KR20120139564A - 화상 처리 장치, 전기 광학 장치, 전자 기기 및 화상 처리 방법 - Google Patents

Abstract

보정값의 기억에 필요한 기억 용량을 삭감하면서 계조 불균일을 유효하게 방지한다.
X 방향으로 서로 간격을 두고 설정된 복수의 기준 위치의 보정값에 기초하여, 서로 인접하는 2개의 기준 위치 간의 보완 보정값을 산출하고, X 방향의 각 위치에 대응하는 화소의 계조값을 그 위치의 보간 보정값에 따라 보정한다.

Description

화상 처리 장치, 전기 광학 장치, 전자 기기 및 화상 처리 방법{IMAGE PROCESSING DEVICE, ELECTRO-OPTIC DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND IMAGE PROCESSING METHOD}

본 발명은, 복수의 화소를 이용하여 표시되는 화상의 계조 불균일을 억제하는 기술에 관한 것이다.

도 12에 나타낸 바와 같이, X 방향으로 연장되는 복수의 주사선(12)과 Y 방향으로 연장되는 복수의 신호선(14)의 각 교차에 대응하여 복수의 화소(P)가 행렬 형상으로 배열된 전기 광학 장치가 종래부터 제안되어 있다. 복수의 신호선(14)은, 소정의 개수마다 복수의 블록 B로 구분된다. 각 화소(P)에 지정된 계조값에 따른 화상 신호가 블록 B마다 시분할로 각 신호선(14)에 공급된다.

이상과 같이 각 신호선(14)에 대하여 블록 B마다 시분할로 화상 신호를 공급하는 구성에서는, 서로 인접하는 블록 B의 경계선에 대응하는 종선(縱線) 형상의 계조 불균일(이하, 「종선 불균일」이라고 함)이 발생한다고 하는 문제가 있다. 특허문헌 1에는, 각 블록 B의 양단의 신호선(14)에 공급되는 화상 신호를 보정함으로써 종선 불균일을 억제하는 기술이 개시되어 있다.

일본 특허 출원 공개 제2006-47971호 공보

그런데, 화상 신호의 전송 거리(화상 신호의 입력단으로부터 각 신호선까지의 거리)나 각 신호선(14)에 대한 화상 신호의 공급 지점은 블록 B마다 상위하기 때문에, 블록 B 간의 종선 불균일의 정도는 X 방향의 위치에 따라 상위하다. 그러나, 특허문헌 1의 기술에서는, 각 신호선(14)의 화상 신호의 보정에 적용되는 보정값이 복수의 블록 B에 대해서 공통되기 때문에, X 방향의 위치에 따른 종선 불균일의 상위를 충분히 보상할 수 없다고 하는 문제가 있다.

각 신호선(14)에 공급되는 화상 신호를 개별로 보정할 수 있도록 신호선(14)마다의 보정값을 기억 회로에 유지해 두는 구성도 상정될 수 있지만, 보정값의 기억에 필요한 기억 용량이 증가한다고 하는 문제가 있다. 또한, 이상의 설명에서는 블록 B마다 시분할로 화상 신호를 각 신호선에 공급하는 경우를 예시했지만, 예를 들면, 각 블록 B 내의 복수의 신호선(14) 각각에 순차적으로 화상 신호를 공급하는 처리를 복수의 블록 B에 대해서 병렬로 실행하는 구성에서도 마찬가지로 블록 B 단위의 종선 불균일은 발생할 수 있다. 이상의 사정을 고려하여, 본 발명은, 보정값의 기억에 필요한 기억 용량을 삭감하면서 계조 불균일을 유효하게 방지하는 것을 목적으로 한다.

이상의 과제를 해결하기 위해서, 본 발명의 전기 광학 장치는, 서로 교차하는 제1 방향(예를 들면, X 방향) 및 제2 방향을 따라 전기 광학 장치의 화소부 내에 행렬 형상으로 배열된 복수의 화소 각각의 계조값을 지정하는 화상 신호를 생성하는 화상 처리 장치로서, 제1 방향으로 서로 간격을 두고 설정된 복수의 기준 위치의 각각의 보정값을 취득하는 보정값 취득 수단과, 서로 인접하는 2개의 기준 위치에 대해서 보정값 취득 수단이 취득한 보정값을 보간함으로써 2개의 기준 위치 사이의 각 위치의 보정값을 산정하는 보간 수단과, 제1 방향의 각 위치에 대응하는 화소의 계조값을 그 위치의 보정값에 따라 보정하는 보정 수단을 구비한다. 이상의 구성에 따르면, 제1 방향의 각 위치에 대해서 개별로 보정값이 생성되기 때문에, 종선 불균일 등의 계조 불균일의 정도가 제1 방향의 위치에 따라 상위하는 경우에도, 각 위치의 계조 불균일을 유효하게 저감하여 균일한 표시를 실현하는 것이 가능하다. 또한, 2개의 기준 위치의 보정값을 보간함으로써 기준 위치 간의 각 위치의 보정값이 산정되기 때문에, 보정값의 유지에 필요한 기억 용량이 삭감된다고 하는 이점도 있다.

