KR20150064787A - Organic lighting emitting device and method for compensating degradation thereof - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to an organic lighting emitting device and a method for compensating degradation thereof. The organic lighting emitting device includes a display panel which includes at least two pixels arranged in the intersection regions of a data line and a gate line, and includes a reference line connected to one of two electrode in the at least two pixels, a data driving part which supplies data voltage to the display panel through the data line, a gate driving part which supplies a scan signal to the display panel through the gate line, and a timing controller which controls the driving timing of the data driving part and the gate driving part, and a compensation part which corrects the deterioration of an organic light emitting diode of the pixels based on the deterioration level of one of the at least two pixels sensed through the reference voltage line.

Description

유기발광 표시장치 및 그 열화 보상 방법{ORGANIC LIGHTING EMITTING DEVICE AND METHOD FOR COMPENSATING DEGRADATION THEREOF}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display device and a method of compensating for deterioration thereof.

본 발명은 영상을 표시하는 유기발광 표시장치와 그 열화 보상 방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to an organic light emitting display device for displaying an image and a deterioration compensation method thereof.

최근, 표시장치로서 각광받고 있는 유기발광 표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 큰 장점이 있다. 2. Description of the Related Art In recent years, an organic light emitting diode (OLED) display device that has been spotlighted as a display device has advantages of high response speed, high luminous efficiency, high luminance and wide viewing angle by using an organic light emitting diode (OLED)

이러한 유기발광 표시장치는 유기발광다이오드(OLED)가 포함된 화소를 매트릭스 형태로 배열하고 스캔신호에 의해 선택된 화소들의 밝기를 데이터의 계조에 따라 제어한다. 이러한 유기발광 표시장치의 각 화소는 유기발광다이오드 이외에도, 서로 교차하는 데이터 라인 및 게이트 라인과 이와 연결 구조를 갖는 트랜지스터 및 스토리지 캐패시터 등으로 이루어져 있다. Such an organic light emitting display device arranges pixels including an organic light emitting diode (OLED) in a matrix form, and controls the brightness of pixels selected by a scan signal according to the gradation of the data. In addition to the organic light emitting diode, each pixel of the organic light emitting display includes a data line and a gate line intersecting with each other, and a transistor and a storage capacitor having a connection structure.

하지만, 이와 같은 유기발광 표시장치는 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 따라 원하는 휘도의 영상을 표시할 수 없는 문제점이 있다.However, such an organic light emitting display device has a problem that an image of a desired luminance can not be displayed due to deterioration of the organic light emitting diode (OLED).

이러한 배경에서, 본 발명의 목적은, 유기발광 표시장치는 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하여 원하는 휘도의 영상을 표시하는 유기발광 표시장치 및 그 열화 보상 방법을 제공하는 데 있다. In view of the foregoing, it is an object of the present invention to provide an organic light emitting diode (OLED) display device that compensates for deterioration of an organic light emitting diode (OLED) and displays an image with a desired brightness, and a method of compensating the deterioration thereof.

본 발명의 또 다른 목적은, 화소의 열화를 보상해주기 위한 효율적인 센싱 및 보상 기능을 제공함에 있어서, 간단하고 컴팩트 한 화소 구조에 맞는 센싱 및 보상 기능을 갖는 유기발광 표시장치와 그 구동 방법을 제공하는 데 있다. It is another object of the present invention to provide an organic light emitting display having a sensing and compensating function for a simple and compact pixel structure and a driving method thereof in providing an efficient sensing and compensating function for compensating pixel deterioration There is.

전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은 데이터 라인과 게이트 라인의 교차 영역마다 배치된 둘 이상의 화소들을 포함하며, 상기 둘 이상의 화소들 각각의 두개의 전극들 중 하나와 연결된 기준전압 라인을 포함하는 표시패널, 데이터 라인을 통해 표시패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부, 게이트 라인을 통해 표시패널에 스캔신호를 공급하는 게이트 구동부 및 데이터 구동부 및 게이트 구동부의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러 및 기준전압 라인을 통해 센싱된 둘 이상의 화소들 중 하나의 열화정도를 토대로 둘 이상의 화소들의 유기발광다이오드의 열화를 보상하는 보상부를 포함하는 유기발광 표시장치을 제공한다.In order to accomplish the above object, in one aspect, the present invention provides a liquid crystal display device including at least two pixels arranged at intersecting regions of a data line and a gate line, each of the pixels including a plurality of pixels, A data driver for supplying a data voltage to the display panel through a data line, a gate driver for supplying a scan signal to the display panel through the gate line, and a timing controller for controlling driving timings of the data driver and the gate driver And a compensator that compensates deterioration of the organic light emitting diode of the two or more pixels based on the degree of deterioration of one of the two or more pixels sensed through the reference voltage line.

다른 측면에서, 본 발명은 둘 이상의 화소들 각각의 두개의 전극들 중 하나와 연결된 기준전압 라인을 통해 둘 이상의 화소들 중 하나의 화소의 유기발광다이오드의 문턱전압을 센싱하는 센싱단계, 기준전압 라인을 통해 센싱된 하나의 화소의 유기발광다이오드의 문턱전압로부터 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도를 계산하고, 계산된 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도에 따라 추정된 하나의 화소의 데이터 사용량에 따라 화소의 유기발광다이오드의 열화를 보상하고, 하나의 화소의 실제 데이터 사용량과 추정된 데이터 사용량의 비교값에 따라 추정된 다른 화소의 데이터 사용량에 따라 다른 화소의 유기발광다이오드의 열화를 보상하는 보상단계를 포함하는 유기발광 표시장치의 열화 보상 방법을 제공한다.In another aspect, the present invention provides a method comprising sensing a threshold voltage of an organic light emitting diode of one of two or more pixels through a reference voltage line connected to one of two electrodes of each of two or more pixels, The deterioration degree of the organic light emitting diode of one pixel is calculated from the threshold voltage of the organic light emitting diode of one pixel sensed through the data line, and the data of one pixel estimated according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode of the calculated one pixel The degradation of the organic light emitting diodes of the other pixels is compensated according to the data usage amount of other pixels estimated according to the comparison value between the actual data usage amount of one pixel and the estimated data usage amount And a compensation step of compensating the deterioration of the organic light emitting display device.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하여 원하는 휘도의 영상을 표시할 수 있는 유기발광 표시장치 및 그 열화 보상 방법을 제공하는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, there is an effect of providing an organic light emitting display device capable of displaying an image of a desired luminance by compensating for deterioration of the organic light emitting diode (OLED), and a method of compensating the deterioration thereof.

또한, 본 발명에 의하면, 화소의 열화를 보상해주기 위한 효율적인 센싱 및 보상 기능을 제공함에 있어서, 간단하고 컴팩트 한 화소 구조에 맞는 센싱 및 보상 기능을 갖는 유기발광 표시장치와 그 구동 방법을 제공하는 효과가 있다. According to the present invention, there is provided an organic light emitting display device having a sensing and compensating function suitable for a simple and compact pixel structure and a driving method thereof, in order to provide an efficient sensing and compensating function for compensating pixel deterioration .

이러한 점들로 인해, 양질의 표시패널을 높은 수율로 제조할 수 있다. With these points, a high-quality display panel can be manufactured with a high yield.

이러한 점들은 고해상도 및 대면적의 표시패널에 적용될 경우, 더욱 큰 효과가 될 것이다. These points will be more effective when applied to high resolution and large area display panels.

도 1은 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치에 대한 전체 시스템 구성도이다.
도 2a 및 도 2b는 도 1의 표시패널 내 하나의 화소에 대한 등가회로도들이다.
도 3은 도 1의 표시패널의 일부를 간략하게 나타낸 평면도이다.
도 4a는 도 1의 유기발광표시장치에 포함되는 외부 보상 구성(센싱부, 및 보상부)으로 외부 보상 방식을 도시하고 있다.
도 4b는 도 1의 유기발광다이오드의 특성을 나타낸 그래프이다.
도 5는 도 1의 유기발광 표시장치에 포함된 외부 보상 구성의 구현 방식을 나타낸 도면이다.
도 6은 도 4의 보상부의 일 예의 상세 구성도이다.
도 7은 도 6의 일예에 따른 보상부에 의한 외부 보상을 설명하는 도면이다.
도 8은 표시패널의 위치에 따라 유기발광다이오드의 열화 편차가 발생하는 것을 설명한 도면이다.
도 9는 도 4의 보상부의 다른 예의 상세 구성도이다.
도 10은 도 9의 다른 예에 따른 보상부에 의한 외부 보상을 설명하는 도면이다.
도 11은 보상 데이터를 공급받아 데이터 라인을 구동하는 도 1의 데이터 구동부에 대한 구성도이다.
도 12는 도 1의 게이트 구동부에 대한 구성도이다.
도 13은 다른 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 방법에 대한 흐름도이다.
1 is an overall system configuration diagram of an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment.
2A and 2B are equivalent circuit diagrams for one pixel in the display panel of FIG.
3 is a plan view schematically showing a part of the display panel of Fig.
FIG. 4A illustrates an external compensation scheme (sensing unit and compensation unit) included in the OLED display of FIG. 1. Referring to FIG.
4B is a graph showing the characteristics of the organic light emitting diode of FIG.
5 is a diagram illustrating an implementation of an external compensation structure included in the OLED display of FIG.
6 is a detailed configuration diagram of an example of the compensation unit of FIG.
7 is a view for explaining external compensation by the compensation unit according to the example of FIG.
8 is a view for explaining a deterioration deviation of the organic light emitting diode depending on the position of the display panel.
Fig. 9 is a detailed configuration diagram of another example of the compensation unit of Fig. 4;
10 is a view for explaining external compensation by the compensation unit according to another example of FIG.
11 is a configuration diagram of the data driver of FIG. 1 for receiving the compensation data and driving the data line.
12 is a configuration diagram of the gate driver of FIG.
13 is a flowchart of a deterioration compensation method of a display apparatus according to another embodiment.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to exemplary drawings. In the drawings, like reference numerals are used to denote like elements throughout the drawings, even if they are shown on different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
In describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are intended to distinguish the components from other components, and the terms do not limit the nature, order, order, or number of the components. When a component is described as being "connected", "coupled", or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to the other component, Quot; intervening "or that each component may be" connected, "" coupled, "or "connected" through other components.

도 1은 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치에 대한 전체 시스템 구성도이다.1 is an overall system configuration diagram of an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment.

도 1을 참조하면, 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치(10)는, 일방향으로 형성되는 다수의 데이터 라인(DL: Data Line)과 다수의 데이터 라인과 교차하는 타방향으로 형성되는 다수의 게이트 라인(GL: Gate Line)의 교차 영역마다 배치되는 다수의 화소(P: Pixel)를 포함하는 표시패널(11)과, 데이터 라인을 통해 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부(12)와, 게이트 라인을 통해 스캔신호를 공급하는 게이트 구동부(13)와, 데이터 구동부(12) 및 게이트 구동부(13)의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러(14) 등을 포함한다. Referring to FIG. 1, an OLED display 10 according to an exemplary embodiment includes a plurality of data lines (DL) formed in one direction and a plurality of gate lines A display panel 11 including a plurality of pixels (P: Pixel) arranged in each of intersections of lines GL (Gate Line), a data driver 12 for supplying a data voltage through the data lines, And a timing controller 14 for controlling the driving timing of the data driver 12 and the gate driver 13, and the like.

도 1을 참조하면, 표시패널(11)에는 일방향으로 다수의 데이터 라인(DL(1)~DL(4N))이 형성되고 다수의 데이터 라인(DL(1)~DL(4N))과 교차하는 타방향으로 다수의 게이트 라인(GL(1)~GL(M))이 형성되어 있다. 본 명세서에서는, 설명의 편의를 위해, 표시패널(11)에 형성된 데이터 라인 및 게이트 라인의 개수가 4N개 및 M개인 것으로 가정하나, 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 여기서, N과 M은 1 이상의 자연수이다. 그리고, 4N개의 데이터 라인 전체에서 각 데이터 라인을 식별하기 위한 용도로 사용되는 n은 1 이상이고 데이터 라인 개수의 1/4 이하인 자연수이다(1≤n≤(4N/4)).1, a plurality of data lines DL (1) to DL (4N) are formed in one direction on a display panel 11 and a plurality of data lines DL (1) to DL (4N) And a plurality of gate lines GL (1) to GL (M) are formed in the other direction. In this specification, for convenience of explanation, it is assumed that the number of data lines and gate lines formed on the display panel 11 is 4N and M, but the present invention is not limited thereto. Here, N and M are natural numbers of 1 or more. The number n used for identifying each data line in all 4N data lines is a natural number of 1 or more and 1/4 or less of the number of data lines (1? N? (4N / 4)).

이러한 표시패널(11)에는, 4N개의 데이터 라인(DL(1)~DL(4N))과 M개의 게이트 라인(GL(1)~GL(M))이 서로 교차하는 영역에 4N×M개의 화소(P)가 각각 정의된다. 각 화소(P)에 대한 화소 구조를 도 2를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.
In this display panel 11, 4N × M pixels (1) to 4N are arranged in an area where the 4N data lines DL (1) to DL (4N) and the M gate lines GL (P) are respectively defined. The pixel structure for each pixel P will be described in more detail with reference to FIG.

도 2a 및 도 2b는 도 1의 표시패널 내 하나의 화소에 대한 등가회로도이다.2A and 2B are equivalent circuit diagrams for one pixel in the display panel of FIG.

도 2a를 참조하면, 각 화소(P)는 1개의 데이터 라인(DL)과 연결되고 1개의 게이트 라인(GL)을 통해 하나의 스캔신호(SCAN)만을 공급받는다.Referring to FIG. 2A, each pixel P is connected to one data line DL and receives only one scan signal SCAN through one gate line GL.

