KR20150071962A

KR20150071962A - Jig of testing back light unit

Info

Publication number: KR20150071962A
Application number: KR1020130159123A
Authority: KR
Inventors: 양광욱; 이용복; 유희진
Original assignee: 일진엘이디(주)
Priority date: 2013-12-19
Filing date: 2013-12-19
Publication date: 2015-06-29

Abstract

The present invention provides a jig for testing a backlight unit which can effectively test the operation of a light-emitting element mounted on a backlight unit by an interface of a backlight unit. The jig comprises: a die with at least one installation hole on which a backlight unit is placed; at least one clearance adjusting unit to adjust the clearance between the die with at least one installation hole on which a backlight unit is placed and the interface formed on a backlight unit to a clearance of a probe; and an up-down adjusting unit to bring the probe into contact with the interface.

Description

BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a backlight unit testing jig,

본 발명은 백라이트 유닛 검사 지그에 관한 것으로, 보다 상세하게는 백라이트 유닛의 동작여부를 감지하는 탐침(probe)을 백라이트 유닛의 접점(contact)에 부합하도록 하는 검사 지그에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a backlight unit inspection jig, and more particularly, to a test jig for making a probe for detecting whether or not an operation of a backlight unit matches a contact of a backlight unit.

발광 다이오드(LED)는 전기 에너지를 광으로 변환시키는 소자이며, 일반적으로 반대로 도핑된 층 사이에 있는 적어도 하나의 활성층에서 광이 생성된다. 즉, 도핑된 활성층의 양측에 바이어스가 인가되면, 활성층 내로 정공 및 전자가 주입되어 재결합함으로써 광이 생성된다. 생성된 광은 활성층 및 LED 전체 표면으로부터 외부로 방출된다. 이러한 발광 다이오드는 패키지로 밀봉되어 외부의 환경 또는 기계적인 손상으로부터 보호하고, 컬러를 선택하며, 광을 포커싱(focusing)하는 등 다양한 기능을 제공한다. 이와 같이, 패키징된 발광소자는 다양한 용도로 활용되며, 이를 위해 절단(sawing)공정인 다이 분리(die separation)를 통해 발광소자를 분리한 후, 발광소자를 패키지 몸체(package body)에 다이 본딩(die bonding)하고 와이어 본딩(wire bonding), 몰딩(molding)을 진행 후 테스트를 진행할 수 있다. Light emitting diodes (LEDs) are devices that convert electrical energy into light, and generally light is generated in at least one active layer between oppositely doped layers. That is, when a bias is applied to both sides of the doped active layer, holes and electrons are injected into the active layer and recombined to generate light. The generated light is emitted to the outside from the active layer and the entire surface of the LED. These light emitting diodes are sealed in a package to protect from external environmental or mechanical damage, to select colors, to focus light, and the like. As described above, the packaged light emitting device is used for various purposes. For this purpose, after separating the light emitting device through die separation which is a sawing process, the light emitting device is die-bonded to the package body die bonding, wire bonding, molding, and the like.

한편, 발광소자가 액정표시패널의 백라이트 유닛으로 적용되기 위해서는 일정한 테스트를 거쳐야 한다. 백라이트 유닛은 광원의 위치에 따라 엣지(edge) 방식과 직하 방식으로 구분되며, 도광판을 이용하여 빛을 화면 전체에 고르게 분산시키는 역할을 한다. 발광소자를 백라이트 유닛에 적용하려면, 탑재된 발광소자의 동작여부를 검사해야 한다. 한편, 상기 발광소자의 동작여부를 검사하는 방법에 대한 내용은 국내공개특허 제2013-0077652호에 개시되어 있다. 그런데, 상기 특허는 발광소자 각각의 동작을 검사하기 때문에 복잡한 구조를 가지며, 검사하는 시간 및 비용이 많이 소요된다. 또한, 상기 특허는 백라이트 유닛의 접점(contact)을 활용하는 것이 아니므로, 상기 접점에 의해 백라이트 유닛에 탑재된 발광소자의 동작여부를 검사하는 방법에 적용할 수 없다. 나아가, 종래의 방법으로는 접점의 위치가 서로 다른 백라이트 유닛을 적절하게 확인하여 검사하기 어려운 실정이다. Meanwhile, in order for the light emitting device to be applied as a backlight unit of a liquid crystal display panel, a certain test must be performed. The backlight unit is divided into an edge method and a direct-down method according to the position of a light source, and serves to disperse the light evenly on the entire screen by using a light guide plate. In order to apply the light emitting element to the backlight unit, it is necessary to check whether or not the mounted light emitting element operates. On the other hand, the contents of a method for checking whether the light emitting device is operating are disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 2013-0077652. However, the patent has a complex structure because it inspects the operation of each of the light emitting devices, and it takes a lot of time and cost to inspect. In addition, since the above-mentioned patent does not utilize the contact of the backlight unit, it can not be applied to a method of checking whether the light emitting device mounted on the backlight unit is operated by the contact. Further, in the conventional method, it is difficult to appropriately check and inspect the backlight units having different positions of the contacts.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 백라이트 유닛의 종류에 무관하게 접점에 의해 백라이트 유닛에 탑재된 발광소자의 동작여부 검사를 효과적으로 수행할 수 있는 백라이트 유닛 검사지그를 제공하는 데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a backlight unit inspection jig capable of effectively checking whether a light emitting device mounted on a backlight unit is operated by a contact regardless of the type of backlight unit.

