KR20160016142A - 이미지 센서 및 이를 포함하는 촬상 장치 - Google Patents

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Abstract

실시예는 복수의 위상차 검출 화소 및 복수의 위상차 검출 화소와 함께 격자 패턴으로 배치된 복수의 이미지 검출 화소를 포함하며, 복수의 이미지 검출 화소는 격자 패턴에서 소정의 화소수 간격으로 상호 이격되어 배치되며, 소정의 화소수의 최대값은 16인 이미지 센서를 제공하며, 위상차 검출 방식 AF(Auto Focus) 시스템에서 화질 저하가 없이 포커스 정확성을 높일 수 있다.

Description

이미지 센서 및 이를 포함하는 촬상 장치{IMAGE SENSOR AND IMAGE PICK-UP APPARATUS INCLUDING THE SAME}
실시예는 이미지 센서 및 이를 포함하는 촬상 장치에 관한 것이다.
카메라 등의 영상 획득 장치에서 고품질 영상 획득 기술에 대한 요구가 커짐에 따라, 자동 초점(AF, Auto Focus)시스템은 디지털 카메라, 렌즈 교환식 카메라뿐 아니라 핸드폰 또는 소형 모바일 기기용 카메라에도 적용이 확대되고 있다.
AF 시스템은 위상차 검출 방식의 AF 시스템 또는 콘트라스트 검출 방식의 AF 시스템이 주로 적용되고 있다.
콘트라스트 검출 방식의 AF 시스템은 이미지 센서에서의 화상 데이터 출력으로부터 고주파 데이터를 추출해, 이것이 극대가 되도록 AF 제어를 수행하는 방식이다. 콘트라스트 AF는 이를 위한 신호 처리 회로가 요구되지만, 별도의 센서나 광학계가 필요하지 않아 비교적 저렴하게 AF 시스템을 구축할 수 있는 장점이 있다. 그러나 위상차 검출 방식의 AF 시스템에 비하여 속도가 느리고 정밀도가 떨어지는 단점이 있다.
위상차 검출 방식의 AF 시스템은 촬상 렌즈를 통과하여 입사된 광을 동분할(Pupil Division)하여 한 쌍의 상(像)을 형성하고, 형성된 한 쌍의 상 사이의 간격인 위상차를 검출하여 촬상 렌즈의 위치를 결정하여 초점을 검출 하는 방식이다.
위상차 검출 방식의 AF 시스템의 경우 위상차 검출 AF 센서를 촬상 소자와 별도로 구비하는 경우와, 위상차 검출용 화소를 이미지 센서에 배치하는 방법이 있다.
이러한 위상차 검출 방식의 AF 시스템은 위상차 검출용 화소수가 많아질수록 포커스 정밀도가 높아지지만, 위상차 검출용 화소는 일반적인 이미지 검출용 화소에 비하여 개구부가 좁아 감도가 낮으므로, 위상차 검출용 화소수가 많아지면 화질이 저하되는 문제가 발생할 수 있다.
따라서, 위상차 검출 화소를 이용한 AF 시스템에서 화질의 저하가 없이 정확한 포커스 조정을 하기 위해서는 적절한 위상차 검출 화소의 배치를 필요로 한다.
위상차 검출용 화소를 포함하는 이미지 센서에 있어서 화질 저하가 없고 자동초점기능의 정확성을 가지는 위상차 검출용 화소의 배치를 가지는 이미지 센서 및 이를 이용한 촬상장치를 구현하고자 한다.
실시예는 복수의 위상차 검출 화소; 및 상기 복수의 위상차 검출 화소와 함께 격자 패턴으로 배치된 복수의 이미지 검출 화소; 를 포함하며, 상기 복수의 위상차 검출 화소는 상기 격자 패턴에서 소정의 화소수 간격으로 상호 이격되어 배치되며, 상기 소정의 화소수의 최대값은 16인 이미지 센서를 제공할 수 있다.
상기 격자 패턴은 적어도 하나의 격자 단위를 포함하며, 상기 적어도 하나의 격자 단위는 2행 2열로 배치될 수 있다.
상기 격자 단위는 제1 대각선 방향으로 서로 마주보는 두 개의 제1 및 제2 색 화소; 와 상기 제1 대각선 방향과 교차하는 제2 대각선 방향으로 서로 마주보는 두 개의 제3 및 제4 색 화소를 포함할 수 있다.
상기 복수의 위상차 검출 화소는 상기 제1 및 제2 색 화소 위치에 각각 배치될 수 있으며, 상기 제1 및 제2 색은 그린색일 수 있다.
상기 복수의 위상차 검출 화소는 일측에 편향된 쉴드 영역을 가지는 제1 그룹 화소; 및 타측에 편향된 쉴드 영역을 가지는 제2 그룹 화소; 를 포함할 수 있다.
상기 제1 그룹 화소는 16화소수 간격으로 상호 이격되어 배치되며, 상기 제1 그룹 화소와 상기 제2 그룹 화소는 2 내지 16 화소수 간격으로 상호 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 그룹 화소는 행 방향으로 일정 간격 이격되어 제1 배열라인으로 배치되고, 상기 제2 그룹 화소는 상기 행 방향으로 일정 간격 이격되어 제2 배열라인으로 배치되며, 상기 제1 배열라인과 상기 제2 배열라인은 열 방향으로 교차되어 배치될 수 있다.
상기 복수의 위상차 검출 화소의 분포 밀도는 상기 이미지 센서의 외곽부로 갈수록 커지는 것일 수 있다.
다른 실시예는 광 신호를 수신하는 광학부; 상기 광학부에서 수신된 광학 신호로부터 영상 정보를 생성하는 실시예에 따른 이미지 센서; 및 상기 영상 정보를 처리하는 영상처리부; 를 포함하는 촬상 장치를 제공할 수 있다.
상기 영상처리부는 상기 복수의 위상차 검출 화소의 상기 영상 정보를 상기 복수의 위상차 검출 화소를 둘러싼 상기 복수의 이미지 검출 화소의 영상 정보로 처리할 수 있다.
상기 복수의 이미지 검출 화소는 상기 복수의 위상차 검출 화소를 중심으로 한 7행 7열의 격자 패턴 내에 배치된 그린 화소일 수 있다.
실시예에 따른 이미지 센서에서 위상차 검출 화소 배치 간격을 최적화하여 이미지 복원율의 저하가 없이 자동초점(Auto Focus) 조정 정확성을 높일 수 있다.
도 1은 위상차 검출 화소의 일 실시예를 나타낸 도면이고,
도 2는 이미지 검출 화소의 배치를 나타낸 도면이고,
도 3은 이미지센서의 일 실시예를 나타낸 도면이고,
도 4는 위상차 검출 화소의 배치 간격에 따른 이미지 복원율과 위상차 정확성을 나타낸 도면이고,
도 5는 이미지 센서의 일 실시예를 나타낸 도면이고,
도 6은 이미지 센서의 일 실시예를 나타낸 도면이고,
도 7은 이미지 센서의 일 실시예를 나타낸 도면이고,
도 8은 일 실시예에 따른 촬상 장치의 블록도를 나타낸 도면이고,
도 9는 위상차 검출 화소의 영상 정보 처리에 이용되는 이미지 검출 화소 영역을 표시한 도면이고,
도 10은 도 9의 이미지 검출 화소의 영역 중 G화소만 표시하여 나타낸 도면이다.
이하 상기의 목적을 구체적으로 실현할 수 있는 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다.
이하에서 이용되는 제"1" 및 "제2", "상/상부/위" 및 "하/하부/아래" 등과 같은 관계적 용어들은 그런 실체 또는 요소들 간의 어떠한 물리적 또는 논리적 관계 또는 순서를 반드시 요구하거나 내포하지는 않으면서, 어느 한 실체 또는 요소를 다른 실체 또는 요소와 구별하기 위해서만 이용될 수도 있다.
도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.
도 1은 일 실시예의 위상차 검출 화소(10)의 평면도를 나타낸 도면이다.
위상차 검출 화소(10)는 화소의 개구부를 수직 방향으로 분할하여 구분된 영역 중 일부 영역이 차폐(10A-1, 10B-1)된 화소일 수 있다. 위상차 검출 화소(10)는 개구부 중 일부 영역이 차폐됨으로써 제한된 수광 영역을 가질 수 있다.
복수의 위상차 검출 화소(10)는 제한된 수광 영역(10A-1, 10B-1)의 배치에 따라 두 종류의 위상차 검출 화소(10A, 10B)를 포함할 수 있다.
이는 화소의 개구부 영역 중 일측에 편향된 쉴드 영역을 가지는 제1 그룹 화소(10A)와, 제1 그룹 화소(10A)와는 쉴드 영역이 서로 반대방향이며 화소의 개구부 영역 중 타측에 편향된 쉴드 영역을 가지는 제2 그룹 화소(10B)를 포함할 수 있다.
상술한 위상차 검출 화소인 제1 그룹 화소(10A)와 제2 그룹 화소(10B)로 각각 입력된 광학 신호로부터 생성된 한 쌍의 상에 대하여 위상차를 검출하여 AF 조정을 수행할 수 있다.
이하 도면을 통하여 이미지 센서(100)의 실시예를 설명하나, 이미지 센서의 화소수는 도면에 도시된 것에 한정되지 않으며, 이미지 센서에 포함되는 전체 화소수는 도면에 도시된 것보다 적거나 많을 수 있다.
도 2는 복수의 이미지 검출 화소(30)가 배치된 이미지 센서(100A)를 나타낸 도면이다.
이미지 검출 화소(30)는 컬러 화소일 수 있으며, 복수의 이미지 검출 화소(30)는 격자 단위를 이룰 수 있으며, 이러한 격자 단위가 반복되어 격자 패턴 형태로 배치될 수 있다. 이미지 검출 화소(30)가 컬러 화소인 경우 빨강(Red), 초록(Green), 파랑(Blue)을 포함할 수 있으나 컬러 화소는 제시된 컬러에 한정되지 않는다.
도 2에서 R, G, B로 도시된 부분은 각각 빨강(Red), 초록(Green), 파랑(Blue)을 나타낸다.
도 2를 참조하면 이미지 센서(100A)에서 이미지 검출 화소(30)는 2행 2열의 격자 단위(A)가 반복되어 격자 패턴을 이룰 수 있다.
