KR20150045290A

KR20150045290A - Crum 칩 및 이를 포함하는 소모품 유닛을 검증하는 화상형성장치와 그 방법

Info

Publication number: KR20150045290A
Application number: KR20130124823A
Authority: KR
Inventors: 이재윤; 우홍록
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2013-10-18
Filing date: 2013-10-18
Publication date: 2015-04-28
Also published as: WO2015056870A1; BR112016005614A8; AU2014335154B2; EP2863620B1; EP2863620A1; CN105637426A; BR112016005614A2; US20170131658A1; BR112016005614B1; CN105637426B; KR101584221B1; US9864300B2; US20150110504A1; RU2619139C1; US9581935B2; AU2014335154A1

Abstract

화상형성장치가 개시된다. 본 장치는, 본체, 본체에 탈착 또는 장착 가능하며, CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛, 비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록 및 CRUM 칩에 저장된 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 각각 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트가 저장되는 저장부, 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여 소모품 유닛을 검증하여 검증에 실패하면, 소모품 유닛의 사용을 제한하는 제어부를 포함한다.

Description

CRUM 칩 및 이를 포함하는 소모품 유닛을 검증하는 화상형성장치와 그 방법 { CRUM CHIP, IMAGE FORMING DEVICE FOR VERIFYING CONSUMABLE UNIT COMPRISING THE CRUM CHIP, AND METHODS THEREOF }

본 발명은 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 이용하여 소모품 유닛을 검증하는 화상형성장치 및 그 검증 방법에 대한 것이다.

전자 기술의 발달에 힘입어 다양한 유형의 전자 장치가 개발 및 보급되고 있다. 특히 컴퓨터 보급이 대중화됨에 따라, 컴퓨터 주변 기기의 보급율도 나날이 향상되고 있다. 컴퓨터 주변 기기란 컴퓨터의 활용성을 높이기 위한 기기들을 의미한다. 대표적으로는, 프린터, 스캐너, 복사기, 복합기 등과 같은 화상형성장치가 있을 수 있다.

화상형성장치는 용지나 기타 매체 상에 화상을 형성하는 화상 형성 잡을 수행하는 장치이다. 화상 형성 잡을 수행하기 위해서, 잉크나 토너와 같은 현상제가 사용될 수 있다. 토너를 사용하는 레이저 방식의 화상형성장치의 경우, 대전 유닛, 현상 유닛, 전사 유닛, 노광 유닛, 정착 유닛 등이 사용된다. 이러한 유닛들과 같이 잡 수행에 따라 소모되는 유닛들을 소모품 유닛이라고 할 수 있다. 소모품 유닛은 일정 기간 이상 사용하면 특성이 변경되어 좋은 인쇄 품질을 기대할 수 없게 된다. 특히, 토너를 담고 있는 토너 카트리지의 경우, 토너가 소진되면 토너 카트리지 자체를 교환하여야 하는 경우가 있다. 이러한 상황을 대비하여, 제품 제조 업체에서는 완제품과 별도로 소모품 유닛들도 판매하고 있다. 화상형성장치는 이러한 정품 소모품 유닛이 장착될 경우에 최상의 품질의 화상을 형성할 수 있다.

하지만, 소모품 유닛 교체 과정에서, 사용자가 화상형성장치에 맞지 않는 소모품을 장착하거나 품질이 떨어지는 비정품 소모품 유닛을 장착하게 될 가능성이 있다. 또한, 악의적인 제3자가 정품 소모품 유닛을 카피한 조악한 품질의 비정품 소모품 유닛을 저가로 판매하는 경우, 비정품 소모품 유닛으로 교체할 가능성이 높다. 하지만, 비정품 소모품 유닛이 장착될 경우, 화상형성장치의 동작이 제대로 이루어지지 않을 수도 있고, 심지어는 화상 형성 장치가 손상될 위험성도 있다. 화상형성장치는 화상 형성 잡 수행 과정에서 고온, 고압을 이용하기 때문에, 비정품 소모품 유닛의 사용으로 인해 화재나 폭발이 발생할 위험성도 있을 수 있다.

이러한 위험성을 대비하기 위해서, 화상형성장치에 장착되는 소모품 유닛에 메모리를 장착하여, 소모품 유닛을 인증하는 과정을 수행하고 있다. 하지만, 악의적인 목적을 가진 제3자가 소모품 유닛에 장착된 메모리나, 화상형성장치 본체의 메모리를 해킹하여 암호 프로토콜과 암호화 키 등을 분석하게 되면, 정상적인 인증이 이루어지는 비정품 소모품 유닛을 만들어낼 수도 있다.

이에 따라, 종래의 인증 과정과는 별도로 소모품 유닛을 적절하게 검증할 수 있는 기술에 대한 필요성이 대두되었다.

본 발명은 상술한 필요성에 따른 것으로, 본 발명의 목적은, 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 이용하여 소모품 유닛을 검증함으로써, 소모품 유닛에 대한 조작 위험을 방지할 수 있는 방법을 제공함에 있다.

본 발명은 상술한 목적에 따라 안출된 것으로, 본 발명의 일 실시 예에 따르면, CRUM 칩은, 비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록, 고유 정보, 및 상기 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트를 저장하는 메모리부, 화상형성장치의 본체에 내장된 제어부와 통신을 수행하기 위한 통신 인터페이스부 및 상기 통신이 연결되면, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 상기 본체의 제어부로 제공하는 CPU를 포함한다.

여기서, 상기 변환 고유 정보 리스트는, 상기 복수의 변환 고유 정보 중에서 검증에 사용될 적어도 하나의 변환 고유 정보를 지정하는 트리거 비트를 더 포함할 수 있다.

또한, 상기 검출 목록은, 상기 비정품 CRUM 칩에 대한 토너 고유 정보, 칩 고유 정보, 시리얼 넘버, CRUM 메모리 내의 특정 어드레스에 기록된 데이터, 인증 시에 사용되는 랜덤 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.

한편, 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치는, 본체, 상기 본체에 탈착 또는 장착 가능하며, CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛, 비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록 및 상기 CRUM 칩에 저장된 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 각각 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트가 저장되는 저장부, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여 상기 소모품 유닛을 검증하여 상기 검증에 실패하면, 상기 소모품 유닛의 사용을 제한하는 제어부를 포함한다.

여기서, 상기 CRUM 칩은, 상기 고유 정보, 상기 검출 목록, 및 상기 변환 고유 정보 리스트가 저장된 저장부, 상기 소모품 유닛이 상기 본체에 장착되면, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 상기 제어부로 제공하는 CPU를 포함한다. 여기서, 상기 제어부는, 상기 CPU로부터 제공되는 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 상기 저장부에 저장할 수 있다.

또한, 상기 제어부는, 상기 CPU에 저장된 상기 검출 목록의 버전을 확인하여, 상기 저장부에 기 저장된 검출 목록보다 최신 버전이면 상기 CPU로 리스트 전송을 요청하고, 상기 요청에 따라 상기 CPU로부터 상기 검출 목록이 제공되면, 상기 저장부에 저장된 리스트를 업데이트할 수 있다.

그리고, 상기 변환 고유 정보 리스트는, 상기 복수의 변환 고유 정보 중에서 상기 검증에 사용될 적어도 하나의 변환 고유 정보를 지정하기 위한 트리거 비트를 더 포함할 수 있다.

또한, 상기 제어부는, 상기 소모품 유닛이 상기 본체에 장착되면, 기 설정된 인증 알고리즘에 따라 상기 CRUM 칩을 인증하고, 상기 인증에 성공하면, 상기 CRUM 칩이 상기 검출 목록에 등록된 CRUM 칩인지 여부를 확인하여 상기 CRUM 칩을 1차 검증하며, 상기 CRUM 칩이 상기 검출 목록에 미등록된 CRUM 칩이면, 상기 트리거 비트를 확인하여 상기 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나의 변환 고유 정보를 선택하고, 상기 CRUM 칩의 고유 정보를 상기 선택된 변환 고유 정보에 대응되는 규칙에 따라 변환하며, 변환된 결과 값과 상기 선택된 변환 고유 정보를 비교하여 상기 CRUM 칩을 2차 검증할 수 있다.

또한, 상기 제어부는, 상기 CRUM 칩의 검출 목록 버전이 상기 저장부에 저장된 검출 목록보다 최신 버전이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 검출 목록을 다운로드받아 상기 저장부에 저장된 검출 목록을 업데이트하고, 상기 CRUM 칩의 고유 정보가 상기 업데이트된 검출 목록에 등록되었는지 여부를 확인하여 상기 CRUM 칩을 1차 검증하며, 상기 CRUM 칩이 상기 검출 목록에 미등록된 CRUM 칩이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 변환 고유 정보 리스트를 다운로드받아, 상기 트리거 비트를 확인하여 상기 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나의 변환 고유 정보를 선택하고, 상기 CRUM 칩의 고유 정보를 상기 선택된 변환 고유 정보에 대응되는 규칙에 따라 변환하며, 변환된 결과 값과 상기 선택된 변환 고유 정보를 비교하여 상기 CRUM 칩을 2차 검증할 수도 있다.

한편, 본 발명의 또 다른 실시 예에 따르면, 화상형성장치는, 서버 장치와 통신을 수행하기 위한 통신부를 더 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 제어부는, 상기 소모품 유닛에 대한 검증 결과, 상기 CRUM 칩으로부터 제공되는 상기 고유 정보, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 상기 서버 장치로 전송할 수 있다.

또는, 화상형성장치는, 서버 장치와 통신을 수행하기 위한 통신부를 더 포함하며, 상기 제어부는, 상기 서버 장치로부터 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 수신하여 상기 저장부에 저장할 수 있다.

한편, 본 발명의 또 다른 실시 예에 따르면, CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛이 탈착 또는 장착 가능한 화상형성장치의 소모품 유닛 검증 방법은, 비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록 및 상기 CRUM 칩에 저장된 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 각각 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여 상기 소모품 유닛을 검증하는 단계 및 상기 검증에 실패하면, 상기 소모품 유닛의 사용을 제한하는 단계를 포함한다.

또는, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 고유 정보, 상기 검출 목록, 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 수신하는 단계, 상기 화상형성장치의 본체에 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.

또는, 상기 CPU의 검출 목록 버전을 확인하여, 상기 화상형성장치의 본체에 기 저장된 검출 목록보다 최신 버전이면 상기 CPU로 리스트 전송을 요청하는 단계, 상기 요청에 따라 상기 CPU로부터 상기 검출 목록이 전송되면, 상기 화상형성장치의 본체에 기 저장된 검출 목록을 업데이트하는 단계를 더 포함할 수도 있다.

