KR20130035971A - 독자적인 충전기 지원에 의한 충전기 검출 - Google Patents

독자적인 충전기 지원에 의한 충전기 검출 Download PDF

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Abstract

충전기 종류를 검출하기 위한 방법 및 장치가 제공된다. 일 실시례에서, 전자 기기의 포트에 연결되어 있는 전위(potential) 충전기를 분류하도록 구성된 충전기 검출 방법은 전자 기기의 USB 호환 포트에 연결되어 있는 상기 전위 충전기를 검출하는 단계, 각각의 제1 및 제2 데이터 라인 상에 제1 테스트 전압을 제공하기 위하여, USB 호환 포트의 상기 제1 및 제2 데이터 라인 또는 핀(pin)에 풀다운(pull-down) 전류를 인가하는 단계, 및 각각의 제1 및 제2 데이터 라인 상의 제1 테스트 전압이 제1 문턱 전압과 제2 문턱 전압 사이에 있지 않은 경우, 풀다운 전류를 사용하여 USB 배터리 충전 1.2 준수 계획(USB Battery Charging 1.2 Compliance Plan)의 제1 검출 프로세스를 실행하는 단계를 포함할 수 있다.
이 개요는 본 특허출원의 주제의 개요를 제공하기 위한 것이며, 본 발명의 배타적인 설명 또는 완전한 설명을 제공하기 위한 것이 아니다. 본 특허출원에 관한 더 자세한 정보를 제공하기 위하여 상세한 설명이 제공된다.

Description

독자적인 충전기 지원에 의한 충전기 검출{CHARGER DETECTION WITH PROPRIETARY CHARGER SUPPORT}
본 출원은 2011년 9월 30일에 출원된 미국 가특허출원 제 61/541,969호 "CHARGER DETECTION WITH PROPRIETARY CHARGER SUPPORT"에 대해 우선권을 주장하며, 그 내용은 그 전체로서 원용에 의해 본 명세서에 포함된다.
본 발명은 포트에 연결되어 있는 검출 기기에 관한 것이며, 더 자세하게는 포트에 연결되어 있는 충전기를 분류 및 검출하는 것에 관한 것이다.
최근 일반적으로, 데이터 또는 충전 포트와 같은, 전자 기기 상의 외부 포트의 표준화를 향한 트렌드가 있다. 모바일 전자 기기와 같은 많은 전자 기기에서는, 범용 직렬 버스(USB: Universal Serial Bus) 포트와 같은 단일 포트는 데이터 포트, 충전 포트, 또는 데이터 및 충전 포트로 구성될 수 있다. 또한, 많은 상이한 종류의 충전 포트가 존재한다(예를 들면, 상이한 전력 용량(power capability)을 갖는). 배터리 충전 표준, "USB Battery Charging 1.2 Compliance Plan, Revision 1.0(이하, BC1.2 준수 계획이라 함)"은 전용 충전 포트(DCP: Dedicated Charging Port), 충전 다운스트림 포트(CDP: Charging Downstream Port), 및 표준 다운스트림 포트(SDP: Standard Downstream Port)를 포함하는 여러 종류의 충전 포트를 정의한다.
그러나, 많은 제조자들은 BC1.2 준수 계획에 따른 검출 플로우를 사용하면 부정확하게 검출될 수 있는 독자적인(proprietary) 충전 메커니즘을 유지한다. 많은 예에서, 충전 메커니즘의 종류를 부정확하게 확인하는 것은, 충전기에게 감소하는 동작 전류(operating current)에서 활용되는 것으로 해석될 수 있어서, 전자 기기의 충전 시간을 증가시킨다.
본 도면은 반드시 실측으로 되어 있는 것은 아니며, 유사한 참조 부호는 다른 도면에서 유사한 요소를 나타낼 수 있다. 상이한 첨자를 가진 유사한 참조 부호는 유사한 요소의 다른 예를 나타낼 수 있다. 도면은 일반적으로 예시를 위해 본 명세서에서 논의되는 여러 실시형태를 보여주는 것이며 한정을 위한 것이 아니다.
도 1은 전자 기기 및 충전기를 포함하는 시스템의 일례를 일반적으로 도시한 것이다.
도 2는 BC1.2 준수 계획에 따르는 검출 플로우를 일반적으로 도시한 것이다.
도 3은 제1 독자적 충전기 검출 플로우를 포함하는 개선된 충전기 검출 플로우의 일부의 예를 일반적으로 도시한 것이다.
도 4는 제2 독자적 충전기 검출 플로우를 포함하는 개선된 충전기 검출 플로우의 일부의 예를 일반적으로 도시한 것이다.
도 5는 제1 독자적 충전기 검출 회로의 일례를 일반적으로 도시한 것이다.
도 6은 SDP 검출 회로의 일례를 일반적으로 도시한 것이다.
도 7은 플로팅(floating) 데이터 핀 검출 회로의 일례를 일반적으로 도시한 것이다.
본 발명의 발명자들은, 다른 것들 중에서, BC1.2 준수 계획을 따르면서 독자적인(proprietary) 충전기(예를 들면, 휴대 전화기, PDA, 모바일 미디어 플레이어, 태블릿, 포터블 내비게이션 기기 등과 같은 휴대용 전자 기기에 특화된 충전기) 또는 PS/2 포트를 검출하는 방법 및 시스템을 알아내었다. 일 실시례에서, 본 발명의 시스템 및 방법은, BC1.2 준수 계획을 따르면서, 충전기의 종류를 검출하기 위해 또는 SDP(표준 다운스트림 포트: Standard Downstream Port) 기기 또는 독자적 충전기와 PS/2 포트를 구별하기 위해 충전기 핀 상에서의 상이한 전압 레벨 또는 충전기의 종류를 구별할 수 있다.
도 1은 전자 기기(105) 및 충전기(110)를 포함하는 시스템(100)의 일례를 일반적으로 도시한 것이다. 일 실시례에서, 전자 기기(105)는 케이블(117) 및 플러그(116)를 사용하여 충전기(110)를 전자 기기(105)에 연결하도록 구성되는 리셉터클(receptacle)(115)을 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 전자 지기(105)는 이동 전화기 또는 기타 모바일 전자 기기를 포함할 수 있고, 리셉터클(115) 및 플러그(116)는 USB 리셉터클 및 플러그(예를 들면, 마이크로 USB 리셉터클 및 플러그 등)을 포함할 수 있고, 전자 기기(105)(예를 들면, 배터리 또는 기타 에너지 저장 부품을 포함)는 충전기(110)로부터의 전력을 사용하여 충전될 수 있다. 일 실시례에서, 리셉터클(115) 및 플러그(116)는 전압 라인(VBUS), 차동(differential) 데이터 라인(D+, D-), 및 그라운드(GND)를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 기타 설정이 사용될 수 있다.