이러한 각 화소는, 도 2a에 도시된 바와 같이, 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 포함하고, 구동 트랜지스터(DT: Driving Transistor), 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2) 및 스토리지 캐패시터(Cst) 등을 포함한다. 이와 같이, 각 화소는 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2)와 1개의 스토리지 캐패시터(Cst)를 포함하기 때문에, 각 화소는 3T(Transistor) 1C(Capacitor) 구조를 갖는다고 한다. 2A, each pixel includes an OLED (Organic Light Emitting Diode), and includes a driving transistor DT, a first transistor T1, a second transistor T2, And a storage capacitor Cst. Since each pixel includes three transistors DT, T1, and T2 and one storage capacitor Cst, each pixel has a 3T (Capacitor) structure.

각 화소 내 구동 트랜지스터(DT)는, 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)에서 공급되는 구동전압(EVDD)을 인가 받고, 제2 트랜지스터(T2)를 통해 인가된 게이트 노드(N2)의 전압(데이터 전압)에 의해 제어되어 유기발광다이오드(OLED)를 구동시키는 트랜지스터이다. The driving transistor DT in each pixel is supplied with the driving voltage EVDD supplied from the driving voltage line DVL and the voltage of the gate node N2 applied through the second transistor T2 Data voltage) to drive the organic light emitting diode OLED.

이러한 구동 트랜지스터(DT)는 제1노드(N1), 제2노드(N2), 제3노드(N3)를 가지고 있으며, 제1노드(N1)로는 제1 트랜지스터(T1)와 연결되고, 제2노드(N2)로는 제2 트랜지스터(T2)와 연결되며, 제3노드(N3)로는 구동전압(EVDD)을 공급받는다. The driving transistor DT has a first node N1, a second node N2 and a third node N3. The first transistor N1 is connected to the first transistor T1, The node N2 is connected to the second transistor T2 and the third node N3 is supplied with the driving voltage EVDD.

여기서, 일 예로, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드는 소스 노드(Source Node, ‘소스 전극’이라고도 함)이고, 제2노드는 게이트 노드(Gate Node, ‘게이트 전극’이라고도 함)이며, 제3노드(N3)는 드레인 노드(Drain Node, ‘드레인 전극’이라고도 함)일 수 있다. 트랜지스터의 타입 변경, 회로 변경 등에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드, 제2노드 및 제3노드가 바뀔 수 있다. Here, the first node of the driving transistor DT is a source node (also referred to as a 'source electrode'), the second node is a gate node (also referred to as a gate electrode) The third node N3 may be a drain node (also referred to as a drain electrode). The first node, the second node, and the third node of the driving transistor DT may be changed depending on the type of the transistor, the circuit change, and the like.

또한, 제1 트랜지스터(T1)는, 게이트 라인(GL)에서 공급되는 스캔신호(SCAN)에 의해 제어되며, 기준전압(Vref: Reference Voltage)을 공급하는 기준전압 라인(RVL: Reference Voltage Line) 또는 기준전압 라인(RVL)에 연결되는 연결패턴(CP: Connection Pattern)과 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 사이에 연결된다. 이러한 제1 트랜지스터(T1)는 “센서 트랜지스터(Sensor Transistor)”라고도 한다. The first transistor T1 is controlled by a scan signal SCAN supplied from the gate line GL and is connected to a reference voltage line RVL for supplying a reference voltage Vref And is connected between a connection pattern CP connected to the reference voltage line RVL and the first node N1 of the driving transistor DT. The first transistor T1 is also referred to as a " sensor transistor ".

또한, 제2 트랜지스터(T2)는 게이트 라인(GL)에서 공통으로 공급되는 스캔신호(SCAN)에 의해 제어되며 해당 데이터 라인(DL)과 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2) 사이에 연결된다. 이러한 제2 트랜지스터(T2)는 “스위칭 트랜지스터(Switching Transistor)”라고도 한다. The second transistor T2 is controlled by a scan signal SCAN commonly supplied from the gate line GL and is connected between the corresponding data line DL and the second node N2 of the driving transistor DT do. The second transistor T2 is also referred to as a " switching transistor ".

또한, 스토리지 캐패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결되어, 데이터 전압을 한 프레임 동안 유지시켜 주는 역할을 할 수 있다.The storage capacitor Cst may be connected between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT to maintain the data voltage for one frame.

위에서 언급한 바와 같이, 제1 트랜지스터(T1)와 제2 트랜지스터(T2)는, 하나의 동일한 게이트 라인(공통 게이트 라인)을 통해 공급되는 하나의 스캔신호에 의해 제어된다. 이와 같이, 각 화소는 하나의 스캔신호를 사용하기 때문에, 일 실시예에서 각 화소는 “3T1C 기반의 1 스캔 구조”의 기본 화소구조를 갖는다고 한다. As described above, the first transistor T1 and the second transistor T2 are controlled by a single scan signal supplied through one and the same gate line (common gate line). As described above, since each pixel uses one scan signal, each pixel in the embodiment has a basic pixel structure of " 3T1C-based one scan structure ".

이러한 3T1C 기반의 1 스캔 구조와 관련하여, 제1 트랜지스터(T1)는 기본적으로 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 노드(N2)로 데이터 전압을 인가해주는 것으로 구동과 관련된 트랜지스터이고, 제2 트랜지스터(T2)는 구동과도 관련이 있을 수 있지만 기본적으로는 화소 간 휘도 편차를 보상해주기 위한 센싱(Sensing)과 관련된 트랜지스터로서, 2개의 트랜지스터(T1, T2)는 그 용도 및 기능이 다르기 때문에, 하나의 스캔신호에 의해 제어되는 것은, 그 관련 동작(구동 동작, 센싱 동작)에도 영향을 끼치게 된다. The first transistor T1 is basically a transistor associated with driving by applying a data voltage to the gate node N2 of the driving transistor DT and the second transistor T2 is a transistor associated with driving, Since the two transistors T1 and T2 have different uses and functions, the transistors T1 and T2 are related to the sensing for compensating for the luminance deviation between the pixels, (Driving operation, sensing operation) is also affected.

도 2b를 참조하면, 유기발광 표시장치(10)의 표시패널(11) 내 하나의 화소(P)는, 기본적으로, 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2)와 1개의 캐패시터(Cst)를 포함하는 3T1C 구조를 갖는다.Referring to FIG. 2B, one pixel P in the display panel 11 of the OLED display 10 basically includes three transistors DT, T1, and T2 and one capacitor Cst Lt; / RTI >

각 화소(P)는 2개의 스캔신호(제1 스캔신호, 제2 스캔신호)를 2개의 게이트 라인(제1 게이트 라인(GL1), 제2 게이트 라인(GL2))을 통해 공급받는다. 이하에서는, 제1 스캔신호를 ‘센스 신호(SENSE)”라고도 기재하고, 제2 스캔신호를 ‘스캔신호(SCAN)’라고도 기재한다.Each pixel P is supplied with two scan signals (a first scan signal and a second scan signal) through two gate lines (a first gate line GL1 and a second gate line GL2). Hereinafter, the first scan signal is also referred to as a "sense signal (SENSE)", and the second scan signal is also referred to as a "scan signal (SCAN)".

이와 같이, 각 화소(P)에 2개의 스캔신호(SCAN, SENSE)를 공급받기 때문에, 이러한 기본 화소 구조를 “3T1C 기반의 2 스캔 구조(2 SCAN STRUCTURE)”라고 한다.In this way, since two scan signals SCAN and SENSE are supplied to each pixel P, this basic pixel structure is referred to as " 2 SCAN STRUCTURE based on 3T1C ".

한편, 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치(10)의 화소 구조는, 도 2a 및 도 2b를 참조하여 설명한 “기본 화소 구조(3T1C 기반의 1 또는 2 스캔 구조)” 이외에, 각 화소가 데이터 라인(DL), 게이트 라인(GL), 구동전압 라인(DVL), 기준전압 라인(RVL) 등의 여러 신호 라인과 연결되는 것과 관련된 “신호 라인 연결 구조”도 포함한다.On the other hand, the pixel structure of the organic light emitting diode display 10 according to the embodiment is different from the pixel structure of the basic pixel structure (one or two scan structure based on 3T1C) described with reference to Figs. 2A and 2B, Signal line connection structure " relating to being connected to various signal lines such as a data line DL, a gate line GL, a driving voltage line DVL, and a reference voltage line RVL.

또한, 본 명세서 및 도면에서는, 트랜지스터들(DT, T1, T2)이 N 타입인 것으로 도시되어 설명되었으나, 이는 설명의 편의를 위한 것일 뿐, 회로 설계 변경에 따라, 트랜지스터들(DT, T1, T2) 모두가 P 타입으로 변경되거나, 트랜지스터들(DT, T1, T2) 중 일부는 N 타입으로 다른 일부는 P 타입으로 구현될 수도 있다. 또한, 유기발광다이오드(OLED)는 인버티드(Inverted) 타입으로도 변경될 수 있을 것이다. Although the transistors DT, T1, and T2 are shown and described as being of the N type in the present specification and the drawings, ) May all be changed to P type, or some of transistors DT, T1, T2 may be implemented as N type and others as P type. In addition, the organic light emitting diode (OLED) may be changed to an inverted type.

또한, 본 명세서에 기재된 트랜지스터들(DT, T1, T2)은 박막 트랜지스터(TFT: Thin Film Transistor)라고도 한다. In addition, the transistors DT, T1, T2 described herein are also referred to as thin film transistors (TFTs).

아래에서는, 이상에서 간략하게 설명한 기본 화소 구조(3T1C 기반의 1 스캔 구조) 및 신호 라인 연결 구조를 포함하는 화소 구조에 대하여, 도 3 내지 도 5를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. 단, 도 3 내지 도 5는 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소인 경우를 도시한 것이다. Hereinafter, the pixel structure including the basic pixel structure (one scanning structure based on 3T1C) and the signal line connecting structure briefly described above will be described in more detail with reference to FIGS. 3 to 5. FIG. 3 to 5 show the case where the basic unit of the signal line connection structure is four pixels.

도 3은 도 1의 표시패널의 일부를 간략하게 나타낸 평면도이다. 3 is a plan view schematically showing a part of the display panel of Fig.

도 3를 참조하면, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 4개의 화소(P1~P4)인 경우에 대하여, 3T1C 기반의 1 스캔 구조의 기본 화소구조와 신호 라인 연결 구조를 확인할 수 있다. 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 4개의 화소(P1~P4)인 경우를 예시적으로 설명하나 본 발명은 이에 제한되지 않고 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 둘 이상의 데이터 라인들에 연결된 둘 이상의 화소들일 수 있다. 3, the basic unit of the signal line connection structure is connected to four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) (P1 to P4), a basic pixel structure and a signal line connection structure having a 1-scan structure based on 3T1C can be confirmed. The basic unit of the signal line connection structure is four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) The present invention is not limited thereto, and the basic unit of the signal line connection structure may be two or more pixels connected to two or more data lines.

4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)) 각각은 4개의 화소(P1~P4) 각각으로 연결된다. 또한, 1개의 게이트 라인(GL(m), 1≤m≤M)은 4개의 화소(P1~P4)에 연결된다. Each of the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) is connected to each of the four pixels P1 to P4. Further, one gate line GL (m), 1? M? M is connected to four pixels P1 to P4.

도 2a에 도시된 바와 같이, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결되는 4개의 화소(P1~P4) 각각은, 구동전압(EVDD)을 인가 받아 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DT)와, 기준전압(Vref)을 인가 받아 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 전달하는 제1 트랜지스터(DL)와, 데이터 전압(Vdata)을 인가 받아 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 전달하는 제2 트랜지스터(T2)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결된 캐패시터(Cst) 등을 동일하게 포함한다.Four pixels P1 to P4 connected to four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) The driving transistor DT receives the driving voltage EVDD and drives the organic light emitting diode OLED and the driving transistor DT receiving the reference voltage Vref and transmitting the reference voltage Vref to the first node N1 of the driving transistor DT A second transistor T2 receiving the data voltage Vdata and transferring the data voltage Vdata to a second node N2 of the driving transistor DT; And a capacitor Cst connected between the first node N2 and the second node N2.

이와 같이, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결되는 4개의 화소(P1~P4) 각각은 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2)와 1개의 캐패시터(Cst)를 포함하는 3T1C 구조를 공통으로 가질 뿐만 아니라, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)에 하나의 스캔신호만이 공급되는 구조(도 2a의 3T1C 기반의 1 스캔 구조) 또는 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)에 각각 하나의 스캔신호가 공급되는 구조(도 2b의 3T1C 기반의 1 스캔 구조)를 갖고 있다. Each of the four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) And a structure in which only one scan signal is supplied to the first transistor T1 and the second transistor T2 as well as the 3T1C structure including the data lines DT, T1 and T2 and one capacitor Cst (1-scan structure based on 3T1C in FIG. 2A) or one scan signal is supplied to each of the first transistor T1 and the second transistor T2 (a 3T1C-based one scan structure in FIG. 2B).

전술한 바와 같이 여러 신호 라인은, 각 화소에 데이터 전압을 공급해주기 위한 데이터 라인과, 스캔신호를 공급해주기 위한 게이트 라인뿐만 아니라, 각 화소에 기준전압(Vref)을 공급하기 위한 기준전압 라인(RVL)과, 구동전압(EVDD)을 공급하기 위한 구동전압 라인(DVL) 등을 더 포함한다. As described above, the plurality of signal lines include not only a data line for supplying a data voltage to each pixel and a gate line for supplying a scan signal but also a reference voltage line RVL for supplying a reference voltage Vref to each pixel ), A driving voltage line (DVL) for supplying a driving voltage (EVDD), and the like.

신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소(4개의 화소 열)인 경우, 기준전압 라인 개수는 데이터 라인 개수의 1/4일 수 있다. 즉, 데이터 라인 개수가 4N일 때, 기준전압 라인 개수는 N개일 수 있다. 전술한 바와 같이 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 둘 이상의 화소인 경우 기준전압 라인 개수는 데이터 라인 개수의 1/(기본 단위의 화소들의 개수)일 수 있다.When the basic unit of the signal line connection structure is four pixels (four pixel columns), the number of reference voltage lines may be one fourth of the number of data lines. That is, when the number of data lines is 4N, the number of reference voltage lines may be N. As described above, when the basic unit of the signal line connection structure is two or more pixels, the number of reference voltage lines may be 1 / (the number of pixels of the basic unit) of the number of data lines.

