KR20120117021A - Luminous element sorting apparatus and luminous element test handler - Google Patents

Luminous element sorting apparatus and luminous element test handler Download PDF

Info

Publication number
KR20120117021A
KR20120117021A KR1020110034496A KR20110034496A KR20120117021A KR 20120117021 A KR20120117021 A KR 20120117021A KR 1020110034496 A KR1020110034496 A KR 1020110034496A KR 20110034496 A KR20110034496 A KR 20110034496A KR 20120117021 A KR20120117021 A KR 20120117021A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light emitting
emitting device
sorting
tested
unit
Prior art date
Application number
KR1020110034496A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김태윤
장태훈
정시환
김형희
Original Assignee
미래산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미래산업 주식회사 filed Critical 미래산업 주식회사
Priority to KR1020110034496A priority Critical patent/KR20120117021A/en
Publication of KR20120117021A publication Critical patent/KR20120117021A/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67271Sorting devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements

Abstract

PURPOSE: A light emitting element classifying device and a light emitting element test handler are provided to reduce manufacturing costs. CONSTITUTION: A classifying mechanism(11) comprises a taking-in hole and a taking-out hole. The taking-in hole carries in a tested light emitting element. The taking-out hole carries out the tested light emitting element. A first coupling mechanism(12) combines the classifying mechanism in a first shaft direction which can be pivotabely moved. A second coupling mechanism(13) combines the first coupling mechanism in a second shaft direction which can be straightly moved. The second shaft direction is perpendicular to the first shaft direction. A movement unit(14) changes a direction in which the taking-out hole faces.

Description

발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러{Luminous Element Sorting Apparatus and Luminous Element Test Handler}Luminous Element Sorting Apparatus and Luminous Element Test Handler}

본 발명은 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것이다.The present invention relates to a light emitting device classifying device and a light emitting device test handler for classifying light emitting devices into classes according to test results.

발광소자(Luminous element)는 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자로, 엘이디(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(Semiconductor laser) 등을 말하며, 자동차 계기류의 표시소자, 광통신용광원 등 각종 전자기기의 표시용 램프, 숫자표시 장치나 계산기의 카드 판독기, 백라이트 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다.A luminous element is a device using a semiconductor that converts electricity into light, and refers to an LED (Light-emitting Diode), a semiconductor laser (Semiconductor laser), etc. BACKGROUND ART It is widely used in various fields such as display lamps for electronic devices, card readers for digital display and calculators, and backlights.

이러한 발광소자는 여러 가지 공정을 거쳐 제조되는데, 이 공정에는 발광소자가 가지는 성능을 테스트하는 공정, 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정 등이 포함된다. Such a light emitting device is manufactured through various processes, and this process includes a process of testing the performance of the light emitting device, a process of classifying by grade according to the test result, and the like.

상술한 바와 같은 공정들을 거쳐 정상적으로 작동되지 않는 발광소자를 제외시키는 한편, 정상적으로 작동되는 발광소자를 그 성능에 따라 등급별로 구분하여 출하하게 된다. 이러한 공정들에 걸리는 시간은 발광소자에 대한 제조단가에 영향을 미치게 된다. 따라서, 발광소자에 대한 제조단가를 낮출 수 있도록 짧은 시간에 더 많은 발광소자가 등급별로 분류될 수 있도록 하는 장치의 개발이 필요하다.Excluding light emitting devices that do not operate normally through the above-described processes, the light emitting devices that operate normally are classified and classified according to their performance. The time taken for these processes affects the manufacturing cost for the light emitting device. Therefore, there is a need for the development of a device that allows more light emitting devices to be classified by grade in a short time to reduce manufacturing costs for light emitting devices.

본 발명은 상술한 바와 같은 필요를 해소하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the above-described need, and an object of the present invention is to provide a light emitting device test handler capable of classifying more light emitting devices by class in a short time.

상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.In order to achieve the object as described above, the present invention includes the following configuration.

본 발명에 따른 발광소자 분류장치는 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구와 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구를 갖는 분류기구; 상기 분류기구가 제1축방향으로 회전 이동 가능하게 결합되는 제1결합기구; 상기 제1결합기구가 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향으로 직선 이동 가능하게 결합되는 제2결합기구; 및 상기 반출구가 향하는 방향을 변경하기 위한 이동유닛을 포함할 수 있다. 상기 이동유닛은 상기 분류기구를 상기 제1축방향으로 회전 이동시키는 제1구동기구, 및 상기 제1결합기구를 상기 제2축방향으로 직선 이동시키는 제2구동기구를 포함할 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a light emitting device classifying apparatus, comprising: a sorting device having a carrying in port for carrying out a tested light emitting device and a carrying out port for carrying out a tested light emitting device; A first coupling mechanism to which the sorting mechanism is rotatably coupled in a first axial direction; A second coupling mechanism to which the first coupling mechanism is linearly coupled in a second axial direction perpendicular to the first axial direction; And it may include a mobile unit for changing the direction that the outlet exit. The moving unit may include a first driving mechanism for rotating the sorting mechanism in the first axial direction, and a second driving mechanism for linearly moving the first coupling mechanism in the second axial direction.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부; 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부; 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 발광소자 분류장치; 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 발광소자 분류장치로 이송하는 이송부를 포함할 수 있다.The light emitting device test handler according to the present invention includes a supply unit for supplying a light emitting device to be tested; A test unit in which a test unit for testing a light emitting device is installed; A picker unit transferring the light emitting device to be tested from the supply unit to the test unit; A light emitting device classification device for classifying the tested light emitting devices by grades according to a test result; And a transfer unit configured to transfer the tested light emitting device from the test unit to the light emitting device classification device.

본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.According to the present invention, the following effects can be achieved.

본 발명은 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류함으로써 발광소자에 대한 제조단가 절감에 기여할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.The present invention can obtain the effect of contributing to the reduction in manufacturing cost for the light emitting device by classifying more light emitting devices by class in a short time.

도 1은 본 발명에 따른 발광소자 분류장치가 설치된 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도
도 2 및 도 3은 본 발명에 따른 분류기구의 작동관계를 설명하기 위한 개략적인 사시도
도 4는 본 발명에 따른 분류기구가 회전 이동할 때와 직선 이동할 때를 비교하기 위한 개념도
도 5는 본 발명에 따른 분류부의 개략적인 사시도
도 6은 본 발명에 따른 전달기구의 개략적인 사시도
도 7은 본 발명에 따른 전달기구의 개략적인 평면도
도 8은 본 발명에 따른 분류기구가 제1축방향으로 회전 이동하는 상태를 설명하기 위한 개략적인 작동상태도
도 9는 본 발명에 따른 분류기구가 제2축방향으로 직선 이동하는 상태를 설명하기 위한 개략적인 작동상태도
도 10은 본 발명에 따른 발광소자 분류장치의 개략적인 사시도
도 11은 본 발명에 따른 수납부의 개략적인 사시도
도 12는 도 10에서 본 발명에 따른 수납부가 개방된 상태를 나타낸 개략적인 사시도
도 13은 본 발명에 따른 공급부, 픽커부, 테스트부, 및 이송부의 개략적인 사시도
도 14는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 로딩위치, 테스트위치, 및 언로딩위치에 대한 개념도
도 15는 본 발명에 따른 접속유닛의 개략적인 사시도
1 is a schematic perspective view of a light emitting device test handler equipped with a light emitting device classification apparatus according to the present invention;
2 and 3 is a schematic perspective view for explaining the operating relationship of the classification device according to the present invention
4 is a conceptual diagram for comparing when the classification mechanism according to the present invention when the rotational movement and the linear movement
5 is a schematic perspective view of a classification part according to the present invention;
6 is a schematic perspective view of a delivery mechanism according to the present invention;
7 is a schematic plan view of a delivery mechanism according to the invention.
8 is a schematic operation state diagram for explaining a state in which the classification mechanism according to the present invention is rotated in the first axis direction
9 is a schematic operation state diagram for explaining a state in which the classification mechanism according to the present invention in a linear movement in the second axis direction
10 is a schematic perspective view of a light emitting device classification apparatus according to the present invention;
11 is a schematic perspective view of a storage unit according to the present invention;
FIG. 12 is a schematic perspective view illustrating an open state of the accommodating part according to the present invention in FIG. 10.
13 is a schematic perspective view of a supply unit, a picker unit, a test unit, and a transfer unit according to the present invention;
14 is a conceptual diagram of a loading position, a test position, and an unloading position in a light emitting device test handler according to the present invention;
15 is a schematic perspective view of a connecting unit according to the present invention;

이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 분류장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a light emitting device classification apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

<발광소자 분류장치><Light emitting device sorting device>

도 1은 본 발명에 따른 발광소자 분류장치가 설치된 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도, 도 2 및 도 3은 본 발명에 따른 분류기구의 작동관계를 설명하기 위한 개략적인 사시도, 도 4는 본 발명에 따른 분류기구가 회전 이동할 때와 직선 이동할 때를 비교하기 위한 개념도, 도 5는 본 발명에 따른 분류부의 개략적인 사시도, 도 6은 본 발명에 따른 전달기구의 개략적인 사시도, 도 7은 본 발명에 따른 전달기구의 개략적인 평면도, 도 8은 본 발명에 따른 분류기구가 제1축방향으로 회전 이동하는 상태를 설명하기 위한 개략적인 작동상태도, 도 9는 본 발명에 따른 분류기구가 제2축방향으로 직선 이동하는 상태를 설명하기 위한 개략적인 작동상태도, 도 10은 본 발명에 따른 발광소자 분류장치의 개략적인 사시도, 도 11은 본 발명에 따른 수납부의 개략적인 사시도, 도 12는 도 10에서 본 발명에 따른 수납부가 개방된 상태를 나타낸 개략적인 사시도이다.1 is a schematic perspective view of a light emitting device test handler equipped with a light emitting device classification apparatus according to the present invention, FIGS. 2 and 3 are schematic perspective views for explaining an operation relationship of a classification device according to the present invention, and FIG. 5 is a schematic perspective view for comparing the classification mechanism according to the rotational movement and the linear movement when, according to the present invention, Figure 6 is a schematic perspective view of the delivery mechanism according to the present invention, Figure 7 8 is a schematic plan view of a delivery mechanism according to the present invention, FIG. 8 is a schematic operation state diagram for explaining a state in which the classification mechanism according to the present invention rotates in a first axial direction, and FIG. 10 is a schematic perspective view illustrating a state of linearly moving in the axial direction, FIG. 10 is a schematic perspective view of a light emitting device classification apparatus according to the present invention, and FIG. 12 is a schematic perspective view illustrating an open state of a receiving unit according to the present invention in FIG. 10.

도 1을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 발광소자 테스트 핸들러(100)에 설치된다. 상기 발광소자 테스트 핸들러(100)에서는 테스트될 발광소자를 공급하는 공정, 공급된 발광소자를 테스트하는 테스트공정 등이 이루어진다. 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정을 수행한다.Referring to FIG. 1, the light emitting device classification apparatus 10 according to the present invention is installed in the light emitting device test handler 100. In the light emitting device test handler 100, a process of supplying a light emitting device to be tested and a test process of testing the supplied light emitting device are performed. The light emitting device classification apparatus 10 according to the present invention performs a process of classifying the tested light emitting devices by grades according to the test results.

도 1 및 도 2를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자(미도시)를 등급별로 분류하기 위한 분류부(1)를 포함한다. 상기 분류부(1)는 테스트된 발광소자에 대한 테스트 결과에 따라 해당 발광소자에 부여된 등급 정보를 제공받을 수 있다. 상기 분류부(1)는 제공된 등급 정보에 기초하여 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다. 테스트된 발광소자에 부여된 등급 정보는 상기 발광소자 테스트 핸들러(100, 도 1에 도시됨)에 설치된 테스터(미도시)로부터 제공될 수 있다.1 and 2, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention includes a sorting unit 1 for classifying the tested light emitting devices (not shown) by grade. The classification unit 1 may be provided with grade information assigned to a corresponding light emitting device according to a test result of the tested light emitting device. The classification unit 1 may classify the tested light emitting devices by grades based on the provided grade information. Grade information given to the tested light emitting device may be provided from a tester (not shown) installed in the light emitting device test handler 100 (shown in FIG. 1).

