KR20140066450A - Window cleaning kit for wire bonding apparatus, wire bonding apparatus including the same and cleaning method of capillary using the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 와이어 본딩 장치용 윈도우 세정 키트, 이를 포함하는 와이어 본딩 장치 및 이를 이용한 캐필러리 세정 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 윈도우 클램프에 진동을 발생시키는 세정 키트를 장착함으로써 캐필러리의 단부를 효율적으로 세정할 수 있는 와이어 본딩 장치용 세정 키트, 이를 포함하는 와이어 본딩 장치 및 이를 이용한 캐필러리 세정 방법에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a window cleaning kit for a wire bonding apparatus, a wire bonding apparatus including the same, and a capillary cleaning method using the same. More particularly, A wire bonding apparatus including the cleaning kit, and a capillary cleaning method using the same.
반도체의 제조 공정에서 발광 칩과 기판을 와이어 본딩 장치를 이용하여 와이어로 접속하는 기술이 많이 사용되고 있다. 이러한 와이어 본딩 공정에서는 금을 와이어로 많이 사용하고 있다. 그러나, 최근의 반도체의 고속화, 저가격화의 요구에서 보다 고속의 신호 처리가 가능하고 비용도 저렴한 구리 등 금 이외의 금속선을 사용하는 경우도 종종 있다.BACKGROUND ART [0002] Techniques for connecting a light emitting chip and a substrate with a wire using a wire bonding apparatus in a semiconductor manufacturing process are widely used. In this wire bonding process, gold is often used as a wire. However, in recent years, there are cases where metal wires other than gold, such as copper, which are capable of signal processing at a higher speed and are inexpensive, are often used in response to demands for higher speed and lower cost of semiconductors.
이러한 와이어 본딩 장치에는 미세한 와이어를 핸들링하기 위해 관 형태의 캐필러리가 장착되며, 이러한 캐필러리에 의해 와이어의 일단이 발광 칩에 볼 본딩되고, 와이어의 타단이 기판에 스티치 본딩된다. 즉, 와이어 본딩 장치는 먼저 캐필러리의 하단으로 소정 길이로 연장된 와이어에 방전 불꽃을 제공하여 볼이 형성되도록 한다. 이어서, 와이어 본딩 장치는 캐필러리를 발광 칩 쪽으로 이동시킨 후, 그 캐필러리에 초음파를 제공함으로써 볼이 발광 칩에 볼 본딩되도록 한다. 마지막으로, 와이어 본딩 장치는 캐필러리를 기판 방향으로 이동시킨 후, 캐필러리에 다시 초음파를 제공함으써 그 와이어의 타단이 기판에 스티치 본딩되도록 한다. 이때, 와이어의 스티치 본딩 후에는 기판으로부터 와이어를 끊고, 다시 상기와 같은 일련의 과정을 반복 수행하게 된다.In this wire bonding apparatus, a tube-shaped capillary is mounted to handle fine wires. One end of the wire is ball-bonded to the light emitting chip by the capillary, and the other end of the wire is stitch bonded to the substrate. That is, the wire bonding apparatus first provides a discharge flame to a wire extending a predetermined length to the lower end of the capillary so that a ball is formed. Then, the wire bonding apparatus moves the capillary toward the light emitting chip, and then supplies ultrasonic waves to the capillary so that the ball is ball-bonded to the light emitting chip. Finally, the wire bonding apparatus moves the capillary toward the substrate, and then provides ultrasonic waves to the capillary so that the other end of the wire is stitch bonded to the substrate. At this time, after the stitch bonding of the wire, the wire is disconnected from the substrate, and the above-described series of steps is repeated.
그러나, 이러한 캐필러리, 특히 캐필러리 단부에는 각종 가혹한 환경이 제공된다. 즉, 캐필러리의 단부에는 방전 불꽃이 인가되기도 하고, 와이어의 용융된 부분이 접촉되기도 한다.However, such a capillary, especially at the capillary end, is provided with various harsh environments. That is, a discharge flame is applied to the end portion of the capillary, and the molten portion of the wire is also contacted.
또한, 상기 캐필러리가 발광 칩이나 기판에 접촉될 때에는 캐필러리의 단부에 초음파 에너지가 집중되기 때문에 그 가혹한 정도가 더욱 심각해진다. 이러한 이유로, 와이어 본딩이 장시간 동안 수행할수록 캐필러리 단부에는 각종 이물질이 축적된다. 이러한 캐필러리 단부에는 방전 불꽃에 의해 분해된 캐필러리 자체의 파티클, 와이어, 발광 칩 및 기판에 의한 각종 금속 이물질이 지속적으로 부착되어 축적된다.Further, when the capillary is brought into contact with the light emitting chip or the substrate, since the ultrasound energy is concentrated on the end portion of the capillary, the severity becomes more serious. For this reason, as the wire bonding is performed for a long time, various foreign substances accumulate on the end of the capillary. At the end of the capillary, the particles, the wire, the light emitting chip of the capillary itself decomposed by the discharge flame, and various metallic foreign substances by the substrate are continuously attached and accumulated.
이와 같이, 캐필러리 단부에 각종 금속 이물질이 축적될 경우, 캐필러리 단부의 모양이 일정치 않기 때문에 와이어 본딩시 본딩 발생율이 높아지는 요인으로 작용한다.As described above, when various metal foreign substances are accumulated on the end of the capillary, the shape of the end of the capillary is not constant, which causes a high rate of occurrence of bonding at the time of wire bonding.
종래에는 캐필러리를 소정 화공 약품으로 처리함으로써, 캐필러리로부터 각종 금속 이물질이 제거되도록 하였으나, 이러한 화공 약품은 캐필러리를 손상시킬 수 있기 때문에, 화공 약품 처리를 실시한 후에는 캐필러리에 대하여 필수적으로 육안 검사를 하여야 한다. 그러나, 이러한 캐필러리의 화공 약품 처리는 그 시간이 매우 오래 걸릴 뿐만 아니라 경우에 따라서는 캐필러리 자체가 파손되는 문제가 있었다.Conventionally, various kinds of metal foreign substances are removed from the capillary by treating the capillary with a predetermined chemical agent. However, since such chemical agents can damage the capillary, after the chemical agent treatment is performed, Essential visual inspection is required. However, the treatment of the chemical agent of such a capillary takes a very long time, and in some cases, the capillary itself is damaged.
