한 첨가제를 시판되고 있는 레지스트에 혼합한 것을 감광성 수지 용액으로서 이용할 수도 있다.As the photosensitive resin, conventionally known photosensitive resins can be used. Those which are already commercially available as a resist can be used as it is, or after purification by filtration if necessary. Examples of the negative-type photosensitive resin having a property of curing the photosensitive portion include monomers and prepolymers of (meth) acrylic acid esters having acryloyl groups or methacryloyl groups in the molecule, mixtures of bisazides and diene rubbers, Vinyl cinnamate-based compounds, and the like. Further, as the positive photosensitive resin having the property that the photosensitive portion is eluted by the development and only the non-photosensitive portion remains, a phenol resin-based nano-block resin-based resin or the like can be used. Such a positive or negative photosensitive resin can be easily obtained as a positive resist or a negative resist on the market. The photosensitive resin solution may be blended with various additives such as a sensitizer, a development promoter, an adhesion modifier, and a coating property improving agent, if necessary. Alternatively, a mixture of such additives in a commercially available resist may be used as a photosensitive resin solution have.

이들 감광성 수지 용액을 금형용 기재(40)의 표면(41)에 도포하기 위해서는, 보다 평활한 감광성 수지막을 형성하는 데 있어서 최적인 용제를 선택하고, 이러한 용제에 감광성 수지를 용해·희석하여 얻어지는 감광성 수지 용액을 이용하면 바람직하다. 이러한 용제는 또한 감광성 수지의 종류 및 그 용해성에 따라 선택된다. 구체적으로는, 예컨대, 셀로솔브계 용제, 프로필렌글리콜계 용제, 에스테르계 용제, 알코올계 용제, 케톤계 용제, 고극성 용제 등으로부터 선택된다. 시판되고 있는 레지스트를 이용하는 경우, 상기 레지스트에 포함되는 용제의 종류에 따라, 또는, 적당한 예비 실험을 행하여, 최적의 레지스트를 선택하고, 감광성 수지 용액으로서 이용하여도 좋다.In order to apply these photosensitive resin solutions to the surface 41 of the mold base material 40, a solvent most suitable for forming a smoother photosensitive resin film is selected, and a photosensitive resin obtained by dissolving and diluting the photosensitive resin in such a solvent Solution is preferable. Such a solvent is also selected depending on the kind of the photosensitive resin and its solubility. Specifically, it is selected from a cellosolve solvent, a propylene glycol solvent, an ester solvent, an alcohol solvent, a ketone solvent, a high polar solvent, and the like. In the case of using a commercially available resist, an optimum resist may be selected and used as a photosensitive resin solution, depending on the type of the solvent contained in the resist or a suitable preliminary experiment.

금형용 기재의 경면 연마된 표면에 감광성 수지 용액을 도포하는 방법은, 메니스커스 코트, 파운틴 코트, 딥 코트, 회전 도포, 롤 도포, 와이어바 도포, 에어나이프 도포, 블레이드 도포, 커튼 도포, 링 코트 등의 공지된 방법 중에서, 상기 금형용 기재의 형상 등에 따라 선택된다. 도포 후의 감광성 수지막의 두께는, 건조 후의 두께로 1∼10 ㎛의 범위로 하는 것이 바람직하고, 6∼9 ㎛의 범위로 하는 것이 보다 바람직하다.The method of applying the photosensitive resin solution to the mirror polished surface of the mold base material can be carried out by a method such as meniscus coat, fountain coat, dip coat, spin coating, roll coating, wire bar coating, air knife coating, blade coating, , The shape of the mold base material, and the like. The thickness of the photosensitive resin film after the application is preferably in the range of 1 to 10 mu m, more preferably in the range of 6 to 9 mu m, after the drying.

[4] 노광 공정[4] Exposure Process

계속되는 노광 공정은, 목적으로 하는 패턴을, 전술한 감광성 수지막 형성 공정에서 형성된 감광성 수지막(50)을 노광함으로써, 상기 감광성 수지막(50)에 전사하는 공정이다. 노광 공정에 이용하는 광원은, 감광성 수지막에 포함되는 감광성 수지의 감광 파장이나 감도 등에 맞춰 적절히 선택하면 되고, 예컨대, 고압 수은등의 g선(파장: 436 ㎚), h선(파장: 405 ㎚), 또는 i선(파장: 365 ㎚), 반도체 레이저(파장: 830 ㎚, 532 ㎚, 488 ㎚, 405 ㎚ 등), YAG 레이저(파장: 1064 ㎚), KrF 엑시머 레이저(파장: 248 ㎚), ArF 엑시머 레이저(파장: 193 ㎚), F2 엑시머 레이저(파장: 157 ㎚) 등을 이용할 수 있다. 노광 방식은, 목적으로 하는 패턴에 대응한 마스크를 이용하여 일괄 노광하는 방식이어도 좋고, 묘화 방식이어도 좋다. 또한, 목적으로 하는 패턴이란 이미 설명한 바와 같이, 1차원 파워 스펙트럼의 공간 주파수의 강도비 Γ(0.02)/Γ(0.01) 및 Γ(0.1)/Γ(0.01)를 각각 소정의 바람직한 범위로 한다.The subsequent exposure step is a step of transferring the intended pattern onto the photosensitive resin film 50 by exposing the photosensitive resin film 50 formed in the above-described photosensitive resin film forming step. The light source used in the exposure process may be appropriately selected in accordance with the photosensitive wavelength and the sensitivity of the photosensitive resin included in the photosensitive resin film. For example, a g line (wavelength: 436 nm), h line (wavelength: 405 nm) (Wavelength: 365 nm), a semiconductor laser (wavelength: 830 nm, 532 nm, 488 nm, 405 nm), a YAG laser A laser (wavelength: 193 nm), and an F2 excimer laser (wavelength: 157 nm). The exposure method may be a method of collective exposure using a mask corresponding to a target pattern, or a drawing method. As described above, the target pattern has the intensity ratios Γ (0.02) / Γ (0.01) and Γ (0.1) / Γ (0.01) of the spatial frequency of the one-dimensional power spectrum respectively within a predetermined preferable range.

금형의 제조 방법에 있어서, 상기 금형의 표면 요철 형상을 보다 양호한 정밀도로 형성하기 위해서는, 목적으로 하는 패턴을 감광성 수지막 상에, 정밀하게 제어된 상태로 노광하는 것이 바람직하다. 이러한 상태로 노광하기 위해서는, 컴퓨터 상에서 원하는 패턴을 화상 데이터로서 작성하고, 그 화상 데이터에 기초한 패턴을, 컴퓨터 제어된 레이저 헤드로부터 발하는 레이저광에 의해 감광성 수지막 상에 묘화(레이저 묘화)하는 것이 바람직하다. 레이저 묘화를 행할 때에는, 예컨대 인쇄판 제작 등에서 범용되는 레이저 묘화 장치를 사용할 수 있다. 이러한 레이저 묘화 장치의 시판품으로는, 예컨대, Laser Stream FX((주)싱크·래버러토리 제조) 등을 들 수 있다.In the method of manufacturing a mold, it is preferable to expose a desired pattern on a photosensitive resin film in a precisely controlled state in order to form the surface relief shape of the mold with higher precision. In order to expose in such a state, it is desirable to draw a desired pattern on the computer as image data and draw (pattern) a pattern based on the image data on the photosensitive resin film by laser light emitted from a computer-controlled laser head Do. When laser drawing is performed, for example, a laser drawing apparatus generally used in the production of a printing plate or the like can be used. Commercially available products of such a laser beam drawing apparatus include, for example, Laser Stream FX (manufactured by Sink Laboratories).

도 7의 (c)는, 감광성 수지막(50)에 패턴이 노광된 상태를 모식적으로 나타내고 있다. 감광성 수지막(50)에 네거티브형의 감광성 수지가 포함되는 경우(예컨대, 감광성 수지 용액으로서 네거티브 레지스트를 이용한 경우)에는, 노광된 영역(51)은, 노광 에너지를 받아 감광성 수지의 가교 반응이 진행되고, 후술하는 현상액에 대한 용해성이 저하된다. 따라서, 현상 공정에서 노광되지 않은 영역(52)이 현상액에 의해 용해되고, 노광된 영역(51)만 기재 표면 상에 남아, 마스크(60)가 된다. 한편, 감광성 수지막(50)에 포지티브형의 감광성 수지가 포함되는 경우(예컨대, 감광성 수지 용액으로서 포지티브 레지스트를 이용한 경우)에는, 노광된 영역(51)에서는, 노광 에너지를 받아, 감광성 수지의 결합이 절단되는 등에 의해, 후술하는 현상액에 용해되기 쉬워진다. 따라서, 현상 공정에서 노광된 영역(51)이 현상액에 의해 용해되고, 노광되지 않은 영역(52)만 기재 표면 상에 남아, 마스크(60)가 된다.Fig. 7C schematically shows a state in which the pattern is exposed on the photosensitive resin film 50. Fig. When a negative photosensitive resin is contained in the photosensitive resin film 50 (for example, when a negative resist is used as the photosensitive resin solution), the exposed region 51 is exposed to the exposure energy and the crosslinking reaction of the photosensitive resin proceeds And the solubility in a developing solution to be described later is lowered. Therefore, in the developing step, the unexposed area 52 is dissolved by the developing solution, and only the exposed area 51 remains on the substrate surface to become the mask 60. [ On the other hand, in the case where a positive type photosensitive resin is contained in the photosensitive resin film 50 (for example, when a positive resist is used as the photosensitive resin solution), in the exposed region 51, Is likely to dissolve in a developer to be described later. Thus, in the developing process, the exposed area 51 is dissolved by the developing solution, and only the unexposed area 52 remains on the substrate surface to become the mask 60. [

[5] 현상 공정[5] Development process

현상 공정에서는, 감광성 수지막(50)에 네거티브형의 감광성 수지가 포함되는 경우에는, 노광되지 않은 영역(52)은 현상액에 의해 용해되고, 노광된 영역(51)이 금형용 기재 상에 잔존하여 마스크(60)가 된다. 한편, 감광성 수지막(50)에 포지티브형의 감광성 수지가 포함되는 경우에는, 노광된 영역(51)만 현상액에 의해 용해되고, 노광되지 않은 영역(52)이, 금형용 기재 상에 잔존하여 마스크(60)가 된다. 소정의 패턴을 감광성 수지막으로서 형성시킨 금형용 기재는, 에칭 공정에서, 금형용 기재 상에 잔존하는 감광성 수지막이, 후술하는 에칭 공정에서의 마스크로서 작용한다.In the developing step, when the photosensitive resin film 50 contains a negative-type photosensitive resin, the unexposed area 52 is dissolved by the developing solution, and the exposed area 51 remains on the mold substrate, (60). On the other hand, when the photosensitive resin film 50 contains a positive photosensitive resin, only the exposed area 51 is dissolved by the developing solution, and the unexposed area 52 remains on the mold base material, 60). In the substrate for a mold in which a predetermined pattern is formed as a photosensitive resin film, the photosensitive resin film remaining on the substrate for a mold in the etching process acts as a mask in an etching process described later.

현상 공정에 이용하는 현상액에 대해서는 종래 공지된 것 중에서, 이용한 감광성 수지의 종류에 따라 적절한 것을 선택할 수 있다. 예컨대, 상기 현상액은, 수산화나트륨, 수산화칼륨, 탄산나트륨, 규산나트륨, 메타규산나트륨, 암모니아수 등의 무기 알칼리류; 에틸아민, n-프로필아민 등의 제1 아민류; 디에틸아민, 디-n-부틸아민 등의 제2 아민류; 트리에틸아민, 메틸디에틸아민 등의 제3 아민류; 디메틸에탄올아민, 트리에탄올아민 등의 알코올아민류; 테트라메틸암모늄히드록시드, 테트라에틸암모늄히드록시드, 트리메틸히드록시에틸암모늄히드록시드 등의 제4급 암모늄 화합물; 피롤, 피페리딘 등의 환상 아민류 등의 알칼리성 수용액; 크실렌, 톨루엔 등의 유기 용제 등을 들 수 있다.As the developing solution used in the developing process, among those conventionally known, those suitable for the type of the photosensitive resin used can be selected. For example, the developing solution may contain inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, and aqueous ammonia; Primary amines such as ethylamine, n-propylamine and the like; Secondary amines such as diethylamine and di-n-butylamine; Tertiary amines such as triethylamine and methyldiethylamine; Alcohol amines such as dimethylethanolamine and triethanolamine; Quaternary ammonium compounds such as tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide and trimethylhydroxyethylammonium hydroxide; Alkaline aqueous solutions such as cyclic amines such as pyrrole and piperidine; And organic solvents such as toluene, xylene, and toluene.

현상 공정에서의 현상 방법에 대해서는 특별히 제한되지 않고, 침지 현상, 스프레이 현상, 브러시 현상, 초음파 현상 등을 이용할 수 있다.The developing method in the developing step is not particularly limited, and an immersion phenomenon, a spray phenomenon, a brush phenomenon, an ultrasonic phenomenon, or the like can be used.

도 7의 (d)에는, 감광성 수지로서 네거티브형의 것을 이용하여, 현상 공정을 행한 후의 상태를 모식적으로 나타내고 있다. 도 7의 (d)에 있어서 노광되지 않은 영역(52)이 현상액에 의해 용해되고, 노광된 영역(51)만 기재 표면 상에 남아, 이 영역의 감광성 수지막이 마스크(60)가 된다. 도 7의 (e)에는, 감광성 수지로서 포지티브형의 것을 이용하여, 현상 공정을 행한 후의 상태를 모식적으로 나타내고 있다. 도 7의 (e)에 있어서 노광된 영역(51)이 현상액에 의해 용해되고, 노광되지 않은 영역(52)만 기재 표면 상에 남아, 이 영역의 감광성 수지막이 마스크(60)가 된다.Fig. 7 (d) schematically shows a state after the development process is performed using a negative photosensitive resin. 7D, the unexposed area 52 is dissolved by the developing solution, and only the exposed area 51 remains on the surface of the substrate, and the photosensitive resin film of this area becomes the mask 60. As shown in FIG. Fig. 7 (e) schematically shows a state after the development process is performed using a positive photosensitive resin. In Fig. 7E, the exposed area 51 is dissolved by the developer, and only the unexposed area 52 remains on the substrate surface, and the photosensitive resin film of this area becomes the mask 60. Fig.

[6] 에칭 공정[6] Etching process

에칭 공정은, 전술한 현상 공정 후에 금형용 기재 표면 상에 잔존한 감광성 수지막을 마스크로서 이용하여, 금형용 기재 표면 중, 주로 마스크가 없는 영역에 있는 도금층을 에칭하는 공정이다.The etching step is a step of etching a plating layer mainly in a mask-free area on the surface of a mold base using the photosensitive resin film remaining on the surface of the mold base after the above-described development process as a mask.