본 발명의 바람직한 양태의 전기 광학 장치는, 복수의 기준 위치 중의 제1 기준 위치에 대해서 보정값을 기억하고, 제1 기준 위치 이외의 제2 기준 위치에 대해서 제1 기준 위치의 보정값을 기준으로 하는 상대값을 기억하는 기억 수단을 구비하고, 보정값 취득 수단은, 기억 수단에 기억된 상대값과 제1 기준 위치의 보정값으로부터 제2 기준 위치의 보정값을 산정한다. 이상의 양태에서는, 제2 기준 위치의 보정값이 제1 기준 위치의 보정값에 대한 상대값으로서 기억 수단에 기억되기 때문에, 예를 들면 제1 기준 위치의 보정값을 변경함으로써, 각 기준 위치의 보정값을 일괄적으로 변경할 수 있다고 하는 이점이 있다.

본 발명의 전기 광학 장치는, 서로 교차하는 제1 방향 및 제2 방향을 따라 행렬 형상으로 배치된 복수의 화소를 포함하는 화소부와, 각 화소의 계조값을 지정하는 화상 신호를 생성하는 이상의 각 양태의 화상 처리 회로와, 화상 처리 회로가 생성한 화상 신호에 따라 각 화소를 구동하는 구동 회로를 구비한다. 따라서, 본 발명의 화상 처리 장치와 동일한 작용 및 효과가 실현된다. 본 발명의 전기 광학 장치는, 화상을 표시하는 표시체로서 각종의 전자 기기(예를 들면, 휴대 전화기나 투사형 표시 장치)에 탑재될 수 있다.

전기 광학 장치의 각 화소의 계조값을 지정하는 화상 신호를 생성하는 화상 처리 방법으로서도 본 발명은 실현될 수 있다. 본 발명의 화상 처리 방법은, 제1 방향으로 서로 간격을 두고 설정된 복수의 기준 위치의 각각의 보정값을 취득하고, 서로 인접하는 2개의 기준 위치에 대해서 취득한 보정값을 보간함으로써 2개의 기준 위치 사이의 각 위치의 보정값을 산정하여, 제1 방향의 각 위치에 대응하는 화소의 계조값을 그 위치의 보정값에 따라 보정한다. 이상의 화상 처리 방법에 의해서도 본 발명의 화상 처리 장치와 동일한 작용 및 효과가 실현된다.

도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 전기 광학 장치의 블록도.
도 2는 화소의 회로도.
도 3은 전기 광학 장치의 동작의 타이밍 차트.
도 4는 신호선 구동 회로의 블록도.
도 5는 화상 처리 회로의 블록도.
도 6은 보정 처리 회로의 블록도.
도 7은 기억 회로의 기억 내용 및 보간 처리의 설명도.
도 8은 제2 실시 형태에 있어서의 기억 회로의 기억 내용 및 보간 처리의 설명도.
도 9는 전자 기기의 형태(퍼스널 컴퓨터)를 도시하는 사시도.
도 10은 전자 기기의 형태(휴대 전화기)를 도시하는 사시도.
도 11은 전자 기기의 형태(투사형 표시 장치)를 도시하는 사시도.
도 12는 배경 기술에 있어서의 문제점을 설명하기 위한 블록도.

<A : 제1 실시 형태>

도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 전기 광학 장치(100)의 블록도이다. 전기 광학 장치(100)는, 화상을 표시하는 표시체로서 다양한 전자 기기에 탑재되는 액정 장치이다. 도 1에 나타낸 바와 같이, 전기 광학 장치(100)는, 복수의 화소(화소 회로)(P)가 평면 형상으로 배열된 화소부(10)와, 상위 장치로부터 공급되는 화상 데이터 DA를 처리함으로써 K계통(K는 2 이상의 자연수)의 화상 신호 V[1]?V[K]를 생성하는 화상 처리 회로(20)와, 화소부(10) 내의 각 화소(P)를 구동하는 구동 회로(30)를 구비한다. 구동 회로(30)는, 주사선 구동 회로(32)와 신호선 구동 회로(34)를 포함하여 구성된다.

