KR20150020987A - 묘화 장치 - Google Patents

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Abstract

[과제] 묘화용의 파라미터의 설정을 용이하게 한다.
[해결 수단] 디스플레이와 중첩 관계로 배치되어 있음과 아울러, 디스플레이의 화상 표시 영역에 대응한 지시체 조작 검출 영역을 가짐으로써 지시체의 조작을 검출하는 센서와, 지시체에 의한 묘화 조작에 기초하여 생성되는 묘화 정보를 기억하는 메모리와, 메모리에 기억된 묘화 정보에 기초하여 디스플레이의 화상 표시 영역에 묘화를 행하는 제어 회로를 구비한 묘화 장치이다. 제어 회로는, 센서에 의해서 지시체에 의한 소정의 지시 조작이 검출된 것에 대응하여, 지시체에 의한 묘화 조작이 가능한 테스트 드로잉 영역과, 테스트 드로잉 영역에서의 지시체에 의한 묘화 조작에 의해서 생성되는 묘화 정보에 대한 파라미터를 변경하는 파라미터 설정 영역을, 묘화 화상에 중첩하여 표시시킴과 아울러, 테스트 드로잉 영역을 묘화 화상에 대해서 투과성을 가지고 표시시킨다.

Description

묘화 장치{DRAWING DEVICE}
본 발명은 전자 펜 등의 지시체에 의해 묘화(描畵)를 하는 묘화 장치에 관한 것이다.
펜형의 위치 지시기 등의 지시체에 의해서 지시되는 위치를 위치 검출 회로로 검출함으로써, 지시체에 의해 묘화된 도형, 문자 등의 화상을 표시 장치에 표시함과 아울러, 그 표시 화면에 표시된 묘화 화상을 기억하도록 하는 묘화 장치가 알려져 있다. 이런 종류의 묘화 장치에서는, 지시체로 입력하여 화상을 묘화할 때의 펜의 굵기나, 묘화하는 색(색상), 묘화 화상의 밝기 등의 파라미터에 대해서 설정을 행함으로써, 여러 가지의 색, 선의 굵기, 밝기 등, 사용자(묘화자)가 희망하는 묘화를 행할 수 있다. 그리고 묘화 장치는, 묘화 화상의 데이터와, 설정된 파라미터를 대응지어서, 묘화 정보로서 기억한다. 묘화 장치에 있어서는, 이 파라미터의 설정은, 묘화 도중에 있어서도 행할 수 있다.
한편, 인쇄 대상의 화상 데이터에 대해 화질 조정을 행할 수 있는 화상 데이터 출력 장치가 알려져 있다. 이 예의 화상 데이터 출력 장치에서는, 큰 조정치 설정 영역이 확보되고, 입력된 조정치에 기초하여 화상 데이터에 대한 화질 조정을 행하여, 화상 조정이 실시된 조정효과 확인 화상을 화면에 표시시켜, 화질 조정이 실시된 인쇄 대상의 화상 데이터가 인쇄 장치에 출력된다(특허 문헌 1(특개 2008-27352호 공보) 등 참조).
특허 문헌 1: 일본국 특개 2008-27352호 공보
종래는, 사용자는 파라미터 설정 영역을 화면의 상단부 혹은 좌단부 등에 표시시켜 두고, 그 파라미터 설정 영역에 있어서 마우스 혹은 전자 펜 등에 의해서 설정된 파라미터에 의한 묘화의 테스트 드로잉(test drawing)이 묘화 도중에 있는 묘화 화상에 직접적으로 중첩 표시되어 행해진다. 테스트 드로잉에 불만족스러운 경우에는, 테스트 드로잉한 묘화를 소거하고, 파라미터를 재설정하여 표시시키는 등하여 테스트 드로잉을 반복한다. 이와 같은 조작에 의한 테스트 드로잉에 있어서는, 파라미터를 설정하여 묘화 도중에 있는 묘화 화상에 묘화를 중첩 표시시키는 작업이, 사용자가 만족할 때까지 반복하여 행해진다. 파라미터 설정 영역을 화면의 상단부 혹은 좌단부 등에 표시시켜 두고 파라미터의 설정을 행하는 경우, 묘화 화상을 위한 표시 영역을 넓게 확보하기 위해서는, 파라미터 설정 영역의 표시 영역을 크게 확보할 수 없다. 하물며, 화면 사이즈가 비교적 작은, 배터리로 구동되는 휴대용 묘화 장치에 있어서는, 충분한 크기의 파라미터 설정 영역을 확보할 수 없다.
상기의 특허 문헌 1에 기재된 화상 데이터 출력 장치에서는, 입력된 조정치에 의한 화상의 조정효과를 확인할 수 있지만, 조정치 설정 영역을 크게 확보하고 있기 때문에, 조정효과 확인 화상의 표시 영역을 크게 확보할 수 없다. 또한, 조정효과를 확인하는 대상은, 인쇄 대상의 화상 데이터 전체이다. 즉, 묘화 작업에서의 전자 펜 등의 지시체에 의해서 행해지는 자필 입력 처리를 대상으로는 하고 있지 않다.
본 발명은 이상의 문제점을 해결할 수 있도록 한, 전자 펜 등의 지시체에 의해 묘화를 행하는 묘화 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기의 과제를 해결하기 위해서, 청구항 1의 발명은,
소정의 화상 표시 영역을 가지는 디스플레이와, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역과 소정의 중첩 관계로 배치되어 있음과 아울러 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 대응한 지시체 조작 검출 영역을 가짐으로써 지시체의 조작을 검출하는 센서와, 상기 센서에 의해서 검출된 지시체에 의한 묘화 조작에 기초하여 생성되는 묘화 정보를 기억하는 메모리와, 상기 메모리에 기억된 묘화 정보에 기초하여 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 묘화를 행하는 제어 회로를 구비한 묘화 장치로서,
상기 제어 회로는, 상기 센서에 의해서 상기 지시체에 의한 소정의 지시 조작이 검출된 것에 대응하여, 상기 지시체에 의한 상기 묘화 조작이 가능한 테스트 드로잉 영역과, 상기 테스트 드로잉 영역에서의 상기 지시체에 의한 상기 묘화 조작에 의해서 생성되는 묘화 정보에 대한 파라미터를 변경하는 파라미터 설정 영역을, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시시킴과 아울러,
상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에, 상기 테스트 드로잉 영역을, 시인(視認) 가능하게 표시시킴과 아울러, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 상기 묘화에 대해서 투과성을 가지고 표시시키도록 한 것을 특징으로 하는 묘화 장치를 제공한다.
상술된 구성의 청구항 1의 발명에 의한 묘화 장치에 있어서는, 묘화 도중에 있는, 디스플레이의 화상 표시 영역에서의 묘화가 테스트 드로잉 영역을 통하여 투과 되어 표시된다. 따라서 이 테스트 드로잉 영역에 있어서 테스트 드로잉을 하면, 그 테스트 드로잉시의 파라미터에 의한 묘화 정보가 묘화 도중의 묘화에 중첩 표시된다. 따라서 테스트 드로잉 영역에 있어서, 테스트 드로잉의 묘화 정보와 묘화 도중의 묘화를 서로 비교할 수 있기 때문에, 소망하는 파라미터를 용이하게 설정할 수 있다.
그리고 청구항 1의 발명에 의한 묘화 장치에 있어서는, 디스플레이의 화상 표시 영역에 테스트 드로잉 영역이 시인 가능하게 표시되기 때문에, 테스트 드로잉 영역에서의 지시체에 의한 묘화 정보와 비교해야 할 디스플레이의 화상 표시 영역에서의 묘화가 명시적으로 범위 지정되게 된다. 따라서 테스트 드로잉시의 묘화 정보와 묘화 도중의 묘화의 비교를 용이하게 행할 수 있다.
본 발명에 의하면, 테스트 드로잉 영역에 있어서, 테스트 드로잉시의 파라미터에 의한 테스트 드로잉의 묘화 정보가 묘화 도중의 묘화에 중첩 표시되므로, 테스트 드로잉의 묘화 화상과 묘화 도중의 묘화 화상을 서로 비교할 수 있어, 소망하는 파라미터를 용이하게 설정할 수 있다.
도 1은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 구성예를 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태를 구성하는 제1 센서 및 제1 위치 검출 회로의 구성예를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태를 구성하는 제2 센서 및 제2 위치 검출 회로의 구성예를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 구성예를 나타내는 블럭도이다.
도 5는 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위한 순서도의 일부를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위한 순서도의 일부를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위한 순서도의 일부를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위해서 이용하는 표시 화상의 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위해서 이용하는 표시 화상의 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위해서 이용하는 표시 화상의 예를 나타내는 도면이다.
도 11은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태에 있어서, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 예를 설명하기 위해서 이용하는 도면이다.
도 12는 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태에 있어서, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 예를 설명하기 위해서 이용하는 도면이다.
도 13은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태에 있어서, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 예를 설명하기 위해서 이용하는 도면이다.
도 14는 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태에 있어서, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 예를 설명하기 위해서 이용하는 도면이다.
도 15는 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위한 순서도의 일부를 나타내는 도면이다.
도 16은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위해서 이용하는 표시 화상의 예를 나타내는 도면이다.
도 17은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태의 제어 회로의 처리 동작예를 설명하기 위해서 이용하는 표시 화상의 예를 나타내는 도면이다.
도 18은 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태에 있어서, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 예를 설명하기 위해서 이용하는 도면이다.
이하, 본 발명에 의한 묘화 장치의 실시 형태를, 도면을 참조하면서 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시 형태의 묘화 장치(10)의 구성예를 나타내는 분해 구성도이다. 이 도 1의 예의 묘화 장치(10)는, 전자(電磁) 결합 방식과 정전(靜電) 용량 방식의 2개 위치 검출 방식을 탑재하고 있다. 즉, 전자 결합 방식에 관련해서는, 전자 펜 등의 위치 지시기로 이루어진 지시체(이하, 제1 지시체라고 함)에 의해서 지시된 위치가 전자 결합 방식의 위치 검출용의 센서(이하, 제1 센서라고 칭함)로 검출된다. 한편, 정전 용량 방식에 관련해서는, 표시 디바이스의 표시 화면으로의 손가락이나 정전 펜(도전성을 가지는 펜형의 위치 지시기, 혹은 배터리로 구동되는, 이른바 액티브 정전 펜；이하 총칭하여 정전 펜이라고 함)등의 지시체(이하, 제2 지시체라고 함)에 의해서 지시된 위치가 정전 용량 방식의 위치 검출용의 센서(이하, 제2 센서라고 칭함)로 검출된다. 묘화 장치(10)는 양 센서로, 동시에 제1 지시체 및 제2 지시체에 의한 위치 지시를 검출할 수 있는, 배터리로 구동 가능한 휴대형 단말이다.
이 예의 묘화 장치(10)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 전자 결합 방식의 위치 검출용의 제1 센서(20)와, 표시 디바이스(30)와, 정전 용량 방식의 위치 검출용의 제2 센서(40)와, 제어 회로 기판(50)과, 평면 부재(60)와, 케이스(70)로 구성되어 있다.