도 8은 금형의 제조 방법의 후반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 나타낸 도면이다. 도 8의 (a)에는, 에칭 공정에 의해, 주로 마스크가 없는 영역의 도금층이 에칭된 후의 상태를 모식적으로 나타내고 있다. 마스크(60)의 하부의 도금층은 감광성 수지막이 마스크(60)로서 작용함으로써 에칭되지 않지만, 에칭의 진행과 함께 마스크가 없는 영역(45)으로부터의 에칭이 진행된다. 따라서, 마스크(60)가 있는 영역과, 마스크가 없는 영역(45)의 경계 부근에서는, 마스크(60)의 하부에 있는 도금층도 에칭되게 된다. 이와 같이, 마스크(60)가 있는 영역과, 마스크가 없는 영역(45)의 경계 부근에서, 마스크(60)의 하부의 도금층도 에칭되는 것을 사이드 에칭이라고 한다.Fig. 8 is a diagram schematically showing a preferable example of the second half of the method for producing a mold. FIG. 8A schematically shows a state after the plating layer in the region where no mask is mainly etched by the etching process. The plating layer under the mask 60 is not etched due to the photosensitive resin film acting as the mask 60 but the etching from the maskless region 45 proceeds with the progress of the etching. Therefore, the plating layer underlying the mask 60 is also etched near the boundary between the masked region 45 and the masked region 45. As described above, the plating on the lower plating layer of the mask 60 is also referred to as side etching in the vicinity of the boundary between the mask 60 and the maskless region 45.

에칭 공정에서의 에칭 처리는, 통상, 염화제2철(FeCl3)액, 염화제2구리(CuCl2)액, 알칼리 에칭액(Cu(NH3)4Cl2) 등의 에칭액을 이용하여, 금형용 기재 표면 중, 주로 마스크(60)가 없는 영역의 도금층(금속 표면)을 부식시킴으로써 행해진다. 상기 에칭 처리로는, 염산이나 황산 등의 강산을 에칭액으로서 이용할 수도 있고, 상기 도금층을 전해 도금에 의해 형성한 경우에는, 전해 도금 시와 반대의 전위를 가하는 것에 의한 역전해 에칭을 이용하여 에칭 처리할 수도 있다. 에칭 처리를 행했을 때의 금형용 기재에 형성되는 표면 요철 형상은, 금형용 기재의 구성 재료(금속 재료) 또는 도금층의 종류, 감광성 수지막의 종류 및, 에칭 공정에서의 에칭 처리의 종류 등에 따라 상이하기 때문에, 일률적으로는 말할 수 없지만, 에칭량이 10 ㎛ 이하인 경우에는, 에칭액에 접촉하는 금형용 기재 표면으로부터 대략 등방적으로 에칭된다. 여기서 말하는 에칭량이란, 에칭에 의해 깎이는 도금층의 두께이다.The etching treatment in the etching step is usually carried out by using an etching solution such as a ferric chloride (FeCl 3 ) solution, a cupric chloride (CuCl 2 ) solution, or an alkali etching solution (Cu (NH 3 ) 4 Cl 2 ) (Metal surface) in an area where the mask 60 is not mainly present in the surface of the substrate. As the etching treatment, a strong acid such as hydrochloric acid or sulfuric acid may be used as an etching solution. In the case where the plating layer is formed by electrolytic plating, etching treatment is performed using reverse electrolytic etching by applying a potential opposite to that at electrolytic plating You may. Since the surface irregularities formed on the mold base material when the etching treatment is carried out are different depending on the kind of the constituent material (metal material) or plating layer of the mold base material, the type of the photosensitive resin film, the kind of etching treatment in the etching step , It is etched in a substantially isotropic manner from the surface of the substrate for a mold in contact with the etching solution when the etching amount is not more than 10 탆. The etching amount referred to here is the thickness of the plating layer cut by etching.

에칭 공정에서의 에칭량은 바람직하게는 1∼10 ㎛이고, 보다 바람직하게는 1∼6 ㎛이며, 더욱 바람직하게는 1∼3 ㎛이다. 에칭량이 1 ㎛ 미만인 경우에는, 금형에 표면 요철 형상이 거의 형성되지 않고, 거의 평탄한 표면을 갖는 것이 되기 때문에, 상기 금형을 이용하여 방현 필름을 제조하여도, 이러한 방현 필름은 표면 요철 형상을 거의 갖지 않는 것이 된다. 이러한 방현 필름을 배치한 화상 표시 장치에서는, 충분한 방현성을 나타내지 않게 되어 버린다. 또한, 에칭량이 지나치게 많은 경우에는, 최종적으로 얻어지는 금형 요철 표면이 요철의 고저차가 큰 것이 되기 쉽다. 상기 금형을 이용하여 방현 필름을 제조하여도, 상기 방현 필름을 구비한 화상 표시 장치에서는, 바램의 발생을 충분히 방지할 수 없는 경우가 있다. 에칭 공정에서의 에칭 처리는 1회의 에칭 처리에 의해 행하여도 좋고, 에칭 처리를 2회 이상으로 나누어 행하여도 좋다. 여기서 에칭 처리를 2회 이상으로 나누어 행하는 경우에는, 2회 이상의 에칭 처리에서의 에칭량의 합계가 1∼10 ㎛인 것이 바람직하다.The etching amount in the etching step is preferably 1 to 10 mu m, more preferably 1 to 6 mu m, and further preferably 1 to 3 mu m. When the etching amount is less than 1 占 퐉, the surface roughness of the mold is hardly formed on the mold and the surface has a substantially flat surface. Therefore, even when the antiglare film is produced using the mold, It is not. The image display device having such an antiglare film does not exhibit sufficient flashing resistance. In addition, when the etching amount is excessively large, the surface of the concavity and convexity of the finally obtained metal concavity and convexity tends to be large. Even when an antiglare film is produced by using the mold, the occurrence of fade can not be sufficiently prevented in the image display device provided with the antiglare film. The etching treatment in the etching step may be performed by one etching treatment or may be performed by dividing the etching treatment into two or more times. In the case where the etching treatment is divided into two or more times, it is preferable that the total etching amount in two or more etching treatments is 1 to 10 mu m.

[7] 감광성 수지막 박리 공정[7] Photosensitive resin film peeling step

계속되는 감광성 수지막 박리 공정에서는, 에칭 공정에서 마스크(60)로서 작용하고, 금형용 기재 상에 잔존한 감광성 수지막을 제거하는 공정이며, 상기 공정에 의해, 금형용 기재 상에 잔존한 감광성 수지막을 완전히 제거하는 것이 바람직하다. 감광성 수지막 박리 공정에서는 박리액을 이용하여 감광성 수지막을 용해하는 것이 바람직하다. 박리액으로는, 현상액으로서 예시한 것을, 그 농도나 pH 등을 변경함으로써 조제한 것을 이용할 수 있다. 또는, 현상 공정에서 이용한 현상액과 동일한 것을 이용하고, 현상 공정과는, 온도나 침지 시간 등을 변경함으로써 감광성 수지막을 박리할 수도 있다. 감광성 수지막 박리 공정에서, 박리액과 금형용 기재의 접촉 방법(박리 방법)에 대해서는 특별히 제한되지 않고, 침지 박리, 스프레이 박리, 브러시 박리, 초음파 박리 등을 이용할 수 있다.In the subsequent photosensitive resin film peeling step, the photosensitive resin film remaining on the mold substrate is removed by acting as the mask 60 in the etching step, and the photosensitive resin film remaining on the mold substrate is completely removed . In the photosensitive resin film peeling step, it is preferable to dissolve the photosensitive resin film using a peeling liquid. As the exfoliation liquid, those prepared by changing the concentration, pH and the like of the exemplified developer can be used. Alternatively, the same developer as that used in the developing process may be used, and the photosensitive resin film may be peeled off by changing the temperature or immersion time with the developing process. In the photosensitive resin film peeling step, the method of contacting the peeling liquid and the substrate for the mold (peeling method) is not particularly limited, and the peeling may be peeling off, spray peeling, brush peeling, ultrasonic peeling or the like.

도 8의 (b)는, 감광성 수지막 박리 공정에 의해, 에칭 공정에서 마스크(60)로서 사용한 감광성 수지막을 완전히 용해하여 제거한 상태를 모식적으로 나타내고 있다. 감광성 수지막에 의한 마스크(60)와, 에칭 처리에 의해, 제1 표면 요철 형상(46)이 금형용 기재 표면에 형성된다.8B schematically shows a state in which the photosensitive resin film used as the mask 60 in the etching step is completely dissolved and removed by the photosensitive resin film peeling step. The first surface relief shape 46 is formed on the surface of the mold base material by the mask 60 made of the photosensitive resin film and the etching treatment.

[8] 제2 도금 공정[8] Second plating process

금형 제조의 마지막 단계는, 상기 [6] 및 [7]의 공정을 거친 금형용 기재의 표면에 도금(바람직하게는, 후술하는 크롬 도금)을 행하는 제2 도금 공정이다. 제2 도금 공정을 행함으로써, 금형용 기재의 표면 요철 형상(46)을 둔화시킴과 더불어, 상기 도금에 의해 금형 표면을 보호할 수 있다. 이하, 이와 같이 금형용 기재의 표면 요철 형상을 둔하게 하는 것을 「형상 둔화」라고 한다. 도 8의 (c)에는, 전술한 바와 같이 에칭 처리에 의해 형성된 제1 표면 요철 형상(46) 위에 크롬 도금층(71)을 형성함으로써, 표면 요철 형상이 형상 둔화(금형 요철 표면(70))된 상태를 나타내고 있다.The final step in the production of the mold is a second plating step of performing plating (preferably chromium plating described below) on the surface of the substrate for the mold which has undergone the steps of [6] and [7] By performing the second plating process, the surface irregularities 46 of the mold base material can be reduced, and the surface of the mold can be protected by the plating. Hereinafter, dulling of the surface irregularity shape of the mold base material is referred to as &quot; shape reduction. &Quot; 8C, the chromium plating layer 71 is formed on the first surface irregular surface 46 formed by the etching process as described above, whereby the surface irregularity shape is reduced (the mold irregular surface 70) Respectively.

제2 도금 공정에 의해 형성하는 도금층으로는, 광택이 있고, 경도가 높으며, 마찰 계수가 작고, 양호한 이형성을 부여할 수 있다는 점에서 크롬 도금이 바람직하다. 크롬 도금 중에서도, 소위 광택 크롬 도금이나 장식용 크롬 도금 등으로 불리는, 양호한 광택을 발현하는 크롬 도금이 특히 바람직하다. 크롬 도금은 통상, 전해에 의해 행해지지만, 그 도금욕으로는, 무수 크롬산(CrO3)과 소량의 황산을 포함하는 수용액이 도금액으로서 이용된다. 전류 밀도와 전해 시간을 조절함으로써, 크롬 도금층의 두께를 제어할 수 있다.As the plating layer formed by the second plating process, chromium plating is preferable in that it is glossy, has a high hardness, has a small coefficient of friction, and can impart good releasability. Among the chromium plating, chromium plating, which is called so-called glossy chromium plating or decorative chromium plating, which exhibits good glossiness, is particularly preferable. Chrome plating is carried out, but by the conventional electrolytic, and the plating bath, the aqueous solution containing chromic anhydride (CrO 3) and a small amount of sulfuric acid is used as the plating solution. By controlling the current density and the electrolysis time, the thickness of the chromium plating layer can be controlled.

이와 같이 하여 제2 도금 공정에서의 도금, 바람직하게는 크롬 도금을 행함으로써, 본 발명의 방현 필름 제조용의 금형을 얻을 수 있다. 에칭 처리 후의 금형용 기재 표면에 있는 표면 요철 형상에, 크롬 도금을 행함으로써, 형상 둔화를 할 수 있음과 더불어, 그 표면 경도가 높아진 금형을 얻을 수 있다. 이 경우의 형상 둔화의 정도를 제어하는 데 있어서 가장 큰 인자는, 크롬 도금층의 두께이다. 상기 두께가 얇으면, 형상 둔화의 정도가 불충분해지고, 이러한 금형을 이용하여 얻어지는 방현 필름은, 바램이 발생할 우려가 있다. 한편, 크롬 도금층의 두께가 지나치게 두꺼우면, 형상 둔화의 정도가 너무 커지게 되고, 이러한 금형을 이용하여 얻어지는 방현 필름은 방현성이 불충분해지는 경향이 있다. 본 발명자들은, 바램의 발생을 충분히 방지하고, 우수한 방현성을 갖는 화상 표시 장치를 얻기 위한 방현 필름은, 크롬 도금층의 두께가 소정의 범위가 되도록 금형을 제조하는 것이 유효하다는 것을 발견하고 있다. 즉, 크롬 도금층의 두께는 3∼10 ㎛의 범위 내이면 바람직하고, 4∼8 ㎛의 범위 내이면 보다 바람직하다.In this manner, plating in the second plating step, preferably chromium plating, is performed to obtain a mold for producing the antiglare film of the present invention. By performing chromium plating on the surface concavo-convex shape on the surface of the mold base material after the etching treatment, the shape can be reduced and a mold with increased surface hardness can be obtained. The largest factor in controlling the degree of shape reduction in this case is the thickness of the chromium plating layer. If the thickness is thin, the degree of shape reduction becomes insufficient, and the antiglare film obtained by using such a mold may cause fretting. On the other hand, if the thickness of the chromium plated layer is excessively large, the degree of the shape reduction becomes too large, and the antiglare film obtained by using such a mold tends to become insufficient in antireflection property. The inventors of the present invention have found that it is effective to manufacture a mold so that the thickness of the chromium plating layer is within a predetermined range in the antiglare film for sufficiently preventing occurrence of fretting and obtaining an image display device having excellent antiglare property. That is, the thickness of the chromium plating layer is preferably in the range of 3 to 10 mu m, more preferably in the range of 4 to 8 mu m.

제2 도금 공정에서 형성되는 크롬 도금층은, 비커스 경도가 800 이상이 되도록 형성되어 있는 것이 바람직하고, 1000 이상이 되도록 형성되어 있는 것이 보다 바람직하다. 크롬 도금층의 비커스 경도가 800 미만인 경우에는, 금형을 사용하여 방현 필름을 제조할 때, 상기 금형의 내구성이 저하되는 경향이 있다.The chromium plating layer formed in the second plating step is preferably formed so as to have a Vickers hardness of 800 or more, more preferably 1,000 or more. When the Vickers hardness of the chrome plated layer is less than 800, the durability of the mold tends to be lowered when an antiglare film is produced using the mold.

이하에서는, 본 발명의 방현 필름을 제조하기 위한 방법으로서 바람직한 상기 광 엠보스법에 대해서 설명한다. 이미 설명한 바와 같이, UV 엠보스법이 광 엠보스법으로서 특히 바람직하지만, 여기서는 활성 에너지선 경화성 수지를 이용하는 엠보스법에 대해서 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the optical embossing method preferable as a method for producing the antiglare film of the present invention will be described. As described above, the UV embossing method is particularly preferable as the optical embossing method. Here, the embossing method using the active energy ray-curable resin will be specifically described.

