KR20140120989A - Device sorting apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 웨이퍼상에 위치된 소자들을 픽업하여 트레이에 적재하는 소자분류장치에 관한 것이다.The present invention relates to an element sorting apparatus for picking up elements placed on a wafer and loading the elements on a tray.
소자(반도체칩)란 전기 전도도가 부도체보다는 높고 금속과 같은 전도체보다는 낮은 반도체로 구성된 집적회로로서, 원래 칩은 얇은 판 조각을 가리키는 말이나 현재는 반도체 회로를 나타내는 말로 사용된다.An element (semiconductor chip) is an integrated circuit composed of semiconductors whose electrical conductivity is higher than that of an insulator and lower than a conductor such as a metal. The original chip is used to refer to a thin plate piece or a semiconductor circuit.
소자는 현대의 컴퓨터를 만드는 기본 부품으로 산술연산, 정보기억, 다른 칩의 제어 등을 수행하는 핵심이며 전자산업을 뒷받침한다.The device is the basic part of modern computer making and it is the key to perform arithmetic operations, information storage, control of other chips and supports the electronics industry.
상기와 같은 소자는 CPU, SDRAM(메모리반도체), 플래시 램 등이 있으며, 최근에는 COG(Chip On Glass), COF(Chip On Film)와 같은 디스플레이 구동칩인 DDI(Display Drive IC) 등 그 종류가 다양해지고 있다.Such devices include a CPU, an SDRAM (memory semiconductor), and a flash RAM. In recent years, there have been various kinds of display driver ICs such as COD (Chip On Glass) and COF It is becoming diverse.
상기와 같은 소자들은 출하 전에 신뢰성을 높이기 위하여 외관상태 등이 검사되며, 불량인 소자들을 선별한 후에 양품의 소자들만 출하되고 있다.In order to improve reliability before shipment, the above-described devices are inspected for appearance and the like, and only defective devices are shipped after defective devices are sorted.
특히, 소자에 대한 검사공정은 소자의 제조공정 중에서 여러 번 수행될 수 있다. 또한, 소자는 웨이퍼상에 위치된 상태에서 검사될 수 있다.In particular, the inspection process for the device can be performed several times during the manufacturing process of the device. Further, the device can be inspected while being placed on the wafer.
한편, 웨이퍼상에 위치된 상태에서 검사공정을 마친 소자들은 출하 또는 후속공정을 위하여 양품의 소자들만이 픽앤플레이스(Pick & Place) 장치에 의하여 와플팩과 같은 전용 트레이에 적재된다.On the other hand, the elements that have been inspected in the state of being placed on the wafer are loaded on dedicated trays such as waffle packs by pick & place devices only for the shipment or subsequent processes.
그런데, 종래에는 픽앤플레이스장치가 웨이퍼상에 위치된 소자를 하나의 픽커를 이용하여 픽업하였으므로, 소자를 분류하는 데에 많은 시간이 소요되는 문제점이 있다.However, since the pick-and-place apparatus picks up an element placed on a wafer by using a single picker, it takes a lot of time to sort the elements.
본 발명은 상기한 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 웨이퍼상에 위치된 소자를 픽업하여 트레이에 적재하는 시간을 최소화시킬 수 있는 소자분류장치를 제공하는 데에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an element sorting apparatus capable of minimizing the time taken to pick up elements placed on a wafer and load them on a tray.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 소자분류장치는, 소자가 적재된 웨이퍼가 탑재되는 웨이퍼테이블과, 상기 웨이퍼테이블의 양측으로 상기 소자가 적재될 트레이를 이송시키는 한 쌍의 트레이이송부들과, 상기 웨이퍼테이블의 양측에 배치되고, 상기 웨이퍼테이블상에 탑재된 웨이퍼상의 소자를 교번적으로 픽업하여 상기 트레이상에 적재하는 한 쌍의 이송툴들을 포함할 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for classifying an element, comprising: a wafer table on which a wafer loaded with elements is mounted; a pair of trays for transferring the tray on which the element is to be loaded to both sides of the wafer table; And a pair of conveying tools disposed on both sides of the wafer table for picking up an element on the wafer mounted on the wafer table and loading the tray on the tray.
