KR20130057739A - 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법 - Google Patents
러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20130057739A KR20130057739A KR1020110123630A KR20110123630A KR20130057739A KR 20130057739 A KR20130057739 A KR 20130057739A KR 1020110123630 A KR1020110123630 A KR 1020110123630A KR 20110123630 A KR20110123630 A KR 20110123630A KR 20130057739 A KR20130057739 A KR 20130057739A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- rubbing
- unit
- line scan
- rubbing cloth
- light source
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1337—Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers
- G02F1/13378—Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers by treatment of the surface, e.g. embossing, rubbing or light irradiation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136204—Arrangements to prevent high voltage or static electricity failures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
본 발명은 불량률 검출 신뢰도를 향상시키고, 러빙 천의 불량을 자동으로 검출할 수 있는 러빙 천의 불량 검사 장치가 개시된다.
개시된 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부 및 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함한다.
개시된 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부 및 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함한다.
Description
본 발명은 러빙 천의 불량 검사 장치에 관한 것으로, 불량률 검출 신뢰도를 향상시키고, 러빙 천의 불량을 자동으로 검출할 수 있는 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법에 관한 것이다.
일반적으로 널리 사용되고 있는 표시장치들 중의 하나인 CRT(cathode ray tube)는 TV를 비롯해서 계측기기, 정보 단말기기 등의 모니터에 주로 이용되고 있으나, CRT 자체의 무게와 크기로 인해 전자 제품의 소형화, 경량화의 대응에 적극적으로 대응할 수 없었다.
이러한 문제에 대한 해결책으로서, 액정표시장치는 경량화, 박형화, 저소비 전력 구동 등의 특징으로 인해 그 응용범위가 점차 넓어지고 있는 추세에 있다. 이에 따라 액정표시장치는 사용자의 요구에 부응하여 대면적화, 박형화, 저소비전력화의 방향으로 진행되고 있다.
액정표시장치는 액정을 투과하는 광의 양을 조절하여 화상을 표시하는 디스플레이 장치로서 박형화 및 저소비전력등의 장점으로 많이 사용되고 있다.
상기 액정표시장치는 CRT와는 달리 스스로 빛을 내는 표시장치가 아니므로, 액정표시패널의 배면에는 화상을 시각적으로 표현하기 위해 광을 제공하는 별도의 광원을 포함한 백라이트 유닛(Backlight Unit)이 구비된다.
상기 액정표시장치의 액정표시패널은 컬러필터가 형성된 상부기판과 박막 트랜지스터를 포함하는 하부기판이 액정층을 사이에 두고 합착된 구조를 가진다.
사익 액정표시장치는 상기 상부기판 및 하부기판에 액정의 배열을 특정 방향으로 배향시킬 필요성이 요구되는데, 통상 액정분자들과 직접 접촉된 상태의 유기고분자막을 ITO 전극 위에 인위적으로 형성시키고 있다. 이러한 유기고분자막을 통상, 배향막이라 일컫는다.
상기 액정표지장치의 제조 공정 중 러빙 공정(rubbing process)은 상기 배향막의 표면에 배향 홈을 형성시키는 공정으로, 레이온, 나이론 등으로 이루어진 러빙 천(Rubbing cloth)을 롤러에 감은 후, 이 롤러를 배향막에 접촉시켜, 배향막의 표면과 마찰시킴으로써, 상기 배향막이 일정 수준 이상의 일축 배향성(uni-directional alignment) 및 일정 범위의 선경사 각(pretilt angle)을 갖는 일련의 배향 홈들을 형성되도록 하는 공정을 의미한다.
러빙 공정에서 대부분 러빙 천(포)의 불량 발생 원인은 러빙 천의 삐침, 러빙 천에 묻은 이물질 또는 불 균일한 러빙 포의 두께 때문에 발생한다.
종래에는 러빙 천의 불량을 검사함에 있어서, 통상 작업자의 경험에 의해 러빙 천의 불량(결함) 유무를 검사하고 있으나, 이러한 방법은 검사가 힘들고 검사에 많은 시간이 소요되는 문제점이 있다. 또, 작업자마다 러빙 천의 불량 유무 판단 기준이 명확하지 않아 러빙 천의 불량 검사의 신뢰도가 떨어지는 문제점이 있다.
