KR20130121148A - 야금 분야에서 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 야금 분야에서 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치에 관한 것이다.

Description

야금 분야에서 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치{APPARATUS FOR DETECTING AND MEASURING CYLINDRICAL SURFACES ON FIREPROOF CERAMIC COMPONENTS IN METALLURIGAL APPLICATIONS}
본 발명은 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치에 관한 것이다.
불연성(내화성) 구성요소들이 용융물의 야금학적 공격(metallurgical attack)(부식)을 통해 마모되거나 그 반대로 표면 위에 덩어리(agglomerate)가 형성되는 것(소위 클로깅(clogging))이 알려져 있다.
배출 채널(16)의 표면 위에 클로깅이 형성되는 것 뿐만 아니라 배출 표면의 표면이 마모되는 것은 주조(주입) 공정을 심각하게 방해한다. 따라서, 예를 들어 배출 채널 내에 형성된 덩어리를 연소/분쇄시키거나 이미 과도하게 마모된 구성요소를 교체하기 위하여, 배출 채널(16)의 기하학적 형상(geometry)을 정기적으로 인지할 필요가 있다.
관련 구성요소들의 높은 온도로 인해 주조 공정이 끝나고 난 뒤에도 오랫동안 수 백도로 유지될 수 있어서, 해당 표면들을 모니터링할 때 문제점들이 발생한다.
육안으로 판단하는 것은 상당히 부정확하고 오직 가까운 거리에서만 가능하다. 따라서, 후크(hook)로 표면을 샘플링(스캔)하도록 시도되어 왔다. 이 경우에도, 매우 부정확한 결과가 얻어졌다. 따라서, 종종 실험값들이 사용되는데, 이때 다수의 경우에서는 완전히 잘못된 결과로 이어진다.
본 발명의 목적은 야금 분야에서 내화성 세라믹 구성요소들의 원통형 표면들을 안정적으로 측정하고 탐지하여, 마모된 구성요소들을 교체하거나 수리하기 위해 작업이 필요한지 또는 어떤 작업이 필요한 지를 결정하도록 안정적인 데이터를 얻는데 있다.
본 발명은 내시경의 기본 개념을 사용하면서도 특정 분야에 혁신적으로 적용할 수 있는 장치를 제안한다. 본 발명의 기본 사상은 우선 "저온 부분(cold part)"과 "고온 부분(hot part)"을 포함하는 장치를 설계하는 것이다. "고온 부분"은 체크해야 하는 구성요소의 영역 내에 배열하고 이와 상응하게 그 자리에서 필요한 검사과정을 수행하도록 구성된다. "저온 부분"은 현저히 낮은 온도, 가령, 예컨대 실온의 영역에서 "고온 부분"으로부터 상당히 먼 거리에 배열된다.
각각, 민감한 측정 장치, 가령, 카메라는 "저온 부분" 내에 장착될 수 있으며, "고온 부분"은 오직 체크해야 하는 표면들에 측정 빔(measuring beam)을 안내하도록 사용된다.
이러한 배경과는 달리, 본 발명에 따른 장치는, 체크해야 하는 구성요소의 원통형의 표면의 특정 부분들을 챕쳐하고(capture) 거리 측정 과정을 수행하는 카메라를 포함하여, 이러한 정보를 이용하여, 체크해야 하는 영역의 3차원 영상이 결정될 수 있는 개념에 기초한다.