표시 디바이스(30)는 액정 디스플레이나 유기 EL 디스플레이 등의 플랫 디스플레이로 이루어지고, 디스플레이 기판(31) 상에, 표시 화소(32)가 X축 방향(가로 방향)으로 다수개 배열되어 있음과 아울러, X축 방향에 직교하는 Y축 방향(세로 방향)에도 다수개 배열된 표시 화면(33)을 구비하고 있다. 제1 센서(20)는 이 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)의 이면(裏面)측에, 표시 디바이스(30)와 중첩하도록 배치된다. 또, 제2 센서(40)는, 이 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)의 표면측에 있어서, 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)과 중첩하도록 배치된다. 따라서 제1 센서(20)와 제2 센서(40)도, 중첩해서 배치되는 관계로 되어 있다.
그리고 제1 지시체가 지시하는 위치의 검출이 가능한 제1 센서(20)의 실질적인 지시체 조작 검출 영역과, 제2 지시체가 지시하는 위치의 검출이 가능한 제2 센서(40)의 실질적인 지시체 조작 검출 영역과, 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)의 표시 영역이, 이 예에서는, 거의 같은 크기로 됨과 아울러, 서로가 중첩해서 배치되는 관계로 되어 있다.
도 1에서는, 도시를 생략하지만, 제1 센서(20)에 대해서 전자 결합 방식의 위치 검출 회로(제1 위치 검출 회로)가 접속되고, 제2 센서(40)에 대해서는 정전 용량 방식의 위치 검출 회로(제2 위치 검출 회로)가 접속된다. 이들 제1 및 제2 위치 검출 회로는, 제어 회로 기판(50)상에 마련되어 있고, 제어 회로 기판(50)과 제1 센서(20) 및 제2 센서(40)는, 예를 들면 플렉서블 케이블에 의해 접속된다. 제어 회로 기판(50)에는, 묘화 장치(10)에 있어서의 묘화 처리나 묘화에 관련된 설정 처리 등의 전체를 제어하기 위한 마이크로 컴퓨터로 이루어진 제어 회로, 표시 디바이스(30)의 표시 제어 회로, 그 외의 전자 부품, 동박(銅箔) 배선 패턴이 탑재되어 있다.
평면 부재(60)는, 예를 들면 유리나 수지 등의 투명 재료로 이루어져, 그 한쪽 면(60a)의 측은, 전자 펜으로 이루어진 제1 지시체 및 손가락이나 정전 펜 등의 제2 지시체에 의한 위치 지시를 위한 조작면으로 되어 있다. 그리고 이 평면 부재(60)의 한쪽 면(60a)과는 반대측 면의 측에는, 제2 센서(40) 및 표시 디바이스(30)가 배치되어 있다.
이 예에서는, 평면 부재(60)는, 제1 센서(20) 및 제2 센서(40)의 지시체의 검출 영역보다도 약간 큰 형상을 가진다. 즉, 도 1의 평면 부재(60)에 있어서, 점선으로 둘러싸 도시한 영역(61)은, 제1 센서(20) 및 제2 센서(40)의 지시체의 검출 영역에 대응하는 영역이고, 이 영역(61)의 주위에는, 가장자리 영역(edge area)(62)이 형성되어 있다. 도시는 생략하지만, 평면 부재(60)는 가장자리 영역(62)에, 예를 들면 실크 스크린 인쇄 등을 실시하여, 이 가장자리 영역(62)을 불투명 상태로 하여, 영역(61)만을 투명 상태로 유지하도록 형성해도 좋다.
그리고 이 실시 형태에서는, 평면 부재(60)에는, 푸쉬 버튼(63)이 배설되어 있다. 이 푸쉬 버튼(63)은, 전기적으로 제어 회로 기판(50)에 접속되어 있고, 전술한 제어 회로에 있어서, 당해 푸쉬 버튼(63)의 프레스 조작을 검출할 수 있도록 구성되어 있다. 이 푸쉬 버튼(63)은, 후술하는 것처럼, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 버튼으로 되어 있다.
케이스(70)는, 예를 들면 합성 수지에 의해 구성되어 있다. 이 케이스(70)에는, 제1 센서(20), 표시 디바이스(30), 제2 센서(40) 및 제어 회로 기판(50)을 수납하기 위한 오목부(71)가 형성되어 있다. 이 오목부(71) 내에, 제1 센서(20), 표시 디바이스(30), 제2 센서(40) 및 제어 회로 기판(50)이 수납된 후, 평면 부재(60)의 가장자리 영역(62)이 케이스(70)의 프레임 영역(72)에, 예를 들면 접착재 에 의해서, 결합됨으로써, 오목부(71)가 폐색(閉塞)되어, 묘화 장치(10)가 조립된다.
다음으로, 전자 결합 방식의 제1 센서(20) 및 그 위치 검출 회로(200)의 구성예를, 도 2를 참조하여 설명한다. 이 예의 제1 센서(20)와 함께 사용하는 제1 지시체의 예로서의 전자 펜(23)은, 공진 회로를 내장하고 있다. 이 공진 회로는 코일(23L)에 병렬로 제1 콘덴서(23C1)가 접속됨과 아울러, 코일(23L)에 추가로 병렬로 스위치(24)와 제2 콘덴서(23C2)의 직렬 회로가 접속되어 구성되어 있다. 스위치(24)는 전자 펜(23)의 케이스의 측주면(側周面)으로부터, 당해 스위치(24)의 프레스부가 돌출하도록 마련되어, 사용자에 의해 프레스 가능하게 장착되어 있다.
이 스위치(이하, 사이드 스위치라고 함)(24)의 온·오프에 의해, 제1 콘덴서(23C1)에 대해서 제2 콘덴서(23C2)를 접속할지 여부를 전환함으로써, 공진 회로의 공진 주파수가 전환된다.
즉, 전자 펜(23)은 사이드 스위치(24)의 온·오프에 따라서, 코일(23L)에 병렬로 접속되는 콘덴서의 정전 용량이 변경됨으로써, 공진 회로의 공진 주파수가 변화한다. 위치 검출 회로(200)에서는, 전자 펜(23)의 공진 회로의 공진 주파수의 주파수 편이(위상)를 검출함으로써, 사이드 스위치(24)의 조작 상황을 검출한다.
제1 센서(20)는 X축 방향 루프 코일 그룹(22X)이 배선 기판(21)(도 1 참조)의 한쪽 면에 배치됨과 아울러, Y축 방향 루프 코일 그룹(22Y)이 배선 기판(21)의 다른 쪽 면에 배치되어 구성된다. X축 방향 루프 코일 그룹(22X) 및 Y축 방향 루프 코일 그룹(22Y)은, 각각 복수 개의 구형(矩形)의 루프 코일로 이루어져 있다. 이 예에서는, X축 방향으로 n개, Y축 방향으로 m개의 루프 코일이 배치되어 있다. X축 방향 루프 코일 그룹(22X) 및 Y축 방향 루프 코일 그룹(22Y)의 각 루프 코일은 서로 중첩되어 배치되어 있다.
X축 방향 루프 코일 그룹(22X)을 구성하는 각 루프 코일은, 전자 펜(23)에 의한 위치 지시를 검출하기 위한 검출 영역의 가로 방향(X축 방향)으로, 등간격으로 나열되어 차례로 서로 겹치도록 배치되어 있다. 또, Y축 방향 루프 코일 그룹(22Y)을 구성하는 각 루프 코일은, 검출 영역의 세로 방향(Y축 방향)으로, 등간격으로 나열되어 차례로 서로 겹치도록 배치되어 있다.
이 제1 센서(20)에 대해서, 위치 검출 회로(200)가 접속되어 있다. 위치 검출 회로(200)에는, X축 방향 루프 코일 그룹(22X) 및 Y축 방향 루프 코일 그룹(22Y)이 접속되는 선택 회로(201)가 마련되어 있다. 이 선택 회로(201)는, 2개의 루프 코일 그룹(22X, 22Y) 중 하나의 루프 코일을 차례로 선택한다.
또한, 위치 검출 회로(200)에는, 발진기(202)와, 전류 드라이버(203)와, 전환 접속 회로(204)와, 수신 앰프(205)와, 검파기(206)와, 저역 필터(207)와, 샘플 홀드 회로(208)와, A／D 변환 회로(209)와, 동기 검파기(211)와, 저역 필터(212)와, 샘플 홀드 회로(213)와, A／D 변환 회로(214)와, 처리 제어 회로(210)가 마련되어 있다. 처리 제어 회로(210)는, 예를 들면 마이크로 컴퓨터에 의해 구성되어 있다.
발진기(202)는 주파수 f0의 교류 신호를 생성한다. 그리고 발진기(202)에서 생성된 교류 신호는 전류 드라이버(203)와 동기 검파기(211)에 공급된다. 전류 드라이버(203)는, 발진기(202)로부터 공급된 교류 신호를 전류로 변환하여 전환 접속 회로(204)에 송출한다. 전환 접속 회로(204)는 처리 제어 회로(210)로부터의 제어에 의해, 선택 회로(201)에 의해서 선택된 루프 코일이 접속되는 접속처(송신측 단자 T, 수신측 단자 R)를 전환한다. 이 접속처 중, 송신측 단자 T에는 전류 드라이버(203)가, 수신측 단자 R에는 수신 앰프(205)가, 각각 접속되어 있다.
선택 회로(201)에 의해 선택된 루프 코일에 발생하는 유도 전압은, 선택 회로(201) 및 전환 접속 회로(204)를 통하여 수신 앰프(205)에 보내진다. 수신 앰프(205)는 루프 코일로부터 공급된 유도 전압을 증폭하여, 검파기(206) 및 동기 검파기(211)로 송출한다.
검파기(206)는 루프 코일에 발생한 유도 전압, 즉 수신 신호를 검파하여, 저역 필터(207)로 송출한다. 저역 필터(207)는, 전술한 주파수 f0보다 충분히 낮은 차단 주파수를 가지고 있고, 검파기(206)의 출력 신호를 직류 신호로 변환하여 샘플 홀드 회로(208)로 송출한다. 샘플 홀드 회로(208)는 저역 필터(207)의 출력 신호의 소정의 타이밍, 구체적으로는 수신 기간 중의 소정의 타이밍에 있어서의 전압치를 유지하고, A／D(Analog to Digital) 변환 회로(209)로 송출한다. A／D 변환 회로(209)는 샘플 홀드 회로(208)의 아날로그 출력을 디지털 신호로 변환하여, 처리 제어 회로(210)에 출력한다.
한편, 동기 검파기(211)는 수신 앰프(205)의 출력 신호를 발진기(202)로부터의 교류 신호로 동기 검파하고, 그러한 동안의 위상차에 따른 레벨의 신호를 저역 필터(212)에 송출한다. 이 저역 필터(212)는 주파수 f0보다 충분히 낮은 차단 주파수를 가지고 있고, 동기 검파기(211)의 출력 신호를 직류 신호로 변환하여 샘플 홀드 회로(213)에 송출한다. 이 샘플 홀드 회로(213)는 저역 필터(212)의 출력 신호의 소정의 타이밍에 있어서의 전압치를 유지하고, A／D(Analog to Digital) 변환 회로(214)로 송출한다. A／D 변환 회로(214)는 샘플 홀드 회로(213)의 아날로그 출력을 디지털 신호로 변환하여, 처리 제어 회로(210)에 출력한다.
