KR101780734B1 - Ｃｒｕｍ 칩과 화상형성장치 및 그 통신 방법 - Google Patents

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Abstract

화상형성장치가 개시된다. 본 장치는, 화상형성장치의 동작을 제어하는 메인 컨트롤러를 포함하는 본체, 메인 컨트롤러와 통신 가능하도록 본체에 장착되는 소모품유닛 및 소모품유닛에 마련되어, 소모품유닛의 사용 정보 및 특성 정보를 저장하는 CRUM(Customer Replaceable Unit Monitoring)칩을 포함한다. 여기서, 메인 컨트롤러와 CRUM 칩은, 데이터 및 무결성 검사 데이터를 포함하는 신호를 서로 송수신한다. 여기서, 무결성 검사 데이터는 이전 신호에 포함된 무결성 검사 데이터가 누적반영되어 생성된 것이다. 이에 따라, 안전한 통신이 이루어질 수 있다.

Description

ＣＲＵＭ 칩과 화상형성장치 및 그 통신 방법 { CRUM chip and image forming device for communicating mutually, and method thereof }
본 발명은 CRUM 칩과 화상형성장치 및 그 통신 방법에 대한 것으로, 보다 상세하게는 통신 과정에서 무결성 검사 데이터를 이용하여 무결성 여부를 검사하는 CRUM 칩과 화상형성장치 및 그 통신 방법에 대한 것이다.
컴퓨터 보급이 활성화됨에 따라, 컴퓨터 주변기기의 보급율도 나날이 증가하고 있다. 컴퓨터 주변기기의 대표적인 예로써, 프린터, 팩시밀리, 스캐너, 복사기, 복합기 등과 같은 화상형성장치를 들 수 있다.
화상형성장치들은 용지상에 화상을 인쇄하기 위해서 잉크나 토너를 사용한다. 잉크나 토너는 화상형성작업이 진행될 때마다 사용되어, 소정 시간 이상 사용되면 고갈된다. 이 경우, 잉크나 토너를 저장하는 유닛 자체를 새로이 교체하여 주어야 한다. 이와 같이 화상형성장치의 사용과정에서 교체할 수 있는 부품 또는 구성요소들을 소모품 유닛 또는 교체 가능 유닛이라 한다. 설명의 편의를 위하여, 본 명세서에서는 소모품 유닛이라는 명칭을 사용한다.
소모품 유닛에는 상술한 바와 같이 잉크나 토너가 고갈되어 교체하여야 하는 유닛 이외에, 일정 기간 이상 사용하면 특성이 변경되어 좋은 인쇄 품질을 기대할 수 없는 이유로 교체되는 유닛들도 있다. 즉, 컬러별 현상기 이외에도 중간 전사 벨트 등과 같은 부품들도 소모품 유닛에 해당할 수 있다.
구체적으로는, 레이저 화상형성장치의 경우 대전유닛, 전사유닛, 정착유닛 등이 사용되는데, 각 유닛에서 사용되는 다양한 종류의 롤러, 벨트 등은 한계수명 이상 사용되면 마모되거나 변질될 수 있다. 이에 따라, 화상품질을 현저하게 저하시킬 수 있게 된다. 사용자는 깨끗한 화상으로 인쇄작업이 수행될 수 있도록, 각 구성유닛, 즉, 소모품 유닛들을 적절한 교체시기마다 교체하여 주어야 한다.
소모품 유닛의 적절한 관리를 위하여, 최근에는 소모품 유닛 자체에 메모리를 부착하여, 화상형성장치의 본체와 정보를 주고 받을 수 있도록 구현하고 있다.
즉, 화상형성장치의 인쇄 매수, 출력 도트 수, 사용 기한 등과 같은 다양한 사용 정보들을 소모품 유닛 자체의 메모리에 기록하여, 소모품 유닛의 교체 시기 등을 정확하게 관리할 수 있다.
이러한 정보 관리를 위하여 화상형성장치의 본체에 구비된 메인 컨트롤러와 소모품 유닛에 구비된 메모리부는 서로 통신을 수행한다. 하지만, 통신 과정에서는 여러 변수가 있을 수 있다. 예를 들어, 화상형성장치에 구비된 전자 회로나 모터 등에 의해 발생되는 노이즈 간섭이 있을 수도 있고, 악의적인 목적으로 메인 컨트롤러 또는 메모리부를 제어하려고 하는 해커의 공격이 있을 수도 있다.
이러한 변수들로 인해, 통신 데이터가 변경될 수 있다. 예를 들어, 잡이 완료되면, 소모품 유닛에서는 인쇄 페이지수, 도트 수, 잔존 토너량 등과 같은 정보를 메인 컨트롤러로 전송하여, 메인 컨트롤러의 비휘발성 메모리로 복사한다. 이 경우, 데이터가 0xFFFFFFFF와 같은 잘못된 값으로 읽혔을 경우, 메인 컨트롤러는 해당 소모품 유닛의 수명이 다한 것으로 인식할 위험성이 있다. 이 경우, 해당 소모품 유닛은 더 이상 사용할 수 없게 된다. 반대로, 수명이 다한 소모품 유닛에 대해서도 해커가 악의적인 목적으로 소모품 사용 정보를 0으로 리셋하여, 소모품 유닛이 재생 가능하도록 만들 수 있다. 이에 따라, 수명이 다한 소모품 유닛을 사용하게 되어, 화상형성장치의 고장, 화질 열화 등의 문제가 발생할 수도 있다.
이에 따라, 소모품 유닛과 화상형성장치 사이의 통신 에러를 효율적으로 검사하여 데이터의 안정성을 도모할 수 있는 기술에 대한 필요성이 대두되었다.
본 발명은 상술한 필요성에 따른 것으로, 무결성 검사 데이터를 이용하여 통신 안전성을 도모할 수 있는 CRUM 칩과 화상형성장치 및 그 통신 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치는, 상기 화상형성장치의 동작을 제어하는 메인 컨트롤러를 포함하는 본체, 상기 메인 컨트롤러와 통신 가능하도록 상기 본체에 장착되는 소모품유닛 및 상기 소모품유닛에 마련되어, 상기 소모품유닛의 사용 정보 및 특성 정보를 저장하는 CRUM 칩 (Customer Replaceable Unit Monitoring Chip)을 포함한다.
여기서, 상기 메인 컨트롤러와 상기 CRUM 칩은, 데이터 및 상기 데이터에 대한 무결성 검사 데이터를 포함하는 신호를 서로 송수신하며, 상기 무결성 검사 데이터는, 이전 신호에 포함된 무결성 검사 데이터가 누적반영되어 생성된 것일 수 있다.
한편, 상기 메인 컨트롤러 및 상기 CRUM 칩은, 상기 무결성 검사 데이터가 부가된 신호가 수신되면, 상기 수신된 신호로부터 상기 무결성 검사 데이터를 분리하고, 나머지 데이터로부터 자체적으로 생성한 무결성 검사 데이터와 상기 분리된 무결성 검사 데이터를 비교하여 상기 신호의 무결성을 검사하며, 무결성이라고 판단되면 상기 신호를 임시 저장할 수 있다.
여기서, 상기 메인 컨트롤러 및 상기 CRUM칩은, 하나의 화상형성잡이 완료되면, 상기 화상형성잡 수행 과정에서 마지막으로 수신된 신호에 포함된 무결성 검사 데이터를 이용하여, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 송수신하였던 전체 신호의 무결성을 최종 검사하며, 상기 검사 결과 상기 전체 신호가 무결성이라고 판단되면 임시 저장되어 있던 신호들을 저장할 수 있다.
한편, 상기 신호에 포함된 상기 데이터는, 코맨드, 기록 대상 정보, 상기 코맨드에 따른 작업 수행 결과 정보, 이전 수신 신호에 대한 무결성 검사 결과 정보 및 상기 무결성 검사 데이터의 위치를 알리기 위한 인디케이터 정보 중 적어도 하나를 포함한다. 그리고, 상기 무결성 검사 결과 정보는, 상기 메인 컨트롤러 및 상기 CRUM 칩 사이에서 최초 송신되는 신호에서는 배제될 수 있다.
또한, 상기 무결성 검사 데이터는, 상기 데이터를 논리 연산한 결과값, 상기 데이터에 대해 기 설정된 수학식을 적용하여 생성한 결과값 또는 상기 데이터를 암호화한 암호화 결과값이 될 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치는, 상기 화상형성장치에 장착 가능한 소모품유닛에 탑재된 CRUM칩으로 전송할 데이터를 생성하는 데이터 처리부, 상기 생성된 데이터를 이용하여 제1 무결성 검사 데이터를 생성하는 생성부, 상기 데이터 및 상기 제1 무결성 검사 데이터를 포함하는 제1 신호를 상기 CRUM칩으로 전송하고, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 제1 신호에 대응되는 제2 신호를 수신하는 인터페이스부, 상기 제2 신호에 포함된 제2 무결성 검사 데이터를 분리하여, 상기 제2 신호의 무결성을 검사하는 검사부 및 상기 검사부의 검사 결과에 따라 후속 통신을 수행하는 제어부를 포함한다.
여기서, 상기 제2 무결성 검사 데이터는 상기 제1 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성된 것일 수 있다.
그리고, 상기 검사부는, 상기 제2 신호에 포함된 나머지 데이터를 이용하여 비교 대상 데이터를 생성하고, 상기 제2 신호로부터 분리된 상기 제2 무결성 검사 데이터와 상기 비교 대상 데이터를 비교하여, 상기 제2 신호의 무결성을 검사할 수 있다. 여기서, 상기 제어부는 상기 제2 신호가 에러 상태라고 판단되면 상기 후속 통신을 중단할 수 있다.