전술한 바와 같이, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소(4개의 화소 열)인 경우, 기준전압 라인 연결 구조는 다음과 같을 수 있다. As described above, when the basic unit of the signal line connection structure is four pixels (four pixel columns), the reference voltage line connection structure may be as follows.

임의의 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n), 1≤n≤N) 각각으로부터 데이터 전압을 공급받을 수 있는 화소(P1~P4), 즉, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)만을 고려하면, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)에 대해서 1개의 기준전압 라인(RVL)이 데이터 라인들과 평행하게 표시패널(11)에 형성되어 있다. A pixel capable of receiving a data voltage from each of four arbitrary data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1), DL (4n) Only the pixels P1 through P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) One reference voltage line RVL is connected to the pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) And is formed on the display panel 11 in parallel with the data lines.

이러한 1개의 기준전압 라인(RVL)은 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)) 중 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-2), DL(4n-1))과 연결된 각 화소에는 직접 연결되어 기준전압(Vref)을 공급할 수 있다. The one reference voltage line RVL is connected to two data lines among the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) (4n-2) and DL (4n-1), respectively, to supply the reference voltage Vref.

또한, 본 명세서 및 도면에서, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소는, 일 예로, R(Red) 화소, G(Green) 화소, B(Blue) 화소 및 W(White) 화소일 수 있으나, 본 발명은 이에 제한되지 않고 일 예로 R(Red) 화소, W(White) 화소 G(Green) 화소 및 B(Blue) 화소 또는 다른 예로 R(Red) 화소, W(White) 화소 B(Blue) 및 G(Green) 화소 등 다양할 수 있다. In this specification and the figures, the pixel connected to the 4n-3th data line DL (4n-3), the pixel connected to the 4n-2th data line DL (4n-2) A red pixel, a green pixel, a blue pixel, and a blue pixel, which are connected to a pixel connected to the first data line DL (4n-1) and a 4nth data line DL (4n) White pixel, but the present invention is not limited thereto. For example, the red pixel, the white pixel G, and the blue pixel B or the red pixel R, ) Pixels B (Blue) and G (Green) pixels.

전술한 신호 라인 연결 구조의 기본 단위인 R 화소, G 화소, B 화소 및 W 화소는 화상을 형성하는 최소 단위인 화소를 구성하는 R 서브화소, G 서브화소, B 서브화소 및 W 서브화소인 것으로 예시적으로 설명하나 본 발명은 이에 제한되지 않는다. The R pixel, the G pixel, the B pixel, and the W pixel, which are the basic units of the above-described signal line connection structure, are R subpixel, G subpixel, B subpixel and W subpixel constituting a pixel which is the smallest unit forming an image The present invention is not limited thereto.

도 4a는 도 1의 유기발광표시장치에 포함되는 외부 보상 구성(센싱부, 및 보상부)으로 외부 보상 방식을 도시하고 있다. 도 4b는 도 1의 유기발광다이오드의 특성을 나타낸 그래프이다.FIG. 4A illustrates an external compensation scheme (sensing unit and compensation unit) included in the OLED display of FIG. 1. Referring to FIG. 4B is a graph showing the characteristics of the organic light emitting diode of FIG.

도 4a를 참조하면, 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치(10)의 보상 구성으로서, 각 화소 간 휘도 불균형을 발생시킬 수 있는 각 서브화소(P) 내 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상해주기 위하여, 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 센싱하는 센싱부(91)과 센싱된 열화정도에 따라 각 서브화소(P) 내 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상해주는 보상부(93) 등을 포함하고 있다. Referring to FIG. 4A, as the compensation structure of the OLED display 10 according to an embodiment, degradation of the organic light emitting diode OLED in each sub-pixel P capable of generating a luminance unbalance between pixels is compensated A sensing unit 91 for sensing the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED and a compensation unit 93 for compensating deterioration of the organic light emitting diode OLED in each sub pixel P according to the sensed degree of deterioration, And the like.

센싱부(91)는 4개의 서브화소들(P1~P4) 각각의 두개의 전극들 중 하나와 연결된 기준전압 라인을 통해 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 하나의 열화정도를 센싱할 수 있다. 4개의 서브화소들(P1~P4) 각각의 두개의 전극들 중 하나와 기준전압 라인이 하나로 연결된 서브화소 구조에서는 서브화소들(P1~P4)의 유기발광다이오드들별 문턱전압을 센싱하는 것이 불가능하기 때문에 4개의 서브화소들(P1~P4) 각각의 두개의 전극들 중 하나와 연결된 기준전압 라인을 통해 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 가장 낮은 문턱전압을 가진 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 센싱하고, 균일하게 위치한 4개의 서브화소들(P1~P4)의 유기발광다이오드(OLED)의 열화 특성이 위치상으로 균일하기 때문에 센싱된 하나의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 이용하여 다른 서브화소들의 열화 정도를 추정할 수 있다. The sensing unit 91 can sense the degree of deterioration of one of the four sub-pixels P1 to P4 through the reference voltage line connected to one of the two electrodes of each of the four sub-pixels P1 to P4 have. It is impossible to sense threshold voltages of the organic light emitting diodes of the sub-pixels P1 to P4 in the sub-pixel structure in which one of the two electrodes of each of the four sub-pixels P1 to P4 is connected to one of the reference voltage lines. The organic light emitting diode OLED having the lowest threshold voltage among the four sub-pixels P1 to P4 through the reference voltage line connected to one of the two electrodes of each of the four sub-pixels P1 to P4, Since the deterioration characteristics of the organic light emitting diodes OLED of the four sub-pixels P1 to P4 are uniformly positioned, the threshold voltage of one organic light emitting diode OLED, which is sensed, The degree of deterioration of other sub-pixels can be estimated.

전술한 센싱부(91)는, 각 서브화소(P) 내 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도 파악을 위한 문턱전압을 센싱하되, 각 서브화소(P)의 유기발광다이오드(OLED)의 두개의 전극들 중 하나인 제1노드(N1)의 전압을 센싱할 수 있다. 각 서브화소(P)의 유기발광다이오드(OLED)의 두개의 전극들 중 다른 하나는 동일한 기저전압, 예를 들어 그라운드 전압(Groud voltage)을 인가하므로, 각 서브화소(P)의 유기발광다이오드(OLED)의 두개의 전극들 중 하나인 제1노드(N1)의 전압을 센싱하므로 각 서브화소(P)의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 센싱할 수 있다. The sensing unit 91 senses a threshold voltage for grasping the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED in each sub pixel P and detects a threshold voltage of the organic light emitting diode OLED of each sub pixel P The voltage of the first node N1 which is one of the electrodes can be sensed. Since the other one of the two electrodes of the organic light emitting diode OLED of each sub pixel P applies the same ground voltage, for example, a ground voltage, the organic light emitting diode of each sub pixel P The voltage of the first node N1, which is one of the two electrodes of the organic light emitting diode OLED, is sensed, so that the threshold voltage of the organic light emitting diode OLED of each subpixel P can be sensed.

여기서, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압 센싱은 유기전계발광 표시장치(10)에 전원이 인가된 후 영상이 표시되기 전의 제 1비표시기간에 수행될 수 있다. 즉, 유기발광다이오드의 문턱전압 센싱은 유기발광 표시장치(10)에 전원이 인가될 때마다 수행될 수 있다.Here, the threshold voltage sensing of the organic light emitting diode (OLED) may be performed in a first non-display period before the image is displayed after power is applied to the organic light emitting display device 10. That is, the threshold voltage sensing of the organic light emitting diode can be performed each time power is applied to the organic light emitting display 10.

이러한 센싱부(91)는, 기준전압원으로부터 공급되는 기준전압(Vref)을 아날로그 값으로 변환하는 디지털 아날로그 변환부(DAC: Digital Analog Converter, 911)와, 센싱부(91)와 연결이 가능한 각 서브화소(P)의 유기발광다이오드(OLED)의 두개의 전극들 중 하나인 제1노드(N1)에서의 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 변환부(ADC: Analog Digital Converter, 912)와, 디지털 아날로그 변환부(911)로부터 아날로그로 변환된 기준전압(Vref)이 공급되는 기준전압 공급 노드와 아날로그 디지털 변환부(912)에 연결된 센싱 노드 중 하나가 기준전압 라인(RVL)과 연결되도록 스위칭하는 제1 스위치(913) 등을 포함할 수 있다. The sensing unit 91 includes a digital-to-analog converter (DAC) 911 for converting the reference voltage Vref supplied from the reference voltage source into an analog value, An analog digital converter (ADC) 912 for converting the sensed voltage at the first node N1, which is one of the two electrodes of the organic light emitting diode OLED of the pixel P, into a digital value, , One of a reference voltage supply node to which the reference voltage Vref converted from the analog-to-digital conversion unit 911 is supplied and a sensing node connected to the analog-digital conversion unit 912 is connected to the reference voltage line RVL, The first switch 913, and the like.

센싱부(91)는 일정한 전압이 방전될 때까지 기준전압 라인을 통해 4개의 서브화소들(P1~P4)에 공급하고, 기준전압 라인을 통해 열화정도가 가장 낮은 서브화소(P)의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 센싱할 수 있다.The sensing unit 91 supplies the four sub-pixels P1 to P4 through the reference voltage line until a constant voltage is discharged, and supplies the organic light emission of the sub- The degree of deterioration of the diode OLED can be sensed.

예를 들어 센싱부(91)는 제1 스위치(913)를 스위칭하여 기준전압 공급 노드와 기준전압 라인(RVL)을 연결하고, 기준전압 라인(RVL)과 내부 또는 외부에 위치하는 캐패시터(92)의 단자들 중 하나에 기준전압(Vref)를 공급한다. 이 캐패시터(92)의 일 단자를 기저전압, 예를 들어 그라운드로 연결하고 다른 단자에 기준전압을 일정 시간 공급하면 이 캐피시터(92)가 기준전압 라인에 걸린 초기 전압(Vinit)으로 충전된다. For example, the sensing unit 91 may switch the first switch 913 to connect the reference voltage supply node to the reference voltage line RVL, and may include a capacitor 92 located inside or outside the reference voltage line RVL, And supplies the reference voltage Vref to one of the terminals. When one terminal of the capacitor 92 is connected to the ground voltage, for example, ground, and the reference voltage is supplied to the other terminal for a predetermined time, the capacitor 92 is charged with the initial voltage Vinit caught by the reference voltage line.

센싱부(91)는, 제1 스위치(913)를 스위칭하여 아날로그 디지털 변환부(912)에 연결된 센싱 노드와 기준전압 라인(RVL)을 연결하고, 캐패시터(92)의 충전된 초기 전압(Vinit)이 방전되면서 기준전압 라인(RVL)을 통해 4개의 서브화소들(P1~P4)에 공급한다. 센싱부(91)의 아날로그 디지털 변환부(912)는 기준전압 라인을 통해 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 하나, 예를 들어 문턱전압이 가장 낮는 서브화소(예를 들어 B 서브화소)의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 센싱할 수 있다. The sensing unit 91 switches the first switch 913 to connect the sensing node connected to the analog-to-digital converter 912 to the reference voltage line RVL and supplies the charged initial voltage Vinit of the capacitor 92, And supplies it to the four sub-pixels P1 to P4 through the reference voltage line RVL. The analog-to-digital converter 912 of the sensing unit 91 receives one of the four sub-pixels P1 through P4, for example, a sub-pixel having the lowest threshold voltage (for example, a B sub-pixel) It is possible to sense the threshold voltage of the organic light emitting diode OLED of FIG.

도 4b를 참조하면, 캐패시터(92)의 충전된 초기 전압(Vinit)이 방전되면서 캐패시터(92)의 잔여 전압(remained voltage, Vre)이 낮아진다. 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 이 캐패시터(92)의 잔여 전압(Vre)보다 문턱전압이 높은 서브화소들(예를 들어 R, W, G 서브화소)이 순차적으로 다이오드 동작을 중지하게 된다. 마지막으로 캐패시터(92)의 잔여 전압(Vre)이 마지막으로 다이오드 동작하던 서브화소(예를 들어 B 서브화소)의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압(Vth)과 같아지면 캐패시터(92)의 잔여 전압과 서브화소(예를 들어 B 서브화소)의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압(Vth)과 동일한 상태에서 다이오드 동작을 멈추고 센싱부(91)의 아날로그 디지털 변환부(912)는 센싱 전압(Vsen)으로 이 마지막으로 동작을 멈춘 서브화소(예를 들어 B 서브화소)의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압(Vth)을 센싱하게 된다.Referring to FIG. 4B, the charged initial voltage Vinit of the capacitor 92 is discharged, and the remained voltage Vre of the capacitor 92 is lowered. Sub-pixels (for example, R, W, and G sub-pixels) having a threshold voltage higher than the residual voltage Vre of the capacitor 92 among the four sub-pixels P1 to P4 sequentially stop the diode operation do. Finally, if the residual voltage Vre of the capacitor 92 is equal to the threshold voltage Vth of the organic light emitting diode OLED of the last sub-pixel (for example, the B sub-pixel) The diode operation is stopped in the same state as the threshold voltage Vth of the organic light emitting diode OLED of the voltage and the sub pixel (for example, the B sub pixel), and the analog to digital conversion unit 912 of the sensing unit 91 outputs the sensing voltage Vsen) of the organic light emitting diode (OLED) of the sub-pixel (for example, the B sub-pixel) whose operation has stopped last.

전술한 예에서, 센싱부(91)는 캐패시터(92)의 초기 전압(Vinit)을 전류원으로 사용하여 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 하나의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 센싱하는 것으로 설명하였으나, 본 발명은 이에 제한되지 않고 현재 공지되거나 앞으로 구현된 어떠한 방식으로 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 하나의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 센싱할 수 있다. In the above example, the sensing unit 91 senses the threshold voltage of one of the four sub-pixels P1 to P4 using the initial voltage Vinit of the capacitor 92 as a current source, However, the present invention is not limited to this, and the threshold voltage of one of the four sub-pixels P1 to P4 can be sensed in any manner known or later implemented.