화소부(10)에는, X 방향으로 연장되는 M개의 주사선(12)과 Y 방향으로 연장되는 N개의 신호선(14)이 형성된다(M, N은 자연수). 복수의 화소(P)는, 각 주사선(12)과 각 신호선(14)의 교차에 대응한 위치에 배치되어, 서로 교차하는 X 방향 및 Y 방향을 따라 세로 M행×가로 N열의 행렬 형상으로 배열된다. 도 1에 나타낸 바와 같이, 화소부(10) 내의 N개의 신호선(14)은, 화상 신호 V[1]?V[K]의 총 수에 상당하는 K개를 단위로 하여 Q개(Q=N/K)의 블록 B[1]?B[Q]로 구분된다.

도 2는 각 화소(P)의 회로도이다. 도 2에 나타낸 바와 같이, 각 화소(P)는, 액정 소자(42)와 선택 스위치(44)를 포함하여 구성된다. 액정 소자(42)는, 서로 대향하는 화소 전극(421) 및 공통 전극(423)과 양쪽 전극 사이의 액정(425)으로 구성되는 전기 광학 소자이다. 화소 전극(421)은 화소(P)마다 서로 간격을 두고 형성되고, 공통 전극(423)은 복수의 화소(P)에 걸쳐 연속적으로 분포된다. 화소 전극(421)과 공통 전극(423) 사이의 인가 전압에 따라 액정(425)의 배향을 제어함으로써 액정 소자(42)의 투과율(표시 계조)이 변화된다. 선택 스위치(44)는, 예를 들면 박막 트랜지스터로 구성되고, 주사선(12)의 선택 시에 온 상태로 천이함으로써 화소 전극(421)과 신호선(14)을 도통시킨다. 또한, 액정 소자(42)에 병렬로 접속되는 보조 용량 등의 도시는 생략했다. 또한, 화소(P)의 구성은 적절히 변경될 수 있다.

도 1의 주사선 구동 회로(32)는, 각 주사선(12)에 주사 신호 G[1]?G[M]을 공급함으로써 M개의 주사선(12)의 각각을 수평 주사 기간 H마다 순차적으로 선택한다. 도 3에 나타낸 바와 같이, 제m 행(m=1?M)의 주사선(12)에 공급되는 주사 신호 G[m]은, 각 수직 주사 기간 F 내의 M개의 수평 주사 기간 H 중 제m번째의 수평 주사 기간 H에서 액티브 레벨(주사선(12)의 선택을 의미하는 전위)로 설정된다. 주사선 구동 회로(32)가 제m 행의 주사선(12)을 선택하면, 제m 행의 N개의 화소(P)의 선택 스위치(44)가 온 상태로 천이한다.

도 4는 신호선 구동 회로(34)의 블록도이다. 도 4에 나타낸 바와 같이, 신호선 구동 회로(34)와 화상 처리 회로(20)는, K개의 화상 신호선(L[1]?L[K])에 의해 서로 접속된다. 화상 처리 회로(20)가 생성하는 화상 신호 V[k]는 화상 신호선(L[k])을 통해서 신호선 구동 회로(34)에 공급된다. 신호선 구동 회로(34)는, 화상 처리 회로(20)로부터 공급되는 화상 신호 V[1]?V[K]를 주사선 구동 회로(32)에 의한 주사선(12)의 선택에 동기하여 순차적으로 취득해서 N개의 신호선(14)의 각각에 계조 신호 S로서 공급한다.

도 4에 나타낸 바와 같이, 신호선 구동 회로(34)는, 선택 회로(52)와 출력 회로(54)를 구비한다. 선택 회로(52)는, 블록 B[1]?B[Q]의 총 수에 상당하는 Q계통의 선택 신호 SEL[1]?SEL[Q]를 생성한다. 도 3에 나타낸 바와 같이, 선택 신호 SEL[1]?SEL[Q]는, 각 수평 주사 기간 H 내에서 순서대로 액티브 레벨(블록 B[1]?B[Q]의 각각의 선택을 의미하는 전위)로 설정된다.

도 4의 출력 회로(54)는, 블록 B[1]?B[Q]의 총 수에 상당하는 Q개의 단위 회로(56[1]?56[Q])를 구비한다. 각 단위 회로(56[q])(q=1?Q)는, 화상 신호 V[1]?V[K]의 총 수에 상당하는 K개의 스위치(58[1]?58[K])를 포함하여 구성된다. 단위 회로(56[q]) 내의 제k번째의 스위치(58[k])는, 블록 B[q] 내의 제k열째의 신호선(14)과 화상 신호선(L[k]) 사이에 개재해서 양자의 전기적인 접속(도통/비도통)을 제어한다. 선택 회로(52)로부터 공급되는 선택 신호 SEL[q]가 액티브 레벨로 설정되면, 단위 회로(56[q]) 내의 K개의 스위치(58[1]?58[K])가 동시에 온 상태로 천이한다. 따라서, 화상 신호선(L[k])에 공급되는 화상 신호 V[k]는, 수평 주사 기간 H 중 선택 신호 SEL[q]가 액티브 레벨로 되는 기간에서 단위 회로(56[q]) 내의 스위치(58[k])를 경유하여 블록 B[q] 내의 제k열째의 신호선(14)에 계조 신호 S로서 공급된다.