도 2를 참고하면, 상기 분류부(1)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 분류기구(11), 상기 분류기구(11)가 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동 가능하게 결합되는 제1결합기구(12), 상기 제1결합기구(12)가 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동 가능하게 결합되는 제2결합기구(13), 및 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로부터 반출되는 방향을 변경시키기 위한 이동유닛(14)을 포함한다. 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)은 서로 수직한 방향이다.Referring to FIG. 2, the sorting unit 1 includes a sorting mechanism 11 that moves to classify the tested light emitting devices according to grades, and the sorting mechanism 11 is rotated in a first axis direction (X-axis direction). A first coupling mechanism 12 that is possibly coupled, a second coupling mechanism 13 to which the first coupling mechanism 12 is linearly movable in a second axis direction (Y-axis direction), and the tested light emitting device It includes a moving unit 14 for changing the direction to be taken out from the sorting mechanism (11). The first axis direction (X axis direction) and the second axis direction (Y axis direction) are perpendicular to each other.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 분류기구(11)는 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구(111, 도 2에 도시됨) 및 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구(112, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 상기 분류기구(11)는 상기 반입구(111) 및 상기 반출구(112) 각각에 연통되게 연결되는 이동로(미도시)를 포함할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 반입구(111)를 통해 상기 분류기구(11)로 진입할 수 있고, 상기 이동로를 거쳐 상기 반출구(112)를 통해 상기 분류기구(11)로부터 반출될 수 있다.Referring to FIGS. 2 and 3, the sorting mechanism 11 may include an inlet 111 (shown in FIG. 2) for carrying in the tested light emitting device and an outlet 112 for carrying out the tested light emitting device. Shown in 2). The sorting mechanism 11 may include a movement path (not shown) connected to each of the inlet 111 and the outlet 112. The tested light emitting device may enter the sorting mechanism 11 through the inlet 111, and may be carried out from the sorting mechanism 11 through the carrying out port 112 through the moving path.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 분류기구(11)는 상기 제1결합기구(12)에 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동 가능하게 결합된다. 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동함에 따라, 상기 반출구(112)는 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동할 수 있다. 상기 분류기구(11)는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동함에 따라 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다. 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동함에 따라, 상기 반출구(112)는 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다. 따라서, 상기 분류기구(11)는 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 이동함으로써, 테스트된 발광소자가 상기 반출구(112)로부터 반출되는 방향을 변경할 수 있다. 이에 따라, 테스트된 발광소자는 등급별로 상기 반출구(112)로부터 서로 다른 방향으로 반출됨으로써, 등급별로 분류될 수 있다.2 and 3, the sorting mechanism 11 is rotatably coupled to the first coupling mechanism 12 in the first axial direction (X-axis direction). As the sorting mechanism 11 rotates in the first axial direction (X-axis direction), the discharge port 112 may rotate in the first axial direction (X-axis direction). The sorting mechanism 11 may linearly move in the second axial direction (Y-axis direction) as the first coupling mechanism 12 linearly moves in the second axial direction (Y-axis direction). As the sorting mechanism 11 linearly moves in the second axial direction (Y-axis direction), the discharge port 112 may linearly move in the second axial direction (Y-axis direction). Accordingly, the sorting mechanism 11 moves in the first axial direction (X-axis direction) and the second axial direction (Y-axis direction) to thereby move the tested light emitting device from the discharge port 112. You can change it. Accordingly, the tested light emitting devices may be classified by grade by being discharged from the outlet 112 in different directions for each grade.

본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는, 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하면서 테스트된 발광소자를 분류하는 경우와 대비하여 볼 때, 다음과 같은 작용 효과를 도모할 수 있다.The light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention includes a light emitting device tested while the sorting mechanism 11 linearly moves in the first axis direction (X axis direction) and the second axis direction (Y axis direction). In contrast to the case of classification, the following effects can be achieved.

우선, 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향) 모두에 대해 직선 이동하면서 테스트된 발광소자를 분류하는 경우, 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 직선 이동함에 따라 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하기 위한 반입구(111)의 위치 또한 상기 제1축방향(X축 방향)으로 직선 이동하게 된다. 따라서, 상기 분류기구(11)가 이동함에 따라 테스트된 발광소자가 반입구(111)로 진입하기 위해 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동하는 거리 또한 달라지므로, 상기 분류기구(11)의 위치에 따라 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하기 위해 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동하는 거리가 증가할 수 있다. 이에 따라, 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하는데 걸리는 시간이 증가할 수 있다.First, when the classification mechanism 11 classifies the tested light emitting device while linearly moving in both the first axial direction (X axis direction) and the second axial direction (Y axis direction), the classification device 11 ) Moves linearly in the first axial direction (X-axis direction), the position of the inlet 111 for the light emitting device tested to enter the sorting mechanism 11 is also in the first axial direction (X-axis direction). Will move straight. Therefore, as the sorting device 11 moves, the distance at which the tested light emitting device moves in the first axial direction (X-axis direction) to enter the inlet 111 also changes, so that the sorting device 11 is changed. According to the position of the light emitting device tested to enter the sorting mechanism 11, the distance to move in the first axis direction (X-axis direction) may increase. Accordingly, the time taken for the tested light emitting device to enter the sorting device 11 may be increased.

다음, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동하면서 테스트된 발광소자를 분류한다. 따라서, 상기 분류기구(11)가 테스트된 발광소자를 분류하기 위해 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동하여도, 상기 반입구(111)의 위치가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 변경 없이 유지될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하기 위해 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동하는 거리가 소정 범위 내로 유지될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하기 위해 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동하는 거리를 줄일 수 있고, 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.Next, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention sorts the tested light emitting devices while the sorting mechanism 11 is rotated in the first axis direction (X axis direction). Therefore, even when the sorting mechanism 11 is rotated and moved in the first axial direction (X-axis direction) to classify the tested light emitting device, the position of the loading hole 111 is in the first axial direction (X-axis). Direction) can be maintained without change. Accordingly, in the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention, the distance at which the tested light emitting device moves in the first axis direction (X axis direction) to enter the sorting mechanism 11 is maintained within a predetermined range. Can be. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can reduce the distance that the tested light emitting device moves in the first axial direction (X-axis direction) to enter the sorting mechanism 11, The time taken for the light emitting element to enter the sorting mechanism 11 can be reduced. Accordingly, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention can classify more light emitting devices by grade in a short time.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 분류기구(11)에는 상기 이동로가 상기 반입구(111)에서 상기 반출구(112)를 향할수록 크기가 감소되게 형성될 수 있다. 이에 따라, 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 반입되기 위한 통로 면적을 넓힐 수 있고, 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로부터 반출되기 위한 통로 면적을 좁힐 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자가 걸림 등에 의해 상기 분류기구(11)로 반입되지 못하는 등 오작동이 발생할 가능성을 줄일 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자가 테스트 결과에 따른 등급에 정확하게 분류되도록 할 수 있다.Referring to FIGS. 2 and 3, the sorting mechanism 11 may be formed such that the moving path is reduced in size from the inlet 111 toward the outlet 112. Accordingly, the passage area for the tested light emitting device to be carried into the sorting device 11 can be widened, and the passage area for the tested light emitting device to be taken out from the sorting device 11 can be narrowed. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention can reduce the possibility that a malfunction occurs, such as the tested light emitting device cannot be brought into the sorting mechanism 11 due to a jam or the like. In addition, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention may allow the tested light emitting devices to be accurately classified into grades according to the test results.

상기 분류기구(11)는 테스트된 발광소자가 통과할 수 있도록 전체적으로 중공의 원통 형태로 형성될 수 있다. 상기 분류기구(11)는 상기 반입구(111)에서 상기 반출구(112)를 향할수록 직경이 감소되게 형성될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 분류기구(11)는 전체적으로 중공의 사각 형태 등 다각형 형태로 형성될 수도 있다.The sorting mechanism 11 may be formed in a hollow cylindrical shape as a whole so that the tested light emitting device can pass. The sorting mechanism 11 may be formed to decrease in diameter from the inlet 111 toward the outlet 112. Although not shown, the sorting mechanism 11 may be formed in a polygonal shape such as a hollow rectangular shape as a whole.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제1결합기구(12)에는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동 가능하게 결합된다. 도 2에 점선으로 도시된 바와 같이 상기 분류기구(11)는 상기 제1결합기구(12)에 결합된 상태로 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동할 수 있다.2 and 3, the sorting mechanism 11 is rotatably coupled to the first coupling mechanism 12 in the first axial direction (X-axis direction). As shown by a dotted line in FIG. 2, the sorting mechanism 11 may be rotatably moved in the first axial direction (X-axis direction) while being coupled to the first coupling mechanism 12.

상기 제1결합기구(12)에는 구동회전부재(121, 도 3에 도시됨)가 결합된다. 상기 구동회전부재(121)에는 상기 분류기구(11)의 일측이 결합된다. 상기 분류기구(11)는 상기 구동회전부재(121)를 제1회전축(12a, 도 3에 도시됨)으로 하여 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전할 수 있다. 상기 구동회전부재(121)는 상기 제1결합기구(12)에 회전 이동 가능하게 결합된다. 상기 구동회전부재(121)는 상기 이동유닛(14)에 연결된다. 상기 구동회전부재(121)는 상기 이동유닛(14)으로부터 제공되는 회전력에 의해 회전 이동된다. 상기 구동회전부재(121)가 회전 이동함에 따라, 상기 분류기구(11)가 회전 이동할 수 있다. 상기 구동회전부재(121)와 상기 제1결합기구(12) 사이에는 베어링이 설치될 수 있다.A drive rotation member 121 (shown in FIG. 3) is coupled to the first coupling mechanism 12. One side of the sorting mechanism 11 is coupled to the drive rotating member 121. The sorting mechanism 11 may rotate in the first axial direction (X-axis direction) using the driving rotation member 121 as the first rotation shaft 12a (shown in FIG. 3). The drive rotating member 121 is coupled to the first coupling mechanism 12 so as to be rotatable. The drive rotating member 121 is connected to the mobile unit 14. The drive rotating member 121 is rotated by the rotational force provided from the mobile unit 14. As the driving rotary member 121 rotates, the sorting mechanism 11 may rotate. A bearing may be installed between the driving rotating member 121 and the first coupling mechanism 12.

도시되지 않았지만, 상기 제1결합기구(12)에는 종동회전부재(미도시)가 결합될 수 있다. 상기 종동회전부재에는 상기 분류기구(11)의 타측이 결합될 수 있다. 상기 분류기구(11)는 상기 구동회전부재(121)와 상기 종동회전부재를 제1회전축(12a)으로 하여 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동할 수 있다. 즉, 상기 분류기구(11)는 양측이 상기 제1결합기구(12)에 지지된 상태로 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)를 지지하기 위한 지지력을 증가시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 반복적으로 회전 이동함에 따라 상기 분류기구(11)와 상기 제1결합기구(12) 간의 결합력이 약화됨으로써 상기 분류기구(11)가 상기 제1결합기구(12)로부터 분리되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동하고 정지함에 따라 발생하는 진동 등을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다.Although not shown, a driven rotating member (not shown) may be coupled to the first coupling mechanism 12. The other side of the sorting mechanism 11 may be coupled to the driven rotating member. The sorting mechanism 11 may rotate in the first axial direction (X-axis direction) using the driving rotary member 121 and the driven rotary member as the first rotary shaft 12a. That is, the sorting mechanism 11 may rotate in the first axial direction (X-axis direction) while both sides are supported by the first coupling mechanism 12. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can increase the holding force for supporting the sorting mechanism 11. Accordingly, in the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention, as the sorting mechanism 11 is repeatedly rotated in the first axial direction (X-axis direction), the sorting mechanism 11 and the first coupling are combined. The weakening of the coupling force between the mechanisms 12 can prevent the separation mechanism 11 from being separated from the first coupling mechanism 12. In addition, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can reduce vibrations, etc. generated when the sorting mechanism 11 rotates and stops in the first axial direction (X-axis direction). Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can improve the accuracy of the process of classifying the tested light emitting devices by grade.

도시되지 않았지만, 상기 종동회전부재는 상기 제1결합기구(12)에 회전 이동 가능하게 결합될 수 있다. 상기 종동회전부재는 상기 분류기구(11)를 기준으로 상기 구동회전부재(122) 반대편에 위치되게 설치될 수 있다. 즉, 상기 분류기구(11)는 상기 종동회전부재와 상기 구동회전부재(121) 사이에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 종동회전부재는 상기 분류기구(11)가 회전 이동함에 따라 회전 이동할 수 있다. 상기 종동회전부재와 상기 제1결합기구(12) 사이에는 베어링이 설치될 수 있다.Although not shown, the driven rotating member may be rotatably coupled to the first coupling mechanism 12. The driven rotating member may be installed to be opposite to the driving rotating member 122 based on the sorting mechanism 11. That is, the sorting mechanism 11 may be installed to be located between the driven rotating member and the driving rotating member 121. The driven rotating member may move in rotation as the sorting mechanism 11 rotates. A bearing may be installed between the driven rotating member and the first coupling mechanism 12.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제1결합기구(12)에는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동하기 위한 제1이동공(123)이 형성된다. 상기 제1이동공(123)은 상기 제1결합기구(12)를 관통하여 형성될 수 있다. 상기 분류기구(11)는 상기 제1이동공(123)에 삽입된 상태로 상기 제1결합기구(12)에 결합될 수 있다. 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전하는 것에 상기 제1결합기구(12)가 방해되지 않도록, 상기 제1이동공(123)은 상기 제1축방향(X축 방향)으로 길게 형성될 수 있다.2 and 3, the first coupling mechanism 12 is provided with a first moving hole 123 for rotating the sorting mechanism 11 in the first axial direction (X-axis direction). . The first moving hole 123 may be formed through the first coupling mechanism 12. The sorting mechanism 11 may be coupled to the first coupling mechanism 12 while being inserted into the first moving hole 123. The first moving hole 123 is in the first axial direction (X) so that the first coupling mechanism 12 does not interfere with the flow of the sorting mechanism 11 in the first axial direction (X-axis direction). In the axial direction).