이상에서 전술한 센싱부(91)는, 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되거나 외부에 포함될 수 있다. The sensing unit 91 described above may be included in the data driver 12 or included in the data driver 12.

또한, 센싱부(91)는 다수가 있을 수 있는데, 각 센싱부(91)는 하나의 데이터 라인마다 있을 수도 있고, 몇 개의 데이터 라인마다 하나씩 있을 수도 있다. 또한, 각 센싱부(91)는 하나의 기준전압 라인(RVL) 마다 하나씩 있을 수 있다. There may be a plurality of sensing units 91, and each sensing unit 91 may be provided for one data line or one for several data lines. In addition, each sensing unit 91 may be provided for each reference voltage line RVL.

보상부(93)은 기준전압 라인을 통해 센싱된 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 하나의 열화정도(예를 들어 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압)에 따라 4개의 서브화소들(P1~P4)의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상할 수 있다. 센싱부(91)로부터 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 하나의 열화정도(예를 들어 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압)를 전달받은 보상부(93)는 센싱부(91)로부터 전달받은 디지털 형태의 전압을 전달받아 이를 토대로 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 하나의 열화를 보상하는 데이터 변환 처리를 수행할 수 있다. 보상부(93)의 외부 보상 동작에 관해서는 이하 도 6 내지 도 10을 참조하여 후술한다.The compensation unit 93 compensates for the deterioration of the four sub pixels P 1 to P 4 according to the degree of deterioration of one of the four sub-pixels P 1 to P 4 sensed through the reference voltage line (for example, the threshold voltage of the organic light emitting diode OLED) P1 to P4 of the organic light emitting diode OLED. The compensation unit 93 receives the deterioration degree of one of the four sub-pixels P1 to P4 from the sensing unit 91 (for example, the threshold voltage of the organic light emitting diode OLED) It is possible to perform a data conversion process for receiving the received digital form voltage and compensating for the deterioration of one of the four sub-pixels P1 to P4 based on the received digital form voltage. The external compensation operation of the compensation unit 93 will be described later with reference to Figs. 6 to 10.

전술한 보상부(93)는, 센싱부(91)로부터 4개의 서브화소들(P1~P4) 중 하나의 열화정도를 디지털 형태로 받기만 하면, 유기발광 표시장치(10) 내 그 어떠한 위치에 있어도 무관할 수 있다. 예를 들어, 보상부(93)는, 타이밍 컨트롤러(14)의 내부에 포함되거나, 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되거나, 타이밍 컨트롤러(14)와 데이터 구동부(12)의 외부에 포함되어 구현될 수 있다. The compensation unit 93 may be configured to receive the deterioration degree of one of the four sub-pixels P1 to P4 from the sensing unit 91 in a digital form, It can be irrelevant. For example, the compensation unit 93 may be included in the timing controller 14, included in the data driver 12, included outside the timing controller 14 and the data driver 12, .

도 5는 도 1의 유기발광 표시장치에 포함된 외부 보상 구성의 구현 방식을 나타낸 도면이다.5 is a diagram illustrating an implementation of an external compensation structure included in the OLED display of FIG.

도 5를 참조하면, 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치(10)에 포함된 외부 보상 구성 중 보상부(93)가 타이밍 컨트롤러(14)의 내부에 포함되어 구현된 경우(a), 타이밍 컨트롤러(14)와 데이터 구동부(12)의 외부에 포함되어 구현된 경우(b), 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되어 구현된 경우(c) 각각을 개념적으로 나타낸 구현방식의 예시이다. Referring to FIG. 5, in the case where the compensation unit 93 of the external compensation configuration included in the organic light emitting diode display 10 according to the embodiment is included in the timing controller 14 and is implemented (a) (B) when the data driver 12 is implemented outside the data driver 12 and (c) when the data driver 12 is included in the data driver 12, respectively.

도 5의 (a)를 참조하면, 보상부(93)가 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되어 구현된 경우, 센싱부(91)가 해당 서브화소(P)에서 센싱한 문턱전압(Vth)을 타이밍 컨트롤러(14) 내부의 보상부(93)로 전달하고, 데이터 구동부(12)의 내부에 포함된 보상부(93)는 센싱부(91)에서 전달된 문턱전압(Vth)을 토대로 유기발광다이오드(OLED)의 열화정보를 파악하고 이에 기초하여 외부에서 공급된 데이터(Data)를 전달받은 보상 데이터(Data’)로 변환하여 데이터 구동부(12)의 내부에 있는 DAC(Digital Analog Converter)로 공급할 수 있다. 이에 따라, 데이터 구동부(12)의 내부에 있는 DAC(Digital Analog Converter)는 보상부(93)로부터 공급받은 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)를 아날로그로 변환하여 해당 서브화소(P)로 공급해준다. 5 (a), when the compensation unit 93 is implemented in the data driver 12, the sensing unit 91 detects the threshold voltage Vth sensed by the sub-pixel P, And the compensation unit 93 included in the data driver 12 transmits the organic light emitting diode OL to the organic light emitting diode OLED based on the threshold voltage Vth transmitted from the sensing unit 91. [ And supplies the externally supplied data Data to the DAC (Digital Analog Converter) inside the data driver 12 by converting the externally supplied data Data into the received compensated data Data 'based on the deterioration information of the diode OLED . Accordingly, a digital analog converter (DAC) in the data driver 12 converts the digital data R 'supplied from the compensation unit 93 into analog signals and supplies the converted analog data to the corresponding sub-pixels P .

도 5의 (b)를 참조하면, 보상부(93)가 타이밍 컨트롤러(14)와 데이터 구동부(12)의 외부에 포함되어 구현된 경우, 센싱부(91)가 해당 서브화소(P)에서 센싱한 센싱 전압(Vsen)을 데이터 구동부(12)와 타이밍 컨트롤러(14)의 외부에 있는 보상부(93)로 전달하고, 보상부(93)는 센싱부(91)에서 전달된 문턱전압(Vth)을 토대로 유기발광다이오드(OLED)의 열화정보를 파악하고 이에 기초하여 타이밍 컨트롤러(14)에서 공급된 데이터(Data)를 보상 데이터(Data’)로 변환하여 데이터 구동부(12)로 공급할 수 있다. 데이터 구동부(12)는 내부에 있는 DAC(Digital Analog Converter)를 통해 보상부(93)로부터 공급받은 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)를 아날로그로 변환하여 해당 서브화소(P)로 공급해준다. 5 (b), when the compensation unit 93 is embodied outside the timing controller 14 and the data driver 12, the sensing unit 91 performs sensing The compensating unit 93 transmits the sensing voltage Vsen to the compensating unit 93 outside the data driver 12 and the timing controller 14. The compensating unit 93 compensates the threshold voltage Vth transmitted from the sensing unit 91, Based on the deterioration information of the organic light emitting diode OLED and supplies the data Data to the data driver 12 based on the deterioration information. The data driver 12 converts the digital compensation data Data 'supplied from the compensation unit 93 through a DAC (Digital Analog Converter) provided therein and converts the compensated data Data' into analog data and supplies the analog data to the corresponding sub-pixel P.

도 5의 (c)를 참조하면, 보상부(93)가 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되어 구현된 경우, 데이터 구동부(12) 내부의 센싱부(91)가 해당 서브화소(P)에서 센싱한 센싱 전압(Vsen)을 데이터 구동부(12) 내부의 보상부(93)로 전달하고, 보상부(93)는 센싱부(91)에서 전달된 문턱전압(Vth)을 토대로 유기발광다이오드(OLED)의 열화정보를 파악하고 이에 기초하여 타이밍 컨트롤러(14)에서 공급된 데이터(Data)를 보상 데이터(Data’)로 변환하여 DAC(Digital Analog Converter)로 공급할 수 있다. 이에 따라, DAC(Digital Analog Converter)는 보상부(93)로부터 공급받은 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)를 아날로그로 변환하고, 아날로그로 변환된 보상 데이터(데이터 전압)를 해당 서브화소(P)로 공급해준다. Referring to FIG. 5C, when the compensation unit 93 is included in the data driver 12, the sensing unit 91 in the data driver 12 is connected to the corresponding sub- The compensating unit 93 transmits the sensed sensing voltage Vsen to the compensating unit 93 in the data driving unit 12. The compensating unit 93 compensates the sensing voltage Vsen of the organic light emitting diode OLED And supplies the data Data 'to the DAC (Digital Analog Converter) by converting the data Data supplied from the timing controller 14 into the compensation data Data' based on the deterioration information. Accordingly, the DAC (Digital Analog Converter) converts the compensation data (Data ') of the digital form supplied from the compensation unit 93 to analog and supplies compensation data (data voltage) Respectively.

도 5의 (b) 및 (c)에서, 보상부(93)가 데이터(Data)를 공급받는 방법에 있어서, 타이밍 컨트롤러(14)로부터 직접 공급받을 수도 있지만, 타이밍 컨트롤러(14)가 메모리에 데이터를 저장해두면, 메모리에 저장된 데이터를 읽어오는 방식으로 공급받을 수도 있다. 5 (b) and 5 (c), the compensation unit 93 may receive the data Data directly from the timing controller 14, but the timing controller 14 may store the data , It can be supplied by reading the data stored in the memory.

도 5의 (a) 내지 (c)에 도시된 보상부(93)의 구현 예는, 디지털 형태의 데이터(Data)를 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)로 변환하여 보상하는 디지털 기반의 보상 방식(데이터 변환 방식)이다. 이 경우, 디지털 형태의 데이터(Data)에 유기발광다이오드(OLED)의 열화정보의 디지털 값을 더하거나 빼는 등의 연산 처리를 통해 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)를 생성할 수 있다.An example of the compensation unit 93 shown in FIGS. 5A to 5C is a digital-based compensation scheme for converting digital data Data into digital compensation data Data ' (Data conversion method). In this case, digital type compensation data (Data ') can be generated through calculation processing such as adding or subtracting the digital value of the deterioration information of the organic light emitting diode (OLED) to the digital data Data.

한편, 도 5의 (a) 내지 (c)에 도시된 보상부(93)의 구현 예, 즉, 디지털 기반의 보상 방식(데이터 변환 방식) 이외에도, 데이터 구동부(12)가 타이밍 컨트롤러(14)로부터 디지털 형태의 데이터(Data)를 공급받아 데이터 구동부(12)의 DAC가 디지털 형태의 데이터(Data)를 감마 기준전압을 이용하여 아날로그로 변환하고, 보상부(93)는 센싱부(91)로부터 전달받은 유기발광다이오드(OLED)의 열화정보를 아날로그 값으로 변환하여, 아날로그 값으로 변환된 특성 정보에 기초하여, 아날로그로 변환된 데이터(Analog Data)를 변환하여 보상 데이터로서의 데이터 전압을 생성할 수도 있다. 이 방식은 완전한 아날로그 기반의 보상 방식(데이터 변환 방식)이다. In addition to the embodiment of the compensation unit 93 shown in FIGS. 5A to 5C, that is, the digital-based compensation scheme (data conversion scheme), the data driver 12 may also be connected to the timing controller 14 The DAC of the data driver 12 converts the digital data Data into analog data using the gamma reference voltage and the compensator 93 receives the digital data Data from the sensing unit 91 The deterioration information of the organic light emitting diode OLED that has been received is converted into an analog value and the data voltage converted as analog data is converted based on the characteristic information converted into the analog value to generate the data voltage as the compensation data . This method is a complete analog-based compensation method (data conversion method).

이러한 완전한 아날로그 기반의 보상 방식 이외에도, 데이터 구동부(12)가 타이밍 컨트롤러(14)로부터 디지털 형태의 데이터(Data)를 공급받아 데이터 구동부(12)의 DAC(보상부(93) 포함)가 디지털 형태의 데이터(Data)를 감마 기준전압을 이용하여 아날로그로 변환할 때 센싱부(91)로부터 전달받은 유기발광다이오드(OLED)의 열화정보를 이용하여 보상 데이터(Data’)를 생성하고 이를 아날로그 형태로 변환하여 데이터 전압을 생성할 수도 있다. 이 방식도 엄밀히 말해서는 디지털 형태로 데이터가 변환되지만, 아날로그로 변환하는 단계(DAC 단계)에서 이루어지므로 아날로그 기반의 보상 방식(데이터 변환 방식)이라고 한다. In addition to this complete analog-based compensation method, the data driver 12 receives the digital data Data from the timing controller 14 and the DAC of the data driver 12 (including the compensator 93) The compensation data Data 'is generated using the degradation information of the organic light emitting diode OLED transmitted from the sensing unit 91 when converting the data Data to analog using the gamma reference voltage, Thereby generating a data voltage. This method is also referred to as an analog-based compensation method (data conversion method) because the data is strictly converted in a digital form, but is performed in a step of converting to an analogue (DAC step).

도 4의 보상부(93)는 서브화소별 데이터 사용량을 누적하고 누적된 데이터 사용량에 따라 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하는 데이터 카운딩 방식으로 서브화소별 데이터 사용량을 누적하고 누적된 데이터 사용량에 따라 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상할 수도 있고, 데이터 카운딩 방식으로 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 정확히 알 수 없어 보상 정확도가 떨어지는 점을 보완하기 위해 전술한 센싱부(91)에 의해 센싱된 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압의 센싱을 통해 유기발광다이오드(OLED) 특성을 데이터 카운당 방식에 반영해 줌으로써 보다 정확하게 유기발광다이오드(OLED) 열화를 보상할 수도 있다. The compensator 93 of FIG. 4 accumulates the data usage for each sub-pixel and accumulates the data usage for each sub-pixel according to the data counting scheme that compensates the degradation of the organic light emitting diode OLED of the sub-pixel according to the accumulated data usage amount In order to compensate the deterioration of the organic light emitting diode (OLED) of the sub-pixel according to the accumulated data usage amount, and the degradation accuracy of the organic light emitting diode (OLED) By sensing the threshold voltage of the organic light emitting diode OLED per sub-pixel sensed by the sensing unit 91, the characteristics of the organic light emitting diode OLED are reflected in the data driving scheme, ) Degradation.

