KR20120127189A - 터치 패널 - Google Patents

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KR20120127189A
KR20120127189A KR1020120017890A KR20120017890A KR20120127189A KR 20120127189 A KR20120127189 A KR 20120127189A KR 1020120017890 A KR1020120017890 A KR 1020120017890A KR 20120017890 A KR20120017890 A KR 20120017890A KR 20120127189 A KR20120127189 A KR 20120127189A
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가즈유키 요시후사
고이치 곤도
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후지쯔 콤포넌트 가부시끼가이샤
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Abstract

[과제] 복수점으로 입력가능한 5선식 터치 패널을 제공한다.
[해결수단] 터치 패널은 제1 기판상에 형성되어 일부 또는 전체가 복수의 도전 영역으로 분할된 제1 도전막을 갖는 제1 전극 기판과, 제2 기판상에 형성되어 상기 제1 도전막과 대향하는 제2 도전막을 갖는 제2 전극 기판을 구비한다.

Description

터치 패널{TOUCH PANEL}
본 발명은 터치 패널에 관한 것이다.
터치 패널은 디스플레이에 직접 입력이 가능한 입력 디바이스이고 디스플레이의 앞면에 설치하여 사용된다. 이 터치 패널은 디스플레이에 의해 시각적으로 파악한 정보에 근거하여 직접 입력할 수 있다는 점에서 여러가지 용도로 보급되어 있다.
이와 같은 터치 패널로서는 저항막 방식이 널리 알려져 있다. 저항막 방식의 터치 패널은 투명 도전막이 형성된 상부 전극 기판 및 하부 전극 기판에 있어서 각각의 투명 도전막끼리가 대향하도록 설치하고, 상부 전극 기판의 한점에 힘을 가함으로써 각각의 투명 도전막끼리가 접촉하여 힘이 가해진 위치의 위치를 검출할 수 있다.
저항막 방식의 터치 패널은 4선식과 5선식으로 크게 나눌 수 있다. 4선식은 상부 전극 기판 또는 하부 전극 기판의 어느 한쪽에 X축전극이 형성되어 있고, 다른 한쪽에 Y축전극이 형성되어 있다. 한편, 5선식은 하부 전극 기판에 X축전극 및 Y축전극이 함께 형성되어 있고, 상부 전극 기판은 전압을 검출하기 위한 프로브로서 기능한다(예를 들어, 특허문헌 1, 2).
구체적으로, 도 1 및 도 2에 근거하여 5선식 터치 패널에 대하여 설명한다. 도 1은 5선식 터치 패널의 사시도이고, 도 2는 5선식 터치 패널의 단면 개요도이다.
5선식 터치 패널(200)은 상부 전극 기판이 되는 한쪽면에 투명 도전막(230)이 형성된 필름(210)과, 하부 전극 기판이 되는 한쪽면에 투명 도전막(240)이 형성된 유리(220)로 이루어지고, 투명 도전막(230) 및 투명 도전막(240)이 대향하도록 스페이서(250)를 사이에 두고 설치되어 있다. 5선식 터치 패널(200)과 미도시의 호스트컴퓨터는 케이블(260)에 의해 전기적으로 접속되어 있다.
이와 같은 구성의 5선식 터치 패널(200)에서는, 도 3의 (a)에 나타낸 바와 같이, 투명 도전막(240)의 단부 4변에 형성된 전극(241, 242, 243, 244)에 의해 X축 방향, Y축 방향으로 교대로 전압을 인가하고 투명 도전막(230)과 투명 도전막(240)이 접촉 위치 A점에서 접촉함으로써, 도 3의 (b)에 나타낸 바와 같이, 투명 도전막(230)을 통하여 전위(Va)를 검출하고, X축 방향 및 Y축 방향의 각각의 좌표 위치를 검출하는 방식이다.
그런데, 상술한 5선식 터치 패널에서는 한점에서의 접촉 위치를 검출하는 것은 가능하지만 복수점이 동시에 접촉한 경우에는 위치를 검출할 수 없다.
즉, 도 4의 (a)에 나타낸 바와 같이, 투명 도전막(240)의 4변에 형성된 전극(241, 242, 243, 244)에 의해 X축 방향, Y축 방향으로 교대로 전압을 인가한 경우에 있어서, 투명 도전막(230)과 투명 도전막(240)이 접촉 위치 A점 및 B점의 2점에서 접촉하면, A점과 B점의 사이의 중간점에 있어서의 압하되지 않은 한점의 좌표 위치가 검출되어 버린다. 이것은 도 4의 (b)에 나타낸 바와 같이, 전위검출에 의한 위치 검출 방법인 점에서, 접촉 위치 A점 및 B점의 2점에서 접촉한 경우에도 투명 도전막(230)을 통하여 검출되는 전위는 Vc의 하나뿐이므로 접촉 위치가 한점인 것으로 판단되어 버리기 때문이다.
특허문헌 1 : 일본 공개 특허 공보 제2004－272722호 특허문헌 2 : 일본 공개 특허 공보 제2008－293129호
본 발명은 이러한 점을 감안하여 이루어진 것으로서, 복수의 접촉 위치에서 동시에 접촉한 경우에도 각각의 접촉 위치를 검출할 수 있음과 동시에, 접촉 위치가 이동한 경우에도 위치검출이 가능한 터치 패널을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 일관점에 의한 터치 패널은, 제1 기판상에 형성되고 일부 또는 전체가 복수의 도전 영역으로 분할된 제1 도전막을 갖는 제1 전극 기판과, 제2 기판상에 형성되고 상기 제1 도전막과 대향하는 제2 도전막을 갖는 제2 전극 기판을 구비한다.
또한, 상기 복수의 도전 영역은 상기 제1 도전막의 일부 또는 전체가 세로 방향 또는 가로 방향으로 3분할 이상으로 분할된 복수의 도전 영역이어도 된다.
또한, 상기 복수의 도전 영역은 상기 제1 도전막의 일부 또는 전체가 중앙부와 그 중앙부를 둘러싸는 주위부로 분할된 복수의 도전 영역이어도 된다.
또한, 상기 복수의 도전 영역중 상기 상부 전극 기판의 4변의 어느 변과도 접하지 않는 도전 영역은 상기 4변중 어느 한변으로 연장되는 인출부를 구비하여도 된다.
또한, 상기 복수의 도전 영역은 상기 제1 도전막의 일부 또는 전체가 중앙부로부터 방사상으로 분할된 복수의 도전 영역이어도 된다.
또한, 상기 복수의 도전 영역은 상기 제1 도전막의 일부 또는 전체가 단부로부터 방사상으로 분할된 복수의 도전 영역이어도 된다.
또한, 상기 제2 도전막에 있어서 전위분포를 일으키게 하기 위하여 상기 제2 도전막의 4변 단부에 형성된 전극과, 상기 도전 영역의 각각에 접속되고, 상기 도전 영역중 어느 하나가 상기 제2 도전막과 접촉하면 그 접촉이 있었던 도전 영역내의 좌표 위치를 검출하는 좌표 검출 회로를 더 구비하여도 된다.
본 발명 다른 관점에 의한 터치 패널은, 제1 기판상에 형성되고 복수의 도전 영역으로 분할된 제1 도전막을 갖는 제1 전극 기판과, 제2 기판상에 형성되고 상기 제1 도전막과 대향하는 제2 도전막을 갖는 제2 전극 기판과, 상기 제2 도전막에 있어서 전위분포를 일으키게 하기 위하여 상기 제2 도전막의 4변 단부에 형성된 전극과, 상기 도전 영역의 각각에 접속되고, 상기 도전 영역중 어느 하나가 상기 제2 도전막과 접촉하면 그 접촉이 있었던 도전 영역내의 좌표 위치를 검출하는 좌표 검출 회로를 구비하고, 상기 복수의 도전 영역중 평면에서 볼 때 외측에 있는 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 복수의 도전 영역중 평면에서 볼 때 내측에 있는 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 동일하다.
또한, 상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극과, 상기 제1 도전막에 형성되고 상기 제1 도전 영역과 상기 인출 전극의 사이를 우회하여 접속하는 우회 패턴을 더 포함하고, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 상기 우회 패턴에 의해 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과 동일해져도 된다.
또한, 상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극을 더 구비하고, 상기 제1 도전 영역에 접속되는 제1 인출 전극의 저항값을 상기 제2 도전 영역에 접속되는 제2 인출 전극의 저항값보다 높게 함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과 동일해져도 된다.
또한, 상기 제1 인출 전극은 전극폭을 상기 제2 인출 전극의 전극폭보다 좁게 함으로써 제2 인출 전극의 저항값보다 저항값이 높아져도 된다.
또한, 상기 제1 인출 전극은 전극길이를 상기 제2 인출 전극의 전극길이보다 길게 함으로써 제2 인출 전극의 저항값보다 저항값이 높아져도 된다.
또한, 상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극을 더 구비하고, 상기 제1 도전 영역에 접속되는 상기 인출 전극과 상기 좌표 검출 회로의 사이에 저항기를 삽입함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과 동일해져도 된다.
또한, 상기 도전 영역은 상기 제1 도전 영역 및 상기 제2 도전 영역에 부가하여, 상기 제2 도전 영역보다 더욱 내측에 있는 제 3 도전 영역으로 분할되어 있고, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제 3 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 동일하여도 된다.
상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극과, 상기 제1 도전막에 형성되고 상기 제1 도전 영역과 상기 인출 전극과의 사이를 우회하여 접속하는 우회 패턴과, 상기 제1 도전막에 형성되고 상기 인출 전극과 상기 제2 도전 영역의 사이를 접속하는 제1 인출부와, 상기 제1 도전막에 형성되고 상기 인출 전극과 상기 제 3 도전 영역의 사이를 접속하는 제2 인출부를 더 구비하고, 상기 우회 패턴, 상기 제1 인출부 및 상기 제2 인출부의 저항값을 동일하게 함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제 3 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 동일해져도 된다.
