KR101409568B1 - Inspectiing device of display panel and inspecting method of the same - Google Patents

Inspectiing device of display panel and inspecting method of the same Download PDF

Info

Publication number
KR101409568B1
KR101409568B1 KR1020120136153A KR20120136153A KR101409568B1 KR 101409568 B1 KR101409568 B1 KR 101409568B1 KR 1020120136153 A KR1020120136153 A KR 1020120136153A KR 20120136153 A KR20120136153 A KR 20120136153A KR 101409568 B1 KR101409568 B1 KR 101409568B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display panel
inspection
subpixels
camera
center
Prior art date
Application number
KR1020120136153A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140068543A (en
Inventor
윤광의
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020120136153A priority Critical patent/KR101409568B1/en
Publication of KR20140068543A publication Critical patent/KR20140068543A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101409568B1 publication Critical patent/KR101409568B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/0006Industrial image inspection using a design-rule based approach
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V20/00Scenes; Scene-specific elements
    • G06V20/60Type of objects
    • G06V20/64Three-dimensional objects
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V40/00Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
    • G06V40/10Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
    • G06V40/103Static body considered as a whole, e.g. static pedestrian or occupant recognition
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30121CRT, LCD or plasma display

Abstract

본 발명에 따른 표시패널 검사장치는 스테이지; 상기 스테이지에 안착되며 화상 표시를 위해 서브 픽셀들이 형성된 표시패널; 상기 표시패널의 신호 라인들에 접촉되는 프로브 유닛; 상기 프로브 유닛에 검사 패턴을 인가하는 신호 발생기; 상기 표시패널에 표시된 검사 패턴을 촬상하기 위한 카메라; 및 상기 카메라로부터 입력되는 검사 패턴을 직접 기반으로 하여 상기 서브 픽셀들의 각 중심 좌표를 추출하고, 상기 각 중심 좌표를 기반으로 후보 불량 위치를 포함한 검색 영역을 설정한 후, 상기 검색 영역 내에서 상기 표시패널의 불량 여부를 검사하는 클라이언트 컴퓨터를 구비한다.A display panel inspection apparatus according to the present invention includes: a stage; A display panel that is seated on the stage and has subpixels for image display; A probe unit contacting the signal lines of the display panel; A signal generator for applying an inspection pattern to the probe unit; A camera for capturing an inspection pattern displayed on the display panel; And extracting the center coordinates of the subpixels based on the inspection pattern input from the camera, setting a search area including a candidate defective position based on the center coordinates, And a client computer for checking whether or not the panel is defective.

Description

표시패널 검사장치 및 그 검사방법{INSPECTIING DEVICE OF DISPLAY PANEL AND INSPECTING METHOD OF THE SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a display panel inspection apparatus and a method of inspecting the same,

본 발명은 표시패널 검사장치 및 그 검사방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a display panel inspection apparatus and a method of inspecting the same.

근래, 핸드폰, PDA, 노트북 컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기, TV 등에 대한 수요가 증대되면서 표시장치에 대한 기술이 획기적으로 발전하고 있다. 표시장치는 화상 표시를 위한 표시패널을 구비한다. 표시패널은 여러 공정을 거쳐 제조되며, 그 제조 공정에 표시패널이 정상적으로 작동하는지 여부를 검사하는 검사공정이 포함된다.Recently, as the demand for various portable electronic devices such as mobile phones, PDAs, and notebook computers, and TVs has increased, technologies for display devices have been remarkably developed. The display device has a display panel for image display. The display panel is manufactured through various processes, and the manufacturing process includes an inspection process for checking whether or not the display panel is normally operated.

검사공정에 사용될 수 있는 검사방법은 다양하게 있으며, 그 중 비전오토프로브(Vision Auto Probe) 장치를 이용한 오토프로브 검사방법이 대표적이다. 비전오토프로브 검사방법은 표시패널에 표시된 검사 영상을 영역 카메라 또는 라인 카메라를 이용하여 획득하고, 획득된 검사 영상을 판독하여 표시패널의 불량여부 및 불량위치를 파악한다.There are various inspection methods that can be used in the inspection process, and among them, an automatic probe inspection method using a Vision Auto Probe device is representative. In the vision auto-probe inspection method, an inspection image displayed on a display panel is acquired using an area camera or a line camera, and the obtained inspection image is read to determine whether the display panel is defective or defective.

이러한 비전오토프로브 검사방법에서는 카메라를 통해 검사 영상을 획득하기에 앞서 표시패널을 구성하는 각 서브 픽셀의 중심 위치를 알고 있어야 한다. 그런데, 종래 비전오토프로브 검사방법은 다음과 같은 문제점이 있다. 종래 비전오토프로브 검사방법은 서브 픽셀의 중심 위치를 검출하기 위해 표시패널에 캘리브레이션(calibration) 용 패턴을 별도로 입력하고 카메라를 통해 획득된 캘리브레이션 영상에서 특정 기준 중심점을 찾은 후, 이 특정 기준 중심점을 기반으로 그에 대응되는 서브 픽셀의 중심 좌표값을 얻었다. 종래 비전오토프로브 검사방법에 의하는 경우, 해상도별 및 제품별로 캘리브레이션 작업을 수행하기 위한 전용 패턴이 필요하고, 검사 영상의 획득에 앞서 카메라를 이동시키면서 별도의 캘리브레이션 영상을 획득해야 하기 때문에 검사에 소요되는 시간이 길어질 수밖에 없다.
In this vision auto-probe inspection method, it is necessary to know the center position of each sub-pixel constituting the display panel before acquiring the inspection image through the camera. However, the conventional vision auto-probe inspection method has the following problems. In the conventional vision auto-probe inspection method, a calibration pattern is separately input to a display panel to detect the center position of a sub-pixel, a specific reference center point is found in a calibration image obtained through a camera, And the center coordinate value of the corresponding subpixel was obtained. According to the conventional vision auto-probe inspection method, a dedicated pattern for performing the calibration work for each resolution and each product is required, and since a separate calibration image must be obtained while moving the camera prior to acquisition of the inspection image, Time to be long.

