KR20130064496A - Gas exhausting unit and substrate treating unit including the unit - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 기판 처리 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 가스 배기 유닛을 포함하는 기판 처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate processing apparatus, and more particularly, to a substrate processing apparatus including a gas exhaust unit.
반도체 소자, 평판 표시 패널, 그리고 솔라셀 등의 제조에는 포토레지스트를 제거하는 애싱 공정이 포함된다. 애싱 공정은 기판상에 도포된 포토레지스트를 제거한다.Fabrication of semiconductor devices, flat panel displays, and solar cells includes an ashing process for removing photoresist. The ashing process removes the photoresist applied on the substrate.
한국등록특허 제10-796980호에는 애싱 공정을 수행하는 기판 처리 장치가 개시된다. 기판 처리 장치는 가스 공급 부재가 공정 챔버 내부로 공정가스를 공급하고, 배기 부재는 공정 챔버 내부의 가스를 배기한다. 진공 펌프는 공정 챔버 내부 압력이 감압되도록 가스를 강제 흡입한다.Korean Patent No. 10-796980 discloses a substrate processing apparatus for performing an ashing process. In the substrate processing apparatus, the gas supply member supplies the process gas into the process chamber, and the exhaust member exhausts the gas inside the process chamber. The vacuum pump forcibly sucks gas so that the pressure inside the process chamber is reduced.
애싱 공정이 진행 중에 진공 펌프의 펌핑 동작이 멈추거나, 진공 펌프에 역상이 인가되는 경우, 진공 펌프가 반대 방향으로 가스를 불어내는 현상이 발생할 수 있다. 가스는 짧은 시간 내에 역류되어 공정 챔버 내부로 유입된다. 역류된 가스에 함유된 반응 부산물등은 기판의 오염원으로 제공된다. If the pumping operation of the vacuum pump is stopped or the reverse phase is applied to the vacuum pump while the ashing process is in progress, the vacuum pump may blow a gas in the opposite direction. The gas flows back in a short time and enters the process chamber. Reaction by-products and the like contained in the reflux gas serve as a source of contamination of the substrate.
본 발명의 실시예들은 배기되는 가스의 역류로 인한 기판 오염을 예방할 수 있는 가스 배기 유닛을 제공한다.Embodiments of the present invention provide a gas exhaust unit that can prevent substrate contamination due to backflow of exhaust gas.
본 발명의 일 실시예에 따른 가스 배기 유닛은 가스가 흐르는 제1영역과 제2영역이 형성된 배관; 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 상기 가스의 흐름이 발생하도록 상기 배관에 진공압을 인가하는 진공 펌프; 및 상기 제1영역과 상기 제2영역에 사이 구간에서 상기 배관에 설치되며, 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 상기 가스의 흐름을 개방하고, 상기 제2영역에서 상기 제1영역 방향으로 상기 가스의 흐름을 차단하는 역류 방지부를 포함하되, 상기 역류 방지부는 상기 제2영역에서 상기 제1영역 방향으로 형성된 가스의 흐름에 의해 부양되어 상기 제1영역과 상기 제2영역 사이 구간을 차단하는 가스 차단부를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, a gas exhaust unit includes: a pipe in which a first region and a second region in which gas flows are formed; A vacuum pump for applying a vacuum pressure to the pipe so that the gas flows from the first region toward the second region; And installed in the pipe in a section between the first region and the second region, opening the flow of gas in the direction of the second region from the first region, and in the direction of the first region in the second region. And a backflow prevention unit for blocking the flow of the gas, wherein the backflow prevention unit is supported by a flow of gas formed in the direction of the first area in the second area to block a section between the first area and the second area. And a gas shutoff.
또한, 상기 역류 방지부는 상기 제1영역과 상기 제2영역 사이에서 상기 배관에 설치되고, 상기 제1영역보다 큰 반경의 연결 유로가 내부에 형성된 연결 덕트를 더 포함하고, 상기 가스 차단부는 상기 제2영역과 마주하는 저면이 개방된 공간이 내부에 형성되고, 상기 연결 유로 내에서 부양되는 통 형상의 몸통부를 포함할 수 있다.The backflow prevention part may further include a connection duct installed in the pipe between the first area and the second area and having a connection channel having a radius larger than that of the first area therein, and wherein the gas shutoff part includes the first A space having an open bottom face facing the two regions may be formed therein, and may include a cylindrical body portion supported by the connection passage.
또한, 상기 역류 방지부는 상기 연결 덕트의 내측면으로부터 상기 연결 유로 측으로 돌출되며, 상기 제1영역과 상기 연결 유로를 연결하는 개구가 형성된 제1돌출부를 더 포함하고, 상기 가스 차단부는 상기 몸통부가 부양하는 경우, 상기 제1돌출부에 걸려 상기 제1영역으로 상기 몸통부의 이동을 제한하는 걸림부를 포함할 수 있다.The backflow prevention part may further include a first protrusion protruding from an inner side surface of the connection duct toward the connection flow path, the first protrusion having an opening connecting the first region and the connection flow path, and the gas blocking part supporting the body portion. In this case, the first protrusion may include a locking portion that restricts the movement of the body portion to the first region.
또한, 상기 제1돌출부는 상기 연결 덕트의 내측면으로부터 그 끝단으로 갈수록 점차 높이가 높아지도록 상향 경사지며, 상기 걸림부는 상기 제1돌출부에 상응하도록 상향 경사질 수 있다.In addition, the first protrusion may be inclined upward so as to gradually increase in height from an inner side surface of the connection duct to an end thereof, and the locking portion may be inclined upward to correspond to the first protrusion.
또한, 상기 배관의 제2영역은 상기 연결 유로보다 작은 반경을 가지며, 상기 역류 방지부는 상기 제1돌출부의 하부에 위치하고, 상기 연결 덕트의 내측면으로부터 상기 연결 유로 측으로 돌출되며, 상기 연결 유로와 상기 제2영역을 연결하는 개구가 형성된 제2돌출부를 더 포함하고, 상기 가스 차단부는 상기 몸통부의 하단에 연결되며, 상기 제2영역에 상응하는 내경과 상기 연결 덕트의 내경보다 작은 외경을 가지는 링 형상의 안착부를 포함하되, 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 가스의 흐름이 발생하는 경우, 상기 안착부는 상기 제2돌출부에 놓일 수 있다.In addition, the second region of the pipe has a radius smaller than that of the connection flow path, and the reverse flow prevention portion is located below the first protrusion, protrudes from the inner side of the connection duct toward the connection flow path, and the connection flow path and the And a second protrusion having an opening connecting the second area, wherein the gas shutoff part is connected to a lower end of the body portion, and has a ring shape having an inner diameter corresponding to the second area and an outer diameter smaller than the inner diameter of the connection duct. Including the seating portion of, when the flow of gas in the direction of the second region from the first region, the seating portion may be placed on the second projection.