도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 제2결합기구(13)에는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동 가능하게 결합된다. 도 3에 도시된 바와 같이 상기 제1결합기구(12)는 상기 제2결합기구(13)에 결합된 상태로 상기 제2축방향(X축 방향)으로 직선 이동할 수 있다. 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동함에 따라, 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다. 따라서, 상기 분류기구(11)는 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동하고, 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하면서 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.2 to 4, the first coupling mechanism 12 is coupled to the second coupling mechanism 13 to be linearly movable in the second axial direction (Y-axis direction). As shown in FIG. 3, the first coupling mechanism 12 may linearly move in the second axial direction (X-axis direction) while being coupled to the second coupling mechanism 13. As the first coupling mechanism 12 linearly moves in the second axial direction (Y-axis direction), the sorting mechanism 11 may linearly move in the second axial direction (Y-axis direction). Accordingly, the classification mechanism 11 may classify the tested light emitting devices by grade while rotating in the first axis direction (X-axis direction) and linearly moving in the second axis direction (Y-axis direction).

본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는, 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전 이동하면서 테스트된 발광소자를 분류하는 경우와 대비하여 볼 때, 다음과 같은 작용 효과를 도모할 수 있다.In the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention, the light emitting device tested while the sorting mechanism 11 rotates in the first axis direction (X axis direction) and the second axis direction (Y axis direction). In contrast to the case of classification, the following effects can be achieved.

우선, 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전 이동하면서 테스트된 발광소자를 분류하는 경우, 상기 반출구(112)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전 이동하는 거리는, 도 4에 도시된 바와 같이 상기 반출구(112)가 지나는 호(弧)의 길이(112a)임을 알 수 있다.First, when the sorting mechanism 11 classifies the tested light emitting device while rotating in the second axis direction (Y axis direction), the discharge port 112 is in the second axis direction (Y axis direction). As shown in FIG. 4, the distance moving in rotation may be a length 112a of an arc through which the outlet 112 passes.

다음, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하면서 테스트된 발광소자를 분류한다. 이에 따라, 상기 반출구(112)가 테스트된 발광소자를 분류하기 위해 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하는 거리는, 도 4에 도시된 바와 같이 상기 반출구(112)가 지나는 직선의 길이(112b)임을 알 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전 이동하는 것과 비교할 때, 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동함으로써 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 이동하는 거리를 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자를 분류하기 위해 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 이동하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다.Next, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention sorts the tested light emitting devices while the sorting mechanism 11 linearly moves in the second axis direction (Y-axis direction). Accordingly, the distance that the export outlet 112 linearly moves in the second axis direction (Y-axis direction) to classify the tested light emitting device is a straight line through which the export outlet 112 passes, as shown in FIG. 4. It can be seen that the length of 112b. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention is compared with the sorting mechanism 11 being rotated in the second axis direction (Y-axis direction). By moving linearly in the direction (Y-axis direction), the distance that the sorting mechanism 11 moves in the second axial direction (Y-axis direction) can be reduced. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can reduce the time taken for the sorting mechanism 11 to move in the second axis direction (Y-axis direction) to classify the tested light emitting devices.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제2결합기구(13)는 안내기구(131)를 포함한다. 상기 안내기구(131)는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하도록 안내한다. 상기 안내기구(131)는 제1안내기구(1311) 및 제2안내기구(1312)를 포함한다.2 and 3, the second coupling mechanism 13 includes a guide mechanism 131. The guide mechanism 131 guides the first coupling mechanism 12 to linearly move in the second axis direction (Y-axis direction). The guide mechanism 131 includes a first guide mechanism 1311 and a second guide mechanism 1312.

상기 제1안내기구(1311)는 상기 제1결합기구(12)의 일측에 결합된다. 상기 제2안내기구(1312)는 상기 제2결합기구(12)의 타측에 결합된다. 상기 제1결합기구(12)는 상기 제1안내기구(1311)와 상기 제2안내기구(1312)에 안내되어 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다. 즉, 상기 제1결합기구(12)는 양측이 상기 제2결합기구(13)에 지지된 상태로 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 제1결합기구(12)의 일측 또는 타측만 상기 제2결합기구(13)에 결합된 것과 비교할 때, 상기 제1결합기구(12)를 지지하기 위한 지지력을 증가시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)를 지지하기 위한 지지력을 증가시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.The first guide mechanism 1311 is coupled to one side of the first coupling mechanism 12. The second guide mechanism 1312 is coupled to the other side of the second coupling mechanism 12. The first coupling mechanism 12 may be guided to the first guide mechanism 1311 and the second guide mechanism 1312 to linearly move in the second axis direction (Y-axis direction). That is, the first coupling mechanism 12 may linearly move in the second axial direction (Y-axis direction) while both sides thereof are supported by the second coupling mechanism 13. Accordingly, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention has the first coupling mechanism 12 as compared to the coupling of only one side or the other side of the first coupling mechanism 12 to the second coupling mechanism 13. It can increase the supporting force to support the. Accordingly, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can increase the holding force for supporting the sorting mechanism 11. Therefore, the light emitting device classification apparatus 1 according to the present invention can achieve the following effects.

첫째, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2결합기구(13)에 견고하게 지지된 상태로 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 반복적으로 직선 이동함에 따라 상기 제1결합기구(12)와 상기 제2결합기구(13) 간의 결합력이 약화됨으로써 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2결합기구(13)로부터 분리되는 것을 방지할 수 있다.First, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention is a straight line in the second axis direction (Y-axis direction) while the first coupling mechanism 12 is firmly supported by the second coupling mechanism 13. I can move it. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention is characterized in that the first coupling mechanism 12 and the first coupling mechanism 12 are repeatedly linearly moved in the second axial direction (Y-axis direction). By weakening the coupling force between the second coupling mechanism 13, it is possible to prevent the first coupling mechanism 12 from being separated from the second coupling mechanism 13.

둘째, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하고 정지함에 따라 발생하는 진동 등을 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하고 정지함에 따라 발생하는 진동 등을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다.Second, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can reduce the vibration generated when the first coupling mechanism 12 moves linearly in the second axis direction (Y-axis direction) and stops. Accordingly, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can reduce vibration generated when the sorting mechanism 11 linearly moves and stops in the second axis direction (Y-axis direction). Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can improve the accuracy of the process of classifying the tested light emitting devices by grade.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제1안내기구(1311)와 상기 제2안내기구(1312)는 상기 분류기구(11)를 기준으로 서로 반대편에 위치되게 설치된다. 상기 제1안내기구(1311)와 상기 제2안내기구(1312)는 각각 상기 제2결합기구(13)에 결합된 LM 레일, 및 상기 제1결합기구(12)에 결합된 LM 블럭을 포함할 수 있다. 상기 LM 블럭은 상기 LM 레일에 직선 이동 가능하게 결합될 수 있다.2 and 3, the first guide mechanism 1311 and the second guide mechanism 1312 are installed on opposite sides of the sorting mechanism 11. The first guide mechanism 1311 and the second guide mechanism 1312 may each include an LM rail coupled to the second coupling mechanism 13, and an LM block coupled to the first coupling mechanism 12. Can be. The LM block may be coupled to the LM rail so as to be linearly movable.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제2결합기구(13)에는 상기 분류기구(11)가 삽입되어 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하기 위한 제2이동공(132)이 형성된다. 상기 제2이동공(132)은 상기 제2결합기구(13)를 관통하여 형성될 수 있다. 상기 제1결합기구(12)는 상기 분류기구(11)가 상기 제2이동공(132)에 삽입된 상태로 상기 제2결합기구(13)에 결합될 수 있다. 상기 제1결합기구(12)는 상기 제2이동공(132)에 의해 상기 제2결합기구(13)에 방해되지 않고 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다.2 and 3, a second moving hole 132 is inserted into the second coupling mechanism 13 to linearly move in the second axial direction (Y-axis direction). Is formed. The second moving hole 132 may be formed through the second coupling mechanism 13. The first coupling mechanism 12 may be coupled to the second coupling mechanism 13 in a state where the sorting mechanism 11 is inserted into the second moving hole 132. The first coupling mechanism 12 may linearly move in the second axial direction (Y-axis direction) without being disturbed by the second coupling mechanism 13 by the second moving hole 132.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 이동유닛(14)은 상기 분류기구(11)를 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동시키는 제1구동기구(141) 및 상기 제1결합기구(12)를 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동시키는 제2구동기구(142)를 포함한다.2 and 3, the moving unit 14 includes a first driving mechanism 141 and the first coupling mechanism for rotating the sorting mechanism 11 in the first axial direction (X-axis direction). And a second driving mechanism 142 which linearly moves 12 in the second axial direction (Y-axis direction).

상기 제1구동기구(141)는 상기 분류기구(11)를 상기 제1회전축(12a, 도 3에 도시됨)을 중심으로 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동시킬 수 있다. 상기 제1구동기구(141)는 상기 구동회전부재(121, 도 3에 도시됨)에 연결된다. 상기 제1구동기구(141)는 상기 구동회전부재(121)를 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전시킴으로써, 상기 분류기구(11)를 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전시킬 수 있다. 상기 제1구동기구(141)는 상기 제1결합기구(12)에 설치된다. 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2구동기구(142)에 의해 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동되면, 상기 제1구동기구(141)는 상기 제1결합기구(12)와 함께 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다.The first driving mechanism 141 may rotate the sorting mechanism 11 in the first axis direction (X-axis direction) about the first rotation shaft 12a (shown in FIG. 3). The first driving mechanism 141 is connected to the drive rotating member 121 (shown in FIG. 3). The first driving mechanism 141 rotates the drive rotation member 121 in the first axial direction (X-axis direction), thereby rotating the sorting mechanism 11 in the first axial direction (X-axis direction). You can. The first driving mechanism 141 is installed in the first coupling mechanism 12. When the first coupling mechanism 12 is linearly moved in the second axial direction (Y-axis direction) by the second driving mechanism 142, the first driving mechanism 141 is the first coupling mechanism 12. ) Can be linearly moved in the second axis direction (Y-axis direction).

도 3을 참고하면, 상기 제1구동기구(141)는 제1모터(1411)와, 상기 제1모터(1411)에 의해 제공되는 회전력을 상기 구동회전부재(121)에 전달하기 위한 제1연결수단(1412)를 포함할 수 있다. 상기 제1모터(1411)는 상기 제1결합기구(12)에 설치된다. 상기 제1연결수단(1412)은 일측이 상기 제1모터(1411)에 연결되고, 타측이 상기 구동회전부재(121)에 연결된다. 상기 제1연결수단(1412)은 풀리, 체인, 벨트 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the first driving mechanism 141 includes a first motor 1411 and a first connection for transmitting the rotational force provided by the first motor 1411 to the driving rotating member 121. Means 1412 may be included. The first motor 1411 is installed in the first coupling mechanism 12. One side of the first connecting means 1412 is connected to the first motor 1411, and the other side thereof is connected to the driving rotating member 121. The first connecting means 1412 may include a pulley, a chain, a belt, and the like.

도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제2구동기구(142)는 상기 제1결합기구(12)를 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동시킬 수 있다. 상기 제2구동기구(142)는 상기 제1결합기구(12)에 연결된다. 상기 제2구동기구(142)는 상기 제1결합기구(12)를 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동시킴으로써, 상기 분류기구(11)를 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동시킬 수 있다. 상기 제2구동기구(142)는 상기 제2결합기구(13)에 설치된다.2 and 3, the second driving mechanism 142 may linearly move the first coupling mechanism 12 in the second axial direction (Y-axis direction). The second driving mechanism 142 is connected to the first coupling mechanism 12. The second driving mechanism 142 linearly moves the first coupling mechanism 12 in the second axial direction (Y-axis direction), thereby moving the sorting mechanism 11 in the second axial direction (Y-axis direction). Can be moved linearly. The second driving mechanism 142 is installed in the second coupling mechanism 13.

도 3을 참고하면, 상기 제2구동기구(142)는 제2모터(1421)와, 상기 제2모터(1421)에 의해 제공되는 회전력을 상기 제1결합기구(12)에 전달하기 위한 제2연결수단(1422)를 포함할 수 있다. 상기 제2모터(1421)는 상기 제2결합기구(13)에 설치된다. 상기 제2연결수단(1422)은 일측이 상기 제2모터(1421)에 연결되고, 타측이 상기 제1결합기구(12)에 연결된다. 상기 제2연결수단(1422)은 풀리, 체인, 벨트 등을 포함할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제2구동기구(142)는 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류(Ball Screw) 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어(Rack Gear)와 피니언기어(Pinion Gear) 등을 이용한 기어방식, 리니어모터(Linear Motor) 방식 등을 이용하여 상기 제1결합기구(12)를 직선 이동시킬 수도 있다.Referring to FIG. 3, the second driving mechanism 142 may include a second motor 1421 and a second force for transmitting the rotational force provided by the second motor 1421 to the first coupling mechanism 12. Connection means 1422 may be included. The second motor 1421 is installed in the second coupling mechanism 13. One side of the second connecting means 1422 is connected to the second motor 1421, and the other side of the second connecting means 1422 is connected to the first coupling mechanism 12. The second connecting means 1422 may include a pulley, a chain, a belt, and the like. Although not shown, the second driving mechanism 142 may be a cylinder type using a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder, a ball screw type using a motor and a ball screw, a motor, a rack gear, and a pinion gear ( The first coupling mechanism 12 may be linearly moved by using a gear method using a pinion gear, a linear motor method, or the like.