본 발명의 방현 필름을 연속적으로 제조하기 위해, 본 발명의 방현 필름을 광 엠보스법에 의해 제조하는 경우에는, 하기 공정:In order to continuously produce the antiglaving film of the present invention, when the antiglare film of the present invention is produced by the optical embossing method, the following steps:

[P1] 연속하여 반송되는 투명 지지체 상에, 활성 에너지선 경화성 수지를 함유하는 도공액을 도공하여, 도공층을 형성하는 도공 공정, 및[P1] a coating step of coating a coating liquid containing an active energy ray-curable resin on a transparent support continuously transported to form a coating layer, and

[P2] 도공층의 표면에, 금형의 표면을 압착시킨 상태에서, 투명 지지체측으로부터 활성 에너지선을 조사하는 본 경화 공정,A final curing step of irradiating an active energy ray from the side of the transparent support with the surface of the mold pressed on the surface of the [P2] coated layer,

을 포함하는 것이 바람직하다..

또한, 본 발명의 방현 필름을 광 엠보스법에 의해 제조하는 경우에는,Further, when the antiglare film of the present invention is produced by the optical embossing method,

[P3] 도공 공정 [P1]의 후이며, 경화 공정 [P2]의 전에, 도공층의 폭 방향의 양쪽 단부 영역에 활성 에너지선을 조사하는 예비 경화 공정을 포함하는 것이 보다 바람직하다.[P3] It is more preferable to include a pre-hardening step after the coating step [P1] and prior to the hardening step [P2], in which both end regions in the width direction of the coated layer are irradiated with active energy rays.

이하, 도면을 참조하면서, 각 공정에 대해서 상세히 설명한다. 도 9는 본 발명의 방현 필름의 제조 방법에 이용되는 제조 장치의 바람직한 일례를 모식적으로 나타낸 도면이다. 도 9 중의 화살표는, 필름의 반송 방향 또는 롤의 회전 방향을 나타낸다.Hereinafter, each step will be described in detail with reference to the drawings. 9 is a diagram schematically showing a preferred example of the production apparatus used in the method for producing an antiglare film of the present invention. The arrows in Fig. 9 indicate the transport direction of the film or the rotation direction of the roll.

[P1] 도공 공정[P1] Coating process

도공 공정에서는, 투명 지지체 상에, 활성 에너지선 경화성 수지를 함유하는 도공액을 도공하여, 도공층을 형성한다. 도공 공정은, 예컨대 도 9에 도시된 바와 같이, 송출 롤(80)로부터 조출되는 투명 지지체(81)에 대하여, 도공 존(83)에서 활성 에너지선 경화성 수지 조성물을 함유하는 도공액이 도포된다.In the coating step, a coating solution containing an active energy ray-curable resin is coated on a transparent support to form a coating layer. In the coating process, a coating liquid containing an active energy ray-curable resin composition is applied to the transparent support 81 fed from the feed roll 80, as shown in Fig. 9, in the coating zone 83, for example.

도공액의 투명 지지체(81) 상에 대한 도공은, 예컨대, 그라비아 코트법, 마이크로 그라비아 코트법, 로드 코트법, 나이프 코트법, 에어나이프 코트법, 키스 코트법, 다이 코트법 등에 의해 행할 수 있다.Coating of the coating liquid onto the transparent support 81 can be performed by, for example, a gravure coating method, a micro gravure coating method, a rod coating method, a knife coating method, an air knife coating method, a kiss coating method, a die coating method, .

(투명 지지체)(Transparent support)

투명 지지체(81)는 투광성의 것이면 되고, 예컨대 유리나 플라스틱 필름 등을 이용할 수 있다. 플라스틱 필름으로는 적절한 투명성, 기계 강도를 갖고 있으면 된다. 구체적으로는, 이미 UV 엠보스법에 이용하는 투명 지지체로서 예시한 것을 모두 사용할 수 있고, 또한 광 엠보스법에 의해 연속적으로 본 발명의 방현 필름을 제조하기 위해, 적절한 가요성을 갖는 것이 선택된다.The transparent support 81 may be of a light transmitting type, for example, glass or a plastic film. The plastic film may have appropriate transparency and mechanical strength. Concretely, any of those exemplified as the transparent support already used in the UV embossing method can be used. In order to continuously produce the antiglare film of the present invention by the optical embossing method, those having suitable flexibility are selected.

도공액의 도공성의 개량, 투명 지지체와 도공층의 접착성의 개량을 목적으로 하여, 투명 지지체(81)의 표면(도공층측 표면)에는, 각종 표면 처리를 행하여도 좋다. 표면 처리로는, 코로나 방전 처리, 글로우 방전 처리, 산 표면 처리, 알칼리 표면 처리, 자외선 조사 처리 등을 들 수 있다. 또한, 투명 지지체(81) 상에, 예컨대 프라이머층 등의 다른 층을 형성하고, 이 다른 층 상에, 도공액을 도공하도록 하여도 좋다.Various surface treatments may be performed on the surface (coating layer side surface) of the transparent support 81 for the purpose of improving the coating property of the coating liquid and improving the adhesiveness between the transparent support and the coating layer. Examples of the surface treatment include a corona discharge treatment, a glow discharge treatment, an acid surface treatment, an alkali surface treatment, and an ultraviolet ray irradiation treatment. Further, another layer such as a primer layer may be formed on the transparent support 81, and a coating liquid may be coated on the other layer.

또한, 본 발명의 방현 필름으로서, 편광 필름과 일체화한 것을 제조하는 경우에는, 투명 지지체와 편광 필름의 접착성을 향상시키기 위해, 투명 지지체의 표면(도공층과는 반대측의 표면)을 각종 표면 처리에 의해 친수화시켜 두는 것이 바람직하다. 이 표면 처리는, 방현 필름의 제조 후에 행하여도 좋다.In order to improve the adhesion between the transparent support and the polarizing film, the surface of the transparent support (the surface opposite to the coating layer) is subjected to various surface treatments It is preferable to make it hydrophilic. This surface treatment may be carried out after the production of the antiglare film.

(도공액)(Coating solution)

도공액은, 활성 에너지선 경화성 수지를 함유하고, 통상은, 광중합 개시제(라디칼 중합 개시제)를 더 함유한다. 필요에 따라, 투광성 미립자, 유기 용제 등의 용제, 레벨링제, 분산제, 대전방지제, 방오제, 계면활성제 등의 각종 첨가제를 포함하고 있어도 좋다.The coating liquid contains an active energy ray curable resin and usually contains a photopolymerization initiator (radical polymerization initiator). If necessary, various additives such as a light-transmitting fine particle, a solvent such as an organic solvent, a leveling agent, a dispersant, an antistatic agent, an antifouling agent and a surfactant may be contained.

(1) 활성 에너지선 경화성 수지(1) Active energy ray curable resin

활성 에너지선 경화성 수지로는, 예컨대, 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물을 함유하는 것을 바람직하게 이용할 수 있다. 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물이란, 분자 중에 적어도 2개의 (메트)아크릴로일옥시기를 갖는 화합물이다. 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물의 구체예로는, 예컨대, 다가 알코올과 (메트)아크릴산의 에스테르 화합물, 우레탄(메트)아크릴레이트 화합물, 폴리에스테르(메트)아크릴레이트 화합물, 에폭시(메트)아크릴레이트 화합물 등의 (메트)아크릴로일기를 2개 이상 포함하는 다작용성의 중합성 화합물 등을 들 수 있다.As the active energy ray-curable resin, for example, a resin containing a polyfunctional (meth) acrylate compound can be preferably used. The polyfunctional (meth) acrylate compound is a compound having at least two (meth) acryloyloxy groups in the molecule. Specific examples of the polyfunctional (meth) acrylate compound include esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid, urethane (meth) acrylate compounds, polyester (meth) acrylate compounds, epoxy (meth) And polyfunctional polymerizable compounds containing two or more (meth) acryloyl groups such as compounds.

다가 알코올로는, 예컨대, 에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 트리에틸렌글리콜, 테트라에틸렌글리콜, 폴리에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디프로필렌글리콜, 트리프로필렌글리콜, 테트라프로필렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜, 프로판디올, 부탄디올, 펜탄디올, 헥산디올, 네오펜틸글리콜, 2-에틸-1,3-헥산디올, 2,2'-티오디에탄올, 1,4-시클로헥산디메탄올과 같은 2가의 알코올; 트리메틸올프로판, 글리세롤, 펜타에리스리톨, 디글리세롤, 디펜타에리스리톨, 디트리메틸올프로판과 같은 3가 이상의 알코올을 들 수 있다.Examples of the polyhydric alcohol include polyhydric alcohols such as ethylene glycol, diethylene glycol, triethylene glycol, tetraethylene glycol, polyethylene glycol, propylene glycol, dipropylene glycol, tripropylene glycol, tetrapropylene glycol, polypropylene glycol, Dihydric alcohols such as diol, hexanediol, neopentyl glycol, 2-ethyl-1,3-hexanediol, 2,2'-thiodiethanol and 1,4-cyclohexanedimethanol; Trimethylol propane, glycerol, pentaerythritol, diglycerol, dipentaerythritol, ditrimethylol propane and the like.

다가 알코올과 (메트)아크릴산의 에스테르화물로서, 구체적으로는, 에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메트)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 트리메틸올에탄트리(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄트리(메트)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄테트라(메트)아크릴레이트, 펜타글리세롤트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리스리톨트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리스리톨테트라(메트)아크릴레이트, 글리세린트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨펜타(메트)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사(메트)아크릴레이트를 들 수 있다.Specific examples of the esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid include ethylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) (Meth) acrylate, trimethylol ethane tri (meth) acrylate, tetramethylol methane tri (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) (Meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, glycerin tri (meth) acrylate, dipentaerythritol tri (Meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, It may include a relay agent.

우레탄(메트)아크릴레이트 화합물로는, 1분자 중에 복수개의 이소시아네이트기를 갖는 유기 이소시아네이트와, 수산기를 갖는 (메트)아크릴산 유도체의 우레탄화 반응물을 들 수 있다. 1분자 중에 복수개의 이소시아네이트기를 갖는 유기 이소시아네이트로는, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트, 톨릴렌디이소시아네이트, 나프탈렌디이소시아네이트, 디페닐메탄디이소시아네이트, 크실릴렌디이소시아네이트, 디시클로헥실메탄디이소시아네이트 등의 1분자 중에 2개의 이소시아네이트기를 갖는 유기 이소시아네이트, 이들 유기 이소시아네이트를 이소시아누레이트 변성, 어덕트 변성, 뷰렛 변성한 1분자 중에 3개의 이소시아네이트기를 갖는 유기 이소시아네이트 등을 들 수 있다. 수산기를 갖는 (메트)아크릴산 유도체로는, 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시프로필(메트)아크릴레이트, 4-히드록시부틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시부틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시-3-페녹시프로필(메트)아크릴레이트, 펜타에리스리톨트리아크릴레이트를 들 수 있다.Examples of the urethane (meth) acrylate compound include an urethane formation reaction product of an organic isocyanate having a plurality of isocyanate groups in one molecule and a (meth) acrylic acid derivative having a hydroxyl group. Examples of the organic isocyanate having a plurality of isocyanate groups in one molecule include hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, tolylene diisocyanate, naphthalene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, xylylene diisocyanate and dicyclohexylmethane diisocyanate. Organic isocyanates having two isocyanate groups in one molecule, and organic isocyanates having three isocyanate groups in one molecule in which isocyanurate modification, adduct modification and biuret modification of these organic isocyanates are exemplified. Examples of the (meth) acrylic acid derivative having a hydroxyl group include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (Meth) acrylate, 2-hydroxy-3-phenoxypropyl (meth) acrylate and pentaerythritol triacrylate.

폴리에스테르(메트)아크릴레이트 화합물로서 바람직한 것은, 수산기 함유 폴리에스테르와 (메트)아크릴산을 반응시켜 얻어지는 폴리에스테르(메트)아크릴레이트이다. 바람직하게 이용되는 수산기 함유 폴리에스테르는, 다가 알코올과 카르복실산이나 복수의 카르복실기를 갖는 화합물 및/또는 그 무수물의 에스테르화 반응에 의해 얻어지는 수산기 함유 폴리에스테르이다. 다가 알코올로는 전술한 화합물과 동일한 것을 예시할 수 있다. 또한, 다가 알코올 이외에도, 페놀류로서 비스페놀 A 등을 들 수 있다. 카르복실산으로는, 포름산, 아세트산, 부틸카르복실산, 벤조산 등을 들 수 있다. 복수의 카르복실기를 갖는 화합물 및/또는 그 무수물로는, 말레산, 프탈산, 푸마르산, 이타콘산, 아디프산, 테레프탈산, 무수 말레산, 무수 프탈산, 트리멜리트산, 시클로헥산디카르복실산 무수물 등을 들 수 있다.The polyester (meth) acrylate compound is preferably a polyester (meth) acrylate obtained by reacting a hydroxyl group-containing polyester with (meth) acrylic acid. The hydroxyl group-containing polyester which is preferably used is a hydroxyl group-containing polyester obtained by an esterification reaction of a polyhydric alcohol with a compound having a carboxylic acid or a plurality of carboxyl groups and / or anhydride thereof. As the polyhydric alcohol, the same compounds as the above-mentioned compounds can be exemplified. In addition to polyhydric alcohols, bisphenol A and the like may be mentioned as phenols. Examples of the carboxylic acid include formic acid, acetic acid, butylcarboxylic acid, and benzoic acid. Examples of the compound having a plurality of carboxyl groups and / or anhydrides thereof include maleic acid, phthalic acid, fumaric acid, itaconic acid, adipic acid, terephthalic acid, maleic anhydride, phthalic anhydride, trimellitic acid and cyclohexanedicarboxylic acid anhydride. .

이상과 같은 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물 중에서도, 그 경화물의 강도 향상이나 입수 용이성의 면에서, 헥산디올디(메트)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 트리프로필렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리스리톨트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사(메트)아크릴레이트 등의 에스테르 화합물; 헥사메틸렌디이소시아네이트와 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트의 부가체; 이소포론디이소시아네이트와 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트의 부가체; 톨릴렌디이소시아네이트와 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트의 부가체; 어덕트 변성 이소포론디이소시아네이트와 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트의 부가체; 및 뷰렛 변성 이소포론디이소시아네이트와 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트의 부가체가 바람직하다. 또한, 이들 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물은, 각각 단독으로, 또는 2종 이상을 병용할 수 있다.Among the above-mentioned polyfunctional (meth) acrylate compounds, hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate and diethylene glycol di (meth) acrylate are preferable from the viewpoints of improving the strength of the cured product, Ester compounds such as trimethylolpropane tri (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate and dipentaerythritol hexa (meth) acrylate; Adducts of hexamethylene diisocyanate and 2-hydroxyethyl (meth) acrylate; Adducts of isophorone diisocyanate and 2-hydroxyethyl (meth) acrylate; Adducts of tolylene diisocyanate and 2-hydroxyethyl (meth) acrylate; Adducts of adducts of modified adduct of isophorone diisocyanate and 2-hydroxyethyl (meth) acrylate; And adducts of biuret-modified isophorone diisocyanate and 2-hydroxyethyl (meth) acrylate are preferred. These polyfunctional (meth) acrylate compounds may be used alone or in combination of two or more.