따라서, 본 발명의 목적은 표시패널을 구성하는 각 서브 픽셀의 중심 위치를 찾는 작업을 간소화하여 검사시간을 단축시킬 수 있는 표시패널 검사장치 및 그 검사방법을 제공하는 데 있다.
Accordingly, it is an object of the present invention to provide a display panel inspection apparatus and an inspection method thereof that can simplify an operation of finding a center position of each subpixel constituting a display panel, thereby shortening an inspection time.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 표시패널 검사장치는 스테이지; 상기 스테이지에 안착되며 화상 표시를 위해 서브 픽셀들이 형성된 표시패널; 상기 표시패널의 신호 라인들에 접촉되는 프로브 유닛; 상기 프로브 유닛에 검사 패턴을 인가하는 신호 발생기; 상기 표시패널에 표시된 검사 패턴을 촬상하기 위한 카메라; 및 상기 카메라로부터 입력되는 검사 패턴을 직접 기반으로 하여 상기 서브 픽셀들의 각 중심 좌표를 추출하고, 상기 각 중심 좌표를 기반으로 후보 불량 위치를 포함한 검색 영역을 설정한 후, 상기 검색 영역 내에서 상기 표시패널의 불량 여부를 검사하는 클라이언트 컴퓨터를 구비한다.In order to achieve the above object, a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes a stage; A display panel that is seated on the stage and has subpixels for image display; A probe unit contacting the signal lines of the display panel; A signal generator for applying an inspection pattern to the probe unit; A camera for capturing an inspection pattern displayed on the display panel; And extracting the center coordinates of the subpixels based on the inspection pattern input from the camera, setting a search area including a candidate defective position based on the center coordinates, And a client computer for checking whether or not the panel is defective.

또한, 본 발명의 실시예에 따라 스테이지, 상기 스테이지에 안착되며 화상 표시를 위해 서브 픽셀들이 형성된 표시패널, 및 상기 표시패널의 신호 라인들에 접촉되는 프로브 유닛을 갖는 표시패널 검사장치의 검사방법은, 신호 발생기를 통해 상기 프로브 유닛에 검사 패턴을 인가하는 단계; 카메라를 통해 상기 표시패널에 표시된 검사 패턴을 촬상하는 단계; 상기 카메라로부터 입력되는 검사 패턴을 직접 기반으로 하여 상기 서브 픽셀들의 각 중심 좌표를 추출하는 단계; 및 상기 각 중심 좌표를 기반으로 후보 불량 위치를 포함한 검색 영역을 설정한 후, 상기 검색 영역 내에서 상기 표시패널의 불량 여부를 검사하는 단계를 포함한다.
According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a display panel inspection apparatus having a stage, a display panel that is seated on the stage and has subpixels for image display, and a probe unit that contacts signal lines of the display panel, Applying a test pattern to the probe unit through a signal generator; Capturing an inspection pattern displayed on the display panel through a camera; Extracting center coordinates of the subpixels based on a test pattern input from the camera; And setting a search area including a candidate defective position based on each of the center coordinates and checking whether the display panel is defective in the search area.

본 발명은 카메라에서 획득된 검사 패턴을 직접 기반으로 하여 서브 픽셀들의 중심 위치를 추출하기 때문에 종래와 같이 검사 패턴 이외에 별도의 캘리브레이션 패턴을 더 필요로 하지 않는다. 본 발명은 캘리브레이션 패턴으로 인한 추가 작업 과정을 생략할 수 있어 각 서브 픽셀의 중심 위치를 찾는 작업을 간소화할 수 있고, 그 결과 검사시간을 단축할 수 있다.
Since the present invention extracts the center position of the subpixels based on the inspection pattern acquired from the camera, a separate calibration pattern is not required in addition to the inspection pattern. The present invention can omit an additional work process due to the calibration pattern, simplifying the task of finding the center position of each sub-pixel, and consequently shortening the inspection time.

