KR100859533B1 - Position calibration method of display panel - Google Patents

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KR100859533B1
KR100859533B1 KR1020070076131A KR20070076131A KR100859533B1 KR 100859533 B1 KR100859533 B1 KR 100859533B1 KR 1020070076131 A KR1020070076131 A KR 1020070076131A KR 20070076131 A KR20070076131 A KR 20070076131A KR 100859533 B1 KR100859533 B1 KR 100859533B1
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한창호
오춘석
조동명
김성현
박용범
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단국대학교 산학협력단
(주)오엘케이
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Abstract

A position correction method for a display panel is provided to detect a center of a cross mark image using X-Y axis projection and boundary tracking to detect the cross mark position of the display panel accurately regardless of a damage of a cross mark or definition of cross mark image acquired through a microscope of a micro tester, thereby correcting the position of the display panel accurately. A position correction method for a display panel comprises the following steps of: acquiring an image of a cross mark and detecting the outline of the acquired cross mark image(S10,S20); converting the detected outline of the cross mark image into a binary image and reinforcing the connection of the outline using the morphology techniques of a closing operation(S30,S40); forming an outline with a thickness of a pixel from the image(S50); projecting the image in X and Y axes to calculate a sum of pixel values, extracting two points with the biggest variation, calculating an average of two points in each axis, and setting a center point of the cross mark(S60); calculating the horizontal motion amount and vertical motion amount of the acquired cross mark image using a difference between the center coordinates of a reference image and the center coordinates of the acquired cross mark image(S80); calculating the rotation amount of the acquired cross mark image using a difference between two of the center coordinates of the acquired cross mark image(S90); and correcting the position of the display panel, on which the acquired cross mark image is formed, using the horizontal motion amount, vertical motion amount, and rotation amount of the acquired cross mark image(S100).

Description

디스플레이 패널의 위치 보정 방법{POSITION CALIBRATION METHOD OF DISPLAY PANEL}Position correction method for display panel {POSITION CALIBRATION METHOD OF DISPLAY PANEL}

본 발명은 디스플레이 패널의 위치 보정 방법에 관한 것으로, 특히 X-Y축 투영법 및 경계선 추적을 이용하여 십자 마크의 손상이나 현미경의 선명도에 관계없이 십자 마크의 위치를 검출하여 디스플레이 패널의 위치를 보정 할 수 있는 디스플레이 패널의 위치 보정 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for correcting the position of a display panel, and in particular, by using the XY axis projection method and boundary tracking, the position of the cross mark can be corrected by detecting the position of the cross mark regardless of the damage of the cross mark or the sharpness of the microscope. The present invention relates to a position correction method of a display panel.

일반적으로 LCD(Liquid Crystal Display)나 PDP(Plasma Display Panel) 등의 디스플레이는 화면 크기가 점차 확대되는 추세에서 그 디스플레이 패널의 크기로 이른바 5세대(1300×1500㎜)에서 6세대(1500×1850㎜)를 거쳐 근래에는 7세대(1960×2200㎜)에 이르기까지 급격히 확대되고 있다.Generally, displays such as LCD (Liquid Crystal Display) and PDP (Plasma Display Panel) display screens are gradually increasing in size, which is the size of the display panel, so called 5th generation (1300 × 1500mm) to 6th generation (1500 × 1850mm). In recent years, it is rapidly expanding to 7 generations (1960 × 2200 mm).

이러한, 디스플레이 패널은 표면처리와 강화를 위한 코팅작업과 한 장의 디스플레이 패널로부터 여러 장의 패널을 얻을 수 있도록 최적의 비율로 각각 패턴을 형성하는 가공 공정 등이 필수적이며 동시에 가공 공정에서의 디스플레이 패널 표면 결함과 이물질의 잔류 여부에 대한 검사는 제품이 품질을 결정하는 중요한 요소가 됨에 따라 육안검사와 현미경을 이용한 마이크로(정밀) 검사를 복합적으로 또는 선택적으로 실시하였다.Such a display panel is required to have a coating process for surface treatment and reinforcement, and a machining process for forming patterns at an optimum ratio to obtain multiple panels from one display panel, and at the same time, display panel surface defects in the machining process. As the inspection of the residues and foreign substances is an important factor in determining the quality of the product, the visual inspection and the micro (precision) inspection using the microscope were combined or selectively.

