KR20150110470A - 다중 시분할 듀플렉스(ｔｄｄ) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트 수행 방법 - Google Patents
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Abstract
다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법 및 시스템이 제공된다. 데이터 패킷 신호의 복제물이 테스터에 의해 다중 TDD 피시험장치(DUT)로 전송되고, 여기서 복제된 신호는 null 또는 TDD 데이터 패킷 신호 중 어느 하나이다. 하나의 실시예에서, 복제 null 데이터 패킷 신호는 테스터와 동기화하도록 DUT에 충분한 미리정해진 시간 간격 동안 전송된다. 또다른 실시예에서, 자신들의 각각의 복제 TDD 데이터 패킷 신호의 성공적인 수신 및 그에 따른 테스터와의 동기화를 나타내는 각각의 DUT로부터의 응답 신호의 성공적인 수신 및 성공적이지 않은 수신에 후속하여, 대응하는 복제 TDD 데이터 패킷 신호는 이러한 복제 데이터 패킷 신호로 하여금 미리 정해진 데이터 패킷 신호 표준과 호환하거나 또는 각각 호환하지 않도록 하는 데이터 패킷 신호 특성이 제공된다. 동기화에 후속하여, 테스트 및 응답 데이터 패킷 신호가 테스터 및 DUT 사이에서 교환될 수 있다.
Description
본 발명은 데이터 패킷 신호 트랜시버 테스트에 관한 것으로, 특히 이러한 다중 장치의 병렬 테스트 시스템 및 방법에 관한 것이다.
오늘날 다수의 전자 장치가 접속 및 통신이라는 양 목적으로 무선 기술을 이용하고 있다. 무선 장치는 전자기 에너지를 송수신하고, 2개 이상의 무선 장치는 자신들의 신호 주파수와 전력 스펙트럼 밀도에 의해 서로의 동작을 간섭할 가능성을 가지기 때문에, 이들 장치와 그들의 무선 기술은 다양한 무선 기술 표준 규격을 따라야 한다.
이러한 장치들을 설계할 때, 엔지니어들은 장치들에 포함된 무선 기술의 상술한 표준 기반 규격 각각을 이러한 장치들이 만족시키거나 또는 그것을 능가할 것을 보장하도록 특별히 유의한다. 추가로, 이들 장치가 추후에 대량으로 제조될 수 있을 때, 이들 장치는, 장치들에 포함된 무선 기술 표준 기반 규격에 대해 상기 장치들이 따르는 것을 포함하면서, 제조 결함이 부적절한 동작을 일으키지 않는 것을 보장하도록 테스트된다.
이들 제조 및 조립에 후속하는 이들 장치의 테스트에 대해, 현재 무선 장치 테스트 시스템은 각각의 장치로부터 수신된 신호를 분석하는 서브시스템을 채용한다. 이러한 서브시스템은 일반적으로 장치에 의해 산출된 신호를 분석하기 위해 적어도 벡터 신호 분석기(VSA), 및 장치에 의해 수신되는 신호를 생성하는 벡터 신호 생성기(VSG)를 포함한다. VSA에 의해 수행되는 분석과 VSG에 의해 생성된 신호는 일반적으로 상이한 주파수 범위, 대역폭 및 신호 변조 특성을 가진 다양한 무선 기술 표준에 따라 다양한 장치를 테스트하는 데에 각각 이용될 수 있도록 프로그래밍가능하다.
테스트되는 무선 기술 중에서도 장치의 송수신기가 동일 주파수에서 동작하는 것이 있다. 이러한 동작 중 하나는 블루투스라고 알려진 하나의 점점 더 일반적인 예가 되어가는 시분할 듀플렉스(TDD)이다. TDD 기술을 채용한 2개 이상의 이러한 장치의 동시 테스트 수행시, 장치의 시작시의 변화에 기인하여 테스트 하는 동안에 오류가 발생할 가능성이 있다. 예를 들면, 하나의 시나리오에서, 하나 이상의 장치가 테스터(예를 들면 VSG)에 의해 생성된 의도된 테스트 데이터 패킷에 응답하는 것이 아니라 또다른 피시험장치(DUT)에 의해 생성된 응답 데이터 패킷에 동기화될 수 있다. 그 결과로서, 잘못된 신호에 동기화된 DUT가 그 상태를 유지하여, 따라서 오류 또는 유효하지 않은 테스트 결과를 산출할 것이다.
따라서, 이러한 부적절한 동기화 시나리오를 방지하는 다중 TDD DUT 동기화 방법이 이롭게도 잘못된 장치의 동기화 및 테스트 시간을 감소시켜, 장치 당의 기반으로 전체 테스트 비용을 감소시킨다.