본 발명의 과제를 해결하기 위한 백라이트 유닛 검사지그는 발광 소자와 한 쌍의 접점을 가진 백라이트 유닛이 장착되는 적어도 하나의 장착홈이 형성된 다이와, 한 쌍의 탐침을 가지고, 상기 접점의 간격과 상기 탐침의 간격이 일치되도록 조절하는 적어도 하나의 간격조절부 및 상기 탐침을 상기 접점에 접촉시키는 상하조절부를 포함한다. A backlight unit inspection sheet for solving the problems of the present invention includes a die having at least one mounting groove on which a light emitting device and a backlight unit having a pair of contacts are mounted and a pair of probes, At least one gap adjusting section for adjusting the gap so as to coincide with each other, and a vertical adjusting section for bringing the probe into contact with the contact.

본 발명에 상기 백라이트 유닛 검사지그는 상기 간격조절부 또는 상하조절부의 일부를 커버하는 케이스를 더 포함할 수 있고, 상기 케이스는 상기 발광 소자의 정상 동작 여부를 표시하는 표시등을 포함할 수 있다. 또한, 상기 백라이트 유닛 검사지그는 상기 접점의 위치를 감지하는 감지부 및 상기 감지부에서 신호를 받아 상기 상하조절부 및 상기 간격조절부를 제어하는 제어부를 포함할 수 있으며, 상기 상하조절부는 상기 탐침을 상기 접점에 자동으로 접촉시키는 상하 구동축 및 상하 구동기를 포함할 수 있고, 상기 간격조절부는 상기 접점의 간격과 상기 탐침의 간격을 자동으로 일치시키는 회전축 및 회전 구동기를 포함할 수 있다. 이때, 상기 간격조절부는 상기 장착홈마다 설치될 수 있다.The backlight unit inspection sheet may further include a case covering a part of the interval adjusting unit or the up and down control unit, and the case may include an indicator for indicating whether the light emitting device is normally operated. The backlight unit inspection sheet may include a sensing unit for sensing the position of the contact and a control unit for receiving the signal from the sensing unit and controlling the up and down control unit and the interval control unit, And a vertical driver and an upper and lower driver for automatically contacting the contact, and the gap adjuster may include a rotary shaft and a rotary actuator for automatically matching the interval of the contact with the interval of the probe. At this time, the gap adjusting portion may be provided for each mounting groove.

본 발명의 지그에 있어서, 다이는 상기 백라이트 유닛을 고정하기 위한 고정부를 포함할 수 있고, 상기 고정부는 탄성력에 의해 움직이는 밀대를 포함할 수 있다. 상기 다이는 상기 백라이트 유닛의 세로 방향의 위치를 결정하는 표식을 포함할 수 있다. 상기 간격조절부는 래크와 피니언, 벨로우즈 또는 탄성체 중에 어느 하나를 활용할 수 있으며, 상기 래크와 피니언은 각각 상부 래크, 상부 피니언 및 하부 래크, 하부 피니언을 포함할 수 있다. 또한, 상기 간격조절부는 상기 래크와 피니언에 수동으로 회전력을 제공하기 위한 다이얼 축 및 다이얼을 더 포함할 수 있다. In the jig of the present invention, the die may include a fixing portion for fixing the backlight unit, and the fixing portion may include a plunger moving by an elastic force. The die may include indicia that determine the longitudinal position of the backlight unit. The gap adjusting portion may utilize any one of a rack, a pinion, a bellows, and an elastic body, and the rack and the pinion may include an upper rack, a upper pinion and a lower rack, and a lower pinion. In addition, the gap adjusting unit may further include a dial shaft and a dial for manually providing rotational force to the rack and the pinion.

본 발명의 바람직한 지그에 있어서, 상기 상하조절부는 레버와, 레버 지지판 및 레버 구동축을 포함할 수 있다. 상기 상하조절부는 상하 운동력을 부여받는 횡대 및 상기 횡대와 연결되며 상기 간격조절부를 지지하는 돌출부로 이루어질 수 있다. 이때, 상기 횡대는 상기 장착홈에 대응되도록 형성될 수 있다.In the preferred jig of the present invention, the up-down adjustment portion may include a lever, a lever support plate, and a lever drive shaft. The up and down control unit may include a horizontal axis that is given a vertical movement force and a protrusion that is connected to the horizontal axis and supports the gap adjustment unit. At this time, the horizontal axis may be formed to correspond to the mounting groove.

본 발명의 백라이트 유닛의 검사지그에 의하면, 백라이트 유닛의 동작여부를 감지하는 탐침(probe)을 상기 백라이트 유닛의 접점(contact)에 부합하도록 하는 수단을 갖춤으로써, 상기 백라이트 유닛의 접점에 의해 백라이트 유닛에 탑재된 발광소자의 동작여부를 효과적으로 검사할 수 있다. 또한, 다이에 백라이트 유닛을 세로 방향으로 정렬하는 표식을 두어 백라이트 유닛의 세로 방향의 위치를 쉽게 결정할 수 있다.According to the inspection jig of the backlight unit of the present invention, by having a means for matching a probe for detecting the operation of the backlight unit to the contact of the backlight unit, It is possible to effectively check whether the light emitting element mounted on the light emitting element is operated. Further, a marker for aligning the backlight unit in the longitudinal direction can be provided on the die, so that the position of the backlight unit in the vertical direction can be easily determined.

