KR20130070214A - Illuminance measuring module and multi channel detector using thereof - Google Patents
Illuminance measuring module and multi channel detector using thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR20130070214A KR20130070214A KR1020110137429A KR20110137429A KR20130070214A KR 20130070214 A KR20130070214 A KR 20130070214A KR 1020110137429 A KR1020110137429 A KR 1020110137429A KR 20110137429 A KR20110137429 A KR 20110137429A KR 20130070214 A KR20130070214 A KR 20130070214A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light
- housing
- diffuser
- filter
- line
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 11
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 5
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 claims description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 101001061788 Homo sapiens Ras-related protein Rab-35 Proteins 0.000 description 1
- 102100029568 Ras-related protein Rab-35 Human genes 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 238000004439 roughness measurement Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0238—Details making use of sensor-related data, e.g. for identification of sensor or optical parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/60—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
- G01J5/602—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature using selective, monochromatic or bandpass filtering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
- G01J2001/083—Testing response of detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/60—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
- G01J5/602—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature using selective, monochromatic or bandpass filtering
- G01J2005/604—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature using selective, monochromatic or bandpass filtering bandpass filtered
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 광조도와 광량 측정 모듈 및 이를 이용한 멀티 채널 측정기에 관한 것이다.
The present invention relates to a light intensity and light quantity measuring module and a multi-channel measuring device using the same.
일반적으로, UV(Ultra Violet), VIS(Viserble) 및 IR(Infrared ray) 영역의 광원을 사용하는 산업용 및 연구용 장비, 특히 반도체나 기판 등의 패터닝을 위한 노광 장비는 광원에서 발산되는 광에 의해 균일한 노광이 이루어지도록 하기 위하여 노광기 내의 광 에너지가 균일하게 분포할 필요가 있다.In general, industrial and research equipment that uses light sources in the ultraviolet (Ultra Violet), visible (VIS) and infrared (IR) areas, in particular exposure equipment for patterning semiconductors or substrates, is uniform by the light emitted from the light source. In order for one exposure to be made, the light energy in the exposure machine needs to be uniformly distributed.
노광기 내의 균일한 광 에너지 분포를 위해서는 노광기의 광원에서 조사되는 다양한 파장 대역의 광 조도를 측정하여야 하며, 이를 위하여 표준 광원에서 조사되는 광을 센서에 수광함에 의해서 임의의 파장 대역 내에서 스펙트럼 특성에 따른 광 세기의 크기와 그 파장 대역대의 에너지 적산은 광의 조사 면적으로 계산하게 되며, FWHM(Full Width Half Maximum)을 통해 단위 시간당 에너지 적산이 이루어지게 된다.For uniform light energy distribution in the exposure machine, the light intensity of various wavelength bands irradiated from the light source of the exposure machine should be measured. For this purpose, the light emitted from the standard light source is received by the sensor according to the spectral characteristics within an arbitrary wavelength band. The magnitude of the light intensity and the energy integration in the wavelength band are calculated by the irradiation area of the light, and energy integration per unit time is performed through the Full Width Half Maximum (FWHM).
그러나, 종래의 광 조도 측정은 다양한 측정 알고리즘을 이용하여 폭넓은 광 영역대의 조도 측정이 가능하기는 하지만 특정 파장 대역의 스펙트럼에 최적화되지 않은 단점이 있다.However, conventional light illuminance measurement has a disadvantage in that it is possible to measure illuminance of a wide light range using various measurement algorithms, but is not optimized for a spectrum of a specific wavelength band.
따라서, 광범위하고 일반적인 파장 대역에서 측정이 가능할 수 있으나, 메인 피크의 파장 대역을 관리할 필요가 있는 산업용 또는 연구용 장비 내에서는 메인 피크 외에도 서브 피크도 모두 측정됨에 따라 적합한 광 조도 산출을 위한 데이터 선별이 어려운 문제점이 지적되고 있다.Therefore, measurement can be performed in a wide range of general wavelength bands, but in industrial or research equipment that needs to manage the wavelength range of the main peak, all sub peaks in addition to the main peak are measured, so that data selection for proper light intensity calculation is performed. Difficult problems are pointed out.
또한, 넓은 영역의 파장대역에서 광 조도 측정이 이루어짐으로써 광학 센서의 측정 반응도(sensor sensitivity)가 특정 파장대역에서 특화되지 못하고 둔감하게 측정됨으로써, 광 조도 측정에 오류가 발생될 수 있다.In addition, since light intensity measurement is performed in a wide range of wavelength bands, the sensor sensitivity of the optical sensor may be measured insensitively rather than in a specific wavelength band, thereby causing an error in light intensity measurement.
그리고, 종래의 광 조도 측정 모듈은 노광기 내의 별도 스테이지에 설치되어 노광기 내의 각 노광 영역에 대한 조도를 측정하게 되는 데, 노광기 내의 전체적인 영역에 대한 조도를 측정하기 위해서는 개별적인 측정 모듈 위치를 계속 반복적으로 이동시켜 조도 측정이 이루어질 수 밖에 없는 문제점이 있다.
In addition, the conventional light illuminance measuring module is installed on a separate stage in the exposure machine to measure illuminance of each exposure area in the exposure machine. To measure illuminance of the entire area in the exposure machine, the individual measurement module positions are repeatedly moved repeatedly. There is a problem that can only be made roughness measurement.
