KR20130045801A

KR20130045801A - 터치 패널 및 그것의 제조 방법

Info

Publication number: KR20130045801A
Application number: KR1020120113077A
Authority: KR
Inventors: 옌쥔 시에; 야우-첸 지앙; 비신 구안
Original assignee: 티피케이 터치 솔루션즈 (씨아먼) 인코포레이티드
Priority date: 2011-10-26
Filing date: 2012-10-11
Publication date: 2013-05-06
Also published as: TWI464636B; TWM431370U; CN103076906A; US9448668B2; KR101532059B1; TW201317854A; US20130106743A1; CN103076906B

Abstract

터치 패널은 복수의 제1 스트립 감지 전극들 및 복수의 제2 스트립 감지 전극들을 포함한다. 제1 스트립 감지 전극들은 고정된 길이들을 갖는 복수의 스트립 감지 영역들에서 각자 배치되고, 각 제2 스트립 감지 전극들은 각 스트립 감지 영역들에서 각 제1 스트립 감지 전극들에 대응하게 배치된다. 각 제2 스트립 감지 전극 및 대응하는 제1 스트립 감지 전극은 전기적으로 서로 연결되지 않는다. 각 제2 스트립 감지 전극 및 대응하는 제1 스트립 감지 전극의 길이는 서로 상보적이다. 본 명세서의 일 실시예에서, 터치 패널을 제조하기 위한 방법이 또한 개시된다.

Description

터치 패널 및 그것의 제조 방법{Touch panel and manufacturing method thereof}

이 출원은 2011년 10월 26일에 출원된 중국 출원 번호 201110335557.7의 우선권을 주장한다.

본 명세서는 입력 인터페이스에 관한 것으로, 특히 터치 패널 및 그것을 제조하는 방법에 관한 것이다.

터치 패널들은 그것들의 특성인 사람-기계 상호 작용 때문에 외부 입력 인터페이스들로 널리 사용되어 왔다. 최근에, 전자 제품들의 범위가 더 넓어지고 있고, 터치 디스플레이 패널을 형성하여 디스플레이에 통합된 터치 기능들을 포함하는 제품들이 상당히 증가되었고, 휴대폰들, GPS 네비게이터 시스템들, 태블릿 PC들, 개인 정보 단말기들(personal digital assistants), 랩톱 PC들 등과 같은 제품들에서 특히 그러하다.

현재, 다수의 터치 패널 기술들이 유용하다. 작은 휴대용 전자 기기에서 사용되는 가장 흔한 기술은 저항성(resistive) 유형 터치 패널들, 용량성(capacitive) 유형 터치 패널들 등을 포함하고, 그러한 터치 패널들에서의 작동 원리는, 투명한 감지 전극들(transparent sensing electrodes)을 사용하여 터치 포인트들의 위치의 전압 또는 커패시턴스 변화들을 검출하는 것 그리고 신호들을 다시 이송하고, 방향(orientation)을 완료(finish)하기 위해, 다른 방향 축들상의 각 투명 전극에 연결된 연결 배선들(connecting wires)을 이용하는 것을 포함한다. 알려진 터치 패널 기술들에서, 여러 가지 감지 전극 설계들이 있고, 설계들 중 하나는 마름모꼴(rhombic) 감지 패드(sensing pad)를 감지 전극으로 채택하여, 동일한 축상에 직렬로(in series) 위치한 각 감지 전극을 감지 전극보다 덜 넓은 연결 배선들을 이용하여 연결하고, 절연 재료는 일반적으로 동일한 축상에 위치한 연결 배선들 사이에 형성되어, 신호들이 서로 간섭(interfering)하는 것을 방지한다. 그러나, 이는 제조 공정(process)에서 복잡한 문제를 야기한다.

본 명세서의 목적은 터치 패널 및 동일한 것을 제조하기 위한 공정을 제공하는 것이고, 터치 패널은 패널의 각 감지 전극이 전기적으로 서로 분리될 수 있고, 각 감지 전극 패턴의 길이 배열(length collocation)을 변화시킬 수 있는 방법을 이용하여, 제조 공정을 간소화하는 것이다.

앞서 말한 목적을 이루기 위해, 본 명세서의 다른 실시예는 복수의 제1 스트립 감지 전극들 및 복수의 제2 스트립 감지 전극들을 포함하는 터치 패널을 제공한다. 제1 스트립 감지 전극들은 고정된 길이들을 갖는 복수의 스트립 감지 영역들에서 각자 배치된다. 각 제2 스트립 감지 전극들은 각 스트립 감지 영역들에서 각 제1 감지 전극들에 대응하게 배치된다. 각 제2 스트립 감지 전극들 및 대응하는 제1 스트립 감지 전극은 전기적으로 서로 연결되지 않고, 그것들의 길이들은 서로 상보적이다.

앞서 말한 목적을 이루기 위해, 본 명세서의 다른 실시예는 터치 패널을 제조하는 방법을 제공하고, 그 방법은 제1 스트립 감지 전극을 고정된 길이들을 갖는 복수의 스트립 감지 영역들에 각각 형성하는 것 그리고 제2 스트립 감지 전극을 각 스트립 감지 영역에서 각각 형성하는 것을 포함한다. 각 스트립 감지 영역에서 제2 스트립 감지 전극 및 제1 스트립 감지 전극은 대응하게 배치된다. 각 제2 스트립 감지 전극들 및 대응하는 제1 스트립 감지 전극은 전기적으로 서로 연결되지 않고, 그것들의 길이들은 서로 상보적이다.

