KR20130109691A - 터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법, 터치 감지 장치 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 - Google Patents

터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법, 터치 감지 장치 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 Download PDF

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Abstract

본 발명의 실시예에 따르면, 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법으로서, 상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔 단계; 및 상기 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법이 제공된다.

Description

터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법, 터치 감지 장치 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체{METHOD, TOUCH SENSING APPARATUS AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM FOR MINIMIZING NOISE ON TOUCH PANEL}
본 발명은 터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법, 터치 감지 장치 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 관한 것이다.
일반적으로, 전자통신 기술의 발전을 통해 다양한 전자기기들이 만들어지고 있다. 이러한 기기들은 점차 사용자의 조작 편의성과 디자인의 수려함을 강조하는 추세에 있는데, 이러한 추세에 따라 강조되는 것은 키보드 혹은 키패드로 대표되던 입력 장치의 다변화이다.
입력 장치는 키보드 혹은 키패드 등의 입력 장치를 통한 데이터 처리 과정으로부터 발전하여, 입력 장치와 출력장치가 하나로 묶여 사용가능한 터치 패널(Touch Panel)의 형태로까지 발전하였다. 이러한 터치 패널(Touch Panel)은 다른 입력기기 없이 입력이 가능한 입력 장치를 통칭하는 개념으로, 터치 패널을 통한 입력은 디스플레이 패널을 직접 터치하는 방식으로 이루어진다. 이는 간단하면서도 오동작이 적다는 장점이 있다.
한편, 근래 들어 그래픽 유저 인터페이스(GUI: Graphic User Interface) 시스템의 발달 및 대중화에 따라 입력이 간단한 터치 스크린(Touch Screen)의 사용이 보편화되고 있다. 터치 스크린은 터치 센서 패널 상에서의 터치 발생 위치를 인식하고, 이에 해당하는 동작이 수행되는 방식으로 구현된다.
터치 센서 패널은 행 배선과 열 배선의 매트릭스 형태로 형성될 수 있으며, 행 배선과 열 배선이 서로 교차하는 곳에 센서 또는 픽셀이 존재한다. 각각의 행 배선은 감지 신호에 의해 구동될 수 있고, 감지 신호로 인해 열 배선에 주입되는 전하가 터치의 양에 비례하기 때문에 터치 위치가 식별될 수 있는 것이다.
일반적으로는 각각의 행 배선에 특정 주파수를 갖는 구동 신호를 입력한 후, 각각의 열 배선을 통해 해당 주파수의 신호를 감지함으로써, 터치의 유무 및 그 위치를 식별해낸다. 그러나, 다양한 이유로 해당 주파수 대역에 노이즈가 존재하게 되면, 터치 감지의 정밀도가 떨어지게 된다. 따라서, 상기 구동 신호의 주파수, 즉, 터치 감지에 사용되는 주파수를 변경하여야 할 필요가 있다.
본 발명의 목적은 터치 감지에 있어서 구동 신호의 주파수 대역에 노이즈가 존재하는 경우, 구동 신호의 주파수를 변경하여 노이즈를 최소화시키는 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법으로서, 상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔 단계; 및 상기 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법이 제공된다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법으로서, 상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔을 1회 이상 수행하는 제1 더미 스캔 단계; 상기 제1 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 제1 임계값보다 큰 경우, 상기 더미 스캔을 다시 1회 이상 반복하여 수행하는 제2 더미 스캔 단계; 상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 제2 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법이 제공된다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널을 포함하며 노이즈가 최소화된 터치 감지 장치로서, 상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔을 수행하는 감지부; 및 상기 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 주파수 호핑부를 포함하는 터치 감지 장치가 제공된다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널을 포함하며 노이즈가 최소화된 터치 감지 장치로서, 상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔을 1회 이상 수행하는 제1 더미 스캔을 수행하고, 상기 제1 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 제1 임계값보다 큰 경우, 상기 더미 스캔을 다시 1회 이상 반복하여 수행하는 제2 더미 스캔을 수행하는 감지부; 및 상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 제2 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 주파수 호핑부를 포함하는, 터치 감지 장치가 제공된다.