가장 기본적인 실시예에서, 본 발명은 야금 분야에서 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치에 관한 것으로서, 상기 장치는:
- 측정 파이프를 포함하며;
- 상기 측정 파이프 위에 또는 측정 파이프 내부에 배열된 카메라를 포함하고, 상기 카메라의 피사체(object)는 측정 파이프 내측에 배열된 하나 이상의 반사 표면과 나란하게 정렬되며; 상기 반사 표면은 피사체에 대해 일정 거리가 형성되고 측정 파이프의 축방향(A)을 향해 경사지며, 측정 파이프는 반사 표면의 맞은편에 있는 주변-세그먼트(perimeter-segment)에서 반투명이고, 카메라는 반사 표면과 피사체 사이의 상응하는 초점거리에서, 측정 파이프까지 반경방향 거리에 배열되는 인접한 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면의 세그먼트를 캡쳐하고;
- 측정 파이프 위에 또는 측정 파이프 내부에 배열된 거리 측정용 장치를 포함하고, 상기 장치를 사용하여, 고정된 기준점에 대해 카메라에 의해 캡쳐된 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면의 일부분 위의 영역 세그먼트 또는 한 점의 거리가 결정된다.
카메라와 거리 측정용 장치를 이용하여 특정 표면의 광학 검사가 수행되며, 기준점, 가령, 예를 들어, 측정 파이프의 중앙 세로축까지의 상응하는 표면 세그먼트의 거리가 평가된다.
카메라는, 예를 들어, 상응하는 초점거리의 방향이 측정 파이프의 중앙 세로축과 동축으로 구성되도록 배열된다. 반사 표면은 카메라와 중앙 세로축까지의 거리가 반경 방향으로 형성되는 세라믹 구성요소의 표면 세그먼트를 캡쳐하도록 사용된다. 이런 점에서 볼 때, 반사 표면의 맞은편에 있는 측정 파이프의 세그먼트는 반투명으로 구성되며, 가령, 예를 들어, 개방된다(open).
반사 영역은 측정 파잎의 중앙 세로축에 대해 약 45°의 각도로 배열되는 것이 바람직하며, 이보다 더 크거나 작은 각도(45+/-10°)도 가능하다. 주어진 각도들은 상응하는 광파(light wave)의 주 방향(main direction)에 관한 것이다. 이런 점에서 볼 때, 주어진 각도들은 정확히 수학적으로 이해되어서는 안 되고 기술적으로 이해되어야 한다.
이는, 특히, 내화성 구성요소의 더 크거나 더 작은 표면 세그먼트를 캡쳐하기 위하여 반사 표면이 평면이 아니라 아치형 표면(곡면)인 경우에는 언제든지 적용된다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 거리 측정용 장치는 측정 파이프 내에 배열된 거울(mirror) 위에 광 빔(optical beam)을 안내하는 다이오드(diode) 또는 레이저(laser)를 포함하며, 그 뒤, 카메라에 의해 캡쳐된 세라믹 구성요소의 원통형 표면 부분을 향해 측정 파이프의 반투명 영역을 통하여 상기 빔을 안내한다.
상기 거울에 대해, 반사 표면의 이전 실시예들도 이와 유사하게 적용된다.
거울이 반사 표면으로부터 일정 거리에 위치될 수 있다는 사실을 고려해야 한다. 이에 따라, 특히, 거울이 반사 표면의 전방에서 측정 파이프의 축방향으로 배열되는, 가령, 예를 들어, 벽-측면에 배열되는(wall-sided), 따라서, 측정 파이프의 내측벽 영역에 배열되는 한 실시예가 고려된다. 레이저 공급원(laser source)은 빔이 거울에 부딪히기 전에 측정 파이프의 내측 표면에 대해 일정 거리로 평행하게 이동되도록 배열될 수 있다.
이때, 상응하는 데이터를 수신하기 위해, 반사된 광 빔이 중앙에서 카메라에 의해 캡쳐된 표면 영역 세그먼트에 거의 부딪히는 경우, 거울의 경사 각도는 반사 표면의 경사 각도보다 더 작다. 이런 점에서 볼 때, 거울의 각도는 예컨대 측정 파이프의 중앙 세로축에 대해 10 내지 30°이다.
측정 파이프는 예를 들어 원통형으로 구성된다. 그 외의 다른 기하학적 형태도 가능하다.