도 2는 배터리 충전 표준인 BC1.2에 따르는 충전기 검출 플로우 또는 방법(200)을 일반적으로 도시한 것이다. 일 실시례에서, 지원되지 않는 독자적 충전기는 BC1.2 준수 계획에 따르는 충전기 검출 플로우(200)에서 부정확하게 평가될 수 있다. 예를 들면, 독자적 충전기(예를 들면, 500mA, 1A, 또는 2A 충전기 등)는 특정 충전기와 관련된 저항값에 따라 CDP, SDP, 또는 DCP 충전기로 검출될 수 있고, 기타 독자적인 DCP 충전기, 및 PS/2 포트는 SDP 충전기로 검출될 수 있다. 부정확한 검출은 충전 전류의 감소 또는 충전 시간의 증가를 야기할 수 있다. BC1.2 준수 계획에 따르는 검출 방법의 일반화된 플로우 차트는 공급 버스 전압(VBUS)이 허용 레벨에 있는지를 확인하는 단계를 단계 201에 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 공급 버스 전압은 예를 들어 4볼트 정도인 버스 문턱 전압보다 큰 경우 유효할 수 있다. 일 실시례에서, 공급 전압이 허용 레벨일 때까지는 단계가 진행되지 않는다. 단계 202에서, 플로우는 기기가 USB 호환(compliant) 포트의 연결과 같은 포트에 연결될 때까지 순환(loop)하거나 기다린다. 기기가 포트에 연결되는 것이 검출된 후, 포트에 연결된 전위 충전기의 종류를 분류하기 위하여 포트의 라인을 조작하여 모니터할 수 있다. 제1 검출 프로세스(211)의 단계 203에서, 포트의 라인에 전압이 인가되어 제1 검출 프로세스를 셋업할 수 있다. 일 실시례에서, USB 호환 포트의 하나 또는 그 이상의 데이터 라인에 전압이 인가되고, 결과 전압(resulting voltage)이 측정되어 제1 문턱 전압과 비교된다. 일 실시례에서, 전압은 양의 데이터 라인(D+)에 연결될 수 있다. 일 실시례에서, 전압은 저항을 사용하여 양의 데이터 라인(D+)에 연결될 수 있다. 일 실시례에서, 전압은 약 0.6볼트일 수 있다.
일 실시례에서, 전압이 데이터 라인 중 하나에 인가된 후, 테스트 전압이 다른 데이터 라인에 유도된다. 단계 204에서, 만약 테스트 전압이 문턱 전압 윈도우 밖이면, 연결되어 있는 기기는 SDP 기기로 분류될 수 있고, 단계 205에서, 검출된 분류를 나타내는 상응하는 표시가 조정될 수 있다. 일 실시례에서, 단계 203에서 전압을 인가한 후 및 단계 204에서 유도된 테스트 전압을 평가하기 전에 딜레이가 발생할 수 있다. 일 실시례에서, 전압 윈도우는 데이터 기준 전압(VDAT _ REF)에 상응하는 하한 및 논리 전이(logic transition) 전압(VLGC)에 상응하는 상한을 가질 수 있다. 일 실시례에서, 데이터 기준 전압(VDAT _ REF)은 약 0.24볼트와 약 0.4볼트 사이일 수 있다. 일 실시례에서, 논리 전이 전압(VLGC)은 약 0.8볼트와 약 2.0볼트 사이일 수 있다.
만약, 단계 204에서, 테스트 전압이 문턱 전압 범위 또는 윈도우 밖이 아닌 경우, 제2 검출 프로세스(212)가 개시될 수 있다. 제2 검출 프로세스(212)의 일부로서, 단계 206에서, 제2 전압이 포트의 기타 데이터 라인에 인가될 수 있고, 예를 들면, 만약 전압이 제1 검출 프로세스를 셋업하기 위하여 양의 데이터 라인(D+)에 인가되었다면, 제2 전압은 제 검출 프로세스를 셋업하기 위하여 음의 데이터 라인(D-)에 인가될 수 있다. 일 실시례에서, 제1 검출 프로세스를 셋업하기 위하여 인가되는 전압은 제2 검출 프로세스를 셋업하기 위하여 인가되기 전에 제거될 수 있다. 일 실시례에서, 제2 전압은 저항을 사용하여 음의 데이터 라인(D-)에 연결될 수 있다. 일 실시례에서, 제2 전압은 약 0.6볼트일 수 있다.
일 실시례에서, 제2 전압이 데이터 라인 중 하나에 인가된 후, 제2 테스트 전압이 다른 데이터 라인 상에 유도된다. 단계 207에서, 만약 양의 데이터 라인(D+) 상에 유도된 제2 테스트 전압이 문턱 전압 윈도우 밖이면, 연결되어 있는 기기는 CDP 기기로 분류될 수 있고, 단계 208에서, 검출된 분류를 나타내는 상응하는 표시가 조정될 수 있다. 일 실시례에서, 단계 206에서 제 전압을 인가한 후 및 단계 207에서 유도된 테스트 전압을 평가하기 전에 딜레이가 발생할 수 있다. 일 실시례에서, 전압 윈도우는 데이터 기준 전압(VDAT _ REF)에 상응하는 하한 및 논리 전이 전압(VLGC)에 상응하는 상한을 가질 수 있다. 일 실시례에서, 데이터 기준 전압(VDAT_REF)은 약 0.24볼트와 약 0.4볼트 사이일 수 있다. 일 실시례에서, 논리 전이 전압(VLGC)은 약 0.8볼트와 약 2.0볼트 사이일 수 있다.
만약, 단계 207에서, 제2 테스트 전압이 문턱 전압 범위 밖이 아닌 경우, 연결되어 있는 기기는 DCP 기기로 분류될 수 있고, 단계 209에서, 검출된 분류를 나타내는 상응하는 표시가 조정될 수 있다.
도 3은 제1 독자적 충전기 검출 플로우 또는 방법(315)을 포함하는 개선된 충전기 검출 플로우(300)의 일부의 예를 일반적으로 도시한 것이다. 일 실시례에서, 개선된 충전기 검출 플로우(400)는, BC1.2 준수 계획을 따르면서 독자적 충전기 및 PS/2 포트를 정확히 확인하도록 구성될 수 있다. 일 실시례에서, 개선된 충전기 검출 플로우(300)의 도시된 일부는, 상술한 도 2의 단계 202 및 211 각각에 대하여, 단계 302에서 연결 검출 프로세스를 포함할 수 있고, 단계 311에서 제1 검출 프로세스를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 포트에 연결되어 있는 기기를 검출한 후, 단계 310에서, 데이터 라인 중 하나는 검출 회로의 논리 전이 전압(VLGC)에 대하여 평가될 수 있다. 일 실시례에서, 양의 데이터 라인(D+)에서의 전압은 논리 전이 전압(VLGC)과 비교될 수 있다. 일 실시례에서, 만약 양의 전압 라인에서의 전압이 논리 전이 전압(VLGC)보다 작은 경우, 개선된 방법에서는 제1 검출 프로세스(211)가 개시될 수 있다. 일 실시례에서, 만약 연결되어 있는 기기 검출로부터의 디바운스(debounce) 시간 지연 후, 양의 데이터 라인에서의 전압이 논리 전이 전압(VLGC)보다 작은 경우, 개선된 방법에서는 제1 검출 프로세스(211)가 개시될 수 있다. 일 실시례에서, 만약, 단계 314에서, 양의 데이터 라인(D+)에서의 전압이 논리 전이 전압(VLGC)보다 큰 경우, 연결되어 있는 기기의 충전 능력을 더 효과적으로 사용하기 위하여 연결되어 있는 기기가 DCP 기기로 분류되어야 하는 독자적 기기임을 확인하기 위하여, 제1 독자적 충전기 검출 플로우(315)가 개시될 수 있다. 일 실시례에서, 만약, 단계 314에서, 만약 연결되어 있는 기기 검출로부터의 디바운스 시간 지연 후, 양의 데이터 라인(D+)에서의 전압이 논리 전이 전압(VLGC)보다 큰 경우, 연결되어 있는 기기의 충전 능력을 더 효과적으로 사용하기 위하여 연결되어 있는 기기가 DCP 기기로 분류되어야 하는 독자적 기기임을 확인하기 위하여, 제1 독자적 충전기 검출 플로우(315)가 개시될 수 있다.