활성 에너지선 경화성 수지는, 상기한 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물 외에, 단작용성 (메트)아크릴레이트 화합물을 함유하고 있어도 좋다. 단작용성 (메트)아크릴레이트 화합물로는, 예컨대, 메틸(메트)아크릴레이트, 에틸(메트)아크릴레이트, 부틸(메트)아크릴레이트, 이소부틸(메트)아크릴레이트, t-부틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시프로필(메트)아크릴레이트, 히드록시부틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시부틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시-3-페녹시프로필(메트)아크릴레이트, 글리시딜(메트)아크릴레이트, 아크릴로일모르폴린, N-비닐피롤리돈, 테트라히드로푸르푸릴(메트)아크릴레이트, 시클로헥실(메트)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트, 이소보르닐(메트)아크릴레이트, 아세틸(메트)아크릴레이트, 벤질(메트)아크릴레이트, 2-에톡시에틸(메트)아크릴레이트, 3-메톡시부틸(메트)아크릴레이트, 에틸카르비톨(메트)아크릴레이트, 페녹시(메트)아크릴레이트, 에틸렌옥사이드 변성 페녹시(메트)아크릴레이트, 프로필렌옥사이드(메트)아크릴레이트, 노닐페놀(메트)아크릴레이트, 에틸렌옥사이드 변성 (메트)아크릴레이트, 프로필렌옥사이드 변성 노닐페놀(메트)아크릴레이트, 메톡시디에틸렌글리콜(메트)아크릴레이트, 2-(메트)아크릴로일옥시에틸-2-히드록시프로필프탈레이트, 디메틸아미노에틸(메트)아크릴레이트, 메톡시트리에틸렌글리콜(메트)아크릴레이트 등의 (메트)아크릴레이트류를 들 수 있다. 이들 화합물은 각각 단독으로 또는 2종류 이상을 병용할 수 있다.The active energy ray-curable resin may contain a monofunctional (meth) acrylate compound in addition to the above-mentioned multifunctional (meth) acrylate compound. Examples of the monofunctional (meth) acrylate compound include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, (Meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, (Meth) acrylate, glycidyl (meth) acrylate, acryloylmorpholine, N-vinylpyrrolidone, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, cyclohexyl (Meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, acetyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, 2-ethoxyethyl ) Acrylate, ethyl carbitol (meth) acrylate, phenoxy ) Acrylate, ethylene oxide modified phenoxy (meth) acrylate, propylene oxide (meth) acrylate, nonylphenol (meth) acrylate, ethylene oxide modified (meth) acrylate, propylene oxide modified nonylphenol Acrylate, methoxydiethylene glycol (meth) acrylate, 2- (meth) acryloyloxyethyl-2-hydroxypropyl phthalate, dimethylaminoethyl (meth) acrylate and methoxy triethylene glycol (Meth) acrylates. These compounds may be used alone or in combination of two or more.

또한, 활성 에너지선 경화성 수지는 중합성 올리고머를 함유하고 있어도 좋다. 중합성 올리고머를 함유시킴으로써, 경화물의 경도를 조정할 수 있다. 중합성 올리고머는, 예컨대, 상기 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물, 즉, 다가 알코올과 (메트)아크릴산의 에스테르 화합물, 우레탄(메트)아크릴레이트 화합물, 폴리에스테르(메트)아크릴레이트 화합물 또는 에폭시(메트)아크릴레이트 등의 이량체, 삼량체 등과 같은 올리고머일 수 있다.Further, the active energy ray curable resin may contain a polymerizable oligomer. By containing a polymerizable oligomer, the hardness of the cured product can be adjusted. The polymerizable oligomer can be obtained, for example, by reacting the polyfunctional (meth) acrylate compound, that is, an ester compound of a polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid, a urethane (meth) acrylate compound, a polyester (meth) ) Acrylate, and oligomers such as trimers and the like.

그 밖의 중합성 올리고머로는, 분자 중에 적어도 2개의 이소시아네이트기를 갖는 폴리이소시아네이트와, 적어도 1개의 (메트)아크릴로일옥시기를 갖는 다가 알코올의 반응에 의해 얻어지는 우레탄(메트)아크릴레이트 올리고머를 들 수 있다. 폴리이소시아네이트로는, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트, 톨릴렌디이소시아네이트, 디페닐메탄디이소시아네이트, 크실릴렌디이소시아네이트의 중합물 등을 들 수 있고, 적어도 1개의 (메트)아크릴로일옥시기를 갖는 다가 알코올로는, 다가 알코올과 (메트)아크릴산의 에스테르화 반응에 의해 얻어지는 수산기 함유 (메트)아크릴산에스테르이며, 다가 알코올로서, 예컨대, 1,3-부탄디올, 1,4-부탄디올, 1,6-헥산디올, 디에틸렌글리콜, 트리에틸렌글리콜, 네오펜틸글리콜, 폴리에틸렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜, 트리메틸올프로판, 글리세린, 펜타에리스리톨, 디펜타에리스리톨 등인 것을 들 수 있다. 이 적어도 1개의 (메트)아크릴로일옥시기를 갖는 다가 알코올은, 다가 알코올의 알코올성 수산기의 일부가 (메트)아크릴산과 에스테르화 반응하고 있음과 더불어, 알코올성 수산기가 분자 중에 잔존하는 것이다.Examples of other polymerizable oligomers include urethane (meth) acrylate oligomers obtained by reacting a polyisocyanate having at least two isocyanate groups in a molecule with a polyhydric alcohol having at least one (meth) acryloyloxy group . Examples of the polyisocyanate include a polymer of hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, tolylene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, and xylylene diisocyanate. The polyisocyanate includes at least one (meth) acryloyloxy group- Examples of the alcohol include hydroxyl group-containing (meth) acrylic acid esters obtained by an esterification reaction between a polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid. Examples of the polyhydric alcohol include 1,3-butanediol, 1,4- Diol, diethylene glycol, triethylene glycol, neopentyl glycol, polyethylene glycol, polypropylene glycol, trimethylol propane, glycerin, pentaerythritol, dipentaerythritol and the like. In the polyhydric alcohol having at least one (meth) acryloyloxy group, a part of the alcoholic hydroxyl group of the polyhydric alcohol is esterified with (meth) acrylic acid and the alcoholic hydroxyl group remains in the molecule.

또한, 그 밖의 중합성 올리고머의 예로서, 복수의 카르복실기를 갖는 화합물 및/또는 그 무수물과, 적어도 1개의 (메트)아크릴로일옥시기를 갖는 다가 알코올의 반응에 의해 얻어지는 폴리에스테르(메트)아크릴레이트 올리고머를 들 수 있다. 복수의 카르복실기를 갖는 화합물 및/또는 그 무수물로는, 상기 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물의 폴리에스테르(메트)아크릴레이트에서 기재한 것과 동일한 것을 예시할 수 있다. 또한, 적어도 1개의 (메트)아크릴로일옥시기를 갖는 다가 알코올로는, 상기 우레탄(메트)아크릴레이트 올리고머에서 기재한 것과 동일한 것을 예시할 수 있다.Examples of other polymerizable oligomers include polyester (meth) acrylates obtained by reacting a compound having a plurality of carboxyl groups and / or anhydride thereof with a polyhydric alcohol having at least one (meth) acryloyloxy group Oligomers. Examples of the compound having a plurality of carboxyl groups and / or anhydrides thereof include the same ones described in the polyester (meth) acrylate of the polyfunctional (meth) acrylate compound. Examples of the polyvalent alcohol having at least one (meth) acryloyloxy group include the same ones described for the urethane (meth) acrylate oligomer.

이상과 같은 중합성 올리고머에 덧붙여, 또한 우레탄(메트)아크릴레이트 올리고머의 예로서, 수산기 함유 폴리에스테르, 수산기 함유 폴리에테르 또는 수산기 함유 (메트)아크릴산에스테르의 수산기에 이소시아네이트류를 반응시켜 얻어지는 화합물을 들 수 있다. 바람직하게 이용되는 수산기 함유 폴리에스테르는, 다가 알코올과 카르복실산이나 복수의 카르복실기를 갖는 화합물 및/또는 그 무수물의 에스테르화 반응에 의해 얻어지는 수산기 함유 폴리에스테르이다. 다가 알코올이나, 복수의 카르복실기를 갖는 화합물 및/또는 그 무수물로는, 각각, 다작용성 (메트)아크릴레이트 화합물의 폴리에스테르(메트)아크릴레이트 화합물에서 기재한 것과 동일한 것을 예시할 수 있다. 바람직하게 이용되는 수산기 함유 폴리에테르는, 다가 알코올에 1종 또는 2종 이상의 알킬렌옥사이드 및/또는 ε-카프로락톤을 부가함으로써 얻어지는 수산기 함유 폴리에테르이다. 다가 알코올은, 상기 수산기 함유 폴리에스테르에 사용할 수 있는 것과 동일한 것이어도 좋다. 바람직하게 이용되는 수산기 함유 (메트)아크릴산에스테르로는, 중합성 올리고머의 우레탄(메트)아크릴레이트 올리고머에서 기재한 것과 동일한 것을 예시할 수 있다. 이소시아네이트류로는, 분자 중에 1개 이상의 이소시아네이트기를 갖는 화합물이 바람직하고, 톨릴렌디이소시아네이트나, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트 등의 2가의 이소시아네이트 화합물이 특히 바람직하다.In addition to the polymerizable oligomer as described above, a compound obtained by reacting an isocyanate with a hydroxyl group of a hydroxyl group-containing polyester, a hydroxyl group-containing polyether or a hydroxyl group-containing (meth) acrylate ester as an example of a urethane (meth) . The hydroxyl group-containing polyester which is preferably used is a hydroxyl group-containing polyester obtained by an esterification reaction of a polyhydric alcohol with a compound having a carboxylic acid or a plurality of carboxyl groups and / or anhydride thereof. Examples of the polyhydric alcohol, compound having a plurality of carboxyl groups and / or anhydrides thereof are the same as those described in the polyester (meth) acrylate compound of the polyfunctional (meth) acrylate compound. The hydroxyl group-containing polyether which is preferably used is a hydroxyl group-containing polyether obtained by adding one or more kinds of alkylene oxide and / or epsilon -caprolactone to a polyhydric alcohol. The polyhydric alcohol may be the same as that usable for the hydroxyl group-containing polyester. Examples of the hydroxyl group-containing (meth) acrylate ester which is preferably used include the same ones described in the urethane (meth) acrylate oligomer of the polymerizable oligomer. As the isocyanate, a compound having at least one isocyanate group in the molecule is preferable, and a divalent isocyanate compound such as tolylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, and isophorone diisocyanate is particularly preferable.

이들 중합성 올리고머 화합물은 각각 단독으로 이용할 수도 있고, 2종 이상을 병용할 수도 있다.These polymerizable oligomer compounds may be used alone or in combination of two or more.

(2) 광중합 개시제(2) Photopolymerization initiator

광중합 개시제는, 본 발명의 방현 필름 제조에 적용하는 활성 에너지선의 종류에 따라 적절히 선택할 수 있다. 또한, 활성 에너지선으로서 전자선을 이용하는 경우에는, 광중합 개시제를 함유하지 않는 도공액을 본 발명의 방현 필름 제조에 이용하는 경우도 있다.The photopolymerization initiator can be appropriately selected depending on the kind of active energy ray to be applied to the production of the antiglare film of the present invention. When an electron beam is used as the active energy ray, a coating liquid containing no photopolymerization initiator may be used for producing the antiglare film of the present invention.

광중합 개시제로는, 예컨대, 아세토페논계 광중합 개시제, 벤조인계 광중합 개시제, 벤조페논계 광중합 개시제, 티오크산톤계 광중합 개시제, 트리아진계 광중합 개시제, 옥사디아졸계 광중합 개시제 등이 이용된다. 또한, 광중합 개시제로서, 예컨대, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드, 2,2'-비스(o-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸, 10-부틸-2-클로로아크리돈, 2-에틸안트라퀴논, 벤질, 9,10-페난트렌퀴논, 캄퍼퀴논, 페닐글리옥실산메틸, 티타노센 화합물 등도 이용할 수 있다. 광중합 개시제의 사용량은, 활성 에너지선 경화성 수지 100 중량부에 대하여 통상 0.5∼20 중량부이고, 바람직하게는 1∼5 중량부이다.Examples of the photopolymerization initiator include an acetophenone photopolymerization initiator, a benzoin photopolymerization initiator, a benzophenone photopolymerization initiator, a thioxanthone photopolymerization initiator, a triazine photopolymerization initiator, and an oxadiazole photopolymerization initiator. Examples of the photopolymerization initiator include 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, 2,2'-bis (o-chlorophenyl) -4,4 ', 5,5'- 2-chloroacridone, 2-ethyl anthraquinone, benzyl, 9,10-phenanthrenequinone, camphorquinone, methyl phenylglyoxylate, and titanocene compounds can also be used . The photopolymerization initiator is used in an amount of usually 0.5 to 20 parts by weight, preferably 1 to 5 parts by weight, per 100 parts by weight of the active energy ray curable resin.

도공액은, 투명 지지체에 대한 도공성을 개량하기 위해, 유기 용제 등의 용제를 포함하는 경우도 있다. 유기 용제로는, 헥산, 시클로헥산, 옥탄 등의 지방족 탄화수소; 톨루엔, 크실렌 등의 방향족 탄화수소; 에탄올, 1-프로판올, 이소프로판올, 1-부탄올, 시클로헥산올 등의 알코올류; 메틸에틸케톤, 메틸이소부틸케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류; 아세트산에틸, 아세트산부틸, 아세트산이소부틸 등의 에스테르류; 에틸렌글리콜모노메틸에테르, 에틸렌글리콜모노에틸에테르, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 프로필렌글리콜모노에틸에테르 등의 글리콜에테르류; 에틸렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 등의 에스테르화 글리콜에테르류; 2-메톡시에탄올, 2-에톡시에탄올, 2-부톡시에탄올 등의 셀로솔브류; 2-(2-메톡시에톡시)에탄올, 2-(2-에톡시에톡시)에탄올, 2-(2-부톡시에톡시)에탄올 등의 카르비톨류 등으로부터, 점도 등을 고려하여 선택하여 이용할 수 있다. 이들 용제는, 단독으로 이용하여도 좋고, 필요에 따라 여러 종류를 혼합하여 이용하여도 좋다. 도공 후에는, 상기 유기 용제를 증발시킬 필요가 있다. 그 때문에, 비점은 60℃∼160℃의 범위인 것이 바람직하다. 또한, 20℃에서의 포화 증기압은 0.1 kPa∼20 kPa의 범위인 것이 바람직하다.The coating liquid may contain a solvent such as an organic solvent in order to improve the coating property to the transparent support. Examples of the organic solvent include aliphatic hydrocarbons such as hexane, cyclohexane and octane; Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; Alcohols such as ethanol, 1-propanol, isopropanol, 1-butanol and cyclohexanol; Ketones such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; Esters such as ethyl acetate, butyl acetate and isobutyl acetate; Glycol ethers such as ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, propylene glycol monomethyl ether and propylene glycol monoethyl ether; Esterified glycol ethers such as ethylene glycol monomethyl ether acetate and propylene glycol monomethyl ether acetate; Cellosolves such as 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol and 2-butoxyethanol; And carbitols such as 2- (2-methoxyethoxy) ethanol, 2- (2-ethoxyethoxy) ethanol and 2- (2-butoxyethoxy) ethanol, Can be used. These solvents may be used alone or in combination of two or more of them if necessary. After the coating, it is necessary to evaporate the organic solvent. Therefore, the boiling point is preferably in the range of 60 占 폚 to 160 占 폚. The saturated vapor pressure at 20 占 폚 is preferably in the range of 0.1 kPa to 20 kPa.