본 발명은 종래 광 조도 측정 모듈에서 제기되고 있는 상기 제반 단점과 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것이다. 특정 파장 영역대에서 최적의 광 에너지 측정이 가능하며 측정오차가 최소화 되도록 한 광조도 및 광량 측정 모듈이 제공됨에 발명의 목적이 있다.
The present invention has been devised to solve the above-mentioned disadvantages and problems raised in the conventional light intensity measurement module. An object of the present invention is to provide an optical illuminance and a light quantity measuring module capable of measuring an optimal optical energy in a specific wavelength range and minimizing a measurement error.
본 발명의 상기 목적은, 중앙에 개구부를 갖는 하우징; 상기 하우징 내에 설치되며, 상기 하우징의 전방에 배치된 표준 광원에서 조사되는 광의 파장을 일정하게 변화시키는 디퓨져; 상기 디퓨져의 하부에 설치되며, 상기 디퓨져를 경유한 고에너지의 광의 세기를 감소시키는 ND(Neutral Density) 필터; 상기 ND 필터의 하부에 설치되며, 특정 영역의 파장 영역대를 선택적으로 투과시키는 밴드패스필터; 및 상기 하우징의 저면에 설치되며, 상기 밴드패스필터를 통해 투과되는 광을 수광하는 센서;를 포함하는 광조도와 광량 측정 모듈이 제공됨에 의해서 달성된다.The object of the present invention, the housing having an opening in the center; A diffuser installed in the housing and constantly changing a wavelength of light emitted from a standard light source disposed in front of the housing; An ND (Neutral Density) filter disposed below the diffuser and configured to reduce the intensity of light of high energy via the diffuser; A band pass filter disposed below the ND filter and selectively transmitting a wavelength band of a specific region; And a sensor installed on a bottom surface of the housing and receiving a light transmitted through the band pass filter.
상기 하우징은, 함체형으로 구성되며 상부에 개구부가 형성될 수 있다. 또한, 하우징은 내부의 열을 외부로 배출할 수 있는 구조를 채택하는 것이 바람직하며, 내부 열을 외부로 배출할 수 있도록 열전도가 우수한 재질을 사용하는 것이 바람직할 수 있다.The housing may be configured to have an enclosure, and an opening may be formed at an upper portion thereof. In addition, the housing is preferably to adopt a structure that can discharge the internal heat to the outside, it may be preferable to use a material having excellent thermal conductivity to discharge the internal heat to the outside.
또한, 상기 개구부는, 상기 하우징 전방의 표준 광원에서 조사되는 광의 직진성과 분산을 고려하여 개구 넓이가 조절될 수 있으며, 개구부의 측면을 경사면으로 형성할 수 있다. 이때, 상기 경사면은 광의 조사 방향을 기준으로 상기 개구부의 내측면에 하향 경사면으로 구성될 수 있다.In addition, the opening width may be adjusted in consideration of the straightness and dispersion of the light irradiated from the standard light source in front of the housing, the side surface of the opening may be formed as an inclined surface. In this case, the inclined surface may be configured as a downward inclined surface on the inner surface of the opening based on the irradiation direction of the light.
이때, 상기 개구부의 측면은 광 흡수 재질로 이루어진 코팅면이 더 형성될 수 있다.In this case, the side surface of the opening may be further formed with a coating surface made of a light absorbing material.
한편, 상기 센서는 Si 다이오드 또는 GaP, InGaP 중 어느 하나의 재질로 이루어진 수광부를 포함할 수 있으며, 센싱하고자 하는 파장 대역의 센싱 감도를 고려하여 선택될 수 있다.The sensor may include a light receiving unit made of any one material of a Si diode, GaP, or InGaP, and may be selected in consideration of sensing sensitivity of a wavelength band to be sensed.
또한, 본 발명의 광조도와 광량 측정 모듈은 판 상의 스테이지 상에 복수개가 소정의 간격으로 설치되어 멀티 채널로 구성될 수 있으며, 멀티 채널 구성시 I선(I line)과 H선(H line) 및 G선(G line)의 파장 대역을 가지는 복수의 모듈이 설치됨이 바람직하고, 상기 I선(I line)과 H선(H line) 및 G선(G line)의 파장 대역을 가지는 복수의 모듈 사이에 노광기 내의 온도와 습도를 측정할 수 있는 온/습도 측정모듈이 더 설치될 수 있다.
In addition, the light intensity and light intensity measurement module of the present invention may be configured in a plurality of channels on a stage on a plate at a predetermined interval, I-line (I line) and H line (H line) and Preferably, a plurality of modules having a wavelength band of a G line is provided, and between the I line and a plurality of modules having a wavelength band of an H line and an H line. A temperature / humidity measurement module that can measure the temperature and humidity in the exposure machine may be further installed.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 광조도와 광량 측정 모듈은 하우징 내에 광의 에너지를 변환하고 특정 파장 영역대를 분리하는 필터들이 센서와 함께 내장되어 일체의 모듈로 구성됨으로써, 광조도와 광량의 정밀한 측정이 가능한 장점이 있다.As described above, the light illuminance and light quantity measuring module of the present invention includes filters that convert energy of light in the housing and separate a specific wavelength range into a module together with a sensor, so that accurate measurement of light intensity and light quantity can be achieved. There are possible advantages.