도 5 내지 도 9를 참고하면, 상기 분류부(1)는 상기 반출구(112, 도 8에 도시됨)로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달기구(15)를 포함한다. 도 8에 도시된 전달기구는 도 7의 A-A 선을 기준으로 한 단면도이다. 도 9에 도시된 전달기구는 도 7의 B-B 선을 기준으로 한 단면도이다. 상기 전달기구(15)는 지지프레임(16, 도 5에 도시됨)에 결합된다. 상기 지지프레임(16)에는 상기 제2결합기구(13)가 결합된다. 상기 제2결합기구(13)는 상기 지지프레임(16)을 기준으로 상기 전달기구(15) 반대편에 위치되게 상기 지지프레임(16)에 결합될 수 있다. 예컨대, 상기 제2결합기구(13)는 상기 지지프레임(16)의 윗면에 결합될 수 있고, 상기 전달기구(15)는 상기 지지프레임(16)의 밑면에 결합될 수 있다. 상기 지지프레임(16)의 윗면에는 상기 제2구동기구(142)가 결합될 수 있다.5 to 9, the sorting unit 1 includes a delivery mechanism 15 through which a light emitting device carried out from the discharge port 112 (shown in FIG. 8) passes. 8 is a cross-sectional view based on line A-A of FIG. 9 is a cross-sectional view based on the line B-B of FIG. The delivery mechanism 15 is coupled to the support frame 16 (shown in FIG. 5). The second coupling mechanism 13 is coupled to the support frame 16. The second coupling mechanism 13 may be coupled to the support frame 16 so as to be positioned opposite to the transmission mechanism 15 with respect to the support frame 16. For example, the second coupling mechanism 13 may be coupled to an upper surface of the support frame 16, and the transmission mechanism 15 may be coupled to a bottom surface of the support frame 16. The second driving mechanism 142 may be coupled to an upper surface of the support frame 16.

도 5 내지 도 9를 참고하면, 상기 전달기구(15)에는 테스트된 발광소자가 통과하기 위한 전달공(151)이 복수개 형성된다. 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 분류기구(11)는 상기 반출구(112)가 상기 전달공(151)들 중 어느 하나를 향하도록 이동할 수 있다. 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 분류기구(11)는 상기 반출구(112)가 상기 전달공(151)들 중 어느 하나를 향하도록 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동할 수 있다. 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 분류기구(11)는 상기 반출구(112)가 상기 전달공(151)들 중 어느 하나를 향하도록 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 반출구(112)를 통해 상기 분류기구(11)로부터 반출된 후, 상기 전달공(151)들 중 어느 하나를 통해 상기 전달기구(15)를 통과할 수 있다. 상기 전달공(151)은 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 테스트된 발광소자가 통과할 수 있는 형태이면 직방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.5 to 9, the transfer mechanism 15 is provided with a plurality of transfer holes 151 through which the tested light emitting device passes. As shown in FIG. 8 and FIG. 9, the sorting mechanism 11 may move so that the outlet 112 faces one of the transfer holes 151. As shown in FIG. 8, the sorting mechanism 11 may rotate in the first axial direction (X-axis direction) such that the outlet 112 faces one of the transfer holes 151. . As shown in FIG. 9, the sorting mechanism 11 may linearly move in the second axis direction (Y-axis direction) such that the outlet 112 faces any one of the transfer holes 151. . The tested light emitting device may be discharged from the sorting device 11 through the discharge port 112 and then passed through the delivery device 15 through any one of the delivery holes 151. The transfer hole 151 may be formed in a cylindrical shape as a whole, but is not limited thereto, and may be formed in other shapes such as a rectangular parallelepiped if the tested light emitting device can pass therethrough.

도 5 내지 도 9를 참고하면, 상기 전달기구(15)에는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수와 대략 일치하는 개수의 전달공(151)이 형성될 수 있다. 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 반출구(112)가 테스트된 발광소자의 등급과 일치하는 전달공(151)을 향하도록 함으로써, 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다. 상기 전달기구(15)에는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수보다 많은 개수의 전달공(151)이 형성될 수도 있다. 5 to 9, the transfer mechanism 15 may be provided with a number of transfer holes 151 approximately equal to the number of grades to classify the tested light emitting devices. The light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention may classify the tested light emitting devices by the grades by directing the outlet 112 toward the transfer hole 151 corresponding to the class of the tested light emitting devices. The transfer mechanism 15 may have a larger number of transfer holes 151 than the number of grades to classify the tested light emitting devices.

도 5 내지 도 9를 참고하면, 상기 전달기구(15)에는 상기 전달공(151)들이 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 서로 이격되어 격자 형태를 이루며 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동하고 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하면, 상기 반출구(121)는 상기 전달공(151)들 중 어느 하나를 향하도록 이동할 수 있다. 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 전달공(151)들은 상기 제1축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 형성되어 복수개의 행을 이룰 수 있다. 상기 행들에는 서로 동일한 개수의 전달공(151)들이 포함될 수도 있고, 서로 다른 개수의 전달공(151)들이 포함될 수도 있다. 상기 행들은 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되어 복수개의 열을 이룰 수 있다. 상기 열들에는 서로 동일한 개수의 전달공(151)들이 포함될 수도 있고, 서로 다른 개수의 전달공(151)들이 포함될 수도 있다. 5 to 9, in the delivery mechanism 15, the delivery holes 151 are spaced apart from each other in the first axial direction (X-axis direction) and the second axial direction (Y-axis direction). It can be formed to form. Accordingly, when the sorting mechanism 11 is rotated in the first axial direction (X-axis direction) and linearly moves in the second axial direction (Y-axis direction), the discharge opening 121 is connected to the delivery hole ( Move toward one of the 151s. As illustrated in FIG. 7, the transmission holes 151 may be formed to be spaced apart from each other by a predetermined distance in the first axial direction (X-axis direction) to form a plurality of rows. The rows may include the same number of transfer holes 151, or may include different numbers of transfer holes 151. The rows may be spaced apart from each other by a predetermined distance in the second axis direction (Y-axis direction) to form a plurality of columns. The columns may include the same number of transfer holes 151, or may include different numbers of transfer holes 151.

도 5 내지 도 9를 참고하면, 상기 전달기구(15)는 상기 반출구(112, 도 8에 도시됨)가 향하는 방향을 변경하기 위해 상기 분류기구(11)가 이동하기 위한 이동홈(152, 도 8에 도시됨)을 포함한다. 이에 따라, 상기 분류기구(11) 및 상기 전달기구(15)는 상기 반출구(112) 및 상기 전달공(151)들이 서로 근접하게 위치되도록 설치될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 반출구(112)를 통해 반출된 테스트된 발광소자가 상기 전달공(151)으로 정확하게 이동하도록 구현될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자가 상기 반출구(112)에서 상기 전달공(151)으로 이동하기 위한 거리 및 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 짧은 시간에 더 많은 개수의 발광소자를 분류할 수 있다. 상기 이동홈(152)은 전체적으로 반구 형태로 형성될 수 있다.5 to 9, the transfer mechanism 15 includes a moving groove 152 for moving the sorting mechanism 11 to change the direction in which the discharge port 112 (shown in FIG. 8) faces. 8). Accordingly, the sorting mechanism 11 and the delivery mechanism 15 may be installed such that the outlet 112 and the delivery hole 151 are located close to each other. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can be implemented to accurately move the tested light emitting device carried out through the outlet 112 to the transfer hole 151. In addition, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention may reduce the distance and time for the tested light emitting device to move from the outlet 112 to the transfer hole 151. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can classify a larger number of light emitting devices in a short time. The moving groove 152 may be formed in a hemispherical shape as a whole.

도 5 내지 도 9를 참고하면, 상기 전달기구(15)는 상기 제1축방향(X축 방향)으로 곡면을 이루며 형성되고, 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선을 이루며 형성될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 전달기구(15)를 제조하기 위한 작업의 용이성을 향상시킬 수 있다. 이를 구체적으로 살펴보면, 다음과 같다.5 to 9, the transmission mechanism 15 may be formed in a curved surface in the first axial direction (X-axis direction) and may be formed in a straight line in the second axial direction (Y-axis direction). have. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 1 according to the present invention can improve the ease of operation for manufacturing the delivery mechanism 15. Looking specifically at this, it is as follows.

우선, 상기 분류기구(11)가 테스트된 발광소자를 분류하기 위해 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전 이동하는 경우, 상기 전달기구(15)는 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 모두 곡면을 이루며 형성되어야 한다. 즉, 상기 전달기구(15)는 반구(半球) 형태를 갖도록 제조되어야 한다.First, when the sorting mechanism 11 rotates in the first axial direction (X-axis direction) and the second axial direction (Y-axis direction) to classify the tested light emitting device, the transfer mechanism 15 Is formed to form a curved surface in both the first axis direction (X axis direction) and the second axis direction (Y axis direction). That is, the delivery mechanism 15 should be manufactured to have a hemisphere shape.

다음, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 이동하고 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하므로, 상기 전달기구(15)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로만 곡면을 이루며 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 전달기구(15)는 반원통(半圓筒) 형태를 갖도록 제조될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 전달기구(15)가 반구 형태를 갖도록 제조되는 것과 비교할 때, 상기 전달기구(15)가 반원통 형태를 갖도록 제조되므로 상기 전달기구(15)를 제조하기 위한 작업의 용이성을 향상시킬 수 있다.Next, in the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention, since the sorting mechanism 11 rotates in the first axis direction (X axis direction) and linearly moves in the second axis direction (Y axis direction), The transmission mechanism 15 may be formed to form a curved surface only in the first axial direction (X-axis direction). For example, the delivery mechanism 15 may be manufactured to have a semi-cylindrical shape. Therefore, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention is compared with the delivery mechanism 15 is manufactured to have a hemisphere shape, the delivery mechanism 15 is manufactured to have a semi-cylindrical shape, so that the delivery mechanism 15 Ease of operation for the production).

도 9 내지 도 12를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류부(1)로부터 이송된 발광소자를 수납하기 위한 수납부(2)를 포함한다.9 to 12, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention includes an accommodating part 2 for accommodating the light emitting devices transferred from the sorting part 1.

상기 수납부(2)는 상기 분류부(1)에 의해 분류되는 발광소자를 등급별로 구분하여 수납할 수 있다. 상기 수납부(2)는 상기 분류부(1) 아래에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 반출구(112, 도 9에 도시됨)로부터 반출된 발광소자는 상기 전달공(151, 도 9에 도시됨)들 중 어느 하나를 통과한 후 상기 수납부(2)에 수납될 수 있다. The accommodating part 2 may classify and store the light emitting devices classified by the classifying part 1 by grade. The accommodating part 2 may be installed to be positioned below the sorting part 1. The light emitting device taken out from the outlet 112 (shown in FIG. 9) may be stored in the accommodating part 2 after passing through any one of the transfer holes 151 (shown in FIG. 9).

상기 수납부(2)는 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납기구(21, 도 11에 도시됨)를 포함한다. 상기 수납부(2)는 상기 수납기구(21)를 복수개 포함한다. 상기 수납부(2)는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수와 대략 일치하거나 등급 개수보다 많은 개수의 수납기구(21)를 포함할 수 있다. 상기 분류부(1)는 상기 수납기구(21)들 중에서 테스트된 발광소자가 테스트 결과에 따른 등급에 해당하는 수납기구(21)에 수납되도록 분류할 수 있다. 상기 수납기구(21)는 전체적으로 일측이 개방된 직방체 형태로 형성될 수 있다. 테스트된 발광소자는 개방된 일측을 통해 상기 수납기구(21)에 수납될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납기구(21)는 전체적으로 일측이 개방된 원통 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 수납기구(21)들은 상기 분류부(1) 아래에 위치되게 설치될 수 있다.The accommodating part 2 includes an accommodating mechanism 21 (shown in FIG. 11) for accommodating the tested light emitting device. The accommodating part 2 includes a plurality of accommodating mechanisms 21. The accommodating part 2 may include a number of accommodating mechanisms 21 that are substantially equal to or larger than the number of grades to classify the tested light emitting devices. The classification unit 1 may classify the light emitting device tested among the storage devices 21 to be stored in the storage device 21 corresponding to the grade according to the test result. The receiving device 21 may be formed in a rectangular parallelepiped shape with one side open as a whole. The tested light emitting device may be accommodated in the accommodating device 21 through an open side. Although not shown, the housing 21 may be formed in another shape such as a cylindrical shape with one side open as a whole. The receiving devices 21 may be installed to be located below the sorting unit 1.