한편, 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 특정 주파수에서의 노이즈를 평가하여 구동 신호의 주파수를 변경함으로써 터치 감지에서의 노이즈를 최소화하기 위한 다른 방법 및 이러한 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 기록하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체가 제공된다.
본 발명에 따르면, 구동 라인에 구동 신호가 인가되지 않은 상태에서 출력되는 감지 라인으로부터의 신호를 통해 노이즈를 평가하고, 노이즈 존재 시에는 구동 신호의 주파수를 변경함으로써, 터치 감지에 있어서의 노이즈를 최소화할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 2 내지 도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 4 내지 도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법을 설명하기 위한 도면이다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 바람직한 실시예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
[본 발명의 바람직한 실시예]
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 터치 감지 장치의 개략적인 구성을 설명하는 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 터치 감지 장치는 복수의 행 배선 및 열 배선으로 이루어지는 터치 감지 패널(110), 터치 감지 패널(110)에 구동 신호를 입력하는 구동 신호 공급부(120), 열 배선으로부터 출력되는 신호를 감지하는 감지부(130), 주파수 호핑부(140)를 포함한다. 구동 신호 공급부(120), 감지부(130), 주파수 호핑부(140)는 소정의 신호에 의해 제어되는 모듈들일 수 있다. 이러한 구성요소들은 후술할 특정 동작을 하거나, 특정 알고리즘을 수행하는 루틴, 서브루틴, 프로그램, 오브젝트, 컴포넌트, 데이터 구조 등을 포괄하지만, 이에 제한되지는 않는다. 이하에서, 구동 신호 공급부(120), 감지부(130), 주파수 호핑부(140)를 서로 별개의 구성요소인 것으로 설명하겠지만, 이는 설명의 편의를 위한 것일 뿐이며, 이 중 적어도 2개의 구성요소는 하나의 모듈로 구성될 수도 있다. 예를 들면, 감지부(130)와 주파수 호핑부(140)는 각각의 기능을 수행하는 하나의 구성요소로 구현될 수 있다.
터치 감지 패널(110)은 행 배선 및 열 배선의 행렬로 형성된다. 행 배선과 열 배선은 유전체 물질로 분리되어 있으며, 서로 교차하는 지점에는 센서 또는 픽셀이 존재한다. 각각의 행은 자극 신호에 의해 구동될 수 있다. 따라서, 행 배선을 구동 라인이라고 할 수 있다. 또한, 행 배선에 주입되는 구동 신호로 인해 터치가 이루어진 지점에 해당하는 열 배선으로부터 출력되는 감지 신호는 다른 열 배선으로부터 출력되는 신호와 달라지며, 이러한 신호에 의해 터치의 지점이 식별될 수 있다. 따라서, 열 배선을 감지 라인이라고도 할 수 있다.
이하의 설명 및 첨부되는 도면에서는 행과 열이 직교 어레이를 구성하는 터치 감지 패널을 예로 들어 설명하겠지만, 본 발명은 이에 제한되지 않으며, 대각선, 동심원 및 3차원 랜덤 배열 등을 비롯한 임의의 수의 차원 및 이의 응용 배열을 갖는 다른 터치 감지 패널에 적용될 수 있다.
구동 라인과 감지 라인은 투명 전도성 물질(예를 들면, ITO(Indium Tin Oxide) 또는 ATO(Antimony Tin Oxide) 등)로 형성될 수 있다. 그러나, 다른 투명 물질 또는 구리 등의 불투명 전도성 물질로 형성될 수도 있다.