또한, 상기 걸림부와 상기 안착부 사이의 상기 몸통부 영역에는 상기 몸통부의 둘레를 따라 연결 홀들이 형성되고, 상기 연결 유로에 유입된 가스는 상기 연결 홀들을 통해 상기 제2영역으로 흐를 수 있다.In addition, connection holes may be formed along the circumference of the body portion in the trunk portion between the locking portion and the seating portion, and gas introduced into the connection flow passage may flow to the second region through the connection holes.
또한, 상기 역류 방지부는 상기 제1영역과 상기 제2영역 사이 구간에 설치되며, 걸림홀이 형성된 걸림판; 상기 스토퍼와 상기 제2영역 사이 구간에 설치되며, 가스가 통과하는 유로들들이 형성된 지지판을 더 포함하되, 상기 가스 차단부는 상기 걸림홀보다 큰 반경을 갖는 구 형상을 가지고, 상기 스토퍼와 상기 메쉬 사이 구간에 위치하며, 상기 제2영역에서 상기 제1영역으로 흐르는 가스에 의해 부양되어 일부 영역이 상기 걸림홀에 삽입될 수 있다.In addition, the backflow prevention unit is installed in the section between the first region and the second region, the locking plate is formed with a locking hole; A support plate formed in a section between the stopper and the second region and having flow paths through which gas passes, wherein the gas blocking unit has a spherical shape having a radius larger than that of the locking hole, and between the stopper and the mesh. Located in the section, it may be buoyed by the gas flowing from the second region to the first region may be inserted into the engaging hole.
또한, 상기 가스 차단부는 고무 재질로 제공될 수 있다.In addition, the gas blocking unit may be provided in a rubber material.
또한, 상기 지지판은 메쉬(mesh)일 수 있다.In addition, the support plate may be a mesh.
본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치는 처리 공간이 내부에 형성된 공정 챔버; 상기 처리 공간에 위치하며, 기판을 지지하는 기판 지지유닛; 상기 처리 공간에 공정 가스를 공급하는 공정 가스 공급유닛; 상기 처리 공간에 머무르는 가스를 상기 공정 챔버 외부로 배기하는 가스 배기 유닛을 포함하되, 상기 가스 배기 유닛은 상기 공정 챔버와 연결되고, 상기 처리 공간 내의 가스가 배기되는 제1영역과 상기 제2영역이 순차적으로 형성된 배관; 상기 배관에 설치되며, 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 가스의 흐름이 발생하도록 상기 배관에 진공압을 인가하는 진공 펌프; 및 상기 제1영역과 상기 제2영역에 사이 구간에서 상기 배관에 설치되며, 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 상기 가스의 흐름을 개방하고, 상기 제2영역에서 상기 제1영역 방향으로 상기 가스의 흐름을 차단하는 역류 방지부를 포함하며, 상기 역류 방지부는 상기 제2영역에서 상기 제1영역 방향으로 형성된 가스의 흐름에 의해 부양되어 상기 제1영역과 상기 제2영역 사이 구간을 차단하는 가스 차단부를 포함할 수 있다.A substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention includes a process chamber in which a processing space is formed; A substrate support unit positioned in the processing space and supporting a substrate; A process gas supply unit supplying a process gas to the processing space; And a gas exhaust unit configured to exhaust the gas staying in the processing space to the outside of the process chamber, wherein the gas exhaust unit is connected to the process chamber, and the first region and the second region in which the gas in the processing space is exhausted are provided. Piping formed sequentially; A vacuum pump installed in the pipe and configured to apply a vacuum pressure to the pipe so that gas flows from the first area toward the second area; And installed in the pipe in a section between the first region and the second region, opening the flow of gas in the direction of the second region from the first region, and in the direction of the first region in the second region. And a backflow prevention unit to block the flow of the gas, wherein the backflow prevention unit is supported by a flow of gas formed in the direction of the first region in the second region to block a section between the first region and the second region. It may include a gas blocker.
또한, 상기 역류 방지부는 상기 제1영역과 상기 제2영역 사이에서 상기 배관에 설치되고, 상기 제1영역보다 큰 반경의 연결 유로가 내부에 형성된 연결 덕트를 더 포함하고, 상기 가스 차단부는 상기 제2영역과 마주하는 저면이 개방된 공간이 내부에 형성되고, 상기 연결 유로 내에서 부양되는 통 형상의 몸통부를 포함할 수 있다.The backflow prevention part may further include a connection duct installed in the pipe between the first area and the second area and having a connection channel having a radius larger than that of the first area therein, and wherein the gas shutoff part includes the first A space having an open bottom face facing the two regions may be formed therein, and may include a cylindrical body portion supported by the connection passage.
또한, 상기 역류 방지부는 상기 연결 덕트의 내측면으로부터 상기 연결 유로 측으로 돌출되며, 상기 제1영역과 상기 연결 유로를 연결하는 개구가 형성된 제1돌출부를 더 포함하고, 상기 가스 차단부는 상기 몸통부가 부양하는 경우, 상기 제1돌출부에 걸려 상기 제1영역으로 상기 몸통부의 이동을 제한하는 걸림부를 포함할 수 있다.The backflow prevention part may further include a first protrusion protruding from an inner side surface of the connection duct toward the connection flow path, the first protrusion having an opening connecting the first region and the connection flow path, and the gas blocking part supporting the body portion. In this case, the first protrusion may include a locking portion that restricts the movement of the body portion to the first region.
또한, 상기 배관의 제2영역은 상기 연결 유로보다 작은 반경을 가지며, 상기 역류 방지부는 상기 제1돌출부의 하부에 위치하고, 상기 연결 덕트의 내측면으로부터 상기 연결 유로 측으로 돌출되며, 상기 연결 유로와 상기 제2영역을 연결하는 개구가 형성된 제2돌출부를 더 포함하고, 상기 가스 차단부는 상기 몸통부의 하단에 연결되며, 상기 제2영역에 상응하는 내경과 상기 연결 덕트의 내경보다 작은 외경을 가지는 링 형상의 안착부를 포함하되, 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 가스의 흐름이 발생하는 경우, 상기 안착부는 상기 제2돌출부에 놓일 수 있다.In addition, the second region of the pipe has a radius smaller than that of the connection flow path, and the reverse flow prevention portion is located below the first protrusion, protrudes from the inner side of the connection duct toward the connection flow path, and the connection flow path and the And a second protrusion having an opening connecting the second area, wherein the gas shutoff part is connected to a lower end of the body portion, and has a ring shape having an inner diameter corresponding to the second area and an outer diameter smaller than the inner diameter of the connection duct. Including the seating portion of, when the flow of gas in the direction of the second region from the first region, the seating portion may be placed on the second projection.