본 발명에 따라, 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법 및 시스템이 제공된다. 데이터 패킷 신호의 복제물이 테스터에 의해 다중 TDD 피시험장치(DUT)로 전송되고, 여기서 복제된 신호는 null 또는 TDD 데이터 패킷 신호 중 어느 하나이다. 하나의 실시예에서, 복제 null 데이터 패킷 신호는 테스터와 동기화하도록 DUT에 충분한 미리 정해진 시간 간격 동안 전송된다. 또다른 실시예에서, 자신들의 각각의 복제 TDD 데이터 패킷 신호의 성공적인 수신 및 그에 따른 테스터와의 동기화를 나타내는 각각의 DUT로부터의 응답 신호의 성공적인 수신 및 성공적이지 않은 수신에 후속하여, 대응하는 복제 TDD 데이터 패킷 신호는 상기 복제 데이터 패킷 신호로 하여금 미리 정해진 데이터 패킷 신호 표준과 호환하거나 또는 각각 호환하지 않도록 하는 데이터 패킷 신호 특성이 제공된다. 동기화에 후속하여, 테스트 및 응답 데이터 패킷 신호가 테스터 및 DUT사이에서 교환될 수 있다.
본 발명의 예시적인 실시예에 따라, 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법에 있어서, 상기 방법은:
복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버에 대해 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계로서, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호의 각각은:
null 데이터 패킷 신호, 및
데이터 패킷 신호 특성을 가진 TDD 데이터 패킷 신호,
중 적어도 하나를 포함하는 공통 데이터 패킷 신호에 대응하는 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계;
상기 공통 데이터 패킷 신호가 null 데이터 패킷 신호를 구비할 때, 미리 정해진 시간 간격 동안 계속하여 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 계속하여 제공하는 단계; 및
상기 공통 데이터 패킷 신호가 TDD 데이터 패킷 신호를 구비할 때, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 하나 이상을 제공함으로써 상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버로부터 복수의 응답 신호 중 각각의 하나의 성공적인 수신 및 성공적이지 않은 수신에 응답하는 단계로서,
상기 복수의 응답 신호의 각각은 상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버 중 대응하는 트랜시버에 의해 유효한 데이퍼 패킷을 성공적으로 수신한 것을 나타내고,
상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버의 대응하는 트랜시버로부터의 상기 복수의 응답 신호 중 하나의 성공적인 수신에 후속하여, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 대응하는 신호가 미리정해진 데이터 패킷 신호 표준에 따르지 않도록 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 상기 대응하는 신호에 상기 데이터 패킷 신호 특성이 제공되고, 및
상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버 중 대응하는 트랜시버로부터의 상기 복수의 응답 신호 중 하나의 성공적이지 못한 수신에 후속하여, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 대응하는 신호가 상기 미리정해진 데이터 패킷 신호 표준에 따르도록 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 상기 대응하는 신호에 상기 데이터 패킷 신호 특성이 제공되는,
상기 성공적인 수신 및 성공적이지 않은 수신에 응답하는 단계;
를 포함한다.
도 1은 병렬로 다중 DUT를 테스트하는 종래 테스트 환경을 도시한다.
도 2는 본 발명의 예시적인 실시예에 따라 병렬로 다중 DUT를 데스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 3은 본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따라 병렬로 다중 DUT를 데스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 4는 본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따라 병렬로 다중 DUT를 데스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 5는 본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따라 병렬로 다중 DUT를 데스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 6은 도 4 및 5의 신호 특성 제어 회로의 예시적인 실시예를 도시한다.
도 7은 도 4 및 5의 신호 특성 제어 회로의 또다른 예시적인 실시예를 도시한다.
도 8은 도 4 및 5의 신호 특성 제어 회로의 또다른 예시적인 실시예를 도시한다.
도 9는 본 발명의 예시적인 실시예에 따라 DUT로 테스트 신호를 전달하고 그로부터의 확인 신호를 전달하는 회로를 도시한다.
도 2는 본 발명의 예시적인 실시예에 따라 병렬로 다중 DUT를 데스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 3은 본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따라 병렬로 다중 DUT를 데스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 4는 본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따라 병렬로 다중 DUT를 데스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 5는 본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따라 병렬로 다중 DUT를 데스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 6은 도 4 및 5의 신호 특성 제어 회로의 예시적인 실시예를 도시한다.
도 7은 도 4 및 5의 신호 특성 제어 회로의 또다른 예시적인 실시예를 도시한다.
도 8은 도 4 및 5의 신호 특성 제어 회로의 또다른 예시적인 실시예를 도시한다.
도 9는 본 발명의 예시적인 실시예에 따라 DUT로 테스트 신호를 전달하고 그로부터의 확인 신호를 전달하는 회로를 도시한다.
하기의 상세한 설명은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 하기의 예시적인 실시예이다. 이러한 설명은 본 발명의 범위에 대해 예시를 한 것이지 한정할 것을 의도하지 않는다. 이러한 실시예는 당업계의 당업자가 본 발명을 실시할 수 있도록 충분히 상술되고, 다른 실시예는 본 발명의 취지 또는 범위에서 벗어나지 않고서 일부 변형을 가지고 실시될 수 있다는 것이 이해될 것이다.