본 발명은 불량률 검출 신뢰도를 향상시키고, 러빙 천의 불량을 자동으로 검출할 수 있는 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법을 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치는,
러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부; 및 상기 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법은,
러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 단계; 및 2차원 평면형태의 촬영된 데이터를 이용하여 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 단계를 포함한다.
본 발명은 러빙 유닛의 러빙 천으로 수직하게 광을 조사하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광 조사 방향을 기준으로 서로 대칭되도록 경사지게 배치된 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 이용하여 상기 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할하여 2차원 평면 형태로 촬영하여 블럭 별로 러빙 천의 들뜸, 뭉침, 얼룩, 이물질 및 러빙 천의 양끝단 간격의 불량을 세밀하게 검사하여 작업자에 의해 러빙 천의 불량을 판별하는 일반적인 러빙 천 불량 검사와 대비하여 불량 유무를 판별하는 신뢰도가 향상될 수 있다.
즉, 본 발명의 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 천의 불량 유무를 자동으로 판별함으로써, 러빙 천 불량에 의한 공정 Loss를 줄일 수 있고, 검사공정의 시간을 줄여 제조 수율을 향상시킬 수 있다.
도 1은 액정표시패널의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 도 2의 구동부의 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 도 2의 검출부의 구성을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치와 러빙 유닛을 도시한 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치로부터 검출된 러빙 천을 도시한 도면이다.
도 7은 도 6의 A영역을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 도 2의 구동부의 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 도 2의 검출부의 구성을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치와 러빙 유닛을 도시한 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치로부터 검출된 러빙 천을 도시한 도면이다.
도 7은 도 6의 A영역을 도시한 도면이다.
본 발명은 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부; 및 상기 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함한다.
또한, 본 발명은 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 단계; 및 2차원 평면형태의 촬영된 데이터를 이용하여 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 단계를 포함한다.
첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명하도록 한다.
본 발명의 일 실시예는 당업자에게 본 발명의 기술 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위함이다. 따라서, 이하에서 설명하는 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술 사상을 기초로 다른 실시예들은 얼마든지 추가될 수 있다.
도 1은 액정표시패널의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 액정표시패널은 일정 공간 이격되어 합착된 어레이 기판(10) 및 컬러필터 기판(20)과, 상기 어레이 기판(10)과 컬러필터 기판(20) 사이에 주입된 액정층(30)으로 구성된다.
구체적으로 상기 어레이 기판(10)에는 화소 영역(P)을 정의하기 위하여 일정한 간격 이격되어 일방향으로 복수의 게이트 라인(14)이 배열되고, 상기 게이트 라인(14)과 수직한 방향으로 복수의 데이터 라인(16)이 배열된다.
상기 화소 영역(P)에는 화소전극(18)이 형성되고, 상기 게이트 라인(14)과 데이터 라인(16)이 교차하는 영역에는 상기 게이트 라인(14)의 구동신호에 따라 온/오프되어 상기 데이터 라인(16)의 영상신호를 각 화소전극(18)에 인가하는 복수의 박막 트랜지스터(TFT)가 형성된다.
상기 컬러필터 기판(20)에는 상기 화소 영역(P)을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위해 블랙 매트릭스 패턴(25)과 상기 화소 영역(P)과 대응되어 컬러를 표현하기 위한 적색, 녹색 및 청색 컬러필터(26a, 26b, 26c)을 포함하는 컬러필터 패턴(26)이 형성된다.
도면에는 도시되지 않았지만, 상기 컬러필터 기판(20)에는 상기 화소 전극(18)과의 전위차를 형성하기 위한 공통전극(미도시)이 더 형성될 수 있다.
도면에는 도시되지 않았지만, 상기 어레이 기판(10) 및 컬러필터 기판(20)에는 서로 마주보는 면 각각에는 액정의 배향을 위한 배향막이 형성된다.
본 발명의 일 실시예에서는 상기 공통전극이 상기 컬러필터 기판(20) 상에 형성되어 수직 전계에 의한 TN방식을 한정하여 설명하고 있지만, 이에 한정하지 않고, 공통전극이 어레이 기판(10) 상에 화소전극(18)과 나란하게 배열된 횡전계 방식도 적용될 수 있다.