본 명세서의 다른 실시예에서, 요구되는 터치 인식(recognition) 효과는 각 감지 전극이 전기적으로 서로 분리될 때 그리고 각 감지 전극 패턴의 길이에서 변화가 있을 때 획득될 수 있다. 한편, 각 감지 전극은 전기적으로 다른 것들과 분리되기 때문에, 각 감지 전극 사이의 연결 배선들 및 절연 재료들의 설계 및 제조가 생략될 수 있어, 제조 방법이 간소화된다.

도 1 내지 도 4는 본 명세서의 실시예에 따른 터치 패널을 제조하는 방법의 도식을 나타낸다.
도 5는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 터치 패널의 도식을 나타낸다.
도 6은 본 명세서의 또 다른 실시예에 따른 터치 패널의 도식을 나타낸다.
도 7은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 터치 패널의 도식을 나타낸다.

구체적인 구성 요소들이 본 설명 및 다음의 청구항들에서 특정 용어들에 의해 표현된다. 이 기술 분야의 숙련된 자들은 제조자가 동일한 구성 요소들을 표현하기 위해 다른 용어들을 사용할 수 있음을 이해할 수 있다. 본 설명 및 다음의 청구항들은 구성 요소들을 구분하기 위한 방식으로 용어들의 차이를 사용하려는 것이 아니고, 기준을 구별하는 것으로 구성 요소들의 기능상의 차이를 사용하려는 것이다. 전체 설명 및 다음 청구항들에서 언급되는 용어 "포함하다"는 개방된 표현이고, 이것은 "포함하나 제한되지 않음"으로 해석된다. 더욱이, 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 자가 본 발명을 더 이해할 수 있도록, 도면들을 첨부한 본 발명의 특정 실시예들이 아래에서 상세하게 설명된다. 도면들은 오직 설명의 목적을 위해서이고, 원형 치수(original dimension)에 따라 기록하기 위한 것이 아님을 유의해야 한다. 게다가, 명세서에서 사용된 "제1", "제2" 등과 같은 용어들은 다른 구성 요소들과 구별하기 위해 사용되는 것이고, 순서들을 제한하기 위해 사용되는 것이 아니다.