이하, 전자의 보상부의 일 예를 도 6 내지 도 8을 참조하여 설명하고 후자의 보상부의 다른 예를 도 9 및 도 10을 참조하여 설명한다.Hereinafter, one example of the former compensation unit will be described with reference to FIGS. 6 to 8, and another example of the latter compensation unit will be described with reference to FIG. 9 and FIG. 10. FIG.

도 6은 도 4의 보상부의 일 예의 상세 구성도이다. 도 7은 도 6의 일예에 따른 보상부에 의한 외부 보상을 설명하는 도면이다.6 is a detailed configuration diagram of an example of the compensation unit of FIG. 7 is a view for explaining external compensation by the compensation unit according to the example of FIG.

도 6을 참조하면, 보상부(93)는 데이터 처리부(931)와 메모리(932), 데이터 보상부(933)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 6, the compensation unit 93 may include a data processing unit 931, a memory 932, and a data compensation unit 933.

데이터 처리부(931)는 서브화소별 데이터(data)를 입력받아 서브화소별 데이터 사용량을 누적 방식으로 계산한다. 데이터 처리부(931)는 각 서브화소별 데이터 사용량을 메모리(932)에 저장한다. The data processing unit 931 receives the data for each sub-pixel and calculates an amount of data used for each sub-pixel in an accumulation manner. The data processing unit 931 stores the data usage amount for each sub-pixel in the memory 932. [

메모리(932)는 누적된 각 서브화소별 데이터 사용량을 저장하고 있다.The memory 932 stores the accumulated data usage amount for each sub-pixel.

예를 들어, 도 7의 (a)에 도시한 바와 같이, 데이터 처리부(931)는 특정 시간에 이전 프레임들과 현재 프레임의 입력된 영상 데이터의 계조값들을 누적하여 R, W, G, B 서브화소들의 데이터 사용량들을 계산할 수 있다. 그 결과 R, W, G, B 서브화소들의 데이터 사용량들은 표 1과 같을 수 있다.For example, as shown in FIG. 7A, the data processor 931 accumulates the gray level values of the input image data of the previous frame and the current frame at a specific time to generate R, W, G, and B The data usage of the pixels can be calculated. As a result, the data usage of the R, W, G, and B sub-pixels may be as shown in Table 1.

서브화소Sub pixel R 서브화소R sub-pixel W 서브화소W sub-pixel G 서브화소G sub-pixel B 서브화소B sub-pixel 데이터 사용량(계조값)Data usage (tone value) 12751275 894894 765765 450450

메모리(932)에는 표 1의 각 서브화소별 데이터 사용량을 저장한 후 다음 프레임에 그 입력된 영상 데이터를 이전 프레임까지 누적한 서브화소별 데이터 사용량에 누적하여 메모리(932)에 저장된 서브화소별 데이터 사용량을 갱신한다.The memory 932 stores the data usage amount for each sub-pixel in Table 1, accumulates the input image data in the next frame in the data usage amount for each sub-pixel accumulated up to the previous frame, and stores the data for each sub-pixel stored in the memory 932 Update usage.

메모리(932)는 도 7의 (b)에 도시한 바와 같이 공지의 유기발광다이오드(OLED)의 열화 그래프로부터 생성된 데이터 사용량에 따른 휘도 보상값을 룩업데이블 형태로 저장하고 있다. 예를 들어 메모리(932)는 데이터 사용량에 대해 휘도가 지수적으로 감소하는 도 7의 (b)에 도시한 바와 같이 유기발광다이오드(OLED)의 열화 그래프로부터 생성된 데이터 사용량에 대해 지수적으로 증가하는 휘도 보상값을 룩업데이블 형식으로 저장한다.7 (b), the memory 932 stores the luminance compensation value according to the data usage amount generated from the degradation graph of the known organic light emitting diode (OLED) in the form of a look-up table. For example, the memory 932 exponentially increases (increases) the data usage amount generated from the degradation graph of the organic light emitting diode (OLED) as shown in FIG. 7 (b) And stores the luminance compensation value in the look-up table format.

데이터 보상부(933)는 메모리(932)에 저장된 서브화소별 데이터 사용량을 활용하여 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 추정하고 추정된 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도에 따라 영상 데이터를 보상한다. 데이터 보상부(933)는 보상된 데이터(data’)를 데이터 구동부(12)에 공급한다. The data compensating unit 933 estimates the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED by using the data usage amount of each sub pixel stored in the memory 932 and calculates the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED To compensate the image data. The data compensator 933 supplies the compensated data 'data' to the data driver 12.

예를 들어 데이터 보상부(933)는 메모리(932)에 저장된 이전 프레임까지 표 1의 서브화소별 데이터 사용량에 대해 룩업데이블의 휘도 보상값으로 현재 프레임의 입력된 영상 데이터를 보상한다. 다음으로 데이터 보상부(933)는 보상된 영상 데이터(data’)를 데이터 구동부(12)에 공급한다.For example, the data compensating unit 933 compensates the inputted image data of the current frame with the luminance compensation value of the look-up table with respect to the data usage amount of each sub-pixel in Table 1 up to the previous frame stored in the memory 932. Next, the data compensator 933 supplies the compensated image data 'data' to the data driver 12.

도 8은 표시패널의 위치에 따라 유기발광다이오드의 열화 편차가 발생하는 것을 설명한 도면이다.8 is a view for explaining a deterioration deviation of the organic light emitting diode depending on the position of the display panel.

도 6을 참조하여 설명한 보상부(93)는 도 8의 (a)에 도시한 바와 같이 표시패널(11) 전체에 동일한 유기발광다이오드(OLED) 열화 그래프를 사용하여 데이터 사용량에 따른 휘도 보상값을 룩업데이블 형태로 메모리(932)에 저장하고, 데이터 보상부(933)는 이 룩업데이블의 데이터 사용량에 따른 휘도 보상값을 이용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상한다. The compensation unit 93 described with reference to FIG. 6 uses the same OLED deterioration graph as the entire display panel 11 as shown in FIG. 8A to calculate the luminance compensation value according to the data usage amount And the data compensator 933 compensates the deterioration of the organic light emitting diode OLED by using the luminance compensation value according to the data usage amount of the lookup table.

하지만 실제 표시패널(11)에서는 위치마다 유기발광다이오드(OLED) 특성 편차, 온도, 습도, 휘도 불균형 등 다양한 요인에 의해 도 8의 (b)에 도시한 바와 같이 표시패널(11)의 위치에 따라 유기발광다이오드(OLED)의 열화 편차가 발생한다.However, in the actual display panel 11, depending on the position of the display panel 11 as shown in FIG. 8 (b) due to various factors such as the characteristic deviation of the organic light emitting diode OLED, temperature, humidity, Deterioration of the organic light emitting diode (OLED) occurs.

전술한 데이터 타운딩 방식을 사용하여 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하는 것은 데이터 사용량만으로 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 추정하고 보상하는 방식으로 열화 보상 정확도가 떨어지며, 표시패널(11) 간, 표시패널(11) 내 위치별 열화 차이를 반영하지 못할 수 있다. 왜냐하면 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화의 원인에는 데이터 사용량뿐만 아니라 온도, 습도, 유기발광다이오드(OLED) 자체 특성 등이 존재하기 때문이다. Compensating the deterioration of the organic light emitting diode (OLED) of the sub-pixel using the above-described data tone method is a method of estimating and compensating the deterioration of the organic light emitting diode (OLED) of the sub-pixel only by the data usage amount, , The display panel 11, and the position in the display panel 11 may not be reflected. This is because deterioration of the organic light emitting diode (OLED) of a sub-pixel is caused not only by data usage but also by temperature, humidity, and the characteristics of the organic light emitting diode (OLED) itself.

데이터 카운딩 방식으로 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 정확히 알 수 없어 보상 정확도가 떨어지는 점을 보완하기 위해 도 9을 참조하여 설명한 다른 예의 보상부(93)가 전술한 센싱부(91)에 의해 센싱된 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 통해 유기발광다이오드(OLED)의 열화 특성을 데이터 카운당 방식에 반영해 줌으로써 보다 정확하게 유기발광다이오드(OLED) 열화를 보상할 수 있다.In order to compensate for the fact that the degradation of the organic light emitting diode (OLED) is not precisely known due to the data counting method and the compensation accuracy is reduced, the compensation unit 93 of another example described with reference to FIG. 9 is provided with the sensing unit 91 The deterioration characteristics of the organic light emitting diode OLED can be compensated for in the data cache scheme through the threshold voltage of the organic light emitting diode OLED according to the sensed sub-pixel, thereby more accurately compensating the deterioration of the organic light emitting diode OLED.

도 9는 도 4의 보상부의 다른 예의 상세 구성도이다. 도 10은 도 9의 다른 예에 따른 보상부에 의한 외부 보상을 설명하는 도면이다.Fig. 9 is a detailed configuration diagram of another example of the compensation unit of Fig. 4; 10 is a view for explaining external compensation by the compensation unit according to another example of FIG.

도 9를 참조하면, 보상부(93)는 도 6을 참조하여 설명한 바와 같이 서브화소별 데이터(data)를 입력받아 서브화소별 데이터 사용량을 누적 방식으로 계산하는 데이터 처리부(931)와, 누적된 각 서브화소별 데이터 사용량과 유기발광다이오드(OLED)의 열화 그래프로부터 생성된 데이터 사용량에 따른 휘도 보상값을 룩업데이블 형태로 저장하는 메모리(932), 메모리(932)에 저장된 서브화소별 데이터 사용량을 활용하여 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 추정하고 추정된 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도에 따라 영상 데이터를 보상하는 데이터 보상부(933)와 함께 열화정도 계산부(934)를 추가로 포함할 수 있다.Referring to FIG. 9, the compensation unit 93 includes a data processing unit 931 for receiving sub-pixel data and calculating data usage for each sub-pixel in an accumulation manner as described with reference to FIG. 6, A memory 932 for storing a luminance compensation value according to a data usage amount generated from the data usage amount for each sub-pixel and the deterioration graph of the organic light emitting diode OLED in a look-up table form, A data compensator 933 for estimating the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED for each sub-pixel and compensating the image data according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED according to the estimated sub- Gt; 934 < / RTI >

열화정도 계산부(934)는 기준전압 라인을 통해 센싱된 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 계산한다. 열화정도 계산부(934)는 아래 수학식 2에 따라 4개의 서브화소들 중 문턱전압이 가장 낮은 서브화소의 초기 문턱전압(Vinit)과 센싱된 문턱전압(Vth)의 차이값(△Vth)을 해당 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도로 계산한다. The deterioration degree calculation unit 934 calculates the deterioration degree of the organic light emitting diode OLED of one sub-pixel sensed through the reference voltage line. The deterioration degree calculation unit 934 calculates a difference value? Vth between the initial threshold voltage Vinit of the sub-pixel having the lowest threshold voltage and the sensed threshold voltage Vth among the four sub-pixels according to Equation 2 below Is calculated as the degree of deterioration of the organic light emitting diode (OLED) of the corresponding sub-pixel.

[수학식 1][Equation 1]

△Vth= Vth-VinitVth = Vth-Vinit

예를 들어 4개의 서브화소들 중 문턱전압이 가장 낮은 서브화소의 초기 문턱전압(Vinit)가 0.72V이고, 센싱부(91)에 의해 센싱된 문턱전압(Vth)가 0.74V일 때 도 10의 (a)에 도시한 바와 같이 이 서브화소의 문턱전압의 차이값(△Vth)은 0.2V가 될 수 있다. 열화정도 계산부(934)는 이 문턱전압의 차이값(△Vth)을 이 서브화소의 열화정도로 데이터 처리부(931)로 출력한다.For example, when the initial threshold voltage (Vinit) of the sub-pixel having the lowest threshold voltage among the four sub-pixels is 0.72 V and the threshold voltage (Vth) sensed by the sensing unit 91 is 0.74 V, the difference (DELTA Vth) of the threshold voltages of the sub-pixels can be 0.2 V as shown in Fig. The deterioration degree calculation unit 934 outputs the difference value (DELTA Vth) of the threshold voltage to the data processing unit 931 at the deterioration degree of the subpixel.

데이터 처리부(931)는 센싱된 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도에 따라 센싱된 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 데이터 사용량을 추정한다. 예를 들어 데이터 처리부(931)는 도 10의 (a)에 도시한 바와 같이 메모리(932)에 저장된 문턱전압의 차이값에 따른 휘도 곡선을 이용하여 센싱된 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도, 즉 문턱전압의 차이값(△Vth=0.2V)에 따라 센싱된 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 휘도를 확인한다. The data processor 931 estimates a data usage amount of the organic light emitting diode OLED of the sub-pixel sensed according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED of the sensed sub-pixel. For example, as shown in FIG. 10A, the data processing unit 931 may use the brightness curve corresponding to the difference value of the threshold voltages stored in the memory 932 to determine the brightness of the organic light emitting diode OLED of the sub- The luminance of the organic light emitting diode OLED of the sub-pixel sensed according to the degree of deterioration, that is, the difference value of the threshold voltage (DELTA Vth = 0.2V).

