KR20150044235A - 발광모듈 테스트 장치 - Google Patents

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KR20150044235A KR20130123371A KR20130123371A KR20150044235A KR 20150044235 A KR20150044235 A KR 20150044235A KR 20130123371 A KR20130123371 A KR 20130123371A KR 20130123371 A KR20130123371 A KR 20130123371A KR 20150044235 A KR20150044235 A KR 20150044235A
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Abstract

본 발명의 일 측면은, 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광을 감지하는 포토 다이오드 어레이를 포함하는 센싱부 및 상기 센싱부에서 감지된 광의 휘도정보를 생성하며, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하여 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈의 동작조건을 설정하는 제어부를 포함하는 발광모듈 테스트 장치를 제공한다. 본 발명의 일 실시형태에 따르면, 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광의 휘도를 감지하고, 상기 발광모듈이 적절한 휘도를 갖도록 상기 발광모듈의 동작조건을 설정하는 발광모듈 테스트 장치를 얻을 수 있다.

Description

발광모듈 테스트 장치 {LIGHT EMITTING MODULE TEST APPARATUS}
본 발명은 발광모듈 테스트 장치에 관한 것이다.
반도체 발광소자는 전류가 가해지면 전자와 정공의 재결합 원리를 이용하여 광을 방출하며, 낮은 소비전력과 고휘도, 소형화 등의 여러 장점 때문에 광원으로서 널리 사용되고 있다. 특히, 질화물 발광소자가 개발된 후에는 활용범위가 더욱 확대되어 상기 반도체 발광소자를 이용한 발광모듈은 자동차용 헤드라이트나 일반 조명 및 카메라 플래시 등으로 채용되고 있다. 이러한 발광모듈은 적용될 제품에 따라 적절한 휘도 조건을 만족할 필요가 있으며, 이에 당 기술분야에서는 발광모듈이 적절한 휘도 조건을 만족하는지 여부를 판단하기 위한 장치에 대한 연구가 요청되고 있다.
본 발명의 목적 중 하나는, 테스트 대상이 되는 발광모듈이 적절한 휘도를 갖도록, 상기 발광모듈에서 방출된 광을 감지하고, 상기 발광모듈의 동작조건을 설정하는 테스트 장치를 제공함에 있다.
다만, 본 발명의 목적은 이에만 제한되는 것은 아니며, 명시적으로 언급하지 않더라도 아래에서 설명하는 과제의 해결수단이나 실시 형태로부터 파악될 수 있는 목적이나 효과도 이에 포함된다고 할 것이다.
본 발명의 일 측면은, 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광을 감지하는 포토 다이오드 어레이를 포함하는 센싱부 및 상기 센싱부에서 감지된 광의 휘도정보를 생성하며, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하여 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈의 동작조건을 설정하는 제어부를 포함하는 발광모듈 테스트 장치를 제공한다.
상기 제어부가 설정하는 상기 발광모듈의 동작조건은, 상기 발광모듈에 구비된 구동부가 상기 발광모듈에 구비된 광원으로 인가하는 전류값일 수 있다.
여기서, 상기 포토 다이오드 어레이는 제1 내지 제n 포토 다이오드를 포함할 수 있다. (n은 2 이상의 자연수)
이 경우, 상기 휘도정보는 상기 제1 내지 제n 포토 다이오드가 배치된 영역에서 각각 감지된 광의 휘도에 대한 정보를 포함하는 휘도 프로파일일 수 있다. (n은 2 이상의 자연수)
이 경우, 상기 기 설정된 기준범위는 상기 기준범위의 상한인 최대 기준휘도 프로파일과, 상기 기준범위의 하한인 최소 기준휘도 프로파일을 포함할 수 있다.
이때, 상기 제어부는, 상기 휘도 프로파일이 상기 최대 기준휘도 프로파일을 초과하는 영역을 갖는 경우 상기 발광모듈에 구비된 구동부에서 상기 발광모듈에 구비된 광원으로 인가되는 전류값이 낮아지도록 상기 발광모듈의 동작조건을 설정할 수 있다.
또한, 상기 제어부는, 상기 휘도 프로파일이 상기 최소 기준휘도 프로파일에 미달하는 영역을 갖는 경우 상기 발광모듈에 구비된 구동부에서 상기 발광모듈에 구비된 광원으로 인가되는 전류값이 커지도록 상기 발광모듈의 동작조건을 설정할 수 있다.
한편, 상기 제어부는, 상기 휘도 프로파일의 최대값과 상기 휘도 프로파일의 최소값의 차이가 상기 최대 기준휘도 프로파일과 상기 최소 기준휘도 프로파일의 차이보다 큰 경우, 상기 발광모듈을 불량으로 판단할 수 있다.
아울러, 상기 최대 기준휘도 프로파일 및 상기 최소 기준휘도 프로파일 중 적어도 하나는 직선 형상을 가질 수 있다.
또한, 상기 최대 기준휘도 프로파일 및 상기 최소 기준휘도 프로파일 중 적어도 하나는 곡선 형상을 가질 수 있다.
또한, 상기 센싱부는 제1 내지 제n 포토 다이오드를 각각 포함하는 제1 내지 제m 포토 다이오드 어레이를 포함하고, 상기 휘도정보는 상기 제1 내지 제m 포토 다이오드 어레이에서 얻어진 제1 내지 제m 휘도 프로파일을 평균하여 도출되는 하나의 평균 휘도 프로파일일 수 있다. (n 및 m은 2 이상의 자연수)
상기 센싱부는 상기 발광모듈의 주 발광면의 직상부에 위치하도록 배치될 수 있다.
상기 포토 다이오드 어레이는 제1 내지 제n 포토 다이오드를 포함하고, 상기 센싱부는 상기 포토 다이오드 어레이가 배치된 바(bar)형상의 수광부를 포함할 수 있다. (n은 2 이상의 자연수)
상기 센싱부는 제1 내지 제n 포토 다이오드를 각각 포함하는 제1 내제 제m 포토 다이오드 어레이와, 상기 제1 내지 제m 포토 다이오드 어레이가 각각 배치된 제1 내지 제m 바(bar)형상의 수광부를 포함할 수 있다. (n 및 m은 2 이상의 자연수)
본 발명의 다른 측면은, 광원과 상기 광원을 구동하기 위한 전류를 제공하는 구동부가 구비된 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광을 감지하는 포토 다이오드 어레이를 포함하는 센싱부 및 상기 센싱부에서 감지된 광의 휘도정보를 생성하며, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하여, 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광의 휘도정보가 상기 기 설정된 기준범위를 만족하도록, 상기 발광모듈에 구비된 구동부가 상기 광원으로 인가하는 전류값을 설정하는 제어부를 포함하는 발광모듈 테스트 장치를 제공한다.