도 1은 본 발명에 의한 제1 검사지그를 보여주는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 제1 검사지그에 의해 탐침의 위치를 조절하는 방법을 설명하기 위한 사시도이다.
도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ선을 따라 절단한 단면도이다.
도 4는 본 발명에 의한 제2 검사지그를 보여주는 사시도이다.
도 5는 본 발명의 제2 검사지그에 의해 탐침의 위치를 조절하는 방법을 설명하기 위한 사시도이다.
도 6은 본 발명의 제2 검사지그의 감지부에 의해 백라이트 유닛의 접점을 감지하는 방법을 나타내는 단면도이다.1 is a perspective view showing a first inspection jig according to the present invention.
2 is a perspective view for explaining a method of adjusting the position of a probe by the first inspection jig of the present invention.
3 is a cross-sectional view taken along the line III-III in Fig.
4 is a perspective view showing a second inspection jig according to the present invention.
5 is a perspective view for explaining a method of adjusting the position of the probe by the second inspection jig of the present invention.
6 is a cross-sectional view illustrating a method of detecting a contact of a backlight unit by the sensing unit of the second inspection jig of the present invention.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 다음에서 설명되는 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술되는 실시예에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 실시예는 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The embodiments described below can be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. The embodiments of the present invention are provided to enable those skilled in the art to more fully understand the present invention.

본 발명의 실시예는 백라이트 유닛의 동작여부를 감지하는 탐침(probe)을 상기 백라이트 유닛의 접점(contact)에 부합하도록 하는 수단을 갖춤으로써, 백라이트 유닛의 접점에 의해 백라이트 유닛에 탑재된 발광소자의 동작여부를 효과적으로 검사하는 백라이트 유닛 검사지그를 제시한다. 즉, 본 발명의 실시예는 접점에 의해 백라이트 유닛에 탑재된 발광소자의 동작여부를 검사하기 위한 지그로 최적화된 것이다. 한편, 백라이트 유닛은 유닛의 종류에 따라 접점의 위치가 각각 다르다. 이를 위해, 접점 및 발광소자를 포함하는 백라이트 유닛에 대하여 자세하게 알아보고, 상기 유닛의 접점에 접촉하여 상기 발광소자의 동작여부를 검사하기 위한 수단을 구체적으로 살펴보기로 한다.The embodiment of the present invention has a means for matching a probe for detecting the operation of the backlight unit to the contact of the backlight unit so that the light emitting element mounted on the backlight unit by the contact of the backlight unit And a backlight unit inspection jig for effectively checking whether operation is performed. That is, the embodiment of the present invention is optimized by a jig for checking whether the light emitting device mounted on the backlight unit is operated by the contact. On the other hand, the positions of the contact points of the backlight unit are different depending on the type of the unit. To this end, a detailed description will be given of a backlight unit including a contact and a light emitting element, and means for checking whether the light emitting element is in contact with a contact of the unit will be described in detail.

도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 의한 제1 검사지그(100)를 보여주는 사시도이다. 1 is a perspective view showing a first inspection jig 100 according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명에 적용되는 백라이트 유닛(10)은 복수개의 발광소자(12)가 탑재되는 바(bar) 형상으로, 길이가 긴 쪽을 세로 방향, 짧은 쪽을 가로 방향이라고 정의할 수 있다. 또한, 본 발명의 실시예는 설명의 편의를 위하여, 상기 가로 및 세로 방향과 수직한 방향을 상하 방향이라고 한다. 백라이트 유닛(10)은 발광소자(12)의 동작여부를 검사하기 위하여, 끝 부분에 바람직하게는 두 개의 접점(14)이 형성되어 있다. 접점(14)에 전원을 인가하면, 백라이트 유닛(10)에 포함된 전기회로(도시되지 않음)에 의해 발광소자(12)를 동작시킨다. Referring to FIG. 1, the backlight unit 10 according to the present invention has a bar shape in which a plurality of light emitting devices 12 are mounted, and a longer side is defined as a longitudinal direction and a shorter side is defined as a lateral direction . For convenience of explanation, the embodiment of the present invention is referred to as a vertical direction in the direction perpendicular to the horizontal and vertical directions. The backlight unit 10 is preferably provided with two contacts 14 at the end thereof to check whether the light emitting device 12 operates. When power is applied to the contact 14, the light emitting element 12 is operated by an electric circuit (not shown) included in the backlight unit 10. [

제1 검사지그(100)는 상기 전기회로 및 발광소자(12)가 정상적으로 동작하는 지를 검사(test)하기 위한 장치이다. 백라이트 유닛(10)은 제품마다 접점(14) 사이의 간격이 다르지만, 본 발명의 제1 검사지그(100)는 상기 간격에 맞추어 탐침(40)을 접점(14)에 정확하게 접촉시킬 수 있다. 제1 검사지그(100)는 골격을 이루는 부분, 검사결과를 확인하는 부분 및 탐침(40)의 간격을 조절하는 부분으로 구분될 수 있다. 상기 골격을 이루는 부분은 백라이트 유닛(10)을 장착하는 적어도 하나의 장착홈(22)이 형성된 다이(20) 및 탐침(40)의 간격을 조절하고 발광소자(12)를 검사하기 위한 부분을 지지하는 케이스(30)를 포함한다. 백라이트 유닛(10)은 장착홈(22)마다 장착될 수 있으므로, 장착홈(22)의 개수에 의해 검사대상이 되는 백라이트 유닛(10)의 개수가 한정된다. The first inspection jig 100 is an apparatus for testing whether the electric circuit and the light emitting device 12 are operating normally. The first inspection jig 100 of the present invention can precisely contact the probe 40 with the contact point 14 in accordance with the gap although the interval between the contact points 14 is different for each product of the backlight unit 10. [ The first test jig 100 can be divided into a skeleton portion, a portion for checking the test result, and a portion for adjusting the interval of the probe 40. The skeletal portion includes a die 20 on which at least one mounting groove 22 for mounting the backlight unit 10 is formed and a portion for adjusting the interval of the probe 40 and for inspecting the light emitting element 12 And a case (30). The number of the backlight units 10 to be inspected is limited by the number of the mounting grooves 22 since the backlight unit 10 can be mounted for each mounting groove 22. [