격자 단위(A)를 구성하는 4개의 화소는 제1 대각선 방향으로 서로 마주보는 두 개의 제1 화소(30A) 및 제2 화소(30B)와 제1 대각선 방향과 교차하는 제2 대각선 방향으로 서로 마주보는 두 개의 제3 화소(30C) 및 제4 화소(30D)를 포함할 수 있다. 격자 단위(A)의 제1 및 제2 화소(30A, 30B)에는 G 화소가 배치되고, 나머지 2개의 화소인 제3 및 제4 화소(30C, 30D)에는 각각 R과 B 화소가 배치될 수 있다.
격자 단위(A)는 4개의 화소가 2행 2열로 배치된 베이어 배열(Bayer Arrangement)일 수 있다. 또한, 격자 패턴을 이루는 격자 단위(A)는 3행 3열 또는 4행 4열의 격자 단위일 수 있고, 이에 한정하지 않으며 본 발명은 다양한 실시예의 격자 단위(A)를 가질 수 있다.
위상차 검출 화소(10)는 격자 단위(A)의 제1 또는 제2 화소(30A, 30B) 위치에 배치될 수 있다. 예를 들어, 위상차 검출 화소(10)는 G 화소 위치에 배치될 수 있다.
격자 단위(A)를 포함하는 격자 패턴은 n행 m열의 격자 패턴을 이룰 수 있다. 이때, n과 m은 자연수이며, n과 m은 서로 동일하거나 다를 수 있다.
이미지 센서(100A)는 입력된 광신호를 전기적 신호로 변환하는 광전소자(Photoelectric Element)를 포함할 수 있다.
이미지 센서(100A)는 외부로부터 입력되어 전달된 광신호를 전기 신호로 변환하여 영상 정보를 출력할 수 있으며, 또한 입력된 아날로그 영상 신호로부터 디지털 데이터로 영상 정보를 변환할 수 있다. 컬러 화소를 포함하는 이미지 센서(100A)의 경우 입력된 광신호로부터 컬러 정보를 산출할 수 있다
도 3은 일 실시예의 이미지 센서(100B)를 나타낸 도면이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 실시예의 이미지 센서(100B)는 복수의 위상차 검출 화소(10) 및 복수의 위상차 검출 화소(10)와 함께 격자 패턴으로 배치된 복수의 이미지 검출 화소(30)를 포함할 수 있으며, 복수의 위상차 검출 화소(10)는 격자 패턴에서 소정의 화소수 간격으로 상호 이격되어 배치될 수 있으며, 소정의 화소수의 최대값은 16일 수 있다.
도 3의 실시예에서 서로 이격되어 배치되는 위상차 검출 화소(10)는 제1 그룹 화소(10A) 또는 제2 그룹 화소(10B) 중 어느 하나일 수 있다.
복수의 위상차 검출 화소(10)는 행 방향 또는 열 방향으로 상호 이격되어 배치될 수 있다. 즉, 이미지 센서의 격자 패턴에 배치된 하나의 제1 위상차 검출 화소를 기준으로 하여, 행 방향 또는 열 방향으로 16화소수 이격되어 제2 위상차 검출 화소가 배치될 수 있다.
제1 위상차 검출 화소가 제1 그룹 화소(10A)인 경우 이격되어 배치되는 제2 위상차 검출 화소는 제1 그룹 화소(10A) 또는 제2 그룹 화소(10B)일 수 있다.
복수의 위상차 검출 화소(10)가 최대 16화소수 간격으로 이격되어 배치될 경우, 이격된 두 개의 위상차 검출 화소(10) 사이에는 최대 15개의 이미지 검출 화소(30)가 배치될 수 있다.
예를 들어, 위상차 검출 화소(10)는 격자 패턴에서 행 방향으로 이격되어 배치될 수 있으며, 동일한 행에서 이격된 위상차 검출 화소(10) 사이에는 이미지 검출 화소(30)가 최대 15개 배치될 수 있다. 즉, 위상차 검출 화소가 n번째 행에서 수평 방향으로 m번째 화소에 배치될 때, 이격된 위상차 검출 화소는 동일한 행에서 (m+16)번째의 화소의 위치에 배치될 수 있다.
또한, 위상차 검출 화소(10)는 격자 패턴에서 열 방향으로 이격되어 배치될 수 있으며, 열 방향으로 이격된 위상차 검출 화소(10) 사이에는 이미지 검출 화소(30)가 최대 15개 배치될 수 있다. 즉, 위상차 검출 화소가 m번째 열에서 수직 방향으로 n번째 화소에 배치될 때, 이격된 위상차 검출 화소는 동일한 열에서 (n+16)번째의 화소의 위치에 배치될 수 있다.
실시예의 이미지 센서(100B)에서 이격된 위상차 검출 화소(10) 사이의 간격인 16 화소수는 이미지 복원율이 양호하며 포커스 검출 정확성이 높은 위상차 검출 화소(10)의 배치 간격일 수 있다.
도 4는 복수의 위상차 검출 화소(10) 사이의 이격된 화소수 간격과 이미지 복원율 또는 복수의 위상차 검출 화소(10) 사이의 이격된 화소수 간격과 위상차 정확성의 관계를 나타낸 그래프이다.
도 4에서 이미지 복원율은 실제의 이미지와 비교한 이미지 센서(100)에서 광전 변환되어 출력되는 영상의 재현율을 의미하며, 위상차 정확성은 위상차 검출 AF 시스템을 이용한 포커스 검출의 정확성을 의미한다.
