KR20160060848A - Thin film transistor and Method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

The present invention proposes a thin film transistor and a manufacturing method thereof. The thin film transistor comprises: a gate electrode; source and drain electrodes which are apart from the gate electrode in a vertical direction and apart from each other in a horizontal direction; a gate insulation film which is formed between the gate electrode and the source and drain electrodes; an active layer which is formed between the gate insulation film and the source and drain electrodes; and a protective film which is formed on the active layer arranged between the source and drain electrodes. The protective film is made of at least two layers and a first protective film, which touches the active layer, is processed using oxygen plasma. The present invention provides a thin film transistor, which uses a doped ZnO film as an active layer and includes a protective film on the active layer, and a method of manufacturing the thin film transistor.

Description

박막 트랜지스터 및 그 제조 방법{Thin film transistor and Method of manufacturing the same}Thin film transistor and method of manufacturing same

본 발명은 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 특히 금속 산화물 반도체 박막을 활성층으로 이용하는 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a thin film transistor and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a thin film transistor using a metal oxide semiconductor thin film as an active layer and a manufacturing method thereof.

박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT)는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)나 유기 EL(Electro Luminescence) 표시 장치 등에서 각 화소를 독립적으로 구동하기 위한 회로로 사용된다. 이러한 박막 트랜지스터는 표시 장치의 하부 기판에 게이트 라인 및 데이터 라인과 함께 형성된다. 즉, 박막 트랜지스터는 게이트 라인의 일부인 게이트 전극, 채널로 이용되는 활성층, 데이터 라인의 일부인 소오스 전극과 드레인 전극, 그리고 게이트 절연막 등으로 이루어진다.A thin film transistor (TFT) is used as a circuit for independently driving each pixel in a liquid crystal display (LCD) or an organic EL (Electro Luminescence) display device. Such a thin film transistor is formed with a gate line and a data line on a lower substrate of a display device. That is, the thin film transistor includes a gate electrode which is a part of a gate line, an active layer which is used as a channel, a source electrode and a drain electrode which are a part of the data line, and a gate insulating film.

이러한 박막 트랜지스터의 활성층은 게이트 전극과 소오스/드레인 전극 사이에서 채널 역할을 하며, 종래에는 비정질 실리콘(Amorphous Silicon) 또는 결정질 실리콘(crystalline silicon)을 이용하여 형성하였다. 그러나, 실리콘을 이용한 박막 트랜지스터는 유리 기판을 사용해야 하기 때문에 무게가 무거울 뿐만 아니라 휘어지지 않아 플렉서블 표시 장치로 이용할 수 없는 단점이 있다. 이를 해결하기 위해 금속 산화물이 최근에 많이 연구되고 있다. 또한, 고속 소자 구현, 즉 이동도(mobility) 향상을 위해 전하 농도(carrier concentration)가 높고 전기 전도도가 우수한 결정질 박막을 활성층에 적용하는 것이 바람직하다.The active layer of the thin film transistor serves as a channel between the gate electrode and the source / drain electrode, and is formed using amorphous silicon or crystalline silicon. However, since a thin film transistor using silicon is required to use a glass substrate, it is not only bulky but also has a disadvantage that it can not be used as a flexible display device because it is not warped. To solve this problem, metal oxides have been recently studied. In order to realize a high-speed device, that is, to improve mobility, it is preferable to apply a crystalline thin film having a high carrier concentration and an excellent electric conductivity to the active layer.

이러한 금속 산화물로서 징크옥사이드(Zinc Oxide; ZnO) 박막에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. ZnO 박막은 저온에서도 쉽게 결정이 성장되는 특성을 가지고 있으며, 높은 전하 농도와 이동도를 확보하는데 우수한 물질로 알려져 있다. 그러나, ZnO 박막은 대기중에 노출되었을 때 -OH 기를 흡수하여 막질이 불안정하고, 그에 따라 박막 트랜지스터의 안정성(stability)을 저하시키는 단점이 있다. ZnO 박막의 막질을 개선하기 위해 ZnO 박막에 인듐(In) 및 갈륨(Ga)을 도핑하여 인듐갈륨징크옥사이드(이하, IGZO라 함) 박막을 형성함으로써 비정질 ZnO 박막을 유도하여 박막 트랜지스터의 안정성을 향상시킬 수 있다. 이러한 IGZO 박막을 활성층으로 이용한 박막 트랜지스터가 한국공개특허 제2012-0077288호에 제시되어 있다.Studies on zinc oxide (ZnO) thin films as metal oxides have been actively conducted. ZnO thin films have a characteristic of easily growing crystals even at low temperatures and are known as excellent materials for securing high charge concentration and mobility. However, when the ZnO thin film is exposed to the atmosphere, it absorbs -OH groups and the film quality becomes unstable, thereby deteriorating the stability of the thin film transistor. In order to improve the film quality of the ZnO thin film, indium (In) and gallium (Ga) are doped into the ZnO thin film to form the thin film of indium gallium zinc oxide (hereinafter referred to as IGZO) to improve the stability of the thin film transistor by inducing the amorphous ZnO thin film . A thin film transistor using such an IGZO thin film as an active layer is disclosed in Korean Patent Publication No. 2012-0077288.

그런데, IGZO 박막을 이용한 활성층은 소오스 및 드레인 전극을 형성하기 위한 식각 공정에서 손상될 수 있으며, 제조가 완료된 후 대기중에 노출되면 산소 등이 침투하여 특성이 저하될 수 있다. 이러한 문제를 해결하기 위해 활성층 상부에 보호막을 형성하는데, 이러한 박막 트랜지스터가 한국공개특허 제2013-0019903호에 제시되어 있다. 보호막은 단일막 또는 다층막으로 형성될 수 있는데, 예를 들어 알루미늄 옥사이드와 실리콘 옥사이드의 이중 구조로 형성할 수 있다. 그런데, IGZO 박막 상에 알루미늄 옥사이드를 형성한 후 실리콘 옥사이드를 형성하면 알루미늄 옥사이드 사이의 계면에서 결함이 발생되고 IGZO 박막의 산소 결핍으로 인하여 IGZO 박막이 도체화된다. 따라서, 박막 트랜지스터의 오프 커런트가 증가하여 온/오프비(on/off ration)가 감소하고, 그에 따라 박막 트랜지스터가 온 상태를 유지하게 됨으로써 정상적인 스위칭 동작이 불가능하게 된다.
However, the active layer using the IGZO thin film may be damaged in the etching process for forming the source and drain electrodes, and when exposed to the atmosphere after the fabrication is completed, oxygen may penetrate and the characteristics may be deteriorated. In order to solve such a problem, a protective film is formed on the active layer. Such a thin film transistor is disclosed in Korean Patent Publication No. 2013-0019903. The protective film may be formed of a single film or a multilayer film, for example, a double structure of aluminum oxide and silicon oxide. However, when silicon oxide is formed on the IGZO thin film after the formation of aluminum oxide, defects are generated at the interface between the aluminum oxide and the IGZO thin film becomes conductive due to the oxygen deficiency of the IGZO thin film. Therefore, the on-off ratio of the thin film transistor is increased, and the on / off ratio is decreased. As a result, the thin film transistor is maintained in the ON state, and normal switching operation becomes impossible.

본 발명은 도핑된 ZnO 박막을 활성층으로 이용하고 그 상부에 보호막을 형성하는 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법을 제공한다.The present invention provides a thin film transistor using a doped ZnO thin film as an active layer and forming a protective film thereon, and a method of manufacturing the thin film transistor.

본 발명은 활성층의 산소 결핍에 의한 도체화를 방지할 수 있는 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법을 제공한다.The present invention provides a thin film transistor capable of preventing conduction due to oxygen deficiency in the active layer and a method of manufacturing the same.

본 발명은 활성층의 산소 결핍을 방지하여 보호막을 형성할 수 있는 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법을 제공한다.
The present invention provides a thin film transistor capable of preventing a deficiency of oxygen in an active layer and forming a protective film, and a method of manufacturing the same.

본 발명의 일 양태에 따른 박막 트랜지스터는 게이트 전극; 상기 게이트 전극과 상하 방향으로 이격되고, 수평 방향으로 서로 이격된 소오스 전극 및 드레인 전극; 상기 게이트 전극과 상기 소오스 전극 및 드레인 전극 사이에 형성된 게이트 절연막; 상기 게이트 절연막과 상기 소오스 전극 및 드레인 전극 사이에 형성된 활성층; 및 상기 소오스 전극 및 드레인 전극 사이의 상기 활성층 상에 형성된 보호막을 포함하며, 상기 보호막은 적어도 이중 구조로 형성되며, 상기 활성층에 접하는 제 1 보호막이 산소 플라즈마 처리된다.According to one aspect of the present invention, a thin film transistor includes: a gate electrode; Source and drain electrodes spaced vertically from the gate electrode and spaced apart from each other in the horizontal direction; A gate insulating film formed between the gate electrode and the source electrode and the drain electrode; An active layer formed between the gate insulating layer and the source and drain electrodes; And a protective film formed on the active layer between the source electrode and the drain electrode, wherein the protective film is formed at least of a double structure, and the first protective film in contact with the active layer is subjected to oxygen plasma treatment.

상기 활성층은 3족 또는 4족 원소가 도핑된 산화아연 박막으로 형성된다.The active layer is formed of a zinc oxide thin film doped with Group 3 or Group 4 elements.

상기 제 1 보호막은 상기 활성층의 산소 확산을 방지하는 산소 농도를 갖는다.The first protective film has an oxygen concentration that prevents oxygen diffusion in the active layer.

상기 제 1 보호막은 산소가 다른 함유물에 비해 40% 이상 더 함유된다.The first protective film contains more than 40% of oxygen as compared with other contents.

상기 보호막은 알루미늄 옥사이드 및 실리콘 옥사이드의 이중 구조로 형성되며, 상기 알루미늄 옥사이드가 산소 플라즈마 처리된다.The protective film is formed of a double structure of aluminum oxide and silicon oxide, and the aluminum oxide is oxygen plasma treated.

상기 알루미늄 옥사이드는 산소/알루미늄의 비가 1.4 내지 2.0이다.
The aluminum oxide has an oxygen / aluminum ratio of 1.4 to 2.0.

본 발명의 다른 양태에 따른 박막 트랜지스터의 제조 방법은 기판 상에 게이트 전극을 형성하고 그 상부에 게이트 절연막을 형성하는 단계; 상기 게이트 절연막 상에 활성층을 형성하는 단계; 상기 활성층 상에 적어도 이중 구조의 보호막을 형성하는 단계; 및 상기 활성층 상에 소오스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 보호막은 상기 활성층에 접하는 제 1 보호막을 산소 플라즈마 처리하여 형성한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a thin film transistor, including: forming a gate electrode on a substrate and forming a gate insulating film thereon; Forming an active layer on the gate insulating layer; Forming a protective film of at least a double structure on the active layer; And forming a source electrode and a drain electrode on the active layer, wherein the protective layer is formed by oxygen plasma treatment of the first protective layer in contact with the active layer.