단계 316에서, 각 데이터 라인 상에 테스트 전압을 유도하기 위하여 전류 싱크(sink)가 데이터 라인에 연결될 수 있다. 일 실시례에서, 하나의 전류 싱크를 선택적으로 제1 시간에 데이터 라인 중 하나에 연결하고 제2 시간에 다른 데이터 라인에 연결하기 위하여, 스위치가 사용될 수 있다. 일 실시례에서, 전류 싱크는 약 500나노암페어(nA)를 싱크하도록 구성되어, 데이터 라인들(D+, D-)의 전압 레벨을 끌어내릴 수 있다. 일 실시례에서, 풀다운(pull-down) 전압은 전류 싱크에 연결되어 있는 데이터 라인에 유도되어 테스트 윈도우와 비교될 수 있다. 일 실시례에서, 전류 소스에 연결되어 있는 제1 데이터 라인 상에 유도된 전압은 저장되어, 제2 데이터 라인이 전류 소스에 연결되어 제2 데이터 라인 상에 유도된 전압이 측정된 후, 테스트 윈도우와 비교될 수 있다. 단계 317에서, 각 데이터 라인에 유도된 전압은 테스트 윈도우에 대하여 평가될 수 있다. 만약 양 유도된 전압이 모두 테스트 윈도우의 범위 내인 경우, 연결되어 있는 기기는 DCP 기기로 분류될 수 있고, 단계 318에서, 검출된 분류를 나타내는 상응하는 표시가 조정될 수 있다. 만약, 단계 317에서, 유도된 전압 중 하나가 테스트 윈도우의 범위 내에 있지 않은 경우, 제1 검출 프로세스(211)가 개시될 수 있다.
일 실시례에서, 단계 317에서 평가된 전압 윈도우는 논리 전이 전압(VLGC)에 상응하는 하한 및 독자적 문턱 전압(VPROP)에 상응하는 상한을 가질 수 있다. 일 실시례에서, 논리 전이 전압(VLGC)은 약 0.8볼트와 약 2.0볼트의 사이일 수 있다. 일 실시례에서, 독자적 문턱 전압(VPROP)은 논리 전이 전압(VLGC)보다 큰 전압일 수 있다. 일 실시례에서, 독자적 문턱 전압(VPROP)은 약 2.7볼트일 수 있다. 일 실시례에서, 변형된 충전기 검출 방법(300)은 SDP 기기로 분류되었을 수 있는 하나 또는 그 이상의 독자적 충전기를 DPC 기기로 정확하게 분류할 수 있다.
도 4는 제2 독자적 충전기 검출 플로우 또는 방법(420)을 포함하는 개선된 충전기 검출 플로우(400)의 일부의 예를 일반적으로 도시한 것이다. 일 실시례에서, 개선된 충전기 검출 플로우(400)는 BC1.2 준수 계획에 따르는 검출 방법인 이전 단계, 단계 403에서, 제1 검출 조건 확인을 위한 셋업 단계, 단계 404에서, 제1 검출을 위한 조건 확인 단계, 단계 406에서, 제2 검출 조건 확인을 위한 셋업 단계, 및 BC1.2 준수 계획에 따르는 검출 방법인 이후 단계를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 개선된 충전기 검출 플로우(400)의 도시된 일부는 상술한 도 2의 203, 204 및 206 각각에 대하여, 단계 403에서, 제1 검출 조건 확인을 위한 셋업 단계, 단계 404에서, 제1 검출을 위한 조건 확인 단계, 단계 406에서, 제2 검출 조건 확인을 위한 셋업 단계를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 제1 검출 셋업 이전의 방법 단계는 도 3에 도시되어 있는 상술한 제1 독자적 충전기 검출 플로우(315)를 포함할 수 있다.
개선된 충전기 검출 플로우(420)는, 단계 403에서, 제1 검출 프로세스를 셋업하기 위하여 전위 충전기에 연결되어 있는 포트의 라인에 전압을 인가할 수 있다. 일 실시례에서, USB 호환 포트의 하나 또는 그 이상의 데이터 라인에 전압이 인가되고, 결과 전압이 측정되어, 단계 404에서, 문턱 전압 윈도우와 비교된다. 일 실시례에서, 전압은 데이터 라인 중 하나에 인가될 수 있고, 결과 전압은 다른 데이터 라인 상에 나타날 수 있다. 일 실시례에서, 전압은 양의 데이터 라인(D+)에 인가될 수 있고, 결과 전압은 음의 데이터 라인(D-) 상에 나타날 수 있다.
일 실시례에서, 문턱 전압 윈도우는, 단계 404에서, 데이터 기준 전압(VDAT_REF)에 상응하는 하한 및 논리 전이 전압(VLGC)에 상응하는 상한을 가질 수 있다. 일 실시례에서, 데이터 기준 전압(VDAT _ REF)은 약 0.24볼트와 약 0.4볼트 사이일 수 있다. 일 실시례에서, 논리 전이 전압(VLGC)은 약 0.8볼트와 약 2.0볼트 사이일 수 있다. 일 실시례에서, 논리 전이 전압(VLGC)은 약 1볼트일 수 있다.
일 실시례에서, 만약 결과 전압이 문턱 윈도우 내인 경우, 단계 404에서, 개선된 충전기 검출 방법(400)에서는 단계 406에서 제2 검출을 위한 셋업이 진행될 수 있다. 일 실시례에서, 결과 전압이 문턱 윈도우 밖에 있을 경우, 전위 충전기를 SDP 기기로 분류하는 대신에, 개선된 충전기 검출 방법(400)은 제2 독자적 충전기 검출 방법(420)을 실행할 수 있다. 일 실시례에서, 제2 독자적 충전기 검출 방법(420)은 하나 또는 그 이상의 독자적 충전기를 SDP 기기 대신에 DCP 기기로 분류할 수 있다. 그러한 전위 충전기의 개선된 분류는 일 실시례에서 충전기가 더 효율적으로 사용될 수 있게 한다.