다이(20)는 장착되는 백라이트 유닛(10)이 움직이지 않도록 고정시키기 위해, 탄성체에 의해 운동하는 밀대(26)가 구비된 고정부(24)를 포함할 수 있다. 고정부(24)는 장착홈(22)을 따라 장착홈(22)마다 적어도 두 개가 설치되는 것이 좋다. 백라이트 유닛(10)이 장착되면, 밀대(26)는 탄성력에 의해 고정부(24) 방향으로 밀려서, 백라이트 유닛(10)을 탄성력으로 고정시킨다. 이렇게 되면, 백라이트 유닛(10)의 형태가 다르더라도, 고정부(24)에 의해 안정적으로 고정할 수 있다. 또한, 다이(20)는 접점(14)의 세로 방향의 위치를 지시하는 표식(28)이 새겨져 있을 수 있다. 접점(14)을 세로 방향으로 표식(28)에 일치시키면, 검사를 위한 백라이트 유닛(10)의 세로 방향이 결정될 수 있다. The die 20 may include a fixing portion 24 provided with a plunger 26 which is moved by an elastic body to fix the backlight unit 10 to be mounted. It is preferable that at least two fixing portions 24 are provided for each mounting groove 22 along the mounting groove 22. When the backlight unit 10 is mounted, the plunger 26 is pushed in the direction of the fixing unit 24 by the resilient force to fix the backlight unit 10 with elastic force. Thus, even if the shape of the backlight unit 10 is different, the fixing unit 24 can stably fix the backlight unit 10. Further, the die 20 may be marked with a marking 28 indicating the position of the contact 14 in the longitudinal direction. When the contact point 14 is aligned with the marking 28 in the longitudinal direction, the longitudinal direction of the backlight unit 10 for inspection can be determined.

케이스(30)는 백라이트 유닛(10)의 접점(14)이 있는 부분 상부에 위치하며, 백라이트 유닛(10)이 삽입되는 모든 장착홈(22)에 대응할 수 있는 크기로, 다이(20)의 일측을 따라 설치되어 있다. 한편, 탐침(40)은 적어도 두 개의 바늘이 서로 공간적으로 떨어져, 각각의 장착홈(22)마다 대응되도록 케이스에 배치되어 있다. 백라이트 유닛(10)이 장착홈(22)에 장착되면, 탐침(40)은 백라이트 유닛(10)의 적어도 두 개의 접점(14)과 접촉된 후, 발광소자(12)의 동작 여부를 검사한다. 즉, 탐침(40)은 접점(14)의 위치에 대응하여 접촉하고, 접점(14)에 전원을 공급하는 역할을 한다. 케이스(30)에는 발광소자(12)가 제대로 동작되는 지를 확인할 수 있는 표시등(32)이 각각의 장착홈(22)마다 대응되도록 케이스에 설치되어 있다. 표시등(32)은 예컨대 발광 램프로서, 발광소자(12)가 제대로 동작하면, 파란색과 같은 빛으로 상기 정보를 표시할 수 있다.The case 30 is located above the portion of the backlight unit 10 where the contact 14 is provided and is sized to correspond to all the mounting grooves 22 into which the backlight unit 10 is inserted, Respectively. On the other hand, the probe 40 is disposed in the case so that at least two needles are spaced apart from each other and correspond to the respective mounting grooves 22. When the backlight unit 10 is mounted in the mounting groove 22, the probe 40 contacts the at least two contact points 14 of the backlight unit 10 and then checks whether the light emitting element 12 is operating. That is, the probe 40 is in contact with the position of the contact 14 and serves to supply power to the contact 14. The case 30 is provided with a case 32 such that a display lamp 32 for confirming whether the light emitting element 12 is properly operated corresponds to each mounting groove 22. [ The display lamp 32 is, for example, a light emitting lamp. When the light emitting element 12 operates properly, the information can be displayed in a blue light.

탐침(40)의 위치를 조절하는 부분은 접점(14)에 대하여 상하 위치를 조절하는 상하조절부(50) 및 가로 방향의 위치인 간격을 조절하는 간격조절부(60)를 포함하여 이루어진다. 상하조절부(50)는 구성요소의 일부인 레버(52), 레버 지지판(54) 및 레버 구동축(56)이 케이스(30)의 외부로 노출되어 있다. 도면에서는 상하조절부(50)의 하나의 예를 제시한 것에 불과하며, 본 발명의 상하 위치를 조절하는 기술적인 사상을 만족하는 범위 내에서, 상하조절부(50)는 다양하게 구성될 수 있다. 예를 들어, 레버 지지판(54) 및 레버 구동축(56)은 케이스(30)의 내부에 있을 수 있다. 나아가, 레버 지지판(54) 또는 레버 구동축(56)이 없이 레버(52)에 의해 직접 상하 위치를 조절할 수도 있다.The portion for adjusting the position of the probe 40 includes a vertical adjustment portion 50 for adjusting the vertical position with respect to the contact point 14 and a gap adjustment portion 60 for adjusting the interval in the horizontal direction. The upper and lower regulating portion 50 is exposed to the outside of the case 30 by a lever 52, a lever supporting plate 54 and a lever driving shaft 56 which are a part of the constituent elements. The upper and lower control part 50 is merely an example of the upper and lower control part 50. The upper and lower control part 50 can be variously configured to satisfy the technical idea of adjusting the vertical position of the present invention . For example, the lever support plate 54 and the lever drive shaft 56 may be internal to the case 30. Furthermore, it is possible to directly adjust the vertical position by the lever 52 without the lever supporting plate 54 or the lever driving shaft 56. [

