KR20150028924A - Light emitting device - Google Patents

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KR20150028924A
KR20150028924A KR20130107328A KR20130107328A KR20150028924A KR 20150028924 A KR20150028924 A KR 20150028924A KR 20130107328 A KR20130107328 A KR 20130107328A KR 20130107328 A KR20130107328 A KR 20130107328A KR 20150028924 A KR20150028924 A KR 20150028924A
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light emitting
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윤형선
박찬근
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엘지이노텍 주식회사
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Abstract

A light emitting device according to an embodiment includes: a first semiconductor layer, a second semiconductor layer, an active layer which is arranged between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer, and an intermediate layer which is arranged between the active layer and the second semiconductor layer. The active layer includes multiple well layers and multiple barrier layers which are located between the well layers and have higher band gap energy compared to the well layer. The intermediate layer includes a first intermediate layer which has higher bandgap energy compared to the active layer and touches the active layer, and a second intermediate layer which touches the second semiconductor layer and has lower bandgap energy compared to the first intermediate layer. The first intermediate layer may touch the well layer.

Description

발광소자{Light emitting device}[0001]

실시예는 발광소자에 관한 것이다. An embodiment relates to a light emitting element.

발광소자의 대표적인 예로, LED(Light Emitting Diode; 발광 다이오드)는 화합물 반도체의 특성을 이용해 전기 신호를 적외선, 가시광선 또는 빛의 형태로 변환시키는 소자로, 가정용 가전제품, 리모콘, 전광판, 표시기, 각종 자동화 기기 등에 사용되고, 점차 LED의 사용 영역이 넓어지고 있는 추세이다.As a typical example of a light emitting device, a light emitting diode (LED) is a device for converting an electric signal into an infrared ray, a visible ray, or a light using the characteristics of a compound semiconductor, and is used for various devices such as household appliances, remote controllers, Automation equipment, and the like, and the use area of LEDs is gradually widening.

보통, 소형화된 LED는 PCB(Printed Circuit Board) 기판에 직접 장착하기 위해서 표면실장소자(Surface Mount Device)형으로 만들어지고 있고, 이에 따라 표시소자로 사용되고 있는 LED 램프도 표면실장소자 형으로 개발되고 있다. 이러한 표면실장소자는 기존의 단순한 점등 램프를 대체할 수 있으며, 이것은 다양한 칼라를 내는 점등표시기용, 문자표시기 및 영상표시기 등으로 사용된다.In general, miniaturized LEDs are made of a surface mounting device for mounting directly on a PCB (Printed Circuit Board) substrate, and an LED lamp used as a display device is also being developed as a surface mounting device type . Such a surface mount device can replace a conventional simple lighting lamp, which is used for a lighting indicator for various colors, a character indicator, an image indicator, and the like.

이와 같이 LED의 사용 영역이 넓어지면서, 생활에 사용되는 전등, 구조 신호용 전등 등에 요구되는 휘도가 높이지는 바, LED의 발광휘도를 증가시키는 것이 중요하다. As the use area of the LED is widened as described above, it is important to increase the luminance of the LED as the brightness required for a lamp used in daily life and a lamp for a structural signal is increased.

실시예는 정공주입효율을 증대시키고, 효율을 증대시킨 발광소자를 제공하는 데 있다.The embodiment is to provide a light emitting device that increases efficiency of hole injection and increases efficiency.

실시 예에 따른 발광소자는, 제1반도체층, 제2반도체층, 상기 제1반도체층과 상기 제2반도체층 사이에 배치되는 활성층 및 상기 활성층과 상기 제2반도체층 사이에 배치되는 중간층을 포함하고, 상기 활성층은 복수의 우물층과, 상기 우물층 사이에 위치하고, 상기 우물층 보다 큰 밴드갭 에너지를 가지는 복수의 장벽층을 포함하고, 상기 중간층은 상기 활성층 보다 큰 밴드갭 에너지를 가지며, 상기 활성층과 접하게 배치되는 제1중간층과, 상기 제2반도체층과 접하게 배치되되 상기 제1중간층의 밴드갭 에너지 보다 낮은 밴드갭 에너지를 가지는 제2중간층을 포함하고, 상기 제1중간층은 상기 우물층과 접하게 배치될 수 있다.
The light emitting device according to the embodiment includes a first semiconductor layer, a second semiconductor layer, an active layer disposed between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer, and an intermediate layer disposed between the active layer and the second semiconductor layer Wherein the active layer includes a plurality of well layers and a plurality of barrier layers located between the well layers and having a band gap energy greater than that of the well layers, the intermediate layer having a band gap energy greater than that of the active layer, A first intermediate layer disposed in contact with the active layer and a second intermediate layer disposed in contact with the second semiconductor layer and having a band gap energy lower than the band gap energy of the first intermediate layer, Can be disposed in contact with each other.

실시예에 따른 발광소자는 제2반도체층과 활성층 사이에 중간층이 배치됨으로써, 압전분극현상이 개선되고 전자와 정공의 재결합확률이 증가하여, 발광 효율이 개선될 수 있다.In the light emitting device according to the embodiment, since the intermediate layer is disposed between the second semiconductor layer and the active layer, the piezoelectric polarization phenomenon is improved and the recombination probability of electrons and holes is increased, and the luminous efficiency can be improved.

또한, 활성층에 인접한 제1중간층의 언도프 시키소, 활성층으로 디퓨전되는 p형 도펀트의 양을 줄여서 발광소자의 광도를 저하시키지 않는 이점이 있다.In addition, there is an advantage that the amount of the p-type dopant diffused into the active layer and the undoped silica of the first intermediate layer adjacent to the active layer is reduced, so that the luminous intensity of the light emitting device is not lowered.

또한, 마지막 장벽층을 생략하여서, 발광소자의 발광효율을 향상시킬 수 있다.In addition, the light emitting efficiency of the light emitting device can be improved by omitting the last barrier layer.

또한, 실시예는 발광효율이 향상되고, 발광소자의 작동전압도 감소하게 된다.
Further, in the embodiment, the luminous efficiency is improved and the operating voltage of the light emitting element is also decreased.

도 1은 실시 예에 따른 발광소자를 나타내는 단면도이다.
도 2는 도 1의 A를 확대한 부분 확대도이다.
도 3은 도 1의 실시예에 따른 발광소자의 에너지 밴드 다이어그램을 나타낸 도면이다.
도 4는 다른 실시 예에 따른 발광소자를 나타내는 단면도이다.
도 5은 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 발광소자패키지의 단면을 도시한 단면도이다.
도 6는 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 표시장치의 분해 사시도이다.
도 7은 도 6의 표시장치의 단면도이다.
도 8은 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 조명 장치의 분해 사시도이다.
1 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to an embodiment.
2 is an enlarged view of a portion of FIG.
3 is an energy band diagram of the light emitting device according to the embodiment of FIG.
4 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to another embodiment.
5 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device package including the light emitting device according to the embodiment.
6 is an exploded perspective view of a display device including a light emitting device according to an embodiment.
7 is a cross-sectional view of the display device of Fig.
8 is an exploded perspective view of a lighting device including a light emitting device according to an embodiment.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. To fully disclose the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성 요소들과 다른 소자 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작 시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below)"또는 "아래(beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 소자는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.The terms spatially relative, "below", "beneath", "lower", "above", "upper" May be used to readily describe a device or a relationship of components to other devices or components. Spatially relative terms should be understood to include, in addition to the orientation shown in the drawings, terms that include different orientations of the device during use or operation. For example, when inverting an element shown in the figures, an element described as "below" or "beneath" of another element may be placed "above" another element. Thus, the exemplary term "below" can include both downward and upward directions. The elements can also be oriented in different directions, so that spatially relative terms can be interpreted according to orientation.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terminology used herein is for the purpose of illustrating embodiments and is not intended to be limiting of the present invention. In the present specification, the singular form includes plural forms unless otherwise specified in the specification. It is noted that the terms "comprises" and / or "comprising" used in the specification are intended to be inclusive in a manner similar to the components, steps, operations, and / Or additions.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않은 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms (including technical and scientific terms) used herein may be used in a sense commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Also, commonly used predefined terms are not ideally or excessively interpreted unless explicitly defined otherwise.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기와 면적은 실제크기나 면적을 전적으로 반영하는 것은 아니다. The thickness and size of each layer in the drawings are exaggerated, omitted, or schematically shown for convenience and clarity of explanation. Also, the size and area of each component do not entirely reflect actual size or area.

또한, 실시예에서 발광소자의 구조를 설명하는 과정에서 언급하는 각도와 방향은 도면에 기재된 것을 기준으로 한다. 명세서에서 발광소자를 이루는 구조에 대한 설명에서, 각도에 대한 기준점과 위치관계를 명확히 언급하지 않은 경우, 관련 도면을 참조하도록 한다.Further, the angle and direction mentioned in the description of the structure of the light emitting device in the embodiment are based on those shown in the drawings. In the description of the structure of the light emitting device in the specification, reference points and positional relationship with respect to angles are not explicitly referred to, refer to the related drawings.

도 1은 실시 예에 따른 발광소자를 나타내는 단면도, 도 2는 도 1의 A를 확대한 부분 확대도, 도 3은 도1의 실시예에 따른 발광소자의 에너지 밴드 다이어그램을 나타낸 도면이다.FIG. 1 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to an embodiment, FIG. 2 is a partially enlarged view of FIG. 1, and FIG. 3 is an energy band diagram of a light emitting device according to the embodiment of FIG.

도 1을 참조하면, 발광소자(100)는 기판(110), 기판(110) 상에 배치되는 발광구조물을 포함할 수 있으며, 발광구조물은 제1반도체층(120), 활성층(130), 중간층(140) 및 제2반도체층(150)을 포함할 수 있다.1, the light emitting device 100 may include a substrate 110 and a light emitting structure disposed on the substrate 110. The light emitting structure may include a first semiconductor layer 120, an active layer 130, A first semiconductor layer 140 and a second semiconductor layer 150.

기판(110)은 광 투과적 성질을 가지는 재질, 예를 들어 사파이어(Al2O3), GaN, ZnO, AlO 중 어느 하나를 포함하여 형성될 수 있으나, 이에 한정하지는 않는다. 또한, 기판(110)은 반도체 물질 성장에 적합한 물질, 캐리어 웨이퍼로 형성될 수 있다. 열 전도성이 뛰어난 물질로 형성될 수 있으며, 전도성 기판 또는 절연성 기판을 포함하여 예를 들어, 사파이어(Al2O3) 기판에 비해 열전도성이 큰 SiC 기판 또는 Si, GaAs, GaP, InP, Ga2O3 중 적어도 하나를 사용할 수 있다. The substrate 110 may be formed of any material having optical transparency, for example, sapphire (Al 2 O 3 ), GaN, ZnO, or AlO, but is not limited thereto. In addition, the substrate 110 may be formed of a carrier wafer, a material suitable for semiconductor material growth. A SiC substrate having a higher thermal conductivity than a sapphire (Al 2 O 3 ) substrate or an SiC substrate including Si, GaAs, GaP, InP, Ga 2 O 3 can be used.