다음으로 데이터 처리부(931)는 메모리(932)에 룩업데이블 형태로 저장된 데이터 사용량에 따른 휘도 곡선을 이용하여 역으로 휘도에 따른 데이터 사용량을 추정한다. 예를 들어 전술한 예에서 B 서브화소의 문턱전압의 차이값(△Vth=0.2V)에 따른 휘도가 40%인 경우 데이터 처리부(931)는 메모리(932)에 룩업데이블 형태로 저장된 데이터 사용량에 따른 휘도 곡선을 이용하여 도 10의 (b)에 도시한 바와 같이 40% 휘도에 따른 데이터 사용량, 예를 들어 337.5계조를 추정한다. 데이터 처리부(931)는 이 추정된 데이터 사용량에 따른 유기발광다이오드(OLED)의 열화의 보상값을 계산하여 이 보상값을 데이터 보상부(933)에 공급한다. 예를 들어 도 10의 (c)에 도시한 바와 같이 B서브화소의 실제 데이터 사용량이 “B(450계조)” 이고 전술한 방식으로 추정된 데이터 사용량이 “B(337.5계조)’”일 경우 데이터 처리부(931)는 추정된 데이터 사용량에 따른 보상값을 데이터 보상부(933)에 공급한다. Next, the data processing unit 931 estimates the amount of data usage according to the luminance using the luminance curve according to the data usage amount stored in the lookup table form in the memory 932. For example, in the above example, when the luminance according to the difference value (DELTA Vth = 0.2 V) of the B sub-pixel is 40%, the data processing unit 931 sets the data usage amount stored in the look- As shown in FIG. 10 (b), the data usage amount according to the 40% luminance, for example, 337.5 gradations is estimated. The data processing unit 931 calculates a compensation value for deterioration of the organic light emitting diode OLED according to the estimated data usage amount and supplies the compensation value to the data compensation unit 933. For example, as shown in FIG. 10C, when the actual data usage amount of the B sub pixel is "B (450 gradations)" and the data usage amount estimated in the above manner is "B (337.5 gradations) The processing unit 931 supplies the compensation value according to the estimated data usage amount to the data compensation unit 933. [

또한 데이터 처리부(931)는 센싱된 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 실제 데이터 사용량과 추정된 데이터 사용량에 따라 다른 서브화소들의 데이터 사용량을 추정한다. 즉 데이터 처리부(931)는 하나의 서브화소의 실제 데이터 사용량과 추정된 데이터 사용량의 비교값을 이용하여 다른 서브화소들 각각의 실제 데이터 사용량으로부터 다른 서브화소들 각각의 데이터 사용량을 추정한다. The data processor 931 estimates the data usage of the other sub-pixels according to the actual data usage amount of the organic light emitting diode OLED of the sensed sub-pixel and the estimated data usage amount. That is, the data processing unit 931 estimates the data usage amount of each of the other sub-pixels from the actual data usage amount of each of the other sub-pixels by using the actual data usage amount of one sub-pixel and the estimated data usage amount.

데이터 처리부(931)는 아래 수학식 2와 같이 하나의 서브화소의 추정된 데이터 사용량을 실제 데이터 사용량으로 나눈 열화 게인을 구하고 다른 서브화소들 각각의 실제 데이터 사용량에 열화 게인을 곱하여 다른 서브화소들 각각의 데이터 사용량을 추정한다. The data processor 931 obtains the deterioration gain obtained by dividing the estimated data usage of one sub-pixel by the actual data usage, multiplies the actual data usage of each of the other sub-pixels by the degradation gain, Of the data.

[수학식 2]&Quot; (2) "

열화 게인=추정된 데이터 사용량/실제 데이터 사용량
Degradation Gain = Estimated Data Usage / Actual Data Usage

예를 들어 도 10의 (C)에 도시한 바와 같이 R, W, G 서브화소들 각각의 실제 데이터 사용량이 1275, 894, 765인 경우 데이터 처리부(931)는 실제 데이터 사용량들 각각에 열화 게인을 곱하여 표 2와 같이 데이터 사용량들을 추정할 수 있다. For example, as shown in FIG. 10C, when the actual data usage amounts of the R, W, and G sub-pixels are 1275, 894, and 765, the data processing unit 931 calculates deterioration gains And the data usage can be estimated as shown in Table 2.

서브화소Sub pixel R 서브화소R sub-pixel W 서브화소W sub-pixel G 서브화소G sub-pixel B 서브화소B sub-pixel 실제 데이터 사용량(계조값)Actual data usage (grayscale value) 12751275 894894 765765 450450 추정 데이터 사용량(계조값)Estimated data usage (grayscale value) 956.25956.25 670.5670.5 573.75573.75 337.5337.5 열화 게인(gain)Deterioration gain 0.750.75 0.750.75 0.750.75 0.750.75

결과적으로 실제 데이터 사용량과 추정 데이터 사용량의 차이값이 실제 데이터 사용량만으로 영상 데이터를 보상하는 보상 에러인 것으로, 추정된 데이터 사용량은 그 에러를 보완하는 것이다. As a result, the difference between the actual data usage and the estimated data usage is a compensation error that compensates the image data only by the actual data usage, and the estimated data usage compensates the error.

전술한 바와 같이 R, W, G 서브화소들의 실제 데이터 사용량들 각각에 열화 게인을 곱하여 표 2와 같이 데이터 사용량들을 추정할 수도 있으나 본 발명은 이에 제한되지 않고 아래 수학식 3과 같이 R, W, G 서브화소들의 실제 데이터 사용량들 각각에 열화 게인과 가중치를 곱하여 R, W, G 서브화소들의 데이터 사용량을 추정할 수도 있다.As described above, the data usage amounts may be estimated by multiplying the actual data usage amounts of the R, W, and G sub-pixels by the degradation gain, respectively. However, the present invention is not limited to this, The data usage of the R, W, and G sub-pixels may be estimated by multiplying the actual data usage of the G sub-pixels by the degradation gain and the weight, respectively.

[수학식 3]&Quot; (3) "

추정된 데이터 사용량=각 서브화소의 실제 데이터 사용량×열화 게인×가중치
Estimated data usage = actual data usage of each sub-pixel x degradation gain x weight

이때 가중치는 0보다 큰 정수로 1보다 클 수도 있고 1보다 작을 수도 있다. 데이터 처리부(931)는 센싱된 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)보다 다른 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)가 유기발광다이오드(OLED)의 열화 특성상 쉽게 열화되는 경우 1보다 큰 가중치를 적용하고, 반대로 센싱된 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)보다 다른 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)가 유기발광다이오드(OLED)의 열화 특성상 쉽게 열화되지 않는 경우 1보다 작은 가중치를 적용하고, 센싱된 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)와 다른 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 유기물층의 열화 특성상 동일하게 열화되는 경우 1의 가중치를 적용할 수 있다. The weight is an integer greater than 0, which may be greater than 1 or less than 1. The data processing unit 931 applies a weight greater than 1 when the organic light emitting diode OLED of the sub-pixel other than the organic light emitting diode OLED of the sensed sub-pixel is easily degraded due to deterioration characteristics of the organic light emitting diode OLED, A weight smaller than 1 is applied when the organic light emitting diode OLED of the sub-pixel other than the organic light emitting diode OLED of the sub-pixel sensed in the opposite direction is not easily deteriorated by the deterioration characteristic of the organic light emitting diode OLED, A weight of 1 may be applied when the degradation characteristics of the organic light emitting diode OLED of the organic light emitting diode OLED of the other sub-pixel are degraded in the same manner.

아울러 데이터 처리부(931)는 이 가중치로 시간과 무관하게 동일한 값을 적용할 수도 있고 시간 경과에 따라 다른 값을 적용할 수도 있다. 예를 들어 데이터 처리부(931)는 서브화소를 구성하는 둘 이상의 서브화소들의 열화 특성이 사용 초기에는 동일하고 시간 경과에 따라 열화 특성이 달라지는 경우 일정한 시점까지 동일한 가중치를 적용하고 일정한 시점 이후에 다른 가중치를 적용할 수도 있다.In addition, the data processor 931 may apply the same value regardless of the time to the weight, or may apply another value according to the elapse of time. For example, if the deterioration characteristics of two or more sub-pixels constituting a sub-pixel are the same at the beginning of use and deterioration characteristics vary with time, the data processing unit 931 applies the same weight to a certain point of time, May be applied.

데이터 처리부(931)는 도 10의 (c)에 도시한 바와 같이 다른 서브화소들 각각의 추정된 데이터 사용량에 따른 유기발광다이오드(OLED)의 열화의 보상값을 계산하여 이 보상값을 데이터 보상부(933)에 공급한다. The data processing unit 931 calculates the compensation value of the deterioration of the organic light emitting diode OLED according to the estimated data usage amount of each of the other sub pixels as shown in FIG. 10 (c) (933).

메모리(932)는 둘 이상의 서브화소들 각각의 실제 데이터 사용량을 저장하고, 각 서브화소별 초기 문턱전압을 저장하고, 문턱전압의 차이값에 따른 휘도 곡선을 예를 들어 룩업데이블 형태로 저장하고, 도 10의 (c)에 도시한 바와 같이 유기발광다이오드(OLED)의 열화 그래프로부터 생성된 데이터 사용량에 따른 휘도 보상값을 룩업데이블 형태로 저장하고 있다.The memory 932 stores the actual data usage amount of each of the two or more sub-pixels, stores an initial threshold voltage for each sub-pixel, stores a luminance curve corresponding to the difference value of the threshold voltage, for example, in a look- As shown in FIG. 10 (c), the luminance compensation value according to the data usage amount generated from the deterioration graph of the organic light emitting diode (OLED) is stored in a look-up table form.

데이터 보상부(933)는 둘 이상의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화의 보상값에 따라 입력된 데이터를 보상하여 보상된 데이터를 데이터 구동부(12)에 공급한다. The data compensating unit 933 compensates the input data according to the compensation value of the deterioration of the organic light emitting diode OLED of the two or more sub-pixels, and supplies the compensated data to the data driving unit 12.

데이터 보상부(933)는 메모리(932)에 저장된 서브화소별 데이터 사용량과 센싱부(931)에 의해 센싱된 4개의 서브화소들 중 하나의 문턱전압을 활용하여 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 추정하고 추정된 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도에 따라 영상 데이터(data)를 보상한다. 데이터 보상부(933)는 서브화소별 보상된 데이터(data’)를 데이터 구동부(12)에 공급한다. The data compensating unit 933 compensates the data amount of each sub-pixel stored in the memory 932 and the threshold voltage of one of the four sub-pixels sensed by the sensing unit 931, And compensates the image data (data) according to the estimated deterioration degree of the organic light emitting diode OLED for each sub-pixel. The data compensator 933 supplies compensated data (data ') for each sub-pixel to the data driver 12.

결과적으로 데이터 보상부(933)는 기준전압 라인을 통해 센싱된 문턱전압이 가장 낮은 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도에 따라 문턱전압이 가장 낮은 하나의 서브화소의 추정된 데이터 사용량에 따른 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하고, 하나의 서브화소의 실제 데이터 사용량과 추정된 데이터 사용량의 비교값에 따라 추정된 다른 서브화소의 데이터 사용량에 따라 다른 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상할 수 있다.As a result, the data compensating unit 933 compensates the estimated data usage amount of one sub-pixel having the lowest threshold voltage according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED of the sub-pixel having the lowest threshold voltage sensed through the reference voltage line Pixel according to a data usage amount of another sub-pixel estimated according to a comparison value between an actual data usage amount of one sub-pixel and an estimated data usage amount, and the organic light emitting diodes OLED of the sub- The deterioration of the diode OLED can be compensated.

아래에서는, 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치(10)의 전체 시스템 구성 중에서 이상에서 설명한 표시패널(11), 센싱부(91), 보상부(93) 등을 설명하였으며, 이하에서는, 데이터 구동부(12) 및 게이트 구동부(13)에 대하여 도 11 및 도 12를 참조하여 간략하게 설명한다. The display panel 11, the sensing unit 91, the compensation unit 93, and the like have been described above in the overall system configuration of the organic light emitting diode display device 10 according to one embodiment. Hereinafter, The gate driver 12 and the gate driver 13 will be briefly described with reference to FIGS. 11 and 12. FIG.

도 11은 보상 데이터를 공급받아 데이터 라인을 구동하는 도 1의 데이터 구동부에 대한 구성도이다. 11 is a configuration diagram of the data driver of FIG. 1 for receiving the compensation data and driving the data line.

도 11을 참조하면, 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치(10)에 포함된 데이터 구동부(12)는, 쉬프트 레지스터(151), 제1 데이터 레지스터(152), 제2 데이터 레지스터(153), 디지털/아날로그 변환부(154; DAC: Digital Analog Converter), 출력 버퍼(155), 데이터 수신부(156) 등을 포함한다. 11, the data driver 12 included in the OLED display 10 includes a shift register 151, a first data register 152, a second data register 153, A digital / analog converter 154 (DAC), an output buffer 155, a data receiving unit 156, and the like.

데이터 수신부(156)는 타이밍 컨트롤러(14) 또는 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되거나 타이밍 컨트롤러(14)와 데이터 구동부(12)의 외부에 포함된 보상부(93)으로부터 보상되 영상 데이터(Data’)를 입력받고 서브화소별로 각각 소정의 디지털 데이터로 전환하여 출력한다. The data receiving unit 156 receives the compensated video data Data (Data) from the compensation unit 93 included in the timing controller 14 or the data driving unit 12 or included in the timing controller 14 and the data driving unit 12, '), And converts the digital data into predetermined digital data for each sub-pixel and outputs the digital data.

쉬프트 레지스터(151)는, 라인 바이 라인(Line By Line) 구동을 하기 위하여, 수평클럭신호(Hclock)와 수평동기신호(Hsync)로 동작 시간을 제어하는데, 즉, 수평동기신호(Hsync), 수평클럭신호(Hclock)를 타이밍 컨트롤러(14)로부터 입력받아, 수평동기신호(Hsync)를 시작신호로 선택한 한 개의 게이트 라인(GL)에 해당하는 모든 데이터(Data’)가 수평클럭신호(Hclock)에 동기화되어 순차적으로 제1 데이터 레지스터(152)에 샘플링되어 저장되도록 한다. The shift register 151 controls the operation time by using a horizontal clock signal Hclock and a horizontal synchronization signal Hsync for driving a line by line, All the data Data 'corresponding to one gate line GL which receives the clock signal Hclock from the timing controller 14 and selects the horizontal synchronizing signal Hsync as the start signal is inputted to the horizontal clock signal Hclock Synchronized and sequentially sampled and stored in the first data register 152.

제1 데이터 레지스터(152)는 m-1 번째 게이트 라인(GL(m-1))의 서브화소들이 구현하려는 데이터(Data’)를 순서대로 저장한다. The first data register 152 sequentially stores the data Data 'to be implemented by the sub-pixels of the (m-1) th gate line GL (m-1).

제2 데이터 레지스터(153)는 다음 수평동기신호(Hsync)에 따라 제1 데이터 레지스터(152)에 저장된 데이터(Data’)를 저장한다. 이때, 제1 데이터 레지스터(152)에는 m 번째 게이트 라인(GL(m))의 서브화소들이 구현하려는 데이터(Data’)가 순서대로 저장된다. The second data register 153 stores the data Data 'stored in the first data register 152 according to the next horizontal synchronization signal Hsync. At this time, data (Data ') to be implemented by the sub-pixels of the m-th gate line GL (m) are sequentially stored in the first data register 152.