예컨대, 디스플레이 패널의 표면 결함에 대한 육안 검사법은 스테이지에 안착 된 디스플레이 패널에 조명을 조사하되 검사자의 시선 또는 주여 검사지점에 적당한 각도로 스테이지를 기울여 가면서 육안으로 판단하는 방법이다.For example, a visual inspection method for a surface defect of a display panel is a method of visually judging while illuminating a display panel seated on a stage while tilting the stage at an appropriate angle to the inspector's gaze or focus point.

또한, 마이크로 검사법은 디스플레이 패널의 특정 위치별로 다수의 좌표를 설정하여 컴퓨터에 입력한 후 카메라 헤드에 구비된 현미경으로 검사 위치를 통과하는 디스플레이 패널의 좌표를 정해진 비율의 현미경으로 확대하여 카메라를 통해 화상으로 확인하는 방법이다.In addition, the micro-inspection method sets a plurality of coordinates for each specific position of the display panel and inputs it to a computer, and then enlarges the coordinates of the display panel passing through the inspection position with a microscope provided in the camera head with a microscope of a predetermined ratio and images are obtained through the camera. How to check.

마이크로 검사를 위해 디스플레이 패널에 설정되는 좌표는 디스플레이 패널에 형성되는 다수의 패널에 대한 패턴을 인식할 수 있는 위치 또는 디스플레이 패널의 표면 검사 정보를 토대로 불량 발생률이 빈번한 위치로 선정되며 이러한 기준으로 선정되는 좌표는 주로 디스플레이 패널의 장변축 가장자리를 따라 그 양측의 다수 곳에 상호 대칭으로 위치하게 된다.The coordinates set on the display panel for the micro-inspection are selected as a position where the pattern for a plurality of panels formed on the display panel can be recognized or a frequent occurrence rate of defects based on the surface inspection information of the display panel. The coordinates are mainly located symmetrically with each other in many places on both sides along the long edge of the display panel.

이에 따라, 마이크로 검사를 위한 검사 장비에 디스플레이 패널을 공급할 때 디스플레이 패널의 검사 라인 상으로 이송하는 과정에서 공기저항과 마찰저항 등 예기치 않은 원인에 의해 정해진 검사 위치로부터 벗어나거나 제대로 정렬되지 않은 채 검사 위치에 안착 되는 현상이 빈번히 발생 되는데 디스플레이 패널이 부정확하게 검사 위치에 도달될 경우 검사 지점으로 설정한 좌표값도 변동됨으로써 그 좌표값을 찾아 현미경의 검사 위치를 재조정해야 된다.Accordingly, when supplying the display panel to the inspection equipment for micro-inspection, the inspection position may be out of alignment or misaligned due to unexpected causes such as air resistance and frictional resistance during transfer to the inspection line of the display panel. If the display panel reaches the inspection position incorrectly, the coordinate value set as the inspection point is also changed, so that the inspection position of the microscope must be readjusted.

그러나, 종래에는 디스플레이 패널의 가장자리 모서리 부분에 형성된 인식 마크의 손상이 발생 되거나 마이크로 검사 장비의 현미경에 선명도 저하로 인해 인식 마크의 모서리 부분이 영상에 보이지 않을 경우 인식 마크의 위치를 검출할 수 없어 디스플레이 패널의 검사 위치를 조절할 수 없는 문제가 있다.However, conventionally, when the recognition mark formed at the edge of the edge of the display panel is damaged or the edge of the recognition mark is not visible in the image due to the sharpness deterioration in the microscope of the micro inspection equipment, the position of the recognition mark cannot be detected. There is a problem that the inspection position of the panel can not be adjusted.

따라서, 본 발명은 X-Y축 투영법 및 경계선 추적을 이용하여 십자 마크의 손상이나 현미경의 선명도에 관계없이 십자 마크의 위치를 검출하여 디스플레이 패널의 위치를 보정 할 수 있는 디스플레이 패널의 위치 보정 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Accordingly, the present invention provides a display panel position correction method capable of correcting the position of the display panel by detecting the position of the cross mark by using the XY axis projection method and boundary tracking, regardless of the damage of the cross mark or the sharpness of the microscope. For the purpose of