또한, 본 발명은 하우징의 개구부를 광 입사 방향에 대하여 하향 경사지게 형성하거나 개구부의 측벽에 광 흡수 물질로 구성된 코팅면으로 형성함에 의해서 광의 하우징 입사시 난반사를 방지함으로써, 광 조도 측정 오차를 현저히 줄일 수 있는 작용효과를 발휘할 수 있다.In addition, the present invention can significantly reduce the light intensity measurement error by preventing the diffuse reflection of the light incident on the housing by forming the opening of the housing inclined downward with respect to the direction of light incidence or by forming a coating surface made of a light absorbing material on the side wall of the opening. It can have an effect.
그리고, 본 발명은 하나의 스테이지에 광원에서 조사되는 I선, H선 및 G선을 조도를 개별적으로 감지할 수 있는 광조도와 광량 측정 모듈을 멀티 채널로 설치함에 따라 광원에서 조사되는 다양한 광 에너지를 동시에 측정할 수 있는 장점이 있다.
In addition, the present invention provides various light energy irradiated from the light source by installing a multi-channel light intensity and light quantity measuring module that can individually detect the illumination of the I-line, H-line and G-line irradiated from the light source on one stage It has the advantage of being able to measure at the same time.
도 1은 본 발명에 따른 광조도와 광량 측정 모듈을 이용하여 내부 광 조도가 측정되는 통상적인 노광 장치의 개략도
도 2는 본 발명에 따른 광조도와 광량 측정 모듈의 단면도
도 3은 본 발명의 광조도와 광량 측정 모듈의 개구부 일실시예를 확대한 단면도이고, 도 4는 본 발명의 광조도와 광량 측정 모듈의 개구부의 다른 실시예를 확대한 단면도
도 5는 본 발명에 따른 광조도와 광량 측정 모듈을 이용한 멀티 채널 측정기의 평면도.1 is a schematic view of a conventional exposure apparatus in which the internal light intensity is measured using the light intensity and light intensity measurement module according to the present invention
2 is a cross-sectional view of the light intensity and light intensity measurement module according to the present invention
Figure 3 is an enlarged cross-sectional view of an embodiment of the opening of the light intensity and light intensity measurement module of the present invention, Figure 4 is an enlarged cross-sectional view of another embodiment of the opening of the light intensity and light intensity measurement module of the present invention
5 is a plan view of a multi-channel measuring instrument using light intensity and light intensity measurement module according to the present invention.
본 발명에 따른 광조도와 광량 측정 모듈의 상기 목적에 대한 기술적 구성을 비롯한 작용효과에 관한 사항은 본 발명의 바람직한 실시예가 도시된 도면을 참조한 아래의 상세한 설명에 의해서 명확하게 이해될 것이다.
Matters relating to the operational effects including the technical configuration of the light illuminance and the light quantity measuring module according to the present invention will be clearly understood by the following detailed description with reference to the drawings in which preferred embodiments of the present invention are shown.
먼저, 도 1은 본 발명에 따른 광조도와 광량 측정 모듈을 이용하여 내부 광 조도가 측정되는 통상적인 노광 장치의 개략도이다.First, FIG. 1 is a schematic diagram of a conventional exposure apparatus in which internal light intensity is measured by using a light intensity and light quantity measuring module according to the present invention.
도시된 바와 같이, 본 발명의 광조도와 광량 측정 모듈을 이용하여 노광기 내부의 에너지가 측정되는 노광 장치는 광원(100)과, 한 쌍의 미러(111, 112)와, 인태그레이트 렌즈(120) 및 광조도와 광량 측정 모듈(200)로 구성될 수 있다.As shown, the exposure apparatus in which the energy inside the exposure apparatus is measured using the light intensity and light quantity measuring module of the present invention includes a
광원(100)에서 조사된 광은 제1 미러(111)에 반사되어 인태그레이트 렌즈(120)를 경유하며, 인태그레이트 렌즈(120)를 경유한 광은 제2 미러(112)에 반사되어 광조도와 광량 측정 모듈(200) 내부로 입사될 수 있다.The light irradiated from the
이때, 광조도와 광량 측정 모듈(200)이 배치되는 위치는 노광 대상의 제품이 놓이는 곳에 위치시키는 것이 바람직하며, 이는 광조도와 광량 측정 모듈(200)에 의해 임의의 파장 영역대 광에너지를 정확히 측정하고, 측정된 광에너지에 의해 노광 대상의 제품에 조사되는 광에 의해서 균일한 품질이 구현되는 노광이 이루어지도록 할 수 있다.At this time, the position where the light illuminance and the light quantity measuring
이와 같이 구성된 노광 장치는 챔버(도면 미도시) 내에 설치될 수 있다.The exposure apparatus configured as described above may be installed in a chamber (not shown).