도 1은 본 발명의 실시예에 다른 표시패널 검사장치를 보여주는 블록도.
도 2는 클라이언트 컴퓨터에서 서브 픽셀들의 중심 좌표를 추출하는 동작과 추출된 중심 좌표를 기반으로 불량 검사를 수행하는 동작을 순차적으로 보여주는 흐름도.
도 3a는 검사패턴 입력영상과 검사패턴 강조영상을 비교하여 보여주는 도면.
도 3b는 검사패턴 영상의 중심을 강조하기 위해 사용되는 가우시안 필터를 보여주는 도면.
도 3c는 가우시안 필터가 5×5 마스크로 적용된 예를 보여주는 도면.
도 4는 표시패널에서 서브픽셀들의 중심 좌표들이 추출되는 과정을 보여주는 도면.
도 5는 도 4와 같은 방법으로 추출된 모든 서브픽셀들의 중심 좌표들을 보여주는 도면.
도 6은 후보 불량위치와, 검색 영역, 및 검색 영역 설정을 위한 서브 픽셀들의 위치들을 보여주는 도면.
도 7은 검색 영역 내에서 불량 여부가 검사되는 것을 보여주는 도면.
도 8은 다양한 검사 패턴과 그에 따른 서브 픽셀의 중심좌표 설정 및 불량여부 검출에 대한 일 예를 보여주는 도면.
1 is a block diagram showing a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a flowchart sequentially showing an operation of extracting the center coordinates of subpixels in the client computer and an operation of performing the defect inspection based on the extracted center coordinates.
3A is a diagram showing a comparison between an inspection pattern input image and a check pattern emphasis image.
FIG. 3B shows a Gaussian filter used to emphasize the center of the test pattern image. FIG.
3C shows an example in which a Gaussian filter is applied as a 5x5 mask.
4 is a view showing a process of extracting the center coordinates of subpixels in a display panel.
FIG. 5 is a diagram showing the coordinates of the center of all subpixels extracted by the method of FIG. 4; FIG.
6 shows locations of subpixels for candidate defective positions, search regions, and search region settings;
Fig. 7 is a diagram showing that a defect is checked in a search area; Fig.
FIG. 8 is a view showing an example of setting various coordinates of a test pattern and a center coordinate of a subpixel and detecting whether or not there is a defect. FIG.

이하, 도 1 내지 도 8을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 8. FIG.

본 발명에 따른 표시패널 검사장치는 화상 표시를 위한 표시장치의 표시패널을 점등하여 검사하는 검사장치이다. 구체적으로 본 발명에 다른 표시패널 검사장치는 점형, 선형 불량을 검출하기 위한 전단계로서 표시패널을 구성하는 각 서브 픽셀의 위치를 찾는 작업을 간소화하기 위한 것이다. 표시장치는 액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting Diodes, OLED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP), 전기영동표시장치(Electrophoretic Display, EPD) 등으로 구현될 수 있다. 본 발명에 따른 표시패널 검사장치는 표시패널을 검사하기 위한 검사 영상을 획득함과 동시에 이 검사 영상을 기반으로 각 서브 픽셀의 중심 위치를 추출한다. 본 발명에 따른 표시패널 검사장치는 표시패널 대한 불량 여부를 검출하는 검출장치를 더 포함할 수 있다. 본 발명에 따른 표시패널 검사장치가 상기 획득된 검사 영상을 검출장치에 제공하면, 상기 검출장치는 상기 검사 영상을 이용하여 표시패널에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 예컨대, 검출장치는 정상적으로 작동되는 표시패널에 대한 기준이미지를 상기 획득된 검사 영상과 비교함으로써 표시패널에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 검출장치는 상기 획득된 검사 영상을 부분별로 서로 비교하여 밝기 등에 차이가 있는 부분을 검출함으로써, 표시패널에 대한 불량 여부를 검출할 수도 있다. A display panel inspecting apparatus according to the present invention is an inspecting apparatus for inspecting a display panel of a display device for image display by lighting. Specifically, the display panel inspection apparatus according to the present invention is intended to simplify the task of finding the position of each sub-pixel constituting the display panel as a pre-stage for detecting a point defect and a linear defect. The display device includes a liquid crystal display (LCD), an organic light emitting diode (OLED), a plasma display panel (PDP), an electrophoretic display (EPD) Lt; / RTI > The display panel inspection apparatus according to the present invention acquires inspection images for inspection of a display panel and extracts the center positions of the respective subpixels based on the inspection images. The display panel inspection apparatus according to the present invention may further comprise a detection device for detecting whether or not the display panel is defective. When the display panel inspection apparatus according to the present invention provides the obtained inspection image to the detection apparatus, the detection apparatus can detect the defectiveness of the display panel using the inspection image. For example, the detection device can detect whether or not the display panel is defective by comparing the reference image for the normally operated display panel with the obtained inspection image. The detecting device may detect whether there is a defect with respect to the display panel by comparing the obtained inspection images with each other to detect a difference in brightness or the like.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 다른 표시패널 검사장치는 스테이지(11), 스테이지(11)에 안착되며 화상 표시를 위해 서브 픽셀들이 형성된 표시패널(12), 표시패널(12)에 접촉되는 프로브 유닛(13), 프로브 유닛(13)에 검사 패턴을 인가하는 신호 발생기(20), 표시패널(12)에 표시된 검사 패턴을 촬상하기 위한 카메라(40), 스테이지(11)와 카메라(40) 중 적어도 어느 하나를 이동시키는 이동부(30), 카메라(40)로부터 입력되는 검사 패턴을 직접 기반으로 하여 서브 픽셀들의 중심 위치를 추출하고, 검사 패턴별로 표시패널의 불량 여부를 검사하는 클라이언트 컴퓨터(50)를 포함한다. 본 발명의 실시예에 따른 검사장치는 클라이언트 컴퓨터(50)로부터 검사 결과를 전송받아 불량 여부를 판정하고 불량 유형을 분류하는 호스트 컴퓨터(60)를 더 포함할 수 있다. 1, the display panel inspection apparatus according to the embodiment of the present invention includes a stage 11, a display panel 12 which is seated on the stage 11 and has subpixels for image display, A signal generator 20 for applying an inspection pattern to the probe unit 13, a camera 40 for imaging an inspection pattern displayed on the display panel 12, a stage 11 and a camera (not shown) 40, a moving unit 30 for moving at least one of the plurality of subpixels, a controller 40 for extracting a center position of the subpixels based on the inspection pattern input from the camera 40, And a computer 50. The inspection apparatus according to the embodiment of the present invention may further include a host computer 60 that receives inspection results from the client computer 50, determines whether the inspection results are defective, and classifies defect types.