이상의 액정표시패널은 상기 어레이 기판(10)의 박막 트랜지스터(TFT)의 온(on)/오프(off)를 위한 신호가 게이트 라인(14)으로 순차적으로 스캔 인가되어, 데이터 라인(16)의 화상신호가 선택된 화소 영역(P)의 화소전극(18)으로 화상신호가 전달되면 공통전극과 화소전극(18) 사이의 전계에 의해 어레이 기판(10) 및 컬러필터 기판(20) 사이의 액정 분자가 구동되고, 이에 따른 빛의 투과율 변화로 여러 가지 화상을 표시할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 3은 도 2의 구동부의 구성을 도시한 도면이고, 도 4는 도 2의 검출부의 구성을 도시한 도면이다.
도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 유닛(170)의 불량을 검출하기 위한 검출부(150)와, 상기 러빙 유닛(170)의 회전과 상기 검출부(150)의 수평 이동을 제어하는 구동부(130)와, 상기 구동부(130) 및 검출부(150)를 제어하는 시스템(110)을 포함한다.
상기 구동부(130)는 상기 러빙 유닛(170)의 길이방향으로 수평하게 이송시키는 상기 검출부(150)의 이송유닛(157)을 구동시키는 이송유닛 구동부(131)와, 상기 러빙 유닛(170)의 회전을 위한 러빙유닛 구동부(133)를 더 포함한다.
상기 구동부(130)는 상기 시스템(110)으로부터의 구동 제어신호(dcs)를 공급받는다.
상기 이송유닛 구동부(131)는 상기 시스템(110)으로부터의 구동 제어신호(dcs)에 의해 상기 이송유닛(157)을 제어하기 위한 이송유닛 제어신호(mcs)를 이송유닛(157)으로 공급한다.
상기 러빙유닛 구동부(133)는 상기 시스템(110)으로부터의 구동 제어신호(dcs)에 의해 러빙 유닛(170)을 제어하기 위한 러빙유닛 제어신호(rcs)를 상기 러빙 유닛(170)으로 공급한다.
상기 검출부(150)는 상기 러빙 유닛(170)의 상부에서 수직으로 광을 조사하는 광원(155)과, 상기 광원(155)으로부터 조사되는 광의 진행방향을 기준으로 서로 대칭되어 상기 광이 조사되는 러빙 유닛(170)의 러빙 천을 촬영하는 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)와, 상기 러빙 유닛(170)의 길이 방향으로 상기 광원(155), 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)를 이동시키는 이송 유닛(157)을 포함한다.
상기 검출부(150)는 상기 시스템(110)으로부터 제1 및 제2 카메라 제어신호(scs1, scs2)와, 광원 제어신호(scs3)를 공급받는다.
구체적으로 상기 제1 라인 스캔 카메라(151)는 상기 시스템(110)의 제1 카메라 제어신호(scs1)에 의해 구동되고, 상기 제2 라인 스캔 카메라(153)는 상기 시스템(110)의 제2 카메라 제어신호(scs2)에 의해 구동되고, 상기 광원(155)은 상기 시스템(110)의 광원 제어신호(scs3)에 의해 구동된다.
본 발명의 검출부(150)는 광원(155), 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)를 이용하여 상기 러빙 유닛(170)을 다수의 블럭으로 구분되도록 러빙 천을 2차원 평면형태로 촬영하여 상기 시스템(110)으로 촬영된 데이터(ecs)를 공급한다.
상기 시스템(110)에셔는 상기 다수의 블럭별로 상기 러밍 천을 검사하여 들뜸, 뭉침, 얼룩, 이물질 및 러빙 천의 양끝단 간격의 불량을 세밀하게 검사한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치와 러빙 유닛을 도시한 단면도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천(171)의 불량 검사 장치는 이송 유닛(157)과, 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)와, 광원(155)을 포함한다.
상기 이송 유닛(157)은 러빙 유닛(170)의 길이 방향으로 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)와, 광원(155)을 이동시키는 기능을 가진다.
상기 이송 유닛(157)은 중앙부에 상기 광원(155)을 지지하는 제1 지지부(157a)와, 상기 이송 유닛(157)의 양끝단부에 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)을 각각 지지하는 제2 및 제3 지지부(157b, 157c)가 구비된다.
상기 제1 지지부(157a)는 상기 러빙 유닛(170)과 수직한 방향으로 구비될 수 있으며, 상기 광원(155)을 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 수직하게 지지하는 기능을 가진다.
구체적으로 상기 제1 지지부(157a)는 상기 광원(155)을 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 하는 기준선과 이루는 각이 90˚를 가지도록 지지한다.
상기 제2 지지부(157b)는 상기 이송 유닛(157)의 일측 끝단에 구비되어 상기 제1 라인 스캔 카메라(151)를 상기 광원(155)의 광 조사 각도를 기준으로 경사지게 지지한다.
상기 제2 지지부(157b)는 상기 제1 라인 스캔 카메라(151)를 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 경사지게 배치되도록 지지한다.
구체적으로 상기 제2 지지부(157b)는 상기 제1 라인 스캔 카메라(151)를 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 하는 기준선과 이루는 각이 40˚ 내지 50˚를 가지도록 지지한다.
상기 제3 지지부(157c)는 상기 이송 유닛(157)의 타측 끝단에 구비되어 상기 제2 라인 스캔 카메라(153)를 상기 광원(155)의 광 조사 각도를 기준으로 경사지게 지지한다.
상기 제3 지지부(157c)는 상기 제2 라인 스캔 카메라(153)를 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 경사지게 배치되도록 지지한다.
구체적으로 상기 제3 지지부(157c)는 상기 제2 라인 스캔 카메라(153)를 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 하는 기준선과 이루는 각이 310˚ 내지 320˚를 가지도록 지지한다.
즉, 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)는 상기 제2 및 제3 지지부(157b, 157c)에 의해 서로 대칭되도록 경사지게 배치된다.
러빙 유닛(1770)은 러빙 천(171)이 감싸지며, 러빙 천(171)의 불량 검사 공정 시에 회전된다.
본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천(157)의 불량 검사 장치는 러빙 유닛(170)의 러빙 천(171)으로 수직하게 광을 조사하는 광원(155)과, 상기 광원(155)으로부터의 광 조사 방향을 기준으로 서로 대칭되도록 경사지게 배치된 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)를 이용하여 상기 러빙 천(171)을 다수의 블럭으로 분할하여 2차원 평면 형태로 촬영하여 블럭 별로 러빙 천(171)의 들뜸, 뭉침, 얼룩, 이물질 및 러빙 천의 양끝단 간격의 불량을 세밀하게 검사하여 작업자에 의해 러빙 천의 불량을 판별하는 일반적인 러빙 천 불량 검사와 대비하여 불량 유무를 판별하는 신뢰도가 향상될 수 있다.
즉, 본 발명의 러빙 천(171)의 불량 검사 장치는 러빙 천(171)의 불량 유무를 자동으로 판별함으로써, 러빙 천(171) 불량에 의한 공정 Loss를 줄일 수 있고, 검사공정의 시간을 줄여 제조 수율을 향상시킬 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치로부터 검출된 러빙 천을 도시한 도면이고, 도 7은 도 6의 A영역을 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치로부터 검출된 다수의 블럭(b)으로 분할되어 2차 평면형태로 촬영되어 불량 유무를 자동으로 판별한다.
러빙 천은 러빙 롤을 감싸는 형태로 상기 러빙 천의 제1 및 제2 끝단(171a, 171b)은 중첩되지 않도록 일정 거리 이격된 간격(g)을 가지며, 본 발명의 러빙 천의 불량 검사 장치는 이물질, 얼룩(190), 들뜸, 뭉침을 포함하여 상기 이격된 간격(g)에 대한 불량을 검사할 수 있다.
일반적으로 러빙 천의 제1 및 제2 끝단(171a, 171b)의 이격된 간격(g)은 1.5㎜이상의 경우 러빙 불량이 발생한다.
따라서, 본 발명의 러빙 천의 불량 검사 장치는 상기 이격된 간격(g)이 1.5㎜이상의 경우 불량 판별한다.
본 발명은 러빙 유닛의 러빙 천으로 수직하게 광을 조사하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광 조사 방향을 기준으로 서로 대칭되도록 경사지게 배치된 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 이용하여 상기 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할하여 2차원 평면 형태로 촬영하여 블럭 별로 러빙 천의 들뜸, 뭉침, 얼룩, 이물질(190) 및 러빙 천의 양끝단 간격(g)의 불량을 세밀하게 검사하여 작업자에 의해 러빙 천의 불량을 판별하는 일반적인 러빙 천 불량 검사와 대비하여 불량 유무를 판별하는 신뢰도가 향상될 수 있다.
즉, 본 발명의 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 천의 불량 유무를 자동으로 판별함으로써, 러빙 천 불량에 의한 공정 Loss를 줄일 수 있고, 검사공정의 시간을 줄여 제조 수율을 향상시킬 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
110: 시스템 130: 구동부
131: 이송유닛 구동부 133: 러빙유닛 구동부
150: 검출부 151: 제1 라인 스캔 카메라
153: 제2 라인 스캔 카메라 155: 광원
157: 이송유닛 170: 러빙 유닛
171: 러빙 천
131: 이송유닛 구동부 133: 러빙유닛 구동부
150: 검출부 151: 제1 라인 스캔 카메라
153: 제2 라인 스캔 카메라 155: 광원
157: 이송유닛 170: 러빙 유닛
171: 러빙 천
Claims (14)
- 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부; 및
상기 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 러빙 유닛의 상부에서 수직한 방향으로 광을 조사하는 광원;
상기 광원으로부터 조사되는 광의 진행 방향을 기준으로 서로 대칭되게 배치되어 상기 러빙 천을 촬영하는 제1 및 제2 라인 스캔 카메라; 및
상기 광원, 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 상기 러빙 유닛의 길이방향으로 수평하게 이동시키는 이송유닛을 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치. - 제2 항에 있어서,
상기 광원은 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 90˚인 러빙 천의 불량 검사 장치. - 제2 항에 있어서,
상기 제1 라인 스캔 카메라는 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 40˚ 내지 50˚인 러빙 천의 불량 검사 장치. - 제2 항에 있어서,
상기 제2 라인 스캔 카메라는 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 310˚ 내지 320˚인 러빙 천의 불량 검사 장치. - 제2 항에 있어서,
상기 이송 유닛은 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 서로 대칭되도록 경사지게 지지하는 지지부를 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치. - 제2 항에 있어서,
상기 이송 유닛을 구동시키는 이송유닛 구동부와, 상기 러빙 유닛을 구동시키는 러빙유닛 구동부를 포함하는 구동부를 더 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치. - 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 단계; 및
2차원 평면형태의 촬영된 데이터를 이용하여 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 단계를 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법. - 제8 항에 있어서,
상기 촬영하는 단계는,
광원을 이용하여 상기 러빙 유닛의 상부에서 수직한 방향으로 광을 조사하는 단계;
상기 광의 진행 방향을 기준으로 서로 대칭되게 배치된 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 이용하여 상기 러빙 천을 촬영하는 단계 ; 및
이송 유닛을 이용하여 상기 광원, 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 상기 러빙 유닛의 길이방향으로 수평하게 이동시키는 단계를 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법. - 제9 항에 있어서,
상기 광원은 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 90˚인 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법. - 제9 항에 있어서,
상기 제1 라인 스캔 카메라는 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 40˚ 내지 50˚인 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법. - 제9 항에 있어서,
상기 제2 라인 스캔 카메라는 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 310˚ 내지 320˚인 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법. - 제9 항에 있어서,
상기 이송 유닛은 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 서로 대칭되도록 경사지게 지지하는 지지부를 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법. - 제9 항에 있어서,
상기 이송 유닛을 구동시키는 이송유닛 구동부와, 상기 러빙 유닛을 구동시키는 러빙유닛 구동부를 포함하는 구동부를 더 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110123630A KR101888583B1 (ko) | 2011-11-24 | 2011-11-24 | 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110123630A KR101888583B1 (ko) | 2011-11-24 | 2011-11-24 | 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130057739A true KR20130057739A (ko) | 2013-06-03 |
KR101888583B1 KR101888583B1 (ko) | 2018-08-14 |
Family
ID=48857243
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110123630A KR101888583B1 (ko) | 2011-11-24 | 2011-11-24 | 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101888583B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017148032A1 (zh) * | 2016-03-04 | 2017-09-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种摩擦布检测方法及装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09257433A (ja) * | 1996-03-27 | 1997-10-03 | Seiko Epson Corp | ラビングシートの毛並み検査方法及び装置 |
KR20080002585A (ko) * | 2006-06-30 | 2008-01-04 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 러빙 천의 불량 검사기 및 그 검사기를 구비하는 러빙 장치 |