상기한 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 위치 보정 방법은 a) 십자 마크의 영상을 획득한 후 상기 획득된 십자 마크 영상의 외곽선을 검출하는 단계; b) 상기 검출된 십자 마크 영상의 외각선을 이진화 영상으로 변환한 후 닫힘 연산의 모폴로지 기법을 이용하여 상기 외곽선을 연결을 강화하는 단계; c) 상기 외곽선 연결이 강화된 영상을 세선화 과정을 통해 한 픽셀 두께의 외곽선을 형성하는 단계; d) X축과 Y축으로 각각 투영하여 픽셀 값의 합을 산출한 후 변화량이 가장 큰 두 점을 추출하여 각각의 축마다 두 점의 평균을 산출하여 십자 마크의 중심점을 설정하는 단계; e) 기준 영상의 중심 좌표와 상기 획득된 십자 마크 영상의 중심 좌표의 차이를 이용하여 상기 획득된 십자 마크 영상의 수평 이동량 및 수직 이동량을 산출하는 단계; f) 상기 획득된 십자 마크 영상의 중심 좌표 중 두 개의 십자 마크의 중심 좌표의 차이를 이용하여 상기 획득된 십자 마크 영상의 회전량을 산출하는 단계; 및 g) 상기 획득된 십자 마크 영상의 수평 이동량, 수직 이동량 및 회전량을 이용하여 상기 획득된 십자 마크가 형성된 디스플레이 패널의 위치를 보정하는 단계를 포함한다.In order to achieve the above object, the position correction method of the display panel according to an embodiment of the present invention comprises the steps of: a) after acquiring the image of the cross mark and detecting the outline of the obtained cross mark image; b) converting the outline of the detected cross mark image into a binarized image and strengthening the connection of the outline using a morphology technique of a close operation; c) forming an outline of one pixel thickness through a thinning process of the image in which the outline connection is enhanced; d) calculating the sum of pixel values by projecting on the X-axis and the Y-axis respectively, extracting two points having the largest change amount, calculating an average of two points for each axis, and setting a center point of the cross mark; e) calculating a horizontal movement amount and a vertical movement amount of the obtained cross mark image by using a difference between a center coordinate of a reference image and a center coordinate of the obtained cross mark image; f) calculating a rotation amount of the obtained cross mark image by using a difference between the center coordinates of two cross marks among the obtained center mark images; And g) correcting a position of the display panel on which the obtained cross mark is formed by using the acquired horizontal movement amount, vertical movement amount, and rotation amount of the cross mark image.

본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 위치 보정 방법은 상기 a) 단계에서 상기 획득된 십자 마크 영상의 외곽선은 미분연산을 통해 검출된다.In the method of correcting the position of the display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, an outline of the obtained cross mark image is detected through differential operation in step a).

본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 위치 보정 방법은 상기 d) 단계에서 상기 획득된 십자 마크의 중심점은 상기 평균값이 산출된 두 점의 연장선을 그어 만나는 교차점인 것이 바람직하다. In the method of correcting the position of the display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, it is preferable that the center point of the obtained cross mark in step d) is an intersection point that meets an extension line of two points at which the average value is calculated.

본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 위치 보정 방법에서 상기 e) 단계는 상기 획득된 십자 마크의 경계선 추적을 통해 상기 획득된 십자 마크 외곽선의 좌표값을 기록하여 저장하는 단계를 포함한다.In the method for calibrating the position of the display panel according to an exemplary embodiment of the present disclosure, the step e) includes recording and storing the coordinate values of the obtained cross mark outline through boundary line tracking of the obtained cross mark.

본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 위치 보정 방법은 상기 f) 단계에서 상기 획득된 십자 마크 영상의 회전량은 아래 식에 의해 산출되는 이 바람직하다. In the method of correcting the position of the display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, it is preferable that the rotation amount of the obtained cross mark image is calculated by the following equation.

Figure 112007055216998-pat00001
Figure 112007055216998-pat00001

여기서, x1, y1은 제 1 십자마크의 중심 좌표값이고, x2, y2는 제 2 십자마크 의 중심 좌표값임.Here, x 1 and y 1 are center coordinates of the first cross mark, and x 2 and y 2 are center coordinates of the second cross mark.

본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 위치 보정 방법은 상기 g) 단계에서 상기 디스플레이 패널의 위치는 아래 식에 의해 보정되는 것이 바람직하다. In the method of correcting the position of the display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, it is preferable that the position of the display panel is corrected by the following equation in step g).