그리고, 본 화상형성장치는, 무결성으로 판단된 데이터 및 무결성 검사 데이터를 임시 저장하는 임시 저장부를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 생성부는, 상기 제2 신호가 무결성인 경우, 상기 CRUM 칩으로 전송할 후속 데이터가 존재하면, 상기 후속 데이터 및 상기 제2 무결성 검사 데이터를 기초로 제3 무결성 검사 데이터를 생성하고,
상기 인터페이스부는, 상기 제3 무결성 검사 데이터 및 상기 후속 데이터를 포함하는 제3 신호를 상기 CRUM 칩으로 전송할 수 있다.
그리고, 상기 검사부는, 화상 형성 잡이 완료되면, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 마지막으로 수신된 신호에 포함된 최종 무결성 검사 데이터를 이용하여, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 수신하였던 전체 신호의 무결성을 최종 검사할 수 있다.
또한, 본 화상형성장치는, 상기 최종 검사 결과, 상기 전체 신호가 무결성이라고 판단되면 상기 임시 저장부에 임시 저장되어 있던 데이터를 기록하는 저장부를 더 포함할 수도 있다.
또한, 상기 데이터는, 코맨드, 기록 대상 정보, 상기 코맨드에 따른 작업 수행 결과 정보, 이전 수신 신호에 대한 무결성 검사 결과 정보 및 상기 무결성 검사 데이터의 위치를 알리기 위한 인디케이터 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 그리고, 상기 무결성 검사 결과 정보는, 상기 CRUM 칩과의 사이에서 최초 송신되는 신호에서는 배제될 수 있다.
한편, 상기 무결성 검사 데이터는, 상기 데이터를 논리 연산한 결과값, 상기 데이터에 대해 기 설정된 수학식을 적용하여 생성한 결과값 또는 상기 데이터를 암호화한 암호화 결과값일 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 화상형성장치의 소모품유닛에 장착 가능한 CRUM칩은, 상기 화상형성장치의 본체로부터 제1 데이터 및 상기 제1 데이터에 대한 제1 무결성 검사 데이터를 포함하는 제1 신호를 수신하는 인터페이스부, 상기 제1 신호로부터 상기 제1 무결성 검사 데이터를 분리하여, 상기 제1 신호의 무결성을 검사하는 검사부, 상기 제1 신호가 무결성이라고 판단되면, 상기 제1 신호에 포함된 상기 데이터 및 상기 제1 무결성 검사 데이터를 임시 저장하는 임시 저장부, 상기 화상형성장치의 본체로 전송하여야 하는 제2 데이터가 존재하는 경우, 상기 제2 데이터를 생성하는 데이터 처리부, 상기 제2 데이터와 상기 제1 무결성 검사 데이터를 이용하여, 제2 무결성 검사 데이터를 생성하는 생성부, 상기 제2 데이터와 상기 제2 무결성 검사 데이터를 포함하는 제2 신호를 상기 화상형성장치의 본체로 전송하도록 상기 인터페이스부를 제어하는 제어부 및 상기 임시 저장부에 임시 저장된 데이터를 기록하기 위한 저장부를 포함한다.
여기서, 상기 검사부는, 상기 제1 신호에 포함된 나머지 데이터를 이용하여 비교 대상 데이터를 생성하고, 상기 제2 신호로부터 분리된 상기 제2 무결성 검사 데이터와 상기 비교 대상 데이터를 비교하여, 일치하면 상기 제2 신호가 무결성이라고 판단하고, 불일치하면 에러 상태라고 판단할 수 있다.
한편, 상기 검사부는, 상기 제2 무결성 검사 데이터가 누적적으로 반영되어 생성된 제3 무결성 검사 데이터를 포함하는 제3 신호가 상기 인터페이스부를 통해 수신되면 상기 제3 신호에 대한 무결성 검사를 수행하고,
화상 형성 잡이 완료되면, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 마지막으로 수신된 신호에 포함된 최종 무결성 검사 데이터를 이용하여, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 수신하였던 전체 신호의 무결성을 최종 검사할 수 있다.
이 경우, 상기 제어부는, 상기 최종 검사 결과, 상기 전체 신호가 무결성이라고 판단되면 상기 임시 저장부에 임시 저장되어 있던 데이터들을 상기 저장부에 저장할 수 있다.
그리고, 상기 제1 데이터 또는 상기 제2 데이터는, 코맨드, 기록 대상 정보, 상기 코맨드에 따른 작업 수행 결과 정보, 이전 수신 신호에 대한 무결성 검사 결과 정보 및 상기 무결성 검사 데이터의 위치를 알리기 위한 인디케이터 정보 중 적어도 하나를 포함하며,
상기 무결성 검사 결과 정보는, 상기 CRUM 칩과의 사이에서 최초 송신되는 신호에서는 배제될 수 있다.
그리고, 상기 무결성 검사 데이터는, 상기 데이터를 논리 연산한 결과값, 상기 데이터에 대해 기 설정된 수학식을 적용하여 생성한 결과값 또는 상기 데이터를 암호화한 암호화 결과값일 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 메인 컨트롤러가 구비된 본체 및 상기 메인 컨트롤러와 통신 가능한 CRUM 칩이 장착된 소모품유닛을 포함하는 화상형성장치의 통신 방법은, 상기 CRUM칩으로 전송할 데이터를 생성하는 단계, 상기 생성된 데이터를 이용하여 제1 무결성 검사 데이터를 생성하는 단계, 상기 데이터 및 상기 제1 무결성 검사 데이터를 포함하는 제1 신호를 상기 CRUM칩으로 전송하는 단계, 상기 CRUM 칩으로부터 상기 제1 신호에 대응되는 제2 신호를 수신하는 단계 및, 상기 제2 신호에 포함된 제2 무결성 검사 데이터를 분리하여, 상기 제2 신호의 무결성을 검사하는 검사 단계를 포함한다. 여기서, 상기 제2 무결성 검사 데이터는 상기 제1 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성된 것일 수 있다.
그리고, 상기 검사 단계는, 상기 제2 신호로부터 상기 제2 무결성 검사 데이터를 분리하는 단계, 상기 제2 무결성 검사 데이터가 분리된 나머지 데이터를 이용하여 비교 대상 데이터를 생성하는 단계, 상기 제2 신호로부터 분리된 상기 제2 무결성 검사 데이터와 상기 비교 대상 데이터를 비교하여, 일치하면 상기 제2 신호가 무결성이라고 판단하고 불일치하면 에러 상태라고 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
이 경우, 상기 제2 신호가 무결성이라고 판단되면, 상기 제2 신호의 데이터 및 상기 제2 무결성 검사 데이터를 임시 저장하는 단계를 더 포함할 수도 있다.
그리고, 상기 CRUM 칩으로 전송할 후속 데이터가 존재하면, 상기 후속 데이터 및 상기 제2 무결성 검사 데이터를 기초로 제3 무결성 검사 데이터를 생성하는 단계, 상기 제3 무결성 검사 데이터 및 상기 후속 데이터를 포함하는 제3 신호를 상기 CRUM 칩으로 전송하는 단계를 더 포함할 수도 있다.
또한, 화상 형성 잡이 완료되면, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 마지막으로 수신된 신호에 포함된 최종 무결성 검사 데이터를 이용하여, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 수신하였던 전체 신호의 무결성을 최종 검사하는 단계 및 상기 최종 검사 결과, 상기 전체 신호가 무결성이라고 판단되면 상기 임시 저장되어 있던 신호들을 저장하는 단계를 더 포함할 수도 있다.
그리고, 상기 데이터는, 코맨드, 기록 대상 정보, 상기 코맨드에 따른 작업 수행 결과 정보, 이전 수신 신호에 대한 무결성 검사 결과 정보 및 상기 무결성 검사 데이터의 위치를 알리기 위한 인디케이터 정보 중 적어도 하나를 포함하며, 상기 무결성 검사 결과 정보는, 상기 CRUM 칩과의 사이에서 최초 송신되는 신호에서는 배제될 수 있다.
또한, 상기 무결성 검사 데이터는, 상기 데이터를 논리 연산한 결과값, 상기 데이터에 대해 기 설정된 수학식을 적용하여 생성한 결과값 또는 상기 데이터를 암호화한 암호화 결과값일 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 화상형성장치의 소모품유닛에 장착 가능한 CRUM칩의 통신 방법은, 상기 화상형성장치의 본체로부터 제1 데이터 및 상기 제1 데이터에 대한 제1 무결성 검사 데이터를 포함하는 제1 신호를 수신하는 단계, 상기 제1 신호로부터 상기 제1 무결성 검사 데이터를 분리하여, 상기 제1 신호의 무결성을 검사하는 검사 단계, 상기 제1 신호가 무결성이라고 판단되면, 상기 제1 신호에 포함된 상기 데이터 및 상기 제1 무결성 검사 데이터를 임시 저장하는 단계, 상기 화상형성장치의 본체로 전송하여야 하는 제2 데이터가 존재하는 경우, 상기 제2 데이터를 생성하는 단계, 상기 제2 데이터와 상기 제1 무결성 검사 데이터를 이용하여, 제2 무결성 검사 데이터를 생성하는 단계 및 상기 제2 데이터와 상기 제2 무결성 검사 데이터를 포함하는 제2 신호를 상기 화상형성장치의 본체로 전송하는 단계를 포함한다.
여기서, 상기 검사 단계는, 상기 제1 신호로부터 상기 제1 무결성 검사 데이터를 분리하는 단계, 상기 제1 신호에 포함된 나머지 데이터를 이용하여 비교 대상 데이터를 생성하는 단계, 상기 제2 신호로부터 분리된 상기 제2 무결성 검사 데이터와 상기 비교 대상 데이터를 비교하여, 일치하면 상기 제2 신호가 무결성이라고 판단하고, 불일치하면 에러 상태라고 판단하는 단계를 더 포함한다.