KR20080049549A (ko) * | 2006-11-30 | 2008-06-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 러빙롤러 검사장치 및 검사방법 |
KR20080057457A (ko) * | 2006-12-20 | 2008-06-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치의 배향막 러빙장치 |
KR20090083768A (ko) * | 2008-01-30 | 2009-08-04 | (주)넥스컴글로벌 | 러빙포 불량 제거장치 |
KR20090108496A (ko) * | 2008-04-11 | 2009-10-15 | 이찬훈 | 액정표시장치 액정배향용 러빙포 포 결 검사방법 |
KR20100062030A (ko) * | 2008-12-01 | 2010-06-10 | 이찬훈 | 러빙포 두께 및 포 삐침 길이 정밀도 향상을 위한 검사방법 |
KR20110073013A (ko) * | 2009-12-23 | 2011-06-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 러빙포 검사장치 및 러빙장치 |
KR20110078619A (ko) * | 2009-12-31 | 2011-07-07 | 유진인스텍 주식회사 | 로드의 결함검출장치 |
-
2011
- 2011-11-24 KR KR1020110123630A patent/KR101888583B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09257433A (ja) * | 1996-03-27 | 1997-10-03 | Seiko Epson Corp | ラビングシートの毛並み検査方法及び装置 |
KR20080002585A (ko) * | 2006-06-30 | 2008-01-04 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 러빙 천의 불량 검사기 및 그 검사기를 구비하는 러빙 장치 |
KR20080049549A (ko) * | 2006-11-30 | 2008-06-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 러빙롤러 검사장치 및 검사방법 |
KR20080057457A (ko) * | 2006-12-20 | 2008-06-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치의 배향막 러빙장치 |
KR20090083768A (ko) * | 2008-01-30 | 2009-08-04 | (주)넥스컴글로벌 | 러빙포 불량 제거장치 |
KR20090108496A (ko) * | 2008-04-11 | 2009-10-15 | 이찬훈 | 액정표시장치 액정배향용 러빙포 포 결 검사방법 |
KR20100062030A (ko) * | 2008-12-01 | 2010-06-10 | 이찬훈 | 러빙포 두께 및 포 삐침 길이 정밀도 향상을 위한 검사방법 |
KR20110073013A (ko) * | 2009-12-23 | 2011-06-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 러빙포 검사장치 및 러빙장치 |
KR20110078619A (ko) * | 2009-12-31 | 2011-07-07 | 유진인스텍 주식회사 | 로드의 결함검출장치 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017148032A1 (zh) * | 2016-03-04 | 2017-09-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种摩擦布检测方法及装置 |
US10012869B2 (en) | 2016-03-04 | 2018-07-03 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Method and device for detecting rubbing cloth |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101888583B1 (ko) | 2018-08-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7808630B2 (en) | Inspection apparatus for liquid crystal display device and inspection method using same | |
KR101291843B1 (ko) | 액정표시장치의 검사장치 및 그의 검사방법 | |
KR101068364B1 (ko) | 액정표시장치 검사장비 및 그 검사방법 | |
KR20120013613A (ko) | 어레이 테스트장치 및 어레이 테스트방법 | |
KR101152497B1 (ko) | 액정표시소자 | |
KR101888583B1 (ko) | 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법 | |
KR20150000580A (ko) | 엘이디 백라이트 시스템을 이용한 액정 디스플레이 패널의 광학영상검사시스템 | |
KR20130003398A (ko) | 표시장치용 자동 검사시스템 | |
US7202695B2 (en) | Apparatus and method for inspecting a liquid crystal display panel | |
KR20070006480A (ko) | 실 라인 검사 장치 및 이를 이용한 실 라인 검사 방법 | |
KR101286530B1 (ko) | 액정표시장치용 기판 검사장치 및 이를 이용한액정표시장치용 기판 검사방법 | |
KR101726624B1 (ko) | 액정 표시 장치용 기판 | |
KR101829846B1 (ko) | 연성기판 검사장치 | |
KR101034923B1 (ko) | 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법 | |
JP2019158442A (ja) | 表示パネル検査システムおよび表示パネル検査方法 | |
US8717522B2 (en) | Method for fabricating liquid crystal display panel using the same | |
KR20140058710A (ko) | 표시장치용 비전검사 시스템 및 이의 검사방법 | |
JP2010185920A (ja) | 配向膜の検査装置、配向膜の検査方法及び電気光学装置の製造方法 | |
KR20130106194A (ko) | 어레이 테스트 장치 | |
KR20140139929A (ko) | 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법 | |
KR20120003330A (ko) | 액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법 | |
US9017130B1 (en) | Method of attaching polarizing plate | |
KR101073330B1 (ko) | 액정 패널의 오토 프로브 검사 장치 및 검사 방법 | |
KR100413922B1 (ko) | 러빙 장치 | |
US20230153977A1 (en) | Panel design to improve accurate defect location report |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |