KR20120133160A - 지연 경로를 가지는 광 수신기의 제어 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 지연 경로를 가지는 광 수신기를 제어하는 장치로, 상기 광 수신기에 가변 신호를 생성하여 입력하는 광 가변 감쇄기와, 상기 광 수신기의 지연 경로상의 일 경로에 가변되는 미세 조절 제어 전압을 생성하여 입력하는 미세 조절 전압 제어부와, 상기 광 수신기의 두 개의 광 검출기 각각에 인가되는 제 1 전압값 및 제 2 전압값을 검출하는 광 검출기 전압 모니터링부와, 상기 광 수신기로부터 출력되는 신호에 따른 비트 오류율을 산출하는 비트 오류율 확인부와, 상기 광 가변 감쇄기 및 미세 조절 전압 제어부 각각에 의해 생성되는 가변 신호 및 가변 미세 조절 제어 전압값을 설정하고, 상기 제 1 전압값 및 제 2 전압값에 따라 비트 오류율이 최적이 되도록 미세 조절 제어 전압을 산출하는 제어부를 포함한다.
Description
본 발명은 광통신 시스템에 관한 것으로, 특히 지연 경로를 가지는 광 수신기를 제어하는 장치 및 방법에 관한 것이다.
고속 변조 광 신호 생성 방법으로 광신호의 크기를 On/Off하는 NRZ (Non-Return-to-Zero) 방식과 RZ(Return-to-Zero) 방식 이외에 광신호의 위상을 변조하는 위상 천이 방식(Phase Shift Key : PSK), 차동 위상 천이 방식(Differential Phase Shift Keying : DPSK), 차동 위상 천이 방식(Differential Quadrature Phase Shift Keying : DQPSK) 변조 방식 등이 등장하고 있다.
전송 데이터 속도가 증가함에 따라 요구되는 광-전 주파수 특성이 증가되고 있다. 이를 극복하기 위한 기술로 심볼당 전송되는 비트 수를 증가시켜 전송 데이터 속도는 증가되어도 상대적으로 작은 전기 신호 대역이 요구되는 광/전 또는 전/광 소자 구현으로 접근하려는 다양한 방법이 제안되고 있다. 이와 관련해서 광의 위상을 변화시킴으로써 전송하는 방식 중 하나인 차동 위상 천이 방식(DPSK: Differential Phase Shift Keying)은 광신호의 세기를 변화시키는 NRZ 및 RZ와 같은 On-Off keying 방식에 비해 광신호 고속화, 장거리 전송 방식을 위해서 많이 활용되고 있고, 현재에도 지속적으로 연구, 개발되고 있다.
차동 위상 변조된 광 신호는 세기는 일정하고 신호의 위상만이 신호 데이터에 따라 전후 비트의 위상 차가 0 또는 p의 값을 갖게 된다. 위상 변조된 광 신호를 광 검출기(Photo Diode)에서 직접 검출하기 위해서는 위상 변조(Phase Modulation)된 신호를 세기 변조(Intensity Modulation)로 바꾸는 과정인 복조 (Demodulation) 과정이 필요하다. 위상에 정보가 실려진 위상 변조 방식의 광 신호의 복조 원리로 사용되는 광 수신기는 모두 지연 마흐-젠더 간섭계 형태의 지연 광 경로, 광 검출기, 증폭기로 구성되는데 이러한 구성 조합에는 불균형 특성이 존재하게 된다.
따라서, 본 발명은 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계 형태의 지연 광 경로를 갖는 광 수신기의 불균형을 극복하기 위한 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명은 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계의 지연 광 경로 최적 성능을 위한 광 수신기 제어 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명은 지연 경로를 가지는 광 수신기를 제어하는 장치로, 상기 광 수신기에 가변 신호를 생성하여 입력하는 광 가변 감쇄기와, 상기 광 수신기의 지연 경로상의 일 경로에 가변되는 미세 조절 제어 전압을 생성하여 입력하는 미세 조절 전압 제어부와, 상기 광 수신기의 두 개의 광 검출기 각각에 인가되는 제 1 전압값 및 제 2 전압값을 검출하는 광 검출기 전압 모니터링부와, 상기 광 수신기로부터 출력되는 신호에 따른 비트 오류율을 산출하는 비트 오류율 확인부와, 상기 광 가변 감쇄기 및 미세 조절 전압 제어부 각각에 의해 생성되는 가변 신호 및 가변 미세 조절 제어 전압값을 설정하고, 상기 제 1 전압값 및 제 2 전압값에 따라 비트 오류율이 최적이 되도록 미세 조절 제어 전압을 산출하는 제어부를 포함한다.
본 발명은 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압 변화와 2개의 광 검출기, 비트 오류율 성능을 통해 얻어진 정보로부터 비트 오류율을 최소로 하는 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압을 최적화하여, 차동 위상 천이 광 수신기 내부 구성 불균형을 극복한다.
본 발명은 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법으로, 상기 광 수신기의 입력 신호 및 상기 지연 경로상의 미세 조절 제어 전압값을 설정하는 단계와, 상기 광 수신기의 두 개의 광 검출기 각각에 인가되는 제 1 전압값 정보 및 제 2 전압값 정보와 상기 광 수신기 출력 신호의 비트 오류율 정보를 획득하는 단계와, 상기 획득된 정보에 따라 최적의 미세 조절 제어 전압값을 산출하는 단계를 포함한다.
도 1은 일반적인 지연 경로를 가지는 광 수신기의 구성도이다.
도 2는 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압에 따른 2개의 광 검출기 전압 변화를 도시한 그래프이다.
도 3은 입력 광신호 변화에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압에 따른 2개의 광 검출기 전압 변화를 도시한 그래프이다.
도 4는 입력 광신호 변화에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일 경로 미세 조절 (DI ctrl.) 전압에 따른 광 수신기 출력의 비트 오류율 (BER) 성능 변화를 도시한 그래프이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치의 구성도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 2는 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압에 따른 2개의 광 검출기 전압 변화를 도시한 그래프이다.
도 3은 입력 광신호 변화에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압에 따른 2개의 광 검출기 전압 변화를 도시한 그래프이다.
도 4는 입력 광신호 변화에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일 경로 미세 조절 (DI ctrl.) 전압에 따른 광 수신기 출력의 비트 오류율 (BER) 성능 변화를 도시한 그래프이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치의 구성도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 기술되는 바람직한 실시 예를 통하여 본 발명을 당업자가 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 기술하기로 한다.
본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명 실시 예들의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다.
본 발명을 설명하기에 앞서, 명세서 전반에 걸쳐 사용되는 용어들을 정의한다. 이 용어들은 본 발명 실시 예에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서, 사용자 또는 운용자의 의도, 관례 등에 따라 충분히 변형될 수 있는 사항이므로, 이 용어들의 정의는 본 발명의 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 일반적인 지연 경로를 가지는 광 수신기의 구성도이다.
도 1을 참조하면, 차동 위상 천이 광 신호가 광신호 입력단(110)을 통해 입력되면, 마흐-젠더 간섭계(Mach-Zehnder Interforometer) 형태의 지연 경로부(120)에서 차동 위상 천이 복조 과정이 수행된다. 즉, 차동 위상 천이 광 신호는 지연 경로부(120)에서 지연 경로의 상위 경로(Upper Path)(121)와 하위 경로(Lower Path)(122)로 분리되어 두 경로간 1 bit 지연이 유지된다
이러한 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계의 전달 특성 조정의 첫째 목적은 1-bit 지연 유지 및 조정을 통한 신호 복조이고, 둘째 목적은 입력 광 신호의 파장 변화에 따른 간섭계의 의존 특성 보완 및 조정이다.
이러한 목적을 위해서 광 수신기를 구성하는 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계 형태의 지연 경로부(120) 및 광 검출기(131, 132)을 포함하는 모든 구성이 균형을 이루어야 하는데, 실제 정확한 균형을 맞춘 차동 위상 천이 광 신호 수신용 광 수신기 구성이 어렵다.
광 검출기(Photo Diode: PD)인 PD1(131) 및 PD2(132)는 세기 정보로 변환된 광신호를 광-전 변환하며, 증폭기(Balanced Amplifier)(133)는 변환된 신호의 세기를 조절하고 출력한다.
상기 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계는 그 전달 특성을 유지하기 위해 두 경로의 차를 정확히 1-bit가 되도록 제어하기 위해 일 경로의 미세 조정(DI ctrl.)을 통해서 실시되는데 이러한 조정은 외부 전압 제어에 의한 일 경로 온도 가변을 통해서 이루어진다. 교류 결합(AC-coupled) 출력단(140)을 포함한다.
도 2는 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압에 따른 2개의 광 검출기 전압 변화를 도시한 그래프이다.
도 2를 참조하면, 광 수신기의 입력 광 신호를 임의의 세기로 하고, 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압을 x축으로 도시하고, 2개의 광 검출기로 읽어진 광 세기의 정보(Monitor PD voltage)를 y축으로 도시한 결과이다.
도 2에 나타난 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계 형태 지연 광 경로의 일 경로 미세 조절 전압 상승에 따라 2개의 광 검출기로 읽어진 값 즉, 2개의 광 검출기로 읽어 들여진 광 세기의 정보(Monitor PD voltage)의 전압 값인 Vpd1과 Vpd2는 각각 주기적인 변화를 보이며, 이의 주기가 점점 짧아진다.
도 2에 도시된 'A'는 'Vpd2 > Vpd1'으로 이의 차이가 최대 차이를 보이는 지점이며, 'B'는 'Vpd1 > Vpd2'으로 이의 차이가 최대 차이를 보이는 지점으로, 'A'지점과 'B'지점이 반복적으로 나타난다. 그런데, 'A' 지점에서의 최대 차이는 'B'지점에서의 최대 차이에 비해 다소 작다. 이는 광 수신기를 구성하는 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계 형태의 지연 광경로 및 광 검출기를 포함하는 모든 구성 요소의 불균형으로부터 기인한다.
도 3은 입력 광신호 변화에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압에 따른 2개의 광 검출기 전압 변화를 도시한 그래프이다.
도 3을 참조하면, 광 수신기 입력이 변화되면 2개의 광 검출기의 전압은 전체적으로 상승 또는 하강하지만, 전체적으로 도 2에 도시된 바와 동일한 경향을 보인다.
도 4는 입력 광신호 변화에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일 경로 미세 조절 (DI ctrl.) 전압에 따른 광 수신기 출력의 비트 오류율 (BER) 성능 변화를 도시한 그래프이다.
도 2에서 언급한 'A' 지점과 'B' 지점의 반복에서 광 수신기에 입력되는 광 세기를 +2dBm에서 -2dBm으로 낮출수록 'A' 지점에 비해 'B' 지점에서는 비트 오류율 성능이 급격히 저하되는 경향을 나타낸다. 따라서, 이러한 저하되는 경향을 방지하기 위해 다음의 두 가지가 이루어져야 한다.
첫 번째로, 1 bit 지연 마흐-젠더 간섭계의 전달 특성 조정을 통해서 1-bit 지연 조정이 이루어져야 한다. 두 번째로, 입력 광 신호의 파장 변화에 따른 간섭계의 파장 의존 특성이 보완, 조정되어야 한다.
그런데, 도 4로부터 알 수 있듯이 가장 최우선으로 내부 구성의 불균형이 있는 차동 위상 천이 광 수신기는 항상 'A' 지점에서 동작하여야 광 수신기 구성의 불균형 현상으로부터 극복 또는 최소화될 수 있음을 알 수 있다.
따라서, 지연 경로를 가지는 광 수신기 내부 구성 불균형을 극복하기 위해서 본 발명은 지연 경로를 가지는 광 수신기에서 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압 변화와 2개의 광 검출기, 비트 오류율 성능을 통해 얻어진 정보로부터 'Vpd1> Vpd2' 구간과 'Vpd1<Vpd2' 구간을 구분하여 이의 비트 오류율 최적을 위한 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압을 최적화하는 방법을 제안한다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치의 구성도이다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치는 의사 잡음 비트 시퀀스(Pseudo Random Bit Sequence :PRBS) 패턴 생성기(510), 광 차동 위상 천이 신호 생성부(Optical DPSK Signal Generator)(520), 광 가변 감쇄기(530), 광검출기 전압(Vpd) 모니터링부(540), 미세 조절 전압(DI) 제어부(550), 비트 오류율(BER) 확인부(560) 및 제어부(570)을 포함한다.
광 DPSK 신호 생성부(520)를 통해서 차동 위상 천이 광 신호가 생성된다. 광 가변 감쇄기(Optical Variable Attenuator)(530)는 제어부(570)의 제어 신호에 의해 광 DPSK 신호 생성부(520)로부터 출력되는 광신호를 측정하고자 하는 광 수신기(Optical DPSK Signal Receiver)(100)에 입력한다. Vpd 모니터링부(540)는 광신호 수신기(100)의 두 개의 PD1(131) 및 PD2(132)에서 검출한 광신호에 의한 전압을 모니터링한다. DI 제어부(550)는 광 수신기(100)의 지연 경로부(120)의 미세 조절 전압을 제어한다. 비트 오류율 검출기(Bit Error Rate Checker)(550)는 광 가변 감쇄기(530)에 의해 입력된 신호 및 DI 제어부(550)에 의한 미세 조정 전압에 따라 가변되는 광 수신기(100)로부터 출력되는 신호를 각각에 대한 비트 오류율을 확인한다.
제어부(570)는 광 가변 감쇄기(530)에 의해 광 수신기(100)에 입력되는 신호가 가변되도록 제어하고, DI 제어부(550)를 제어하여 측정하고자 하는 광 수신기(100)의 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계의 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압을 조절하고, 이를 통해 Vpd 모니터링부(540)가 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계의 출력에 연결된 2개의 광 검출기 출력 전압(Monitor ‘Vpd value'을 측정하도록 제어한다. 그리고, 제어부(570)는 BER 확인부(560)으로부터 출력되는 비트 오류율 정보, DI 제어부(550)에 의한 1-bit 지연 마흐-젠더 간섭계의 일 경로 미세 조절 (DI ctrl.) 제어 전압 정보, Vpd 모니터링부(540)에 의해 측정된 2개의 광 검출기의 출력 전압 정보, 광 세기 가변 감쇄기 정보를 분석한다. 제어부(570)는 분석을 통해 'Vpd1> Vpd2' 구간과 'Vpd1 < Vpd2' 구간을 구분하여 이의 비트 오류율 최적을 위한 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압을 최적화한다.
이를 위해 제어부(570)는 설정부(571), 검출부(572), 정보 작성부(573) 및 분석부(574)를 포함한다.
설정부(571)는 광 가변 감쇄기(530) 및 DI 제어부(550)을 가변 설정한다. 즉, 광 가변 감쇄기(530)의 입력 신호가 미리 설정된 최소에서 최대까지 순차적으로 가변되도록 제어한다. 그리고, 광 가변 감쇄기(530)의 가변되는 입력 신호 각각에 대하여 DI 제어부(550)의 미세 조절 제어 전압값이 미리 설정된 최소에서 최대까지 가변되도록 제어한다.
그리고, 검출부(572)는 Vpd 모니터링부(540)에 의해 검출된 상기 설정부(571)에 의해 설정된 입력 광 신호 및 미세 조절 제어 전압값에 따른 광 수신기(100)의 광 검출기(131, 132) 인가 전압 정보와, BER 확인부(560)에 의해 산출된 광 수신기(100)로부터 출력된 신호에 따라 비트 오류율 정보를 획득한다.
정보 작성부(573)는 검출부(572)에 의해 획득된 광 검출기 인가 전압 정보와 비트 오류율 정보로 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같은 그래프를 작성한다.
