KR20130080609A - In-line system for testing led and controlling method for the same - Google Patents

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KR20130080609A
KR20130080609A KR1020120001499A KR20120001499A KR20130080609A KR 20130080609 A KR20130080609 A KR 20130080609A KR 1020120001499 A KR1020120001499 A KR 1020120001499A KR 20120001499 A KR20120001499 A KR 20120001499A KR 20130080609 A KR20130080609 A KR 20130080609A
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PURPOSE: An in-line type light emitting diode (LED) inspection system and a control method thereof are provided to consecutively implement a lighting inspection, an optical property inspection, and a withstand voltage inspection on an LED lamp on one conveying line, thereby reducing time for inspection. CONSTITUTION: An in-line type light emitting diode (LED) inspection system includes a loading part (100), an unloading part (700), a conveying part (800), and an optical property measuring part (600). The loading part loads an LED lamp (10) to be inspected on a module mounting part (30). The unloading part unloads the lamp after an inspection on the lamp is finished. The module mounting part is mounted on the conveying unit, and the conveying unit has a conveying line connecting the loading part and the unloading part in order to consecutively convey the lamps. The optical property measuring part on the conveying line measures light source information including the intensity and color information of a light from the lamp, determines whether or not the optical property of the lamp is normal with comparing the light source information with the referential information of the lamp, or determines the grade of the lamp.

Description

인라인 타입의 엘이디 검사시스템 및 이의 제어방법{In-line System for testing LED and Controlling method for the same}In-line System for testing LED and Controlling method for the same}

본 발명은 엘이디 검사시스템 및 이의 제어방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 엘이디 조명에 대한 점등검사 및 광특성검사를 인라인 상에서 빠르게 수행할 수 있는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템 및 이의 제어방법에 관한 것이다.The present invention relates to an LED inspection system and a control method thereof, and more particularly, to an in-line type LED inspection system and a control method thereof that can perform a lighting test and an optical property test for an LED light inline in a fast manner.

엘이디(LED: Light Eimitting Diode)는 발광효율이 높고 저전류에서 고출력을 얻을 수 있으며, 응답속도가 빠르고 펄스동작 고주파에 의한 변조가 가능하다. 또한, 상기 엘이디는 광출력을 전류제어로 용이하게 변화시킬 수 있으며 다양한 색상연출이 가능한 친환경적인 광원에 해당한다.LED (Light Eimitting Diode) has high luminous efficiency, high output at low current, fast response speed, and can be modulated by high frequency pulse operation. In addition, the LED is an environmentally friendly light source that can easily change the light output by the current control and can produce a variety of colors.

이러한 장점들로 인하여 상기 엘이디는 전자 제품류와 가정용 가전제품, 리모컨, 자동차, 전광판, 각종 자동화기기, 신호등, 조명기구 등에 많이 사용된다.Due to these advantages, the LED is widely used in electronic products, home appliances, remote controls, automobiles, electronic signs, various automation devices, traffic lights, lighting fixtures, and the like.

한편, 상기 엘이디가 원하는 용도에 사용되기 전에 요구사양에 맞게 제작되었는지를 검사하게 되는데, 이러한 검사 중에는 각각의 엘이디가 제대로 점등되는지에 대한 검사 및 엘이디의 광량과 색온도 등과 같은 광특성을 분석하는 광특성 검사가 있다.On the other hand, it is checked whether the LEDs are manufactured according to the requirements before being used for the desired use. During this inspection, an inspection is carried out to check whether each LED is properly lit and to analyze optical characteristics such as the amount of light and color temperature of the LEDs. There is a test.

또한, 상기 엘이디에 대한 검사 중에는 상기 엘이디가 제대로 점등되는지를 확인하여 점등상태를 파악하는 점등검사가 있다.In addition, during the test for the LED, there is a lighting test to check whether the LED is properly lit to determine the lighting state.

그러나, 종래의 엘이디 점등검사에서는 작업자가 육안으로 상기 엘이디의 점등 여부를 확인하기 때문에 검사속도가 느릴 뿐만 아니라 검사정확도에 있어서도 한계가 있다.However, in the conventional LED lighting test, since the operator visually checks whether the LED is lit, the inspection speed is slow and there is a limit in the inspection accuracy.

또한, 종래의 엘이디 특성검사에서는 적분구를 이용하여 각각의 엘이디에 대하여 배치식으로 검사가 이루어 지기 때문에 검사속도가 늦은 문제가 있다. In addition, the conventional LED characteristic test has a problem that the inspection speed is slow because the inspection is performed batchwise for each LED using the integrating sphere.

구체적으로, 종래에는 복수 개의 엘이디 조명에 대한 광특성을 측정하는 경우에는 측정하고자 하는 하나의 엘이디 조명을 상기 적분구의 내부에 위치시켜 상기 엘이디 조명에 대한 광특성을 측정하고, 이후에 측정이 종료된 상기 엘이디 조명을 빼내고 새롭게 측정하고자 하는 엘이디 조명을 상기 적분구 내부에 위치시키는 작업 등을 수작업을 통하여 반복적으로 수행하여야 하므로 광특성 측정 시간이 오래 걸리는 문제가 있다.In detail, when measuring optical characteristics of a plurality of LED illuminations in the related art, one LED illumination to be measured is positioned inside the integrating sphere to measure the optical characteristics of the LED illuminations, and then the measurement is completed. Taking out the LED illumination and placing the LED illumination to be newly measured within the integrating sphere must be repeatedly performed by manual operation, so there is a problem in that it takes a long time to measure the optical characteristics.

결과적으로, 종래의 엘이디 검사방법은 엘이디에 대한 점등검사와 광특성검사가 분리된 공간에서 독립적으로 이루어질 뿐만 아니라, 점등검사 및 광특성 검사 자체도 하나의 엘이디 조명에 대하여 배치식으로 진행되므로 검사시간이 오래 걸리게 되는 문제가 있다.As a result, the conventional LED inspection method is performed independently in a space in which the lighting test and the optical property test for the LED are separated from each other, and the lighting test and the optical property test are also performed in a batch manner for one LED light, so that the inspection time There is a problem that takes a long time.

대한민국 공개특허공보 제10-2009-0087246호의 명세서 식별번호 <38>, <39>, <40>, <41> 및 <42>Specification identification numbers <38>, <39>, <40>, <41>, and <42> of Korean Patent Publication No. 10-2009-0087246

본 발명의 해결하고자 하는 과제는 엘이디 조명에 대한 점등검사 및 광특성 검사의 검사속도를 향상시키고, 상기 엘이디 조명에 대한 검사를 하나의 이송라인에서 연속적으로 수행할 수 있는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템 및 이의 제어방법을 제공하는 것이다.The problem to be solved of the present invention is to improve the inspection speed of the lighting test and the optical property test for the LED lighting, and the in-line type LED inspection system that can perform the inspection for the LED lighting continuously in one transfer line and It is to provide a control method thereof.