표시패널(12)은 스테이지(11)에 안착된다. 스테이지(11)는 고정될 수도 있고, 이동부(30)에 의해 일 방향으로 이동될 수도 있다. 표시패널(12)에는 다수의 게이트라인들과 데이터라인들이 형성되어 있고, 게이트라인과 데이터라인의 교차부마다 화상 표시를 위한 서브 픽셀이 형성되어 있다. 검사 단계에서 게이트라인들과 데이터라인들은 프로브 유닛(13)에 접촉되어 프로브 유닛(13)으로부터 필요한 신호를 인가받는다. 게이트라인들은 프로브 유닛(13)으로부터 스캔신호를 인가받을 수 있으며, 데이터라인들은 프로브 유닛(13)으로부터 검사 패턴을 인가받을 수 있다.The display panel 12 is seated on the stage 11. The stage 11 may be fixed or may be moved in one direction by the moving unit 30. [ A plurality of gate lines and data lines are formed in the display panel 12, and subpixels for image display are formed at intersections of the gate lines and the data lines. In the inspecting step, the gate lines and the data lines are brought into contact with the probe unit 13 to receive a necessary signal from the probe unit 13. The gate lines can receive a scan signal from the probe unit 13 and the data lines can receive a test pattern from the probe unit 13. [

신호 발생기(20)는 스캔신호와 함께 검사 패턴을 프로브 유닛(13)에 공급할 수 있다. 검사 패턴은 그 용도에 따라 다양하게 설정될 수 있으며, 일 예로 도 8에서와 같이 적색 패턴, 녹색 패턴, 청색 패턴, 블랙 패턴, 화이트 패턴, 127 그레이 패턴등을 포함할 수 있다.The signal generator 20 can supply an inspection pattern to the probe unit 13 together with the scan signal. The inspection pattern may be variously set according to the application. For example, the inspection pattern may include a red pattern, a green pattern, a blue pattern, a black pattern, a white pattern, a 127 gray pattern, and the like as shown in FIG.

카메라(40)는 이동부(30)에 의해 구동되어 스테이지(11)와 함께 이동되거나 또는 단독으로 이동될 수 있다. 스테이지(11)와 함께 이동되는 경우, 카메라(40)는 스테이지(11)와 서로 반대 방향으로 이동되도록 구동될 수 있다. 이 경우 카메라(40)의 이동 경로가 줄어들어 검사 시간이 단축되는 효과가 있다. 카메라(40)는 특정 방향을 따라 이동하면서 표시패널(12)에 표시된 이미지를 촬상하여 검사 패턴을 획득한다. 도 8과 같이 다수의 검사 패턴들이 순차적으로 적용될 때, 카메라(40)는 정방향(제1 방향)을 따라 이동하면서 적색 패턴을 획득한 후, 역방향(제2 방향)을 따라 이동하면서 녹색 패턴을 획득하고, 또다시 정방향을 따라 이동하면서 청색 패턴을 획득한 후, 역방향을 따라 이동하면서 블랙 패턴을 획득하고, 또다시 정방향을 따라 이동하면서 화이트 패턴을 획득한 후, 역방향을 따라 이동하면서 127 그레이 패턴을 획득한다. 즉, 카메라(40)는 표시패널(12) 위에서 제1 방향으로 이동하면서 제1 검사패턴을 획득하고, 제1 방향과 반대되는 제2 방향으로 이동하면서 제2 검사패턴을 획득한다. 이렇게 함으로써 본 발명은 검사 패턴을 획득하는데 소요되는 시간을 줄인다.The camera 40 can be driven by the moving part 30 and moved with the stage 11 or can be moved alone. When moved together with the stage 11, the camera 40 can be driven to move in the direction opposite to the stage 11. In this case, the moving path of the camera 40 is reduced, and the inspection time is shortened. The camera 40 captures an image displayed on the display panel 12 while moving along a specific direction to acquire an inspection pattern. When a plurality of inspection patterns are sequentially applied as shown in FIG. 8, the camera 40 acquires a red pattern while moving along a forward direction (first direction), and then acquires a green pattern while moving along a reverse direction After acquiring a blue pattern while moving along the forward direction, acquiring a black pattern while moving along the reverse direction, acquiring a white pattern while moving along the forward direction, and moving along the reverse direction to obtain 127 gray patterns . That is, the camera 40 acquires the first inspection pattern while moving in the first direction on the display panel 12, and acquires the second inspection pattern while moving in the second direction opposite to the first direction. By doing so, the present invention reduces the time required to obtain the inspection pattern.