여기서, 상기 변환 고유 정보 리스트는, 상기 복수의 서로 다른 규칙 중 하나를 지정하는 트리거 비트를 더 포함할 수 있다.

또는, 상기 소모품 유닛이 상기 본체에 장착되면, 기 설정된 인증 알고리즘에 따라 상기 CRUM 칩에 대한 인증을 수행하는 단계를 더 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 소모품 유닛에 대한 검증은 상기 인증에 성공한 이후에 수행될 수 있다.

또한, 상기 CRUM 칩을 검증하는 단계는, 상기 CRUM 칩의 검출 목록 버전이 상기 화상형성장치의 본체에 기 저장된 검출 목록보다 최신 버전이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 검출 목록을 다운로드받아 상기 기 저장된 검출 목록을 업데이트하는 단계, 상기 CRUM 칩의 고유 정보가 상기 업데이트된 검출 목록에 등록되었는지 여부를 확인하여 상기 CRUM 칩을 1차 검증하는 단계, 상기 CRUM 칩이 상기 업데이트된 검출 목록에 미등록된 CRUM 칩이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 변환 고유 정보 리스트를 다운로드받는 단계, 상기 트리거 비트를 확인하여 상기 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나의 변환 고유 정보를 선택하는 단계, 상기 CRUM 칩의 고유 정보를 상기 선택된 변환 고유 정보에 대응되는 규칙에 따라 변환하는 단계, 변환된 결과값과 상기 선택된 변환 고유 정보를 비교하여 상기 CRUM 칩을 2차 검증하는 단계를 포함할 수 있다.

또는, 상기 소모품 유닛에 대한 검증 결과, 상기 CRUM 칩으로부터 제공되는 상기 고유 정보, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 서버 장치로 전송하는 단계를 더 포함할 수도 있다.

그리고, 본 발명의 또 다른 실시 예에 따르면, 서버 장치는, 복수의 화상형성장치와 통신을 수행하기 위한 서버 통신부, 비정품 관리 정보를 저장하는 데이터베이스부, 상기 복수의 화상형성장치 각각에서 소모품 유닛에 대한 검증이 수행되면, 상기 검증 결과를 수신하여 상기 비정품 관리 정보를 업데이트하는 서버 제어부를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 화상형성장치는, CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛이 장착되면, 비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록 및 상기 CRUM 칩의 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 각각 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 이용하여 상기 CRUM 칩을 검증할 수 있다.

이상과 같은 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 이용하여 소모품 유닛을 검증할 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 동작을 설명하기 위한 도면,
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 구성을 설명하기 위한 블럭도,
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 소모품 유닛 검증 방법을 설명하기 위한 흐름도,
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 CRUM 칩의 구성을 설명하기 위한 블럭도,
도 5는 CRUM 칩에 저장된 데이터의 데이터 구조의 일 예를 나타내는 도면,
도 6은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 화상형성장치의 소모품 유닛 검증 방법을 구체적으로 설명하기 위한 흐름도,
도 7은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 화상형성장치의 세부 구성의 일 예를 나타내는 블럭도,
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 네트워크 시스템의 구성을 나타내는 도면,
도 9는 서버 장치에서 관리하는 데이터베이스 테이블의 일 예를 나타내는 도면,
도 10은 본 발명의 일 실시 예에 따른 서버 장치의 구성을 나타내는 블럭도,
도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 네트워크 시스템에서의 소모품 유닛 관리 방법을 설명하기 위한 타이밍도,
도 12 및 도 13은 소모품 유닛 및 화상형성장치 본체 사이의 다양한 연결 구조의 예를 나타내는 도면, 그리고,
도 14는 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 CRUM 칩의 세부 구성의 일 예를 나타내는 블럭도이다.

이하에서, 첨부된 도면을 이용하여 본 발명에 대하여 구체적으로 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 소모품 유닛 인증 방법을 설명하기 위한 도면이다.

화상형성장치(100)는 적어도 하나의 소모품 유닛(200)을 이용하여 화상형성 잡을 수행할 수 있다. 소모품 유닛(200)은 화상형성장치(100)의 본체에 자유로이 장착 또는 탈착될 수 있다.

도 1에서는, 설명의 편의를 위해서 소모품 유닛(200)이 본체로부터 분리된 것처럼 도시하였으나, 실제로는, 본체 및 소모품 유닛(200) 사이의 통신은, 소모품 유닛(200)이 본체에 장착된 상태에서 이루어질 수 있다.

즉, 화상형성장치(100)는 소모품 유닛(200)이 장착되면, 소모품 유닛(200)에 내장된 CRUM 칩(210)과의 사이에서 인증(Authentication), 검증(verification) 및 데이터 통신 등과 같은 다양한 작업을 수행한다.

여기서, 인증이란 소모품 유닛(200)에 내장된 CRUM 칩(210)이 유효한 것인지 여부를 확인하고, 안전한 통신을 위해서 공통된 세션키를 생성하는 등의 과정을 의미한다. 인증은 다양한 구성 요소에 의해 이루어질 수 있다. 가령, 화상형성장치(100) 내의 CPU가 펌웨어를 실행시켜, 소프트웨어적으로 인증을 수행할 수 있다. 또는, 화상형성장치(100) 내에 인증을 위한 ASIC(Application Specific Integrated Circuit)이 별도로 마련된 경우, 그 ASIC을 이용하여 하드웨어적으로 인증을 수행할 수도 있다. 한편, 인증 방법 역시 다양하게 구현될 수 있다. 인증 방법의 예에 대해서는 후술하는 부분에서 구체적으로 설명한다.

화상형성장치(100)는 CRUM 칩(210)에 대한 인증이 완료되면, CRUM 칩(210) 또는 소모품 유닛(200)이 정품인 지 여부를 확인하는 검증 작업을 수행할 수 있다. 검증 자체는 CRUM 칩(210)을 대상으로 할 수도 있고, 그 CRUM 칩(210)이 내장된 소모품 유닛(200) 자체를 대상으로 할 수도 있으나, 이하에서는 설명의 편의상 소모품 유닛에 대한 검증인 것으로 통칭하여 설명한다. 또한, 도 1에서는 인증 이후에 검증 작업이 이루어지는 것으로 설명하였으나, 검증 작업은 인증 이전에 선행될 수도 있고, 인증 과정 중에 포함될 수도 있다.

검증은 실시 예에 따라 다양한 방식으로 이루어질 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 화상형성장치(100)는 검출 목록에 기초하여 소모품 유닛(200)을 검증할 수 있다. 여기서, 검출목록은 안정적이고 정상적인 소모품 인증을 위하여 CRUM 메모리내 기록 정보의 정합성 및 무결성을 선검증 혹은 추가 확인하여 이상 판단시 별도의 조치가 필요하다고 판단되는 고유정보로 이루어진 목록을 의미한다.

검출 목록이란 비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 정리해둔 데이터를 의미한다. 검출 목록에는 비정품 CRUM 칩을 식별할 수 있는 각종 고유 정보가 등록될 수 있다. 화상형성장치(100)는 소모품 유닛(200) 또는 CRUM 칩(210)의 고유 정보가 검출 목록에 이미 등록되어 있다면, 해당 소모품 유닛(200)이 비정품인 것으로 판단하여, 그 사용을 제한할 수 있다.

검출 목록은 다양한 소스로부터 제공받을 수 있다. 일 예로, 검출 목록은, 화상형성장치(100)가 출시되기 이전에 화상형성장치(100)에 저장될 수 있다. 또는 화상형성장치(100)의 새로운 Firmware에 검출목록을 삽입하여, 화상형성장치(100)의 프로그램을 업데이트할 때 검출목록도 새롭게 변경되도록 할 수 있다. 다른 예로는, 화상형성장치(100)는 CRUM 칩(210)으로부터 검출 목록을 제공받을 수도 있다. 이 경우, 검출 목록이 업데이트될 경우, 그 이후에 생산되는 CRUM 칩(210)에는 업데이트된 검출 목록을 저장할 수 있다. 이에 따라, 해당 CRUM 칩(210)이 내장된 소모품 유닛으로 교체한 화상형성장치(100)는 업데이트된 검출 목록을 제공받을 수 있게 된다.

한편, 또 다른 실시 예에 따르면, 화상형성장치(100)는 변환 고유 정보 리스트에 기초하여 소모품 유닛(200)을 검증할 수도 있다. 변환 고유 정보 리스트란 CRUM 칩(210) 또는 소모품 유닛(200)의 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 데이터를 의미한다. 여기서, 규칙이란 CRUM 칩(210) 또는 소모품 유닛(200)의 고유 정보를 다른 임의의 값으로 변환하기 위하여 정해지는 규칙을 의미한다. 일 예로, 소모품 유닛(200)의 일련 번호가 1234567890인 경우, 첫 번째 규칙이 각 값들을 오른쪽으로 쉬프트시키는 것이라면, 제1 변환 고유 정보는 0123456789가 된다. 또한, 두 번째 규칙이 값들을 왼쪽으로 쉬프트시키는 것이라면 제2 변환 고유 정보는 2345678901이 된다. 또한, 세 번째 규칙이 전체 값 중 세번째 값과 7번째 값의 위치를 변경하는 것이라면, 제3 변환 고유 정보는 1274563890이 된다. 따라서, 일련 번호 자체가 고유한 것이라면, 그 일련 번호에 기초하여 생성한 변환 고유 정보들 역시 전부 고유한 것이 된다. 화상형성장치(100)는 소모품 유닛(200)의 고유 정보를 변환 고유 정보 리스트에 사용된 규칙을 이용하여 변환하고, 변환된 값을 그 변환 고유 정보 리스트 내의 대응 값과 비교한다. 비교 결과 일치하면, 소모품 유닛(200)이 정품이라고 판단할 수 있고, 불일치하면 비정품이라고 판단할 수 있다. 비교방법은 반대로 변환 고유 정보와 수식을 이용하여 역으로 소모품 유닛의 고유 정보로 변환하고, 변환된 값과 소모품 유닛의 고유 정보를 비교할 수 도 있다.

또 다른 실시 예에 따르면, 화상형성장치(100)는 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 모두를 이용하여, 검증 작업을 수행할 수도 있다. 이 경우, 그 확인 순서는 임의로 결정될 수 있다.

화상형성장치(100)는 소모품 유닛(200)에 대한 검증까지 완료되면, 소모품 유닛(200)을 사용 가능한 것으로 판단한다. 이에 따라, 화상형성장치(100)는 필요한 경우, 소모품 유닛(200)과 데이터 통신을 수행할 수 있다.

