KR20140148148A - Testing apparatus of display panel and testing method thereof - Google Patents

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Abstract

According to an embodiment of the present invention, a testing device of a display panel comprises: a mounting unit which a panel is mounted on; an image filming unit provided to the upper part of the mounting unit and films the pixel image of the panel; and a control unit which extracts a pixel pattern from the pixel image filmed by the image filming unit to check the information on a panel twist, and correcting the coordinates of the pixel image based on the information on the panel twist. According to the present invention, an easy arrangement without an additional arranging mark can be realized by arranging using the pixel pattern.

Description

표시패널 검사장치 및 그 검사방법{TESTING APPARATUS OF DISPLAY PANEL AND TESTING METHOD THEREOF}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a display panel inspection apparatus,

실시예는 표시패널 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 별도의 정렬 마크 없이 비전 검사가 가능한 표시패널 검사장치 및 그 검사방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display panel inspection apparatus, and more particularly, to a display panel inspection apparatus and a method for inspecting a display panel without a separate alignment mark.

최근에는 CRT(Cathode Ray Tube, 음극선관 표시 장치)를 대신하여 액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), PDP(Plasma Display Panel, 플라즈마 표시 장치), OLED(Organic Light Emitting Diodes, 유기 다이오드 표시 장치) 등의 평판 표시 장치가 빠르게 발전하고 있다. 그 중에서, 액정표시장치는 다른 디스플레이 장치에 비해 얇고 가벼우며 낮은 소비 전력 및 낮은 구동 전압을 갖추고 있어서 다양한 장치에 광범위하게 사용되고 있다.In recent years, a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), an organic light emitting diode (OLED) display, a cathode ray tube (CRT) And the like are rapidly developing. Among them, liquid crystal display devices are thinner and lighter than other display devices, have low power consumption and low driving voltage, and are widely used in various devices.

이러한 액정표시장치는 각 구성요소를 결합한 후, 최종적으로 액정 패널의 표시 화소가 정상으로 점등되었는지 아닌지를 확인하는 비전 검사가 이루어진다.In such a liquid crystal display device, a vision check is performed to check whether or not the display pixels of the liquid crystal panel are normally turned on after finally connecting the respective components.

종래에는 액정 패널의 비전 검사를 수행하기 전에 이미 패널의 정렬을 수행한 후 비전 검사장치로 이동하여 액정 패널의 비전 검사를 수행하고 있으나, 패널이 이동하는 동안 정렬 상태가 흐트러질 수 있기 때문에 비전 검사 시 다시 한번 패널의 정렬을 수행하게 된다. 이를 위해 액정 패널에는 정렬 마크가 형성되어 있으며, 이의 영상을 확보하기 위해 별도의 카메라가 설치된다.Conventionally, before performing the vision inspection of the liquid crystal panel, the alignment of the panel is performed and then the vision inspection apparatus is moved to perform the vision inspection of the liquid crystal panel. However, since the alignment state may be disturbed during the movement of the panel, And the panel is aligned again. For this, an alignment mark is formed on the liquid crystal panel, and a separate camera is installed to secure the image.

하지만. 액정 패널이 심하게 틀어져 가변 폭이 크게 되면, 액정 패널의 정렬 마크가 표시되지 않아 좌표 추출이 불가능하게 되며, 자동 비전 검사는 이루어지지 않게 되는 문제점이 발생된다.However. When the liquid crystal panel is severely twisted and the variable width becomes large, the alignment mark of the liquid crystal panel is not displayed, so that coordinate extraction becomes impossible and automatic vision inspection is not performed.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 실시예는 별도의 정렬 마크 없이 정렬이 가능한 표시패널의 검사장치 및 그 검사방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide an inspection apparatus and method for a display panel which can be aligned without a separate alignment mark.

또한, 실시예는 표시패널 정렬을 위한 하드웨어의 구성을 최소화하기 위한 표시패널의 검사장치 및 그 검사방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide an inspection apparatus for a display panel and a method of inspecting the same for minimizing the configuration of hardware for aligning the display panel.

또한, 실시예는 표시패널 정렬에 소요되는 시간을 최소화하기 위한 표시패널의 검사장치 및 그 검사방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide an inspection apparatus for a display panel and an inspection method thereof for minimizing the time required for alignment of a display panel.

