KR20140030803A

KR20140030803A - Device and method for acquiring chip information

Info

Publication number: KR20140030803A
Application number: KR1020120097422A
Authority: KR
Inventors: 문성웅; 나영준; 이현호
Original assignee: 삼성중공업 주식회사
Priority date: 2012-09-04
Filing date: 2012-09-04
Publication date: 2014-03-12
Also published as: KR101379265B1

Abstract

A device and method for acquiring chip information are disclosed. The chip information acquiring device comprises: an input/output pin unit which is electrically connected to a chip for test by using one or more pins, outputs a set test signal to the chip for test, and receives a result signal corresponding to the test signal from the chip for test; and a result file generation unit which generates a result file having an electronic data form by using response information corresponding to the result signal and characteristic information of the test signal. [Reference numerals] (120) Input/output pin unit; (125) Input unit; (130) Display unit; (135) Storage unit; (140) Result file generation unit; (150) Chip for test

Description

Device information acquisition device and method {Device and method for acquiring chip information}

본 발명은 칩 정보 획득 장치 및 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an apparatus and method for obtaining chip information.

일반적으로 특정의 제품을 개발하는 과정에서, 개발하고자 하는 신규한 기능이나 성능 구현이 가능한 상용품이 존재하지 않으면 예를 들어 PCB 기판과 같은 하드웨어를 구현하는 경우가 있다.In general, in the process of developing a specific product, if there is no commercial item capable of implementing a new function or performance to be developed, hardware such as a PCB substrate may be implemented.

이 경우, 하드웨어를 직접적으로 구현하여 테스트하는 것이 용이하지 않으므로 컴퓨터 시뮬레이션 과정을 통해 가상으로 소프트웨어적 설계된 하드웨어가 정상적으로 동작하는지 테스트하는 과정을 선행한 후, 정상적으로 동작함이 실험적으로 입증되면 실제의 하드웨어 제품을 조립함이 일반적이다.In this case, since it is not easy to implement and test the hardware directly, the computer simulation process precedes the process of testing whether the virtually software designed hardware is operating normally. It is common to assemble.

그러나. 컴퓨터 시뮬레이션을 수행하기 위해서는 설계된 하드웨어의 조립에 필요한 각 칩(chip)에 대한 정보가 필요하지만, 해당 정보를 확보할 수 없는 경우가 존재할 수 있다. 예를 들어, 칩 제조사에서 제공한 데이터 시트(data sheet)가 컴퓨터 시뮬레이션을 위해 필요한 범위의 값을 포함하지 않거나, 문서나 이미지 형태로서 칩 정보가 제공될 뿐 컴퓨터 시뮬레이션을 위한 전자적 형태의 입력 데이터가 존재하지 않는 경우 등이 이에 해당될 수 있다.But. In order to perform computer simulation, information on each chip required for assembling the designed hardware is required, but there may be a case in which the information cannot be obtained. For example, the data sheet provided by the chip manufacturer does not include values in the range required for computer simulation, or the chip information is provided in the form of a document or an image, but the electronic data input for computer simulation is provided. If it does not exist, this may be the case.

특히 사용빈도가 낮은 칩인 경우 컴퓨터 시뮬레이션을 위해 필요한 정보를 확보할 수 없는 경우가 보다 빈번하게 발생되며, 이 경우에는 컴퓨터 시뮬레이션을 선행하지 못하고 데이터 시트에 기재된 정보를 토대로 실제의 하드웨어를 조립하여 실제 테스트를 수행할 수 밖에 없다.In particular, in the case of low-use chips, the information necessary for computer simulation cannot be obtained more often.In this case, the actual test is performed by assembling the actual hardware based on the information in the data sheet without performing the computer simulation. There is no choice but to perform.

그러나 직접 하드웨어를 조립하여 테스트를 수행하는 경우에는 컴퓨터 시뮬레이션을 통해 테스트하는 경우에 비해 많은 시간과 노력이 요구되어 비효율적인 문제점이 있다.However, when the test is performed by assembling the hardware directly, there is an inefficient problem because it requires more time and effort than when testing through computer simulation.

본 발명은 컴퓨터 시뮬레이션을 수행하기 위한 칩 정보가 존재하지 않거나 존재할지라도 전자적 데이터 형태가 아닌 경우에 해당 칩으로부터 직접 전자적 데이터 형태의 칩 정보를 획득할 수 있는 칩 정보 획득 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다.The present invention is to provide a chip information acquisition device and method that can obtain the chip information in the form of electronic data directly from the chip, if the chip information for performing computer simulation does not exist or does not exist in the form of electronic data. .

본 발명은 칩으로부터 직접 획득되는 칩 정보를 중립 파일(예를 들어, MS Excel 등의 프로그램의 실행 문서 파일 등)로 생성함으로써 컴퓨터 시뮬레이션 장치뿐 아니라 다양한 장치에서 활용할 수 있도록 하는 칩 정보 획득 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다. The present invention provides a chip information acquisition device and method that can be utilized in various devices as well as computer simulation device by generating the chip information obtained directly from the chip into a neutral file (for example, executable document file of a program such as MS Excel) It is to provide.

본 발명의 이외의 목적들은 하기의 설명을 통해 쉽게 이해될 수 있을 것이다.Other objects of the present invention will become readily apparent from the following description.

본 발명의 일 측면에 따르면, 칩 정보 획득 장치에 있어서, 하나 이상의 핀을 이용하여 테스트용 칩과 전기적으로 연결되어, 설정된 테스트 신호를 상기 테스트용 칩으로 출력하고, 상기 테스트용 칩으로부터 상기 테스트 신호에 상응하는 결과 신호를 입력받는 입출력 핀부; 상기 테스트 신호의 특성 정보 및 상기 결과 신호에 상응하는 응답 정보를 이용하여 전자적 데이터 형태의 결과 파일을 생성하는 결과 파일 생성부를 포함하는 칩 정보 획득 장치가 제공된다.According to an aspect of the present invention, in the chip information acquisition device, electrically connected to a test chip using one or more pins, and outputs a set test signal to the test chip, the test signal from the test chip An input / output pin unit configured to receive a result signal corresponding thereto; Provided is a chip information acquisition device including a result file generator for generating a result file in the form of electronic data using the characteristic information of the test signal and the response information corresponding to the result signal.

상기 테스트용 칩의 외부 표면을 촬영한 이미지 데이터에 대한 광학 문자 인식 처리를 통해 상기 테스트용 칩의 식별 정보를 획득하는 문자 인식부가 더 포함될 수 있고, 상기 식별 정보를 더 이용하여 상기 결과 파일이 생성될 수 있다.A character recognition unit may be further included to acquire identification information of the test chip through an optical character recognition process on image data photographing an external surface of the test chip, and the result file is further generated using the identification information. Can be.

상기 결과 파일은 중립 파일 형태로 생성될 수 있다.The result file may be generated in the form of a neutral file.

본 발명의 다른 측면에 따르면, 칩 정보 획득 장치에서 수행되는 칩 정보 획득 방법에 있어서, 하나 이상의 핀을 이용하여 테스트용 칩과 전기적으로 연결되어, 설정된 테스트 신호를 상기 테스트용 칩으로 출력하고, 상기 테스트용 칩으로부터 상기 테스트 신호에 상응하는 결과 신호를 입력받는 단계; 및 상기 테스트 신호의 특성 정보 및 상기 결과 신호에 상응하는 응답 정보를 이용하여 전자적 데이터로서 중립 파일 형태인 결과 파일을 생성하는 단계를 포함하는 칩 정보 획득 방법이 제공된다.According to another aspect of the invention, in the chip information acquisition method performed in the chip information acquisition device, electrically connected to the test chip using one or more pins, and outputs a set test signal to the test chip, Receiving a result signal corresponding to the test signal from a test chip; And generating a result file in the form of a neutral file as electronic data using the characteristic information of the test signal and the response information corresponding to the result signal.

전술한 것 외의 다른 측면, 특징, 이점이 이하의 도면, 특허청구범위 및 발명의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이다.Other aspects, features, and advantages will become apparent from the following drawings, claims, and detailed description of the invention.