처리 제어 회로(210)는 위치 검출 회로(200)의 각 부를 제어한다. 즉, 처리 제어 회로(210)는, 선택 회로(201)에 있어서의 루프 코일의 선택, 전환 접속 회로(204)의 전환, 샘플 홀드 회로(208, 213)의 타이밍을 제어한다. 처리 제어 회로(210)는 A／D 변환 회로(209, 214)로부터의 입력 신호에 기초하여, X축 방향 루프 코일 그룹(22X) 및 Y축 방향 루프 코일 그룹(22Y)으로부터 일정한 송신 계속 시간을 가지고 전자 유도 신호를 송신시킨다.
X축 방향 루프 코일 그룹(22X) 및 Y축 방향 루프 코일 그룹(22Y)의 각 루프 코일에는, 전자 펜(23)으로부터 송신되는 전자 유도 신호에 의해서 유도 전압이 발생한다. 처리 제어 회로(210)는, 이 각 루프 코일에 발생한 유도 전압의 전압치의 레벨에 기초하여 전자 펜(23)의 X축 방향 및 Y축 방향의 지시 위치의 좌표치를 산출한다. 또, 처리 제어 회로(210)는 송신한 전자 유도 신호와 수신한 전자 유도 신호와의 위상차에 따른 신호의 레벨에 기초하여, 사이드 스위치(24)가 프레스되었는지 여부를 검출한다.
이와 같이 하여, 위치 검출 회로(200)에서는, 전자 펜(23)에 의한 지시 위치를 처리 제어 회로(210)에서 검출할 수 있다. 게다가, 위치 검출 회로(200)의 처리 제어 회로(210)는, 수신한 신호의 위상(주파수 편이)을 검출함으로써, 전자 펜(23)에 있어서 사이드 스위치(24)가 온으로 되었는지 여부를 검출할 수 있다. 처리 제어 회로(210)는, 위치 검출 결과의 좌표 출력 및 사이드 스위치(24)가 온으로 되었는지 여부의 검출 출력을, 묘화 장치(10)에 있어서의 묘화 처리 등, 전체를 제어하는 전술한 제어 회로에 공급한다.
다음으로, 도 3을 참조하여, 제2 센서(40) 및 그 위치 검출 회로(400)의 구성예를 설명한다. 이 제2 센서(40)는, 이 예에서는, 복수의 손가락이나 정전 펜을 동시에 검출하는 멀티 터치를 검출하기 위해서, 크로스포인트 정전 용량 방식의 센서의 구성으로 되어 있다.
제2 센서(40)는, 예를 들면 투명 기판(41)의 일 면(표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)에 대향하는 면과는 반대측 면)에, 광 투과성을 가지는 복수의 전극으로 이루어진 투명 전극 그룹이 형성되어 구성된다. 투명 기판(41)은, 예를 들면 유리 기판 혹은 수지 필름 기판으로 이루어진다.
투명 전극 그룹은, 각각이 Y축 방향으로 형성된 복수 개의 제1 투명 전극(42X)과, 각각이 Y축 방향에 직교하는 X축 방향으로 형성된 복수 개의 제2 투명 전극(42Y)으로 이루어진다. 제1 투명 전극(42X)은 X축 방향으로, 소정 간격씩 떨어져서 배치되어 있다. 또, 제2 투명 전극(42Y)은 Y축 방향으로, 소정 간격씩 떨어져서 배치되어 있다. 이들 제1 투명 전극(42X) 및 제2 투명 전극(42Y)은, 광 투과성의 도전재료, 예를 들면 ITO(Indium Tin Oxide) 막으로 이루어진 도체로 구성되어 있다.
그리고 제1 투명 전극(42X)과 제2 투명 전극(42Y)은, 이 예에 있어서는, 투명 기판(41)의 동일한 일 면측에 형성되어 있다. 이 때문에, 서로 직교하는 제1 투명 전극(42X)과 제2 투명 전극(42Y)의 교차점인 크로스포인트의 영역에 있어서는, 제1 투명 전극(42X)과 제2 투명 전극(42Y)의 사이에 절연재가 배치됨으로써 서로가 전기적으로 절연되어 있다.
이 제2 센서(40)에는, 위치 검출 회로(400)가 접속되어 있다. 이 위치 검출 회로(400)는 송신 신호 발생 회로(401), 송신 전극 선택 회로(402), 송신 신호 증폭 회로(403), 수신 전극 선택 회로(404), 수신 신호 처리 회로(405), 위치 정보 출력 회로(406), 처리 제어 회로(410)를 구비하고 있다.
위치 검출 회로(400)는 처리 제어 회로(410)의 제어에 기초하여, 소정의 시간 간격, 예를 들면 10msec마다 위치 검출 처리를 이산적으로 실행함으로써, 제2 센서(40)상의 제2 지시체에 의한 복수의 위치 지시를 개개로 검출하여, 각각의 위치 검출 결과를 얻도록 한다.
송신 신호 발생 회로(401) 및 송신 전극 선택 회로(402)는 송신 신호 공급 회로를 구성하고, 수신 전극 선택 회로(404) 및 수신 신호 처리 회로(405)는 신호 수신 회로를 구성한다. 그리고 이 예에서는, 제1 투명 전극(42X)은 수신 전극으로 됨과 아울러, 제2 투명 전극(42Y)은 송신 전극으로 되어 있다.
송신 신호 발생 회로(401)는 처리 제어 회로(410)의 제어에 따른 소정의 타이밍으로, 소정의 송신 신호를 송신 전극 선택 회로(402)에 공급한다. 소정의 송신 신호로서는, 예를 들면 직교 확산 부호 등을 이용할 수 있다(예를 들면, 특개 2003－22158호 공보 참조).
송신 전극 선택 회로(402)는 처리 제어 회로(410)의 선택 제어에 따라서, 소정의 제2 투명 전극(42Y)을 선택한다. 송신 전극 선택 회로(402)에 의해서 선택된 제2 투명 전극(42Y)에는, 송신 신호 발생 회로(401)로부터의 송신 신호가, 송신 신호 증폭 회로(403)를 통해서 공급된다.
수신 전극 선택 회로(404)는 처리 제어 회로(410)의 제어에 따라서, 차례로, 제1 투명 전극(42X)을 선택하고, 선택한 제1 투명 전극(42X)으로부터의 수신 신호를 수신 신호 처리 회로(405)에 공급한다.
수신 신호 처리 회로(405)는 처리 제어 회로(410)에 의한 제어에 기초하여, 손가락이나 정전 펜 등의 제2 지시체가 제2 센서(40)상에서 위치를 지시함으로써 생기는 수신 신호의 신호 변화를 제1 투명 전극(42X)에서 검출하여, 그 검출 출력을 위치 정보 출력 회로(406)에 공급한다.
위치 정보 출력 회로(406)는 처리 제어 회로(410)에 의한 제어에 기초하여, 수신 신호 처리 회로(405)의 검출 출력으로부터, 상기 신호 변화가 생긴 제1 투명 전극(42X)과, 그때에 송신 신호가 공급되고 있는 제2 투명 전극(42Y)으로부터, 손가락 또는 정전 펜 등의 제2 지시체에 의해서 지시된 위치에 대응한 지시 위치 검출 신호인 좌표 출력을 위치 검출 결과로서 생성하여 처리 제어 회로(410)에 출력한다.
정전 펜은, 도시는 생략하지만, 전자 펜(23)과 마찬가지로 사이드 스위치를 구비한다. 그리고 정전 펜은, 사용자에 의해 당해 사이드 스위치가 온으로 되었을 때에, 그것을 나타내는 정보를 무선 송신하는 무선 송신 회로를 구비한다. 위치 검출 회로(400)는, 이 정전 펜의 무선 송신 회로로부터의 송신 신호를 수신하는 무선 수신 회로(407)를 구비한다. 무선 수신 회로(407)는 정전 펜으로부터의 송신 신호를 감시하고, 정전 펜에서 사이드 스위치가 온으로 된 것을 나타내는 송신 신호를 검출했을 때에는, 그 취지를 나타내는 정보를 처리 제어 회로(410)에 공급한다.
처리 제어 회로(410)는 위치 정보 출력 회로(406)로부터의 위치 검출 결과의 좌표 출력과, 무선 수신 회로(407)로부터의 사이드 스위치가 온으로 되어 있는지 여부의 정보를, 묘화 장치(10)에 있어서의 묘화 처리 등, 전체를 제어하는 제어 회로에 공급한다.
이상과 같이 하여, 이 실시 형태의 묘화 장치(10)는, 전자 결합 방식의 제1 센서(20) 및 그 위치 검출 회로(200)를 구비함과 아울러, 정전 용량 방식의 제2 센서(40) 및 그 위치 검출 회로(400)를 구비하여, 제1 지시체(예를 들면 전자 펜)와, 제2 지시체(예를 들면 손가락이나 정전 펜)에 의한 위치 지시를 동시에 검출하는 것이 가능하다. 묘화 장치(10)의 제어 회로는, 이들 제1 지시체에 의한 지시 위치의 검출 결과와 제2 지시체에 의한 지시 위치의 검출 결과에 따라서, 표시 디바이스(30)의 표시 화상을 변경 제어하는 등의 처리를 행함과 아울러, 제1 지시체나 제2 지시체의 이동 조작(제스처 조작)을 검출하여, 그 검출 결과에 따른 제어 처리를 실행한다.
다음으로, 도 4는, 이 실시 형태의 묘화 장치(10)에 있어서, 제어 회로 기판(50)에 형성되어 있는 회로 구성예를 나타내는 도면이다.
즉, 도 4에 도시된 바와 같이, 묘화 장치(10)는 시스템 버스(100)를 통해서, 제어 회로(101)에 대해서, 위치 검출 회로(200), 위치 검출 회로(400), 묘화 화상 메모리(102), 묘화 파라미터 메모리(103), 버튼 조작부(104)의 각각과 접속되어 있다. 전술한 것처럼, 위치 검출 회로(200)에는 제1 센서(20)가 접속되어 있고, 또 위치 검출 회로(400)에는 제2 센서(40)가 접속되어 있다.
묘화 화상 메모리(102)는 표시 디바이스(30)의 표시 화면에 있어서, 제1 지시체, 제2 지시체에 의해서 묘화된 화상, 도형, 문자 등의 묘화 화상 정보를 기억하는 메모리이며, 복수 매분의 묘화 화상 정보를 격납하는 것이 가능하다. 묘화 화상 메모리(102)에는, 묘화 화상 정보는 1매의 묘화 화상을 복수의 레이어로 나누어 격납하는 것도 가능하게 되어 있다. 묘화 화상 정보는, 이 예에서는, 비트 맵 형식의 데이터로 되지만, 벡터 형식의 데이터여도 좋다.