클라이언트 컴퓨터(50)는 카메라(40)로부터 인가된 검사 패턴을 직접 기반으로 하여 서브 픽셀들의 중심 위치를 추출한다. 클라이언트 컴퓨터(50)는 서브 픽셀들의 중심 위치를 추출하기 위해 검사 패턴 이외에 별도의 캘리브레이션 패턴을 더 필요로 하지 않는다. 본 발명은 캘리브레이션 패턴을 추가로 인가하고 카메라를 이동시키면서 캘리브레이션 패턴을 획득하는 과정을 생략할 수 있어 그만큼 검사 시간을 절약하는 것이 가능하다. The client computer 50 extracts the center position of the sub pixels based on the inspection pattern applied from the camera 40 directly. The client computer 50 does not need a separate calibration pattern other than the inspection pattern to extract the center position of the subpixels. It is possible to omit the process of acquiring the calibration pattern by further applying the calibration pattern and moving the camera, thereby saving the inspection time.

클라이언트 컴퓨터(50)는 도 8과 같이 서브 픽셀들의 위치를 정방향 좌표로 추출할 수도 있고, 역방향 좌표로 추출할 수도 있다. 정방향 좌표는 카메라가 정방향(제1 방향)으로 최초 이동하면서 획득한 제1 검사패턴(적색 패턴)을 기반으로 추출된 서브 픽셀들의 중심 좌표를 지시한다. 그리고, 역방향 좌표는 카메라가 역방향(제2 방향)으로 최초 이동하면서 획득한 제2 검사패턴(녹색 패턴)을 기반으로 추출된 서브 픽셀들의 중심 좌표를 지시한다. 추출된 서브 픽셀들의 중심 좌표는 후보 불량 위치를 포함하는 검색 영역을 설정하는 데 이용된다. 클라이언트 컴퓨터(50)는 검색 영역 내에서 검사 패턴별로 표시패널의 불량 여부를 검사한다.The client computer 50 may extract the positions of the subpixels in the forward direction coordinates or the backward direction coordinates as shown in FIG. The forward coordinates indicate the coordinates of the center of the extracted subpixels based on the first inspection pattern (red pattern) acquired while the camera first moves in the forward direction (first direction). The backward coordinates indicate the center coordinates of the extracted subpixels based on the second inspection pattern (green pattern) acquired while the camera first moves in the reverse direction (second direction). The center coordinates of the extracted sub-pixels are used to set the search area including the candidate defective position. The client computer 50 checks whether the display panel is defective or not in each search pattern in the search area.

도 2 내지 도 7을 참조하여, 클라이언트 컴퓨터(50)에서 서브 픽셀들의 중심 좌표를 추출하는 동작과 추출된 중심 좌표를 기반으로 불량 검사를 수행하는 동작을 설명하면 다음과 같다.The operation of extracting the center coordinates of the subpixels in the client computer 50 and performing the defect inspection based on the extracted center coordinates will be described with reference to FIGS. 2 to 7 as follows.

도 2를 참조하면, 클라이언트 컴퓨터(50)는 카메라(40)에서 획득한 검사패턴 영상을 카메라(40)로부터 입력받는다.(S1) 클라이언트 컴퓨터(50)는 서브 픽셀들의 중심 좌표 도출이 용이하도록 도 3a와 같이 입력된 검사패턴 영상을 서브 픽셀별로 강조한다.(S2) 클라이언트 컴퓨터(50)는 도 3b와 같은 가우시안 필터를 이용하여 서브 픽셀별 검사패턴 영상의 중심을 강조한다. 도 3b에서 "x"는 마스크의 위치이고, "G(x)"는 마스크 상의 위치에 따른 가중치를 의미한다. 도 3b에서, x 축의 "0"은 마스크의 중심부이고, +/-로 갈수록 마스크의 가장자리 부분이다. 가중치(G(x))는 마스크의 중심부분에서 가장 크고, 가장자리로 갈수록 점점 작아진다. 이러한 가우시안 필터를 도 3c와 같아 5×5 마스크로 적용하면, 마스크 내의 값이 모두 "0"이 아니어야 하고, 또한 계수의 합이 "1"에 가까워야 한다.2, the client computer 50 receives the test pattern image acquired by the camera 40 from the camera 40. (S1) The client computer 50 acquires the test pattern image from the camera 40 3a, the input test pattern image is emphasized for each subpixel (S2). The client computer 50 emphasizes the center of the test pattern image for each subpixel using the Gaussian filter shown in FIG. 3B. In FIG. 3B, "x" is the position of the mask and "G (x)" is the weight according to the position on the mask. In Fig. 3B, "0" in the x-axis is the center portion of the mask and is the edge portion of the mask toward +/-. The weight (G (x)) is largest at the center of the mask, and gradually decreases toward the edge. If such a Gaussian filter is applied as a 5x5 mask as shown in Fig. 3C, the values in the mask should not be all "0 ", and the sum of the coefficients should be close to" 1 ".

클라이언트 컴퓨터(50)는 강조된 검사패턴 영상을 미리 설정된 중심 추출 알고리즘에 적용하여 도 4와 같이 표시패널(12)에서 Y 방향을 따라 일 열로 배치된 최외곽 서브픽셀들의 중심 좌표를 추출한다.(S3)The client computer 50 applies the emphasized inspection pattern image to a predetermined center extraction algorithm to extract the center coordinates of the outermost sub-pixels arranged in a row along the Y direction on the display panel 12 as shown in FIG. )

클라이언트 컴퓨터(50)는 도 4와 같이 상기 최외곽 서브픽셀들의 각 중심 좌표를 기준으로 상기 Y 방향에 수직한 X 방향으로 일정한 피치만큼씩 순차 이동하면서 표시패널(12)의 나머지 서브픽셀들의 중심 좌표들을 추출한다.(S4) 이러한 방법으로 추출된 모든 서브픽셀들의 중심 좌표들이 도 5에 도시되어 있다. 4, the client computer 50 sequentially moves by a predetermined pitch in the X direction perpendicular to the Y direction with respect to the center coordinates of the outermost subpixels, and the center coordinates of the remaining subpixels of the display panel 12 (S4) The center coordinates of all subpixels extracted in this way are shown in FIG.