간격조절부(60)는 접점(14)을 향해 뻗어 있는 탐침(40) 사이의 간격을 조절하는 것이다. 보다 구체적으로, 간격조절부(60)는 탐침(40) 사이의 간격을 접점(14)의 간격과 일치하도록 하는 것이다. 간격조절부(60)는 상기 간격을 조절하기 위하여 일차적인 동력을 제공하는 다이얼(62)이 케이스(30)의 외부에 설치되어 있다. 즉, 다이얼(62)의 시계 방향 또는 반시계 방향으로 돌리면, 탐침(40) 사이의 간격은 좁아지거나 넓어진다. 도면에서는 간격조절부(60)의 하나의 예를 제시한 것에 불과하며, 본 발명의 가로 위치를 조절하는 기술적인 사상을 만족하는 범위 내에서 간격조절부(60)는 다양하게 구성될 수 있다. The gap adjusting portion 60 adjusts the distance between the probes 40 extending toward the contact 14. More specifically, the interval adjusting section 60 is arranged to make the interval between the probes 40 coincide with the interval of the contact points 14. The interval adjusting unit 60 is provided outside the case 30 with a dial 62 for providing a primary power for adjusting the interval. That is, when the dial 62 is turned clockwise or counterclockwise, the distance between the probes 40 is narrowed or widened. The interval adjusting unit 60 is merely an example of the interval adjusting unit 60. The interval adjusting unit 60 may be variously configured to satisfy the technical idea of adjusting the lateral position of the present invention.

간격조절부(60)는 탐침(40) 사이의 간격을 조절할 수 있는 모든 방법이 적용될 수 있다. 예를 들어, 래크(rack)와 피니언(pinion)의 원리를 이용하거나, 벨로우즈(bellows)의 수축 및 팽창을 활용하거나, 탄성체의 탄성력으로 조절하는 등의 다양한 방식이 응용될 수 있다. 본 발명의 실시예에는 그 중에서 래크와 피니언에 의해 상기 간격을 조절하는 방법을 중심으로 설명하기로 한다. 래크와 피니언은 톱니에 의한 힘의 작용으로 움직이므로, 톱니의 피치를 조절하여 보다 정밀하고 위치 조정이 가능하다는 장점이 있다. 또한, 톱니의 작용을 활용하므로, 흔들림이 적어서 보다 안정적이다. The gap adjusting unit 60 may be applied to any method capable of adjusting the distance between the probes 40. [ For example, various methods such as using rack and pinion principles, utilizing shrinkage and expansion of bellows, or adjusting the elasticity of an elastic body can be applied. In the embodiment of the present invention, a method of adjusting the gap by a rack and a pinion will be mainly described. Since the rack and pinion move due to the action of the force of the teeth, there is an advantage that the pitch of the teeth can be adjusted so that the position can be adjusted more precisely. In addition, since it utilizes the action of the teeth, it is less stable and more stable.

도 2는 본 발명의 하나의 실시예에 의한 제1 검사지그(100)에 의해 탐침(40)의 위치를 조절하는 방법을 설명하기 위한 사시도이다. 도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ선을 따라 절단한 단면도이다. 이때, 제1 검사지그(100)의 전체적인 구조는 도 1을 참조한다.2 is a perspective view for explaining a method of adjusting the position of the probe 40 by the first inspection jig 100 according to an embodiment of the present invention. 3 is a cross-sectional view taken along the line III-III in Fig. At this time, the overall structure of the first test jig 100 is shown in FIG.

도 2 및 도 3에 의하면, 접점(14)의 위치에 탐침(40)을 접촉시키기 위해서 제1 검사지그(100)는 상하조절부(50) 및 간격조절부(60)를 포함한다. 상하 및 간격조절부(50, 60)는 도 1에서 설명한 구성요소를 제외하고는 케이스(30)의 내부에 설치되어 있다. 또한, 간격조절부(60)는 각각의 장착홈(22)마다 독립적으로 설치되어 있다. 다시 말해, 장착홈(22)의 개수에 부합되도록, 장착홈(22)과 동일한 개수의 간격조절부(60)가 존재한다. 2 and 3, the first inspection jig 100 includes a vertical adjustment portion 50 and a gap adjustment portion 60 to bring the probe 40 into contact with the position of the contact 14. The upper and lower spacing adjusting portions 50 and 60 are provided inside the case 30 except for the components described with reference to FIG. In addition, the interval adjusting portion 60 is provided independently for each mounting groove 22. [ In other words, there are the same number of the gap adjusting portions 60 as the mounting grooves 22 to match the number of the mounting grooves 22.

