KR20140054920A - 금형 및 이를 이용한 가공방법 - Google Patents
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Abstract
실시예에 따른 금형은, 제1 홀을 포함하는 가공부; 상기 가공부 상에 배치되는 상부몸체부; 및 상기 상부몸체부와 마주보며 배치되고, 피가공물을 지지하는 하부몸체부를 포함한다.
실시예에 따른 가공방법은, 피가공부를 준비하는 단계; 상기 피가공부 상에 가공부를 배치시키는 단계; 및 상기 피가공부를 가공하는 단계를 포함하고, 상기 가공하는 단계는, 상기 피가공부를 절단하는 단계 및 상기 피가공부의 절단으로 발생한 스크랩(scrap)을 회수하는 단계를 포함한다.
실시예에 따른 가공방법은, 피가공부를 준비하는 단계; 상기 피가공부 상에 가공부를 배치시키는 단계; 및 상기 피가공부를 가공하는 단계를 포함하고, 상기 가공하는 단계는, 상기 피가공부를 절단하는 단계 및 상기 피가공부의 절단으로 발생한 스크랩(scrap)을 회수하는 단계를 포함한다.
Description
본 기재는 금형 및 이를 이용한 가공방법에 관한 것이다.
터치 패널의 제조 공정에 있어서, 터치 패널의 구조 또는 디자인에 따라 터치 패널에 구비되는 필름 등에 홀을 가공하는 공정이 필요하다. 이러한 홀 가공 시, 기존의 일반 금형을 이용할 경우, 홀 가공 공정 및 가공 공정으로 발생한 스크랩의 제거 공정이 필요하다. 특히, 상기 스크랩의 제거 공정은 수작업으로 이루어지기 때문에 공정 시간 및 비용이 증가한다는 문제가 있다. 따라서, 생산성이 좋지 않다. 또한, 수작업으로 인해 피가공부의 눌림, 꺾임 및 찍힘 등의 외관 불량이 발생하는 요인으로 작용한다.
또한, 금형으로 가공홀을 가공하지 않고, 레이저를 이용하여 가공하더라도, 가공시 유기물의 불완전 연소 또는 열분해에 의해 생기는 무정형의 미소분말 물질이 피가공부를 오염시킬 수 있었다. 따라서, 이러한 오염으로 인해 잠재적인 불량 요인이 발생하였다.
실시예는 공정효율을 높일 수 있는 금형 및 이를 이용한 가공방법을 제공한다.
실시예에 따른 금형은, 제1 홀을 포함하는 가공부; 상기 가공부 상에 배치되는 상부몸체부; 및 상기 상부몸체부와 마주보며 배치되고, 피가공물을 지지하는 하부몸체부를 포함한다.
실시예에 따른 가공방법은, 피가공부를 준비하는 단계; 상기 피가공부 상에 가공부를 배치시키는 단계; 및 상기 피가공부를 가공하는 단계를 포함하고, 상기 가공하는 단계는, 상기 피가공부를 절단하는 단계 및 상기 피가공부의 절단으로 발생한 스크랩(scrap)을 회수하는 단계를 포함한다.
실시예에 따른 금형을 통해 피가공부의 절단으로 가공홀을 가공함과 동시에, 스크랩을 제거할 수 있어 가공 시간 및 비용을 절감할 수 있다. 즉, 생산성을 향상할 수 있고, 가공에 따른 외관 불량을 최소화할 수 있다. 특히, 실시예에 따른 금형이 터치 패널 내에 구성되는 필름 또는 시트 등에 적용될 경우, 활용가치를 극대화할 수 있다. 즉, 터치 패널은 다양한 필름과 시트 등이 구비되어 터치 패널의 제조 공정에 있어서, 가공홀 가공 공정의 수가 매우 많은데, 실시예에 따른 금형을 통해 터치 패널의 제조 공정을 간소화할 수 있다. 또한, 실시예에 따른 금형으로 제조된 터치 패널의 품질을 향상할 수 있다.
실시예에 따른 가공방법을 통해 가공 공정의 수를 줄일 수 있어, 공정 비용 및 공정 시간을 절감할 수 있다. 따라서, 공정효율을 높일 수 있다. 또한, 피가공물에 가해지는 작업이 줄어들어 외관 불량 등을 줄일 수 있다.
즉, 종래에는 가공홀을 절단한 후, 수작업으로 스크랩을 제거해야 하여 공정 수가 증가한다는 문제가 있었다. 이에 따라, 공정 비용 및 공정 시간이 증가하였다. 또한, 금형이 아닌 레이저를 이용하여 가공하더라도, 가공시 유기물의 불완전 연소 또는 열분해에 의해 생기는 무정형의 미소분말 물질이 피가공부를 오염시킬 수 있었다. 따라서, 이러한 오염으로 인해 잠재적인 불량 요인이 발생하였다.
도 1은 실시예에 따른 금형의 분해 사시도이다.
도 2는 도 1의 A-A'를 따라서 절단한 단면을 도시한 단면도이다.
도 3은 실시예에 따른 가공방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 4는 실시예에 따른 피가공부의 편심 정보이다.
도 5 내지 도 11은 실시예에 따른 피가공부의 공정능력지수(Cpk)를 측정한 그래프들이다.
도 2는 도 1의 A-A'를 따라서 절단한 단면을 도시한 단면도이다.
도 3은 실시예에 따른 가공방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 4는 실시예에 따른 피가공부의 편심 정보이다.
도 5 내지 도 11은 실시예에 따른 피가공부의 공정능력지수(Cpk)를 측정한 그래프들이다.
실시예들의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 “상/위(on)”에 또는 “하/아래(under)”에 형성된다는 기재는, 직접(directly) 또는 다른 층을 개재하여 형성되는 것을 모두 포함한다. 각 층의 상/위 또는 하/아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.
도면에서 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들의 두께나 크기는 설명의 명확성 및 편의를 위하여 변형될 수 있으므로, 실제 크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다.
이하, 도 1 및 도 2를 참조하여, 실시예에 따른 금형을 상세하세 설명한다. 도 1은 실시예에 따른 금형의 분해 사시도이다. 도 2는 도 1의 A-A'를 따라서 절단한 단면을 도시한 단면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 실시예에 따른 금형은 가공부(100), 지지부(200), 상부몸체부(300) 및 하부몸체부(400)를 포함한다.
상기 가공부(100)는 제1 홀(100a) 및 칼날부(100b)를 포함한다. 상기 제1 홀(100a)은 가공부(100)를 관통하는 홀이다. 상기 제1 홀(100a)은 금형을 통해 가공하고자 하는 피가공부의 가공홀에 대응되는 모양을 가질 수 있다. 또한, 상기 제1 홀(100a)은 상기 피가공부의 가공홀에 대응되는 위치에 배치될 수 있다.
상기 칼날부(100b)는 상기 가공부(100)의 상면으로부터 돌출되어 위치한다. 즉, 상기 칼날부(100b)는 피가공부를 절단할 수 있도록 구비된다. 상기 칼날부(100b)는 상기 피가공부에 가공홀을 가공할 수 있도록 구비된다. 일례로, 상기 칼날부(100b)는 피나클(pinnacle)일 수 있다. 상기 칼날부(100b)는 상기 제1 홀(100a)을 따라서 위치한다. 구체적으로, 상기 칼날부(100b)는 상기 제1 홀(100a)의 테두리를 따라서 위치한다. 따라서, 상기 칼날부(100b)를 통해 상기 피가공부에 상기 제1 홀(100a)과 대응되는 모양과 위치의 가공홀을 가공할 수 있다.
상기 지지부(200)는 상기 가공부(100)와 결합할 수 있다. 상기 지지부(200)는 상기 제1 홀(100a)에 대응되는 제2 홀(200a)을 포함한다. 즉, 상기 제2 홀(200a)은 상기 제1 홀(100a)의 모양과 대응되는 모양일 수 있다. 또한, 상기 제2 홀(200a)의 위치는 상기 제1 홀(100a)의 위치와 대응되는 위치에 배치된다. 상기 제2 홀(200a)은 상기 지지부(200)를 관통하는 홀이다.
상기 지지부(200)의 두께(T2)는 상기 가공부(100)의 두께(T1)보다 더 두껍다. 따라서, 상기 제2 홀(200a)의 깊이는 상기 제1 홀(100a)의 깊이보다 깊다. 상기 지지부(200)의 두께(T2)는 약 8 mm 일 수 있다. 따라서, 피가공부의 절단으로 발생한 스크랩이 모여 상기 상부몸체부(300)로 이동할 수 있다. 이에 대해서는 후술하기로 한다.
상기 지지부(200)는 알루미늄(Al) 플레이트일 수 있다.
상기 상부몸체부(300)는 상기 가공부(100) 및 상기 지지부(200) 상에 배치된다. 상기 상부몸체부(300)는 피가공부에 압력을 가할 수 있다. 따라서, 상기 칼날부(100b)가 상기 피가공부에 압력을 가함으로써, 가공홀을 가공할 수 있다.
상기 상부몸체부(300)는 스크랩회수부(300a)를 포함한다. 상기 스크랩회수부(300a)는 상기 상부몸체부(300) 내에 배치된다. 상기 스크랩회수부(300a)는 상기 제1 홀(100a) 및 상기 제2 홀(200a)과 대응되는 위치에 배치된다. 상기 스크랩회수부(300a)는 내부가 텅 빈 공간이다. 상기 스크랩회수부(300a)는 상기 피가공부의 가공홀을 절단한 후 발생하는 스크랩(scrap)을 회수할 수 있다. 상기 스크랩회수부(300a)는 상기 스크랩을 회수 한 후 저장할 수 있다.
상기 하부몸체부(400)는 상기 상부몸체부(300)와 마주보며 배치된다. 상기 하부몸체부(400)는 피가공부를 지지할 수 있다. 상기 하부몸체부(400) 상에 피가공부가 위치할 수 있다. 상기 하부몸체부(400)는 상기 피가공부가 고정되도록 할 수 있다.
실시예에 따른 금형을 통해 피가공부의 절단으로 가공홀을 가공함과 동시에, 스크랩을 제거할 수 있어 가공 시간 및 비용을 절감할 수 있다. 즉, 생산성을 향상할 수 있고, 가공에 따른 외관 불량을 최소화할 수 있다. 특히, 실시예에 따른 금형이 터치 패널 내에 구성되는 필름 또는 시트 등에 적용될 경우, 활용가치를 극대화할 수 있다. 즉, 터치 패널은 다양한 필름과 시트 등이 구비되어 터치 패널의 제조 공정에 있어서, 가공홀 가공 공정의 수가 매우 많은데, 실시예에 따른 금형을 통해 터치 패널의 제조 공정을 간소화할 수 있다. 또한, 실시예에 따른 금형으로 제조된 터치 패널의 품질을 향상할 수 있다.
이하, 도 3 내지 11을 참조하여, 실시예에 따른 가공방법을 설명한다. 명확하고 간략한 설명을 위해 앞서 설명한 부분과 동일 또는 유사한 부분은 상세한 설명을 생략한다. 도 3은 실시예에 따른 가공방법을 설명하기 위한 단면도이다. 도 4는 실시예에 따른 피가공부의 편심 정보이다. 도 5 내지 도 11은 실시예에 따른 피가공부의 공정능력지수(Cpk)를 측정한 그래프들이다.
실시예에 따른 가공방법은, 피가공부(P)를 준비하는 단계, 가공부(100)를 배치시키는 단계 및 가공하는 단계를 포함한다.
먼저, 도 3을 참조하면, 피가공부(P)를 준비하는 단계에서는 하부몸체부(400) 상에 피가공부(P)를 준비할 수 있다. 이때, 가이드핀(G)을 더 구비하여, 피가공부(P)를 안정되게 고정할 수 있다.
이어서, 상기 가공부(100)를 배치시키는 단계에서는, 상기 피가공부(P) 상에 가공부(100)를 배치시킬 수 있다. 구체적으로, 상기 피가공부(P) 상에 가공부(100), 지지부(200) 및 상부몸체부(300)를 배치시킬 수 있다. 상기 피가공부(P)와 상기 가공부(100), 지지부(200) 및 상부몸체부(300)와의 얼라인을 맞추기 위해 가이드핀(G)이 더 구비될 수 있다.
상기 가공하는 단계는 절단하는 단계 및 회수하는 단계를 포함한다.
상기 절단하는 단계에서는 상기 피가공부(P)에 가공하고자 하는 가공홀(H) 모양과 위치에 대응되도록 칼날부(100b)를 배치시킬 수 있다. 상기 상부몸체부(300)가 상기 피가공부(P) 상에 압력을 가하면서 피가공부(P)에 가공홀(H)이 절단될 수 있다.
상기 회수하는 단계에서는 상기 가공홀(H)의 절단으로 발생한 스크랩(S)을 회수할 수 있다. 상기 회수하는 단계에서는 상기 스크랩(S)이 이동할 수 있다. 즉, 상기 회수하는 단계에서는 상기 스크랩(S)이 제1 홀(100a), 제2 홀(200a) 및 스크랩회수부(300a)를 따라 차례대로 이동할 수 있다. 상기 가공방법이 다수 개의 피가공부(P)에 대해 반복적으로 적용되었을 경우, 잘려나간 스크랩(S)이 압력을 받아 제1 홀(100a) 및 제2 홀(200a)을 따라서 스크랩회수부(300a)로 이동할 수 있다. 따라서, 최종적으로 상기 스크랩(S)은 상기 스크랩회수부(300a) 내에 회수될 수 있다.
상기 절단하는 단계 및 상기 회수하는 단계는 연속적으로 이루어질 수 있다. 상기 절단하는 단계 및 상기 회수하는 단계는 동시에 이루어질 수도 있다. 이를 통해, 가공 공정의 수를 줄일 수 있어, 공정 비용 및 공정 시간을 절감할 수 있다. 따라서, 공정효율을 높일 수 있다. 또한, 피가공물에 가해지는 작업이 줄어들어 외관 불량 등을 줄일 수 있다.
즉, 종래에는 가공홀을 절단한 후, 수작업으로 스크랩을 제거해야 하여 공정 수가 증가한다는 문제가 있었다. 이에 따라, 공정 비용 및 공정 시간이 증가하였다. 또한, 금형이 아닌 레이저를 이용하여 가공하더라도, 가공시 유기물의 불완전 연소 또는 열분해에 의해 생기는 무정형의 미소분말 물질이 피가공부를 오염시킬 수 있었다. 따라서, 이러한 오염으로 인해 잠재적인 불량 요인이 발생하였다.
이하, 실시예에 따른 가공방법을 통해 가공된 피가공부의 편심, 치수 및 공정능력지수 테스트 결과를 설명한다.
상기 피가공부(P)는 터치 패널 내에 구비되는 시트이다. 피가공부(P)의 크기는 500 x 480 이고, 28 개의 피가공부(P)에 대해 가공홀을 가공하였다. 가공홀은 제1 가공홀(H1) 및 제2 가공홀(H2)을 포함한다. 다음 측정은 그 중 21 개의 피가공부(P)에 대한 것이다. 3차원 측정기로 편심, 치수 및 공정능력지수(Cpk)를 측정하였다.
구체적으로, 도 4를 참조하면, 피가공부(P)의 한 끝단에서 제1 가공홀(H1)의 중심부 사이의 X 축 거리(①), 피가공부(P)의 한 끝단에서 제1 가공홀(H1)의 중심부 사이의 Y 축 거리(②), 제1 가공홀(H1)의 중심부에서 제2 가공홀(H2)까지의 거리(③), 피가공부(P)의 한 끝단에서 제2 가공홀(H2)까지의 Y축 거리(④), 제2 가공홀(H2)의 Y 축 길이(⑤), 제2 가공홀(H2)의 X 축 거리(⑥) 및 피가공부(P)의 한 끝단에서 다른 끝단까지의 거리(⑦)각각에 대해 편심, 치수 및 공정능력지수(Cpk)를 측정하였다..
그 결과, 상기 ① 내지 ⑦에서의 위치 편차가 ±50 ㎛ 로 측정되었다. 즉, 본 실시예에 따른 금형을 이용하여 위치 정밀도가 향상되었다. 또한, 각각의 수치에 대한 공정능력지수(Cpk)가 모두 5이상으로 측정되었다. 즉, 공정능력이 우수함을 알 수 있다. 즉, 피가공부와 가공홀의 위치 정밀도가 우수함을 알 수 있다.
상술한 실시예에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의하여 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
또한, 이상에서 실시예들을 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예들에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부한 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
Claims (17)
- 제1 홀을 포함하는 가공부;
상기 가공부 상에 배치되는 상부몸체부; 및
상기 상부몸체부와 마주보며 배치되고, 피가공부를 지지하는 하부몸체부를 포함하는 금형. - 제1항에 있어서,
상기 제1 홀에 대응되는 제2 홀을 포함하고, 상기 가공부와 결합하는 지지부를 더 포함하는 금형. - 제2항에 있어서,
상기 지지부의 두께는 상기 가공부의 두께보다 더 두꺼운 금형. - 제1항에 있어서,
상기 가공부는 칼날부를 포함하는 금형. - 제4항에 있어서,
상기 칼날부는 상기 가공부의 상면으로부터 돌출되어 위치하는 금형. - 제4항에 있어서,
상기 칼날부는 상기 제1 홀을 따라서 위치하는 금형. - 제4항에 있어서,
상기 칼날부는 상기 제1 홀의 테두리를 따라서 위치하는 금형. - 제1항에 있어서,
상기 상부몸체부의 내부는 스크랩회수부를 포함하는 금형. - 제8항에 있어서,
상기 스크랩회수부은 상기 제1 홀에 대응되는 위치에 배치되는 금형. - 피가공부를 준비하는 단계;
상기 피가공부 상에 가공부를 배치시키는 단계; 및
상기 피가공부를 가공하는 단계를 포함하고,
상기 가공하는 단계는,
상기 피가공부를 절단하는 단계 및 상기 피가공부의 절단으로 발생한 스크랩(scrap)을 회수하는 단계를 포함하는 가공방법. - 제10항에 있어서,
상기 절단하는 단계 및 상기 회수하는 단계는 연속적으로 이루어지는 가공방법. - 제10항에 있어서,
상기 절단하는 단계 및 상기 회수하는 단계는 동시에 이루어지는 가공방법. - 제10항에 있어서,
상기 가공부는 제1 홀 및 상기 제1 홀을 둘러싸는 칼날부를 포함하고,
상기 제1 홀에 대응되는 제2 홀을 포함하고, 상기 가공부와 결합하는 지지부가 더 배치되는 가공방법. - 제13항에 있어서,
상기 절단하는 단계에서는 상기 칼날부가 상기 피가공부 상에 배치됨으로써 이루어지는 가공방법. - 제13항에 있어서,
상기 회수하는 단계에서는 상기 스크랩이 상기 제1 홀 및 제2 홀을 따라 이동하는 가공방법. - 제13항에 있어서,
상기 제1 홀 및 제2 홀에 대응되는 위치에 배치되는 스크랩회수부를 포함하며, 지지부 상에 배치되는 상부몸체부가 더 배치되고,
상기 스크랩은 상기 스크랩회수부 내에 회수되는 가공방법. - 제16항에 있어서,
상기 회수하는 단계에서는 상기 스크랩이 상기 제1 홀, 상기 제2 홀 및 상기 스크랩회수부를 따라 차례대로 이동하는 가공방법.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120121005A KR20140054920A (ko) | 2012-10-30 | 2012-10-30 | 금형 및 이를 이용한 가공방법 |
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KR20140054920A true KR20140054920A (ko) | 2014-05-09 |
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ID=50886686
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KR1020120121005A KR20140054920A (ko) | 2012-10-30 | 2012-10-30 | 금형 및 이를 이용한 가공방법 |
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KR (1) | KR20140054920A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102145047B1 (ko) * | 2019-02-27 | 2020-08-14 | 이영우 | 피나클 금형 시스템 |
-
2012
- 2012-10-30 KR KR1020120121005A patent/KR20140054920A/ko not_active Application Discontinuation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102145047B1 (ko) * | 2019-02-27 | 2020-08-14 | 이영우 | 피나클 금형 시스템 |
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