상술한 목적을 달성하기 위하여, 실시예에 따른 표시패널의 검사장치는 표시패널이 안착되는 안착부와, 상기 안착부의 상부에 배치되어 표시패널의 화소 영상을 촬상하는 촬상부와, 상기 촬상부로부터 촬상된 화소 영상 중 화소 패턴을 추출하여 표시패널의 틀어짐 정보를 확인하고, 표시패널의 틀어짐 정보에 의해 화소 영상의 좌표를 보정하는 제어부를 포함한다.In order to achieve the above object, an inspection apparatus for a display panel according to an embodiment of the present invention includes: a mount portion on which a display panel is seated; an image pickup portion disposed on an upper portion of the mount portion to image a pixel image of the display panel; And a control unit for extracting a pixel pattern from the picked-up pixel image to check for distortion information of the display panel and correcting the coordinates of the pixel image based on the displacement information of the display panel.

또한, 상술한 목적을 달성하기 위하여, 실시예에 따른 표시패널의 검사방법은 화소 영상을 수집하는 단계와, 상기 화소 영상으로부터 화소 패턴을 추출하는 단계와, 상기 화소 패턴을 좌표값을 산출하는 단계와, 상기 화소 패턴의 좌표값에 의해 화소 영상의 좌표를 보정하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a display panel, comprising: collecting pixel images; extracting pixel patterns from the pixel images; calculating coordinate values of the pixel patterns; And correcting the coordinates of the pixel image based on the coordinate values of the pixel pattern.

실시예는 화소 패턴을 이용하여 정렬을 수행함으로써, 별도의 정렬 마크 없이 정렬을 용이하게 수행할 수 있는 효과가 있다.The embodiment has an effect of easily performing alignment without performing a separate alignment mark by performing alignment using a pixel pattern.

또한, 실시예는 정렬 장치의 부가적인 하드웨어적 구성을 최소화하여 장비의 단가를 감소시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, the embodiment has the effect of minimizing the additional hardware configuration of the alignment apparatus and reducing the unit cost of the apparatus.

또한, 실시예는 화소 영상으로부터 화소 패턴을 추출하여 별도의 검사 프로세서를 줄임으로써, 생산 시스템 시간(Tact Time)을 기존에 비해 40% 이상 단축할 수 있는 효과가 있다.In addition, the embodiment can reduce the production system time (Tact Time) by more than 40% by extracting the pixel pattern from the pixel image and reducing the number of the inspection process.

도 1은 실시예에 따른 표시패널의 검사장치를 나타낸 단면도이다.
도 2는 실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 나타낸 순서도이다.
도 3 내지 도 6은 실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명하기 위한 도면이다.1 is a cross-sectional view showing an inspection apparatus for a display panel according to an embodiment.
2 is a flowchart showing a method of inspecting a display panel according to an embodiment.
3 to 6 are views for explaining a method of inspecting a display panel according to an embodiment.

이하, 도면을 참조하여 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the drawings.

도 1은 실시예에 따른 표시패널의 검사장치를 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing an inspection apparatus for a display panel according to an embodiment.

도 1을 참조하면, 실시예에 따른 표시패널의 검사장치는 표시패널(P)이 안착되는 안착부(100)와, 상기 안착부(100)의 상부에 배치되어 표시패널(P)의 화소 영상을 촬상하는 촬상부(200)와, 상기 촬상부(200)로부터 촬상된 화소 영상 중 화소 패턴을 추출하여 표시패널(P)의 틀어짐 정보를 확인하고, 표시패널(P)의 틀어짐 정보에 의해 화소 영상의 좌표를 보정하는 제어부(300)를 포함한다.Referring to FIG. 1, an inspection apparatus for a display panel according to an embodiment of the present invention includes a mounting unit 100 on which a display panel P is mounted, And an image pickup section 200 for picking up a pixel pattern from the pixel image picked up by the image pickup section 200 to confirm the displacement information of the display panel P And a controller 300 for correcting the coordinates of the image.

표시패널(P)은 LCD 패널, OLED 패널이 사용될 수 있으며, 장방형 형상으로 형성될 수 있다. 표시패널(P)의 상부에는 복수의 화소들이 매트릭스 형태로 배열된다.The display panel P may be an LCD panel or an OLED panel, and may be formed in a rectangular shape. In the upper part of the display panel P, a plurality of pixels are arranged in a matrix form.