가령, 대기 상태에서 화상 형성 잡을 개시하기 위한 이벤트가 발생하면, 화상형성장치(100)는 소모품 유닛(200)을 이용하여 화상형성잡을 수행한다. 그리고, 화상형성잡에 소요된 현상제 정보, 잡 정보, 잡 수행 일시, 현상제 사용량, 인쇄 페이지 수 등과 같은 각종 정보들을 소모품 유닛(200)으로 전송한다. CRUM 칩(210)은 전송되는 정보들을 자체 메모리에 저장한다.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 2에 따르면, 화상형성장치(100)는 소모품 유닛(200), 저장부(120), 메인 제어부(110)를 포함한다.

소모품 유닛(200)은 화상형성장치(100)의 본체에 탈착 또는 장착이 가능한 독립적인 유닛이 될 수 있다. 가령, 화상형성장치(100)가 토너를 사용하는 레이저 프린터인 경우, 소모품 유닛(200)은 대전 유닛, 현상 유닛, 전사 유닛, 노광 유닛, 정착 유닛과 같은 다양한 구성요소가 될 수 있다. 각 소모품 유닛(200)은 CRUM 칩(210)을 포함할 수 있다.

저장부(120)는 화상형성장치(100)의 동작에 필요한 각종 프로그램 및 데이터 등을 저장하기 위한 구성요소이다. 가령, 저장부(120)에는 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트가 저장될 수 있다. 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트는 화상형성장치(100)가 출시되기 이전에 제조 과정에서 저장부(120)에 기록될 수도 있고, 출시 이후에 소모품 유닛(200)이 최초 장착되거나 교체되었을 때, 소모품 유닛(200)으로부터 다운로드받아 저장부(120)에 기록될 수도 있다. 또 다르게는, 화상형성장치(100)의 프로그램 업데이트 시에 데이터를 변경할 수 도 있다.

제어부(110)는 저장부(120)에 저장된 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나에 기초하여 소모품 유닛을 검증할 수 있다.

검증에 성공하면, 제어부(110)는 해당 소모품 유닛(200)을 사용 가능한 것으로 판단하고, 사용 대기 상태에 들어간다. 반면, 검증에 실패하면, 제어부(110)는 해당 소모품 유닛(200)의 사용을 제한하거나 해당 상태에서 미리 정해진 동작을 수행하고, 제어부(110)는 디스플레이부(미도시) 또는 스피커(미도시) 등을 통해서 에러 메시지를 출력할 수 있다.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 소모품 유닛 검증 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 3에 따르면, 화상형성장치(100)는 CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛이 화상형성장치(100)의 본체에 장착되면, 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여 소모품 유닛을 검증할 수 있다(S310).

구체적으로는, 검출 목록을 사용하는 경우라면, 제어부(110)는 소모품 유닛(200)의 고유 정보를 확인하고, 그 고유 정보가 검출 목록에 등록된 것인지 여부를 체크한다. 체크 결과, 검출 목록에 등록되어 있다면, 검증에 실패한 것으로 판단한다(S320). 이에 따라, 해당 소모품 유닛의 사용을 제한한다(S340). 반면, 검출 목록에 등록되지 않았다면, 검증에 성공한 것으로 판단한다(S320). 이에 따라, 소모품 유닛의 사용을 허용한다(S330).

변환 고유 정보 리스트를 사용하는 경우라면, 제어부(110)는 CRUM 칩(210)에 저장된 변환 고유 정보 리스트를 모두 읽어서, 저장부(120)에 저장한다. 실시 예에 따라서는, 저장 전에 변환 고유 정보 리스트가 문제가 없는지에 대해 적합성 검사를 먼저 수행할 수도 있다. 가령, 변환 고유 정보 리스트에는 체크섬 값이나 해쉬값 또는 특정 규칙 데이터가 포함될 수 있다. 제어부(110)는 변환 고유 정보가 이러한 데이터에 부합하지 않으면, 제3자가 임의로 생성한 변환 고유 정보 리스트 또는 칩 초기에 들어있는 쓰레기 데이터로 간주하고, 검증 실패 처리할 수 있다. 이에 따라 인쇄 불가로 처리하거나 UI에 에러 메시지를 디스플레이할 수 있다.

변환 고유 정보 리스트 자체에 문제가 없는 경우, 제어부(110)는 변환 고유 정보 리스트에 기초하여 검증을 수행할 수 있다. 가령, 변환 고유 정보 리스트는 트리거 비트 및 변환 고유 정보 데이터로 구성될 수 있다. 트리거 비트는 검증에 사용될 변환 고유 정보를 지정하기 위한 비트이다. 일 예로, 변환 고유 정보가 총 20개가 등록된 경우라면, 트리거 비트는 20개의 비트로 구현될 수 있다. 각 트리거 비트는 0 또는 1로 기록될 수 있다. 제어부(110)는 트리거 비트에 의해 지정되는 변환 고유 정보에 대해서만 선택적으로 검사를 수행할 수 있다. 가령, 트리거비트에 의해 제1 변환 고유 정보가 지정되었다면, 제어부(110)는 고유 정보를 첫 번째 규칙에 따라 변환한다. 제어부(110)는 변환된 결과 값과, 변환 고유 정보 리스트 내의 제1 변환 고유 정보를 비교한다. 비교 결과 일치하면, 검증에 성공한 것으로 처리하고, 불일치하면 검증 실패로 처리한다(S320).

화상형성장치(100)의 제어부(110)는 0의 값을 가지는 트리거 비트가 다수 개 있으면, 각 트리거 비트에 대응되는 변환 고유 정보를 모두 검사하여, 소모품 유닛을 검증할 수 있다.

제어부(110)는 0의 값을 가지는 트리거 비트 각각에 대해 검사가 성공적으로 완료되면, 소모품 유닛(200)을 사용 가능한 상태로 판단할 수 있다. 반면, 검증에 실패하면, 해당 소모품 유닛의 사용을 제한하고(S340), 각종 에러 메시지를 출력할 수 있다. 본 예시에서는 고유 정보 리스트에 포함되는 트리거비트가 0인 경우에 해당하는 변환 고유 정보를 검사하도록 되어있는데, 반대로 1일 때 검사하고 0일 때 검사하지 않도록 구현할 수 도 있다.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 CRUM 칩의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 4에 따르면, CRUM 칩(210)은 통신 인터페이스부(211), CPU(212), 메모리부(213)를 포함한다.

통신 인터페이스부(211)는 화상형성장치(100)의 본체와 통신을 수행하기 위한 구성요소이다. 구체적으로는, 통신 인터페이스부(211)는 GPIO, I2C, RFID 등과 같은 다양한 통신 방법을 이용하여 본체 내의 제어부(110)와 통신을 수행할 수 있다. I2C를 예로 들어 설명하면, 통신 인터페이스부(211)는 전원을 공급하는 VCC와 GND, 동기를 위한 클럭(clock)을 공급하는 SCL 및 데이터 라인인 SDA 등을 통해 제어부(110)와 연결될 수 있다. 그 밖에도, 통신 인터페이스부(211)는 블루투스, 와이파이, 지그비, NFC(Near Field Communication) 등과 같은 무선 통신 규격에 따라 제어부(110)와 통신을 수행할 수도 있다.

메모리부(213)는 소모품 유닛과 관련된 각종 정보 및 프로그램을 저장하기 위한 구성요소이다. 구체적으로는, 메모리부(213)에는 고유 정보, 사용 정보 등과 같은 다양한 정보들이 기록될 수 있다. 고유 정보란 소모품 유닛(200) 또는 CRUM 칩(210)을 식별하기 위한 정보를 의미한다. 예를 들어, 고유 정보에는, 소모품 유닛(200) 제조사에 대한 정보, 화상형성장치의 제조사에 대한 정보, 장착 가능한 화상형성장치의 장치 명, 토너 고유 정보, 칩 고유 정보, 시리얼 넘버, 제조일시에 대한 정보, 모델 명, 전자 서명 정보, 암호화 키, 암호화 키 인덱스 등이 포함될 수 있다. 고유 정보는 다르게는 특성 정보나 식별 정보로 명명할 수도 있다. 사용 정보는 소모품 유닛의 사용 상태와 관련된 정보를 의미한다. 구체적으로는, 사용 정보에는 소모품 유닛을 이용하여 현재까지 몇 매 인쇄하였는지, 인쇄 가능한 잔여 매수가 얼마인지, 토너 잔량이 얼마인지 등에 대한 정보가 포함될 수 있다.

그 밖에도, 메모리부(213)에는 소모품 유닛(200)의 버전, 시리얼 넘버, 세트 모델 명, 서비스 개시 일자 등과 같은 일반적인 정보뿐만 아니라, RAM 사이즈나 EEPROM 사이즈 등과 같은 각종 옵션 정보, 소모품의 수명과 관련된 정보, 소모품 특성 정보, 소모품 특성, 컬러 메뉴, 셋업 메뉴 등과 같은 다양한 정보들이 저장될 수 있다.

또한, 메모리부(213)에는 CPU(212)에 의해 실행 가능한 각종 프로그램도 저장될 수 있다. 구체적으로는, 메모리부(213)에 저장되는 프로그램에는, 일반적인 어플리케이션 뿐만 아니라 O/S(Operating System) 프로그램, 초기화 프로그램, 암호화 프로그램 등도 포함될 수 있다. 이러한 O/S 프로그램이나 초기화 프로그램, 암호화 프로그램은 화상형성장치(100)의 본체에서 사용하는 O/S 프로그램이나 초기화 프로그램, 암호화 프로그램과 별도로 마련되어 메모리부(213)에 저장될 수도 있다.

CRUM 칩(210)이 자체적으로 O/S를 가지도록 구현된 실시 예의 경우, CPU(212)는 화상형성장치(100)의 본체와의 사이에서, O/S를 이용하여 인증을 수행할 수도 있다. 구체적으로는, CPU(212)는 인증 이벤트가 발생하면 제어부(110)와의 사이에서 인증을 수행한다. 여기서, 인증 이벤트란 소모품 유닛(200)을 인증하여야 하는 조건이 충족된 상태를 의미한다. 구체적으로는, 화상형성장치(100)가 턴 오프 후 턴 온되는 경우, 화상 형성 잡이 종료되는 경우, 소모품 유닛이 교체된 경우 등이 될 수 있다. 또는, 기 설정된 시간 주기가 도래하는 경우도 인증 이벤트에 포함될 수 있다.

한편, 메모리부(213)에는 상술한 바와 같은 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트가 저장될 수도 있다. 실시 예에 따라서, 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 모두가 저장될 수도 있고, 둘 중 하나만 저장될 수도 있다. 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트가 메모리부(213)에 저장되어 있는 경우, CPU(212)는, 인증이 완료되면 메모리부(213)에 저장된 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트를 제어부(110)로 제공하여 줄 수도 있다.