또한, 상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극을 더 구비하고, 상기 제1 도전 영역에 접속되는 제1 인출 전극의 저항값을 상기 제2 도전 영역에 접속되는 제2 인출 전극의 저항값보다 높게 하고, 상기 제2 인출 전극의 저항값을 상기 제 3 도전 영역에 접속되는 제 3 인출 전극의 저항값보다 높게 함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제 3 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 동일해져도 된다.
또한, 상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극을 더 구비하고, 상기 제1 도전 영역에 접속되는 상기 인출 전극과 상기 좌표 검출 회로의 사이에 제1 저항기를 삽입함과 함께, 상기 제2 도전 영역에 접속되는 상기 인출 전극과 상기 좌표 검출 회로의 사이에 제2 저항기를 삽입함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제 3 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 동일해져도 된다.
본 발명에 의하면 복수의 접촉 위치에서 동시에 접촉한 경우에도 각각의 접촉 위치를 검출할 수 있음과 동시에, 접촉 위치가 이동한 경우에도 위치검출이 가능한 터치 패널을 제공할 수 있다.
도 1은 종래의 5선식 터치 패널의 사시도이다.
도 2는 종래의 5선식 터치 패널의 단면 개요도이다.
도 3은 종래의 5선식 터치 패널에 있어서의 좌표검출방법의 설명도(1)이다.
도 4는 종래의 5선식 터치 패널에 있어서의 좌표검출방법의 설명도(2)이다.
도 5는 실시형태 1의 터치 패널의 상부 전극 기판의 구조도이다.
도 6은 실시형태 1의 터치 패널의 하부 전극 기판의 구조도이다.
도 7은 실시형태 1의 터치 패널의 단면도이다.
도 8은 실시형태 1의 터치 패널의 설명도이다.
도 9는 실시형태 1의 터치 패널의 상부 전극 기판의 투명 도전막의 구조도이다.
도 10은 실시형태 2의 터치 패널의 상부 전극 기판과 하부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
도 11은 실시형태 3의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
도 12는 실시형태 4의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
도 13은 실시형태 5의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
도 14는 실시형태 6의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
도 15는 실시형태 7의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
도 16은 실시형태 8의 터치 패널의 상부 전극 기판의 구조도이다.
도 17은 실시형태 8의 터치 패널의 하부 전극 기판의 구조도이다.
도 18은 실시형태 8의 터치 패널의 단면도이다.
도 19는 실시형태 8의 터치 패널의 설명도이다.
도 20은 실시형태 8의 터치 패널(800)의 상부 전극 기판(810)의 투명 도전막(812)의 일부분과 인출 전극부(813)를 나타내는 도면이다.
도 21은 실시형태 8의 변형예의 터치 패널(800)의 투명 도전막(812)의 일부분과 인출 전극부(813)를 나타내는 도면이다.
도 22는 실시형태 8의 변형예의 터치 패널(800)의 투명 도전막(812)의 일부분과 인출 전극부(813)를 나타내는 도면이다.
도 23은 실시형태 8의 변형예의 터치 패널(800)의 투명 도전막(812)의 일부분과 인출 전극부(813)를 나타내는 도면이다.
도 24는 실시형태 9의 터치 패널(900)의 상부 전극 기판의 투명 도전막(912)에 형성된 도전 영역(921, 922, 923)의 배열을 나타내는 도면이다.
이하, 본 발명의 터치 패널을 적용한 실시형태에 대하여 설명한다.
＜실시형태 1＞
도 5는 실시형태 1의 터치 패널의 상부 전극 기판의 구조도이고, 도 6은 실시형태 1의 터치 패널의 하부 전극 기판의 구조도이고, 도 7은 실시형태 1의 터치 패널의 단면도이고, 도 8은 실시형태 1의 터치 패널의 설명도이다.
실시형태 1의 터치 패널은 필름(11)의 한쪽면에 투명 도전막(12)이 형성된 대략 직사각 형상의 상부 전극 기판(10)과, 상부 전극 기판(10)과 대략 같은 형상의 유리 기판(21)의 한쪽면에 투명 도전막(22)이 형성된 하부 전극 기판(20)을 포함한다.
또한, 터치 패널은 좌표 검출 회로(50)를 갖는 구동 회로(51)를 더 포함한다. 또한, 도 7에 나타낸 좌표 검출 회로(50) 및 구동 회로(51)는 일례에 불과하며, 좌표 검출 회로(50) 및 구동 회로(51)의 구성은 도 7에 나타낸 것으로 한정되는 것은 아니다.
상부 전극 기판(10)과 하부 전극 기판(20)은 상부 전극 기판(10)에 있어서의 투명 도전막(12)과 하부 전극 기판(20)에 있어서의 투명 도전막(22)이 대향하도록 스페이서(31) 등을 사이에 두고 접착제 또는 양면테이프에 의해 접합되어 있다.
상부 전극 기판(10)에 있어서의 투명 도전막(12)은 전체 영역(120)중 좌측의 3/4의 영역(120A)이 단변 방향(짧은 변 방형)인 세로 방향으로 4분할, 장변 방향(긴 변 방향)인 가로 방향으로 6분할되어 전체로 24분할되어 있다. 전체 영역(120)중 우측의 1/4의 영역(120B)내에서는 투명 도전막(12)이 분할되어 있지 않다.
또한, 전체 영역(120)보다 약간 내측에 이점쇄선으로 나타낸 영역은 터치 패널의 하측에 설치되는 액정패널 등의 디스플레이의 표시영역을 나타낸다.
투명 도전막(12)의 각각의 도전 영역의 분할은 도전 영역이 되는 영역사이의 투명 도전막(12)을 제거함으로써 행해진다. 이로써, 분할된 도전 영역사이를 전기적으로 절연할 수 있다. 각각의 분할된 투명 도전막(12)은 상부 전극 기판(10)의 단변 방향의 양단에 형성된 인출 전극부(13)의 각각의 인출 전극과 접속되어 있고, 상부 전극 기판(10)의 주위에 배선되고, 인출 전극부(13)는 상부 전극 기판(10)의 장변 방향의 한쪽 단부에서 플렉시블 기판(14)과 접속되어 있다. 플렉시블 기판(14)의 단부에는 단자(15)가 접속되어 있다. 단자(15)는 좌표 검출 회로(50)를 포함하는 구동 회로(51)(도 7 참조)에 접속된다.
또한, 하부 전극 기판(20)은, 도 8에 나타낸 바와 같이, 하부 전극 기판(20)을 구성하는 4변의 단부에 투명 도전막(22)상에 직사각 고리 형상의 전극(23)이 형성되어 있다. 전극(23)은, 예를 들어, Ag 또는 Ag－C제의 저항막으로 구성되어 있고, 4개의 정점부(LL, LR, UL, UR)에는 각 정점부의 전위를 제어하기 위하여 인출선이 접속되어 있다. 이 인출선은 하부 전극 기판(20)의 주위에서 인출되고, 도 6에 나타낸 바와 같이 하부 전극 기판(20)의 장변 방향의 한쪽 단부에서 플렉시블 기판(27)에 접속되고, 나아가 플렉시블 기판(27)에는 단자(28)가 접속되어 있다.
플렉시블 기판(14)의 단자(15)와 플렉시블 기판(27)의 단자(28)는 모두 구동 회로(51)에 접속되어 있고, 나아가 미도시의 호스트컴퓨터에 접속되어 있다. 또한, 투명 도전막(12) 및 투명 도전막(22)을 구성하는 재료로서는 ITO(Indium Tin Oxide), ZnO(산화아연)에 Al 또는 Ga등이 첨가된 재료, SnO2(산화주석)에 Sb 등이 첨가된 재료 등을 들 수 있다.
또한, 필름(11)은 PET(폴리에틸렌테레프탈레이트：polyethylene terephthalate), PC(폴리카보네이트：Polycarbonate) 및 가시영역에서 투명인 수지재료를 들 수 있다. 나아가, 유리 기판(21)대신에 수지 기판을 사용하여도 된다.
실시형태 1의 터치 패널은 상부 전극 기판(10)을 손가락 등으로 누름으로써, 상부 전극 기판(10)에 있어서의 투명 도전막(12)과 하부 전극 기판(20)에 있어서의 투명 도전막(22)이 접촉하고, 접촉한 위치에서의 전압을 검지함으로써 상부 전극 기판(10)과 하부 전극 기판(20)의 접촉 위치, 즉, 상부 전극 기판(10)이 손가락 등에 의해 압압된 위치가 특정된다. 구체적으로는, 상부 전극 기판(10)에 있어서 분할된 투명 도전막(12)의 각각에 대해 시분할에 의한 주사가 되어 접촉한 타이밍에 의해 접촉 위치가 포함된 도전 영역을 특정할 수 있다.
또한, 하부 전극 기판(20)에 있어서의 투명 도전막(22)상에 형성된 직사각 고리 형상의 전극(23)의 정점부(LL, LR, UL, UR)에 구동 회로(51)로부터 인가되는 전압을 제어함으로써, X축 방향, Y축 방향으로 교대로 전압이 인가되도록 구성되어 있다.
이와 같이, 상부 전극 기판(10)에 있어서 투명 도전막(12)을 분할하여 도전 영역을 형성함으로써, 상부 전극 기판(10)과 하부 전극 기판(20)이 접촉한 접촉 위치가 복수이어도 분할된 투명 도전막(12)의 도전 영역마다 접촉 위치를 좌표 검출 회로(50)로 특정할 수 있으므로, 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하다.