상기 활성층은 3족 또는 4족 원소가 도핑된 산화아연 박막으로 형성한다.The active layer is formed of a zinc oxide thin film doped with Group 3 or Group 4 elements.

상기 제 1 보호막은 상기 활성층의 산소 확산을 방지하는 산소 농도로 형성한다.The first protective film is formed with an oxygen concentration that prevents diffusion of oxygen in the active layer.

상기 제 1 보호막은 산소가 다른 함유물에 비해 40% 이상 더 함유된다.The first protective film contains more than 40% of oxygen as compared with other contents.

상기 제 1 보호막은 알루미늄 옥사이드를 포함하며, 상기 알루미늄 옥사이드가 산소 플라즈마 처리된다.The first protective film includes aluminum oxide, and the aluminum oxide is oxygen plasma treated.

상기 알루미늄 옥사이드를 형성한 후 산소 포함 가스를 이용한 플라즈마 처리를 실시하고, 그 상부에 실리콘 옥사이드를 형성한다.After the aluminum oxide is formed, a plasma treatment using an oxygen-containing gas is performed, and silicon oxide is formed thereon.

상기 플라즈마 처리에 의해 상기 알루미늄 옥사이드의 모폴로지가 개선되어 상기 실리콘 옥사이드의 접착력이 향상된다.The plasma treatment improves the morphology of the aluminum oxide to improve the adhesion of the silicon oxide.

상기 알루미늄 옥사이드는 산소/알루미늄의 비가 1.4 내지 2.0이다.
The aluminum oxide has an oxygen / aluminum ratio of 1.4 to 2.0.

본 발명의 실시 예들은 박막 트랜지스터의 금속 산화물 박막으로 활성층을 형성하고, 금속 산화물 박막 상에 보호막을 형성하여 활성층의 식각 손상 및 산소 침투에 의한 막질 저하를 방지할 수 있다. 또한, 보호막의 적어도 일부 두께를 산소 리치 상태로 형성함으로써 보호막 형성 시 활성층의 산소 결핍에 의한 활성층의 도체화를 방지할 수 있다. 따라서, 정상적인 박막 트랜지스터의 스위칭 동작을 유지할 수 있고, 그에 따라 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
Embodiments of the present invention can prevent the deterioration of film quality due to etching damage and oxygen penetration of the active layer by forming the active layer with the metal oxide thin film of the thin film transistor and forming the protective film on the metal oxide thin film. Further, by forming at least a part of the thickness of the protective film in the oxygen-rich state, it is possible to prevent the active layer from becoming conductive by oxygen deficiency in the active layer during formation of the protective film. Therefore, the switching operation of the normal thin film transistor can be maintained, thereby improving the reliability.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 박막 트랜지스터의 단면도.
도 2 내지 도 4는 종래 및 본 발명에 따른 박막 트랜지스터의 특성 그래프.
도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 박막 트랜지스터의 단면도.
도 6 내지 도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 박막 트랜지스터의 제조 방법을 설명하기 위해 순서적으로 도시한 단면도.
도 13 및 도 14는 산소 플라즈마 처리를 실시하지 않은 알루미늄 옥사이드와 산소 플라즈마 처리를 실시한 알루미늄 옥사이드의 산소 및 알루미늄 분포를 도시한 도면.1 is a cross-sectional view of a thin film transistor according to an embodiment of the present invention;
FIGS. 2 to 4 are characteristic graphs of a conventional and a thin film transistor according to the present invention.
5 is a cross-sectional view of a thin film transistor according to another embodiment of the present invention.
6 to 12 are sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a thin film transistor according to an embodiment of the present invention.
13 and 14 are diagrams showing oxygen and aluminum distributions of aluminum oxide not subjected to oxygen plasma treatment and aluminum oxide subjected to oxygen plasma treatment.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면에서 여러 층 및 각 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 표현하였으며 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭하도록 하였다. 또한, 층, 막, 영역 등의 부분이 다른 부분 "상부에" 또는 "상에" 있다고 표현되는 경우는 각 부분이 다른 부분의 "바로 상부" 또는 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 각 부분과 다른 부분의 사이에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but is capable of other various forms of implementation, and that these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, It is provided to let you know completely. In the drawings, the thickness is enlarged to clearly illustrate the various layers and regions, and the same reference numerals denote the same elements in the drawings. Also, where a portion such as a layer, film, region, or the like is referred to as being "on top" or "on" another portion, it is not necessarily the case that each portion is "directly above" And the case where there is another part between the parts.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 박막 트랜지스터의 단면도로서, 버텀 게이트(Bottom gate)형 박막 트랜지스터의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a thin film transistor according to an embodiment of the present invention, which is a cross-sectional view of a bottom gate type thin film transistor.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 박막 트랜지스터는 기판(100) 상에 형성된 게이트 전극(110)과, 게이트 전극(110) 상에 형성된 게이트 절연막(120)과, 게이트 절연막(120) 상에 형성된 활성층(130)과, 활성층(130) 상에 형성되며 적어도 일부가 산소 리치(oxygen rich) 상태로 형성된 보호막(140)과, 활성층(130) 상에 형성되며 보호막(140) 상에서 서로 이격되어 형성된 소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)을 포함한다.1, a thin film transistor according to an embodiment of the present invention includes a gate electrode 110 formed on a substrate 100, a gate insulating film 120 formed on the gate electrode 110, a gate insulating film 120 An active layer 130 formed on the active layer 130 and at least a part of which is formed in an oxygen rich state and an active layer 130 formed on the active layer 130, And a source electrode 150a and a drain electrode 150b spaced apart from each other.

기판(100)은 투명 기판을 이용할 수 있는데, 예를 들어 실리콘 기판, 글래스 기판 또는 플렉서블 디스플레이를 구현하는 경우에는 플라스틱 기판(PE, PES, PET, PEN 등)이 사용될 수 있다. 또한, 기판(100)은 반사형 기판이 이용될 수 있는데, 예를 들어 메탈 기판이 사용될 수 있다. 메탈 기판은 스테인레스 스틸, 티타늄(Ti), 몰리브덴(Mo) 또는 이들의 합금으로 형성될 수 있다. 한편, 기판(100)으로 메탈 기판을 이용할 경우 메탈 기판 상부에 절연막을 형성하는 것이 바람직하다. 이는 메탈 기판과 게이트 전극(110)의 단락을 방지하고, 메탈 기판으로부터 금속 원자의 확산을 방지하기 위함이다. 이러한 절연막으로는 실리콘 옥사이드(SiO2), 실리콘 나이트라이드(SiN), 알루미나(Al2O3) 또는 이를의 화합물 중 적어도 하나를 포함하는 물질을 이용할 수 있다. 이와 더불어 티타늄나이트라이드(TiN), 티타늄알루미늄나이트라이드(TiAlN), 실리콘카바이드(SiC) 또는 이들의 화합물중 적어도 하나를 포함하는 무기 물질을 절연막 하부에 확산 방지막으로 이용할 수 있다.The substrate 100 may be a transparent substrate. For example, a plastic substrate (PE, PES, PET, PEN, etc.) may be used for a silicon substrate, a glass substrate, or a flexible display. Also, the substrate 100 may be a reflective substrate, for example, a metal substrate may be used. The metal substrate may be formed of stainless steel, titanium (Ti), molybdenum (Mo), or an alloy thereof. On the other hand, when a metal substrate is used as the substrate 100, it is preferable to form an insulating film on the metal substrate. This is to prevent a short circuit between the metal substrate and the gate electrode 110 and prevent diffusion of metal atoms from the metal substrate. As such an insulating film, a material containing at least one of silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (SiN), alumina (Al 2 O 3 ), or a compound thereof can be used. In addition, an inorganic material containing at least one of titanium nitride (TiN), titanium aluminum nitride (TiAlN), silicon carbide (SiC), or a compound thereof may be used as a diffusion preventing film under the insulating film.

게이트 전극(110)은 도전 물질을 이용하여 형성할 수 있는데, 예를 들어 알루미늄(Al), 네오디뮴(Nd), 은(Ag), 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta), 몰리브덴(Mo) 및 구리(Cu) 중 적어도 어느 하나의 금속 또는 이들을 포함하는 합금으로 형성할 수 있다. 또한, 게이트 전극(110)은 단일층 뿐 아니라 복수 금속층의 다중층으로 형성할 수 있다. 즉, 물리 화학적 특성이 우수한 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta), 몰리브덴(Mo) 등의 금속층과 비저항이 작은 알루미늄(Al) 계열, 은(Ag) 계열 또는 구리(Cu) 계열의 금속층을 포함하는 이중층으로 형성할 수도 있다.The gate electrode 110 may be formed using a conductive material such as aluminum (Al), neodymium (Nd), silver (Ag), chromium (Cr), titanium (Ti), tantalum (Ta), molybdenum (Mo) and copper (Cu), or an alloy containing them. In addition, the gate electrode 110 can be formed as a single layer as well as multiple layers of a plurality of metal layers. That is, a metal layer of chromium (Cr), titanium (Ti), tantalum (Ta), molybdenum (Mo) or the like having excellent physical and chemical properties and an aluminum (Al) Of the metal layer.

게이트 절연막(120)은 적어도 게이트 전극(110) 상부에 형성된다. 즉, 게이트 절연막(120)은 게이트 전극(110)의 상부 및 측부를 포함한 기판(100) 상에 형성될 수 있다. 게이트 절연막(120)은 금속 물질과의 밀착성이 우수하며 절연 내압이 우수한 실리콘 옥사이드(SiO2), 실리콘 나이트라이드(SiN), 알루미나(Al2O3), 지르코니아(ZrO2)를 포함하는 무기 절연막 중 하나 또는 그 이상의 절연 물질을 이용하여 형성할 수 있으며, 단일층 또는 다층으로 형성할 수 있다. 다층의 게이트 절연막(120)은 예를 들어 실리콘 나이트라이드 및 실리콘 옥사이드를 적층하여 형성할 수 있다. 여기서, 실리콘 옥사이드 증착 시 게이트 전극(110)의 산화 현상을 방지하기 위해 게이트 전극(110) 상부에 실리콘 나이트라이드를 먼저 형성할 수 있다. 또한, 실리콘 나이트라이드 증착 시 소오스로 이용되는 NH3의 수소(hydrogen)에 의해 활성층(130)의 캐리어 밀도(carrier concentration)가 상승하는 현상이 발생하므로 실리콘 나이트라이드의 두께를 최소화할 필요가 있다.A gate insulating film 120 is formed at least on the gate electrode 110. That is, the gate insulating film 120 may be formed on the substrate 100 including the top and sides of the gate electrode 110. The gate insulating film 120 is formed of an inorganic insulating film containing silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (SiN), alumina (Al 2 O 3 ), and zirconia (ZrO 2 ) Or one or more insulating materials, and may be formed as a single layer or multiple layers. The multi-layer gate insulating film 120 can be formed by laminating, for example, silicon nitride and silicon oxide. Silicon nitride may be formed on the gate electrode 110 in order to prevent oxidation of the gate electrode 110 during silicon oxide deposition. In addition, since the carrier concentration of the active layer 130 rises due to hydrogen of NH 3 used as a source in the deposition of silicon nitride, it is necessary to minimize the thickness of the silicon nitride.