그리고, 상기 제2 무결성 검사 데이터가 누적적으로 반영되어 생성된 제3 무결성 검사 데이터를 포함하는 제3 신호가 상기 화상형성장치의 본체로부터 수신되면 상기 제3 신호에 대한 무결성 검사를 수행하는 단계를 더 포함할 수도 있다.
또한, 화상 형성 잡이 완료되면, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 마지막으로 수신된 신호에 포함된 최종 무결성 검사 데이터를 이용하여, 상기 화상 형성 잡 수행 과정에서 수신하였던 전체 신호의 무결성을 최종 검사하는 단계, 상기 최종 검사 결과, 상기 전체 신호가 무결성이라고 판단되면 상기 임시 저장부에 임시 저장되어 있던 신호들을 저장하는 단계를 더 포함할 수도 있다.
그리고, 상기 제1 데이터 또는 상기 제2 데이터는, 코맨드, 기록 대상 정보, 상기 코맨드에 따른 작업 수행 결과 정보, 이전 수신 신호에 대한 무결성 검사 결과 정보 및 상기 무결성 검사 데이터의 위치를 알리기 위한 인디케이터 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
이 경우, 상기 무결성 검사 결과 정보는, 상기 CRUM 칩과의 사이에서 최초 송신되는 신호에서는 배제될 수 있다.
그리고, 상기 무결성 검사 데이터는, 상기 데이터를 논리 연산한 결과 값, 상기 데이터에 대해 기 설정된 수학식을 적용하여 생성한 결과 값 또는 상기 데이터를 암호화한 암호화 결과 값일 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 이전 통신에 사용되었던 무결성 검사 데이터를 누적적으로 사용하여 전체 통신의 안전성을 도모할 수 있게 된다. 이에 따라, 소모품 유닛 및 화상형성장치의 정보가 안전하게 관리될 수 있게 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 구성을 나타내는 블럭도,
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치에서의 메인 컨트롤러 및 CRUM 칩 간의 통신 과정을 설명하기 위한 타이밍도,
도 3은 무결성 검사 데이터를 이용하여 신호의 무결성을 검사하는 과정을 구체적으로 설명하기 위한 타이밍도,
도 4는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 화상형성장치에서의 메인 컨트롤러 및 CRUM 칩 간의 통신 과정을 설명하기 위한 타이밍도,
도 5는 소모품 유닛이 장착된 화상형성장치의 구성을 나타내는 블럭도,
도 6 및 도 7은 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 화상형성장치의 구성을 나타내는 블럭도,
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 CRUM 칩의 구성을 나타내는 블럭도, 그리고,
도 9 및 도 10은 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 통신 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
이하에서, 첨부된 도면을 이용하여 본 발명에 대하여 구체적으로 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 1에 따르면, 화상형성장치는 본체(100), 본체(100)에 구비된 메인 컨트롤러(110), 본체(100)에 장착 가능한 소모품 유닛(200)을 포함한다. 여기서, 화상형성장치란 프린터, 스캐너, 복합기, 팩시밀리, 복사기 등과 같이 용지나 각종 기록 매체 상에 화상을 형성할 수 있는 다양한 유형의 장치로 구현될 수 있다.
메인 컨트롤러(110)는 화상형성장치의 본체(100)에 탑재되어, 화상형성장치의 전반적인 기능을 제어한다.
소모품 유닛(200)은 화상형성장치의 본체(100)에 탑재되어, 화상형성잡에 직접 또는 간접적으로 관여하는 다양한 종류의 유닛이 될 수 있다. 예를 들어, 레이저 화상형성장치의 경우 대전유닛, 노광 유닛, 현상 유닛, 전사유닛, 정착유닛, 각종 롤러, 벨트, OPC 드럼 등이 소모품 유닛이 될 수 있으며, 그 밖에 화상형성장치의 사용에 있어서 교체가 요구되는 다양한 유형의 유닛들이 소모품 유닛(200)으로 정의될 수 있다.
상술한 바와 같이, 소모품 유닛(200)에는 각각의 수명이 정해져 있다. 따라서, 적절한 시기에 교체가 이루어질 수 있도록, 소모품 유닛(200)은 CRUM 칩(Customer Replaceable Unit Monitoring chip)(210)을 포함한다.
CRUM 칩(210)이란 소모품 유닛(200)에 탑재되어, 각종 정보를 기록하는 구성이다. CRUM 칩(210)은 메모리를 포함한다. 따라서, CRUM 칩(210)은 메모리부, CRUM 메모리(Customer Replaceable Unit Monitoring memory) 등과 같이 다양한 명칭으로 지칭될 수 있지만, 설명의 편의를 위하여 본 명세서에서는 CRUM 칩(210)으로 설명한다.
CRUM 칩(210)에 마련된 메모리에는 소모품 유닛(200)이나 CRUM 칩(210) 자체, 화상형성장치 등에 대한 다양한 특성 정보와, 화상형성잡의 수행과 관련된 사용 정보 또는 프로그램이 저장될 수 있다.
구체적으로는, CRUM 칩(210)에 저장되는 각종 프로그램에는, 일반적인 어플리케이션 뿐만 아니라 O/S(Operating System) 프로그램, 암호화 프로그램 등도 포함될 수 있다. 또한, 특성 정보에는, 소모품 유닛(200) 제조사에 대한 정보, 화상형성장치의 제조사에 대한 정보, 장착 가능한 화상형성장치의 장치 명, 제조일시에 대한 정보, 일련 번호, 모델 명, 전자 서명 정보, 암호화 키, 암호화 키 인덱스 등이 포함될 수 있다. 또한, 사용 정보에는 현재까지 몇 매 인쇄하였는지, 인쇄 가능한 잔여 매수가 얼마인지, 토너 잔량이 얼마인지 등에 대한 정보가 포함될 수 있다. 특성 정보는 다르게는 고유 정보로 명명할 수도 있다.
일 예를 들면, CRUM 칩(210)에는 다음 표와 같은 정보가 저장될 수 있다.
General Information
OS Version
SPL-C Version
Engine Version
USB Serial Number
Set Model
Service Start Date		 CLP300_V1.30.12.35 02-22-2007
5.24 06-28-2006
6.01.00(55)
BH45BAIP914466B.
DOM
2007-09-29
Option
RAM Size
EEPROM Size
USB Connected (High)		 32 Mbytes
4096 bytes
Consumables Life
Total Page Count
Fuser Life
Transfer Roller Life
Tray1 Roller Life
Total Image Count
Imaging Unit/Deve Roller Life
Transfer Belt Life
Toner Image Count		 774/93 Pages(Color/mono)
1636 Pages
864 Pages
867 Pages
3251 Images
61 Images/19 Pages
3251 Images
14/9/14/19 Images(C/M/Y/K)
Toner Information
Toner Remains Percent
Toner Average Coverage		 99%/91%/92%/100% (C/M/Y/K)
5%/53%/31%/3% (C/M/Y/K)
Consumables Information
Cyan Toner
Magenta Toner
Yellow Toner
Black Toner
Imaging unit		 SAMSUNG(DOM)
SAMSUNG(DOM)
SAMSUNG(DOM)
SAMSUNG(DOM)
SAMSUNG(DOM)
Color Menu
Custom Color Manual Adjust(CMYK : 0,0,0,0)
Setup Menu
Power Save
Auto Continue
Altitude Adj.		 20 Minutes
On
Plain
상술한 표에서와 같이, CRUM칩(210)의 메모리에는 소모품 유닛(200)에 대한 개략적인 정보 뿐만 아니라, 소모품의 수명, 정보, 셋업 메뉴 등에 대한 정보까지 저장될 수 있다. 또한, 메모리에는 화상형성장치의 본체와 별개로 소모품 유닛에서 사용하기 위하여 마련된 O/S도 저장될 수 있다.
그 밖에, CRUM 칩(210)에는 메모리를 관리하고, 메모리에 저장된 각종 프로그램을 실행하며, 화상형성장치의 본체 또는 기타 장치의 컨트롤러와 통신을 수행할 수 있는 CPU(미도시)가 더 포함될 수도 있다.
CPU는 CRUM 칩(210)의 메모리에 저장된 O/S를 구동시켜, 화상형성장치의 초기화와 별도로, 소모품 유닛(200) 자체의 초기화를 수행할 수 있다. 또한, CPU는 초기화가 완료되거나 초기화 중에 화상형성장치의 본체와의 사이에서 인증을 수행할 수도 있다. 또한, 인증이 완료되고 나면, 화상형성장치의 본체와의 사이에서 암호화 데이터 통신을 수행할 수도 있다. 이 경우, 화상형성장치 본체로부터 전송되는 각종 코맨드 및 데이터는 임의의 암호화 알고리즘에 따라 암호화되어 전송될 수 있다.
구체적으로는, CPU는 특정한 이벤트, 예를 들어, 소모품 유닛(200)이 탑재된 화상형성장치의 파워가 온된 경우나, 소모품 유닛(200)이 탈착되었다가 화상형성장치의 본체(100)에 다시 장착된 경우 등에는, 메인 컨트롤러(110)의 초기화와 별개로 자체적으로 초기화를 수행할 수 있다. 초기화는, 소모품 유닛(200)에서 이용되는 각종 응용 프로그램 초기 구동, 초기화 이후 메인 컨트롤러(110)와의 데이터 통신에 필요한 비밀 정보 계산, 통신 채널 셋업, 메모리값 초기화, 자체 교환시기 확인, 소모품 유닛(200) 내부 레지스터 값 세팅, 내외부 클럭 신호 세팅 등의 다양한 과정을 포함한다.