위에서 언급한 제1 데이터 레지스터(152) 및 제2 데이터 레지스터(153) 각각은, 인버터(Inverter) 두개로 출력과 입력이 서로 연결된 래치(Latch)로 구현될 수 있으며, 따라서, 제1 데이터 레지스터(152) 및 제2 데이터 레지스터(153) 각각을 제1 래치 및 제2 래치라고도 한다. Each of the first data register 152 and the second data register 153 described above may be implemented as a latch in which an output and an input are connected to each other through two inverters, 152 and the second data register 153 are also referred to as a first latch and a second latch.

DAC(154)는 외부에서 공급된 감마 기준전압을 기준으로 제2 데이터 레지스터(153)에 저장된 디지털 형태의 보상된 영상 데이터(Data’)를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환한다. The DAC 154 converts the digital image data Data 'stored in the second data register 153 into an analog data voltage on the basis of the gamma reference voltage supplied from the outside.

출력 버퍼(155)는, 화소 구동력을 증폭시켜, 즉, 데이터 라인을 구동하기에 충분한 전류 구동능력을 갖추도록 하여, 데이터 전압을 데이터 라인을 통해 공급한다. The output buffer 155 supplies the data voltage through the data line so as to amplify the pixel driving force, that is, to have sufficient current driving capability for driving the data line.

도 12는 도 1의 게이트 구동부에 대한 구성도이다.12 is a configuration diagram of the gate driver of FIG.

도 12를 참조하면, 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치(10)에 포함된 게이트 구동부(13)는, 쉬프트 레지스터(161), 레벨 쉬프터(162), 출력 버퍼(163) 등을 포함한다. 12, the gate driver 13 included in the OLED display 10 includes a shift register 161, a level shifter 162, an output buffer 163, and the like.

쉬프트 레지스터(161)는 타이밍 컨트롤러(14)로부터 한 프레임의 시작을 알리는 수직동기신호(Vsync)를 받아 스캔 펄스를 발생시키기 시작하여 수직클럭신호(Vclock)에 따라 스캔 펄스의 출력이 차례로 턴 온 되도록 한다. 또한, 출력 가능 신호(OE: Output Enable)를 이용하여 게이트 라인의 충전시간을 단축함으로써, 신호지연의 영향을 방지하는 등의 논리연산 회로가 포함될 수 있다. The shift register 161 receives a vertical synchronization signal Vsync notifying the start of one frame from the timing controller 14 and starts generating a scan pulse so that the output of the scan pulse is sequentially turned on in accordance with the vertical clock signal Vclock do. Further, a logic operation circuit such as preventing the influence of the signal delay by shortening the charging time of the gate line by using the output enable signal (OE) can be included.

레벨 쉬프터(162)는, 도 2a 및 도 2b를 참조하여 설명한 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)를 온/오프 시킬 수 있는 전압으로 스캔 펄스를 변환해준다. 즉, 온 전압 신호(Von) 및 오프 전압 신호(Voff)에 따라, 저전압을 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)를 턴 온시키거나 턴 온프 시키는데 필요한 일정 전압 이상의 온 전압(Von)과 일정 전압 이하의 오프 전압(Voff)으로 변환한다. The level shifter 162 converts the scan pulse into a voltage capable of turning on and off the first and second transistors T1 and T2 described with reference to Figs. 2A and 2B. That is, the on-voltage Von and the constant voltage Von, which are lower than a predetermined voltage necessary for turning on or turning on the first and second transistors T1 and T2, may be set in accordance with the on-voltage signal Von and the off- To a turn-off voltage (Voff) below.

출력 버퍼(163)는 RC 부하를 갖는 게이트 라인(GL)을 구동하기에 적절하도록 전류 구동 능력을 향상시켜 스캔신호를 출력해 주는 회로로 구성될 수 있다.The output buffer 163 may be formed of a circuit for outputting a scan signal by improving the current driving capability so as to be suitable for driving the gate line GL having an RC load.

한편, 게이트 구동부(13)는 도 2에 도시한 바와 같이 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)의 게이트 노드로 하나의 게이트 라인(GL)을 통해 스캔신호를 공급하거나, 도 2b에 도시한 바와 같이 제1, 2 트랜지스터(T1, T2) 각각의 게이트 노드로 각각의 게이트 라인(GL1, GL2)을 통해 제1, 2 스캔신호를 공급할 수 있다.2, the gate driver 13 supplies a scan signal to one of the gate nodes of the first and second transistors T1 and T2 through one gate line GL, Likewise, the first and second scan signals can be supplied to the gate nodes of the first and second transistors T1 and T2 through the gate lines GL1 and GL2, respectively.

도 13은 다른 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 방법에 대한 흐름도이다.13 is a flowchart of a deterioration compensation method of a display apparatus according to another embodiment.

도 1 및 도 13을 참조하면, 다른 실시예에 따른 표시장치의 열화 보상 방법(1300)은 센싱단계(S1310)과 보상단계(S1320)를 포함할 수 있다. Referring to FIGS. 1 and 13, the deterioration compensation method 1300 of the display apparatus according to another embodiment may include a sensing step S1310 and a compensation step S1320.

센싱단계(S1310)에서 표시장치(10)는 둘 이상의 서브화소들 각각의 두개의 전극들 중 하나와 연결된 기준전압 라인을 통해 둘 이상의 서브화소들 중 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 센싱하는 할 수 있다.In the sensing step S1310, the display device 10 displays the organic light emitting diodes OLED of one of the two or more sub-pixels through the reference voltage line connected to one of the two electrodes of each of the two or more sub- The threshold voltage can be sensed.

예를 들어 센싱단계(S1310)에서 표시장치(10)가 도 4a 및 도 4b를 참조하여 전술한 바와 같이 둘 이상의 서브화소들 각각의 문턱전압들을 센싱할 수 없는 화소구조에서 기준전압 라인을 통해 둘 이상의 서브화소들 중 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 센싱할 수 있다. For example, in the sensing step S1310, when the display device 10 is in a pixel structure that can not sense the threshold voltages of each of two or more sub-pixels, as described above with reference to Figs. 4A and 4B, The threshold voltage of the organic light emitting diode (OLED) of one of the sub-pixels can be sensed.

보상단계(S1320)에서 표시장치(10)는 기준전압 라인을 통해 센싱된 상기 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압로부터 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 계산하고, 계산된 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도에 따라 추정된 하나의 서브화소의 데이터 사용량에 따라 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하고, 하나의 서브화소의 실제 데이터 사용량과 추정된 데이터 사용량의 비교값에 따라 추정된 다른 서브화소의 데이터 사용량에 따라 다른 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상할 수 있다. In the compensation step S1320, the display device 10 subtracts the deterioration degree of the organic light emitting diode OLED of one sub-pixel from the threshold voltage of the organic light emitting diode OLED of the one sub-pixel sensed through the reference voltage line And compensates the deterioration of the organic light emitting diode OLED of the sub pixel according to the data usage amount of one sub pixel estimated according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED of the calculated one sub pixel, It is possible to compensate the deterioration of the organic light emitting diode OLED of other sub-pixels according to the data usage amount of other sub-pixels estimated according to the comparison value of the actual data usage amount of pixels and the estimated data usage amount.

예를 들어 보상 단계(1320)에서 표시장치(10)가 도 4 내지 도 12를 참조하여 설명한 바와 같이 서브화소들 중 하나의 유기발광표시장치의 문턱전압을 센싱한 후 그 문턱전압으로부터 생성된 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 누적된 데이터 사용량을 보정해줌으로써 영상 데이터의 보상의 정확도를 향상시킬 수 있다.For example, in the compensation step 1320, the display device 10 senses the threshold voltage of one of the sub-pixels, as described with reference to FIGS. 4 to 12, It is possible to improve the accuracy of the compensation of the image data by correcting the cumulative data usage amount of the degradation degree of the organic light emitting diode OLED of the sub-pixel of the sub-pixel.

구체적으로, 보상단계(1320)는 열화정도 계산단계(S1321)와, 데이터 사용량 추정단계(S1322), 데이터 보상단계(S1323)를 포함할 수 있다.Specifically, the compensation step 1320 may include a degradation degree calculation step S1321, a data usage estimation step S1322, and a data compensation step S1323.

열화정도 계산단계(S1321)는 기준전압 라인을 통해 센싱된 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 기초로 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 계산한다.The deterioration degree calculation step S1321 calculates the deterioration degree of the organic light emitting diode OLED of one sub pixel based on the threshold voltage of the organic light emitting diode OLED of one sub pixel sensed through the reference voltage line.

데이터 사용량 추정단계(1322)는 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도에 따라 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 데이터 사용량을 추정하고, 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 실제 데이터 사용량과 추정된 데이터 사용량에 따라 다른 서브화소의 데이터 사용량을 추정한다. The data usage estimation step 1322 estimates a data usage amount of the organic light emitting diode OLED of one sub-pixel according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED of one sub-pixel, The data usage of other sub-pixels is estimated according to the actual data usage of the OLED and the estimated data usage.

데이터 보상단계(1323)는 둘 이상의 서브화소들 각각의 추정된 데이터 사용량에 따른 둘 이상의 서브화소들 각각의 유기발광다이오드(OLED)의 열화의 보상값에 따라 둘 이상의 서브화소들 각각의 입력된 영상 데이터를 보상한다. The data compensation step 1323 may include the step of compensating the input image of each of the two or more sub-pixels according to the compensation value of the deterioration of the organic light emitting diode OLED of each of the two or more sub-pixels according to the estimated data usage of each of the two or more sub- Data is compensated.

전술한 실시예들에 의해 표시장치는 전술한 바와 같이 둘 이상의 서브화소들 각각의 문턱전압들을 센싱할 수 없는 화소구조에서 서브화소별 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 센싱하기 위해 추가적인 화소 설계없이 하나의 서브화소의 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 센싱하여 다른 서브화소들의 열화를 보상할 수 있다. In the above-described embodiments, the display device may further include a pixel structure for sensing the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED per sub-pixel in a pixel structure that can not sense the threshold voltages of each of the two or more sub- It is possible to compensate the deterioration of other sub-pixels by sensing the threshold voltage of the organic light emitting diode (OLED) of one sub-pixel.

또한 전술한 실시예들에 의해 표시장치는 유기발광다이오드(OLED)의 시간에 따른 열화 특정을 보상할 수 있다. 이에 따라 표시장치는 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 따른 휘도 저감 개선하고 데이터 사용량에 따른 열화 정도의 차이로 인해 색온도 틀어짐을 개선할 수 있다. Also, the display device can compensate the deterioration characteristic of the organic light emitting diode (OLED) with time according to the above-described embodiments. Accordingly, the display device can improve the luminance reduction due to the deterioration of the organic light emitting diode (OLED) and improve the color temperature drift due to the difference in the degree of deterioration according to the data usage amount.

또한 전술한 실시예들에 의해 표시장치는 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 누적된 데이터 사용량을 보정해줌으로써 영상 데이터의 보상의 정확도를 향상시킬 수 있다. 이에 따라 표시장치는 잘못된 외부 보상으로 인해 발생할 수 있는 부작용을 감소시킬 수 있다.Also, according to the above-described embodiments, the display device can improve the accuracy of compensation of image data by correcting the cumulative data usage amount of the degree of deterioration of the organic light emitting diode (OLED). Thus, the display device can reduce side effects that may occur due to erroneous external compensation.

결과적으로 전술한 실시예에 의해 표시장치는 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 정확하게 보상하므로 표시패널의 수명을 향상시킬 수 있다. As a result, the display device accurately compensates for the deterioration of the organic light emitting diode (OLED) according to the above-described embodiment, thereby improving the lifetime of the display panel.

이상 도면을 참조하여 실시예들을 설명하였으나 본 발명은 이에 제한되지 않는다.Although the embodiments have been described with reference to the drawings, the present invention is not limited thereto.

전술할 실시예에서 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 4개의 서브화소(P1~P4)인 경우를 예시적으로 설명하나 본 발명은 이에 제한되지 않고 전술한 바와 같이 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 둘 이상의 데이터 라인들에 연결된 둘 이상의 화소들일 수 있다. 예를 들어 화소가 RGB 서브화소로 구성된 경우 기본 단위가 3개의 데이터 라인들에 연결된 3개의 화소일 수 있고, 상부에 두개의 서브화소들과 하부에 두개의 서브화소들이 하나의 화소를 구정하는 펜타일 방식의 화소구조인 경우 기본 단위가 2개의 데이터 라인들에 연결된 2개의 화소일 수도 있다.In the embodiment described above, the basic unit of the signal line connection structure is connected to the four sub-pixels DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n- (P1 to P4). However, the present invention is not limited to this, and the basic unit of the signal line connection structure may be two or more pixels connected to two or more data lines as described above. For example, when a pixel is composed of RGB sub-pixels, the basic unit may be three pixels connected to three data lines, and two sub-pixels on the upper side and two sub- In case of a one-pixel structure, the basic unit may be two pixels connected to two data lines.

전술한 실시예에서, 4개의 화소는 화상을 형성하는 최소 단위인 화소를 구성하는 R 서브화소, G 서브화소, B 서브화소 및 W 서브화소인 것으로 설명하였으나 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 예를 들어 둘 이상의 화소들이 전체적으로 화상을 형성하는 화소의 일부 구성요소들일 수도 있고 일부가 화상을 형성하는 화소일 수도 있고 각각 발광하는 취소 단위인 화소일 수도 있다.In the above-described embodiment, the four pixels are R sub pixels, G sub pixels, B sub pixels and W sub pixels constituting a pixel which is the minimum unit for forming an image, but the present invention is not limited thereto. For example, the two or more pixels may be a part of a pixel that forms an image as a whole, or may be a pixel that forms part of an image, or may be a pixel that is a cancellation unit that emits light.