이러한 문제로 인해, 일정 시간 동안 캐필러리를 사용한 이후에는 화공 약품 처리를 하지 않는 대신 캐필러리 자체를 교체하고 있으나, 이 경우 캐필러리를 교체하는 데 장 시간이 소요될 뿐만 아니라 새로운 캐필러리의 장착으로 작동 설정을 다시 실행해야 하는 이유 등으로 인해 공정 수율이 저하되는 문제가 있었다.Because of this problem, after using the capillary for a certain period of time, the capillary itself is being replaced instead of being treated with the chemical agent, but in this case, it takes a long time to replace the capillary, There is a problem that the process yield is lowered due to reasons such as the operation setting being required to be executed again.
관련 선행 문헌으로는 대한민국 공개특허공보 제10-2010-0043410호(2010.04.29 공고)가 있으며, 상기 문헌에는 캐필러리 및 이를 포함하는 와이어 본딩 장치가 개시되어 있다.
A related prior art is Korean Patent Publication No. 10-2010-0043410 (published on Apr. 29, 2010), which discloses a capillary and a wire bonding apparatus including the capillary.
본 발명의 목적은 장 시간 동안 와이어 본딩을 수행하는 과정에서 불가피하게 캐필러리 단부에 부착되는 각종 금속 이물질을 세정 시트를 이용하여 캐필러리의 손상 없이 효과적으로 제거할 수 있는 진동을 발생시키는 와이어 본딩 장치용 세정 키트, 이를 포함하는 와이어 본딩 장치 및 이를 이용한 캐필러리 세정 방법을 제공하는 것이다.
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a wire bonding apparatus and a wire bonding method for generating vibrations that can inevitably remove various metallic foreign substances adhering to the ends of a capillary during long- A wire bonding apparatus including the same, and a capillary cleaning method using the same.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트는 와이어 본딩 대상물을 고정시키며, 홀을 구비하는 윈도우 클램프에 고정식으로 장착되어 사용되거나, 또는 탈부착 형태로 사용되는 세정 키트로써, 상기 윈도우 클램프 상에 안착되는 진동 발생 플레이트; 및 상기 진동 발생 플레이트 상에 부착되어, 상기 진동 발생 플레이트와 연동하는 연마 시트;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
According to an aspect of the present invention, there is provided a cleaning kit for a wire bonding apparatus, which fixes a wire bonding object, is fixedly mounted on a window clamp having a hole, or used in a detachable form. A vibration generating plate that is seated on the window clamp; And a polishing sheet attached to the vibration generating plate and interlocking with the vibration generating plate.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치는 와이어가 통과하는 캐필러리; 상기 캐필러리를 고정시키며, 상기 캐필러리의 상하 및 좌우 왕복 운동을 제어하는 본딩 암; 상기 캐필러리 및 본딩 암의 하부에 장착되는 히터 블록; 상기 히터 블록 상에 배치되어 와이어 본딩 대상물을 고정시키며, 복수의 홀을 구비하는 윈도우 클램프; 및 상기 윈도우 클램프 상에 안착되는 진동 발생 플레이트와, 상기 진동 발생 플레이트 상에 부착되어, 상기 진동 발생 플레이트와 연동하는 연마 시트를 갖는 세정 키트;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
According to an aspect of the present invention, there is provided a wire bonding apparatus comprising: a capillary through which a wire passes; A bonding arm that fixes the capillary and controls up and down and left and right reciprocating movements of the capillary; A heater block mounted on a lower portion of the capillary and the bonding arm; A window clamp disposed on the heater block to fix a wire bonding object and having a plurality of holes; And a cleaning kit having a vibration generating plate mounted on the window clamp and a polishing sheet attached on the vibration generating plate and interlocking with the vibration generating plate.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리의 세정 방법은 (a) 본딩 대상물에 대하여 설정 시간 동안 와이어 본딩이 수행된 캐필러리의 단부를 세정 키트 상부에 부착시키는 단계; (b) 상기 세정 키트의 연마 시트와 연동하는 진동 발생 플레이트를 구동시켜 상기 캐필러리의 단부를 연마하는 단계; 및 (c) 상기 연마가 완료된 캐필러리를 와이어 본딩 대상물의 상부로 정렬하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
According to another aspect of the present invention, there is provided a method of cleaning a capillary using a wire bonding apparatus, the method comprising the steps of: (a) attaching an end of a capillary to a bonding object, step; (b) driving a vibration generating plate interlocked with a polishing sheet of the cleaning kit to polish the end of the capillary; And (c) aligning the polished capillary to an upper portion of the wire bonding object.
본 발명에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트는 진동을 발생시키는 진동 플레이트와 연동하는 연마 시트 상부에 캐필러리를 고정되도록 부착한 상태에서 물리적인 세정이 이루어지도록 함으로써, 캐필러리의 손상 없이 캐필러리 단부에 부착되는 금속 이물질을 효과적으로 제거할 수 있다. 이 결과, 본 발명에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트는 캐필러리의 교체 주기를 2.5배 이상 연장시켜 공정 손실을 획기적으로 줄임으로써, 캐필러리 교체 비용 절감 효과를 기대할 수 있다. 현재 캐필러리의 교체 주기는 개당 80만 타 전후이나, 본 발명에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트를 이용하여 캐필러리를 세정할 경우, 200만 타 이상까지 연장시킬 수 있는 이점이 있다.The cleaning kit for a wire bonding apparatus according to the present invention is physically cleaned in a state where the capillary is fixed to the upper portion of the polishing sheet interlocked with the vibration plate for generating vibration, It is possible to effectively remove the metal foreign matter adhering to the end portion. As a result, the cleaning kit for a wire bonding apparatus according to the present invention can prolong the replacement cycle of the capillary by 2.5 times or more to drastically reduce the process loss, thereby reducing the capillary replacement cost. Currently, the replacement period of the capillary is about 800,000 rpm, but when the capillary is cleaned using the cleaning kit for a wire bonding device according to the present invention, it can be extended to 2,000,000 rats or more.
또한, 본 발명에 따른 와이어 본딩 장치는 진동 발생 플레이트와 연마 시트를 포함하는 세정 키트를 구비함으로써, 설정된 시간 동안 와이어 본딩을 수행한 후, 캐필러리 단부에 부착되는 금속 이물질에 의한 와이어 본딩 불량을 미연에 방지할 수 있다.Further, the wire bonding apparatus according to the present invention includes a cleaning kit including a vibration generating plate and a polishing sheet, thereby performing wire bonding for a predetermined period of time. Thereafter, the wire bonding failure due to a metal foreign substance adhering to the capillary end It can be prevented in advance.