도공액이 용제를 포함하는 경우, 상기 도공 공정 후, 제1 경화 공정 전에, 용제를 증발시켜 건조를 행하는 건조 공정을 마련하는 것이 바람직하다. 건조는, 예컨대 도 9에 도시된 예와 같이, 도공층을 구비하는 투명 지지체(81)를, 건조 존(84) 안을 통과시킴으로써 행할 수 있다. 건조 온도는, 사용하는 용제나 투명 지지체의 종류에 따라 적절히 선택된다. 일반적으로 20℃∼120℃의 범위이지만, 이것에 한정되지 않는다. 또한, 건조로가 복수 있는 경우에는, 건조로마다 온도를 변경하여도 좋다. 건조 후의 도공층의 두께는, 1∼30 ㎛인 것이 바람직하다.When the coating liquid contains a solvent, it is preferable to provide a drying step after the coating step and before the first curing step, in which the solvent is evaporated and dried. The drying can be performed, for example, by passing a transparent support 81 having a coating layer through the drying zone 84, as in the example shown in Fig. The drying temperature is appropriately selected depending on the type of solvent and transparent support to be used. But is not limited thereto. When there are a plurality of drying furnaces, the temperature may be changed for each drying furnace. The thickness of the coating layer after drying is preferably 1 to 30 mu m.

이렇게 하여, 투명 지지체와 도공층이 적층된 적층체가 형성된다.Thus, a laminate in which a transparent support and a coating layer are laminated is formed.

[P2] 경화 공정[P2] Curing process

본 공정은, 도공층의 표면에, 원하는 표면 요철 형상을 갖는 금형 요철 표면(성형면)을 압착시킨 상태에서, 투명 지지체측으로부터 활성 에너지선을 조사하여, 도공층을 경화시킴으로써, 투명 지지체 상에 경화된 수지층을 형성하는 공정이다. 이에 따라, 도공층이 경화됨과 더불어, 금형 요철 표면의 표면 요철 형상이 도공층 표면에 전사된다. 여기서 이용하는 금형은 롤 형상의 것으로서, 이미 설명한 금형 제조 방법에 있어서 롤 형상의 금형용 기재를 이용함으로써 제조된 것이다.In this step, an active energy ray is irradiated from the side of the transparent support in the state that the surface of the coating layer has a concavo-convex metallic concave surface (molding surface) having a desired surface concavo-convex shape, and the coating layer is cured, Thereby forming a cured resin layer. As a result, the coating layer is hardened, and the surface irregularities on the surface of the mold concavity and convexity are transferred onto the surface of the coating layer. The mold used here is in the form of a roll, which is manufactured by using a roll-shaped mold base material in the previously described mold production method.

본 공정은, 예컨대 도 9에 도시된 바와 같이, 도공 존(83)(건조를 행하는 경우에는, 건조 존(84), 후술하는 예비 경화 공정을 행하는 경우에는 추가로 활성 에너지선 조사 장치(86)에 의한 조사가 이루어지는 예비 경화 존)을 통과한 도공층을 갖는 적층체에 대하여, 투명 지지체(81)측에 배치된 자외선 조사 장치 등의 활성 에너지선 조사 장치(86)를 이용하여, 활성 에너지선을 조사함으로써 행할 수 있다.9, the coating zone 83 (the drying zone 84 in the case of drying, the active energy ray irradiating unit 86 in the case of performing the pre-hardening step described later) The active energy ray irradiating device 86 such as an ultraviolet ray irradiating device arranged on the transparent support 81 side is used to irradiate the active energy rays As shown in FIG.

우선, 경화 공정을 거친 적층체의 도공층의 표면에, 닙 롤(88) 등의 압착 장치를 이용하여, 롤 형상의 금형(87)을 압착시키고, 이 상태에서 활성 에너지선 조사 장치(86)를 이용하여, 투명 지지체(81)측으로부터 활성 에너지선을 조사하여 도공층(82)을 경화시킨다. 여기서, 「도공층을 경화시킨다」라고 하는 것은, 상기 도공층에 포함되는 활성 에너지선 경화성 수지가 활성 에너지선의 에너지를 받아 경화 반응을 일으키는 것을 말한다. 닙 롤의 사용은, 적층체의 도공층과 금형 사이에 기포가 혼입되는 것을 방지하는 데 있어서 유효하다. 활성 에너지선 조사 장치는, 1대 혹은 복수대를 사용할 수 있다.First, the rolled mold 87 is pressed onto the surface of the coated layer of the laminate subjected to the curing process by using a compression device such as a nip roll 88, and in this state, the active energy ray irradiating device 86, , An active energy ray is irradiated from the side of the transparent support 81 to cure the coating layer 82. Here, "curing the coating layer" means that the active energy ray-curable resin contained in the coating layer receives the energy of the active energy ray to cause a curing reaction. The use of a nip roll is effective in preventing bubbles from being mixed in between the coating layer of the laminate and the mold. One or more active energy ray irradiating devices may be used.

활성 에너지선을 조사한 후, 적층체는, 출구측의 닙 롤(89)을 지지점으로 하여 금형(87)으로부터 박리된다. 얻어진 투명 지지체와 경화한 도공층은, 상기 경화한 도공층이 방현층이 되어 본 발명의 방현 필름을 얻을 수 있다. 얻어진 방현 필름은 통상, 필름 권취 장치(90)에 의해 권취된다. 이 때, 방현층을 보호할 목적으로, 재박리성을 가진 점착제층을 통해, 방현층 표면에 폴리에틸렌테레프탈레이트나 폴리에틸렌 등으로 이루어진 보호 필름을 접착시키면서 권취하여도 좋다. 또한, 여기서는 이용하는 금형이 롤 형상인 경우를 설명하였지만, 롤 형상 이외의 금형을 이용할 수도 있다. 또한, 금형으로부터 박리된 후에, 추가의 활성 에너지선 조사를 행하여도 좋다.After irradiating the active energy ray, the laminate is peeled from the mold 87 using the nip roll 89 on the exit side as a fulcrum. The cured coating layer of the obtained transparent support and the cured coating layer becomes an antiglare layer, and the antiglare film of the present invention can be obtained. The obtained antiglare film is usually wound by a film winding device 90. At this time, for the purpose of protecting the antiglare layer, the protective film made of polyethylene terephthalate or polyethylene may be wound on the surface of the antiglare layer through a pressure-sensitive adhesive layer having re-releasability. Although the case where the mold used is roll-shaped is explained here, a mold other than the roll-shaped mold may also be used. Further, after peeling from the mold, additional active energy ray irradiation may be performed.

본 공정에서 이용하는 활성 에너지선으로는, 도공액에 포함되는 활성 에너지선 경화성 수지의 종류에 따라 자외선, 전자선, 근자외선, 가시광, 근적외선, 적외선, X선 등으로부터 적절히 선택할 수 있지만, 이들 중에서 자외선 및 전자선이 바람직하고, 취급이 간편하고 고에너지가 얻어지기 때문에 자외선이 특히 바람직하다(전술한 바와 같이, 광 엠보스법으로는, UV 엠보스법이 바람직함).The active energy ray to be used in this step can be appropriately selected from ultraviolet rays, electron rays, near ultraviolet rays, visible rays, near-infrared rays, infrared rays, and X rays depending on the type of active energy ray curable resin contained in the coating solution. Since the electron beam is preferable, and handling is simple and high energy is obtained, ultraviolet rays are particularly preferable (as described above, the UV emboss method is preferable in the optical embossing method).

자외선의 광원으로는, 예컨대, 저압 수은등, 중압 수은등, 고압 수은등, 초고압 수은등, 카본 아크등, 무전극 램프, 메탈 할라이드 램프, 크세논 아크 램프 등을 이용할 수 있다. 또한, ArF 엑시머 레이저, KrF 엑시머 레이저, 엑시머 램프 또는 싱크로트론 방사광 등도 이용할 수 있다. 이들 중에서도, 초고압 수은등, 고압 수은등, 저압 수은등, 무전극 램프, 크세논 아크 램프, 메탈 할라이드 램프가 바람직하게 이용된다.As the light source of ultraviolet rays, for example, low pressure mercury lamp, medium pressure mercury lamp, high pressure mercury lamp, ultra high pressure mercury lamp, carbon arc lamp, electrodeless lamp, metal halide lamp, xenon arc lamp and the like can be used. An ArF excimer laser, a KrF excimer laser, an excimer lamp, or a synchrotron radiation can also be used. Of these, ultra-high pressure mercury lamps, high-pressure mercury lamps, low-pressure mercury lamps, electrodeless lamps, xenon arc lamps and metal halide lamps are preferably used.

또한, 전자선으로는, 코크로프트 월턴형, 밴더그래프형, 공진 변압형, 절연 코어 변압형, 직선형, 다이나미트론형, 고주파형 등의 각종 전자선 가속기로부터 방출되는 50∼1000 keV, 바람직하게는 100∼300 keV의 에너지를 갖는 전자선을 들 수 있다.The electron beam may be 50 to 1000 keV, preferably 100 to 1000 keV, emitted from various electron beam accelerators such as a COCORT WALTON type, a Vandegraph type, a resonance type, an insulating core type, a linear type, a Dynamitron type, And an electron beam having an energy of ~ 300 keV.

활성 에너지선이 자외선인 경우, 자외선의 UVA에서의 적산 광량은, 바람직하게는 100 mJ/㎠ 이상 3000 mJ/㎠ 이하이고, 보다 바람직하게는 200 mJ/㎠ 이상 2000 mJ/㎠ 이하이다. 또한, 투명 지지체가 단파장측의 자외선을 흡수하는 경우도 있기 때문에, 상기 흡수를 억제할 목적으로 가시광을 포함하는 파장 영역의 자외선 UVV(395∼445 ㎚)의 적산 광량이 바람직하게 되도록 하여 조사량을 조정하는 경우도 있다. 이러한 UVV에서의 적산 광량은, 100 mJ/㎠ 이상 3000 mJ/㎠ 이하인 것이 바람직하고, 200 mJ/㎠ 이상 2000 mJ/㎠ 이하인 것이 보다 바람직하다. 적산 광량이 100 mJ/㎠ 미만인 경우, 도공층의 경화가 불충분해져, 얻어지는 방현층의 경도가 낮아지거나, 미경화의 수지가 가이드 롤 등에 부착되어, 공정 오염의 원인이 되거나 하는 경향이 있다. 또한, 적산 광량이 3000 mJ/㎠를 초과하는 경우, 자외선 조사 장치로부터 방사되는 열에 의해, 투명 지지체가 수축하여 주름의 원인이 되는 경우가 있다.When the active energy ray is ultraviolet ray, the accumulated amount of light in UVA of ultraviolet ray is preferably 100 mJ / cm2 or more and 3000 mJ / cm2 or less, and more preferably 200 mJ / cm2 or more and 2,000 mJ / cm2 or less. In order to suppress the absorption, the amount of ultraviolet UVV (395 to 445 nm) in the wavelength range including visible light is preferably adjusted so that the amount of accumulated ultraviolet light is preferably adjusted to adjust the amount of irradiation . The amount of accumulated light in the UVV is preferably not less than 100 mJ / cm2 and not more than 3000 mJ / cm2, and more preferably not less than 200 mJ / cm2 and not more than 2000 mJ / cm2. When the accumulated light quantity is less than 100 mJ / cm 2, the curing of the coating layer becomes insufficient, the hardness of the obtained antiglare layer becomes low, or the uncured resin adheres to a guide roll or the like, which tends to cause process contamination. When the accumulated light quantity exceeds 3000 mJ / cm 2, the transparent support shrinks due to heat radiated from the ultraviolet irradiator to cause wrinkles.

[P3] 예비 경화 공정[P3] Pre-hardening process

본 공정은, 상기 경화 공정에 앞서, 도공층의 투명 지지체의 폭 방향의 양쪽 단부 영역에 활성 에너지선을 조사하여, 이 양단부 영역을 예비 경화시키는 공정이다. 도 10은 예비 경화 공정을 모식적으로 나타낸 단면도이다. 도 10에 있어서, 도공층의 폭 방향(반송 방향과 직교하는 방향)의 단부 영역(82b)은, 도공층의 단부를 포함하여 단부로부터 소정 폭의 영역이다.The present step is a step of preliminarily curing the both end regions by irradiating active energy rays to both end regions in the width direction of the transparent support of the coating layer prior to the curing step. 10 is a cross-sectional view schematically showing a preliminary curing step. In Fig. 10, the end region 82b in the width direction of the coating layer (the direction perpendicular to the transport direction) is a region having a predetermined width from the end portion including the end portion of the coating layer.

예비 경화 공정에 있어서, 단부 영역을 미리 경화시켜 둠으로써, 단부 영역에서, 투명 지지체(81)와의 밀착성을 한층 더 높여, 경화 공정 후의 공정에서, 경화 수지의 일부가 박리되어 낙하하고, 공정이 오염되는 것을 방지할 수 있다. 단부 영역(82b)은, 도공층(82)의 단부로부터, 예컨대, 5 ㎜ 이상 50 ㎜ 이하의 영역으로 할 수 있다.By adhering the end regions in advance in the preliminary curing step, the adhesion with the transparent support 81 is further enhanced in the end regions. In the process after the curing step, part of the cured resin is peeled off and falls, Can be prevented. The end region 82b can be, for example, an area of 5 mm or more and 50 mm or less from the end of the coating layer 82.

도공층의 단부 영역에 대한 활성 에너지선의 조사는, 도 9 및 도 10을 참조하여, 예컨대, 도공 존(83)(건조를 행하는 경우에는, 건조 존(84))을 통과한 도공층(82)을 갖는 투명 지지체(81)에 대하여, 도공층(82)측의 양단부 근방에 각각 설치된 자외선 조사 장치 등의 활성 에너지선 조사 장치(85)를 이용하여, 활성 에너지선을 조사함으로써 행할 수 있다. 활성 에너지선 조사 장치(85)는, 도공층(82)의 단부 영역(82b)에 활성 에너지선을 조사할 수 있는 것이면 되고, 투명 지지체(81)측에 설치되어 있어도 좋다.The irradiation of the active energy ray with respect to the end region of the coating layer can be carried out by irradiating the coating layer 82 passing through the coating zone 83 (in the case of drying, the drying zone 84) Can be performed by irradiating an active energy ray using an active energy ray irradiating device 85 such as an ultraviolet ray irradiating device provided in the vicinity of both end portions on the coating layer 82 side with respect to the transparent support 81 having the above- The active energy ray irradiating device 85 may be provided so as to irradiate an active energy ray to the end region 82b of the coating layer 82 and may be provided on the transparent support 81 side.