문맥으로부터 명시적으로 반대로 지시하지 않는다면 본 명세서 전체에서, 기술된 바와 같은 개별 회로 엘리먼트는 단수이거나 복수일 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들면, "circuit" 및 "circuitry"와 같은 용어들은 단일한 컴포넌트 또는 복수의 컴포넌트 중 어느 하나를 포함할 수 있으며, 이는 능동 및/또는 수동이고 연결되거나 또는 그렇지 않으면 함께 결합되어(예를 들면 하나 이상의 집적회로 칩으로서) 기술된 기능을 제공한다. 추가로, "신호"라는 용어는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압 또는 데이터 신호를 가리킨다. 도면 내에서, 유사하거나 연관된 엘리먼트들은 유사하거나 연관된 문자, 숫자 또는 문자숫자 지시어를 가질 것이다. 추가로, 본 발명은 이산 전자 회로(바람직하게는 하나 이상의 집적회로 칩의 형태로 된)를 이용하는 실시의 측면에서 개시되었지만, 신호 주파수 또는 처리될 데이터 속도에 따라 이러한 회로의 임의의 부분의 기능은 대안적으로 하나 이상의 적절하게 프로그래밍된 프로세서를 이용하여 구현될 수 있다. 추가로, 도면이 다양한 실시예의 기능 블록도의 다이어그램을 예시하는 정도로, 기능 블록은 필수적으로 하드웨어 회로 사이의 분할을 지시하지는 않는다.
본 발명의 예시적인 실시예에 따라, 부적절한 테스터-DUT 동기화를 방지하면서 TDD 장치들을 동시에 테스트하는 방법이 제공된다. 하나의 예시적인 실시예에서, 다중 TDD 장치로 동시 전송을 위해 VSG 신호를 복제할 수 있는 테스트 시스템, 또는 테스터, 및 단일 VSG를 이용하여 다중 TDD 장치로부터 응답 신호를 수신하는 디멀티플렉싱(demultiplexing) 서브시스템을 이용하여, VSG는 미리정해진 동기화 시간이 경과할 때까지 다중 TDD 장치로 null 데이터 패킷의 세트를 전송한다. 이 동기화 시간은 적절하게 동작하는 TDD 장치가 테스트 준비가 되도록 선택된다. 이 동기화 시간이 경과하면, 테스터는 미리정해진 테스트 데이터 패킷의 세트를 장치로 전송하기 시작하고, 장치로부터의 응답 데이터 패킷 수신을 시작할 수 있거나, 또는 대안으로 TDD 장치는 테스터로 미리정의된 테스트 데이터 패킷의 세트를 전송하고 테스터로부터 응답 데이터 패킷을 수신하기 시작할 수 있다.
또다른 예시적인 실시예에서, 테스터는 다중 TDD 장치로의 동시 전송을 위해 VSG 신호를 복제하고 신호 특성 제어를 제공하여 개별 데이터 패킷 신호들이 예를 들면 임계 레벨 이하로 복제 VSG 신호의 파워 레벨을 감소시킴으로써 자신의 대응하는 TDD 장치에 의해 그것들을 수신가능하지 않도록 손상될 수 있게(corrupted) 한다. 또한, 테스터의 VSG로의 운송을 위해 다중 TDD 장치로부터 응답 신호를 수신하고, 그리고 장치로부터의 null 데이터 패킷의 수신을 검출하여 각각의 복제된 VSG 신호의 파워레벨을 제어하기 위해 신호 특성 제어 서브시스템과 통신하기 위한 멀티플렉싱 서브시스템이 포함된다.