또한, 본 발명에 따른 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리 세정 방법은 화공 약품 처리를 하지 않을 뿐만 아니라 캐필러리 자체를 교체하는 것 없이 진동을 발생시키는 세정 키트를 이용한 물리적인 세정으로 캐필러리 단부에 부착된 금속 이물질을 제거하기 때문에 캐필러리 자체를 교체하는 데 따른 비용 손실이 없으며, 작동 설정을 다시 실행할 필요가 없으므로 공정 수율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.
In addition, the capillary cleaning method using the wire bonding apparatus according to the present invention does not require a chemical agent treatment but also physical cleaning using a cleaning kit that generates vibration without replacing the capillary itself, There is no loss in cost due to the replacement of the capillary itself and there is an advantage in that the process yield can be improved since it is not necessary to perform the operation setting again.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트를 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 도 1의 윈도우 클램프를 나타낸 사시도이다.
도 3는 도 1의 진동 발생 플레이트를 확대하여 나타낸 분해 사시도이다.
도 4는 세정 키트를 이용한 세정 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 도 5의 Ⅵ-Ⅵ'선을 따라 절단하여 나타낸 단면도이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치를 나타낸 사시도이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리 세정 방법을 나타낸 공정 순서도이다.
도 10은 와이어 본딩 장치의 캐필러리 단부를 세정하기 전의 상태를 나타낸 사진이다.
도 11은 와이어 본딩 장치의 캐필러리 단부를 세정한 후의 상태를 나타낸 사진이다.1 is a view for explaining a cleaning kit for a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2 is a perspective view showing the window clamp of Fig. 1;
3 is an exploded perspective view showing the vibration generating plate of FIG. 1 in an enlarged manner.
4 is a view for explaining a cleaning method using a cleaning kit.
5 is a view for explaining a cleaning kit for a wire bonding apparatus according to another embodiment of the present invention.
6 is a cross-sectional view taken along the line VI-VI 'of FIG.
7 is a view for explaining a cleaning kit for a wire bonding apparatus according to another embodiment of the present invention.
8 is a perspective view illustrating a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a flowchart showing a capillary cleaning method using a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.
10 is a photograph showing a state before the end of the capillary of the wire bonding apparatus is cleaned.
11 is a photograph showing the state after the end of the capillary of the wire bonding apparatus is cleaned.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention, and how to accomplish them, will become apparent by reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but may be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. Is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트, 이를 포함하는 와이어 본딩 장치 및 이를 이용한 캐필러리 세정 방법에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
Hereinafter, a cleaning kit for a wire bonding apparatus, a wire bonding apparatus including the same, and a capillary cleaning method using the same will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트를 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 도 1의 윈도우 클램프를 나타낸 사시도이다. 이때, 도 1에서는 윈도우 클램프의 복수의 홀과 대응되는 위치에 세정 키트를 장착한 상태를 나타낸 것이다.FIG. 1 is a view for explaining a cleaning kit for a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view showing the window clamp of FIG. 1 shows a state in which the cleaning kit is mounted at a position corresponding to a plurality of holes of the window clamp.
도 1 및 도 2를 참조하면, 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 윈도우 세정 키트(100)는 와이어 본딩 대상물(미도시)을 고정시키며, 복수의 홀(H)을 구비하는 윈도우 클램프(10)에 장착되어 사용된다.Referring to FIGS. 1 and 2, a
이때, 도면으로 도시하지는 않았지만, 와이어 본딩 대상물은 발광 칩이 부착된 기판일 수 있다. 이러한 기판과 발광 칩 상호 간은 금속 와이어를 이용한 와이어 본딩으로 상호 전기적인 연결이 이루어지도록 하기 위해 와이어 본딩 장치로 이송하게 된다.At this time, although not shown in the drawings, the wire bonding object may be a substrate having a light emitting chip attached thereto. The substrate and the light emitting chips are transferred to the wire bonding device in order to make mutual electrical connection by wire bonding using a metal wire.
이때, 윈도우 클램프(10)는 와이어 본딩을 수행하기 위해 기판 상에 부착된 발광 칩을 노출시키는 복수의 홀(H)을 구비하며, 이러한 복수의 홀(H)은 중앙 부분에 배치된다. 그리고, 윈도우 클램프(10)는 양측 가장자리 부분이 상측으로 절곡되어 중앙 부분에 비하여 상대적으로 높은 위치에 배치된다.
At this time, the
전술한 본 발명의 일 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 윈도우 세정 키트(100)는 진동 발생 플레이트(120) 및 연마 시트(140)를 포함한다.The
상기 진동 발생 플레이트(120)는 윈도우 클램프(10) 상에 안착된다. 이러한 진동 발생 플레이트(120)는 평면 상으로 볼 때, 직사각형 형상으로 설계될 수 있으나, 반드시 이에 제한되는 것은 아니며, 원형, 삼각형, 오각형 등 다양한 형태로 설계 변경하는 것도 무방하다.
The
이때, 도 3은 도 1의 진동 발생 플레이트를 확대하여 나타낸 분해 사시도로, 이를 참조하여 보다 구체적으로 설명하도록 한다.3 is an exploded perspective view of the vibration generating plate of FIG. 1 in an enlarged manner, and will be described in more detail with reference to FIG.