Figure 112007055216998-pat00002
Figure 112007055216998-pat00002

여기서, x',y'는 디스플레이 패널에 형성된 십자 마크가 보정될 중심 좌표값, x는 x1-x2, y는 y1-y2, A는 스케일량, dx는 수평 이동량, dy는 수직 이동량임.Here, x ', y' is the center coordinate value at which the cross mark formed on the display panel is to be corrected, x is x 1 -x 2 , y is y 1 -y 2 , A is the scale amount, dx is the horizontal movement amount, dy is vertical The amount of movement.

본 발명은 십자 마크의 모서리 부분이 마이크로 검사 장비의 현미경에 의해 획득되지 않더라도 즉, 십자 마크의 손상이나 현미경의 선명도 저하로 인해 현미경에 의해 획득되는 십자 마크 영상이 보이지 않더라도 X-Y축 투영법 및 경계선 추적을 통해 십자 마크 영상의 중심을 검출할 수 있어 십자 마크의 손상이나 마이크로 검사 장비의 현미경을 통해 획득된 십자 마크 영상의 선명도에 관계없이 정확한 디스플레이 패널의 십자 마크 위치를 검출할 수 있다.According to the present invention, even if the edge portion of the cross mark is not obtained by the microscope of the micro inspection equipment, that is, the cross mark image acquired by the microscope is not visible due to damage of the cross mark or deterioration of the sharpness of the microscope, the XY axis projection method and boundary tracking are performed. The center of the cross mark image can be detected so that the exact position of the cross mark on the display panel can be detected regardless of the damage of the cross mark or the sharpness of the cross mark image acquired through the microscope of the micro inspection apparatus.

이에 따라, 본 발명은 십자 마크의 손상이나 마이크로 검사 장비의 현미경을 통해 획득된 십자 마크 영상의 선명도에 관계없이 정확하게 디스플레이 패널의 위치를 보정 할 수 있다.Accordingly, the present invention can accurately correct the position of the display panel regardless of the damage of the cross mark or the sharpness of the cross mark image acquired through the microscope of the micro inspection apparatus.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세하게 설명 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널 위치 보정 방법을 나타내는 흐름도이고, 도 2a 내지 도 2h는 도 1에 도시된 흐름도에 의한 십자 마크의 영상을 나타내는 도면이다.1 is a flowchart illustrating a display panel position correction method according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIGS. 2A to 2H are diagrams illustrating an image of a cross mark according to the flowchart shown in FIG. 1.

도 1 및 도 2a 내지 도 2h를 참조하면, 먼저, 마이크로 검사 장비의 현미경을 이용하여 X-Y 스테이지에 안착 된 디스플레이 패널의 십자 마크 영상을 획득한다(S10).Referring to FIGS. 1 and 2A to 2H, first, a cross mark image of a display panel seated on an X-Y stage is obtained using a microscope of a micro inspection apparatus (S10).

이때, 십자 마크는 도 2a에 도시된 바와 같이 십자 부분 즉, 교차 되는 부분이 화면에 나타나도록 획득해야 한다.At this time, the cross mark should be acquired so that the cross portion, that is, the intersection portion, appears on the screen as shown in FIG. 2A.

이후, 획득된 십자 마크 영상을 이용하여 십자 마크의 외곽선을 검출한다(S20).Then, the outline of the cross mark is detected using the obtained cross mark image (S20).

이때, 십자 마크의 외곽선은 농담치(0~255의 픽셀 밝기)가 급격하게 변화하는 부분이기 때문에 미분 연산을 이용하여 검출하게 된다.At this time, the outline of the cross mark is detected by using a differential operation because the shade value (pixel brightness of 0 to 255) changes rapidly.

이에 따라, 도 2b에 도시된 바와 같이 십자 마크와 십자 마크 이외의 부분의 경계선이 검출되게 된다.As a result, as shown in Fig. 2B, the boundary line of the portion other than the cross mark and the cross mark is detected.

십자 마크의 외곽선을 검출한 후에는 검출된 외각선을 이진화 영상으로 변환한다(S30).After detecting the outline of the cross mark, the detected outer line is converted into a binarized image (S30).

이때, 이진화라 함은 검출된 십자 마크의 외곽선 밝기에서 중간값(예를 들면, 127) 초과는 255 값으로 설정하고, 중간값 이하는 0으로 설정하는 것을 의미한다.In this case, the binarization means that the middle value (for example, 127) above the brightness of the detected cross mark is set to 255, and the middle value is set to 0.