도 5는 CRUM 칩(210)에 포함된 메모리부(213)의 메모리 구조의 일 예를 나타내는 도면이다. 도 5에 따르면, 메모리부(213)는 복수의 저장 영역(510, 520, 530, 540)으로 구분될 수 있다. 각 저장 영역(510, 520, 530, 540)에는 지정된 다양한 데이터가 저장될 수 있다. 가령, 칩 시리얼 넘버가 저장된 영역(510), 토너 시리얼 넘버가 저장된 영역(520), 검출 목록이 저장된 영역(530), 변환 고유 정보 리스트가 저장된 영역(540) 등이 마련될 수 있다.

검출 목록 영역(530)에는 그 검출 목록 영역을 식별하기 위한 헤더 정보(531), 기 발견된 비정품에서 사용하는 각종 고유 정보(532)가 기록될 수 있다. 또한, 해당 검출 목록의 적법성을 확인하기 위해 사용되는 체크섬 값이나 해쉬값 또는 특정 규칙 데이터 등도 함께 기록될 수 있다.

변환 고유 정보 리스트 영역(540)에는 트리거 비트(541), 복수의 변환 고유 정보(542) 등이 기록될 수 있다. 상술한 바와 같이, 변환 고유 정보 리스트의 적법성을 확인하기 위해 사용되는 체크섬 값이나 해쉬값 또는 특정 규칙 데이터 등도 함께 기록될 수 있다.

한편, 본 발명의 또 다른 실시 예에 따르면, 화상형성장치는 CRUM 칩(210)에 기록된 검출 목록의 버전을 확인하여, 검출 목록을 업데이트시킬 수도 있다.

도 6은 이러한 실시 예에 따른 화상형성장치의 소모품 유닛 검증 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 6에 따르면, 화상형성장치(100)는 소모품 유닛이 장착되고, 기 설정된 인증 이벤트가 발생하면, 소모품 유닛(200)에 대한 인증을 수행한다(S610).

일 예로, 제어부(110)는 인증을 위한 신호를 암호화하여 CRUM 칩(210)으로 전송한다. 전송되는 신호에는 임의의 값 R1이 포함될 수 있다. 여기서, R1은 매 인증시마다 랜덤하게 생성되는 변경되는 랜덤 값일 수도 있고, 임의로 설정된 고정 값일 수도 있다. 신호를 수신한 CRUM 칩(210)의 CPU(212)는 해당 신호가 수신되면, 임의의 값 R2와 수신된 R1을 포함한 정보들을 이용하여 세션 키를 생성한다. 여기서, 세션 키란 하나의 통신 세션 동안에 사용하는 암호화 키를 의미한다.

CPU(212)는 세션 키 및 암호화 알고리즘을 이용하여 임의의 데이터를 암호화하여 MAC(Message Authentication Code)을 생성한다. 여기서, 암호화되는 데이터에는 소모품 유닛(200)이나 CRUM 유닛(210)에 대한 다양한 정보들이 포함될 수 있다. 가령, 전자 서명 정보나, 고유 시리얼 넘버 등이 포함될 수 있다. 설명의 편의상 제일 먼저 생성되는 MAC을 제1 MAC이라 한다.

CPU(212)는 R2를 포함하는 데이터에 제1 MAC을 결합한 신호를 제어부(110)로 전송한다. 여기서 R2 역시 CPU(212)가 랜덤하게 생성하는 값일 수도 있고, 임의로 고정된 값일 수도 있다. 제어부(110)는 수신된 R2와 R1을 이용하여 세션키를 생성하고, 생성된 세션키를 이용하여 제2 MAC을 생성한다. 그리고, 생성된 제2 MAC과 수신된 신호에 포함된 제1 MAC을 비교하여 CRUM 칩(210)을 인증한다. 메모리부(213)에 본체와 별도로 실행되는 OS가 저장된 경우, CPU(212)는 OS를 이용하여 R2 생성 동작, 세션 키 생성 동작, 제1 MAC 생성 동작, 전송 동작 등을 순차적으로 수행하여, 인증을 완료할 수 있다.

. 이 예시는 인증을 하는 방법의 한 예에 대해 설명한 것이고, 다른 방법을 이용하여 인증을 수행할 수 도 있다. 특히 MAC정보를 생성하여 비교하는 방법을 사용하지 않고 암호프로토콜에 따라 화상형성장치와 CRUM칩 간에 통신을 수행하고 동일한 정보를 공유하여 인증 및 세션키를 생성할 수 도 있다.

다음은 그런 인증의 예이다.

인증 과정중 화상형성장치(100)가 Crum 칩(200)으로 인증 작업을 위해 데이터를 보내는 과정에서 송신하는 신호에는 CMD1, DATA1, CRC1, Symbol, VC1 등이 포함된다. CMD1은 코맨드를 의미한다. CMD1에는 인증 관련 옵션이나 보내는 DATA의 size정보가 들어갈 수 있다. DATA1은 인증에 필요한 데이터인 Random Data, 인증을 위한 암호관련 데이터 값, 화상형성장치에 저장되어있는 특정 정보 등으로 구성된다. 제1 인증 과정의 경우에는, DATA1에는 상술한 랜덤 데이터(R1)이외에, 키 사이즈 정보, 비대칭키 알고리즘에 사용되는 각종 키 관련 정보 등과 같은 세션 키 관련 데이터, 화상형성장치 본체(100)에 저장된 기타 정보 등이 송신될 수 있다. 경우에 따라서는, 이들 정보 중 일부는 생략될 수도 있으며, 다른 정보로 대체될 수도 있다.

랜덤 데이터(random data)는 인증을 위해 화상형성장치(100)가 랜덤하게 생성하는 값일 수 있다. 따라서, 랜덤 데이터는 매 인증 시마다 달라질 수 있으나, 경우에 따라서는, 랜덤 데이터 대신에 임의로 설정된 하나의 값을 고정적으로 전송하는 형태로 구현될 수도 있다. CRC1은 오류검출 코드를 의미한다. CRC1은 CMD1과 DATA1의 오류를 확인하기 위하여 전송한다. CRC1 이외에 다른 오류검출 방법인 Checksum이나 MAC과 같은 방법을 추가로 사용할 수도 있고, 이러한 오류 검출 방법으로 CRC1을 대체하여 사용할 수도 있다. 이외에도 송신하는 정보에는 추가적으로 정보가 더 있을 수 있다.

CRUM 칩(200)은 화상형성장치로부터 정보를 수신하면, 수신된 데이터에 따른 응답을 화상형성장치로 다시 전송한다. 전송하는 데이터에는 DATA2, SW2, CRC2, SECU2, VC2 등이 포함된다. DATA에는 제1 랜덤 데이터(R1), 제2 랜덤 데이터(R2), 칩 시리얼 넘버(Chip serial number : CSN), 비대칭 키 알고리즘에 사용되는 키 관련 정보, CRUM 칩의 내부 정보 일부 등과 이 포함될 수 있다. 제1 랜덤 데이터(R1)는 화상형성장치로 부터 수신된 값이고, 제2 랜덤 데이터(R2)는 CRUM 칩(200)이 자체적으로 생성한 값이다. Com-2에 포함되는 이들 정보들은 경우에 따라서는 생략되거나, 다른 정보로 대체될 수도 있다.

그 밖에, SW2란 화상형성장치의 데이터를 수신함에 따라 CRUM 칩(200)에서 수행된 작업의 수행 결과를 의미하는 결과 데이터(Result data)를 의미한다. CRC2는 CRC1 과 같은 역할을 하는 부분이므로, 설명을 생략한다. 기 설명한 것 과 같이 인증 과정이 이루어지면, 화상형성장치(100)에서 생성한 제1 랜덤 데이터(R1)과 CRUM 칩(200)에서 생성한 제2 랜덤 데이터(R2)는 상호 공유될 수 있다. 화상형성장치(100)와 CRUM 칩(200)은 수신된 R1, R2를 이용하여 각각 세션 키를 생성할 수 있다. 또는 R1,R2 이외에도 화상형성장치와 CRUM 칩간에 공유되는 정보를 이용하여 각각 동일한 세션키를 생성할 수 있다.

이와 같이, 다양한 실시 예에 따르면, 이러한 인증 과정에서 전자 서명 정보나 키 정보 등이 송 수신되어 인증에 사용될 수도 있다.

이 밖에도, 인증은 다양한 방식으로 수행될 수 있다.

인증에 실패하면(S615), 화상형성장치(100)는 해당 CRUM 칩(210)이 장착된 소모품 유닛(200)의 사용을 제한한다(S655).

반면, 인증에 성공하면(S615), 화상형성장치(100)는 CRUM 칩(210)에 저장된 검출 목록의 버전을 확인한다(S620).

확인 결과, CRUM 칩(210)에 저장된 검출 목록의 버전이, 본체에 저장되어 있는 검출 목록보다 최신 버전이면(S625), 제어부(110)는 CRUM 칩(210)으로부터 검출 목록을 다운로드 받아, 저장부(120)에 이미 저장되어 있던 검출 목록을 업데이트한다(S630). 반면, CRUM 칩(210)에 저장된 검출 목록의 버전이, 본체에 저장되어 있는 검출 목록보다 최신 버전이 아니면, 제어부(110)는 검출 목록을 별도로 다운로드받지 않고, 기존의 검출 목록을 그대로 유지한다.

제어부(110)는 검출 목록이 업데이트되거나, 기존의 검출 목록이 그대로 유지된 경우, 그 검출 목록에 기초하여 소모품 유닛(200)을 검증한다(S635). 즉, CRUM 칩(210)에 저장된 고유 정보가 검출 목록에 이미 등록된 상태인지 여부를 판단하고, 등록되었다면, 해당 소모품 유닛(200)은 검증에 실패한 것으로 판단하여 사용을 제한한다(S655).

반면, 미등록 상태라면, 변환 고유 정보 리스트에 기초하여 검증을 수행한다. 구체적으로, 제어부(110)는 CRUM 칩으로부터 변환 고유 정보 리스트를 다운로드 받아, 저장부(120)에 기 저장되어 있는 트리거 비트와 CRUM칩으로부터 다운로드된 변환 고유 정보 리스트에 포함된 트리거 비트에 대해 비트 OR과 같은 논리연산을 수행하고, 그 결과를 새로운 트리거 비트로 할 수도 있다. 제어부(110)는 새로운 트리거 비트를 확인하여 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나의 변환 고유 정보를 선택하고, CRUM 칩의 고유 정보를 선택된 변환 고유 정보에 대응되는 규칙에 따라 변환하며, 변환된 결과 값과 선택된 변환 고유 정보를 비교하여 CRUM 칩을 2차 검증할 수도 있다.

본 실시 예와 같이 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 모두를 이용하는 경우, 검출 목록을 이용하는 검증은 1차 검증, 변환 고유 정보 리스트를 이용하는 검증은 2차 검증이라고 명명할 수 있으나, 그 순서는 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.