일 실시례에서, 제2 독자적 충전기 검출 방법(420)은 풀업(pull-up) 저항을 전위 충전기에 연결되어 있는 포트의 데이터 라인에 적용하는 단계를, 단계 421에서, 포함할 수 있다. 풀업 저항을 데이터 라인에 적용하는 단계에서는 진단 전압(diagnostic voltage)을 각 데이터 라인 상에 제공할 수 있다. 일 실시례에서, 풀업 저항을 데이터 라인에 적용하는 단계는 풀업 저항을 데이터 라인과, 전력 서플라이 레일(power supply rail)과 같은 전력 서플라이 사이에 연결하는 단계를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 또 하나의 저항이, 트랜지스터를 기초로 한 스위치와 같은 하나 또는 그 이상의 스위치를 사용하는 데이터 라인에 선택적으로 연결될 수 있다. 일 실시례에서, 실제 저항을 대신하여, 제2 검출 방법을 구현하는 회로가 하나 또는 그 이상의 전류 소스를 데이터 라인에 연결할 수 있다. 일 실시례에서, 전류 소스는 저항에 비하여 공간 효율적으로 구현될 수 있다. 단계 422에서, 만약 데이터 라인들 중의 진단 전압의 하나가 독자적 전압(VPROP)보다 작으면, 포트에 연결되어 있는 전위 충전기는 SDP 기기로 분류될 수 있고, 단계 423에서, 검출된 분류를 나타내는 상응하는 표시가 조정될 수 있다.
일 실시례에서, 독자적 전압(VPROP)은 상술한 제1 독자적 충전기 검출 방법(315)에서 사용되는 전압과 동일한 전압일 수 있다. 일 실시례에서, 독자적 전압(VPROP)은 상술한 제1 독자적 충전기 검출 방법(315)에서 사용되는 전압과 상이한 전압일 수 있다. 일 실시례에서, 제2 검출 방법은 독자적 충전기의 하나 이상의 종류를 검출하기 위한 시도를 하기 위하여, 독자적 전압(VPROP)으로서 상이한 전압을 사용하여 한 번 이상 실행될 수 있다.
개선된 충전기 검출 방법(400)의 단계 422를 다시 참조하면, 만약 데이터 라인에서의 각각의 진단 전압이 큰 경우, 포트에 연결되어 있는 전위 충전기를 더 잘 분류하기 위하여 데이터 라인의 추가적인 조건이 실행될 수 있다. 일 실시례에서, 추기적인 조건은, 단계 424에서, 제2 진단 전압을 각각의 데이터 라인들(D+, D-)에 제공하기 위하여 데이터 라인들(D+, D-)에 전류 싱크를 인가하는 단계를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 데이터 라인들(D+, D-)에 하나 또는 그 이상의 전류 싱크를 선택적으로 연결하기 위하여 하나 또는 그 이상의 스위치가 사용될 수 있다. 단계 425에서, 만약 제2 진단 전압의 하나가 문턱 전압(VDAT _ REF)보다 큰 경우, 전위 충전기는, 단계 426에서, DCP 기기로 분류될 수 있고, 검출된 분류를 나타내는 상응하는 표시가 조정될 수 있다. 단계 425에서, 만약 양 제2 진단 신호의 모두가 문턱 전압(VDAT _ REF)보다 작은 경우, 전위 충전기는, 단계 427에서, SDP 기기로 분류될 수 있고, 검출된 분류를 나타내는 상응하는 표시가 조정될 수 있다. 일 실시례에서, 데이터 기준 전압(VDAT _ REF)은 약 0.24볼트와 약 0.4볼트의 사이일 수 있다. 일 실시례에서, 전류 싱크는 약 500나노암페어(nA)를 싱크하도록 구성되어, 데이터 라인들(D+, D-)의 전압 레벨을 끌어내릴 수 있다. 일 실시례에서, 제2 독자적 충전기 검출 방법(420)은 전위 충전기를 더 정확하게 분류하여 충전기가 더 효율적으로 사용될 수 있다. 내비게이션 시스템용 및 PS/2 포트 충전기와 같은 몇몇 독자적 충전기는, 다른 것들 중에서, 제2 독자적 충전기 검출 방법(420)이 더 정확하게 분류할 수 있는 독자적 충전기의 예이다.
일 실시례에서, 전자 기기는 BC1.2 준수 계획을 따르며, 상술한 제1 독자적 충전기 검출 방법 또는 제2 독자적 충전기 검출 방법 중 적어도 하나를 포함하는, 충전기 검출 방법을 실행하도록 구성되는 충전기 검출 회로를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 전자 기기는 충전기 검출 방법을 실행하기 위한 제어기를 포함할 수 있다. 그러한 제어기는, 상태 기계(state machine), 마이크로프로세서, 아날로그 부품, 디지털 부품, 소프트웨어, 펌웨어 또는 그 조합을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
도 5는 전류 소스(501), 윈도우 비교기(502), 디지털 논리 회로(503)를 포함하는 제1 독자적 충전기 검출 회로(500)의 일례를 일반적으로 도시한 것이다. 일 실시례에서, 예의 제1 독자적 충전기 검출 회로는 도 3의 예에 도시되어 있는 바와 같이 제1 독자적 충전기 검출 방법(315)의 적어도 일부를 구현하는 데에 사용될 수 있다. 일 실시례에서, 제어기(미도시)는 전류 소스(501)를 각각의 전위 충전기(미도시)에 연결되어 있는 포트의 각각의 데이터 라인들(D+,D-)에 선택적으로 연결할 수 있다. 일 실시례에서, 제1 독자적 충전기 검출 회로(500)는 전류 소스를 각각의 데이터 라인들(D+,D-)에 선택적으로 연결하기 위하여 하나 또는 그 이상의 스위치 504, 505를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 하나 또는 그 이상의 스위치 504, 505는 트랜지스터를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 전류 싱크로서 데이터 라인 중 하나에 연결되어 있는 전류 소스(501)는, 데이터 라인 상에 전위 충전기의 특정 특성을 확인하기 위하여 사용될 수 있는 전압을 유도할 수 있다. 일 실시례에서, 전류 싱크는 약 500나노암페어(nA)를 싱크하도록 구성되어, 데이터 라인들(D+, D-)의 전압 레벨을 끌어내릴 수 있다. 일 실시례에서, 디지털 논리 회로(503) 및 윈도우 비교기(502)는 풀다운 전압이 문턱 윈도우 내부인지 아닌지 여부의 표시를 제공할 수 있다. 일 실시례에서, 전압 윈도우는 논리 전이 전압(VLGC)에 상응하는 하한 및 독자적 문턱 전압(VPROP)에 상응하는 상한을 가질 수 있다. 일 실시례에서, 논리 전이 전압(VLGC)은 약 1볼트와 같은, 약 0.8볼트와 약 2.0볼트 사이일 수 있다. 일 실시례에서, 독자적 문턱 전압(VPROP)은 논리 전이 전압(VLGC)보다 큰 전압일 수 있다. 일 실시례에서, 독자적 문턱 전압(VPROP)은 약 2.7볼트일 수 있다. 일 실시례에서, 제1 독자적 충전기 검출 회로(500)는 덜 효율적인 방법으로 분류되었을 수 있는 하나 또는 그 이상의 독자적 충전기를 정확하기 분류하는 것을 도울 수 있다. 풀다운 전압이 문턱 윈도우 내부인지 아닌지 여부의 표시를 제공하는 기타 논리 회로 및 윈도우 비교기는, 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 구현 가능하다는 것이 이해되어야 한다.
도 6은 풀업 저항(601) 및 비교기(602)를 포함하는 SDP 검출 회로(600)의 일례를 일반적으로 도시한 것이다. 예의 SDP 검출 회로(600)는 도 4의 예에 도시된 바와 같은 제2 독자적 충전기 검출 방법의 일부를 구현하기 위해 사용될 수 있다. 일 실시례에서, 제어기(미도시)는 풀업 저항(601)을 각각의 전위 충전기(미도시)에 연결되어 있는 포트의 각각의 데이터 라인들(D+,D-)에 선택적으로 연결할 수 있다. 일 실시례에서, SDP 검출 회로(600)는 풀업 저항을 각각의 데이터 라인들(D+,D-)에 선택적으로 연결하기 위하여 하나 또는 그 이상의 스위치 604, 605를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 하나 또는 그 이상의 스위치 604, 605는 트랜지스터를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 데이터 라인 중 하나에 연결되어 있는 풀업 저항(601)은, 데이터 라인 상에 전위 충전기의 특정 특성을 확인하기 위하여 사용될 수 있는 풀업 전압을 유도할 수 있다. 일 실시례에서, 비교기(602)는 풀업 전압이 독자적 문턱 전압(VPROP) 이상인지 이하인지 여부의 표시를 제공할 수 있다. 일 실시례에서, 독자적 문턱 전압(VPROP)은 약 2.7볼트일 수 있다. 일 실시례에서, 독자적 문턱 전압(VPROP)은 상술한 제1 독자적 충전기 검출 방법(315) 또는 제1 독자적 충전기 검출 회로(500)에서 사용되는 전압과 동일한 전압일 수 있다. 일 실시례에서, 독자적 전압(VPROP)은 상술한 제1 독자적 충전기 검출 방법(315) 또는 제1 독자적 충전기 검출 회로(500)에서 사용되는 전압과 상이한 전압일 수 있다. 상술한 바와 같이, 비교기(602)의 출력은 전위 충전기 기기를 분류하기 위한 제2 독자적 충전기 검출 방법의 실행을 가이드하기 위하여 사용될 수 있다. 풀업 전압이 독자적 문턱 전압(VPROP) 내부인지 아닌지 여부의 표시를 제공하는 기타 논리 회로는, 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 구현 가능하다는 것이 이해되어야 한다.
도 7은 전류 소스(701) 및 비교기(702)를 포함하는 플로팅(floating) 데이터 핀 검출 회로(700)의 일례를 일반적으로 도시한 것이다. 예의 플로팅 데이터 핀 검출 회로(700)는 도 4의 예에 도시된 바와 같은 제2 독자적 충전기 검출 방법의 일부를 구현하기 위해 사용될 수 있다. 일 실시례에서, 제어기(미도시)는 전류 소스(701)를 각각의 전위 충전기(미도시)에 연결되어 있는 포트의 각각의 데이터 라인들(D+,D-)에 선택적으로 연결할 수 있다. 일 실시례에서, 플로팅 데이터 핀 검출 회로(700)는 하나 또는 그 이상의 전류 소스를 각각의 데이터 라인들(D+,D-)에 선택적으로 연결하기 위하여 하나 또는 그 이상의 스위치 704, 705를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 하나 또는 그 이상의 스위치 704, 705는 트랜지스터를 포함할 수 있다. 일 실시례에서, 전류 싱크로서 데이터 라인 중 하나에 연결되어 있는 전류 소스(701)는, 데이터 라인 상에 전위 충전기의 특정 특성을 확인하기 위하여 사용될 수 있는 전압을 유도할 수 있다. 일 실시례에서, 전류 싱크는 500나노암페어(nA)를 싱크하도록 구성되어, 데이터 라인들(D+, D-)의 전압 레벨을 끌어내릴 수 있다. 일 실시례에서, 비교기(702)는 풀다운 전압이 데이터 기준 전압(VDAT _ REF) 이상인지 이하인지 여부의 표시를 제공할 수 있다. 일 실시례에서, 데이터 기준 전압(VDAT_REF)은 약 0.24볼트와 약 0.4볼트의 사이일 수 있다. 상술한 바와 같이, 비교기(702)의 출력은 전위 충전기 기기를 분류하기 위한 제2 독자적 충전기 검출 방법의 실행을 가이드하기 위하여 사용될 수 있다. 풀다운 전압이 데이터 기준 전압(VDAT _ REF) 이상인지 이하인지 여부의 표시를 제공하는 기타 논리 회로는, 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 구현 가능하다는 것이 이해되어야 한다.
추가적인 노트
2010년 12월 7일에 발행된 배터리 충전 표준 "Battery Charging Specification, Revision 1.2"는 그 전체로서 원용에 의해 본 명세서에 포함된다.
제1 예에서는, 충전기 검출 방법은 전자 기기의 USB 호환 포트에 연결되어 있는 전위 충전기를 검출하는 단계, 각각의 제1 및 제2 데이터 라인 상에 제1 테스트 전압을 제공하기 위하여, USB 호환 포트의 제1 및 제2 데이터 라인에 풀다운(pull-down) 전류를 인가하는 단계, 및 각각의 제1 및 제2 데이터 라인 상의 제1 테스트 전압이 제1 문턱 전압과 제2 문턱 전압 사이에 있지 않은 경우, USB 배터리 충전 1.2 준수 계획(USB Battery Charging 1.2 Compliance Plan)의 제1 검출 프로세스를 실행하는 단계를 포함한다.
제2 예에서는, 제1 예의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 풀다운 전류를 사용하여, 각각의 제1 및 제2 데이터 라인 상의 제1 테스트 전압이 제1 문턱 전압과 제2 문턱 전압 사이에 있는 경우, 전위 충전기를 전용 충전 포트(DCP: Dedicated Charging Port)로 분류하는 단계를 포함한다.
제3 예에서는, 제1-2 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제2 데이터 라인에 제3 전압을 공급하기 위하여 제2 테스트 전압을 제1 데이터 라인에 연결하는 단계, 및 제1 지연 간격(delay interval)을 지연시키는 단계를 포함한다.