도 3을 참조하면, 진동 발생 플레이트(120)는 케이스(122), 전자기력 생성자(124), 진동자(126) 및 진동 전달판(128)을 포함한다.3, the
상기 케이스(122)는 상측이 개방되는 박스 형상을 갖는다. 이러한 케이스(122)는 후술할 전자기력 생성자(124) 및 진동자(126)를 외부로부터의 물리적인 충격으로부터 보호하는 역할을 한다. 이때, 케이스(122)는 8 ~ 12mm의 두께를 갖도록 설계하는 것이 바람직하다. 케이스(122)의 두께가 8mm 미만일 경우에는 그 두께가 너무 얇은 관계로 외부 충격으로부터 전자기력 생성자 및 진동자를 보호하는 데 어려움이 따를 수 있다. 반대로, 케이스(122)의 두께가 12mm를 초과할 경우에는 가공성이 용이하지 않을 뿐만 아니라, 두께 증가로 인한 무게의 증가로 진동 효율을 저하시킬 우려가 있다.The
상기 전자기력 생성자(124)는 케이스(122)의 내부에 삽입되며, 도시하지 않은 구동 제어부로부터 전원을 공급받아 전자기력을 생성한다. 이때, 도면으로 도시하지는 않았지만, 전자기력 생성자(124)는 전원을 공급받아 전류가 흐르는 코일(미도시)과, 상기 전류와 상호 작용하여 인력 또는 척력을 생성하는 자성체(미도시)를 포함할 수 있다.The
상기 진동자(126)는 전자기력을 작용받아 진동한다. 이때, 전자기력 생성자(124) 및 진동자(126)는 각각 4 ~ 7mm의 두께를 갖도록 설계하는 것이 바람직하다. 전자기력 생성자(124) 및 진동자(126)의 두께가 4mm 미만일 경우에는 캐필러리의 단부를 효율적으로 세정하는데 필요한 진동량을 생성하는 데 어려움이 따를 수 있다. 반대로, 전자기력 생성자(124) 및 진동자(126)의 두께가 7mm를 초과할 경우에는 진동 발생 플레이트 전체 부피를 증가시키는 요인으로 작용하여 장착 면적을 확보하는데 어려움이 따를 수 있다.The
상기 진동 전달판(128)은 케이스(122)의 상측을 덮으며, 상기 진동자(126)로부터의 진동을 외부로 전달하는 역할을 한다. 이러한 진동 전달판(128)은 강성이 있는 물질이나 탄성이 있는 물질 등으로 형성될 수 있다. 진동 전달판(128)의 재질로는 SUS(stainless steel), 티타늄(Ti) 등이 이용될 수 있다. 이때, 진동 전달판(128)은 1 ~ 3mm의 두께로 형성하는 것이 바람직하다. 진동 전달판(128)의 두께가 1mm 미만일 경우에는 충분한 강성을 확보하는 데 어려움이 따를 수 있다. 반대로, 진동 전달판(128)의 두께가 3mm를 초과할 경우에는 강성 확보에는 유리하나, 진동 전달 효율이 급격히 저하되는 문제가 있다.
The
전술한 진동 발생 플레이트(120)는 전자기력 생성자(124), 구체적으로는 구동 제어부로부터 전자기력 생성자(124)의 코일에 구동 전원을 인가하면, 상기 코일을 따라 흐르는 전류의 방향에 따라 자속이 생성된다. 이와 같이 생성된 자속은 자성체(126)와 상호 작용을 통해 전자기력을 생성한다. 이 결과, 전자기력 생성자(124)로부터 생성된 전자기력을 작용받아 진동자(126)를 진동시키게 되면, 진동 전달판(126)이 이를 전달받아 진동하게 된다.
When the driving power is applied to the coil of the
한편, 도면으로 도시하지는 않았지만, 본 발명에 따른 진동 발생 플레이트(120)는 상측이 개방되는 케이스(122)와, 상기 케이스(122)의 내부에 삽입되며, 전원을 공급받아 초음파 진동을 발생시키는 초음파 진동 소자(미도시)와, 상기 케이스의 상측을 덮으며, 상기 초음파 진동 소자의 진동을 외부로 전달하는 진동 전달판(128)을 포함할 수도 있다.
Although not shown in the drawings, the
도 4는 세정 키트를 이용한 세정 방법을 설명하기 위한 도면으로, 보다 구체적으로는 연마 시트를 이용하여 캐필러리 단부를 세정하는 과정을 나타낸 것이다.FIG. 4 is a view for explaining a cleaning method using a cleaning kit. More specifically, FIG. 4 shows a process of cleaning a capillary end using a polishing sheet.
도 4를 참조하면, 연마 시트(140)는 진동 발생 플레이트(120) 상에 부착되어, 상기 진동 발생 플레이트(120)와 연동한다. 이러한 연마 시트(140)는 기재 필름(142)과, 상기 기재 필름(142) 내에 삽입된 연마 입자(144)을 포함한다. 이때, 연마 입자(144)는 SiC, Al2O3, Cr2O3, Fe2O3, ZrO2, CeO2, SiO2, BaCO3 등에서 선택된 1종 이상일 수 있다.Referring to FIG. 4, a polishing
상기 연마 입자(144)는 5 ~ 10㎛의 직경을 가질 수 있으며, 보다 바람직하게는 2 ~ 4㎛의 직경을 갖는 것이 바람직하며, 가장 바람직하게는 2.5 ~ 3.5㎛를 제시할 수 있다. 이는 캐필러리(50) 단부에 축적된 본딩 이물질(30)을 용이하게 제거함과 더불어 캐필러리(50) 단부가 손상되는 것을 방지하기 위함이다. 즉, 연마 입자(144)의 직경이 5㎛ 미만일 경우에는 캐필러리(50) 단부에 부착된 본딩 이물질(30)을 효과적으로 제거하는 데 어려움이 따를 수 있다. 반대로, 연마 입자(144)의 직경이 10㎛를 초과할 경우에는 캐필러리(50) 단부가 손상될 우려가 있다.
The
이때, 상기 와이어 본딩 장치용 윈도우 세정 키트(100)는 윈도우 클램프(10)의 복수의 홀(H)과 대응되는 위치에서 탈부착되는 형태로 장착된다. 즉, 상기 세정 키트(100)는 설정된 시간 동안 캐필러리(50)를 이용하여 와이어 본딩을 수행하게 되면, 캐필러리(50)의 단부에 불가피하게 부착되는 본딩 이물질(30)을 제거하기 위한 목적으로, 캐필러리(50)를 복수의 홀(H)과 이격된 상측 방향으로 위치 이동시킨 상태에서 복수의 홀(H)과 대응되는 위치에 탑재하는 형태로 부착시키게 된다. 이후, 캐필러리(50)를 하강시켜 세정 키트(100)의 연마 시트(140)의 상측 표면에 부착한 상태에서 세정 키트(100)의 진동 발생 플레이트(120)를 이용하여 캐필러리(50)의 단부를 물리적인 마찰 방식으로 세정을 실시하게 된다. 이러한 세정 키트(100)는 세정이 완료된 이후에는 윈도우 클램프(10)에서 탈착시키게 된다.
At this time, the
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트를 설명하기 위한 도면이고, 도 6은 도 5의 Ⅵ-Ⅵ'선을 따라 절단하여 나타낸 단면도이다. 이때, 본 발명의 다른 실시예에서는 일 실시예와 동일한 명칭에 대해서는 동일한 도면 번호를 부여하도록 한다.FIG. 5 is a view for explaining a cleaning kit for a wire bonding apparatus according to another embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line VI-VI 'of FIG. Here, in the other embodiments of the present invention, the same reference numerals are given to the same names as in the embodiment.