본 발명의 다른 측면은, 광원을 마련하는 단계와, 상기 마련된 광원으로부터 테스트 대상이 되는 발광모듈을 마련하는 단계와, 상기 발광모듈을 테스트 하는 단계 및 테스트를 마친 발광모듈로부터 조명장치를 마련하는 단계를 포함하는 조명장치 제조방법을 제공한다. 여기서, 상기 발광모듈을 테스트 하는 단계는, 상기 발광모듈을 구동하는 단계와, 상기 발광모듈에서 방출되는 광을 감지하는 단계와, 상기 감지된 광의 휘도정보를 생성하는 단계와, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하는 단계 및 비교 결과에 따라 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈의 동작조건을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
덧붙여, 상기한 과제의 해결 수단은 본 발명의 특징을 모두 열거한 것은 아니다. 본 발명의 다양한 특징과 그에 따른 장점과 효과는 아래의 구체적인 실시형태를 참조하여 보다 상세하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광의 휘도를 감지하고, 상기 발광모듈이 적절한 휘도를 갖도록 상기 발광모듈의 동작조건을 설정하는 발광모듈 테스트 장치를 얻을 수 있다.
다만, 본 발명의 유익한 장점과 효과는 상술한 내용에 한정되지 않으며, 언급되지 않은 다른 기술적 효과는 아래의 기재로부터 당업자에게 보다 쉽게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2(a) 및 도 2(b)는 본 실시형태에 따른 수광부를 개략적으로 나타낸 도면 및 상기 포토 다이오드 어레이를 이루는 회로의 일부를 나타낸 회로도이다.
도 3a 및 도 3b는 본 실시형태에 따른 휘도정보 및 기준범위를 설명하기 위한 휘도 프로파일이다.
도 4 내지 도 6은 본 실시형태에 따른 제어부가 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하여 상기 발광모듈의 동작조건을 설정하는 원리를 보다 구체적으로 설명하기 위한 휘도 프로파일이다.
도 7은 발광모듈의 테스트가 진행되는 동안 상기 제어부에서 수행되는 프로세스의 일 예를 도시한 순서도이다.
도 8(a) 내지 도 8(c)는 본 발명의 다른 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치에 구비되는 센싱부를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 9의 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치에 구비된 발광모듈 테스트 장치의 제어부에 설정된 기준범위를 설명하기 위한 휘도 프로파일이다.
도 11 및 도 12는 본 발명의 일 실시형태에 따른 발광모듈이 적용된 조명장치를 나타낸 도면이다.
도 13은 본 발명의 일 실시형태에 따른 조명장치의 제조방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 14는 본 발명의 일 실시형태에 따른 조명장치 제조방법에서 광원을 마련하는 단계가 완료된 상태의 광원을 도시하는 단면도이다.
도 15는 상기 광원으로부터 테스트 대상이 되는 발광모듈을 마련하는 단계를 보다 구체적으로 설명하기 위한 사시도이다.
도 16은 발광모듈을 테스트 하는 단계를 보다 구체적으로 설명하기 위한 순서도이다.
도 17(a) 내지 도 17(c)는 테스트를 마친 발광모듈로부터 조명장치(S400)를 마련하는 단계가 완성된 상태의 도면을 나타낸 것이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 설명한다.
그러나, 본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시 형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치(100)를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치는 발광모듈(200)을 테스트 객체로 하며, 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈(200)의 동작조건을 설정할 수 있다.
본 실시형태에서, 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈(200)은 기판(230) 상에 배치된 광원(210)을 구비할 수 있다. 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈(200)에 구비되는 광원(210)은 복수개일 수 있으며, 이에 제한되는 것은 아니지만, 상기 복수의 광원(210) 각각은 전류가 인가되면 광을 방출하는 반도체 소자(예컨대, LED)를 포함할 수 있다. 상기 발광모듈(200)은 상기 복수의 광원(210)과 전기적으로 연결되어, 상기 광원(210)을 구동하기 위한 전류를 제공하는 구동부(220)를 구비할 수 있다. 이때, 상기 발광모듈(200)의 휘도는 상기 구동부(220)에서 광원(210)으로 인가되는 전류값의 크기에 따라 달라질 수 있다.
한편, 상기 발광모듈(200)은 적용될 제품에 따라 적절한 휘도 조건을 만족할 필요가 있다. 예를 들어, 자동차 헤드라이트로 사용되는 발광모듈은 일정 거리에서 법규에 정해진 휘도 조건을 만족할 필요가 있다. 이를 위해, 각 광원(210)이 방출하는 광의 휘도를 고려하여 발광모듈(200)에 구비되는 광원(210)의 개수 및 그를 구동하기 위한 구동부(220)가 상기 복수의 광원(210)으로 인가하는 적절한 전류값을 미리 설정하여 발광모듈(200)을 제작할 수 있다. 그러나, 각 광원(210) 및 구동부(220)의 제조 시 발생하는 공정오차 등의 원인으로 인해, 발광모듈(200)은 적절하지 않은 휘도를 나타낼 수 있다. 이에, 본 발명의 일 실시형태는 상기 발광모듈(200)의 휘도를 측정하고, 측정된 결과를 피드백하여 상기 발광모듈(200)의 휘도를 보정할 수 있는 발광모듈 테스트 장치(100)를 제공한다.
본 실시형태에서, 상기 발광모듈 테스트 장치(100)는 상기 발광모듈(200)의 휘도를 측정하는 센싱부(110)와, 상기 휘도 측정결과에 따라 발광모듈(200)의 휘도를 보정하는 제어부(120)를 포함할 수 있다.
상기 센싱부(110)는 상기 발광모듈(200)의 주 발광면의 직상부에 위치하도록 배치될 수 있다. 이에 제한되는 것은 아니지만, 상기 센싱부(110)는 상기 발광모듈(200)의 주 발광면의 직상부에서 50cm 내지 100cm 이격된 거리(t)에 배치될 수 있다.