활성 에너지선의 종류 및 광원에 대해서는 본 경화 공정과 동일하다. 활성 에너지선이 자외선인 경우, 자외선의 UVA에서의 적산 광량은, 10 mJ/㎠ 이상 400 mJ/㎠ 이하인 것이 바람직하고, 50 mJ/㎠ 이상 400 mJ/㎠ 이하인 것이 보다 바람직하다. 50 mJ/㎠ 이상이 되도록 조사함으로써, 본 경화 공정에서의 변형을 보다 효과적으로 방지할 수 있다. 또한, 400 mJ/㎠를 초과하면, 경화 반응이 과도하게 진행되는 결과, 경화 부분과 미경화 부분의 경계에서, 막 두께차나 내부 응력의 왜곡에서 기인하여 수지 박리가 발생하는 경우가 있다.The kind of active energy ray and the light source are the same as the present curing process. When the active energy ray is ultraviolet ray, the accumulated amount of light in UVA of ultraviolet ray is preferably 10 mJ / cm2 or more and 400 mJ / cm2 or less, more preferably 50 mJ / cm2 or more and 400 mJ / cm2 or less. The irradiation at 50 mJ / cm 2 or more can more effectively prevent deformation in the final curing step. On the other hand, if it exceeds 400 mJ / cm 2, the curing reaction proceeds excessively, and as a result, the resin peeling may occur at the boundary between the hardened portion and the uncured portion due to the difference in the thickness of the film and the distortion of the internal stress.

[본 발명의 방현 필름의 용도][Use of Antiglare Film of the Present Invention]

이상과 같이 하여 얻어지는 본 발명의 방현 필름은 화상 표시 장치 등에 이용되는 것이고, 통상, 시인측 편광판의 시인측 보호 필름으로서 편광 필름에 접합하여 이용된다(즉, 화상 표시 장치의 표면에 배치됨). 또한, 이미 설명한 바와 같이, 투명 지지체로서 편광 필름을 이용한 경우에는, 편광 필름 일체형의 방현 필름이 얻어지기 때문에, 이러한 편광 필름 일체형의 방현 필름을 화상 표시 장치에 이용할 수도 있다. 본 발명의 방현 필름을 구비한 화상 표시 장치는, 넓은 관찰 각도에서 충분한 방현성을 가지며, 또한 바램 및 번쩍임의 발생을 모두 양호하게 방지할 수 있다.The antiglare film of the present invention obtained as described above is used in an image display apparatus or the like and is usually used by being bonded to a polarizing film as a visible side protective film of a viewer side polarizing plate (that is, disposed on the surface of an image display apparatus). Further, as described above, when a polarizing film is used as the transparent support, an antiglare film integrated with a polarizing film can be obtained. Therefore, such an antiglare film integrated with a polarizing film can be used for an image display apparatus. The image display apparatus provided with the antiglare film of the present invention has satisfactory flicker resistance at a wide viewing angle, and also can prevent both fading and glare from occurring well.

실시예Example

이하에 실시예를 들어 본 발명을 더욱 상세히 설명한다. 예 중, 함유량 내지 사용량을 나타내는 「%」 및 「부」는, 특별한 기재가 없는 한 중량 기준이다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of examples. In the examples, &quot;% &quot; and &quot; part &quot; representing the content or amount are based on weight unless otherwise specified.

이하의 예에서의 금형 또는 방현 필름의 평가 방법은 다음과 같다.The evaluation method of the mold or the antiglare film in the following examples is as follows.

[1] 방현 필름의 표면 형상의 측정[1] Measurement of surface shape of antiglare film

(표면 요철 형상의 경사 각도)(Inclination angle of the surface relief shape)

3차원 현미경 PLμ2300(Sensofar사 제조)을 이용하여, 방현 필름의 표면의 표고를 측정하였다. 측정 샘플의 휨을 방지하기 위해, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여, 측정 샘플의 방현층과는 반대측의 면을 유리 기판에 접합하고 나서, 측정에 제공하였다. 측정 시의 대물렌즈의 배율은 50배로 하였다. 수평 분해능 Δx 및 Δy는 모두 0.332 ㎛이고, 측정 면적은 255 ㎛×191 ㎛였다. 얻어진 측정 데이터를 바탕으로, 전술한 알고리즘에 기초하여 계산하고, 표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치와 표준 편차를 계산하였다.The height of the surface of the antiglare film was measured using a three-dimensional microscope PL mu 2300 (manufactured by Sensofar). In order to prevent warping of the measurement sample, an optically transparent pressure-sensitive adhesive was used and the surface opposite to the antiglare layer of the measurement sample was bonded to the glass substrate and then provided for measurement. The magnification of the objective lens at the time of measurement was set to 50 times. The horizontal resolutions? X and? Y were all 0.332 占 퐉 and the measurement area was 255 占 퐉 占 191 占 퐉. Based on the obtained measurement data, calculation was made based on the above-described algorithm, and an average value and standard deviation of the inclination angles of the surface irregularities were calculated.

(표면 요철 형상의 표고의 파워 스펙트럼)(Power spectrum of the elevation of the surface relief shape)

3차원 현미경 PLμ2300(Sensofar사 제조)을 이용하여, 측정 샘플인 방현 필름의 방현층의 표면 요철 형상의 표고를 측정하였다. 샘플의 휨을 방지하기 위해, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여, 측정 샘플의 방현층과는 반대측의 면을 유리 기판에 접합하고 나서, 측정에 제공하였다. 측정 시에, 대물렌즈의 배율은 10배로 하여 측정을 행하였다. 수평 분해능 Δx 및 Δy는 모두 1.66 ㎛이고, 측정 면적은 1270 ㎛×950 ㎛였다. 얻어진 측정 데이터의 중앙부로부터 512개×512개(측정 면적으로 850 ㎛×850 ㎛)의 데이터를 샘플링하고, 방현 필름이 갖는 표면 요철 형상(방현층의 표면 요철 형상)의 표고를 2차원 함수 h(x, y)로 하여 구하였다. 계속해서, 2차원 함수 h(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 2차원 함수 H(fx, fy)를 구하였다. 2차원 함수 H(fx, fy)의 절대치를 제곱하여 2차원 파워 스펙트럼의 2차원 함수 I(fx, fy)를 계산하고, 원점으로부터의 거리 f의 함수인 1차원 파워 스펙트럼의 1차원 함수 I(f)를 계산하였다. 각 샘플에 대해 5개소의 표면 요철 형상에 대해서 표고를 측정하고, 이들의 데이터로부터 계산되는 1차원 파워 스펙트럼의 1차원 함수 I(f)의 평균치를 각 샘플의 1차원 파워 스펙트럼의 1차원 함수 I(f)로 하였다.The height of the surface relief shape of the antiglare layer of the antiglare film as a measurement sample was measured using a three-dimensional microscope PL 占 2300 (manufactured by Sensofar). In order to prevent warpage of the sample, an optically transparent pressure-sensitive adhesive was used and the surface opposite to the antiglare layer of the measurement sample was bonded to the glass substrate and then provided for the measurement. At the time of measurement, the magnification of the objective lens was set to 10 times. The horizontal resolutions? X and? Y were both 1.66 占 퐉 and the measurement area was 1270 占 퐉 占 950 占 퐉. Data of 512 x 512 (850 mu m x 850 mu m in measurement area) are sampled from the center of the obtained measurement data, and the elevation of the surface irregularities (irregular surface irregularities of the antiglare layer) x, y). Subsequently, the two-dimensional function h (x, y) is subjected to discrete Fourier transform to obtain a two-dimensional function H (f x , f y ). Two-dimensional function H (f x, f y) a two-dimensional power spectral two-dimensional function of the square of the absolute value of I (f x, f y) for calculation, and a one-dimensional power spectrum as a function of the distance f from the origin 1 Dimensional function I (f) was calculated. Dimensional elevation function I (f) of the one-dimensional power spectrum calculated from the data of the elevations of the five surface irregularities is measured for each sample, and the average value of the one-dimensional function I (f).

[2] 방현 필름의 광학 특성의 측정[2] Measurement of Optical Properties of Antiglare Film

(헤이즈)(Hayes)

방현 필름의 전체 헤이즈는, 방현 필름을 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여, 측정 샘플의 방현층과는 반대측의 면을 유리 기판에 접합하고, 상기 유리 기판에 접합된 방현 필름에 대해서, 유리 기판측으로부터 광을 입사시키고, JIS K 7136에 준거한 방법에 의해, (주)무라카미시키사이기쥬쯔겐큐쇼 제조의 헤이즈미터 「HM-150」형을 이용하여 측정하였다. 표면 헤이즈는, 방현 필름의 내부 헤이즈를 구하고, 다음 식:The total haze of the antiglare film was obtained by bonding the antiglare film to the glass substrate on the side opposite to the antiglare layer of the measurement sample by using an optically transparent pressure-sensitive adhesive and measuring the antiglare film bonded to the glass substrate from the glass substrate side Light was incident thereon and measured by a method in accordance with JIS K 7136 using a haze meter &quot; HM-150 &quot; type manufactured by Murakami Shikisai Seiki Seisakusho Co., Ltd. The surface haze was determined by finding the internal haze of the antiglare film,

표면 헤이즈 = 전체 헤이즈 - 내부 헤이즈Surface Haze = Overall Haze - Inner Haze

에 따라 전체 헤이즈에서 내부 헤이즈를 뺌으로써 구하였다. 내부 헤이즈는, 전체 헤이즈를 측정한 후의 측정 샘플의 방현층면에 헤이즈가 거의 0인 트리아세틸셀룰로오스 필름을 글리세린으로 접착한 후, 전체 헤이즈와 동일하게 하여 측정하였다. And the internal haze was subtracted from the total haze. The inner haze was measured in the same manner as the total haze after adhering a triacetylcellulose film having haze of almost zero to the surface of the light-scattering layer of the measurement sample after measuring the total haze with glycerin.

(투과 선명도) (Transmission sharpness)

JIS K 7105에 준거한 방법에 의해, 스가시켄키(주) 제조의 사상성 측정기 「ICM-1DP」를 이용하여, 방현 필름의 투과 선명도를 측정하였다. 이 경우에도, 샘플의 휨을 방지하기 위해, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여, 측정 샘플의 방현층과는 반대측의 면을 유리 기판에 접합하고 나서, 측정에 제공하였다. 이 상태에서 유리 기판측으로부터 광을 입사시켜, 측정을 행하였다. 여기서의 측정치는, 암부와 명부의 폭이 각각 0.125 ㎜, 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 5종류의 광학빗을 이용하여, 각각 측정된 값의 합계치이다.The transparency clearance of the antiglare film was measured by a method conforming to JIS K 7105 using a mattimeter "ICM-1DP" manufactured by Suga Shikenki Corporation. Also in this case, in order to prevent warping of the sample, an optically transparent pressure-sensitive adhesive was used and the surface opposite to the antiglare layer of the measurement sample was bonded to the glass substrate and then provided for measurement. In this state, light was incident from the glass substrate side, and measurement was performed. Here, the measured values are the sum of measured values using five types of optical combs having widths of the arm portion and the light portion of 0.125 mm, 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm, and 2.0 mm, respectively.

(광의 입사각 45°로 측정되는 반사 선명도) (Reflection sharpness measured at an incident angle of light of 45 degrees)

JIS K 7105에 준거한 방법에 의해, 스가시켄키(주) 제조의 사상성 측정기 「ICM-1DP」를 이용하여, 방현 필름의 반사 선명도를 측정하였다. 이 경우에도, 샘플의 휨을 방지하기 위해, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여, 측정 샘플의 방현층과는 반대측의 면을 흑색 아크릴 기판에 접합하고 나서, 측정에 제공하였다. 이 상태에서 방현층 면측으로부터 광을 45°로 입사시켜, 측정을 행하였다. 여기서의 측정치는, 암부와 명부의 폭이 각각 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 4종류의 광학빗을 이용하여, 각각 측정된 값의 합계치이다.The reflectance sharpness of the antiglare film was measured by a method conforming to JIS K 7105 using a "ICM-1DP" measuring instrument of Suga Shikenki Co., Ltd. Also in this case, in order to prevent warpage of the sample, a surface opposite to the antiglare layer of the measurement sample was bonded to the black acrylic substrate using an optically transparent pressure-sensitive adhesive, and then provided for measurement. In this state, light was incident at an angle of 45 DEG from the side of the antiglare layer, and measurement was performed. Here, the measured values are the sum of measured values using four kinds of optical combs having widths of the arm portion and the nominal portion of 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm and 2.0 mm, respectively.

(광의 입사각 60°로 측정되는 반사 선명도) (Reflection sharpness measured at an incident angle of light of 60 degrees)

JIS K 7105에 준거한 방법에 의해, 스가시켄키(주) 제조의 사상성 측정기 「ICM-1DP」를 이용하여, 방현 필름의 반사 선명도를 측정하였다. 이 경우에도, 샘플의 휨을 방지하기 위해, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여, 측정 샘플의 방현층과는 반대측의 면을 흑색 아크릴 기판에 접합하고 나서, 측정에 제공하였다. 이 상태에서 방현층 면측으로부터 광을 60°로 입사시켜, 측정을 행하였다. 여기서의 측정치는, 암부와 명부의 폭이 각각 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 4종류의 광학빗을 이용하여, 각각 측정된 값의 합계치이다.The reflectance sharpness of the antiglare film was measured by a method conforming to JIS K 7105 using a "ICM-1DP" measuring instrument of Suga Shikenki Co., Ltd. Also in this case, in order to prevent warpage of the sample, a surface opposite to the antiglare layer of the measurement sample was bonded to the black acrylic substrate using an optically transparent pressure-sensitive adhesive, and then provided for measurement. In this state, light was incident at 60 ° from the side of the antiglare layer, and measurement was performed. Here, the measured values are the sum of measured values using four kinds of optical combs having widths of the arm portion and the nominal portion of 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm and 2.0 mm, respectively.

[3] 방현 필름의 방현 성능의 평가[3] Evaluation of anti-glare performance of antiglare film

(비침, 바램의 육안 확인 평가)(Non-visual inspection, evaluation of visual confirmation of visual acuity)

방현 필름의 이면으로부터의 반사를 방지하기 위해, 측정 샘플의 방현층과는 반대측의 면을 흑색 아크릴 수지판에 방현 필름을 접합하고, 형광등이 달린 밝은 실내에서 방현층측으로부터 육안으로 관찰하고, 형광등의 비침의 정도, 바램의 정도를 육안으로 확인하여 평가하였다. 비침에 관해서는, 방현 필름을 정면으로부터 관찰했을 때의 비침의 정도와 비스듬히 30° 방향에서 관찰했을 때의 비침의 정도를 각각 평가하였다. 비침 및 바램은, 각각 1∼3의 3단계로 다음 기준에 의해 평가하였다.In order to prevent reflection from the back surface of the antiglare film, a surface opposite to the antiglare layer of the measurement sample was adhered to a black acrylic resin plate by an antiglare film and observed visually from the side of the antiglare layer in a bright room with a fluorescent lamp, The degree of non-visualization and the degree of visual desirability were visually confirmed and evaluated. With respect to the non-penetration, the degree of non-contact when the antiglare film was observed from the front side and the degree of non-contact when observed from the direction of 30 ° were evaluated respectively. The non-penetration and the desire were evaluated by the following criteria in three steps of 1 to 3, respectively.

비침 1: 비침이 관찰되지 않는다.Nonvisual 1: No impression is observed.

2: 비침이 조금 관찰된다. 2: A small amount of non-visible light is observed.

3: 비침이 명료하게 관찰된다. 3: Visible light is clearly observed.

바램 1: 바램이 관찰되지 않는다.wish 1: No desire is observed.

2: 바램이 조금 관찰된다. 2: A slight desire is observed.

3: 바램이 명료하게 관찰된다. 3: The desire is clearly observed.

(번쩍임의 평가)(Evaluation of flashing)

번쩍임은 다음 절차에 의해 평가하였다. 즉, 우선 도 11에 평면도로 나타낸 바와 같은 유닛셀의 패턴을 갖는 포토마스크를 준비하였다. 이 도면에 있어서, 유닛셀(100)은, 투명한 기판 상에, 선폭 10 ㎛로 갈고리형의 크롬 차광 패턴(101)이 형성되고, 그 크롬 차광 패턴(101)이 형성되어 있지 않은 부분이 개구부(102)로 되어 있다. 여기서는, 유닛셀의 치수가 211 ㎛×70 ㎛(도면 중 세로×가로), 따라서 개구부의 치수가 201 ㎛×60 ㎛(도면 중 세로×가로)인 것을 이용하였다. 도시하는 유닛셀이 종횡으로 다수 배열되어, 포토마스크를 형성한다.The glare was evaluated by the following procedure. That is, first, a photomask having a pattern of unit cells as shown in a plan view in Fig. 11 was prepared. In this figure, a unit cell 100 has a transparent substrate, a claw-shaped chromium shielding pattern 101 having a line width of 10 mu m, and a portion where the chromium shielding pattern 101 is not formed is formed in an opening 102). Here, the dimensions of the unit cells were 211 占 퐉 占 70 占 퐉 (lengthwise in the figure) and thus the dimensions of the openings were 201 占 퐉 占 60 占 퐉 (lengthwise in the drawing). A plurality of unit cells shown are arranged longitudinally and laterally to form a photomask.

그리고, 도 12에 모식적인 단면도로 나타낸 바와 같이, 포토마스크(113)의 크롬 차광 패턴(111)을 위로 하여 라이트 박스(115)에 놓고, 유리판(117)에 점착제로 방현 필름(110)을 그 방현층이 표면이 되도록 접합한 샘플을 포토마스크(113) 상에 놓는다. 라이트 박스(115) 안에는, 광원(116)이 배치되어 있다. 이 상태에서, 샘플로부터 약 30 ㎝ 떨어진 위치(119)에서 육안으로 관찰함으로써, 번쩍임의 정도를 7단계로 관능 평가하였다. 레벨 1은 번쩍임이 전혀 확인되지 않는 상태, 레벨 7은 심하게 번쩍임이 관찰되는 상태에 해당하고, 레벨 4는 아주 약간 번쩍임이 관찰되는 상태이다.12, the chromium light shielding pattern 111 of the photomask 113 is placed on the light box 115 and the antiglare film 110 is adhered to the glass plate 117 as an adhesive agent. Then, as shown in a schematic cross- A sample bonded to the surface of the antiglare layer is placed on the photomask 113. In the light box 115, a light source 116 is disposed. In this state, the sample was visually observed at a position (119), which was about 30 cm away from the sample, and the degree of glare was evaluated in seven steps. Level 1 corresponds to a state in which no glare is observed, Level 7 corresponds to a state in which a strong glow is observed, and Level 4 indicates a state in which a slight glare is observed.

(콘트라스트의 평가)(Evaluation of contrast)

시판되고 있는 액정 텔레비전[소니(주) 제조의 "KDL-32EX550"]으로부터 표리 양면의 편광판을 박리하였다. 이들 오리지널 편광판 대신에, 배면측 및 표시면측 모두 스미토모카가쿠(주) 제조의 편광판 "스미카란 SRDB831E"를, 각각의 흡수축이 오리지널 편광판의 흡수축과 일치하도록 점착제를 통해 접합하고, 또한 표시면측 편광판 상에는, 이하의 각 예에 나타내는 방현 필름을 요철면이 표면이 되도록 점착제를 통해 접합하였다. 이렇게 하여 얻어진 액정 텔레비전을 암실 내에서 기동하여, (주)토프콘 제조의 휘도계 "BM5A"형을 이용하여, 흑색 표시 상태 및 백색 표시 상태에서의 휘도를 측정하고, 콘트라스트를 산출하였다. 여기서 콘트라스트는, 흑색 표시 상태의 휘도에 대한 백색 표시 상태의 휘도의 비로 표시된다. 결과는 방현 필름을 접합한 상태에서 측정된 콘트라스트를, 방현 필름을 접합하지 않은 상태에서 측정한 콘트라스트의 비로 나타내었다.The polarizing plates on both sides of the front and rear sides were peeled off from a commercially available liquid crystal television ("KDL-32EX550" manufactured by Sony Corporation). In place of these original polarizing plates, a polarizing plate "Sumikaran SRDB831E" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd. was bonded on the back side and the display surface side through the pressure-sensitive adhesive so that the absorption axes thereof coincided with the absorption axes of the original polarizing plates, On the polarizing plate, the antiglare films shown in each of the following examples were bonded through a pressure-sensitive adhesive so that the uneven surface became the surface. The thus obtained liquid crystal television was activated in the dark room and the luminance in the black display state and the white display state was measured using the luminance meter "BM5A" type manufactured by TOPCON CORPORATION, and the contrast was calculated. Here, the contrast is expressed by the ratio of the luminance in the white display state to the luminance in the black display state. The results are shown by the ratio of the contrast measured when the antiglare film was bonded to the contrast measured when the antiglare film was not bonded.

[4] 방현 필름 제조용 패턴의 평가[4] Evaluation of patterns for producing antiglare film

작성한 패턴 데이터를 2계조의 2치화 화상 데이터로 하고, 계조를 2차원의 이산 함수 g(x, y)로 나타내었다. 이산 함수 g(x, y)의 수평 분해능 Δx 및 Δy는 모두 2 ㎛로 하였다. 얻어진 2차원 함수 g(x, y)를 이산 푸리에 변환하여, 2차원 함수 G(fx, fy)를 구하였다. 2차원 함수 G(fx, fy)의 절대치를 제곱하여 2차원 파워 스펙트럼의 2차원 함수 Γ(fx, fy)를 계산하고, 원점으로부터의 거리 f의 함수인 1차원 파워 스펙트럼의 1차원 함수 Γ(f)를 계산하였다.The created pattern data is regarded as two-gradation binary image data, and the gradation is expressed as a two-dimensional discrete function g (x, y). The horizontal resolutions? X and? Y of the discrete function g (x, y) are all 2 占 퐉. The obtained two-dimensional function g (x, y) is subjected to discrete Fourier transform to obtain a two-dimensional function G (f x , f y ). Dimensional function Γ (f x , f y ) of the two-dimensional power spectrum by squaring the absolute values of the two-dimensional functions G (f x , f y ) Dimensional function Γ (f).

<실시예 1>&Lt; Example 1 >

(방현 필름 제조용 금형의 제작)(Production of mold for producing anti-glare film)

직경 300 ㎜의 알루미늄 롤(JIS에 의한 A6063)의 표면에 구리 발라드 도금이 행해진 것을 준비하였다. 구리 발라드 도금은, 구리 도금층/얇은 은 도금층/표면 구리 도금층으로 이루어진 것이고, 도금층 전체의 두께는, 약 200 ㎛가 되도록 설정하였다. 그 구리 도금 표면을 경면 연마하고, 연마된 구리 도금 표면에 감광성 수지를 도포, 건조시켜 감광성 수지막을 형성하였다. 이어서, 도 13에 도시된 패턴 A를 반복하여 배열한 패턴을 감광성 수지막 상에 레이저광에 의해 노광하고, 현상하였다. 레이저광에 의한 노광, 및 현상은 Laser Stream FX((주)싱크·래버러토리 제조)를 이용하여 행하였다. 감광성 수지막으로는 포지티브형의 감광성 수지를 포함하는 것을 사용하였다. 여기서, 패턴 A는 랜덤한 명도 분포를 갖는 패턴으로부터, 복수의 가우스 함수형의 밴드 패스 필터를 통과시켜 작성한 것으로서, 개구율은 45%이고, 1차원 파워 스펙트럼의 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.01)와 공간 주파수 0.02 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.02)의 비 Γ(0.02)/Γ(0.01)는 0.11이며, 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.01)와 공간 주파수 0.1 ㎛-1에 있어서의 강도 Γ(0.1)의 비 Γ(0.1)/Γ(0.01)는 10.97이다.A surface of aluminum roll (A6063 by JIS) having a diameter of 300 mm was coated with copper ballard. The copper ballard plating was made of a copper plating layer / a thin silver plating layer / a surface copper plating layer, and the thickness of the entire plating layer was set to be about 200 占 퐉. The copper-plated surface was mirror-polished, the polished copper-plated surface was coated with a photosensitive resin, and dried to form a photosensitive resin film. Subsequently, a pattern in which the pattern A shown in FIG. 13 was repeatedly arranged was exposed on the photosensitive resin film by laser light and developed. Exposure by laser light and development were carried out using Laser Stream FX (manufactured by Sink Laboratories). As the photosensitive resin film, a film containing a positive photosensitive resin was used. Here, the pattern A from the pattern has a distribution of the brightness random, as created by passing a plurality of Gaussian functional of the band-pass filter, the aperture ratio is 45%, and the spatial frequency 0.01 ㎛ of a one-dimensional power spectrum strength in a 1 Γ (0.01) and the spatial frequency 0.02 ㎛ - ratio Γ (0.02) / Γ (0.01) of the intensity Γ (0.02) in the first is 0.11, and the spatial frequency of 0.01 ㎛ - the intensity in the first Γ (0.01) and the spatial frequency The ratio Γ (0.1) / Γ (0.01) of the intensity Γ (0.1) at 0.1 μm -1 is 10.97.

그 후, 염화제2구리액으로 에칭 처리를 행하였다. 그 때의 에칭량은 2 ㎛가 되도록 설정하였다. 에칭 처리 후의 롤로부터 감광성 수지막을 제거하고, 크롬 도금 가공을 행하여, 금형 A를 제작하였다. 이 때, 크롬 도금 두께가 8 ㎛가 되도록 설정하였다.Thereafter, etching treatment was performed with a cupric chloride solution. The etching amount at that time was set to be 2 占 퐉. The photosensitive resin film was removed from the roll after the etching treatment, and chromium plating processing was performed to prepare a mold A. At this time, the chromium plating thickness was set to be 8 占 퐉.

(방현 필름의 제작)(Fabrication of antiglare film)

이하의 각 성분이 아세트산에틸에 고형분 농도 60%로 용해되어 있고, 경화 후에 1.53의 굴절률을 나타내는 막을 형성할 수 있는 자외선 경화성 수지 조성물 A를 준비하였다.An ultraviolet curable resin composition A was prepared in which the following components were dissolved in ethyl acetate at a solid concentration of 60% and a film showing a refractive index of 1.53 after curing was formed.

펜타에리스리톨트리아크릴레이트 60부Pentaerythritol triacrylate 60 parts

다작용성 우레탄화 아크릴레이트 40부Multifunctional urethane acrylate 40 parts

(헥사메틸렌디이소시아네이트와 펜타에리스리톨트리아크릴레이트의 반응 생성물)(The reaction product of hexamethylene diisocyanate and pentaerythritol triacrylate)

디페닐(2,4,6-트리메톡시벤조일)포스핀옥사이드 5부Diphenyl (2,4,6-trimethoxybenzoyl) phosphine oxide 5 parts

이 자외선 경화성 수지 조성물 A를 두께 60 ㎛의 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 상에, 건조 후의 도포층의 두께가 5 ㎛가 되도록 도포하고, 60℃로 설정한 건조기 안에서 3분간 건조시켰다. 건조 후의 필름을, 먼저 얻어진 금형 A의 성형면(표면 요철 형상을 갖는 면)에, 건조 후의 도공층이 금형측이 되도록 고무 롤로 압착하여 밀착시켰다. 이 상태에서 TAC 필름측으로부터, 강도 20 mW/㎠의 고압 수은등으로부터의 광을 h선 환산 광량으로 200 mJ/㎠가 되도록 조사하여, 도공층을 경화시킴으로써 방현 필름을 제조하였다. 이 후, 얻어진 방현 필름을 금형으로부터 박리하여, TAC 필름 상에 방현층을 구비한 투명한 방현 필름 A를 제작하였다.This ultraviolet ray curable resin composition A was applied on a triacetylcellulose (TAC) film having a thickness of 60 占 퐉 so that the thickness of the coated layer after drying became 5 占 퐉 and dried in a drier set at 60 占 폚 for 3 minutes. The dried film was pressed against the molding surface (surface having the surface irregularities) of the previously obtained mold A with a rubber roll so that the coated layer after drying became the mold side, and was closely contacted. In this state, an antiglare film was prepared from the TAC film side by irradiating light from a high-pressure mercury lamp of intensity 20 mW / cm 2 with a h-line converted light quantity of 200 mJ / cm 2 to cure the coating layer. Thereafter, the resulting antiglare film was peeled off from the mold to prepare a transparent antiglare film A having an antiglare layer on the TAC film.

<실시예 2>&Lt; Example 2 >

크롬 도금 가공에 있어서의 크롬 도금 두께를 6 ㎛가 되도록 설정한 것 이외에는 실시예 1의 금형 A 제작과 동일하게 하여 금형 B를 제작하고, 금형 A를 금형 B로 치환한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름을 제작하였다. 이 방현 필름을 방현 필름 B로 한다.The same procedure as in Example 1 was carried out except that the mold B was prepared in the same manner as in the production of the mold A of Example 1 except that the chrome plating thickness in the chrome plating process was set to be 6 탆 and the mold A was replaced with the mold B To prepare an antiglare film. This antiglare film is referred to as antiglare film B.

<실시예 3>&Lt; Example 3 >

크롬 도금 가공에 있어서의 크롬 도금 두께를 4 ㎛가 되도록 설정한 것 이외에는 실시예 1의 금형 A 제작과 동일하게 하여 금형 C를 제작하고, 금형 A를 금형 C로 치환한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름을 제작하였다. 이 방현 필름을 방현 필름 C로 한다.A mold C was produced in the same manner as in the production of the mold A of Example 1 except that the chromium plating thickness in the chrome plating process was set to be 4 탆 and the mold A was replaced with the mold C in the same manner as in Example 1 To prepare an antiglare film. This antiglare film is used as the antiglare film C.

<비교예 1>&Lt; Comparative Example 1 &

크롬 도금 가공에 있어서의 크롬 도금 두께를 3 ㎛가 되도록 설정한 것 이외에는 실시예 1의 금형 A 제작과 동일하게 하여 금형 D를 제작하고, 금형 A를 금형 D로 치환한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름을 제작하였다. 이 방현 필름을 방현 필름 D로 한다.A mold D was prepared in the same manner as in the production of the mold A of Example 1 except that the thickness of the chromium plating in the chrome plating process was set to 3 탆 and the same mold as in Example 1 To prepare an antiglare film. This antiglare film is referred to as an antiglare film D.

<비교예 2>&Lt; Comparative Example 2 &

도 14에 도시된 패턴 B를 반복하여 배열한 패턴을 감광성 수지막 상에 레이저광에 의해 노광한 것 이외에는 실시예 1의 금형 A 제작과 동일하게 하여 금형 E를 제작하고, 금형 A를 금형 E로 치환한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름을 제작하였다. 이 방현 필름을 방현 필름 E로 한다. 여기서, 패턴 B는 랜덤한 명도 분포를 갖는 패턴으로부터, 복수의 가우스 함수형의 밴드 패스 필터를 통과시켜 작성한 것으로서, 개구율이 45.0%이고, 1차원 파워 스펙트럼의 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.01)와 공간 주파수 0.02 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.02)의 비 Γ(0.02)/Γ(0.01)는 2.69이며, 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.01)와 공간 주파수 0.1 ㎛- 1에 있어서의 강도 Γ(0.1)의 비 Γ(0.1)/Γ(0.01)는 278.67이다.A mold E was produced in the same manner as in the production of the mold A in Example 1, except that the pattern in which the pattern B repeatedly arranged as shown in Fig. 14 was repeatedly exposed on the photosensitive resin film by the laser beam. An antiglare film was produced in the same manner as in Example 1. This antiglare film is referred to as an antiglare film E. Here, the pattern B from the pattern has a distribution of the brightness random, as created by passing a plurality of Gaussian functional of the band-pass filter, and the opening ratio is 45.0%, the spatial frequency 0.01 ㎛ of a one-dimensional power spectrum strength in a 1 Γ (0.01) and the spatial frequency 0.02 ㎛ - ratio Γ (0.02) / Γ (0.01) of the intensity Γ (0.02) in the first is 2.69, the spatial frequency of 0.01 ㎛ - the intensity in the first Γ (0.01) and the spatial frequency 0.1 ㎛ - ratio Γ (0.1) / Γ (0.01 ) of the intensity Γ (0.1) in the first is 278.67.

<비교예 3>&Lt; Comparative Example 3 &

직경 300 ㎜의 알루미늄 롤(JIS에 의한 A5056)의 표면을 경면 연마하고, 연마된 알루미늄면에, 블라스트 장치((주)후지세이사쿠쇼 제조)를 이용하여, 지르코니아 비드 TZ-SX-17(도소(주) 제조, 평균 입경: 20 ㎛)을, 블라스트 압력 0.1 MPa(게이지압, 이하 동일함), 비드 사용량 8 g/㎠(롤의 표면적 1 ㎠당의 사용량, 이하 동일함)로 블라스트하여, 알루미늄 롤 표면에 요철을 형성하였다. 얻어진 요철이 형성된 알루미늄 롤에 대하여, 무전해 니켈 도금 가공을 행하여, 금형 F를 제작하였다. 이 때, 무전해 니켈 도금 두께가 15 ㎛가 되도록 설정하였다. 금형 A를 금형 F로 치환한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름을 제작하였다. 이 방현 필름을 방현 필름 F로 한다.The surface of an aluminum roll (A5056 by JIS) having a diameter of 300 mm was mirror-polished and the zirconia bead TZ-SX-17 (Toso Co., Ltd.) was polished on the polished aluminum surface using a blasting machine Blasted with a blast pressure of 0.1 MPa (gauge pressure, the same applies hereinafter) and a bead amount of 8 g / cm 2 (the amount used per 1 cm 2 of the surface area of the roll, hereinafter the same) Unevenness was formed on the roll surface. An electroless nickel plating process was performed on the obtained aluminum roll having the unevenness to prepare a mold F. [ At this time, the electroless nickel plating thickness was set to be 15 占 퐉. An antiglare film was produced in the same manner as in Example 1 except that the mold A was replaced with the mold F. [ This antiglare film is referred to as antiglare film F.

<비교예 4>&Lt; Comparative Example 4 &

직경 200 ㎜의 알루미늄 롤(JIS에 의한 A5056)의 표면에 구리 발라드 도금이 행해진 것을 준비하였다. 구리 발라드 도금은, 구리 도금층/얇은 은 도금층/표면 구리 도금층으로 이루어진 것으로서, 도금층 전체의 두께는, 약 200 ㎛였다. 그 구리 도금 표면을 경면 연마하고, 또한 그 연마면에, 블라스트 장치((주)후지세이사쿠쇼 제조)를 이용하여, 지르코니아 비드 "TZ-SX-17"(도소(주) 제조, 평균 입경: 20 ㎛)을, 블라스트 압력 0.05 MPa(게이지압, 이하 동일함), 비드 사용량 6 g/cm2로 블라스트하여, 알루미늄 롤 표면에 요철을 형성하였다. 얻어진 요철이 형성된 구리 도금 알루미늄 롤에 크롬 도금 가공을 행하여, 금형 G를 제작하였다. 이 때, 크롬 도금 두께가 6 ㎛가 되도록 설정하였다. 금형 A를 금형 G로 치환한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름을 제작하였다. 이 방현 필름을 방현 필름 G로 한다.A copper ballard plating was performed on the surface of an aluminum roll (A5056 according to JIS) having a diameter of 200 mm. The copper ballard plating was made of a copper plating layer / a thin silver plating layer / a surface copper plating layer, and the thickness of the entire plating layer was about 200 占 퐉. TZ-SX-17 "(manufactured by TOSOH CORPORATION; average particle diameter: 10 μm) was applied to the polished surface of the copper-plated surface by a blast apparatus (manufactured by Fuji Seisakusho Co., Ltd.) 20 탆) was blasted at a blast pressure of 0.05 MPa (gauge pressure, the same applies hereinafter) and a bead usage amount of 6 g / cm 2 to form irregularities on the surface of the aluminum roll. The resulting copper-plated aluminum roll with unevenness was chrome-plated to produce a mold G. At this time, the chromium plating thickness was set to be 6 mu m. An antiglare film was produced in the same manner as in Example 1 except that the mold A was replaced with the mold G. This antiglare film is used as the antiglare film G. [

[평가 결과][Evaluation results]

이상의 실시예 및 비교예에 대해서, 전술한 방현 필름의 평가를 행한 결과를 표 1에 나타낸다.Table 1 shows the results of evaluation of the above-mentioned antiglare film with respect to the above Examples and Comparative Examples.

Figure pct00017
Figure pct00017

본 발명의 요건을 만족하는 방현 필름 A∼C(실시예 1∼3)는 낮은 헤이즈임에도 불구하고 관찰 각도가 정면이어도 비스듬한 방향이어도 우수한 방현성을 가지며, 바램 및 번쩍임의 억제 효과도 충분한 것이었다. 한편, 방현 필름 D(비교예 1)는 바램이 발생하는 것이었다. 방현 필름 E(비교예 2)는 비스듬한 방향에서 관찰했을 때의 방현성이 불충분하였다. 방현 필름 F(비교예 3)는 번쩍임이 발생하기 쉬운 것이었다. 방현 필름 G(비교예 4)는 비스듬한 방향에서 관찰했을 때의 방현성이 불충분하였다.The antiglare films A to C (Examples 1 to 3) satisfying the requirements of the present invention were excellent in anti-glare properties even in oblique directions, and had a satisfactory effect of suppressing flare and glare even in the case of low haze. On the other hand, the antiglare film D (Comparative Example 1) had a desire. The antiglare film E (Comparative Example 2) had insufficient flicker when observed in an oblique direction. The antiglare film F (Comparative Example 3) was easy to cause glare. The antiglare film G (Comparative Example 4) had insufficient flicker when observed in an oblique direction.

6a, 6b, 6c, 6d: 법선 벡터,
6: 평균 법선 벡터,
40: 금형용 기재,
41: 제1 도금 공정 및 연마 공정을 거친 금형용 기재 표면(도금층),
46: 에칭 처리에 의해 형성된 제1 표면 요철 형상,
50: 감광성 수지막,
60: 마스크,
70: 크롬 도금 후의 표면 요철 형상이 형상 둔화된 표면,
71: 크롬 도금층,
80: 송출 롤,
81: 투명 지지체,
83: 도공 존,
86: 활성 에너지선 조사 장치,
87: 롤 형상의 금형,
88, 89: 닙 롤,
90: 필름 권취 장치.
산업상 이용가능성
본 발명의 방현 필름은, 액정 디스플레이 등의 화상 표시 장치에 유용하다.
6a, 6b, 6c, 6d: normal vector,
6: average normal vector,
40: mold base material,
41: a surface of a base material (plating layer) for a mold which has undergone a first plating process and a polishing process,
46: a first surface relief shape formed by etching,
50: photosensitive resin film,
60: mask,
70: a surface of a surface irregular surface after chrome plating,
71: chrome plated layer,
80: discharge roll,
81: transparent support,
83: Pottery Zone,
86: active energy ray irradiator,
87: roll mold,
88, 89: nip roll,
90: Film winding device.
Industrial availability
The antiglare film of the present invention is useful for an image display apparatus such as a liquid crystal display.

Claims (2)

투명 지지체와, 그 위에 형성된 미세한 표면 요철 형상을 갖는 방현층을 구비하는 방현 필름으로서,
방현 필름의 전체 헤이즈가 0.1% 이상 3% 이하이고,
표면 헤이즈가 0.1% 이상 2% 이하이며,
상기 표면 요철 형상의 경사 각도의 평균치가 0.2° 이상 1.2° 이하이고, 경사 각도의 표준 편차가 0.1° 이상 0.8° 이하이며,
상기 표면 요철 형상은, 그 표고의 파워 스펙트럼이, 하기 (1)∼(3)의 조건:
(1) 공간 주파수 0.01 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.01)가 2 ㎛4 이상 10 ㎛4 이하인 것;
(2) 공간 주파수 0.02 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.02)가 0.1 ㎛4 이상 1.5 ㎛4 이하인 것; 및
(3) 공간 주파수 0.1 ㎛- 1에 있어서의 강도 I(0.1)가 0.0001 ㎛4 이상 0.01 ㎛4 이하인 것
을 모두 만족하는 것을 특징으로 하는 방현 필름.
An antiglare film comprising a transparent support and an antiglare layer having a fine surface relief shape formed thereon,
The total haze of the antiglare film is 0.1% or more and 3% or less,
A surface haze of 0.1% or more and 2% or less,
The average value of the inclination angles of the surface irregularities is 0.2 to 1.2 degrees and the standard deviation of the inclination angles is 0.1 to 0.8 degrees,
The surface irregularity shape is characterized in that the power spectrum of the elevation has the following conditions (1) to (3):
(1) the spatial frequency 0.01 ㎛ - 1 to the intensity I (0.01) or less than 2 ㎛ 4 10 ㎛ 4 in;
(2) spatial frequency 0.02 ㎛ - 1 to the intensity I (0.02) or less than 0.1 ㎛ 4 4 1.5 ㎛ in; And
3, the spatial frequency of 0.1 ㎛ - intensity I in the first (0.1) is not more than 0.0001 ㎛ 4 more than 0.01 ㎛ 4
Of the antiglare film.
제1항에 있어서, 암부와 명부의 폭이 0.125 ㎜, 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 5종류의 광학빗을 이용하여 측정되는 투과 선명도의 합 Tc가 375% 이상이고,
암부와 명부의 폭이 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 4종류의 광학빗을 이용하여 광의 입사각 45°로 측정되는 반사 선명도의 합 Rc(45)가 180% 이하이며,
암부와 명부의 폭이 0.25 ㎜, 0.5 ㎜, 1.0 ㎜ 및 2.0 ㎜인 4종류의 광학빗을 이용하여 광의 입사각 60°로 측정되는 반사 선명도의 합 Rc(60)가 240% 이하인 것을 특징으로 하는 방현 필름.
The optical information recording medium according to claim 1, wherein the sum Tc of the transmission sharpness measured using five kinds of optical combs having widths of the arm portion and the symbol portion of 0.125 mm, 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm and 2.0 mm is 375%
The sum Rc (45) of the reflection sharpness measured at the incident angle of 45 [deg.] Of the light using the four types of optical combs having widths of 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm, and 2.0 mm,
Wherein a sum Rc (60) of the reflection sharpness measured at an incident angle of light of 60 占 using the four kinds of optical combs having the widths of the arm portion and the list portion of 0.25 mm, 0.5 mm, 1.0 mm and 2.0 mm is 240% or less. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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TW202328708A (en) * 2021-10-28 2023-07-16 日商大日本印刷股份有限公司 Anti-glare film, and polarizing plate, surface plate, image display panel, and image display device that use same

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007187952A (en) 2006-01-16 2007-07-26 Sumitomo Chemical Co Ltd Anti-glare film, method of manufacturing same, method of manufacturing die for same, and display device

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007156132A (en) * 2005-12-06 2007-06-21 Sumitomo Chemical Co Ltd Anti-glare film and image display device
US8163393B2 (en) * 2007-03-19 2012-04-24 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Anti-dazzling optical laminate
KR20100020906A (en) * 2008-08-13 2010-02-23 소니 가부시끼가이샤 Optical film and manufacturing method therefor, antiglare film, optical layer-attached polarizer, and display apparatus
JP2011013238A (en) * 2009-06-01 2011-01-20 Tomoegawa Paper Co Ltd Antiglare film and display using the same
JP2011100027A (en) * 2009-11-06 2011-05-19 Sony Corp Antiglare film and method for producing the same
JP5593125B2 (en) * 2010-06-03 2014-09-17 株式会社巴川製紙所 Optical laminate, polarizing plate and display device
JP2012068473A (en) * 2010-09-24 2012-04-05 Sumitomo Chemical Co Ltd Liquid crystal display device
JP5463279B2 (en) * 2010-12-21 2014-04-09 チェイル インダストリーズ インコーポレイテッド Anti-glare film
JP6141592B2 (en) * 2011-11-16 2017-06-07 富士フイルム株式会社 Optical film, polarizing plate, image display device, and optical film manufacturing method
CN104160303B (en) * 2012-02-29 2017-03-08 住友化学株式会社 Antiglare film

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007187952A (en) 2006-01-16 2007-07-26 Sumitomo Chemical Co Ltd Anti-glare film, method of manufacturing same, method of manufacturing die for same, and display device

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