여기서, 레지스터 값 세팅이란, 이전에 사용자가 설정하여 둔 각종 기능 상태에 대응되게 소모품 유닛(200)이 동작하도록 소모품 유닛(200) 내부의 기능 레지스터 값들을 세팅하는 작업을 의미한다. 또한, 내외부 클럭 신호 세팅이란 화상형성장치의 메인 컨트롤러(110)로부터 제공되는 외부 클럭 신호의 주파수를 소모품 유닛(200) 내부의 CPU가 사용하는 내부 클럭 신호에 맞도록 조정하여 주는 작업을 의미한다.
그 밖에, 자체 교환 시기 확인이란 이때까지 사용되었던 토너나 잉크의 잔량을 파악하여, 최종 고갈될 시기를 예측하여 메인 컨트롤러(110) 측으로 통지하여 주기 위한 작업이 될 수 있다. 이에 따라, 초기화 과정에서 토너 잔량이 이미 고갈된 상태인 것으로 판단되면, 초기화가 완료된 이후에 소모품 유닛(200)이 메인 컨트롤러(110)로 작업 불능 상태임을 자체적으로 알리도록 구현될 수도 있다. 이외에도, 소모품 유닛(200)이 자체적으로 O/S를 구비하기 때문에, 소모품 유닛(200)의 종류, 특성에 따라 다양한 형태의 초기화가 이루어질 수 있다.
이와 같이, CPU가 내장되고 자체 O/S를 가지고 있는 경우, 화상 형성 장치가 파워 온 되었을 때 메인 컨트롤러(110)가 유닛(200)과의 통신을 요청하기 이전에, 메모리부(210)에 저장된 소모품의 잔량이나 리필 횟수 등을 확인할 수 있다. 이에 따라, 소모품 부족을 알리는 시간이 종래에 비해 매우 빨라질 수 있다. 예를 들어, 토너 부족인 경우 사용자는 파워-온 시킨 후, 바로 토너 절약 모드로 전환하여 화상형성을 수행하도록 조작할 수 있다. 특정 토너만 부족한 경우에도 마찬가지이다.
CPU는 초기화가 진행되어 완료될 때까지는 메인 컨트롤러(110)의 코맨드에 응답하지 않는다. 메인 컨트롤러(110)는 응답이 있을 때까지 주기적으로 코맨드를 전송하면서 응답을 기다린다.
이에 따라, 응답, 즉, Acknowledgement가 수신되면, 메인 컨트롤러(110) 및 CPU 사이에서 인증이 수행된다. 이 경우, CRUM 칩(210)에 설치된 자체 O/S로 인해, CRUM 유닛(210)과 메인 컨트롤러(110) 사이에서 상호 작용을 통한 인증이 가능해진다.
구체적으로는, 메인 컨트롤러(110)는 인증을 위한 데이터 또는 코맨드를 암호화하여 CRUM 칩(210)으로 전송한다. 전송되는 데이터에는 임의의 값 R1이 포함될 수 있다. 여기서 R1은 매 인증시마다 변경되는 랜덤 값일 수도 있고, 임의로 설정된 고정 값일 수도 있다. 데이터를 수신한 CRUM 칩(210)은 임의의 값 R2와 수신된 R1을 이용하여 세션 키를 생성하고, 생성된 세션 키를 이용하여 MAC(Message Authentication Code)을 생성한다. 이에 따라 생성된 MAC과 R2를 포함하는 신호를 메인 컨트롤러(110)로 전송한다. 메인 컨트롤러(110)는 수신된 R2와 R1을 이용하여 세션키를 생성하고, 생성된 세션키를 이용하여 MAC을 생성한 후, 생성된 MAC과 수신된 신호에 포함된 MAC을 비교하여 CRUM 칩(210)을 인증한다. 한편, 다양한 실시 예에 따르면, 이러한 인증 과정에서 전자 서명 정보나 키 정보 등이 송 수신되어 인증에 사용될 수도 있다.
인증에 성공하면, 메인 컨트롤러(110)와 CRUM 칩(210)은 데이터 관리를 위한 암호화 데이터 통신을 수행한다. 즉, 사용자 명령이 입력되거나, 화상형성잡이 개시 또는 완료되는 경우에, 메인 컨트롤러(110)는 데이터 읽기(reading), 쓰기(writing) 등의 작업을 수행하기 위한 코맨드나 데이터 등을 암호화 알고리즘을 이용하여 암호화한 후, CRUM 칩(210)으로 전송한다. CRUM 칩(210)은 수신된 코맨드 또는 데이터 등을 디코딩하여 그 코맨드에 대응되는 데이터 읽기(reading), 쓰기(writing) 등의 작업을 수행할 수 있다. CRUM 칩(210)이나 메인 컨트롤러(110)에서 사용되는 암호화 알고리즘은 표준 암호화 알고리즘일 수 있다. 이러한 암호화 알고리즘은 암호 키가 공개되었거나, 보안을 강화할 필요가 있는 경우에 변경 가능하다. 구체적으로는, RSA 비대칭키 알고리즘, ARIA, TDES, SEED, AES 대칭키 알고리즘 등과 같은 다양한 암호화 알고리즘이 사용될 수 있다.
이와 같이, CRUM 칩(210)과 메인 컨트롤러(110) 사이에서는 인증 및 데이터 교환을 위한 여러 번의 통신이 수행될 수 있다. 매 통신 시에는 메인 컨트롤러(110)로부터 CRUM 칩(210)으로 또는 그 반대 방향으로 신호가 전송된다. 이 경우, 전송되는 신호에는 해당 신호에 포함된 데이터의 무결성을 검사하기 위한 무결성 검사 데이터(error detection data)가 포함된다. 이러한 무결성 검사 데이터는 직전 통신시에 송신 또는 수신된 신호에 포함된 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성된 것이다.
즉, 상술한 바와 같이 메인 컨트롤러(110) 및 CRUM 칩(210) 사이에서는 인증1, 인증 2, 인증 3, ..., 인증 n, 데이터 통신 1, 데이터 통신 2, ... 데이터 통신 m과 같이 복수의 통신이 수행될 수 있다. 매 통신 시에 전송되는 신호에는 무결성 검사 데이터가 포함된다. 이러한 무결성 검사 데이터에는 이전 통신 시에 사용된 무결성 검사 데이터가 누적적으로 반영된다. 구체적으로는, 후술하는 도면 부분에서 설명한다.
신호를 수신한 측에서는 신호에 포함된 무결성 검사 데이터를 이용하여 해당 신호의 무결성을 검사한다. 이에 따라, 해당 신호가 무결성이라고 판단되면, 그 신호에 포함된 데이터 및 무결성 검사 데이터를 임시 저장한다. 그리고 나서, 신호를 송신한 측에 전송할 후속 데이터와, 바로 앞 통신에서 수신하여 임시 저장된 무결성 검사 데이터를 이용하여 새로운 무결성 검사 데이터를 생성한다. 이에 따라, 후속 데이터에 새로운 무결성 검사 데이터를 부가한 신호를 전송한다. 메인 컨트롤러(110) 및 CRUM 칩(210) 사이에서는 이러한 무결성 검사 데이터를 포함하는 통신이 복수 횟수 수행된다. 마지막 통신이 이루어진 경우, 수신된 마지막 신호에 포함된 무결성 검사 데이터를 이용한 최종 검사가 수행된다. 최종 검사 결과, 이상이 없으면, 그 때까지 임시 저장되어 있던 전체 데이터들을 기록한다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 메인 컨트롤러(110) 및 CRUM 칩(210) 간의 통신 과정을 설명하기 위한 타이밍 도이다. 도 2에 따르면, 메인 컨트롤러(110)는 데이터 1 및 무결성 검사 데이터 1을 포함하는 제1 신호(10)를 전송한다. 제1 신호(10)를 수신한 CRUM 칩(210)은 제1 신호(10)에 포함된 무결성 검사 데이터 1과 데이터 2를 이용하여 무결성 검사 데이터 2를 생성한다. 그리고 나서, 데이터 2 및 무결성 검사 데이터 2를 포함하는 제2 신호를 메인 컨트롤러(110)로 전송한다. 이와 같이, 이전 통신 시의 무결성 검사 데이터를 이용하여 생성된 무결성 검사 데이터를 포함하는 신호(30,..., N)들이 복수 횟수 수행된다.
이러한 무결성 검사 데이터로는 전송할 데이터를 논리 연산한 결과값, 데이터에 대해 기 설정된 수학식을 적용하여 생성한 결과값 또는 데이터를 암호화한 암호화 결과값, 즉, MAC 등이 사용될 수 있다.
도 3은 무결성 검사 데이터를 이용한 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 3에 따르면, 메인 컨트롤러(110)로부터 데이터 a, 무결성 검사 데이터 a를 포함하는 신호가 수신되면(S310), CRUM 칩(210)은 무결성 검사 데이터 a를 분리한다(S320).
그리고 나서 나머지 데이터 및 이전 통신 시에 자신이 전송하였던 무결성 검사 데이터를 이용하여 무결성 검사 데이터 a'를 생성한다(S330). 이에 따라 생성된 무결성 검사 데이터 a'와 분리된 무결성 검사 데이터 a를 비교하여(S340), 일치하면 무결성으로 판단한다(S350). 반면 불일치하면 에러 상태로 판단하고 통신을 중단한다(S360). 설명의 편의를 위하여 이하에서는 무결성 검사 데이터 a'를 비교 대상 데이터로 명명한다.