상기 광원(100)은 각기 다른 파장 영역대를 가지는 광이 조사되는 소스(source)로 구성될 수 있으며, 각기 다른 파장의 I선(I line, 365㎚), H선(H line, 405㎚), G선(G line, 436㎚)이 조사되는 소스로 이용된다. 여기서, 상기 광원(100)은 표준 광원일 수 있다.The
상기 I선은 광 에너지가 강한 단파장의 광으로서 수지내 투과성이 상대적으로 낮고, H, G선은 노광이 수행되는 수지내 투과성이 I선보다 높은 광이다.The I-rays are short wavelength light having strong light energy, and have relatively low permeability in the resin, while the H and G-rays are light having a higher permeability in the resin to which the exposure is performed.
이러한 I선과 H선 및 G선을 가지는 광원(100)은 각각 다른 파장을 가지고 노광원으로 사용될 수 있는 데, 노광 공정에서 공정 수행시 필요한 광원을 하나 이상 선택적으로 취할 수 있다.The
예를 들어 상기 I선과 H선 및 G선의 광선들은 기판의 노광 공정시 기판의 표면에 도포된 솔더 레지스트(SR : Sorder Resist)의 표면 또는 바닥 부위 등에 반응성이 다르기 때문에 기판의 공정 특성 또는 솔더 레지스트의 성분 특성 등을 고려하여 선택될 수 있다.For example, the light rays of the I, H, and G lines are different in reactivity from the surface or the bottom of the solder resist (SR) applied to the surface of the substrate during the exposure process of the substrate. It may be selected in consideration of the component properties and the like.
이 경우, 기판 상에 정확한 노광 처리를 위해서 노광기 내의 노광 대상의 제품이 놓인 위치에서 각 광선에 대한 광에너지를 측정할 수 있으며, 이는 아래에서 설명될 광조도와 광량 측정 모듈을 통해 측정될 수 있다.In this case, the light energy for each light ray may be measured at the position where the product to be exposed in the exposure apparatus is placed on the substrate for accurate exposure processing, which may be measured through the light illuminance and the light quantity measuring module to be described below.
한편, 종래에는 광원(100)에서 조사되는 I선과 H선 및 G선의 광선들이 센서에 직접 수광됨에 의해서 각 광선들의 광에너지, 즉 조도를 측정하였는 바, I선과 H선 및 G선의 광선들이 고에너지를 발산함으로 인하여 센서에 수광되었을 때, 센서를 열화시킬 수 있어 정확한 광에너지 측정이 어려웠었다.Meanwhile, in the related art, light rays, i.e. illuminance of each ray are measured by receiving light of I rays, H rays, and G rays directly from the
또한, 고에너지가 발산됨에 의해 센서 주위의 온도도 높아지게 되어 온도 변화에 따른 정확한 광에너지 측정이 어려울 수 있기 때문에 각 광선들의 고에너지를 저에너지로 변환하고, 센서 주위의 온도를 비교적 낮은 온도로 유지할 필요가 있다.In addition, because the high energy is emitted, the temperature around the sensor is also high, so it is difficult to accurately measure the light energy according to the temperature change. There is.
아래에서는 노광기 내에 설치되는 광조도와 광량 측정 모듈(200)의 구성에 대해서 상세히 살펴보기로 한다.Hereinafter, the configuration of the light illuminance and the light quantity measuring
도 2는 본 발명에 따른 광조도와 광량 측정 모듈의 단면도이다.2 is a cross-sectional view of the light intensity and light intensity measurement module according to the present invention.
여기서, 도 2는 광조도와 광량 측정 모듈(200)의 전방에 광원(100)이 위치하고 있으나, 이는 광원에서 조사되는 광이 광조도와 광량 측정 모듈에 입사되는 형태를 보이기 위한 일예를 간략하게 도시한 것으로, 실제의 실시예에서는 광원에서 조사되는 광은 여러 수단과 경로를 거쳐 광조도와 광량 측정 모듈에 입사되는 것으로 이해하여야 한다.Here, FIG. 2 illustrates a
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 광조도와 광량 측정 모듈(200)은 하우징(210)과, 하우징(210) 내에 장착되는 디퓨져(220), ND 필터(230), 밴드패스필터(240) 및 센서(250)로 구성될 수 있다.As shown, the light intensity and light
상기 하우징(210) 내부에는 상부에서부터 디퓨져(220)와 ND 필터(230) 및 밴드패스필터(240)가 순차적으로 적층되어 설치될 수 있으며, 밴드패스필터(240)의 하부측인 하우징(210)의 저면에는 센서(250)가 장착될 수 있다.Inside the
상기 하우징(210)은 함체형으로 구성될 수 있으며, 상부 중앙부에는 개구부(211)가 형성될 수 있다. 상기 개구부(211)는 광조도와 광량 측정 모듈(200)의 전방에 배치된 광원(100)으로부터 조사되는 광이 입사될 수 있으며, 광원(100)에서 조사되는 광의 직진성과 분산을 고려하여 개구부의 넓이가 조절될 수 있다. 개구부(211)의 넓이 조절에 의해서 하우징(210) 내로 입사되는 광의 양이 조절될 수 있음은 물론이다.The
이때, 광원(100)은 각기 다른 파장의 I선(I line, 365㎚), H선(H line, 405㎚), G선(G line, 436㎚)이 조사되는 소스로 이용될 수 있다.In this case, the
또한, 상기 하우징(210)은 내부의 열을 외부로 배출할 수 있도록 열전도가 우수한 재질로 구성됨이 바람직하다. 또한, 하우징(210)은 열전도가 우수한 재질로 구성됨과 아울러 내부의 열이 외부로 배출될 수 있는 구조를 취하는 것이 더 바람직하다.In addition, the
상기 하우징(210)을 열전도가 우수한 재질로 구성하거나 열배출이 가능한 구조로 형성하는 이유는, 하우징(210)의 개구부(211)를 통해 입사되는 광이 가지는 광에너지가 높음에 의해 하우징(210) 내부의 온도가 높아질 수 있기 때문에 센서(250)에 감지되는 광에너지의 오차가 발생될 수 있어 센서(250)의 조도 감지 오차를 줄이기 위함이다.The
상기 하우징(210)에 형성된 개구부(211)는 도 3에 도시된 바와 같이, 측면이 경사면(212)으로 형성될 수 있다. 경사면(212)은 광원(100)에서 조사되는 광의 조사 방향을 기준으로 상기 개구부(211)의 측벽이 하향 경사면으로 구성될 수 있다.As shown in FIG. 3, the
이때, 도 3은 본 발명의 광조도와 광량 측정 모듈의 개구부 일실시예를 확대한 단면도이고, 도 4는 본 발명의 광조도와 광량 측정 모듈의 개구부의 다른 실시예를 확대한 단면도이다.3 is an enlarged cross-sectional view of an embodiment of the light illuminance and the light quantity measuring module of the present invention, and FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of another embodiment of the light illuminance and the light quantity measuring module of the present invention.