변관 고유 정보 리스트를 이용하는 검증을 위해서, 제어부(110)는 먼저 트리거 비트 및 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트를 다운로드받는다(S640).

제어부(110)는 트리거비트에 기초하여 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나의 변환 고유 정보를 선택하고, 그 선택된 변환 고유 정보에 기초하여 검증을 수행할 수 있다. 구체적으로는, 제어부(110)는 저장부(120)에 기 저장되어 있는 트리거 비트와, 다운로드된 변환 고유 정보 리스트에 포함된 트리거비트에 대해 비트 OR 연산과 같은 논리 연산을 수행할 수 있다.

제어부(110)는 그 연산 결과 값을 저장부(120)에 저장한다. 구체적으로는, 제어부(110)는 저장부(120)의 EEPROM 이나 플래시 메모리와 같은 비휘발성 메모리에 저장할 수 있다.

예를 들어, 화상형성장치(100)의 저장부(120)에 저장된 트리거 비트가 0111111111, CRUM 칩(210)으로부터 다운로드 한 트리거 비트가 1011111111이라면, 그 OR 연산 값은 0011111111 이 된다. 제어부(110)는 그 결과 값을 저장부(120)에 저장한다.

제어부(110)는 저장부(120)에 저장된 연산 결과 값에서 특정 값(예를 들어, 0)을 가지는 비트에 대응되는 변환 고유 정보를 검사한다(S645).

상술한 예와 같이 저장부(120)에 0011111111가 저장된 경우라면, 제어부(120)는 첫번째 및 두번째의 변환 고유 정보에 대해서 검사를 수행한다. 가령, 상술한 예와 같이 소모품 유닛(200)의 일련 번호가 1234567890이고, 첫 번째 규칙이 각 값들을 오른쪽으로 쉬프트시키는 것이라면, 제어부(110)는 그 일련 번호를 해당 규칙에 따라 변환하여 0123456789로 변환할 수 있다. 제어부(110)는 변환 결과 값을, 변환 고유 정보 리스트에 포함된 제1 변환 고유 정보와 비교한다(S645).

비교 결과, 자체적으로 변환한 결과값과 변환 고유 정보 리스트에 등록된 값이 불일치하면(S650), 제어부(110)는 검증에 실패한 것으로 처리하여 해당 소모품 유닛에 대한 사용을 제한한다(S655).

반면, 변환 결과 값과 등록된 값이 일치하면(S650), 제어부(110)는 저장부(120)에 저장된 다음 트리거비트를 확인하여(S665), 검증 여부를 결정한다. 상술한 예에서는 다음 트리거비트도 0이므로, 제어부(110)는 제2 변환 고유 정보에 대해서도 검사를 수행한다. 따라서, 제어부(110)는 두 번째 규칙에 따라 고유 정보를 변환한 후, 제2 변환 고유 정보와 비교하여 검증을 수행한다.

제어부(110)는 이러한 방식으로 각 트리거 비트를 확인하여, 검증을 수행한다(S660). 전체 트리거 비트에 대한 확인이 완료되면, 제어부(110)는 검증에 성공한 것으로 판단하고 사용 대기 상태로 들어간다(S670).

또는 제어부(110)는 변환 고유 정보를 역으로 수식에 의해 고유정보로 변환하여 비교하는 방법을 사용할 수 도 있다.

본 예시에서는 고유 정보 리스트에 포함되는 트리거비트가 0인 경우에 해당하는 변환 고유 정보를 검사하도록 되어있는데, 반대로 1일 때 검사하고 0일 때 검사하지 않도록 구현할 수 도 있다.

이러한 실시 예에 따르면, 화상형성장치(100)를 제조하는 제조 업체에서는 CRUM 칩(210)을 생산할 때, 새로운 변환 고유 정보에 대한 검사를 추가하고자 하는 경우, CRUM 칩(210)의 트리거 비트를 변경하기만 하면 된다. 즉, CRUM 칩(210)의 트리거비트를 1001111111로 기록하면, 제어부(110)에 의한 OR 연산 결과 0001111111이 저장부(120)에 저장된다. 따라서, 세 번째 변환 고유 정보에 대한 검사도 추가로 이루어질 수 있다.

도 6에서는 도시하지 않았으나, 제어부(110)는 검출 목록에 기초한 검증 및 변환 고유 정보 리스트에 기초한 검증을 각각 수행하기에 앞서 그 리스트의 적합성을 검사하는 과정을 더 수행할 수도 있다. 이에 대해서는 상술한 부분에서 구체적으로 설명하였으므로, 중복 설명은 생략한다.

한편, 상술한 다양한 실시 예들에서는 화상형성장치(100)가 제어부(110), 저장부(120), 소모품 유닛(200)을 포함하는 것으로 도시 및 설명하였으나, 구현 예에 따라서 화상형성장치(100)는 다양한 구성요소를 더 포함할 수도 있고, 일부 구성요소는 생략 및 변경될 수도 있다.

도 7은 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 화상형성장치의 구성을 설명하기 위한 블럭도이다. 도 7에 따르면, 화상형성장치(100)는 제어부(110), 저장부(120), 사용자 인터페이스부(130), 통신부(140) 및 복수의 소모품 유닛(200-1, 200-2, ..., 200-n)을 포함한다.

제어부(110), 저장부(120), 소모품 유닛(200-1, 200-2, ..., 200-n)에 대한 설명 중에서 상술한 다른 실시 예에서 설명한 바와 중복되는 내용은 그 설명을 생략한다.

사용자 인터페이스부(130)는 사용자로부터 각종 명령을 입력받거나, 각종 정보를 디스플레이하여 알려주는 역할을 수행한다. 사용자 인터페이스부(130)는 LCD 또는 LED 디스플레이, 적어도 하나의 버튼, 스피커 등을 포함할 수 있으며, 경우에 따라서는 터치 스크린을 포함할 수도 있다.

통신부(140)는 외부 서버 장치나 호스트 PC 등과 같은 다양한 외부 장치들과 유선 또는 무선으로 연결되어 통신을 수행하는 구성을 의미한다. 통신부(140)는 로컬 인터페이스, USB(Universal Serial BUS) 인터페이스, 무선 통신 네트워크 등과 같이 다양한 종류의 인터페이스를 통해 통신을 수행할 수 있다.

제어부(110)는 저장부(120)에 저장된 다양한 프로그램 및 데이터에 기초하여 화상형성장치의 전반적인 동작을 제어한다.

구체적으로는, 제어부(110)는 통신부(140) 또는 사용자 인터페이스부(130)를 통해 수신되는 커맨드에 따라 데이터를 처리하여, 화상 형성이 가능한 포맷으로 변환한다.

그리고 나서, 제어부(110)는 복수의 소모품 유닛(200-1, 200-2, ..., 200-n)을 이용하여 변환된 데이터에 대한 화상 형성 잡을 수행한다. 여기서 소모품 유닛은 화상형성장치의 종류에 따라 다양하게 마련될 수 있다. 상술한 바와 같이 레이저 프린터의 경우, 소모품 유닛에는 대전유닛, 노광 유닛, 현상 유닛, 전사유닛, 정착유닛들 뿐만 아니라, 각종 롤러, 벨트, OPC 드럼 등과 같이 교체 가능한 다양한 유닛이 포함될 수 있다. 각 소모품 유닛(200-1, 200-2, ..., 200-n) 중 적어도 일부는 상술한 바와 같은 CRUM 칩을 포함할 수 있다.

제어부(110)는 CRUM 칩이 내장된 소모품 유닛에 대해서는 상술한 바와 같이 인증을 수행할 수도 있고, 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여 검증을 수행할 수 있다.

인증 과정에서 제어부(110)는 CRUM 칩(210)과의 사이에서 공통된 세션 키(Session Key)를 만들기 위한 작업을 수행할 수 있다. 또한, 인증 과정에서, 제어부(110)는 장착된 CRUM 칩(210)이 정상적으로 사용할 수 있는 상태인지 확인할 수도 있다. 가령, 제어부(110)는 CRUM 칩(210)을 Reset하고 데이터를 읽어와서 그 데이터를 확인하여 볼 수도 있고, 추가적인 command를 보내고 CRUM 칩(210)에서 그 코맨드에 응답한 응답 결과를 분석하여, 정상 사용 가능한 지를 판단할 수도 있다. 이 과정에서는 통신이 잘되는지, 해당 화상형성장치에 적합한 CRUM 칩(210)인지 등을 확인할 수 있다.

경우에 따라 CRUM 칩(210)의 상태가 화상형성장치와 암호통신을 할 준비가 되어있는지 여부도 확인 가능하다. 예를 들면 암호통신에 사용하는 Key정보가 CRUM Chip에 들어있는지 여부를 확인하는 것이다. 인증시에 사용되는 Key 정보는 최초의 Chip 제조시에는 들어있지 않고, 다음 제조 과정에서 발급이라는 과정을 통해서 주입을 할 수 있다. Key 주입이 완료되어야 암호인증을 통과할 수 있게 된다. 이에 따르면, 화상형성장치의 모델 별 혹은 CRUM 칩별로 암호 Key를 다르게 할 수 있다.

그 밖에, 상술한 바와 같이, 제어부(110)는 랜덤 데이터 1이나, 암호 인증 프로토콜에 필요한 data, 화상형성장치의 특징 정보 등과 같은 다양한 정보를 CRUM 칩(210)으로 전송할 수 있다. 이에 따라, 제어부(110)는 CRUM 칩(210)에서 응답하는 랜덤 데이터 2, 암호인증프로토콜에 필요한 추가 data, CRUM 칩(210)의 특징 정보 등을 확인한다. 이러한 과정을 거쳐 인증을 맺고, 화상형성장치와 CRUM Chip은 동일한 정보들을 가지고 있게 된다. 이 정보들을 바탕으로 다음 암호통신에 사용할 세션 키를 생성할 수 있다. 인증에서 사용되는 암호프로토콜은 대칭키 알고리즘이나 비대칭키 알고리즘을 사용하거나, 두 가지 방법을 복합적으로 이용할 수 있다.

소모품 유닛에 대한 인증 및 검증에 성공하면, 제어부(110)는 CRUM 칩과 데이터 통신을 수행할 수 있다. 이 경우, 제어부(110)는 인증 과정에서 생성한 세션 키를 이용하여 암호화 데이터 통신을 수행할 수도 있다.