안착부(100)는 표시패널(P)을 하부에서 지지하는 역할을 한다. 안착부(100)는 표시패널(P)의 대응되는 형상으로 형성될 수 있다. 예컨대, 표시패널(P)이 사각 형상인 경우, 안착부(100)는 그에 대응되도록 사각 형상으로 형성될 수 있으며, 표시패널(P)이 원형 형상인 경우, 안착부(100)도 원형 형상으로 형성될 수 있다.The seating part 100 serves to support the display panel P from below. The seating part 100 may be formed in a corresponding shape of the display panel P. [ For example, when the display panel P has a rectangular shape, the seating part 100 may be formed in a rectangular shape corresponding to the rectangular shape, and when the display panel P is circular, the seating part 100 also has a circular shape .

안착부(100)는 표시패널(P)의 크기보다 크게 형성될 수 있다. 안착부(100)의 상부면은 플랫(Plat)할 수 있으며, 표시패널(P)을 수납하기 위해 소정의 홈(미도시)이 형성될 수도 있다. 안착부(100)에는 표시패널(P)을 고정하기 위한 척(미도시)이 더 구비될 수 있다.The seating part 100 may be formed larger than the size of the display panel P. [ An upper surface of the seating part 100 may be flat and a predetermined groove (not shown) may be formed to accommodate the display panel P. The seating part 100 may further include a chuck (not shown) for fixing the display panel P. [

이러한 척으로는 정전력을 이용한 정전척, 진공력을 이용한 진공척, 이와 달리, 기계력을 이용한 기계척을 포함할 수 있다.Such a chuck may include an electrostatic chuck using electrostatic force, a vacuum chuck using vacuum force, or a mechanical chuck using mechanical force.

촬상부(200)는 안착부(100)의 상부에 배치될 수 있다. 촬상부(200)는 표시패널(P)의 화소 영상을 수집할 수 있다. 촬상부(200)로는 CCD(Charge-coupled device) 카메라, 마이크로 현미경을 포함할 수 있다.The image sensing unit 200 may be disposed at an upper portion of the seating unit 100. The image pickup section 200 can collect pixel images of the display panel P. [ The image sensing unit 200 may include a CCD (charge-coupled device) camera or a micro-microscope.

촬상부(200)는 제1 촬상부(210), 제2 촬상부(230), 제3 촬상부(250)를 포함할 수 있다. 제1 촬상부(210)는 표시패널(P)의 일측 영역을 촬상하며, 제2 촬상부(230)는 표시패널(P)의 중앙 영역을 촬상하며, 제3 촬상부(250)는 표시패널(P)의 타측 영역을 촬상할 수 있다. 표시패널(P)의 크기가 대면적화됨에 따라, 촬상부(200)의 개수는 더 늘어날 수 있다.The image pickup unit 200 may include a first image pickup unit 210, a second image pickup unit 230, and a third image pickup unit 250. The first imaging section 210 picks up an area on one side of the display panel P and the second imaging section 230 picks up the center area of the display panel P. The third imaging section 250 picks- It is possible to pick up an image of the other side region of the image P (P). As the size of the display panel P becomes larger, the number of the image pickup units 200 can be further increased.

제어부(300)는 촬상부(200)로부터 촬상된 화소 영상 중 화소 패턴을 추출하여 표시패널(P)의 틀어짐을 확인하고, 표시패널(P)의 틀어짐 정보에 의해 화소 영상의 좌표를 보정하는 역할을 한다. 여기서, 화소 패턴은 표시패널(P)의 상부에 형성된 R 패턴, G 패턴, B 패턴을 포함할 수 있다.The controller 300 extracts a pixel pattern from the pixel image picked up by the image pickup unit 200 to check for a shift of the display panel P and corrects the coordinates of the pixel image by the shift information of the display panel P . Here, the pixel pattern may include an R pattern, a G pattern, and a B pattern formed on the upper portion of the display panel P.

표시패널(P)의 틀어짐 정보는 추출된 표시패널(P)의 화소 패턴의 좌표를 측정하여 틀어짐 정보를 확인할 수 있으며, 틀어짐 정보에 의해 화소 영상의 좌표를 보정할 수 있게 된다. The deflection information of the display panel P can be detected by measuring the coordinates of the pixel pattern of the extracted display panel P and the coordinates of the pixel image can be corrected by the deflection information.