각각의 구동 라인을 통해서는 특정의 주파수를 갖는 신호가 입력될 수 있다. 이러한 신호는 구동 신호 공급부(120)에 의해 생성될 수 있다. 구동 신호 공급부(120)는 각각의 구동 라인에 구동 신호를 순차적으로 입력할 수 있다. 예를 들어, 클록 신호 등을 기준으로 하여, 제1 구간 동안은 제1 구동 라인(D0)에 구동 신호를 입력하고, 제2 구간 동안은 제2 구동 라인(D1)에 구동 신호를 입력하는 등의 방식으로, 2개 이상의 감지 라인에 동시에 동일한 구동 신호가 입력되지 않도록 제어할 수 있다. 복수 개의 감지 라인에 동시에 동일한 구동 신호가 입력되면, 특정 감지 라인을 통해 터치가 감지되더라도, 어떠한 구동 라인의 위치에 터치가 발생했는지 알 수 없기 때문이다. 따라서, 각각의 구동 라인에는 구동 신호가 서로 다른 타이밍에 공급되어야 한다.
특정 위치에 터치가 발생하였을 때, 해당 위치를 경유하는 감지 라인에는 다른 감지 라인에서와 다른 신호가 출력된다. 감지부(130)는 각 감지 라인으로부터 출력되는 신호를 받아 어느 감지 라인에 해당하는 위치에 터치가 발생하였는지를 판단한다. 감지부(130)는 구동 신호 공급부(120)에 의해 공급되는 구동 신호의 주파수와 동일한 주파수에 해당하는 신호를 감지할 수 있다.
예를 들면, 터치가 이루어진 지점을 경유하는 감지 라인으로부터 출력되는 신호는 정상 상태인 다른 감지 라인으로부터 출력되는 신호에 비해 낮은 진폭을 가질 수 있는데, 이러한 차이를 판별함으로써 터치가 이루어진 지점을 식별해낼 수 있다. 각각의 감지 라인으로부터 출력되는 신호에 대한 관찰은 동시에 이루어질 수도 있고, 순차적으로 이루어질 수도 있다.
한편, 터치 감지 패널(110)에 터치가 발생하지 않더라도, 노이즈 등에 의해 감지부(130)에 의해 수신되는 신호의 크기가 달라질 수 있다. 현재 감지 신호의 주파수와 동일한 주파수의 노이즈가 존재하는 경우에는, 감지부(130)에 의해 감지된 신호의 특징이 달라질 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 주파수 호핑부(140)는 현재 구동 신호 주파수에서의 노이즈를 평가하여, 노이즈가 최소화된 주파수를 찾아내고, 구동 신호가 해당 주파수로 변경될 수 있도록 한다.
이하에서는, 이러한 노이즈 최소화 방법에 대해 설명하기로 한다.
노이즈 최소화 방법
제1 실시예
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 패널에서의 노이즈를 최소화하기 위한 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 먼저, 감지부(130)에서 더미 스캔을 실시한다(S210). 본 명세서에서 "더미 스캔"이라는 것은 구동 라인에 구동 신호가 입력되지 않은 상태에서 각 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 과정을 의미한다. “더미 스캔”은 일 회 이상의 신호 감지에 의해 수행될 수 있다. 즉, 단계 S210에서의 더미 스캔은 구동 신호가 인가되지 않은 상태에서 감지 라인으로부터의 신호 감지를 1회만 수행할 수도 있으나, 그 이상 수행할 수도 있다. 터치에 대한 감지를 위해서는 구동 라인에 특정 주파수를 갖는 구동 신호를 입력하고, 감지 라인으로부터 출력되는 신호를 감지하는 과정이 행해지는데, 구동 라인에 구동 신호를 입력시키지 않은 상태에서 감지 라인으로부터 출력되는 신호를 감지하면 현재 노이즈의 존재 여부를 알 수 있다. 이러한 더미 스캔은 주기적으로 행해질 수도 있으나, 비주기적으로 행해질 수도 있다. 예를 들면, 각각의 구동 라인(D0~Dn)에 구동 신호를 순차적으로 입력하여 터치에 대한 감지를 하는 1 사이클이 종료된 시점마다 모든 구동 라인(D0~Dn)에 구동 신호를 입력시키지 않은 상태에서 1회 이상의 더미 스캔이 행해질 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 주파수 호핑부(140)는 더미 스캔의 결과 감지부(130)에 의해 감지된 신호의 크기(NS0)와 임계값(NT0)을 비교한다(S220). 