도 1의 화상 처리 회로(20)는, 각 화소(P)의 계조값 G를 지정하는 디지털의 화상 데이터 DA로부터 K계통의 화상 신호 V[1]?V[K]를 생성한다. 도 5는 화상 처리 회로(20)의 블록도이다. 도 5에 나타낸 바와 같이, 화상 처리 회로(20)는, S/P(Serial to Parallel) 변환 회로(22)와 보정 처리 회로(24)와 D/A(Digital to Analog) 변환 회로(26)와 극성 제어 회로(28)를 구비한다. S/P 변환 회로(22)는, 화상 데이터 DA를 K계통으로 분배함과 동시에 시간축 상에서 K배로 신장하는 상 전개(S/P 변환)로 K계통의 화상 데이터 DB[1]?DB[K]를 생성한다.

보정 처리 회로(24)는, S/P 변환 회로(22)가 생성한 K계통의 화상 데이터 DB[1]?DB[K]의 각각을 보정함으로써 K계통의 화상 데이터 DC[1]?DC[K]를 생성한다. D/A 변환 회로(26)는, 보정 처리 회로(24)에 의한 처리 후의 K계통의 화상 데이터 DC[1]?DC[K]의 각각을 아날로그 화상 신호 VA[1]?VA[K]로 변환한다.

극성 제어 회로(28)는, D/A 변환 회로(26)에 의한 처리 후의 K계통의 화상 신호 VA[1]?VA[K]의 각각의 극성을 소정의 기준 전위(VC)(예를 들면, 공통 전극(423)의 전위)를 기준으로 하여 제어함으로써 K계통의 화상 신호 V[1]?V[K]를 생성한다. 도 3에 나타낸 바와 같이, 화상 신호 V[k]의 극성은, 기준 전위(VC)의 고위측을 의미하는 정극성과 기준 전위(VC)의 저위측을 의미하는 부극성 사이에서 수직 주사 기간 F마다 반전된다(프레임 반전). 또한, 각 화상 신호 V[k]의 극성을 수평 주사 기간 H마다 반전시키는 구성(라인 반전)이나 X 방향 및 Y 방향의 인접하는 화소(P)에 의해 극성을 반전시키는 구성(도트 반전)도 채용될 수 있다. 또한, S/P 변환 회로(22)와 보정 처리 회로(24)와 D/A 변환 회로(26)와 극성 제어 회로(28)에 의한 처리의 순서는 적절히 변경된다.

도 6은 보정 처리 회로(24)의 블록도이다. 도 6에 나타낸 바와 같이, 보정 처리 회로(24)는, 기억 회로(62)와 보정값 취득 회로(64)와 보간 회로(66)와 보정 회로(68)를 포함하여 구성된다. 기억 회로(62)는, 예를 들면 ROM(Read Only Memory)이나 EPROM(Erasable Programmable ROM) 등의 불휘발성 메모리로 구성되며, 도 7에 나타낸 바와 같이, 화소부(10)에 있어서 X 방향으로 서로 간격을 두고 설정된 H개(H는 2이상의 자연수)의 기준 위치(R)에 대응하는 보정값 A[1]?A[H]를 기억한다. 보정값 A[1]?A[H]의 개수 H는 신호선(14)의 개수 N을 하회한다. 예를 들면 화소부(10)를 X 방향으로 H 등분한 영역마다 보정값 A가 준비된다.

도 6의 보정값 취득 회로(64)는, 각 기준 위치(R)에 대응하는 H개의 보정값 A[1]?A[H]를 기억 회로(62)로부터 취득한다. 보간 회로(66)는, 보정값 취득 회로(64)가 취득한 H개의 보정값 A[1]?A[H]로부터, 화소부(10) 내에 있어서의 X 방향의 각 위치에 대응하는 N개(각 열의 신호선(14)에 대응하는 N개)의 보정값 α[1]?α[N]을 생성한다. 구체적으로는, 보간 회로(66)는, X 방향으로 인접하는 2개의 기준 위치(R) 사이의 각 신호선(14)의 보정값 α[n]을, 그 위치의 양측의 각 기준 위치(R)에 대해서 보정값 취득 회로(64)가 취득한 2개의 보정값 A[h](h=1?H)를 보간함으로써 산정한다. 보정값 A[h]의 보간에는, 직선 보간 등의 공지의 보간 연산이 임의로 채용된다. 기준 위치(R)에 대응하는 각 신호선(14)의 보정값 α[n]은, 그 기준 위치(R)에 대해서 보정값 취득 회로(64)가 취득한 보정값 A[h]로 설정된다.