또한, 상기 걸림부와 상기 안착부 사이의 상기 몸통부 영역에는 상기 몸통부의 둘레를 따라 연결 홀들이 형성되고, 상기 연결 유로에 유입된 가스는 상기 연결 홀들을 통해 상기 제2영역으로 흐를 수 있다.In addition, connection holes may be formed along the circumference of the body portion in the trunk portion between the locking portion and the seating portion, and gas introduced into the connection flow passage may flow to the second region through the connection holes.
또한, 상기 역류 방지부는 상기 제1영역과 상기 제2영역 사이 구간에 설치되며, 걸림홀이 형성된 걸림판; 상기 스토퍼와 상기 제2영역 사이 구간에 설치되며, 가스가 통과하는 유로들들이 형성된 지지판을 더 포함하되, 상기 가스 차단부는 상기 걸림홀보다 큰 반경을 갖는 구 형상을 가지고, 상기 스토퍼와 상기 메쉬 사이 구간에 위치하며, 상기 제2영역에서 상기 제1영역으로 흐르는 가스에 의해 부양되어 일부 영역이 상기 걸림홀에 삽입될 수 있다.In addition, the backflow prevention unit is installed in the section between the first region and the second region, the locking plate is formed with a locking hole; A support plate formed in a section between the stopper and the second region and having flow paths through which gas passes, wherein the gas blocking unit has a spherical shape having a radius larger than that of the locking hole, and between the stopper and the mesh. Located in the section, it may be buoyed by the gas flowing from the second region to the first region may be inserted into the engaging hole.
또한, 상기 가스 차단부는 고무 재질로 제공될 수 있다.In addition, the gas blocking unit may be provided in a rubber material.
본 발명의 실시예들에 의하면, 배기되는 가스가 공정 챔버 내부로 역류하는 것이 예방되므로, 가스 역류로 인한 기판 오염이 예방될 수 있다.According to embodiments of the present invention, since back gas is prevented from flowing back into the process chamber, substrate contamination due to back gas flow may be prevented.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 가스 차단부를 나타내는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 가스가 배기되는 모습을 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 가스 차단부가 배관을 차단하는 모습을 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 가스 배기 유닛에 의해 가스 배기가 일어나는 과정을 나타내는 단면도이다.
도 6은 도 5의 가스 배기 유닛이 배관을 차단하는 모습을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 가스 배기 유닛을 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 연결 홀들을 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 가스 배기 유닛을 나타낸다.
도 10은 도 9의 배기 가스 유닛이 배관을 차단하는 모습을 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view illustrating the gas blocking unit of FIG. 1. FIG.
3 is a view showing a state that the gas is exhausted in accordance with an embodiment of the present invention.
4 is a view showing a state in which the gas blocking unit blocks the pipe according to an embodiment of the present invention.
5 is a cross-sectional view illustrating a process of gas exhaust by a gas exhaust unit according to another embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a view illustrating a gas exhaust unit of FIG. 5 blocking a pipe.
7 is a view showing a gas exhaust unit according to another embodiment of the present invention.
8 is a view illustrating connection holes according to another embodiment of the present invention.
9 shows a gas exhaust unit according to another embodiment of the invention.
10 is a view illustrating a state in which the exhaust gas unit of FIG. 9 blocks a pipe.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 가스 배기 유닛 및 기판 처리 장치를 상세히 설명한다. 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
Hereinafter, a gas exhaust unit and a substrate processing apparatus according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 기판 처리 장치(10)는 공정 챔버(100), 기판 지지 유닛(200), 공정 가스 공급 유닛(300), 그리고 가스 배기 유닛(400)을 포함한다. 공정 챔버(100)는 기판(W) 처리가 수행되는 공간을 제공하며, 기판 지지 유닛(200)은 공정 챔버(100) 내부에서 기판(W)을 지지한다. 공정 가스 공급 유닛(300)은 공정 챔버(100) 내부에 공정 가스를 공급하고, 가스 배기 유닛(400)은 공정 챔버(100) 내부에 머무르는 공정 가스와 반응 부산물을 외부로 배기한다. 이하, 각 구성에 대해 상세하게 설명한다.Referring to FIG. 1, the
공정 챔버(100)는 내부에 처리 공간(110)이 형성된다. 처리 공간(110)은 기판(W) 처리를 수행하는 공간으로 제공된다. 처리 공간(110)에서는 공정 가스를 이용하는 다양한 기판 처리 공정이 수행될 수 있다. 본 실시예에서는 기판(W)상에 도포된 포토레지스트를 제거하는 애싱(Ashing) 공정을 예를 들어 설명한다. 공정 챔버(100)의 측벽에는 개구(미도시)가 형성될 수 있다. 기판(W)은 개구를 통하여 처리 공간(110)으로 출입한다. 개구는 도어(미도시)와 같은 개폐 부재에 의해 개폐될 수 있다. 공정 챔버(100)의 바닥면에는 배기홀(120)이 형성된다. 배기홀(120)은 가스 배기 유닛(400)과 연결된다.The