도 5 및 도 6을 참조하면, 도시된 본 발명의 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트(100)는 도 1 및 도 2에서 도시하고 설명한 일 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트(도 1의 100)와 실질적으로 동일할 수 있다.5 and 6, a
다만, 본 발명의 일 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트는 탈부착 형태로 윈도우 클램프(10)에 장착되는 데 반해, 본 발명의 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트(100)는 윈도우 클램프(10)에 고정되는 형태로 장착하는 점에서 차이를 보인다. 즉, 도면으로 도시하지는 않았지만, 세정 키트(100)는 윈도우 클램프(10) 상에 접착제(미도시)를 이용한 접합 방식, 나사를 이용한 나사 체결 방식(미도시) 등에 의해 결합되어 고정되는 형태로 장착될 수 있다.However, the cleaning kit for a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention is mounted on a
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트(100)는 윈도우 클램프(10)의 일측 가장자리에 부착되거나, 또는 양측 가장자리에 각각 부착될 수 있다. 따라서, 상기 세정 키트(100)는 윈도우 클램프(10)의 복수의 홀(H) 주변에 장착된다.Further, the
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트(100)는 충격 흡수층(160)을 더 포함할 수 있다. 이러한 충격 흡수층(160)은 진동 발생 플레이트(120)의 하부에 부착되어 윈도우 클램프(10)와의 물리적인 충격을 방지하는 역할을 한다. 이러한 충격 흡수층(160)은 폴리우레탄, 탄성고무, 실리콘, 스펀지, 스티로폼 등에서 선택된 하나의 재질로 형성하는 것이 바람직하다.In addition, the
이러한 충격 흡수층(160)은 10 ~ 50mm의 두께로 형성하는 것이 바람직하다. 충격 흡수층(160)의 두께가 10mm 미만일 경우에는 충격 흡수 기능을 제대로 발휘하는 데 어려움이 따를 수 있다. 반대로, 충격 흡수층(160)의 두께가 50mm를 초과할 경우에는 더 이상의 효과 상승 없이 제조 비용만을 상승시킬 우려가 있는바, 경제적이지 못하다.
The
한편, 도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트를 설명하기 위한 도면이다. 이때, 본 발명의 또 다른 실시에에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트는 일 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트와 실질적으로 동일한 바, 중복 설명은 생략하고 차이점 위주로 설명하도록 한다.7 is a view for explaining a cleaning kit for a wire bonding apparatus according to another embodiment of the present invention. The cleaning kit for a wire bonding apparatus according to another embodiment of the present invention is substantially the same as the cleaning kit for a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention, and a description thereof will be omitted.
도 7을 참조하면, 도시된 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 와이어 본딩 장치용 세정 키트(100)는 진동 전달판(128), 케이스(122), 전자기력 생성자(124), 진동자(126) 및 진동 연결배선(129)을 포함한다.7, a
상기 진동 전달판(128)은 윈도우 클램프(10) 상에 안착되며, 진동자(126)로부터의 진동을 진동 연결배선(129)으로부터 전달받는다. 이때, 진동 전달판(128)은 강성이 있는 물질이나 탄성이 있는 물질 등으로 형성될 수 있다. 진동 전달판(128)의 재질로는 SUS(stainless steel), 티타늄(Ti) 등이 이용될 수 있다.The
상기 케이스(122)는 윈도우 클램프(122)와 이격된 일측에 장착되며, 박스 형상을 가질 수 있다.The
상기 전자기력 생성자(124)는 케이스(122) 내부에 삽입되며, 도시하지 않은 구동 제어부로부터 전원을 공급받아 전자기력을 생성한다. 그리고, 진동자(126)는 전자기력을 작용받아 진동한다.The
상기 진동 연결배선(129)은 진동자(126)로부터의 진동을 진동 전달판(128)에 전달하는 역할을 한다.The
전술한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 진동 발생 플레이트는 진동 전달판만을 윈도우 클램프 상에 안착하고, 이를 제외한 구성 요소들은 윈도우 클램프와 이격된 일측에 장착하기 때문에 일 실시예에 비하여 공간 활용면에서 보다 우수한 측면이 있다.
The vibration generating plate according to another embodiment of the present invention seats only the vibration transmitting plate on the window clamp and the components other than the vibration transmitting plate are mounted on the side separated from the window clamp, There is a better aspect.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치를 나타낸 사시도이다.8 is a perspective view illustrating a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 8을 참조하면, 도시된 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치(200)는 캐필러리(50), 본딩 암(60), 히터 블록(80), 윈도우 클램프(10) 및 세정 키트(100)를 포함한다.
8, a
캐필러리(50)는 와이어(52)가 통과한다. 이때, 도면으로 도시하지는 않았지만, 와이어(52)는 스풀(미도시)에 감겨 있을 수 있다.The capillary 50 passes through the
본딩 암(60)은 캐필러리(50)를 고정시키며, 캐필러리(50)의 상하 및 좌우 왕복 운동을 제어하는 역할을 한다.The
히터 블록(80)은 캐필러리(50) 및 본딩 암(60)의 하부에 장착된다.The
윈도우 클램프(10)는 히터 블록(80) 상에 배치되어 와이어 본딩 대상물을 고정시키며, 복수의 홀(H)을 구비한다.The
세정 키트(100)는 윈도우 클램프(10) 상에 안착되는 진동 발생 플레이트(120)와, 상기 진동 발생 플레이트(120) 상에 부착되어, 진동 발생 플레이트(120)와 연동하는 연마 시트(140)를 포함한다.The
이때, 세정 시트(100)는 윈도우 클램프(10)와 이격된 일측에 배치시킨 상태에서 캐필러리(50)의 단부를 세정하고자 할 경우에는 윈도우 클램프(10)에 부착시키고, 캐필러리(50)의 단부에 대한 세정을 완료한 후에는 윈도우 클램프(10)로부터 탈착시키는 방식으로 사용될 수 있다. 이와 달리, 세정 시트(100)는 윈도우 클램프(10)의 일측에 고정되는 형태로 부착되거나, 또는 양측에 각각 고정되는 형태로 부착되어 있을 수 있다. 이때, 와이어 본딩 장치(200)는 설정 시간 동안 와이어 본딩을 수행한 후, 캐필러리(50)의 단부를 세정할 시에는 본딩 암(60)을 이용하여 캐필러리(50)를 윈도우 클램프(10)의 일측 가장자리에 부착된 세정 시트(100) 상부로 이송하여 세정을 완료한 후, 와이어 본딩 위치로 복귀하는 방식으로 세정 및 와이어 본딩을 반복적으로 실시하게 된다.