도 4의 결과를 참조하면, 위상차 검출 화소(10) 사이의 이격된 간격이 커질수록 이미지 복원율은 좋아지며, 이에 반하여 위상차 검출 화소(10)의 이격된 간격이 커질수록 위상차 정확성은 저하되는 것을 확인할 수 있다.
즉, 이미지 센서(100)의 격자 패턴에서 위상차 검출 화소(10)가 배치된 간격이 커지게 되면, 제한된 이미지 센서(100)의 전체 화소수에서 상대적으로 이미지 검출 화소(30)의 수가 많아지게 되어 이미지 복원율은 좋아지게 되나, 이와 반대로 위상차 검출 화소(10)의 수가 줄어들게 되어 초점 검출용 영상 출력을 위한 정보가 제한되게 되므로 포커스 검출 정확성은 저하되게 된다.
또한, 이격되어 배치된 위상차 검출 화소(10) 사이에 배치된 화소수가 작아지게 되면 제한된 이미지 센서(100) 내에서 상대적으로 위상차 검출 화소(10)의 수가 많아지게 된다. 이 경우 위상차 검출 화소(10)는 제한된 수광 영역을 가지므로 광학 신호를 입력 받을 때 이미지 검출 화소(30)와 비교하여 제한된 광학 신호를 입력 받게 되며, 따라서 이미지 복원율이 저하되게 된다. 하지만, 상대적으로 이미지 센서(100) 내의 다수의 부분으로부터 위상차 값을 얻을 수 있어 포커스 검출 정확성은 개선될 수 있다.
도 4의 그래프를 참조할 때, 복수의 위상차 검출 화소(10) 사이의 이격된 화소수 간격이 10 내지 20 화소수인 경우, 이미지 복원율의 저하가 크지 않으며, 포커스 검출 정확성을 얻을 수 있다.
예를 들어, 위상차 검출 화소의 이격된 거리가 16 화소수 간격인 경우 이미지 복원율과 위상차 검출 정확성 모두 70% 정도로 양호한 값을 보이는 것을 확인할 수 있다.
따라서, 16화소수의 이격 간격에서 이미지 복원율 즉 화질과 위상차 정확성의 두 가지 요소 모두에 대하여 양호한 특성을 나타낼 수 있다. 또한, 위상차 검출 방식 AF 시스템을 이용하는 경우에 있어서, AF의 정확성을 위해서는 위상차 검출 화소(10) 사이의 간격은 최대 16화소수 이하이어야 한다.
이미지 센서(100) 내에서 위상차 검출 화소(10)는 격자 패턴 내에서 다양하게 배치될 수 있으며, 도 5 내지 도 7의 실시예의 이미지 센서(100C, 100D, 100E)에서는 격자 패턴에서 위상차 검출 화소(10)의 다양한 배치를 나타내고 있다.
이미지 센서(100)에서의 위상차 검출 화소(10)의 배치 간격은 필요로 하는 영상 정보에 따라 다르게 배치될 수 있다.
예를 들어, 촬영하는 영상 중 일부분에 대해서는 높은 이미지 복원율을 필요로 하지 않는 부분이 있다면, 해당되는 부분에 대응하는 이미지 센서의 일 영역에서 상대적으로 위상차 검출 화소(10)의 배치 개수를 늘려서 배치할 수 있다. 위상차 검출 화소(10)의 배치 개수가 늘어난 이미지 센서(100)의 일 영역에서 광전변환 된 부분은 이미지 복원율은 저하될 수 있으나 위상차 검출 AF의 정확성은 높게 할 수 있다. 이 경우 복수의 위상차 검출 화소(10)의 배치 간격은 2 내지 16화소수의 간격일 수 있다.
이와 반대로, 촬영하는 영상 중 일부분에서 높은 화질을 필요로 하는 부분이 있는 경우, 해당되는 부분에 대응하는 이미지 센서 내의 일 영역에서 상대적으로 위상차 검출 화소(10)의 배치 개수를 줄여서 상대적으로 다수의 이미지 검출 화소(30)의 영상 정보를 출력함으로써 이미지 복원율을 높게 할 수 있다.
이때, 위상차 검출 화소(10)의 배치 간격은 이미지 센서(100) 내의 다른 영역보다 크게 할 수 있으며, 최대 16 화소수 간격일 수 있다. 위상차 검출 화소(10)의 배치 간격이 16 화소수 보다 커질 경우 화질의 개선효과와 비교하여 위상차 검출 AF에 의한 초점 조정의 정확성이 현저히 감소하기 때문이다.
또한, 위상차 검출 AF 시스템의 경우 쉴드 영역이 서로 반대 방향으로 편향된 위상차 검출 화소로부터 제공되는 두 개의 영상 정보로부터 위상차를 얻어 포커스 조정을 할 수 있으므로, 동일한 쉴드 영역을 가지는 위상차 검출 화소 사이의 간격은 16 화소수 간격 이상으로 넓게 배치될 수 있으나, 제1 그룹 화소(10A)와 제2 그룹 화소(10B) 사이의 이격 간격은 16 화소수 이하로 제한될 수 있다.
도 5는 이미지 센서(100C)의 다른 실시예를 나타낸 도면이다.
다른 실시예에 따른 이미지 센서(100C)에서 상호 이격되어 배치되는 제1 그룹 화소(10A) 사이의 간격은 16 화소수 간격일 수 있으며, 상호 이격되어 배치되는 제1 그룹 화소(10A)와 제2 그룹 화소(10B) 사이의 간격은 2 내지 16 화소수 간격일 수 있다.
도 5를 참조하면, 동일한 행에서 수평 방향(행 방향)으로 이격되어 배치된 복수의 위상차 검출 화소(10A, 10B)에서 편향된 쉴드 영역이 동일한 제1 그룹 화소(10A)들 사이 또는 제2 그룹 화소(10B)들 사이의 이격된 간격은 16 화소수일 수 있다.
또한, 이격된 제1 그룹 화소(10A) 사이에 제2 그룹 화소(10B)가 배치될 수 있으며, 편향된 쉴드 영역이 서로 상이한 제1 그룹 화소(10A)와 제2 그룹 화소(10B) 사이의 이격된 간격은 8 화소수일 수 있다.
도 5에서는 제1 그룹 화소(10A)와 제2 그룹 화소(10B) 사이의 이격된 간격이 8 화소수 간격인 경우만 도시하고 있으나, 실시예는 이에 한정하지 않는다.
위상차 검출 화소(10)는 이미지 센서(100C)의 격자 패턴에서 G화소 위치에 배치될 수 있으므로, 제1 그룹화소(10A)와 제2 그룹화소(10B) 사이의 이격된 간격은 2 이상 16이하의 짝수 개의 화소수 간격일 수 있다.
도 5의 실시예에서 이미지 센서(100C)의 수직 방향(열 방향)으로는 편향된 쉴드 영역이 서로 다른 제1 그룹 화소(10A)와 제2 그룹화소(10B)가 이격되어 배치될 수 있다. 도 5의 실시예에서 수평 방향(행 방향)으로 이격되어 배치된 위상차 검출 화소(10) 사이의 배치 간격과 수직 방향(열 방향)으로 이격되어 배치된 위상차 검출 화소(10) 사이의 배치 간격은 서로 다를 수 있다.
위상차 검출 AF 시스템에서 위상차 검출을 위해서는 서로 편향된 쉴드 영역이 다른 위상차 검출 화소로부터 광학 신호를 수신하는 것이므로, 도 5의 실시예에서 편향된 영역이 서로 다른 위상차 검출 화소들(10A, 10B) 사이 즉, 제1 그룹 화소(10A)와 제2 그룹 화소(10B)간의 간격이 16화소수 보다 작게 되는 경우에 정확한 포커스 검출이 가능할 수 있다.
도 6은 위상차 검출 화소(10)를 포함하는 이미지 센서(100D)의 다른 실시예를 나타낸 도면이다.
위상차 검출 화소(10) 중 제1 그룹 화소(10A)는 수평 방향(행 방향)으로 일정 간격 이격되어 제1 배열라인으로 배치될 수 있으며, 제2 그룹 화소(10B)는 수평 방향(행 방향)으로 일정 간격 이격되어 제2 배열라인으로 배치될 수 있고, 제1 배열라인과 제2 배열라인은 격자 패턴의 수직 방향(열 방향)으로 교차되어 배치될 수 있다.
제2 배열라인에 배치되는 제2 그룹 화소(10B)는 제1 배열라인에 배치된 제1 그룹화소(10A)와 서로 다른 열에 배치될 수 있다.
제1 배열라인에 배치된 복수의 제1 그룹화소(10A) 사이의 이격된 간격은 16화소수 간격일 수 있으며, 제2 배열라인에 배치된 복수의 제2 그룹화소(10B) 사이의 이격된 간격은 16화소수 간격일 수 있다.
도 6에 도시된 이미지 센서(100D)를 이용하여 위상차 검출 AF를 수행하는 경우 제1 배열라인과 제2 배열라인으로부터 검출된 영상을 비교한 위상차로부터 포커스 조정을 할 수 있다.
또한, 도면에 도시되지는 않았으나 다른 실시예의 이미지 센서(100)는 제1 그룹 화소(10A)와 제2 그룹 화소(10B)의 순으로 행 방향으로 교대로 배치된 제3 배열라인과, 제2 그룹 화소(10B)와 제1 그룹 화소(10A)의 순으로 행 방향으로 교대로 배치된 제4 배열라인을 포함한 것일 수 있다.
이러한 제3 배열라인과 제4 배열 라인은 열 방향으로 교차되어 배치될 수 있다.
이미지 센서(100)에서의 위상차 검출 화소(10)의 분포 밀도는 이미지 센서(100)의 외곽부로 갈수록 커질 수 있다.
도 7은 이미지 센서(100E)의 다른 실시예를 나타낸 도면이다.
도 7에서 이미지 센서(100E)에 배치된 위상차 검출 화소(10)는 이미지 센서(100E)의 외곽부로 갈수록 배치 간격이 조밀하여, 외곽부에서 위상차 검출 화소(10)의 분포 밀도가 커지는 것일 수 있다.
실시예의 이미지 센서(100E)는 촬영하는 영상의 중심부에서는 이미지 검출 화소(30)의 비율이 많아져 이미지 복원율이 높은 영상을 얻을 수 있으며, 영상의 외곽부에서는 위상차 검출 화소(10)의 비율이 많아져서 이미지 복원율은 저하되나 위상차 검출 정확성이 높아질 수 있다.