즉, 도 8에 나타낸 바와 같이, 상부 전극 기판(10)에 있어서의 투명 도전막(12)과 하부 전극 기판(20)에 있어서의 투명 도전막(22)의 접촉 위치가, 화살표(A, B, C, D, E)로 나타낸 바와 같이 5개인 경우에도, 각각의 접촉 위치는 분할된 투명 도전막(12)의 영역이 상이하므로 각각 독립적으로 접촉 위치를 검출할 수 있다. 구체적으로는, 상부 전극 기판(10)과 하부 전극 기판(20)의 접촉 위치가 화살표(A)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(12)의 도전 영역(12a)에서 접촉하고 있고, 접촉 위치가 화살표(B)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(12)의 도전 영역(12b)에서 접촉하고 있고, 접촉 위치가 화살표(C)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(12)의 도전 영역(12c)에서 접촉하고 있고, 접촉 위치가 화살표(D)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(12)의 도전 영역(12d)에서 접촉하고 있고, 접촉 위치가 화살표(E)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(12)의 도전 영역(12e)에서 접촉하고 있지만, 투명 도전막(12)의 도전 영역(12a, 12b, 12c, 12d, 12e)은 서로 절연된 상이한 영역인 점에서 각각을 독립적으로 검출할 수 있다. 따라서, 상부 전극 기판(10)과 하부 전극 기판(20)의 접촉 위치가 5개인 경우에도 각각의 접촉 위치를 특정하는 것이 가능하다.
이상부터, 투명 도전막(12)과 투명 도전막(22)의 접촉 위치가 복수이어도 접촉한 도전 영역을 특정할 수 있음과 동시에, 투명 도전막(22)에 있어서의 전위분포를 검출함으로써 보다 정확하게 좌표 위치를 검출하는 것도 가능하다. 또한, 투명 도전막(12)과 투명 도전막(22)의 접촉 위치를 이동시킨 경우에도 접촉 위치가 이동한 것을 인식할 수 있음과 동시에, 투명 도전막(22)에 있어서의 전위분포를 검출함으로써 이동한 접촉 위치의 위치좌표를 검출할 수도 있다.
다음으로, 상부 전극 기판(10)에 있어서의 투명 도전막(12)의 도전 영역의 분할에 대하여 설명한다. 실시형태 1에서는, 도 9의 (a)에 나타낸 바와 같이, 투명 도전막(12)이 전체 영역(120)중 좌측의 3/4의 영역(120A)이 단변 방향인 세로 방향으로 4분할, 장변 방향인 가로 방향으로 6분할되어 전체로 24분할되어 있다. 전체 영역(120)중 우측의 1/4의 영역(120B)내에서는 투명 도전막(12)이 분할되어 있지 않다.
이들 분할된 영역은 상측 2단과 하측 2단으로 나뉘어져 있다. 도 5에 나타낸 바와 같이, 상측 2단은 상단이 되는 단변 방향(세로 방향)의 한쪽 단부에서 인출 전극부(13)의 각각의 인출 전극과 접속되어 있고, 하측 2단은 하단이 되는 단변 방향(세로 방향)의 다른쪽 단부에서 인출 전극부(13)의 각각의 인출 전극과 접속되어 있다. 또한, 실시형태 1의 터치 패널은 각각의 도전 영역이 직사각 형상 또는 정사각형으로 형성되어 있고 주로 손가락에 의해 조작되므로, 복수의 도전 영역중 가장 큰 도전 영역의 장변 또는 한변의 길이는 25mm이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 20mm이하이다. 이는 손가락의 굵기에 근거한 것으로 손가락끝과 손가락끝에 의해 복수의 접촉 위치에서 접촉하는 경우에도, 한변의 길이가 손가락끝과 손가락끝의 간격보다 짧으면 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하기 때문이다. 이 때문에, 사람의 손가락끝과 손가락끝의 간격 및 쾌적한 조작성 등을 기준으로 하여 도전 영역의 한변의 길이 범위를 정할 수 있다. 또한, 너무 작으면 후술할 인출부의 영역이 증가하고 기능 상지장을 초래하기 때문에, 상기 관점을 감안했을 때 복수의 도전 영역중 가장 작은 도전 영역의 단변 또는 한변의 길이는 5mm이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 7mm이상이다.
또한, 투명 도전막(12)에 있어서 각각의 도전 영역은 각각의 도전 영역의 주변부를 따라 투명 도전막(12)을 제거함으로써 형성한다. 이로써, 인접하는 도전 영역과의 사이에서 절연성을 유지하는 것이 가능하다.
투명 도전막(12)을 제거하는 방법으로서는, 투명 도전막(12)이 제거되는 영역에 레이저광을 조사하고 레이저광의 조사된 부분의 투명 도전막(12)을 열 또는 어브레이션에 의해 제거하는 방법, 투명 도전막(12)상에 포토레지스트를 도포하고 노광장치에 의해 노광, 현상을 실시함으로써 도전 영역이 되는 영역상에 레지스트패턴을 형성하고, 드라이에칭 또는 웨트에칭을 실시함으로써 레지스트 패턴이 형성되지 않은 영역의 투명 도전막(12)을 제거하는 방법, 나아가서는, 투명 도전막(12)이 제거되는 영역상에 에칭페이스트를 인쇄 등을 하여 제거하는 방법 등을 들 수 있다. 바람직하게는, 레이저광의 조사에 의해 투명 도전막(12)을 제거하는 방법이 바람직하다.
또한, 도전 영역을 형성하기 위해 제거되는 투명 도전막(12)의 폭은 1mm이하인 것이 바람직하다. 터치 패널에 있어서 형성되는 도전 영역의 폭이 넓어지면 검출불능영역이 많아져 버려 터치 패널로서의 기능을 충분히 발휘할 수 없다. 따라서, 터치 패널에 접촉될 것으로 상정되는 것이 손가락 또는 펜 등이고, 펜 등의 선단은 반경 0.8mm정도인 점에서, 투명 도전막(12)이 제거되는 영역의 폭이 1mm이하이면 터치 패널로서의 기능에 지장을 초래하지 않을 것이기 때문이다. 실시형태 1에서는 터치 패널의 시인성을 보다 높임과 동시에, 기능을 높이기 위하여 투명 도전막(12)이 제거되는 영역의 폭이 약 100μm로 형성되어 있다.
실시형태 1의 터치 패널에서는 상부 전극 기판(10)의 투명 도전막(12)에 있어서, 도전 영역(121)과 도전 영역(122)로 이루어지는 도전 영역의 패턴을 반전시킨 패턴이 상측에도 형성되어 있고, 세로 방향으로 배열된 4개의 도전 영역의 패턴과 동일한 패턴이 가로 방향으로 8열 형성되어 있다.
도 9의 (a)에서 파선으로 둘러싸인 영역의 확대도를 도 9의 (b)에 나타낸다. 도 9의 (b)에 나타낸 바와 같이, 투명 도전막(12)의 하측에서 2개로 분할된 것중 한쪽을 도전 영역(121), 다른쪽을 도전 영역(122)로 한 경우, 한쪽 도전 영역(122)은 상부 전극 기판(10)의 장변 방향을 따른 4변의 하나의 변과 접하고 있고, 한쪽 도전 영역(121)은 상부 전극 기판(10)의 4변중 장변 방향을 따른 변과 접하지 않는다. 이 때문에 한쪽 도전 영역(121)의 영역부(121a)로부터 상부 전극 기판(10)의 장변 방향을 따른 변의 끝단까지 연장되 인출부(121b)를 형성하고, 나아가 이 변의 끝단에 접하는 접속부(121c)를 형성한다. 또한, 이 인출부(121b)는 상부 전극 기판(10)의 장변 방향을 따른 변과 접하는 2개의 도전 영역의 사이에 형성된다. 즉, 도전 영역(122)과 도전 영역(122)에 인접하는 변과 접하는 도전 영역의 사이에 형성된다. 따라서, 본래는 도전 영역(122)이 되는 영역에 형성되는 것이다. 이 때문에, 접촉 위치의 오인식을 방지하기 위하여도 인출부(121b)는 가능한 가늘게 형성하는 것이 바람직하다.
이로써, 한쪽 도전 영역(121)은 접속부(121c)에서 인출 전극(131)과 접속할 수 있고, 다른쪽 도전 영역(122)은 도전 영역(122)에 있어서의 상부 전극 기판(10)의 변의 단부의 근방에서 인출 전극(132)과 접속할 수 있다.
도전 영역(121)의 접속부(121c)와 인출 전극(131)은 접속부(121c)상에 은페이스트를 형성하여 접속한다. 마찬가지로, 도전 영역(122)과 인출 전극(132)은 상부 전극 기판(10)의 변의 단부의 도전 영역(122)상에 은페이스트를 형성하여 접속한다. 또한, 인출 전극(131 및 132)가 복수개 모임에 따라 도 5에 나타낸 인출 전극부(13)가 형성된다.
이상과 같이, 실시형태 1의 터치 패널에서는 투명 도전막(12)의 전체 영역(120)중 좌측의 3/4의 영역(120A)이 세로 방향으로 4분할, 가로 방향으로 6분할되어 전체로 24분할되고, 투명 도전막(12)의 전체 영역(120)중 우측의 1/4의 영역(120B)은 분할되지 않고 1개 영역으로 되어 있다.
즉, 실시형태 1의 터치 패널의 투명 도전막(12)은 좌측의 3/4의 영역(120A)이 24분할된 24개 영역과 우측의 1/4의 1개 영역(120B)의 총 25개 영역을 포함한다.
실시형태 1의 터치 패널은 상부 전극 기판(10)에 있어서 투명 도전막(12)에 포함되는 25개 영역에 대하여 시분할에 의한 주사를 실시하므로, 접촉한 타이밍에 의해 접촉 위치가 포함된 도전 영역(25개 영역의 어느 하나의 영역)을 특정할 수 있다.
구체적으로는, 예를 들어 도 9에 나타낸 투명 도전막(12)에서는 영역(120A)내의 24분할된 24개 영역의 각각과, 비분할 영역(120B)의 25개 영역의 각각을 차례로 선택하여 주사를 실시하는 시분할에 의한 주사를 행함으로써, 접촉 위치가 어느 영역에 포함되는지를 특정하고 접촉이 있었던 위치의 좌표를 특정할 수 있다.
또한, 상술한 바와 같이 투명 도전막(12)을 25분할한 도전 영역을 형성함으로써, 상부 전극 기판(10)과 하부 전극 기판(20)이 접촉한 접촉 위치가 복수이어도 분할된 투명 도전막(12)의 도전 영역마다 접촉 위치를 특정할 수 있다.
이 때문에, 복수 지점에 터치한 경우에도 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하다.
이 때문에, 예를 들어, 실시형태 1의 터치 패널을 스마트폰과 같은 휴대 단말기에 실장하는 경우에 분할한 영역(120A)과 비분할 영역(120B)의 아래에 액정패널 등의 디스플레이를 설치할 수 있다.
이 경우, 예를 들어, 분할한 영역(120A)내에 휴대 단말기의 메모리에 저장한 데이터(예를 들어, 연락처의 리스트나 사진 등)나 네트워크를 통하여 다운로드한 데이터를 표시하면, 비분할 영역(120B)내에 GUI(Graphical User Interface)에 의한 버튼 등을 설치하면 된다.
휴대 단말기의 메모리에 저장한 데이터(예를 들어, 연락처의 리스트나 사진 등)나 네트워크를 통하여 다운로드한 데이터는, 예를 들어, 휴대 단말기의 이용자가 스크롤하거나 확대하면서 볼 수 있으면 편리하다.
이 때문에, 복수의 접촉 위치에서 이용자의 입력을 받아들일 수 있는 영역(120A)내에 이들 데이터를 표시하면 이용자가 영역(120A)내에서 데이터의 스크롤이나 확대 등의 조작을 실시할 수 있다.
또한, 동시에 복수의 입력을 하지 않는 조작에 대해서는 비분할 영역(120B)내에 GUI에 의한 버튼(이하, 「GUI 버튼」이라고 한다)을 표시하고, GUI 버튼에 의해 입력을 받아들이도록 하면 된다.
이상과 같이 영역(120A)과 영역(120B)을 구분하여 사용하면 모든 영역(120A와 120B의 합계 영역)을 분할하지 않아도 이용자에게 편리성이 높은 터치 패널을 제공할 수 있다.
＜실시형태 2＞
실시형태 2의 터치 패널은 상부 전극 기판의 투명 도전막을 분할하지 않고 하부 전극 기판의 투명 도전막을 분할하는 점에서 실시형태 1과 상이하다.
도 10의 (A), (B)는 각각 실시형태 2의 터치 패널의 상부 전극 기판과 하부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
도 10의 (A)에 나타낸 바와 같이, 실시형태 2의 터치 패널의 상부 전극 기판(210)의 투명 도전막(212)은 분할되지 않고, 하부 전극 기판(220)을 구성하는 4변의 단부에서 투명 도전막(222)상에 직사각 고리 형상의 전극(223)이 형성되어 있다. 전극(223)은, 예를 들어, Ag 또는 Ag－C제의 저항막으로 구성되어 있고, 4개의 정점부(LL, LR, UL, UR)에는 각 정점부의 전위를 제어하기 위해 인출선이 접속되어 있다.
도 10의 (B)에 나타낸 바와 같이, 하부 전극 기판(220)의 투명 도전막(222)은 실시형태 1의 상부 전극 기판(10)의 투명 도전막(12)과 마찬가지로 25개 영역으로 분할되어 있다.
투명 도전막(222)의 25개로 분할된 각 영역은 하부 전극 기판(220)의 주위의 배선을 통하여 하부 전극 기판(220)의 장변 방향의 한쪽 단부에서 플렉시블 기판(224)과 접속되어 있다. 플렉시블 기판(224)의 단부에는 단자(225)가 접속되어 있다.
이상과 같은 실시형태 2의 터치 패널에서도 실시형태 1의 터치 패널과 마찬가지로 25개 영역의 각각에서 이용자의 접촉을 검출할 수 있다. 또한, 실시형태 1의 터치 패널과 마찬가지로 복수의 영역에 대해 동시에 입력한 경우에도 복수의 영역의 각각에서의 접촉 위치를 검출할 수 있다.
이 때문에, 실시형태 2에 의하면 실시형태 1과 마찬가지로 이용자에게 편리성이 높은 터치 패널을 제공할 수 있다.
＜실시형태 3＞
실시형태 3의 터치 패널은 상부 전극 기판의 투명 도전막의 분할방법이 실시형태 1과 상이하다.
도 11은 실시형태 3의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
실시형태 3의 터치 패널의 상부 전극 기판(310)의 투명 도전막(312)은 좌측 1/4의 영역(312A)이 단변을 따라 4분할되어 있고, 우측 3/4의 영역(311B)가 비분할인 1개 영역으로서 구성되어 있다.
실시형태 3의 터치 패널의 상부 전극 기판(310)은 실시형태 1의 하부 전극 기판(20)과 동일한 하부 전극 기판(20)(도 6 참조)에 대향하여 배치된다.
이 때문에, 영역(312A)내의 4개 영역의 각각과 비분할 영역(312B)의 5개 영역의 각각을 차례로 선택하여 주사를 실시하는 시분할에 의한 주사를 행함으로써, 접촉 위치가 어느 영역에 포함되는지를 특정하고 접촉이 있었던 위치의 좌표를 특정할 수 있다.
또한, 상부 전극 기판(310)과 하부 전극 기판(20)이 접촉한 접촉 위치가 복수이어도 분할된 투명 도전막(312)의 도전 영역마다 접촉 위치를 특정할 수 있다.
이 때문에, 복수 지점에 터치한 경우에도 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하다.
이 때문에, 예를 들어, 실시형태 3의 터치 패널을 스마트폰과 같은 휴대 단말기에 실장하는 경우에, 분할한 영역(312A)과 비분할 영역(320B)의 아래에 액정패널 등의 디스플레이를 설치하고, 분할한 영역(312A)내에 휴대 단말기의 메모리에 저장한 데이터(예를 들어, 연락처의 리스트나 사진 등)나 네트워크를 통해 다운로드한 데이터를 표시하면, 비분할 영역(312B)내에 GUI 버튼 등을 설치하면 된다.
이상과 같이 영역(312A)와 영역(312B)를 구분하여 사용하면 모든 영역(312A와 312B의 합계 영역)을 분할하지 않아도 이용자에게 편리성이 높은 터치 패널을 제공할 수 있다.
＜실시형태 4＞
실시형태 4의 터치 패널은 상부 전극 기판의 투명 도전막의 분할방법이 실시형태 1과 상이하다.
도 12는 실시형태 4의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
실시형태 4의 터치 패널의 상부 전극 기판(410)의 투명 도전막(412)은 중심(O)로부터 방사상으로 14분할된 영역(412A~412N)을 포함한다. 영역(412A~412N)은 인출 전극부(13)를 통해 플렉시블 기판(14) 및 단자(15)(도 5 참조)에 접속되어 있다.
투명 도전막(412)을 중심(O)로부터 방사상으로 분할한 것은 일반적으로 터치 패널의 주위 부분보다 중앙근처 부분이 복수 위치에 접촉에 의해 입력할 가능성이 높다고 생각되기 때문이다.
실시형태 4의 터치 패널의 상부 전극 기판(410)은 실시형태 1의 하부 전극 기판(20)과 동일한 하부 전극 기판(20)(도 6 참조)에 대향하여 배치된다.
이 때문에, 영역(412A~412N)의 각각을 차례로 선택하여 주사를 실시하는 시분할에 의한 주사를 행함으로써, 접촉 위치가 어느 영역에 포함되는지를 특정하고 접촉이 있었던 위치의 좌표를 특정할 수 있다.
또한, 상부 전극 기판(410)과 하부 전극 기판(20)이 접촉한 접촉 위치가 복수이어도 분할된 투명 도전막(412)의 도전 영역(412A~412N)마다 접촉 위치를 특정할 수 있다.
이 때문에, 복수 지점에 터치한 경우에도 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하다.
예를 들어, 실시형태 4의 터치 패널을 스마트폰과 같은 휴대 단말기에 실장하는 경우에, 영역(412A~412N)의 아래에 액정패널 등의 디스플레이를 설치하고, 영역(412A~412N)내에 휴대 단말기의 메모리에 저장한 데이터(예를 들어, 연락처의 리스트나 사진 등)나 네트워크를 통해 다운로드한 데이터를 표시하면, 복수 지점에 접촉에 의한 입력을 독립적으로 검출할 수 있는 편리성이 높은 터치 패널을 제공할 수 있다.
특히, 실시형태 4의 터치 패널은 투명 도전막(412)을 중심(O)으로부터 방사상으로 분할하였으므로 분할수를 줄일 수 있어 제조공정을 간략화할 수 있다.
＜실시형태 5＞
실시형태 5의 터치 패널은 상부 전극 기판의 투명 도전막의 분할방법이 실시형태 4와 상이하다.
도 13은 실시형태 5의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
실시형태 5의 터치 패널의 상부 전극 기판(510)의 투명 도전막(512)은 전영역중 왼쪽반 영역(512L)내에서 중심(O)로부터 방사상으로 8분할된 영역(512A~512H)과, 전영역중 오른쪽반 영역(512R)을 포함한다. 즉, 투명전극(512)은 영역(512A~512H)과 영역(512R)의 9개 영역을 포함한다.
영역(512A~512H, 512R)는 각각 인출 전극부(13)를 통해 플렉시블 기판(14) 및 단자(15)(도 5 참조)에 접속되어 있다.
실시형태 5의 터치 패널의 상부 전극 기판(510)은 실시형태 1의 하부 전극 기판(20)과 동일한 하부 전극 기판(20)(도 6 참조)에 대향하여 배치된다.
이 때문에, 영역(512A~512H, 512R)의 각각을 차례로 선택해 주사를 실시하는 시분할에 의한 주사를 행함으로써, 접촉 위치가 어느 영역에 포함되는지를 특정하고 접촉이 있었던 위치의 좌표를 특정할 수 있다.
또한, 상부 전극 기판(510)과 하부 전극 기판(20)이 접촉한 접촉 위치가 복수이어도 분할된 투명 도전막(512)의 도전 영역(512A~512H, 512R)마다 접촉 위치를 특정할 수 있다.
따라서, 복수 지점에 터치한 경우에도 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하다.
예를 들어, 실시형태 5의 터치 패널을 스마트폰과 같은 휴대 단말기에 실장하는 경우에, 8분할한 영역(512L)과 비분할 영역(512R)의 아래에 액정패널 등의 디스플레이를 설치하고, 8분할한 영역(512L)내에 휴대 단말기의 메모리에 저장한 데이터(예를 들어, 연락처의 리스트나 사진 등)나 네트워크를 통해 다운로드한 데이터를 표시하면, 비분할 영역(512R)내에 GUI 버튼 등을 설치하면 된다.
이상과 같이 영역(512L)과 영역(512R)를 구분하여 사용하면 모든 영역(512L와 512R의 합계 영역)을 분할하지 않아도 이용자에게 편리성이 높은 터치 패널을 제공할 수 있다.
또한, 실시형태 5의 터치 패널은 투명 도전막(512)의 왼쪽반을 중심(O)로부터 방사상으로 분할하였으므로 분할수를 줄일 수 있어 제조공정을 간략화할 수 있다.
＜실시형태 6＞
실시형태 6의 터치 패널은 상부 전극 기판의 투명 도전막의 분할방법이 실시형태 4와 상이하다.
도 14는 실시형태 6의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
실시형태 6의 터치 패널의 상부 전극 기판(610)의 투명 도전막(612)은 4개 모서리중 하나(LR)로부터 방사상으로 7분할된 영역(612A~612G)을 포함한다. 영역(612A~612G)은 인출 전극부(13)을 통해 플렉시블 기판(14) 및 단자(15)(도 5 참조)에 접속되어 있다.
이와 같이, 투명 도전막(612)를 4개 모서리중 하나(LR)로부터 방사상으로 분할한 것은, 예를 들어, 4개 모서리중 하나(LR)에 가까운 영역에 있어서 복수의 위치에 대한 접촉에 의한 입력을 하는 용도에 대응한 것이다. 이 때문에, 도 14에는 4개 모서리중 하나(LR：도면중 우측아래)로부터 방사상으로 분할한 투명 도전막(612)을 나타내었지만, 용도에 따라 다른 모서리로부터 방사상으로 분할하도록 형상을 변경하여도 된다.
실시형태 4의 터치 패널의 상부 전극 기판(610)은 실시형태 1의 하부 전극 기판(20)과 동일한 하부 전극 기판(20)(도 6 참조)에 대향하여 배치된다.
이 때문에, 영역(612A~612G)의 각각을 차례로 선택하여 주사를 실시하는 시분할에 의한 주사를 행함으로써, 접촉 위치가 어느 영역에 포함되는지를 특정하고 접촉이 있었던 위치의 좌표를 특정할 수 있다.
또한, 상부 전극 기판(610)과 하부 전극 기판(20)이 접촉한 접촉 위치가 복수이어도 분할된 투명 도전막(612)의 도전 영역(612A~612G)마다 접촉 위치를 특정할 수 있다.
이 때문에, 복수 지점에 터치한 경우에도 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하다.
예를 들어, 실시형태 6의 터치 패널을 스마트폰과 같은 휴대 단말기에 실장하는 경우에, 영역(612A~612G)의 아래에 액정패널 등의 디스플레이를 설치하고, 영역(612A~612G)내에 휴대 단말기의 메모리에 저장한 데이터(예를 들어, 연락처의 리스트나 사진 등)나 네트워크를 통해 다운로드한 데이터를 표시하면, 복수 지점에 접촉에 의한 입력을 독립적으로 검출할 수 있는 편리성이 높은 터치 패널을 제공할 수 있다.
특히, 실시형태 6의 터치 패널은 투명 도전막(612)을 4개 모서리중 하나(LR)로부터 방사상으로 분할하였으므로 분할수를 줄일 수 있어 제조공정을 간략화할 수 있다.
＜실시형태 7＞
실시형태 7의 터치 패널은 상부 전극 기판의 투명 도전막의 분할방법이 실시형태 4와 상이하다.
도 15는 실시형태 7의 터치 패널의 상부 전극 기판을 나타내는 도면이다.
실시형태 7의 터치 패널의 상부 전극 기판(710)의 투명 도전막(712)은 직사각 형상의 투명 도전막(712)의 중심(O)을 포함하는 중앙부(712A)와, 중앙부(712A)를 제외한 주위부(712B)를 포함한다. 중앙부(712A)는 인출부(712C)를 통하여 도면중 좌측 단변으로 인출되어 있다. 또한, 인출부(712C)의 폭(인출 방향에 대한 폭)은 약 1mm정도로 하는 것이 바람직하다. 인출부(712C)의 폭이 넓으면 인출부(712C)에서 위치검출이 되어버리므로, 주위부(712B)중 인출부(712C)에 가까운 영역에서 조작성이 저하되는 것을 방지하기 위하여 인출부(712C)에서의 위치검출의 감도를 저하시키기 위함이다.
중앙부(712A), 주위부(712B)는 인출 전극부(13)을 통해 플렉시블 기판(14) 및 단자(15)(도 5 참조)에 접속되어 있다.
실시형태 7의 터치 패널의 상부 전극 기판(710)은 실시형태 1의 하부 전극 기판(20)과 동일한 하부 전극 기판(20)(도 6 참조)에 대향하여 배치된다.
이 때문에, 중앙부(712A), 주위부(712B)의 각각을 차례로 선택해 주사를 실시하는 시분할에 의한 주사를 행함으로써, 접촉 위치가 어느 영역에 포함되는지를 특정하고 접촉이 있었던 위치의 좌표를 특정할 수 있다.
또한, 상부 전극 기판(710)과 하부 전극 기판(20)이 접촉한 접촉 위치가 복수이어도 분할된 투명 도전막(712)의 도전 영역(712A, 712B)마다 접촉 위치를 특정할 수 있다.
이 때문에, 복수 지점에 터치한 경우에도 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하다.
특히, 중앙부(712A)는 투명 도전막(712)의 중심(O)을 포함하는 중앙근처에 위치하고 있으므로, 실시형태 7의 터치 패널은 예를 들어 이용자가 한 개의 손가락(예를 들어, 엄지손가락)을 중앙부(712A)에 접촉시킴과 동시에 주위부(712B)에 다른 손가락(예를 들어 집게손가락)을 접촉시켜, 중앙부(712A)에 접촉시킨 손가락을 축으로 하여 주위부(712B)에 접촉시킨 다른 손가락을 회전시키는 동작 등에 적절하다.
예를 들어, 실시형태 7의 터치 패널을 스마트폰과 같은 휴대 단말기에 실장하는 경우에 영역(712A, 712B, 712C)의 아래에 액정패널 등의 디스플레이를 설치하고, 영역(712A, 712B, 712C)내에 휴대 단말기의 메모리에 저장한 데이터(예를 들어, 연락처의 리스트나 사진 등)나 네트워크를 통해 다운로드한 데이터를 표시하면, 복수 지점에 접촉에 의한 입력을 독립적으로 검출할 수 있는 편리성이 높은 터치 패널을 제공할 수 있다.
＜실시형태 8＞
도 16은 실시형태 8의 터치 패널의 상부 전극 기판의 구조도이고, 도 17은 실시형태 8의 터치 패널의 하부 전극 기판의 구조도이고, 도 18은 실시형태 8의 터치 패널의 단면도이고, 도 19는 실시형태 8의 터치 패널의 설명도이다.
실시형태 8의 터치 패널(800)은 상부 전극 기판(810)에 형성되는 투명 도전막(812)을 세로 4행×가로 8열로 분할한 점(도 16 참조)과, 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값을 동일하게 한 점(도 20 참조)에서, 실시형태 1 내지 7의 터치 패널과 상이하다.
그 밖의 구성은 실시형태 1 내지 7의 터치 패널과 동일하므로 동일한 구성요소에는 동일한 부호를 부여한다.
실시형태 8의 터치 패널(800)은 필름(811)의 한쪽면에 투명 도전막(812)이 형성된 대략 직사각 형상의 상부 전극 기판(810)과, 상부 전극 기판(810)과 대략 동일한 형상의 유리 기판(821)의 한쪽면에 투명 도전막(822)이 형성된 하부 전극 기판(820)을 포함한다.
또한, 터치 패널(800)은 좌표 검출 회로(50)을 갖는 구동 회로(51)를 더 포함한다.
상부 전극 기판(810)과 하부 전극 기판(820)은 상부 전극 기판(810)에 있어서의 투명 도전막(812)과 하부 전극 기판(820)에 있어서의 투명 도전막(822)가 대향하도록 스페이서(31)등을 사이에 두고 접착제 또는 양면테이프에 의해 접합되어 있다.
상부 전극 기판(810)에 있어서의 투명 도전막(812)은 단변 방향인 세로 방향으로 4분할, 장변 방향인 가로 방향으로 8분할되어 전체로 32분할되어 있다.
또한, 인출 전극부(813)보다 약간 내측에 이점쇄선으로 나타낸 영역은 터치 패널의 하측에 설치되는 액정패널 등의 디스플레이의 표시영역을 나타낸다.
투명 도전막(812)의 각각의 도전 영역의 분할은 도전 영역이 되는 영역사이의 투명 도전막(812)를 제거함으로써 행해진다. 이로써, 분할된 도전 영역간을 전기적으로 절연할 수 있다. 각각의 분할된 투명 도전막(812)은 상부 전극 기판(810)의 단변 방향의 양단에 형성된 인출 전극부(813)에의 각각의 인출 전극과 접속되어 있고, 인출 전극부(813)는 상부 전극 기판(810)의 주위에 배선되고, 상부 전극 기판(810)의 장변 방향의 한쪽 단부에서 플렉시블 기판(14)과 접속되어 있다. 플렉시블 기판(14)의 단부에는 단자(15)가 접속되어 있다. 단자(15)는 좌표 검출 회로(50)를 포함하는 구동 회로(51)(도 18 참조)에 접속된다.
또한, 하부 전극 기판(820)은, 도 19에 나타낸 바와 같이, 하부 전극 기판(820)을 구성하는 4변 단부에 있어서 투명 도전막(822)상에 직사각 고리 형상의 전극(823)이 형성되어 있다. 전극(823)은, 예를 들어, Ag 또는 Ag－C제의 저항막으로 구성되어 있고, 4개의 정점부(LL, LR, UL, UR)에는 각 정점부의 전위를 제어하기 위해 인출선이 접속되어 있다. 이 인출선은 하부 전극 기판(820)의 주위에서 인출되어, 도 17에 나타낸 바와 같이, 하부 전극 기판(820)의 장변 방향의 한쪽 단부에서 플렉시블 기판(27)에 접속되고, 나아가 플렉시블 기판(27)에는 단자(28)가 접속되어 있다.
플렉시블 기판(14)의 단자(15)와 플렉시블 기판(27)의 단자(28)는 모두 구동 회로(51)에 접속되어 있고, 나아가 미도시의 호스트컴퓨터에 접속되어 있다. 또한, 투명 도전막(812) 및 투명 도전막(822)을 구성하는 재료로서는 ITO(Indium Tin Oxide), ZnO(산화아연)에 Al 또는 Ga등이 첨가된 재료, SnO2(산화주석)에 Sb등이 첨가된 재료 등을 들 수 있다.
또한, 필름(811)은 PET(폴리에틸렌 테레프탈레이트：polyethylene terephthalate), PC(폴리카보네이트：Polycarbonate) 및 가시영역에서 투명인 수지재료를 들 수 있다. 나아가, 유리 기판(821) 대신에 수지 기판을 사용하여도 된다.
실시형태 8의 터치 패널은 상부 전극 기판(810)을 손가락 등으로 누름으로써 상부 전극 기판(810)에 있어서의 투명 도전막(812)과 하부 전극 기판(820)에 있어서의 투명 도전막(822)이 접촉하고, 접촉한 위치에 있어서의 전압을 검지함으로써 상부 전극 기판(810)과 하부 전극 기판(820)의 접촉 위치, 즉, 상부 전극 기판(810)이 손가락 등에 의해 압압된 위치가 특정된다. 구체적으로는, 상부 전극 기판(810)에 있어서 분할된 투명 도전막(812)의 각각에 대해 시분할에 의한 주사가 되어 있고 접촉한 타이밍에 의해 접촉 위치가 포함된 도전 영역을 특정할 수 있다.
또한, 하부 전극 기판(820)에 있어서의 투명 도전막(822)상에 형성된 직사각 고리 형상의 전극(823)의 정점부(LL, LR, UL, UR)에 구동 회로(51)로부터 인가되는 전압을 제어함으로써, X축 방향, Y축 방향으로 교대로 전압이 인가되도록 구성되어 있다.
이와 같이, 상부 전극 기판(810)에 있어서 투명 도전막(812)을 분할하여 도전 영역을 형성함으로써, 상부 전극 기판(810)과 하부 전극 기판(820)이 접촉한 접촉 위치가 복수이어도 분할된 투명 도전막(812)의 도전 영역마다 접촉 위치를 좌표 검출 회로(50)로 특정할 수 있으므로, 각각의 접촉 위치를 독립적으로 검출하는 것이 가능하다.
즉, 도 19에 나타낸 바와 같이, 상부 전극 기판(810)에 있어서의 투명 도전막(812)과 하부 전극 기판(820)에 있어서의 투명 도전막(822)의 접촉 위치가 화살표(A, B, C, D, E)로 나타낸 바와 같이 5개인 경우에도, 각각의 접촉 위치는 분할된 투명 도전막(812)의 영역이 상이하므로 각각 독립적으로 접촉 위치를 검출하는 것이 가능하다. 구체적으로는, 상부 전극 기판(810)과 하부 전극 기판(820)의 접촉 위치가 화살표(A)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(812)의 도전 영역(812a)에서 접촉하고 있고, 접촉 위치가 화살표(B)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(812)의 도전 영역(812b)에서 접촉하고 있고, 접촉 위치가 화살표(C)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(812)의 도전 영역(812c)에서 접촉하고 있고, 접촉 위치가 화살표(D)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(812)의 도전 영역(812d)에서 접촉하고 있고, 접촉 위치가 화살표(E)로 나타낸 위치인 경우 투명 도전막(812)의 도전 영역(812e)에서 접촉하고 있지만, 투명 도전막(812)의 도전 영역(812a, 812b, 812c, 812d, 812e)는 서로 절연된 상이한 영역인 점에서 각각을 독립적으로 검출할 수 있다. 따라서, 상부 전극 기판(810)과 하부 전극 기판(820)의 접촉 위치가 5개인 경우에도 각각의 접촉 위치를 특정하는 것이 가능하다.
이상으로부터, 투명 도전막(812)과 투명 도전막(822)의 접촉 위치가 복수이어도 접촉한 도전 영역을 특정할 수 있음과 동시에 투명 도전막(822)에 있어서의 전위분포를 검출함으로써, 보다 정확하게 좌표 위치를 검출하는 것이 가능하다. 또한, 투명 도전막(812)과 투명 도전막(822)의 접촉 위치를 이동시킨 경우에도 접촉 위치가 이동한 것을 인식할 수 있음과 동시에 투명 도전막(822)에 있어서의 전위분포를 검출함으로써 이동한 접촉 위치의 위치좌표를 검출할 수도 있다.
도 20은 실시형태 8의 터치 패널(800)의 상부 전극 기판(810)의 투명 도전막(812)의 일부분(도 16에 4행 8열로 나타낸 것중 3열분)과 인출 전극부(813)를 나타내는 도면이다. 설명의 편의상, 도 20에는 3열분의 12개의 도전 영역을 나타내었지만, 여기서는 도 16에 나타낸 바와 같이 32개 도전 영역이 투명 도전막(812)에 형성되어 있는 것으로 하여 설명한다.
투명 도전막(812)에 형성되는 복수의 도전 영역은 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 16개의 도전 영역(821)과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 16개의 도전 영역(822)으로 나눌 수 있다.
도전 영역(821)은 상부 전극 기판(810)의 장변 방향을 따른 2변중 한변과 접하고 있고, 도전 영역(822)은 상부 전극 기판(810)의 4변중 장변 방향을 따른 변과는 접하지 않는다. 이 때문에, 인출 전극부(813)과의 위치관계에서는 도전 영역(821)은 평면에서 볼 때 외측에 위치하고 있고, 도전 영역(822)은 평면에서 볼 때 내측에 위치하고 있다.
도전 영역(822)의 영역부(822a)로부터 상부 전극 기판(810)의 장변 방향을 따른 변의 끝단까지 연장되는 인출부(822b)를 형성하고, 나아가 이 변의 끝단에 접하는 접속부(822c)를 형성한다. 인출부(822b)는 상부 전극 기판(810)의 장변 방향을 따른 변과 접하는 2개의 도전 영역(821)의 사이에 형성된다. 이 때문에, 접촉 위치의 오인식을 방지하기 위하여 인출부(822b)는 가능한 가늘게 형성하는 것이 바람직하다.
또한, 도전 영역(821)은 영역부(821a) 및 우회부(821b)를 갖는다. 우회부(821b)는 인출 전극부(813A)와 접속하기 위한 접속부이며, 절개부(821c, 821d)를 형성함으로써 「コ」자형으로 우회하고 있다. 우회부(821b)는 선로길이를 길게 함과 동시에 선로폭을 가늘게 하여 저항값을 증대시키고 있다.
이와 같이 하여, 터치 패널(800)의 투명 도전막(812)은 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값이 동일해지도록 구성되어 있다.
또한, 도전 영역(821)은 실제로는 도 16에 나타낸 바와 같이 8열로 형성되어 있고, 각 도전 영역(821)과 단자(15)의 사이를 접속하는 인출 전극부(813A)의 길이는 상이하다. 이 때문에, 인출 전극부(813A)의 길이에 의한 저항값 차이가 문제되는 경우에는, 인출 전극부(813A)의 길이가 긴 도전 영역(821)만큼 우회부(821b)의 저항값을 작게 하고, 인출 전극부(813A)의 길이가 짧은 도전 영역(821)만큼 우회부(821b)의 저항값을 크게 하여도 된다. 이로써 인출 전극부(813A)의 길이 차이에 의한 저항값의 차이를 상쇄할 수 있다.
우회부(821b)를 포함하지 않는 경우에는 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값이 상이하다. 예를 들어, 우회부(821b)를 포함하지 않는 경우에는, 도전 영역(821)으로 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값은 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값보다 수백Ω에서 수킬로Ω 정도 작다.
이 때문에, 우회부(821b)를 포함하지 않는 경우에는, 도전 영역(822)로부터 좌표 검출 회로(50)에 입력되는 신호의 파형은 도전 영역(821)으로부터 좌표 검출 회로(50)에 입력되는 신호의 파형에 비해 무디어진다.
따라서, 우회부(821b)를 포함하지 않는 경우에는, 구동 회로(51)내의 노이즈필터 등을 도전 영역(821)과 도전 영역(822)에서 별도로 준비할 필요가 있어 노이즈필터 등의 회로수가 증가한다.
이에 반해, 실시형태 8에 의하면, 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값이 동일하므로, 도전 영역(821)과 도전 영역(822)에 접속되는 필터회로 등을 공통화할 수 있어 회로의 간소화를 도모할 수 있다.
또한, 여기서는 우회부(821b)를 형성함으로써 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값을 동일하게 하는 형태에 대하여 설명했다.
그러나, 저항값의 조정은 이와 같은 방법으로 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 우회부(821b)를 형성하는 대신에 혹은 우회부(821b)에 부가하여, 인출 전극부(813A)의 저항값을 인출 전극부(813B)의 저항값보다 높게 설정함으로써, 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값을 동일하게 하여도 된다.
인출 전극부(813A)와 인출 전극부(813B)는, 예를 들어, 은페이스트를 인쇄함으로써 형성되므로, 인출 전극부(813A)를 인쇄하는 공정과 인출 전극부(813B)를 인쇄하는 공정을 별도의 공정으로 하고, 인출 전극부(813A)를 형성하는 은페이스트로서 인출 전극부(813B)를 형성하는 은페이스트보다 저항값이 높은 것을 선택하면 된다.
또한, 인출 전극부(813A)의 길이에 의한 저항값의 차이가 문제되는 경우에는, 예를 들어, 인출 전극부(813A)의 길이가 길수록 인출 전극부(813A)를 형성하는 은페이스트의 저항율을 작게 하고, 인출 전극부(813A)의 길이가 짧을수록 인출 전극부(813B)를 형성하는 은페이스트의 저항값을 크게 하여도 된다.
또한, 도전 영역(821)에 접속되는 인출 전극부(813B)에 대해서도 동일하게 저항값을 조정하여도 된다.
또한, 저항값의 조정은, 도 21에 나타낸 바와 같이, 도전 영역(821)에 접속되는 인출 전극부(813A)의 선폭을 도전 영역(822)에 접속되는 인출 전극부(813B)보다 가늘게 함으로써 실시하여도 된다. 도 21에 나타낸 바와 같이 인출 전극부(813A, 813B)의 선폭에 의한 저항값의 조정은 우회부(821b)를 형성하는 대신에 혹은 우회부(821b)에 부가하여 실시하면 된다.
이 중, 우회부(821b)를 형성하는 대신 실시하는 경우에는, 도전 영역(821)이 우회부(821b)를 포함하지 않고 인출 전극부(813A)의 선폭을 도전 영역(822)에 접속되는 인출 전극부(813B)보다 가늘게 함으로써, 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값을 동일하게 하면 된다.
또한, 인출 전극부(813A)의 길이에 의한 저항값의 차이가 문제되는 경우에는, 예를 들어, 인출 전극부(813A)의 길이가 길수록 인출 전극부(813A)의 선폭을 넓게 하고, 인출 전극부(813A)의 길이가 짧을수록 인출 전극부(813B)의 선폭을 좁게 하여도 된다.
또한, 도전 영역(821)에 접속되는 인출 전극부(813B)에 대해도 동일하게 저항값의 조정을 실시하여도 된다.
또한, 저항값의 조정은, 도 22에 나타낸 바와 같이, 도전 영역(821)에 접속되는 인출 전극부(813A)에 우회부(813C)를 삽입함으로써 실시하여도 된다.
도 22에 나타낸 바와 같이, 인출 전극부(813A)에 우회부(813C)를 삽입함에 의한 저항값의 조정은 우회부(821b)를 형성하는 대신에 혹은 우회부(821b)에 부가하여 실시하면 된다.
이 중, 우회부(821b)를 형성하는 대신 실시하는 경우에는, 도전 영역(821)이 우회부(821b)를 포함하지 않고 인출 전극부(813A)에 우회부(813C)를 삽입함으로써, 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값을 동일하게 하면 된다.
또한, 인출 전극부(813A)의 길이에 의한 저항값의 차이가 문제되는 경우에는, 예를 들어, 인출 전극부(813A)의 길이가 길수록 우회부(813C)의 저항값을 작게 하고, 인출 전극부(813A)의 길이가 짧을수록 우회부(813C)의 저항값을 크게 하여도 된다.
또한, 도전 영역(821)에 접속되는 인출 전극부(813B)에 대해서도 동일하게 저항값의 조정을 실시하여도 된다.
또한, 저항값의 조정은, 도 23에 나타낸 바와 같이, 단자(15)의 배선부분에 저항기(15C)를 삽입함으로써 실시하여도 된다. 도 23의 (A)는 실시형태 8의 변형예에 의한 터치 패널의 상부 전극 기판의 구조도이고, 도 23의 (B)는 도 23의 (A)의 단자(15)를 확대하여 나타낸 도면이다.
도 23에 나타낸 배선(15A)은 도전 영역(821)에 접속되어 있고, 배선(15B)은 도전 영역(822)에 접속되어 있다. 배선(15A)에는 저항조정용 저항기(15C)가 삽입되어 있다.
도 23에 나타낸 바와 같이 단자(15)의 배선부분에 저항기(15C)를 삽입함에 의한 저항값 조정은 우회부(821b)를 형성하는 대신에 혹은 우회부(821b)에 부가하여 실시하면 된다.
이 중, 우회부(821b)를 형성하는 대신 실시하는 경우에는, 도전 영역(821)이 우회부(821b)를 포함하지 않고 단자(15)의 배선부분에 저항기(15C)를 삽입함으로써, 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(821)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(822)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값을 동일하게 하면 된다.
또한, 인출 전극부(813A)의 길이에 의한 저항값의 차이가 문제되는 경우에는, 예를 들어, 인출 전극부(813A)의 길이가 길수록 저항기(15C)의 저항값을 작게 하고, 인출 전극부(813A)의 길이가 짧을수록 저항기(15C)의 저항값을 크게 하여도 된다.
또한, 도전 영역(821)에 접속되는 인출 전극부(813B)에 대해서도 동일하게 저항값 조정을 실시하여도 된다.
또한, 단자(15)의 배선부분에 저항기(15C)를 삽입하는 대신에 좌표 검출 회로(50)내에 저항기(15C)를 삽입함으로써, 도 23에 나타낸 저항값 조정과 마찬가지로 저항값을 조정하여도 된다.
＜실시형태 9＞
도 24는 실시형태 9의 터치 패널(900)의 상부 전극 기판의 투명 도전막(912)에 형성되는 도전 영역(921, 922, 923)의 배열을 나타내는 도면이다.
도 24에 나타낸 바와 같이, 실시형태 9의 터치 패널(900)의 상부 전극 기판의 투명 도전막(912)에는 6행 8열로 총 48개의 도전 영역(921, 922, 923)이 투명 도전막(912)에 형성되어 있다. 또한, 도 24에는 설명의 편의상 인출 전극부(913)의 하나하나의 폭을 확대하여 나타내었지만, 실제로는 도 23에 나타낸 인출 전극부(813)와 마찬가지로 모든 인출 전극부(913)가 48개의 도전 영역(921, 922, 923)의 주위의 폭이 좁은 영역에 형성된다.
투명 도전막(912)에 형성되는 복수의 도전 영역은 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 16개의 도전 영역(921)과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 16개의 도전 영역(922)과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 16개의 도전 영역(923)으로 나눌 수 있다. 도전 영역(922)은 실시형태 8의 도전 영역(822)과 마찬가지로, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역이지만, 실시형태 9에서는 도전 영역(922)보다도 더욱 내측에 위치하는 도전 영역(923)이 형성되어 있다.
도전 영역(921)은 상부 전극 기판(910)의 장변 방향을 따른 2변중 한변과 접하고 있고, 도전 영역(922, 923)은 상부 전극 기판(910)의 4변중 장변 방향을 따른 변과는 접하지 않는다. 이 때문에, 인출 전극부(913)와의 위치관계에서는 도전 영역(921)은 평면에서 볼 때 외측에 위치하고 있고, 도전 영역(922, 923)은 평면에서 볼 때 내측에 위치하고 있다.
또한, 도전 영역(923)은 도전 영역(922)보다 더욱 내측에 위치하고 있다.
도전 영역(922)의 영역부(922a)로부터 상부 전극 기판(910)의 장변 방향을 따른 변의 끝단까지 연장되는 인출부(922b)를 형성하고, 나아가 이 변의 끝단에 접하는 접속부(922c)를 형성한다. 인출부(922b)는 접촉 위치의 오인식을 방지한기 위하여도 가능한 가늘게 형성하는 것이 바람직하다.
마찬가지로, 도전 영역(923)의 영역부(923a)로부터 상부 전극 기판(910)의 장변 방향을 따른 변의 끝단까지 연장되는 인출부(923b)를 형성하고, 나아가 이 변의 끝단에 접하는 접속부(923c)를 형성한다.
인출부(923b)는 접촉 위치의 오인식을 방지하기 위해서라도 가능한 가늘게 형성하는 것이 바람직하지만, 실시형태 9에서는 인출부(923b)의 폭(B)이 인출부(922b)의 폭(A)보다 넓게 설정되어 있다. 이는 도전 영역(923)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 도전 영역(922)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값을 동일하게 하기 위함이다.
또한, 도전 영역(921)은 영역부(921a) 및 우회부(921b)를 구비한다. 우회부(921b)는 인출 전극부(913A)와 접속하기 위한 접속부이며, 절개부(921c, 921d)를 형성함으로써 「コ」자형으로 우회하고 있다. 우회부(921b)는 선로길이를 길게 함과 동시에 선로폭을 가늘게 하여 저항값을 증대시키고 있다.
우회부(921b)의 저항값은 인출부(922b) 및 접속부(922c)의 합성저항값과 인출부(923b) 및 접속부(923c)의 합성저항값이 동일해지도록 설정되어 있다.
이상과 같이 하여, 터치 패널(900)의 투명 도전막(912)은 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(921)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(922)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 더욱 내측에 위치하는 도전 영역(923)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값이 모두 동일해지도록 구성되어 있다.
따라서, 실시형태 9에 의하면, 평면에서 볼 때 외측에 위치하는 도전 영역(921)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 내측에 위치하는 도전 영역(922)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값과, 평면에서 볼 때 더욱 내측에 위치하는 도전 영역(923)과 좌표 검출 회로(50)의 사이의 저항값이 모두 동일하므로, 도전 영역(921, 922, 923)에 접속되는 필터회로 등을 공통화할 수 있어 회로의 간소화를 도모할 수 있다.
또한, 도전 영역(921)은 도 24에 나타낸 바와 같이 8열로 형성되어 있고, 각 도전 영역(921)과 단자(15)의 사이를 접속하는 인출 전극부(913A)의 길이는 상이하다. 이 때 문에, 인출 전극부(913A)의 길이에 의한 저항값의 차이가 문제되는 경우에는, 인출 전극부(913A)의 길이가 긴 도전 영역(921)만큼 우회부(921b)의 저항값을 작게 하고, 인출 전극부(913A)의 길이가 짧은 도전 영역(921)만큼 우회부(921b)의 저항값을 크게 하여도 된다.
또한, 도전 영역(922, 923)에 접속되는 인출 전극부(913B, 913C)에 대해서도 동일하게 저항값의 조정을 실시하여도 된다.
또한, 상술한 바와 같이, 우회부(921b), 인출부(922b) 및 접속부(922c), 인출부(923b) 및 접속부(923c)의 저항값을 조정하는 대신에 혹은 그에 부가하여, 실시형태 8의 터치 패널(800)과 마찬가지로, 인출 전극부(913A, 913B, 913C)를 구성하는 은페이스트의 저항율이나 선폭 또는 선길이를 조정함으로써 저항값을 조정하여도 된다.
또한, 단자(15) 또는 좌표 검출 회로에 저항기를 삽입함으로써 저항값을 조정하여도 된다.
지금까지, 본 발명의 예시적인 실시형태의 터치 패널에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 구체적으로 개시된 실시형태로 한정되는 것이 아니고, 특허청구범위로부터 일탈하지 않고 여러 가지의 변형이나 변경이 가능하다.
본원은 2011년 5월 12일에 출원한 일본 특허 출원 제2011－107337호에 근거하여 우선권을 주장하는 것이며 상기 일본 특허 출원의 모든 내용을 본원에 참조로서 원용한다.
10 : 상부 전극 기판 11 : 필름
12 : 투명 도전막 13 : 인출 전극부
14 : 플렉시블 기판 20 : 하부 전극 기판
21 : 유리 22 : 투명 도전막
23 : 전극 24 : 전극
25 : 전극 26 : 전극
27 : 플렉시블 기판 31 : 스페이서
121 : 도전 영역 121a : 영역부
121b : 인출부 121c : 접속부
122 : 도전 영역 131 : 인출 전극
132 : 인출 전극
120A, 120B, 312A, 321B, 412A~412N, 512A~512H, 512L, 512R, 612A~612G : 영역
210, 310, 410, 510, 610, 710 : 상부 전극 기판
212, 312, 412, 512, 612, 712 : 투명 도전막
220 : 하부 전극 기판 222 : 투명 도전막
223 : 전극 712A : 중앙부
712B : 주위부 712C : 인출부
800 : 터치 패널 810 : 상부 전극 기판
811 : 필름 812 : 투명 도전막
813 : 인출 전극부 813A : 인출 전극부
813B : 인출 전극부 15C : 저항기
813C : 우회부 820 : 하부 전극 기판
821 : 도전 영역 821a : 영역부
821b : 우회부 822 : 도전 영역
822a : 영역부 822b : 인출부
822c : 접속부 900 : 터치 패널
910 : 상부 전극 기판 912 : 투명 도전막
913 : 인출 전극부 913A, 913B, 913C : 인출 전극부
921, 922, 923 : 도전 영역 921a : 영역부
921b : 우회부 922a : 영역부
922b : 인출부 922c : 접속부
923a : 영역부 923b : 인출부
923c : 접속부

Claims (17)

  1. 제1 기판상에 형성되고, 일부 또는 전체가 복수의 도전 영역으로 분할된 제1 도전막을 갖는 제1 전극 기판과,
    제2 기판상에 형성되고, 상기 제1 도전막과 대향하는 제2 도전막을 갖는 제2 전극 기판
    을 구비하는 터치 패널.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역은 상기 제1 도전막의 일부 또는 전체가 세로 방향 또는 가로 방향으로 3분할 이상으로 분할된 복수의 도전 영역인 터치 패널.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역은 상기 제1 도전막의 일부 또는 전체가 중앙부와 그 중앙부를 둘러싸는 주위부로 분할된 복수의 도전 영역인 터치 패널.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역중 상기 제1 전극 기판의 4변의 어느 변과도 접하지 않는 도전 영역은 상기 4변중 어느 한변으로 연장되는 인출부를 갖는 터치 패널.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역은 상기 제1 도전막의 일부 또는 전체가 중앙부로부터 방사상으로 분할된 복수의 도전 영역인 터치 패널.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역은 상기 제1 도전막의 일부 또는 전체가 단부로부터 방사상으로 분할된 복수의 도전 영역인 터치 패널.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2 도전막에 있어서 전위분포를 일으키게 하기 위하여 상기 제2 도전막의 4변 단부에 형성된 전극과,
    상기 도전 영역의 각각에 접속되고, 상기 도전 영역중 어느 하나가 상기 제2 도전막과 접촉하면 그 접촉이 있었던 도전 영역내의 좌표 위치를 검출하는 좌표 검출 회로
    를 더 구비하는 터치 패널.
  8. 제1 기판상에 형성되고, 복수의 도전 영역으로 분할된 제1 도전막을 갖는 제1 전극 기판과,
    제2 기판상에 형성되고, 상기 제1 도전막과 대향하는 제2 도전막을 갖는 제2 전극 기판과,
    상기 제2 도전막에 있어서 전위분포를 일으키게 하기 위하여 상기 제2 도전막의 4변 단부에 형성된 전극과,
    상기 도전 영역의 각각에 접속되고, 상기 도전 영역중 어느 하나가 상기 제2 도전막과 접촉하면 그 접촉이 있었던 도전 영역내의 좌표 위치를 검출하는 좌표 검출 회로
    를 구비하고,
    상기 복수의 도전 영역중 평면에서 볼 때 외측에 있는 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 복수의 도전 영역중 평면에서 볼 때 내측에 있는 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값이 동일한 터치 패널.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극과,
    상기 제1 도전막에 형성되고, 상기 제1 도전 영역과 상기 인출 전극의 사이를 우회하여 접속하는 우회 패턴
    을 더 포함하고,
    상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 상기 우회 패턴에 의해 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과 동일해지는 터치 패널.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극을 더 구비하고,
    상기 제1 도전 영역에 접속되는 제1 인출 전극의 저항값을 상기 제2 도전 영역에 접속되는 제2 인출 전극의 저항값보다 높게 함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과 동일해지는 터치 패널.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 제1 인출 전극은 전극폭을 상기 제2 인출 전극의 전극폭보다 좁게 함으로써 제2 인출 전극의 저항값보다 저항값이 높아지는 터치 패널.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 제1 인출 전극은 전극길이를 상기 제2 인출 전극의 전극길이보다 길게 함으로써 제2 인출 전극의 저항값보다 저항값이 높아지는 터치 패널.
  13. 제8항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극을 더 구비하고,
    상기 제1 도전 영역에 접속되는 상기 인출 전극과 상기 좌표 검출 회로의 사이에 저항기를 삽입함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값은 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과 동일해지는 터치 패널.
  14. 제8항에 있어서,
    상기 도전 영역은 상기 제1 도전 영역 및 상기 제2 도전 영역에 부가하여, 상기 제2 도전 영역보다 더욱 내측에 있는 제 3 도전 영역으로 분할되어 있고,
    상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제 3 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값이 동일한 터치 패널.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극과,
    상기 제1 도전막에 형성되고, 상기 제1 도전 영역과 상기 인출 전극의 사이를 우회하여 접속하는 우회 패턴과,
    상기 제1 도전막에 형성되고, 상기 인출 전극과 상기 제2 도전 영역의 사이를 접속하는 제1 인출부와,
    상기 제1 도전막에 형성되고, 상기 인출 전극과 상기 제 3 도전 영역의 사이를 접속하는 제2 인출부
    를 더 구비하고,
    상기 우회 패턴, 상기 제1 인출부 및 상기 제2 인출부의 저항값을 동일하게 함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제 3 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값이 동일해지는 터치 패널.
  16. 제14항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극을 더 구비하고,
    상기 제1 도전 영역에 접속되는 제1 인출 전극의 저항값을 상기 제2 도전 영역에 접속되는 제2 인출 전극의 저항값보다 높게 하고, 상기 제2 인출 전극의 저항값을 상기 제 3 도전 영역에 접속되는 제 3 인출 전극의 저항값보다 높게 함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제 3 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값이 동일해지는 터치 패널.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 복수의 도전 영역의 각각을 상기 좌표 검출 회로에 접속하기 위하여 평면에서 볼 때 상기 복수의 도전 영역의 주위에 형성되는 복수의 인출 전극을 더 구비하고,
    상기 제1 도전 영역에 접속되는 상기 인출 전극과 상기 좌표 검출 회로의 사이에 제1 저항기를 삽입함과 함께, 상기 제2 도전 영역에 접속되는 상기 인출 전극과 상기 좌표 검출 회로의 사이에 제2 저항기를 삽입함으로써, 상기 제1 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제2 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값과, 상기 제 3 도전 영역과 상기 좌표 검출 회로의 사이의 저항값이 동일해지는 터치 패널.
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