하기에 보다 상술되는 바와 같이, 테스터는 복제된 미리정의된 동기화 데이터 패킷을 다중 TDD 장치로 전송한다. 이러한 데이터 패킷을 수신할 준비가 된 이들 장치는 null 데이터 패킷을 리턴함으로써 응답한다. 테스터는 장치들이 이러한 null 데이터 패킷을 리턴했는 지를 검출하고 리턴된 null 데이터 패킷 및 리턴되지 않은 null 데이터 패킷의 상태를 신호 특성 제어 서브시스템으로 통신한다. 그 결과, 미리정의된 동기화 데이터 패킷의 후속 세트가 이전처럼 TDD 장치로 전송되지만, null 데이터 패킷을 리턴함으로써 테스트하기 위한 자신의 준비 상황을 식별한 TDD 장치로 전송되고 있는 동기화 데이터 패킷이 손상된다(corrupted)(예를 들면, 데이터 패킷 전송의 시작에 후속하고 데이터 패킷 전송의 종료 이전에 신호 파워를 현저하게 감소시킴으로써). 반면, 아직 null 데이터 패킷을 전송함으로써 테스트를 위한 자신들의 준비 상황을 식별하지 못한 이들 TDD 장치로 전송된 복제 데이터 패킷은 응용가능한 신호 표준에 따라 전송되고, 즉 복제 데이터 패킷들은 손상되지 않는다. 그 결과, 테스트에 아직 준비되지 않은 이들 TDD 장치는 테스트를 위한 준비가 되었음을 나타낼 때까지, 동기화 데이터 패킷 수신을 계속하고, 따라서 테스트에 대해 준비가 된 DUT가 손상된 데이터 패킷을 수신하고 따라서 응답 null 데이터 패킷을 산출하지 않을 것이기 때문에, 테스트를 위한 자신의 준비 상황을 표시하는 또다른 DUT에 의해 생성된 응답 null 데이터 패킷에 대해 부적절하게 동기화하지 않을 것이다. 모든 DUT가 null 데이터 패킷을 가지고 응답함으로써 테스트에 대한 자신의 준비 상황을 나타내면, 동기화가 완료되고 테스터는 미리정의된 테스트 데이터 패킷을 DUT로 전송하고 DUT로부터 응답 데이터 패킷을 수신하는 것을 시작하고, 또는 대안으로 DUT가 미리정의된 테스트 데이터 패킷의 세트를 테스터로 전송하고 그로부터 응답 데이터 패킷을 수신하는 것을 시작할 수 있다.
본 발명의 예시적인 실시예는 단일 테스터가 다중 피시험 장치(DUT)를 테스트하는 데에 이용되는 테스트 환경의 측면에서 하기에 개시된다. 개시된 특정한 예시에서, 테스트 환경은 3개의 DUT를 포함한다. 그러나, 3개의 DUT의 테스트는 단지 예시이며 본 발명은 임의의 다수의(즉, 2개 이상) DUT에 대해 실시될 수 있다는 것이 용이하게 이해되어야 한다.
도 1을 참조하면, 종래 테스트 환경은 예를 들면 3개의 DUT(200a, 200b, 200c)와 같은 다중 DUT(200)를 테스트 하기 위한 테스트 시스템 또는 "테스터"(100)를 포함한다. 테스터(100)는 각각 VSG 테스트 신호(101)를 제공하고 멀티플렉싱된 DUT 신호(115)를 수신하는 VSG(102) 및 VSA(104)를 포함한다. 또한 DUT(200)에 대해 다중 복제 VSG 신호(113a, 113b, 113c)를 제공하기 위해 VSG 신호(101)를 복제하는 신호 라우팅 또는 복제 회로(112)(예를 들면, 파워 스플리터)가 포함된다. DUT(200)로부터의 응답 신호(201a, 201b, 201c)는 예를 들면 멀티플렉서와 같은 추가적인 신호 라우팅 회로(114)를 통해 VSA(104)로 전달되고, 이는 테스터(100) 또는 외부 컨트롤러(도시되지 않음)에 의해 제공되는 하나 이상의 제어 신호(도시되지 않음)에 의해 제어될 수 있다.
당업자에 의해 쉽게 이해되는 바와 같이, 그리고 하기에 더 상술되는 바와 같이, 복제 VSG 신호(113a, 113b, 113c) 및 응답 DUT 신호(201a, 201b, 201c)를 위한 각각의 신호 경로는 공유되고, 예를 들면 단일 배선 신호 경로가 테스트 신호(113a/113b/113c)를 DUT(200a/200b/200c)로 전달하고 DUT 신호(201a/201b/201c)를 전달하는 데에 이용된다.
공지된 원리에 따라, 테스트 시스템은 복제 VSG 신호(113a, 113b, 113c)를 전송하기 시작하고, 시간적으로 다양한 연속한 후속한 포인트에서, 다양한 DUT(200a, 200b, 200c)가 테스트 준비가 되고 null 데이터 패킷을 가지고 응답함으로써 이러한 준비를 표시한다. 본 예시에서, 제1 DUT(200a)는 테스트를 위해 준비된 첫번째의 것(203a)이고, 그런다음에 곧바로 제2 DUT(200b)가 테스트(203b) 준비가 된다. 따라서, 제1 시간 슬롯(205a) 후에, 제1 DUT(200a) 및 제2 DUT(200b)는 응답 null 데이터 패킷을 전송하고, 그에 의해 자신들 각각의 테스트 준비 상태를 표시한다. 그러나, 제3 DUT(200c)가 마지막으로 테스트(203c) 준비가 될 때, 그것이 보여주는 제1 신호는 다른 DUT(200a, 200b) 중 하나로부터의 응답 null 데이터 패킷 중 하나의 감쇠된 버전이다(예를 들면, 일부 형태의 신호 누설에 기인하여). 