한편, 기판(110)의 상측 면에는 광 추출 효율을 높이기 위해 요철 구조가 마련될 수 있다. 본 명세서에서 언급되는 기판(110)은 요철 구조를 가지거나, 또는 가지지 않을 수 있다.On the other hand, a concavo-convex structure may be provided on the upper surface of the substrate 110 to enhance light extraction efficiency. The substrate 110 referred to herein may or may not have a concave-convex structure.

한편, 기판(110) 상에는 기판(110)와 제1반도체층(120) 사이의 격자 부정합을 완화하고 반도체층이 용이하게 성장될 수 있도록 하는 버퍼층(미도시)이 위치할 수 있다. 버퍼층(미도시)은 저온 분위기에서 형성할 수 있으며, 반도체층과 기판(110)과의 격자상수 차이를 완화시켜 줄 수 있는 물질로 이루어 질 수 있다. 예를 들어, GaN, InN, AlN, AlInN, InGaN, AlGaN, 및 InAlGaN 과 같은 물질을 포함할 수 있으며 이에 한정되지 않는다. .A buffer layer (not shown) may be disposed on the substrate 110 to mitigate lattice mismatch between the substrate 110 and the first semiconductor layer 120 and to facilitate growth of the semiconductor layer. The buffer layer (not shown) can be formed in a low-temperature atmosphere and can be made of a material that can alleviate the difference in lattice constant between the semiconductor layer and the substrate 110. But are not limited to, materials such as, for example, GaN, InN, AlN, AlInN, InGaN, AlGaN, and InAlGaN. .

버퍼층(미도시)은 기판(110)상에 단결정으로 성장할 수 있으며, 단결정으로 성장한 버퍼층(미도시)은 버퍼층(미도시)상에 성장하는 제1반도체층(120)의 결정성을 향상시킬 수 있다.A buffer layer (not shown) may be grown on the substrate 110 as a single crystal, and a buffer layer (not shown) grown by a single crystal may improve the crystallinity of the first semiconductor layer 120 grown on the buffer layer have.

버퍼층(미도시) 상에는 제1반도체층(120), 활성층(130), 및 제2반도체층(150)을 포함한 발광 구조물(160)이 형성될 수 있다.A light emitting structure 160 including a first semiconductor layer 120, an active layer 130, and a second semiconductor layer 150 may be formed on a buffer layer (not shown).

버퍼층(미도시) 상에는 제1반도체층(120)이 위치할 수 있다. 제1반도체층(120)은 반도체 화합물로 형성될 수 있으며 제1 도전성 도펀트가 도핑될 수 있다. 예를 들어, 제1반도체층(120)은 n형 반도체층으로 구현될 수 있으며, 활성층(130)에 전자를 제공할 수 있다. 제1반도체층(120)은 예를 들어, InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, Si, Ge, Sn, Se, Te 등의 n형 도펀트가 도핑될 수 있다.The first semiconductor layer 120 may be located on a buffer layer (not shown). The first semiconductor layer 120 may be formed of a semiconductor compound and may be doped with a first conductive dopant. For example, the first semiconductor layer 120 may be formed of an n-type semiconductor layer and may provide electrons to the active layer 130. The first semiconductor layer 120 may be a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1-xy N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? For example, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN and AlInN, and n-type dopants such as Si, Ge, Sn, Se and Te can be doped.

또한, 제1반도체층(120) 아래에 언도프트 반도체층(미도시)을 더 포함할 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 언도프트 반도체층은 제1반도체층(120)의 결정성 향상을 위해 형성되는 층으로, n형 도펀트가 도핑되지 않아 제1반도체층(120)에 비해 낮은 전기전도성을 갖는 것을 제외하고는 제1반도체층(120)과 같을 수 있다.Further, the semiconductor layer 120 may further include an undoped semiconductor layer (not shown), but the present invention is not limited thereto. The un-doped semiconductor layer is a layer formed for improving the crystallinity of the first semiconductor layer 120 and has a lower electrical conductivity than the first semiconductor layer 120 without doping the n-type dopant. May be the same as the semiconductor layer 120.

제1반도체층(120) 상에는 활성층(130)이 형성될 수 있다. 활성층(130)은 3족-5족 원소의 화합물 반도체 재료를 이용하여 단일 또는 다중 양자 우물 구조, 양자 선(Quantum-Wire) 구조, 또는 양자 점(Quantum Dot) 구조 등으로 형성될 수 있다.The active layer 130 may be formed on the first semiconductor layer 120. The active layer 130 may be formed of a single or multiple quantum well structure, a quantum-wire structure, a quantum dot structure, or the like using a compound semiconductor material of Group 3-V group elements.

활성층(130)이 양자우물구조로 형성된 경우 예컨대, InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 우물층과 InaAlbGa1-a-bN (0≤a≤1, 0≤b≤1, 0≤a+b≤1)의 조성식을 갖는 장벽층을 갖는 단일 또는 다중 양자우물구조를 가질 수 있다. 우물층은 장벽층의 밴드 갭보다 작은 밴드 갭을 갖는 물질로 형성될 수 있다.When the active layer 130 has a quantum well structure, for example, a well layer having a composition formula of In x Al y Ga 1-xy N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? 1) And a barrier layer having a composition formula of In a Al b Ga 1-ab N (0? A? 1, 0? B? 1, 0? A + b? 1). The well layer may be formed of a material having a band gap smaller than the band gap of the barrier layer.

또한, 활성층(130)이 다중 양자우물구조를 가질 경우, 각각의 우물층(미도시)은 서로 상이한 In 함유량 및 서로 상이한 밴드갭을 가질 수 있으며, 이에 대해서는 도 2를 참조하여 후술한다.In addition, when the active layer 130 has a multiple quantum well structure, each well layer (not shown) may have a different In content and different band gaps, which will be described later with reference to FIG.

활성층(130)의 위 또는/및 아래에는 도전성 클래드층(미도시)이 형성될 수 있다. 도전성 클래드층(미도시)은 반도체로 형성될 수 있으며, 활성층(130)의 밴드 갭보다는 큰 밴드 갭을 가질 수 있다. 예를 들어, 도전성 클래드층(미도시)은 AlGaN을 포함하여 형성할 수 있다,A conductive clad layer (not shown) may be formed on and / or below the active layer 130. The conductive clad layer (not shown) may be formed of a semiconductor and may have a band gap larger than that of the active layer 130. For example, the conductive clad layer (not shown) may be formed including AlGaN,

제2반도체층(150)은 활성층(130)에 정공을 주입하도록 반도체 화합물로 형성될 수 있으며 제2 도전성 도펀트가 도핑될 수 있다. 예를 들어, 제2반도체층(150)은 p형 반도체층으로 구현될 수 있다. 제2반도체층(150)은 예를 들어, InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑될 수 있다.The second semiconductor layer 150 may be formed of a semiconductor compound to inject holes into the active layer 130 and may be doped with a second conductive dopant. For example, the second semiconductor layer 150 may be implemented as a p-type semiconductor layer. The second semiconductor layer 150 may be a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1-xy N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? For example, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN and AlInN, and a p-type dopant such as Mg, Zn, Ca, Sr and Ba may be doped.

한편, 활성층(130)과 제2반도체층(150) 사이에 중간층(140)이 형성될 수 있으며, 중간층(140)은 고 전류 인가 시 제1반도체층(120)으로부터 활성층(130)으로 주입되는 전자가 활성층(130)에서 재결합되지 않고 제2반도체층(150)으로 흐르는 현상을 방지할 수 있다. 중간층(140)은 활성층(130)보다 상대적으로 큰 밴드갭을 가짐으로써, 제1반도체층(120)으로부터 주입된 전자가 활성층(130)에서 재결합되지 않고 제2반도체층(150)으로 주입되는 현상을 방지할 수 있다. 이에 따라 활성층(130)에서 전자와 정공의 재결합 확률을 높이고 누설전류를 방지할 수 있다.An intermediate layer 140 may be formed between the active layer 130 and the second semiconductor layer 150 and the intermediate layer 140 may be injected into the active layer 130 from the first semiconductor layer 120 It is possible to prevent a phenomenon that electrons flow to the second semiconductor layer 150 without being recombined in the active layer 130. The intermediate layer 140 has a relatively larger bandgap than the active layer 130 so that electrons injected from the first semiconductor layer 120 are injected into the second semiconductor layer 150 without being recombined in the active layer 130 Can be prevented. Accordingly, the probability of recombination of electrons and holes in the active layer 130 can be increased and the leakage current can be prevented.

중간층(140)은 활성층(130)과 제2반도체층(150) 사이에 배치될 수 있다. 그리고, 중간층(140)은 제2반도체층(150) 보다 격자상수가 클 수 있다.The intermediate layer 140 may be disposed between the active layer 130 and the second semiconductor layer 150. The intermediate layer 140 may have a larger lattice constant than the second semiconductor layer 150.

중간층(140)에 대한 자세한 설명은 후술하도록 한다.The intermediate layer 140 will be described later in detail.

상술한 제1반도체층(120), 활성층(130), 중간층(140) 및 제2반도체층(150)은 예를 들어, 유기금속 화학 증착법(MOCVD; Metal Organic Chemical Vapor Deposition), 화학 증착법(CVD; Chemical Vapor Deposition), 플라즈마 화학 증착법(PECVD; Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition), 분자선 성장법(MBE; Molecular Beam Epitaxy), 수소화물 기상 성장법(HVPE; Hydride Vapor Phase Epitaxy), 스퍼터링(Sputtering) 등의 방법을 이용하여 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first semiconductor layer 120, the active layer 130, the intermediate layer 140, and the second semiconductor layer 150 may be formed by, for example, metal organic chemical vapor deposition (MOCVD), chemical vapor deposition (CVD) (Chemical Vapor Deposition), plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD), molecular beam epitaxy (MBE), hydride vapor phase epitaxy (HVPE), sputtering, etc. But the present invention is not limited thereto.

또한, 제1반도체층(120) 및 제2반도체층(150) 내의 도전성 도펀트의 도핑 농도는 균일 또는 불균일하게 형성될 수 있다. 즉, 복수의 반도체층은 다양한 도핑 농도 분포를 갖도록 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.In addition, the doping concentration of the conductive dopant in the first semiconductor layer 120 and the second semiconductor layer 150 can be uniformly or nonuniformly formed. That is, the plurality of semiconductor layers may be formed to have various doping concentration distributions, but the invention is not limited thereto.