반사 표면 및/또는 거울은 상대적으로 긴 측정 시간에 걸쳐 측정 위치 영역에서 고온에 의해 손상되지 않도록 하기 위하여 광학면(optical side) 위에 내열성 코팅을 포함할 수 있다. 이러한 가능 코팅은 크롬(chrome)으로 구성된다. 크롬처리된 표면(chromed surface)은 상대적으로 긴 측정 시간에 걸쳐 예를 들어 400 내지 500℃까지 견딜 수 있다.
위에서 기술한 내용으로부터, 상기 장치가 체크해야 하는 구성요소의 원통형 표면의 오직 한 부분을 정기적으로 광학적으로 캡쳐할 수 있다는 사실이 자명하다. 이런 점에서 볼 때, 제안되는 한 실시예에 따르면, 적어도 반사 표면과 가능 거울이 위치되는 영역에서, 측정 파이프는 축방향으로 이동할 수 있거나 및/또는 회전할 수 있도록 구성된다. 이에 따라 구성요소의 원통형 표면의 임의의 부분적인 영역들을 연속적으로 또는 일렬로 캡쳐하고(스크리닝하고) 각각의 상기 영역들을 측정할 수 있게 된다.
측정 파이프는 중앙 세로축 주위로 회전되는 것이 바람직하다. 상응하는 장착부, 가령, 카메라 및 레이저를 포함하여 측정 파이프도 전체적으로 회전될 수 있다.
측정 파이프는 예컨대 800℃의 온도를 견디기 위해 적어도 반사 표면 및 가능 거울이 배열되는 영역에서 단열 구성되는 것이 바람직하다. 이러한 단열부는 거울/반사 표면 후방에 배열된 또는 달리 말하면 측정 파이프의 내측벽과 거울/반사 표면의 비-광학면(non-optical side) 사이에 배열된 광물섬유 단열부(mineral fiber insulation)일 수 있다.
카메라에 의해 캡쳐된 영상 뿐만 아니라 거리 측정용 장치로부터 수신된 데이터는 수동으로 분석될 수 있지만 전자적으로 분석되는 것이 바람직하다. 이를 위해, 본 발명의 한 실시예는 메모리 유닛이 있는 장치를 제안하는데, 거리 측정용 장치와 카메라로부터 수신된 데이터와 영상이 상기 메모리 유닛에 수집된다. 그 뒤, 상기 데이터와 영상은 분석 유닛에서 분석될 수 있다.
분석 결과, 예를 들어, 슬라이딩 플레이트의 배출 개구 영역에 형성된 마모 정도가 특정 한계를 초과한 것으로 밝혀지면, 해당 슬라이딩 플레이트를 교체할 필요가 있게 된다. 이에 따라 본 발명에 따른 장치는 예를 들어 용융물의 파과(breakthrough)를 방지하기 위하여 슬라이딩 플레이트에 관해서 뿐만 아니라 전체 장착부에 대해서도 중요한 안전 특징을 충족한다.
상기 장치는 휴대용으로도(mobile) 사용될 수 있다. 또한, 영상과 데이터가 미리 정의된 기준 크기로 캡쳐되도록 한 기기(apparatus)를 통해 상기 장치를 금속 용기에 고정시키는 것도 가능하다.
본 발명의 추가적인 특징들은 종속항들과 그 외의 다른 출원 문헌들에 기술된다.
이제부터, 본 발명은 한 실시예에 관해 설명될 것이다.
여기서:
도 1은 본 발명에 따라 통상적인 야금 분야에서 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치를 도시한 도면이다.
도 2는 슬라이딩 플레이트의 배출 개구를 측정하고 탐지하기 위한 장치를 도시한 측면도이다.
도 3은 슬라이딩 플레이트의 영역에서 도 1에 따른 장치의 세그먼트를 확대하여 도시한 도면이다.
도 1은 본 발명의 범위 내에서 통상적인 야금 분야를 비-제한 방식으로 도시한다. 내화성 베이스(12)로 안을 댄(lined with) 금속 용기(10)가 도시되는데, 그 내측에 일반적으로 원통형의 내화성 세라믹 출구(14)가 위치되고, 상기 내화성 세라믹 출구는 중앙 배출 개구(16)를 포함하며 상기 중앙 배출 개구를 통해 금속 용융물(metal melt)이 금속 용기(10)로부터 연속 골재(aggregate) 내로 흐른다.