이에 따라, 도 2b에 도시된 영상은 도 2c에 도시된 바와 같이 외곽선의 밝기가 중간값 이하인 곳이 분리되는 영상으로 나타나게 된다.Accordingly, the image shown in FIG. 2B is shown as an image in which the place where the brightness of the outline is less than or equal to the median value is separated as shown in FIG. 2C.

이후, 닫힘 연산의 모폴로지 기법을 이용하여 외곽선의 연결을 강화한다(S40).Thereafter, the connection of the outline is strengthened using the morphology technique of the closing operation (S40).

다시 말해, 이진화 영상으로 변환된 값 중 0으로 설정된 값을 모두 255 값으로 변환하여 검출된 십자 마크의 외곽선을 연결함으로써 외곽선의 윤곽을 밝게 한다.In other words, the outline of the outline is brightened by connecting the outline of the detected cross mark by converting all values set to 0 out of the values converted into binarized images to 255.

이때, 외곽선의 연결 강화는 도 2c에 도시된 바와 같이 밝은 픽셀과 그 주변의 픽셀에 255 값을 공급하여 밝힘으로써 도 2d에 도시된 바와 같이 외곽선의 연결이 강화되게 된다.In this case, as the connection strengthening of the outline is brightened by supplying a value of 255 to the bright pixel and its surrounding pixels as shown in FIG. 2C, the connection of the outline is strengthened as shown in FIG. 2D.

외곽선 연결을 강화한 후에는 세선화 과정을 통해 도 2e에 도시된 바와 같이 한 픽셀 두께의 외곽선을 형성한다(S50).After strengthening the outline connection, a thinning process forms an outline of one pixel thickness as shown in FIG. 2E (S50).

이후, X축과 Y축으로 각각 투영하여 픽셀 값의 합을 산출한 후 변환량이 가장 큰 두 점을 추출하여 각각의 축마다 두 점의 평균을 산출한 후 십자 마크의 중심점을 설정한다(S60).Subsequently, the sum of pixel values is calculated by projecting on the X-axis and the Y-axis, respectively, two points having the largest conversion amount are extracted, the average of the two points is calculated for each axis, and the center point of the cross mark is set (S60). .

즉, 도 2f에 도시된 바와 같이 X축 방향으로 투영하여 X축 픽셀 값의 합을 산출한 후 산출된 값 중 변화량이 가장 큰 두 점을 추출한다.That is, as shown in FIG. 2F, the sum of the X-axis pixel values is calculated by projecting in the X-axis direction, and two points having the largest change amount are extracted from the calculated values.

또한, Y축 방향으로 투영하여 Y축 픽셀 값의 합을 산출한 후 산출된 값 중 변화량이 가장 큰 두 점을 추출한다.Also, after calculating the sum of the Y-axis pixel values by projecting in the Y-axis direction, two points having the largest change amount are extracted from the calculated values.

이후, X축 및 Y축에서 변화량이 가장 큰 두 점의 평균을 추출한 후 두 점들 의 연장선을 그어 만나는 교차점을 십자 마크의 중심점으로 설정한다.After that, the average of the two points with the largest change in the X-axis and Y-axis is extracted, and the intersection point of the two points by drawing the extension line is set as the center point of the cross mark.

십자 마크의 중심점을 설정한 후에는 도 2g에 도시된 바와 같이 경계선 추적을 통해 외곽선의 좌표값을 기록하여 저장한다(S70).After setting the center point of the cross mark, the coordinate value of the outline is recorded and stored through boundary line tracking as shown in FIG. 2G (S70).

이후, 기준 영상의 중심과 현미경을 통해 얻어진 십자 마크 영상의 중심 사이의 거리인 수평 이동량 및 수직 이동량을 산출한다(S80).Thereafter, the horizontal shift amount and the vertical shift amount, which are the distance between the center of the reference image and the center of the cross mark image obtained through the microscope, are calculated (S80).

이때, 수평 이동량 및 수직 이동량은 도 2h에 도시된 바와 같이 기준 영상의 중심 좌표와 검출된 영상의 중심 좌표 사이의 거리 차이를 통해 산출할 수 있다.In this case, the horizontal movement amount and the vertical movement amount may be calculated through a distance difference between the center coordinates of the reference image and the center coordinates of the detected image, as shown in FIG. 2H.