본 발명의 실시예에 따른 소자분류장치는, 복수의 이송툴을 이용하여 웨이퍼상의 소자들을 교번적으로 픽업하여 트레이상에 적재할 수 있으므로, 웨이퍼상에 위치된 소자를 픽업하여 트레이에 적재하는 데에 소요되는 시간을 최소화할 수 있는 효과가 있다.The element sorting apparatus according to the embodiment of the present invention can pick up elements on a wafer by using a plurality of transfer tools and load them on a tray, so that elements picked up on a wafer are picked up and loaded on a tray It is possible to minimize the time required for the operation.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 소자분류장치가 개략적으로 도시된 개념도이다.
도 2는 도 1의 소자분류장치에서 사용되는 트레이가 도시된 사시도이다.
도 3 및 도 4는 도 1의 소자분류장치에서 한 쌍의 이송툴에 의하여 웨이퍼상의 소자가 픽업되어 트레이에 적재되는 동작이 개략적으로 도시된 도면들이다.1 is a conceptual diagram schematically showing an element classifying apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a perspective view showing a tray used in the element sorting apparatus of FIG.
FIGS. 3 and 4 are views schematically showing an operation in which elements on a wafer are picked up by a pair of transfer tools in the element sorting apparatus of FIG. 1 and loaded on a tray. FIG.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 소자분류장치에 대하여 설명한다.Hereinafter, an element classifying apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 소자분류장치는, 소자(1)가 적재된 웨이퍼(2)가 로딩되는 웨이퍼로딩부(10)와, 웨이퍼로딩부(10)로부터 웨이퍼(2)가 전달되어 탑재되는 웨이퍼테이블(20)과, 웨이퍼테이블(20)로부터 소자들(1)을 픽업하는 복수의 이송툴(30)과, 복수의 이송툴(30)에 의하여 픽업된 소자(1)가 적재될 트레이(3)가 로딩되는 복수의 트레이로딩부들(40)과, 복수의 트레이로딩부들(40)로부터 각각 전달되는 복수의 트레이(3)를 이송시키는 복수의 트레이이송부들(50)과, 소자(1)가 적재된 복수의 트레이(3)를 나누어 적재하는 트레이언로딩부(60)와, 복수의 트레이이송부들(50)에 의하여 이송된 복수의 트레이(3)를 트레이언로딩부(60)로 전달하는 트레이전달부(70)를 포함할 수 있다.1, the device for classifying an element according to an embodiment of the present invention includes a
여기에서, 소자(1)는 COG (chip on glass), COF (chip on film)와 같은 디스플레이 구동칩인 DDI (display drive IC) 등의 IC칩, LED 소자 등을 이루는 소자로서, 웨이퍼가 소위 반도체 공정 및 절단 공정(또한, 테스트공정 및 분류공정)을 마친 소자이다. 그리고, 소자(1)는, 절단공정 후 웨이퍼(2)상에 적재된 상태로 이송된다. 또한, 웨이퍼(2)는 DDI용 12인치 웨이퍼(2)가 될 수 있다.Here, the
도 2에 도시된 바와 같이, 트레이(3)는 와플팩으로서의 역할을 하는 것으로 그 상면에는 소자(1)를 수납하기 위한 복수의 수납홈(3a)이 오목하게 형성될 수 있다. 여기에서, 트레이(3)는 소자(1)를 수납하여 이송하기 위한 구성으로 다양한 구조가 가능하다.As shown in FIG. 2, the
웨이퍼로딩부(10)는 소자(1)가 적재된 웨이퍼들(2)이 상하로 순차적으로 적재되는 웨이퍼적재부(매거진)(11)와, 웨이퍼적재부(11)로부터 전달된 웨이퍼들(2)이 이송되는 웨이퍼이송부(12)를 포함할 수 있는 등 웨이퍼(2)를 웨이퍼테이블(20)로 전달하기 위한 다양한 구성이 사용될 수 있다. 웨이퍼적재부(11)는 웨이퍼(2)가 순차적으로 인출될 수 있도록 상하로 이동가능하게 설치될 수 있다.The
웨이퍼로딩부(10)의 웨이퍼적재부(11)와 웨이퍼이송부(12)의 사이에는 웨이퍼적재부(11)로부터 웨이퍼(2)를 파지하여 웨이퍼이송부(12)로 전달하는 예를 들면 로봇과 같은 웨이퍼반송기구(미도시)가 설치될 수 있다.The
그리고, 웨이퍼로딩부(10)는 소자인출을 마친 웨이퍼(2)가 웨이퍼적재부(11)에 다시 적재될 수 있도록, 소자(1)가 인출될 제1의 웨이퍼(2)가 웨이퍼테이블(20)로 전달되기 전에 웨이퍼테이블(20)로부터 소자(1)의 인출이 완료된 제2의 웨이퍼(2)를 전달받고, 제1의 웨이퍼(2)가 웨이퍼테이블(20)로 전달된 후에 제2의 웨이퍼(2)를 웨이퍼적재부(11)의 빈자리로 전달되도록 제2의 웨이퍼(2)를 임시로 보관하는 웨이퍼버퍼부(13)를 추가로 포함할 수 있다. 웨이퍼버퍼부(13)는 웨이퍼(2)를 임시로 보관하기 위한 구성으로서 웨이퍼(2)를 지지할 수 있는 구성이면 어떠한 구성도 가능하다.The
웨이퍼로딩부(10)와 웨이퍼테이블(20) 사이에는 웨이퍼로딩부(10)로부터 웨이퍼테이블(20)로 웨이퍼를 전달하는 웨이퍼전달부(미도시)가 설치될 수 있다. 웨이퍼전달부는 웨이퍼(2)를 이동시키기 위한 구성으로 다양한 구성이 가능하다.A wafer transfer unit (not shown) may be installed between the
웨이퍼테이블(20)은 웨이퍼(2)를 지지하기 위한 클램프 등의 다양한 기구를 포함할 수 있다. 웨이퍼테이블(20)은 수평방향(도 1에서의 X축방향 및/또는 Y축방향) 및 상하방향으로 선형으로 이동될 수 있고, 그 중심축(θ축)을 기준으로 회전될 수 있다. 따라서, 웨이퍼테이블(20)의 수평 및 수직방향 선형이동 및 회전에 의하여, 웨이퍼(2)는 복수의 이송툴(30)이 소자(1)를 픽업할 수 있는 소자픽업위치상의 정위치에 위치될 수 있다.The wafer table 20 may include various mechanisms, such as clamps, for supporting the
웨이퍼테이블(20)의 수평방향 및/또는 상하방향으로의 선형이동을 위하여 공압 또는 유압으로 작동되는 액추에이터, 볼스크류장치 또는 리니어모터와 같은 선형이송기구가 설치될 수 있으며, 웨이퍼테이블(20)의 회전을 위하여 회전모터와 같은 회전기구가 설치될 수 있다.A linear transport mechanism such as an actuator operated by pneumatic or hydraulic pressure, a ball screw device or a linear motor may be installed for linear movement of the wafer table 20 in the horizontal direction and / or the vertical direction, A rotating mechanism such as a rotary motor may be installed for rotation.
복수의 이송툴들(30)은 웨이퍼테이블(20)상의 웨이퍼(2)가 소자픽업위치에 위치된 상태에서 웨이퍼(2)상의 소자를 하나씩 교번적으로 픽업하여 복수의 트레이들(3)에 나누어 적재하는 역할을 수행한다.The plurality of
복수의 이송툴들(30)은 웨이퍼테이블(20)에 대하여 상대적으로 수평방향(X축방향 및/또는 Y축방향) 및 상하방향으로 선형으로 이동될 수 있다. 이를 위하여, 복수의 이송툴들(30)에는 공압 또는 유압으로 작동되는 액추에이터, 볼스크류장치 또는 리니어모터와 같은 선형이송기구가 연결될 수 있다.The plurality of
예를 들면, 복수의 이송툴들(30)은 제1이송툴(31) 및 제2이송툴(31)을 포함하는 한 쌍의 이송툴들(30)로 구성된다. 그리고, 웨이퍼테이블(20)상에 탑재된 웨이퍼(2)에서 픽업될 소자(1)는 제1이송툴(31) 및 제2이송툴(32)의 사이에 위치될 수 있다. 즉, 웨이퍼(2)로부터 소자(1)가 픽업되는 소자픽업위치는 한 쌍의 이송툴(31, 32) 사이에 설정될 수 있다. 한 쌍의 이송툴들(30)은 서로에 대하여 독립적으로 가이드(91)를 따라 수평으로 이동될 수 있으며, 가이드(91)에 지지되는 별도의 지지블럭(미도시)과 연결되어 함께 수평으로 이동될 수 있다.For example, a plurality of the
이와 같은 구성에 따르면, 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 제1이송툴(31)이 웨이퍼테이블(20)상에 탑재된 웨이퍼(2)상의 소자(1)를 픽업하는 과정에서는 제2이송툴(32)은 이미 픽업된 소자(1)를 트레이(3)상에 적재하는 동작을 수행하며, 제1이송툴(31)이 소자(1)를 픽업한 후 트레이(3)상에 적재하는 과정에서는 제2이송툴(32)은 웨이퍼(2)상의 소자(1)를 픽업하는 동작을 수행한다. 이와 같이, 웨이퍼(2)상의 소자들(1)은 한 쌍의 이송툴들(31, 32)의 교번적인 픽업동작에 의하여 웨이퍼(2)로부터 신속하게 픽업되어 트레이(3)상에 적재될 수 있다.3 and 4, in the process in which the
한편, 한 쌍의 이송툴(31, 32)은 하나의 가이드레일(91)에 설치되어 선형으로 이동될 수 있다.On the other hand, the pair of
복수의 트레이로딩부들(40)은, 복수의 이송툴들(30)에 의하여 웨이퍼(2)로부터 픽업된 소자(1)가 적재될 트레이들(3)이 상하로 순차적으로 적재되는 구성 등 다양한 구성이 사용될 수 있다. 트레이로딩부들(40)는 트레이(3)가 순차적으로 인출될 수 있도록 상하로 이동되도록 구성될 수 있다.The plurality of
트레이로딩부(40)와 트레이이송부(50) 사이에는 트레이로딩부(40)로부터 트레이(3)를 파지하여 트레이이송부(50)로 전달하는 로봇과 같은 트레이반송기구(미도시)가 설치될 수 있다.A tray transport mechanism (not shown) such as a robot for holding the
한편, 복수의 이송툴(30)이 한 쌍의 이송툴(31, 32)로 이루어지는 경우에는, 복수의 트레이로딩부(40)는, 제1이송툴(31)에 의하여 픽업된 소자(1)가 적재되는 트레이(3)가 로딩되는 제1트레이로딩부(41)와, 제2이송툴(32)에 의하여 픽업된 소자(1)가 적재되는 트레이(3)가 로딩되는 제2트레이로딩부(42)로 구성될 수 있다.On the other hand, when the plurality of
복수의 트레이이송부들(50)은, 복수의 트레이들(3)을 복수의 이송툴(30)이 소자(1)를 픽업하여 트레이(3)상에 적재하기 위하여 이동되는 이동경로를 통과하도록 이송시키는 역할을 수행한다. 복수의 트레이들(3)의 선형으로의 이송을 위하여 복수의 트레이이송부들(50)에는 공압 또는 유압으로 작동되는 액추에이터, 볼스크류장치 또는 리니어모터와 같은 선형이송기구와 연결된 트레이이송장치(미도시)가 구비될 수 있다.The plurality of
이러한 트레이이송부(50)는 이송툴(30)이 웨이퍼(2)상의 소자(1)를 픽업한 후 트레이(3)상에 적재하는 과정에서, 트레이(3)를 소정의 거리만큼 순차적으로 이송시켜, 복수의 소자들(1)이 하나의 트레이(3)상에 순차적으로 탑재될 수 있도록 하는 역할을 함께 수행한다.The
한편, 복수의 이송툴들(30)이 한 쌍의 이송툴(31, 32)로 이루어지는 경우에는, 복수의 트레이이송부(50)는, 제1이송툴(31)에 의하여 픽업된 소자(1)가 적재되는 트레이(3)를 이송하는 제1트레이이송부(51)와, 제2이송툴(32)에 의하여 픽업된 소자(1)가 적재되는 트레이(3)를 이송하는 제2트레이이송부(52)를 포함할 수 있다.On the other hand, when the plurality of