상하조절부(50)는 레버(52)의 힘을 전달하는 레버 구동축(56)이 부착된 받침대(58)를 포함한다. 구체적으로, 레버(52)를 다이(20) 방향으로 당기면, 받침대(58)는 다이(20) 방향으로 이동하여 탐침(40)과 접점(14)이 접촉을 이루게 된다. 받침대(58)는 레버 구동축(56)에 의해 움직이는 횡대(58a) 및 간격조절부(60)를 지지하도록 횡대(58a)로부터 돌출된 돌출부(58b)로 이루어진다. 횡대(58a)는 모든 장착홈(22)에 대응하도록 연속적으로 이어지는 것이 바람직하며, 돌출부(58b) 상에는 간격조절부(60)가 배치되어 있다. 레버 구동축(56)은 레버(52)의 힘을 균일하게 전달할 수 있도록 횡대(58a)에 고정될 수 있으며, 도면에서는 횡대(58a) 양쪽의 두 군데에 위치하고 있다.The upper and lower regulating portion 50 includes a pedestal 58 to which a lever driving shaft 56 for transmitting the force of the lever 52 is attached. Specifically, when the lever 52 is pulled in the direction of the die 20, the pedestal 58 moves in the direction of the die 20, and the probe 40 and the contact 14 come into contact with each other. The pedestal 58 comprises a transverse section 58a which is moved by the lever drive shaft 56 and a protrusion 58b which protrudes from the transverse section 58a to support the interval adjusting section 60. It is preferable that the transverse portion 58a is continuous to correspond to all the mounting grooves 22, and a gap adjusting portion 60 is disposed on the projecting portion 58b. The lever drive shaft 56 can be fixed to the transverse frame 58a so as to uniformly transmit the force of the lever 52 and is located at two places on both sides of the transverse frame 58a in the figure.

간격조절부(60)는 백라이트 유닛(10)의 접점(14)의 간격에 맞추어, 제1 검사지그(100)에 장착된 탐침(40)의 간격을 조절하는 것이다. 간격조절부(60)는 돌출부(58b)에서 상부 피니언(66), 상부 래크(68), 하부 피니언(70) 및 하부 래크(76)의 순서로 이루어진다. 상부 피니언(66)은 수동으로 회전시키는 다이얼(62)을 다이얼 축(64)으로 연결시킨다. 다이얼 축(64)은 케이스(30)에 고정되어 있으므로, 상부 피니언(66)은 오직 회전운동만 한다. 하부 피니언(70)은 불필요한 움직임을 방지하기 위하여, 피니언 고정부(72)와 스톱퍼(74) 사이의 피니언 고정축(73)에 의해 고정되어 있다. 스톱퍼(74)는 하부 피니언(70)이 탈락되지 않도록 하는 역할을 한다. 하부 피니언(70)은 고정축(73)에 의해 고정되어 있으므로, 오직 회전운동만 한다. 이에 대하여, 상부 래크(68) 및 하부 래크(76)는 왕복 직선운동을 한다. The gap adjusting unit 60 adjusts the gap of the probe 40 mounted on the first inspection jig 100 in accordance with the distance between the contacts 14 of the backlight unit 10. The gap adjusting portion 60 is formed in the order of the upper pinion 66, the upper rack 68, the lower pinion 70, and the lower rack 76 in the projecting portion 58b. The upper pinion 66 connects the dial 62 which is manually rotated by the dial shaft 64. Since the dial shaft 64 is fixed to the case 30, the upper pinion 66 only rotates. The lower pinion 70 is fixed by a pinion fixing shaft 73 between the pinion fixing portion 72 and the stopper 74 in order to prevent unnecessary movement. The stopper 74 serves to prevent the lower pinion 70 from falling off. Since the lower pinion 70 is fixed by the fixed shaft 73, it only rotates. On the other hand, the upper rack 68 and the lower rack 76 perform reciprocating linear motion.

상부 피니언(66), 상부 래크(68), 하부 피니언(70) 및 하부 래크(76)가 만나는 부분에는 탐침(40)의 간격을 충분하게 수용할 수 있을 정도로 톱니가 형성되어 있다. 상기 톱니의 피치와 크기는 본 발명의 목적에 비추어 사전에 설정된다. 즉, 상부 피니언(66)과 이에 접속하는 상부 래크(68)의 톱니의 피치 및 크기와 하부 피니언(70)과 이에 접속하는 상하부 래크(68, 76)의 톱니의 피치 및 크기는 서로 동일하거나 다르게 설정될 수 있다. 이와 같이, 톱니의 피치 및 크기를 적절하게 설정함에 따라, 탐침(40)의 간격을 보다 정밀하면서 흔들림이 없이 안정되게 조절할 수 있다.Teeth are formed at a portion where the upper pinion 66, the upper rack 68, the lower pinion 70 and the lower rack 76 meet to sufficiently accommodate the interval of the probes 40. The pitch and size of the teeth are predetermined in light of the object of the present invention. That is, the pitch and the size of the teeth of the upper pinion 66 and the upper rack 68 connected thereto and the pitch and the size of the teeth of the upper and lower racks 68 and 76 connected to the lower pinion 70 are equal to or different from each other Can be set. As described above, by appropriately setting the pitch and size of the teeth, the interval of the probe 40 can be adjusted more precisely and stably without shaking.

도면을 기준으로 접점(14)에 부응하여 탐침(40)의 간격을 조절하는 방법은 다음과 같다. 작업자가 다이얼(62)을 시계 방향으로 돌리면, 상부 피니언(66)도 시계 방향으로 회전한다. 이에 의해, 상부 래크(68)는 탐침(40)의 간격을 줄이는 방향으로 직선운동을 한다. 상부 래크(68)의 운동으로 하부 피니언(70)은 반시계 방향으로 회전하고, 상기 회전에 의해 하부 래크(76)도 탐침(40)의 간격을 줄이는 방향으로 직선운동을 한다. 이와 같이, 다이얼(62)을 시계 방향으로 돌리면 탐침(40)의 간격을 줄어들고, 반시계 방향으로 돌리면 탐침(40)의 간격은 넓어진다. A method of adjusting the interval of the probe 40 in response to the contact 14 based on the drawing is as follows. When the worker rotates the dial 62 clockwise, the upper pinion 66 also rotates clockwise. Thereby, the upper rack 68 performs a linear motion in the direction of reducing the interval of the probes 40. The lower pinion 70 rotates in the counterclockwise direction by the movement of the upper rack 68 and the lower rack 76 also linearly moves in the direction of reducing the interval of the probes 40 by the rotation. Thus, when the dial 62 is turned clockwise, the interval between the probes 40 is reduced, and when the dial 62 is turned counterclockwise, the interval between the probes 40 is widened.