그러나, 제3 DUT(200c)가 TDD 데이터 패킷을 수신할 것으로 예측하였지만, 대신에 감쇠 null 데이터 패킷을 수신했기 때문에, 자신의 응답 신호(201c)는 테스트에 대해 제3 DUT(200c)에 의한 준비 상태를 표시하지 않는다. 따라서, 다른 DUT(200a, 200b)는 테스터(100)와 적절하게 동기화되고 응답 nll 데이터 패킷(201a, 201b)으로 TDD 데이터 패킷(113a, 113b,)에 적절하게 대응하는 반면, 제3 DUT(200c)는 테스트 준비가 되었을지라도 자신의 TDD 데이터 패킷 신호(113c) 대신에 누설 null 데이터 패킷 신호와 부적절하게 동기화된다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 예시적인 실시예에 따라, VSG(102)는 미리정해진 동기화 시간 간격(207a) 동안 null 데이터 패킷의 세트를 포함하는 VSG 신호(101)를 제공한다. 이 시간 간격(207a) 동안, DUT(200a, 200b, 200c)는 다수의 복제 null 데이터 패킷(113a, 113b, 113c)을 수신하고, 테스트(203a, 203b, 203c)에 준비가 된다. 현재 테스트 준비가 되었을지라도, 테스터(100)로부터의 null 데이터 패킷(113a, 113b, 113c)은 DUT(200a, 200b, 200c)로부터의 응답(201a, 201b, 201c)을 발생시키지 않는다(evoke). 이 시간 간격(207a)에 후속하여, 테스터(100)는 DUT(200a, 200b, 200c)가 null 데이터 패킷 신호(201a, 201b, 201c)를 리턴하는 것에 응답하여 수신 테스트 간격(209r) 동안 미리정의된 테스트 데이터 패킷을 전송하는 것을 시작할 수 있다. 대안으로, DUT(200a, 200b, 200c)는 테스트 패킷의 세트를 테스터(100)로 전송하는 것을 시작하고, 응답으로 테스터(100)로부터 응답 데이터 패킷(도시되지 않음)을 수신할 수 있다.
도 3을 참조하면, 또다른 예시적인 실시예에 따라, 동기화 시간 간격(207a)에 후속하여, 테스터(100)는, DUT(200a, 200b, 200c)가 이러한 데이터 패킷, 즉 루프백 데이터 패킷의 복제를 리턴하는 것에 응답하여, 복제 VSG 신호(113a, 113b, 113c)가 TDD 데이터 패킷을 포함하는 전송 테스트(209t)를 수행할 수 있다.
도 4를 참조하면, 또다른 예시적인 실시예에 따라, 테스터(100)의 VSA(104)용 수신 경로에서의 신호 라우팅 회로(124)는 DUT(200a, 200b, 200c)로부터의 리턴 신호(201a, 201b, 201c)에서 null 데이터 패킷의 존재를 검출하는 null 신호 검출 회로(예를 들면, 멀티플렉싱 회로에 추가하여)를 포함한다. null 데이터 패킷이 검출되면, 전송 경로(하기에 더 상술된)에서의 신호 특성 제어 회로(122)에 대한 하나 이상의 제어 신호(125)가 이러한 회로(122)로 하여금 복제 VSG 신호(123a, 123b, 123c) 중 하나 이상의 신호 특성을 변경하도록 한다. 예를 들면, 시간 간격(211)에 대해 도시된 바와 같이, DUT(200a, 200b) 중 2개는 테스트(203a, 203b) 준비가 되고 자신들의 리턴 신호(201a, 201b)의 일부로서 null 데이터 패킷을 전송함으로써 응답한다. 이들 null 데이터 패킷은 리턴 신호 라우팅 회로(124) 내에서 null 검출 회로에 의해 검출되고, 하나 이상의 제어 신호(125)는 신호 특성 제어 회로(122)로 하여금 예를 들면 데이터 패킷 간격 동안 신호 파워를 감소시킴으로써 대응하는 복제 VSG 제어 신호(123a, 123b)를 손상시키도록 한다.
반면, 지금 테스트(203c) 준비가 된 제3 DUT(200c)는 먼저 테스트를 위해 자신이 준비되었다는 것을 표시하도록 전송된 다른 DUT(203a, 203b) 중 하나로부터의 null 데이터 패킷 신호를 수신한다. 그러나, 다른 DUT(203a, 203b)가 더이상 유효한, 예를 들면 손상되지 않은(non-corrupted) 데이터 패킷 신호를 수신하고 있지 않기 때문에, 이 DUT들은 응답으로 더 이상 null 데이터 패킷을 전송하지 않는다. 그 결과, 제3 DUT(200c)는 유효한 테스트 데이터 패킷(123c) 수신을 시작하고, 따라서 null 데이터 패킷(201c)으로 응답한다. 이 시간 간격(211)에 후속하여, 테스터는 그런다음, DUT(200)가 null 데이터 패킷 신호(201, 201b, 201c)를 전송하는 것에 응답하여, 미리정의된 테스트 데이터 패킷(123a, 123b, 123c)이 DUT(200)에 의한 수신을 위해 전송될 수 있는 수신 테스트(213r)를 수행할 수 있다.
도 5를 참조하면, 또다른 예시적인 실시예에 따라, 동기화가 발생한 시간 간격(211)에 후속하여, 테스터(100)는 복제 테스트 데이터 패킷(123a, 123b, 123c)이 전송되고, DUT(200a, 200b, 200c)내에서 복제되고, 자신들의 응답 신호(201a, 201b, 201c)로서, 즉, 루프백 데이터 패킷 신호로서 리턴될 수 있는 전송 테스트(213t)를 수행할 수 있다.
도 6을 참조하면, 예시적인 실시예에 따라, 복제 데이터 패킷 신호(113)의 손상(corruption)은 복제 데이터 패킷 신호(123)의 신호 파워를 현저하게 감소시키기 위해 제어 신호(125)에 따라 스위치(122a)를 이용하여 신호 경로를 스위치 오픈함으로써 달성될 수 있다.
도 7을 참조하면, 또다른 예시적인 실시예에 따라, 데이터 패킷 신호(113)의 손상은 프로그래밍 가능한 신호 감쇠기(122b)를 이용하여 달성될 수 있다. 제어 신호(125)에 따라, 복제 데이터 패킷 신호(123)의 신호 파워가 적용가능한 신호 표준에 따르고자 하는 신호에 필수적인 임계 값 이하로 감소되도록 신호 감쇠가 증가될 수 있다.
도 8을 참조하면, 또다른 예시적인 실시예에 따라, 스위칭 회로(122a) 또는 감쇠(122b) 회로 대신에, 신호 믹싱 회로(122c)가 사용될 수 있다. 데이터 패킷 신호(113)의 손상은 복제 데이터 패킷 신호(123)를 제어 신호(125)에 의해 제어되는 로컬 RF 신호 소스(130)로부터의 또다른 무선 주파수(RF) 신호(131)와 믹싱함으로써 복제 데이터 패킷 신호(123)의 주파수를 변경하여 달성된다.
따라서, 신호 손상은 신호 파워 및 신호 주파수를 포함하는 임의의 데이터 패킷 신호 특성을 실질적으로 변경함으로써 달성될 수 있다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 예시적인 실시예에 따라, DUT(200) 테스트를 위한 유선 신호 경로가 상술한 바와 같이 각각의 DUT(200a, 200b, 200c)에 대해 일반적으로 단일 배선 연결의 형태로 되어있다. 예를 들면, 제1 DUT(200a)에 대해, 테스트 데이터 패킷 신호(123a2)와 리턴 null 데이터 패킷 신호(201a1)는 공유 또는 공통 유선 신호 경로(202a)를 통해 전달된다(유사하게, 나머지 DUT(200b, 200c)로의 테스트 데이터 패킷 신호(123b2, 123c2) 및 나머지 DUT(200b, 200c)로부터의 응답 null 데이터 패킷 신호(201b1, 201c1)는 각각의 공유 유선 단일 경로(202b, 202c)를 통해 전달된다). 데이터 손상 회로(122)로부터의 복제 VSG 신호(123a1, 123b1)의 각각은 각각의 복제 VGA 신호(123a2, 123b2, 123c2)로서 유선 DUT 신호 경로(202a, 202b, 202c)를 통해 전달될 추가적인 신호 라우팅 회로(140)(하기에 보다 상술되는)로 각각의 유선 신호 경로(142a, 142b, 142c)를 통해 전달된다. 응답 null 데이터 패킷 신호(201a1, 201b1, 201c1)는 응답하여 null 검출 및 멀티플렉싱 회로(124)로 각각의 출력 신호 경로(144a, 144b, 144c)를 통해 전달하기 위한 라우팅 회로(140)로 유선 DUT 신호 경로(202a, 202b, 202c)를 통해 전달된다.
추가적인 신호 라우팅 회로(140)는 당업계에 공지된 기술에 따라 다양한 형태로 구현될 수 있다. 예를 들면, 이러한 라우팅 회로(140)는 1:2 신호 분할기 또는 스플리터로서 구현될 수 있고, 이 경우 응답 null 데이터 패킷 신호(201a1, 201b1, 201c1)는 원래의 null 데이터 패킷 신호의 더 낮은 파워 버전(201a2, 201b2, 201c2)으로서 대응하는 출력 신호 경로(144a, 144b, 144c)를 통해서 분할되고 제공된다. 대안으로, 이러한 라우팅 회로(140)는 대응하는 출력 신호 포트(144a, 144b, 144c)에서 응답 null 데이터 패킷 신호(201a1, 201b1, 201c1)의 결합된 버전을 제공하는 신호 커플러로서 구현될 수 있다. 추가적인 대안으로, 이러한 라우팅 회로(140)는 복제 VSG 테스트 신호(123a1, 123b1, 123c1)의 전송 동안 대응하는 신호 경로(142a, 142b, 142c 및 202a, 202b, 202)가 연결되도록 테스터(100) 또는 외부 컨트롤러(도시되지 않음)로부터의 제어 신호(도시되지 않음)에 따라 제어되는 신호 스위치로서 구현될 수 있다. 유사하게, DUT(200)가 응답할 것으로 예측되는 시간 간격 동안, 대응하는 신호 경로(202a, 202b, 202c 및 144a, 144b, 144c)가 연결된다.
상기 논의에 기초하여, 동시에 TDD 장치들을 테스트할 때, 하나 이상의 TDD 장치들이 테스터의 테스트 데이터 패킷 보다는 차라리 또다른 TDD 장치 응답 데이터 패킷에 대해 부적절하게 동기화하도록 다른 TDD 장치에 대하여 이러한 시간에 시작할 가능성이 있다. 일반적으로, 다중 DUT는 테스트 프로세스가 시작되면 동시에 동기화되지 않을 것이다. 따라서, 복제 테스트 데이터 패킷이 전송될 때, 테스트 준비가 된 DUT는 null 데이터 패킷 신호로 응답하는 반면, 아직 테스트 준비가 되지 않은 DUT는 DUT가 준비가 될 때까지 응답하지 않을 것이다. DUT가 준비되기 전에 테스트 데이터 패킷을 전송하는 것은 최소한의 수의 비트만을 테스트할 필요가 있는 비트오류율(BER) 테스트 동안 수행될 수 있고, 이 경우 다른 것 보다 일부 DUT로 더 많은 데이터 패킷을 전송하는 것은 가장 적은 수의 비트를 수신하는 DUT가 테스트 목적에 요구되는 최소한의 수의 비트를 수신하는 한은 중요한 것이 아니다. 그러나, 테스터가 자신의 데이터 패킷 신호 세트를 전송한 후에 DUT가 준비가 되는 것이 가능하며, 이 경우, 테스터 데이터 패킷 수신 대신에, 현재 준비된(now-ready) DUT가 또다른 DUT에 의해 전송된 누설된 null 데이터 패킷 신호를 수신한다. 반면, 테스터는 이것이 발생했는지를 알 수 있는 방법이 없을 것이다. 따라서, 테스터가 자신의 미리 정의된 테스트 데이터 패킷을 다중 DUT로 전송을 계속할 때, 적절하게 동기화된 DUT는 이들 테스트 데이터 패킷을 수신하는 반면 적절하게 동기화되지 않은 DUT들은 수신하지 않을 것이다.
도 2 및 3을 참조하면, 이들 예시적인 실시예에 따라, 테스터는 테스트 시퀀스의 시작시에 null 데이터 패킷을 전송한다. DUT는 이들 null 데이터 패킷에 응답하지 않을 것이다. 테스터는 동기화 시간 간격이 경과될 때까지 null 데이터 패킷의 전송을 계속한다. 이 간격은 적절하게 동작하는 DUT가 시간 간격이 경과하기 전에 준비되도록 선택된다. 이 시간 간격 동안, 테스터가 null 데이터 패킷을 전송하기 때문에 DUT는 응답을 전송하지 않는다. 따라서, 또다른 DUT로 하여금 그것들에 실수로 동기화하도록 할 수 있는 누설된 응답 데이터 패킷은 없다.
도 4 및 5를 참조하면, 이들 다른 예시적인 실시예에 따라, 동기화 시간 간격이 정적이거나 또는 고정적인 것 보다 동적이기 때문에 더 짧은 테스트 시간이 달성될 수 있다. 상술된 바와 같이, 테스터가 복제 테스트 데이터 패킷을 전송할 때, 테스트 준비가 된 DUT는 null 데이터 패킷 신호를 전송함으로써 응답한다. 이들 응답 null 데이터 패킷 신호가 검지되고 대응하는 DUT들이 식별되어, 후속하여 대응하는 복제 테스트 데이터 패킷 신호의 후속하는 전송이 변경되고, 예를 들면 적용가능한 신호 표준에 맞추지 않도록 손상될 것이다. 이러한 손상된 신호를 수신하는 DUT는 더이상 응답 null 데이터 패킷 신호를 전송하지 않을 것이고, 그에 의해 복제 VSG 신호 대신에 응답 null 데이터 패킷 신호에 대해 아직 테스트할 준비가 되지 않은 DUT의 실수에 의한 동기화를 방지할 것이다.
본 발명의 구조 및 동작 방법에서의 다양한 기타 변경 및 변형이 본 발명의 범위와 취지를 벗어나지 않고서 당업자에 명확할 것이다. 본 발명이 특정한 바람직한 실시예와 연결하여 기술될지라도, 청구된 본 발명이 이러한 특정한 실시예에 지나치게 한정되지 않아야 한다는 것이 이해되어야 한다. 하기의 청구범위는 본 발명의 범위를 정의하고 이들 청구 범위와 그의 등가물의 범위 내의 구조 및 방법이 그에 의해 포함되도록 의도된다.