제4 예에서는, 제1-3 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제1 지연 간격의 종료 후, 제2 데이터 라인 상의 전압이 제1 테스트 윈도우 외부에 있는지를 검출하는 단계, 제1 및 제2 풀업(pull-up) 전압을 각각 제1 및 제2 데이터 라인 상에 제공하기 위하여 제1 및 제2 데이터 라인에 하나 이상의 풀업 저항을 각각 연결하는 단계, 및 제1 및 제2 풀업 전압을 제3 문턱 전압과 비교하는 단계를 포함한다.
제5 예에서는, 제1-4 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제1 풀업 전압 또는 제2 풀업 전압이 제3 문턱 전압보다 작은 경우, 전위 충전기를 SDP로 분류하는 단계를 포함한다.
제6 예에서는, 제1-5 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제1 풀업 전압 또는 제2 풀업 전압이 제3 문턱 전압보다 큰 경우, 제3 테스트 전압을 제1 데이터 라인에 공급하고 제4 테스트 전압을 제2 데이터 라인에 공급하기 위하여, 제1 및 제2 전류 싱크(sinks)를 제1 및 제2 데이터 라인에 각각 연결하는 단계를 포함한다.
제7 예에서는, 제1-6 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제3 테스트 전압이 제5 문턱 전압보다 작고, 제4 테스트 전압이 제5 문턱 전압보다 작은 경우, 전위 충전기를 DCP 기기로 분류하는 단계를 포함한다.
제8 예에서는, 제1-7 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제3 테스트 전압이 제5 문턱 전압보다 크고, 제4 테스트 전압이 제5 문턱 전압보다 큰 경우, 전위 충전기를 SDP 기기로 분류하는 단계를 포함한다.
제9 예에서는, 제1-8 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제1 지연 간격의 종료 후, 제2 데이터 라인 상의 제3 전압이 제1 테스트 윈도우 내부인지를 검출하는 단계를 포함한다.
제10 예에서는, 제1-9 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제1 데이터 라인에 제5 전압을 제공하기 위하여, 제4 테스트 전압을 제2 데이터 라인에 연결하는 단계, 제2 지연 간격을 지연시키는 단계, 및 제5 전압을 제2 테스트 전압 범위와 비교하는 단계를 포함한다.
제11 예에서는, 제1-10 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제5 전압이 제2 테스트 전압 범위 외부이면, 전위 충전기를 DCP 기기로 분류하는 단계를 포함한다.
제12 예에서는, 제1-11 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 방법은 선택적으로, 제5 전압이 제2 테스트 전압 범위 내부이면, 전위 충전기를 CDP 기기로 분류하는 단계를 포함한다.
제13 예에서는, 제1-12 예의 하나 또는 그 이상의 제1 데이터 라인은 선택적으로, USB 호환 포트의 양의 데이터 라인을 포함하고, 제1-12 예의 하나 또는 그 이상의 제2 데이터 라인은 선택적으로, USB 호환 포트의 음의 데이터 라인을 포함한다.
제14 예에서는, USB 배터리 충전 1.2 준수 계획(USB Battery Charging 1.2 Compliance Plan)을 따르는 충전기 검출 회로는 제1 입력단에서 제1 문턱 전압을 수신하고, 제2 입력단에서 데이터 핀의 값을 수신하도록 구성된 제1 비교기, 및 제1 비교기의 제2 입력단과 그라운드 사이에 연결되어 있는 제1 전류 소스를 포함하는 플로팅(floating) 데이터 핀(pin) 검출 회로를 포함할 수 있다. USB 배터리 충전 1.2 준수 계획을 따르는 충전기 검출 회로는 제1 입력단에서 제2 문턱 전압을 수신하고, 제2 입력단에서 데이터 핀의 값을 수신하도록 구성된 제2 비교기, 및 제2 비교기의 제2 입력단과 파워 레일(power rail) 사이에 연결되어 있는 풀업(pull-up) 저항을 포함하는 표준 다운스트림 포트(SDP: Standard Downstream Port) 검출 회로를 포함할 수 있다.
제15 예에서는, 제1-14 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 회로는 선택적으로, 제1 시간에서 제1 비교기의 제2 입력단에 제1 데이터 핀을 연결하고, 제2 시간에서 제1 비교기의 제2 입력단에 제2 데이터 핀을 연결하도록 구성된 제1 스위치를 포함한다.
제16 예에서는, 제1-15 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 회로는 선택적으로, 제3 시간에서 제2 비교기의 제2 입력단에 제1 데이터 핀을 연결하고, 제4 시간에서 제2 비교기의 제2 입력단에 제2 데이터 핀을 연결하도록 구성된 제2 스위치를 포함한다.
제17 예에서는, 제1-16 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 회로는 선택적으로, 독자적(proprietary) 충전기 검출 회로를 포함하고, 독자적 충전기 검출 회로는, 제1 입력단에서 제3 문턱 전압을 수신하고, 제2 입력단에서 제4 문턱 전압을 수신하고, 공유된(shared) 제3 입력단에서 데이터 핀의 값을 수신하도록 구성된, 윈도우 비교기(window comparator), 및 윈도우 비교기의 제3 입력단과 그라운드 사이에 연결된 제2 전류 소스를 포함한다.
제18 예에서는, 제1-17 예의 하나 또는 그 이상의 충전기 검출 회로는 선택적으로, 제5 시간에서 윈도우 비교기의 제3 입력단에 제1 데이터 핀을 연결하고, 제6 시간에서 윈도우 비교기의 제3 입력단에 제2 데이터 핀을 연결하도록 구성된 제1 스위치를 포함한다.
제19 예에서는, 제1-18 예의 하나 또는 그 이상의 독자적 충전기 검출 회로는 선택적으로, 제5 시간 후의 제1 핀에서의 전압 및 제6 시간 후의 제2 핀에서의 전압이 제3 문턱 전압과 제4 문턱 전압 사이인 경우, 전위 충전기가 DCP 기기임을 나타내는 표시를 제공하도록 구성된다.
제20 예에서는, 제1-19 예의 하나 또는 그 이상의 플로팅 데이터 핀 검출 회로는 선택적으로, 제1 시간 후의 제1 핀에서의 전압 및 제2 시간 후의 제2 핀에서의 전압이 제1 문턱 전압보다 작은 경우, 전위 충전기가 DCP 기기임을 나타내는 표시를 제공하도록 구성된다.
제21 예에서는, 제1-20 예의 하나 또는 그 이상의 플로팅 데이터 핀 검출 회로는 선택적으로, 제1 시간 후의 제1 핀에서의 전압 및 제2 시간 후의 제2 핀에서의 전압이 제1 문턱 전압보다 큰 경우, 전위 충전기가 SDP 기기임을 나타내는 표시를 제공하도록 구성된다.
제22 예에서는, 제1-21 예의 하나 또는 그 이상의 제1 데이터 라인은 선택적으로, USB 호환 포트의 양의 데이터 라인을 포함하고, 제1-12 예의 하나 또는 그 이상의 제2 데이터 라인은 선택적으로, USB 호환 포트의 음의 데이터 라인을 포함한다.
제23 예에서는, 제1-22 예의 하나 또는 그 이상의 임의의 부분의 조합의 일부와 결합될 수 있어, 제1-22 예의 하나 또는 그 이상의 기능을 실행하기 위한 수단을 포함하는 주제를 포함할 수 있고, 또는 기계 장치에 의해 실행되었을 경우, 기계 장치로 하여금 제1-22 예의 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하게 하기 위한 명령어를 포함하는 기계 장치로 읽을 수 있는 매체를 포함할 수 있다.
상술한 상세한 설명은 상세한 설명의 일부를 이루는 첨부 도면에 대한 설명을 포함한다. 도면은, 실례로서, 본 발명의 실시할 수 있는 구체적인 실시례를 나타낸다. 이들 실시례를 여기서는 "실시형태" 또는 "예"라고도 한다. 본 명세서에 언급된 모든 공보, 특허, 및 특허문헌은 인용에 의해 개별적으로 본 명세서에 포함되는 것에 의해, 그 내용 전체가 인용에 의해 본 명세서에 포함된다. 본 명세서와 인용에 의해 포함되는 상기 문헌들 사이에서 사용에 불일치가 있는 경우, 포함된 인용의 구성은 양립할 수 없는 모순이기 때문에, 그 명세서의 부분에 대한 보충으로서 고려될 수 있으며, 그 명세서의 사용은 제한된다.
본 명세서에 언급된 모든 간행물, 특허, 및 특허문헌은 인용에 의해 각기 본 명세서에 포함되는 것처럼, 그 내용 전체는 인용에 의해 여기에 포함된다. 본 명세서와 인용에 의해 포함되는 상기한 문헌들 사이에 사용이 불일치하는 경우, 포함되는 문헌(들)의 용법은 본 명세서의 용법에 대한 보충으로 생각되어야 하며, 양립할 수 없는 불일치의 경우, 본 명세서에서의 사용이 지배한다.
본 명세서에서, "하나"라는 용어는, 특허문헌에 공통인 것처럼, 다른 경우들이나 "적어도 하나" 또는 "하나 이상"의 사례 또는 사용과 관계없이 하나 또는 하나 이상을 포함하기 위해 사용된다. 본 명세서에서, "또는"이라는 용어는 비배타적인 것, 즉 달리 명시되지 않는 한, "A 또는 B"는 "B가 아니라 A", "A가 아니라 B", 그리고 "A 및 B"를 가리키기 위해 사용된다. 또한, 아래의 특허청구범위에서, "포함하는"이라는 용어는 제한을 두지 않는 것이다, 즉, 특허청구범위에서 이 용어 앞에 열거된 것 이외의 요소들을 포함하는 시스템, 소자, 물품, 또는 프로세스가 여전히 특허청구범위 내에 포함되는 것으로 간주한다. 게다가, 아래의 특허청구범위에서 "제1", "제2", 및 "제3" 등의 용어는 단지 라벨로서 사용된 것이고, 그 대상에 수치적 요건을 부가하기 위한 것은 아니다.
본 명세서에 설명된 방법의 예는 적어도 부분적으로 기계 또는 컴퓨터로 구현될 수 있다. 일부의 예는 전술한 예에서 설명된 바와 같은 방법을 수행하도록 전자 장치를 구성하도록 동작할 수 있는 명령으로 인코딩된 컴퓨터 판독 가능 매체 또는 기계 판독 가능 매체를 포함할 수 있다. 이러한 방법의 구현예는 마이크로코드, 어셈블리 랭귀지 코드, 하이레벨 랭귀지 코드 등과 같은 코드를 포함할 수 있다. 이러한 코드는 다양한 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 명령을 포함할 수 있다. 이들 코드는 컴퓨터 프로그램 제품의 일부분을 형성할 것이다. 또한, 이들 코드는 실행 동안에 또는 다른 때에 하나 이상의 휘발성 또는 비휘발성 컴퓨터 판독 가능 매체에 확고하게 저장될 것이다. 컴퓨터 판독 가능 매체는 하드 디스크, 분리 가능한 자기 디스크, 분리 가능한 광디스크(예컨대, 컴팩트 디스크 및 디지털 비디오 디스크), 자기 카세트, 메모리 카드 또는 메모리 스틱, 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독 전용 메모리(ROM) 등을 포함하지만, 이들로 한정되지는 않는다.
이상의 기재는 설명하기 위한 것이고, 한정하려는 것은 아니다. 예를 들면, 전술한 예들(또는 하나 이상의 그 측면들)은 서로 조합하여 사용될 수 있다. 예를 들면 해당 기술분야의 당업자가 이상의 기재를 검토함에 따라, 다른 실시례를 사용할 수 있다. 요약서는 37 C.F.R, §1.72(b)에 따라 독자로 하여금 개시된 기술 내용을 신속하게 알 수 있도록 하기 위해 제공된다. 요약서는 청구항들의 범위 또는 의미를 해석하거나 한정하는 데 사용되지 않을 것이라는 이해를 바탕으로 제출된다. 또한, 이상의 상세한 설명에서, 여러 특징을 함께 그룹으로 묶어 개시내용을 간단하게 할 수 있다. 이것은 청구되지 않은 개시된 특징은 모든 청구항에 필수적임을 의미하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 오히려, 발명의 내용은 특정 개시된 실시례의 모든 특징 이내 있을 수 있다. 따라서, 다음의 특허청구범위는, 개별 실시례인 그 자체에 의거하는 각 청구항과 함께, 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용에 포함되며, 그러한 실시례들은 여러 조합 또는 순열로 서로 조합될 수 있다. 본 발명의 범위는 청구항들의 등가물의 전 범위와 함께, 첨부된 특허청구범위를 참조하여 정해져야 한다.

Claims (12)

  1. 전자 기기의 포트에 연결되어 있는 전위(potential) 충전기를 분류하도록 구성된 충전기 검출 방법에 있어서,
    상기 전자 기기의 USB 호환 포트에 연결되어 있는 상기 전위 충전기를 검출하는 단계;
    각각의 제1 및 제2 데이터 라인 상에 제1 테스트 전압을 제공하기 위하여, 상기 USB 호환 포트의 상기 제1 및 제2 데이터 라인에 풀다운(pull-down) 전류를 인가하는 단계; 및
    각각의 상기 제1 및 제2 데이터 라인 상의 상기 제1 테스트 전압이 제1 문턱 전압과 제2 문턱 전압 사이에 있지 않은 경우, USB 배터리 충전 1.2 준수 계획(USB Battery Charging 1.2 Compliance Plan)의 제1 검출 프로세스를 실행하는 단계
    를 포함하는, 충전기 검출 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 풀다운 전류를 사용하여, 각각의 상기 제1 및 제2 데이터 라인 상의 상기 제1 테스트 전압이 상기 제1 문턱 전압과 상기 제2 문턱 전압 사이에 있는 경우, 상기 전위 충전기를 전용 충전 포트(DCP: Dedicated Charging Port)로 분류하는 단계
    를 포함하는, 충전기 검출 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제2 데이터 라인에 제3 전압을 공급하기 위하여 제2 테스트 전압을 상기 제1 데이터 라인에 연결하는 단계;
    제1 지연 간격(delay interval)을 지연시키는 단계;
    상기 제1 지연 간격의 종료 후, 상기 제2 데이터 라인 상의 전압이 제1 테스트 윈도우 외부에 있는지를 검출하는 단계;
    제1 및 제2 풀업(pull-up) 전압을 각각 상기 제1 및 제2 데이터 라인 상에 제공하기 위하여 상기 제1 및 제2 데이터 라인에 하나 이상의 풀업 저항을 각각 연결하는 단계; 및
    상기 제1 및 제2 풀업 전압을 제3 문턱 전압과 비교하는 단계
    를 포함하는, 충전기 검출 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 풀업 전압 또는 상기 제2 풀업 전압이 상기 제3 문턱 전압보다 작은 경우, 상기 전위 충전기를 SDP로 분류하는 단계
    를 포함하는, 충전기 검출 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 풀업 전압 또는 상기 제2 풀업 전압이 상기 제3 문턱 전압보다 큰 경우,
    상기 충전기 검출 방법은,
    제3 테스트 전압을 상기 제1 데이터 라인에 공급하고 제4 테스트 전압을 상기 제2 데이터 라인에 공급하기 위하여, 제1 및 제2 전류 싱크(sinks)를 상기 제1 및 제2 데이터 라인에 각각 연결하는 단계
    를 포함하는, 충전기 검출 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제3 테스트 전압이 제5 문턱 전압보다 작고, 상기 제4 테스트 전압이 상기 제5 문턱 전압보다 작은 경우, 상기 전위 충전기를 DCP 기기로 분류하는 단계; 및
    상기 제3 테스트 전압이 제5 문턱 전압보다 크고, 상기 제4 테스트 전압이 상기 제5 문턱 전압보다 큰 경우, 상기 전위 충전기를 SDP 기기로 분류하는 단계
    를 포함하는, 충전기 검출 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 지연 간격의 종료 후, 상기 제2 데이터 라인 상의 상기 제3 전압이 제1 테스트 윈도우 내부인지를 검출하는 단계;
    상기 제1 데이터 라인에 제5 전압을 제공하기 위하여, 제4 테스트 전압을 상기 제2 데이터 라인에 연결하는 단계;
    제2 지연 간격을 지연시키는 단계; 및
    상기 제5 전압을 제2 테스트 전압 범위와 비교하는 단계
    를 포함하는, 충전기 검출 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제5 전압이 상기 제2 테스트 전압 범위 외부이면, 상기 전위 충전기를 DCP 기기로 분류하는 단계; 및
    상기 제5 전압이 상기 제2 테스트 전압 범위 내부이면, 상기 전위 충전기를 CDP 기기로 분류하는 단계
    를 포함하는, 충전기 검출 방법.
  9. USB 호환 포트를 통하여 전위(potential) 충전기에 연결되어, 상기 전위 충전기의 분류의 표시를 제공하기 위한, USB 배터리 충전 1.2 준수 계획(USB Battery Charging 1.2 Compliance Plan)을 따르는 충전기 검출 회로에 있어서,
    상기 충전기 검출 회로는,
    제1 입력단에서 제1 문턱 전압을 수신하고, 제2 입력단에서 데이터 핀의 값을 수신하도록 구성된 제1 비교기; 및
    상기 제1 비교기의 상기 제2 입력단과 그라운드 사이에 연결되어 있는 제1 전류 소스
    를 포함하는 플로팅(floating) 데이터 핀(pin) 검출 회로; 및
    제1 입력단에서 제2 문턱 전압을 수신하고, 제2 입력단에서 데이터 핀의 값을 수신하도록 구성된 제2 비교기; 및
    상기 제2 비교기의 상기 제2 입력단과 파워 레일(power rail) 사이에 연결되어 있는 풀업(pull-up) 저항
    을 포함하는 표준 다운스트림 포트(SDP: Standard Downstream Port) 검출 회로
    를 포함하는, 충전기 검출 회로.
  10. 제9항에 있어서,
    제1 시간에서 상기 제1 비교기의 상기 제2 입력단에 제1 데이터 핀을 연결하고, 제2 시간에서 상기 제1 비교기의 상기 제2 입력단에 제2 데이터 핀을 연결하도록 구성된 제1 스위치; 및
    제3 시간에서 상기 제2 비교기의 상기 제2 입력단에 제1 데이터 핀을 연결하고, 제4 시간에서 상기 제2 비교기의 상기 제2 입력단에 제2 데이터 핀을 연결하도록 구성된 제2 스위치
    를 포함하는, 충전기 검출 회로.
  11. 제10항에 있어서,
    독자적(proprietary) 충전기 검출 회로를 포함하고,
    상기 독자적 충전기 검출 회로는,
    제1 입력단에서 제3 문턱 전압을 수신하고, 제2 입력단에서 제4 문턱 전압을 수신하고, 공유된(shared) 제3 입력단에서 데이터 핀의 값을 수신하도록 구성된, 윈도우 비교기(window comparator); 및
    상기 윈도우 비교기의 상기 제3 입력단과 그라운드 사이에 연결된 제2 전류 소스
    를 포함하는, 충전기 검출 회로.
  12. 제11항에 있어서,
    제5 시간에서 상기 윈도우 비교기의 상기 제3 입력단에 제1 데이터 핀을 연결하고, 제6 시간에서 상기 윈도우 비교기의 상기 제3 입력단에 제2 데이터 핀을 연결하도록 구성된 제1 스위치
    를 포함하고,
    상기 독자적 충전기 검출 회로는, 상기 제5 시간 후의 상기 제1 핀에서의 전압 및 상기 제6 시간 후의 상기 제2 핀에서의 전압이 상기 제3 문턱 전압과 상기 제4 문턱 전압 사이인 경우, 상기 전위 충전기가 DCP 기기임을 나타내는 표시를 제공하도록 구성되고,
    상기 플로팅 데이터 핀 검출 회로는, 상기 제1 시간 후의 상기 제1 핀에서의 전압 및 상기 제2 시간 후의 상기 제2 핀에서의 전압이 상기 제1 문턱 전압보다 작은 경우, 상기 전위 충전기가 DCP 기기임을 나타내는 표시를 제공하도록 구성되고,
    상기 플로팅 데이터 핀 검출 회로는, 상기 제1 시간 후의 상기 제1 핀에서의 전압 및 상기 제2 시간 후의 상기 제2 핀에서의 전압이 상기 제1 문턱 전압보다 큰 경우, 상기 전위 충전기가 SDP 기기임을 나타내는 표시를 제공하도록 구성되는, 충전기 검출 회로.
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