무결성으로 판단된 경우, 전송할 데이터 b와 무결성 검사 데이터 a를 이용하여 무결성 검사 데이터 b를 생성한다(S370). 이에 따라, 데이터 b 및 무결성 검사 데이터 b를 포함하는 신호를 메인 컨트롤러(110)로 전송한다(S380).
도 3에서는 CRUM 칩(210)에서 이루어지는 검사 과정을 설명하였으나, 동일한 과정이 메인 컨트롤러(110)에서도 이루어질 수 있다. 즉, 데이터 b 및 무결성 검사 데이터 b를 포함하는 신호를 수신하면, 메인 컨트롤러(110)는 무결성 검사 데이터 b를 분리하여, 검사를 수행한다. 그 검사 방법은 S330 내지 S370과 동일하므로, 중복 설명 및 도시는 생략한다.
한편, 메인 컨트롤러(110) 및 CRUM 칩(210) 사이에 송수신되는 신호의 구성은 다양하게 설계될 수 있다. 즉, 신호에 포함되는 데이터는 코맨드, 기록 대상 정보, 코맨드에 따른 작업 수행 결과 정보, 이전 수신 신호에 대한 무결성 검사 결과 정보 및 무결성 검사 데이터의 위치를 알리기 위한 인디케이터 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 여기서, 무결성 검사 결과 정보는, 메인 컨트롤러(110) 및 CRUM 칩(210) 사이에서 최초 송신되는 신호에서는 배제될 수 있다.
도 4는 도 2와 상이한 포맷의 신호를 이용하여 무결성을 검사하는 과정을 설명하기 위한 도면이다. 도 4에 따르면, 메인 컨트롤러(110)는 데이터 및 무결성 검사 데이터 1을 포함하는 신호를 전송한다(S410). 여기서 데이터에는 읽기 명령 데이터 1(Read Command(CMD) data 1)과 인디케이터 U1이 포함된다. 읽기 명령 데이터 1에는 코맨드 뿐만 아니라 리드 대상(read target) 또는 메모리 주소 등이 포함된다. U1은 읽기 명령 데이터 1에 이어지는 인디케이터 정보를 의미한다. 인디케이터 정보 U1은 신호 내에서 무결성 검사 데이터의 파싱(parsing) 위치를 알려주기 위한 심볼을 의미한다. 인디케이터 정보는 고정된 개수의 바이트로 표시될 수 있다. 일 예로 5 바이트가 인디케이터 정보를 위해 사용될 수 있다. 반면, 읽기 명령 데이터 1의 크기는 데이터의 내용에 따라 가변적이고, 이에 따라, 무결성 검사 데이터 1의 크기 역시 가변적이다.
CRUM 칩(210)은 신호가 수신되면, 신호에 포함된 무결성 검사 데이터 1을 이용하여 무결성 검사를 수행한다(S415). 그리고 나서, 전송할 데이터와 무결성 검사 데이터 1을 이용하여 무결성 검사 데이터 2를 생성한 후, 이들을 포함하는 신호를 전송한다(S420). 도 4에 도시된 바와 같이, 전송되는 신호에는 읽기 명령 데이터 1에 따라 소모품 유닛(100) 내에 마련된 메모리로부터 읽은 데이터인 리드 데이터(Read data) 1과, 읽기 명령 데이터 1에 따라 수행된 작업의 수행 결과를 의미하는 결과 데이터(Result data) 2, 인디케이터 U2, 무결성 검사 데이터 2가 포함된다.
메인 컨트롤러(110)는 수신된 신호로부터 무결성 검사 데이터 2를 분리하여 무결성 검사를 수행한다(S425). 그리고, 후속 읽기 명령 데이터 3이 존재하는 경우, 읽기 명령 데이터 3과 무결성 검사 데이터 2를 이용하여 무결성 검사 데이터 3을 생성한 후, 읽기 명령 데이터 3, 인디케이터 U3, 무결성 검사 데이터 3을 포함하는 신호를 CRUM 칩(210)으로 전송한다(S430). 이 후에는, 도 4에 도시된 바와 같이 복수의 무결성 검사 데이터 4, 5, 6, T1, T2를 이용한 통신이 수행되고(S440, S450, S460, S470, S485), 그에 따른 무결성 검사가 수행된다(S435, S445, S455, S465). 한편, CRUM 칩(210)에서 마지막 통신 신호를 수신하는 경우(S470), CRUM 칩(210)은 마지막 통신 신호에 포함된 무결성 검사 데이터 T1을 이용하여 전체 통신 과정에서 송수신되어 임시 저장되어 있던 데이터들의 무결성을 최종 검사한다(S475). 최종 검사 결과 무결성이라고 판단되면 임시 저장되어 있던 데이터를 비휘발성 메모리(미도시)에 저장한다(S480). 마찬가지로 메인 컨트롤러(110) 역시 CRUM 칩(210)으로부터 마지막 통신 신호가 전송되면(S485), 마지막 통신 신호에 포함된 무결성 검사 데이터 T2를 이용하여 전체 무결성 검사를 수행한다(S490). 이에 따라, 무결성이라고 판단되면 임시 저장되어 있던 데이터들을 비휘발성 메모리에 저장한다(S495).
한편, 이러한 통신 과정에서 사용되는 무결성 검사 데이터들은 이전 통신에서 사용된 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성된다.
일 예로, 무결성 검사 데이터는 다음과 같이 처리될 수 있다.
무결성 검사 데이터 1 = E(Read CMD Data 1 ｜U1)
무결성 검사 데이터 2 = E(Read CMD Data 2 ｜Result Data 2 ｜U2｜무결성 검사 데이터 1)
무결성 검사 데이터 3 = E(Read CMD Data 3 ｜U3｜무결성 검사 데이터 2)
무결성 검사 데이터 4 = E(Read CMD Data 4 ｜Result Data 4 ｜U4｜무결성 검사 데이터 3)
무결성 검사 데이터 5 = E(Write CMD Data 5 ｜U5｜무결성 검사 데이터 4)
무결성 검사 데이터 6 = E(Result Data 6 ｜U6｜무결성 검사 데이터 5)
무결성 검사 데이터 T1 = E(Write CMD Data L1 ｜U-T1｜무결성 검사 데이터 T1-1)
무결성 검사 데이터 T2 = E(Result Data L2 ｜U-T2｜무결성 검사 데이터 T1)
상술한 수식들에서 E()란 기 설정된 수식을 적용하여 결과값을 구하는 함수를 의미한다. 이와 같이 무결성 검사 데이터는 이전 무결성 검사 데이터와 전송할 데이터 전체에 대하여 합산, XOR(eXclusive OR)등과 같은 다양한 논리 연산을 적용하거나, 기타 메인 컨트롤러(110) 및 CRUM 칩(210) 간에 공지된 수식에 데이터를 대입시켜 산출한 결과값, 상술한 다양한 암호화 알고리즘을 적용하여 암호화한 결과값 등으로 생성될 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따라 본체(100) 내에 복수 개의 소모품 유닛(200-1, 200-2, ..., 200-n)이 장착된 화상형성장치의 구성을 나타낸다.
도 5에 따르면 화상형성장치는 메인 컨트롤러(110), 사용자 인터페이스부(120), 인터페이스부(130), 메모리부(140), 복수 개의 소모품 유닛(200-1, 200-2, ..., 200-n)을 포함한다.
사용자 인터페이스부(120)는 사용자로부터 각종 명령을 입력받거나, 각종 정보를 디스플레이하여 알려주는 역할을 수행한다. 사용자 인터페이스부(120)는 LCD 또는 LED 디스플레이, 적어도 하나의 버튼, 스피커 등을 포함할 수 있으며, 경우에 따라서는 터치 스크린을 포함할 수도 있다.
인터페이스부(130)는 호스트 PC나 다양한 외부 장치들과 유선 또는 무선으로 연결되어 통신을 수행하는 구성을 의미한다. 인터페이스부(130)는 로컬 인터페이스, USB(Universal Serial BUS) 인터페이스, 무선 네트워크 인터페이스 등과 같이 다양한 종류의 인터페이스를 포함할 수 있다.
메모리부(140)는 화상형성장치의 구동에 필요한 각종 프로그램이나, 데이터 등을 저장하는 역할을 한다.
메인 컨트롤러(110)는 화상형성장치의 전반적인 동작을 제어하는 역할을 한다. 구체적으로는, 메인 컨트롤러(110)는 인터페이스부(130)를 통해 수신되는 데이터를 처리하여, 화상 형성이 가능한 포맷으로 변환한다.
그리고 나서, 메인 컨트롤러(110)는 복수의 소모품 유닛(200-1, 200-2, ..., 200-n)을 이용하여 변환된 데이터에 대한 화상 형성 잡을 수행한다. 여기서 소모품 유닛은 화상형성장치의 종류에 따라 다양하게 마련될 수 있다. 상술한 바와 같이 레이저 프린터의 경우, 대전유닛, 노광 유닛, 현상 유닛, 전사유닛, 정착유닛, 각종 롤러, 벨트, OPC 드럼 등이 소모품 유닛이 될 수 있다.
한편, 각 소모품 유닛(200-1, 200-2, ..., 200-n)에는 제1 CRUM 칩 내지 제n CRUM 칩(210-1, 210-2, ..., 210-n)이 각각 포함된다.
각 CRUM 칩에는 메모리 및 CPU 등이 포함될 수 있다. 또는, 실시 예에 따라서는, 크립토 유닛(Crypto module), 템퍼 검출기(temper detector), 인터페이스부, 클럭신호를 출력하는 클럭부(미도시)나, 인증을 위한 랜덤값을 생성하는 랜덤값 생성부(미도시) 중 적어도 하나가 더 포함될 수도 있다.
크립토 유닛(미도시)은 암호화 알고리즘을 지원하여, CPU(미도시)가 메인 컨트롤러(110)와의 사이에서 인증이나, 암호화된 통신을 수행할 수 있도록 한다. 구체적으로는, 크립토 유닛은 ARIA, TDES, SEED, AES 대칭키 알고리즘과 같은 4개의 암호화 알고리즘 중 설정된 알고리즘을 지원할 수 있다. 이 경우, 메인 컨트롤러(110) 측에서도 4개의 암호화 알고리즘 중 대응되는 알고리즘을 지원할 수 있다. 이에 따라, 메인 컨트롤러(110)는 소모품 유닛(200)에서 사용되는 암호화 알고리즘이 어떠한 것인지 파악하여 그 암호화 알고리즘으로 인증을 진행한 후, 암호화 통신을 수행할 수 있다. 결과적으로, 소모품 유닛(200)에 어떠한 암호화 알고리즘을 적용한 키(KEY)가 발급되더라도 화상형성장치의 본체(100)에 용이하게 장착되어 암호화 통신을 수행할 수 있게 된다.
템퍼 검출기(미도시)는 다양한 물리적인 해킹 시도, 즉, 템퍼링을 방어하기 위한 유닛이다. 구체적으로는, 전압, 온도, 압력, 빛, 주파수 등의 동작 환경에 대하여 모니터링을 하여, Decap과 같은 시도가 있을 경우, 데이터를 지워버리거나 물리적으로 차단한다. 이 경우, 템퍼 검출기는 별도의 전원을 구비할 수도 있다.
한편, CRUM 칩(210) 내부에 마련된 메모리는 O/S 메모리, 비휘발성 메모리, 휘발성 메모리 등을 포함할 수 있다. O/S 메모리(미도시)는 소모품 유닛(200)을 구동시키기 위한 O/S를 저장한다. 비휘발성 메모리(미도시)에는 각종 데이터들이 비휘발적으로 저장된다. 비휘발성 메모리에는 전자 서명 정보나, 각종 암호화 알고리즘 정보, 소모품 유닛(200)의 상태 정보(예를 들어, 토너 잔량 정보, 교체 시기 정보, 잔여 인쇄 매수 정보 등), 고유 정보(예를 들어, 제조사 정보, 제조일시 정보, 일련 번호, 제품 모델 명 등), A/S 정보 등의 다양한 정보가 저장될 수 있다. 특히, 메인 컨트롤러(110)와의 통신 과정에서 수신되는 데이터가 비휘발성 메모리에 저장될 수 있다.
휘발성 메모리(미도시)는 동작에 필요한 임시 저장 공간으로 사용될 수 있다. 휘발성 메모리에는 매 통신 시마다 무결성으로 판단된 데이터 및 그 판단에 사용된 무결성 검사 데이터들이 임시로 저장될 수 있다.
인터페이스부(미도시)는 CPU와 메인 컨트롤러(110)를 연결시키는 역할을 한다. 구체적으로는, 시리얼 인터페이스나 무선 인터페이스로 구현될 수 있다. 특히, 시리얼 인터페이스는 패러랠 인터페이스에 비하여 적은 수의 신호를 이용하기 때문에 비용 절감의 효과가 있으며, 특히 프린터와 같은 노이즈가 많은 동작 환경에 적합하다.
이상과 같이 각 소모품 유닛들에는 CRUM 칩이 마련될 수 있다. 각 CRUM 칩은 메인 컨트롤러 및 타 CRUM 칩과 통신을 수행할 수 있다. 통신 시에는 이전 통신 시에 사용된 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성된 새로운 무결성 검사 데이터가 전송된다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 화상형성장치의 세부 구성 예를 나타내는 블럭도이다. 도 6에 따르면, 화상형성장치는 메인 컨트롤러(110) 및 인터페이스부(130)를 포함하며, 메인 컨트롤러(110)는 데이터 처리부(111), 생성부(112), 검사부(113), 제어부(114)를 포함한다.
데이터 처리부(111)는 화상형성장치에 장착 가능한 소모품유닛에 탑재된 CRUM칩으로 전송할 데이터를 생성한다. 여기서, 데이터란 코맨드 및 그 코맨드에 의해 처리될 정보 중 적어도 하나를 포함한다. 즉, 리드 코맨드인 경우에는 리드할 메모리 주소 또는 리드 대상에 대한 정보가 함께 전송될 수 있다. 또한, 쓰기 코맨드일 경우에는 기록할 정보가 함께 전송될 수 있다. 데이터 처리부(111)는 데이터를 그대로 또는 암호화하여 출력할 수 있다. 그 밖에, 인증을 위한 코맨드 등과 같은 다양한 코맨드 들과 그 코맨드와 관련된 정보들이 데이터 처리부(111)에서 생성될 수 있다. 이러한 코맨드 및 정보들은 화상형성잡의 수행 전이나 수행 중 또는 수행 후에 걸쳐서 수시로 생성될 수 있다. 예를 들어, 화상형성장치가 턴-온되거나 소모품 유닛(200)이 탈착되었다가 다시 장착되었을 때, 또는 화상형성잡에 대한 개시 명령이 입력되었을 때, 메인 컨트롤러(110)는 소모품 유닛(200)에 대한 인증을 위하여 인증 코맨드 또는 리드 코맨드를 전송할 수 있다. 이에 따라, 소모품 유닛(200) 내에서 자체적으로 관리되고 있는 다양한 정보들을 확인하여 인증을 하거나, 화상형성장치(100) 본체의 메모리부(140)에 저장할 수 있다.
또한, 화상 형성 잡 수행 중 또는 수행 완료 후에는, 데이터 처리부(111)는 화상형성잡에서 소모된 소모품, 즉, 잉크나 토너에 대한 정보나 인쇄 페이지 수, 인쇄 도트 수, 인쇄를 수행한 사용자의 이력 정보 등을 소모품 유닛(200)에 기록하기 위하여 쓰기 코맨드 및 해당 정보를 생성할 수 있다.
생성부(112)는 데이터 처리부(111)에서 출력되는 데이터를 이용하여 무결성 검사 데이터를 생성한다. 구체적으로는, 데이터 처리부(111)에서 출력되는 데이터를 단순 합하거나, XOR과 같은 논리 연산을 수행하거나, 기 설정된 수학식에 대입하거나, 암호화 알고리즘을 이용하여 암호화하여, 그 결과값을 무결성 검사 데이터로 출력할 수 있다. 이 경우, 이전 통신 시에 사용된 무결성 검사 데이터가 존재하면, 그 기존의 무결성 검사 데이터까지 함께 누적 반영하여 무결성 검사 데이터를 생성한다.
생성부(112)에서 생성한 무결성 검사 데이터는 데이터 처리부(111)에서 생성한 데이터에 부가되어 인터페이스부(130)로 전송된다. 도 6에서는 데이터 처리부(111)의 출력이 생성부(112)로만 제공되는 것처럼 도시되었으나, 데이터 처리부(111)의 출력은 인터페이스부(130)로 직접 제공되거나, 멀티플렉서(미도시)에 제공될 수 있다. 멀티플렉서가 마련된 경우, 생성부(112)의 출력 역시 멀티플렉서로 제공되어, 데이터 및 무결성 검사 데이터가 함께 포함된 신호 형태로 인터페이스부(130)로 전달될 수 있다.
인터페이스부(130)는 데이터 및 제1 무결성 검사 데이터를 포함하는 신호를 CRUM칩(210)으로 전송한다.
또한, 인터페이스부(130)는 CRUM 칩(210)으로부터 응답 신호를 수신할 수 있다. 설명의 편의를 위하여 인터페이스부(130)에서 전송한 신호를 제1 신호라 명명하고, CRUM 칩으로부터 수신되는 신호를 제2 신호라 명명한다. 제2 신호에 포함된 제2 무결성 검사 데이터는 제1 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성된 데이터이다.
검사부(113)는 인터페이스부(130)를 통해 수신된 제2 신호에 포함된 제2 무결성 검사 데이터를 분리하여, 제2 신호에 포함된 데이터의 무결성을 검사한다. 구체적으로는, 검사부(113)는 제2 무결성 검사 데이터가 분리된 나머지 데이터 및 메인 컨트롤러(110)가 이전에 전송하였던 무결성 검사 데이터에 대해, CRUM칩(210)과의 사이에서 기지인(known) 방식을 적용하여, 무결성 검사 데이터를 생성한다.
이에 따라 생성된 무결성 검사 데이터와, 제2 신호로부터 분리된 제2 무결성 검사 데이터를 비교하여 일치 여부를 확인한다. 확인 결과 일치하면 검사부(113)는 해당 데이터는 무결성이라고 판단하고, 불일치하면 해당 데이터는 에러 상태라고 판단한다.
제어부(114)는 검사부(114)의 검사 결과에 따라 후속 통신을 수행한다. 즉, 제2 신호가 에러 상태의 데이터를 포함한다고 판단되면 후속 통신을 중단하거나, 재시도를 할 수 있다. 반면, 제2 신호가 정상 상태, 즉, 무결성 상태라고 판단되면 후속 통신을 수행한다.
실시 예에 따라, 제어부(114)는 무결성 상태라고 판단되면, 해당 데이터를 바로 메모리부(140)에 저장할 수 있다.
다른 실시 예에 따르면, 매 통신 시에는 획득되는 데이터 및 무결성 검사 데이터를 임시 저장시켜 두고, 최종 통신이 완료되면 임시 저장된 데이터를 메모리부(140)에 기록하여 둘 수도 있다.
도 7은 이러한 실시 예에 따른 화상형성장치의 구성을 나타낸다. 도 7에 따르면, 데이터 처리부(111), 생성부(112), 검사부(113), 제어부(114)를 포함하는 메인 컨트롤러(110), 인터페이스부(130) 이외에 메모리부(140)를 더 포함한다. 메모리부(140)에는 임시 저장부(141) 및 저장부(142)가 포함된다.
이에 따라, 임시 저장부(141)에는 무결성으로 판단된 데이터 및 무결성 검사 데이터가 임시 저장될 수 있다. 임시 저장된 무결성 검사 데이터는 후속 통신 과정에서 데이터의 무결성 검사 시에 사용될 수 있다.
즉, 상술한 바와 같이 제1 무결성 검사 데이터를 포함한 제1 신호가 CRUM 칩(210)으로 전송된 이후에 제1 신호에 대한 제2 신호가 전송된 경우, 검사부(113)는 제2 신호로부터 제2 무결성 검사 데이터를 분리하고, 나머지 데이터와 임시 저장부(141)에 저장된 무결성 검사 데이터를 이용하여, 새로운 무결성 검사 데이터, 즉, 비교 대상 데이터를 생성한다. 그리고 나서, 검사부(113)는 생성된 새로운 무결성 검사 데이터와 임시 저장부(141)에 제2 무결성 검사 데이터를 비교하여 제2 신호 또는 제2 신호에 포함된 데이터의 무결성을 판단할 수 있다.
한편, 생성부(112)는, 제2 신호가 무결성인 상태에서 CRUM 칩(210)으로 전송할 후속 데이터가 존재하면, 후속 데이터 및 제2 무결성 검사 데이터를 기초로 제3 무결성 검사 데이터를 생성한다. 이에 따라, 인터페이스부(130)는 제3 무결성 검사 데이터 및 후속 데이터를 포함하는 제3 신호를 CRUM 칩(210)으로 전송한다. 즉, 도 2 내지 도 4에서 설명한 바와 같이 메인 컨트롤러(110)와 CRUM 칩(210)은 여러 번의 통신을 수행한다.
한편, 검사부(113)는, 하나의 화상 형성 잡이 완료되면, 화상 형성 잡 수행 과정에서 마지막으로 수신된 신호에 포함된 최종 무결성 검사 데이터를 이용하여, 화상 형성 잡 수행 과정에서 수신하였던 전체 신호의 무결성을 최종 검사할 수 있다. 즉, 상술한 바와 같이 매 통신 시에 송수신되는 무결성 검사 데이터는 이전 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성되는 것이므로 최종 무결성 검사 데이터에는 최초 무결성 검사 데이터부터 바로 이전 무결성 검사 데이터까지 모두 포함되어 있는 상태이다. 따라서, 이러한 최종 무결성 검사 데이터를 이용하여 데이터가 무결성이라고 판단되면, 전체 통신 내용에 대하여 신뢰성이 있다고 판단하여 임시 저장되어 있던 전체 데이터들을 메모리부(140) 내의 저장부(142)에 저장한다.
한편, 메인 컨트롤러(110)와 CRUM 칩(210)은 최초 통신 시에는 최초 통신임을 알리는 표시를 신호에 포함시켜 전송하고, 최종 통신 시에는 최종 통신임을 알리는 표시를 신호에 포함시켜 전송한다. 이에 따라, 메인 컨트롤러(110)와 CRUM 칩(210)은 상대로부터 수신된 신호에 최종 통신 표시가 확인되면, 상술한 최종 검사를 수행하여 데이터들을 저장부(142)에 저장한다.
이러한 최종 검사는 하나의 화상형성잡이 완료되었을 때에 수행될 수도 있으며, 실시 예에 따라서는 기 설정된 시간 주기 단위로 수행될 수도 있다. 또한, 데이터 저장을 위한 사용자 명령이 입력되었을 경우나, 화상형성장치에 대한 턴-오프 명령이 입력되었을 경우 등에도 수행될 수 있다.
또한, 도 6 및 도 7에서는 데이터 처리부(111), 생성부(112), 검사부(113), 제어부(114)가 메인 컨트롤러(110)에 포함되는 구성으로 도시하였으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 데이터 처리부(111), 생성부(112), 검사부(113), 제어부(114) 중 적어도 하나는 메인 컨트롤러(110)와 별도로 마련될 수도 있다. 이 경우, 도 1 내지 도 4에서 설명한 바와 달리, 메인 컨트롤러(110)는 원 기능만을 수행하고 CRUM 칩(210)과의 통신은 데이터 처리부(111), 생성부(112), 검사부(113), 제어부(114) 등에 의해 수행될 수도 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 CRUM 칩(210)의 구성을 나타내는 블럭도이다. 도 8에 따르면, CRUM 칩(210)은 인터페이스부(211), 검사부(212), 생성부(213), 데이터 처리부(214), 제어부(215), 임시 저장부(216), 저장부(217)를 포함한다.
인터페이스부(211)는 화상형성장치의 본체, 특히, 그 본체에 장착된 메인 컨트롤러(110)로부터 제1 데이터 및 제1 데이터에 대한 제1 무결성 검사 데이터를 포함하는 제1 신호를 수신한다.
검사부(212)는 제1 신호로부터 제1 무결성 검사 데이터를 분리하여, 제1 신호의 무결성을 검사한다. 검사부(212)의 검사 방법은 상술한 부분에서 설명한 바 있으므로, 중복 설명은 생략한다.
임시 저장부(216)는 제1 신호가 무결성이라고 판단되면, 제1 데이터 및 제1 무결성 검사 데이터를 임시 저장한다.
데이터 처리부(214)는 화상형성장치의 본체로 전송하여야 하는 제2 데이터가 존재하는 경우, 제2 데이터를 생성한다.
생성부(213)는 생성된 제2 데이터와 제1 무결성 검사 데이터를 이용하여, 제2 무결성 검사 데이터를 생성한다.
제어부(215)는 제2 데이터와 제2 무결성 검사 데이터를 포함하는 제2 신호를 화상형성장치의 본체로 전송하도록 인터페이스부를 제어한다. 그 밖에, 제어부(215)는 CRUM 칩(215) 전반의 동작을 제어한다. 즉, 상술한 바와 같이 CRUM 칩이 자체적으로 O/S를 구비하고 있는 경우, 제어부(215)는 O/S를 이용하여 CRUM 칩을 구동시킬 수 있다. 특히, 초기화 프로그램이 저장되어 있다면, 초기화도 화상형성장치의 본체와 별개로 수행할 수도 있다.
또한, 제어부(215)는 화상형성장치의 본체로부터 수신되는 각종 코맨드에 대응되는 작업을 수행한다. 즉, 읽기 코맨드가 수신된 경우에는, 그 코맨드에 따라 저장부(217)에 저장된 데이터를 리딩하여 인터페이스부(211)를 통해 화상형성장치로 전송한다. 이러한 과정에서 무결성 검사 데이터가 부가될 수 있다.
한편, 검사부(212)는, 제2 무결성 검사 데이터가 누적적으로 반영되어 생성된 제3 무결성 검사 데이터를 포함하는 제3 신호가 인터페이스부(211)를 통해 수신되면 제3 신호에 대한 무결성 검사를 수행한다.
그리고, 화상 형성 잡이 완료되면, 화상 형성 잡 수행 과정에서 마지막으로 수신된 신호에 포함된 최종 무결성 검사 데이터를 이용하여, 화상 형성 잡 수행 과정에서 수신하였던 전체 신호의 무결성을 최종 검사한다.
검사 결과 통신이 무결성 상태로 완료되었다면, 임시 저장부(216)에 임시 저장되어 있던 데이터들은 저장부(217)로 저장된다.
즉, 제어부(215)는 통신이 최종 종료되면, 마지막 무결성 검사 데이터를 이용하여 최종 검사를 수행하도록 검사부(212)를 제어한다. 이에 따라, 검사부(212)의 최종 검사 결과, 무결성이라고 판단되면, 제어부(215)는 임시 저장부(216)에 임시 저장되어 있던 데이터를 저장부(217)에 저장한다.
도 8의 CRUM 칩(210)의 동작 역시 도 7의 화상형성장치의 동작과 유사하다. 즉, 화상형성장치의 메인 컨트롤러(110) 및 소모품 유닛(200)의 CRUM 칩(210)은 도 1 내지 도 4에서 설명한 바와 같이, 서로 대응되는 동작을 수행한다. 따라서, 양측에는 무결성 검사 데이터를 생성하고, 이를 이용하여 검사하는 알고리즘이 공통적으로 마련되어 있어야 한다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 통신 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 9에서 설명하는 통신 방법은, 화상형성장치의 본체에 마련된 메인 컨트롤러(110)에서 수행될 수도 있고, 소모품 유닛(200)에 마련된 CRUM 칩(210)에서 수행될 수도 있다.
도 9에 따르면, 전송할 데이터가 생성되면(S910), 이를 이용하여 무결성 검사 데이터를 생성한다(S920). 무결성 검사 데이터의 생성에 대해서는 상술한 바와 같으므로 구체적인 설명은 생략한다.
그리고 나서, 생성된 무결성 검사 데이터와 데이터를 포함하는 신호를 전송한다(S930).
이에 따라 상대측으로부터, 전송된 신호에 대응되는 응답 신호를 수신한다(S940). 응답 신호에는 S930에서 전송한 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성된 새로운 무결성 검사 데이터가 포함된다.
이에 따라, 응답 신호에 포함된 무결성 검사 데이터를 이용하여, 무결성 검사를 수행한다(S950).
이와 같이, 본 발명의 간단한 적용에 따르면, 이전 무결성 검사 데이터를 누적적으로 사용하여, 매 통신의 무결성을 판단할 수 있다.