기판 지지 유닛(200)은 처리 공간(110)에 위치하며, 기판(W)을 지지한다. 기판 지지 유닛(200)은 서셉터(210)와 지지축(220)을 포함한다. 서셉터(210)는 원판 형상으로 제공되며, 상면에 기판(W)이 놓인다. 서셉터(210)의 내부에는 전극(미도시)이 제공될 수 있다. 전극은 외부 전원과 연결되며, 인가된 전력에 의해 정전기를 발생시킨다. 발생된 정전기는 기판(W)을 서셉터(210)에 고정시킨다. 서셉터(210)의 내부에는 히팅 코일(미도시)과 냉각 코일(미도시)이 제공될 수 있다. 히팅 코일은 기판(W)을 기 설정된 온도로 가열한다. 애싱 공정의 경우, 기판(W)은 약 200℃ 정도로 가열될 수 있다. 서셉터(210)는 기판(W)으로 온도가 효과적으로 전달되도록 알루미늄 또는 세라믹 재질로 제공될 수 있다. 냉각 코일은 가열된 기판(W)을 강제 냉각시킨다. 공정 처리가 완료된 기판(W)은 상온 상태 또는 다음 공정 진행에 요구되는 온도로 냉각된다. 지지축(220)은 원통 형상을 제공되며, 서셉터(210)의 하부에서 서셉터(210)를 지지한다.The
공정 가스 공급 유닛(300)은 공정 챔버(100)의 상부에 위치하며, 처리 공간(110)으로 공정 가스를 공급한다. 공정 가스 공급 유닛(300)은 기판 처리 공정에 따라 다양한 공정 가스를 제공할 수 있다. 애싱 공정의 경우, 공정 가스 공급 유닛(300)은 플라스마 상태의 공정 가스를 처리 공간(110)으로 공급할 수 있다. 공정 가스 공급 유닛(300)은 한국등록특허공보 제10-796980호에 개시된 플라스마 생성부재를 이용하여 플라스마를 생성할 수 있다. 플라스마는 처리 공간(110)으로 공급되어 기판(W) 처리에 제공된다. 플라스마의 성분 중 이온은 접지된 배플(미도시)에 의해 기판(W)으로 공급이 차단되고, 자유 라디칼만이 기판(W)으로 공급될 수 있다. 자유 라디칼은 화학 반응을 통하여 기판(W)상의 포토레지스트를 제거한다.The process
가스 배기 유닛(400)은 처리 공간(110)에 머무르는 공정 가스와 반응 부산물(이하, '가스'라고 한다.)를 공정 챔버(100) 외부로 배기한다. 가스 배기 유닛(400)은 배관(410), 진공 펌프(420), 그리고 역류 방지부(430)를 포함한다. The
배관(410)은 공정 챔버(100)의 하부에 상하방향으로 배치된다. 배관(410)은 상단이 공정 챔버(100)의 저면에 고정 결합한다. 배관(410) 내부에는 가스가 흐르는 유로(411a, 412a)가 형성된다. 유로(411a, 412a)는 공정 챔버(100)의 배기홀(120)과 연결된다. 배관(410)은 제1영역(411)과 제2영역(412)으로 구분된다. 제1영역(411)은 제2영역(412)에 비하여 상대적으로 공정 챔버(100)에 인접하여 위치한다. 제1영역(411)과 제2영역(412)은 배관(410)을 따라 순차적으로 위치한다. 제1영역(411)에 형성된 유로(411a)와 제2영역(412)에 형성된 유로(412a)는 사이즈가 동일할 수 있다. 이와 달리, 제1영역(411)에 형성된 유로(411a)와 제2영역(412)에 형성된 유로(412a)는 사이즈가 상이할 수 있다.The
제2영역(412)의 후단부에는 진공 펌프(420)가 설치된다. 진공 펌프(420)는 배관(410)과 공정 챔버(100)에 순차적으로 진공압을 인가한다. 기판 처리가 진행되는 동안 진공 펌프(420)는 구동되며, 처리 공간(110)은 소정 상태의 진공도로 유지된다. 그리고, 처리 공간(110) 내의 가스는 유로(411a, 412a)를 통해 외부로 배기된다. 가스는 제1영역(411)에서 제2영역(412) 방향으로 흐른다. A
역류 방지부(430)는 제1영역(411)과 제2영역(412) 사이 구간에서 배관(410)에 설치된다. 역류 방지부(430)는 제1영역(411)에서 제2영역(412) 방향으로 가스의 흐름을 개방하고, 제2영역(412)에서 제1영역(411) 방향으로 가스의 흐름을 차단한다. 역류 방지부(430)는 연결 덕트(431), 제1돌출부(434), 제2돌출부(436), 그리고 가스 차단부(440)를 포함한다.The
연결 덕트(431)는 제1영역(411)과 제2영역(412) 사이에서 배관(410)에 설치된다. 연결 덕트(431)는 상하면이 개방된 통 형상으로 제공되며, 내부에 연결 유로(432)가 형성된다. 연결 유로(432)는 제1 및 제2영역(411, 412)의 유로(411a, 412a)와 연결된다. 연결 유로(432)는 제1영역(411)에 형성된 유로(411a)보다 큰 반경을 가진다.The connecting
제1돌출부(434)는 연결 덕트(431)의 내측면으로부터 연결 유로(432)로 향해 돌출된다. 제1돌출부(434)는 연결 덕트(431)의 내측면을 따라 제공되며, 제1개구(434a)를 형성한다. 제1개구(434a)는 제1영역(411)의 유로(411a)와 연결 유로(432)를 연결한다. 실시예에 의하면, 제1돌출부(434)는 연결 덕트(431)의 상단에 형성되며, 연결 덕트(431)의 내측면에 대해 수직 방향으로 돌출된다. 제1돌출부(434)의 내측부는 제1영역(411)의 하단과 연결된다. 제1개구(434a)는 제1영역(411)의 유로(411a)에 상응하는 반경을 가진다.The
제2돌출부(436)는 제1돌추부(434)의 하부에 위치한다. 제2돌출부(436)는 연결 덕트(431)의 내측면으로부터 연결 유로(432)를 향해 돌출된다. 제2돌출부(436)는 연결 덕트(431)의 내측면을 따라 제공되며, 제2개구(436a)를 형성한다. 제2개구(436a)는 연결 유로(432)와 제2영역(412)의 유로(412a)를 연결한다. 실시예에 의하면, 제2돌출부(436)는 연결 덕트(431)의 하단에 형성되며, 연결 덕트(431)의 내측면에 대해 수직 방향으로 돌출된다. 제2돌출부(436)의 내측부는 제2영역(412)의 상단과 연결된다. 제2개구(436a)는 제2영역(412)의 유로(412a)에 상응하는 반경을 가진다.The
가스 차단부(440)는 연결 덕트(431)의 내부에 위치한다. 도 2는 도 1의 가스 차단부를 나타내는 사시도이다. 도 1 및 도 2를 참조하면, 가스 차단부(440)는 제2영역(412)의 유로(412a)와 마주하는 저면이 개방된 공간(440a)이 내부에 형성된다. 가스가 제2영역(412)에서 제1영역(411) 방향으로 흐를 경우, 가스 차단부(440) 내부(440a)로 유입된 가스에 의해 가스 차단부(440)는 부양된다. 부양된 가스 차단부(440)는 연결 유로(432)와 제1영역(411)의 유로(411a)를 차단하여 가스가 제1영역(411)으로 유입되는 것을 차단한다. 가스 차단부(440)는 몸통부(441), 걸림부(445), 안착부(447)를 포함한다.The
몸통부(441)는 통 형상으로 제공되며, 저면이 개방된 공간(440a)이 내부에 형성된다. 몸통부(441)는 상단(442)이 밀폐된다. 몸통부(441)는 상부 영역(441a)과 하부 영역(441b)으로 구분될 수 있다. 상부 영역(441a)은 제1영역(411)에 형성된 유로(411a)보다 작은 반경을 가진다. 하부 영역(441b)은 상부 영역(441a)의 하부에 위치하며, 제1영역(411)에 형성된 유로(411a)보다 크고 연결 유로(432)보다 작은 반경을 가진다. The
걸림부(445)는 몸통부(441)에 제공된다. 걸림부(445)는 상부 영역(441a)과 하부 영역(441b) 사이에 제공되며, 상부 영역(441a)과 하부 영역(441b)을 연결한다. 걸림부(445)는 링 형상의 판으로 제공되며, 상부 영역(441a)의 하단과 하부 영역(441b)의 상단을 연결한다. 걸림부(445)는 상부 영역(441a)의 외측면 및 하부 영역(441b)의 내측면에 수직하게 배치된다. 몸통부(441)는 걸림부(445)에 의해 상부 영역(441a)과 하부 영역(441b)이 단차진 형상을 가진다. 걸림부(445)는 몸통부(441)가 부양되는 경우, 제1돌출부(434)와 충돌한다. 이로 인해, 가스 차단부(440)가 제1영역(411)으로 이동하는 것이 제한된다. 제1돌출부(434)와 걸림부(445)의 충돌로 인한 손상을 방지하기 위해, 제1돌출부(434)의 저면 또는 걸림부(445)의 상면에는 오 링(O-ring, 438)이 제공될 수 있다.The locking