도 6의 보정 회로(68)는, 화소부(10) 내의 제n 열의 화소(P)에 대해서 화상 데이터 DB[k]가 지정하는 계조값 G를, 보간 회로(66)가 제n 열에 대해서 산정한 보정값 α[n]에 따라 보정하고, 보정 후의 계조값 G를 나타내는 화상 데이터 DC[k](DC[1]?DC[K])를 출력한다. 보정 회로(68)에 의한 보정 후의 화상 데이터 DC[1]?DC[K]가 D/A 변환 회로(26)에 공급된 후에 화상 신호 V[1]?V[K]의 생성에 이용된다.

구체적으로는, 보정 회로(68)는, 화상 신호 V[k](계조 신호 S)가 정극성으로 설정되는 수직 주사 기간 F에서는 화상 데이터 DB[k]가 나타내는 계조값 G에 보정값 α[n]을 가산하고, 화상 신호 V[k]가 부극성으로 설정되는 수직 주사 기간 F에서는 화상 데이터 DB[k]가 나타내는 계조값 G로부터 보정값 α[n]을 감산한다. 따라서, 도 3에 나타내는 바와 같이, 보정값 α[n]이 양수(+)일 경우, 화상 신호 V[k]의 극성(정극성/부극성)에 상관없이, 화상 신호 V[k]의 전위는 비보정시(α[n]=0)보다도 고위측으로 변화하고, 보정값 α[n]이 음수(-)인 경우, 화상 신호 V[k]의 극성에 상관없이, 화상 신호 V[k]의 전위는 비보정시보다도 저위측으로 변화한다.

보정 회로(68)는, K계통의 화상 데이터 DB[1]?DB[K]의 각각에 대해서 보정의 유무를 개별로 설정하는 것이 가능하다. 예를 들면, 전술의 특허문헌 1에 개시되는 바와 같이 각 블록 B[q]의 경계선에 대응하는 종선 불균일이 발생하는 경우, S/P 변환 회로(22)로부터 공급되는 K계통의 화상 데이터 DB[1]?DB[K] 중 제1 계통의 화상 데이터 DB[1]과 제K 계통의 화상 데이터 DB[K]에 대해서 보정값 α[n]을 적용한 보정이 실행된다. 화소부(10) 내의 전부의 화소(P)에 화상 데이터 DA로 공통의 계조값 G를 지정함과 동시에 보정값 α[1]?α[N]에 의한 보정 후의 화상 신호 V[1]?V[K]를 신호선 구동 회로(34)에 공급한 경우의 각 화소(P)의 표시 계조가 균일화되도록(구체적으로는 각 화소(P)의 표시 계조의 차이가 소정의 범위 내에 들어감), 예를 들면 전기 광학 장치(100)의 출하 전에 각 기준 위치(R)의 H개의 보정값 A[1]?A[H]가 실험적 또는 통계적으로 선정된 다음 기억 회로(62)에 저장된다.

이상에 설명한 제1 실시 형태에서는, 화소부(10) 내의 X 방향의 각 위치에 대해서 개별로 보정값 α[n]이 산정되기 때문에, 종선 불균일 등의 계조 불균일의 정도가 X 방향의 위치마다 상위하는 경우에도, 각 위치의 계조 불균일을 유효하게 저감하여 균일한 표시를 실현하는 것이 가능하다. 또한, 기억 회로(62)에 저장된 H개의 보정값 A[1]?A[H]의 보간에 의해 화소부(10) 내의 열마다의 보정값 α[1]?α[N]이 산정되기 때문에, 예를 들면 각 열에 대응하는 N개의 보정값 α[1]?α[N]을 기억 회로(62)에 저장하는 구성과 비교하여, 기억 회로(62)에 필요한 기억 용량이 삭감된다. 즉, 제1 실시 형태에 따르면, 기억 회로(62)의 기억 용량의 삭감과 계조 불균일의 저감을 높은 수준에서 양립할 수 있다고 하는 이점이 있다.

<B : 제2 실시 형태>

본 발명의 제2 실시 형태를 이하에 설명한다. 또한, 이하에 예시하는 각 양태에 있어서 작용이나 기능이 제1 실시 형태와 동일한 요소에 대해서는, 이상의 설명에서 참조한 부호를 사용하여 각각의 설명을 적절하게 생략한다.

도 8은 제2 실시 형태의 기억 회로(62)에 의한 기억 내용의 설명도이다. 화소부(10) 내의 X 방향으로 배열되는 H개의 기준 위치(R)는, H개로부터 선택된 1개의 기준 위치(이하, 「제1 기준 위치」라고 함)(R1)와 잔여의 (H-1)개의 기준 위치(이하, 「제2 기준 위치」라고 함)(R2)로 구분된다. 제1 기준 위치(R1)는, 예를 들면 화소부(10) 내의 X 방향에 있어서의 중점이다. 제1 기준 위치(R1)에 대해서는 그 제1 기준 위치(R1)의 보정값 A0이 기억 회로(62)에 저장되고, 예를 들면 외부로부터의 지시에 따라 변경된다. 한편, H개의 기준 위치(R) 중 (H-1)개의 제2 기준 위치(R2) 각각에 대해서는, 제1 기준 위치(R1)의 보정값 A0를 기준으로 한 보정값 A[h]의 상대값(차분값) δA가 기억 회로(62)에 기억된다.

보정값 취득 회로(64)는, 제1 기준 위치(R1)의 보정값 A0과 각 제2 기준 위치(R2)의 상대값 δA를 이용하여 각 기준 위치(R)(R1, R2)의 H개의 보정값 A[1]?A[H]를 생성한다. 구체적으로는, 보정값 취득 회로(64)는, (H-1)개의 제2 기준 위치(R2)의 각각에 대해서, 기억 회로(62)에 기억된 그 제2 기준 위치(R2)의 상대값 δA와 제1 기준 위치(R1)의 보정값 A0을 가산함으로써 보정값 A[h](A[h]=A0+δA)를 산정한다. 제1 기준 위치(R1)에 대해서는 기억 회로(62)에 기억된 보정값 A0이 보정값 A[h]로서 확정된다. 보간 회로(66)는, 이상의 수순으로 생성된 H개의 보정값 A[1]?A[H]를 이용하여 제1 실시 형태와 동일한 방법으로 N개의 보정값 α[1]?α[N]을 생성한다. 보정 회로(68)의 동작은 제1 실시 형태와 동일하다.

제2 실시 형태에 있어서도 제1 실시 형태와 마찬가지의 효과가 실현된다. 또한, 제1 실시 형태에서는, 각 기준 위치(R)에 대응하는 H개의 보정값 A[1]?A[H]를 동일한 변화량만 변경하는 경우에, 기억 회로(62)에 기억된 H개의 보정값 A[1]?A[H]의 전부를 변경할 필요가 있다. 제2 실시 형태에서는, 제1 기준 위치(R1)의 보정값 A0을 기준으로 한 보정값 A[h]의 상대값 δA가 각 제2 기준 위치(R2)에 대해서 기억 회로(62)에 기억되기 때문에, 제1 기준 위치(R1)의 보정값 A0를 변경하면, (H-1)개의 제2 기준 위치(R2)에 대해서는 기억 회로(62)의 기억 내용을 변경할 필요가 없다. 따라서, 제2 실시 형태에 따르면, 각 기준 위치(R)의 보정값 A[1]?A[H]의 변경이 제1 실시 형태와 비교하여 용이하다고 하는 이점이 있다.

<C : 변형예>

이상의 각 형태는 다양하게 변형될 수 있다. 구체적인 변형의 양태를 이하에 예시한다. 이하의 예시로부터 임의로 선택된 2 이상의 양태는 서로 모순되지 않는 한 적절하게 병합될 수 있다.

(1) 전술한 각 형태에서는, 신호선(14)에 대한 계조 신호 S의 공급을 블록 B[q]마다 시분할로 실행했지만, 신호선 구동 회로(34)의 구성(각 신호선(14)에 대한 계조 신호 S의 공급의 방법)은 적절히 변경된다. 예를 들면 일본 특허 출원 공개 제2010-91967호 공보에 개시되는 바와 같이 각 블록 B[q]의 K개의 신호선(14) 의 각각에 계조 신호 S를 시분할로 공급하는 처리를 Q개의 블록 B[1]?B[Q]에 대해서 병렬로 실행하는 구성이나, 신호선 구동 회로(34)가 블록 B[q]마다 별개의 IC 칩으로서 실장된 구성에서도, 블록 B[q]마다의 주기적인 종선 불균일이 발생할 수 있기 때문에, 본 발명을 마찬가지로 적용하는 것이 가능하다.

(2) 전술한 각 형태에서는, X 방향으로 등간격으로 H개의 기준 위치(R)를 설정했지만, 각 기준 위치(R)의 선정의 방법이나 개수는 임의이다. 예를 들면, 서로 인접하는 2개의 기준 위치(R)의 간격이 X 방향의 위치에 따라 상위하도록 H개의 기준 위치(R)를 설정하는(H개의 기준 위치를 불균등하게 분포시키는) 것도 가능하다.

(3) 액정 소자(42)는 전기 광학 소자의 예시에 불과하다. 본 발명에 적용되는 전기 광학 소자에 대해서, 자신이 발광하는 자발광형과 외광의 투과율이나 반사율을 변화시키는 비발광형(예를 들면, 액정 소자)의 구별이나, 전류의 공급에 의해 구동되는 전류 구동형과 전계(전압)의 인가에 의해 구동되는 전압 구동형의 구별은 필요하지 않다. 예를 들면, 유기 EL 소자, 무기 EL 소자, LED(Light Emitting Diode), 전계 전자 방출 소자(FE(Field-Emission) 소자), 표면 전도형 전자 방출 소자(SE(Surface conduction Electron emitter) 소자), 탄도 전자 방출 소자(BS(Ballistic electron Emitting) 소자), 전기 영동 소자, 일렉트로크로믹 소자 등 다양한 전기 광학 소자를 이용한 전기 광학 장치(100)에 본 발명은 적용된다. 즉, 전기 광학 소자는, 전류의 공급이나 전압(전계)의 인가라고 하는 전기적인 작용에 따라 계조(투과율이나 휘도 등의 광학적인 특성)가 변화하는 전기 광학 물질(예를 들면, 액정)을 이용한 피구동 소자(전형적으로는, 계조 신호 S에 따라 계조가 제어되는 표시 소자)로서 포괄된다.

<D : 응용예>

이상의 각 형태로 예시한 전기 광학 장치(100)는, 각종의 전자 기기에 이용될 수 있다. 도 9 내지 도 11에는, 전기 광학 장치(100)를 채용한 전자 기기의 구체적인 형태가 예시되어 있다.

도 9는 전기 광학 장치(100)를 채용한 가반형의 퍼스널 컴퓨터의 사시도이다. 퍼스널 컴퓨터(2000)는, 각종의 화상을 표시하는 전기 광학 장치(100)와, 전원 스위치(2001)나 키보드(2002)가 설치된 본체부(2010)를 구비한다.

도 10은 전기 광학 장치(100)를 적용한 휴대 전화기의 사시도이다. 휴대 전화기(3000)는, 복수의 조작 버튼(3001) 및 스크롤 버튼(3002)과, 각종의 화상을 표시하는 전기 광학 장치(100)를 구비한다. 스크롤 버튼(3002)을 조작함으로써, 전기 광학 장치(100)에 표시되는 화면이 스크롤된다.

도 11은 전기 광학 장치(100)를 적용한 투사형 표시 장치(3판식의 프로젝터)(4000)의 모식도이다. 투사형 표시 장치(4000)는, 상이한 표시색(적색, 녹색, 청색)에 대응하는 3개의 전기 광학 장치(100)(100R, 100G, 100B)를 포함하여 구성된다. 조명 광학계(4001)는, 조명 장치(광원)(4002)로부터의 출사광 중 적색 성분(r)을 전기 광학 장치(100R)에 공급하고, 녹색 성분(g)을 전기 광학 장치(100G)에 공급하고, 청색 성분(b)을 전기 광학 장치(100B)에 공급한다. 각 전기 광학 장치(100)는, 조명 광학계(4001)로부터 공급되는 각 단색광을 표시 화상에 따라 변조하는 광 변조기(라이트 밸브)로서 기능한다. 투사 광학계(4003)는, 각 전기 광학 장치(100)로부터의 출사광을 합성해서 투사면(4004)에 투사한다.

또한, 본 발명에 따른 전기 광학 장치(100)가 적용되는 전자 기기로서는, 도 9 내지 도 11에 예시한 기기 외에, 휴대 정보 단말기(PDA: Personal Digital Assistants), 디지털 스틸 카메라, 텔레비전, 비디오 카메라, 카 내비게이션 장치, 차량 탑재용의 표시기(계기판), 전자 수첩, 전자 페이퍼, 전자계산기, 워드 프로세서, 워크스테이션, 영상 전화, POS 단말기, 프린터, 스캐너, 복사기, 비디오 플레이어, 터치 패널을 구비한 기기 등을 들 수 있다.