묘화 파라미터 메모리(103)는, 묘화 화상 메모리(102)에 기억되는 묘화 화상 정보의 묘화시에 사용된 각종 파라미터를, 묘화 화상 정보에 대응지어서 기억하는 메모리이다. 이 예에서는, 묘화 파라미터 메모리(103)는 파라미터를, 묘화 화상의 각 화소 도트(pixel dot)(비트)에 대응하여 각각 기억하고 있다. 또한, 묘화 정보는 묘화 화상 정보와 파라미터의 정보로 이루어지지만, 묘화 화상 정보와 파라미터의 정보를, 공통의 1개의 묘화 정보 메모리에 격납하도록 해도 좋다.
버튼 조작부(104)는, 도 1에 도시된 푸쉬 버튼(63)이 프레스되었을 때에, 당해 프레스 조작이 이루어진 것을 나타내는 조작 정보를, 시스템 버스(100)에 송출한다.
제어 회로(101)는, 도시는 생략하지만, CPU(Central Processing Unit)와, 프로그램 ROM(Read Only Memory)와, 워크 에어리어 RAM(Random Access Memory)를 구비하는 마이크로 컴퓨터에 의해 구성되어 있다. 그리고 프로그램 ROM에 기억되어 있는 소프트웨어 프로그램에 의한 처리 기능으로서, 묘화 처리 회로(111), 파라미터 설정용 화상 생성 회로(112), 표시 제어 회로(113), 조작 입력 검출 회로(114) 등을 구비하고 있다. 이러한 묘화 처리 회로(111), 파라미터 설정용 화상 생성 회로(112), 표시 제어 회로(113), 조작 입력 검출 회로(114)의 처리 기능은, 제어 회로(101)를 구성하는 CPU가, 대응하는 프로그램을 프로그램 ROM로부터 판독하여, 워크 에어리어 RAM를 이용하면서 실행한다. 또한, 표시 제어 회로(113)는 표시 디바이스(30)에 접속되어 있고, 이 표시 디바이스(30)의 표시 화면에 표시하는 화상 정보의 버퍼 메모리(비디오 RAM)를 구비한다.
묘화 처리 회로(111)는, 제1 센서(20)를 통한 제1 지시체에 의한 묘화 조작이나, 제2 센서(40)를 통해서 제2 지시체에 의한 묘화 조작을, 각각 위치 검출 회로(200), 위치 검출 회로(400)를 통해서 받아들여, 워크 에어리어 RAM의 일부인 묘화 중 파라미터 버퍼 메모리에 기억되어 있는 파라미터를 참조하여, 묘화 화상 정보를 생성한다. 묘화 중 파라미터 버퍼 메모리에는, 후술하는 것처럼 하여 설정된, 지금부터 묘화하려고 할 때에 이용되는 각종의 파라미터가, 제1 지시체 및 제2 지시체의 각각에 대응하여 기억되어 있다.
그리고 묘화 처리 회로(111)는 생성한 묘화 화상 정보를, 표시 제어 회로(113)를 통해서, 표시 디바이스(30)의 표시 화면에 표시한다. 이 경우에, 묘화 처리 회로(111)는 위치 검출 회로(200), 위치 검출 회로(400)를 통해서 받아들인 묘화 조작의 위치 좌표에 대응하는 표시 화면 위치에, 묘화 화상을 표시하도록 표시 제어 회로(113)를 제어한다.
또, 묘화 처리 회로(111)는 생성한 묘화 화상 정보를, 묘화 조작의 위치 좌표에 대응하는 표시 화면 위치가 되도록, 묘화 화상 메모리(102)에 기억한다. 또한 묘화 처리 회로(111)는, 묘화 화상 메모리(102)에 기억된 묘화 화상 정보에 대응하여, 묘화 중 파라미터 버퍼 메모리에 기억되어 있는 각종 파라미터를, 당해 묘화 화상을 묘화했을 때의 각종 파라미터로서 묘화 파라미터 메모리(103)에 기억한다. 또한, 묘화 화상 정보가 비트 맵 형식인 경우에는, 각각의 비트 단위에 대해서 묘화에 사용된 파라미터가, 묘화 파라미터 메모리(103)에 기억된다.
파라미터 설정용 화상 생성 회로(112)는, 후술하는 파라미터 설정용 화상을 생성하고, 표시 제어 회로(113)를 통해서, 표시 디바이스(30)의 표시 화면에, 묘화 화상에 중첩하여 표시하도록 하는 기능을 구비한다. 여기서, 설정 가능한 파라미터로서는,
·펜의 굵기(Thickness)
·색상(Color)
·휘도(Brightness)
·펜 끝 형상(Brush)
·묘화 패턴(Hatching Pattern)
·진원도(Roundness)
·투명도(Opacity)
·농도(Density)
·경도(Hardness)
·확산도(Scattering)
·필압(Pressure)
·채도(Saturation)
등으로 되어 있다. 이상의 파라미터는 예시이며, 이것으로 한정되는 것은 아닌 것은 말할 필요도 없다.
조작 입력 검출 회로(114)는 제1 센서(20) 및 제2 센서(40)를 통해서 입력되는 제1 지시체에 의한 지시 입력 조작 및 제2 지시체에 의한 지시 입력 조작, 추가로 버튼 조작부(104)로부터의 조작 정보를 감시한다. 그리고 조작 입력 검출 회로(114)는 각각의 지시 입력 조작이나 제스처 등의 조작 정보를 해석하여, 묘화 조작이 이루어졌는지, 파라미터의 변경 설정용 조작의 입력이 이루어졌는지, 그 외의 조작 입력이 이루어졌는지를 판별하는 기능을 구비한다. 그리고 조작 입력 검출 회로(114)는, 지시 입력 조작이 묘화 조작이라고 판별했을 때에는, 그 묘화 조작의 정보를 묘화 처리 회로(111)에 공급하고, 또, 지시 입력 조작이나 조작 정보가 파라미터의 변경 설정용 조작이라고 판별했을 때에는, 그 파라미터의 변경 설정용 조작의 정보를 파라미터 설정용 화상 생성 회로(112)에 공급한다.
묘화 처리 회로(111)는 조작 입력 검출 회로(114)로부터의 묘화 조작의 정보에 따라서, 묘화 처리를 실행한다. 또, 파라미터 설정용 화상 생성 회로(112)는, 후술하는 것처럼, 조작 입력 검출 회로(114)로부터의 파라미터의 변경 설정용 조작의 정보에 따른 처리를 실행하여, 파라미터의 변경 처리 등을 한다.
［묘화 장치(10)에 있어서의 처리 동작］
이상과 같은 구성을 가지는 묘화 장치(10)에 있어서의 묘화 처리 동작 및 묘화용의 파라미터의 변경 동작에 대해서, 이하에 설명한다.
도 5 및 도 5에 이어져 있는 도 6, 도 7은, 묘화 장치(10)에 있어서의 묘화 처리 동작 및 묘화용의 파라미터의 변경 동작의 일례의 순서도이다. 이 도 5 및 도 6에 있어서의 각 스텝의 처리는, 제어 회로(101)의 처리 기능부인 각 회로(111~114)가 행하는 것이지만, 여기에서는, 설명의 간단화를 위하여, 제어 회로(101)가 각 스텝의 처리를 실행하는 것으로 하여 설명한다.
먼저, 제어 회로(101)는 위치 검출 회로(200)로부터의 지시체의 검출 출력을 감시하고, 제1 센서(20)에 있어서 전자 펜(23)에 의한 지시 입력을 검출했는지 여부를 판별한다(스텝 S1). 이 스텝 S1에서, 제1 센서(20)에 있어서 전자 펜(23)에 의한 지시 입력을 검출했다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 그 전자 펜(23)에 의한 지시 입력이 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작인지 여부를 판별한다(스텝 S2). 또한, 전자 펜(23)에 의한 지시 입력의 어떠한 조작이, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작인지에 대해서는, 후술한다.
스텝 S2에서, 전자 펜(23)에 의한 지시 입력이 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작은 아니라고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 당해 검출된 전자 펜(23)에 의한 지시 입력 조작은 묘화 조작이라고 판단하고, 그 묘화 조작에 따른 전술의 묘화 처리를 실행한다(스텝 S3). 그리고 이 스텝 S3의 종료 후에는, 제어 회로(101)는 처리를 스텝 S1로 되돌린다.
이상의 스텝 S1~S3가 반복됨으로써, 예를 들면 도 8에 도시된 묘화 화상(PA)이 생성되어, 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)에 표시된다. 또, 묘화 화상(PA)의 묘화 화상 정보가 묘화 화상 메모리(102)에 기억됨과 아울러, 묘화 파라미터 메모리(103)에, 그때의 묘화시의 파라미터의 설정치가, 묘화 화상의 표시 화면 위치(화소 도트 단위)에 대응하여 기억된다.
그리고 스텝 S2에서, 전자 펜(23)에 의한 지시 입력이 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작이라고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는, 도 9에 도시된 바와 같이, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 생성하여, 묘화 화상(PA)의 일부에 중첩하여 표시한다(스텝 S4).
여기서, 도 9에 도시된 바와 같이, 파라미터 설정용 메뉴(80)는 각종의 파라미터의 설정 항목의 변경을 받아들이기 위한 파라미터 설정 영역(81)과, 테스트 드로잉 영역(82)과, 파라미터 항목 일람 바(83)로 이루어진다. 파라미터 항목 일람 바(83)는 펜 타입(831), 지우개(832), 색 설정(833) 등의 복수 개의 항목을 가로 일렬로 표시하고 있다. 파라미터 설정 영역(81)은, 파라미터 항목 일람 바(83)에 표시되어 있는 복수의 항목 중 선택된 하나의 항목을 위해서 준비되어 표시된다. 도 9의 예에 있어서는, 파라미터 항목 일람 바(83)의 파라미터 항목 중 펜 타입(831)의 항목이 선택되었을 때의 파라미터 설정 영역(81)이 묘화 화상(PA)상에 중첩 표시되어 있다.
파라미터 설정 영역(81)은 선택 설정란(811)과, 상세 설정란(812)을 구비한다. 도 9의 예의 펜 타입(831)의 항목에 있어서는, 파라미터 설정 영역(81)의 선택 설정란(811)에서는 펜 끝 형상(Brush) 및 펜의 굵기(Thickness)의 선택 설정이 가능하고, 상세 설정란(812)에서는 투명도(Opacity), 농도(Density), 경도(Hardness), 확산도(Scattering), 필압(Pressure)의 온·오프 등이 설정 가능해져 있다.
그리고 도 9의 예에서는, 선택 설정란(811)에서는 전자 펜(23)을 이용하여, 펜 끝 형상 및 펜의 굵기를 선택 지시함으로써, 소망한 펜 끝 형상 및 펜의 굵기로 변경할 수 있다. 또, 상세 설정란(812)에서는 전자 펜(23)의 펜 끝을 도 9에 있어서의 백색 원형 부분에 위치시키고, 슬라이드 이동함으로써, 각 파라미터를 상세 설정할 수 있다.
테스트 드로잉 영역(82)은 파라미터 설정 영역(81)과 함께, 묘화 화상(PA)상에 중첩 표시된다. 이 경우에, 테스트 드로잉 영역(82)은, 본래는 당해 영역(82)의 중첩 표시에 의해 가려져 시인할 수 없게 되는 묘화 화상(PA)의 일부분을 투과하여 시인할 수 있도록 형성되어, 묘화 화상(PA)상에 중첩 표시되어 있다.