화소 패턴의 좌표는 R 패턴, G 패턴, B 패턴 중 어느 하나를 수집하여 좌표를 측정할 수 있으며, 예컨대, R 패턴의 X축 좌표, Y축 좌표값을 측정하여 틀어짐 정보를 확인할 수 있다. 이와 다르게, 화소 패턴의 좌표는 화소 패턴의 회전각을 측정할 수도 있다.
The coordinates of the pixel pattern can be obtained by collecting any one of the R pattern, the G pattern, and the B pattern. For example, the X-axis coordinate and the Y-axis coordinate value of the R pattern can be measured to check the information for the error. Alternatively, the coordinate of the pixel pattern may measure the rotation angle of the pixel pattern.

이하에서는 도 2 내지 도 6을 참조하여, 표시패널의 검사방법을 보다 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, the inspection method of the display panel will be described in more detail with reference to FIGS. 2 to 6. FIG.

도 2는 실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 나타낸 순서도이고, 도 3 내지 도 6은 실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 2 is a flowchart illustrating a method of inspecting a display panel according to an embodiment. FIGS. 3 to 6 are views for explaining a method of inspecting a display panel according to an embodiment.

도 2에 도시된 바와 같이, 표시패널의 검사방법은 화소 영상을 수집하는 단계(S10)와, 상기 화소 영상으로부터 화소 패턴을 추출하는 단계(S20)와, 상기 화소 패턴의 좌표값을 산출하는 단계(S30)와, 상기 화소 패턴의 좌표값에 의해 화소 영상의 좌표를 보정하는 단계(S40)를 포함한다.As shown in FIG. 2, the method of inspecting a display panel includes collecting a pixel image (S10), extracting a pixel pattern from the pixel image (S20), calculating a coordinate value of the pixel pattern (S30), and correcting the coordinates of the pixel image based on the coordinate values of the pixel pattern (S40).

도 3에 도시된 바와 같이, 표시패널의 화소 영상(400)은 촬상부로부터 촬상될 수 있으며, 촬상부로부터 촬상된 화소 영상(400)은 제어부에 수집된다. 화소 영상(400)은 다수의 매트릭스 형태의 서브 픽셀(410)과, 상기 서브 픽셀(410) 내의 R패턴(430), G패턴(450), B패턴(470)이 표시될 수 있다.As shown in Fig. 3, the pixel image 400 of the display panel can be picked up from the image pickup section, and the pixel image 400 picked up by the image pickup section is collected in the control section. The pixel image 400 may include a plurality of subpixels 410 in a matrix form and an R pattern 430, a G pattern 450, and a B pattern 470 in the subpixel 410.

도 4에 도시된 바와 같이, 화소 영상이 수집되면, 화소 패턴을 추출하는 단계(S20)를 수행할 수 있다. 화소 패턴은 R패턴(430)은 추출하여 패턴을 추출할 수 있다. R패턴(430)을 추출할 경우, R패턴(430)을 다른 화소 패턴들보다 우선 점등시켜 R패턴(430)을 추출할 수 있게 된다.As shown in FIG. 4, when the pixel image is collected, a step S20 of extracting a pixel pattern may be performed. The pixel pattern can extract the R pattern 430 and extract the pattern. When the R pattern 430 is extracted, the R pattern 430 can be extracted by first lighting the R pattern 430 over the other pixel patterns.

이와 다르게, 이미 수집된 화소 영상 중 R패턴에 대한 정보만을 따로 분리시켜 저장함으로써, 화소 패턴을 추출할 수도 있다.Alternatively, the pixel pattern may be extracted by separately separating and storing information on the R pattern among the pixel images already collected.

물론, 화소 패턴으로 R패턴(430) 외에도 G패턴 만을 추출할 수 있으며, 이와 다르게 B패턴 만을 추출할 수도 있다. 또한, R-G패턴, R-B패턴, G-B패턴을 조합하여 화소 패턴을 조합할 수도 있다. Of course, in addition to the R pattern 430 in the pixel pattern, only the G pattern can be extracted, and only the B pattern can be extracted. It is also possible to combine pixel patterns by combining R-G patterns, R-B patterns, and G-B patterns.

하지만, 2개의 패턴을 조합하게 되면, 2개의 패턴에 대해 점등하는 시간이 상당히 지체되며, 2개의 패턴에 대한 프로세서가 복잡하게 되는 단점이 있다. 이에, 화소 패턴 중 어느 하나의 패턴만을 사용하는 것이 가장 효과적이다.However, when the two patterns are combined, there is a disadvantage that the time for lighting the two patterns is considerably delayed and the processor for the two patterns becomes complicated. Therefore, it is most effective to use only one of the pixel patterns.

도 5에 도시된 바와 같이, 화소 패턴이 추출되면, 화소 패턴의 좌표값을 산출하는 단계(S30)를 수행할 수 있다.As shown in FIG. 5, when the pixel pattern is extracted, step S30 of calculating the coordinate value of the pixel pattern can be performed.

화소 패턴(430)의 좌표값은 기존 대비 기준값을 기준으로 X축 좌표, Y축 좌표를 획득하여 화소 패턴의 좌표값을 산출할 수 있다. 예컨대, (a11, b11) 좌표값을 가지는 R 패턴은 기준 좌표값(A,B)과의 차이값을 계산하게 되면, 표시패널은 X축으로 얼마만큼 이동했는지, Y축으로는 얼마만큼 이동했는지 측정할 수 있게 된다. 따라서, 화소 패턴(430)의 좌표값으로부터 표시패널의 틀어짐 정보를 파악할 수 있게 된다.Coordinate values of the pixel pattern 430 can be calculated by obtaining X-axis coordinate and Y-axis coordinate with reference to the conventional reference value. For example, when calculating the difference value from the reference coordinate values (A, B), the R pattern having the coordinate values (a 11 , b 11 ) indicates how much the display panel moved on the X axis, It is possible to measure whether or not it has moved. Thus, it is possible to grasp the information on the displacement of the display panel from the coordinate values of the pixel pattern 430. [

추출된 R패턴 중 특정 영역의 R패턴이 점등되지 않아 R패턴이 추출되지 않은 영역이 발생되면, 추출되지 않은 R패턴 영역에 인접하는 R패턴 영역의 정보를 활용하여 특정 영역의 R패턴을 추출할 수 있다.If an R-pattern is not extracted because the R-pattern of the specific region is not turned on among the extracted R-patterns, the R-pattern of the specific region is extracted using the information of the R-pattern region adjacent to the non- .

도 6에 도시된 바와 같이, 추출되지 않은 R패턴 영역(A)의 좌우에 위치된 R패턴 영역들의 좌표값의 중간값을 이용하거나, 추출되지 않은 R패턴 영역(A)의 상하에 위치된 R패턴 영역들의 좌표값의 중간값을 이용하게 되면, 추출되지 않은 R패턴 영역(A)이 예측되어 좌표값을 산출할 수 있게 된다.6, an intermediate value of the coordinate values of the R pattern regions located on the right and left sides of the non-extracted R pattern region A may be used, or R If the intermediate value of the coordinate values of the pattern areas is used, the R pattern area A that has not been extracted can be predicted and the coordinate value can be calculated.

상기와 같이, 산출된 화소 패턴(430)의 좌표값으로부터 표시패널의 틀어짐 정보가 확인되면, 초기 화소 영상에 틀어짐 정보를 반영하여 화소 영상의 좌표값을 보정할 수 있게 된다.As described above, when the distortion information of the display panel is confirmed from the coordinate values of the calculated pixel pattern 430, it is possible to correct the coordinate values of the pixel image by reflecting the distortion information in the initial pixel image.

실시예에 따른 표시장치 검사방법은 생산 시스템 시간(Tact Time)을 기존에 비해 40% 이상 단축할 수 있게 된다. 또한, 검사에 들어가는 비용을 최소화할 수 있으며, 별도의 정렬 장치 등의 부가적인 하드웨어적 구성을 최소화할 수 있기 때문에 장비의 단가를 감소시킬 수 있는 효과를 가지게 된다.The display device inspection method according to the embodiment can reduce the production system time (Tact Time) by 40% or more. In addition, the cost of the inspection can be minimized, and the additional hardware configuration such as a separate alignment device can be minimized, thereby reducing the unit cost of the equipment.

상기에서는 도면 및 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 실시예의 기술적 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 실시예는 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음은 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the following claims. It will be possible.