100 : 전기 광학 장치
10 : 화소부
P : 화소
12 : 주사선
14 : 신호선
20 : 화상 처리 회로
22 : S/P 변환 회로
24 : 보정 처리 회로
26 : D/A 변환 회로
28 : 극성 제어 회로
30 : 구동 회로
32 : 주사선 구동 회로
34 : 신호선 구동 회로
52 : 선택 회로
54 : 출력 회로
62 : 기억 회로
64 : 보정값 취득 회로
66 : 보간 회로
68 : 보정 회로

Claims (5)

1. 제1 방향을 따라 배열된 화소에 대응하여 화상 신호를 기억하는 제1 기억부와,
   상기 제1 방향을 따라 배열된 기준 위치에 대응하여 보정값을 기억하는 제2 기억부와,
   상기 제1 방향을 따라 서로 인접하는 2개의 기준 위치 사이의 위치에 대응하는 보정값을, 상기 2개의 기준 위치의 보정값에 기초하여 산출하는 보정값 산출부와,
   상기 산출한 보정값에 기초하여, 상기 위치에 대응하는 상기 화소의 상기 화상 신호를 보정하는 보정부
   를 구비하는 화상 처리 장치.
2. 제1 방향을 따라 배열된 화소에 대응하여 화상 신호를 기억하는 제1 기억부와,
   상기 제1 방향을 따라 배열된 제1 기준 위치에 대응하여 보정값을 기억하며, 상기 제1 방향을 따라 배열된 제2 기준 위치에 대응하여 상기 제1 기준 위치의 보정값을 기준으로 하는 상대값을 기억하는 제3 기억부와,
   상기 제1 기준 위치의 보정값과 상기 제2 기준 위치의 상대값으로부터 상기 제2 기준 위치의 보정값을 산정하는 제1 보정값 산출부와,
   상기 제1 기준 위치와 상기 제2 기준 위치 사이의 위치에 대응하는 보정값을, 상기 제1 기준 위치의 보정값과 상기 제2 기준 위치의 보정값에 기초하여 산출하는 제2 보정값 산출부와,
   상기 제2 보정값 산출부에 의해 산출한 보정값에 기초하여, 상기 위치에 대응하는 상기 화소의 상기 화상 신호를 보정하는 보정부
   를 구비하는 화상 처리 장치.
3. 서로 교차하는 제1 방향 및 제2 방향을 따라 배치된 복수의 화소와,
   상기 제1 방향을 따라 배열된 복수의 화소에 대응하여 화상 신호를 기억하는 제1 기억부와,
   상기 제1 방향을 따라 배열된 기준 위치에 대응하여 보정값을 기억하는 제2 기억부와,
   상기 제1 방향을 따라 서로 인접하는 2개의 기준 위치 사이의 위치에 대응하는 보정값을, 상기 2개의 기준 위치의 보정값에 기초하여 산출하는 보정값 산출부와,
   상기 산출한 보정값에 기초하여, 상기 위치에 대응하는 상기 화소의 상기 화상 신호를 보정하는 보정부와,
   상기 보정한 화상 신호에 기초하여, 상기 제1 방향을 따라 배열된 복수의 화소를 구동하는 구동부
   를 구비하는 전기 광학 장치.
4. 서로 교차하는 제1 방향 및 제2 방향을 따라 배치된 복수의 화소와,
   상기 제1 방향을 따라 배열된 복수의 화소에 대응하여 화상 신호를 기억하는 제1 기억부와,
   상기 제1 방향을 따라 배열된 제1 기준 위치에 대응하여 보정값을 기억하며, 상기 제1 방향을 따라 배열된 제2 기준 위치에 대응하여 상기 제1 기준 위치의 보정값을 기준으로 하는 상대값을 기억하는 제3 기억부와,
   상기 제1 기준 위치의 보정값과 상기 제2 기준 위치의 상대값으로부터 상기 제2 기준 위치의 보정값을 산정하는 제1 보정값 산출부와,
   상기 제1 기준 위치와 상기 제2 기준 위치 사이의 위치에 대응하는 보정값을, 상기 제1 기준 위치의 보정값과 상기 제2 기준 위치의 보정값에 기초하여 산출하는 제2 보정값 산출부와,
   상기 제2 보정값 산출부에 의해 산출한 보정값에 기초하여, 상기 위치에 대응하는 상기 화소의 상기 화상 신호를 보정하는 보정부와,
   상기 보정한 화상 신호에 기초하여, 상기 제1 방향을 따라 배열된 복수의 화소를 구동하는 구동부
   를 구비하는 전기 광학 장치.
5. 제3항 또는 제4항에 기재된 전기 광학 장치를 구비하는 전자 기기.

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