도 1 내지 도 4를 참고하면, 도면들은 본 명세서의 실시예에 따른 터치 패널을 제조하는 방법을 나타낸다. 도 1, 도 2 및 도 3은 상부 평면도들이고, 도 4는 도 3에 따른 G-G' 단면선의 단면도이다. 설명을 용이하게 하기 위해, 본 명세서의 각 도면은 오직 본 명세서를 더 쉽게 이해하기 위해서 도시된 것이고, 그것의 상세한 비율(proportion)은 설계 요건을 만족시키기 위해 조절될 수 있다. 도 1 내지 도 4에서 도시된 것과 같이, 본 명세서의 더 좋은 실시예에 따른 터치 패널을 제조하는 방법은 다음 단계들을 포함한다. 먼저, 도 1에 도시된 것과 같이, 기판(190)을 제공하는 방법. 기판(190)은 제1 방향(X)을 따라 연장된 고정된 길이들을 갖는 복수의 스트립 감지 영역들(strip sensing regions)(R)을 제공받고, 인접한 스트립 감지 영역들(R)은 인접한 스트립 감지 영역들(R) 제2 방향(Y)을 따라 정렬(align)된다. 다시 말해, 스트립 감지 영역들(R)은 기판(190) 위에 배치된다. 본 명세서의 실시예에서, 제1 방향(X)은 제2 방향(Y)에 수직일 수 있다. 스트립 감지 영역들(R)의 각각은 제1 단자(terminal)(LE) 및 제1 방향(X)에서 제1 단자(LE)에 대응하는 제2 단자(RE)를 구비한다. 본 실시예의 기판(190)은 유리 기판 또는 도성합금(ceramal) 기판과 같은 단단한(hard) 기판들, 플라스틱 기판 또는 다른 적용 가능한 재료 기판과 같은 유연한(flexible) 기판을 포함한다. 게다가, 이 방법은 기판(190) 위에 전도층(conducting layer, 170)을 형성시키는 것을 포함한다. 본 명세서의 실시예에서, 전도층(170)은 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide) 및 AZO(aluminum zinc oxide)와 같은 투명한 전도성 재료들 또는 은(silver), 알루미늄, 구리, 마그네슘, 몰리브덴, 앞서 말한 재료들의 합성층(composite layer) 또는 앞서 말한 재료들의 합금(alloy)과 같은 다른 적용 가능한 불투명한 전도성 재료를 포함할 수 있으나, 그것으로 제한되지 않는다. 전도층(170)이 형성되면, 패터닝(patterning) 공정이 도 2에 도시된 것과 같이 전도층(170) 위에 형성될 수 있고, 각 스트립 감지 영역(R)의 제1 단자(LE)는 각자 제1 스트립 감지 전극(electrode)(110)과 함께 형성되고, 각 스트립 감지 영역(R)의 제2 단자(RE) 각자 제2 스트립 감지 전극(130)과 함께 형성된다. 본 실시예에서, 제1 스트립 감지 전극(110) 및 제2 스트립 감지 전극(130)은 동일한 패터닝 공정에 의해 동시에 형성될 수 있다. 그러나, 본 명세서는 이 공정에 제한되지 않고, 제1 스트립 감지 전극(110) 및 제2 스트립 감지 전극(130)은 다른 패터닝 공정들을 이용함으로써 형성될 수 있다. 각 제1 스트립 감지 전극들(110)은 각 스트립 감지 영역들(R)의 제1 단자(LE)로부터 제2 단자(RE) 앞쪽 방향을 따라 연장하고, 각 제2 스트립 감지 전극들(130)은 각 스트립 감지 영역들(R)의 제2 단자(RE)로부터 제1 단자(LE) 앞쪽 방향을 따라 연장한다. 다시 말해, 각 제1 스트립 감지 전극들(110)은 고정된 길이들을 갖는 각 스트립 감지 영역들(R)에 대응하게 배치되고, 각 제2 스트립 감지 전극들(130)은 각 스트립 감지 영역들(R)에서 각 제1 스트립 감지 전극들(110)에 대응하게 배치된다. 각 스트립 감지 영역(R)에서 제1 스트립 감지 전극(110) 및 대응하는 제2 스트립 감지 전극(130)은 전기적으로 서로 연결되지 않고, 그것들의 길이들은 서로 상보적(complementary)이다. 게다가, 도 3에 도시된 것과 같이, 주변 배선층(peripheral wire layer, 180)이 기판(190) 위에 형성된다. 본 명세서의 실시예에서, 주변 배선층(180)은 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide) 및 AZO(aluminum zinc oxide)와 같은 투명한 전도성 재료들 또는 은(silver), 알루미늄, 구리, 마그네슘, 몰리브덴, 앞서 말한 재료들의 합성층(composite layer) 또는 앞서 말한 재료들의 합금(alloy)과 같은 다른 적용 가능한 불투명한 전도성 재료를 포함할 수 있으나, 그것으로 제한되지 않는다. 게다가, 포토리소그래피(photolithography) 에칭(etching) 공정과 같은 제조 공정이 주변 배선층(180)상에 수행될 수 있어, 복수의 제1 배선들(180A) 및 복수의 제2 배선들(180B)을 형성한다. 그러나, 본 명세서는 제한되지 않고, 요구되는 것과 같은 제1 배선들(180A) 및 제2 배선들(180B)을 형성하기 위해 리프트 오프(lift off) 공정과 같은 다른 제조 공정을 이용할 수 있다. 각 제1 배선들(180A)은 각 스트립 감지 영역(R)의 제1 단자(LE)상의 각 제1 스트립 감지 전극들(110)에 전기적으로 연결될 수 있고, 각 제2 배선들(180B)은 각 스트립 감지 영역(R)의 제2 단자(RE)상의 각 제2 스트립 감지 전극들(130)에 전기적으로 연결될 수 있다. 앞서 말한 제조 방법에 의해, 도 3에 도시된 터치 패널(100)이 완성될 수 있다. 본 명세서에서 패터닝 공정이 포토 마스크(photo mask)를 이용하는 포토리소그래피 공정 및 에칭 공정을 포함할 수 있는 것을 설명할 가치가 있다. 그러나, 본 명세서는 제한되지 않고, 패터닝을 위해 리프트-오프 공정과 같은 다른 방법을 이용할 수 있다. 더욱이, 본 실시예에 따른 터치 패널을 제조하는 방법은 보호층(protective layer)(미도시)을 형성하는 것을 더 포함하여, 기판(190), 각 제1 감지 전극(110), 각 제2 감지 전극(130), 각 제1 배선(180A) 및 각 제2 배선(180B)을 커버(cover)하는데, 환경 영향들을 방지하는 효과를 얻기 위해서이다.

본 명세서의 다른 실시예에서, 각 제1 스트립 감지 전극(110)은 전기적으로 서로 연결되고, 각 제2 스트립 감지 전극(130)은 전기적으로 서로 연결되지 않는다. 그러나, 이것에만 제한되지 않고, 제1 스트립 감지 전극들(110)의 일부 또는 제2 스트립 감지 전극들(130)의 일부는 설계 요건을 만족시키기 위해 전기적으로 연결될 수 있다. 본 실시예에 따른 각 제1 스트립 감지 전극(110) 및 각 제2 스트립 감지 전극(130)은 각자 대응하는 제1 배선들(180A) 및 제2 배선들(180B)에 연결되기 때문에, 각 감지 전극 사이의 연결 배선들 및 절연 재료들의 설계 및 제조가 생략될 수 있고, 본 실시예의 터치 패널(100)은 2번의(two-time) 필름-형성(film-forming) 공정 및 2번의 대응하는 포토리소그래피 에칭 공정에 의해 완성될 수 있어, 제조 방법이 간소화되고, 제조 비용이 감소된다.

본 명세서의 다른 실시예에서, 제2 방향(Y)으로 인접한 제1 스트립 감지 전극들(110)의 길이들은 서로 다르고, 제2 방향(Y)으로 인접한 제2 스트립 감지 전극들(130)의 길이들은 서로 다르다. 예를 들어, 도 3에 도시된 것과 같이, 제1 스트립 감지 전극들(110)은 다른 길이들을 갖는, 제1 스트립 감지 전극(111), 제1 스트립 감지 전극(112), 제1 스트립 감지 전극(113), 제1 스트립 감지 전극(114) 및 제1 스트립 감지 전극(115)을 포함할 수 있다. 그리고 제2 스트립 감지 전극들(130)은 다른 길이들을 갖는, 제2 스트립 감지 전극(131), 제2 스트립 감지 전극(132), 제2 스트립 감지 전극(133), 제2 스트립 감지 전극(134) 및 제2 스트립 감지 전극(135)을 포함할 수 있다. 제1 스트립 감지 전극(112)의 길이(L112)는 제1 스트립 감지 전극(111)의 길이(L111)보다 대략 길고, 제2 스트립 감지 전극(132)의 길이(L132)는 제2 스트립 감지 전극(131)의 길이(L131)보다 대략 짧다.

본 명세서의 다른 실시예에서, 터치 패널(100)은 감지 결합(combination) 영역(S1), 감지 결합 영역(S2), 감지 결합 영역(S3) 및 감지 결합 영역(S4)을 포함할 수 있고, 이 영역들은 각자 인접하게 정렬된 복수의 스트립 감지 영역들(R)을 포함할 수 있다. 감지 결합 영역(S1)에서, 제1 스트립 감지 전극들(110)의 길이들은 제2 방향(Y)을 따라 감소적(degressive)일 수 있고, 제2 스트립 감지 전극들(130)의 길이들은 제2 방향(Y)을 따라 증가적(progressive)일 수 있다. 더 구체적으로, 감지 결합 영역(S1)에서, 제1 스트립 감지 전극(115)의 길이는 제1 스트립 감지 전극(114)의 길이보다 길 수 있고, 제1 스트립 감지 전극(114)의 길이는 제1 스트립 감지 전극(113)의 길이보다 길 수 있고, 제1 스트립 감지 전극(113)의 길이는 제1 스트립 감지 전극(112)의 길이보다 길 수 있고, 제1 스트립 감지 전극(112)의 길이는 제1 스트립 감지 전극(111)의 길이보다 길 수 있다. 그러므로, 감지 결합 영역(S1)에서, 제2 스트립 감지 전극(135)의 길이는 제2 스트립 감지 전극(134)의 길이보다 짧을 수 있고, 제2 스트립 감지 전극(134)의 길이는 제2 스트립 감지 전극(133)의 길이보다 짧을 수 있고, 제2 스트립 감지 전극(133)의 길이는 제2 스트립 감지 전극(132)의 길이보다 짧을 수 있고, 제2 스트립 감지 전극(132)의 길이는 제2 스트립 감지 전극(131)의 길이보다 짧을 수 있다. 본 실시예의 각 스트립 감지 영역(R)에서, 제1 스트립 감지 전극들(110) 및 제2 스트립 감지 전극들(130)의 길이들은 서로 상보적일 수 있고, 즉, 제1 스트립 감지 전극(112)의 길이(L112)가 제1 스트립 감지 전극(111)의 길이(L111)보다 길고, 제2 스트립 감지 전극(132)의 길이(L132)가 제2 스트립 감지 전극(131)의 길이(L131)보다 짧은 상황 아래서, 동일한 스트립 감지 영역(R)에서 제1 스트립 감지 전극(111) 및 제2 스트립 감지 전극(131)의 길이들의 합(sum)은, 다른 스트립 감지 영역(R)에서 제1 스트립 감지 전극(112) 및 제2 스트립 감지 전극(132)의 길이들의 합과 대략 동일할 수 있음이 이해될 것이다.

본 명세서의 다른 실시예에서, 감지 결합 영역(S1), 감지 결합 영역(S2) 및 감지 결합 영역(S3)에서, 각 제1 스트립 감지 전극(110) 및 각 제2 스트립 감지 전극(130)의 길이 분포들(distributions)은 서로 유사하다. 그러나, 본 명세서는 이것에만 제한되지 않고, 각 감지 결합 영역에서 각 제1 스트립 감지 전극(110) 및 각 제2 스트립 감지 전극(130)의 길이 분포 상태(condition)는 요건마다 조절될 수 있다. 더욱이, 본 명세서의 다른 실시예에서, 각 제1 스트립 감지 전극(110)의 길이들은 또한 제2 방향(Y)을 따라 증가적 관계에 있을 수 있고, 각 제2 스트립 감지 전극(130)의 길이들은 제2 방향(Y)을 따라 감소적 관계에 있을 수 있다. 앞서 말한 것에 따르면, 각 스트립 감지 전극의 길이 배열들(collocations)을 이용하여, 다른 영역들을 위한 터치 감지 인식(recognition) 효과를 얻는 것이 가능하다.

도 5를 참고하면, 도 5는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 터치 패널(100)의 도식을 나타낸다. 도 5에 도시된 것과 같이, 본 명세서의 터치 패널(100)은 기판(190), 복수의 제1 스트립 감지 전극들(110) 및 복수의 제2 스트립 감지 전극들(130)을 포함한다. 제1 스트립 감지 전극들(110) 및 제2 스트립 감지 전극들(130)은 기판(190) 위에 배치된다. 고정된 길이들을 갖는 복수의 스트립 감지 영역들(R)이 기판(190) 위로 분포된다. 스트립 감지 영역들(R)은 제1 방향(X)을 따라 연장하고, 인접한 스트립 감지 영역들(R)은 제2 방향(Y)을 따라 정렬된다. 각 스트립 감지 영역들(R)은 제1 단자(LE) 및 제1 단자(LE)에 대응하는 제2 단자(RE)를 구비한다. 제1 스트립 감지 전극들(110)은 각자 각 스트립 감지 영역들(R)의 제1 단자(LE)상에 배치되고, 제2 스트립 감지 전극들(130)은 각자 각 스트립 감지 영역들(R)의 제2 단자(RE)상에 배치된다. 다시 말해, 제1 스트립 감지 전극들(110)은 고정된 길이를 갖는 각 스트립 감지 영역들(R)에서 각자 대응하게 배치되고, 제2 스트립 감지 전극들(130)은 각 스트립 감지 영역(R)에서 배치되고, 각 제1 스트립 감지 전극(110)에 대응한다. 각 스트립 감지 영역(R)에서 제1 스트립 감지 전극(110) 및 제2 스트립 감지 전극(130)은 인접하게 배치되고, 각 제1 스트립 감지 전극(110) 및 각 제2 스트립 감지 전극(130)은 전기적으로 서로 분리된다. 본 실시예에서, 제2 방향(Y)으로 인접한 각 제1 스트립 감지 전극(110)의 길이는 서로 다르고, 제2 방향(Y)으로 인접한 각 제2 스트립 감지 전극(130)의 길이는 서로 다름이 유의될 수 있다. 더욱이, 각 제1 스트립 감지 전극들(110)은 각 스트립 감지 영역들(R)의 제1 단자(LE)로부터 제2 단자(RE)를 향해 앞쪽으로 연장할 수 있고, 각 제2 스트립 감지 전극들(130)은 각 스트립 감지 영역들(R)의 제2 단자(RE)로부터 제1 단자(LE)를 향해 앞쪽으로 연장할 수 있다. 본 명세서의 실시예에서, 터치 패널(100)은 감지 결합 영역(S1), 감지 결합 영역(S2), 감지 결합 영역(S3) 및 감지 결합 영역(S4)을 더 포함하고, 이 영역들은 각자 복수의 인접하게 정렬된 복수의 스트립 감지 영역들(R)을 포함한다. 감지 결합 영역(S1)에서, 각 제1 스트립 감지 전극(110)의 길이는 제2 방향(Y)을 따라 감소적 관계일 수 있고, 각 제2 스트립 감지 전극(130)의 길이는 제2 방향(Y)을 따라 증가적 관계일 수 있다. 동일한 스트립 감지 영역(R)에서 제1 스트립 감지 전극(110) 및 제2 스트립 감지 전극(130)의 길이들의 합은 다른 스트립 감지 영역(R)에서 제1 스트립 감지 전극(110) 및 제2 스트립 감지 전극(130)의 길이들의 합과 대략 동일할 수 있다. 즉, 각 제2 스트립 감지 전극들(130) 및 대응하는 제1 스트립 감지 전극들(110)은 전기적으로 서로 연결되지 않고, 그것들의 길이는 서로 상보적이다. 게다가, 본 명세서의 터치 패널(100)은 복수의 제1 배선들(180A) 및 복수의 제2 배선들(180B)을 더 포함할 수 있고, 각 제1 배선(180A)은 각 스트립 감지 영역(R)의 제1 단자(LE)상의 각 제1 스트립 감지 전극(110)에 전기적으로 연결되고, 각 제2 배선(180B)은 각 스트립 감지 영역(R)의 제2 단자(RE)상의 각 제2 스트립 감지 전극(130)에 전기적으로 연결된다. 본 실시예에 따른 터치 패널(100)의 각 구성 요소의 구성 변화들 및 재료 특징은 위에서 개시된 터치 패널을 제조하기 위한 방법에서 이미 설명되었고, 따라서 여기서 다시 설명되지 않는다.

일 실시예에서, 본 실시예에 따른 터치 패널(100)의 각 제1 스트립 감지 전극(110) 및 각 제2 스트립 감지 전극(130)의 설정 모드들 및 길이 배열들에서, 다른 영역들을 위한 터치 감지 인식 효과를 얻는 것이 가능하다. 도 5에 도시된 것과 같이, 터치 포인트(T1) 및 터치 포인트(T2)가 터치되면, 터치 포인트(T1) 및 터치 포인트(T2)가 둘 다 감지 결합 영역(S1) 안에 있긴 하지만, 터치 포인트(T1) 및 터치 포인트(T2) 사이의 차이는 각 제1 스트립 감지 전극(110) 및 각 제2 스트립 감지 전극(130)의 커패시턴스(capacitance)의 변화를 나타내는 신호를 기반으로 판단될 수 있고, 커패시턴스의 변화는 감지 결합 영역(S1)의 각 스트립 감지 영역(R)에서 제1 스트립 감지 전극(110) 및 제2 스트립 감지 전극(130)의 길이 배열들의 차이로 인한 것이다. 더 구체적으로, 터치 포인트(T1)가 터치되면, 앞의 감지 전극들의 커패시턴스 효과는 영향을 받는데, 터치 포인트(T1)가 감지 결합 영역(S1)에서 제1 스트립 감지 전극(112), 제1 스트립 감지 전극(113), 제1 스트립 감지 전극(114), 제1 스트립 감지 전극(115), 제2 스트립 감지 전극(131) 및 제2 스트립 감지 전극(132)을 커버(cover)하기 때문이다. 반면에, 터치 포인트(T2)가 터치되면, 앞의 감지 전극들의 커패시턴스 효과는 영향을 받을 것인데, 터치 포인트(T2)가 감지 결합 영역(S1)에서 제2 스트립 감지 전극(131), 제2 스트립 감지 전극(132), 제2 스트립 감지 전극(133), 제2 스트립 감지 전극(134), 제1 스트립 감지 전극(114) 및 제1 스트립 감지 전극(115)을 커버하기 때문이다. 다시 말해, 각 스트립 감지 영역(R)에서 제1 스트립 감지 전극들(110) 및 제2 스트립 감지 전극들(130)의 길이 배열은 변화되어, 제1 방향(X)에서 터치 포인트(T1) 및 터치 포인트(T2)의 위치 변화들은 영향을 받는 제1 스트립 감지 전극들(110) 및 제2 스트립 감지 전극들(130) 사이의 차이를 판단함으로써 인식(recognize)될 수 있다. 게다가, 터치 포인트(T3)가 터치 중이면, 제2 방향(Y)에서 터치 포인트(T3) 및 터치 포인트(T1)의 위치 변화들은 제2 방향(Y)에서 다른 제1 스트립 감지 전극들(110) 및 제2 스트립 감지 전극들(130)로 인한 커패시턴스 효과들을 판단함으로써 인식될 수 있다. 그러므로, 멀티-포인트 터치 인식 효과는 본 실시예의 터치 패널(100)의 감지 전극들 설계에 따라 얻어질 수 있다.

도 6은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 터치 패널의 도식을 나타낸다. 도 6에서 도시된 것과 같이, 본 실시예의 터치 패널(200)과 앞서 말한 터치 패널(100) 사이의 차이는 본 실시예의 터치 패널(200)이 감지 결합 영역(S)을 포함하는 것이다. 감지 결합 영역(S)에서, 제1 스트립 감지 전극(227), 제1 스트립 감지 전극(226), 제1 스트립 감지 전극(225), 제1 스트립 감지 전극(224), 제1 스트립 감지 전극(223), 제1 스트립 감지 전극(222), 제1 스트립 감지 전극(221), 제1 스트립 감지 전극(220), 제1 스트립 감지 전극(219), 제1 스트립 감지 전극(218), 제1 스트립 감지 전극(217), 제1 스트립 감지 전극(216), 제1 스트립 감지 전극(215), 제1 스트립 감지 전극(214), 제1 스트립 감지 전극(213), 제1 스트립 감지 전극(212) 및 제1 스트립 감지 전극(211)은 제2 방향(Y)을 따라 정렬되고, 그것들의 길이들은 감소적 관계에 있다. 게다가, 제2 스트립 감지 전극(247), 제2 스트립 감지 전극(246), 제2 스트립 감지 전극(245), 제2 스트립 감지 전극(244), 제2 스트립 감지 전극(243), 제2 스트립 감지 전극(242), 제2 스트립 감지 전극(241), 제2 스트립 감지 전극(240), 제2 스트립 감지 전극(239), 제2 스트립 감지 전극(238), 제2 스트립 감지 전극(237), 제2 스트립 감지 전극(236), 제2 스트립 감지 전극(235), 제2 스트립 감지 전극(234), 제2 스트립 감지 전극(233), 제2 스트립 감지 전극(232) 및 제2 스트립 감지 전극(231)은 제2 방향(Y)을 따라 정렬되고, 그것들의 길이들은 증가적 관계에 있다. 본 실시예의 터치 패널(200)에서, 각 제1 스트립 감지 전극(210) 및 각 제2 스트립 감지 전극(230)의 길이 배열을 제외하고, 구성 요소 특성 및 재료 특징은 앞서 말한 실시예의 터치 패널(100)의 것들과 유사하고, 따라서 여기서 다시 설명되지 않는다. 본 실시예의 터치 패널(200)은 오직 감지 결합 영역(S)을 포함하기 때문에, 제1 방향(X)에서 터치 가능한 인식 영역은 패널상의 대각선 근처에 집중될 것이고, 앞서 말한 실시예에서 터치 패널(100)의 터치 가능한 인식 영역의 분포 상태와 달라, 각 제1 스트립 감지 전극 및 각 제2 스트립 감지 전극의 길이 변화들은 터치 패널의 적용 범위를 기반으로 조절될 수 있음이 이해될 것이다.

도 7은 본 명세서의 실시예에 따른 터치 패널의 도식을 나타낸다. 본 실시예의 터치 패널(300)과 앞서 말한 터치 패널(200) 사이의 차이는, 본 실시예의 감지 결합 영역(S)에서 제1 스트립 감지 전극(327), 제1 스트립 감지 전극(326), 제1 스트립 감지 전극(325), 제1 스트립 감지 전극(324), 제1 스트립 감지 전극(323), 제1 스트립 감지 전극(322), 제1 스트립 감지 전극(321), 제1 스트립 감지 전극(320), 제1 스트립 감지 전극(319), 제1 스트립 감지 전극(318), 제1 스트립 감지 전극(317), 제1 스트립 감지 전극(316), 제1 스트립 감지 전극(315), 제1 스트립 감지 전극(314), 제1 스트립 감지 전극(313), 제1 스트립 감지 전극(312) 및 제1 스트립 감지 전극(311)이 제2 방향(Y)을 따라 정렬되고, 그것들의 길이들은 증가적 관계에 있다는 것이다. 더욱이, 제2 스트립 감지 전극(347), 제2 스트립 감지 전극(346), 제2 스트립 감지 전극(345), 제2 스트립 감지 전극(344), 제2 스트립 감지 전극(343), 제2 스트립 감지 전극(342), 제2 스트립 감지 전극(341), 제2 스트립 감지 전극(340), 제2 스트립 감지 전극(339), 제2 스트립 감지 전극(338), 제2 스트립 감지 전극(337), 제2 스트립 감지 전극(336), 제2 스트립 감지 전극(335), 제2 스트립 감지 전극(334), 제2 스트립 감지 전극(333), 제2 스트립 감지 전극(332) 및 제2 스트립 감지 전극(331)은 제2 방향(Y)을 따라 정렬되고, 그것들의 길이들은 감소적 관계에 있다. 본 실시예의 터치 패널(300)에서, 각 제1 스트립 감지 전극(310) 및 각 제2 스트립 감지 전극(330)의 길이 배열을 제외하고, 그것의 구성 요소 특성 및 재료 특징은 앞서 말한 실시예의 터치 패널(200)의 것들과 유사하고, 따라서 여기서 다시 설명되지 않는다.

요약하면, 본 명세서의 터치 패널은 각 스트립 감지 전극 패턴의 길이 변화들 및 배열을 이용하여, 각 감지 전극을 직렬로(in serial) 연결하는 것이 불필요한 상황 아래에서 요구되는 터치 방향 효과(touch orientation effect)를 획득한다. 게다가, 본 명세서의 터치 패널을 제조하는 방법은 또한, 각 감지 전극 사이의 연결 배선들을 형성하는 것을 방지함에 의해 그리고 절연 재료들의 설계 및 제조를 방지함에 의해 제조 공정을 간소화하는 목적을 이룰 수 있다.

앞서 말한 설명들은 본 명세서의 선호되는 실시예들이다. 그러나, 모든 등가의 변화들 및 변경들은 거기에 본 명세서의 설명들 및 청구항들을 기반으로 이루어질 수 있고, 그것들은 첨부된 청구항들에 의해 한정되도록 의도된다.