100: 안착부 200: 촬상부
300: 제어부 P: 표시패널100: seat part 200:
300: Control section P: Display panel

Claims (11)

패널이 안착되는 안착부;
상기 안착부의 상부에 배치되어 패널의 화소 영상을 촬상하는 촬상부; 및
상기 촬상부로부터 촬상된 화소 영상 중 화소 패턴을 추출하여 패널의 틀어짐 정보를 확인하고, 패널의 틀어짐 정보에 의해 화소 영상의 좌표를 보정하는 제어부;를 포함하는 표시패널의 검사장치.A seating portion on which the panel is seated;
An image pickup unit disposed above the seating unit for picking up an image of a pixel of the panel; And
And a control unit for extracting a pixel pattern from the pixel image picked up by the image pickup unit to confirm the distortion information of the panel and to correct the coordinates of the pixel image according to the distortion information of the panel. 제 1 항에 있어서,
상기 제어부는 화소 패턴의 좌표값을 추출하여 틀어짐 정보를 확인하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.The method according to claim 1,
Wherein the control unit extracts coordinate values of the pixel pattern and verifies the distortion information. 제 2 항에 있어서,
상기 화소 패턴의 좌표값은 화소 패턴의 X축, Y축 좌표값을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.3. The method of claim 2,
Wherein the coordinate values of the pixel pattern include X-axis and Y-axis coordinate values of the pixel pattern. 제 3 항에 있어서,
특정 영역의 화소 패턴이 추출되지 않으면, 추출되지 않은 화소 패턴에 인접하는 화소 패턴의 정보를 이용하여 추출되지 않은 화소 패턴의 좌표값을 산출하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.The method of claim 3,
And calculates the coordinate value of the pixel pattern that has not been extracted by using the information of the pixel pattern adjacent to the pixel pattern that has not been extracted if the pixel pattern of the specific region is not extracted. 제 4 항에 있어서,
상기 추출되지 않은 화소 패턴의 좌표값은 인접하는 좌우 화소 패턴 좌표값의 중간값을 이용하거나, 인접하는 상하 화소 패턴의 좌표값의 중간값을 이용하여 산출하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.5. The method of claim 4,
Wherein the coordinate values of the non-extracted pixel patterns are calculated using an intermediate value of adjacent left and right pixel pattern coordinate values or using an intermediate value of coordinate values of adjacent upper and lower pixel patterns. 제 5 항에 있어서,
상기 화소 패턴은 R,G,B 패턴 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.6. The method of claim 5,
Wherein the pixel pattern is one of R, G, and B patterns. 화소 영상을 수집하는 단계;
상기 화소 영상으로부터 화소 패턴을 추출하는 단계;
상기 화소 패턴을 좌표값을 산출하는 단계; 및
상기 화소 패턴의 좌표값에 의해 화소 영상의 좌표를 보정하는 단계;
를 포함하는 표시패널의 검사방법.Collecting pixel images;
Extracting a pixel pattern from the pixel image;
Calculating a coordinate value of the pixel pattern; And
Correcting the coordinates of the pixel image based on the coordinate values of the pixel pattern;
The method comprising the steps of: 제 7 항에 있어서,
상기 화소 패턴을 좌표값을 추출하는 단계는 화소 패턴의 X,Y값을 추출하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법.8. The method of claim 7,
Wherein the step of extracting the coordinate values of the pixel pattern extracts the X and Y values of the pixel pattern. 제 8 항에 있어서,
특정 영역의 화소 패턴이 추출되지 않으면, 추출되지 않은 화소 패턴에 인접하는 화소 패턴의 정보를 이용하여 추출되지 않은 화소 패턴의 좌표값을 산출하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.9. The method of claim 8,
And calculates the coordinate value of the pixel pattern that has not been extracted by using the information of the pixel pattern adjacent to the pixel pattern that has not been extracted if the pixel pattern of the specific region is not extracted. 제 9 항에 있어서,
상기 추출되지 않은 화소 패턴의 좌표값은 인접하는 좌우 화소 패턴 좌표값의 중간값을 이용하거나, 인접하는 상하 화소 패턴의 좌표값의 중간값을 이용하여 산출하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.10. The method of claim 9,
Wherein the coordinate values of the non-extracted pixel patterns are calculated using an intermediate value of adjacent left and right pixel pattern coordinate values or using an intermediate value of coordinate values of adjacent upper and lower pixel patterns. 제 10 항에 있어서,
상기 화소 패턴은 R,G,B 패턴 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법.11. The method of claim 10,
Wherein the pixel pattern is one of R, G, and B patterns.
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