상술한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 검사하고자 하는 엘이디 조명이 장착되는 모듈 장착부에 상기 엘이디 조명을 로딩하는 로딩부, 상기 엘이디 조명에 대한 검사가 완료된 후에 상기 엘이디 조명이 언로딩되는 언로딩부, 상기 모듈장착부가 안착되며 상기 엘이디 조명을 연속적으로 이송시키기 위하여 상기 로딩부와 상기 언로딩부를 연결하는 이송라인을 갖는 이송유닛, 그리고 상기 이송라인 상에 배치되어 상기 엘이디 조명에서 방출되는 빛의 광량 및 색정보를 포함하는 광원정보를 측정하고, 측정된 광원정보와 상기 엘이디 조명의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명의 광특성이 정상인지를 판단하거나 상기 엘이디 조명의 등급을 결정하는 광특성 측정유닛을 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템을 제공한다.In order to solve the above problems, the present invention is a loading unit for loading the LED light to the module mounting unit on which the LED light to be inspected, the unloading unit unloading the LED light after the inspection of the LED light is completed And a transfer unit having the module mounting unit mounted thereon, the transfer unit having a transfer line connecting the loading unit and the unloading unit to continuously transfer the LED illumination, and the amount of light emitted from the LED illumination disposed on the transfer line. And measuring light source information including color information, and comparing the measured light source information with reference information of the LED illumination to determine whether the optical characteristic of the LED illumination is normal or to determine the grade of the LED illumination. It provides an in-line type LED inspection system comprising a.

상기 인라인 타입의 엘이디 검사시스템은 상기 이송라인 상에 배치되어 상기 엘이디 조명에서 방출되는 빛을 확산시키기 위하여 상기 엘이디 조명의 상면에 확산부재를 설치하는 조립유닛을 더 포함할 수 있다.The in-line type LED inspection system may further include an assembly unit disposed on the transfer line to install a diffusion member on the upper surface of the LED illumination to diffuse the light emitted from the LED illumination.

또한, 상기 인라인 타입의 엘이디 검사시스템은 상기 조립유닛과 상기 광특성 측정유닛 사이에 배치되어 상기 엘이디 조명의 특성을 안정화시키기 위하여 상기 엘이디 조명에 대한 광특성을 측정하기 전에 일정시간 동안 상기 엘이디 조명을 온 상태로 유지시키는 에이징(aging) 유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the in-line type LED inspection system is disposed between the assembly unit and the optical characteristic measurement unit to measure the LED illumination for a predetermined time before measuring the optical characteristics for the LED illumination to stabilize the characteristics of the LED illumination It may further include an aging unit to keep on.

또한, 상기 인라인 타입의 엘이디 검사시스템은 상기 조립유닛의 전단에 배치되어 상기 엘이디 조명에서 방출되는 개별 엘이디의 광량값을 측정하고, 측정된 광량값과 상기 엘이디 조명의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명의 점등상태를 파악하는 점등검사유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the in-line type LED inspection system is disposed in front of the assembly unit to measure the light quantity value of the individual LEDs emitted from the LED illumination, and compares the measured light quantity value and the reference information of the LED illumination the LED illumination It may further include a lighting inspection unit to determine the lighting state of the.

또한, 상기 인라인 타입의 엘이디 검사시스템은 상기 점등검사유닛의 전단에 배치되어 상기 엘이디 조명의 전기적인 안정성을 검사하는 내전압 검사유닛을 더 포함할 수 있다.In addition, the in-line type LED inspection system may further include a withstand voltage inspection unit disposed in front of the lighting inspection unit for inspecting the electrical stability of the LED lighting.

상기 이송라인은 상기 모듈장착부를 상기 로딩부에서 상기 언로딩부의 방향으로 이송시키는 제1 이송라인과, 상기 모듈장착부를 상기 언로딩부에서 상기 로딩부 방향으로 이송시키는 제2 이송라인을 포함하며, 상기 로딩부는 상기 제2 이송라인에서 상기 제1 이송라인으로 상기 모듈장착부를 상승시키기 위한 제1 승강장치를 포함하고, 상기 언로딩부는 상기 제1 이송라인에서 상기 제2 이송라인으로 상기 모듈장착부를 하강시키기 위한 제2 승강장치를 포함할 수 있다.The transfer line includes a first transfer line for transferring the module mounting part from the loading part in the direction of the unloading part, and a second transfer line for transferring the module mounting part from the unloading part in the direction of the loading part. The loading unit includes a first lifting device for raising the module mounting unit from the second transfer line to the first transfer line, and the unloading unit lowers the module mounting unit from the first transfer line to the second transfer line. It may include a second lifting device for making.

상기 광특성 측정유닛, 상기 에이징 유닛, 상기 점등검사유닛 및 상기 내전압 검사유닛이 설치되는 각각의 상기 이송라인의 일부 영역에는 외부의 전압을 상기 엘이디 조명에 공급하기 위한 전원공급단자가 설치되고, 상기 모듈장착부에는 상기 전원공급단자와 접촉되면서 상기 엘이디 조명에 전원을 인가하는 접촉단자가 구비될 수 있다.A power supply terminal for supplying an external voltage to the LED lighting is provided in a portion of each of the transfer lines in which the optical characteristic measuring unit, the aging unit, the lighting test unit, and the withstand voltage test unit are installed. The module mounting part may be provided with a contact terminal for applying power to the LED lighting while being in contact with the power supply terminal.

또한, 또한, 상기 인라인 타입의 엘이디 검사시스템은 상기 엘이디 조명이 상기 광특성 측정유닛, 상기 에이징 유닛, 상기 점등검사유닛 및 상기 내전압 검사유닛 상의 정위치에 위치하도록 상기 이송라인의 이동을 제어하는 제어유닛을 더 포함할 수 있다.Further, the in-line type LED inspection system controls to control the movement of the transfer line such that the LED illumination is positioned at the correct position on the optical characteristic measuring unit, the aging unit, the lighting inspection unit, and the withstand voltage inspection unit. The unit may further include.

상기 광특성 측정유닛은 상기 엘이디 조명이 유입 및 유출되는 제2 검사챔버와, 상기 제2 검사챔버의 내부에 설치되는 광특성 측정부를 포함하며, 상기 광특성 측정부는 상기 엘이디 조명의 광특성을 측정하기 위한 제2 측정센서와, 상기 제2 측정센서로 유입되는 산란광을 차단하기 위한 배플과, 상기 제2 측정센서를 상하 좌우로 이동시키기 위한 센서이동수단을 포함할 수 있다.The optical characteristic measuring unit includes a second inspection chamber through which the LED illumination flows in and out, and an optical characteristic measuring unit installed inside the second inspection chamber, and the optical characteristic measuring unit measures the optical characteristic of the LED lighting. And a second measurement sensor, a baffle for blocking scattered light flowing into the second measurement sensor, and a sensor moving means for moving the second measurement sensor up, down, left, and right.

상기 점등검사유닛은 상기 엘이디 조명이 유입 및 유출되는 제1 검사챔버와, 상기 제1 검사챔버 내부에 설치되는 점등검사부를 포함하며, 상기 점등검사부는 상기 엘이디 조명에서 방출되는 개별 엘이디의 광량값을 측정하기 위한 제1 측정센서와, 상기 제1 측정센서와 결합되어 상하로 이동되는 제1 이동블럭과, 상기 제1 이동블럭과 결합되며 상기 제1 검사챔버에 고정된 제1 고정블럭을 포함할 수 있다.The lighting inspection unit includes a first inspection chamber through which the LED illumination flows in and out, and a lighting inspection unit installed inside the first inspection chamber, and the lighting inspection unit measures the light quantity of the individual LEDs emitted from the LED illumination. A first measuring sensor for measuring, a first moving block coupled to the first measuring sensor to move up and down, and a first fixed block coupled to the first moving block and fixed to the first inspection chamber; Can be.