The
또한, 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치(200)는 윈도우 클램프 집게(70)를 더 포함할 수 있다.In addition, the
상기 윈도우 클램프 집게(70)는 윈도우 클램프(10)의 양측 가장자리에 각각 장착되어, 상기 윈도우 클램프(10)의 유동을 방지하는 역할을 한다.
The window clamps 70 are mounted on both side edges of the
전술한 본 발명의 실시예에 따른 세정 키트를 포함하는 와이어 본딩 장치는 자체 진동하는 세정 시트를 윈도우 클램프에 장착함으로써, 캐필러리의 단부를 효과적으로 세정하는 것이 가능해질 수 있을 뿐만 아니라, 캐필러리를 교체하는 데 따른 시간, 비용 등을 절감할 수 있는 이점이 있다.
The wire bonding apparatus including the cleaning kit according to the above-described embodiment of the present invention can effectively clean the end portion of the capillary by mounting the self-oscillating cleaning sheet on the window clamp, There is an advantage in that it is possible to reduce time and cost for replacement.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리 세정 방법에 대하여 설명하도록 한다.Hereinafter, a capillary cleaning method using a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리 세정 방법을 나타낸 공정 순서도이다.FIG. 9 is a flowchart showing a capillary cleaning method using a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 9를 참조하면, 도시된 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리 세정 방법은 세정 키트 상에 캐필러리 부착 단계(S210), 캐필러리 연마 단계(S220) 및 와이어 본딩 대상물 상부로 캐필러리 정렬 단계(S230)를 포함한다.
Referring to FIG. 9, a method of cleaning a capillary using a wire bonding apparatus according to an embodiment of the present invention includes a capillary attaching step (S210), a capillary polishing step (S220), and a wire bonding And a capillary alignment step S230 on the object.
세정 washing 키트Kit 상에 On 캐필러리Capillary 부착 Attach
세정 키트 상에 캐필러리 부착 단계(S210)에서는 본딩 대상물에 대하여 설정 시간 동안 와이어 본딩이 수행된 캐필러리의 단부를 세정 키트 상부에 부착시킨다. 이때, 설정 시간은 와이어 본딩을 수행한 시간으로 정의할 수 있으며, 일 예로 12 ~ 20시간 일 수 있으나, 반드시 이에 제한되는 것은 아니다.
In the capillary attaching step (S210) on the cleaning kit, the end of the capillary, to which the wire bonding is performed, is attached to the upper portion of the cleaning kit with respect to the object to be bonded. At this time, the set time can be defined as the time when the wire bonding is performed. For example, the set time may be 12 to 20 hours, but is not limited thereto.
캐필러리 연마Capillary polishing
캐필러리 연마 단계(S220)에서는 세정 키트의 연마 시트와 연동하는 진동 발생 플레이트를 구동시켜 캐필러리의 단부를 연마한다. 본 단계시, 캐필러리는 고정시키고, 진동 발생 플레이트와 연동하는 연마 시트를 진동시키는 방식으로 실시하는 것이 바람직하다.In the capillary polishing step (S220), the end of the capillary is polished by driving the vibration generating plate interlocked with the polishing sheet of the cleaning kit. In this step, it is preferable that the capillary is fixed and the polishing sheet interlocked with the vibration generating plate is vibrated.
본 발명의 경우, 캐필러리를 고정시킨 상태에서 진동 발생 플레이트를 구동시키기 때문에 이와 연동하는 연마 시트에 진동이 전달되어 캐필러리의 단부를 직접적인 접촉식으로 연마를 수행할 수 있으므로 캐필러리 단부에 부착된 금속 이물질이 보다 효과적으로 제거될 수 있다. 이때, 진동 발생 플레이트의 진동 세기를 조절함으로써 캐필러리와 연마 시트 간의 마찰이 제어될 수 있다.
In the case of the present invention, since the vibration generating plate is driven in a state in which the capillary is fixed, vibration can be transmitted to the polishing sheet interlocked with the capillary so that the end portion of the capillary can be directly polished. The attached metal foreign matter can be removed more effectively. At this time, friction between the capillary and the polishing sheet can be controlled by adjusting the vibration intensity of the vibration generating plate.
와이어 본딩 대상물 상부로 캐필러리 정렬Capillary alignment above wire bond object
와이어 본딩 대상물 상부로 캐필러리 정렬 단계(S230)에서는 연마가 완료된 캐필러리를 와이어 본딩 대상물의 상부로 정렬한다. 이때, 캐필러리의 단부는 상술한 캐필러리 연마 단계(S220)를 수행한 상태이므로 바로 와이어 본딩을 수행하는 것이 가능해질 수 있다.In the capillary aligning step S230 above the wire bonding object, the capillary having been polished is aligned with the upper portion of the wire bonding object. At this time, since the end of the capillary is in the state of performing the above-described capillary polishing step (S220), wire bonding can be performed immediately.
이때, 도 10은 와이어 본딩 장치의 캐필러리 단부를 세정하기 전의 상태를 나타낸 사진이고, 도 11은 와이어 본딩 장치의 캐필러리 단부를 세정한 후의 상태를 나타낸 사진이다.10 is a photograph showing a state before cleaning the capillary end of the wire bonding apparatus, and Fig. 11 is a photograph showing a state after cleaning the capillary end of the wire bonding apparatus.
먼저, 도 10에 도시된 바와 같이, 캐필러리의 단부 주변에 본딩 이물질이 부착되어 있는 것을 확인할 수 있다.First, as shown in FIG. 10, it can be confirmed that a bonding foreign matter adheres to the periphery of the end portion of the capillary.
도 11에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리 세정 방법을 이용하여 캐필러리의 단부를 세정한 이후에는 본딩 이물질이 거의 모두 제거된 것을 확인할 수 있다.
As shown in FIG. 11, after the end of the capillary is cleaned using the capillary cleaning method using the wire bonding apparatus according to the embodiment of the present invention, it can be seen that almost all the bonded foreign substances are removed.
이상에서는 본 발명의 실시예를 중심으로 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 기술자의 수준에서 다양한 변경이나 변형을 가할 수 있다. 이러한 변경과 변형은 본 발명이 제공하는 기술 사상의 범위를 벗어나지 않는 한 본 발명에 속한다고 할 수 있다. 따라서 본 발명의 권리범위는 이하에 기재되는 청구범위에 의해 판단되어야 할 것이다.
Although the preferred embodiments of the present invention have been disclosed for illustrative purposes, those skilled in the art will appreciate that various modifications, additions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention as disclosed in the accompanying claims. These changes and modifications may be made without departing from the scope of the present invention. Accordingly, the scope of the present invention should be determined by the following claims.