몸통부(441)의 하부영역(441b)에는 연결 홀(448)들이 형성된다. 연결 홀(448)들은 하부 영역(441b)의 둘레를 따라 서로 이격하여 형성된다. 연결 홀(448)들은 연결 유로(432)와 제2영역(412)의 유로(412a)를 연결한다. 연결 유로(432)에 유입된 가스는 연결 홀(448)들을 통해 제2영역(412)으로 흐른다. Connection holes 448 are formed in the
몸통부(441)의 하단에는 안착부(447)가 형성된다. 안착부(447)는 몸통부(441)의 외측면으로부터 몸통부(441)의 외측 방향으로 돌출된다. 안착부(447)는 링 형상의 판으로 제공된다. 안착부(447)는 제2영역(412)에 형성된 유로(412a)에 상응하는 내경과 연결 유로(432)의 반경보다 작은 외경을 가질 수 있다. 안착부(447)는 제1영역(411)에서 제2영역(412) 방향으로 가스의 흐름이 발생하는 경우, 제2돌출부(436)에 놓인다. 그리고, 제2영역(412)에서 제1영역(411) 방향으로 가스의 흐름이 발생하는 경우, 부양되어 제2돌출부(436)와 이격된다.A
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 가스가 배기되는 모습을 나타내는 도면이다.3 is a view showing a state that the gas is exhausted in accordance with an embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, 진공 펌프(도 1의 420)에 의해 배관(410)에 진공압이 인가된다. 진공압은 제1영역(411)에서 제2영역(412) 방향으로 가스(G)의 흐름을 발생시킨다. 가스 차단부(440)는 안착부(447)가 제2돌출부(436)에 놓이며, 몸통부(441)가 연결 덕트(431) 및 제1돌출부(434)와 소정 간격으로 이격된다. 제1영역(411)의 가스(G)는 몸통부(441)와 제1돌출부(434)의 사이 공간을 통해 연결 유로(432) 내부로 유입된다. 그리고, 몸통부(441)에 형성된 연결 홀(448)들을 통해 제2영역(412)으로 배기된다.Referring to FIG. 3, a vacuum pressure is applied to the
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 가스 차단부가 배관을 차단하는 모습을 나타내는 도면이다.4 is a view showing a state in which the gas blocking unit blocks the pipe according to an embodiment of the present invention.
도 4를 참조하면, 기판 처리 공정이 진행 중에 진공 펌프(도 1의 420)의 펌핑 동작이 멈추거나, 진공 펌프에 역상이 인가되는 경우, 진공 펌프가 반대 방향으로 가스(G)를 불어내는 현상이 발생할 수 있다. 상기 현상이 발생할 경우, 역류된 가스(G) 기류는 약 0.2초 만에 공정 챔부(도 1의 100) 내부로 도달할 수 있다. 가스 차단부(440)는 가스가 역류할 경우, 제1영역(411)으로 가스의 유입을 차단한다. 제2영역(412)에서 역류하는 가스는 몸통부(441)의 내부(440a)로 공급된다. 몸통부(441)의 내부에 공급된 가스는 가스 차단부(440)를 부양시킨다. 부양된 가스 차단부(440)는 제1돌출부(434)와 걸림부(445)의 충돌에 의해 이동이 제한된다. 그리고, 제1돌출부(434)와 걸림부(445)의 접촉에 의해 제1영역(411)의 유로(411a)와 연결 유로(432)의 연결이 차단된다. 이로 인해, 몸통부(441)의 내부(440a)로 유입된 가스 및 연결 유로로 유입된 가스(G)는 제1영역(411)으로 유입이 차단된다. 상술한 과정에 의해, 역류하는 가스(G)가 제1영역(411) 및 공정 챔버(도 1의 100) 내부로 유입이 방지되므로, 가스 역류로 인한 기판 오염이 예방될 수 있다. 또한, 상술한 가스 유입 방지는 역류하는 가스(G)의 힘에 의해 배관(410)이 차단되므로, 가스의 역류 여부 검출, 가스의 역류 검출 결과에 따른 배관(410)의 차단등의 과정이 요구되지 않으므로, 짧은 시간내에 배관(410)을 차단하여 공정 챔버(100)로 가스의 유입을 예방할 수 있다. Referring to FIG. 4, when the pumping operation of the vacuum pump (420 of FIG. 1) is stopped or a reverse phase is applied to the vacuum pump while the substrate treating process is in progress, the vacuum pump blows gas G in the opposite direction. This can happen. When this phenomenon occurs, the backflowed gas G stream may reach the
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 가스 배기 유닛에 의해 가스 배기가 일어나는 과정을 나타내는 단면도이고, 도 6은 도 5의 가스 배기 유닛이 배관을 차단하는 모습을 나타내는 도면이다.FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a process in which gas is exhausted by a gas exhaust unit according to another exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a view showing a state in which the gas exhaust unit of FIG. 5 blocks a pipe.
도 5 및 도 6을 참조하면, 제1돌출부(434)는 경사지게 형성된다. 제1돌출부(434)는 연결 덕트(431)의 상단과 제1영역(411)의 하단을 연결한다. 제1돌출부(434)는 연결 덕트(431)의 상단으로부터 상부로 갈수록 그 단면적이 점차 감소하도록 상향 경사지게 배치된다. 가스 차단부(440)의 걸림부(445)는 제1돌출부(434)에 상응하도록 상향 경사지게 배치된다.5 and 6, the
도 5와 같이, 가스(G)가 배관(440)을 통해 배기되는 경우, 가스 차단부(440)의 걸림부(445)가 경사지게 배치되므로, 연결 유로(432)에 유입된 가스(G)는 몸통부(441)와 연결 덕트(431) 사이 공간으로 용이하게 유입될 수 있다. 연결 유로(432)에 유입된 가스는 연결 홀(448)들을 통해 제2영역(412)으로 흐른다.As shown in FIG. 5, when the gas G is exhausted through the
도 6과 같이, 가스(G)가 역류하는 경우, 역류된 가스(G)는 몸통부 내부(440a)로 유입되어 가스 차단부(440)를 부양시킨다. 가스 차단부(440)의 부양에 의해, 걸림부(445)는 제1돌출부(434)와 접촉된다. 접촉부(445)와 제1돌출부(434)는 서로 상응하는 각도로 경사지므로, 접촉하는 면적이 넓어질 수 있다. 또한, 가스 차단부(440)가 부양되는 과정에서 걸림부(445)와 제1돌출부(434)는 가스 차단부(440)의 이동을 안내하여, 제1영역(422)과 연결 유로(432)가 차단될 수 있는 지점에 정확히 가스 차단부(440)가 위치될 수 있다.As shown in FIG. 6, when the gas G flows backward, the flowed gas G flows into the
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 가스 배기 유닛을 나타내는 도면이다. 7 is a view showing a gas exhaust unit according to another embodiment of the present invention.