본 발명의 다른 실시 형태에 의하면, 본 발명은 검사하고자 하는 엘이디 조명을 모듈장착부에 장착하는 로딩단계, 상기 엘이디 조명에서 방출되는 개별 엘이디의 광량값을 측정하고, 측정된 광량값과 상기 엘이디 조명의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명의 점등상태를 파악하는 점등검사단계, 상기 엘이디 조명에서 방출되는 빛의 광량 및 색정보를 포함하는 광원정보를 측정하고, 측정된 광원정보와 상기 엘이디 조명의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명의 광특성이 정상인지를 판단하거나 상기 엘이디 조명의 등급을 결정하는 광특성 측정단계, 상기 엘이디 조명에 대한 검사가 완료된 후 상기 엘이디 조명을 외부로 언로딩 하는 언로딩단계, 그리고 상기 로딩단계에서 상기 언로딩단계까지 상기 엘이디 조명을 연속적으로 이송시키는 이송단계를 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템의 제어방법을 제공한다.According to another embodiment of the present invention, the present invention provides a loading step of mounting the LED lighting to be tested to the module mounting unit, measuring the light quantity value of the individual LEDs emitted from the LED illumination, and the measured light quantity value and the The lighting test step of comparing the reference information to determine the lighting state of the LED light, measuring the light source information including the amount of light and color information of the light emitted from the LED light, the measured light source information and the reference information of the LED light An optical characteristic measuring step of determining whether the optical characteristic of the LED lighting is normal or determining the class of the LED lighting by comparing the LEDs, an unloading step of unloading the LED lighting to the outside after the inspection of the LED lighting is completed; And continuously transferring the LED light from the loading step to the unloading step. It provides a control method of the in-line type of LED inspection system including the steps:

상기 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템의 제어방법은 상기 점등검사단계 이전에 상기 엘이디 조명의 전기적인 안정성을 검사하는 내전압 검사단계를 더 포함할 수 있다.The control method of the in-line type LED inspection system may further include a voltage resistance test step of checking the electrical stability of the LED light before the lighting test step.

또한, 상기 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템의 제어방법은 상기 점등검사단계 이후에 상기 엘이디 조명에서 방출되는 빛을 확산시키기 위하여 상기 엘이디 조명의 상면에 확산부재를 설치하는 조립단계를 더 포함할 수 있다.In addition, the control method of the in-line type LED inspection system may further include an assembly step of installing a diffusion member on the upper surface of the LED illumination to diffuse the light emitted from the LED illumination after the lighting inspection step.

상기 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템의 제어방법은 상기 조립단계와 상기 광특성 측정단계 사이에서 상기 엘이디 조명의 특성을 안정화시키기 위하여 일정시간 동안 상기 엘이디 조명을 온 상태로 유지시키는 에이징(aging) 단계를 더 포함할 수 있다.The control method of the in-line type LED inspection system further comprises an aging step of keeping the LED lighting on for a predetermined time to stabilize the characteristics of the LED lighting between the assembling step and the optical property measuring step. It may include.

본 발명에 따른 인라인 타입의 엘이디 검사시스템 및 이의 제어방법의 효과를 설명하면 다음과 같다.The effects of the in-line type LED inspection system and its control method according to the present invention are as follows.

첫째, 엘이디모듈에 대한 검사, 예를 들면 점등검사, 광특성 검사, 내전압 검사를 포함하는 검사가 하나의 이송라인 상에서 연속적으로 수행되도록 함으로써 상기 엘이디 조명에 검사시간이 단축될 수 있는 이점이 있다.First, the inspection of the LED module, for example, a test including a lighting test, optical characteristics test, withstand voltage test can be performed continuously on a single transfer line has the advantage that the inspection time can be shortened in the LED lighting.

둘째, 상기 엘이디 조명에 대한 검사가 인라인 시스템상에서 수행되도록 함으로써 대량생산에 적합한 생산성을 높일 수 있는 이점이 있다. Second, there is an advantage to increase the productivity suitable for mass production by allowing the LED lighting to be performed on an inline system.

셋째, 이송라인의 일부 영역에 외부의 전압을 상기 엘이디 조명에 공급하기 위한 전원공급단자가 설치되고, 상기 엘이디 조명이 장착되는 모듈장착부에 상기 전원공급단자와 접촉되는 접촉단자를 설치함으로써 상기 엘이디 조명이 이송되는 동안에도 상기 엘이디 조명에 전원이 안정적으로 공급될 수 있는 이점이 있다.Third, a power supply terminal for supplying an external voltage to the LED lighting is installed in a portion of the transfer line, and the LED lighting by installing a contact terminal in contact with the power supply terminal in the module mounting portion on which the LED lighting is mounted Even during this transfer, there is an advantage that power can be stably supplied to the LED lighting.

도 1은 본 발명에 따른 인라인 타입의 엘이디 검사시스템의 일 실시 예를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명에 따른 모듈장착부에 엘이디 조명의 일 실시 예가 장착된 상태를 나타낸 도면.
도 3은 도 1의 인라인 타입의 엘이디 검사시스템에 구비된 점등검사유닛의 단면을 나타낸 도면.
도 4는 도 1의 인라인 타입의 엘이디 검사시스템에 구비된 광특성 측정유닛의 단면을 나타낸 도면.1 is a view showing an embodiment of an in-line type LED inspection system according to the present invention.
Figure 2 is a view showing a state in which an embodiment of the LED lighting mounted to the module mounting portion according to the present invention.
3 is a cross-sectional view of the lighting inspection unit provided in the LED inspection system of the in-line type of Figure 1;
4 is a cross-sectional view of an optical characteristic measuring unit provided in the in-line type LED inspection system of FIG.

첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 따른 인라인 타입의 엘이디 검사시스템 및 이를 제어방법을 설명한다.With reference to the accompanying drawings, it will be described in the in-line type LED inspection system and control method thereof.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 인라인 타입의 엘이디 검사시스템은 로딩부(100), 모듈장착부(30), 내전압 검사유닛(200), 점등검사유닛(300), 조립유닛(400), 에이징(aging)유닛(500), 광특성 측정유닛(600), 언로딩부(700), 이송유닛(800) 및 제어유닛(미도시)을 포함하여 구성된다.1 to 4, the in-line type LED inspection system according to the present invention, the loading unit 100, the module mounting unit 30, withstand voltage test unit 200, lighting test unit 300, assembly unit 400 ), An aging unit 500, an optical characteristic measuring unit 600, an unloading unit 700, a transfer unit 800, and a control unit (not shown).

상기 로딩부(100)는 검사하고자 하는 엘이디 조명(10)이 로딩되는 곳이다. 상기 로딩부(100)는 로딩챔버(110)와, 상기 언로딩부(700)에서 이동된 빈 모듈장착부(30)를 상부로 이동시키기 위한 제1 승강장치(120)를 포함하여 구성된다.The loading unit 100 is where the LED lighting 10 to be inspected is loaded. The loading unit 100 includes a loading chamber 110 and a first lifting device 120 for moving the empty module mounting unit 30 moved from the unloading unit 700 upward.

상기 모듈장착부(30)는 하나 이상의 엘이디 조명이 장착되는 장착프레임(31)과, 상기 장착프레임(31)의 일측에 구비되는 접촉단자(33)를 포함하여 구성된다. The module mounting portion 30 includes a mounting frame 31 to which at least one LED lighting is mounted, and a contact terminal 33 provided at one side of the mounting frame 31.

여기서, 상기 엘이디 조명(LED luminair)(10)는 하나 이상의 엘이디 모듈에서 나오는 빛을 퍼뜨리고, 상기 엘이디 모듈을 지지 및 고정, 보호하는데 필요한 모든 부분을 포함하고, 상기 엘이디 모듈 또는 엘이디 램프와 전원장치 및 전원에 연결하는데 필요한 부속회로를 포함하는 기기를 의미한다. Here, the LED luminair 10 includes all parts necessary to spread the light from one or more LED modules, and to support, fix and protect the LED module, and the LED module or the LED lamp and the power supply. And an accessory circuit necessary for connecting to a power source.