상기 수납기구(21)에는 상기 분류기구(11)로부터 반출된 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 분류부(1)가 상기 전달기구(15)를 포함하는 경우, 상기 수납기구(21)에는 상기 분류기구(11)로부터 반출되어 상기 전달기구(15)를 통과한 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 전달기구(15)는 상기 분류기구(11) 및 상기 수납부(2) 사이에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 전달기구(15)는 상기 수납기구(21)의 개수와 대략 일치하는 개수의 전달공(151)을 포함할 수 있다.The light emitting device taken out from the sorting mechanism 11 may be accommodated in the accommodation mechanism 21. When the sorting unit 1 includes the transfer mechanism 15, the light emitting device that is carried out from the sorting mechanism 11 and passed through the transfer mechanism 15 may be stored in the accommodation mechanism 21. . The transmission mechanism 15 may be installed to be located between the sorting mechanism 11 and the receiving portion (2). The transmission mechanism 15 may include a number of transmission holes 151 approximately equal to the number of the accommodation mechanisms 21.

도 9 내지 도 12를 참고하면, 본 발명에 따른 수납부(2)는 상기 수납기구(21)가 설치되는 수납유닛(22) 및 상기 수납유닛(22)이 설치되는 수납본체(23)를 포함한다.9 to 12, the accommodating part 2 according to the present invention includes an accommodating unit 22 in which the accommodating mechanism 21 is installed, and an accommodating main body 23 in which the accommodating unit 22 is installed. do.

상기 수납유닛(22)은 상기 수납기구(21)가 삽입되기 위한 삽입공(221, 도 11에 도시됨)을 포함한다. 상기 수납기구(21)는 상기 삽입공(221)에 삽입됨으로써 상기 수납유닛(22)에 설치될 수 있다. 상기 수납기구(21)는 상기 삽입공(221)으로부터 이탈됨으로써 상기 수납유닛(22)으로부터 분리될 수 있다. 상기 수납유닛(22)은 상기 수납기구(21)가 복수개 설치될 수 있도록 상기 삽입공(221)을 복수개 포함할 수 있다. 상기 수납유닛(22)에 설치될 수 있는 수납기구(21)의 개수와 상기 삽입공(221)의 개수는 대략 일치할 수 있다.The accommodation unit 22 includes an insertion hole 221 (shown in FIG. 11) for inserting the accommodation mechanism 21. The accommodating mechanism 21 may be installed in the accommodating unit 22 by being inserted into the insertion hole 221. The accommodation mechanism 21 may be separated from the accommodation unit 22 by being separated from the insertion hole 221. The accommodation unit 22 may include a plurality of insertion holes 221 so that the plurality of accommodation mechanisms 21 may be installed. The number of accommodating mechanisms 21 that may be installed in the accommodating unit 22 and the number of the insertion holes 221 may be substantially the same.

상기 수납본체(23)에는 상기 수납유닛(22)이 개폐(開閉) 가능하도록 이동 가능하게 결합된다. 즉, 상기 수납유닛(22)은 개방(開放)된 상태 또는 폐쇄(閉鎖)된 상태로 되도록 이동할 수 있다. 개방된 상태라 함은, 도 10에 도시된 바와 같이 상기 수납기구(21)가 상기 수납유닛(22)으로부터 꺼내어지거나 상기 수납기구(21)가 상기 수납유닛(22)에 설치될 수 있는 상태이다. 상기 수납유닛(22)이 개방된 상태에서, 테스트된 발광소자로 채워진 수납기구(21)가 상기 수납유닛(22)으로부터 분리된 후에 비어있는 수납기구(21)로 교체될 수 있다. 폐쇄된 상태라 함은, 도 12에 도시된 바와 같이 상기 수납기구(21, 도 8에 도시됨)가 상기 수납유닛(22)으로부터 꺼내어지거나 상기 수납유닛(22)에 설치될 수 없는 상태이다. 상기 수납유닛(22)이 폐쇄된 상태일 때, 상기 수납기구(21)에는 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 수납본체(23)에는 LM 레일이 결합될 수 있다. 상기 수납유닛(22)에는 상기 LM 레일에 이동 가능하게 결합되는 LM 블럭이 결합될 수 있다.The storage unit 23 is coupled to the storage unit 22 so as to be movable to open and close. That is, the storage unit 22 can move to be in an open state or a closed state. The open state is a state in which the accommodating mechanism 21 is removed from the accommodating unit 22 or the accommodating mechanism 21 can be installed in the accommodating unit 22 as shown in FIG. 10. . In the open state of the accommodating unit 22, the accommodating mechanism 21 filled with the tested light emitting device may be replaced with an empty accommodating apparatus 21 after being separated from the accommodating unit 22. In the closed state, as shown in FIG. 12, the accommodating mechanism 21 (shown in FIG. 8) cannot be removed from the accommodating unit 22 or installed in the accommodating unit 22. When the accommodating unit 22 is in a closed state, the light emitting device may be accommodated in the accommodating mechanism 21. An LM rail may be coupled to the accommodation body 23. The receiving unit 22 may be coupled to the LM block movably coupled to the LM rail.

도 1, 도 9 내지 도 12를 참고하면, 상기 수납부(2)는 연결유닛(24)을 포함한다. 상기 연결유닛(24)은 상기 전달기구(15, 도 9에 도시됨) 및 상기 수납기구(21, 도 11에 도시됨) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 연결유닛(24)은 연결기구(241) 및 연결부재(242)를 포함한다.1, 9 to 12, the accommodating part 2 includes a connection unit 24. The connecting unit 24 is installed to be located between the delivery mechanism 15 (shown in FIG. 9) and the receiving device 21 (shown in FIG. 11). The connection unit 24 includes a connection mechanism 241 and a connection member 242.

상기 연결기구(241)는 일측이 상기 수납기구(21)에 연결된다. 상기 연결기구(241)는 일측이 상기 수납기구(21)에 연통되게 연결되도록 상기 연결부재(242)에 결합된다. 상기 연결기구(241)는 타측이 상기 전달공(151, 도 9에 도시됨)에 연결된다. 상기 연결기구(241)는 타측이 상기 전달공(151)에 연통되게 연결되도록 상기 전달기구(15)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 분류기구(11), 상기 전달기구(15) 및 상기 연결기구(241)를 지나 상기 수납기구(21)에 수납될 수 있다. 상기 연결유닛(24)은 복수개의 연결기구(241)를 포함한다. 상기 연결유닛(24)은 상기 수납기구(21)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 연결기구(241)를 포함할 수 있다. 상기 연결기구(241)들은 각각 일측이 상기 수납기구(21)들 중 어느 하나에 연통되게 연결되도록 상기 연결부재(242)에 결합된다. 상기 연결기구(241)들은 각각 상기 전달공(151)들 중 어느 하나에 연통되게 연결되도록 상기 전달기구(15)에 결합된다.One side of the connection mechanism 241 is connected to the accommodation mechanism 21. The connection mechanism 241 is coupled to the connection member 242 such that one side is connected to the receiving device 21 in communication. The other side of the connection mechanism 241 is connected to the delivery hole (151, shown in Figure 9). The connection mechanism 241 is coupled to the transmission mechanism 15 so that the other side is connected in communication with the transfer hole 151. The tested light emitting device may be stored in the receiving device 21 through the sorting device 11, the delivery device 15, and the connection device 241. The connection unit 24 includes a plurality of connection mechanisms 241. The connection unit 24 may include a number of connection mechanisms 241 approximately equal to the number of the accommodation mechanisms 21. Each of the connection mechanisms 241 is coupled to the connection member 242 such that one side thereof is connected in communication with any one of the accommodation mechanisms 21. The connection mechanisms 241 are coupled to the delivery mechanism 15 so as to be connected to any one of the delivery holes 151, respectively.

상기 연결기구(241)로 인해 상기 분류기구(11)와 상기 수납부(2)는 서로 소정 거리 이격된 위치에 설치될 수 있다. 상기 연결기구(241)들은 상기 분류기구(11)에서 상기 수납기구(21)를 향할수록 서로 간에 이격된 거리가 증가되게 형성될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류기구(11)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 거리를 줄이면서도, 상기 수납기구(21)들이 서로 충분한 거리로 이격되도록 구현될 수 있다. 상기 연결기구(241)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 연결기구(241)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다. Due to the connection mechanism 241, the sorting mechanism 11 and the storage part 2 may be installed at positions spaced apart from each other by a predetermined distance. The connecting mechanisms 241 may be formed such that the distances spaced apart from each other increase toward the receiving device 21 in the sorting device 11. Accordingly, the light emitting device sorting apparatus 10 according to the present invention reduces the distance that the classifying device 11 moves to classify the tested light emitting devices according to the grade, and the receiving devices 21 are spaced apart from each other by a sufficient distance. May be implemented. A hose may be used as the connection mechanism 241. For example, a rubber hose, a plastic hose, a metal hose, or the like may be used as the connection mechanism 241.

도 1, 도 9 내지 도 12를 참고하면, 상기 연결부재(242)는 상기 연결기구(241)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 연결부재(242)는 상기 수납기구(21) 위에 위치되게 설치된다. 상기 연결부재(242)는 발광소자가 통과할 수 있는 복수개의 연결공(2421, 도 10에 도시됨)을 포함한다. 상기 연결기구(241)는 타측이 상기 연결공(2421)에 연통되게 연결되도록 상기 연결부재(242)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 분류기구(11), 상기 전달기구(15, 도 9에 도시됨) 및 상기 연결기구(241)를 지나 상기 연결공(2421)을 통과하여 상기 수납기구(21)에 수납될 수 있다. 상기 연결부재(242)는 상기 연결기구(241)와 대략 일치하는 개수의 연결공(2421)을 포함할 수 있다. 도 10에는 일부의 연결기구(241)만 도시되어 있으나, 상기 연결기구(241)가 도시되지 않은 연결공(2421)들 각각에도 도 1에 도시된 바와 같이 상기 연결기구(241)들이 연결될 수 있다.1, 9 to 12, the connection member 242 is installed to be positioned below the connection mechanism 241. The connecting member 242 is installed to be positioned on the receiving device 21. The connection member 242 includes a plurality of connection holes 2421 (shown in FIG. 10) through which the light emitting device can pass. The connection mechanism 241 is coupled to the connection member 242 so that the other side is connected in communication with the connection hole 2421. The tested light emitting device passes through the sorting device 11, the delivery device 15 (shown in FIG. 9) and the connection device 241, passes through the connection hole 2421, and is stored in the storage device 21. Can be. The connection member 242 may include a number of connection holes 2421 approximately equal to the connection mechanism 241. Although only some connecting mechanisms 241 are shown in FIG. 10, the connecting mechanisms 241 may be connected to each of the connection holes 2421 in which the connecting mechanism 241 is not shown, as shown in FIG. 1. .

<발광소자 테스트 핸들러><Light Emitting Device Test Handler>

이하에는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, a preferred embodiment of a light emitting device test handler according to the present invention will be described in detail.

도 13은 본 발명에 따른 공급부, 픽커부, 테스트부, 및 이송부의 개략적인 사시도, 도 14는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 로딩위치, 테스트위치, 및 언로딩위치에 대한 개념도, 도 15는 본 발명에 따른 접속유닛의 개략적인 사시도이다.FIG. 13 is a schematic perspective view of a supply unit, a picker unit, a test unit, and a transfer unit according to the present invention. FIG. 14 is a conceptual view of a loading position, a test position, and an unloading position in the light emitting device test handler according to the present invention. Is a schematic perspective view of a connection unit according to the invention.

도 1 및 도 13을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위한 발광소자 분류장치(10, 도 1에 도시됨), 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부(3), 테스트될 발광소자를 이송하는 픽커부(4), 테스트될 발광소자를 테스트하는 공정이 이루어지는 테스트부(5), 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(5)에서 상기 발광소자 분류장치(10)로 이송하기 위한 이송부(6)를 포함한다. 상기 공급부(3)가 테스트될 발광소자를 공급하면, 상기 픽커부(4)가 상기 공급부(3)에서 상기 테스트부(5)로 테스트될 발광소자를 이송한다. 상기 테스트부(5)에서 테스트될 발광소자에 대한 테스트가 완료되면, 상기 이송부(6)는 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(5)에서 상기 발광소자 분류장치(10)로 이송한다. 상기 이송부(6)에 의해 이송된 테스트된 발광소자는, 상기 발광소자 분류장치(10)에 의해 테스트 결과에 따라 등급별로 분류된다.1 and 13, the light emitting device test handler 100 according to the present invention includes a light emitting device classifying apparatus 10 (shown in FIG. 1) for classifying the tested light emitting devices by grades, and the light emitting devices to be tested. The supply unit 3 for supplying, the picker unit 4 for transporting the light emitting element to be tested, the test unit 5 in which the process of testing the light emitting element to be tested is performed, and the tested light emitting element in the test unit 5 And a conveying unit 6 for conveying to the light emitting device sorting device 10. When the supply unit 3 supplies the light emitting element to be tested, the picker unit 4 transfers the light emitting element to be tested from the supply unit 3 to the test unit 5. When the test for the light emitting device to be tested in the test unit 5 is completed, the transfer unit 6 transfers the tested light emitting device from the test unit 5 to the light emitting device sorting device 10. The tested light emitting elements conveyed by the transfer section 6 are classified by grade according to the test results by the light emitting element sorting device 10.

상기 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류부(1) 및 상기 수납부(2)를 포함한다. 상기 발광소자 분류장치(10)는 상술한 바와 같으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.The light emitting device sorting device 10 includes the sorting part 1 and the accommodating part 2. Since the light emitting device classification apparatus 10 is as described above, a detailed description thereof will be omitted.

도 1, 도 13 및 도 14를 참고하면, 상기 공급부(3)는 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 공급부(3)는 상기 픽커부(4)가 테스트될 발광소자(미도시)를 픽업할 수 있는 위치에 테스트될 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(3)는 저장기구(31), 운반기구(32), 및 안착기구(33)를 포함한다.1, 13 and 14, the supply unit 3 supplies a light emitting device to be tested. The supply unit 3 may supply a light emitting element to be tested at a position where the picker unit 4 may pick up a light emitting element (not shown) to be tested. The supply part 3 includes a storage mechanism 31, a transport mechanism 32, and a seating mechanism 33.

상기 저장기구(31)는 테스트될 발광소자를 복수개 저장할 수 있다. 상기 저장기구(31)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 상기 운반기구(32)로 순차적으로 공급할 수 있다. 상기 저장기구(31)는 테스트될 발광소자들이 상기 운반기구(32)로 이송되도록 안내하는 나선형 홈(미도시)을 포함할 수 있다.The storage device 31 may store a plurality of light emitting devices to be tested. The storage device 31 may sequentially supply the light emitting devices to be tested to the transport device 32 using vibration. The storage device 31 may include a spiral groove (not shown) for guiding the light emitting devices to be tested to be transferred to the transport device 32.

도 14를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)에 있어서, 상기 수납유닛(22)은 상기 저장기구(31)가 위치된 방향 쪽으로 개폐 가능하게 설치될 수 있다. 상기 저장기구(31)가 도 14를 기준으로 위쪽에 위치되게 설치된 경우, 상기 수납유닛(22)은 도 14를 기준으로 위쪽으로 개폐 가능하게 설치될 수 있다. 따라서, 작업자가 상기 저장기구(31)에 테스트될 발광소자를 추가로 저장시키기 위한 작업공간과, 상기 수납기구(21)를 상기 수납유닛(22)으로부터 꺼내거나 상기 수납기구(21)를 상기 수납유닛(22)에 설치하기 위한 작업공간을 일치시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)를 여러 대 설치할 때, 충분한 작업공간이 확보될 수 있도록 하면서 동일한 설치공간에 더 많은 대수를 설치할 수 있도록 설치공간을 효율적으로 활용하여 설치할 수 있다.Referring to FIG. 14, in the light emitting device test handler 100 according to the present invention, the accommodating unit 22 may be installed to be opened and closed toward the direction in which the storage device 31 is located. When the storage device 31 is installed to be positioned upwards with reference to FIG. 14, the storage unit 22 may be installed to be opened and closed upward with reference to FIG. 14. Accordingly, a work space for the operator to further store the light emitting device to be tested in the storage device 31, and the storage device 21 is removed from the storage unit 22 or the storage device 21 is stored in the storage device 31. The workspaces for installation in the unit 22 can be matched. In addition, when installing a plurality of light emitting device test handler 100 according to the present invention, it is possible to efficiently install the installation space so that a sufficient number of workspaces can be installed in the same installation space while ensuring a sufficient working space.

도 1, 도 13 및 도 14를 참고하면, 상기 운반기구(32)는 상기 저장기구(31)로부터 공급된 테스트될 발광소자들을 상기 안착기구(33)로 이송한다. 상기 운반기구(32)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 이송할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 운반기구(32)는 테스트될 발광소자들을 이송하는 벨트, 벨트의 양단에 연결된 구동풀리와 종동풀리, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터가 구동풀리를 회전시킴에 따라 상기 벨트가 이동됨으로써 상기 벨트에 안착되어 있는 테스트될 발광소자들이 이송될 수 있다.1, 13 and 14, the transport mechanism 32 transfers the light emitting elements to be tested supplied from the storage mechanism 31 to the seating mechanism 33. The conveying mechanism 32 may convey the light emitting elements to be tested using vibration. Although not shown, the conveying mechanism 32 may include a belt for transferring the light emitting devices to be tested, a driving pulley and a driven pulley connected to both ends of the belt, and a motor for rotating the driving pulley. As the motor rotates the driving pulley, the belt is moved, so that the light emitting devices to be tested mounted on the belt can be transferred.

도 1, 도 13 및 도 14를 참고하면, 상기 안착기구(33)에는 상기 운반기구(32)로부터 이송된 테스트될 발광소자가 안착된다. 상기 안착기구(33)는 테스트될 발광소자가 안착되는 홈(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 안착기구(33)는 상기 픽커부(4)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 설치될 수 있다. 1, 13, and 14, the seating mechanism 33 is mounted with a light emitting device to be tested transferred from the transport mechanism 32. The seating mechanism 33 may include a groove (not shown) in which the light emitting device to be tested is mounted. The mounting mechanism 33 may be installed at a position where the picker unit 4 can pick up a light emitting element to be tested.

도시되지 않았지만, 상기 공급부(3)는 감지부를 더 포함할 수 있다. 상기 감지부는 안착기구(33)에 설치되고, 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 위치하는지 여부를 감지한다. 상기 감지부로 광센서가 이용될 수 있다.Although not shown, the supply unit 3 may further include a sensing unit. The detector is installed in the mounting mechanism 33, and detects whether the light emitting device to be tested is located in the mounting mechanism 33. An optical sensor may be used as the sensing unit.

상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 없는 것이 확인되면, 상기 운반기구(32)는 상기 안착기구(33)로 테스트될 발광소자를 이송할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 위치함에도 상기 운반기구(32)가 다른 테스트될 발광소자를 이송함으로써 발광소자들이 충돌에 의해 손상되거나 상기 픽커부(4)가 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.When it is confirmed that there is no light emitting device to be tested in the seating mechanism 33 from the information obtained by the sensing unit, the transport mechanism 32 may transfer the light emitting device to be tested to the seating mechanism 33. Therefore, the light emitting device test handler 100 according to the present invention damages the light emitting devices by collision by transferring the other light emitting devices to be tested even when the light emitting device to be tested is located in the seating mechanism 33. Or an error caused by the picker unit 4 failing to pick up the light emitting device.

상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 있는 것이 확인되면, 상기 픽커부(4)는 안착기구(33)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 위치하지 않음에도 상기 픽커부(4)가 작동됨으로써 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.When it is confirmed that there is a light emitting device to be tested in the seating mechanism 33 from the information obtained by the sensing unit, the picker unit 4 may pick up the light emitting device to be tested in the seating mechanism 33. Therefore, the light emitting device test handler 100 according to the present invention is generated due to failing to pick up the light emitting device by operating the picker unit 4 even when the light emitting device to be tested is not located in the seating mechanism 33. You can prevent errors.

도 1, 도 13 및 도 14를 참고하면, 상기 공급부(3)는 복수개의 테스트될 발광소자를 공급할 수도 있다. 상기 공급부(3)는 상기 픽커부(4)가 한번에 픽업할 수 있는 발광소자의 개수와 동일한 개수의 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(3)로 보울 피더(bowl feeder)가 사용될 수 있다.1, 13, and 14, the supply unit 3 may supply a plurality of light emitting devices to be tested. The supply unit 3 may supply the same number of light emitting devices as the number of light emitting devices that the picker 4 can pick up at one time. A bowl feeder may be used as the feeder 3.

도 1, 도 13 및 도 14를 참고하면, 상기 픽커부(4)는 테스트될 발광소자를 상기 공급부(3)에서 상기 테스트부(5)로 이송한다. 상기 픽커부(4)는 상기 안착기구(33)에 위치된 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 테스트부(5)로 이송할 수 있다. 상기 픽커부(4)는 상기 공급부(3) 및 상기 테스트부(5) 사이에 설치될 수 있다. 1, 13 and 14, the picker unit 4 transfers the light emitting element to be tested from the supply unit 3 to the test unit 5. The picker unit 4 may pick up the light emitting element to be tested located in the seating mechanism 33 and transfer the picked-up light emitting element to the test unit 5. The picker unit 4 may be installed between the supply unit 3 and the test unit 5.

상기 픽커부(4)는 발광소자를 흡착할 수 있는 픽커(41) 및 상기 픽커(41)를 이동시키기 위한 이동기구(42)를 포함할 수 있다. 상기 픽커부(4)는 복수개의 픽커(41)를 포함할 수도 있다. 상기 이동기구(42)는 상기 픽커(41)가 상기 공급부(3)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 위치되게 상기 픽커(41)를 이동시킬 수 있다. 상기 이동기구(42)는 상기 픽커(41)가 상기 테스트부(5)에 테스트될 발광소자를 안착시킬 수 있는 위치에 위치되게 상기 픽커(41)를 이동시킬 수 있다. 상기 이동기구(42)는 상기 픽커(41)를 승하강시킬 수 있다.The picker unit 4 may include a picker 41 capable of absorbing a light emitting element and a moving mechanism 42 for moving the picker 41. The picker unit 4 may include a plurality of pickers 41. The moving mechanism 42 may move the picker 41 such that the picker 41 is positioned at a position where the picker 41 can pick up the light emitting device to be tested by the supply unit 3. The moving mechanism 42 may move the picker 41 so that the picker 41 is positioned at a position where the picker 41 may be seated on the test unit 5. The moving mechanism 42 may raise and lower the picker 41.

도 1, 도 13 및 도 14를 참고하면, 상기 테스트부(5)에서는 테스트할 발광소자를 테스트하는 공정이 이루어진다. 상기 테스트부(5)는 소켓(51), 지지부재(52), 및 구동유닛(53)을 포함한다. 상기 테스트부(5)에는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(54)이 설치된다. 상기 테스트부(5)는 상기 픽커부(4) 옆에 위치되게 설치될 수 있다.1, 13 and 14, the test unit 5 performs a process of testing a light emitting device to be tested. The test unit 5 includes a socket 51, a support member 52, and a driving unit 53. The test unit 5 is provided with a test unit 54 for testing the light emitting device. The test unit 5 may be installed to be located next to the picker unit 4.

상기 소켓(51)에는 발광소자가 안착될 수 있다. 상기 소켓(51)에 안착되는 발광소자는 흡착장치(미도시)에 의해 상기 소켓(51)에 흡착될 수 있다. 상기 소켓(51)은 상기 지지부재(52)에 복수개가 설치될 수 있다. The light emitting device may be mounted on the socket 51. The light emitting device seated on the socket 51 may be adsorbed onto the socket 51 by an adsorption device (not shown). A plurality of sockets 51 may be installed in the support member 52.

도 14를 참고하면, 상기 소켓(51)들은 테스트될 발광소자가 로딩되는 로딩위치(4a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치(5a), 및 테스트된 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치(6a)에 순차적으로 위치될 수 있다. 상기 로딩위치(4a)는 상기 픽커부(4, 도 13에 도시됨)가 상기 소켓(51)에 테스트될 발광소자를 안착시킬 수 있는 위치이다. 상기 테스트위치(5a)는 상기 테스트유닛(54, 도 13에 도시됨)이 발광소자를 테스트할 수 있는 위치이다. 상기 테스트위치(5a)에는 상기 테스트유닛(54)이 설치된다. 상기 언로딩위치(6a)는 상기 이송부(6, 도 13에 도시됨)가 테스트된 발광소자를 상기 소켓(51)에서 상기 분류부(1, 도 1에 도시됨)로 이송할 수 있는 위치이다. 상기 언로딩위치(6a)에는 상기 이송부(6)가 설치된다.Referring to FIG. 14, the sockets 51 have a loading position 4a in which the light emitting element to be tested is loaded, a test position 5a in which the light emitting element is tested, and an unloading position 6a in which the tested light emitting element is unloaded. ) May be positioned sequentially. The loading position 4a is a position at which the picker portion 4 (shown in FIG. 13) can seat the light emitting element to be tested on the socket 51. The test position 5a is a position at which the test unit 54 (shown in FIG. 13) can test the light emitting device. The test unit 54 is installed at the test position 5a. The unloading position 6a is a position at which the transfer unit 6 (shown in FIG. 13) can transfer the tested light emitting device from the socket 51 to the sorting unit 1 (shown in FIG. 1). . The transfer part 6 is installed at the unloading position 6a.

상기 소켓(51)들은 각각 테스트될 발광소자가 로딩되는 로딩위치(4a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치(5a), 및 테스트된 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치(6a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(52)에 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 로딩위치(4a)에서는 상기 픽커부(4, 도 13에 도시됨)가 상기 소켓(51)에 테스트될 발광소자를 로딩하는 공정이 수행되고, 상기 테스트위치(5a)에서는 상기 테스트유닛(54, 도 13에 도시됨)이 상기 소켓(51)에 안착된 발광소자를 테스트하는 공정이 수행되며, 상기 언로딩위치(6a)에서는 상기 이송부(6, 도 13에 도시됨)가 테스트된 발광소자를 상기 소켓(51)에서 상기 분류부(1, 도 6에 도시됨)로 이송하는 공정이 수행된다.The sockets 51 may be simultaneously positioned at a loading position 4a in which the light emitting element to be tested is loaded, a test position 5a in which the light emitting element is tested, and an unloading position 6a in which the tested light emitting element is unloaded. It may be installed on the support member 52 to be able to. Accordingly, a process of loading the light emitting element to be tested by the picker unit 4 (shown in FIG. 13) into the socket 51 is performed at the loading position 4a, and the test at the test position 5a. A unit 54 (shown in FIG. 13) is tested for a light emitting element seated in the socket 51. In the unloading position 6a, the transfer unit 6 (shown in FIG. 13) is tested. The light emitting device is transferred from the socket 51 to the sorting unit 1 (shown in FIG. 6).

도 1, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 지지부재(52)에는 상기 소켓(51)이 복수개 설치될 수 있다. 상기 지지부재(52)는 상기 로딩위치(4a), 상기 테스트위치(5a), 및 상기 언로딩위치(6a)에 상기 소켓(51)들이 순차적으로 위치되도록 상기 구동유닛(53, 도 10에 도시됨)에 의해 회전될 수 있다. 상기 지지부재(52)는 상기 구동유닛(53)에 의해 회전축(52a, 도 10에 도시됨)을 중심으로 회전될 수 있다. 1 and 13 to 15, a plurality of sockets 51 may be installed in the support member 52. The support member 52 is shown in the driving unit 53, FIG. 10 such that the sockets 51 are sequentially positioned at the loading position 4a, the test position 5a, and the unloading position 6a. Can be rotated). The support member 52 may be rotated about the rotation shaft 52a (shown in FIG. 10) by the driving unit 53.

상기 지지부재(52)에는 상기 소켓(51)들이 회전축(52a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 지지부재(52)가 회전축(52a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 소켓(51)들은 각각 상기 로딩위치(4a), 상기 테스트위치(5a), 및 상기 언로딩위치(6a)에 동시에 위치될 수 있다.The sockets 51 may be spaced apart from each other at the same angle with respect to the rotation shaft 52a. Accordingly, when the support member 52 is rotated at an angle about the rotation shaft 52a, the sockets 51 are respectively the loading position 4a, the test position 5a, and the unloading position ( May be located simultaneously in 6a).

상기 지지부재(52)에는 상기 로딩위치(4a), 상기 테스트위치(5a), 및 상기 언로딩위치(6a)에 동시에 위치되는 소켓(51)들 외에 더 많은 개수의 소켓(51)이 설치될 수도 있다. 이에 따라, 상기 구동유닛(53)이 상기 지지부재(52)를 회전축(52a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 소켓(51)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 테스트되도록 할 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.The support member 52 may be provided with a larger number of sockets 51 in addition to the sockets 51 simultaneously positioned at the loading position 4a, the test position 5a, and the unloading position 6a. It may be. Accordingly, the driving unit 53 can reduce the angle of rotating the support member 52 about the rotation shaft 52a, and can reduce the time taken to move the sockets 51 to the next position. Accordingly, the light emitting device test handler 100 according to the present invention may allow more light emitting devices to be tested in a short time, and classify more light emitting devices in a short time.

도 1, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 구동유닛(53)은 테스트될 발광소자가 상기 소켓(51)에 로딩되는 로딩위치(4a), 상기 소켓(51)에 안착된 발광소자가 테스트되는 테스트위치(5a), 및 테스트된 발광소자가 상기 소켓(51)으로부터 언로딩되는 언로딩위치(6a)에 상기 소켓(51)들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(52)를 회전시킨다. 상기 구동유닛(53)은 상기 지지부재(52)를 회전축(52a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 구동유닛(53)이 상기 지지부재(52)를 회전축(52a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 소켓(51)들은 상기 로딩위치(4a), 상기 테스트위치(5a), 및 상기 언로딩위치(6a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.1, 13 to 15, the driving unit 53 is a loading position 4a in which the light emitting element to be tested is loaded into the socket 51, and the light emitting element seated in the socket 51 is tested. The support member 52 is rotated so that the sockets 51 are sequentially positioned at the test position 5a to be used and the unloading position 6a at which the tested light emitting device is unloaded from the socket 51. The driving unit 53 may rotate the support member 52 about the rotation shaft 52a. As the drive unit 53 rotates the support member 52 about the rotation shaft 52a, the sockets 51 are connected to the loading position 4a, the test position 5a, and the unloading position ( 6a) can be circulated sequentially.

상기 구동유닛(53)은 상기 지지부재(52)를 회전시키기 위한 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 지지부재(52)의 회전축(52a)에 직접 결합되어 상기 지지부재(52)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 지지부재(52)의 회전축(52a)이 소정 거리로 이격되어 설치되는 경우, 상기 구동유닛(53)은 상기 지지부재(52)의 회전축(52a)에 결합되는 샤프트, 상기 샤프트와 상기 모터를 연결하는 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 풀리, 벨트 등을 포함할 수 있다.The drive unit 53 may include a motor for rotating the support member 52. The motor may be directly coupled to the rotation shaft 52a of the support member 52 to rotate the support member 52. When the motor and the rotary shaft 52a of the support member 52 are installed at a predetermined distance apart from each other, the drive unit 53 is a shaft coupled to the rotary shaft 52a of the support member 52, the shaft and It may include a connecting means for connecting the motor. The connecting means may include a pulley, a belt, and the like.

도 1, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 테스트유닛(54)은 상기 테스트위치(5a)에 위치된 발광소자를 테스트할 수 있다. 발광소자는 상기 소켓(51)에 안착된 상태로 상기 테스트위치(5a)에 위치될 수 있다. 상기 테스트부(5)에는 복수개의 테스트유닛(54)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(54)은 발광소자의 테스트 결과 정보를 분석하는 테스터(미도시)에 연결될 수 있다. 상기 테스터는 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 가지는 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 분류부(1)에 제공할 수 있다.1 and 13 to 15, the test unit 54 may test a light emitting device positioned at the test position 5a. The light emitting device may be positioned at the test position 5a while seated in the socket 51. The test unit 5 may be provided with a plurality of test units 54. The test unit 54 may be connected to a tester (not shown) for analyzing test result information of the light emitting device. After the tester analyzes the test result information and assigns a grade according to the performance of the light emitting device, the tester may provide the grade information to the classification unit 1.

도 1, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 테스트유닛(54)은 접속유닛(541, 도 15에 도시됨) 및 측정유닛(542, 도 13에 도시됨)을 포함한다.1, 13 to 15, the test unit 54 includes a connection unit 541 (shown in FIG. 15) and a measuring unit 542 (shown in FIG. 13).

상기 접속유닛(541)은 상기 소켓(51)에 안착된 발광소자에 접속된다. 상기 접속유닛(541)은 발광소자에 접속되어 발광소자가 가지는 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(541)은 발광소자를 발광시킬 수 있다. 상기 측정유닛(542)은 발광소자가 방출한 광으로부터 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있다.The connection unit 541 is connected to a light emitting element seated in the socket 51. The connection unit 541 may be connected to a light emitting device to test electrical characteristics of the light emitting device. The connection unit 541 may emit light. The measuring unit 542 may measure the optical characteristics of the light emitting device from the light emitted by the light emitting device.

상기 접속유닛(541)은 제1접속부재(541a, 도 15에 도시됨) 및 제2접속부재(541b, 도 15에 도시됨)를 포함할 수 있다. 상기 제1접속부재(541a) 및 제2접속부재(541b)는 서로 가까워지거나 멀어지게 이동될 수 있다. 상기 제1접속부재(541a) 및 제2접속부재(541b)가 서로 가까워지게 이동되면 상기 테스트위치(5a)에 위치된 발광소자에 접속될 수 있다.The connection unit 541 may include a first connection member 541a (shown in FIG. 15) and a second connection member 541b (shown in FIG. 15). The first connecting member 541a and the second connecting member 541b may be moved closer or farther from each other. When the first connecting member 541a and the second connecting member 541b move closer to each other, the first connecting member 541a and the second connecting member 541b may be connected to the light emitting device positioned at the test position 5a.

도 1, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 측정유닛(542)은 상기 테스트위치(5a)에 위치된 발광소자가 갖는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(542)이 광특성 정보를 상기 테스터에 제공하면, 상기 테스터는 광특성 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해당하는 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 분류부(1)에 제공할 수 있다.1 and 13 to 15, the measuring unit 542 may measure optical characteristics of the light emitting device positioned at the test position 5a. When the measuring unit 542 provides the optical characteristic information to the tester, the tester analyzes the optical characteristic information and assigns a grade corresponding to the performance of the light emitting device, and then transmits the grade information to the classification unit 1. Can provide.

상기 측정유닛(542)은 휘도, 파장 등을 포함하는 발광소자의 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(542)으로 휘도측정용 수광기, 파장측정용 수광기 등이 이용될 수 있으며, 측정하고자 하는 발광소자의 광특성에 해당하는 여러 종류의 장치가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 측정유닛(542)으로 발광소자의 광도, 광속, 조도, 분광분포, 색온도 등을 측정할 수 있는 장치가 이용될 수 있다.The measuring unit 542 may measure the optical characteristics of the light emitting device, including the brightness, wavelength, and the like. As the measuring unit 542, a luminance measuring receiver, a wavelength measuring receiver, and the like may be used, and various kinds of devices corresponding to the optical characteristics of the light emitting device to be measured may be used. For example, a device capable of measuring the luminous intensity, luminous flux, illuminance, spectral distribution, color temperature, etc. of the light emitting device may be used as the measuring unit 542.

도 1, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 테스트부(5)에는 복수개의 테스트유닛(54)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(54)들은 각각 접속유닛(541) 및 측정유닛(542)을 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(54)들은 각각 발광소자를 테스트할 수 있다. 상기 소켓(51)들은 발광소자가 테스트되는 복수개의 테스트위치(5a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(52)에 설치될 수 있다.1 and 13 to 15, a plurality of test units 54 may be installed in the test unit 5. The test units 54 may include a connection unit 541 and a measurement unit 542, respectively. Each of the test units 54 may test a light emitting device. The sockets 51 may be installed in the support member 52 so that the light emitting devices may be simultaneously positioned in a plurality of test positions 5a to be tested.

도 1, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 이송부(6)는 테스트된 발광소자를 상기 언로딩위치(6a)에 위치된 소켓(51)에서 상기 분류부(1)로 이송할 수 있다. 발광소자는 상기 픽커부(4)에 의해 상기 공급부(3)에서 픽업되어 상기 로딩위치(4a)에 위치된 소켓(51)에 안착된다. 발광소자는 상기 테스트위치(5a)로 이동되어 테스트된 후에, 상기 언로딩위치(6a)로 이동되어 상기 이송부(6)에 의해 상기 소켓(51)에서 상기 분류부(1, 도 1에 도시됨)로 이송될 수 있다. 상기 분류부(1)로 이송된 발광소자는 테스트 결과에 따라 등급별로 분류되고, 상기 수납부(2, 도 1에 도시됨)에 등급별로 구분되어 수납될 수 있다. 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 분류부(1), 상기 수납부(2) 및 상기 이송부(6)를 각각 복수개 포함할 수 있다.1 and 13 to 15, the transfer unit 6 may transfer the tested light emitting device from the socket 51 located at the unloading position 6a to the sorting unit 1. The light emitting element is picked up by the picker section 4 from the supply section 3 and seated in a socket 51 located at the loading position 4a. After the light emitting element is moved to the test position 5a and tested, the light emitting element is moved to the unloading position 6a and is shown in the sorting section 1, 1 in the socket 51 by the transfer section 6. Can be transferred. The light emitting devices transferred to the sorting unit 1 may be classified according to the grade according to the test result, and may be classified and stored in the storage unit 2 (shown in FIG. 1). The light emitting device test handler 100 according to the present invention may include a plurality of the classification unit 1, the accommodation unit 2, and the transfer unit 6, respectively.

도 1, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 이송부(6)는 이송유닛(61, 도 13에 도시됨) 및 전달부재(62, 도 13에 도시됨)를 포함할 수 있다.1, 13 to 15, the transfer part 6 may include a transfer unit 61 (shown in FIG. 13) and a transfer member 62 (shown in FIG. 13).