또한, 제1반도체층(120)이 p형 반도체층으로 구현되고, 제2반도체층(150)이 n형 반도체층으로 구현될 수 있으며, 제2반도체층(150) 상에는 제2반도체층(150)의 극성과 반대되는 n형 또는 p형 반도체층을 포함하는 제3 반도체층(미도시)이 형성될 수도 있다. 이에 따라, 발광 소자(100)는 np, pn, npn, pnp 접합 구조 중 적어도 어느 하나를 가질 수 있다.The first semiconductor layer 120 may be a p-type semiconductor layer, the second semiconductor layer 150 may be an n-type semiconductor layer, and the second semiconductor layer 150 A third semiconductor layer (not shown) including an n-type or p-type semiconductor layer which is opposite to the polarity of the n-type or p-type semiconductor layer may be formed. Accordingly, the light emitting device 100 may have at least one of np, pn, npn, and pnp junction structures.

제2반도체층(150) 상에는 투광성전극층(170)이 형성될 수 있다. 투광성전극층(170)은 ITO, IZO(In-ZnO), GZO(Ga-ZnO), AZO(Al-ZnO), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있다. 따라서, 활성층(130)에서 발생한 광을 외부로 발산할 수 있으며, 제2반도체층(150)의 외측 일면 전체 또는 일부에 형성됨으로써, 전류군집현상을 방지할 수 있다.A light-transmitting electrode layer 170 may be formed on the second semiconductor layer 150. The transparent electrode layer 170 is ITO, IZO (In-ZnO) , GZO (Ga-ZnO), AZO (Al-ZnO), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), IrO x, RuO x , RuO x / ITO, Ni / IrO x / Au, and Ni / IrO x / Au / ITO. Accordingly, the light generated in the active layer 130 can be diverted to the outside, and formed on the whole or a part of the outer side of the second semiconductor layer 150, thereby preventing current clustering.

한편, 제1반도체층(120)상에는 제1반도체층(120)과 전기적으로 연결되는 제1 전극(172)이 배치될 수 있다. 예를 들면, 활성층(130)과 제2반도체층(150)은 일부가 제거되어 제1반도체층(120)의 일부가 노출될 수 있고, 노출된 제1반도체층(120) 상에는 제1 전극(172)이 형성될 수 있다. 즉, 제1반도체층(120)은 활성층(130)을 향하는 상면과 기판(110)을 향하는 하면을 포함하고, 상면은 적어도 일 영역이 노출된 영역을 포함하며, 제1 전극(172)은 상면의 노출된 영역상에 배치될 수 있다. 다만, 이에 한정되지 않는다.A first electrode 172 electrically connected to the first semiconductor layer 120 may be disposed on the first semiconductor layer 120. For example, the active layer 130 and the second semiconductor layer 150 may be partially removed to expose a portion of the first semiconductor layer 120, and a first electrode (not shown) may be formed on the exposed first semiconductor layer 120, 172 may be formed. That is, the first semiconductor layer 120 includes a top surface facing the active layer 130 and a bottom surface facing the substrate 110, and an upper surface includes a region exposed at least one region, As shown in FIG. However, the present invention is not limited thereto.

한편, 제1반도체층(120)의 일부가 노출되게 하는 방법은 소정의 식각 방법을 사용할 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다. 또한, 식각방법은 습식 식각, 건식 식각방법을 사용할 수 있다.Meanwhile, a method of exposing a part of the first semiconductor layer 120 may use a predetermined etching method, but is not limited thereto. The etching method may be a wet etching method or a dry etching method.

또한, 제2반도체층(150) 상에는 제2 전극(174)이 형성될 수 있다.Also, a second electrode 174 may be formed on the second semiconductor layer 150.

한편, 제1 및 2 전극(172, 174)은 전도성 물질, 예를 들어 In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, 및 WTi 중에서 선택된 금속을 포함할 수 있으며, 또는 이들의 합금을 포함할 수 있고, 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며 이에 한정하지 아니한다.The first and second electrodes 172 and 174 may be formed of a conductive material such as In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, , A metal selected from Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, and WTi or an alloy thereof and may be formed as a single layer or a multilayer .

도 1 및 도 2를 참조하면, 발광소자(100)의 활성층(130)은 다중 양자우물 구조를 가질 수 있으며, 예를 들면, 활성층(130)은 제1 내지 제3 우물층(Q1, Q2, Q3) 및 제1 내지 제2 장벽층(B1, B2)을 포함할 수 있다. 1 and 2, the active layer 130 of the light emitting device 100 may have a multiple quantum well structure. For example, the active layer 130 may include first through third well layers Q1, Q2, Q3, and first and second barrier layers B1, B2.

또한, 제1 내지 제3 우물층(Q1, Q2, Q3) 및 제1 내지 제2 장벽층(B1, B2)은 도 2에 도시된 바와 같이 서로 교대로 적층되는 구조를 가질 수 있다. The first through third well layers Q1, Q2 and Q3 and the first and second barrier layers B1 and B2 may have a structure in which they are alternately stacked as shown in FIG.

한편, 도 2에서는 각각 제1 내지 제3 우물층(Q1, Q2, Q3) 및 제1 내지 제2 장벽층(B1, B2, )이 형성되고 제1 내지 제3 우물층(Q1, Q2, Q3)과 제1 내지 제2 장벽층(B1, B2) 이 교대로 적층되게 형성되도록 도시되었으나, 이에 한정하지 아니하며, 우물층(Q1, Q2, Q3) 및 장벽층(B1, B2)은 임의의 수를 갖도록 형성될 수 있다.장벽층(B1, B2)은 우물층(Q1, Q2, Q3) 보다 큰 밴드갭 에너지를 가질 수 있다. 바람직하게는, 장벽층(B1, B2)이 GaN을 포함하고, 우물층(Q1, Q2, Q3)이 InGaN을 포함할 수 있다.In FIG. 2, first through third well layers Q1, Q2 and Q3 and first and second barrier layers B1 and B2 are formed and first through third well layers Q1, Q2 and Q3 But the present invention is not limited thereto and the well layers Q1, Q2 and Q3 and the barrier layers B1 and B2 may be formed in any number The barrier layers B1 and B2 may have band gap energies greater than those of the well layers Q1, Q2 and Q3. Preferably, the barrier layers B1 and B2 comprise GaN and the well layers Q1, Q2 and Q3 may comprise InGaN.

다시 도 1 내지 도 3을 참조하면, 중간층(140)은 활성층(130)과 제2반도체층(150) 사이에 배치될 수 있다. 그리고, 중간층(140)은 제2반도체층(150) 보다 격자상수가 클 수 있다. Referring again to FIGS. 1 to 3, the intermediate layer 140 may be disposed between the active layer 130 and the second semiconductor layer 150. The intermediate layer 140 may have a larger lattice constant than the second semiconductor layer 150.

예를 들면, 중간층(140)은 활성층과 접하게 배치되는 제1중간층(141)과, 제2반도체층과 접하게 배치되는 제2중간층(142)을 포함할 수 있다.For example, the intermediate layer 140 may include a first intermediate layer 141 disposed in contact with the active layer, and a second intermediate layer 142 disposed in contact with the second semiconductor layer.

제1중간층(141)은 활성층(130)과 접하게 배치된다. 구체적으로, 제1중간층(141)은 활성층(130)의 마지막 우물층(예를 들면 제3우물층(Q3))접하게 배치될 수 있다.The first intermediate layer 141 is disposed in contact with the active layer 130. Specifically, the first intermediate layer 141 may be disposed adjacent to the last well layer (for example, the third well layer Q3) of the active layer 130. [

제1중간층(141)의 밴드갭 에너지는 제2중간층(142)의 밴드갭 에너지 보다 낮을 수 있다.The band gap energy of the first intermediate layer 141 may be lower than the band gap energy of the second intermediate layer 142.

제1중간층(141)과 제2중간층(142)은 AlGaN을 포함할 수 있고, 제1중간층(141)의 Al의 함량은 제2중간층(142)의 Al 함량보다 클 수 있다.The first intermediate layer 141 and the second intermediate layer 142 may include AlGaN and the Al content of the first intermediate layer 141 may be larger than the Al content of the second intermediate layer 142. [

제1중간층(141)은 제2반도체층(150) 또는 제2중간층(142)의 도펀트가 활성층(130)의 마지막 우물층(Q3)로 디퓨젼(Diffusion)되는 것을 줄일 수 있고, 전자와 전공이 활성층(130)에서 재결합하지 않고 제2반도체층(150)로 빠져나가지 못하도록 차단할 수 있다.The first intermediate layer 141 can reduce the diffusion of the dopant of the second semiconductor layer 150 or the second intermediate layer 142 to the final well layer Q3 of the active layer 130, Can be prevented from being escaped to the second semiconductor layer 150 without being recombined in the active layer 130.

구체적으로, 제1중간층(141)의 Al 함량은 활성층에서 제2반도체층 방향으로 갈수록 감소될 수 있다. Al 함량의 급격한 변화는 반도체층에 격자 부정합을 심하게 하여서 발광소자의 품질을 저하하기 때문이다.Specifically, the Al content of the first intermediate layer 141 can be reduced from the active layer toward the second semiconductor layer. The abrupt change in the Al content causes severe lattice mismatching in the semiconductor layer and degrades the quality of the light emitting device.

더욱 구체적으로, 제1중간층(141)의 알루미늄 함량은 15% 내지 20 % 일 수 있다. 제1중간층(141)의 알루미늄 함량이 15% 미만이 되는 경우, 활성층(130) 내부의 장벽층과의 에너지 밴드갭 차이가 거의 없어져, 전자의 이동을 막는 역할이 줄어들 수 있고, 알루미늄 함량이 20 % 를 초과 하는 경우, 급격한 Al함량 변화로 발광소자의 품질이 저하되는 문제점이 있기 때문이다.More specifically, the aluminum content of the first intermediate layer 141 may be 15% to 20%. When the aluminum content of the first intermediate layer 141 is less than 15%, the difference in the energy band gap with the barrier layer in the active layer 130 hardly occurs, and the role of preventing the electron migration can be reduced. %, The quality of the light emitting device is deteriorated due to a rapid Al content change.