가령, 제어부(110)는 각종 데이터나 코맨드를 암호화하여 암호화된 통신 메시지를 전송할 수 있고, CRUM 칩도 마찬가지로 암호화된 통신 메시지로 회신할 수 있다. 암호화된 통신 메시지에도 MAC이 사용될 수 있다. 일 예로, 제어부(110)는 CRUM 칩(210)으로 전송할 통신메시지를 생성할 때, 데이터에 키와 암호 알고리즘을 적용하여 제3 MAC을 생성한다. 그리고 나서, 통신 메시지에 제3 MAC을 붙여서 CRUM 칩(210)으로 전송할 수 있다. CRUM 칩(210)은 전송받은 통신 메시지에서 데이터 부분을 추출하고, 상술한 키와 암호 알고리즘을 적용하여 제4 MAC을 생성한다. CRUM 칩(210)은 전송받은 통신 메시지에서 검출된 제3 MAC과 자체적으로 생성한 제4 MAC을 비교한다. 비교 결과, 서로 일치하면 적법한 통신 메시지로 간주하여, 그 메시지에 대응되는 동작을 수행한다. 가령, 화상형성잡이 수행된 경우, 그 잡에 소요된 토너 양과 페이지 수, 작업 시간, 작업 내용 등과 같은 정보들이 메모리부(213)에 기록될 수 있다. 반면, 불일치하면, CPU(212)는 해당 메시지를 부적법한 통신 메시지로 간주하여 폐기할 수 있다.

기 설명한 MAC 이외에도 CheckSum, CRC 와 같이 다양한 통신 메시지의 검사방법을 사용하여 통신 메시지가 적법한지 확인할 수도 있기 때문에 MAC으로 한정하지 않는다.

그리고 전송하는 데이터 전체 혹은 일부는 기 수행한 인증과정에서 생성된 세션키를 이용하여 암호화하고, 수신한 측에서는 세션키를 이용하여 수신된 데이터를 복호화해서 해당 명령어를 수행하며, 수신 데이터를 정상적으로 복호화하지 못 할 경우에는 화상형성장치(100)의 동작을 제한하거나 에러메시지를 보여주거나 이러한 상황에서 미리 결정되어 있는 동작을 하도록 한다.

한편, 도 7에 따르면, 제어부(110)는 메인 CPU(111), RAM(112), ROM(113), I2C 컨트롤러(114)와 같은 구성요소를 포함할 수 있다.

메인 CPU(111)는 저장부(120)에 저장된 각종 프로그램을 이용하여 화상형성장치(100)의 동작을 제어할 수 있다. 가령, 파워 온이 되면, 메인 CPU(111)는 저장부(120)에 액세스하여, 저장부(120)에 저장된 O/S를 이용하여 부팅을 수행한다. 그리고, 저장부(120)에 저장된 각종 프로그램, 컨텐츠, 데이터 등을 이용하여 다양한 동작을 수행한다.

ROM(113)에는 시스템 부팅을 위한 명령어 세트 등이 저장된다. 턴온 명령이 입력되어 전원이 공급되면, 메인 CPU(111)는 ROM(113)에 저장된 명령어에 따라 저장부(120)에 저장된 O/S를 RAM(112)에 복사하고, O/S를 실행시켜 시스템을 부팅시킨다. 부팅이 완료되면, 메인 CPU(111)는 저장부(120)에 저장된 각종 프로그램을 RAM(112)에 복사하고, RAM(112)에 복사된 프로그램을 실행시켜 각종 동작을 수행한다.

I2C 컨트롤러(114)는 화상형성장치(100)의 본체와 소모품 유닛(200)이 I2C 인터페이스로 통신을 수행하는 경우에 마련될 수 있는 구성요소이다. I2C 컨트롤러(114)는 마스터 역할을 하고, 각 소모품 유닛(200)의 CRUM 칩들은 슬레이브 역할을 한다.

메인 CPU(111)는 I2C 컨트롤러(114)를 이용하여 소모품 유닛(200)의 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트를 다운로드받아, 저장부(120)에 저장할 수 있다. 또한, 이에 기초하여 검증을 수행할 수도 있다. 구체적인 검증 방법에 대해서는 상술한 부분에서 구체적으로 설명하였으므로, 상세한 설명은 생략한다.

한편, 도 7에 도시된 바와 같이, 화상형성장치(100)가 통신부(140)를 포함하는 경우, 제어부(110)는 통신부(140)를 통해서 외부의 서버 장치로부터 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 수신할 수도 있다.

제어부(110)는 서버 장치(미도시)가 제공한 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트를 저장부(120)에 저장하고, 이에 기초하여 소모품 유닛(200)을 검증할 수 있다.

또한, 제어부(110)는 소모품 유닛(200)에 대한 검증 결과, 소모품 유닛(200)으로부터 제공받은 검출 목록, 변환 고유 정보 리스트, 고유 정보 등과 같은 각종 정보들 중 적어도 하나 이상의 정보를 서버 장치(미도시)로 전달하여 줄 수도 있다. 서버 장치는 이러한 정보들에 기초하여, 비정품 소모품 유닛에 대한 유포 현황을 용이하게 파악할 수 있다.

도 8은 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 네트워크 시스템의 구성을 나타내는 도면이다. 도 8에 따르면, 네트워크 시스템은 복수의 화상형성장치(100-1 ~ 100-m) 및 이들을 관리하는 서버 장치(800)를 포함한다.

서버 장치(800)는 화상형성장치(100-1 ~ 100-m) 각각으로부터 직접 정보를 수신할 수도 있지만, 이와 달리, 각 화상형성장치에 연결된 호스트 PC(900)를 통해 화상형성장치(100-1 ~ 100-m)의 정보를 수신할 수도 있다.

호스트 PC(900)를 통하는 경우, 호스트 PC(900)는 특정조건이 되면 화상형성장치(100-1)에 대해 CRUM 칩(210)에 저장된 소모품 정보, 검출 목록 정보, 변환 고유 정보 리스트, 검증 결과 등을 요청할 수 있다. 화상형성장치(100)는 호스트 PC(900)의 요청에 의해 이러한 정보들을 전송하여 줄 수 있다. 전송된 정보들은 서버 장치(800)로 다시 전달된다.

또는, 화상형성장치(100)에서 자체적인 기능을 이용하여 직접 서버 장치(800)로 정보를 전송할 수도 있다. 예를 들면 화상형성장치(100)의 인쇄 후에, 인쇄명령을 내린 호스트 PC에 장착된 소모품의 정보 및 변환 고유 정보 등을 미리 약속해놓은 형식으로 보내준다. 호스트 PC(900)는 해당 정보가 들어오면, 미리 설정되어있는 서버 장치(800)로 전송한다. 서버 장치(800)로 바로 보낼 수 없는 경우에는 해당 데이터들을 취합하는 서버 장치(800)로 보내 줄 수 있는 다른 서버 장치나 화상형성장치 또는 PC로 보내줄 수도 있다.

서버 장치(800)는 이러한 정보들을 취합하여, 통합 관리할 수 있다.

또한, 서버 장치(800)는 서버로 전송된 Data들을 분석하여 비정품 칩의 존재여부를 확인할 수 있다. 일 예로, 서버 장치(800)는 동일한 소모품 정보와 동일한 변환 고유 정보를 갖는 소모품의 수를 조사할 수 있다. 제조시에는 동일한 정보를 갖는 소모품 유닛은 특정 개수 이상 만들지 않기 때문에 그 이상 개수의 소모품 유닛이 존재하는 경우에 그 고유 정보를 가지고 있는 소모품 유닛은 비정품으로 간주할 수 있다. 이외에도 취합된 여러 정보들을 분석하여 정품과 비정품 소모품을 구별하는 방법을 사용할 수 있다.

상술한 바와 같이, 소모품의 고유 정보 및 화상형성장치에서 검사하는 변환 고유 정보가 같은 경우, 화상형성장치(100)의 제조 업체에서는 새로 제조하는 소모품 유닛(200)에 장착된 CRUM 칩(210)의 Trigger Bit의 값을 변경하여, 기존에 검사하던 변환 고유 정보 이외에 다른 변환 고유 정보를 추가로 더 검사하도록 할 수 있다.

또는, 서버 장치(800)에서 확인했을 때 소모품 유닛의 고유 정보 및 모든 변환 고유 정보가 같은 경우에는 해당정보를 가지고 있는 정품 CRUM Chip을 그대로 복사하여 사용한 것으로 생각할 수 있다. 이때에는, 그 소모품 유닛의 CRUM에 해당하는 소모품의 고유정보(예를 들어 Toner Serial Number)를 검출 목록에 추가할 수 있다. 이에 따라, 해당 정보를 가지고 있는 소모품은 화상형성장치에서 비정품 칩으로 구분해 낼 수 있도록 한다.

도 9는 서버 장치(800)에서 관리하는 데이터베이스의 구성의 일 예를 나타낸다. 도 9에 따르면, 서버 장치(800)는 출시된 다양한 화상형성장치들에서 사용되는 칩 일련 번호(CSN), 토너 일련번호(TSN), 변환 고유 정보 등과 같은 다양한 정보들을 하나의 데이터베이스 테이블로 정리하여 관리할 수 있다.

서버 장치(800)는 각 화상형성장치의 정보가 수집되면, 이들을 이용하여 데이터베이스 테이블을 생성 및 업데이트할 수 있다. 가령, Toner Serial Number는 소모품 유닛의 고유한 정보이므로, 이 정보가 여러 소모품 유닛에 동시에 있을 수는 없다. 따라서, 동일한 토너 시리얼 넘버가 특정 개수 이상 있는 경우에는, 해당 토너 시리얼 넘버를 가지는 소모품 유닛에는, 불법으로 제작된 CRUM 칩이 내장되었다고 판단할 수 있다. 예를 들어, 10개 이상의 동일한 시리얼 넘버가 발견되었다면, 해당 시리얼 넘버를 가지는 CRUM 칩이 복제 또는 해킹된 것으로 판단할 수 있다.

서버 장치(800)의 운영자는 복제 또는 해킹된 것으로 판단된 CRUM 칩에 대한 고유 정보를 검출 목록에 추가하여 검출 목록을 업데이트할 수 있다. 그리고, 새로이 생산되는 소모품 유닛(200)에 대해서는, 업데이트된 버전의 검출 목록을 저장할 수 있다. 또는, 업데이트된 검출 목록을 각 화상형성장치(100-1 ~ 100-m)들로 다운로드시켜 줄 수도 있다. 이에 따라, 새로운 검출 목록을 저장한 화상형성장치에서는, 새로이 발견된 비정품 소모품 유닛에 대한 사용을 제한할 수 있다.