또한, 상기 개구부(211)의 측벽을 비롯한 측벽과 인접한 부위에는 도 4에 도시된 바와 같이, 광 흡수 재질로 이루어진 코팅면(213)이 형성될 수 있다.In addition, as illustrated in FIG. 4, a
이와 같이, 개구부(211)의 측벽을 하향 경사면으로 형성하거나, 광을 흡수하는 재질의 코팅면(213)이 형성되는 것은, 하우징(210) 전방에 배치된 광원(100)에서 조사된 광이 개구부(211)를 통해 하우징(210) 내부로 유입될 때, 개구부(211)의 측벽에 난반사가 발생될 수 있기 때문에 이 난반사를 제거하기 위함이며, 개구부(211)의 측벽을 하우징(210)의 내측으로 하향 경사지게 형성함에 의해서 하우징(210) 내부로 유입되는 광이 개구부(211)의 측벽을 통해 반사되지 않도록 하여 난반사의 발생을 억제할 수 있다.As described above, the sidewall of the
한편, 상기 하우징(210) 내에는 상부측에 디퓨져(220)가 장착될 수 있다. 상기 디퓨져(220)는 하우징(210)의 전방에 배치된 광원(100)에서 조사되는 I선, H선 또는 G 선 중 어느 하나의 광선이 경유하면서 광의 산란에 의해 광의 출력, 즉 광에너지를 균일하게 분산시켜 광 출력을 평균화할 수 있다.Meanwhile, a
상기 디퓨져(220)의 하부에는 ND 필터(230)가 적층될 수 있다. ND 필터(230)는 디퓨져(220)를 경유한 광의 에너지를 ND 필터(230)의 효율에 따라 리니어하게 감소시켜 저에너지와 평균화된 파장 영역대(스펙트럼)를 갖는 광선으로 변환시킬 수 있다.An
상기 광원(100)에서 조사되어 하우징(210) 내부로 유입된 광은 상기 디퓨져(220)를 경유하면서 광에너지의 균일화와 함께 광의 세기가 일정량 감소되기는 하나, 여전히 고출력의 높은 광의 세기(intensity)를 유지하고 있기 때문에 광의 세기를 전체적으로 감소시켜 고에너지에서 저에너지로 변환시킬 필요가 있다.Although the light irradiated from the
즉, ND 필터(220)는 광원(100)에서 조사된 광의 스펙트럼 비율을 변화시키기 않고, I선(I line, 365㎚), H선(H line, 405㎚), G선(G line, 436㎚)이 가지고 있는 고에너지를 저에너지로 변환시킴에 의해서 하우징(210) 내로 입사되는 광에 의한 하우징(210) 내부 온도가 적정하게 유지할 수 있도록 한다.That is, the
이로 인하여, 하우징(210) 내에 설치되는 디퓨져(220)를 비롯한 밴드패스필터(240)와 센서(250)의 열화를 방지할 수 있다.Accordingly, deterioration of the
또한, 상기 ND 필터(230)의 하부에는 밴드패스필터(240)가 설치될 수 있다. 밴드패스필터(240)는 ND 필터(230)에서 광에너지가 고에너지에서 저에너지로 변환된 광의 파장 영역대에서 원하는 파장 영역대를 선택적으로 통과시킬 수 있다. 이때, 하나의 파장 영역대만을 선택하거나 동시에 각기 다른 파장 영역대가 복수로 선택되어 통과되도록 할 수 있다.In addition, a
그리고, 밴드패스필터(240)를 경유하면서 광의 세기가 다시 저감될 수 있으며, 광의 세기 저감은 밴드패스필터(240)의 광학 밀도를 나타내는 흡광도(OD ; Optical Density)율에 따라 광의 에너지 세기를 낮출 수 있다.In addition, the intensity of light may be reduced again while passing through the
마지막으로, 디퓨져(220)와 ND 필터(230) 및 밴드패스필터(240)를 경유하여 에너지 세기가 저하되고, 스펙트럼이 평균화된 광이 센서(250)로 유입될 수 있다.Finally, light may be introduced into the
센서(250)는 밴드패스필터(240)의 하부인 하우징(210)의 저면에 설치되며, 하우징(210)의 개구부(211)를 통해 유입된 광이 디퓨져(220)와 ND 필터(230) 및 밴드패스필터(240)를 거쳐 입사될 수 있다.The
센서(250)는 센싱하고자 하는 광의 종류와 파장대역에 따라 각기 다른 종류의 재질로 구성된 수광부(251)를 포함할 수 있다. 수광부(251)는 감지하고자 하는 파장대역에 따라 Si 다이오드 또는 GaP, InGaP 중 어느 하나의 재질로 구성될 수 있으며, 센싱하고자 하는 파장대역의 센싱 감도를 고려하여 적어도 하나 또는 하나 이상의 혼합물이 선택될 수 있다.The
이와 같이 구성된 본 발명의 광조도와 광량 측정 모듈(200)은 도 5에 도시된 바와 같이, 판 상의 스테이지(310) 상에 복수개가 소정의 간격으로 설치되어 멀티 채널의 측정기로 구성될 수 있다As illustrated in FIG. 5, the light illuminance and light