감지부(130)에 의해 감지된 신호의 크기(NS0)는 각 감지 라인으로부터 출력되는 신호들의 평균값일 수도 있고, 최대값일 수도 있으며, 전 신호의 합일 수도 있다. 그러나, 노이즈 존재 시 감지 신호로부터 출력되는 신호의 특징만을 알 수 있으면, 어떠한 변수를 이용하여도 족하다. 더미 스캔의 결과 감지부(130)에 의해 감지된 신호의 크기(NS0)가 임계값(NT0) 이하라면, 현재 구동 신호의 주파수(또는 감지부(130)에 의해 감지되는 신호의 주파수) 대역에서 노이즈가 허용치 이상으로 존재하지는 않는다는 것이므로, 계속적으로 동일한 주파수의 구동 신호를 사용할 수 있다. 이 때, 단일 더미 스캔 과정은 계속적으로(예를 들면, 모든 구동 라인(D0~Dn)에 구동 신호를 순차적으로 입력하여 터치 감지를 행하는 1 사이클이 완료될 때마다), 수행될 수 있다.
한편, 더미 스캔의 결과 감지부(130)에 의해 감지된 신호의 크기(NS0)가 임계값(NT0)보다 크다면, 현재 구동 신호의 주파수와 동일한 주파수의 노이즈가 허용치 이상으로 존재한다는 것이므로, 주파수 호핑부(140)는 감지부(130)에 의해 감지되는 신호의 대상 주파수를 변경한다(S230). 이를 "주파수 호핑(Frequency Hopping)"이라 한다. 주파수 호핑이 행해진 후에는 해당 주파수에서의 단일 더미 스캔이 반복적으로 행해질 수 있다(S210).
도 3을 참조하면, 주파수 호핑(S230)은 다음과 같은 과정으로 진행될 수 있다. 먼저, 현재 구동 신호의 주파수와 다른 주파수 대역에서 더미 스캔을 행한다(S231). 즉, 현재 감지부(130)가 제1 주파수 대역에 해당하는 신호를 감지하고 있는 경우, 이를 제2 주파수 대역으로 바꾸어 더미 스캔을 행한다. 더미 스캔의 결과 감지된 신호의 크기(NS0’)와 임계값(NT0)을 비교하여(S232), 더미 스캔의 결과 감지된 신호의 크기(NS0’)가 임계값(NT0) 이하라면, 구동 신호의 주파수를 해당 주파수로 변경한다(S233). 그러나, 제2 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행한 결과 감지된 신호의 크기(NS0’)가 임계값(NT0)보다 크다면, 다시 제3 주파수로 변경하여 다시 더미 스캔을 행한다(S231).
그러나, 도 3에 도시된 실시예 외에도, 주파수 호핑(S230)은 여러가지 방법으로 수행될 수 있다. 예를 들면, 단계 S232에서 변경된 주파수로의 더미 스캔 결과의 신호 크기(NS0’)와 변경 전 주파수로의 더미 스캔 결과의 신호 크기(NS0)를 비교할 수도 있다. 또한, 여러가지 주파수 후보군에 대한 더미 스캔을 모두 수행해보고, 그 중 가장 작은 신호의 크기를 나타내는 주파수를 변경될 주파수로 선택할 수도 있다.
주파수 호핑(S230) 과정이 완료되면, 다시 단계 S210으로 돌아가 해당 과정을 반복할 수 있다.
제2 실시예
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 패널에서의 노이즈를 최소화하기 위한 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 1 및 도 4를 참조하면, 먼저, 감지부(130)에서 제1 더미 스캔을 실시한다(S410). 전술한 바와 같이 더미 스캔은 구동 라인에 구동 신호를 입력하지 않은 상태에서 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 동작을 의미하는데, 단계 S410에서의 제1 더미 스캔은 더미 스캔 동작을 일 회 이상 실시하는 것을 의미한다. 제1 더미 스캔 수행 후, 감지된 신호의 크기(NS0)와 임계값(NT0)을 비교한다(S420). 전술한 바와 같이, 감지된 신호의 크기(NS0)는 각 감지 라인으로부터 출력되는 신호들의 평균값일 수도 있고, 최대값일 수도 있으며, 전 신호의 합일 수도 있다.