Claims

복수의 스트립 감지 영역들에 배치되는 복수의 제1 스트립 감지 전극들; 및
복수의 제2 스트립 감지 전극들을 포함하고,
각 제2 스트립 감지 전극들은 각 스트립 감지 영역들에 배치되어 각 제1 감지 전극들에 대응하고, 그리고 각 제2 스트립 감지 전극들 및 상기 대응하는 제1 스트립 감지 전극들은 전기적으로 서로 연결되지 않는, 터치 패널.
제1항에 있어서,
상기 복수의 스트립 감지 영역들은 고정된 길이들을 가지고, 그리고 상기 복수의 제1 스트립 감지 전극들 및 상기 제2 스트립 감지 전극들의 길이들은 서로 상보적인, 터치 패널.
제1항에 있어서,
기판을 더 포함하고,
상기 기판에는 상기 복수의 스트립 감지 영역들이 분포되고, 그리고 상기 제1 스트립 감지 전극들 및 상기 제2 스트립 감지 전극들은 상기 기판 위에 배치되는, 터치 패널.
제1항에 있어서,
상기 복수의 스트립 감지 영역들은 제1 방향을 따라 연장되고, 상기 복수의 인접한 스트립 감지 영역들은 제2 방향을 따라 정렬되고, 각각의 상기 스트립 감지 영역들은 제1 단자 및 상기 제1 방향에서 상기 제1 단자에 대응하는 제2 단자를 구비하고,
각각의 상기 제1 스트립 감지 전극들은 각각의 상기 스트립 감지 영역들의 상기 제1 단자상에 배치되고, 각각의 상기 제2 스트립 감지 전극들은 각각의 상기 스트립 감지 영역들의 상기 제2 단자상에 배치되고,
상기 제2 방향으로 각 인접한 제1 스트립 감지 전극의 길이는 서로 다르고, 그리고 상기 제2 방향으로 각 인접한 제2 스트립 감지 전극의 길이는 서로 다른, 터치 패널.
제4항에 있어서,
각 제1 스트립 감지 전극은 각 스트립 감지 영역의 상기 제1 단자로부터 상기 제2 단자를 향한 방향을 따라 연장되고, 그리고
각 제2 스트립 감지 전극은 각 스트립 감지 영역의 상기 제2 단자로부터 상기 제1 단자를 향한 방향을 따라 연장되는, 터치 패널.
제4항에 있어서,
복수의 제1 배선들 및 복수의 제2 배선들을 더 포함하고,
각각의 상기 제1 배선들은 각각의 상기 스트립 감지 영역들의 상기 제1 단자상의 각각의 상기 제1 스트립 감지 전극들에 전기적으로 연결되고, 그리고
각각의 상기 제2 배선들은 각각의 상기 스트립 감지 영역들의 상기 제2 단자상의 각각의 상기 제2 스트립 감지 전극들에 전기적으로 연결되는, 터치 패널.
제4항에 있어서,
복수의 인접하게 정렬된 스트립 감지 영역들을 구비하는 감지 결합 영역을 더 포함하는, 터치 패널.
제7항에 있어서,
상기 감지 결합 영역에서, 각각의 상기 제1 스트립 감지 전극의 길이는 상기 제2 방향을 따라 증가적 또는 감소적 관계를 가지고, 그리고
각각의 상기 제2 스트립 감지 전극의 길이는 상기 제2 방향을 따라 증가적 또는 감소적 관계를 가지는, 터치 패널.
제4항에 있어서,
상기 감지 결합 영역에서 상기 제1 스트립 감지 전극들 및 상기 제2 스트립 감지 전극의 길이들의 합(sum)은, 상기 인접한 감지 결합 영역에서 상기 제1 스트립 감지 전극들 및 상기 제2 스트립 감지 전극의 길이들의 합과 동일한, 터치 패널.
터치 패널을 제조하기 위한 방법으로서,
복수의 스트립 감지 영역들에 제1 스트립 감지 전극을 형성하고; 그리고
각각의 상기 스트립 감지 영역에 제2 스트립 감지 전극을 형성하는 것을 포함하고,
각 스트립 감지 영역에서 상기 제2 스트립 감지 전극 및 상기 제1 스트립 감지 전극은 대응하게 배치되고, 그리고 각각의 상기 제2 스트립 감지 전극 및 상기 대응하는 제1 스트립 감지 전극은 전기적으로 서로 연결되지 않는 방법.
제10항에 있어서,
상기 복수의 스트립 감지 영역들은 고정된 길이들을 가지고, 그리고 상기 복수의 제1 스트립 감지 전극들 및 상기 제2 스트립 감지 전극들의 길이들은 서로 상보적인 방법.
제10항에 있어서,
각각의 상기 스트립 감지 영역은 제1 방향을 따라 연장되고, 각각의 상기 인접한 스트립 감지 영역은 제2 방향을 따라 정렬되고, 각각의 상기 스트립 감지 영역은 제1 단자 및 상기 제1 방향에서 상기 제1 단자에 대응하는 제2 단자를 구비하고,
각각의 상기 제1 스트립 감지 전극은 각각의 상기 스트립 감지 영역의 상기 제1 단자상에 배치되고, 각각의 상기 제2 스트립 감지 전극은 각각의 상기 스트립 감지 영역의 상기 제2 단자상에 배치되고,
상기 제2 방향으로 각각의 상기 인접한 제1 스트립 감지 전극의 길이는 서로 다르고, 그리고 상기 제2 방향으로 각각의 상기 인접한 제2 스트립 감지 전극의 길이는 서로 다른 방법.
제10항에 있어서,
상기 복수의 스트립 감지 영역들이 배치된 기판을 제공하는 것을 더 포함하는 방법.
제13항에 있어서,
상기 기판 위에 복수의 제1 배선들 및 복수의 제2 배선들을 형성하는 것을 더 포함하고,
각각의 상기 제1 배선은 각각의 상기 스트립 감지 영역의 상기 제1 단자상의 각각의 상기 제1 스트립 감지 전극에 전기적으로 연결되고, 그리고
각각의 상기 제2 배선은 각각의 상기 스트립 감지 영역의 상기 제2 단자상의 각각의 상기 제2 스트립 감지 전극에 전기적으로 연결되는 방법.
제11항에 있어서,
상기 기판은 적어도 하나의 감지 결합 영역을 더 포함하고, 그리고
상기 감지 결합 영역은 상기 복수의 인접한 정렬된 스트립 감지 영역들을 포함하는 방법.
제15항에 있어서,
상기 감지 결합 영역에서, 각각의 상기 제1 스트립 감지 전극의 길이는 상기 제2 방향을 따라 증가적 또는 감소적 관계를 가지고, 그리고
각각의 상기 제2 스트립 감지 전극의 길이는 상기 제2 방향을 따라 증가적 또는 감소적 관계를 가지는 방법.
제10항에 있어서,
각각의 상기 제1 스트립 감지 전극은 각각의 상기 스트립 감지 영역의 상기 제1 단자로부터 상기 제2 단자를 향한 방향을 따라 연장되고, 그리고
각각의 상기 제2 스트립 감지 전극은 각각의 상기 스트립 감지 영역의 상기 제2 단자로부터 상기 제1 단자를 향한 방향을 따라 연장되는 방법.
제10항에 있어서,
상기 제1 스트립 감지 전극 및 상기 제2 스트립 감지 전극은 동일한 패턴 공정에 의해 동시에 형성되는 방법.
제10항에 있어서,
상기 제1 스트립 감지 전극 및 상기 제2 스트립 감지 전극은 다른 패턴 공정들에 의해 형성되는 방법.
제15항에 있어서,
각 감지 결합 영역에서 상기 제1 스트립 감지 전극 및 상기 제2 스트립 감지 전극의 길이들의 합(sum)은, 상기 인접한 감지 결합 영역에서 상기 제1 스트립 감지 전극 및 상기 제2 스트립 감지 전극의 길이들의 합과 동일한, 방법.