더욱 구체적으로, 제2중간층(142)의 Al함량은 12% 내지 14% 일 수 있다. 제2중간층(142)의 알루미늄 함량이 12% 보다 작은 경우, 활성층(130) 내부의 장벽층과의 에너지 밴드갭 차이가 거의 없어져, 전자의 이동을 막는 역할이 줄어들 수 있고, 알루미늄 함량이 14 % 를 초과 하는 경우, 제2반도체층과의 Al함량 차이로 인해 발광소자의 품질이 저하되는 문제점이 있기 때문이다.More specifically, the Al content of the second intermediate layer 142 may be between 12% and 14%. When the aluminum content of the second intermediate layer 142 is less than 12%, the difference in the energy band gap with the barrier layer in the active layer 130 hardly occurs, , There is a problem that the quality of the light emitting device is deteriorated due to the difference in Al content between the second semiconductor layer and the second semiconductor layer.

한편, 제1중간층(141)은 언도프드(Undoped) 층이고, 제2중간층(142)은 제2반도체층(150)과 같은 극성의 도펀트(예를 들면 p형 도펀트)에 의해 도핑될 수 있다.On the other hand, the first intermediate layer 141 may be an undoped layer and the second intermediate layer 142 may be doped with a dopant (for example, a p-type dopant) having the same polarity as the second semiconductor layer 150 .

제1중간층(141)이 언도프드(Undoped)층 이므로, 낮은 전도성으로 인해 얇은 두께에서도 효과적으로 전자를 차단할 수 있다.Since the first intermediate layer 141 is an undoped layer, electrons can be effectively blocked even at a thin thickness due to low conductivity.

제2중간층(142)은 p형 도펀트로 도핑되고, p형 도펀트는, Mg, Zn, Ca, Sr 및 Ba 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2중간층(142)은 Mg(마그네슘)으로 도핑될 수 있다.The second intermediate layer 142 may be doped with a p-type dopant, and the p-type dopant may include any one of Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba. For example, the second intermediate layer 142 may be doped with Mg (magnesium).

제2중간층(142)에 p형 도펀트를 도핑하면, 제2반도체층(150)에서 활성층(130)로 주입되는 정공주입효율이 개선되는 효과가 있지만, p형 도펀트가 인접한 활성층(130)으로 디퓨젼(Diffusion)되는 현상이 발생한다. 활성층(130)으로 디퓨젼된 p형 도펀트는 발광소자의 광도를 저하시키는 문제점이 발생한다.Doping the second intermediate layer 142 with the p-type dopant improves the efficiency of injecting holes injected into the active layer 130 from the second semiconductor layer 150. However, when the p-type dopant is doped into the adjacent active layer 130 A phenomenon of diffusion is generated. The p-type dopant diffused into the active layer 130 lowers the luminous intensity of the light emitting device.

따라서, 활성층(130)에 인접한 제1중간층(141)을 언도프 시키면, 활성층(130)으로 디퓨전되는 p형 도펀트의 양을 줄여서 발광소자의 광도를 저하시키지 않고, 제2반도체층(150)에서 활성층(130)으로 주입되는 정공의 주입효율을 개선하는 효과를 가진다. Therefore, if the first intermediate layer 141 adjacent to the active layer 130 is undoped, the amount of the p-type dopant diffused into the active layer 130 is reduced, And has an effect of improving injection efficiency of holes injected into the active layer 130.

제1중간층(141)의 두께는 제2중간층(142) 두께 보다 얇을 수 있다.The thickness of the first intermediate layer 141 may be thinner than the thickness of the second intermediate layer 142.

구체적으로, 제1중간층(141)의 두께는 2nm 내지 5nm 일 수 있다. 제1중간층(141)이 5nm 보다 두꺼운 경우, 제1중간층(141)의 낮은 전도성으로 인해 발광소자의 효율이 저하될 수 있고, 제1중간층(141)이 2nm 보다 얇은 경우, 활성층(130)에서 제2반도체층(150)으로 흐르는 전자를 차단할 수 없는 문제점이 있기 때문이다.Specifically, the thickness of the first intermediate layer 141 may be 2 nm to 5 nm. When the first intermediate layer 141 is thicker than 5 nm, the efficiency of the light emitting device may be lowered due to the low conductivity of the first intermediate layer 141. When the first intermediate layer 141 is thinner than 2 nm, Electrons flowing to the second semiconductor layer 150 can not be blocked.

또한, 제2중간층(142)의 두께는 25nm 내지 50nm일 수 있다. 제2중간층(142)의 두께가 25nm 보다 얇은 경우, 활성층(130)에서 제2반도체층(150)으로 흐르는 전자를 차단할 수 없고, 제2중간층(142)의 두께가 50nm 보다 두꺼운 경우, 발광소자의 효율이 저하될 수 있기 때문이다.In addition, the thickness of the second intermediate layer 142 may be 25 nm to 50 nm. When the thickness of the second intermediate layer 142 is thinner than 25 nm, electrons flowing from the active layer 130 to the second semiconductor layer 150 can not be blocked. When the thickness of the second intermediate layer 142 is thicker than 50 nm, As shown in FIG.

중간층(140)의 성장 시 온도 조절에 의해 만입부(미도시)가 형성되도록 할 수 있다. An indentation (not shown) may be formed by temperature control during growth of the intermediate layer 140.

상술한 만입부는, v형상 또는 육각 뿔형상으로 아래로 오목한 형상을 가질 수 있다.The above-described indentation may have a v-shape or a hexagonal conical shape and a downward concave shape.

예를 들어, 중간층(140)을 온도 550~940?, 압력 100~500torr로 하여 성장시키면, 중간층(140)의 상면에 만입부가 형성되도록 할 수 있다.For example, when the intermediate layer 140 is grown at a temperature of 550 to 940 ° C. and a pressure of 100 to 500 torr, a depressed portion may be formed on the upper surface of the intermediate layer 140.

중간층(140)의 성장 초기에는 1000? 이상의 고온에서 성장시키며, 성장의 마지막 단계에서, 성장 온도를 550~940?로 낮추게 되면, 만입부가 형성되게 된다. 또한, 중간층(140)의 성장 초기에는 1000? 이상의 고온에서 성장시키고, Ga 소스(TGMA 등), N 소스(NH3 등) 및 H2 등을 공급하다가, 성장의 마지막 단계에서, 성장 온도를 550~940?로 낮추고, Ga 소스와 N 소스를 중단하거나 줄임으로써 제1만입부(미도시)가 형성되게 된다.In the initial growth of the intermediate layer 140, 1000? Or more, and at the final stage of growth, when the growth temperature is lowered to 550 to 940 ?, the indentation portion is formed. In the initial stage of growth of the intermediate layer 140, 1000? (TGMA or the like), N source (NH3 or the like), H2 or the like is supplied and the growth temperature is reduced to 550 to 940? At the final stage of growth and the Ga source and the N source are stopped The first indenting portion (not shown) is formed.

도 4는 다른 실시 예에 따른 발광소자를 나타내는 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to another embodiment.

도 4를 참조하면, 실시예에 따른 발광소자(200)는 지지부재(210), 지지부재(210) 상에 배치되는 제1 전극층(220)과 제1반도체층(120), 활성층(130), 제2반도체층(150) 및 중간층(140)을 포함한 발광 구조물 및 제2 전극층(282)을 포함할 수 있다.4, the light emitting device 200 according to the embodiment includes a support member 210, a first electrode layer 220 disposed on the support member 210, a first semiconductor layer 120, an active layer 130, A second semiconductor layer 150, and an intermediate layer 140, and a second electrode layer 282. The second electrode layer 282 may include a first electrode layer, a second electrode layer, and a second electrode layer.

여기서, 발광구조물의 구조는 아래 위가 바뀐 것을 제외하고 도 1의 실시예에서 설명한 바와 동일하므로, 이하 설명은 생략하도록 한다.Here, the structure of the light emitting structure is the same as that described in the embodiment of FIG. 1 except that the upper and lower portions are changed, and the description thereof will be omitted.

지지부재(210)는 열전도성이 우수한 물질을 이용하여 형성할 수 있으며, 또한 전도성 물질로 형성할 수 있는데, 금속 물질 또는 전도성 세라믹을 이용하여 형성할 수 있다. 지지부재(210)는 단일층으로 형성될 수 있고, 이중 구조 또는 그 이상의 다중 구조로 형성될 수 있다.The support member 210 may be formed using a material having a high thermal conductivity, or may be formed of a conductive material. The support member 210 may be formed using a metal material or a conductive ceramic. The support member 210 may be formed as a single layer, and may be formed as a double structure or a multiple structure.

즉, 지지부재(210)는 금속, 예를 들어 Au, Ni, W, Mo, Cu, Al, Ta, Ag, Pt, Cr중에서 선택된 어느 하나로 형성하거나 둘 이상의 합금으로 형성할 수 있으며, 서로 다른 둘 이상의 물질을 적층하여 형성할 수 있다. 또한 지지부재(210)는 Si, Ge, GaAs, ZnO, SiC, SiGe, GaN, Ga2O3 와 같은 캐리어 웨이퍼로 구현될 수 있다.That is, the support member 210 may be formed of any one selected from a metal, for example, Au, Ni, W, Mo, Cu, Al, Ta, Ag, Pt, and Cr, or may be formed of two or more alloys. The above materials can be laminated. In addition, the support member 210 may be implemented with a carrier wafer such as Si, Ge, GaAs, ZnO, SiC, SiGe, GaN, Ga 2 O 3.

이와 같은 지지부재(210)는 발광소자(200)에서 발생하는 열의 방출을 용이하게 하여 발광소자(200)의 열적 안정성을 향상시킬 수 있다.Such a support member 210 facilitates the release of heat generated in the light emitting device 200, thereby improving the thermal stability of the light emitting device 200.

한편, 지지부재(210) 상에는 제1 전극층(220)이 형성될 수 있으며, 제1 전극층(220)은 오믹층(ohmic layer)(미도시), 반사층(reflective layer)(미도시), 본딩층(bonding layer)(미도시) 중 적어도 한 층을 포함할 수 있다. 예를 들어 제1 전극층(220)은 오믹층/반사층/본딩층의 구조이거나, 오믹층/반사층의 적층 구조이거나, 반사층(오믹 포함)/본딩층의 구조일 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 예컨대, 제1 전극층(220)은 절연층상에 반사층 및 오믹층이 순차로 적층된 형태일 수 있다.A first electrode layer 220 may be formed on the support member 210. The first electrode layer 220 may include an ohmic layer (not shown), a reflective layer (not shown) and a bonding layer (not shown). For example, the first electrode layer 220 may be a structure of an ohmic layer / a reflection layer / a bonding layer, a laminate structure of an ohmic layer / a reflection layer, or a structure of a reflection layer (including an ohmic layer) / a bonding layer. For example, the first electrode layer 220 may be formed by sequentially stacking a reflective layer and an ohmic layer on an insulating layer.

반사층(미도시)은 오믹층(미도시) 및 절연층(미도시) 사이에 배치될 수 있으며, 반사특성이 우수한 물질, 예를 들어 Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 및 이들의 선택적인 조합으로 구성된 물질 중에서 형성되거나, 상기 금속 물질과 IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성할 수 있다. 또한 반사층(미도시)은 IZO/Ni, AZO/Ag, IZO/Ag/Ni, AZO/Ag/Ni 등으로 적층할 수 있다. 또한 반사층(미도시)을 발광 구조물(270)(예컨대, 제1 반도체층(230))과 오믹 접촉하는 물질로 형성할 경우, 오믹층(미도시)은 별도로 형성하지 않을 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The reflective layer (not shown) may be disposed between an ohmic layer (not shown) and an insulating layer (not shown), and may be formed of a material having excellent reflection characteristics, such as Ag, Ni, Al, Rh, Pd, , Zn, Pt, Au, Hf, and combinations thereof. Alternatively, the metal material and the transparent conductive material such as IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, . Further, the reflective layer (not shown) can be laminated with IZO / Ni, AZO / Ag, IZO / Ag / Ni, AZO / Ag / Ni and the like. When a reflective layer (not shown) is formed of a material in ohmic contact with the light emitting structure 270 (for example, the first semiconductor layer 230), an ohmic layer (not shown) may not be formed separately, I do not.

오믹층(미도시)은 발광 구조물(270)의 하면에 오믹 접촉되며, 층 또는 복수의 패턴으로 형성될 수 있다. 오믹층(미도시)은 투광성 전극층과 금속이 선택적으로 사용될 수 있으며, 예를 들어, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni, Ag, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 하나 이상을 이용하여 단층 또는 다층으로 구현할 수 있다. 오믹층(미도시)은 제1 반도체층(230)에 캐리어의 주입을 원활히 하기 위한 것으로, 반드시 형성되어야 하는 것은 아니다.The ohmic layer (not shown) is in ohmic contact with the lower surface of the light emitting structure 270, and may be formed as a layer or a plurality of patterns. The ohmic layer (not shown) may be formed of a transparent electrode layer and a metal. For example, ITO (indium tin oxide), IZO (indium zinc oxide), IZTO (indium zinc tin oxide) ), IGZO (indium gallium zinc oxide), IGTO (indium gallium tin oxide), AZO (aluminum zinc oxide), ATO (antimony tin oxide), GZO (gallium zinc oxide), IrO x , RuO x , RuO x / Ni, Ag, Ni / IrO x / Au, and Ni / IrO x / Au / ITO. The ohmic layer (not shown) is provided for facilitating the injection of carriers into the first semiconductor layer 230, and is not necessarily formed.

또한, 제1 전극층(220)은 본딩층(미도시)을 포함할 수 있으며, 이때 본딩층(미도시)은 배리어 금속(barrier metal), 또는 본딩 금속, 예를 들어, Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag 또는 Ta 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며 이에 한정하지 않는다.The first electrode layer 220 may include a bonding layer (not shown), wherein the bonding layer (not shown) may include a barrier metal or a bonding metal such as Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, or Ta.

한편, 제1반도체층(120)상에는 제1반도체층(120)과 전기적으로 연결된 제2 전극층(282)이 형성될 수 있으며, 제2 전극층(282)은 적어도 하나의 패드 또는/및 소정 패턴을 갖는 전극을 포함할 수 있다. 제2 전극층(282)은 제1반도체층(120)의 상면 중 센터 영역, 외측 영역 또는 모서리 영역에 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 제2 전극층(282)은 제1반도체층(120)의 위가 아닌 다른 영역에 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. A second electrode layer 282 electrically connected to the first semiconductor layer 120 may be formed on the first semiconductor layer 120. The second electrode layer 282 may include at least one pad and / And an electrode having an electrode. The second electrode layer 282 may be disposed in the center region, the outer region, or the edge region of the upper surface of the first semiconductor layer 120, but the present invention is not limited thereto. The second electrode layer 282 may be disposed in a region other than the upper portion of the first semiconductor layer 120, but the present invention is not limited thereto.

제2 전극층(282)은 전도성 물질, 예를 들어 In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, 및 WTi 중에서 선택된 금속 또는 합금을 이용하여 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다.The second electrode layer 282 may be formed of a conductive material such as In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, , Mo, Nb, Al, Ni, Cu, and WTi.

제1반도체층(120)의 상부에는 광 추출 구조(284)가 형성될 수 있다.A light extracting structure 284 may be formed on the first semiconductor layer 120.

광 추출 구조(270)는 제1반도체층(120)의 상면에 형성되거나, 또는 제1반도체층(120)의 상부에 투광성 전극층(미도시)을 형성한 후 투광성 전극층(미도시)의 상부에 형성될 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다.The light extraction structure 270 may be formed on the top surface of the first semiconductor layer 120 or may be formed on the top of the transparent electrode layer (not shown) after forming a transparent electrode layer (not shown) on the top of the first semiconductor layer 120 But is not limited thereto.

광 추출 구조(284)는 투광성 전극층(미도시), 또는 제1반도체층(120)의 상부 표면의 일부 또는 전체 영역에 형성될 수 있다. 광 추출 구조(284)는 투광성 전극층(미도시), 또는 제1반도체층(120)의 상면의 적어도 일 영역에 대해 에칭을 수행함으로써 형성될 수 있으며, 이에 한정하지 않는다. 상기 에칭 과정은 습식 또는/및 건식 에칭 공정을 포함하며, 에칭 과정을 거침에 따라서, 투광성 전극층(미도시)의 상면 또는 제1반도체층(120)의 상면은 광 추출 구조(284)를 형성하는 러프니스를 포함할 수 있다. 러프니스는 랜덤한 크기로 불규칙하게 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 러프니스는 평탄하지 않는 상면으로서, 텍스쳐(texture) 패턴, 요철 패턴, 평탄하지 않는 패턴(uneven pattern) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The light extracting structure 284 may be formed on a light transmitting electrode layer (not shown), or on a part or all of the upper surface of the first semiconductor layer 120. The light extracting structure 284 may be formed by performing etching on at least one region of the light transmitting electrode layer (not shown) or the upper surface of the first semiconductor layer 120, but is not limited thereto. The etching process includes a wet etching process and / or a dry etching process. As the etching process is performed, the upper surface of the light transmitting electrode layer (not shown) or the upper surface of the first semiconductor layer 120 forms a light extracting structure 284 And may include roughness. The roughness may be irregularly formed in a random size, but is not limited thereto. The roughness may be at least one of a texture pattern, a concave-convex pattern, and an uneven pattern, which is an uneven surface.

러프니스는 측 단면이 원기둥, 다각기둥, 원뿔, 다각뿔, 원뿔대, 다각뿔대 등 다양한 형상을 갖도록 형성될 수 있으며, 바람직하게 뿔 형상을 포함한다.The roughness may be formed to have various shapes such as a cylinder, a polygonal column, a cone, a polygonal pyramid, a truncated cone, a polygonal pyramid, and the like, preferably including a horn shape.

한편, 상기 광추출구조(284)는 PEC(photo electro chemical) 등의 방법으로 형성될 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다. 광추출구조(284)가 투광성 전극층(미도시)의 또는 제1반도체층(120)의 상부면에 형성됨에 따라서 활성층(130)으로부터 생성된 빛이 투광성 전극층(미도시), 또는 제1반도체층(120)의 상부면으로부터 전반사되어 재흡수되거나 산란되는 것이 방지될 수 있으므로, 발광소자(200)의 광 추출 효율의 향상에 기여할 수 있다.Meanwhile, the light extracting structure 284 may be formed by a photoelectrochemical (PEC) method or the like, but is not limited thereto. Light generated from the active layer 130 may be transmitted through the light-transmitting electrode layer (not shown) or the first semiconductor layer 120 (or the first semiconductor layer 120) as the light extracting structure 284 is formed on the upper surface of the light- Can be prevented from being totally reflected from the upper surface of the light emitting device 120 and reabsorbed or scattered, thereby contributing to improvement of light extraction efficiency of the light emitting device 200.

발광 구조물의 측면 및 상부 영역에는 패시베이션(290)이 형성될 수 있으며, 패시베이션(290)은 절연성 재질로 형성될 수 있다.
The passivation 290 may be formed on the side and upper regions of the light emitting structure, and the passivation 290 may be formed of an insulating material.

도 5은 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 발광소자패키지의 단면을 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device package including the light emitting device according to the embodiment.

도 5을 참조하면, 실시예에 따른 발광소자패키지(300)는 캐비티가 형성된 몸체(310), 몸체(310)의 캐비티에 실장된 광원부(320) 및 캐비티에 충진되는 봉지재(350)를 포함할 수 있다.5, the light emitting device package 300 according to the embodiment includes a body 310 having a cavity, a light source 320 mounted on the cavity of the body 310, and an encapsulant 350 filled in the cavity 310 can do.

몸체(310)는 폴리프탈아미드(PPA:Polyphthalamide)와 같은 수지 재질, 실리콘(Si), 알루미늄(Al), 알루미늄 나이트라이드(AlN), 액정폴리머(PSG, photo sensitive glass), 폴리아미드9T(PA9T), 신지오택틱폴리스티렌(SPS), 금속 재질, 사파이어(Al2O3), 베릴륨 옥사이드(BeO), 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board), 세라믹 중 적어도 하나로 형성될 수 있다. 몸체(310)는 사출 성형, 에칭 공정 등에 의해 형성될 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The body 310 may be made of a resin material such as polyphthalamide (PPA), silicon (Si), aluminum (Al), aluminum nitride (AlN), photo sensitive glass (PSG), polyamide 9T (SPS), a metal material, sapphire (Al2O3), beryllium oxide (BeO), a printed circuit board (PCB), and ceramics. The body 310 may be formed by injection molding, etching, or the like, but is not limited thereto.

광원부(320)는 몸체(310)의 바닥면상에 배치되며, 일 예로 광원부(320)는 도 1 내지 도 5에서 도시하고 설명한 발광소자 중 어느 하나일 수 있다. 발광소자는 예를 들어, 적색, 녹색, 청색, 백색 등의 빛을 방출하는 유색 발광 소자 또는 자외선을 방출하는 UV(Ultra Violet) 발광 소자일 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 또한, 발광 소자는 한 개 이상 실장될 수 있다.The light source unit 320 may be disposed on the bottom surface of the body 310. For example, the light source unit 320 may be any one of the light emitting devices illustrated in FIGS. The light emitting device may be, for example, a colored light emitting device that emits light such as red, green, blue, or white, or a UV (Ultra Violet) light emitting device that emits ultraviolet light. In addition, one or more light emitting elements can be mounted.

몸체(310)는 제1 전극(330) 및 제2 전극(340)을 포함할 수 있다. 제1 전극(330) 및 제2 전극(340)은 광원부(320)와 전기적으로 연결되어 광원부(320)에 전원을 공급할 수 있다.The body 310 may include a first electrode 330 and a second electrode 340. The first electrode 330 and the second electrode 340 may be electrically connected to the light source 320 to supply power to the light source 320.

또한, 제1 전극(330) 및 제2 전극(340)은 서로 전기적으로 분리되며, 광원부(320)에서 발생된 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있고, 또한 광원부(320)에서 발생된 열을 외부로 배출시킬 수 있다.In addition, the first electrode 330 and the second electrode 340 are electrically separated from each other. The first electrode 330 and the second electrode 340 can reflect the light generated from the light source unit 320 to increase the light efficiency. Further, To the outside.

도 5에는 제1 전극(330)과 제2 전극(340) 모두가 와이어(360)에 의해 광원부(320)와 본딩된 것을 도시하나, 이에 한정하지 않으며, 특히 수직형 발광소자의 경우는 제1 전극(330) 및 제2 전극(340) 중 어느 하나가 와이어(360)에 의해 광원부(320)와 본딩될 수 있으며, 플립칩 방식에 의해 와이어(360) 없이 광원부(320)와 전기적으로 연결될 수도 있다.5 illustrates that both the first electrode 330 and the second electrode 340 are bonded to the light source 320 by the wire 360. However, the present invention is not limited thereto. Particularly, in the case of the vertical light emitting device, Any one of the electrode 330 and the second electrode 340 may be bonded to the light source 320 by the wire 360 and may be electrically connected to the light source 320 without the wire 360 by the flip- have.

이러한 제1 전극(330) 및 제2 전극(340)은 금속 재질, 예를 들어, 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P), 알루미늄(Al), 인듐(In), 팔라듐(Pd), 코발트(Co), 실리콘(Si), 게르마늄(Ge), 하프늄(Hf), 루테늄(Ru), 철(Fe) 중에서 하나 이상의 물질 또는 합금을 포함할 수 있다. 또한, 제1 전극(330) 및 제2 전극(340)은 단층 또는 다층 구조를 가지도록 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first electrode 330 and the second electrode 340 may be formed of a metal material such as titanium (Ti), copper (Cu), nickel (Ni), gold (Au), chromium (Cr), tantalum Ta, Pt, Sn, Ag, P, Al, Pd, Co, Si, Ge, Ge), hafnium (Hf), ruthenium (Ru), and iron (Fe). The first electrode 330 and the second electrode 340 may have a single-layer structure or a multi-layer structure, but the present invention is not limited thereto.

봉지재(350)는 캐비티에 충진될 수 있으며, 형광체(미도시)를 포함할 수 있다. 봉지재(350)는 투명한 실리콘, 에폭시, 및 기타 수지 재질로 형성될 수 있으며, 캐비티 내에 충진한 후, 이를 자외선 또는 열 경화하는 방식으로 형성될 수 있다. The encapsulant 350 may be filled in the cavity and may include a phosphor (not shown). The encapsulant 350 may be formed of a transparent silicone, epoxy, or other resin material, and may be formed in such a manner that the encapsulant 350 is filled in the cavity and then cured by UV or thermal curing.

형광체(미도시)는 광원부(320)에서 방출되는 광의 파장에 따라 종류가 선택되어 발광소자패키지(300)가 백색광을 구현하도록 할 수 있다.The phosphor (not shown) may be selected according to the wavelength of the light emitted from the light source unit 320 so that the light emitting device package 300 may emit white light.

봉지재(350)에 포함되어 있는 형광체(미도시)는 광원부(320)에서 방출되는 광의 파장에 따라 청색 발광 형광체, 청록색 발광 형광체, 녹색 발광 형광체, 황녹색 발광 형광체, 황색 발광 형광체, 황적색 발광 형광체, 오렌지색 발광 형광체, 및 적색 발광 형광체중 하나가 적용될 수 있다. The fluorescent material (not shown) included in the encapsulant 350 may be a blue light emitting phosphor, a blue light emitting fluorescent material, a green light emitting fluorescent material, a yellow green light emitting fluorescent material, a yellow light emitting fluorescent material, , An orange light-emitting fluorescent substance, and a red light-emitting fluorescent substance may be applied.

즉, 형광체(미도시)는 광원부(320)에서 방출되는 제1 빛을 가지는 광에 의해 여기 되어 제2 빛을 생성할 수 있다. 예를 들어, 광원부(320)가 청색 발광 다이오드이고 형광체(미도시)가 황색 형광체인 경우, 황색 형광체는 청색 빛에 의해 여기되어 황색 빛을 방출할 수 있으며, 청색 발광 다이오드에서 발생한 청색 빛 및 청색 빛에 의해 여기 되어 발생한 황색 빛이 혼색됨에 따라 발광소자패키지(300)는 백색 빛을 제공할 수 있다.That is, the phosphor (not shown) may be excited by the light having the first light emitted from the light source 320 to generate the second light. For example, when the light source 320 is a blue light emitting diode and the phosphor (not shown) is a yellow phosphor, the yellow phosphor may be excited by blue light to emit yellow light, and blue light emitted from the blue light emitting diode and blue The light emitting device package 300 can provide white light as yellow light generated by excitation by light is mixed.

실시예에 따른 발광 소자는 조명 시스템에 적용될 수 있다. 상기 조명 시스템은 복수의 발광 소자가 어레이된 구조를 포함하며, 도 6 및 도 7에 도시된 표시 장치, 도 8에 도시된 조명 장치를 포함하고, 조명등, 신호등, 차량 전조등, 전광판 등이 포함될 수 있다.The light emitting device according to the embodiment can be applied to an illumination system. The lighting system includes a structure in which a plurality of light emitting elements are arrayed and includes a display device shown in Figs. 6 and 7, a lighting device shown in Fig. 8, and may include a lighting lamp, a traffic light, a vehicle headlight, have.

도 6는 실시 예에 따른 발광 소자를 갖는 표시 장치의 분해 사시도이다. 6 is an exploded perspective view of a display device having a light emitting device according to an embodiment.

도 6를 참조하면, 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 도광판(1041)과, 상기 도광판(1041)에 빛을 제공하는 광원 모듈(1031)와, 상기 도광판(1041) 아래에 반사 부재(1022)와, 상기 도광판(1041) 위에 광학 시트(1051)와, 상기 광학 시트(1051) 위에 표시 패널(1061)과, 상기 도광판(1041), 광원 모듈(1031) 및 반사 부재(1022)를 수납하는 바텀 커버(1011)를 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.6, a display device 1000 according to an exemplary embodiment of the present invention includes a light guide plate 1041, a light source module 1031 for providing light to the light guide plate 1041, and a reflection member 1022 An optical sheet 1051 on the light guide plate 1041 and a display panel 1061 on the optical sheet 1051 and the light guide plate 1041 and the light source module 1031 and the reflection member 1022 But is not limited to, a bottom cover 1011.

상기 바텀 커버(1011), 반사시트(1022), 도광판(1041), 광학 시트(1051)는 라이트유닛(1050)으로 정의될 수 있다.The bottom cover 1011, the reflective sheet 1022, the light guide plate 1041, and the optical sheet 1051 can be defined as a light unit 1050.

상기 도광판(1041)은 빛을 확산시켜 면광원화 시키는 역할을 한다. 상기 도광판(1041)은 투명한 재질로 이루어지며, 예를 들어, PMMA(polymethylmethacrylate)와 같은 아크릴 수지 계열, PET(polyethylene terephthalate), PC(poly carbonate), COC(cycloolefin copolymer) 및 PEN(polyethylene naphtha late) 수지 중 하나를 포함할 수 있다. The light guide plate 1041 serves to diffuse light into a surface light source. The light guide plate 1041 may be made of a transparent material, for example, acrylic resin such as polymethylmethacrylate (PET), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), cycloolefin copolymer (COC), and polyethylene naphtha late Resin. ≪ / RTI >

상기 광원 모듈(1031)은 상기 도광판(1041)의 적어도 일 측면에 빛을 제공하며, 궁극적으로는 표시 장치의 광원으로써 작용하게 된다.The light source module 1031 provides light to at least one side of the light guide plate 1041, and ultimately acts as a light source of the display device.

상기 광원 모듈(1031)은 적어도 하나를 포함하며, 상기 도광판(1041)의 일 측면에서 직접 또는 간접적으로 광을 제공할 수 있다. 상기 광원 모듈(1031)은 기판(1033)과 상기에 개시된 실시 예에 따른 발광 발광 소자(1035)를 포함하며, 상기 발광 소자(1035)는 상기 기판(1033) 상에 소정 간격으로 어레이될 수 있다. The light source module 1031 includes at least one light source module 1031 and may directly or indirectly provide light from one side of the light guide plate 1041. The light source module 1031 includes a substrate 1033 and a light emitting device 1035 according to the embodiment described above and the light emitting devices 1035 may be arrayed at a predetermined interval on the substrate 1033 .

상기 기판(1033)은 회로패턴(미도시)을 포함하는 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board)일 수 있다. 다만, 상기 기판(1033)은 일반 PCB 뿐 아니라, 메탈 코어 PCB(MCPCB, Metal Core PCB), 연성 PCB(FPCB, Flexible PCB) 등을 포함할 수도 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광 소자(1035)는 상기 바텀 커버(1011)의 측면 또는 방열 플레이트 상에 탑재될 경우, 상기 기판(1033)은 제거될 수 있다. 여기서, 상기 방열 플레이트의 일부는 상기 바텀 커버(1011)의 상면에 접촉될 수 있다.The substrate 1033 may be a printed circuit board (PCB) including a circuit pattern (not shown). However, the substrate 1033 may include not only a general PCB, but also a metal core PCB (MCPCB), a flexible PCB (FPCB), and the like. When the light emitting element 1035 is mounted on the side surface of the bottom cover 1011 or on the heat radiation plate, the substrate 1033 can be removed. Here, a part of the heat radiating plate may be in contact with the upper surface of the bottom cover 1011.

그리고, 상기 복수의 발광 소자(1035)는 상기 기판(1033) 상에 빛이 방출되는 출사면이 상기 도광판(1041)과 소정 거리 이격되도록 탑재될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광 소자(1035)는 상기 도광판(1041)의 일측 면인 입광부에 광을 직접 또는 간접적으로 제공할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The plurality of light emitting devices 1035 may be mounted on the substrate 1033 such that the light emitting surface is spaced apart from the light guiding plate 1041 by a predetermined distance. However, the present invention is not limited thereto. The light emitting device 1035 may directly or indirectly provide light to the light-incident portion, which is one surface of the light guide plate 1041, but the present invention is not limited thereto.

상기 도광판(1041) 아래에는 상기 반사 부재(1022)가 배치될 수 있다. 상기 반사 부재(1022)는 상기 도광판(1041)의 하면으로 입사된 빛을 반사시켜 위로 향하게 함으로써, 상기 라이트유닛(1050)의 휘도를 향상시킬 수 있다. 상기 반사 부재(1022)는 예를 들어, PET, PC, PVC 레진 등으로 형성될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 반사 부재(1022)는 상기 바텀 커버(1011)의 상면일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The reflective member 1022 may be disposed under the light guide plate 1041. The reflection member 1022 reflects the light incident on the lower surface of the light guide plate 1041 so as to face upward, thereby improving the brightness of the light unit 1050. The reflective member 1022 may be formed of, for example, PET, PC, or PVC resin, but is not limited thereto. The reflective member 1022 may be an upper surface of the bottom cover 1011, but is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011)는 상기 도광판(1041), 광원 모듈(1031) 및 반사 부재(1022) 등을 수납할 수 있다. 이를 위해, 상기 바텀 커버(1011)는 상면이 개구된 박스(box) 형상을 갖는 수납부(1012)가 구비될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 바텀 커버(1011)는 탑 커버와 결합될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1011 may house the light guide plate 1041, the light source module 1031, the reflective member 1022, and the like. To this end, the bottom cover 1011 may be provided with a housing portion 1012 having a box-like shape with an opened upper surface, but the present invention is not limited thereto. The bottom cover 1011 may be coupled to the top cover, but is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011)는 금속 재질 또는 수지 재질로 형성될 수 있으며, 프레스 성형 또는 압출 성형 등의 공정을 이용하여 제조될 수 있다. 또한 상기 바텀 커버(1011)는 열 전도성이 좋은 금속 또는 비 금속 재료를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1011 may be formed of a metal material or a resin material, and may be manufactured using a process such as press molding or extrusion molding. In addition, the bottom cover 1011 may include a metal or a non-metal material having good thermal conductivity, but the present invention is not limited thereto.

상기 표시 패널(1061)은 예컨대, LCD 패널로서, 서로 대향되는 투명한 재질의 제 1 및 제 2기판, 그리고 제 1 및 제 2기판 사이에 개재된 액정층을 포함한다. 상기 표시 패널(1061)의 적어도 일면에는 편광판이 부착될 수 있으며, 이러한 편광판의 부착 구조로 한정하지는 않는다. 상기 표시 패널(1061)은 광학 시트(1051)를 통과한 광에 의해 정보를 표시하게 된다. 이러한 표시 장치(1000)는 각 종 휴대 단말기, 노트북 컴퓨터의 모니터, 랩탑 컴퓨터의 모니터, 텔레비젼 등에 적용될 수 있다. The display panel 1061 is, for example, an LCD panel, including first and second transparent substrates facing each other, and a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates. A polarizing plate may be attached to at least one surface of the display panel 1061, but the present invention is not limited thereto. The display panel 1061 displays information by light passing through the optical sheet 1051. Such a display device 1000 can be applied to various types of portable terminals, monitors of notebook computers, monitors of laptop computers, televisions, and the like.

상기 광학 시트(1051)는 상기 표시 패널(1061)과 상기 도광판(1041) 사이에 배치되며, 적어도 한 장의 투광성 시트를 포함한다. 상기 광학 시트(1051)는 예컨대 확산 시트, 수평 및 수직 프리즘 시트, 및 휘도 강화 시트 등과 같은 시트 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 확산 시트는 입사되는 광을 확산시켜 주고, 상기 수평 또는/및 수직 프리즘 시트는 입사되는 광을 표시 영역으로 집광시켜 주며, 상기 휘도 강화 시트는 손실되는 광을 재사용하여 휘도를 향상시켜 준다. 또한 상기 표시 패널(1061) 위에는 보호 시트가 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The optical sheet 1051 is disposed between the display panel 1061 and the light guide plate 1041 and includes at least one light-transmitting sheet. The optical sheet 1051 may include at least one of a sheet such as a diffusion sheet, a horizontal and vertical prism sheet, and a brightness enhancement sheet. The diffusion sheet diffuses incident light, and the horizontal and / or vertical prism sheet condenses incident light into a display area. The brightness enhancing sheet improves the brightness by reusing the lost light. A protective sheet may be disposed on the display panel 1061, but the present invention is not limited thereto.

여기서, 상기 광원 모듈(1031)의 광 경로 상에는 광학 부재로서, 상기 도광판(1041), 및 광학 시트(1051)를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.Here, the optical path of the light source module 1031 may include the light guide plate 1041 and the optical sheet 1051 as an optical member, but the invention is not limited thereto.

도 7는 실시 예에 따른 발광 소자를 갖는 표시 장치를 나타낸 도면이다. 7 is a view showing a display device having a light emitting device according to an embodiment.

도 7를 참조하면, 표시 장치(1100)는 바텀 커버(1152), 상기에 개시된 발광 소자(1124)가 어레이된 기판(1120), 광학 부재(1154), 및 표시 패널(1155)을 포함한다. 7, the display device 1100 includes a bottom cover 1152, a substrate 1120 on which the above-described light emitting device 1124 is arrayed, an optical member 1154, and a display panel 1155.

상기 기판(1120)과 상기 발광 소자(1124)는 광원 모듈(1160)로 정의될 수 있다. 상기 바텀 커버(1152), 적어도 하나의 광원 모듈(1160), 광학 부재(1154)는 라이트유닛(1150)으로 정의될 수 있다. 상기 바텀 커버(1152)에는 수납부(1153)를 구비할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기의 광원 모듈(1160)은 기판(1120) 및 상기 기판(1120) 위에 배열된 복수의 발광 소자(1124)를 포함한다.The substrate 1120 and the light emitting device 1124 may be defined as a light source module 1160. The bottom cover 1152, the at least one light source module 1160, and the optical member 1154 may be defined as a light unit 1150. The bottom cover 1152 may include a receiving portion 1153, but the present invention is not limited thereto. The light source module 1160 includes a substrate 1120 and a plurality of light emitting devices 1124 arranged on the substrate 1120.

여기서, 상기 광학 부재(1154)는 렌즈, 도광판, 확산 시트, 수평 및 수직 프리즘 시트, 및 휘도 강화 시트 등에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 도광판은 PC 재질 또는 PMMA(polymethyl methacrylate) 재질로 이루어질 수 있으며, 이러한 도광판은 제거될 수 있다. 상기 확산 시트는 입사되는 광을 확산시켜 주고, 상기 수평 및 수직 프리즘 시트는 입사되는 광을 표시 영역으로 집광시켜 주며, 상기 휘도 강화 시트는 손실되는 광을 재사용하여 휘도를 향상시켜 준다. Here, the optical member 1154 may include at least one of a lens, a light guide plate, a diffusion sheet, a horizontal and vertical prism sheet, and a brightness enhancement sheet. The light guide plate may be made of a PC material or a polymethyl methacrylate (PMMA) material, and the light guide plate may be removed. The diffusion sheet diffuses incident light, and the horizontal and vertical prism sheets condense incident light into a display area. The brightness enhancing sheet enhances brightness by reusing the lost light.

상기 광학 부재(1154)는 상기 광원 모듈(1160) 위에 배치되며, 상기 광원 모듈(1160)로부터 방출된 광을 면 광원하거나, 확산, 집광 등을 수행하게 된다.
The optical member 1154 is disposed on the light source module 1160 and performs surface light source, diffusion, and light condensation of light emitted from the light source module 1160.

도 8은 실시 예에 따른 발광소자를 갖는 조명장치의 분해 사시도이다.8 is an exploded perspective view of a lighting apparatus having a light emitting element according to an embodiment.

도 8을 참조하면, 실시 예에 따른 조명 장치는 커버(2100), 광원 모듈(2200), 방열체(2400), 전원 제공부(2600), 내부 케이스(2700), 소켓(2800)을 포함할 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 조명 장치는 부재(2300)와 홀더(2500) 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)은 실시 예에 따른 발광소자를 포함할 수 있다.8, the lighting apparatus according to the embodiment includes a cover 2100, a light source module 2200, a heat discharger 2400, a power supply unit 2600, an inner case 2700, and a socket 2800 . Further, the illumination device according to the embodiment may further include at least one of the member 2300 and the holder 2500. The light source module 2200 may include a light emitting device according to an embodiment of the present invention.

예컨대, 상기 커버(2100)는 벌브(bulb) 또는 반구의 형상을 가지며, 속이 비어 있고, 일 부분이 개구된 형상으로 제공될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)과 광학적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)로부터 제공되는 빛을 확산, 산란 또는 여기 시킬 수 있다. 상기 커버(2100)는 일종의 광학 부재일 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합하는 결합부를 가질 수 있다.For example, the cover 2100 may have a shape of a bulb or a hemisphere, and may be provided in a shape in which the hollow is hollow and a part is opened. The cover 2100 may be optically coupled to the light source module 2200. For example, the cover 2100 may diffuse, scatter, or excite light provided from the light source module 2200. The cover 2100 may be a kind of optical member. The cover 2100 may be coupled to the heat discharging body 2400. The cover 2100 may have an engaging portion that engages with the heat discharging body 2400.

상기 커버(2100)의 내면에는 유백색 도료가 코팅될 수 있다. 유백색의 도료는 빛을 확산시키는 확산재를 포함할 수 있다. 상기 커버(2100)의 내면의 표면 거칠기는 상기 커버(2100)의 외면의 표면 거칠기보다 크게 형성될 수 있다. 이는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 빛이 충분히 산란 및 확산되어 외부로 방출시키기 위함이다. The inner surface of the cover 2100 may be coated with a milky white paint. Milky white paints may contain a diffusing agent to diffuse light. The surface roughness of the inner surface of the cover 2100 may be larger than the surface roughness of the outer surface of the cover 2100. This is for sufficiently diffusing and diffusing the light from the light source module 2200 and emitting it to the outside.

상기 커버(2100)의 재질은 유리(glass), 플라스틱, 폴리프로필렌(PP), 폴리에틸렌(PE), 폴리카보네이트(PC) 등일 수 있다. 여기서, 폴리카보네이트는내광성, 내열성, 강도가 뛰어나다. 상기 커버(2100)는 외부에서 상기 광원 모듈(2200)이 보이도록 투명할 수 있고, 불투명할 수 있다. 상기 커버(2100)는 블로우(blow) 성형을 통해 형성될 수 있다.The cover 2100 may be made of glass, plastic, polypropylene (PP), polyethylene (PE), polycarbonate (PC), or the like. Here, polycarbonate is excellent in light resistance, heat resistance and strength. The cover 2100 may be transparent so that the light source module 2200 is visible from the outside, and may be opaque. The cover 2100 may be formed by blow molding.

상기 광원 모듈(2200)은 상기 방열체(2400)의 일 면에 배치될 수 있다. 따라서, 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열은 상기 방열체(2400)로 전도된다. 상기 광원 모듈(2200)은 발광소자(2210), 연결 플레이트(2230), 커넥터(2250)를 포함할 수 있다.The light source module 2200 may be disposed on one side of the heat discharging body 2400. Accordingly, heat from the light source module 2200 is conducted to the heat discharger 2400. The light source module 2200 may include a light emitting device 2210, a connection plate 2230, and a connector 2250.

상기 부재(2300)는 상기 방열체(2400)의 상면 위에 배치되고, 복수의 발광소자(2210)들과 커넥터(2250)이 삽입되는 가이드홈(2310)들을 갖는다. 상기 가이드홈(2310)은 상기 발광소자(2210)의 기판 및 커넥터(2250)와 대응된다.The member 2300 is disposed on the upper surface of the heat discharging body 2400 and has guide grooves 2310 into which the plurality of light emitting elements 2210 and the connector 2250 are inserted. The guide groove 2310 corresponds to the substrate of the light emitting device 2210 and the connector 2250.

상기 부재(2300)의 표면은 빛 반사 물질로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 예를 들면, 상기 부재(2300)의 표면은 백색의 도료로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 이러한 상기 부재(2300)는 상기 커버(2100)의 내면에 반사되어 상기 광원 모듈(2200)측 방향으로 되돌아오는 빛을 다시 상기 커버(2100) 방향으로 반사한다. 따라서, 실시 예에 따른 조명 장치의 광 효율을 향상시킬 수 있다.The surface of the member 2300 may be coated or coated with a light reflecting material. For example, the surface of the member 2300 may be coated or coated with a white paint. The member 2300 reflects the light reflected by the inner surface of the cover 2100 toward the cover 2100 in the direction toward the light source module 2200. Therefore, the light efficiency of the illumination device according to the embodiment can be improved.

상기 부재(2300)는 예로서 절연 물질로 이루어질 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)의 연결 플레이트(2230)는 전기 전도성의 물질을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 방열체(2400)와 상기 연결 플레이트(2230) 사이에 전기적인 접촉이 이루어질 수 있다. 상기 부재(2300)는 절연 물질로 구성되어 상기 연결 플레이트(2230)와 상기 방열체(2400)의 전기적 단락을 차단할 수 있다. 상기 방열체(2400)는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열과 상기 전원 제공부(2600)로부터의 열을 전달받아 방열한다.The member 2300 may be made of an insulating material, for example. The connection plate 2230 of the light source module 2200 may include an electrically conductive material. Therefore, electrical contact can be made between the heat discharging body 2400 and the connecting plate 2230. The member 2300 may be formed of an insulating material to prevent an electrical short circuit between the connection plate 2230 and the heat discharging body 2400. The heat discharger 2400 receives heat from the light source module 2200 and heat from the power supply unit 2600 to dissipate heat.

상기 홀더(2500)는 내부 케이스(2700)의 절연부(2710)의 수납홈(2719)을 막는다. 따라서, 상기 내부 케이스(2700)의 상기 절연부(2710)에 수납되는 상기 전원 제공부(2600)는 밀폐된다. 상기 홀더(2500)는 가이드 돌출부(2510)를 갖는다. 상기 가이드 돌출부(2510)는 상기 전원 제공부(2600)의 돌출부(2610)가 관통하는 홀을 구비할 수 있다.The holder 2500 blocks the receiving groove 2719 of the insulating portion 2710 of the inner case 2700. Therefore, the power supply unit 2600 housed in the insulating portion 2710 of the inner case 2700 is sealed. The holder 2500 has a guide protrusion 2510. The guide protrusion 2510 may have a hole through which the protrusion 2610 of the power supply unit 2600 passes.

상기 전원 제공부(2600)는 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 상기 광원 모듈(2200)로 제공한다. 상기 전원 제공부(2600)는 상기 내부 케이스(2700)의 수납홈(2719)에 수납되고, 상기 홀더(2500)에 의해 상기 내부 케이스(2700)의 내부에 밀폐된다.The power supply unit 2600 processes or converts an electrical signal provided from the outside and provides the electrical signal to the light source module 2200. The power supply unit 2600 is housed in the receiving groove 2719 of the inner case 2700 and is sealed inside the inner case 2700 by the holder 2500.

상기 전원 제공부(2600)는 돌출부(2610), 가이드부(2630), 베이스(2650), 돌출부(2670)를 포함할 수 있다.The power supply unit 2600 may include a protrusion 2610, a guide unit 2630, a base 2650, and a protrusion 2670.

상기 가이드부(2630)는 상기 베이스(2650)의 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 가이드부(2630)는 상기 홀더(2500)에 삽입될 수 있다. 상기 베이스(2650)의 일 면 위에 다수의 부품이 배치될 수 있다. 다수의 부품은 예를 들어, 외부 전원으로부터 제공되는 교류 전원을 직류 전원으로 변환하는 직류변환장치, 상기 광원 모듈(2200)의 구동을 제어하는 구동칩, 상기 광원 모듈(2200)을 보호하기 위한 ESD(ElectroStatic discharge) 보호 소자 등을 포함할 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The guide portion 2630 has a shape protruding outward from one side of the base 2650. The guide portion 2630 may be inserted into the holder 2500. A plurality of components may be disposed on one side of the base 2650. The plurality of components include, for example, a DC converter for converting AC power supplied from an external power source into DC power, a driving chip for controlling driving of the light source module 2200, an ESD (ElectroStatic discharge) protective device, and the like, but the present invention is not limited thereto.

상기 돌출부(2670)는 상기 베이스(2650)의 다른 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 돌출부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750) 내부에 삽입되고, 외부로부터의 전기적 신호를 제공받는다. 예컨대, 상기 돌출부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750)의 폭과 같거나 작게 제공될 수 있다. 상기 돌출부(2670)에는 "+ 전선"과 "- 전선"의 각 일 단이 전기적으로 연결되고, "+ 전선"과 "- 전선"의 다른 일 단은 소켓(2800)에 전기적으로 연결될 수 있다.The protrusion 2670 has a shape protruding outward from the other side of the base 2650. The protrusion 2670 is inserted into the connection portion 2750 of the inner case 2700 and receives an external electrical signal. For example, the protrusion 2670 may be equal to or smaller than the width of the connection portion 2750 of the inner case 2700. One end of each of the positive wire and the negative wire is electrically connected to the protrusion 2670 and the other end of the positive wire and the negative wire are electrically connected to the socket 2800.

상기 내부 케이스(2700)는 내부에 상기 전원 제공부(2600)와 함께 몰딩부를 포함할 수 있다. 몰딩부는 몰딩 액체가 굳어진 부분으로서, 상기 전원 제공부(2600)가 상기 내부 케이스(2700) 내부에 고정될 수 있도록 한다.
The inner case 2700 may include a molding part together with the power supply part 2600. The molding part is a hardened portion of the molding liquid so that the power supply unit 2600 can be fixed inside the inner case 2700.

또한, 이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of illustration, It can be seen that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments can be modified and implemented. It is to be understood that all changes and modifications that come within the meaning and range of equivalency of the claims are therefore intended to be embraced therein.

Claims (8)

제1반도체층;
제2반도체층;
상기 제1반도체층과 상기 제2반도체층 사이에 배치되는 활성층; 및
상기 활성층과 상기 제2반도체층 사이에 배치되는 중간층을 포함하고,
상기 활성층은,
복수의 우물층과;
상기 우물층 사이에 위치하고, 상기 우물층 보다 큰 밴드갭 에너지를 가지는 복수의 장벽층을 포함하고,
상기 중간층은,
상기 활성층 보다 큰 밴드갭 에너지를 가지고,
상기 활성층과 접하게 배치되는 제1중간층과, 상기 제2반도체층과 접하게 배치되되 상기 제1중간층의 밴드갭 에너지 보다 낮은 밴드갭 에너지를 가지는 제2중간층을 포함하고,
상기 제1중간층은 상기 우물층과 접하게 배치되는 발광소자.
A first semiconductor layer;
A second semiconductor layer;
An active layer disposed between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer; And
And an intermediate layer disposed between the active layer and the second semiconductor layer,
Wherein,
A plurality of well layers;
A plurality of barrier layers located between the well layers and having bandgap energies greater than the well layers,
Wherein the intermediate layer comprises:
And has a band gap energy larger than that of the active layer,
A first intermediate layer disposed in contact with the active layer and a second intermediate layer disposed in contact with the second semiconductor layer and having a band gap energy lower than the band gap energy of the first intermediate layer,
Wherein the first intermediate layer is disposed in contact with the well layer.
제1항에 있어서,
상기 중간층은 AlGaN을 포함하고,
상기 제1중간층의 Al의 함량은 상기 제2중간층의 Al 함량보다 큰 것을 특징으로 하는 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the intermediate layer comprises AlGaN,
Wherein a content of Al in the first intermediate layer is larger than an Al content in the second intermediate layer.
제2항에 있어서,
상기 제1중간층의 Al 함량은 상기 활성층에서 상기 제2반도체층 방향으로 갈수록 감소되는 것을 특징으로 하는 발광소자.
3. The method of claim 2,
Wherein the Al content of the first intermediate layer is decreased from the active layer toward the second semiconductor layer.
제2항에 있어서,
상기 제1중간층은 언도프드(Undoped) 층이고, 상기 제2중간층은 제2반도체층과 같은 극성의 도펀트에 의해 도핑되는 발광소자.
3. The method of claim 2,
Wherein the first intermediate layer is an undoped layer and the second intermediate layer is doped with a dopant of the same polarity as the second semiconductor layer.
제4항에 있어서,
상기 제2중간층은 p형 도펀트에 의해 도핑되는 발광소자.
5. The method of claim 4,
And the second intermediate layer is doped with a p-type dopant.
제5항에 있어서,
상기 중간층의 밴드갭 에너지는 상기 제2반도체층 보다 큰 발광소자.
6. The method of claim 5,
And the band gap energy of the intermediate layer is larger than that of the second semiconductor layer.
제5항에 있어서,
상기 제1중간층의 두께는 상기 제2중간층 두께 보다 얇은 발광소자.
6. The method of claim 5,
Wherein a thickness of the first intermediate layer is thinner than a thickness of the second intermediate layer.
제1항 내지 제7항 중 어느 한 항의 발광소자를 포함하는 발광소자 패키지.




A light emitting device package comprising the light emitting device according to any one of claims 1 to 7.




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