활성층(130)은 게이트 절연막(120) 상에 형성되며, 적어도 일부가 게이트 전극(110)과 중첩되도록 형성된다. 활성층(130)은 ZnO 박막의 막질을 개선하기 위해 ZnO 박막에 3족 또는 4족 원소, 예를 들어 인듐(In), 갈륨(Ga), 주석(Sn) 원소의 적어도 하나를 도핑함으로써 비정질 ZnO 박막을 유도하여 박막 트랜지스터의 안정성을 개선할 수 있다. 예를 들어, 활성층(130)은 ZnO 박막에 인듐 및 갈륨을 도핑한 IGZO 박막으로 형성될 수 있으며, ZnO 박막에 인듐 및 틴(Tin)을 도핑한 인듐틴징크옥사이드(ITZO) 박막으로 형성될 수 있다. 본 실시 예는 IGZO 박막을 예로 들어 설명한다. 또한, 도핑된 ZnO 박막, 예를 들어 IGZO 박막을 이용한 활성층(130)은 원자층 증착(Atomic layer Deposition; 이하 ALD라 함), 화학 기상 증착(Chemical Vapor Deposition; 이하 CVD라 함) 등의 화학적 증착 방식으로 형성할 수 있다. 이는 IGZO 박막을 IGZO 타겟을 이용한 스퍼터링에 의해 형성하면 박막의 증착이 진행될수록 박막의 조성이 변화되어 IGZO 박막의 막질이 균일하지 않은 문제가 있기 때문이다. 또한, 활성층(130)은 필요에 따라 조성이 다른 복수의 층으로 형성할 수 있는데, IGZO 타겟은 하나의 조성으로만 제작되기 때문에 이러한 다층 구조의 활성층(130)을 형성하기 어렵다. 즉, IGZO 타겟을 이용한 스퍼터링 공정으로는 조성이 다른 다층 구조의 활성층을 형성할 수 없다. 따라서, 본 발명은 IGZO 박막을 이용한 활성층(130)을 원자층 증착(Atomic layer Deposition; 이하 ALD라 함), 화학 기상 증착(Chemical Vapor Deposition; 이하 CVD라 함) 등의 화학적 증착 방식으로 형성함으로써 조성이 다른 복수의 층으로 형성할 수 있다. 한편, IGZO 박막은 인듐 소오스, 갈륨 소오스 및 징크 소오스와 산화 소오스를 이용하여 형성할 수 있다. 예를 들어 인듐 소오스로는 트리메틸인듐(Trimethyl Indium; In(CH3)3)(TMIn) 등을 이용할 수 있고, 갈륨 소오스로는 트리메틸갈륨(Trimethyl Gallium; Ga(CH3)3)(TMGa) 등을 이용할 수 있으며, 징크 소오스로는 디에틸징크(Diethyl Zinc; Zn(C2H5)2)(DEZ), 디메틸징크(Dimethyl Zinc; Zn(CH3)2)(DMZ) 등을 이용할 수 있다. 또한, 산화 소오스로는 산소가 포함된 물질, 예를 들어 산소(O2), 오존(O3), 수증기(H2O), N2O, CO2 등의 적어도 어느 하나를 이용할 수 있다. The active layer 130 is formed on the gate insulating layer 120, and at least a part of the active layer 130 is formed to overlap with the gate electrode 110. In order to improve the film quality of the ZnO thin film, the active layer 130 may be formed by doping at least one element of Group 3 or Group 4 elements such as indium (In), gallium (Ga), and tin (Sn) The stability of the thin film transistor can be improved. For example, the active layer 130 may be formed of an IGZO thin film doped with indium and gallium in a ZnO thin film, and may be formed of an indium tin zinc oxide (ITZO) thin film doped with indium and tin in a ZnO thin film. have. This embodiment will be described taking the IGZO thin film as an example. The active layer 130 using a doped ZnO thin film such as an IGZO thin film may be formed by chemical vapor deposition such as atomic layer deposition (ALD) or chemical vapor deposition (CVD) Can be formed. This is because if the IGZO thin film is formed by sputtering using the IGZO target, the composition of the thin film is changed as the thin film is deposited, and the film quality of the IGZO thin film is not uniform. In addition, the active layer 130 may be formed of a plurality of layers having different compositions as required. Since the IGZO target is formed only in one composition, it is difficult to form the active layer 130 having such a multilayer structure. That is, a sputtering process using an IGZO target can not form a multi-layered active layer having a different composition. Accordingly, the present invention can be achieved by forming the active layer 130 using an IGZO thin film by a chemical vapor deposition method such as atomic layer deposition (ALD) or chemical vapor deposition (CVD) May be formed of a plurality of different layers. On the other hand, the IGZO thin film can be formed by using an indium source, a gallium source, a zinc source and an oxidizing source. For example, as the indium source, trimethyl indium (In (CH 3 ) 3 ) (TMIn) or the like can be used. As the gallium source, trimethyl gallium (Ga (CH 3 ) 3 (Zn (C 2 H 5 ) 2 ) (DEZ), dimethylzinc (Zn (CH 3 ) 2 ) (DMZ) and the like can be used as the zinc source . As the oxidizing source, at least one of oxygen-containing materials such as oxygen (O 2 ), ozone (O 3 ), water vapor (H 2 O), N 2 O and CO 2 can be used.