본 실시예의 멀티 채널 측정기(300)는 판 상의 스테이지(310)와 스테이지(310) 상에 I선과 H선 및 G선의 파장대역을 각각 센싱할 수 있는 복수의 I선 광조도와 광량 측정 모듈(320)과, H선 광조도와 광량 측정 모듈(330) 및 G선 광조도와 광량 측정 모듈(340)이 설치될 수 있으며, 복수의 광조도와 광량 측정 모듈 사이에 다수의 온도측정 모듈(350)과 습도측정 모듈(360)이 더 설치될 수 있다.The
이와 같이 구성된 멀티 채널 측정기(300)는 하나의 스테이지(310)에 광원에서 조사되는 I선과, H선 및 G선의 특성을 가진 광이 조사될 때, 복수의 광조도와 광량 측정 모듈(320~340)을 통해 선택적으로 광의 조도가 측정될 수 있다.The
또한, 스테이지(310) 상에 설치된 온도측정 모듈(350)과 습도측정 모듈(360)을 통해 노광기 내의 온도와 습도를 비롯하여 광조도와 광량 측정 모듈을 통한 광 조도 측정시 각 모듈의 온도와 습도 측정 조건을 감지할 수 있다.In addition, the temperature and humidity measurement conditions of each module when measuring the light illuminance through the
이때, 상기 I선, H선 및 G선을 개별적으로 측정할 수 있는 광조도와 광량 측정 모듈(320~340)은 각 광선의 측정 모듈 별로 일렬로 배치되거나, 각 광선의 측정 모듈이 혼재되어 일정한 간격으로 배치될 수 있다.
In this case, the light intensity and light
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허청구범위에 기재되는 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It will be understood that the invention may be varied and varied without departing from the scope of the invention.
100. 광원 200. 광조도와 광량 측정 모듈
210. 하우징 211. 개구부
220. 디퓨져 230. ND 필터
240. 밴드패스필터 250. 센서
300. 멀티 채널 측정기 310. 스테이지
350. 온도측정 모듈 360. 습도측정 모듈100.
210.Housing 211.Openings
220. Diffuser 230.ND Filter
240.
300.
350.
Claims (12)
상기 하우징 내에 설치되며, 상기 하우징의 전방에 배치된 표준 광원에서 조사되는 광의 파장을 일정하게 변화시키는 디퓨져;
상기 디퓨져의 하부에 설치되며, 상기 디퓨져를 경유한 고에너지의 광의 세기를 감소시키는 ND(Neutral Density) 필터;
상기 ND 필터의 하부에 설치되며, 특정 영역의 파장 영역대를 선택적으로 투과시키는 밴드패스필터; 및
상기 하우징의 저면에 설치되며, 상기 밴드패스필터를 통해 투과되는 광을 수광하는 센서;
를 포함하는 광조도와 광량 측정 모듈.
A housing having an opening in the center;
A diffuser installed in the housing and constantly changing a wavelength of light emitted from a standard light source disposed in front of the housing;
An ND (Neutral Density) filter disposed below the diffuser and configured to reduce the intensity of light of high energy via the diffuser;
A band pass filter disposed below the ND filter and selectively transmitting a wavelength band of a specific region; And
A sensor installed at a bottom surface of the housing and receiving light transmitted through the band pass filter;
Light intensity and light intensity measurement module comprising a.
상기 하우징은, 함체형으로 구성되어 상기 개구부가 상부에 형성되며, 내부 열을 외부로 배출할 수 있는 열전도가 우수한 재질로 구성된 광조도와 광량 측정 모듈.
The method of claim 1,
The housing is formed in a housing shape, the opening is formed in the upper portion, the light illuminance and light quantity measuring module composed of a material having excellent thermal conductivity that can discharge the internal heat to the outside.
상기 개구부는, 내측면이 경사면으로 형성되며, 상기 경사면은 광의 조사 방향을 기준으로 하향 경사면으로 구성된 광조도와 광량 측정 모듈.
The method of claim 1,
The opening may have an inner surface formed as an inclined surface, and the inclined surface is configured to have a downward inclined surface with respect to a light irradiation direction.
상기 개구부의 내측면은 광 흡수 재질로 이루어진 코팅면이 형성된 광조도와 광량 측정 모듈.
The method of claim 1,
The inner surface of the opening is a light intensity and light quantity measuring module is formed with a coating surface made of a light absorbing material.
상기 센서는, Si 다이오드 또는 GaP, InGaP 중 어느 하나의 재질로 구성될 수 있으며, 센싱하고자 하는 파장대역의 센싱 감도를 고려하여 적어도 하나 또는 하나 이상의 혼합물로 이루어진 수광부를 포함하는 광조도와 광량 측정 모듈.
The method of claim 1,
The sensor may be made of any one material of a Si diode, GaP, InGaP, and includes a light receiving unit consisting of at least one or one or more mixtures in consideration of the sensing sensitivity of the wavelength band to be sensed.
상기 디퓨져는, 상기 광원에서 조사되는 I선, H선 또는 G 선 중 어느 하나의 광선이 경유하면서 광의 산란에 의해 광에너지를 균일하게 분산시켜 광 출력을 평균화하는 광조도와 광량 측정 모듈.
The method of claim 1,
The diffuser is a light illuminance and light quantity measuring module for averaging the light output by uniformly dispersing the light energy by scattering light while passing through any one of the I-line, H-line or G-line irradiated from the light source.
상기 ND 필터는, 상기 광원(100)에서 조사된 I선, H선, G선이 가지고 있는 고에너지를 저에너지로 변환시킴에 의해서 상기 하우징 내로 입사되는 광에 의한 내부 온도를 적정하게 유지하는 광조도와 광량 측정 모듈.
The method of claim 1,
The ND filter is a light illuminance for appropriately maintaining the internal temperature by the light incident into the housing by converting the high energy of the I-line, H-line, G-line irradiated from the light source 100 into low energy Light intensity measurement module.
상기 ND 필터는, 하나의 파장 영역대만을 선택하거나 동시에 각기 다른 파장 영역대가 복수로 선택되어 통과되도록 하는 광조도와 광량 측정 모듈.
The method of claim 1,
The ND filter may select only one wavelength range or simultaneously select and pass a plurality of different wavelength ranges.
판 상의 스테이지에 I선, H선, G선이 개별적으로 측정되는 복수의 광조도와 광량 측정 모듈이 일렬로 배치되거나 상기 I선, H선, G선을 감지하는 복수의 광조도와 광량 측정 모듈이 혼재되어 일정한 간격으로 배치되는 멀티 채널 측정기.
A diffuser, an ND filter, a band pass filter, and a sensor are built in a housing having an opening to disperse and average light emitted from a light source in front of the housing, and selectively transmit a specific wavelength range to be received by the sensor. In the multi-channel measuring instrument equipped with the light intensity and light intensity measurement module,
In the stage on the plate, a plurality of light intensity and light quantity measuring modules in which I, H, and G lines are individually measured are arranged in a line, or a plurality of light illuminance and light quantity measuring modules in which the I, H, and G lines are sensed are mixed. Multi-channel meter that is arranged at regular intervals.
상기 디퓨져는 상기 하우징의 전방에 배치된 표준 광원에서 조사되는 광의 파장을 일정하게 변화시키고, 상기 ND 필터는, 상기 디퓨져를 경유한 고에너지의 광의 세기를 감소시키며, 상기 밴드패스필터는, 특정 영역의 파장 영역대를 선택적으로 투과시키는 멀티 채널 측정기.
10. The method of claim 9,
The diffuser constantly changes the wavelength of light irradiated from a standard light source disposed in front of the housing, the ND filter reduces the intensity of the high energy light via the diffuser, and the bandpass filter comprises a specific region. Multi-channel measuring instrument for selectively transmitting the wavelength range of the.
상기 복수의 광조도와 광량 측정 모듈 사이에 다수의 온도측정 모듈과 습도측정 모듈이 더 설치되는 멀티 채널 측정기.
10. The method of claim 9,
And a plurality of temperature measuring modules and a humidity measuring module are installed between the plurality of light illuminance and light quantity measuring modules.