제1트레이이송부(51) 및 제2트레이이송부(52)는 웨이퍼테이블(20)상에 탑재된 웨이퍼(2)의 소자픽업위치를 기준으로 양측에 배치될 수 있다. 따라서, 제1트레이이송부(51) 및 제2트레이이송부(52)에 의한 트레이들의 이송경로를 한 쌍으로 이루어질 수 있으며, 한 쌍의 트레이 이송경로는 웨이퍼(2)의 소자픽업위치를 기준으로 양측에 위치될 수 있다.The first
한편, 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 제1트레이이송부(51) 및 제2트레이이송부(52)는 웨이퍼(2)의 상측을 일부 커버하는 형상으로 배치될 수 있는데, 이와 같은 경우, 제1트레이이송부(51) 및 제2트레이이송부(52)를 지지하는 지지부(511, 521)에는 한 쌍의 이송툴(31, 32)이 웨이퍼(2)를 향하여 진입되는 공간을 제공하는 측면(512, 522)이 형성될 수 있다. 여기에서, 지지부(511, 521)의 측면(512, 522)은 한 쌍의 이송툴(31, 32)의 이동을 방해하지 않도록 경사면으로 이루어질 수 있다. 또한, 지지부(511, 521)의 측면(512, 522)이 경사면으로 형성되는 경우에는 한 쌍의 이송툴(31, 32)은 대각선 방향으로 이동하면서, 소자(1)를 픽업하여 트레이(3)상에 적재할 수 있다.3 and 4, the first
트레이언로딩부(60)는 소자(1)가 적재된 복수의 트레이들(3)을 분류하여 적재하는 역할을 하는 것으로, 특성이 서로 다른 소자(1)가 각각 적재된 복수의 트레이(3)를 소자의 특성별로 분류하도록 구성될 수 있다.The
트레이언로딩부(60)에는 소자(1)가 적재된 복수의 트레이들(3)이 적재되는 복수의 적재부(61, 62)가 구비될 수 있다.The
트레이전달부(70)는 복수의 트레이이송부들(50)에 의하여 이송되면서 복수의 이송툴들(31, 32)의 동작에 의하여 소자(1)가 적재된 복수의 트레이들(3)을 트레이언로딩부(60)로 전달하는 역할을 한다. 트레이전달부(70)는 트레이(3)의 이송을 위한 공압 또는 유압으로 작동되는 액추에이터, 볼스크류장치 또는 리니어모터와 같은 선형이송기구와 연결된 트레이이송장치(미도시)를 포함할 수 있다.The
트레이전달부(70)는, 트레이이송부들(50)에 의하여 이송된 트레이들(3)를 곧바로 트레이언로딩부(60)로 전달하도록 구성될 수 있다. 또한, 트레이전달부(70)는, 트레이이송부(50)에 의하여 전달된 트레이(3)를 1차적으로 픽업하여 위치시키는 제1전달부(71)와, 제1전달부(71)에 의하여 전달된 트레이(3)를 픽업하여 트레이언로딩부(60)로 2차적으로 전달하는 제2전달부(72)로 구성될 수 있다. 이와 같이, 트레이전달부(70)가 트레이(3)를 복수의 단계로 나누어 전달하는 경우에는, 트레이(3)의 전달과정을 원활하게 하고, 트레이(3)의 전달속도를 증가시킬 수 있다.The
또한, 트레이전달부(70)의 일측에는 트레이(3)가 일시적으로 적재되는 버퍼부(80)가 구비될 수 있다. 이러한 버퍼부(80)에 트레이가 일시적으로 적재될 수 있으므로, 다양한 요인에 의하여 트레이언로딩부(60)에서 트레이(3)의 이송속도가 저하되는 경우에도, 트레이언로딩부(60)의 이전과정인 트레이이송부(50) 및/또는 트레이전달부(70)의 동작이 연속적으로 수행할 수 있도록 할 수 있다.A
한편, 본 발명의 실시예에 따른 소자분류장치는, 웨이퍼로부터 픽업될 소자의 위치를 측정하는 위치측정유닛(92)이 더 구비될 수 있다. 위치측정유닛(92)은 소자픽업위치에 위치된 웨이퍼테이블(20)의 상부에 위치되어 웨이퍼테이블(20)상에 탑재된 웨이퍼(2)상의 소자(1)의 위치를 측정할 수 있다. 위치측정유닛(92)에서 측정된 소자(1)의 위치정보는 이송툴(30)의 소자를 픽업하기 위한 동작을 제어하는 데에 활용될 수 있다. 위치측정유닛(92)으로는 카메라를 포함하는 비전시스템이 사용될 수 있다.On the other hand, the device for classifying an element according to the embodiment of the present invention may further comprise a