도 10은 좀 더 구체적인 실시 예에 따른 통신 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 10에 따르면, 전송할 데이터가 생성된 경우(S1010), 그 데이터에 기초하여 무결성 검사 데이터를 생성한다(S1020). 그리고 나서, 데이터 및 무결성 검사 데이터를 포함하는 신호를 전송하고(S1030), 그 신호에 대한 응답 신호를 수신한다(S1040). 이에 따라, 응답 신호로부터 무결성 검사 데이터를 분리한다(S1050).
그리고 나서, 무결성 검사 데이터가 분리된 나머지 데이터와, 기존 무결성 검사 데이터를 이용하여 무결성 여부를 판단한다(S1060).
판단 결과 무결성이라면 임시 저장하고(S1070), 에러 상태라면 통신을 중단하거나(S1100) 재시도를 수행한다.
한편, 임시 저장된 상태에서 후속 데이터가 존재하면(S1080), 다시 상술한 단계를 반복적으로 수행한다. 반면, 후속 데이터가 존재하지 않으면 최종 수신된 신호의 무결성 검사 결과에 따라, 임시 저장된 데이터를 저장한다(S1090).
이상과 같은 여러 실시 예들에서 무결성 검사 데이터는, 데이터 통신을 최초 개시할 때 화상형성장치의 메인 컨트롤러에서 전송하는 무결성 검사 데이터를 제외하면, 이전 통신 시의 무결성 검사 데이터가 누적 반영되어 생성된다. 결과적으로 최종 통신 시의 무결성 검사 데이터에는 전체 통신 과정에서 사용된 무결성 검사 데이터가 모두 포함된다. 따라서, 정확한 데이터를 기록할 수 있다.
결과적으로 통신 시에 발생하는 노이즈나 접점 불량, 해킹 등과 같은 외부적 요인으로부터 메인 컨트롤러와 CRUM 칩의 정보를 안전하게 보호할 수 있게 된다.
한편, 상술한 여러 실시 예들에서는 화상형성장치와 그 장치에서 사용되는 소모품 유닛에 탑재되는 CRUM 칩을 기준으로 설명하였으나, 상술한 통신 방법은 다른 유형의 장치에도 적용될 수 있다. 가령, 화상형성장치가 아니라 CRUM 칩과의 통신을 위하여 제작된 장치와 CRUM 칩 간의 통신의 경우, 일반 전자 장치와 그 장치에 사용되는 부품에 탑재된 메모리 간의 통신의 경우, 부품들 간의 통신의 경우 등에도 본 발명의 내용이 적용될 수 있음은 자명하다.
상술한 본 발명의 다양한 실시 예들에 따른 통신 방법을 수행하기 위한 프로그램은 다양한 유형의 기록 매체에 저장되어 사용될 수 있다.
구체적으로는, 상술한 방법들을 수행하기 위한 코드는, RAM(Random Access Memory), 플레시메모리, ROM(Read Only Memory), EPROM(Erasable Programmable ROM), EEPROM(Electronically Erasable and Programmable ROM), 레지스터, 하드디스크, 리무버블 디스크, 메모리 카드, USB 메모리, CD-ROM 등과 같이, 단말기에서 판독 가능한 다양한 유형의 기록 매체에 저장되어 있을 수 있다.
또한, 이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.
100 : 본체 110 : 메인 컨트롤러
200 : 소모품 유닛 210 : CRUM 칩

Claims (31)

  1. 　화상형성장치와 통신 가능한 CRUM 칩에 있어서,
    상기 화상형성장치의 메인 컨트롤러로부터 제1 데이터 및 상기 제1 데이터에 대한 제1 무결성 검사 데이터를 수신하는 인터페이스부; 및
    상기 메인 컨트롤러로 전송할 제2 데이터 및 상기 제1 무결성 검사 데이터를 이용하여 제2 무결성 검사 데이터를 생성하고, 상기 제2 데이터와 상기 제2 무결성 검사 데이터를 상기 메인 컨트롤러로 전송하는 제어부;를 포함하는 CRUM 칩.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 무결성 검사 데이터를 이용하여 상기 제1 데이터의 무결성을 검사하고, 상기 제1 데이터의 무결성이 확인되면 상기 제2 데이터와 상기 제2 무결성 검사 데이터를 전송하도록 상기 인터페이스부를 제어하는 CRUM 칩.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 무결성 검사 데이터 및 상기 제2 무결성 검사 데이터를 저장하기 위한 저장부;를 더 포함하는 CRUM 칩.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 메인 컨트롤러로부터 제3 데이터 및 제3 데이터에 대한 제3 무결성 검사 데이터가 수신되면, 상기 메인 컨트롤러로 전송할 제4 데이터 및 상기 제1 내지 제3 무결성 검사 데이터를 이용하여 제4 무결성 검사 데이터를 생성하고, 상기 제4 데이터 및 상기 제4 무결성 검사 데이터를 상기 메인 컨트롤러로 전송하는 CRUM 칩.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제3 무결성 검사 데이터와 상기 제1 내지 제2 무결성 검사 데이터를 이용하여 상기 제3 데이터의 무결성을 검사하는 CRUM 칩.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 데이터 및 상기 제2 데이터를 이용하여 세션 키를 생성하고,
    세션 키 생성이 완료되면, 상기 메인 컨트롤러 및 상기 CRUM 칩 각각에 저장된 제1 테이블을 일치시키기 위한 인증 과정, 상기 메인 컨트롤러 및 상기 CRUM 칩 각각에 저장된 제2 테이블을 일치시키기 위한 인증 과정, 상기 제1 및 제2 테이블 중 적어도 하나에 기초하여 상기 화상형성장치 및 상기 CRUM 칩 사이의 상호 적합성을 판단하기 위한 인증 과정 중 적어도 하나를 수행하는 CRUM 칩.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제2 데이터는,
    랜덤 데이터, 칩 시리얼 넘버, 비대칭 키 알고리즘에 사용되는 키 관련 정보, 상기 CRUM 칩의 내부 정보, 및 상기 CRUM 칩에서 수행된 작업의 수행 결과를 의미하는 결과 데이터 중 적어도 하나를 포함하는 CRUM 칩.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 데이터는 제1 랜덤 값이고,
    상기 제2 데이터는, 제2 랜덤 값과 '상기 제1 랜덤 값 및 상기 제2 랜덤 값에 기초하여 생성된 MAC(Message Authentication code)'를 포함하는 CRUM 칩
  9. CRUM 칩의 통신 방법에 있어서,
    화상형성장치의 메인 컨트롤러로부터 제1 데이터 및 상기 제1 데이터에 대한 제1 무결성 검사 데이터를 수신하는 단계;
    상기 메인 컨트롤러로 전송할 제2 데이터 및 상기 제1 무결성 검사 데이터를 이용하여 제2 무결성 검사 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 제2 데이터와 상기 제2 무결성 검사 데이터를 상기 메인 컨트롤러로 전송하는 단계;를 포함하는 통신 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1 무결성 검사 데이터를 이용하여, 상기 제1 데이터의 무결성을 검사하는 단계;를 더 포함하는 통신 방법.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 무결성 검사 데이터를 저장하는 단계;를 더 포함하는 통신 방법.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 메인 컨트롤러로부터, 제3 데이터 및 상기 제3 데이터에 대한 제3 무결성 검사 데이터를 수신하는 단계;
    상기 메인 컨트롤러로 전송할 제4 데이터 및 상기 제1 내지 제3 무결성 검사 데이터를 이용하여 제4 무결성 검사 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 제4 데이터 및 상기 제4 무결성 검사 데이터를 상기 메인 컨트롤러로 전송하는 단계;를 더 포함하는 통신 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 제3 무결성 검사 데이터와 상기 제1 내지 제2 무결성 검사 데이터를 이용하여 상기 제3 데이터의 무결성을 검사하는 단계;를 더 포함하는 통신 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 제1 데이터 및 상기 제2 데이터를 이용하여 세션 키를 생성하는 단계; 및
    세션 키 생성이 완료되면, 상기 메인 컨트롤러 및 상기 CRUM 칩 각각에 저장된 제1 테이블을 일치시키기 위한 인증 과정, 상기 메인 컨트롤러 및 상기 CRUM 칩 각각에 저장된 제2 테이블을 일치시키기 위한 인증 과정, 상기 제1 및 제2 테이블 중 적어도 하나에 기초하여 상기 화상형성장치 및 상기 CRUM 칩 사이의 상호 적합성을 판단하기 위한 인증 과정을 순차적으로 수행하는 단계;를 더 포함하는 통신 방법.
  15. 화상형성장치에 장착 가능한 소모품 유닛에 있어서,
    화상형성장치의 메인 컨트롤러와 연결되는 접전부; 및
    상기 접전부를 통하여 상기 컨트롤러와 통신하는 CRUM 칩;을 포함하며,
    상기 CRUM 칩은,
    상기 메인 컨트롤러로부터 제1 데이터 및 상기 제1 데이터에 대한 제1 무결성 검사 데이터를 수신하고,
    상기 메인 컨트롤러로 전송할 제2 데이터 및 상기 제1 무결성 검사 데이터를 이용하여 제2 무결성 검사 데이터를 생성하고, 상기 제2 데이터와 상기 제2 무결성 검사 데이터를 상기 메인 컨트롤러로 전송하는 소모품 유닛.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 소모품 유닛은, 대전 유닛, 노광 유닛, 현상 카트리지, 토너 카트리지, 전사 유닛, 정착 유닛 중 적어도 하나인 소모품 유닛.
  17. 제15항에 있어서,
    상기 접전부는,
    데이터 라인인 SDA 단자를 포함하고,
    상기 CRUM 칩은
    상기 SDA 단자를 통하여 상기 제1 데이터, 상기 제1 무결성 검사 데이터를 수신하는 소모품 유닛.
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