상기 엘이디 모듈은 하나 이상의 엘이디를 포함하여 구성된다. 상기 엘이디 조명은 원형 엘이디 조명, 벌브(bulb), 사각 엘이디 조명 등 종류에 따라 다양하게 상기 모듈장착부(30)에 장착될 수 있다.The LED module includes one or more LEDs. The LED lighting may be mounted on the module mounting portion 30 in a variety of ways, such as circular LED lighting, bulb (bulb), square LED lighting.

상기 접촉단자(33)는 상기 이송유닛의 이송라인 상에 설치되는 전원공급단자(311, 611)와 대응된다. 상기 전원공급단자(311, 611)는 상기 이송라인의 일부 영역, 예를 들면, 상기 내전압 검사유닛(200)이 설치되는 영역, 상기 점등검사유닛(300)이 설치되는 영역, 상기 에이징유닛(500) 및 상기 광특성 측정유닛(600)이 설치되는 영역 상에 구비될 수 있다. The contact terminal 33 corresponds to the power supply terminals 311 and 611 installed on the transfer line of the transfer unit. The power supply terminals 311 and 611 may be a partial region of the transfer line, for example, an area in which the withstand voltage test unit 200 is installed, an area in which the lighting test unit 300 is installed, and the aging unit 500. ) And the optical property measuring unit 600 may be provided.

상기 내전압 검사유닛(200)은 상기 엘이디 조명(10)의 전기적인 안정성을 검사하기 위한 것으로서, 상기 점등검사유닛(300)의 전단에 배치된다.The withstand voltage inspection unit 200 is for inspecting the electrical stability of the LED lighting 10, it is disposed in front of the lighting inspection unit (300).

구체적으로, 상기 내전압 검사유닛(200)은 상기 모듈장착부(30)에 전원을 인가하여 상기 모듈장착부(30)와 전기적으로 연결되어 있는 상기 엘이디 조명(10)의 전기적인 특성을 검사하게 된다.Specifically, the withstand voltage test unit 200 applies power to the module mounting unit 30 to test the electrical characteristics of the LED lighting 10 that is electrically connected to the module mounting unit 30.

상기 점등검사유닛(300)은 내전압 검사를 마친 상기 엘이디 조명(10)에 대하여 점등검사를 수행한다. The lighting test unit 300 performs a lighting test on the LED light 10 after the withstand voltage test.

구체적으로, 상기 점등검사유닛(300)은 상기 조립유닛(400)의 전단에 배치되어 상기 엘이디 조명(10)에서 방출되는 개별 엘이디의 광량값을 측정하고, 측정된 광량값과 상기 엘이디 조명(10)의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명(10)의 점등상태를 파악하게 된다.Specifically, the lighting inspection unit 300 is disposed in front of the assembly unit 400 to measure the light amount value of the individual LEDs emitted from the LED light 10, the measured light amount value and the LED light (10) By comparing the reference information of the) to determine the lighting state of the LED light (10).

상기 점등검사유닛(300)은 상기 엘이디 조명(10)이 유입 및 유출되는 제1 검사챔버(310)와, 상기 제1 검사챔버(310) 내부에 설치되는 점등검사부(320)를 포함한다.The lighting inspection unit 300 includes a first inspection chamber 310 into which the LED light 10 flows in and out, and a lighting inspection unit 320 installed inside the first inspection chamber 310.

상기 점등검사부(320)는 상기 엘이디 조명(10)에서 방출되는 개별 엘이디의 의 광량값을 측정하기 위한 제1 측정센서(325)와, 상기 제1 측정센서(325)와 결합되어 상하로 이동되는 제1 이동블럭(323)과, 상기 제1 이동블럭(323)과 결합되며 상기 제1 검사챔버(310)에 고정된 제1 고정블럭(321)을 포함한다. 여기서, 상기 제1 이동블럭(323)은 상기 제1 검사챔버(310) 내부에 설치된 센서이동수단(미도시)에 의하여 이동될 수 있다.The lighting inspection unit 320 is combined with the first measuring sensor 325 and the first measuring sensor 325 to move up and down to measure the light quantity value of the individual LEDs emitted from the LED lighting 10. And a first fixed block 321 coupled to the first moving block 323 and the first moving block 323 and fixed to the first inspection chamber 310. Here, the first moving block 323 may be moved by a sensor moving means (not shown) installed in the first inspection chamber 310.

상기 제1 측정센서(325)로는 비전카메라가 사용될 수 있으며, 상기 제1 측정센서(325)는 상기 제1 검사챔버(310)의 상부에서 하부방향으로 상기 엘이디 조명(10)의 개별 엘이디에 대한 이미지를 촬영하게 된다.A vision camera may be used as the first measuring sensor 325, and the first measuring sensor 325 may be used to separate individual LEDs of the LED lighting 10 from the upper side to the lower side of the first inspection chamber 310. The image is taken.

상기 제1 측정센서(325)는 상기 엘이디 조명(10)이 상기 제1 검사챔버(310) 내에서 미리 설정된 위치, 즉 정위치에 위치되면 상기 엘이디 조명(10)의 개별 엘이디에 대한 이미지를 촬영하게 된다. 상기 제1 측정센서(325)에 내장된 마이크로 프로세서는 상기 이미지로부터 해당 엘이디의 광량값을 산출하게 된다. 물론, 상기 마이크로 프로세서는 상기 제1 측정센서(325)와 분리된 상태로 구비될 수 있다.The first measuring sensor 325 captures an image of individual LEDs of the LED light 10 when the LED light 10 is positioned at a predetermined position, that is, at a predetermined position within the first inspection chamber 310. Done. The microprocessor embedded in the first measurement sensor 325 calculates a light quantity value of the corresponding LED from the image. Of course, the microprocessor may be provided in a state separated from the first measurement sensor 325.

여기서, 상기 제어유닛은 상기 엘이디 조명이 장착된 상기 모듈장착부(30)가 상기 정위치에 위치하도록 상기 이송유닛의 이송라인의 이동을 제어하게 된다.Here, the control unit is to control the movement of the transfer line of the transfer unit so that the module mounting portion 30 is equipped with the LED illumination is in the correct position.

뿐만 아니라, 상기 제어유닛은 상기 엘이디 조명(10)이 상기 광특성 측정유닛(600), 상기 에이징유닛(500), 상기 점등검사유닛(300) 및 상기 내전압 검사유닛(200) 상의 정위치에 위치하도록 상기 이송라인의 이동을 제어하게 된다.In addition, the control unit is the LED lighting 10 is located in the correct position on the optical characteristic measuring unit 600, the aging unit 500, the lighting test unit 300 and the withstand voltage test unit 200. To control the movement of the transfer line.

물론, 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않고, 상기 엘이디 조명(10)의 이동을 제한하기 위하여 상기 이송라인 상에 별도의 위치센서와 스토퍼가 구비되고, 상기 제어유닛은 상기 위치센서로부터 상기 모듈장착부(30)의 위치정보를 전달받아 상기 스토퍼를 제어할 수 있다. 이때, 상기 모듈장착부(30)에는 상기 스토퍼와 대응되는 스토퍼 수용부가 형성될 수 있다. Of course, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and a separate position sensor and a stopper are provided on the transfer line in order to limit the movement of the LED light 10, and the control unit is provided with the position sensor. The stopper may be controlled by receiving the position information of the module mounting unit 30. At this time, the module mounting portion 30 may be formed with a stopper receiving portion corresponding to the stopper.