도 9의 예에서는, 테스트 드로잉 영역(82)은 구형의 영역으로 이루어진 파라미터 설정 영역(81)의 하부의 일부 영역에, 중첩 표시에 의해 가려져 시인할 수 없게 되는 묘화 화상(PA)을 시인할 수 있도록, 구형의 투과창의 영역으로서 형성되어 있다. 이 경우에, 도 9에 도시된 바와 같이, 테스트 드로잉 영역(82)은 파라미터 설정 영역(81)의 일부분을 구성하는 불투명한 프레임(82L)에 둘러싸여 구형의 투과창의 형태로서 표시되어 있다. 따라서 테스트 드로잉 영역(82)은 불투명한 프레임(82L)에 의해, 영역 범위가 명시적으로 시인 가능하게 되어 있다.
그리고 사용자가, 도 9에 도시된 바와 같이, 이 테스트 드로잉 영역(82) 내에 전자 펜(23)을 위치시키고, 묘화 조작을 하면, 묘화 처리 회로(111)는 그 묘화 조작을, 묘화 화상(PA)에 대한 묘화 조작으로는 하지 않고, 테스트 드로잉의 묘화 조작으로 검출한다. 그리고 묘화 처리 회로(111)는, 그 테스트 드로잉 묘화 조작에 따른 테스트 드로잉 묘화 화상(pt)의 화상 정보를, 버퍼 메모리에 기록함과 아울러, 테스트 드로잉 묘화 화상(pt)을, 묘화 화상(PA)에 중첩 표시하도록 한다(후술의 스텝 S8 참조). 이때의 전자 펜(23)에 의한 묘화 조작에 의한 테스트 드로잉 묘화 화상(pt)은, 파라미터 설정 영역(81)에서 설정된 파라미터가 이용되어서 이루어진 것이다. 따라서 사용자는 테스트 드로잉 영역(82)에 투과 표시되어 있는 묘화 화상(PA)과 테스트 드로잉 화상(pt)을, 직접적으로 비교 참조함으로써, 파라미터 설정 영역(81)에서 설정된 파라미터가 적절한 것인지 여부를 확인할 수 있다.
도 5의 순서도의 설명으로 돌아간다. 스텝 S4의 다음에는, 제어 회로(101)는, 제1 센서(20)에 있어서, 테스트 드로잉 영역(82)에 대응하는 영역에서 전자 펜(23)에 의한 묘화 조작을 검출했는지 여부를 판별한다(스텝 S5).
또, 스텝 S5에서, 테스트 드로잉 영역(82)에 대응하는 영역에서 전자 펜(23)에 의한 묘화 조작을 검출하지 않았다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는, 제1 센서(20)에서, 파라미터 설정 영역(81)에 있어서 전자 펜에 의한 지시 조작을 검출했는지 여부서를 판별한다(스텝 S6).
이 스텝 S6에서, 제1 센서(20)에서, 파라미터 설정 영역(81)에 있어서 전자 펜에 의한 지시 조작을 검출했다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는, 전자 펜(23)에 의한 지시 조작에 의해서 변경된 파라미터를, 묘화 중 파라미터 버퍼 메모리에 기억한다(스텝 S7). 그리고 제어 회로(101)는, 이 스텝 S7의 다음에는, 처리를 스텝 S5로 되돌리고, 이 스텝 S5 이후의 처리를 반복한다.
또, 스텝 S6에서, 제1 센서(20)에서, 파라미터 설정 영역(81)에 있어서 전자 펜에 의한 지시 조작을 검출하지 않았다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는, 제1 센서(20)에 있어서, 파라미터 항목 일람 바(83)에 대응하는 영역에서 전자 펜(23)에 의한 지시 조작을 검출했는지 여부를 판별한다(도 6의 스텝 S11).
이 스텝 S11에서, 파라미터 항목 일람 바(83)에 대응하는 영역에서 전자 펜(23)에 의한 지시 조작을 검출하지 않았다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는, 처리를 스텝 S5로 되돌리고, 이 스텝 S5 이후의 처리를 반복한다.
또, 스텝 S11에서, 파라미터 항목 일람 바(83)에 대응하는 영역에서 전자 펜(23)에 의한 지시 조작을 검출했을 때에는, 제어 회로(101)는 파라미터 항목 일람 바(83)에 있어서 선택된 항목에 대응하여 준비된 파라미터 설정 영역(81) 및 테스트 드로잉 영역(82)을 표시 화면(33)에 표시한다(스텝 S12). 그리고 제어 회로(101)는, 처리를 스텝 S5로 되돌리고, 이 스텝 S5 이후의 처리를 반복한다.
도 10은, 스텝 S11 및 스텝 S12에 의해, 파라미터 항목 일람 바(83) 중의 색 설정(833)의 항목이 선택되었을 때에 표시되는 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상의 예를 나타내는 것이다. 도 10의 예에 있어서는, 파라미터 설정 영역(81)의 선택 설정란(811)에서는 색의 선택 설정이 가능하고, 상세 설정란(812)에서는 선택된 색의 채도(Saturation)나, 휘도(Brightness)의 상세 설정이 가능하게 되어 있다.
그리고 이 도 10의 예에 있어서는, 테스트 드로잉 영역(82)에서 전자 펜(23)에 의해 테스트 드로잉을 하고, 묘화 화상(PA)과 비교 참조함으로써, 파라미터 설정 영역(81)에서 선택한 색에 대해서 설정한 채도, 휘도가, 적절히 되어 있는지를 용이하게 파악할 수 있다. 또한, 이 도 10의 예에 있어서는, 파라미터 설정 영역(81)의 화상 내용이, 색 설정(833)의 항목에 대응하여 변경된다.
스텝 S5에서, 테스트 드로잉 영역(82)에 대응하는 영역에서 전자 펜(23)에 의한 묘화 조작을 검출했다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 테스트 드로잉 영역(82)에, 전자 펜(23)에 의한 묘화 조작에 따른 테스트 드로잉 묘화 화상을, 묘화 화상(PA)에 중첩 표시한다(스텝 S8). 이때의 묘화 중 파라미터 버퍼 메모리에 기억되어 있는 파라미터의 정보는, 스텝 S7에서, 파라미터 설정 영역(81)에 있어서 설정된 파라미터의 설정치의 정보로 되어 있다. 즉, 테스트 드로잉 영역(82)에서 전자 펜(23)에 의해 이루어지는 테스트 드로잉 묘화 조작은, 새로 설정된 파라미터를 이용하여 행해진다. 따라서 사용자는 설정한 파라미터가 적절한지 여부를, 테스트 드로잉 영역(82)에 있어서, 투과하여 관시(觀視)할 수 있는 묘화 화상(PA)과, 당해 묘화 화상(PA)에 중첩 표시되는 테스트 드로잉의 묘화 화상을 비교함으로써 확인할 수 있다.
다음으로, 제어 회로(101)는, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상이 표시되어 있는 영역 이외의 영역에서, 전자 펜(23)에 의해 터치 조작(또는 탭 조작)이 이루어졌는지 여부를 판별한다(스텝 S9). 이 스텝 S9에서, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상이 표시되어 있는 영역 이외의 영역에서, 전자 펜(23)에 의해 터치 조작(또는 탭 조작)이 이루어지지 않았다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 처리를 스텝 S5로 되돌리고, 이 스텝 S5 이후의 처리를 반복한다.
또, 스텝 S9에서, 표시 화면(33)에 있어서, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상이 표시되어 있는 영역 이외의 영역에서, 전자 펜(23)에 의해 터치 조작(또는 탭 조작)이 이루어졌다고 판별했을 때에는, 파라미터 설정 영역(81)과, 테스트 드로잉 영역(82)과, 파라미터 항목 일람 바(83)로 이루어진 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을, 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)으로부터 소거하고, 원래의 묘화 화상(PA)만의 화상 표시 상태로 돌아간다(스텝 S10). 이 스텝 S10의 다음에는, 제어 회로(101)는 처리를 스텝 S1로 되돌리고, 이 스텝 S1 이후의 처리를 반복한다.
즉, 이 실시 형태에서는, 사용자가 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상이 표시되어 있는 영역 이외의 표시 화면(33)의 영역을, 전자 펜(23)에 의해 표시 화면(33)에서 터치 조작(또는 탭 조작)을 하면, 그 터치 조작(또는 탭 조작)을 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상의 소거 지시 조작으로서, 조작 입력 검출 회로(114)가 검출하여, 그 검출 출력을 파라미터 설정용 화상 생성 회로(112)에 공급한다. 파라미터 설정용 화상 생성 회로(112)는, 이 소거 지시 조작의 검출 출력을 받으면, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상의 묘화 화상(PA)으로의 중첩 표시를 소거하고, 원래의 묘화 화상(PA)만이 표시되는 상태로 돌아간다.
또한, 이때의 묘화 중 파라미터 버퍼 메모리의 정보는, 파라미터 설정용 메뉴(80)가 소거되기 직전에, 파라미터 설정용 메뉴(80)에 있어서 설정되어 있던 파라미터의 설정치의 정보로 된다. 따라서 그 후의 묘화 화상(PA)에 대한 묘화는, 파라미터 설정용 메뉴(80)에 있어서 설정되어 있던 파라미터에 의해 이루어진다.
또, 스텝 S1에서, 제1 센서(20)에 있어서 전자 펜(23)에 의한 지시 입력 조작을 검출하고 있지 않다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 제2 센서(40)에 있어서 손가락에 의한 지시 입력 조작을 검출했는지 여부 판별한다(도 7의 스텝 S21). 또한, 제2 센서(40)에 있어서는, 전술한 것처럼, 정전 펜에 의한 지시 입력 조작도 검출할 수 있지만, 여기에서는, 설명의 편의상, 손가락만을 제2 센서(40)에 대한 지시체로서 설명한다.
스텝 S21에서, 제2 센서(40)에 있어서 손가락에 의한 지시 입력 조작을 검출했다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 검출한 손가락에 의한 지시 입력 조작이, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작인지 여부를 판별한다(스텝 S22). 또한, 손가락에 의한 지시 입력의 어떠한 조작이, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작인지에 대해서는, 후술한다.
스텝 S22에서, 손가락에 의한 지시 입력 조작이 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작은 아니라고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 당해 손가락에 의한 지시 입력 조작에 대응한 처리를 실행한다(스텝 S23). 그리고 이 스텝 S23의 종료후에는, 제어 회로(101)는 처리를 스텝 S1로 되돌린다.
그리고 스텝 S23에서, 손가락에 의한 지시 입력 조작이 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작이라고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 처리를 스텝 S4로 진행하여, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 생성하여 묘화 화상(PA)의 일부에 중첩하여 표시하고, 전술한 스텝 S4 이후의 처리를 실행한다.
또, 스텝 S21에서, 제2 센서(40)에 있어서 손가락에 의한 지시 입력 조작을 검출하지 않았다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 버튼인 푸쉬 버튼(63)이 프레스 조작되었는지 여부를 판별한다(스텝 S24).