제1 더미 스캔의 결과 감지부(130)에 의해 감지된 신호의 크기(NS0)가 임계값(NT0) 이하라면, 현재 구동 신호의 주파수(또는 감지부(130)에 의해 감지되는 신호의 주파수) 대역에서 노이즈가 허용치 이상으로 존재하지는 않는다는 것이므로, 계속적으로 동일한 주파수의 구동 신호를 사용할 수 있다. 이 때, 제1 더미 스캔 과정은 계속적으로(예를 들면, 모든 구동 라인(D0~Dn)에 구동 신호를 순차적으로 입력하여 터치 감지를 행하는 1 사이클이 완료될 때마다), 수행될 수 있다.
한편, 더미 스캔의 결과 감지부(130)에 의해 감지된 신호의 크기(NS0)가 제1 임계값(NT0)보다 크다면, 현재 구동 신호의 주파수와 동일한 주파수의 노이즈가 허용치 이상으로 존재한다는 것일 수 있다.
이 때, 주파수 호핑부(140)는 제2 더미 스캔을 수행한다(S430). 제2 더미 스캔은 더미 스캔을 또 다시 일 회 이상 실시해보는 동작일 수 있다. 즉, 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 감지 라인으로부터의 신호 감지를 일 회 이상 수행한다. 반복 횟수는 단계 S410에서의 더미 스캔 반복 횟수와 동일할 수도 있으나, 다를 수도 있다. 예를 들면, 제2 더미 스캔 단계(S430)에서의 더미 스캔 반복 횟수는 제1 더미 스캔 단계(S410)에서의 더미 스캔 반복 횟수보다 클 수 있다.
제2 더미 스캔 후에는 그 결과 얻어진 신호의 크기(NS1)와 제2 임계값(NT1)을 비교한다(S440). 여기에서의 임계값(NT1)은 단계 S420에서 사용한 임계값(NT0)과 다른 값일 수 있다. 예를 들어, 제1 더미 스캔 단계(S410)에서의 더미 스캔 반복 횟수와 제2 더미 스캔 단계(S420)에서의 더미 스캔 반복 횟수가 동일할 때, 단계 S440에서 사용되는 임계값(NT1)은 단계 S420에서 사용되는 임계값(NT0)보다 큰 값일 수 있다.
제2 더미 스캔으로 얻어진 신호의 크기(NS1)는 각 더미 스캔으로 얻어진 신호 크기의 평균, 최대값 또는 총 합 중 적어도 하나일 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다. 단계 S440에서의 비교 결과 제2 더미 스캔으로 얻어진 신호의 크기(NS1)가 제2 임계값(NT1) 이하라면, 다시 동일한 주파수에서 단일 더미 스캔(S410)을 수행한다. 이 때, 단계 S410 내지 S440이 무한정 반복될 수 있기 때문에, 그 반복 횟수를 제한할 필요가 있다. 이를 위해, 단계 S450 및 단계 S460이 수행될 수 있다. 단계 S440에서 단계 S410으로 돌아갈 때마다 "재시도 횟수"를 1씩 증가시킨다(S450). "재시도 횟수"가 기 설정된 반복 한계값(MAX_TRY)과 동일해지면, 단계 S410으로 돌아가는 과정을 중단하고 주파수 호핑 과정(S470)으로 진행할 수 있다. 그러나, 단계 S450 및 단계 S460은 생략 가능하다.