보호막(140)은 활성층(130) 형성 후 소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)을 형성하기 위한 식각 공정에서 활성층(130)이 노출되어 손상되는 것을 방지하기 위한 식각 정지막으로 작용한다. 또한, 보호막(140)은 소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)의 제조가 완료된 후 활성층(130)이 대기중에 노출되는 것을 방지할 수 있다. 즉, IGZO 박막으로 형성된 활성층(130)은 대기중에 노출되면 산소 등이 침투하여 특성이 저하될 수 있는데, 보호막(140)이 형성되어 이를 방지할 수 있다. 이러한 보호막(140)은 산소의 침투를 방지할 수 있고, 식각 공정 시 활성층(130)과 식각 선택비가 차이나는 물질로 형성할 수 있다. 보호막(140)으로는 실리콘 기반 절연 물질, 금속 기반 절연 물질 등을 이용하여 형성할 수 있는데, 예를 들어 실리콘 옥사이드(SiO2), 실리콘 옥시나이트라이드(SiON), 알루미늄 옥사이드(Al2O3) 등을 이용하여 단일층 또는 다층으로 형성할 수 있다. 여기서, 보호막(140)은 적어도 일부가 산소 리치 상태로 형성될 수 있다. 즉, 보호막(140)을 단일층으로 형성하는 경우 하측의 일부 두께를 산소 리치 상태로 형성하고, 보호막(140)을 다층으로 형성하는 경우 하층을 산소 리치 상태로 형성할 수 있다. 예를 들어, 보호막(140)은 단일 물질로 형성될 수 있는데, 산소 농도가 다른 제 1 및 제 2 보호막(140a, 140b)이 적층되어 형성될 수 있다. 이때, 활성층(130)에 접하는 제 1 보호막(140a)이 제 2 보호막(140b)에 비해 더 많은 산소 함량으로 형성될 수 있다. 또한, 보호막(140)은 이종의 물질로 형성될 수 있는데, 예를 들어 제 1 보호막(140a)이 알루미늄 옥사이드로 형성되고 제 2 보호막(140b)이 실리콘 옥사이드로 형성될 수 있다. 이때, 제 1 보호막(140a)은 산소 리치(oxygen rich) 알루미늄 옥사이드로 형성될 수 있다. 즉, 제 1 보호막(140a)은 일반적인 알루미늄 옥사이드보다 산소의 비율이 더 높게 형성되는데, 예를 들어 산소가 10% 이상 더 함유되도록 형성된다. 예를 들어, 일반적인 알루미늄 옥사이드는 산소/알루미늄 비(O/Al)가 1.2 내지 1.3 정도로 형성되지만, 본 발명의 제 1 보호막(140a)은 산소/알루미늄의 비가 1.4 내지 2.0 정도로 형성되어 종래보다 산소가 다량 함유되어 형성된다. 즉, 본 발명에 따른 제 1 보호막(140a)은 산소가 다른 함유물보다 40% 이상 더 함유될 수 있고, 예를 들어 40% 내지 100% 정도 더 함유될 수 있다. 또한, 제 1 보호막(140a)은 두께에 따라 산소/알루미늄의 비가 다를 수 있는데, 상측으로부터 중간까지 예를 들어 1.5 내지 2.0의 비율을 갖고, 중간부터 하측으로는 예를 들어 1.4 내지 1.6의 비율을 가질 수 있다. 제 1 보호막(140a)을 과량의 산소가 함유되도록 형성하기 위해 제 1 보호막(140a)을 형성한 후 산소 플라즈마 처리를 실시할 수 있다. 이렇게 제 1 보호막(140a)에 산소 플라즈마 처리를 실시하여 제 1 보호막(140a)을 산소 리치 상태로 형성함으로써 활성층(130)으로 이용되는 IGZO 박막의 산소가 제 1 보호막(140a)으로 확산하는 것을 방지할 수 있다. 따라서, IGZO 박막의 도체화를 방지하여 박막 트랜지스터의 스위칭 특성을 유지할 수 있다. 그런데, 제 1 보호막(140a)의 산소/알루미늄의 비가 1.4 미만일 경우 산소 리치 상태가 아니므로 활성층(130)으로 이용되는 IGZO 박막의 산소가 제 1 보호막(140a)으로 확산되는 것을 방지할 수 없고, 산소/알루미늄의 비가 2.0을 초과하는 경우 정상적인 알루미늄 옥사이드막이 형성되지 않게 된다. 또한, 산소 플라즈마 처리만으로는 산소/알루미늄의 비가 2.0을 초과하기 어렵다. 한편, 제 1 보호막(140a)에 산소 플라즈마 처리를 실시함으로써 제 1 보호막(140a)의 모폴로지(morphology)가 향상되고, 그에 따라 제 1 보호막(140a) 상에 형성되는 제 2 보호막(140b), 예를 들어 실리콘 옥사이드의 접착력(adhesion)이 향상될 수 있다. 그리고, 산소 플라즈마 대신에 오존 플라즈마 등의 산소를 포함하는 플라즈마 처리를 실시할 수 있는데, N2O 등을 이용하게 되면 제 1 보호막(140a)의 산소 용량이 작아져 본 발명의 효과가 적어질 수 있다. 한편, 보호막(140)은 일부를 플라즈마를 이용하지 않는 화학적 증착 방법으로 형성하고 나머지 일부를 플라즈마를 이용한 화학적 증착 방법으로 형성할 수 있다. 즉, 플라즈마를 이용하여 보호막(140)을 형성하는 경우 활성층(130)이 플라즈마에 의해 손상되므로 활성층(130)에 접하는 제 1 보호막(140a)은 플라즈마를 이용하지 않는 ALD 방법 또는 CVD 방식으로 형성하고, 제 2 보호막(140b)은 PECVD 공정으로 형성하여 막질을 향상시킬 수 있다. 예를 들어, ALD 공정 또는 CVD 공정으로 제 1 보호막(140a)은 형성하고 제 1 보호막(140a)에 산소 플라즈마 처리를 실시한 후 플라즈마가 활성화된 상태에서 실리콘 소오스를 더 공급하여 제 2 보호막(140b)을 형성할 수 있다.The passivation layer 140 serves as an etch stop layer for preventing the active layer 130 from being exposed and damaged in the etching process for forming the source electrode 150a and the drain electrode 150b after the active layer 130 is formed. The protective layer 140 may prevent the active layer 130 from being exposed to the atmosphere after the source electrode 150a and the drain electrode 150b are completely fabricated. That is, when the active layer 130 formed of the IGZO thin film is exposed to the atmosphere, oxygen or the like may penetrate and the characteristics may be deteriorated. The protective layer 140 may prevent penetration of oxygen and may be formed of a material having a different etch selectivity from the active layer 130 during the etching process. The passivation layer 140 may be formed using a silicon-based insulating material, a metal-based insulating material, or the like. Examples of the passivation layer 140 include silicon oxide (SiO 2 ), silicon oxynitride (SiON), aluminum oxide (Al 2 O 3 ) Or the like can be used. Here, at least a part of the protective film 140 may be formed in an oxygen-rich state. That is, when the protective layer 140 is formed as a single layer, the lower layer may be formed in an oxygen-rich state and the lower layer may be formed in an oxygen-rich state when the protective layer 140 is formed in multiple layers. For example, the protective layer 140 may be formed of a single material, and the first and second protective layers 140a and 140b having different oxygen concentrations may be stacked. At this time, the first passivation layer 140a contacting the active layer 130 may be formed with a higher oxygen content than the second passivation layer 140b. In addition, the protective layer 140 may be formed of different materials. For example, the first protective layer 140a may be formed of aluminum oxide and the second protective layer 140b may be formed of silicon oxide. At this time, the first passivation layer 140a may be formed of an oxygen rich aluminum oxide. That is, the first protective film 140a is formed to have a higher oxygen ratio than general aluminum oxide, for example, such that oxygen is contained in an amount of 10% or more. For example, a typical aluminum oxide has an oxygen / aluminum ratio (O / Al) of about 1.2 to 1.3. However, the first protective film 140a of the present invention has a ratio of oxygen / aluminum of about 1.4 to 2.0, And is formed in a large amount. That is, the first protective film 140a according to the present invention may contain oxygen by 40% or more, for example, about 40% to 100% more than other contents. The ratio of oxygen to aluminum may vary depending on the thickness of the first protective film 140a. For example, the first protective film 140a may have a ratio of 1.5 to 2.0 from the upper side to the intermediate side and a ratio of 1.4 to 1.6, for example, Lt; / RTI > In order to form the first protective film 140a so as to contain an excessive amount of oxygen, the first protective film 140a may be formed and oxygen plasma treatment may be performed. The first protective film 140a is subjected to an oxygen plasma treatment to form the first protective film 140a in an oxygen rich state to prevent the oxygen of the IGZO thin film used as the active layer 130 from diffusing into the first protective film 140a can do. Therefore, it is possible to prevent the IGZO thin film from becoming conductive and to maintain the switching characteristics of the thin film transistor. If the oxygen / aluminum ratio of the first protective film 140a is less than 1.4, oxygen in the IGZO thin film used as the active layer 130 can not be prevented from diffusing into the first protective film 140a, When the ratio of oxygen / aluminum exceeds 2.0, a normal aluminum oxide film is not formed. Further, the oxygen / aluminum ratio is hardly exceeded by 2.0 only by the oxygen plasma treatment. On the other hand, the second protective film 140b, which is formed on the first protective film 140a by improving the morphology of the first protective film 140a by performing the oxygen plasma treatment on the first protective film 140a, The adhesion of the silicon oxide can be improved. In place of the oxygen plasma, plasma treatment including oxygen such as ozone plasma can be performed. If N 2 O or the like is used, the oxygen capacity of the first protective film 140a becomes small, and the effect of the present invention becomes small have. Meanwhile, the protective film 140 may be formed by a chemical vapor deposition method not using plasma and a chemical vapor deposition method using plasma. That is, when the protective layer 140 is formed using plasma, the active layer 130 is damaged by the plasma, so that the first protective layer 140a contacting the active layer 130 is formed by an ALD method or a CVD method that does not use plasma And the second protective film 140b may be formed by a PECVD process to improve the film quality. For example, the first protective film 140a is formed by an ALD process or a CVD process, an oxygen plasma process is performed on the first protective film 140a, and a silicon source is further supplied in a state where the plasma is activated to form the second protective film 140b. Can be formed.

소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)은 활성층(130) 상부에 형성되며, 게이트 전극(110)과 일부 중첩되어 게이트 전극(110)을 사이에 두고 상호 이격되어 형성된다. 즉, 소오스 전극(150a)과 드레인 전극(150b)은 보호막(140) 상에서 서로 이격되어 형성된다. 소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)은 동일 물질을 이용한 동일 공정에 의해 형성할 수 있으며, 도전성 물질을 이용하여 형성할 수 있는데, 예를 들어 알루미늄(Al), 네오디뮴(Nd), 은(Ag), 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta) 및 몰리브덴(Mo) 중 적어도 어느 하나의 금속 또는 이들을 포함하는 합금으로 형성할 수 있다. 즉, 게이트 전극(110)과 동일 물질로 형성할 수 있으나, 다른 물질로 형성할 수도 있다. 또한, 소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)은 단일층 뿐 아니라 복수 금속층의 다층으로 형성할 수 있다.
The source electrode 150a and the drain electrode 150b are formed on the active layer 130 and are spaced apart from each other with the gate electrode 110 interposed therebetween. That is, the source electrode 150a and the drain electrode 150b are formed on the protective film 140 so as to be spaced apart from each other. The source electrode 150a and the drain electrode 150b may be formed by the same process using the same material and may be formed using a conductive material. For example, aluminum (Al), neodymium (Nd), silver Ag, Cr, Ti, Ta, and Mo, or an alloy containing any of these metals. That is, the gate electrode 110 may be formed of the same material as the gate electrode 110, but may be formed of another material. In addition, the source electrode 150a and the drain electrode 150b can be formed as a single layer as well as multiple layers of a plurality of metal layers.

상기한 바와 같이 본 발명의 일 실시 예에 따른 박막 트랜지스터는 활성층(130)을 금속 산화물 반도체, 예를 들어 IGZO 박막을 이용하여 형성하고, 활성층(130) 상에 적어도 일부 두께가 산소 리치 상태를 유지하는 보호막(140)을 형성한다. 예를 들어, 보호막(140)은 산소 리치 실리콘 옥사이드를 이용하여 제 1 보호막(140a)을 형성한 후 실리콘 옥사이드를 이용하여 제 2 보호막(140a)을 형성할 수 있다. 이렇게 보호막(140)의 적어도 일부 두께를 산소 리치 상태로 형성함으로써 활성층(130), 예를 들어 IGZO 박막의 산소가 보호막(140)으로 확산하는 것을 방지할 수 있어 IGZO 박막의 도체화를 방지할 수 있고, 그에 따라 박막 트랜지스터의 스위칭 특성을 유지할 수 있다. 이는 도 2 내지 도 4에 도시된 박막 트랜지스터의 특성 그래프를 통해 알 수 있다.As described above, the thin film transistor according to an embodiment of the present invention includes the active layer 130 formed using a metal oxide semiconductor, for example, an IGZO thin film, and at least a part of the thickness of the active layer 130 is maintained in an oxygen rich state A protective film 140 is formed. For example, the passivation layer 140 may be formed using the oxygen-rich silicon oxide to form the first passivation layer 140a, and then the second passivation layer 140a may be formed using the silicon oxide. By forming at least a part of the thickness of the protective film 140 in the oxygen rich state, it is possible to prevent the oxygen of the active layer 130, for example, the IGZO thin film, from being diffused into the protective film 140, thereby preventing the IGZO thin film from becoming conductive So that the switching characteristics of the thin film transistor can be maintained. This can be seen from the characteristic graph of the thin film transistor shown in FIG. 2 to FIG.

도 2는 IGZO 박막 상에 알루미늄 옥사이드를 형성한 박막 트랜지스터의 특성 그래프이고, 도 3은 IGZO 박막 상에 알루미늄 옥사이드 및 실리콘 옥사이드를 형성한 박막 트랜지스터의 특성 그래프이며, 도 4는 본 발명에 따른 IGZO 박막 상에 산소 리치 알루미늄 옥사이드 및 실리콘 옥사이드를 적층 형성한 박막 트랜지스터의 특성 그래프이다. 여기서, 도 2 내지 도 4는 게이트 전압에 따른 드레인-소오스 전류(IDS) 그래프이다. 도 2에 도시된 바와 같이 알루미늄 옥사이드를 형성한 박막 트랜지스터는 게이트 전압이 약 0V 이상 인가되면 드레인과 소오스 사이에 터널링이 발생되고, 그에 따라 드레인-소오스 전류가 흐르게 되어 선형적인 특성을 나타낸다. 즉, 박막 트랜지스터가 스위칭 특성을 유지하게 된다. 그러나, 도 3에 도시된 바와 같이 알루미늄 옥사이드 및 실리콘 옥사이드를 적층 형성한 박막 트랜지스터는 IGZO 박막이 도체화되기 때문에 온 상태를 계속 유지하여 박막 트랜지스터의 스위칭 특성이 나타나지 않는다. 그런데, 도 4에 도시된 바와 같이 산소 리치 알루미늄 옥사이드 및 실리콘 옥사이드를 적층 형성한 박막 트랜지스터는 약 0V의 게이트 전압이 인가될 때 드레인-소오스 전류가 흐르게 되어 박막 트랜지스터가 스위칭 특성을 유지하여 정상적으로 동작하는 것을 알 수 있다.
FIG. 2 is a characteristic graph of a thin film transistor in which aluminum oxide is formed on an IGZO thin film, FIG. 3 is a characteristic graph of a thin film transistor in which aluminum oxide and silicon oxide are formed on the IGZO thin film, Rich oxide and silicon oxide are stacked on a silicon substrate. Here, FIGS. 2 to 4 are graphs of drain-source currents (I DS ) according to gate voltages. As shown in FIG. 2, when a gate voltage of about 0 V or higher is applied to a thin film transistor formed with aluminum oxide, tunneling occurs between a drain and a source, and a drain-source current flows to exhibit a linear characteristic. That is, the thin film transistor maintains the switching characteristic. However, as shown in FIG. 3, in the thin film transistor in which aluminum oxide and silicon oxide are laminated, the switching characteristic of the thin film transistor does not appear because the IGZO thin film is made conductive and thus maintained in the on state. As shown in FIG. 4, when a gate voltage of about 0 V is applied to a thin film transistor formed by stacking oxygen rich aluminum oxide and silicon oxide, a drain-source current flows and the thin film transistor maintains the switching characteristic and operates normally .

도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 박막 트랜지스터의 단면도로서, 활성층(130)이 적어도 이중층으로 이루어진 박막 트랜지스터의 단면도이다.5 is a cross-sectional view of a thin film transistor according to another embodiment of the present invention, in which the active layer 130 is at least a double layer.

도 5를 참조하면, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 박막 트랜지스터는 기판(100) 상에 형성된 게이트 전극(110)과, 게이트 전극(110) 상에 형성된 게이트 절연막(120)과, 게이트 절연막(120) 상에 형성되며 제 1 및 제 2 IGZO 박막(130a 및 130b)을 포함하는 활성층(130)과, 활성층(130) 상에 형성되며 적어도 일부가 산소 리치 상태로 형성된 보호막(140)과, 활성층(130) 상에 형성되며 보호막(140) 상에서 서로 이격되어 형성된 소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)을 포함한다.5, a thin film transistor according to another embodiment of the present invention includes a gate electrode 110 formed on a substrate 100, a gate insulating film 120 formed on the gate electrode 110, a gate insulating film 120 An active layer 130 formed on the active layer 130 and including first and second IGZO thin films 130a and 130b; a passivation layer 140 formed on the active layer 130 and formed at least partially in an oxygen-rich state; And a source electrode 150a and a drain electrode 150b formed on the passivation layer 140 and spaced apart from each other.

활성층(130)은 적어도 이중층으로 형성될 수 있는데, 게이트 절연막(120)에 인접하는 제 1 IGZO 박막(132)은 그 상측의 제 2 IGZO 박막(134)에 비해 막질 및 계면 특성이 우수하고 전도성이 높도록 형성될 수 있다. 여기서, 제 1 IGZO 박막(132)은 막질 및 계면 특성이 우수하기 때문에 채널 형성에 중요한 프론트 채널(front channel)로 이용할 수 있다. 즉, 게이트 전극(110)에 (+) 전압이 인가되면 게이트 절연막(120) 상부의 활성층(130) 일부에 (-) 전하가 쌓여 프론트 채널을 형성하게 되고, 프론트 채널을 통해 전류가 잘 흐를수록 이동도가 우수하게 된다. 또한, 제 2 IGZO 박막(134)은 제 1 IGZO 박막(132)과 조성비를 다르게 형성하여 백 채널(back channel)로 이용할 수 있다. 즉, 게이트 전극(110)에 (-) 전압이 인가되면 (-) 전하는 소오스 전극(140a) 및 드레인 전극(140b) 하부의 활성층(130) 일부에 쌓이게 된다. 따라서, 백 채널은 전하 이동을 방지할 수 있는 조성, 즉 전도성이 프론트 채널로 작용하는 제 1 IGZO 박막(132)보다 낮도록 제 2 IGZO 박막(134)을 형성한다. 이를 위해 인듐 소오스, 갈륨 소오스 및 징크 소오스의 적어도 어느 하나의 유입량을 제 1 IGZO 박막(132)와 다르게 조절하여 유입할 수 있고, 산화 소오스의 유입량 또한 조절하여 유입할 수 있다. 예를 들어, 제 2 IGZO 박막(134)의 인듐을 제 1 IGZO 박막(132)보다 적게 할 수도 있고, 제 2 IGZO 박막(134)의 갈륨을 제 1 IGZO 박막(132)보다 많게 할 수도 있다. 이렇게 하면 제 1 IGZO 박막(132)과 제 2 IGZO 박막(134)의 특성, 예를 들어 이동도, 전기 전도도 등을 조절할 수 있다. 이러한 제 1 IGZO 박막(132)은 5∼50Å의 두께로 형성할 수 있고, 제 2 IGZO 박막(134)은 200∼300Å의 두께로 형성할 수 있다. 한편, 제 1 및 제 2 IGZO 박막(132, 134)는 서로 다른 방법으로 형성될 수 있는데, 예를 들어 제 1 IGZO 박막(132)은 ALD 공정으로 형성하고, 제 2 IGZO 박막(134)은 CVD 공정으로 형성할 수 있다. 제 2 IGZO 박막(134)을 형성할 수 있다. 제 1 IGZO 박막(132)을 형성하기 위한 ALD 공정의 산화 소오스로는 산소를 포함하는 물질을 이용할 수 있으나, TMGa는 산소(O2)와 반응성이 떨어지므로 오존(O3)을 이용하는 것이 바람직하고, 산소(O2)를 이용하는 경우에는 플라즈마 상태로 여기시켜 이용할 수 있다. 산소 뿐만 아니라 N2O, CO2도 플라즈마 상태로 여기시켜 이용할 수 있다. 또한, 제 2 IGZO 박막(134)를 형성하기 위한 CVD 공정의 산화 소오스로는 산소, 오존, 수증기 및 산소의 혼합, 수증기 및 오존의 혼합, 산소 플라즈마 등을 이용할 수 있는데, 수증기 및 산소의 혼합, 수증기 및 오존의 혼합을 이용하는 것이 가장 바람직하다.
The first IGZO thin film 132 adjacent to the gate insulating film 120 is superior in film quality and interface characteristics to the second IGZO thin film 134 on the upper side thereof, . Here, since the first IGZO thin film 132 has excellent film quality and interfacial characteristics, it can be used as a front channel that is important for channel formation. That is, when a positive (+) voltage is applied to the gate electrode 110, (-) charges are accumulated in a portion of the active layer 130 above the gate insulating layer 120 to form a front channel. As the current flows through the front channel well The mobility is excellent. In addition, the second IGZO thin film 134 may be used as a back channel by forming the first IGZO thin film 134 in a composition ratio different from that of the first IGZO thin film 132. That is, when a negative voltage is applied to the gate electrode 110, the negative electric charge is accumulated in the active layer 130 under the source electrode 140a and the drain electrode 140b. Therefore, the back channel forms a second IGZO thin film 134 so that the composition can prevent charge transfer, that is, the conductivity is lower than that of the first IGZO thin film 132 serving as a front channel. For this, the inflow amount of at least one of the indium source, the gallium source and the zinc source can be adjusted to be different from that of the first IGZO thin film 132, and the inflow amount of the oxidizing source can also be adjusted. For example, indium of the second IGZO thin film 134 may be made smaller than that of the first IGZO thin film 132, and gallium of the second IGZO thin film 134 may be made larger than that of the first IGZO thin film 132. Thus, the characteristics of the first IGZO thin film 132 and the second IGZO thin film 134, for example, mobility and electric conductivity can be controlled. The first IGZO thin film 132 may be formed to a thickness of 5 to 50 ANGSTROM and the second IGZO thin film 134 may be formed to a thickness of 200 ANGSTROM to 300 ANGSTROM. For example, the first IGZO thin film 132 may be formed by an ALD process, the second IGZO thin film 132 may be formed by a CVD (Chemical Vapor Deposition) process, and the second IGZO thin film may be formed by CVD . The second IGZO thin film 134 can be formed. As an oxidizing source in the ALD process for forming the first IGZO thin film 132, a material containing oxygen may be used, but since TMGa is inferior in reactivity with oxygen (O 2 ), it is preferable to use ozone (O 3 ) , And oxygen (O 2 ) are used, they can be excited into a plasma state. Not only oxygen but also N 2 O and CO 2 can be excited into a plasma state. As the oxidizing source for the CVD process for forming the second IGZO thin film 134, a mixture of oxygen, ozone, steam, and oxygen, a mixture of water vapor and ozone, and oxygen plasma may be used. It is most preferred to use a mixture of water vapor and ozone.

상기한 바와 같이 본 발명의 다른 실시 예에 따른 박막 트랜지스터는 활성층(130)을 IGZO 박막을 이용하여 형성하며, ALD 공정 및 CVD 공정으로 제 1 및 제 2 IGZO 박막(132, 134)의 적층 구조로 형성할 수 있다. 이때, 제 1 및 제 2 IGZO 박막(132, 134)의 조성을 소오스의 유입량 등으로 조절할 수 있어 조성이 다른 다층 구조의 박막을 형성할 수 있다. 또한, 제 1 IGZO 박막(132)을 막질이 우수한 ALD 공정으로 형성하여 프론트 채널로 이용할 수 있어 이동도가 우수하고, 전기 전도도가 우수한 고속 소자를 구현할 수 있으며, 제 2 IGZO 박막(134)을 고속 증착이 가능한 CVD 공정으로 형성함으로써 ALD 공정의 단점인 생산성 저하를 보완할 수 있다.
As described above, in the thin film transistor according to another embodiment of the present invention, the active layer 130 is formed using the IGZO thin film, and the first and second IGZO thin films 132 and 134 are stacked by the ALD process and the CVD process . At this time, the compositions of the first and second IGZO thin films 132 and 134 can be controlled by the inflow amount of the source and the like, and thus a thin film having a multilayer structure having different compositions can be formed. In addition, the first IGZO thin film 132 can be formed as an ALD process with excellent film quality and can be used as a front channel, thereby realizing a high-speed device having excellent mobility and excellent electric conductivity, It is possible to compensate for the deterioration in productivity, which is a disadvantage of the ALD process.

도 6 내지 도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 박막 트랜지스터의 제조 방법을 설명하기 위해 순서적으로 도시한 단면도이다. 또한, 도 13 및 도 14는 산소 플라즈마 처리를 실시하지 않은 알루미늄 옥사이드와 산소 플라즈마 처리를 실시한 알루미늄 옥사이드의 산소 및 알루미늄 분포를 도시한 것이다.6 to 12 are sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing a thin film transistor according to an embodiment of the present invention. 13 and 14 show oxygen and aluminum distributions of aluminum oxide not subjected to oxygen plasma treatment and aluminum oxide subjected to oxygen plasma treatment.

도 6을 참조하면, 기판(100) 상의 소정 영역에 게이트 전극(110)을 형성한 후 게이트 전극(110)을 포함한 전체 상부에 게이트 절연막(120)을 형성한다. 게이트 전극(110)을 형성하기 위해 예를 들어 CVD를 이용하여 기판(100) 상에 제 1 도전층을 형성한 후 소정의 마스크를 이용한 사진 및 식각 공정으로 제 1 도전층을 패터닝한다. 여기서, 제 1 도전층은 금속, 금속 합금, 금속 산화물, 투명 도전막 또는 이들의 화합물 중 어느 하나를 이용할 수 있다. 또한, 제 1 도전층은 도전 특성과 저항 특성을 고려하여 복수의 층으로 형성할 수도 있다. 그리고, 게이트 절연막(120)은 게이트 전극(110)을 포함한 전체 상부에 형성될 수 있으며, 산화물 및/또는 질화물을 포함하는 무기 절연 물질 또는 유기 절연 물질을 이용하여 형성할 수도 있다.Referring to FIG. 6, a gate electrode 110 is formed on a predetermined region of the substrate 100, and a gate insulating layer 120 is formed on the entire surface including the gate electrode 110. A first conductive layer is formed on the substrate 100 by using CVD, for example, to form the gate electrode 110, and then the first conductive layer is patterned by photolithography and etching using a predetermined mask. Here, the first conductive layer may be formed of a metal, a metal alloy, a metal oxide, a transparent conductive film, or a compound thereof. Also, the first conductive layer may be formed of a plurality of layers in consideration of the conductive characteristic and the resistance characteristic. The gate insulating layer 120 may be formed on the entire upper surface including the gate electrode 110, or may be formed using an inorganic insulating material or an organic insulating material containing an oxide and / or a nitride.

도 7을 참조하면, 기판(100) 상에 금속 산화물 박막(130a)을 형성한다. 금속 산화물 박막(130a)을 형성하기 위해 기판(100)이 약 300℃ 이하, 예를 들어 100∼300℃의 온도를 유지하도록 한 후 게이트 절연막(120)을 포함한 전체 상부에 금속 산화물 박막(130a)을 형성한다. 여기서, 금속 산화물 박막(130a)은 ALD 공정, CVD 공정 등을 이용하여 IGZO 박막, ITZO 박막 등으로 형성할 수다. 예를 들어, IGZO 박막을 ALD 공정으로 형성하는 경우 인듐 소오스, 갈륨 소오스 및 징크 소오스를 동시에 반응 챔버 내에 공급하여 기판(100) 상에 흡착시킨 후 퍼지 가스를 이용하여 미흡착 원료 가스를 퍼지하고, 산화 소오스를 반응 챔버 내에 공급하여 기판(100) 상에서 반응시켜 단일 원자층의 IGZO 박막을 형성한 후 퍼지 가스를 이용하여 미반응 반응 가스를 퍼지할 수 있다. 여기서, 인듐 소오스, 갈륨 소오스 및 징크 소오스는 징크 소오스를 기준으로 예를 들어 3∼10:1∼5:1의 비율로 공급할 수 있는데, 예를 들어 150∼200sccm, 50∼100sccm, 20∼50sccm의 양으로 공급할 수 있다. 이러한 사이클을 반복하여 복수의 단일 원자층이 적층된 금속 산화물 박막(130a)을 형성한다. 여기서, ALD 공정의 산화 소오스로는 산소를 포함하는 물질을 이용할 수 있으나, 오존(O3)을 이용하는 것이 바람직하고, 산소(O2), N2O, CO2를 플라즈마 상태로 여기시켜 이용할 수 있다. 또한, 금속 산화물 박막(130a)의 일부는 ALD 공정으로 형성하고, 나머지는 CVD 공정으로 형성할 수도 있다. 이를 위해 예를 들어 IGZO 박막을 CVD 공정으로 형성하는 경우 인듐 소오스, 갈륨 소오스, 징크 소오스 및 산화 소오스를 반응 챔버 내에 동시에 유입한다. 여기서, 인듐 소오스, 갈륨 소오스 및 징크 소오스는 징크 소오스를 기준으로 예를 들어 3∼10:1∼5:1의 비율로 공급할 수 있는데, 예를 들어 150∼200sccm, 50∼100sccm, 20∼50sccm의 양으로 공급할 수 있다.또한, CVD 공정의 산화 소오스로는 산소, 오존, 수증기 및 산소의 혼합, 수증기 및 오존의 혼합, 산소 플라즈마 등을 이용할 수 있는데, 수증기 및 산소의 혼합, 수증기 및 오존의 혼합을 이용하는 것이 가장 바람직하다. 한편, 금속 산화물 박막(130a)을 서로 다른 증착 방식으로 이층 구조로 형성하는 경우 조성비를 다르게 하여 형성할 수 있는데, 소오스 물질의 적어도 어느 하나의 유입량을 일층의 금속 산화물 박막(132)보다 많거나 적게 조절하여 유입할 수 있고, 산화 소오스의 유입량 또한 조절하여 유입할 수 있다. 이렇게 하면 일층의 금속 산화물 박막에 비하여 타층의 금속 산화물 박막의 특성, 예를 들어 이동도, 전기 전도도 등을 조절할 수 있다.Referring to FIG. 7, a metal oxide thin film 130a is formed on a substrate 100. FIG. The substrate 100 is maintained at a temperature of about 300 DEG C or less, for example, 100 to 300 DEG C to form the metal oxide thin film 130a, and then the metal oxide thin film 130a is formed on the entire upper surface including the gate insulating film 120, . Here, the metal oxide thin film 130a may be formed of an IGZO thin film, an ITZO thin film, or the like using an ALD process, a CVD process, or the like. For example, when an IGZO thin film is formed by an ALD process, an indium source, a gallium source, and a zinc source are simultaneously supplied into a reaction chamber to be adsorbed on a substrate 100, followed by purging the unadsorbed source gas using a purge gas, An oxidizing source may be supplied into the reaction chamber and reacted on the substrate 100 to form an IGZO thin film of a single atomic layer, and then the unreacted reaction gas may be purged using a purge gas. Here, the indium source, gallium source and zinc source may be supplied at a ratio of, for example, 3 to 10: 1 to 5: 1 based on the zinc source, for example, 150 to 200 sccm, 50 to 100 sccm, 20 to 50 sccm Can be supplied. This cycle is repeated to form a metal oxide thin film 130a in which a plurality of single atomic layers are stacked. Here, ALD oxide as the source of the process, but can take advantage of a material comprising oxygen, ozone (O 3) the use is preferred, and can be used to excite the oxygen (O 2), N 2 O , CO 2 into a plasma state have. In addition, a part of the metal oxide thin film 130a may be formed by an ALD process and the remainder may be formed by a CVD process. For this purpose, for example, when an IGZO thin film is formed by a CVD process, an indium source, a gallium source, a zinc source and an oxidizing source simultaneously flow into the reaction chamber. Here, the indium source, gallium source and zinc source may be supplied at a ratio of, for example, 3 to 10: 1 to 5: 1 based on the zinc source, for example, 150 to 200 sccm, 50 to 100 sccm, 20 to 50 sccm As the oxidizing source in the CVD process, it is possible to use a mixture of oxygen, ozone, steam and oxygen, a mixture of water vapor and ozone, and an oxygen plasma. The mixture of steam and oxygen, the mixture of steam and ozone Is most preferably used. When the metal oxide thin film 130a is formed in a two-layer structure by different deposition methods, the composition ratio may be different. At least one of the source materials may be supplied with a larger or smaller amount of the metal oxide thin film 132 than the one- And the inflow amount of the oxidizing source can also be controlled. By doing so, the characteristics of the metal oxide thin film of other layers, such as mobility and electrical conductivity, can be controlled as compared with the metal oxide thin film of the first layer.

도 8을 참조하면, 금속 산화물 박막(130a) 상에 제 1 보호막(140a)을 형성한다. 제 1 보호막(140a)은 산소의 침투를 방지하고 금속 산화물 박막(130a)과 식각 선택비가 차이나는 물질로 형성할 수 있는데, 실리콘 옥사이드, 실리콘 옥시나이트라이드, 알루미늄 옥사이드 등의 절연막을 이용할 수 있다. 제 1 보호막(140a)은 예를 들어 알루미늄 옥사이드를 이용하여 형성할 수 있고, 150Å∼300Å의 두께로 형성할 수 있다. 알루미늄 옥사이드를 제 1 보호막(140a)으로 형성함으로써 박막 트랜지스터의 오프 커런트를 낮출 수 있고, 문턱 전압을 증가시킬 수 있다. 또한, 제 1 보호막(140a)은 ALD 공정으로 형성함으로써 막질을 치밀하게 형성할 수 있다.Referring to FIG. 8, a first protective film 140a is formed on the metal oxide thin film 130a. The first passivation layer 140a may be formed of a material having a different etching selectivity from the metal oxide thin layer 130a to prevent penetration of oxygen. An insulating layer such as silicon oxide, silicon oxynitride, or aluminum oxide may be used. The first passivation layer 140a may be formed using, for example, aluminum oxide, and may have a thickness of 150 to 300 ANGSTROM. By forming aluminum oxide as the first protective film 140a, the off-current of the thin film transistor can be lowered and the threshold voltage can be increased. In addition, the first protective film 140a can be formed by an ALD process to densely form the film quality.

도 9를 참조하면, 제 1 보호막(140a)에 산소 플라즈마 처리를 실시하여 제 1 보호막(140a)을 산소 리치 상태로 만든다. 여기서, 제 1 보호막(140a)의 산소/알루미늄의 비가 1.4 내지 2.0이 되도록 산소 플라즈마 처리를 실시한다. 제 1 보호막(140a)을 산소 리치 상태로 형성하기 위한 산소 플라즈마 처리는 기판(100)의 사이즈, 제 1 보호막(140a)의 두께 및 재질 등에 따라 플라즈마 처리 조건, 예를 들어 온도, 압력, 시간 및 플라즈마 파워 등을 조절하여 실시할 수 있다. 그런데, 플라즈마 처리 시간이 적으면 제 1 보호막(140a)의 산소 함량을 충분히 증가시키지 못해 박막 트랜지스터의 스위칭 특성을 유지하지 못할 수 있고, 플라즈마 처리 시간이 과도하게 증가하면 공정 시간 증가에 따른 문제 및 하측의 금속 산화물 박막(130a)에 데미지가 발생할 수 있다. 또한, 플라즈마 파워가 증가하면 제 1 보호막(140a)에 데미지가 발생할 뿐만 아니라 그 하측의 금속 산화물 박막(130a)에 데미지가 발생될 수 있으며, 압력이 높아지면 오프 커런트가 증가하게 된다. 따라서, 박막 트랜지스터의 조건을 고려하여 예를 들어 30초∼660초의 시간, 1Torr∼5Torr의 압력, 200℃∼400℃의 온도, 100W∼5000W의 플라즈마 파워의 조건에서 플라즈마 처리를 실시할 수 있다. 한편, 산소 이외에 오존 플라즈마 처리를 실시할 수 있다. Referring to FIG. 9, the first protective film 140a is subjected to an oxygen plasma treatment so that the first protective film 140a is in an oxygen rich state. Here, the oxygen plasma treatment is performed so that the oxygen / aluminum ratio of the first protective film 140a is 1.4 to 2.0. The oxygen plasma treatment for forming the first protective film 140a in an oxygen rich state may be performed in accordance with plasma processing conditions such as temperature, pressure, time, and the like depending on the size of the substrate 100, the thickness and the material of the first protective film 140a, Plasma power, and the like. However, if the plasma processing time is short, the oxygen content of the first protective film 140a can not be sufficiently increased and the switching characteristics of the thin film transistor may not be maintained. If the plasma processing time is excessively increased, The metal oxide thin film 130a may be damaged. In addition, if the plasma power is increased, the first protective film 140a may be damaged, and the lower metal oxide thin film 130a may be damaged. If the pressure is increased, the off-current is increased. Therefore, in consideration of the conditions of the thin film transistor, the plasma treatment can be carried out under the conditions of, for example, a time of 30 seconds to 660 seconds, a pressure of 1 Torr to 5 Torr, a temperature of 200 to 400 占 폚 and a plasma power of 100 W to 5000 W. On the other hand, ozone plasma treatment can be performed in addition to oxygen.

도 10을 참조하면, 제 1 보호막(140a) 상에 제 2 보호막(140b)을 형성한다. 그런데, 제 1 보호막(140a)에 산소 플라즈마를 실시함으로써 제 1 보호막(140a)의 모폴로지가 개선되고 그에 따라 제 2 보호막(140b)의 접착력을 향상시킬 수 있다. 또한, 제 1 보호막(140a)이 산소 리치 상태로 형성됨으로써 제 2 보호막(140b)을 형성할 때 금속 산화물 박막(130a)의 산소가 제 1 보호막(140a)으로 확산되지 않기 때문에 금속 산화물 박막(130a)의 도체화를 방지할 수 있다. 한편, 제 2 보호막(140b)은 실리콘 옥사이드, 실리콘 옥시나이트라이드, 알루미늄 옥사이드 등의 절연막을 이용하여 형성한다. 여기서, 제 2 보호막(140b)은 제 1 보호막(140a)과 동일 물질로 형성할 수도 있고, 다른 물질로 형성할 수도 있다. 예를 들어, 제 2 보호막(140b)은 실리콘 옥사이드를 이용하여 형성할 수 있다. 또한, 제 2 보호막(140b)은 플라즈마를 이용한 CVD 방법으로 형성할 수 있고, 예를 들어 900Å∼1200Å의 두께로 형성할 수 있다.Referring to FIG. 10, a second passivation layer 140b is formed on the first passivation layer 140a. By applying oxygen plasma to the first protective film 140a, the morphology of the first protective film 140a can be improved and the adhesion of the second protective film 140b can be improved accordingly. When the second protective film 140b is formed by forming the first protective film 140a in an oxygen rich state, oxygen in the metal oxide thin film 130a is not diffused into the first protective film 140a. Therefore, the metal oxide thin film 130a Can be prevented from becoming conductive. On the other hand, the second protective film 140b is formed using an insulating film such as silicon oxide, silicon oxynitride, or aluminum oxide. Here, the second protective layer 140b may be formed of the same material as the first protective layer 140a or may be formed of another material. For example, the second protective film 140b may be formed using silicon oxide. The second protective film 140b may be formed by a CVD method using plasma, and may be formed to a thickness of, for example, 900 Å to 1200 Å.

도 11을 참조하면, 제 1 및 제 2 보호막(140a, 140b)의 소정 영역을 식각하여 패터닝하는데, 보호막(140)은 이후 소오스 전극 및 드레인 전극이 이격되는 영역에 잔류하도록 패터닝한다. 즉, 보호막(140) 소오스 전극 및 드레인 전극과 일부 중첩되도록 패터닝한다. 한편, 보호막(140)을 패터닝하기 이전에 어닐링 공정을 실시할 수도 있다. 어닐링 공정은 보호막(140) 증착 후 오프 커런트가 변화될 수 있는데, 이를 보상하기 위해 실시할 수 있다. 여기서, 어닐링 공정은 산소 또는 오존을 이용하여 진공 상태에서 실시할 수 있다. 즉, 어닐링 공정은 대기압(760Torr) 보다 낮은 압력에서 실시할 수 있으며, 보다 바람직하게는 0.1Torr 내지 10Torr에서 실시할 수 있다. 이때, 공정 온도는 200∼450℃로 유지하고, 공정 시간은 요구되는 소자 특성에 따라 1분 내지 30분까지 다양하게 처리할 수 있다.Referring to FIG. 11, a predetermined region of the first and second protective films 140a and 140b is etched and patterned. The protective film 140 is patterned so as to remain in a region where the source electrode and the drain electrode are spaced apart. That is, the protective film 140 is patterned to partially overlap the source electrode and the drain electrode. Meanwhile, the annealing process may be performed before the protective film 140 is patterned. The annealing process may be performed to compensate for off-current change after deposition of the protective film 140. [ Here, the annealing process can be performed in a vacuum state using oxygen or ozone. That is, the annealing process can be performed at a pressure lower than the atmospheric pressure (760 Torr), more preferably 0.1 Torr to 10 Torr. At this time, the process temperature is maintained at 200 to 450 占 폚, and the process time can be variously varied from 1 minute to 30 minutes depending on the required device characteristics.

도 12를 참조하면, 금속 산화물 박막(130a)을 게이트 전극(110)을 덮도록 패터닝하여 활성층(130)을 형성한다. 이어서, 활성층(130) 상부에 제 2 도전층을 형성한 후 소정의 마스크를 이용한 사진 및 식각 공정으로 패터닝하여 소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)을 형성한다. 소오스 전극(150a) 및 드레인 전극(150b)은 게이트 전극(110)의 상부와 일부 중첩되고, 게이트 전극(110)의 상부에서 이격되도록 형성된다. 이때, 식각 공정은 보호막(140)이 노출되도록 식각한다. 여기서, 제 2 도전층은 금속, 금속 합금, 금속 산화물, 투명 도전막 또는 이들의 화합물 중 어느 하나를 CVD를 이용하여 형성할 수 있다. 또한, 제 2 도전층은 도전 특성과 저항 특성을 고려하여 복수의 층으로 형성할 수도 있다.Referring to FIG. 12, the active layer 130 is formed by patterning the metal oxide thin film 130a to cover the gate electrode 110. FIG. Next, a second conductive layer is formed on the active layer 130, and then patterned by a photolithography and etching process using a predetermined mask to form a source electrode 150a and a drain electrode 150b. The source electrode 150a and the drain electrode 150b overlap with the upper portion of the gate electrode 110 and are spaced apart from the upper portion of the gate electrode 110. [ At this time, the etching process is performed so that the protective film 140 is exposed. Here, the second conductive layer may be formed using a metal, a metal alloy, a metal oxide, a transparent conductive film, or a compound thereof by CVD. Further, the second conductive layer may be formed of a plurality of layers in consideration of the conductive characteristic and the resistance characteristic.

한편, 상기 실시 예는 게이트 전극(110)용 제 1 도전층, 게이트 절연막(120), 소오스/드레인 전극(150a 및 150b)용 제 2 도전층은 CVD 방식으로 형성하였으나, 물리적 증착법(Physical Vapor Deposition; PVD)으로도 형성할 수도 있다. 즉, 스퍼터링, 진공 증착법 또는 이온 플레이팅법(ion plating)으로 박막을 형성할 수 있다. 이때, 스퍼터링에 의해 상기 막들을 형성하는 경우 소정의 마스크를 이용하는 사진 및 식각 공정을 이용하지 않고, 스퍼터링 마스크(즉, 쉐도우 마스크)를 이용한 스퍼터링 공정을 통해 상기 구조물들을 형성할 수 있다. 또한, CVD 또는 PVD 이외의 다양한 코팅 방법, 즉 미세 입자가 분산된 콜로이드 용액이나, 전구체로 이루어진 솔-젤로 구성된 액상을 이용하여 스핀 코팅, 딥 코팅, 나노 임프린팅 등의 임프린팅, 스탬핑, 프린팅, 트랜스퍼 프린팅 등으로 코팅할 수도 있다. 또한, 원자층 증착 및 펄스 레이저 증착(Pulsed Laser Deposition; PLD)법으로 형성될 수 있다.
In the above embodiment, the first conductive layer for the gate electrode 110, the gate insulating layer 120, and the second conductive layer for the source / drain electrodes 150a and 150b are formed by CVD. However, the physical vapor deposition method ; PVD). That is, the thin film can be formed by sputtering, vacuum evaporation, or ion plating. At this time, in the case of forming the films by sputtering, the structures can be formed through a sputtering process using a sputtering mask (i.e., a shadow mask) without using a photolithography process and an etching process using a predetermined mask. In addition, various coating methods other than CVD or PVD, that is, impregnation such as spin coating, dip coating, and nanoimprinting using a liquid phase composed of a colloid solution in which fine particles are dispersed or a sol-gel composed of a precursor, Transfer printing or the like. It may also be formed by atomic layer deposition and Pulsed Laser Deposition (PLD).

도 13은 제 1 보호막(140a)으로 형성한 알루미늄 옥사이드의 깊이 방향의 두께에 따른 산소와 알루미늄의 분포를 도시한 것이고, 도 14는 산소 플라즈마 처리를 실시한 후 알루미늄 옥사이드의 깊이 방향의 두께에 따른 산소와 알루미늄의 분포를 도시한 것이다. 도 13에 도시된 바와 같이 산소 플라즈마 처리를 실시하기 이전의 알루미늄 옥사이드는 산소/알루미늄의 비가 1.24 정도이다. 즉, 알루미늄 옥사이드는 산소가 약 54.46% 함유되고 알루미늄이 약 43.91% 함유된다. 그러나, 도 14에 도시된 바와 같이 산소 플라즈마 처리를 실시하여 산소 리치 상태로 만든 알루미늄 옥사이드는 산소/알루미늄의 비가 1.41 내지 1.61임을 알 수 있다. 즉, 산소가 약 57.17% 내지 약 59.48% 함유되고, 알루미늄이 약 36.90% 내지 40.66% 함유된다. 이때, 알루미늄 옥사이드의 상부 표면은 산소 농도가 높고 하측으로 내려갈수록 산소 농도가 낮아진다. 즉, 알루미늄 옥사이드의 상부 표면의 산소 농도는 약 59.48%이고 알루미늄 농도는 약 36.90%이며, 금속 산화물 박막과 접하는 알루미늄 옥사이드의 하측의 산소 농도는 약 57.17%이고 알루미늄 농도는 약 40.66%이다. 그러나, 산소 플라즈마 처리를 실시한 본 발명의 알루미늄 옥사이드는 산소 플라즈마 처리를 실시하지 않은 알루미늄 옥사이드에 비해 산소 농도가 높다. 따라서, 금속 산화물 박막의 산소가 제 1 보호막으로 확산되는 것을 방지할 수 있고, 그에 따라 금속 산화물 박막의 도체화를 방지할 수 있다.
FIG. 13 shows the distribution of oxygen and aluminum according to the thickness in the depth direction of aluminum oxide formed by the first protective film 140a. FIG. 14 shows the distribution of oxygen and aluminum in the depth direction of aluminum oxide after oxygen plasma treatment. And the distribution of aluminum. As shown in Fig. 13, the aluminum oxide before the oxygen plasma treatment has an oxygen / aluminum ratio of about 1.24. That is, aluminum oxide contains about 54.46% of oxygen and about 43.91% of aluminum. However, as shown in FIG. 14, it can be seen that the ratio of oxygen / aluminum is 1.41 to 1.61 in the aluminum oxide made into the oxygen-rich state by the oxygen plasma treatment. That is, about 57.17% to about 59.48% oxygen is contained, and about 36.90% to about 40.66% aluminum is contained. At this time, the upper surface of the aluminum oxide has a higher oxygen concentration and the lower the oxygen concentration, the lower the oxygen concentration. That is, the oxygen concentration on the upper surface of the aluminum oxide is about 59.48%, the aluminum concentration is about 36.90%, and the lower oxygen concentration of the aluminum oxide in contact with the metal oxide thin film is about 57.17% and the aluminum concentration is about 40.66%. However, the aluminum oxide of the present invention subjected to the oxygen plasma treatment has a higher oxygen concentration than that of the aluminum oxide not subjected to the oxygen plasma treatment. Therefore, oxygen in the metal oxide thin film can be prevented from diffusing into the first protective film, and consequently, the metal oxide thin film can be prevented from becoming conductive.

상기와 같은 본 발명의 실시 예들에 따른 박막 트랜지스터는 액정 표시 장치, 유기 EL 표시 장치 등의 표시 장치에서 화소를 구동하는 구동 회로로 이용될 수 있다. 즉, 복수의 픽셀이 매트릭스 형상으로 배치되는 표시 패널에서 각 픽셀 내에 박막 트랜지스터가 형성되고, 박막 트랜지스터를 통해 픽셀이 선택되어 선택된 픽셀에 화상 표시를 위한 데이터가 전달된다.
The thin film transistor according to embodiments of the present invention can be used as a driving circuit for driving a pixel in a display device such as a liquid crystal display device or an organic EL display device. That is, a thin film transistor is formed in each pixel in a display panel in which a plurality of pixels are arranged in a matrix shape, and a pixel is selected through the thin film transistor and data for image display is transmitted to the selected pixel.

한편, 본 발명의 기술적 사상은 상기 실시 예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기 실시 예는 그 설명을 위한 것이며, 그 제한을 위한 것이 아님을 주지해야 한다. 또한, 본 발명의 기술분야에서 당업자는 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시 예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the invention.

100 : 기판 110 : 게이트 전극
120 : 게아트 절연막 130 : 활성층
140 : 보호막 150a 및 150b : 소오스 및 드레인 전극
140a : 제 1 보호막 140b : 제 2 보호막100: substrate 110: gate electrode
120: Gae art insulating film 130:
140: protective films 150a and 150b: source and drain electrodes
140a: first protective film 140b: second protective film

Claims (14)

게이트 전극;
상기 게이트 전극과 상하 방향으로 이격되고, 수평 방향으로 서로 이격된 소오스 전극 및 드레인 전극;
상기 게이트 전극과 상기 소오스 전극 및 드레인 전극 사이에 형성된 게이트 절연막;
상기 게이트 절연막과 상기 소오스 전극 및 드레인 전극 사이에 형성된 활성층; 및
상기 소오스 전극 및 드레인 전극 사이의 상기 활성층 상에 형성된 보호막을 포함하며,
상기 보호막은 적어도 이중 구조로 형성되며, 상기 활성층에 접하는 제 1 보호막이 산소 플라즈마 처리된 박막 트랜지스터.
A gate electrode;
Source and drain electrodes spaced vertically from the gate electrode and spaced apart from each other in the horizontal direction;
A gate insulating film formed between the gate electrode and the source electrode and the drain electrode;
An active layer formed between the gate insulating layer and the source and drain electrodes; And
And a protective film formed on the active layer between the source electrode and the drain electrode,
Wherein the protective film is formed at least of a double structure, and the first protective film in contact with the active layer is subjected to oxygen plasma treatment.
청구항 1에 있어서, 상기 활성층은 3족 또는 4족 원소가 도핑된 산화아연 박막으로 형성된 박막 트랜지스터.
The thin film transistor of claim 1, wherein the active layer is formed of a zinc oxide thin film doped with Group 3 or Group 4 elements.
청구항 2에 있어서, 상기 제 1 보호막은 상기 활성층의 산소 확산을 방지하는 산소 농도를 갖는 박막 트랜지스터.
The thin film transistor of claim 2, wherein the first protective film has an oxygen concentration that prevents diffusion of oxygen in the active layer.
청구항 3에 있어서, 상기 제 1 보호막은 산소가 다른 함유물에 비해 40% 이상 더 함유된 박막 트랜지스터.
4. The thin film transistor according to claim 3, wherein the first protective film contains oxygen by more than 40% as compared with other contents.
청구항 3에 있어서, 상기 보호막은 알루미늄 옥사이드 및 실리콘 옥사이드의 이중 구조로 형성되며, 상기 알루미늄 옥사이드가 산소 플라즈마 처리된 박막 트랜지스터.
The thin film transistor according to claim 3, wherein the protective film is formed of a double structure of aluminum oxide and silicon oxide, and the aluminum oxide is subjected to an oxygen plasma treatment.
청구항 5에 있어서, 상기 알루미늄 옥사이드는 산소/알루미늄의 비가 1.4 내지 2.0인 박막 트랜지스터.
The thin film transistor according to claim 5, wherein the aluminum oxide has an oxygen / aluminum ratio of 1.4 to 2.0.
기판 상에 게이트 전극을 형성하고 그 상부에 게이트 절연막을 형성하는 단계;
상기 게이트 절연막 상에 활성층을 형성하는 단계;
상기 활성층 상에 적어도 이중 구조의 보호막을 형성하는 단계; 및
상기 활성층 상에 소오스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함하고,
상기 보호막은 상기 활성층에 접하는 제 1 보호막을 산소 플라즈마 처리하여 형성하는 박막 트랜지스터의 제조 방법.
Forming a gate electrode on a substrate and forming a gate insulating film thereon;
Forming an active layer on the gate insulating layer;
Forming a protective film of at least a double structure on the active layer; And
And forming a source electrode and a drain electrode on the active layer,
Wherein the protective film is formed by oxygen plasma treatment of a first protective film in contact with the active layer.
청구항 7에 있어서, 상기 활성층은 3족 또는 4족 원소가 도핑된 산화아연 박막으로 형성하는 박막 트랜지스터의 제조 방법.
8. The method of claim 7, wherein the active layer is formed of a zinc oxide thin film doped with Group 3 or Group 4 elements.
청구항 8에 있어서, 상기 제 1 보호막은 상기 활성층의 산소 확산을 방지하는 산소 농도로 형성하는 박막 트랜지스터의 제조 방법.
9. The method of claim 8, wherein the first passivation layer is formed with an oxygen concentration that prevents oxygen diffusion in the active layer.
청구항 9에 있어서, 상기 제 1 보호막은 산소가 다른 함유물에 비해 40% 이상 더 함유된 박막 트랜지스터의 제조 방법.
[12] The method of claim 9, wherein the first protective film contains oxygen in an amount of 40% or more as compared with other contents.
청구항 10에 있어서, 상기 제 1 보호막은 알루미늄 옥사이드를 포함하며, 상기 알루미늄 옥사이드가 산소 플라즈마 처리된 박막 트랜지스터의 제조 방법.
11. The method of claim 10, wherein the first passivation layer comprises aluminum oxide, and the aluminum oxide is subjected to an oxygen plasma treatment.
청구항 11에 있어서, 상기 알루미늄 옥사이드를 형성한 후 산소 포함 가스를 이용한 플라즈마 처리를 실시하고, 그 상부에 실리콘 옥사이드를 형성하는 박막 트랜지스터의 제조 방법.
12. The method of manufacturing a thin film transistor according to claim 11, wherein after the aluminum oxide is formed, a plasma treatment using an oxygen-containing gas is performed, and silicon oxide is formed thereon.
청구항 12에 있어서, 상기 플라즈마 처리에 의해 상기 알루미늄 옥사이드의 모폴로지가 개선되어 상기 실리콘 옥사이드의 접착력이 향상되는 박막 트랜지스터의 제조 방법.
13. The method of claim 12, wherein the plasma treatment improves the morphology of the aluminum oxide to improve the adhesion of the silicon oxide.
청구항 11에 있어서, 상기 알루미늄 옥사이드는 산소/알루미늄의 비가 1.4 내지 2.0인 박막 트랜지스터의 제조 방법.12. The method of claim 11, wherein the aluminum oxide has an oxygen / aluminum ratio of 1.4 to 2.0.
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KR20180118958A (en) * 2017-04-24 2018-11-01 주성엔지니어링(주) Thin film transistor and method for manufacturing the same
WO2024005610A1 (en) * 2022-06-30 2024-01-04 주식회사 에이치피에스피 Thin film transistor and method for manufacturing thin film transistor

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