스텝 S24에서, 푸쉬 버튼(63)이 프레스 조작되었다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 처리를 스텝 S4으로 진행하여 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 생성하여 묘화 화상(PA)의 일부에 중첩하여 표시하고, 전술한 스텝 S4 이후의 처리를 실행한다. 또, 스텝 S24에서, 푸쉬 버튼(63)이 프레스 조작되지 않았다고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 처리를 스텝 S1로 되돌리고, 이 스텝 S1 이후의 처리를 반복한다.
또한, 이상의 동작에 있어서, 스텝 S10에서 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 소거했을 때에는, 테스트 드로잉 영역(82)에서 전자 펜(23)에 의해 테스트 드로잉 묘화한 묘화 화상 정보는, 테스트 드로잉 묘화 화상용 버퍼 메모리로부터 소거된다. 그러나 파라미터 설정용 메뉴(80)의 파라미터 설정 영역(81) 등에, 테스트 드로잉 묘화 반영 버튼 등을 표시하고, 당해 테스트 드로잉 묘화 반영 버튼을 전자 펜(23)이나 손가락으로 조작했을 때에는, 테스트 드로잉 묘화한 묘화 화상 정보를, 묘화 화상(PA)에 반영시키도록 해도 좋다. 그 경우에는, 테스트 드로잉 묘화 화상용 버퍼 메모리에 일시 기억되어 있던 묘화 화상 정보가, 묘화 화상 메모리(102)에 기록된다.
또, 상술된 순서도에 있어서는, 표시 화면(33)의, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상의 영역 이외를 전자 펜(23)으로 터치 조작 혹은 탭 조작했을 때에, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 소거하고, 파라미터 설정의 모드를 종료시키도록 했지만, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 소거하고, 파라미터 설정의 모드를 종료시키기 위한 조작은, 이것으로 한정되지 않는 것은 물론이다. 예를 들면, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상 중에, 종료 버튼을 표시해 두고, 이 종료 버튼을 전자 펜(23)이나 손가락으로 터치 조작 또는 탭 조작함으로써, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 소거하고, 파라미터 설정의 모드를 종료시키도록 해도 좋고, 표시 화면(33)상에서의 손가락이나 전자 펜(23)에 의한 특정의 제스처 조작이 위치 검출 회로(200) 혹은 위치 검출 회로(400)에 의해서 각각 검출되었을 경우에는, 이 제스처 조작을 종료 지시 조작으로 하도록 해도 좋다.
또, 상술된 순서도에 있어서는, 파라미터 설정용 메뉴(80)에서 설정한 파라미터는, 그 후의 묘화 화상 처리에 반드시 반영시키도록 했지만, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 파라미터 설정 영역(81) 등에, 설정 파라미터의 결정 버튼을 표시시켜 두고, 당해 결정 버튼을 터치 조작 또는 탭 조작했을 때에만, 그 후의 묘화 화상 처리에, 설정된 파라미터를 반영시키도록 해도 좋다. 또, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 소거할 때에, 설정한 파라미터를, 그 후의 묘화 화상 처리에 반영시킬지 여부를 문의하는 메시지를 표시 화면(33)에 표시시키고, 그 문의에 대한 사용자의 응답 조작에 따라서, 그 후의 묘화 화상 처리에, 설정된 파라미터를 반영시킬지 여부를 정하도록 해도 좋다.
［파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 예］
스텝 S2, 스텝 S22에서 검출하는 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 예에 대해서 설명한다.
＜제1 예＞
도 11은 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 제1 예를 설명하기 위한 도면이다. 이 제1 예에서는, 묘화 장치(10)의 표시 화면(33)의 상단부의 중앙 부분에, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 표시 요구 조작을 받아들이는 영역(34)을 설정해 둔다. 그리고 이 영역(34)을 전자 펜(23)으로 터치(또는 탭)하는 조작이나, 손가락으로 터치(또는 탭)하는 조작을, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 표시 요구 조작으로 한다. 또한, 도 11에서는, 설명의 편의상, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 파라미터 항목 일람 바(83)는 생략하고 있다. 이하의 예에 있어서도 마찬가지이다.
이 경우에, 전자 펜(23)은, 주로는 묘화 조작용으로서 이용되므로, 묘화 조작과의 명확한 구별을 하기 위해서, 이 예에서는, 특히, 사이드 스위치(24)를 누르면서 영역(34)을, 전자 펜(23)으로 터치(또는 탭)하는 조작을, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작으로 한다. 또한, 제어 회로(101)의 조작 입력 검출 회로(114)는, 전자 펜(23) 혹은 손가락 등의 지시체에 의한 이 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작을, 위치 검출 회로(200)나 위치 검출 회로(400)로부터의 지시체 검출 출력을 감시함으로써 검출한다.
또한, 영역(34)은 사용자에게 명시적으로 나타내기 위해서, 도 11 및 도 8에 도시된 것처럼, 소정의 색에 의한 바 표시를 행하도록 해 둔다. 그리고 그 영역(34)의 바 표시에는, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구를 나타내기 위한 문자를 부기해도 좋다.
또한, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 표시 요구 조작을 받아들이는 영역(34)은, 표시 화면(33)의 상단부 중앙에 한정되는 것이 아니고, 상단부 좌측 코너, 우측 코너라도 좋고, 또, 표시 화면(33)의 좌단부나 우단부, 혹은 하단부여도 좋다.
<제2 예＞
도 12 및 도 13은, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 제2 예를 설명하기 위한 도면이다. 이 제2 예에서는, 도 12에 도시된 바와 같이, 사용자가 전자 펜(23)을, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 표시 요구 조작을 받아들이는 영역(34)을 횡단하도록, 위에서 아래로 이동시키도록 하는 제스처 조작을, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 표시 요구 조작으로 한다. 이 경우에도, 사용자는 사이드 스위치(24)를 프레스하면서, 위에서 아래로 이동시키는 제스처 조작을 함으로써, 묘화 조작과의 명시적인 구별을 할 수 있도록 하고 있다.
또, 마찬가지로, 손가락으로, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 표시 요구 조작을 받아들이는 영역(34)을 횡단하도록, 위에서 아래로 이동시키도록 하는 제스처 조작을, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 표시 요구 조작으로 한다.
제2 예에서는, 제어 회로(101)의 조작 입력 검출 회로(114)는, 이 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 제스처를, 위치 검출 회로(200)나 위치 검출 회로(400)로부터의 지시체 검출 출력을 감시함으로써 검출한다.
또한, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구의 제스처 조작은, 영역(34)을 위에서 아래로 횡단하는 제스처 조작으로 한정되는 것이 아니고, 영역(34)을 아래에서 위로 횡단하는 제스처 조작이어도 좋고, 영역(34)이 표시 화면(33)의 좌단부나 우단부에 마련되는 경우에는, 좌우로 영역(34)을 횡단하는 제스처 조작을, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 제스처 조작이라고 해도 좋다.
또한, 도 13에 도시된 바와 같이, 영역(34)을 설정하지 않고, 단지, 표시 화면(33)의 표시 영역 밖의 가장자리 영역(62)으로부터, 표시 영역 내로 이동하는 제스처 조작, 혹은 그 반대로, 표시 화면(33)의 표시 영역 내에서부터, 가장자리 영역(62)으로 이동하는 제스처 조작을, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 제스처 조작으로 하도록 해도 좋다. 또한, 도 13에서는 손가락에 의한 제스처 조작을 나타내고 있지만, 손가락을 대신히여 전자 펜(23)에 의한 제스처 조작에서도 적용 가능하다는 것은 말할 것도 없다.
＜제3 예＞
도 14는, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 제3 예를 설명하기 위한 도면이다. 이 제3 예에 있어서는, 푸쉬 버튼(63)만의 프레스는 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작으로는 하고 있지 않다. 그리고 제3 예에 있어서는, 푸쉬 버튼(63)을 프레스하면서, 전자 펜(23)으로, 표시 화면(33)의 임의의 위치를 터치 조작 혹은 탭 조작하는 동작을, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작으로 한다.
이 제3 예의 경우에는, 푸쉬 버튼(63)의 조작을 수반함으로써, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작으로 한다.
그리고 특히, 이 제3 예의 경우에는, 도 14에 도시된 바와 같이, 묘화 화상(PA)을 투과시켜 표시시키는 테스트 드로잉 영역(82)의 영역 내에, 전자 펜(23)으로 터치 조작 혹은 탭 조작한 위치가 포함되도록, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상이, 표시 화면(33)에 중첩 표시되도록 한다.
또한, 이 제3 예의 경우에는, 묘화 화상(PA)에 있어서, 전자 펜(23)으로 터치 조작 혹은 탭 조작한 위치의 묘화 화상 정보가 취득되고, 이 취득된 묘화 화상 정보가 파라미터 설정용 메뉴(80)에서의 설정 파라미터가 되도록 표시됨과 아울러, 묘화 파라미터 메모리(103)에 파라미터의 설정치로서 기억되도록 하고 있다.
이 제3 예의 경우에는, 도 5에 도시된 순서도에 있어서의 스텝 S4 대신에, 도 15에 도시된 2개의 스텝을 행하도록 구성한다.
즉, 이 제3 예에 있어서는, 도 5의 스텝 S2에서, 전자 펜(23)에 의한 지시 입력 조작이 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작이라고 판별했을 때에는, 제어 회로(101)는 전자 펜(23)에 의해 터치 조작 또는 탭 조작된 위치가, 테스트 드로잉 영역(82)에 포함되도록, 파라미터 설정 영역(81), 테스트 드로잉 영역(82) 및 파라미터 항목 일람 바(83)를, 묘화 화상(PA)에 중첩하여 표시한다(도 15의 스텝 S31).
다음으로, 제어 회로(101)는, 묘화 화상(PA)의, 전자 펜(23)에 의해 터치 조작 또는 탭 조작된 묘화 화상(PA)의 위치의 묘화 화상 정보에 대응하여 기억되어 있는 파라미터의 설정치를 묘화 파라미터 메모리(103)로부터 판독하고, 그 판독된 파라미터의 설정치가, 파라미터 설정 영역(81)의 각 파라미터의 설정치가 되도록 파라미터 설정 영역(81)을 표시시킴과 아울러, 묘화 중 파라미터 버퍼 메모리에, 당해 판독된 파라미터의 설정치를 기억시킨다(스텝 S32). 이 스텝 S32의 다음에는, 제어 회로(101)는, 도 5의 스텝 S5 이후의 처리를 행하도록 한다.
이 제3 예의 경우에는, 사용자(묘화자)는 묘화의 추가나 변경을 하고 싶은 묘화 화상(PA) 중의 화상 부분을, 푸쉬 버튼(63)을 프레스하면서 전자 펜(23)으로 터치 조작 혹은 탭 조작함으로써, 제어 회로(101)는, 그 터치 조작 혹은 탭 조작한 묘화 화상(PA)의 화상 부분의 묘화 화상 정보를 취득하는 묘화 화상 정보 취득 지시 조작이라고 판별하여, 그 터치 조작 혹은 탭 조작한 묘화 화상(PA)의 화상 부분을, 테스트 드로잉 영역(82)에 투과 표시시킴과 아울러, 당해 묘화 화상(PA)의 화상 부분의 묘화 화상 정보를 취득하여, 파라미터를 설정할 수 있어 매우 편리하다.