도 7을 참조하면, 연결 덕트(431')는 도 1 및 도 5에 나타난 연결 덕트(431)보다 사이즈가 크게 제공된다. 이에 의해, 연결 덕트(431')와 가스 차단부(440)의 몸체부(441) 사이 공간(d)이 넓어져, 도 1 및 도 5에 나타난 가스 배기 유닛보다 가스(G) 배기가 활발하게 진행될 수 있다. 예를 들어, 배관(410)의 길이가 4m인 가스 배기 유닛에서 펌핑하는 경우, 진공 상태에 이르는데 5초가 걸린다면, 배관(410) 길이가 7m일 경우 펌핑 시간이 5초보다 증가한다. 그러나, 도 7과 같이, 연결 덕트(431')와 가스 차단부(440)의 몸체부(441) 사이 공간(d)이 넓힐 경우, 진공 컨덕턴스(vacuum conductance)가 증가되므로 펌핑 시간을 감소될 수 있다.Referring to FIG. 7, the connecting
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 연결 홀들을 나타내는 도면이다. 8 is a view illustrating connection holes according to another embodiment of the present invention.
도 8을 참조하면, 연결 홀(448)들은 상하방향으로 길게 형성된 슬릿 홀로 제공될 수 있다. 연결 홀(448)들은 균일한 간격으로 이격되어 몸통부(441)의 둘레를 따라 형성될 수 있다. 이와 달리, 연결 홀(448)들은 원형 홀로 제공될 수 있다. 또한, 연결 홀(448)들은 몸통부(441)의 둘레 방향으로 길이가 길게 형성된 슬릿 홀로 제공될 수 있다. 연결 홀(448)들은 몸통부(441)의 둘레 방향을 따라 복수 열로 배열될 수 있다. 또한, 연결 홀(448)들은 상하방향에 대해 소정 각도로 경사진 슬릿 홀로 제공될 수 있다. 슬릿 홀(448)들은 몸통부(441)의 둘레를 따라 균일 간격으로 이격하여 배열된다. 이와 같이, 연결 홀들은 다양한 형상을 가질 수 있으며, 그 배치 또한 다양하게 변경가능하다.Referring to FIG. 8, the connection holes 448 may be provided as slit holes formed long in the vertical direction. The connection holes 448 may be formed along the circumference of the
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 가스 배기 유닛을 나타낸다.9 shows a gas exhaust unit according to another embodiment of the invention.
도 9를 참조하면, 배관(410)의 제1영역(411)과 제2영역(412) 사이 구간에 역류 방지부(430)가 제공된다. 역류 방지부(430)는 걸림판(431), 지지판(435), 그리고 가스 차단부(437)를 포함한다. Referring to FIG. 9, a
걸림판(431)은 얇은 판 형상으로 제공되며, 가스(G)의 흐름 방향에 수직하게 배치된다. 걸림판(431)에는 걸림 홀(432)이 형성된다. 걸림 홀(432)은 소정 반경으로 형성된다. The locking
걸림판(431)의 하부에는 지지판(435)이 위치한다. 지지판(435)은 걸림판(431)으로부터 소정 거리 이격하여 위치한다. 걸림판(431)에는 유로(436)들이 형성된다. 유로(436)들은 가스(G)가 흐르는 통로로 제공한다. 걸림판(431)은 메쉬(Mesh)를 포함한다. The
걸림판(431)과 지지판(435) 사이에는 가스 차단부(437)가 위치한다. 가스 차단부(437)는 걸림 홀(432)보다 큰 반경을 갖는 구 형상으로 제공된다. 가스 차단부(431)는 경량 재질로 제공된다. 가스 차단부(431)는 고무 재질로 제공될 수 있다. The
배관(410)에 진공압이 인가되는 경우, 가스는 걸림 홀(432)을 통해 제1영역(411)에서 연결 유로(433)로 유입된다. 연결 유로(433)로 유입된 가스는 지지판(435)의 유로(436)들을 통해 제2영역(412)으로 유입된다.When a vacuum pressure is applied to the
이와 달리, 가스(G)가 역류하는 경우, 도 10과 같이, 역류하는 가스(G)에 의해 가스 차단부(437)가 부양되며, 그 일부가 걸림 홀(432)에 삽입된다. 걸림 홀(432)에 삽입된 가스 차단부(437)는 가스(G)가 연결 유로(433)에서 제1영역(411)으로 유입되는 것을 차단된다. 상술한 가스 차단부(437)의 차단에 의해 역류하는 가스(G)가 공정 챔버(도 1의 100) 내부로 유입되는 것이 방지된다. On the contrary, when the gas G flows backward, as shown in FIG. 10, the
상기 실시예에서는 가스 배기 유닛(400)이 애싱 공정을 수행하는 장치(10)에 제공되는 것으로 설명하였으나, 가스 배기 유닛(400)은 공정 챔버(100) 내부를 소정 압력으로 감압하여 기판(W)을 처리하는 장치에 제공될 수 있다. 그리고, 가스 배기 유닛(400)은 공정 가스를 공급하여 기판을 처리하는 장치와 처리 과정에서 가스나 흄이 발생하는 공정을 수행하는 장치등에 제공될 수 있다. 예컨대, 반도체 제조 공정 중, 증착 공정, 식각 공정, 그리고 베이크 공정등을 수행하는 장치에 제공될 수 있다. 또한, 가스 배기 유닛(400)은 평판 표시 패널 또는 솔라셀을 제조하는 장치에 제공될 수 있다.
In the above-described embodiment, the
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The protection scope of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the equivalent scope should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
100: 공정 챔버 200: 기판 지지 유닛
300: 공정 가스 공급 유닛 400: 가스 배기 유닛
410: 배관 420: 진공 펌프
430: 역류 방지부100: process chamber 200: substrate support unit
300: process gas supply unit 400: gas exhaust unit
410: piping 420: vacuum pump
430: backflow prevention unit
Claims (16)
상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 상기 가스의 흐름이 발생하도록 상기 배관에 진공압을 인가하는 진공 펌프; 및
상기 제1영역과 상기 제2영역에 사이 구간에서 상기 배관에 설치되며, 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 상기 가스의 흐름을 개방하고, 상기 제2영역에서 상기 제1영역 방향으로 상기 가스의 흐름을 차단하는 역류 방지부를 포함하되,
상기 역류 방지부는
상기 제2영역에서 상기 제1영역 방향으로 형성된 가스의 흐름에 의해 부양되어 상기 제1영역과 상기 제2영역 사이 구간을 차단하는 가스 차단부를 포함하는 가스 배기 유닛.A pipe in which a first region and a second region in which gas flows are formed;
A vacuum pump for applying a vacuum pressure to the pipe so that the gas flows from the first region toward the second region; And
Installed in the pipe in a section between the first region and the second region, opening the flow of gas in the direction of the second region from the first region, and in the direction of the first region in the second region; Including a backflow prevention block to block the flow of gas,
The backflow prevention unit
And a gas shutoff part that is lifted by a flow of gas formed in the second area toward the first area and blocks a section between the first area and the second area.
상기 역류 방지부는
상기 제1영역과 상기 제2영역 사이에서 상기 배관에 설치되고, 상기 제1영역보다 큰 반경의 연결 유로가 내부에 형성된 연결 덕트를 더 포함하고,
상기 가스 차단부는
상기 제2영역과 마주하는 저면이 개방된 공간이 내부에 형성되고, 상기 연결 유로 내에서 부양되는 통 형상의 몸통부를 포함하는 가스 배기 유닛.The method of claim 1,
The backflow prevention unit
And a connection duct installed in the pipe between the first region and the second region, and having a connection passage having a radius larger than that of the first region.
The gas blocking unit
A gas exhaust unit including a tubular body portion formed therein with a space having an open bottom face facing the second region and supported by the connection passage.
상기 역류 방지부는
상기 연결 덕트의 내측면으로부터 상기 연결 유로 측으로 돌출되며, 상기 제1영역과 상기 연결 유로를 연결하는 개구가 형성된 제1돌출부를 더 포함하고,
상기 가스 차단부는
상기 몸통부가 부양하는 경우, 상기 제1돌출부에 걸려 상기 제1영역으로 상기 몸통부의 이동을 제한하는 걸림부를 포함하는 가스 배기 유닛.3. The method of claim 2,
The backflow prevention unit
A first protrusion protruding from an inner side surface of the connection duct toward the connection flow path and having an opening connecting the first region and the connection flow path;
The gas blocking unit
And a catching part that catches the first protruding part and restricts movement of the body part to the first area when the body part supports.
상기 제1돌출부는 상기 연결 덕트의 내측면으로부터 그 끝단으로 갈수록 점차 높이가 높아지도록 상향 경사지며,
상기 걸림부는 상기 제1돌출부에 상응하도록 상향 경사지는 가스 배기 유닛.The method of claim 3, wherein
The first protrusion is inclined upward so as to gradually increase in height from the inner surface of the connection duct to the end thereof,
And the locking portion is inclined upwardly to correspond to the first protrusion.
상기 배관의 제2영역은 상기 연결 유로보다 작은 반경을 가지며,
상기 역류 방지부는
상기 제1돌출부의 하부에 위치하고, 상기 연결 덕트의 내측면으로부터 상기 연결 유로 측으로 돌출되며, 상기 연결 유로와 상기 제2영역을 연결하는 개구가 형성된 제2돌출부를 더 포함하고,
상기 가스 차단부는
상기 몸통부의 하단에 연결되며, 상기 제2영역에 상응하는 내경과 상기 연결 덕트의 내경보다 작은 외경을 가지는 링 형상의 안착부를 포함하되,
상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 가스의 흐름이 발생하는 경우, 상기 안착부는 상기 제2돌출부에 놓이는 가스 배기 유닛.The method of claim 3, wherein
The second region of the pipe has a radius smaller than the connecting flow path,
The backflow prevention unit
A second protrusion disposed under the first protrusion, protruding from an inner surface of the connection duct toward the connection flow path, and having an opening connecting the connection flow path and the second region;
The gas blocking unit
Is connected to the lower end of the body portion, including a ring-shaped seating portion having an inner diameter corresponding to the second area and an outer diameter smaller than the inner diameter of the connecting duct,
And a gas flow unit in the direction of the second region from the first region, wherein the seating portion is placed on the second protrusion.
상기 걸림부와 상기 안착부 사이의 상기 몸통부 영역에는 상기 몸통부의 둘레를 따라 연결 홀들이 형성되고,
상기 연결 유로에 유입된 가스는 상기 연결 홀들을 통해 상기 제2영역으로 흐르는 가스 배기 유닛.The method of claim 5, wherein
Connection holes are formed along the circumference of the body portion in the body portion region between the locking portion and the seating portion,
And a gas flowing into the connection channel flows to the second region through the connection holes.
상기 역류 방지부는
상기 제1영역과 상기 제2영역 사이 구간에 설치되며, 걸림홀이 형성된 걸림판;
상기 스토퍼와 상기 제2영역 사이 구간에 설치되며, 가스가 통과하는 유로들들이 형성된 지지판을 더 포함하되,
상기 가스 차단부는 상기 걸림홀보다 큰 반경을 갖는 구 형상을 가지고, 상기 스토퍼와 상기 메쉬 사이 구간에 위치하며, 상기 제2영역에서 상기 제1영역으로 흐르는 가스에 의해 부양되어 일부 영역이 상기 걸림홀에 삽입되는 가스 배기 유닛.The method of claim 1,
The backflow prevention unit
A locking plate installed in a section between the first region and the second region and having a locking hole formed therein;
Further comprising a support plate installed in the section between the stopper and the second region, the flow paths through which gas passes,
The gas blocking part has a spherical shape having a radius larger than that of the locking hole, and is located in a section between the stopper and the mesh, and is supported by a gas flowing from the second area to the first area so that a partial area of the gas blocking part is located. Gas exhaust unit inserted into the.
상기 가스 차단부는 고무 재질로 제공되는 가스 배기 유닛.The method of claim 7, wherein
The gas exhaust unit is a gas exhaust unit provided in a rubber material.
상기 지지판은 메쉬(mesh)인 가스 배기 유닛.9. The method according to claim 7 or 8,
The support plate is a mesh (gas) exhaust unit.
상기 처리 공간에 위치하며, 기판을 지지하는 기판 지지유닛;
상기 처리 공간에 공정 가스를 공급하는 공정 가스 공급유닛;
상기 처리 공간에 머무르는 가스를 상기 공정 챔버 외부로 배기하는 가스 배기 유닛을 포함하되,
상기 가스 배기 유닛은
상기 공정 챔버와 연결되고, 상기 처리 공간 내의 가스가 배기되는 제1영역과 상기 제2영역이 순차적으로 형성된 배관;
상기 배관에 설치되며, 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 가스의 흐름이 발생하도록 상기 배관에 진공압을 인가하는 진공 펌프; 및
상기 제1영역과 상기 제2영역에 사이 구간에서 상기 배관에 설치되며, 상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 상기 가스의 흐름을 개방하고, 상기 제2영역에서 상기 제1영역 방향으로 상기 가스의 흐름을 차단하는 역류 방지부를 포함하며,
상기 역류 방지부는
상기 제2영역에서 상기 제1영역 방향으로 형성된 가스의 흐름에 의해 부양되어 상기 제1영역과 상기 제2영역 사이 구간을 차단하는 가스 차단부를 포함하는 기판 처리 장치.A process chamber in which a processing space is formed;
A substrate support unit positioned in the processing space and supporting a substrate;
A process gas supply unit supplying a process gas to the processing space;
A gas exhaust unit for exhausting the gas remaining in the processing space to the outside of the process chamber,
The gas exhaust unit is
A pipe connected to the process chamber and having a first region in which the gas in the processing space is exhausted and the second region sequentially formed;
A vacuum pump installed in the pipe and configured to apply a vacuum pressure to the pipe so that gas flows from the first area toward the second area; And
Installed in the pipe in a section between the first region and the second region, opening the flow of gas in the direction of the second region from the first region, and in the direction of the first region in the second region; It includes a backflow prevention block to block the flow of gas,
The backflow prevention unit
And a gas blocking unit supported by a flow of gas formed in the second region toward the first region to block a section between the first region and the second region.
상기 역류 방지부는
상기 제1영역과 상기 제2영역 사이에서 상기 배관에 설치되고, 상기 제1영역보다 큰 반경의 연결 유로가 내부에 형성된 연결 덕트를 더 포함하고,
상기 가스 차단부는
상기 제2영역과 마주하는 저면이 개방된 공간이 내부에 형성되고, 상기 연결 유로 내에서 부양되는 통 형상의 몸통부를 포함하는 기판 처리 장치.11. The method of claim 10,
The backflow prevention unit
And a connection duct installed in the pipe between the first region and the second region, and having a connection passage having a radius larger than that of the first region.
The gas blocking unit
And a tubular body portion formed therein with a space having an open bottom face facing the second region and supported by the connection flow path.
상기 역류 방지부는
상기 연결 덕트의 내측면으로부터 상기 연결 유로 측으로 돌출되며, 상기 제1영역과 상기 연결 유로를 연결하는 개구가 형성된 제1돌출부를 더 포함하고,
상기 가스 차단부는
상기 몸통부가 부양하는 경우, 상기 제1돌출부에 걸려 상기 제1영역으로 상기 몸통부의 이동을 제한하는 걸림부를 포함하는 기판 처리 장치.The method of claim 11,
The backflow prevention unit
A first protrusion protruding from an inner side surface of the connection duct toward the connection flow path and having an opening connecting the first region and the connection flow path;
The gas blocking unit
And a catching part that catches the first protruding part and restricts movement of the body part to the first region when the body part supports.
상기 배관의 제2영역은 상기 연결 유로보다 작은 반경을 가지며,
상기 역류 방지부는
상기 제1돌출부의 하부에 위치하고, 상기 연결 덕트의 내측면으로부터 상기 연결 유로 측으로 돌출되며, 상기 연결 유로와 상기 제2영역을 연결하는 개구가 형성된 제2돌출부를 더 포함하고,
상기 가스 차단부는
상기 몸통부의 하단에 연결되며, 상기 제2영역에 상응하는 내경과 상기 연결 덕트의 내경보다 작은 외경을 가지는 링 형상의 안착부를 포함하되,
상기 제1영역에서 상기 제2영역 방향으로 가스의 흐름이 발생하는 경우, 상기 안착부는 상기 제2돌출부에 놓이는 기판 처리 장치.13. The method of claim 12,
The second region of the pipe has a radius smaller than the connecting flow path,
The backflow prevention unit
A second protrusion disposed under the first protrusion, protruding from an inner surface of the connection duct toward the connection flow path, and having an opening connecting the connection flow path and the second region;
The gas blocking unit
Is connected to the lower end of the body portion, including a ring-shaped seating portion having an inner diameter corresponding to the second area and an outer diameter smaller than the inner diameter of the connecting duct,
And a seating portion is placed on the second protrusion when a flow of gas occurs from the first region toward the second region.
상기 걸림부와 상기 안착부 사이의 상기 몸통부 영역에는 상기 몸통부의 둘레를 따라 연결 홀들이 형성되고,
상기 연결 유로에 유입된 가스는 상기 연결 홀들을 통해 상기 제2영역으로 흐르는 기판 처리 장치.The method of claim 13,
Connection holes are formed along the circumference of the body portion in the body portion region between the locking portion and the seating portion,
And a gas flowing into the connection channel flows to the second region through the connection holes.
상기 역류 방지부는
상기 제1영역과 상기 제2영역 사이 구간에 설치되며, 걸림홀이 형성된 걸림판;
상기 스토퍼와 상기 제2영역 사이 구간에 설치되며, 가스가 통과하는 유로들들이 형성된 지지판을 더 포함하되,
상기 가스 차단부는 상기 걸림홀보다 큰 반경을 갖는 구 형상을 가지고, 상기 스토퍼와 상기 메쉬 사이 구간에 위치하며, 상기 제2영역에서 상기 제1영역으로 흐르는 가스에 의해 부양되어 일부 영역이 상기 걸림홀에 삽입되는 기판 처리 장치.11. The method of claim 10,
The backflow prevention unit
A locking plate installed in a section between the first region and the second region and having a locking hole formed therein;
Further comprising a support plate installed in the section between the stopper and the second region, the flow paths through which gas passes,
The gas blocking part has a spherical shape having a radius larger than that of the locking hole, and is located in a section between the stopper and the mesh, and is supported by a gas flowing from the second area to the first area so that a partial area of the gas blocking part is located. Substrate processing apparatus inserted into.
상기 가스 차단부는 고무 재질로 제공되는 기판 처리 장치.The method of claim 15,
The gas blocking unit is provided with a rubber material.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110131134A KR101296874B1 (en) | 2011-12-08 | 2011-12-08 | Gas exhausting unit and substrate treating unit including the unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110131134A KR101296874B1 (en) | 2011-12-08 | 2011-12-08 | Gas exhausting unit and substrate treating unit including the unit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR20130064496A true KR20130064496A (en) | 2013-06-18 |
KR101296874B1 KR101296874B1 (en) | 2013-08-14 |
Family
ID=48861444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110131134A KR101296874B1 (en) | 2011-12-08 | 2011-12-08 | Gas exhausting unit and substrate treating unit including the unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101296874B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102080219B1 (en) * | 2018-05-17 | 2020-02-21 | ㈜에이치엔에스 | Backflow prevention device to prevent backdraft of exhaust gas |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20070056717A (en) * | 2005-11-30 | 2007-06-04 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | Reverse flow preventing and vacuum maintaining system for semiconductor equipment |
KR100743236B1 (en) * | 2007-05-16 | 2007-07-27 | 주식회사 제트플러스 | Apparatus for preventing flowing backward of exhaust gas |
KR20090039306A (en) * | 2007-10-18 | 2009-04-22 | 황창일 | A check valve for manufacturing semiconductor |
-
2011
- 2011-12-08 KR KR1020110131134A patent/KR101296874B1/en active IP Right Grant
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR101296874B1 (en) | 2013-08-14 |
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