단계 S440에서의 비교 결과 제2 더미 스캔으로 얻어진 신호의 크기(NS1)가 제2 임계값(NT1) 보다 크거나, 단계 S410 내지 단계 S440의 반복이 소정 횟수 이상이 되는 경우에는 주파수 호핑이 행해진다(S470). 전술한 바와 같이, 주파수 호핑은 감지부(130)의 감지 대상이 되는 신호의 주파수를 변경하는 것이다.
도 5를 참조하면, 주파수 호핑(S470)은 다음과 같은 과정으로 진행될 수 있다. 먼저, 현재 구동 신호의 주파수와 다른 주파수 대역에서 더미 스캔을 행한다(S471). 즉, 현재 감지부(130)가 제1 주파수 대역에 해당하는 신호를 감지하고 있는 경우, 이를 제2 주파수 대역으로 바꾸어 더미 스캔을 일 회 이상 행한다. 제2 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행하여 얻어진 신호의 크기(NS2)와 제1 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행하여 얻어진 신호의 크기(NS1)를 비교한다(S472). 도 5에서는 제1 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행하여 얻어진 신호의 크기(NS1)를 단계 S430(도 4 참조)에서의 제2 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기(NS1)인 것으로 예시하였으나, 단계 S410에서의 제1 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기(NS0)로 대체될 수도 있다.
단계 S472에서의 비교 결과, 제2 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행한 결과 감지된 신호의 크기(NS2)가 제1 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행하여 얻어진 신호의 크기(NS1)보다 작다면, 구동 신호의 주파수를 해당 주파수로 변경한다(S473). 그러나, 그렇지 않다면, 다시 제3 주파수로 변경하여 재차 더미 스캔을 행한다(S471).
한편, 도 6을 참조하면, 주파수 호핑(S470)은 다음과 같은 과정으로 진행될 수도 있다. 먼저, 현재 구동 신호의 주파수와 다른 주파수 대역에서 더미 스캔을 행한다(S474). 즉, 현재 감지부(130)가 제1 주파수 대역에 해당하는 신호를 감지하고 있는 경우, 이를 제2 주파수 대역으로 바꾸어 더미 스캔을 일 회 이상 행한다. 제2 주파수 대역에서 단일 더미 스캔을 수행하여 얻어진 신호의 크기(NS2)와 임계값(NT0)을 비교한다(S475). 여기서의 임계값(NT0)은 단계 S420(도 4 참조)에서 제1 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기(NS0)와 비교 대상이 되는 임계값(NT0)과 동일한 값일 수 있으나, 단계 S440에서 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기(NS1)와 비교 대상이 되는 임계값(NT1)과 동일한 값일 수도 있고, 이와는 다른 제3의 임계값일 수도 있다. 단계 S472에서의 비교 결과, 제2 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행한 결과 감지된 신호의 크기(NS2)가 임계값(NT0)보다 작다면, 구동 신호의 주파수를 해당 주파수로 변경한다(S476). 그러나, 그렇지 않다면, 다시 제3 주파수로 변경하여 재차 단일 더미 스캔을 행한다(S474).
그러나, 도 5 및 도 6에 도시된 실시예 외에도, 주파수 호핑(S470)은 여러가지 방법으로 수행될 수 있다. 예를 들면, 전술한 바와 같이, 도 5에 도시된 방법의 변형예로서, 단계 S472에서, 제2 주파수 대역에서 더미 스캔으로 얻어진 신호의 크기(NS2)와 단계 S440(도 4 참조)에서 사용한 임계값(NT1)을 비교할 수도 있다. 또한, 여러가지 주파수 후보군에 대한 더미 스캔을 모두 수행해보고, 그 중 가장 작은 신호의 크기를 나타내는 주파수를 변경될 주파수로 선택할 수도 있다.
다시 도 4를 참조하면, 주파수 호핑(S470) 과정이 완료된 후에는, 다시 단계 S410 또는 단계 S4340으로 돌아가 해당 과정을 반복할 수 있다. 즉, 주파수 호핑이 완료된 후에는 변경된 주파수 대역에서 제1 더미 스캔을 수행하여(S410), 노이즈를 평가할 수도 있고, 제1 더미 스캔 과정은 생략한 채로 제2 더미 스캔을 수행하여(S430), 노이즈를 평가할 수도 있다.