＜그 외의 조작예＞
파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 예는, 상술의 제1 예 ~ 제3 예로 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 전자 펜(23)으로, 사이드 스위치(24)를 프레스하면서, 표시 화면(33)에 표시되어 있는 묘화 화상(PA)의 임의의 위치에서 더블 터치(더블 탭)하는 조작이나, 손가락으로 묘화 화상(PA)의 임의의 위치에서 더블 터치(더블 탭)하는 조작을, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작이라고 해도 좋다. 그 경우에는, 제3 예와 마찬가지로, 더블 터치 조작이나 더블 탭 조작한 위치가, 테스트 드로잉 영역(82) 내가 되도록 함과 아울러, 당해 더블 터치 조작이나 더블 탭 조작한 묘화 화상(PA)의 위치에 대응하여 기억되어 있는 파라미터에 기초하여, 파라미터의 변경 설정을 할 수 있도록 해도 좋다.
또, 제스처 조작은, 상하나 좌우의 직선적인 조작이 아니고, 전자 펜(23)으로 사이드 스위치(24)를 프레스하면서, 예를 들면 「レ」의 글자를 그리는 것처럼, 튀어 오르는 제스처 조작이나, 손가락으로 마찬가지의 조작을 하는 제스처 조작 등, 특유의 제스처 조작을, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작으로 해도 좋다.
파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작용으로서, 전자 펜이나 손가락에 의한 조작의 제스처 조작을, 묘화 장치(10)에 등록해 두고, 조작 입력 검출 회로(114)에서 당해 등록된 제스처 조작을 검출하면, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작이라고 판정하도록 해도 좋다. 그 경우에 등록하는 제스처 조작은, 미리 준비되어 있는 복수 개의 제스처 조작 패턴 중에서 선택하도록 해도 좋고, 사용자가 고유의 제스처 조작을 전자 펜이나 손가락에 의한 조작으로 실행하여, 묘화 장치에 등록하여 이용하도록 해도 좋다.
전술한 것처럼, 이 실시 형태의 묘화 장치에 있어서는, 묘화 도중에 있는, 디스플레이의 화상 표시 영역에서의 묘화가 테스트 드로잉 영역을 통하여 투과되어 표시된다. 이 때문에, 이 테스트 드로잉 영역에 있어서 테스트 드로잉을 하면, 그 테스트 드로잉시의 파라미터에 의한 묘화 정보가 묘화 도중의 묘화에 중첩 표시된다. 따라서 테스트 드로잉 영역에 있어서, 테스트 드로잉의 묘화 정보와 묘화 도중의 묘화를 서로 비교할 수 있기 때문에, 소망하는 파라미터를 용이하게 설정할 수 있다.
또한, 지시체에 의한 묘화 조작이 가능한 테스트 드로잉 영역과, 테스트 드로잉 영역에서의 지시체에 의한 묘화 조작에 의해서 생성되는 묘화 정보에 대한 파라미터를 변경하는 파라미터 설정 영역은, 센서에 의해서 소정의 지시 조작이 검출되었던 것에 대응하여 디스플레이의 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시되기 때문에, 디스플레이의 화상 표시 영역에서의 묘화를 저해하는 일 없이, 필요한 사이즈의 파라미터 설정 영역을 확보할 수 있다.
또, 디스플레이의 화상 표시 영역에서의 묘화에 대해서, 테스트 드로잉 영역과 파라미터 설정 화면이 중첩 표시됨으로써, 지시체에 의한 묘화를 위한 파라미터 설정 상태에 있는 것을 용이하게 시인할 수 있다.
추가로, 디스플레이의 화상 표시 영역에 테스트 드로잉 영역을 시인 가능하게 표시시키도록 하고 있기 때문에, 테스트 드로잉 영역에서의 지시체에 의한 묘화 정보와 비교해야 할 디스플레이의 화상 표시 영역에서의 묘화가 명시적으로 범위 지정되게 되어, 테스트 드로잉시의 묘화 정보와 묘화 도중의 묘화의 비교를 용이하게 행할 수 있다.
［그 외의 실시 형태 또는 변형예］
이상의 실시 형태의 설명에서는, 파라미터 설정용 메뉴(80)에 있어서는, 테스트 드로잉 영역(82)은 불투명한 프레임으로 둘러싸 나타내어, 그 영역 범위를 사용자를 시인할 수 있도록 표시했다. 그렇지만, 테스트 드로잉 영역(82)의 영역 범위를, 사용자가 시인할 수 있도록 하는 표시 방법으로서는, 불투명한 프레임으로 둘러싸는 경우로 한정되는 것은 아니다.
예를 들면, 도 16에 도시된 바와 같이, 테스트 드로잉 영역(82)의 주변부(peripheral portion)의 소정 폭의 프레임 형상 부분(82L')을, 당해 테스트 드로잉 영역(82) 내의 묘화 화상(PA)을 투과시켜 표시시키는 부분의 투과성보다도 낮은 투과성을 구비하도록 표시 제어함으로써, 테스트 드로잉 영역(82)의 영역 범위를, 사용자가 시인할 수 있도록 해도 좋다. 이 경우, 테스트 드로잉 영역(82)의 주변부의 소정폭의 프레임 형상 부분(82L')은 묘화 화상(PA)에 당해 프레임 형상 부분(82L')을, 묘화 화상(PA)이 비쳐 보이도록, 소정의 투명도, 예를 들면 반투명 상태로 중첩하여 표시하도록 제어하는 것이다.
표시 화면(33)에 있어서, 묘화 화상(PA)에 중첩하여 표시한 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상은, 손가락이나 전자 펜(23)에 의해 드래그하여 이동시킬 수 있도록 해도 좋다. 또, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 이동시키는 대신에, 묘화 화상(PA)을 이동시킬 수 있도록 해도 좋다.
또, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상으로부터, 테스트 드로잉 영역(82)만을 분리하여 이동시킬 수 있도록 해도 좋다. 도 17은 테스트 드로잉 영역(82)만을 분리하여 이동시키는 경우를 설명하는 도면의 예를 나타내는 것으로, 도 17의 예에서는, 테스트 드로잉 영역(82) 내의 임의의 위치를 손가락(25)으로 터치하여 드래그하고, 터치하여 드래그한 채로 테스트 드로잉 영역(82)만을 파라미터 설정용 메뉴(80)로부터 분리하여 소망한 묘화 화상(PA)상의 위치로 이동시킨 상태를 나타내고 있다.
또한, 분리하여 이동시킨 테스트 드로잉 영역(82)을, 파라미터 설정용 메뉴(80)에 재차 접합(接合)하도록 할 수도 있지만, 그 경우에, 다음과 같은 처리를 함으로써, 테스트 드로잉 영역(82)을, 파라미터 설정용 메뉴(80)에 용이하게 접합한 상태로 복귀시킬 수 있다. 즉, 사용자는 테스트 드로잉 영역(82) 내의 임의의 위치를 손가락(25)으로 터치하여 드래그하고, 터치하여 드래그한 채로 테스트 드로잉 영역(82)을, 파라미터 설정용 메뉴(80)의 원래의 위치의 근방까지 이동시킨다. 그러면, 파라미터 설정용 화상 생성 회로(112)는, 테스트 드로잉 영역(82)을 파라미터 설정 영역(81)과 접합한 상태의 원래의 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 생성하여 표시하도록 한다. 즉, 파라미터 설정용 화상 생성 회로(112)는, 테스트 드로잉 영역(82)이 파라미터 설정용 메뉴(80)의 원래의 위치의 근방으로 이동한 것을 검출하면, 원래의 파라미터 설정용 메뉴(80)의 화상을 생성하여 표시한다.
이것에 의해, 사용자가 테스트 드로잉 영역(82)을 파라미터 설정용 메뉴(80)의 원래의 위치의 근방까지 이동시키면, 테스트 드로잉 영역(82)이 파라미터 설정용 메뉴(80)의 원래의 위치로 신속하게 끌어 당겨지도록, 테스트 드로잉 영역(82)이 파라미터 설정 영역(81)에 흡착하여 결합한 상태로 표시된다. 따라서 사용자는 테스트 드로잉 영역(82)을, 파라미터 설정용 메뉴(80)에 결합하는 원래의 상태로 용이하게 복귀시킬 수 있다.
이상과 같이 하여, 적어도 테스트 드로잉 영역(82)은 묘화 화상(PA)에 있어서, 묘화의 추가나 변경을 하고 싶은 장소에 이동 가능해진다. 따라서 당해 묘화의 추가나 변경을 하고 싶은 장소에 있어서, 묘화의 파라미터의 설정 변경을, 원래의 묘화 화상(PA)과 비교 참조하면서 행할 수 있어, 매우 편리하다.
또한, 이상의 설명에 있어서는, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 검출시에는, 가장자리 영역(62)에서부터 표시 화면(33) 내로 걸치는 제스처 조작도 포함하고, 제1 센서(20) 혹은 제2 센서(40)에 의해, 표시 화면(33)의 영역 내에서 지시체의 검출을 행할 필요가 있다.
그러나 제1 센서(20) 혹은 제2 센서(40)는, 도 18에 있어서 점선으로 도시된 바와 같이, 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)보다도 넓은 지시체 검출 영역을 구비할 수도 있다. 이에, 제1 센서(20) 혹은 제2 센서(40)의 지시체 검출 영역으로서, 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33) 밖의, 묘화 장치(10)에 있어서의 가장자리 영역(62)의 일부의 영역(64)을, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작의 검출 영역으로 하도록 할 수도 있다.
도 18의 예에서는, 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33)의 영역과 표시 디바이스(30)의 표시 화면(33) 밖의 가장자리 영역(62)의 각각의 영역은, 제1 센서(20) 혹은 제2 센서(40)에 의해서 각각 위치 검출 가능하게 되어 있고, 가장자리 영역(62)의 일부의 영역(64)도 또 특정 가능하게 되어 있다. 이 영역(64)을 명시적으로 사용자에게 알리기 위해서, 예를 들면 소정의 색 등에 의해 빈틈없이 칠하여 인쇄 표시하도록 하고 있다. 따라서 예를 들면 사용자가 전자 펜(23)으로 이 영역(64)을 터치 혹은 탭 하는 조작을, 파라미터 설정용 메뉴의 표시 요구 조작으로 할 수 있다. 제2 센서(40)에 대한 손가락의 조작의 경우도 마찬가지로 할 수 있다.
또한, 상술된 실시 형태의 묘화 장치(10)에 있어서는, 표시 디바이스(30)를 사이에 두고, 표시 디바이스(30)의 표면측 및 이면측에, 제1 센서(20)와 제2 센서(40)를 각각 배설하도록 했다. 그러나 표시 디바이스(30)의 표면측(표시 화면(33)측)에, 제1 센서(20) 및 제2 센서(40)를 배설하도록 할 수도 있다.
또, LCD(액정 디스플레이) 등, 표시 디바이스(30)가 그리드(grid) 모양으로 배치된 전극을 이용하여 표시 제어되는 구성을 구비하는 경우에는, 제2 센서(40)로서의 정전 용량 방식의 위치 검출용의 센서를, 이 그리드 모양으로 배치된 전극과 조합한 구성으로 하여 이용할 수도 있다.
또한, 상술된 실시 형태의 묘화 장치에서는, 제1 센서로서 전자 결합 방식의 위치 검출 센서를 이용하고, 제2 센서로서 정전 용량 방식의 위치 검출 센서를 이용하도록 했지만, 제1 및 제2 센서로서는, 그러한 조합으로 한정되는 것은 아닌 것은 분명하다. 또, 상술된 실시 형태의 묘화 장치에서는, 제1 센서와 제2 센서의 2개의 센서를 이용하도록 했지만, 복수의 위치 검출 방식을 1개의 센서로 실현해도 좋다.
또한, 상술된 실시 형태에서는, 묘화 화상(PA)은, 묘화 장치(10)에서 묘화하여 생성한 화상으로 했지만, 기존의 화상이나 사진 등을 취득하여, 그것을 묘화 화상(PA)으로 하고, 그 묘화 화상(PA)에 중첩하여 화상을 묘화하는 경우에도, 본 발명은 적용 가능하다.
10: 묘화 장치, 20: 제1 센서,
30: 표시 디바이스, 40: 제2 센서,
50: 제어 회로 기판, 60: 평면 부재,
101: 제어 회로, 102: 묘화 화상 메모리,
103: 설정 파라미터 메모리, 111: 묘화 처리 회로,
112: 파라미터 설정용 화상 생성 회로,
113: 표시 제어 회로, 114: 조작 입력 검출 회로,
200: 제1 센서용의 위치 검출 회로, 400: 제2 센서용의 위치 검출 회로

Claims (19)

  1. 소정의 화상 표시 영역을 가지는 디스플레이와, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역과 소정의 중첩 관계로 배치되어 있음과 아울러 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 대응한 지시체 조작 검출 영역을 가짐으로써 지시체의 조작을 검출하는 센서와, 상기 센서에 의해서 검출된 지시체에 의한 묘화(描畵) 조작에 기초하여 생성되는 묘화 정보를 기억하는 메모리와, 상기 메모리에 기억된 묘화 정보에 기초하여 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 묘화를 행하는 제어 회로를 구비한 묘화 장치로서,
    상기 제어 회로는, 상기 센서에 의해서 상기 지시체에 의한 소정의 지시 조작이 검출된 것에 대응하여, 상기 지시체에 의한 상기 묘화 조작이 가능한 테스트 드로잉 영역(test drawing area)과, 상기 테스트 드로잉 영역에서의 상기 지시체에 의한 상기 묘화 조작에 의해서 생성되는 묘화 정보에 대한 파라미터를 변경하는 파라미터 설정 영역을, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시시킴과 아울러,
    상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에, 상기 테스트 드로잉 영역을 시인(視認) 가능하게 표시시킴과 아울러, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 상기 묘화에 대해서 투과성을 가지고 표시시키도록 한 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 테스트 드로잉 영역은, 상기 테스트 드로잉 영역의 주변부(peripheral portion)가 상기 투과성에 대해서 낮은 투과성을 구비하도록 상기 제어 회로에 의해서 제어됨으로써, 투과성을 가짐과 아울러 시인 가능하게, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 중첩되어 표시되는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 테스트 드로잉 영역은, 상기 테스트 드로잉 영역의 상기 주변부가 프레임 모양으로 상기 낮은 투과성을 구비하도록 상기 제어 회로에 의해서 제어됨으로써, 투과성을 가짐과 아울러 시인 가능하게, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 중첩되어 표시되는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 테스트 드로잉 영역에서의 상기 지시체에 의한 상기 묘화 조작에 의해서 생성되어 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩되어 표시되는 묘화 정보는, 상기 파라미터 설정 영역에서의 파라미터의 변경이 반영되도록 상기 제어 회로에 의해서 제어되는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 파라미터 설정 영역에서 변경 가능한 파라미터는, 선의 굵기, 색상, 및 휘도 중 적어도 1개인 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 제어 회로에 의한 제어에 의해서, 상기 테스트 드로잉 영역을 통하여 표시되는 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 대해서 상기 지시체에 의해서 지시된 위치의 묘화 정보가 취득되고, 취득된 상기 묘화 정보에 기초하여 상기 파라미터 설정 영역의 파라미터가 설정되는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 센서와 상기 지시체가 전자(電磁) 결합함으로써 상기 지시체가 지시하는 센서상의 위치가 검출 가능하게 되어 있음과 아울러, 상기 센서는 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역을 둘러싸는 소정의 가장자리 영역에서의 상기 지시체가 지시하는 위치를 검출 가능하게 되어 있고, 상기 제어 회로는, 상기 지시체가 지시하는 위치가 상기 소정의 가장자리 영역인 것에 대응하여 상기 파라미터 설정 영역과 상기 테스트 드로잉 영역을 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시시키는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  8. 청구항 1에 있어서,
    상기 센서와 상기 지시체가 전자 결합함으로써 상기 지시체가 지시하는 센서상의 위치가 검출 가능하게 되어 있음과 아울러, 상기 지시체에는 스위치가 마련되어 있고, 상기 제어 회로는, 상기 지시체에 마련된 스위치를 조작하면서 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 대해서 행해진 소정의 조작에 대응하여 상기 파라미터 설정 영역과 상기 테스트 드로잉 영역을 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시시키는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  9. 청구항 1에 있어서,
    상기 센서와 상기 지시체가 전자 결합함으로써 상기 지시체가 지시하는 센서상의 위치가 검출 가능하게 되어 있음과 아울러, 상기 디스플레이에는 조작 버튼이 마련되어 있고, 상기 제어 회로는, 상기 디스플레이에 마련된 상기 조작 버튼을 조작하면서 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 대해서 행해진 상기 지시체에 의한 소정의 조작에 대응하여 상기 파라미터 설정 영역과 상기 테스트 드로잉 영역을 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시시키는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  10. 청구항 1에 있어서,
    상기 센서는, 상기 지시체에 의한 센서상의 위치가 정전(靜電) 용량의 변화로서 검출 가능하게 되어 있음과 아울러, 상기 지시체에는 스위치가 마련되어 있고, 상기 제어 회로는, 상기 지시체에 마련된 스위치를 조작하면서 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 대해서 행해진 소정의 조작에 대응하여 상기 파라미터 설정 영역과 상기 테스트 드로잉 영역을 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시시키는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  11. 청구항 1에 있어서,
    상기 센서는, 상기 지시체에 의한 센서상의 위치가 정전 용량의 변화로서 검출 가능하게 되어 있음과 아울러, 상기 디스플레이에는 조작 버튼이 마련되어 있고, 상기 제어 회로는, 상기 디스플레이에 마련된 상기 조작 버튼을 조작하면서 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 대해서 행해진 상기 지시체에 의한 소정의 조작에 대응하여 상기 파라미터 설정 영역과 상기 테스트 드로잉 영역을 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시시키는 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  12. 청구항 1에 있어서,
    상기 지시체는 제1 지시체와 제2 지시체로 구성되어 있고, 상기 센서는 상기 제1 지시체가 지시하는 위치를 검출 가능한 제1 센서와, 상기 제1 센서와는 다른 위치 검출 방식으로 상기 제2 지시체가 지시하는 위치를 검출 가능한 제2 센서를 구비하고 있으며, 상기 제1 지시체에 의해서 상기 묘화 조작을 행함과 아울러, 상기 제2 지시체에 의해서 상기 소정의 지시 조작을 행하도록 한 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  13. 청구항 12에 있어서,
    상기 제1 센서는 상기 제1 지시체와 전자 결합함으로써 상기 제1 지시체가 지시하는 상기 제1 센서상의 위치가 검출 가능하게 되어 있고, 상기 제2 센서는 상기 제2 지시체에 의한 상기 제2 센서상의 위치가 정전 용량의 변화로서 검출 가능하게 되어 있는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  14. 청구항 12에 있어서,
    상기 제1 지시체는 펜의 형상을 구비하여 위치를 지시하는 것이고, 상기 제2 지시체는 펜의 형상을 구비하여 위치를 지시하는 것 및 손가락에 의해서 위치를 지시하는 것 중의 적어도 1개인 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  15. 청구항 12에 있어서,
    상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시된 상기 테스트 드로잉 영역은, 상기 제어 회로의 제어에 의해서 상기 제1 지시체와 상기 제2 지시체 중 적어도 한쪽의 지시체의 조작에 대응하여 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역을 이동 가능하게 되어 있는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  16. 청구항 15에 있어서,
    상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시된 상기 파라미터 설정 영역과 상기 테스트 드로잉 영역은, 상기 제어 회로의 제어에 의해서 상기 제1 지시체와 상기 제2 지시체 중 적어도 한쪽의 지시체의 조작에 대응하여 서로의 영역을 분리 및 결합 가능하게 되어 있는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  17. 청구항 12에 있어서,
    상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시된 상기 파라미터 설정 영역과, 상기 파라미터 설정 영역과는 분리된 상태로 있는 상기 테스트 드로잉 영역에 대해, 상기 제어 회로의 제어에 의해서 상기 제1 지시체와 상기 제2 지시체 중 적어도 한쪽의 지시체의 조작에 대응하여, 상기 파라미터 설정 영역과, 상기 파라미터 설정 영역과는 분리된 상태로 있는 상기 테스트 드로잉 영역의 사이의 거리가 소정의 범위 내로 된 것에 대응하여 상기 테스트 드로잉 영역이 상기 파라미터 설정 영역에 흡착(吸着)하도록 이동하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  18. 청구항 1에 있어서,
    상기 제어 회로는, 상기 센서에 의해서 상기 지시체에 의한 상기 지시 조작이 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서 검출된 것에 대응하여, 상기 지시 조작이 검출된 위치가 상기 테스트 드로잉 영역에 포함되도록, 상기 테스트 드로잉 영역을 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시하도록 한 것을 특징으로 하는 묘화 장치.
  19. 소정의 화상 표시 영역을 가지는 디스플레이와, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역과 소정의 중첩 관계로 배치되어 있음과 아울러 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 대응한 지시체 조작 검출 영역을 가짐으로써 지시체의 조작을 검출하는 센서와, 상기 센서에 의해서 검출된 지시체에 의한 묘화 조작에 기초하여 생성되는 묘화 정보를 기억하는 메모리를 구비하는 묘화 장치에, 상기 메모리에 기억된 묘화 정보에 기초하여 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에 묘화를 행하는 묘화 처리를 실행시키는 컴퓨터 프로그램 제품으로서,
    상기 센서에 의해서 상기 지시체에 의한 소정의 지시 조작이 검출된 것에 대응하여, 상기 지시체에 의한 상기 묘화 조작이 가능한 테스트 드로잉 영역과, 상기 테스트 드로잉 영역에서의 상기 지시체에 의한 상기 묘화 조작에 의해서 생성되는 묘화 정보에 대한 파라미터를 변경하는 파라미터 설정 영역을, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 묘화에 중첩하여 표시시킴과 아울러,
    상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에, 상기 테스트 드로잉 영역을, 시인 가능하게 표시시킴과 아울러, 상기 디스플레이의 상기 화상 표시 영역에서의 상기 묘화에 대해서 투과성을 가지고 표시시키도록 한 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램 제품.
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