상기 센싱부(110)는 테스트 대상이 되는 상기 발광모듈(200)에서 방출되는 광을 감지하는 포토 다이오드 어레이(PDA)를 포함할 수 있다. 이때, 상기 센싱부(110)는 적어도 하나의 수광부(11, 12, 13, 14)를 포함하며, 상기 포토 다이오드 어레이(PDA)는 바(bar)형상의 수광부(11, 12, 13, 14)에 배치된 형태로 제공될 수 있다. 상기 수광부(11, 12, 13, 14)에서 상기 포토 다이오드 어레이(PDA)는 상기 발광모듈(200)과 대향하는 면(A) 상에 배치될 수 있다.
또한, 상기 포토 다이오드 어레이(PDA)는 제1 내지 제m 포토 다이오드 어레이(PDA)(m은 2 이상의 자연수)로 구비될 수 있으며, 상기 제1 내지 제m 포토 다이오드 어레이(PDA)는 각각 제1 내지 제m 바(bar)형상의 수광부(11, 12, 13, 14)에 배치될 수 있다. 이 경우, 테스트 대상이 되는 발광모듈(200)의 크기 및/또는 형상에 따라, 상기 센싱부(110)에 구비되는 수광부의 개수 및/또는 배치를 적절히 변경할 수 있으므로, 발광모듈(200)의 테스트 및 보정 작업이 보다 효과적으로 수행될 수 있다. 본 실시형태에서, 상기 포토 다이오드 어레이(PDA)는 제1 내지 제4 포토 다이오드 어레이로 구비되며, 제1 내지 제4 수광부(11, 12, 13, 14)에 각각 배치된 것으로 도시되었으나, 상기 수광부의 개수는 필요에 따라 적절하게 변경될 수 있을 것이다.
도 2(a) 및 도 2(b)는 본 실시형태에 따른 수광부(11)를 개략적으로 나타낸 도면 및 상기 포토 다이오드 어레이(PDA)를 이루는 회로의 일부를 나타낸 회로도이다.
도 2(a)를 참조하면, 상기 수광부(11)에 배치된 포토 다이오드 어레이(PDA)는 제1 내지 제n 포토 다이오드(PD1 ~ PD12)를 포함한다(n은 2 이상의 자연수). 상기 포토 다이오드(PD1 ~ PD12)는 광에너지를 전기에너지로 변환하는 반도체 소자의 일종으로, 광이 감지되면 턴온(turn-on)되어 전류를 도통하며, 감지된 광의 세기에 따라 출력전압의 크기가 비례적으로 증가하게 되는 광기전력 효과를 이용한 센서로서, 본 실시형태에서, 상기 포토 다이오드 어레이(PDA)는 일렬로 배열된 제1 내지 제12 포토 다이오드(PD1 ~ PD12)를 포함하는 것으로 도시되었다. 다만, 상기 포토 다이오드 어레이(PDA)에 구비되는 포토 다이오드(PD1 ~ PD12)의 배열 및 개수는 필요에 따라 적적하게 변경될 수 있을 것이다.
도 2(b)는 상기 포토 다이오드 어레이(PDA)를 이루는 회로의 일부를 나타낸 회로도이다. 다만, 상기 회로도는 본 실시형태를 보다 용이하게 이해할 수 있도록 예시적으로 제공된 것에 불과하며, 본 발명에 따른 포토 다이오드 어레이(PDA)를 이루는 회로가 이에 제한되는 것은 아니라 할 것이다.
도 2(b)를 참조하면, 상기 제1 내지 제12 포토 다이오드(PD1 ~ PD12) 각각의 애노드단 및 캐소드단은 제1 내지 제12 트랜지스터(Q1 ~ Q12)의 베이스단 및 콜렉터단에 각각 접속되며, 상기 제1 내지 제12 트랜지스터(Q1 ~ Q12)의 에미터단은 일단이 접지와 연결된 감지저항(R1 ~ R12)의 타단과 접속된다. 이때, 상기 제1 내지 제12 포토 다이오드(PD1 ~ PD12) 각각이 배치된 위치에서 감지된 광의 세기에 따라 상기 감지저항(R1 ~ R12)에 걸리는 전압의 크기(V1 ~ V12)가 달라질 수 있으며, 이에 따라 상기 수광부(11)는 상기 제1 내지 제12 포토 다이오드(PD1 ~ PD12) 각각이 배치된 위치에서 감지된 광에 대응하는 전기신호를 제어부(120)에 전달할 수 있다. 이와 같이, 본 실시형태에 따르면, 포토 다이오드(PD1 ~ PD12) 를 이용함으로써 상기 포토 다이오드(PD1 ~ PD12) 가 배치된 위치에서 감지된 광의 휘도를 정밀하게 전기신호로 변환하여 제어부(120)에 전달할 수 있다.
상기 제어부(120)는 상기 센싱부(110)에서 감지된 광의 휘도정보를 생성하며, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하여 테스트 대상이 되는 상기 발광모듈(200)의 동작조건을 설정할 수 있다. 예를 들어, 본 실시형태에서 상기 제어부(120)는 상기 센싱부(110)에 구비된 제1 내지 제4 수광부(11, 12, 13, 14)에서 각각 감지된 광에 대한 전기신호로부터 상기 제1 내지 제4 수광부(11, 12, 13, 14)에서 각각 감지된 광의 휘도정보를 생성할 수 있다. 여기서, 상기 휘도정보는 상기 제1 내지 제n 포토 다이오드가 배치된 영역에서 각각 감지된 광의 휘도에 대한 정보를 포함하는 휘도 프로파일일 수 있다. 이에 대해서는 도 1과 함께 도 3a 및 도 3b를 함께 참조하여 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 3a는 상기 제1 내지 제4 수광부(11, 12, 13, 14)에서 각각 감지된 광의 휘도에 대한 정보를 포함하는 제1 내지 제4 휘도 프로파일(P1, P2, P3, P4)과, 상기 제1 내지 제4 휘도 프로파일(P1, P2, P3, P4)을 평균하여 도출된 평균 휘도 프로파일(Pm)을 나타낸 것이다.
우선, 도 3a의 좌측에 도시된 프로파일 i) 내지 iv)는 각각 상기 제1 내지 제4 수광부(11, 12, 13, 14)에서 감지된 광의 휘도정보에 해당하는 제1 내지 제4 휘도 프로파일(P1, P2, P3, P4)을 나타낸다. 여기서, 상기 제1 내지 제4 휘도 프로파일은(P1, P2, P3, P4) 상기 제1 내지 제4 수광부(11, 12, 13, 14)에 각각 배치된 제1 내지 제12 포토 다이오드(PD1 ~ PD12)에서 감지된 광에 대응하는 휘도값들을 연결한 선으로 이해될 수 있다.
한편, 도시된 바와 같이, 발광모듈(200)의 주 발광면의 외측에 인접한 영역에 대응하는 제1 및 제4 수광부(11, 14)에서 감지된 광의 휘도정보인 제1 및 제4 휘도 프로파일(P1, P4)보다, 상기 주 발광면의 내부에 인접한 영역에 대응하는 제2 및 제3 수광부(12, 13)에서 감지된 광의 휘도정보인 제2 및 제3 휘도 프로파일(P2, P3)이 더 높게 산출될 수 있으나, 이는 발광모듈(200)의 형상 및 배치에 따라 달라질 수 있을 것이다.
또한, 도시된 바에 따르면, 상기 휘도 프로파일의 세로 축은 광속의 측정단위인 루멘[lm]으로 환산된 값이지만, 이에 제한되는 것은 아니므로, 편의에 따라, 상기 휘도 프로파일의 세로변의 단위로 상기 각각의 수광부에 구비된 제1 내지 제n 포토 다이오드에 의해 변환된 전기신호의 단위, 예컨대 볼트[V]나 암페어[A]를 이용할 수도 있을 것이다.
도 3a의 우측에 도시된 프로파일은 상기 제1 내지 제4 휘도 프로파일(P1, P2, P3, P4)을 평균하여 도출되는 하나의 평균 휘도 프로파일(Pm)을 나타낸다. 본 실시형태에서, 상기 제어부(120)는 평균 휘도 프로파일(Pm)과 기 설정된 기준범위를 비교할 수 있다. 여기서, 상기 기 설정된 기준범위는, 도 3b를 참조하여 하기에 설명하는, 상기 기준범위의 상한인 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)과, 하한인 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)을 포함할 수 있다.
도 3b는 상기 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)과 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)을 나타낸다. 본 실시형태에서, 상기 제어부(120)는 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)이 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)과 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)로 정의되는 범위 내에 존재하는지 판단하고, 판단 결과에 따라 상기 발광모듈(200)의 휘도를 보정할 수 있다. 구체적으로, 상기 제어부(120)는 판단 결과에 따라 상기 발광모듈(200)의 동작조건을 설정할 수 있으며, 이에 제한되는 것은 아니지만, 상기 제어부(120)가 설정하는 상기 발광모듈(200)의 동작조건은 상기 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)가 상기 발광모듈(200)에 구비된 광원(210)으로 인가하는 전류값일 수 있다. 이하, 도 4 내지 도 6을 참조하여 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 4 내지 도 6은 본 실시형태에 따른 제어부(120)가 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하여 상기 발광모듈(200)의 동작조건을 설정하는 원리를 보다 구체적으로 설명하기 위한 프로파일이다.
우선, 도 4(a) 및 도 4(b)에 도시된 바와 같이, 상기 센싱부(110)에서 감지된 광의 휘도정보, 예컨대 평균 휘도 프로파일(Pm)은 기 설정된 기준범위의 상한인 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)을 초과하는 영역을 포함할 수 있다. 구체적으로, 도 4(a)는 상기 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)에서 상기 발광모듈(200)에 구비된 광원(210)으로 인가되는 전류값이 높게 설정된 경우로 볼 수 있으며, 도 4(b)는 상기 구동부(220)에서 상기 광원(210)으로 인가되는 전류값은 적절하게 설정되었으나, 일부 광원(210)에 불량(과출력)이 발생한 경우로 볼 수 있다.
이 경우, 상기 제어부(120)는 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)이 상기 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)을 초과하지 않도록, 상기 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)에서 상기 발광모듈(200)에 구비된 광원(210)으로 인가되는 전류값이 낮아지도록 상기 발광모듈(200)의 동작조건(예컨대, 상기 구동부(220)가 인가하는 전류값)을 설정할 수 있다. 이에 따라, 상기 발광모듈이 방출하는 광의 휘도 프로파일은 일점쇄선으로 도시된 Pm'와 같이 기 설정된 기준범위를 만족하도록 보정될 수 있다.
이를 위해, 상기 제어부(120)는 도 1에 도시된 바와 같이 상기 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)와 연결될 수 있으며, 이에 제한되는 것은 아니지만, 상기 제어부(120)는 상기 발광모듈(200)의 테스트가 진행되는 동안 상기 구동부(220)에 일정한 직류(DC) 혹은 교류(AC) 구동전원을 제공하는 기능도 함께 가질 수 있다. 이 경우, 상기 제어부(120)가 상기 구동부(220)에 제공하는 구동전원의 타입(직류 또는 교류)은, 상기 발광모듈(200)이 제품으로 적용시 외부로부터 인가받게되는 전원의 타입에 따라 달라질 수 있다. 예컨대, 상기 발광모듈(200)이 외부로부터 직류전원을 공급받아 구동되는 제품에 적용된다면, 상기 제어부(120)는 테스트가 진행되는 동안 상기 구동부(220)에 일정한 직류전원을 제공할 수 있으며, 상기 발광모듈(200)이 외부로부터 교류전원을 공급받아 구동되는 제품에 적용된다면, 상기 제어부(120)는 테스트가 진행되는 동안 상기 구동부(220)에 일정한 교류전원을 제공할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니므로, 상기 발광모듈(200)의 테스트가 진행되는 동안 상기 구동부(220)는 상기 제어부(120)가 아닌 다른 외부로부터 일정한 구동전원을 인가받을 수도 있을 것이다.
한편, 도 5(a) 및 도 5(b)에 도시된 바와 같이, 상기 센싱부(110)에서 감지된 휘도정보, 예컨대 평균 휘도 프로파일(Pm)은 기 설정된 기준범위의 하한인 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)에 미달인 영역을 포함할 수 있다.
구체적으로, 도 5(a)는 상기 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)에서 상기 발광모듈(200)에 구비된 광원(210)으로 인가되는 전류값이 낮게 설정된 경우로 볼 수 있으며, 도 5(b)는 상기 구동부(220)에서 상기 광원(210)으로 인가되는 전류값은 적절하게 설정되었으나, 일부 광원(210)의 불량(미동작)이 발생한 경우로 볼 수 있다.
이 경우, 상기 제어부(120)는 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)이 상기 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)에 미달되지 않도록, 상기 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)에서 상기 발광모듈(200)에 구비된 광원(210)으로 인가되는 전류값이 커지도록 상기 발광모듈(200)의 동작조건(예컨대, 상기 구동부(220)가 인가하는 전류값)을 설정할 수 있다. 이에 따라, 상기 발광모듈이 방출하는 광의 휘도 프로파일은 일점쇄선으로 도시된 Pm'와 같이 기 설정된 기준범위를 만족하도록 보정될 수 있다.
아울러, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)은 발광모듈(200)의 불량 정도에 따라 일 영역은 상기 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)을 초과하는 영역을 갖되 다른 영역은 상기 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)에 미달하는 영역을 가질 수 있다. 이 경우, 상기 발광모듈(200)은 구동부(220)가 광원(210)에 최적화된 전류값을 인가하더라도 상기 발광모듈(200)은 기 설정된 기준범위를 만족할 수 없는 경우에 해당한다. 이때, 본 실시형태에 따른 제어부(120)는 상기 발광모듈(200)을 불량으로 판단할 수 있다.
구체적으로 예를 들면, 상기 제어부(120)는 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)의 최대값과 최소값의 차이(D2)를 산출하고, 산출결과를 상기 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)과 상기 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)의 차이(D1)와 비교하여, 상기 산출결과가 상기 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)과 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)의 차이보다 큰 경우(즉, D2 > D1인 경우), 상기 발광모듈(200)을 불량으로 판단하는 기능을 포함할 수 있다.
도 7은 본 실시형태에 따른 상기 제어부(120)에서 발광모듈(200)의 테스트가 진행되는 동안 수행되는 프로세스의 일 예를 도시한 순서도이다.
도 7을 참조하면, 상기 제어부(120)는 상기 센싱부(110)에서 감지된 광으로부터 휘도정보를 생성한다(S10). 전술한 바와 같이, 상기 휘도정보는 상기 센싱부(110)에 구비된 제1 내지 제m 수광부에 각각 배치된 제1 내지 제n 포토 다이오드가 위치한 영역에서 각각 감지된 광의 휘도에 대한 정보를 포함하는 휘도 프로파일을 평균하여 도출된 평균 휘도 프로파일(Pm)일 수 있다.
다음으로, 상기 제어부(120)는 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)의 최대값과 최소값의 차이(D2)를 산출하고, 산출결과를 기 설정된 기준범위의 최대값과 최소값의 차이(D1)와 비교할 수 있다(S20). 여기서, 기 설정된 기준범위의 최대값과 최소값의 차이는, 상기 기준범위의 상한인 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)과 하한인 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)의 차이일 수 있다.
다음으로, 상기 제어부(120)는 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)의 최대값과 최소값의 차이(D2)가 상기 기 설정된 기준범위의 최대값과 최소값의 차이보다 큰 경우, 상기 발광모듈(200)을 불량으로 판단할 수 있다(S30).
다음으로, 상기 제어부(120)는 평균 휘도 프로파일(Pm)의 최대값과 최소값의 차이(D2)가 기 설정된 기준범위의 최대값과 최속값의 차이보다 작거나 같은 경우, 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)이 상기 기 설정된 기준범위 내에 있는지 판단한다(S40). 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)이 기 설정된 기준범위 내에 있다고 판단되는 경우, 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)가 광원(210)으로 인가하는 현재의 전류값을 상기 구동부(220)의 출력 전류값으로 설정하고 테스트를 종료한다(S50). 이와 달리, 평균 휘도 프로파일(Pm)이 기 설정된 기준범위를 벗어난다고 판단되는 경우, 상기 제어부(120)는 상기 평균 휘도 프로파일(Pm)이 기 설정된 기준범위의 상한인 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H)을 초과하는 영역이 있는지 판단하며(S41), 초과되는 영역이 있다고 판단된 경우 상기 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)가 광원(210)으로 인가하는 전류값을 하향 조정하고(S42), 반대로, 초과되는 영역이 없다고 판단된 경우 상기 발광모듈(200)에 구비된 구동부(220)가 광원(210)으로 인가하는 전류값을 상향 조정한 후(S43), 다시 발광모듈(200)에서 감지되는 광으로부터 휘도정보를 생성하는 작업을 반복하여, 상기 발광모듈(200)이 적절한 휘도를 나타낼 수 있도록, 상기 발광모듈(200)의 동작조건(예컨대, 전류값)을 설정할 수 있다.
이하, 도 1을 참조하여 본 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치(100)의 나머지 구성을 설명하기로 한다.
도 1을 참조하면, 상기 발광모듈 테스트 장치(100)는 상기 제어부(120)에서 생성된 휘도정보(예컨대, 평균 휘도 프로파일(Pm))와, 기 설정된 기준범위(예컨대, 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H) 및 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L))와, 상기 휘도정보와 기 설정된 기준범위의 비교결과와, 테스트 대상이 되는 발광모듈(200)의 불량여부 중 적어도 하나의 정보를 표시하는 표시부(130)를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 테스트 대상이 되는 발광모듈(200)에서 방출되는 광의 휘도를 감지하고, 상기 발광모듈(200)이 적절한 휘도를 갖도록 상기 발광모듈(200)의 동작조건을 설정하는 발광모듈 테스트 장치(100)를 얻을 수 있다.
도 8(a) 내지 도 8(c)는 본 발명의 다른 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치에 구비되는 센싱부(110a, 110b, 110c)를 설명하기 위한 도면이다.
도 8(a) 내지 도 8(b)에 도시된 바와 같이, 상기 센싱부(110a, 110b)는 포토 다이오드 어레이(PDA)가 배치된 수광부(11a, 12a, 11b, 12b)를 적어도 하나(본 실시형태에서, 2개로 도시됨) 포함하며, 상기 수광부(11a, 12b, 11b, 12b)는 각각 제1 내지 제n 포토 다이오드(PD1, PD2, PD3, ...)를 포함하는 포토 다이오드 어레이(PDA)를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 수광부(11a, 12b, 11b, 12b)는 앞선 실시형태와 달리 폐고리 형상으로 구비될 수 있다. 예를 들어, 도 8(a)에 도시된 수광부(11a, 12a)와 같이 원형의 폐고리 형상으로 구비될 수 있으며, 도 8(b)에 도시된 수광부(11b, 12b)와 같이 사각형의 폐고리 형상으로 구비될 수 있다. 이때, 다른 하나의 수광부(12a, 12b)는 상기 폐고리 형상의 내부에 배치되는 폐고리 형상을 가질 수 있다. 또한, 도 8(c)에 바와 같이 상기 수광부(11c)는 정사각형 형상으로 구비될 수도 있을 것이다. 이와 같은 수광부의 형상 및 배치는 테스트 대상이 되는 발광모듈의 형상 및 배치 등의 조건에 따라 적절하게 변형될 수 있을 것이다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시형태에 따른 발광모듈 테스트 장치(101)를 설명하기 위한 도면이다. 본 실시형태는 테스트 대상이 되는 발광모듈(201)의 형상이 달라진 점과, 최대 및 최소 기준휘도 프로파일의 형상이 달라진 점을 제외하고는 앞선 실시형태에서 설명한 것과 동일한 것으로 이해될 수 있다.
구체적으로, 본 실시형태에서 테스트 대상이 되는 발광모듈(201)은 도 9에 도시된 바와 같이 자동차용 헤드라이트에 적용되는 발광모듈(201)일 수 있다. 상기 발광모듈(201)은 기판(231) 상에 배치된 복수의 광원(211)과, 상기 광원(211)을 구동하기 위한 구동부(221)를 구비하며, 상기 발광모듈(201)은 주 발광면이 전체적으로 폐곡선 형상을 가질 수 있다. 이 경우, 상기 발광모듈(201)이 이루는 폐곡선 형상의 내부에는 광원(211)이 존재하지 않으므로, 기본적으로 내부영역에서 휘도가 낮게 측정될 수 있다. 이에 따라, 상기 제어부(121)에 입력된 기 설정된 기준범위는 상기 발광모듈(201)의 형상이 고려되어 설정될 수 있다.
구체적으로, 도 3b의 실시형태에서는, 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H) 및 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L)이 직선 형상을 갖는 것으로 도시되었으나, 상기 최대 기준휘도 프로파일(Ref.H1) 및 최소 기준휘도 프로파일(Ref.L1)의 형상은 테스트 대상이 되는 발광모듈(201)의 형상 및 배치 등에 따라 적절하게 변형될 수 있으며, 도 9의 실시형태의 경우, 상기 최대 및 최소 기준휘도 프로파일(Ref. H1, Ref.L1)은 도 10에 도시된 바와 같이 곡선형상을 포함할 수 있다. 본 실시형태에서는, 상기 곡선형상이 아래로 오목한 곡선형상인 것으로 도시되었으나, 테스트 대상이 되는 발광모듈(201)의 형태 및 배치에 따라 다양하게 변형될 수 있음은 자명할 것이다.
도 11 및 도 12는 본 발명의 일 실시형태에 따른 발광모듈이 적용된 조명장치를 나타낸 도면이다.
구체적으로, 본 실시형태에 따른 발광모듈은 자동차용 헤드라이트에 제한되는 것은 아니므로, 도 11 및 도 12에 도시된 바와 같이 벌브형 및/또는 L-튜브형 조명장치에 적용될 수 있을 것이다.
예를 들어, 상기 조명장치(2000)는 도 11에 도시된 바와 같은 벌브형 램프일 수 있다. 이에 제한되는 것은 아니지만, 상기 조명장치(2000)는 종래 백열등을 대체할 수 있도록 백열등과 유사한 형상을 가질 수 있으며, 백열등과 유사한 광특성(색상, 색온도)을 갖는 광을 출사할 수 있다.
도 11의 분해사시도를 참조하면, 조명장치(2000)는 발광모듈(2204)과 외부접속부(2209)를 포함한다. 또한, 외부 및 내부 하우징(2206, 2208)과 커버부(2207)와 같은 외형구조물을 추가적으로 포함할 수 있다. 발광모듈(2204)은 광원(2201)과 그 광원(2201)이 탑재된 기판(2202) 및 상기 광원(2201)을 구동하기 위한 구동부(2203)을 포함할 수 있다.
또한, 상기 조명장치(2000)에서, 발광모듈(2204)은 열방출부로 작용하는 외부 하우징(2206)을 포함할 수 있으며, 상기 외부 하우징(2206)은 발광모듈(2204)과 직접 접촉되어 방열효과를 향상시키는 열방출판(2205)을 포함할 수 있다. 또한, 조명장치(2000)는 발광모듈(2204) 상에 장착되며 볼록한 렌즈형상을 갖는 커버부(2207)를 포함할 수 있다. 구동부(2203)는 내부 하우징(2208)에 장착되어 소켓구조와 같은 외부접속부(2209)에서 전원을 제공받을 수 있다.
도 12의 분해사시도를 참조하면, 본 실시형태에 따른 조명장치(3000)는 발광모듈(3203), 몸체부(3204), 단자부(3209)를 포함할 수 있으며, 상기 발광모듈(3203)을 커버하는 커버부(3207)를 더 포함할 수 있다.
발광모듈(3203)은 기판(3202)과, 상기 기판(3202) 상에 장착되는 복수의 광원(3201) 및 상기 복수의 광원(3201)을 구동하기 위한 구동부(3204)를 포함할 수 있다.
몸체부(3204)는 상기 발광모듈(3203)을 일면에 장착하여 고정시킬 수 있다. 상기 몸체부(3204)는 지지 구조물의 일종으로 히트 싱크를 포함할 수 있다. 상기 몸체부(3204)는 상기 발광모듈(3203)에서 발생되는 열을 외부로 방출할 수 있도록 열전도율이 우수한 재질로 이루어질 수 있으며, 예를 들어, 금속 재질로 이루어질 수 있으나 이에 한정하는 것은 아니다.
상기 몸체부(3204)는 상기 발광모듈(3203)의 기판(3202) 형상과 대응하여 전체적으로 길이가 긴 막대 형상을 가질 수 있다. 상기 발광모듈(3203)이 장착되는 일면에는 상기 발광모듈(3203)을 수용할 수 있는 리세스(3214)가 형성될 수 있다.
상기 몸체부(3204)의 양 외측면에는 각각 방열을 위한 복수의 방열 핀(3224)이 돌출되어 형성될 수 있다. 그리고, 상기 리세스(3214)의 상부에 위치하는 상기 외측면의 양 끝단에는 각각 상기 몸체부(3204)의 길이 방향을 따라서 연장된 걸림 홈(3234)이 형성될 수 있다. 상기 걸림 홈(3234)에는 추후 설명하는 커버부(3207)가 체결될 수 있다.
상기 몸체부(3204)의 길이 방향의 양 끝단부는 개방되어 있어 상기 몸체부(3204)는 양 끝단부가 개방된 파이프 형태의 구조를 가질 수 있다. 본 실시 형태에서는 상기 몸체부(3204)의 양 끝단부가 모두 개방된 구조를 예시하고 있으나, 이에 한정하는 것은 아니다. 예를 들어, 상기 몸체부(3204)의 양 끝단부 중 어느 일측만 개방되는 것도 가능하다.
단자부(3209)는 상기 몸체부(3204)의 길이 방향의 양 끝단부 중 개방된 적어도 일측에 구비되어 상기 발광모듈(3203)에 전원을 공급할 수 있다. 본 실시형태에서는 상기 몸체부(3204)의 양 끝단부가 모두 개방되어 있어 상기 단자부(3209)가 상기 몸체부(3204)의 양 끝단부에 각각 구비되는 것으로 예시하고 있다. 그러나, 이에 한정하는 것은 아니며, 예를 들어, 일측만 개방된 구조에서는 상기 양 끝단부 중 개방된 일측에만 상기 단자부(3209)가 구비될 수 있다.
상기 단자부(3209)는 상기 몸체부(3204)의 개방된 양 끝단부에 각각 체결되어 상기 개방된 양 끝단부를 커버할 수 있다. 상기 단자부(3209)에는 외부로 돌출된 전극 핀(3219)을 포함할 수 있다.
커버부(3207)는 상기 몸체부(3204)에 체결되어 상기 발광모듈(3203)을 커버한다. 상기 커버부(3207)는 광이 투과될 수 있는 재질로 이루어질 수 있다.
상기 커버부(3207)는 광이 외부로 전체적으로 균일하게 조사될 수 있도록 반원 형태의 곡면을 가질 수 있다. 그리고, 상기 커버부(3207)의 상기 몸체부(3204)와 체결되는 바닥면에는 상기 몸체부(3204)의 걸림 홈(3234)에 맞물리는 돌기(3217)가 상기 커버부(3207)의 길이 방향을 따라서 형성될 수 있다.
본 실시형태에서는 상기 커버부(3207)가 반원 형태의 구조를 가지는 것으로 예시하고 있으나, 이에 한정하는 것은 아니다. 예를 들어, 상기 커버부(3207)는 평평한 사각 형태의 구조를 가지는 것도 가능하며, 기타 다각 형태의 구조를 가지는 것도 가능하다. 이러한 커버부(3207)의 형태는 광이 조사되는 조명 설계에 따라서 다양하게 변경될 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 일 실시형태에 따른 조명장치 제조방법을 설명하기로 한다.
도 13은 본 실시형태에 따른 조명장치의 제조방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 13을 참조하면, 본 실시형태에 따른 조명장치 제조방법은 광원을 마련하는 단계(S100)와, 상기 광원으로부터 테스트 대상이 되는 발광모듈을 마련하는 단계(S200)와, 상기 발광모듈을 테스트 하는 단계(S300) 및 테스트를 마친 발광모듈로부터 조명장치(S400)를 마련하는 단계를 포함할 수 있다. 이하, 도 14 내지 도 17을 참조하여 본 실시형태에 따른 제조방법을 보다 상세하게 설명하기로 한다.
도 14는 본 실시형태에 따른 조명장치 제조방법에서 광원을 마련하는 단계(S100)가 완료된 상태의 광원(212)을 도시하는 단면도이다.
본 실시형태에서, 상기 광원(212)은 전류가 인가되면 광을 방출하는 반도체 소자(예컨대, LED(20))를 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 LED(20)는 n형 반도체층과 p형 반도체층 및 그 사이에 배치된 활성층을 포함할 수 있다. 상기 활성층은 단일 또는 다중 양자우물구조로 이루어진 InxAlyGa1 -x- yN(0≤x≤1, 0≤y≤1, x+y≤1)을 포함하는 질화물 반도체로 구성되며, 청색광을 방출하는 것일 수 있다.
본 실시형태에서, 상기 광원(212)은 LED(20)가 배치되는 패키지 본체(30)를 포함할 수 있다. 상기 패키지 본체(30)는 상기 LED(20)를 수용하는 캐비티와 한 쌍의 리드프레임(31a, 31b)을 포함할 수 있다. 상기 패키지 본체(30)는 불투명 또는 반사율이 큰 수지로 성형될 수 있으며, 사출공정이 용이한 폴리머 수지를 이용하여 제공될 수 있다. 그러나 이에 한정하는 것은 아니므로, 다양한 비전도성 재질로 형성될 수 있다.
상기 한 쌍의 리드프레임(31a, 31b)은 도전성 와이어(W)를 이용하거나 상기 리드프레임과 접촉을 통하여 상기 LED(20)와 전기적으로 연결될 수 있으며, 외부 전기신호를 인가하기 위한 단자로서 이용될 수 있다. 이를 위하여, 상기 리드프레임(31a, 31b)은 전기전도성이 우수한 금속물질로 이루어질 수 있다.
상기 캐비티에 충진된 봉지부(32)는 실리콘 또는 에폭시와 같은 투광성 수지로 이루어질 수 있으며, 상기 봉지부(32)는 여기광원에 의해 여기되어 상기 여기광원과 다른 파장의 광을 방출하는 파장변환물질(33)을 포함할 수 있다. 상기 파장변환물질(33)은 형광체 및 양자점 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
도 15는 상기 광원(212)으로부터 테스트 대상이 되는 발광모듈(202)을 마련하는 단계(S200)를 보다 구체적으로 설명하기 위한 사시도이다.
도 15를 참조하면, 본 단계(S200)에서는 이전 단계(S100)에서 완성된 광원(212)을 기판(232) 상에 배치하는 단계를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 광원(212)은 기판(232) 상에 복수개로 배치될 수 있다.
다음으로, 상기 기판(232) 상에 배치된 광원(212)은 그에 구동전원을 제공하기 위한 구동부(222)와 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 구동부(222)는 필요에 따라, 상기 광원(212)에 정전류를 제공하기 위한 정류기나, DC/DC 컨버터 등을 포함할 수 있다. 또한, 상기 광원(212)에 일정한 적정 전류값을 제공하기 위한 IC 회로를 포함할 수 있다.
도 16은 발광모듈을 테스트 하는 단계(S300)를 보다 구체적으로 설명하기 위한 순서도이다.
도 16을 참조하면, 상기 발광모듈을 테스트하는 단계(S300)는, 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈을 구동하는 단계(S301)와, 상기 발광모듈에서 방출되는 광을 감지하는 단계(S302)와, 상기 감지된 광의 휘도정보를 생성하는 단계(S303)와, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교(S304)하여 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈의 동작조건을 설정(S305)하거나, 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈을 폐기하는 단계(S306)를 포함할 수 있다. 상술한 단계(S300)는 앞선 실시형태에서 설명한 발광모듈 테스트 장치(100)를 이용하여 수행될 수 있다.
이 경우, 상기 발광모듈에서 방출되는 광을 감지하는 단계(S302)는 센싱부(110)에서 수행될 수 있으며, 상기 감지된 광의 휘도정보를 생성하는 단계(S303) 및 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교(S304)하여 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈의 동작조건을 설정하는 단계(S305)는 제어부(120)에서 수행될 수 있을 것이다. 상기 제어부(120)는, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하는 단계(S306)에서, 상기 발광모듈의 불량여부를 판단할 수 있다.
도 17(a) 내지 도 17(c)는 테스트를 마친 발광모듈로부터 조명장치를 마련하는 단계(S400)가 완성된 상태의 도면을 나타낸 것이다. 구체적으로, 상기 조명장치는 도 17(a) 및 도 17(b)에 각각 도시된 것과 같은 벌브형 조명장치(2000) 및 L-튜브형 조명장치(3000)일 수 있다. 한편, 여기서 '조명장치'라 함은 조명의 용도에 특별히 제한되는 것이 아니라 할 것이며, 따라서 도 17(c)에 도시된 바와 같은 자동차 헤드라이트(4000)를 포함하는 개념으로 이해될 수 있다.
본 실시형태에 따르면, 적절한 휘도를 갖도록 동작조건이 설정된 발광모듈을 구비하는 조명장치를 효과적으로 제조할 수 있다.
본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.
100, 101: 발광모듈 테스트 장치 110: 센싱부
11,12,13,14: 수광부 PDA: 포토 다이오드 어레이
PD1 ~ PD12: 포토 다이오드 120: 제어부
130: 표시부 200: 발광모듈
210: 광원 220: 구동부
230: 기판

Claims (10)

  1. 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광을 감지하는 포토 다이오드 어레이를 포함하는 센싱부; 및
    상기 센싱부에서 감지된 광의 휘도정보를 생성하며, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하여 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈의 동작조건을 설정하는 제어부;
    를 포함하는 발광모듈 테스트 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제어부가 설정하는 상기 발광모듈의 동작조건은, 상기 발광모듈에 구비된 구동부가 상기 발광모듈에 구비된 광원으로 인가하는 전류값인 것을 특징으로 하는 발광모듈 테스트 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 포토 다이오드 어레이는 제1 내지 제n 포토 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광모듈 테스트 장치. (n은 2 이상의 자연수)
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 휘도정보는 상기 제1 내지 제n 포토 다이오드가 배치된 영역에서 각각 감지된 광의 휘도에 대한 정보를 포함하는 휘도 프로파일인 것을 특징으로 하는 발광모듈 테스트 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 기 설정된 기준범위는 상기 기준범위의 상한인 최대 기준휘도 프로파일과, 상기 기준범위의 하한인 최소 기준휘도 프로파일을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광모듈 테스트 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 제어부는, 상기 휘도 프로파일이 상기 최대 기준휘도 프로파일을 초과하는 영역을 갖는 경우 상기 발광모듈에 구비된 구동부에서 상기 발광모듈에 구비된 광원으로 인가되는 전류값이 낮아지도록 상기 발광모듈의 동작조건을 설정하는 것을 특징으로 하는 발광모듈 테스트 장치.
  7. 제5 항에 있어서,
    상기 제어부는, 상기 휘도 프로파일이 상기 최소 기준휘도 프로파일에 미달하는 영역을 갖는 경우 상기 발광모듈에 구비된 구동부에서 상기 발광모듈에 구비된 광원으로 인가되는 전류값이 커지도록 상기 발광모듈의 동작조건을 설정하는 것을 특징으로 하는 발광모듈 테스트 장치.
  8. 제5 항에 있어서,
    상기 제어부는, 상기 휘도 프로파일의 최대값과 상기 휘도 프로파일의 최소값의 차이가 상기 최대 기준휘도 프로파일과 상기 최소 기준휘도 프로파일의 차이보다 큰 경우, 상기 발광모듈을 불량으로 판단하는 것을 특징으로 하는 발광모듈 테스트 장치.
  9. 제5 항에 있어서,
    상기 센싱부는 제1 내지 제n 포토 다이오드를 각각 포함하는 제1 내지 제m 포토 다이오드 어레이를 포함하고,
    상기 휘도정보는 상기 제1 내지 제m 포토 다이오드 어레이에서 얻어진 제1 내지 제m 휘도 프로파일을 평균하여 도출되는 하나의 평균 휘도 프로파일인 것을 특징으로 하는 발광모듈 테스트 장치. (m은 2 이상의 자연수)
  10. 광원과 상기 광원을 구동하기 위한 전류를 제공하는 구동부가 구비된 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광을 감지하는 포토 다이오드 어레이를 포함하는 센싱부; 및
    상기 센싱부에서 감지된 광의 휘도정보를 생성하며, 상기 휘도정보를 기 설정된 기준범위와 비교하여, 상기 테스트 대상이 되는 발광모듈에서 방출되는 광의 휘도정보가 상기 기 설정된 기준범위를 만족하도록, 상기 발광모듈에 구비된 구동부가 상기 광원으로 인가하는 전류값을 설정하는 제어부;
    를 포함하는 발광모듈 테스트 장치.
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