본 명세서는 넓은 의미에서 발광층으로 그래핀 양자점 등을 포함하는 표시장치/표시소자도 본 명세서에서 유기전계발광 표시장치/표시소자에 포함될 수 있다.In the present specification, a display device / display element including a graphene quantum dot or the like as a light emitting layer in a broad sense may also be included in the organic light emitting display / display element in this specification.

이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the inventions. , Separation, substitution, and alteration of the invention will be apparent to those skilled in the art. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

10: 유기발광 표시장치 11: 표시패널
12: 데이터 구동부 13: 게이트 구동부
14: 타이밍 컨트롤러 DT: 구동 트랜지스터
T1: 제1 트랜지스터 T2: 제2 트랜지스터
DL: 데이터 라인 GL, GL1, GL2: 게이트 라인
DVL: 구동전압 라인 RVL: 기준전압 라인
91: 센싱부 93: 보상부
10: organic light emitting display device 11: display panel
12: Data driver 13: Gate driver
14: timing controller DT: driving transistor
T1: first transistor T2: second transistor
DL: Data line GL, GL1, GL2: Gate line
DVL: drive voltage line RVL: reference voltage line
91: sensing part 93: compensation part

Claims (12)

데이터 라인과 게이트 라인의 교차 영역마다 배치된 둘 이상의 화소들을 포함하며, 상기 둘 이상의 화소들 각각의 두개의 전극들 중 하나와 연결된 기준전압 라인을 포함하는 표시패널;
상기 데이터 라인을 통해 상기 표시패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부;
상기 게이트 라인을 통해 상기 표시패널에 스캔신호를 공급하는 게이트 구동부;
상기 데이터 구동부 및 상기 게이트 구동부의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러; 및
상기 기준전압 라인을 통해 센싱된 상기 둘 이상의 화소들 중 하나의 열화정도를 토대로 상기 둘 이상의 화소들의 상기 유기발광다이오드의 열화를 보상하는 보상부를 포함하는 유기발광 표시장치.
A display panel including at least two pixels disposed at intersections of a data line and a gate line, and including a reference voltage line connected to one of two electrodes of each of the two or more pixels;
A data driver for supplying a data voltage to the display panel through the data line;
A gate driver for supplying a scan signal to the display panel through the gate line;
A timing controller for controlling a driving timing of the data driver and the gate driver; And
And a compensator configured to compensate deterioration of the organic light emitting diode of the two or more pixels based on a deterioration degree of one of the two or more pixels sensed through the reference voltage line.
제1항에 있어서,
상기 화소는 4개의 화소들로 구성되며,
상기 4개의 화소들 각각은, 센싱신호에 의해 제어되며 상기 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 유기발광다이오드의 두개의 전극들 중 하나 사이에 연결되는 제1 트랜지스터를 더 포함하며,
상기 기준전압 라인 개수는, 상기 데이터 라인 개수의 1/4이며, 상기 기준전압 라인은, 4n-2 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역과 4n-1 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역 사이에 형성되며,
4n-2 번째 데이터 라인에 연결된 화소 및 4n-1 번째 데이터 라인에 연결된 두개의 화소들의 각각에 포함된 상기 제1 트랜지스터는 상기 기준전압 라인에 직접 연결되고, 4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소 각각에 포함된 상기 제1 트랜지스터는 상기 기준전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되는 것을 특징으로 하는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
The pixel is composed of four pixels,
Each of the four pixels further includes a first transistor connected between a connection pattern controlled by a sensing signal and connected to the reference voltage line or the reference voltage line and one of two electrodes of the organic light emitting diode In addition,
The number of reference voltage lines is one fourth of the number of the data lines and the reference voltage line is formed between a region of a pixel connected to the (4n-2) th data line and a region of a pixel connected to the (4n-1) ,
The first transistor included in each of the pixels connected to the (4n-2) -th data line and the (4n-1) -th data line is directly connected to the reference voltage line, and the pixel connected to the And the first transistor included in each of the pixels connected to the (4n) th data line is connected to a connection pattern connected to the reference voltage line.
제1항에 있어서,
상기 둘 이상의 화소들 각각의 두개의 전극들 중 하나와 연결된 상기 기준전압 라인을 통해 상기 둘 이상의 화소들 중 하나의 문턱전압을 센싱하는 센싱부를 더 포함하는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
And a sensing unit for sensing a threshold voltage of one of the two or more pixels through the reference voltage line connected to one of two electrodes of each of the two or more pixels.
제3항에 있어서,
상기 센싱부는,
상기 센싱된 상기 둘 이상의 화소들 중 하나의 문턱전압을 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 변환부; 및
기준전압이 공급되는 기준전압 공급 노드와 상기 아날로그 디지털 변환부에 연결된 센싱 노드 중 하나가 상기 기준전압 라인과 연결되도록 스위칭하는 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광 표시장치.
The method of claim 3,
The sensing unit includes:
An analog-digital converter for converting one of the two or more sensed pixels into a digital value; And
And a switch for switching one of a reference voltage supply node to which a reference voltage is supplied and a sensing node connected to the analog-digital conversion section to be connected to the reference voltage line.
제3항에 있어서,
상기 센싱부는 내부 또는 외부에 위치하는 캐패시터의 전압이 방전될 때까지 상기 캐패시터의 전압을 상기 기준전압 라인을 통해 상기 둘 이상의 화소들에 공급하고, 상기 기준전압 라인을 통해 문턱전압이 가장 낮은 하나의 화소의 유기발광다이오드의 문턱전압을 센싱하는 것을 특징으로 하는 유기발광 표시장치.
The method of claim 3,
Wherein the sensing unit supplies the voltage of the capacitor to the two or more pixels through the reference voltage line until a voltage of a capacitor located inside or outside is discharged, And the threshold voltage of the organic light emitting diode of the pixel is sensed.
제5항에 있어서,
상기 보상부는,
상기 기준전압 라인을 통해 센싱된 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도에 따라 상기 하나의 화소의 추정된 데이터 사용량에 따른 상기 하나의 화소의 상기 유기발광다이오드의 열화를 보상하고,
상기 하나의 화소의 실제 데이터 사용량과 상기 추정된 데이터 사용량의 비교값에 따라 추정된 상기 다른 화소의 데이터 사용량에 따라 상기 다른 화소의 유기발광다이오드의 열화를 보상하는 것을 특징으로 하는 유기발광 표시장치.
6. The method of claim 5,
Wherein the compensation unit comprises:
Compensating the deterioration of the organic light emitting diode of the one pixel according to the estimated data usage amount of the one pixel according to the deterioration degree of the organic light emitting diode of the one pixel sensed through the reference voltage line,
And compensates the deterioration of the organic light emitting diodes of the other pixels according to a data usage amount of the other pixels estimated based on a comparison value between the actual data usage amount of the one pixel and the estimated data usage amount.
제6항에 있어서,
상기 유기발광다이오드의 열화정도는 상기 하나의 화소의 초기 문턱전압과 센싱된 문턱전압의 차이값이고, 상기 화소의 실제 데이터 사용량과 상기 추정된 데이터 사용량의 비교값은 상기 추정된 데이터 사용량을 실제 데이터 사용량으로 나눈 열화 게인이며,
상기 보상부는 아래 수학식에 따라 상기 다른 화소의 유기발광다오이드의 추정된 데이터 사용량을 계산하는 것을 특징으로 하는 유기발광 표시장치.
추정된 데이터 사용량=각 화소의 실제 데이터 사용량×열화 게인×가중치
The method according to claim 6,
Wherein the degree of deterioration of the organic light emitting diode is a difference value between an initial threshold voltage of the one pixel and a sensed threshold voltage and a comparison value between the actual data usage amount of the pixel and the estimated data usage amount is the actual data amount It is the deterioration gain divided by usage,
Wherein the compensating unit calculates the estimated data usage amount of the organic light emitting diode of the other pixel according to the following equation.
Estimated data usage = actual data usage of each pixel x degradation gain x weight
제1항에 있어서,
상기 보상부는,
상기 기준전압 라인을 통해 센싱된 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도를 계산하는 열화정도 계산부와,
센싱된 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도에 따라 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 데이터 사용량을 추정하고, 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 실제 데이터 사용량과 추정된 데이터 사용량에 따라 다른 화소의 데이터 사용량을 추정하는 데이터 처리부와,
상기 둘 이상의 화소들 각각의 실제 데이터 사용량을 저장하고, 상기 둘 이상의 화소들 각각의 추정된 데이터 사용량에 따른 상기 둘 이상의 화소들의 유기발광다이오드의 열화의 보상값을 저장하는 메모리와,
상기 둘 이상의 화소의 유기발광다이오드의 열화의 보상값에 따라 입력된 영상 데이터를 보상하여 보상된 영상 데이터를 상기 데이터 구동부에 공급하는 데이터 보상부를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the compensation unit comprises:
A deterioration degree calculation unit for calculating a deterioration degree of the organic light emitting diode of one pixel sensed through the reference voltage line,
The method comprising: estimating a data usage amount of the organic light emitting diodes of the one pixel according to a degree of deterioration of the organic light emitting diodes of the one pixel sensed; A data processing unit for estimating a data usage amount of pixels,
A memory for storing an actual data usage amount of each of the two or more pixels and storing a compensation value of deterioration of the organic light emitting diodes of the two or more pixels according to an estimated data usage amount of each of the two or more pixels;
And a data compensator configured to compensate the input image data according to the compensation value of the deterioration of the organic light emitting diodes of the two or more pixels and supply the compensated image data to the data driver.
제1항에 있어서,
상기 보상부는,
상기 타이밍 컨트롤러의 내부에 포함되거나, 상기 데이터 구동부의 내부에 포함되거나, 상기 타이밍 컨트롤러와 상기 데이터 구동부의 외부에 포함되는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the compensation unit comprises:
Wherein the timing controller is included in the timing controller, is included in the data driver, or is included outside the timing controller and the data driver.
제1항에 있어서,
상기 보상부는,
상기 타이밍 컨트롤러의 내부에 포함된 경우, 외부에서 공급된 영상 데이터를 상기 화소들의 열화정보에 기초하여 보상된 영상 데이터로 변환하여 상기 데이터 구동부로 공급하고,
상기 데이터 구동부의 내부에 포함된 경우, 상기 화소들의 열화정보에 기초하여, 상기 타이밍 컨트롤러에서 공급된 데이터를 아날로그로 변환하기 이전 또는 이후에 보상된 영상 데이터로 변환하고,
상기 타이밍 컨트롤러와 상기 데이터 구동부의 외부에 포함된 경우, 상기 타이밍 컨트롤러에서 공급된 데이터를 상기 화소들의 열화정보에 기초하여 보상된 영상 데이터로 변환하여 상기 데이터 구동부로 공급하는 것을 특징으로 하는 유기발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the compensation unit comprises:
The image data supplied from the outside is converted into the compensated image data based on the deterioration information of the pixels and supplied to the data driver,
Wherein the timing controller converts the data supplied from the timing controller into the compensated image data before or after conversion to analog based on the deterioration information of the pixels when the data driver is included in the data driver,
And supplies the data supplied from the timing controller to the data driver when the data is included outside the timing controller and the data driver. Device.
둘 이상의 화소들 각각의 두개의 전극들 중 하나와 연결된 기준전압 라인을 통해 상기 둘 이상의 화소들 중 하나의 화소의 유기발광다이오드의 문턱전압을 센싱하는 센싱단계;
상기 기준전압 라인을 통해 센싱된 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 문턱전압로부터 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도를 계산하고, 계산된 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도에 따라 추정된 상기 하나의 화소의 데이터 사용량에 따라 상기 화소의 상기 유기발광다이오드의 열화를 보상하고, 상기 하나의 화소의 실제 데이터 사용량과 상기 추정된 데이터 사용량의 비교값에 따라 추정된 상기 다른 화소의 데이터 사용량에 따라 상기 다른 화소의 유기발광다이오드의 열화를 보상하는 보상단계를 포함하는 유기발광 표시장치의 열화 보상 방법.
A sensing step of sensing a threshold voltage of an organic light emitting diode of one of the two or more pixels through a reference voltage line connected to one of two electrodes of each of two or more pixels;
Wherein the degradation degree of the organic light emitting diode of the one pixel is calculated from the threshold voltage of the organic light emitting diode of the one pixel sensed through the reference voltage line, The deterioration of the organic light emitting diode of the pixel is compensated for according to the data usage amount of the one pixel and the data of the other pixel estimated based on the comparison between the actual data usage amount of the one pixel and the estimated data usage amount And compensating the deterioration of the organic light emitting diodes of the other pixels according to a usage amount of the organic light emitting diode.
제11항에 있어서,
상기 열화를 보상하는 단계는,
상기 기준전압 라인을 통해 센싱된 하나의 화소의 유기발광다이오드의 문턱전압을 기초로 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도를 계산하는 열화정도 계산단계와,
상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 열화정도에 따라 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 데이터 사용량을 추정하고, 상기 하나의 화소의 유기발광다이오드의 실제 데이터 사용량과 추정된 데이터 사용량에 따라 다른 화소의 데이터 사용량을 추정하는 데이터 사용량 추정단계와,
상기 둘 이상의 화소들 각각의 추정된 데이터 사용량에 따른 상기 둘 이상의 화소들 각각의 유기발광다이오드의 열화의 보상값에 따라 상기 둘 이상의 화소들 각각의 입력된 영상 데이터를 보상하는 데이터 보상단계를 포함하는 유기발광 표시장치의 열화 보상방법.
12. The method of claim 11,
The step of compensating for the degradation comprises:
A deterioration degree calculating step of calculating a deterioration degree of the organic light emitting diode of the one pixel based on a threshold voltage of the organic light emitting diode of one pixel sensed through the reference voltage line;
The method comprising: estimating a data usage amount of the organic light emitting diodes of the one pixel according to a degree of deterioration of the organic light emitting diodes of the one pixel; A data usage estimating step of estimating a data usage amount,
And compensating the input image data of each of the two or more pixels according to the compensation value of the deterioration of the organic light emitting diodes of each of the two or more pixels according to the estimated data usage amount of each of the two or more pixels A method of compensating deterioration of an organic light emitting display device.
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