수평 이동량(Ax) 및 수직 이동량(Ay)을 산출한 후에는 획득된 십자 마크 영상의 중심 좌표 중 디스플레이 패널의 좌측 또는 우측에 위치한 두 개의 십자 마크의 중심 좌표의 차이를 이용하여 획득된 십자 마크 영상의 회전량을 산출한다(S90).After calculating the horizontal movement amount Ax and the vertical movement amount Ay, the cross mark image acquired by using the difference between the center coordinates of the two cross marks positioned on the left or right side of the display panel among the obtained coordinates of the cross mark image. The amount of rotation of is calculated (S90).

이때, 획득된 십자 마크 영상의 회전량은 다음 수학식 1에 의해 산출된다.At this time, the rotation amount of the obtained cross mark image is calculated by the following equation (1).

Figure 112007055216998-pat00003
Figure 112007055216998-pat00003

여기서, x1, y1은 제 1 십자마크의 중심 좌표값이고, x2, y2는 제 2 십자마크의 중심 좌표값이다. Here, x 1 and y 1 are center coordinate values of the first cross mark, and x 2 and y 2 are center coordinate values of the second cross mark.

획득된 십자 마크의 회전량을 산출한 후에는 마이크로 검사 장비의 현미경을 통해 획득된 십자 마크의 수평 이동량, 수직 이동량 및 회전량을 이용한 수학식 2를 통해 디스플레이 패널의 위치를 보정한다(S100).After calculating the obtained rotation amount of the cross mark, the position of the display panel is corrected by using Equation 2 using the horizontal movement amount, the vertical movement amount, and the rotation amount of the cross mark acquired through the microscope of the micro inspection apparatus (S100).

Figure 112007055216998-pat00004
Figure 112007055216998-pat00004

여기서, x',y'는 디스플레이 패널에 형성된 십자 마크가 보정될 중심 좌표값, x는 x1-x2, y는 y1-y2, A는 스케일량, dx는 수평 이동량, dy는 수직 이동량이다.Here, x ', y' is the center coordinate value at which the cross mark formed on the display panel is to be corrected, x is x 1 -x 2 , y is y 1 -y 2 , A is the scale amount, dx is the horizontal movement amount, dy is vertical The amount of movement.

이때, 디스플레이 패널의 위치 보정은 마이크로 검사 장비의 시스템에 의해 이루어진다.At this time, the position correction of the display panel is made by the system of the micro inspection equipment.

이와 같이 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 위치 보정 방법은 십자 마크의 모서리 부분이 마이크로 검사 장비의 현미경에 의해 획득되지 않더라도 즉, 십자 마크의 손상이나 현미경의 선명도 저하로 인해 현미경에 의해 획득되는 십자 마크 영상이 보이지 않더라도 X-Y축 투영법 및 경계선 추적을 통해 십자 마크 영상의 중심을 검출할 수 있어 십자 마크의 손상이나 마이크로 검사 장비의 현미경을 통해 획득된 십자 마크 영상의 선명도에 관계없이 정확한 디스플레이 패널의 십자 마크 위치를 검출할 수 있게 된다.In this way, the position correction method of the display panel according to the embodiment of the present invention is obtained even if the edge of the cross mark is not obtained by the microscope of the micro inspection equipment, that is, obtained by the microscope due to the damage of the cross mark or the sharpness of the microscope. Even if the cross mark image is not visible, the center of the cross mark image can be detected by XY-axis projection and boundary tracking, so that the accuracy of the display panel regardless of the damage of the cross mark or the sharpness of the cross mark image acquired through the microscope of the micro inspection equipment can be determined. The cross mark position can be detected.

이에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널의 위치 보정 방법은 십자 마크의 손상이나 마이크로 검사 장비의 현미경을 통해 획득된 십자 마크 영상의 선명도에 관계없이 정확하게 디스플레이 패널의 위치를 보정 할 수 있게 된다.Accordingly, the position correction method of the display panel according to an embodiment of the present invention can accurately correct the position of the display panel irrespective of the damage of the cross mark or the sharpness of the cross mark image acquired through the microscope of the micro inspection apparatus. .

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 않은 범위에서 다양한 변경 및/또는 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and / or modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 패널 위치 보정 방법을 나타내는 흐름도이다.1 is a flowchart illustrating a display panel position correction method according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2a 내지 도 2h는 도 1에 도시된 흐름도에 의한 십자 마크의 영상을 나타내는 도면이다.2A to 2H are diagrams illustrating an image of a cross mark according to the flowchart shown in FIG. 1.