용융물의 흐름 방향(화살표 S)으로, 출구(14) 뒤에는, 상측 슬라이딩 플레이트(18o), 중앙 슬라이딩 플레이트(18m) 및 하측 슬라이딩 플레이트(18u)가 있는 슬라이딩 게이트(밸브)(18)가 위치되며, 반잠수식(submerged) 유입 노즐(20)이 상기 슬라이딩 게이트에 연결된다. 위에서 언급된 모든 구성요소들은 금속 용융물을 위한 배출 개구를 구성하고 배출 채널(16)에 상응하며, 따라서, 도 1에서 상응하는 세그먼트들도 도면부호(16)로 표시된다.
도 1로부터, 고정 위치(도 1)로부터 모든 배출 개구(16)들이 나란하게 정렬되어 금속 용융물을 통해 흐를 수 있게 하는 한 위치로 이동될 수 있도록 하기 위하여, 중앙 슬라이딩 플레이트(18m)는 이동될 수 있다.
위에서 언급된 구성요소들(출구(14), 슬라이딩 플레이트(18o, 18m, 18u), 반잠수식 노즐(20))은 각각의 배출 개구(16)들을 형성하기 위해 원통형의 내측 표면을 가진다. 여기서, 용어 "원통형(cylindrical)"은 정확히 수학적인 개념으로 이해되어서는 안 되고 기술적인 용어 개념으로 이해되어야 한다.
도면에서는, 제 1 단부(32), 소위, "저온 단부(clod end)" 및 제 2 단부(34), 소위, "고온 단부(hot end)"를 가진 원통형의 측정 파이프(30)가 도시된다.
측정 파이프(30)는 제 1 단부(32)에서 넓어지며 이 세그먼트에 카메라(38)를 고정시키는데, 여기서 상기 카메라는 SLR(Single Lense Reflect) 카메라(일안반사식 카메라)이다.
카메라(38)는 반사 표면(40)을 향해 나란하게 정렬되는데, 상기 반사 표면은 측정 파이프(30)의 제 2 단부(34) 내에 위치되고 내부에서 측정 파이프(30)의 중앙 세로축(A)을 향해 45°의 각도 이내로 배열된다.
측정 파이프(30)는 인접한 벽 세그먼트 내에서 상응하는 개구(42)를 가지며, 카메라(38)를 사용하면, 슬라이딩 플레이트(18)의 원통형 표면(18o)의 일부분이 반사 표면(40)을 통해 캡쳐되고/탐지될 수 있다.
도 2에서, 새로운 슬라이딩 플레이트의 원통형 표면의 배열상태(run)가 점선으로(18z') 표시되며, 연속선(18z)은 대표적인 마모 상태를 나타내는데, 상기 대표적인 마모 상태는 본 발명에 따른 장치에 의해 캡쳐되고 분석될 수 있다.
반사 표면(40)까지의 카메라(38)의 초점거리가 조절되면, 반경방향 거리에서 측정 파이프(30)까지 배열되는 슬라이딩 플레이트의 표면(18z)의 일부분이 광학적으로 캡쳐되고 검사될 수 있다. 이 자체로는 슬라이딩 플레이트(18)의 마모 정도를 결정하기에 충분하지 못하는데, 그 이유는 카메라(38)를 사용하여 처음 표면으로부터 마모된 표면까지의 거리가 결정될 수 없기 때문이다.
이를 위해, 레이저(44)가 엔클로저(enclosure)(36) 내에 배열되고, 레이저 빔(44l)이 측정 파이프(30)의 내측벽까지 일정한 거리가 떨어진 상태로 평행하게 이동되고 거울(46)에 부딪치며, 상기 거울은 측정 파이프(30)의 중앙 세로축(A) 방향으로 반사 표면(40)과 카메라(38) 사이에 위치되어, 도 2, 3에 도시된 것과 같이, 반사 영역(40)에 인접하게 된다.