백라이트 유닛(10)의 검사과정은 먼저 백라이트 유닛(10)을 세로 방향의 위치를 결정하는 표식(28)에 맞추어 장착홈(22)에 삽입한다. 표식(28)에 정렬된 접점(14)을 가진 백라이트 유닛(10)은 고정부(24)에 의해 고정된다. 그 후, 간격조절부(60)의 다이얼(62)을 이용하여 탐침(40)을 접점(14)과 일치시킨다. 상하조절부(50)를 당겨 탐침(40)을 접점(14)에 접촉시킨다. 그런 다음, 탐침(40)에 공급된 전원에 의해 백라이트 유닛(10)의 전기회로 및 발광소자(12)의 동작여부를 확인한다. 만일, 표시등(32)에 예컨대 파란색 빛이 방출되면, 상기 전기회로 및 발광소자(12)는 정상적으로 동작하는 것으로 판단한다.The inspection process of the backlight unit 10 first inserts the backlight unit 10 into the mounting groove 22 in accordance with the marking 28 for determining the position in the longitudinal direction. The backlight unit 10 having the contact 14 aligned with the marking 28 is fixed by the fixing part 24. [ Thereafter, the probe 40 is made to coincide with the contact 14 by using the dial 62 of the gap adjusting portion 60. And the probe 40 is brought into contact with the contact point 14 by pulling up and down the regulating portion 50. Then, the operation of the electric circuit of the backlight unit 10 and the light emitting element 12 is confirmed by the power supplied to the probe 40. If, for example, blue light is emitted to the indicator light 32, it is determined that the electric circuit and the light emitting element 12 operate normally.

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 의한 제2 검사지그(200)를 보여주는 사시도이다. 도 5는 본 발명의 제2 검사지그(200)에 의해 탐침(40)의 위치를 조절하는 방법을 설명하기 위한 사시도이다. 이때, 제2 검사지그(200)는 상하조절 및 간격조절을 자동으로 한다는 점을 제외하고는 제1 검사지그(100)와 동일하다. 이에 따라, 동일한 참조부호는 동일한 기능 및 역할을 한다.4 is a perspective view showing a second inspection jig 200 according to another embodiment of the present invention. 5 is a perspective view for explaining a method of adjusting the position of the probe 40 by the second inspection jig 200 of the present invention. At this time, the second test jig 200 is the same as the first test jig 100 except that the second test jig 200 automatically adjusts up and down and interval. Accordingly, the same reference numerals have the same functions and functions.

도 4 및 도 5에 의하면, 제2 검사지그(200)는 상하조절부(82) 및 간격조절부(90)가 바람직하게는 케이스(80)의 내부에 설치된다. 상하조절부(82)는 제1 검사지그(100)의 레버 구동축(56) 대신에 상하구동기(84)에 의해 구동되는 상하구동축(86)을 사용한 것을 제외하고 제1 검사지그(100)의 상하조절부(50)와 동일한 기능 및 역할을 한다. 상하구동기(84)는 제어부(96)로부터 입력된 신호에 의해 구동되는 모터일 수 있으며, 상하구동축(86)의 상하 직선운동을 일으킨다. 간격조절부(90)는 제1 검사지그(100)의 다이얼(62) 대신에 회전구동기(92)에 의해 구동되는 회전하는 것을 제외하고 제1 검사지그(100)의 간격조절부(60)와 동일한 기능 및 역할을 한다. 회전구동기(92)는 제어부(96)로부터 입력된 신호에 의해 회전축(93)을 구동하는 모터일 수 있으며, 상부 피니언(66)의 회전운동을 일으킨다.Referring to FIGS. 4 and 5, the second inspection jig 200 is installed inside the case 80, and the vertical adjustment unit 82 and the gap adjustment unit 90 are preferably installed. The upper and lower control part 82 is provided on the upper and lower sides of the first inspection jig 100 except that the upper and lower driving shafts 86 are used instead of the lever driving shaft 56 of the first inspection jig 100, And has the same function and role as the control unit 50. [ The upper and lower driver 84 may be a motor driven by a signal input from the control unit 96, and causes the up and down driving shaft 86 to move up and down in a straight line. The interval adjusting unit 90 may be configured such that the interval adjusting unit 60 of the first inspection jig 100 and the interval adjusting unit 60 of the first inspection jig 100 are rotated, The same function and role. The rotary actuator 92 may be a motor that drives the rotary shaft 93 by a signal input from the control unit 96 and causes the upper pinion 66 to rotate.