Claims (6)

a) 십자 마크의 영상을 획득한 후 상기 획득된 십자 마크 영상의 외곽선을 검출하는 단계;a) detecting an outline of the obtained cross mark image after acquiring an image of the cross mark; b) 상기 검출된 십자 마크 영상의 외각선을 이진화 영상으로 변환한 후 닫힘 연산의 모폴로지 기법을 이용하여 상기 외곽선을 연결을 강화하는 단계;b) converting the outline of the detected cross mark image into a binarized image and strengthening the connection of the outline using a morphology technique of a close operation; c) 상기 외곽선 연결이 강화된 영상을 세선화 과정을 통해 한 픽셀 두께의 외곽선을 형성하는 단계;c) forming an outline of one pixel thickness through a thinning process of the image in which the outline connection is enhanced; d) X축과 Y축으로 각각 투영하여 픽셀 값의 합을 산출한 후 변화량이 가장 큰 두 점을 추출하여 각각의 축마다 두 점의 평균을 산출하여 십자 마크의 중심점을 설정하는 단계;d) calculating the sum of pixel values by projecting on the X-axis and the Y-axis respectively, extracting two points having the largest change amount, calculating an average of two points for each axis, and setting a center point of the cross mark; e) 기준 영상의 중심 좌표와 상기 획득된 십자 마크 영상의 중심 좌표의 차이를 이용하여 상기 획득된 십자 마크 영상의 수평 이동량 및 수직 이동량을 산출하는 단계;e) calculating a horizontal movement amount and a vertical movement amount of the obtained cross mark image by using a difference between a center coordinate of a reference image and a center coordinate of the obtained cross mark image; f) 상기 획득된 십자 마크 영상의 중심 좌표 중 두 개의 십자 마크의 중심 좌표의 차이를 이용하여 상기 획득된 십자 마크 영상의 회전량을 산출하는 단계; 및f) calculating a rotation amount of the obtained cross mark image by using a difference between the center coordinates of two cross marks among the obtained center mark images; And g) 상기 획득된 십자 마크 영상의 수평 이동량, 수직 이동량 및 회전량을 이용하여 상기 획득된 십자 마크가 형성된 디스플레이 패널의 위치를 보정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 위치 보정 방법.g) correcting a position of the display panel on which the obtained cross mark is formed by using the acquired horizontal movement amount, vertical movement amount, and rotation amount of the obtained cross mark image. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 a) 단계에서 상기 획득된 십자 마크 영상의 외곽선은 미분연산을 통해 검출되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 위치 보정 방법.The outline of the obtained cross mark image in step a) is detected by differential operation. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 d) 단계에서 상기 획득된 십자 마크의 중심점은 상기 평균값이 산출된 두 점의 연장선을 그어 만나는 교차점인 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 위치 보정 방법.And the center point of the obtained cross mark in step d) is an intersection point by drawing an extension line of two points at which the average value is calculated. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 e) 단계는Step e) 상기 획득된 십자 마크의 경계선 추적을 통해 상기 획득된 십자 마크 외곽선의 좌표값을 기록하여 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 위치 보정 방법.And recording and storing coordinate values of the obtained cross mark outline line through the boundary line trace of the obtained cross mark. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 f) 단계에서 상기 획득된 십자 마크 영상의 회전량은 아래 식에 의해 산출되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 위치 보정 방법.And the rotation amount of the cross mark image obtained in step f) is calculated by the following equation.
Figure 112007055216998-pat00005
Figure 112007055216998-pat00005
 여기서, x1, y1은 제 1 십자마크의 중심 좌표값이고, x2, y2는 제 2 십자마크의 중심 좌표값임.Here, x 1 , y 1 are center coordinates of the first cross mark, and x 2 , y 2 are center coordinates of the second cross mark. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 g) 단계에서 상기 디스플레이 패널의 위치는 아래 식에 의해 보정되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 위치 보정 방법.In step g), the position of the display panel is corrected by the following equation.
Figure 112007055216998-pat00006
Figure 112007055216998-pat00006
 여기서, x',y'는 디스플레이 패널에 형성된 십자 마크가 보정될 중심 좌표값, x는 x1-x2, y는 y1-y2, A는 스케일량, dx는 수평 이동량, dy는 수직 이동량임.Here, x ', y' is the center coordinate value at which the cross mark formed on the display panel is to be corrected, x is x 1 -x 2 , y is y 1 -y 2 , A is the scale amount, dx is the horizontal movement amount, dy is vertical The amount of movement.
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