특히, 도 3으로부터, 거울(46)의 평면 표면이 수직 평면에 대해 약 23°의 각도(β)로 배열된다는 추가적인 정보가 도출될 수 있다. 이 값은 거울(46)에 의해 반사된 레이저 빔이 카메라(38)에 의해 캡쳐된 슬라이딩 게이트의 원통형 표면(18z)의 중앙 영역 세그먼트에 부딪히도록 선택되는데, 상기 지점은 도 3에서 도면부호(S)로 개략적으로 표시된다.
엔클로저(36)는 기록 유닛(registration unit)을 포함하는데(도시되지는 않음), 상기 기록 유닛은 슬라이딩 플레이트(18)의 표면(18z)으로부터 레이저(40)에 의해 측정된 측정 파이프(30)의 중앙 세로축(A)까지의 거리들과 카메라(38)에 의해 캡쳐된 영상들을 저장한다(save).
측정 수단을 사용함으로써, 상기 특정 거리값들로부터, 슬라이딩 플레이트(18)의 표면(18z) 영역에서 마모 정도가 얼마나 큰지 또는, 달리 말하면, 새로운 슬라이딩 플레이트의 처음 원통형 표면과 이에 상응하는 실제 상태 간의 거리가 얼마나 큰지가 밀리미터 해상도로 결정될 수 있으며, 그 뒤에 기준 데이터는 컴퓨터 및/또는 운영자에 의해 평가되어, 해당 슬라이딩 플레이트가 얼마나 더 많이 사용될 수 있는지 또는 수리 혹은 교체가 필요한지가 결정된다.
상기 장치는 고온의 골재(aggregate)에서 사용될 수 있도록 구성된다. 이는, 도 2에 도시된 것과 같이, 도 1에 따른 용기(10)로부터 용융물(melt)이 배출되고 난 뒤, 체크해야 하는 영역 내에 측정 헤드("고온 단부"에 있는 세그먼트(34))가 배열될 때까지, 상기 장치는 하부로부터 배출 드릴링(16) 내로 삽입되는 것이 바람직하다는 것을 의미한다.
이를 위하여, 전체 장치는 금속 용기에 고정될 수 있으며, 측정 파이프의 중앙 세로축(A)이 상응하는 배출 개구(16)의 이상적인 중앙 세로축의 축방향 연장선(axail extension)에 배열되는 것이 바람직하다.
카메라(38)로 첫 번째 사진(shot)이 찍히며 또한 거리 측정을 위해 첫 번째 광삼각법(laser triangulation)도 실행된다. 그 뒤, 측정 파이프(30)는 슬라이딩 플레이트(18)의 표면(18z)의 인접한 부분을 캡쳐하기 위하여 특정 거리만큼 축방향으로 이동되거나 및/또는 특정 각도만큼 비틀린다(twisted). 이 과정은 자의로 반복될 수 있으며 슬라이딩 플레이트의 어느 부분들이 체크되어야 하는 지에 따라 임의의 작거나 큰 부분 단계들에서 반복될 수 있다.
그 뒤, 상기 장치는 다시 제거된다. 상기 장치의 내구성을 증가시키기 위하여, 제 2 세그먼트(34)에서 측정 파이프(30)는 내부에 광물섬유 단열부(mineral fiber insulation)을 포함하도록 제안된다. 추가로, 측정 파이프(30)의 내측벽과 반사 표면(40) 사이의 공동(cavity)은 전체적으로 발포 유리(foam glass)로 채워진다. 반사 표면(40)의 광표면(optical surface) 또는 거울(46)의 각각의 광표면은 크롬처리된다(chromed).

Claims (15)

  1. 야금 분야에서 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치에 있어서,
    상기 장치는:
    - 측정 파이프(30)를 포함하며;
    - 측정 파이프(30) 위에 또는 측정 파이프(30) 내부에 배열된 카메라(38)를 포함하고, 상기 카메라의 피사체는 측정 파이프(30) 내측에 배열된 하나 이상의 반사 표면(40)과 나란하게 정렬되며, 상기 반사 표면(40)은 피사체에 대해 일정 거리가 형성되고 측정 파이프(30)의 축방향(A)을 향해 경사지며, 측정 파이프(30)는 반사 표면(40)의 맞은편에 있는 주변-세그먼트에서 반투명이고, 카메라(38)는 반사 표면(40)과 피사체 사이의 상응하는 초점거리에서 측정 파이프(30)까지 반경방향 거리에 배열되는 인접한 내화성 세라믹 구성요소(18)의 원통형 표면(18z)의 세그먼트를 캡쳐하고;
    - 측정 파이프(30) 위에 또는 측정 파이프(30) 내부에 배열된 거리 측정용 장치(44)를 포함하고, 상기 장치를 사용하여, 고정된 기준점에 대해 카메라(38)에 의해 캡쳐된 내화성 세라믹 구성요소(18)의 원통형 표면(18z)의 일부분 위의 영역 세그먼트 또는 한 점의 거리가 결정되는, 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    거리 측정용 장치(44)는 측정 파이프(30) 내에 배열된 거울(46) 위에 광 빔(44l)을 안내하는 다이오드 또는 레이저를 포함하며, 그 뒤, 카메라(38)에 의해 캡쳐된 세라믹 구성요소(18)의 원통형 표면(18z) 부분을 향해 측정 파이프(30)의 반투명 주변 세그먼트(42)를 통하여 상기 빔을 안내하는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    측정 파이프(30)의 반투명 주변 세그먼트(42)는 상기 측정 파이프(30) 내에 있는 개구에 의해 제공되는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    반사 표면(40)은 광파가 10-80°의 각도로 재안내되도록 배열되는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    반사 표면(40)은 광파가 45+/-10°의 각도로 재안내되도록 배열되는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  6. 제2항에 있어서,
    거울(46)은 반사 영역(40)의 전방에서 측정 파이프(30)의 축방향(A)으로 배열되는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  7. 제2항에 있어서,
    거울(46)은 측정 파이프(30)의 축방향(A)에 대한 일정 각도로 배열되며 반사된 광 빔은 카메라(38)에 의해 캡쳐된 세라믹 구성요소(18)의 원통형 표면(18z) 부분의 중앙 영역 세그먼트를 향해 재안내되는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 장치는 원통형의 측정 파이프(30)를 포함하는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    반사 영역(40) 및/또는 거울(46)은 광학면(optical side) 위에 내열성 코팅을 포함하는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    반사 표면 및/또는 거울(46)은 광학면 위에서 크롬처리되는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  11. 제1항에 있어서,
    측정 파이프(30)는 중앙 세로축(A)을 따라 축방향으로 이동할 수 있거나 및/또는 회전할 수 있는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    측정 파이프(30)는 최대 800℃의 온도를 견디기 위해 적어도 반사 표면(40) 및 가능 거울(46)이 배열되는 영역에서 단열 구성되는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  13. 제1항에 있어서,
    상기 장치는 메모리 유닛을 포함하며, 거리 측정용 장치(44)와 카메라(38)로부터 수신된 데이터와 영상은 상기 메모리 유닛에 캡쳐되는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  14. 제1항에 있어서,
    상기 장치는, 이전 저장 후에, 거리 측정용 장치(44)와 카메라(38)로부터 수신된 데이터와 영상을 분석하기 위한 분석 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
  15. 제1항에 있어서,
    상기 장치는 내화성 세라믹 구성요소(18)가 배열되는 금속 용기에 상기 장치를 고정시키기 위한 기기를 포함하는 것을 특징으로 하는 내화성 세라믹 구성요소의 원통형 표면들을 측정하고 탐지하기 위한 장치.
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