100 : 세정 키트 120 : 진동 발생 플레이트
122 : 케이스 124 : 전자기력 생성자
126 : 진동자 128 : 진동 전달판
129 : 진동 연결배선 140 : 연마 시트
142 : 기재 필름 144 : 연마 입자
160 : 충격 흡수층
200 : 와이어 본딩 장치 10 : 윈도우 클램프
30 : 금속 이물질 50 : 캐필러리
52 : 와이어 60 : 본딩 암
70 : 윈도우 클램프 집게 80 : 히터 블록
S210 : 세정 키트 상에 캐필러리 부착 단계
S220 : 캐필러리 연마 단계
S230 : 와이어 본딩 대상물 상부로 캐필러리 정렬 단계100: cleaning kit 120: vibration generating plate
122: Case 124: Electromagnetic force generator
126: oscillator 128: oscillation transmitting plate
129: Vibration connection wiring 140: Polishing sheet
142: base film 144: abrasive grains
160: shock absorbing layer
200: wire bonding device 10: window clamp
30: metal foreign substance 50: capillary
52: wire 60: bonding arm
70: window clamp clamp 80: heater block
S210: Step of attaching the capillary on the cleaning kit
S220: Capillary polishing step
S230: capillary alignment step to the top of the wire bonding object
Claims (16)
상기 윈도우 클램프 상에 안착되는 진동 발생 플레이트; 및
상기 진동 발생 플레이트 상에 부착되어, 상기 진동 발생 플레이트와 연동하는 연마 시트;를 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
A cleaning kit for fixing a wire bonding object, fixedly mounted on a window clamp having a hole, or used in a detachable form,
A vibration generating plate mounted on the window clamp; And
And a polishing sheet attached on the vibration generating plate and interlocking with the vibration generating plate.
상기 세정 키트는
상기 윈도우 클램프의 일측 가장자리에 부착되거나, 또는 양측 가장자리에 각각 부착되는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
The method according to claim 1,
The cleaning kit
Wherein the fixing member is attached to one side edge of the window clamp or is attached to both side edges of the window clamp.
상기 진동 발생 플레이트는
상측이 개방되는 케이스와,
상기 케이스의 내부에 삽입되며, 전원을 공급받아 전자기력을 생성하는 전자기력 생성자와,
상기 전자기력을 작용받아 진동하는 진동자와,
상기 케이스의 상측을 덮으며, 상기 진동자로부터의 진동을 외부로 전달하는 진동 전달판을 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
The method according to claim 1,
The vibration generating plate
A case in which an upper side is opened,
An electromagnetic force generator inserted in the case and generating an electromagnetic force by receiving power,
A vibrator that vibrates under the action of the electromagnetic force,
And a vibration transmitting plate covering the upper side of the case and transmitting the vibration from the vibrator to the outside.
상기 전자기력 생성자는
상기 전원을 공급받아 전류가 흐르는 코일과,
상기 전류와 상호 작용하여 인력 또는 척력을 생성하는 자성체를 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
The method of claim 3,
The electromagnetic force generator
A coil through which a current flows,
And a magnetic body that interacts with the current to generate an attractive force or a repulsive force.
상기 진동 발생 플레이트는
상기 윈도우 클램프 상에 안착되는 진동 전달판과,
상기 윈도우 클램프와 이격된 일측에 장착되며, 박스 형상을 갖는 케이스와,
상기 케이스 내부에 삽입되며, 전원을 공급받아 전자기력을 생성하는 전자기력 생성자와,
상기 전자기력을 작용받아 진동하는 진동자와,
상기 진동자로부터의 진동을 상기 진동 전달판에 전달하는 진동 연결배선을 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
The method according to claim 1,
The vibration generating plate
A vibration transmission plate seated on the window clamp,
A case having a box shape and mounted on a side away from the window clamp,
An electromagnetic force generator inserted in the case and generating an electromagnetic force by being supplied with power;
A vibrator that vibrates under the action of the electromagnetic force,
And a vibration connecting wiring for transmitting vibration from the vibrator to the vibration transmitting plate.
상기 진동 발생 플레이트는
상측이 개방되는 케이스와,
상기 케이스의 내부에 삽입되며, 전원을 공급받아 초음파 진동을 발생시키는 초음파 진동 소자와,
상기 케이스의 상측을 덮으며, 상기 초음파 진동 소자의 진동을 외부로 전달하는 진동 전달판을 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
The method according to claim 1,
The vibration generating plate
A case in which an upper side is opened,
An ultrasonic vibration element inserted in the case and generating ultrasonic vibration by receiving power,
And a vibration transmitting plate covering the upper side of the case and transmitting the vibration of the ultrasonic vibration element to the outside.
상기 연마 시트는
기재 필름과,
상기 기재 필름 내에 삽입된 연마 입자를 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
The method according to claim 1,
The polishing sheet
A base film,
And abrasive grains inserted in the base film.
상기 연마 입자는
SiC, Al2O3, Cr2O3, Fe2O3, ZrO2, CeO2, SiO2 및 BaCO3 중 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
8. The method of claim 7,
The abrasive particles
Wherein at least one of SiC, Al 2 O 3 , Cr 2 O 3 , Fe 2 O 3 , ZrO 2 , CeO 2 , SiO 2 and BaCO 3 is contained.
상기 연마 입자의 직경은
5 ~ 10㎛를 갖는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
8. The method of claim 7,
The diameter of the abrasive grains
5 to 10 mu m. ≪ / RTI >
상기 세정 키트는
상기 진동 발생 플레이트 하부에 부착되어 상기 윈도우 클램프와의 물리적인 충격을 방지하는 충격 흡수층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
The method according to claim 1,
The cleaning kit
And a shock absorbing layer attached to a lower portion of the vibration generating plate to prevent a physical impact with the window clamp.
상기 충격 흡수층은
폴리우레탄, 탄성고무, 실리콘 및 스펀지 중에서 선택된 하나의 재질로 형성되며, 10 ~ 50mm의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치용 세정 키트.
11. The method of claim 10,
The impact-
Wherein the elastic member is formed of one material selected from polyurethane, elastic rubber, silicone and sponge, and has a thickness of 10 to 50 mm.
상기 캐필러리를 고정시키며, 상기 캐필러리의 상하 및 좌우 왕복 운동을 제어하는 본딩 암;
상기 캐필러리 및 본딩 암의 하부에 장착되는 히터 블록;
상기 히터 블록 상에 배치되어 와이어 본딩 대상물을 고정시키며, 복수의 홀을 구비하는 윈도우 클램프; 및
상기 윈도우 클램프 상에 안착되는 진동 발생 플레이트와, 상기 진동 발생 플레이트 상에 부착되어, 상기 진동 발생 플레이트와 연동하는 연마 시트를 갖는 세정 키트;를 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치.
A capillary through which the wire passes;
A bonding arm that fixes the capillary and controls up and down and left and right reciprocating movements of the capillary;
A heater block mounted on a lower portion of the capillary and the bonding arm;
A window clamp disposed on the heater block to fix a wire bonding object and having a plurality of holes; And
And a cleaning kit having a vibration generating plate mounted on the window clamp and a polishing sheet attached on the vibration generating plate and interlocking with the vibration generating plate.
상기 세정 키트는
상기 윈도우 클램프와 상기 진동 발생 플레이트 사이에 부착되는 충격 흡수층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치.
13. The method of claim 12,
The cleaning kit
And a shock absorbing layer attached between the window clamp and the vibration generating plate.
상기 충격 흡수층은
10 ~ 50mm의 두께를 가지며, 폴리우레탄, 탄성고무, 실리콘 및 스펀지 중에서 선택된 하나의 재질로 형성된 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치.
14. The method of claim 13,
The impact-
A thickness of 10 to 50 mm, and is formed of one material selected from polyurethane, elastic rubber, silicone, and sponge.
(a) 본딩 대상물에 대하여 설정 시간 동안 와이어 본딩이 수행된 캐필러리의 단부를 세정 키트 상부에 부착시키는 단계;
(b) 상기 세정 키트의 연마 시트와 연동하는 진동 발생 플레이트를 구동시켜 상기 캐필러리의 단부를 연마하는 단계; 및
(c) 상기 연마가 완료된 캐필러리를 와이어 본딩 대상물의 상부로 정렬하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리 세정 방법.
A capillary cleaning method using the wire bonding apparatus according to any one of claims 12 to 14,
(a) attaching an end portion of the capillary to which the wire bonding is performed to the bonding object over the cleaning kit for a set time;
(b) driving a vibration generating plate interlocked with a polishing sheet of the cleaning kit to polish the end of the capillary; And
(c) aligning the polished capillary to an upper portion of the wire bonding object. < Desc / Clms Page number 20 >
상기 (b) 단계에서,
상기 연마는
상기 캐필러리는 고정시키고, 상기 진동 발생 플레이트와 연동하는 연마 시트를 진동시키는 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장치를 이용한 캐필러리 세정 방법.16. The method of claim 15,
In the step (b)
The polishing
Wherein the capillary is fixed and the polishing sheet interlocked with the vibration generating plate is vibrated.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120133699A KR101473811B1 (en) | 2012-11-23 | 2012-11-23 | Window cleaning kit for wire bonding apparatus, wire bonding apparatus including the same and cleaning method of capillary using the same |
CN201310596850.8A CN103831676A (en) | 2012-11-23 | 2013-11-22 | Window cleaning kit for wire bonding apparatus, wire bonding apparatus including the same and cleaning method of capillary using the same |
JP2013241516A JP2014107561A (en) | 2012-11-23 | 2013-11-22 | Cleaning kit for wire bonding device, wire bonding device including the same and capillary cleaning method using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120133699A KR101473811B1 (en) | 2012-11-23 | 2012-11-23 | Window cleaning kit for wire bonding apparatus, wire bonding apparatus including the same and cleaning method of capillary using the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20140066450A true KR20140066450A (en) | 2014-06-02 |
KR101473811B1 KR101473811B1 (en) | 2014-12-17 |
Family
ID=50795739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120133699A KR101473811B1 (en) | 2012-11-23 | 2012-11-23 | Window cleaning kit for wire bonding apparatus, wire bonding apparatus including the same and cleaning method of capillary using the same |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014107561A (en) |
KR (1) | KR101473811B1 (en) |
CN (1) | CN103831676A (en) |
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EP3616238A4 (en) * | 2017-04-24 | 2021-04-14 | International Test Solutions, Inc. | Semiconductor wire bonding machine cleaning device and method |
US11035898B1 (en) | 2020-05-11 | 2021-06-15 | International Test Solutions, Inc. | Device and method for thermal stabilization of probe elements using a heat conducting wafer |
US11155428B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-10-26 | International Test Solutions, Llc | Material and hardware to automatically clean flexible electronic web rolls |
US11211242B2 (en) | 2019-11-14 | 2021-12-28 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning contact elements and support hardware using functionalized surface microfeatures |
US11318550B2 (en) | 2019-11-14 | 2022-05-03 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning wire bonding machines using functionalized surface microfeatures |
US11756811B2 (en) | 2019-07-02 | 2023-09-12 | International Test Solutions, Llc | Pick and place machine cleaning system and method |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9833818B2 (en) | 2004-09-28 | 2017-12-05 | International Test Solutions, Inc. | Working surface cleaning system and method |
US8371316B2 (en) | 2009-12-03 | 2013-02-12 | International Test Solutions, Inc. | Apparatuses, device, and methods for cleaning tester interface contact elements and support hardware |
JP6224551B2 (en) | 2014-05-23 | 2017-11-01 | アルプス電気株式会社 | Pressure contact connector and manufacturing method thereof |
JP6067951B1 (en) * | 2015-12-25 | 2017-01-25 | 株式会社カイジョー | Wire bonding equipment |
US10792713B1 (en) | 2019-07-02 | 2020-10-06 | International Test Solutions, Inc. | Pick and place machine cleaning system and method |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100889297B1 (en) * | 2008-09-12 | 2009-03-18 | 주식회사 코스마 | Cleaning jig of capillary for wire bonding, cleaning device of capillary for wire bonding, method for fabricating thereof and method for cleaning using the same |
-
2012
- 2012-11-23 KR KR1020120133699A patent/KR101473811B1/en not_active IP Right Cessation
-
2013
- 2013-11-22 CN CN201310596850.8A patent/CN103831676A/en active Pending
- 2013-11-22 JP JP2013241516A patent/JP2014107561A/en active Pending
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US11211242B2 (en) | 2019-11-14 | 2021-12-28 | International Test Solutions, Llc | System and method for cleaning contact elements and support hardware using functionalized surface microfeatures |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103831676A (en) | 2014-06-04 |
JP2014107561A (en) | 2014-06-09 |
KR101473811B1 (en) | 2014-12-17 |
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