클라이언트 컴퓨터(50)는 추출된 각 서브픽셀들의 중심 좌표를 저장한다.(S5)The client computer 50 stores the coordinates of the center of each extracted sub-pixel (S5)

클라이언트 컴퓨터(50)는 도 6과 같이 미리 알고 있는 후보 불량위치를 최단 거리의 4각형으로 둘러싸도록 하는 검색 영역을 설정하기 위해, 상기 4각형의 꼭지점들에 해당되는 4개의 서브픽셀 위치들(P1,P2,P3,P4)을 상기 저장된 중심 좌표들로부터 도출한다.(S6) 후보 불량위치는 누적된 제조 경험에 비추어 불량이 빈번이 발생되는 곳으로 미리 설정될 수 있으며, 표시패널의 모델, 크기 등에 따라 달라질 수 있다.6, the client computer 50 sets four sub-pixel positions P1 (P1) corresponding to vertexes of the rectangles (P1 (P6, P3, P4) from the stored center coordinates. (S6) The candidate defective position can be set in advance to a place where defects frequently occur in view of accumulated manufacturing experience, and the model, size And the like.

클라이언트 컴퓨터(50)는 도 7과 같이 검색 영역을 좌/우로 스캔하면서 그 스캔 결과를 도 8의 각 패턴 알고리즘(컬러/블랙/화이트/얼룩 패턴 알고리즘)에 적용하여 불량 여부를 검사한다.(S7)
The client computer 50 scans the search area to the left and right as shown in FIG. 7 and applies the scan results to each pattern algorithm (color / black / white / smudge pattern algorithm) of FIG. )

상술한 바와 같이, 본 발명은 카메라에서 획득된 검사 패턴을 직접 기반으로 하여 서브 픽셀들의 중심 위치를 추출하기 때문에 종래와 같이 검사 패턴 이외에 별도의 캘리브레이션 패턴을 더 필요로 하지 않는다. 본 발명은 캘리브레이션 패턴으로 인한 추가 작업 과정을 생략할 수 있어 각 서브 픽셀의 중심 위치를 찾는 작업을 간소화할 수 있고, 그 결과 검사시간을 단축할 수 있다.As described above, since the present invention extracts the center position of the subpixels based on the inspection pattern obtained from the camera, no additional calibration pattern is required in addition to the inspection pattern as in the conventional method. The present invention can omit an additional work process due to the calibration pattern, simplifying the task of finding the center position of each sub-pixel, and consequently shortening the inspection time.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

11 : 스테이지 12 : 표시패널
13 : 프로브 유닛 20 : 신호 발생기
30 : 이동부 40 : 카메라
50 : 클라이언트 컴퓨터 60 : 호스트 컴퓨터
11: stage 12: display panel
13: probe unit 20: signal generator
30: moving part 40: camera
50: client computer 60: host computer

Claims (11)