한편, 본 발명의 제2 검사지그(200)은 받침대(58)의 돌출부(58b)의 저면에는 감지부(94)가 부착되어 있다. 감지부(94)는 도 6에서와 같이, 백라이트 유닛의 접점(14) 사이의 간격을 감지하여 이를 제어부(96)에 전달한다. 감지부(94)는 비접촉 방식으로 접점(14)을 감지할 수 있는 센서이면 모두 가능하며, 바람직하게는 발광부와 수광부를 구비한 이미지 센서가 좋다. 감지부(94)가 접점(14) 사이의 간격을 감지하여 제어부(96)에 전달하면, 제어부(96)는 회전구동기(92)를 작동하여 상기 간격으로 탐침(40)을 이동시킨다. 상기 간격이 조절되면, 제어부(96)는 상하구동기(84)를 작동하여 탐침(40)을 접점(14)에 접촉시킨다. 그런 다음, 탐침(40)에 공급된 전원에 의해 백라이트 유닛(10)의 전기회로 및 발광소자(12)의 동작여부를 확인한다. 만일, 표시등(32)에 예컨대 파란색 빛이 방출되면, 상기 전기회로 및 발광소자(12)는 정상적으로 동작하는 것으로 판단한다.In the second inspection jig 200 of the present invention, a sensing portion 94 is attached to the bottom surface of the protrusion 58b of the pedestal 58. As shown in FIG. 6, the sensing unit 94 senses a gap between the contacts 14 of the backlight unit and transmits the sensed distance to the control unit 96. FIG. The sensing unit 94 may be any sensor capable of sensing the contact 14 in a non-contact manner, and preferably an image sensor having a light emitting unit and a light receiving unit. The sensing unit 94 senses the distance between the contact points 14 and transmits the sensed distance to the control unit 96. The control unit 96 operates the rotation driver 92 to move the probe 40 at the interval. When the gap is adjusted, the controller 96 operates the vertical actuator 84 to bring the probe 40 into contact with the contact 14. Then, the operation of the electric circuit of the backlight unit 10 and the light emitting element 12 is confirmed by the power supplied to the probe 40. If, for example, blue light is emitted to the indicator light 32, it is determined that the electric circuit and the light emitting element 12 operate normally.

이상, 본 발명은 바람직한 실시예를 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형이 가능하다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but many variations and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention. It is possible.

10; 백라이트 유닛 12; 발광소자
14; 접점 20; 다이
22; 장착홈 24; 고정부
26; 밀대 28; 표식
30, 80; 케이스
32; 표시등 40; 탐침
50, 82; 상하조절부
52; 레버 56; 레버 구동축
58; 받침대
60, 90; 간격조절부
62; 다이얼 64; 다이얼 축
66; 상부 피니언 68; 상부 래크
70; 하부 피니언 76; 하부 래크
84; 상하구동기 86; 상하구동축
92; 회전구동기 93; 회전축
94; 감지부 96; 제어부
100; 제1 검사지그 200; 제2 검사지그10; Backlight unit 12; Light emitting element
14; Contact 20; die
22; Mounting groove 24; [0035]
26; A push rod 28; Mark
30, 80; case
32; Indicator 40; probe
50, 82; The up-
52; Lever 56; Lever drive shaft
58; Pedestal
60, 90; [0030]
62; Dial 64; Dial axis
66; Upper pinion 68; Upper rack
70; Lower pinion 76; Lower rack
84; A vertical actuator 86; The upper and lower drive shafts
92; A rotary actuator 93; Rotating shaft
94; Sensing unit 96; The control unit
100; A first inspection jig 200; The second inspection jig

Claims

A die having at least one mounting groove on which a light emitting element and a backlight unit having a pair of contacts are mounted;
At least one gap adjusting unit having a pair of probes, and adjusting the gap of the contact and the gap of the probe to coincide with each other; And
And a vertical adjustment unit for contacting the probe with the contact.

The backlight unit inspection jig according to claim 1, wherein the backlight unit inspection sheet further comprises a case covering a part of the interval adjusting unit or the up-down adjusting unit.

The backlight unit inspection jig according to claim 2, wherein the case includes an indicator for indicating whether the light emitting element is normally operated.

2. The backlight unit inspection apparatus according to claim 1,
A sensing unit sensing a position of the contact; And
And a control unit for receiving the signal from the sensing unit and controlling the up-down control unit and the interval control unit.

The backlight unit inspection jig according to claim 1 or 2, wherein the up-down adjustment unit includes a vertical drive shaft and an up-and-down driver that automatically bring the probe into contact with the contact point.

The backlight unit inspection jig according to claim 1 or 2, wherein the gap adjusting unit includes a rotation axis and a rotation driver for automatically matching an interval between the contacts and an interval between the probes.

The backlight unit inspection jig according to claim 1, wherein the gap adjusting portion is provided for each mounting groove.

The backlight unit inspection jig according to claim 1, wherein the die includes a fixing unit for fixing the backlight unit.

The backlight unit inspection jig according to claim 8, wherein the fixing portion includes a push rod which is moved by an elastic force.

The backlight unit inspection jig according to claim 1, wherein the die includes a marking for determining a position of the backlight unit in the longitudinal direction.

The backlight unit inspection jig according to claim 1, wherein the gap adjusting unit utilizes one of a rack, a pinion, a bellows, and an elastic body.

12. The backlit unit inspection jig according to claim 11, wherein the rack and the pinion include an upper rack, an upper pinion and a lower rack, respectively, and a lower pinion.

12. The backlit unit inspection jig of claim 11, wherein the gap adjusting unit further comprises a dial shaft and a dial for manually providing rotational force to the rack and the pinion.

[2] The apparatus of claim 1, wherein the up-
lever;
A lever support plate; And
And a lever drive shaft.

[2] The backlight unit inspection jig of claim 1, wherein the up-down adjustment unit comprises a horizontal axis that is given a vertical movement force and a protrusion connected to the horizontal axis and supporting the gap adjustment unit.

16. The backlit unit inspection jig of claim 15, wherein the longitudinal axis is formed to correspond to the mounting groove.