이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
또한, 이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
110: 터치 패널
120: 구동 신호 공급부
130: 감지부
140: 주파수 호핑부

Claims (35)

  1. 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법으로서,
    상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔 단계; 및
    상기 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 비교 결과, 상기 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 임계값보다 큰 경우에는 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 주파수 호핑 단계를 더 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행하는 단계; 및
    상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 임계값보다 작을 때, 상기 구동 신호의 주파수를 상기 제2 주파수로 변경하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 임계값보다 클 때, 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 다른 제3 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행하는 단계를 더 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행하는 단계; 및
    상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기보다 작을 때, 상기 구동 신호의 주파수를 상기 제2 주파수로 변경하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기 이상일 때, 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 다른 제3 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행하는 단계를 더 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    일 이상의 주파수 후보군에 대해 더미 스캔을 수행하고, 최소의 신호 크기를 나타내는 주파수로 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 더미 스캔 단계는,
    상기 복수개의 구동 라인에 구동 신호를 순차적으로 입력하여 터치에 대한 감지를 하는 1 사이클이 종료된 시점마다 주기적으로 수행되는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  9. 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널에서 노이즈를 최소화하기 위한 방법으로서,
    상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔을 1회 이상 수행하는 제1 더미 스캔 단계;
    상기 제1 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 제1 임계값보다 큰 경우, 상기 더미 스캔을 1회 이상 반복하여 수행하는 제2 더미 스캔 단계;
    상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 제2 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제2 임계값보다 큰 경우에는, 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 주파수 호핑 단계를 더 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 대역에서 더미 스캔을 1회 이상 수행하는 단계; 및
    상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 주파수 대역에서 상기 제1 또는 제2 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기보다 작을 때, 상기 구동 신호의 주파수를 상기 제2 주파수로 변경하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 주파수 대역에서의 상기 제1 또는 제2 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기 이상일 때, 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 다른 제3 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 1회 이상 수행하는 단계를 더 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  13. 제10항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행하는 단계; 및
    상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 또는 제2 임계값 이하일 때, 상기 구동 신호의 주파수를 상기 제2 주파수로 변경하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 또는 제2 임계값보다 클 때, 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 다른 제3 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 1회 이상 수행하는 단계를 더 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  15. 제10항에 있어서,
    상기 주파수 호핑 단계는,
    일 이상의 주파수 후보군에 대해 더미 스캔을 수행하고, 최소의 신호 크기를 나타내는 주파수로 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 단계를 포함하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  16. 제9항에 있어서,
    상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제2 임계값 이하인 경우, 상기 제1 더미 스캔 단계로 돌아가는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제2 임계값 이하인 경우, 상기 제1 더미 스캔 단계로 돌아가는 반복 횟수가 임계 횟수 이상이 되면, 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 주파수 호핑 단계를 수행하는, 터치 패널에서의 노이즈 최소화 방법.
  18. 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널을 포함하며 노이즈가 최소화된 터치 감지 장치로서,
    상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔을 수행하는 감지부; 및
    상기 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 주파수 호핑부를 포함하는 터치 감지 장치.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 주파수 호핑부는, 상기 비교 결과, 상기 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 임계값보다 큰 경우에는 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 주파수 호핑을 수행하는, 터치 감지 장치.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 주파수 호핑은, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행한 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 임계값보다 작을 때, 상기 구동 신호의 주파수를 상기 제2 주파수로 변경하는 동작을 포함하는, 터치 감지 장치.
  21. 제20항에 있어서,
    상기 주파수 호핑은, 상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 임계값보다 클 때, 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 다른 제3 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행하는 동작을 더 포함하는, 터치 감지 장치.
  22. 제19항에 있어서,
    상기 주파수 호핑은, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행한 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기보다 작을 때, 상기 구동 신호의 주파수를 상기 제2 주파수로 변경하는 동작을 포함하는, 터치 감지 장치.
  23. 제22항에 있어서,
    상기 주파수 호핑은, 상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기 이상일 때, 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 다른 제3 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행하는 동작을 더 포함하는, 터치 감지 장치.
  24. 제19항에 있어서,
    상기 주파수 호핑부는, 일 이상의 주파수 후보군에 대해 더미 스캔을 수행하고, 최소의 신호 크기를 나타내는 주파수로 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 주파수 호핑을 수행하는, 터치 감지 장치.
  25. 제18항에 있어서,
    상기 감지부는, 상기 복수개의 구동 라인에 구동 신호를 순차적으로 입력하여 터치에 대한 감지를 하는 1 사이클이 종료된 시점마다 상기 더미 스캔을 주기적으로 수행하는, 터치 감지 장치.
  26. 서로 교차하는 복수개의 구동 라인과 복수 개의 감지 라인을 포함하는 터치 패널을 포함하며 노이즈가 최소화된 터치 감지 장치로서,
    상기 구동 라인에 구동 신호를 인가하지 않은 상태에서 상기 감지 라인으로부터의 신호를 감지하는 더미 스캔을 1회 이상 수행하는 제1 더미 스캔을 수행하고, 상기 제1 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 제1 임계값보다 큰 경우, 상기 더미 스캔을 다시 1회 이상 수행하는 제2 더미 스캔을 수행하는 감지부; 및
    상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기와 제2 임계값을 비교하여, 상기 구동 신호의 주파수인 제1 주파수 대역에서의 노이즈를 평가하는 주파수 호핑부를 포함하는, 터치 감지 장치.
  27. 제26항에 있어서,
    상기 주파수 호핑부는, 상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제2 임계값보다 큰 경우에는, 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 주파수 호핑 동작을 수행하는, 터치 감지 장치.
  28. 제27항에 있어서,
    상기 주파수 호핑은, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 대역에서 더미 스캔을 수행한 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 주파수 대역에서의 제1 또는 제2 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기보다 작을 때, 상기 구동 신호의 주파수를 상기 제2 주파수로 변경하는 동작을 포함하는, 터치 감지 장치.
  29. 제28항에 있어서,
    상기 주파수 호핑은, 상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 주파수 대역에서의 제1 또는 제2 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기 이상일 때, 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 다른 제3 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행하는 동작을 더 포함하는, 터치 감지 장치.
  30. 제27항에 있어서,
    상기 주파수 호핑은, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행한 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 또는 제2 임계값 이하일 때, 상기 구동 신호의 주파수를 상기 제2 주파수로 변경하는 동작을 포함하는, 터치 감지 장치.
  31. 제30항에 있어서,
    상기 주파수 호핑은, 상기 제2 주파수 대역에서의 더미 스캔 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제1 또는 제2 임계값보다 클 때, 상기 제1 주파수 및 상기 제2 주파수와 다른 제3 주파수 대역에서 상기 더미 스캔을 수행하는 동작을 더 포함하는, 터치 감지 장치.
  32. 제27항에 있어서,
    상기 주파수 호핑부는, 일 이상의 주파수 후보군에 대해 더미 스캔을 수행하고, 최소의 신호 크기를 나타내는 주파수로 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 주파수 호핑을 수행하는, 터치 감지 장치.
  33. 제26항에 있어서,
    상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제2 임계값 이하인 경우, 상기 감지부는, 다시 상기 제1 더미 스캔을 수행하는, 터치 감지 장치.
  34. 제33항에 있어서,
    상기 제2 더미 스캔의 결과 얻어진 신호의 크기가 상기 제2 임계값 이하인 경우, 상기 제1 더미 스캔 단계로 돌아가는 반복 횟수가 임계 횟수 이상이 되면, 상기 주파수 호핑부는, 상기 구동 신호의 주파수를 변경하는 주파수 호핑 동작을 수행하는, 터치 감지 장치.
  35. 제1항 내지 제17항 중 어느 한 항에 따른 방법을 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 기록하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.



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