스테이지;
상기 스테이지에 안착되며 화상 표시를 위해 서브 픽셀들이 형성된 표시패널;
상기 표시패널의 신호 라인들에 접촉되는 프로브 유닛;
상기 프로브 유닛에 검사 패턴을 인가하는 신호 발생기;
상기 표시패널에 표시된 검사 패턴을 촬상하기 위한 카메라; 및
상기 카메라로부터 상기 검사 패턴을 입력받고, 상기 표시패널의 모든 서브 픽셀들에 각각 대응되는 상기 검사 패턴의 중심을 강조하며, 상기 검사 패턴의 각 중심 좌표를 추출하고, 상기 각 중심 좌표를 기반으로 후보 불량 위치를 포함한 검색 영역을 설정한 후, 상기 검색 영역 내에서 상기 표시패널의 불량 여부를 검사하는 클라이언트 컴퓨터를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치.
stage;
A display panel that is seated on the stage and has subpixels for image display;
A probe unit contacting the signal lines of the display panel;
A signal generator for applying an inspection pattern to the probe unit;
A camera for capturing an inspection pattern displayed on the display panel; And
Receiving the inspection pattern from the camera, emphasizing the center of the inspection pattern corresponding to all the subpixels of the display panel, extracting each center coordinate of the inspection pattern, And a client computer for checking whether the display panel is defective in the search area after setting a search area including a defective position.
제 1 항에 있어서,
상기 클라이언트 컴퓨터는, 상기 서브 픽셀들에 각각 대응되는 상기 검사 패턴의 중심을 강조하기 위해서 가우시안 필터를 마스크로 사용하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치.
The method according to claim 1,
Wherein the client computer uses a Gaussian filter as a mask to emphasize the center of the inspection pattern corresponding to each of the subpixels.
제 2 항에 있어서,
상기 클라이언트 컴퓨터는 상기 강조된 검사패턴을 미리 설정된 중심 추출 알고리즘에 적용하여 상기 표시패널에서 Y 방향을 따라 일 열로 배치된 최외곽 서브픽셀들의 중심 좌표를 추출하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the client computer applies the emphasized inspection pattern to a predetermined center extraction algorithm to extract center coordinates of the outermost sub-pixels arranged in a row along the Y direction in the display panel.
제 3 항에 있어서,
상기 클라이언트 컴퓨터는 상기 최외곽 서브픽셀들의 각 중심 좌표를 기준으로 상기 Y 방향에 수직한 X 방향으로 일정한 피치만큼씩 순차 이동하면서 상기 표시패널의 나머지 서브픽셀들의 중심 좌표들을 추출 및 저장하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치.
The method of claim 3,
The client computer sequentially extracts and stores the coordinates of the center of each of the remaining sub-pixels of the display panel, the predetermined coordinates being shifted by a predetermined pitch in the X direction perpendicular to the Y direction with respect to the center coordinates of the outermost sub- A display panel inspection device.
제 4 항에 있어서,
상기 클라이언트 컴퓨터는 미리 알고 있는 상기 후보 불량위치를 최단 거리의 4각형으로 둘러싸도록 하는 상기 검색 영역을 설정하기 위해, 상기 4각형의 꼭지점들에 해당되는 4개의 서브픽셀 위치들을 상기 저장된 중심 좌표들로부터 도출하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치.
5. The method of claim 4,
Wherein the client computer sets four subpixel positions corresponding to vertexes of the tetragonal shape from the stored center coordinates so as to set the search area to surround the candidate defective position, which is known in advance, The display panel inspection apparatus comprising:
제 1 항에 있어서,
상기 스테이지와 카메라 중 적어도 어느 하나를 이동시키는 이동부를 더 구비하고;
상기 카메라는 상기 이동부에 의해 구동되어 상기 스테이지와 함께 이동되거나 또는 단독으로 이동되고;
상기 카메라와 상기 스테이지가 동시에 이동되는 경우, 상기 카메라는 상기 스테이지와 반대 방향으로 이동되도록 구동되는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치.
The method according to claim 1,
Further comprising a moving unit for moving at least one of the stage and the camera;
The camera being driven by the moving part to move with the stage or to be moved alone;
Wherein when the camera and the stage are simultaneously moved, the camera is driven to move in a direction opposite to the stage.
스테이지, 상기 스테이지에 안착되며 화상 표시를 위해 서브 픽셀들이 형성된 표시패널, 및 상기 표시패널의 신호 라인들에 접촉되는 프로브 유닛을 갖는 표시패널 검사장치의 검사방법에 있어서,
신호 발생기를 통해 상기 프로브 유닛에 검사 패턴을 인가하는 단계;
카메라를 통해 상기 표시패널에 표시된 검사 패턴을 촬상하는 단계;
상기 카메라로부터 입력되는 검사 패턴을 직접 기반으로 하여 상기 서브 픽셀들의 각 중심 좌표를 추출하는 단계; 및
상기 각 중심 좌표를 기반으로 후보 불량 위치를 포함한 검색 영역을 설정한 후, 상기 검색 영역 내에서 상기 표시패널의 불량 여부를 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치의 검사방법.
A method for inspecting a display panel inspection apparatus having a stage, a display panel which is seated on the stage and on which subpixels are formed for image display, and a probe unit which is in contact with signal lines of the display panel,
Applying a test pattern to the probe unit through a signal generator;
Capturing an inspection pattern displayed on the display panel through a camera;
Extracting center coordinates of the subpixels based on a test pattern input from the camera; And
And checking whether the display panel is defective in the search area after setting a search area including a candidate defective position based on the respective center coordinates.
제 7 항에 있어서,
상기 서브 픽셀들의 각 중심 좌표를 추출하는 단계는,
상기 서브 픽셀들의 각 중심 좌표가 용이하게 추출되도록 하기 위해, 가우시안 필터를 마스크로 사용하여 상기 서브 픽셀들에 각각 대응되는 검사 패턴의 중심을 강조하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치의 검사방법.
8. The method of claim 7,
Wherein extracting the respective center coordinates of the subpixels comprises:
Wherein a center of an inspection pattern corresponding to each of the subpixels is emphasized by using a Gaussian filter as a mask so that the respective center coordinates of the subpixels are easily extracted.
제 8 항에 있어서,
상기 서브 픽셀들의 각 중심 좌표를 추출하는 단계는,
상기 강조된 검사패턴을 미리 설정된 중심 추출 알고리즘에 적용하여 상기 표시패널에서 Y 방향을 따라 일 열로 배치된 최외곽 서브픽셀들의 중심 좌표를 추출하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치의 검사방법.
9. The method of claim 8,
Wherein extracting the respective center coordinates of the subpixels comprises:
And applying the emphasized inspection pattern to a predetermined center extraction algorithm to extract center coordinates of the outermost sub-pixels arranged in a row along the Y direction in the display panel.
제 9 항에 있어서,
상기 서브 픽셀들의 각 중심 좌표를 추출하는 단계는,
상기 최외곽 서브픽셀들의 각 중심 좌표를 기준으로 상기 Y 방향에 수직한 X 방향으로 일정한 피치만큼씩 순차 이동하면서 상기 표시패널의 나머지 서브픽셀들의 중심 좌표들을 추출 및 저장하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치의 검사방법.
10. The method of claim 9,
Wherein extracting the respective center coordinates of the subpixels comprises:
Wherein the center coordinates of the remaining sub-pixels of the display panel are extracted and stored while sequentially moving by a predetermined pitch in the X direction perpendicular to the Y direction with respect to each center coordinate of the outermost sub-pixels. Inspection method of the device.
제 10 항에 있어서,
상기 검색 영역 내에서 상기 표시패널의 불량 여부를 검사하는 단계는,
미리 알고 있는 상기 후보 불량위치를 최단 거리의 4각형으로 둘러싸도록 하는 상기 검색 영역을 설정하기 위해, 상기 4각형의 꼭지점들에 해당되는 4개의 서브픽셀 위치들을 저장된 상기 중심 좌표들로부터 도출하는 것을 특징으로 하는 표시패널 검사장치의 검사방법.
11. The method of claim 10,
Wherein the step of checking whether the display panel is defective in the search area comprises:
The four subpixel positions corresponding to the vertexes of the tetragonal shape are derived from the stored center coordinates so as to set the search region in which the candidate defective position that is known in advance is surrounded by a quadrangle having the shortest distance The method comprising the steps of:
KR1020120136153A 2012-11-28 2012-11-28 Inspectiing device of display panel and inspecting method of the same KR101409568B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120136153A KR101409568B1 (en) 2012-11-28 2012-11-28 Inspectiing device of display panel and inspecting method of the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120136153A KR101409568B1 (en) 2012-11-28 2012-11-28 Inspectiing device of display panel and inspecting method of the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140068543A KR20140068543A (en) 2014-06-09
KR101409568B1 true KR101409568B1 (en) 2014-06-19