분석부(574)는 검출부(572)에 의해 획득된 정보 또는 정보 작성부(573)에 의해 작성된 그래프를 분석하여 최적의 미세 조절 제어 전압값을 산출한다. 즉, 분석부(574)는 'Vpd1 > Vpd2' 구간과 'Vpd1 < Vpd2' 구간을 구분하여, 각 구간별로 상이하게 비트 오류율 최적을 위한 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 전압을 최적화한다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 6을 참조하면, 제어기(570)는 610 단계에서 광가변 감쇄기(530)의 값을 설정한다. 즉, 도 3에 도시된 바와 같은 그래프를 얻기 위해 입력 전압을 가변시키는데, 광 가변 감쇄기 값을 최소값에서부터 최대값까지 가변되도록 설정한다. 우선 제어부(570)는 광 가변 감쇄기(530)의 값을 최소값으로 설정한다. 그러나, 다른 실시 예에 따라 제어부(570)는 광 가변 감쇄기(530)의 값을 최대값에서 최소값까지 가변되도록 설정할 수도 있다. 그리고, 제어부(570)는 620 단계에서 미세 조절 전압 제어값을 설정하여 DI 제어부(550)에 입력한다. 즉, 설정돤 광 가변 감쇄기(530)값이 광신호 수신기(100)에 입력되었을때의 도 2에 도시된 그래프를 검출하기 위해 미세 조절 전압 제어값을 가변시키는데, 최소값에서 최대값까지 가변되도록 설정한다. 우선 제어부(570)는 DI 제어부(530)의 값을 최소값으로 설정한다. 그러나, 다른 실시 예에 따라 제어부(570)는 DI 제어부(550)의 값을 최대값에서 최소값까지 가변되도록 설정할 수도 있다.
다음으로 제어부(570)는 630 단계에서 광 수신기(100)의 두 개의 PD1, PD2(131, 132)에 인가되는 전압을 독출하고, 이를 저장한다. 그리고, 제어부(570)는 640 단계에서 BER 확인부(560)가 측정한 비트오류율을 검출하여 저장한다.
그리고, 제어부(570)는 650 단계에서 DI 제어값이 최대값(Maximum)인지를 확인한다. 상기 650 단계의 확인 결과 최대값이 아닐 경우, 제어부(570)는 620 단계로 진행한다. 즉, 전술한 바와 같이 도 2에 도시된 바와 같은 그래프를 얻기 위해 제어부(570)는 620 단계에서 DI 제어값을 조절하는데, 일 실시 예에 따라 DI 제어값을 증가시킬 수 있다. 제어부(570)는 미세 조정 전압을 최소에서 최대까지 조정하면서, 620 단계 내지 640 단계를 반복 수행하여 미세 조정 전압에 상응하는 포토 다이오드 전압값 및 비트 오류율을 측정한다.
그리고, 제어부(570)는 660 단계에서 광 가변 감쇄기값이 최대값(Maximum)인지를 판단한다. 상기 660 단계의 판단 결과 광 가변 감쇄기값이 최대값이 아닐 경우, 제어부(570)는 610 단계에서 광 가변 감쇄기 값을 재설정한다. 즉, 전술한 바와 같이 광신호 크기를 변화시키면서 다시 도 2에 도시된 바와 같은 그래프를 얻는다. 즉, 제어부(570)는 광 가변 감쇄기값을 재설정한 후, 620 단계에서 DI 제어값을 다시 최소로 설정한다. 제어부(570)는 도 3에 도시된 바와 같은 그래프를 위한 정보가 획득될때까지 610 단계 내지 660 단계를 반복적으로 수행한다.
전술한 바와 같은 과정을 통해 최소부터 최대까지 가변 설정된 광 가변 감쇄기값 각각에 대해 최소부터 최대까지 가변 설정된 DI 제어값 각각에 대한 포토 다이오드 전압값 및 비트오류율이 획득됨에 따라, 제어부(570)는 670 단계에서 정보 작성을 수행한다. 즉, 제어부(570)는 획득된 정보로 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같은 그래프를 작성한다. 그리고, 제어부(570)는 680 단계에서 작성된 도 3 및 도 4와 같은 그래프를 통해 분석 및 판단 동작을 수행한다. 즉, 제어부(570)는 'Vpd1 > Vpd2' 구간과 'Vpd1<Vpd2' 구간을 구분하고, 'Vpd1>Vpd2' 구간과 'Vpd1< Vpd2' 구간별 비트 오류율 최적을 위한 최적의 일 경로 미세 조절(DI ctrl.) 제어 전압값을 산출한다.
Claims (17)
- 지연 경로를 가지는 광 수신기를 제어하는 장치에 있어서,
가변 신호를 생성하여 상기 광 수신기에 제공하는 광 가변 감쇄기와,
상기 광 수신기의 지연 경로상의 일 경로에 가변되는 미세 조절 제어 전압을 생성하여 입력하는 미세 조절 전압 제어부와,
상기 광 수신기에 포함된 두 개의 광 검출기 각각에 인가되는 제 1 전압값 및 제 2 전압값을 검출하는 광 검출기 전압 모니터링부와,
상기 광 수신기로부터 출력되는 신호에 따른 비트 오류율을 산출하는 비트 오류율 확인부와,
상기 광 가변 감쇄기 및 미세 조절 전압 제어부 각각에 의해 생성되는 가변 신호 및 가변 미세 조절 제어 전압값을 설정하고, 상기 제 1 전압값 및 제 2 전압값에 따라 비트 오류율이 최소가 되도록 미세 조절 제어 전압을 산출하는 제어부를 포함함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
상기 입력 신호 및 미세 조절 제어 전압을 가변되도록 설정하는 설정부와,
상기 광 검출기 인가 전압 및 비트 오류율을 검출하는 검출부와,
상기 검출된 값을 분석하여 최적의 미세 조절 제어 전압값을 산출하는 분석부를 포함함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
상기 검출부로부터 출력된 정보로 미세 조절 제어 전압이 가변됨에 따른 광 검출기 인가 전압 및 비트 오류율 변화를 도시한 그래프를 작성하는 정보 작성부를 더 포함함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치.
- 제 3항에 있어서, 상기 분석부는
상기 정보 작성부에 의해 작성된 그래프를 분석하여 최적의 미세 조절 제어 전압값을 산출함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
광 가변 감쇄기의 입력 신호가 미리 설정된 최소에서 최대까지 순차적으로 가변되도록 함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
미세 조절 제어 전압값이 최소에서 최대까지 순차적으로 가변되도록 조절함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
가변되는 미세 조절 제어 전압값 각각에 대한 광 검출기의 제 1 전압 및 제 2 전압과, 비트 오류율 값을 검출함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
가변되는 광 가변 감쇄기 값 각각에 대해 미세 조절 제어 전압값을 최소부터 최대까지 가변시킴을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
미세 조절 제어 전압값이 가변됨에 따라 제 1 전압값이 제 2 전압값 이상인 구간과, 제 2 전압값이 제 1 전압값 이상인 구간을 구분하고, 각각의 구간별로 미세 조절 제어 전압값을 최적으로 조절함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 장치. - 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법에 있어서,
상기 광 수신기의 입력 신호 및 상기 지연 경로상의 미세 조절 제어 전압값을 설정하는 단계와,
상기 광 수신기의 두 개의 광 검출기 각각에 인가되는 제 1 전압값 정보 및 제 2 전압값 정보와 상기 광 수신기 출력 신호의 비트 오류율 정보를 획득하는 단계와,
상기 획득된 정보에 따라 최적의 미세 조절 제어 전압값을 산출하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법.
- 제 10항에 있어서,
상기 획득된 광 검출기에 인가되는 전압 정보 및 비트 오류율 정보로 그래프를 작성하는 단계를 더 포함함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법.
- 제 10항에 있어서, 상기 설정하는 단계는
미세 조절 제어 전압을 최소에서 최대까지 또는 최대에서 최소까지 순차적으로 가변시킴을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법.
- 제 10항에 있어서, 상기 설정하는 단계는
광 수신기 입력 신호를 최소에서 최대까지 또는 최대에서 최소까지 순차적으로 가변시킴을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법.
- 제 10항에 있어서, 상기 그래프는
미세 조정 제어 전압값이 가변됨에 따른 두 개의 광 검출기에 인가되는 전압값을 나타냄을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법.
- 제 14항에 있어서, 상기 그래프는
광 수신기 입력되는 가변 신호 각각에 대한 신호값을 도시함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법.
- 제 14항에 있어서, 상기 그래프는
미세 조정 제어 전압값이 가변됨에 따른 비트오류율을 도시한 그래프를 포함함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법.
- 제 10항에 있어서, 상기 산출하는 단계는
제 1 전압값이 제 2 전압값 이상이 구간과, 제 2 전압값이 제 1 전압값 이상이 구간을 구별하고, 각 구간별로 상이한 미세 조절 제어 전압값을 산출함을 특징으로 하는 지연 경로를 가지는 광 수신기 제어 방법.
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