상기 조립유닛(400)은 상기 이송라인 상에 배치되어 상기 엘이디 조명(10)에서 방출되는 빛을 확산시키기 위하여 상기 엘이디 조명(10)의 상면에 확산부재(20)를 설치한다.The assembly unit 400 is disposed on the transfer line to install a diffusion member 20 on the upper surface of the LED illumination 10 to diffuse the light emitted from the LED illumination (10).

상기 에이징유닛(500)은 상기 조립유닛(400)과 상기 광특성 측정유닛(600) 사이에 배치되어 상기 엘이디 조명(10)의 특성을 안정화시키기 위하여 상기 엘이디 조명(10)에 대한 광특성을 측정하기 전에 일정시간 동안 상기 엘이디 조명(10)을 온 상태로 유지시킨다. The aging unit 500 is disposed between the assembly unit 400 and the optical characteristic measuring unit 600 to measure the optical characteristics of the LED lighting 10 to stabilize the characteristics of the LED lighting 10 Before the LED light 10 is kept on for a certain time.

상기 에이징유닛(500)은 에이징 챔버(510)와, 상기 에이징 챔버(510)의 내부에 설치되는 이동레일(520)을 포함한다. 상기 엘이디 조명(10)은 빛을 방출하면서 상기 이동레일(520)을 따라 일정시간 동안 이동하게 된다.The aging unit 500 includes an aging chamber 510 and a moving rail 520 installed inside the aging chamber 510. The LED light 10 is moved for a predetermined time along the moving rail 520 while emitting light.

이때, 상기 이동레일(520)상에는 전원공급부가 형성되어 있고, 상기 모듈장착부(30)에는 상기 전원공급부와 접촉되면서 전원을 공급받는 접촉단자가 구비되어 있다. 결과적으로, 상기 엘이디 조명이 이동되는 동안 지속적으로 전원을 공급받으면서 빛을 방출할 수 있게 된다. In this case, a power supply unit is formed on the movable rail 520, and the module mounting unit 30 is provided with a contact terminal receiving power while being in contact with the power supply unit. As a result, it is possible to emit light while being continuously powered while the LED lighting is moved.

물론, 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않고, 상기 모듈장착부(30)에 휴대용 전원공급부가 장착되어 상기 엘이디 조명(10)이 상기 에이징 챔버(510)의 내부를 이동하는 동안 상기 엘이디 조명(10)에 지속적으로 전원을 공급할 수 있다.Of course, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and a portable power supply unit is mounted to the module mounting unit 30 so that the LED light 10 moves inside the aging chamber 510. 10) can supply power continuously.

상기 광특성 측정유닛(600)은 상기 에이징유닛(500)을 경유한 상기 엘이디 조명(10)에서 방출되는 빛의 광량 및 색정보를 포함하는 광원정보를 측정하고, 측정된 광원정보와 상기 엘이디 조명(10)의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명(10)의 광특성이 정상인지를 판단하거나 상기 엘이디 조명(10)의 등급을 결정하게 된다.The optical characteristic measuring unit 600 measures light source information including light quantity and color information of light emitted from the LED illumination 10 via the aging unit 500, and measures the measured light source information and the LED illumination. By comparing the reference information of (10) it is determined whether the optical characteristics of the LED lighting 10 is normal or determine the grade of the LED lighting (10).

상기 광특성 측정유닛(600)은 상기 엘이디 조명(10)이 유입 및 유출되는 제2 검사챔버(610)와, 상기 제2 검사챔버(610)의 내부에 설치되는 광특성 측정부(620)를 포함하며, 상기 광특성 측정부(620)는 상기 엘이디 조명(10)의 광특성을 측정하기 위한 제2 측정센서(627)와, 상기 제2 측정센서(627)로 유입되는 산란광을 차단하기 위한 배플(625)과, 상기 제2 측정센서(627)를 상하 좌우로 이동시키기 위한 센서이동수단을 포함한다.The optical characteristic measuring unit 600 includes a second inspection chamber 610 into which the LED light 10 flows in and out, and an optical characteristic measurement unit 620 installed in the second inspection chamber 610. The optical characteristic measuring unit 620 includes a second measuring sensor 627 for measuring the optical characteristic of the LED lighting 10 and a scattering light flowing into the second measuring sensor 627. And a baffle 625 and sensor moving means for moving the second measurement sensor 627 up, down, left and right.

상기 센서이동수단은 상기 제2 검사챔버(610)와 결합되어 있는 제2 고정블럭(621)과, 상기 제2 고정블럭(621)에 대하여 상하로 이동되는 중간블럭(623)과, 상기 중간블럭(623)에 대하여 좌우로 이동되는 제2 이동블럭(624)을 포함한다.The sensor moving means includes a second fixed block 621 coupled to the second inspection chamber 610, an intermediate block 623 moved up and down with respect to the second fixed block 621, and the intermediate block. And a second moving block 624 which is moved left and right with respect to 623.

상기 제2 측정센서(627)와 상기 배플(625)은 상기 제2 이동블럭(624)과 결합되어 상하 좌우로 이동하게 된다. 여기서, 상기 제2 측정센서(627)로는 조도계 또는 분광기가 사용될 수 있다. The second measuring sensor 627 and the baffle 625 are combined with the second moving block 624 to move up, down, left and right. Here, an illuminometer or spectrometer may be used as the second measurement sensor 627.

상기 제2 측정센서(627)와 상기 배플(625)은 상기 엘이디 조명의 배열에 따라 위치와 개수가 달라질 수 있다. 예를 들면, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 엘이디 조명이 4 X 4의 배열로 정렬되어 있는 경우는 상기 제2 측정센서(627)는, 도 4에서와 같이, 상기 엘이디 조명의 이동방향과 수직한 방향을 따라 일렬로 4개가 구비될 수 있다.The second measurement sensor 627 and the baffle 625 may vary in position and number depending on the arrangement of the LED lighting. For example, as shown in FIG. 2, when the LED lights are arranged in an array of 4 × 4, the second measuring sensor 627 may be configured to move in the direction of movement of the LED lights as shown in FIG. 4. Four may be provided in a line along the vertical direction.

결과적으로, 상기 엘이디 조명이 정지된 상태에서 상기 제2 이동블럭(624)이 좌우로 순차적으로 이동하면서 상기 제2 측정센서(627)가 일렬씩 상기 엘이디 조명의 광특성을 측정하게 된다. 물론, 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않고, 상기 제2 이동블럭이 정지상태를 유지하고 있고, 상기 엘이디 조명 자체가 상기 이송라인 상에서 엘이디 조명의 열 간격 기준으로 이동될 수도 있을 것이다.As a result, while the LED illumination is stopped, the second moving block 624 sequentially moves from side to side while the second measurement sensor 627 measures the optical characteristics of the LED illumination in a row. Of course, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and the second moving block maintains the stationary state, and the LED lighting itself may be moved based on the column interval of the LED lighting on the transfer line.

또한, 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않고, 상기 엘이디 조명의 갯수에 해당하는 수와 동일한 수만큼 상기 제2 측정센서(627)가 구비될 수 있다. 결과적으로, 상기 엘이디 조명의 개수와 상기 제2 측정센서(627)의 개수가 일대일 대응이 됨으로써 상기 모듈장착부(30)에 장착된 모든 엘이디 조명에 대한 광특성을 동시에 측정할 수도 있다.In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and the second measurement sensor 627 may be provided as many as the number corresponding to the number of LED lights. As a result, the number of the LED lights and the number of the second measuring sensors 627 correspond to one-to-one, so that optical characteristics of all the LED lights mounted on the module mounting unit 30 may be simultaneously measured.