상술한 실시예의 이미지 센서(100B, 100C, 100D, 100E)의 경우 위상차 검출 화소(10) 사이의 배치 간격을 16 화소수 이하로 하여, 위상차 검출 화소가 적용된 이미지 센서에서도 화질의 저하가 없으면서 포커스 검출 정확성을 높일 수 있다. 또한, 필요한 영상 품질에 따라 이미지 센서(100B, 100C, 100D, 100E)에서 위상차 검출 화소(10)의 배치를 달리하여 이미지 복원율과 포커스 정확성의 품질을 조절할 수 있는 효과를 기대할 수 있다.
이하 상술한 이미지 센서(100B, 100C, 100D, 100E)를 포함하는 촬상 장치에 대해 첨부된 도면을 참조하여 다음과 같이 설명하지만, 실시예는 이에 국한되지 않는다. 즉, 전술한 이미지 센서(100B, 100C, 100D, 100E)는 다양하게 이용될 수 있다.
도 8은 일 실시예에 따른 촬상 장치(200)의 개략적인 구성을 나타낸 블록도이다.
도 8에 도시된 촬상 장치(200)는 광학부(110), 이미지 센서(100), 영상 처리부(130), 구동부(140), 제어부(150) 및 화상 출력부(160)를 포함할 수 있다.
광학부(110)는 렌즈 및 렌즈 구동부를 포함할 수 있으며, 피사체에 대한 영상을 획득하기 위하여 외부로부터 입사되는 빛을 흡수하여 이미지 센서(100)로 출력하도록 할 수 있다.
광학부(110)는 복수의 렌즈를 포함할 수 있으며, 포커스 렌즈 또는 줌 렌즈 등을 포함할 수 있으며, 이러한 복수의 렌즈는 렌즈 구동부에 의해 그 위치가 조절 될 수 있다.
광학부(110)로부터 출력된 광학 정보는 이미지 센서(100)로 전달될 수 있다.
이미지 센서(100)는 상술한 실시예의 이미지 센서(100B, 100C, 100D, 100E) 중 어느 하나일 수 있으며, 이미지 센서(100)는 광학부(110)의 렌즈를 통하여 입사된 피사체의 광학 정보를 수신하여 전기 신호로 광전 변환할 수 있다. 이미지 센서(100)는 CCD(Charge-Coupled Device) 센서 또는 CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor) 센서일 수 있다.
영상 처리부(130)는 이미지 센서(100)로부터 공급된 전기 신호에 대하여 영상 정보를 생성하고, 생성한 영상 정보를 화상 출력부(160)에 공급하여 영상으로서 표시하게 할 수 있다.
예를 들어, 영상 처리부(130)는 이미지센서(100)에서 공급되는 이미지 검출 화소(30)의 전기적 신호로부터 촬상 된 화상의 영상 정보를 생성하고, 위상차 검출 화소(10)의 전기적 신호에 의거하여 초점 조정용 영상 정보를 생성할 수 있다.
또한, 영상 처리부(130)는 공급된 위상차 검출 화소(10)의 전기적 신호로부터 평면적인 영상 정보뿐 아니라 깊이 맵(Depth map)을 작성할 수 있는 정보를 얻을 수 있다. 이러한 깊이 맵에 대한 정보로부터 평면 영상 정보뿐 아니라 입체적 영상 정보도 산출할 수 있다.
영상 처리부(130)에서 생성된 초점 조정용 영상 정보는 제어부(150)에 공급할 수 있다.
제어부(150)는 촬상 장치의 전반적인 동작을 제어할 수 있으며, 제어부(150)는 광학부(110)를 구동 시키는 구동부(140) 및 영상 처리부(130)를 활성화시킬 수 있다.
제어부(150)는 광학부(110)를 제어하여 입력되는 광신호를 제어할 수 있고, 입력된 광신호는 이미지 센서(100)에서 전기 신호로 변환하여 영상 처리부(130)로 전달하며, 영상 처리부(130)에서 처리되어 출력된 초점 조정용 영상 정보는 제어부(150)에서 피드백 받아 포커스 어긋남 량을 산출할 수 있다.
제어부(150)는 산출된 포커스 어긋남 량에 따라 위상차 검출 AF 조정을 위하여 필요한 광학부(110)의 이동량을 산출할 수 있다. 산출된 광학부(110)의 이동량에 대한 정보는 제어부(150)에서 구동부(140)로 전달되고 이에 따라 광학부(110)가 조정되어 위상차 검출 방식의 AF 제어를 할 수 있다.
구동부(140)는 제어부(150)로부터 공급된 렌즈의 이동량에 관한 정보를 기초로 하여 광학부(110)의 렌즈를 이동시키도록 할 수 있다.
화상 출력부(160)는 영상 처리부(140)에서 공급되는 화상 영상 정보를 표시할 수 있다. 화상 출력부(160)는 사용자에게 시각적인 영상 정보를 제공할 수 있으며, 이러한 영상 정보를 표시하기 위하여 액정 디스플레이 패널(LCD), 유기 발광 디스플레이 패널(OLED)등으로 이루어진 표시부를 포함할 수 있다.
촬상 장치의 영상 처리부(130)가 이미지 센서(100)의 모든 화소로부터 신호를 읽어 피사체의 이미지를 생성하는 경우에 있어서, 위상차 검출용 화소(10)의 검출 신호에 대해서는 일반적인 이미지 검출 화소(30)의 검출 신호의 감도와 같은 정도의 감도를 가지도록 이득 보정하거나, 또는 위상차 검출용 화소(10)를 주위의 이미지 검출 화소(30)의 검출 신호로부터 보간(Interpolation)하는 보정을 할 필요가 있다.
실시예의 촬상 장치의 영상 처리부(130)는 복수의 위상차 검출 화소(10)의 영상 정보를 상기의 위상차 검출 화소(10)를 둘러싸고 배치되는 복수의 이미지 검출 화소(30)의 영상 정보로 처리할 수 있다. 즉, 위상차 검출 화소(10)의 영상 정보는 이와 이웃하는 이미지 검출 화소(30)의 영상 정보를 이용하여 보정되어 처리될 수 있다.
즉, 위상차 검출 화소(10)를 중심으로 하고 이를 둘러싸고 배치되는 이미지 검출 화소(30)의 영상 정보를 그대로 이용하거나, 이로부터 보간하여 보정하거나 또는 다수의 이미지 검출 화소(30)의 영상 정보를 평균하여 이용할 수 있다.
도 9는 위상차 검출 화소(10)의 영상 정보를 처리함에 있어서 이용되는 이미지 검출 화소(30)가 포함되는 영역(S1, S2)을 표시한 도면이다.
도 9에서 위상차 검출 화소(10)의 영상 정보는 위상차 검출 화소(10)를 중심으로 한 7행 7열의 격자 패턴에 포함되는 이미지 검출 화소(30)의 영상 정보를 이용하여 처리할 수 있다.
예를 들어, 도 9에서 제1 그룹 화소(10A)에 대해서는 S1 영역의 이미지 검출 화소의 정보를 이용하여 영상 정보를 보정할 수 있으며, 제2 그룹 화소(10B)에 대해서는 S2 영역의 이미지 검출 화소의 정보를 이용하여 영상 정보를 보정할 수 있다.
도 10은 도 9에 점선으로 구분되어 표시된 S1영역에 대하여 G화소만 표시하여 나타낸 도면이다. 도 10을 참조할 때, 위상차 검출 화소(10A)를 둘러싼 이미지 검출 화소(30) 중 G 화소의 영상 신호를 이용하여 영상 정보를 보정하여 처리할 수 있다.
즉, 위상차 검출 화소가 배치된 G화소에 관한 신호값은 이를 둘러싼 G1 내지 G24의 영상 정보의 값으로부터 보간 또는 이들의 값을 평균하여 보정함으로써 영상 정보를 처리할 수 있다. 위상차 검출 화소(10A)의 영상 정보는 이를 둘러싸고 배치되는 G화소 중 인접하여 배치되는 G화소의 영상 정보만을 선택하여 보정할 수 있다.
도 10에서는 이미지 검출 화소(10)를 둘러싼 7행 7열의 격자 패턴인 경우를 예를 들어 도시하였으나, 이미지 센서(100) 내에서의 이미지 검출 화소(10)의 배치 간격에 따라 선택되는 이미지 검출 화소의 격자 패턴의 영역은 달라질 수 있다.
위상차 검출 화소(10)에 대한 영상 정보를 이미지 검출 화소(30)의 영상 정보를 보정하여 얻는 경우에 있어서, 선택된 이미지 검출 화소(30)의 수가 많아질수록 보정의 정밀도는 높아질 수 있다.
실시예의 촬상 장치는 상술한 실시예의 이미지 센서(100B, 100C, 100D, 100E)를 포함함으로써, 화질의 저하가 크지 않게 하면서 포커스 검출 정확성을 높일 수 있다.
이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
10 : 위상차 검출 화소 30 : 이미지 검출 화소
100, 100A, 100B, 100C, 100D, 100E : 이미지 센서
110 : 광학부 130 : 영상 처리부
140 : 구동부 150 : 제어부
160 : 화상 출력부

Claims (12)

  1. 복수의 위상차 검출 화소; 및
    상기 복수의 위상차 검출 화소와 함께 격자 패턴으로 배치된 복수의 이미지 검출 화소; 를 포함하며,
    상기 복수의 위상차 검출 화소는 상기 격자 패턴에서 소정의 화소수 간격으로 상호 이격되어 배치되며, 상기 소정의 화소수의 최대값은 16인 이미지 센서.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 격자 패턴은 적어도 하나의 격자 단위를 포함하며, 상기 적어도 하나의 격자 단위는 2행 2열로 배치되는 이미지 센서.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 격자 단위는 제1 대각선 방향으로 서로 마주보는 두 개의 제1 및 제2 색 화소; 와
    상기 제1 대각선 방향과 교차하는 제2 대각선 방향으로 서로 마주보는 두 개의 제3 및 제4 색 화소; 를 포함하는 이미지 센서.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 복수의 위상차 검출 화소는 상기 제1 및 제2 색 화소 위치에 각각 배치되는 이미지 센서.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 제1 및 제2 색은 그린색인 이미지 센서.
  6. 제 4항에 있어서, 상기 복수의 위상차 검출 화소는
    일측에 편향된 쉴드 영역을 가지는 제1 그룹 화소; 및
    타측에 편향된 쉴드 영역을 가지는 제2 그룹 화소;를 포함하는 이미지 센서.
  7. 제 6항에 있어서, 상기 제1 그룹 화소는 16화소수 간격으로 상호 이격되어 배치되며, 상기 제1 그룹 화소와 상기 제2 그룹 화소는 2 내지 16 화소수 간격으로 상호 이격되어 배치되는 이미지 센서.
  8. 제 6항에 있어서, 상기 제1 그룹 화소는 행 방향으로 일정 간격 이격되어 제1 배열라인으로 배치되고, 상기 제2 그룹 화소는 상기 행 방향으로 일정 간격 이격되어 제2 배열라인으로 배치되며, 상기 제1 배열라인과 상기 제2 배열라인은 열 방향으로 교차되어 배치된 이미지 센서.
  9. 제 6항에 있어서, 상기 복수의 위상차 검출 화소의 분포 밀도는 상기 이미지 센서의 외곽부로 갈수록 커지는 이미지 센서.
  10. 광 신호를 수신하는 광학부;
    상기 광학부에서 수신된 광학 신호로부터 영상 정보를 생성하는 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 기재된 이미지 센서; 및
    상기 영상 정보를 처리하는 영상처리부; 를 포함하는 촬상 장치.
  11. 제 10항에 있어서, 상기 영상처리부는 상기 복수의 위상차 검출 화소의 상기 영상 정보를 상기 복수의 위상차 검출 화소를 둘러싼 상기 복수의 이미지 검출 화소의 영상 정보로 처리하는 촬상 장치.
  12. 제 11항에 있어서, 상기 복수의 이미지 검출 화소는 상기 복수의 위상차 검출 화소를 중심으로 한 7행 7열의 격자 패턴 내에 배치된 그린 화소인 촬상 장치.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018003501A1 (ja) * 2016-06-28 2018-01-04 ソニー株式会社 固体撮像装置、電子機器、レンズ制御方法および車両
CN110290328B (zh) * 2019-07-04 2021-11-09 Oppo广东移动通信有限公司 一种对焦方法、装置、终端和计算机存储介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012128153A1 (ja) * 2011-03-24 2012-09-27 富士フイルム株式会社 カラー撮像素子、撮像装置、及び撮像装置の制御プログラム
WO2012127699A1 (ja) * 2011-03-24 2012-09-27 富士フイルム株式会社 カラー撮像素子、撮像装置、及び撮像プログラム
JP2014071290A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Nikon Corp 焦点検出装置および撮像装置
JP2014110619A (ja) * 2012-12-04 2014-06-12 Canon Inc 画像処理装置およびその制御方法、並びに撮像装置およびその制御方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5543098B2 (ja) * 2008-11-14 2014-07-09 キヤノン株式会社 撮像装置
JP5319347B2 (ja) * 2009-03-17 2013-10-16 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP5493010B2 (ja) * 2010-11-30 2014-05-14 富士フイルム株式会社 撮像装置及びその合焦位置検出方法
JP5803095B2 (ja) * 2010-12-10 2015-11-04 ソニー株式会社 撮像素子および撮像装置
JP5589857B2 (ja) * 2011-01-11 2014-09-17 ソニー株式会社 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法およびプログラム。
KR101777351B1 (ko) 2011-05-16 2017-09-11 삼성전자주식회사 촬상 소자, 이를 이용한 디지털 촬영 장치, 오토 포커싱 방법, 및 상기 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 판독가능 저장매체
JP6124720B2 (ja) * 2013-07-22 2017-05-10 オリンパス株式会社 撮像装置、画像処理方法及び画像処理プログラム
JP5775918B2 (ja) * 2013-09-27 2015-09-09 オリンパス株式会社 撮像装置、画像処理方法及び画像処理プログラム
JP6270400B2 (ja) * 2013-10-09 2018-01-31 オリンパス株式会社 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム
KR102125561B1 (ko) * 2013-12-03 2020-06-22 삼성전자주식회사 촬영 장치 및 이의 제어 방법
JP2015144194A (ja) * 2014-01-31 2015-08-06 ソニー株式会社 固体撮像素子および電子機器
JP5978415B2 (ja) * 2014-03-25 2016-08-24 富士フイルム株式会社 撮像装置及び合焦制御方法
JP6460653B2 (ja) * 2014-06-11 2019-01-30 オリンパス株式会社 画像処理装置、それを備えた撮像装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム
JP6457776B2 (ja) * 2014-10-14 2019-01-23 オリンパス株式会社 撮像装置および撮像装置の制御方法
US9420164B1 (en) * 2015-09-24 2016-08-16 Qualcomm Incorporated Phase detection autofocus noise reduction

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012128153A1 (ja) * 2011-03-24 2012-09-27 富士フイルム株式会社 カラー撮像素子、撮像装置、及び撮像装置の制御プログラム
WO2012127699A1 (ja) * 2011-03-24 2012-09-27 富士フイルム株式会社 カラー撮像素子、撮像装置、及び撮像プログラム
JP2014071290A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Nikon Corp 焦点検出装置および撮像装置
JP2014110619A (ja) * 2012-12-04 2014-06-12 Canon Inc 画像処理装置およびその制御方法、並びに撮像装置およびその制御方法

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