또는, 서버 장치(800)의 운영자는 새로이 생산하는 소모품 유닛의 변환 고유 정보 리스트에 포함되는 트리거비트 중 적어도 하나를 0으로 설정할 수 있다. 이 경우, 새로운 소모품 유닛이 장착된 화상형성장치는 새로운 IBL Trigger Bit에 0으로 저장되어있는 Bit에 해당하는 변환 고유 정보를 검사하게 된다. 해당 Bit의 변환 규칙을 모르는 상태에서 만들어진 비정품 칩은 변환 고유 정보를 검사하면, 변환 고유 정보 리스트에 포함된 값과, 변환 값이 불일치하게 된다. 따라서, 화상형성장치에서는 해당 CRUM 칩이 내장된 소모품 유닛에 대해서는 검증에 실패한 것으로 처리한다.

도 10은 본 발명의 일 실시 예에 따른 서버 장치의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 10에 따르면, 서버 장치(800)는 서버 통신부(810), 서버 제어부(820), 데이터베이스부(830)를 포함한다.

서버 통신부(810)는 복수의 화상형성장치나 호스트 PC 등과 같은 다양한 외부 장치와 통신을 수행하기 위한 구성요소이다. 서버 통신부(810)는 각 외부 장치로부터 전송되는 각종 정보를 수집할 수 있다.

데이터베이스부(830)는 비정품 관리 정보를 저장하기 위한 구성요소이다. 구체적으로는, 데이터베이스부(830)는 도 9에 도시된 바와 같은 데이터베이스 테이블을 저장할 수 있다.

서버 제어부(820)는 복수의 화상형성장치 각각에서 소모품 유닛에 대한 검증이 수행되면, 그 검증 결과를 수신하여 비정품 관리 정보를 업데이트할 수 있다. 즉, 상술한 바와 같이 각 화상형성장치(100)는 CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛이 장착되면, 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나를 이용하여 CRUM 칩을 검증할 수 있다. 그리고, 검증 과정에서 획득한 각종 정보나 검증 성공 또는 검증 실패 여부를 알리는 검증 결과를 서버 장치(800)로 제공하여 줄 수 있다.

서버 제어부(820)는 이러한 정보들에 기초하여 데이터베이스부(830)에 저장된 데이터를 업데이트할 수 있다.

도 11은 CRUM 칩을 생산하여 보급하였을 경우에 네트워크 시스템 내에서 수행되는 동작들을 구체적으로 설명하기 위한 도면이다.

도 11에서는 CRUM 칩(210)의 제조 단계와 보급 단계를 구분하여 설명한다. 먼저, 제조 단계에서는 발행 어플리케이션(1110)에서는 해당 CRUM 칩(210)에 할당할 토너 시리얼 넘버를 비롯한 각종 고유 정보를 생성하여, 발행 펌웨어(1120)로 제공한다(S1100). 발행 펌웨어(1120)는 생성된 고유 정보를 기 설정된 규칙에 따라 변환하여, 변환 고유 정보를 생성한다(S1105). 발행 펌웨어(1120)는 생성된 변환 고유 정보, 고유 정보, 트리거 비트 등을 CRUM 칩(210)에 제공한다(S1110). CRUM 칩(210)은 제공된 각종 정보들을 저장한 상태로(S1115), 시중에 출시될 수 있다. 도 11에서는 변환 고유 정보 리스트와 관련된 정보에 대해서만 설명하였으나, 검출 목록도 이와 마찬가지로 CRUM 칩(210)에 저장될 수 있다.

이러한 상태에서 사용자는 CRUM 칩(210)이 내장된 소모품 유닛(200)을 구매하여, 자신의 화상형성장치(100)에 장착할 수 있다.

제어부(110)는 소모품 유닛(200)이 장착되면, 상술한 바와 같이 인증을 수행하고(S1120), CRUM 칩(210)의 고유 정보, 검출 목록 등을 수신할 수 있다(S1125, S1130). 제어부(110)는 수신된 검출 목록을 확인하여(S1135), 1차 검증을 수행할 수 있다. 1차 검증 이후에는 제어부(110)는 트리거 비트 및 변환 고유 정보를 수신할 수 있다(S1140). 그리고, 그 트리거 비트 및 변환 고유 정보에 기초하여, 2차 검증을 수행할 수 있다(S1145).

제어부(110)는 1차 검증 및 2차 검증에 모두 성공하면(S1150), CRUM 칩(210)과의 사이에서 데이터 통신을 수행할 수 있다(S1160). 반면, 1차 검증 및 2차 검증 중 하나라도 실패하면(S1155), 제어부(110)는 소모품 유닛에 대한 사용을 제한한다(S1155).

제어부(110)는 검증 과정에서 획득된 각종 정보들을 서버 장치(800)로 전송할 수 있다(S1165). 서버 장치(800)는 전송된 정보들을 이용하여 관리 정보를 업데이트할 수 있다(S1170).

한편, 소모품 유닛(200)은 상술한 바와 같이, 화상형성장치(100)의 본체로부터 탈부착될 수 있다. 소모품 유닛(200)이 장착될 때는 본체와 전기적으로 연결되어야 한다. 이러한 연결은 접촉식 또는 커넥터식으로 구현될 수 있다.

도 12는 접촉식으로 구현된 소모품 유닛(200)의 외관 구성 예를 나타낸다. 도 12에 따르면, 소모품 유닛(200)은 통신을 위한 접점부(1200)를 포함한다. 도 12에서는 4개의 접촉 단자를 이용하는 I2C 인터페이스를 사용한 경우를 나타낸다. 화상형성장치의 본체(100)에도 접점부(1200)와 동일한 형상의 접점부가 마련된다. 소모품 유닛(200)이 본체(100)에 장착되면, 접점부(1200)는 화상형성장치의 본체(100)에 마련된 접점부와 접촉할 수 있다. 화상형성장치(100)의 제어부(110)는 접점부로부터 접촉 신호가 수신되면, 인증 및 검증 단계를 순차적으로 수행할 수 있다.

도 13은 커넥터 식으로 이루어진 인터페이스부의 외관 구성 예를 나타내는 도면이다. 도 13에 따르면, 소모품 유닛(200)은 커넥터(1310)를 포함한다. 커넥터(1310)는 화상형성장치의 본체(100)에 마련된 포트(1300)에 연결된다. 화상형성장치(100)의 제어부(110)는 포트(1300)를 통해 커넥터(1310)의 연결 신호가 수신되면, 인증 및 검증 단계를 순차적으로 수행할 수 있다.

이상과 같이 소모품 유닛(200)은 다양한 형태로 구성될 수 있다. 또한, 소모품 유닛(200)의 종류에 따라 CRUM 칩(210)도 다양한 형태로 구성될 수 있다.

도 14는 CRUM 칩(210) 구성의 일 예를 나타내는 블럭도이다.

도 14에 따르면, CRUM 칩(210)은 통신 인터페이스부(211), CPU(212), O/S 메모리(213-1), 비휘발성 메모리(213-2), 휘발성 메모리(213-3), 크립토 모듈(214), 템퍼 검출기(215) 등과 같은 다양한 구성요소들을 포함할 수 있다.

도 14에 도시되지는 않았으나, CRUM 칩(210) 내에는 클럭신호를 출력하는 클럭부(미도시)나, 인증을 위한 랜덤값을 생성하는 랜덤값 생성부(미도시) 등이 더 포함될 수도 있으며, 일부 구성요소는 삭제될 수도 있고, 다른 구성요소에 포함될 수도 있다.

도 14에 따르면, O/S 메모리(213-1)에는 소모품 유닛(200)을 구동시키기 위한 O/S가 저장된다. 비휘발성 메모리(213-2)에는 소모품 유닛, CRUM 칩 등과 관련된 각종 데이터 및 프로그램이 저장될 수 있다. 구체적으로는, 전자 서명 정보나, 각종 암호화 프로그램 코드, 소모품 유닛의 상태 정보(예를 들어, 토너 잔량 정보, 교체 시기 정보, 잔여 인쇄 매수 정보 등), 고유 정보(예를 들어, 제조사 정보, 제조일시 정보, 일련 번호, 제품 모델 명 등), A/S 정보 등이 저장될 수 있다. 또한, 상술한 바와 같은 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 등도 비휘발성 메모리(213-2)에 저장될 수 있다.

CPU(212)는 비휘발성 메모리(213-2)에 저장된 프로그램 및 데이터를 휘발성 메모리(213-3)로 로딩시켜, 사용할 수 있다.

크립토 유닛(214)은 암호화 알고리즘을 지원하여, CPU(212)가 화상형성장치의 본체에 마련된 제어부(110)와의 사이에서 인증이나, 암호화된 통신을 수행할 수 있도록 한다. 구체적으로는, 크립토 유닛(214)은 상술한 다양한 암호화 알고리즘을 사용하여 인증 또는 암호화 데이터 통신을 수행할 수 있다.

템퍼 검출기(215)는 다양한 물리적인 해킹 시도, 즉, 템퍼링을 방어하기 위한 유닛이다. 구체적으로는, 전압, 온도, 압력, 빛, 주파수 등의 동작 환경에 대하여 모니터링을 하여, Decap과 같은 시도가 있을 경우, 데이터를 지워버리거나 물리적으로 차단한다. 이 경우, 템퍼 검출기(215)는 별도의 전원을 구비할 수도 있다.

한편, 도 4 및 도 14에서는 CPU(212)를 포함하는 CRUM 칩(210)의 구성에 대하여 도시 및 설명하였으나, CRUM 칩(210)의 구성은 이에 한정되지는 않는다. 가령, CRUM 칩(210)은 메모리만을 포함하는 형태로 구현될 수도 있다.

이상과 같이, 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 화상형성장치에서는 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나를 이용하여, 소모품 유닛을 검증할 수 있다. 이에 따라, 불법적으로 제조된 비정품 칩 또는 비정품 유닛의 사용을 제한할 수 있다. 또한, 화상형성장치를 제조하는 제조회사 또는 판매회사에서는 각 화상형성장치에 장착되는 CRUM 칩에 대한 정보를 수집하여, 시장에 비정품 칩 또는 비정품 유닛이 사용되고 있는지 여부를 바로 확인할 수 있다. 확인 결과, 이러한 비정품 칩 또는 유닛이 사용되고 있다면, 펌웨어를 변경하거나 새로운 CRUM 칩을 개발하지 않고도, 해당 비정품 칩 또는 비정품 유닛에 대한 사용을 제한할 수 있다. 이에 따라, 화상형성장치의 고장이나 사고 위험, 품질 저하 등의 문제가 발생하지 않도록 빠르게 조치할 수도 있다.

한편, 이상과 같은 다양한 실시 예들에서는 화상형성장치 및 그 장치에 탑재된 소모품 유닛 또는 CRUM 칩을 기준으로 설명하였으나, 이러한 방법들은 반드시 화상형성장치에만 사용되어야 하는 것은 아니다.

즉, 일반적인 전자 장치에서 외부 구성요소 또는 내부에 탑재된 구성요소를 검증하여야 하는 경우에도, 상술한 다양한 실시 예들이 적용될 수 있다. 가령, 휴대폰이나 PC, 태블릿 PC, 랩탑 PC, TV 등과 같은 다양한 단말 장치에 대해 USB 케이블을 통해 외부 저장 매체가 연결될 수도 있다. 이 경우, 단말 장치 내에 마련된 제어부가 검출 목록 및 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여, 외부 저장 매체가 적법한 장치인지 여부를 검증할 수 있다.

또한, 상술한 다양한 실시 예에서 설명한 각종 방법은 비일시적 판독 가능 매체에 저장된 프로그램에 의해 수행될 수 있다. 비일시적 판독 가능 매체란 레지스터, 캐쉬, 메모리 등과 같이 짧은 순간 동안 데이터를 저장하는 매체가 아니라 반영구적으로 데이터를 저장하며, 기기에 의해 판독(reading)이 가능한 매체를 의미한다. 구체적으로는, 상술한 다양한 어플리케이션 또는 프로그램들은 CD, DVD, 하드 디스크, 블루레이 디스크, USB, 메모리카드, ROM 등과 같은 비일시적 판독 가능 매체에 저장되어 제공될 수 있다.

구체적으로는, 비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록 및 상기 CRUM 칩에 저장된 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 각각 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여 상기 소모품 유닛을 검증하는 단계 및 상기 검증에 실패하면, 상기 소모품 유닛의 사용을 제한하는 단계를 순차적으로 수행하기 위한 프로그램 코드가 저장된 비일시적 판독 가능 매체가 사용될 수 있다.

또한, 이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어 져서는 안 될 것이다.

100 : 화상형성장치 110 : 제어부
120 : 저장부 200 : 소모품 유닛
210 : CRUM 칩

Claims

CRUM 칩에 있어서,
비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록, 고유 정보, 및 상기 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트를 저장하는 메모리부;
화상형성장치의 본체에 내장된 제어부와 통신을 수행하기 위한 통신 인터페이스부; 및
상기 통신이 연결되면, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 상기 본체의 제어부로 제공하는 CPU;를 포함하는 CRUM 칩.
제1항에 있어서,
상기 변환 고유 정보 리스트는,
상기 복수의 변환 고유 정보 중에서 검증에 사용될 적어도 하나의 변환 고유 정보를 지정하는 트리거 비트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 CRUM 칩.
제1항에 있어서,
상기 검출 목록은,
상기 비정품 CRUM 칩에 대한 토너 고유 정보, 칩 고유 정보, 시리얼 넘버, CRUM 메모리 내의 특정 어드레스에 기록된 데이터, 인증 시에 사용되는 랜덤 데이터 중 적어도 하나를 포함하는 CRUM 칩.
화상형성장치에 있어서,
본체;
상기 본체에 탈착 또는 장착 가능하며, CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛;
비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록 및 상기 CRUM 칩에 저장된 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 각각 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트가 저장되는 저장부;
상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여 상기 소모품 유닛을 검증하여 상기 검증에 실패하면, 상기 소모품 유닛의 사용을 제한하는 제어부;를 포함하는 화상형성장치.
제4항에 있어서,
상기 CRUM 칩은,
상기 고유 정보, 상기 검출 목록, 및 상기 변환 고유 정보 리스트가 저장된 저장부;
상기 소모품 유닛이 상기 본체에 장착되면, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 상기 제어부로 제공하는 CPU;를 포함하며.
상기 제어부는, 상기 CPU로부터 제공되는 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 상기 저장부에 저장하는 것을 특징으로 하는 화상형성장치.
제5항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 CPU에 저장된 상기 검출 목록의 버전을 확인하여, 상기 저장부에 기 저장된 검출 목록보다 최신 버전이면 상기 CPU로 리스트 전송을 요청하고,
상기 요청에 따라 상기 CPU로부터 상기 검출 목록이 제공되면, 상기 저장부에 저장된 리스트를 업데이트하는 것을 특징으로 하는 화상형성장치.
제5항에 있어서,
상기 변환 고유 정보 리스트는,
상기 복수의 변환 고유 정보 중에서 상기 검증에 사용될 적어도 하나의 변환 고유 정보를 지정하기 위한 트리거 비트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상형성장치.
제7항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 소모품 유닛이 상기 본체에 장착되면, 기 설정된 인증 알고리즘에 따라 상기 CRUM 칩을 인증하고,
상기 인증에 성공하면, 상기 CRUM 칩이 상기 검출 목록에 등록된 CRUM 칩인지 여부를 확인하여 상기 CRUM 칩을 1차 검증하며,
상기 CRUM 칩이 상기 검출 목록에 미등록된 CRUM 칩이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 변환 고유 리스트를 다운로드받아, 상기 트리거 비트를 확인하여 상기 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나의 변환 고유 정보를 선택하고, 상기 CRUM 칩의 고유 정보를 상기 선택된 변환 고유 정보에 대응되는 규칙에 따라 변환하며, 변환된 결과 값과 상기 선택된 변환 고유 정보를 비교하여 상기 CRUM 칩을 2차 검증하는 것을 특징으로 하는 화상형성장치.
제7항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 CRUM 칩의 검출 목록 버전이 상기 저장부에 저장된 검출 목록보다 최신 버전이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 검출 목록을 다운로드받아 상기 저장부에 저장된 검출 목록을 업데이트하고, 상기 CRUM 칩의 고유 정보가 상기 업데이트된 검출 목록에 등록되었는지 여부를 확인하여 상기 CRUM 칩을 1차 검증하며,
상기 CRUM 칩이 상기 검출 목록에 미등록된 CRUM 칩이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 변환 고유 정보 리스트를 다운로드받아, 상기 트리거 비트를 확인하여 상기 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나의 변환 고유 정보를 선택하고, 상기 CRUM 칩의 고유 정보를 상기 선택된 변환 고유 정보에 대응되는 규칙에 따라 변환하며, 변환된 결과값과 상기 선택된 변환 고유 정보를 비교하여 상기 CRUM 칩을 2차 검증하는 것을 특징으로 하는 화상형성장치.
제5항에 있어서,
서버 장치와 통신을 수행하기 위한 통신부;를 더 포함하며,
상기 제어부는,
상기 소모품 유닛에 대한 검증 결과, 상기 CRUM 칩으로부터 제공되는 상기 고유 정보, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 상기 서버 장치로 전송하는 것을 특징으로 하는 화상형성장치.
제4항에 있어서,
상기 검출 목록은,
상기 비정품 CRUM 칩에 대한 토너 고유 정보, 칩 고유 정보, 시리얼 넘버, CRUM 메모리 내의 특정 어드레스에 기록된 데이터, 인증 시에 사용되는 랜덤 데이터 중 적어도 하나를 포함하는 화상형성장치.
CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛이 탈착 또는 장착 가능한 화상형성장치의 소모품 유닛 검증 방법에 있어서,
비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록 및 상기 CRUM 칩에 저장된 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 각각 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나에 기초하여 상기 소모품 유닛을 검증하는 단계; 및
상기 검증에 실패하면, 상기 소모품 유닛의 사용을 제한하는 단계;를 포함하는 소모품 유닛 검증 방법.
제12항에 있어서,
상기 CRUM 칩으로부터 상기 고유 정보, 상기 검출 목록, 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 수신하는 단계;
상기 화상형성장치의 본체에 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트를 저장하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 소모품 유닛 검증 방법.
제13항에 있어서,
상기 CPU의 검출 목록 버전을 확인하여, 상기 화상형성장치의 본체에 기 저장된 검출 목록보다 최신 버전이면 상기 CPU로 리스트 전송을 요청하는 단계;
상기 요청에 따라 상기 CPU로부터 상기 검출 목록이 전송되면, 상기 화상형성장치의 본체에 기 저장된 검출 목록을 업데이트하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 소모품 유닛 검증 방법.
제13항에 있어서,
상기 변환 고유 정보 리스트는,
상기 복수의 서로 다른 규칙 중 하나를 지정하는 트리거 비트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 소모품 유닛 검증 방법.
제15항에 있어서,
상기 소모품 유닛이 상기 본체에 장착되면, 기 설정된 인증 알고리즘에 따라 상기 CRUM 칩을 인증을 수행하는 단계;를 더 포함하며,
상기 소모품 유닛에 대한 검증은 상기 인증에 성공한 이후에 수행되는 것을 특징으로 하는 소모품 유닛 검증 방법.
제15항에 있어서,
상기 CRUM 칩을 검증하는 단계는,
상기 CRUM 칩의 검출 목록 버전이 상기 화상형성장치의 본체에 기 저장된 검출 목록보다 최신 버전이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 검출 목록을 다운로드받아 상기 기 저장된 검출 목록을 업데이트하는 단계;
상기 CRUM 칩의 고유 정보가 상기 업데이트된 검출 목록에 등록되었는지 여부를 확인하여 상기 CRUM 칩을 1차 검증하는 단계;
상기 CRUM 칩이 상기 업데이트된 검출 목록에 미등록된 CRUM 칩이면, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 변환 고유 정보 리스트를 다운로드받는 단계;
상기 트리거 비트를 확인하여 상기 변환 고유 정보 리스트 중에서 적어도 하나의 변환 고유 정보를 선택하는 단계;
상기 CRUM 칩의 고유 정보를 상기 선택된 변환 고유 정보에 대응되는 규칙에 따라 변환하는 단계;
변환된 결과값과 상기 선택된 변환 고유 정보를 비교하여 상기 CRUM 칩을 2차 검증하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 소모품 유닛 검증 방법.
제12항에 있어서,
상기 소모품 유닛에 대한 검증 결과, 상기 CRUM 칩으로부터 제공되는 상기 고유 정보, 상기 검출 목록 및 상기 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 서버 장치로 전송하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 소모품 유닛 검증 방법.
서버 장치에 있어서,
복수의 화상형성장치와 통신을 수행하기 위한 서버 통신부;
비정품 관리 정보를 저장하는 데이터베이스부;
상기 복수의 화상형성장치 각각에서 소모품 유닛에 대한 검증이 수행되면, 상기 검증 결과를 수신하여 상기 비정품 관리 정보를 업데이트하는 서버 제어부;를 포함하며,
상기 화상형성장치는,
CRUM 칩을 포함하는 소모품 유닛이 장착되면, 비정품 CRUM 칩에 대한 정보를 포함하는 검출 목록 및 상기 CRUM 칩의 고유 정보를 기 설정된 복수의 서로 다른 규칙에 따라 각각 변환한 복수의 변환 고유 정보를 포함하는 변환 고유 정보 리스트 중 적어도 하나를 이용하여 상기 CRUM 칩을 검증하는 서버 장치.