상기 센서는, Si 다이오드 또는 GaP, InGaP 중 어느 하나의 재질로 구성될 수 있으며, 센싱하고자 하는 파장대역의 센싱 감도를 고려하여 적어도 하나 또는 하나 이상의 혼합물로 이루어진 수광부를 포함하는 멀티 채널 측정기.10. The method of claim 9,
The sensor may be made of any one material of a Si diode, GaP, InGaP, and includes a light receiving unit made of at least one or one or more mixtures in consideration of the sensing sensitivity of the wavelength band to be sensed.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110137429A KR101319639B1 (en) | 2011-12-19 | 2011-12-19 | Illuminance measuring module and multi channel detector using thereof |
JP2012052810A JP2013127442A (en) | 2011-12-19 | 2012-03-09 | Illuminance and light quantity measuring module, and multichannel measuring apparatus using the same |
CN2012101064340A CN103162817A (en) | 2011-12-19 | 2012-04-11 | Illumination and light intensity measuring module and multi-channel measuring device using same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110137429A KR101319639B1 (en) | 2011-12-19 | 2011-12-19 | Illuminance measuring module and multi channel detector using thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130070214A true KR20130070214A (en) | 2013-06-27 |
KR101319639B1 KR101319639B1 (en) | 2013-10-17 |
Family
ID=48586091
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110137429A KR101319639B1 (en) | 2011-12-19 | 2011-12-19 | Illuminance measuring module and multi channel detector using thereof |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2013127442A (en) |
KR (1) | KR101319639B1 (en) |
CN (1) | CN103162817A (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109946778A (en) * | 2017-12-21 | 2019-06-28 | 张家港康得新光电材料有限公司 | Optical diaphragm and ambient light sensor with it |
DE102018221083A1 (en) * | 2018-12-06 | 2020-06-10 | Robert Bosch Gmbh | LiDAR system and motor vehicle |
CN116610007B (en) * | 2023-07-18 | 2023-10-27 | 上海图双精密装备有限公司 | Mask alignment lithography apparatus, illumination system and illumination method thereof |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4319830A (en) * | 1979-08-06 | 1982-03-16 | Terence Roach | Multispectral light detection system |
JPS6177728A (en) * | 1984-09-25 | 1986-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Thermocouple type infrared detecting element |
JPH0670584B2 (en) * | 1990-06-26 | 1994-09-07 | スガ試験機株式会社 | Irradiance meter that follows the cosine law |
JPH0626925A (en) * | 1992-07-06 | 1994-02-04 | Fujitsu Ltd | Infrared ray detector |
JPH07270230A (en) * | 1994-03-30 | 1995-10-20 | Miyachi Technos Kk | Laser output detector |
JPH1064803A (en) * | 1996-08-19 | 1998-03-06 | Nikon Corp | Optical measuring instrument and aligner provided with it |
KR20000066449A (en) * | 1999-04-16 | 2000-11-15 | 김영환 | Method exposure illumination for exposing |
JP2002005736A (en) * | 2000-06-23 | 2002-01-09 | Orc Mfg Co Ltd | Measuring device for ultraviolet ray illuminance distribution |
KR20050078413A (en) * | 2004-01-29 | 2005-08-05 | 삼성에스디아이 주식회사 | Apparatus for measuring illuminance |
JP2008309805A (en) * | 2008-09-26 | 2008-12-25 | Fujifilm Corp | Light measuring instrument and light measuring method |
-
2011
- 2011-12-19 KR KR1020110137429A patent/KR101319639B1/en active IP Right Grant
-
2012
- 2012-03-09 JP JP2012052810A patent/JP2013127442A/en active Pending
- 2012-04-11 CN CN2012101064340A patent/CN103162817A/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013127442A (en) | 2013-06-27 |
CN103162817A (en) | 2013-06-19 |
KR101319639B1 (en) | 2013-10-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8259294B2 (en) | Method and device for measuring optical characteristic variables of transparent, scattering measurement objects | |
US7688447B2 (en) | Color sensor | |
CN103411676B (en) | A kind of colour photometer utilizing linear variable filters to measure object color | |
EP0023709B1 (en) | System for controlling the exposure time of a photoresist layer | |
US20080144025A1 (en) | Apparatus for wafer inspection | |
US20110007306A1 (en) | Photo-detector and method of measuring light | |
JP5352217B2 (en) | Integrating sphere and photometric device | |
US7859668B2 (en) | Apparatus and method for illuminator-independent color measurements | |
CN210346910U (en) | Hyperspectral color measuring system | |
KR101319639B1 (en) | Illuminance measuring module and multi channel detector using thereof | |
KR20130036167A (en) | Solar simulator and solar cell inspection apparatus | |
KR20140023214A (en) | A device and a method for detecting a transmittivity spectrum of a light guiding plate | |
JP2009236546A (en) | Standard light source device | |
JP2010133833A (en) | Photometric device | |
Hanselaer et al. | A new integrating sphere design for spectral radiant flux determination of light-emitting diodes | |
JP2011128089A (en) | Linearity inspection device and linearity inspection method | |
US20190017871A1 (en) | Method of calibrating spectrum sensors in a manufacturing environment and an apparatus for effecting the same | |
KR101607639B1 (en) | Adjusted Light Module having Reflected Light Optimized to Light Sensor and Film Thickness Measurement Apparatus using this | |
Uppinakudru et al. | Critical assessment of optical sensor parameters for the measurement of ultraviolet LED lamps | |
JPH0933435A (en) | Device for measuring optical characteristic value of transparent material | |
JP5274528B2 (en) | Pseudo-sunlight irradiation device and solar panel inspection device | |
US6987269B2 (en) | Apparatus and process for measuring light intensities | |
KR20140028859A (en) | Multi-channel luminous energy sensing unit, apparatus for mesuring light energy of exposure device and method for mesuring light energy by channel | |
KR20190035853A (en) | Photometer test system for LED | |
JPH036011A (en) | Wafer aligner for semiconductor-device manufacture |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161004 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171011 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181001 Year of fee payment: 6 |