Family

ID=51124270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120136153A KR101409568B1 (en) 2012-11-28 2012-11-28 Inspectiing device of display panel and inspecting method of the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101409568B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200111504A (en) 2019-03-19 2020-09-29 주식회사 비오엠솔루션 A display panel test apparatus
US11244586B2 (en) * 2019-10-14 2022-02-08 Samsung Display Co., Ltd. Display device and display module testing method

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102264272B1 (en) * 2014-12-09 2021-06-14 엘지디스플레이 주식회사 Display device and method for detecting defects the same
CN109901312A (en) * 2019-03-05 2019-06-18 武汉精毅通电子技术有限公司 A kind of display panel cell sections of detection device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000275596A (en) * 1999-03-26 2000-10-06 Ricoh Co Ltd Cell inspection apparatus and cell inspection method
JP2006195228A (en) * 2005-01-14 2006-07-27 Funai Electric Co Ltd Liquid crystal tv
JP2007192983A (en) * 2006-01-18 2007-08-02 Micronics Japan Co Ltd Method for identifying address of defective pixel in display panel, method for automatically inspecting image quality, and apparatus therefor
KR20080061739A (en) * 2006-12-28 2008-07-03 엘지디스플레이 주식회사 Test method of liquid crystal display panel

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000275596A (en) * 1999-03-26 2000-10-06 Ricoh Co Ltd Cell inspection apparatus and cell inspection method
JP2006195228A (en) * 2005-01-14 2006-07-27 Funai Electric Co Ltd Liquid crystal tv
JP2007192983A (en) * 2006-01-18 2007-08-02 Micronics Japan Co Ltd Method for identifying address of defective pixel in display panel, method for automatically inspecting image quality, and apparatus therefor
KR20080061739A (en) * 2006-12-28 2008-07-03 엘지디스플레이 주식회사 Test method of liquid crystal display panel

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200111504A (en) 2019-03-19 2020-09-29 주식회사 비오엠솔루션 A display panel test apparatus
US11244586B2 (en) * 2019-10-14 2022-02-08 Samsung Display Co., Ltd. Display device and display module testing method

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140068543A (en) 2014-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8743215B1 (en) Mura detection apparatus and method of display device
US7978903B2 (en) Defect detecting method and defect detecting device
KR101955052B1 (en) System and methods for defect detection using a whole raw image
KR20180117532A (en) Method for defect detection, system for defect detection and training method therefor
US20110235868A1 (en) Inspection System
US10113975B2 (en) Appearance inspection device and method for object having line pattern
KR101409568B1 (en) Inspectiing device of display panel and inspecting method of the same
KR102009740B1 (en) Apparatus for inspecting of display panel and method thereof
WO2014132506A1 (en) Method for detecting display panel defects and device for detecting display panel defects
CN113012096B (en) Display screen sub-pixel positioning and brightness extraction method, device and storage medium
US20200211156A1 (en) Imaging apparatus and driving method of the same
JP2009115566A (en) Apparatus for determining detect position of panel
WO2013118306A1 (en) Defect-detecting device, defect-detecting method, computer-readable recording medium for recording defect-detecting program
CN111982925A (en) Detection method and detection device
CN114529500A (en) Defect inspection method for display substrate
JP2009036582A (en) Inspection method, inspection device and inspection program of plane display panel
KR101068356B1 (en) Method for inspecting defect of the Pixels in display panel device by image
JP2005345290A (en) Streak-like flaw detecting method and streak-like flaw detector
KR101426487B1 (en) Apparatus for inspecting of display panel and method thereof
JP6184746B2 (en) Defect detection apparatus, defect correction apparatus, and defect detection method
CN103630542A (en) Defect detecting apparatus, defect correction device and defect detecting method
KR20140082333A (en) Method and apparatus of inspecting mura of flat display
US20120129419A1 (en) Display-panel inspection method, and method for fabricating display device
US9689807B2 (en) Substrate detection device and method
WO2012169423A1 (en) Pattern inspection device and pattern inspection method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180515

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190515

Year of fee payment: 6