또한, 본 발명의 실시예에 따른 소자분류장치는, 트레이언로딩부(60)에 구비되어 트레이(3)상에서의 소자(1)의 적재상태를 검사하는 적재상태검사유닛(93)을 더 포함할 수 있다. 적재상태검사유닛(93)은 소자(1)가 트레이(3)상의 정위치에 적절하게 적재되어 있는지 여부를 검사한다. 적재상태검사유닛(93)으로는 카메라를 포함하는 비전시스템이 사용될 수 있다.The device for classifying an element according to an embodiment of the present invention further includes a loading
이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It is to be understood that both the technical idea and the technical spirit of the invention are included in the scope of the present invention.
1: 소자 2: 웨이퍼
3: 트레이 10: 웨이퍼로딩부
20: 웨이퍼테이블 30: 이송툴
40: 트레이로딩부 50: 트레이이송부
60: 트레이언로딩부 70: 트레이전달부1: element 2: wafer
3: Tray 10: Wafer loading part
20: Wafer table 30: Feeding tool
40: tray loading section 50: tray transfer section
60: Tray loading section 70: Tray transfer section
Claims (1)
상기 웨이퍼테이블의 양측으로 상기 소자가 적재될 트레이를 이송시키는 한 쌍의 트레이이송부들; 및
상기 웨이퍼테이블의 양측에 배치되고, 상기 웨이퍼테이블상에 탑재된 웨이퍼상의 소자를 교번적으로 픽업하여 상기 트레이상에 적재하는 한 쌍의 이송툴들을 포함하는 소자분류장치.A wafer table on which a wafer loaded with elements is mounted;
A pair of tray transfer parts for transferring the tray to be loaded with the device to both sides of the wafer table; And
And a pair of transporting tools disposed on both sides of the wafer table and alternately picking up elements on the wafer mounted on the wafer table and stacking them on the tray.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130036427A KR20140120989A (en) | 2013-04-03 | 2013-04-03 | Device sorting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130036427A KR20140120989A (en) | 2013-04-03 | 2013-04-03 | Device sorting apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20140120989A true KR20140120989A (en) | 2014-10-15 |
Family
ID=51992648
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020130036427A KR20140120989A (en) | 2013-04-03 | 2013-04-03 | Device sorting apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20140120989A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019172660A1 (en) * | 2018-03-06 | 2019-09-12 | (주)제이티 | Device handler |
-
2013
- 2013-04-03 KR KR1020130036427A patent/KR20140120989A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019172660A1 (en) * | 2018-03-06 | 2019-09-12 | (주)제이티 | Device handler |
CN111886509A (en) * | 2018-03-06 | 2020-11-03 | 宰体有限公司 | Component handler |
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WITN | Withdrawal due to no request for examination |