Claims (10)
- 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법으로서:
복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버에 대해 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계로서, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호의 각각은:
null 데이터 패킷 신호, 및
데이터 패킷 신호 특성을 가진 TDD 데이터 패킷 신호,
중 적어도 하나를 포함하는 공통 데이터 패킷 신호에 대응하는 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계;
상기 공통 데이터 패킷 신호가 null 데이터 패킷 신호를 구비할 때, 미리 정해진 시간 간격 동안 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 계속하여 제공하는 단계; 및
상기 공통 데이터 패킷 신호가 TDD 데이터 패킷 신호를 구비할 때, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 하나 이상을 제공함으로써 상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버로부터 복수의 응답 신호 중 각각의 하나의 성공적인 수신 및 성공적이지 않은 수신에 응답하는 단계로서,
상기 복수의 응답 신호의 각각은 상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버 중 대응하는 트랜시버에 의한 유효한 데이터 패킷의 성공적인 수신을 나타내고,
상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버 중 대응하는 트랜시버로부터의 상기 복수의 응답 신호 중 하나의 성공적인 수신에 후속하여, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 대응하는 신호가 미리정해진 데이터 패킷 신호 표준에 따르지 않도록 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 상기 대응하는 신호에 상기 데이터 패킷 신호 특성이 제공되고, 및
상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버 중 대응하는 트랜시버로부터의 상기 복수의 응답 신호 중 하나의 성공적이지 않은 수신에 후속하여, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 대응하는 신호가 상기 미리정해진 데이터 패킷 신호 표준에 따르도록 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 상기 대응하는 신호에 상기 데이터 패킷 신호 특성이 제공되는,
상기 성공적인 수신 및 성공적이지 않은 수신에 응답하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법. - 제1 항에 있어서, 상기 공통 데이터 패킷 신호가 null 데이터 패킷 신호를 구비할 때, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호에 응답하여 상기 미리 정해진 시간 간격 중 적어도 일부 동안 상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버 중 하나 이상으로부터 대응하는 응답 신호를 수신하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법.
- 제1 항에 있어서, 상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버 중 대응하는 트랜시버로부터의 상기 복수의 응답 신호 중 하나의 신호의 성공적인 수신에 후속하여, 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 대응하는 신호에:
상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 상기 대응하는 신호의 제1 부분이 상기 미리정해진 데이터 패킷 신호 표준에 따르고; 및
상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호 중 상기 대응하는 신호의 제2 부분은 상기 미리정해진 데이터 패킷 신호 표준에 따르지 않도록;
상기 데이터 패킷 신호 특성이 제공되는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법. - 제3 항에 있어서, 상기 제2 부분은 상기 제1 부분에 후속하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법.
- 제1 항에 있어서, 상기 데이터 패킷 신호 특성은 신호 파워와 신호 주파수 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법.
- 제1 항에 있어서, 공통 데이터 패킷 신호에 대응하는 복수의 발신 데이터 패킷을 제공하는 단계는 복수의 복제 데이터 패킷 신호를 제공하기 위해 인입 데이터 패킷 신호의 신호 파워를 분할하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법.
- 제6 항에 있어서, 공통 데이터 패킷 신호에 대응하는 복수의 발신 데이터 패킷을 제공하는 단계는 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 제공하기 위해 상기 복수의 복제 데이터 패킷 신호 중 하나 이상을 감쇠시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법.
- 제6 항에 있어서, 공통 데이터 패킷 신호에 대응하는 복수의 발신 데이터 패킷을 제공하는 단계는 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 제공하기 위해 상기 복수의 복제 데이터 패킷 신호 중 하나 이상을 스위칭하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법.
- 제6 항에 있어서, 공통 데이터 패킷 신호에 대응하는 복수의 발신 데이터 패킷을 제공하는 단계는 상기 복수의 발신 데이터 패킷 신호를 제공하기 위해 하나 이상의 무선 주파수(RF) 신호를 가진 상기 복수의 복제 데이터 패킷 신호 중 하나 이상을 믹싱하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법.
- 제1 항에 있어서, 각각의 복수의 테스트 데이터 패킷 신호 및 응답 데이터 패킷 신호와 상기 복수의 DUT를 교환하는 단계로서:
상기 공통 데이터 패킷 신호가 null 데이터 패킷 신호를 구비할 때 상기 미리정해진 시간 간격; 및
상기 공통 데이터 패킷 신호가 TDD 데이터 패킷 신호를 구비할 때 상기 복수의 TDD 데이터 패킷 신호 트랜시버 중 각각의 트랜시버로부터 상기 복수의 응답 확인 신호 중 하나의 성공적인 수신;
에 후속하는 상기 각각의 복수의 테스트 데이터 패킷 신호 및 응답 데이터 패킷 신호와 상기 복수의 DUT를 교환하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 시분할 듀플렉스(TDD) 데이터 패킷 신호 트랜시버의 테스트를 수행하는 방법.
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