본 발명의 실시예에 따르면, 컴퓨터 시뮬레이션을 수행하기 위한 칩 정보가 존재하지 않거나 존재할지라도 전자적 데이터 형태가 아닌 경우에 해당 칩으로부터 직접 전자적 데이터 형태의 칩 정보를 획득할 수 있는 효과가 있다.According to the exemplary embodiment of the present invention, even when the chip information for performing computer simulation does not exist or exists, there is an effect that the chip information in the form of electronic data can be directly obtained from the corresponding chip when the information is not in the form of electronic data.

또한 칩으로부터 직접 획득되는 칩 정보를 중립 파일(예를 들어, MS Excel 등의 프로그램의 실행 문서 파일 등)로 생성함으로써 컴퓨터 시뮬레이션 장치뿐 아니라 다양한 장치에서 활용할 수 있도록 하는 효과도 있다.In addition, by generating the chip information obtained directly from the chip as a neutral file (for example, an executable document file of a program such as MS Excel, etc.), it can be utilized in various devices as well as computer simulation devices.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 칩 정보 획득 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 칩 정보 획득 방법을 나타낸 순서도.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 칩 정보 획득 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도.1 is a block diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for obtaining chip information according to an embodiment of the present invention.
2 is a flowchart illustrating a method of obtaining chip information according to an embodiment of the present invention.
3 is a block diagram schematically showing the configuration of a chip information acquisition device according to another embodiment of the present invention;

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.While the invention is susceptible to various modifications and alternative forms, specific embodiments thereof are shown by way of example in the drawings and will herein be described in detail. It is to be understood, however, that the invention is not to be limited to the specific embodiments, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. When a component is referred to as being "connected" or "connected" to another component, it may be directly connected to or connected to that other component, but it may be understood that other components may be present in between. Should be. On the other hand, when an element is referred to as being "directly connected" or "directly connected" to another element, it should be understood that there are no other elements in between.

본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this specification, the terms "comprises" or "having" and the like refer to the presence of stated features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

또한, 명세서에 기재된 "…부", "…유닛", "…모듈", "…기" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.In addition, the terms "part," "unit," "module," "device," and the like described in the specification mean units for processing at least one function or operation, Lt; / RTI >

또한, 각 도면을 참조하여 설명하는 실시예의 구성 요소가 해당 실시예에만 제한적으로 적용되는 것은 아니며, 본 발명의 기술적 사상이 유지되는 범위 내에서 다른 실시예에 포함되도록 구현될 수 있으며, 또한 별도의 설명이 생략될지라도 복수의 실시예가 통합된 하나의 실시예로 다시 구현될 수도 있음은 당연하다.It is to be understood that the components of the embodiments described with reference to the drawings are not limited to the embodiments and may be embodied in other embodiments without departing from the spirit of the invention. It is to be understood that although the description is omitted, multiple embodiments may be implemented again in one integrated embodiment.

또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일하거나 관련된 참조부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reference will now be made in detail to the preferred embodiments of the present invention, examples of which are illustrated in the accompanying drawings, wherein like reference numerals refer to the like elements throughout. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 칩 정보 획득 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for obtaining chip information according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 칩 정보 획득 장치(110)는 입출력 핀부(120), 입력부(125), 표시부(130), 저장부(135) 및 결과 파일 생성부(140)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, the chip information obtaining apparatus 110 may include an input / output pin unit 120, an input unit 125, a display unit 130, a storage unit 135, and a result file generator 140.

도 1에 도시된 칩 정보 획득 장치(110)의 구성은 일 예시에 불과한 것으로, 도시된 하나 이상의 구성 요소(예를 들어, 표시부(130))는 생략될 수도 있으며, 도시되지 않은 하나 이상의 구성 요소가 추가될 수도 있음은 당연하다. The configuration of the chip information acquisition device 110 illustrated in FIG. 1 is merely an example, and one or more components (for example, the display 130) may be omitted, and one or more components not shown. Of course, may be added.

칩 정보 획득 장치(110)는 예를 들어 PCB 기판에 회로를 구현하기 전에 회로가 정상적으로 작동하는지 여부의 예비 실험이 가능하도록 하는 만능기판(bread board)과 유사하게 구현될 수 있다.The chip information acquiring device 110 may be implemented similarly to a bread board, for example, to enable preliminary experiments as to whether the circuit works normally before implementing the circuit on the PCB substrate.

입출력 핀부(120)는 복수의 핀을 포함하여 구성되고, 칩 정보를 획득하기 위한 테스트용 칩(150)과 하나 이상의 핀을 통해 상호 연결되어 테스트용 칩(150)으로 테스트 신호를 출력하고, 테스트용 칩(150)으로부터 테스트 신호에 상응하는 결과 신호를 수신한다.The input / output pin unit 120 includes a plurality of pins, and is connected to each other through at least one pin and the test chip 150 for acquiring chip information, and outputs a test signal to the test chip 150, and performs a test. The resultant signal corresponding to the test signal is received from the dragon chip 150.

테스트용 칩(150)으로 전송되는 테스트 신호는 예를 들어 디지털 릴레이에 대한 온/오프 단속 신호, 단속 주기 등에 대한 신호이거나 사인 파형의 주파수를 가변하기 위한 신호 등 중 하나 이상일 수 있다. The test signal transmitted to the test chip 150 may be, for example, a signal for an on / off intermittent signal, an intermittent period, or the like for a digital relay, or a signal for varying the frequency of a sine wave.

또한, 테스트용 칩(150)으로부터 수신되는 결과 신호는 테스트 신호에 따른 테스트용 칩(150)의 처리 결과에 대한 신호로서 예를 들어 온/오프 단속 신호에 대한 응답 신호, 단속 주기에 대한 응답 시간에 상응하는 신호, 주파수 가변에 대한 응답 신호 등 중 하나 이상일 수 있다.In addition, the result signal received from the test chip 150 is a signal for the processing result of the test chip 150 according to the test signal, for example, a response signal for the on / off intermittent signal and a response time for the intermittent period. It may be one or more of a signal corresponding to, a response signal for the variable frequency, and the like.

입력부(125)는 사용자가 원하는 칩 정보에 상응하는 테스트 신호를 설정하기 위한 수단이다. 입력부(125)는 하나 이상의 기계식 버튼으로 구성되거나, 후술될 표시부(130)와 통합된 터치 감응 스크린에 표시되는 가상 버튼으로 구성되거나, 이들의 조합으로 구성될 수 있다. The input unit 125 is a means for setting a test signal corresponding to chip information desired by a user. The input unit 125 may include one or more mechanical buttons, a virtual button displayed on a touch-sensitive screen integrated with the display unit 130 to be described later, or a combination thereof.

입력부(125)를 이용하여 사용자에 의해 설정된 테스트 신호는 입출력 핀부(120)를 통해 테스트용 칩(150)으로 입력되고, 테스트용 칩(150)으로부터 상응하는 결과 신호가 수신되어 후술될 결과 파일 생성부(140)에 의해 결과 파일로 생성될 것이다.The test signal set by the user using the input unit 125 is input to the test chip 150 through the input / output pin unit 120, and a corresponding result signal is received from the test chip 150 to generate a result file to be described later. The unit 140 will generate the result file.

또한 사용자는 입력부(125)를 이용하여 입출력 핀부(120)에 포함된 각 핀의 용도(예를 들어, 핀 0은 테스트 신호 출력용, 핀 1은 결과 신호 입력용 등)를 설정할 수도 있다.In addition, the user may set the use of each pin included in the input / output pin unit 120 (for example, pin 0 is for outputting a test signal and pin 1 is for inputting a result signal) using the input unit 125.

표시부(130)는 사용자에 의해 설정된 테스트 신호의 특성 정보(예를 들어, 설정된 주파수값, 단속 주기값, 동작 온 신호, 동작 오프 신호 등)와 이에 상응하여 테스트용 칩(150)으로부터 수신된 결과 신호 정보(예를 들어, 응답 특성)를 디스플레이한다.The display unit 130 receives the characteristic information of the test signal set by the user (for example, the set frequency value, the interruption period value, the operation on signal, the operation off signal, etc.) and the corresponding result from the test chip 150. Display signal information (e.g., response characteristics).

저장부(135)는 입출력 핀부(120)에 포함된 각 핀의 용도 설정 정보, 사용자에 의해 설정된 테스트 신호의 특성 정보, 테스트용 칩(150)으로부터 수신된 결과 신호 정보 및 결과 파일 생성부(140)에 의해 생성된 결과 파일 등 중 하나 이상을 저장한다. The storage unit 135 may include usage setting information of each pin included in the input / output pin unit 120, characteristic information of a test signal set by a user, result signal information received from the test chip 150, and a result file generator 140. Save one or more of the result files generated by).

결과 파일 생성부(140)는 저장부(135)에 저장된 테스트 신호의 특성 정보 및 결과 신호 정보를 이용하여 결과 파일을 생성한다. The result file generator 140 generates a result file by using the characteristic information and the result signal information of the test signal stored in the storage 135.

결과 파일은 예를 들어, 전자적 형태의 칩 정보를 이용하여 컴퓨터 시뮬레이션을 수행하는 컴퓨터 시뮬레이션 장치뿐 아니라 그 이외의 다양한 장치에서 활용할 수 있도록 하기 위해 미리 지정된 중립 파일 형태(예를 들어, MS Excel 등의 프로그램의 실행 문서 파일 등)로 생성될 수 있다.The resulting file is, for example, a predetermined neutral file type (e.g., MS Excel, etc.) for use in various other devices as well as computer simulation devices that perform computer simulations using electronic information. Program execution document file, etc.).

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 칩 정보 획득 방법을 나타낸 순서도이다.2 is a flowchart illustrating a method of obtaining chip information according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 단계 210에서 칩 정보 획득 장치(110)는 입출력 핀부(120)를 이용하여 테스트용 칩(150)과 전기적으로 연결된다.Referring to FIG. 2, in operation 210, the chip information obtaining apparatus 110 is electrically connected to the test chip 150 using the input / output pin unit 120.

칩 정보 획득 장치(110)는 단계 220에서 사용자가 입력부(125)를 이용하여 설정한 테스트 신호를 입출력 핀부(120)를 통해 테스트용 칩(150)으로 출력하고, 단계 230에서 테스트용 칩(150)으로부터 테스트 신호에 따른 동작 결과로서의 결과 신호를 입력받는다. The chip information obtaining apparatus 110 outputs the test signal set by the user using the input unit 125 to the test chip 150 through the input / output pin unit 120 in step 220, and the test chip 150 in step 230. ) Receives a result signal as an operation result according to the test signal.

테스트 신호에 대한 특성 정보 및 결과 신호는 저장부(135)에 저장되어 유지될 수 있다.The characteristic information about the test signal and the result signal may be stored and maintained in the storage 135.

단계 240에서 칩 정보 획득 장치(110)는 저장부(135)에 저장된 테스트 신호에 대한 특성 정보 및 결과 신호를 이용하여 다양한 디지털 기기에서 범용적으로 이용할 수 있는 중립 파일 형태의 결과 파일을 생성한다.In operation 240, the chip information obtaining apparatus 110 generates a result file in the form of a neutral file that can be universally used in various digital devices by using the characteristic information and the result signal of the test signal stored in the storage 135.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 칩 정보 획득 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.3 is a block diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for obtaining chip information according to another exemplary embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 칩 정보 획득 장치(110)는 입출력 핀부(120), 입력부(125), 표시부(130), 저장부(135), 결과 파일 생성부(140), 수신부(310) 및 문자 인식부(320)를 포함할 수 있다. 도 3에는 카메라 장치(330)가 독립된 구성 요소로 도시되었으나, 칩 정보 획득 장치(110)의 일 구성요소로 포함될 수도 있음은 당연하다.Referring to FIG. 3, the chip information obtaining apparatus 110 may include an input / output pin unit 120, an input unit 125, a display unit 130, a storage unit 135, a result file generator 140, a receiver 310, and a character. The recognition unit 320 may be included. Although the camera device 330 is illustrated as an independent component in FIG. 3, it may be obvious that the camera device 330 may be included as one component of the chip information acquisition device 110.

수신부(310)는 테스트용 칩(150)의 표면에 대한 영상을 촬영한 카메라 장치(330)로부터 이미지 데이터를 수신한다. The receiver 310 receives image data from the camera device 330 which captures an image of the surface of the test chip 150.

문자 인식부(320)는 예를 들어 광학 문자 인식(OCR, Optical Character Recognition) 기술을 이용하여 이미지 데이터에 포함된 한글, 영문, 숫자 등 중 하나 이상을 편집 가능한 텍스트로 변환하여 저장부(135)에 저장한다. The character recognition unit 320 converts one or more of Korean, English, numbers, etc. included in the image data into editable text using, for example, optical character recognition (OCR) technology, and stores the storage unit 135. Store in

일반적으로 칩(chip)의 외부 표면에 칩 고유번호, 모델명 등 중 하나 이상이 인쇄됨을 고려할 때, 문자 인식부(320)의 처리에 의해 테스트용 칩(150)의 식별 정보가 획득될 수 있다. 광학 문자 인식 기술은 당업자에게 자명한 사항이므로 이에 대한 구체적인 설명은 생략하기로 한다.In general, considering that one or more of a chip unique number, a model name, and the like are printed on an outer surface of a chip, identification information of the test chip 150 may be obtained by a process of the character recognition unit 320. Optical character recognition technology is obvious to those skilled in the art, so a detailed description thereof will be omitted.

결과 파일 생성부(140)는 저장부(135)에 저장된 테스트 신호의 특성 정보 및 결과 신호 정보를 이용하여 결과 파일을 생성함에 있어 문자 인식부(320)에 의해 인식된 테스트용 칩(150)의 식별 정보가 더 포함되도록 할 수 있다. The result file generator 140 generates a result file by using the characteristic information and the result signal information of the test signal stored in the storage 135 of the test chip 150 recognized by the character recognition unit 320. Identification information may be further included.

상술한 칩 정보 획득 방법은 디지털 처리 장치에 내장되거나 설치된 프로그램 등에 의해 시계열적 순서에 따른 자동화된 절차로 수행될 수도 있음은 당연하다. 상기 프로그램을 구성하는 코드들 및 코드 세그먼트들은 당해 분야의 컴퓨터 프로그래머에 의하여 용이하게 추론될 수 있다. 또한, 상기 프로그램은 디지털 처리 장치가 읽을 수 있는 정보저장매체(computer readable media)에 저장되고, 디지털 처리 장치에 의하여 읽혀지고 실행됨으로써 상기 방법을 구현한다. 상기 정보저장매체는 자기 기록매체, 광 기록매체 및 캐리어 웨이브 매체를 포함한다.It is obvious that the above-described method for acquiring chip information may be performed by an automated procedure according to a time series sequence by a program embedded in or installed in a digital processing apparatus. The codes and code segments that make up the program can be easily deduced by a computer programmer in the field. In addition, the program is stored in a computer readable medium readable by the digital processing apparatus, and is read and executed by the digital processing apparatus to implement the method. The information storage medium includes a magnetic recording medium, an optical recording medium, and a carrier wave medium.

상기에서는 본 발명의 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the following claims And changes may be made without departing from the spirit and scope of the invention.

110 : 칩 정보 획득 장치 120 : 입출력 핀부
125 : 입력부 130 : 표시부
135 : 저장부 140 : 결과 파일 생성부
150 : 테스트용 칩 310 : 수신부
320 : 문자 인식부 330 : 카메라 장치110: chip information acquisition device 120: input and output pin portion
125 input unit 130 display unit
135: storage unit 140: result file generation unit
150: test chip 310: receiver
320: character recognition unit 330: camera device

Claims

In the chip information acquisition device,
An input / output pin unit electrically connected to a test chip using at least one pin, outputting a set test signal to the test chip, and receiving a result signal corresponding to the test signal from the test chip; And
And a result file generator for generating a result file in the form of electronic data using the characteristic information of the test signal and the response information corresponding to the result signal.

The method of claim 1,
Further comprising a character recognition unit for obtaining the identification information of the test chip through the optical character recognition process for the image data photographed on the outer surface of the test chip,
And the result file is further generated using the identification information.

3. The method according to claim 1 or 2,
And the result file is generated in the form of a neutral file.

In the chip information acquisition method performed in the chip information acquisition device,
Electrically connecting to a test chip using at least one pin, outputting a set test signal to the test chip, and receiving a result signal corresponding to the test signal from the test chip; And
And generating a result file in the form of a neutral file as electronic data by using the characteristic information of the test signal and the response information corresponding to the result signal.