예를 들어, 상기 엘이디 조명이 1 X 3의 배열로 정렬되어 있는 경우라면, 3 개의 제2 측정센서가 엘이디 조명의 이동방향을 따라 상기 엘이디 조명과 동일한 간격으로 배치될 수 있다.For example, when the LED lights are arranged in an array of 1 × 3, three second measuring sensors may be arranged at the same interval as the LED lights along the moving direction of the LED lights.

또한, 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않고, 상기 점등검사유닛의 제1 검사챔버(310) 또는 상기 광특성 측정유닛의 제2 검사챔버(610)의 내부로 상기 엘이디 조명(10)이 유입되기 전에 상기 엘이디 조명의 고유번호를 확인하기 위한 모듈인식유닛이 설치될 수 있다.In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and the LED lighting 10 is provided inside the first inspection chamber 310 of the lighting inspection unit or the second inspection chamber 610 of the optical characteristic measurement unit. A module recognition unit may be installed to check the unique number of the LED light before it is introduced.

구체적으로, 상기 모듈인식유닛은 상기 이송라인 상에 설치되는 바코드 스캐너를 포함하여 구성되고, 상기 엘이디 조명의 일부분에는 해당 엘이디 조명의 고유번호가 내장된 바코드가 구비될 수 있다.Specifically, the module recognition unit is configured to include a bar code scanner installed on the transfer line, a portion of the LED light may be provided with a bar code embedded with a unique number of the LED light.

결과적으로, 상기 엘이디 조명에 대한 점등검사 및 광특성 검사가 진행되기 전에 검사대상이 되는 엘이디 조명에 대한 고유번호를 인식하게 되어 상기 엘이디 조명에 대한 검사정보를 효율적으로 관리할 수 있게 된다.As a result, before the lighting test and the optical property test for the LED lighting is performed, the unique number for the LED lighting to be inspected is recognized, so that the inspection information for the LED lighting can be efficiently managed.

상기 언로딩부(700)에서는 상기 엘이디 조명(10)에 대한 검사가 완료된 후에 상기 엘이디 조명(10)이 언로딩된다. 이때, 상기 엘이디 조명(10)은 작업자에 의하여 외부로 반출될 수도 있고, 별도의 언로딩 유닛에 의하여 외부로 반출될 수도 있다.In the unloading unit 700, the LED light 10 is unloaded after the inspection of the LED light 10 is completed. In this case, the LED lighting 10 may be carried out by the worker, or may be taken out by a separate unloading unit.

상기 언로딩부(700)는 언로딩챔버(710)와, 상기 엘이디 조명(10)이 반출된 모듈장착부(30)를 하부로 이동시키기 위한 제2 승강장치(720)를 포함하여 구성된다.The unloading part 700 includes an unloading chamber 710 and a second elevating device 720 for moving the module mounting part 30 from which the LED light 10 is carried out.

상기 이송유닛(800)은 상기 로딩부(100)와 상기 언로딩부(700)를 연결하는 이송라인을 포함한다. 상기 이송라인 상에는 상기 모듈장착부(30)가 안착되어 상기 이송라인을 따라 이동된다.The transfer unit 800 includes a transfer line connecting the loading unit 100 and the unloading unit 700. The module mounting portion 30 is seated on the transfer line and moves along the transfer line.

구체적으로, 상기 이송라인은 상기 엘이디 조명(10)이 장착된 상태의 모듈장착부를 상기 로딩부(100)에서 상기 언로딩부(700)의 방향으로 이송시키는 제1 이송라인(810)과, 상기 엘이디 조명이 반출된 상태의 모듈장착부를 상기 언로딩부(700)에서 상기 로딩부(100) 방향으로 이송시키는 제2 이송라인(820)을 포함한다.In detail, the transfer line includes a first transfer line 810 for transferring the module mounting unit in the state in which the LED lighting 10 is mounted in the direction of the unloading unit 700 from the loading unit 100, and the And a second transfer line 820 which transfers the module mounting part of the LED light from the unloading part 700 in the direction of the loading part 100.

상기 제1 이송라인(810) 및 상기 제2 이송라인(820)은 컨베이어 벨트 또는 이송레일로 구성될 수 있다.The first transfer line 810 and the second transfer line 820 may be composed of a conveyor belt or a transfer rail.

상기 이송유닛(800)은 상기 제1 이송라인(810)을 구동시키기 위한 제1 구동장치와, 상기 제2 이송라인(820)을 구동시키기 위한 제2 구동장치를 더 포함할 수 있다.The transfer unit 800 may further include a first drive device for driving the first transfer line 810 and a second drive device for driving the second transfer line 820.

결과적으로, 상기 모듈장착부(30)가 상기 제1 이송라인(810)을 따라 이송되면서, 상기 모듈장착부(30)에 장착된 상기 엘이디 조명(10)에 대한 내전압검사, 점등검사, 광특성 측정이 이루어지면, 상기 엘이디 조명(10)은 상기 언로딩부(700)에서 외부로 반출된다.As a result, while the module mounting portion 30 is transferred along the first transfer line 810, the withstand voltage test, lighting test, and optical characteristic measurement of the LED lighting 10 mounted on the module mounting unit 30 is performed. When the LED illumination 10 is made, the unloading unit 700 is carried out to the outside.

상기 언로딩부(700)에서 상기 엘이디 조명(10)이 반출되고 난 후 비어 있는 상기 모듈장착부(30)는 상기 제2 승강장치(720)에 의하여 상기 제1 이송라인(810)에서 상기 제2 이송라인(820)으로 이동된다. 이후에 상기 모듈장착부(30)는 상기 제2 이송라인(820)을 따라 다시 상기 로딩부(100)로 이동된다. The module mounting part 30 that is empty after the LED light 10 is taken out from the unloading part 700 is moved by the second lifting device 720 in the first transfer line 810 in the second. The transfer line 820 is moved. Thereafter, the module mounting unit 30 is moved back to the loading unit 100 along the second transfer line 820.

그러면, 상기 로딩부(100)의 상기 제1 승강장치(120)는 비어있는 상기 모듈장착부(30)를 다시 상기 제2 이송라인(820)에서 상기 제1 이송라인(810)상으로 상승시키게 되고, 상기 제1 이송라인(810) 상에서 새로운 검사대상이 되는 엘이디 조명이 상기 모듈장착부(30)에 장착된다.Then, the first elevating device 120 of the loading unit 100 raises the empty module mounting unit 30 from the second transfer line 820 to the first transfer line 810 again. On the first transfer line 810, the LED lighting to be a new inspection target is mounted to the module mounting portion 30.

상술한 인라인 타입의 엘이디 검사시스템의 엘이디 검사과정을 살펴보면 다음과 같다.Looking at the LED inspection process of the above-described in-line type LED inspection system as follows.

먼저, 상기 로딩부(100)에서 검사대상이 되는 상기 엘이디 조명(10)이 상기 모듈장착부(30)에 장착되는 로딩단계가 수행된다. 여기서, 작업자가 직접 상기 엘이디 조명(10)을 상기 모듈장착부(30)에 장착할 수도 있지만 별도의 로딩유닛이 상기 엘이디 조명(10)을 상기 모듈장착부에 장착할 수도 있다.First, a loading step in which the LED light 10 to be inspected by the loading unit 100 is mounted on the module mounting unit 30 is performed. Here, the operator may directly mount the LED light 10 to the module mounting portion 30, but a separate loading unit may mount the LED light 10 to the module mounting portion.

다음으로, 상기 엘이디 조명은 상기 제1 이송라인(810)을 따라 상기 내전압 검사유닛(200)으로 이동된 후, 상기 내전압 검사유닛(200)에 의하여 상기 엘이디 조명의 전기적인 안정성이 검사되는 내전압 검사단계가 수행된다.Next, after the LED lighting is moved to the withstand voltage test unit 200 along the first transfer line 810, the withstand voltage test in which the electrical stability of the LED light is inspected by the withstand voltage test unit 200. Step is performed.

다음으로, 상기 엘이디 조명은 상기 제1 이송라인(810)을 따라 상기 점등검사유닛(300)으로 이동된 후, 상기 점등검사유닛에 의하여 상기 엘이디 조명에 대한 점등검사단계가 수행된다. Next, after the LED lighting is moved to the lighting inspection unit 300 along the first transfer line 810, the lighting inspection step for the LED lighting is performed by the lighting inspection unit.

다음으로, 상기 엘이디 조명은 상기 제1 이송라인(810)을 따라 상기 조립유닛(400)으로 이동되고, 상기 조립유닛(400)에 의하여 상기 엘이디 조명의 상면에 확산부재(20)가 설치되는 조립단계가 수행된다.Next, the LED lighting is moved to the assembly unit 400 along the first transfer line 810, the assembly unit 400 is assembled by the diffusion member 20 is installed on the upper surface of the LED lighting. Step is performed.

다음으로, 상기 엘이디 조명은 상기 제1 이송라인(810)을 따라 상기 에이징유닛(500)으로 이동되고, 상기 에이징유닛(500)에서는 상기 엘이디 조명의 특성을 안정화시키기 위하여 일정시간 동안 상기 엘이디 조명을 온 상태로 유지시키는 에이징(aging) 단계가 수행된다.Next, the LED lighting is moved to the aging unit 500 along the first transfer line 810, and the aging unit 500 is turned on the LED lighting for a predetermined time to stabilize the characteristics of the LED lighting An aging step is performed to keep on.

다음으로, 상기 엘이디 조명은 상기 제1 이송라인(810)을 따라 상기 광특성 측정유닛(600)으로 이동되고, 상기 광특성 측정유닛(600)에서는 상기 엘이디 조명(10)에 대한 광특성이 측정되는 광특성 측정단계가 수행된다.Next, the LED lighting is moved to the optical characteristic measuring unit 600 along the first transfer line 810, and the optical characteristic measuring unit 600 measures the optical characteristic of the LED lighting 10. An optical characteristic measurement step is performed.

최종적으로, 상기 광특성 측정단계가 종료되면 상기 언로딩부(700)에서는 검사가 완료된 상기 엘이디 조명이 외부로 언로딩되는 언로딩 단계가 수행된다.Finally, when the optical characteristic measurement step is completed, the unloading unit 700 performs an unloading step of unloading the LED lighting whose inspection is completed to the outside.

여기서, 상기 로딩단계에서 상기 언로딩단계까지 상기 엘이디 조명은 연속적으로 이송된다. 물론, 상기 엘이디 조명에 대한 내전압 검사, 점등검사, 확산부재조립, 광특성 측정이 수행되는 동안에는 상기 엘이디 조명이 정위치에 일시적으로 정지하게 된다.Here, the LED illumination is continuously transferred from the loading step to the unloading step. Of course, the LED illumination is temporarily stopped at the home position while the withstand voltage test, lighting test, diffusion member assembly, and optical characteristic measurement are performed for the LED light.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 특정한 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형의 실시가 가능하고 이러한 변형은 본 발명의 범위에 속한다.As described above, the present invention is not limited to the above-described specific preferred embodiments, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the scope of the present invention as claimed in the claims. And such variations are within the scope of the present invention.

10: 엘이디 조명 20: 확산부재
30: 모듈 장착부 100: 로딩부
200: 내전압 검사유닛 300: 점등검사유닛
310: 제1 검사챔버 320: 점등검사부
400: 조립유닛 500: 에이징유닛
600: 광특성 측정유닛 610: 제2 검사챔버
620: 광특성 측정부 700: 언로딩부
800: 이송유닛 810: 제1 이송라인
820: 제2 이송라인10: LED lighting 20: diffusion member
30: module mounting portion 100: loading portion
200: withstand voltage test unit 300: lighting test unit
310: first inspection chamber 320: lighting inspection unit
400: assembly unit 500: aging unit
600: optical characteristic measuring unit 610: second inspection chamber
620: optical characteristic measurement unit 700: unloading unit
800: transfer unit 810: first transfer line
820: second transfer line

Claims (14)

검사하고자 하는 엘이디 조명이 장착되는 모듈 장착부에 상기 엘이디 조명을 로딩하는 로딩부;
상기 엘이디 조명에 대한 검사가 완료된 후에 상기 엘이디 조명이 언로딩되는 언로딩부;
상기 모듈장착부가 안착되며, 상기 엘이디 조명을 연속적으로 이송시키기 위하여 상기 로딩부와 상기 언로딩부를 연결하는 이송라인을 갖는 이송유닛; 그리고,
상기 이송라인 상에 배치되어 상기 엘이디 조명에서 방출되는 빛의 광량 및 색정보를 포함하는 광원정보를 측정하고, 측정된 광원정보와 상기 엘이디 조명의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명의 광특성이 정상인지를 판단하거나 상기 엘이디 조명의 등급을 결정하는 광특성 측정유닛을 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템.A loading unit for loading the LED lighting on a module mounting unit on which the LED lighting to be inspected is mounted;
An unloading unit in which the LED lighting is unloaded after the inspection of the LED lighting is completed;
A transfer unit seated on the module mounting unit and having a transfer line connecting the loading unit and the unloading unit to continuously transfer the LED lighting; And,
Light source information including light quantity and color information of light emitted from the LED light is disposed on the transfer line, and the measured light source information is compared with the reference information of the LED light so that the optical characteristics of the LED light are normal. An in-line type LED inspection system comprising an optical characteristic measuring unit for determining the recognition or the grade of the LED illumination. 제1항에 있어서,
상기 이송라인 상에 배치되어 상기 엘이디 조명에서 방출되는 빛을 확산시키기 위하여 상기 엘이디 조명의 상면에 확산부재를 설치하는 조립유닛을 더 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템.The method of claim 1,
And an assembly unit which is disposed on the transfer line and installs a diffusion member on an upper surface of the LED illumination to diffuse light emitted from the LED illumination. 제2항에 있어서,
상기 조립유닛과 상기 광특성 측정유닛 사이에 배치되어 상기 엘이디 조명의 특성을 안정화시키기 위하여 상기 엘이디 조명에 대한 광특성을 측정하기 전에 일정시간 동안 상기 엘이디 조명을 온 상태로 유지시키는 에이징(aging) 유닛을 더 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템.The method of claim 2,
An aging unit disposed between the assembly unit and the optical characteristic measuring unit to keep the LED lighting on for a predetermined time before measuring the optical characteristic of the LED lighting to stabilize the characteristic of the LED lighting; Inline type LED inspection system further comprising a. 제3항에 있어서,
상기 조립유닛의 전단에 배치되어 상기 엘이디 조명에서 방출되는 개별 엘이디의 광량값을 측정하고, 측정된 광량값과 상기 엘이디 조명의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명의 점등상태를 파악하는 점등검사유닛을 더 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템.The method of claim 3,
A lighting test unit arranged at a front end of the assembly unit to measure a light quantity value of individual LEDs emitted from the LED lighting, and compare the measured light quantity value with reference information of the LED lighting to determine a lighting state of the LED lighting; Inline type LED inspection system further included. 제4항에 있어서,
상기 점등검사유닛의 전단에 배치되어 상기 엘이디 조명의 전기적인 안정성을 검사하는 내전압 검사유닛을 더 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템.5. The method of claim 4,
The in-line type LED inspection system further comprises a withstand voltage inspection unit disposed in front of the lighting inspection unit for inspecting the electrical stability of the LED lighting. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 이송라인은 상기 모듈장착부를 상기 로딩부에서 상기 언로딩부의 방향으로 이송시키는 제1 이송라인과, 상기 모듈장착부를 상기 언로딩부에서 상기 로딩부 방향으로 이송시키는 제2 이송라인을 포함하며,
상기 로딩부는 상기 제2 이송라인에서 상기 제1 이송라인으로 상기 모듈장착부를 상승시키기 위한 제1 승강장치를 포함하고, 상기 언로딩부는 상기 제1 이송라인에서 상기 제2 이송라인으로 상기 모듈장착부를 하강시키기 위한 제2 승강장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템.The method according to any one of claims 1 to 5,
The transfer line includes a first transfer line for transferring the module mounting part from the loading part in the direction of the unloading part, and a second transfer line for transferring the module mounting part from the unloading part in the direction of the loading part.
The loading unit includes a first lifting device for raising the module mounting unit from the second transfer line to the first transfer line, and the unloading unit lowers the module mounting unit from the first transfer line to the second transfer line. An in-line type LED inspection system comprising a second lifting device for making. 제5항에 있어서,
상기 광특성 측정유닛, 상기 에이징 유닛, 상기 점등검사유닛 및 상기 내전압 검사유닛이 설치되는 각각의 상기 이송라인의 일부 영역에는 외부의 전압을 상기 엘이디 조명에 공급하기 위한 전원공급단자가 설치되고, 상기 모듈장착부에는 상기 전원공급단자와 접촉되면서 상기 엘이디 조명에 전원을 인가하는 접촉단자가 구비되어 있는 것을 특징으로 하는 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템.The method of claim 5,
A power supply terminal for supplying an external voltage to the LED lighting is provided in a portion of each of the transfer lines in which the optical characteristic measuring unit, the aging unit, the lighting test unit, and the withstand voltage test unit are installed. In-line type LED inspection system characterized in that the module mounting portion is provided with a contact terminal for applying power to the LED lighting while being in contact with the power supply terminal. 제5항에 있어서,
상기 엘이디 조명이 상기 광특성 측정유닛, 상기 에이징 유닛, 상기 점등검사유닛 및 상기 내전압 검사유닛 상의 정위치에 위치하도록 상기 이송라인의 이동을 제어하는 제어유닛을 더 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템. The method of claim 5,
And a control unit for controlling movement of the transfer line such that the LED illumination is positioned at the optical property measuring unit, the aging unit, the lighting inspection unit, and the withstand voltage inspection unit. 제1항에 있어서,
상기 광특성 측정유닛은 상기 엘이디 조명이 유입 및 유출되는 제2 검사챔버와, 상기 제2 검사챔버의 내부에 설치되는 광특성 측정부를 포함하며, 상기 광특성 측정부는 상기 엘이디 조명의 광특성을 측정하기 위한 제2 측정센서와, 상기 제2 측정센서로 유입되는 산란광을 차단하기 위한 배플과, 상기 제2 측정센서를 상하 좌우로 이동시키기 위한 센서이동수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템.The method of claim 1,
The optical characteristic measuring unit includes a second inspection chamber through which the LED illumination flows in and out, and an optical characteristic measuring unit installed inside the second inspection chamber, and the optical characteristic measuring unit measures the optical characteristic of the LED lighting. An in-line type LED including a second measuring sensor, a baffle for blocking the scattered light flowing into the second measuring sensor, and a sensor moving means for moving the second measuring sensor in a vertical direction. Inspection system. 제4항에 있어서,
상기 점등검사유닛은 상기 엘이디 조명이 유입 및 유출되는 제1 검사챔버와, 상기 제1 검사챔버 내부에 설치되는 점등검사부를 포함하며, 상기 점등검사부는 상기 엘이디 조명에서 방출되는 개별 엘이디의 광량값을 측정하기 위한 제1 측정센서와, 상기 제1 측정센서와 결합되어 상하로 이동되는 제1 이동블럭과, 상기 제1 이동블럭과 결합되며 상기 제1 검사챔버에 고정된 제1 고정블럭을 포함하는 것을 특징으로 하는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템.5. The method of claim 4,
The lighting inspection unit includes a first inspection chamber through which the LED illumination flows in and out, and a lighting inspection unit installed inside the first inspection chamber, and the lighting inspection unit measures the light quantity of the individual LEDs emitted from the LED illumination. A first measuring sensor for measuring, a first moving block coupled to the first measuring sensor to move up and down, and a first fixed block coupled to the first moving block and fixed to the first inspection chamber; In-line LED inspection system, characterized in that. 검사하고자 하는 엘이디 조명을 모듈장착부에 장착하는 로딩단계;
상기 엘이디 조명에서 방출되는 개별 엘이디의 광량값을 측정하고, 측정된 광량값과 상기 엘이디 조명의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명의 점등상태를 파악하는 점등검사단계;
상기 엘이디 조명에서 방출되는 빛의 광량 및 색정보를 포함하는 광원정보를 측정하고, 측정된 광원정보와 상기 엘이디 조명의 기준정보를 비교하여 상기 엘이디 조명의 광특성이 정상인지를 판단하거나 상기 엘이디 조명의 등급을 결정하는 광특성 측정단계;
상기 엘이디 조명에 대한 검사가 완료된 후 상기 엘이디 조명을 외부로 언로딩 하는 언로딩단계; 그리고,
상기 로딩단계에서 상기 언로딩단계까지 상기 엘이디 조명을 연속적으로 이송시키는 이송단계를 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사시스템의 제어방법.A loading step of mounting the LED lighting to be inspected to the module mounting unit;
A lighting test step of measuring a light quantity value of individual LEDs emitted from the LED lights, and comparing the measured light quantity values with reference information of the LED lights to determine a lighting state of the LED lights;
Measuring light source information including light quantity and color information of the light emitted from the LED illumination, and comparing the measured light source information and the reference information of the LED illumination to determine whether the optical characteristics of the LED illumination is normal or the LED illumination An optical property measuring step of determining the grade of the light;
An unloading step of unloading the LED light to the outside after the inspection of the LED light is completed; And,
The control method of the LED inspection system of the in-line type including a transfer step of continuously transferring the LED light from the loading step to the unloading step. 제11항에 있어서,
상기 점등검사단계 이전에 상기 엘이디 조명의 전기적인 안정성을 검사하는 내전압 검사단계를 더 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템의 제어방법.The method of claim 11,
Control method of the LED inspection system of the in-line type further comprising a voltage resistance test step of checking the electrical stability of the LED lighting before the lighting test step. 제11항에 있어서,
상기 점등검사단계 이후에 상기 엘이디 조명에서 방출되는 빛을 확산시키기 위하여 상기 엘이디 조명의 상면에 확산부재를 설치하는 조립단계를 더 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템의 제어방법.The method of claim 11,
And an assembling step of installing a diffusion member on an upper surface of the LED light to diffuse light emitted from the LED light after the lighting test step. 제11항에 있어서,
상기 조립단계와 상기 광특성 측정단계 사이에서 상기 엘이디 조명의 특성을 안정화시키기 위하여 일정시간 동안 상기 엘이디 조명을 온 상태로 유지시키는 에이징(aging) 단계를 더 포함하는 인라인 타입의 엘이디 검사 시스템의 제어방법.The method of claim 11,
Control method of the LED inspection system of the in-line type further comprising an aging step of maintaining the LED lighting on for a predetermined time in order to stabilize the characteristics of the LED lighting between the assembling step and the optical characteristic measuring step. .
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