상기 이송유닛(61)은 테스트된 발광소자를 상기 소켓(51)에서 상기 분류부(1)로 이송할 수 있다. 상기 이송유닛(61)에는 유체를 분사하는 유체분사장치(미도시)가 설치될 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 유체분사장치로부터 제공되는 분사력에 의해 상기 언로딩위치(6a)에 위치된 소켓(51)에서 상기 분류부(1)로 이송될 수 있다. 상기 이송유닛(61)에는 유체를 흡입하는 유체흡입장치(미도시)가 설치될 수도 있다. 테스트된 발광소자는 상기 유체흡입장치로부터 제공되는 흡인력에 의해 상기 언로딩위치(6a)에 위치된 소켓(51)에서 상기 분류부(1)로 이송될 수 있다. 상기 이송유닛(61)에는 상기 유체분사장치 및 상기 유체흡입장치가 모두 설치될 수도 있다.The transfer unit 61 may transfer the tested light emitting device from the socket 51 to the sorting unit 1. The transfer unit 61 may be provided with a fluid injection device (not shown) for injecting a fluid. The tested light emitting device can be transferred from the socket 51 located at the unloading position 6a to the sorting unit 1 by the injection force provided from the fluid spraying device. The transfer unit 61 may be provided with a fluid suction device (not shown) for sucking the fluid. The tested light emitting device can be transferred from the socket 51 located at the unloading position 6a to the sorting unit 1 by the suction force provided from the fluid suction device. Both the fluid spray device and the fluid suction device may be installed in the transfer unit 61.

상기 전달부재(62)는 일측이 상기 이송유닛(61)에 결합되고, 타측이 상기 분류기구(11, 도 5에 도시됨)에 결합된다. 상기 전달부재(62)는 상기 반입구(111, 도 5에 도시됨)에 연통되게 연결되도록 상기 분류기구(11)에 결합될 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 전달부재(62)를 지나 상기 분류부(1, 도 5에 도시됨)로 이송될 수 있다. 상기 분류기구(11)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는데 방해되지 않도록 상기 전달부재(62)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 전달부재(62)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.One side of the transfer member 62 is coupled to the transfer unit 61, and the other side thereof is coupled to the sorting mechanism 11 (shown in FIG. 5). The transfer member 62 may be coupled to the sorting mechanism 11 so as to be connected to the inlet 111 (shown in FIG. 5). The tested light emitting device may be transferred to the sorting unit 1 (shown in FIG. 5) through the transfer member 62. A hose may be used as the transfer member 62 so that the classifier 11 is not prevented from moving to classify the tested light emitting devices by grade. For example, a rubber hose, a plastic hose, or a metal hose may be used as the transfer member 62.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and alterations are possible within the scope without departing from the technical spirit of the present invention. It will be apparent to those who have knowledge.

1 : 분류부 2 : 수납부 10 : 발광소자 분류장치 11 : 분류기구
12 : 제1결합기구 13 : 제2결합기구 14 : 이동유닛 15 : 전달기구
16 : 지지프레임 21 : 수납기구 22 : 수납유닛 23 : 수납본체
24 : 연결유닛 100 : 발광소자 테스트 핸들러
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Classification part 2 Storage part 10 Light emitting element sorting apparatus 11 Sorting mechanism
12: first coupling mechanism 13: second coupling mechanism 14: mobile unit 15: transmission mechanism
16 support frame 21 storage mechanism 22 storage unit 23 storage body
24: connection unit 100: light emitting device test handler

Claims (11)

테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구와 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구를 갖는 분류기구;
상기 분류기구가 제1축방향으로 회전 이동 가능하게 결합되는 제1결합기구;
상기 제1결합기구가 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향으로 직선 이동 가능하게 결합되는 제2결합기구; 및
상기 반출구가 향하는 방향을 변경하기 위한 이동유닛을 포함하고,
상기 이동유닛은 상기 분류기구를 상기 제1축방향으로 회전 이동시키는 제1구동기구, 및 상기 제1결합기구를 상기 제2축방향으로 직선 이동시키는 제2구동기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
A sorting mechanism having an inlet for carrying in the tested light emitting device and an outlet for carrying out the tested light emitting device;
A first coupling mechanism to which the sorting mechanism is rotatably coupled in a first axial direction;
A second coupling mechanism to which the first coupling mechanism is linearly coupled in a second axial direction perpendicular to the first axial direction; And
It includes a mobile unit for changing the direction that the outlet exits,
The moving unit includes a first driving mechanism for rotating the sorting mechanism in the first axial direction, and a second driving mechanism for linearly moving the first coupling mechanism in the second axial direction. Device sorting device.
제1항에 있어서,
상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달공이 복수개 형성된 전달기구를 포함하고;
상기 제1구동기구는 상기 반출구가 상기 전달공들 중 어느 하나를 향하도록 상기 분류기구를 상기 제1축방향으로 회전 이동시키고,
상기 제2구동기구는 상기 반출구가 상기 전달공들 중 어느 하나를 향하도록 상기 분류기구를 상기 제2축방향으로 직선 이동시키는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
The method of claim 1,
A transmission mechanism having a plurality of transmission holes through which the light emitting elements carried out from the discharge openings pass;
The first driving mechanism rotates the sorting mechanism in the first axial direction so that the outlet port faces any one of the transfer holes,
And the second driving mechanism moves the sorting mechanism linearly in the second axial direction such that the outlet port faces one of the transfer holes.
제1항에 있어서,
상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달공이 복수개 형성된 전달기구를 포함하고;
상기 전달기구에는 상기 전달공들이 상기 제1축방향과 상기 제2축방향으로 서로 이격되어 격자 형태를 이루며 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
The method of claim 1,
A transmission mechanism having a plurality of transmission holes through which the light emitting elements carried out from the discharge openings pass;
The transmission mechanism has a light emitting device sorting device, characterized in that the transfer hole is formed in a grid form spaced apart from each other in the first axial direction and the second axial direction.
제1항에 있어서,
상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달기구를 포함하고;
상기 전달기구는 상기 반출구가 향하는 방향을 변경하기 위해 상기 분류기구가 이동하기 위한 이동홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
The method of claim 1,
And a delivery mechanism for passing the light emitting element carried out from the discharge port;
And the transfer mechanism includes a movement groove for moving the sorting mechanism to change the direction in which the discharge port is directed.
제1항에 있어서,
상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달기구를 포함하고;
상기 전달기구는 상기 제1축방향으로 곡면을 이루며 형성되고, 상기 제2축방향으로 직선을 이루며 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
The method of claim 1,
And a delivery mechanism for passing the light emitting element carried out from the discharge port;
The transmission mechanism is formed with a curved surface in the first axial direction, characterized in that formed in a straight line in the second axial direction.
제1항에 있어서, 상기 분류기구는 상기 반입구와 상기 반출구 각각에 연통되게 연결되는 이동로를 포함하되, 상기 이동로는 상기 반입구에서 상기 반출구를 향할수록 크기가 감소되게 형성되는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.The method of claim 1, wherein the sorting mechanism includes a moving path connected to each of the inlet and the outlet in communication with each other, wherein the moving path is formed to decrease in size from the inlet toward the outlet. Light emitting device sorting device characterized in that. 제1항에 있어서,
상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달공이 복수개 형성된 전달기구, 및 상기 전달공들을 통과한 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납부를 포함하고;
상기 수납부는 테스트된 발광소자가 수납되는 복수개의 수납기구, 및 상기 전달기구와 상기 수납기구들 사이에 설치되는 복수개의 연결기구를 포함하며;
상기 연결기구들은 각각 일측이 상기 수납기구들 중 어느 하나에 연결되고, 타측이 상기 전달공들 중 어느 하나에 연결된 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
The method of claim 1,
A transmission mechanism having a plurality of transfer holes through which the light emitting elements carried out from the discharge openings pass, and an accommodating portion for accommodating the tested light emitting elements passing through the transfer holes;
The housing portion includes a plurality of storage mechanisms for storing the tested light emitting devices, and a plurality of connection mechanisms disposed between the transmission mechanism and the storage mechanisms;
Each of the connection mechanisms is characterized in that one side is connected to any one of the receiving mechanism, the other side is connected to any one of the transfer hole.
제1항에 있어서,
상기 제2결합기구는 상기 제1결합기구가 상기 제2축방향으로 직선 이동하도록 안내하는 안내기구를 포함하고;
상기 안내기구는 상기 제1결합기구의 일측에 결합되는 제1안내부재, 및 상기 제1결합기구의 타측에 결합되는 제2안내부재를 포함하며;
상기 분류기구는 상기 제1결합기구의 일측과 타측 사이에 위치되게 상기 제1결합기구에 결합된 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
The method of claim 1,
The second coupling mechanism includes a guide mechanism for guiding the first coupling mechanism to linearly move in the second axial direction;
The guide mechanism includes a first guide member coupled to one side of the first coupling mechanism, and a second guide member coupled to the other side of the first coupling mechanism;
And the sorting mechanism is coupled to the first coupling mechanism so as to be located between one side and the other side of the first coupling mechanism.
제1항에 있어서,
상기 제1결합기구에는 상기 분류기구가 삽입되어 상기 제1축방향으로 회전 이동하기 위한 제1이동공이 형성되고,
상기 제2결합기구에는 상기 분류기구가 삽입되어 상기 제2축방향으로 직선 이동하기 위한 제2이동공이 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
The method of claim 1,
The first coupling mechanism is formed with a first moving hole is inserted into the sorting mechanism for rotational movement in the first axial direction,
And a second moving hole for linearly moving in the second axial direction by inserting the sorting mechanism into the second coupling mechanism.
테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부;
테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부;
테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 제1항 내지 제9항 중 어느 하나의 발광소자 분류장치; 및
테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 발광소자 분류장치로 이송하는 이송부를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.
A supply unit for supplying a light emitting device to be tested;
A test unit in which a test unit for testing a light emitting device is installed;
A picker unit transferring the light emitting device to be tested from the supply unit to the test unit;
The light emitting device sorting device according to any one of claims 1 to 9 for classifying the tested light emitting devices according to the test results; And
Light emitting device test handler comprising a transfer unit for transferring the tested light emitting device from the test unit to the light emitting device sorting device.
제10항에 있어서, 상기 테스트부는
발광소자가 안착되는 소켓;
상기 소켓이 복수개 설치되는 지지기구; 및
테스트될 발광소자가 상기 소켓에 로딩되는 로딩위치, 상기 소켓에 안착된 발광소자가 테스트되는 테스트위치, 및 테스트된 발광소자가 상기 소켓으로부터 언로딩되는 언로딩위치에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지기구를 회전시키는 회전유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
The method of claim 10, wherein the test unit
A socket on which the light emitting device is seated;
A support mechanism provided with a plurality of sockets; And
The sockets are sequentially positioned in a loading position where the light emitting element to be tested is loaded into the socket, a test position where the light emitting element seated in the socket is tested, and an unloading position where the tested light emitting element is unloaded from the socket; Light emitting device test handler comprising a rotating unit for rotating the support mechanism.
KR1020110034496A 2011-04-14 2011-04-14 Luminous element sorting apparatus and luminous element test handler KR20120117021A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110034496A KR20120117021A (en) 2011-04-14 2011-04-14 Luminous element sorting apparatus and luminous element test handler

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110034496A KR20120117021A (en) 2011-04-14 2011-04-14 Luminous element sorting apparatus and luminous element test handler

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20120117021A true KR20120117021A (en) 2012-10-24

Family

ID=47285047

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110034496A KR20120117021A (en) 2011-04-14 2011-04-14 Luminous element sorting apparatus and luminous element test handler

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20120117021A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101871648B1 (en) * 2018-01-08 2018-06-27 (주)이즈미디어 Socket unit for testing camera module and tester using the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101871648B1 (en) * 2018-01-08 2018-06-27 (주)이즈미디어 Socket unit for testing camera module and tester using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101020703B1 (en) Luminous element Test Handler and Classify Method for Luminous element
KR100931323B1 (en) Led chip classifying apparatus
KR100955698B1 (en) Luminous element Test Handler
KR101090745B1 (en) Luminous element Containing Apparatus, Luminouw element Sorting Apparatus, and Luminouw element Test Handler
KR100935706B1 (en) Led chip testing apparatus and transmitting unit thereof
KR101305078B1 (en) Apparatus for testing luminous element and luminous element test handler having the same
KR20120115804A (en) Luminous element sorting apparatus and luminous element test handler
KR101055219B1 (en) Light emitting device sorting device and light emitting device test handler
KR20120117021A (en) Luminous element sorting apparatus and luminous element test handler
KR100984513B1 (en) Luminous element Test Handler
TW201543047A (en) Conveying method and apparatus of electronic component inspection sorting
KR101855885B1 (en) Apparatus for sorting electronic parts and probe unit thereof
KR20110048327A (en) Luminous element Transferring Apparatus and Luminouw element Test Handler
US20120249172A1 (en) Alignment system for electronic device testing
KR101020702B1 (en) Luminous element Test Handler
KR101206765B1 (en) Luminous element Test Handler
KR101931200B1 (en) Apparatus for testing and sorting electronic components
KR101102258B1 (en) Luminous element Sorting Apparatus
KR20110051081A (en) Luminous element contacting apparatus and luminouw element sorting apparatus
KR20110051079A (en) Luminous element transferring apparatus and luminouw element test handler
KR20120114547A (en) Luminous element test handler
KR20120111512A (en) Luminous element test handler
KR101070834B1 (en) Led chip testing apparatus and led chip sorting a pparatus
KR102042099B1 (en) Apparatus for testing and sorting electronic components
KR101270299B1 (en) Apparatus of sorting semiconductor package and test handler using the same

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination