KR20120093509A - Wafer polishing apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
실시예는 웨이퍼 연마장치에 관한 것이다.Embodiments relate to a wafer polishing apparatus.
일반적으로, 웨이퍼 제조공정에서는 웨이퍼의 평탄도를 향상시키기 위하여 경면 연마공정을 수행하고 있는데, 이러한 평탄화 기술 중 가장 중요한 기술은 화학적/기계적 연마(CMP : Chemical Mechanical Polishing)이다. 화학적/기계적 연마는 화학적 연마제인 슬러리(slurry)를 연마 패드 등의 연마면 상에 공급하면서 반도체 웨이퍼를 연마면에 접촉시켜 연마를 행하는 것이다.In general, in the wafer manufacturing process, a mirror polishing process is performed to improve the flatness of the wafer. The most important technology of the planarization technique is chemical mechanical polishing (CMP). In chemical / mechanical polishing, a semiconductor wafer is brought into contact with a polishing surface while polishing is performed by supplying a slurry, which is a chemical polishing agent, onto a polishing surface such as a polishing pad.
이러한 폴리싱장치는, 연마 패드로 이루어지는 연마면을 가지는 연마테이블과, 반도체 웨이퍼를 가압하기 위한 가압 헤드를 구비하고 있다. 이와 같은 폴리싱 장치를 사용하여 반도체 웨이퍼를 연마하는 경우에는 가압 헤드에 의하여 반도체 웨이퍼를 가압하면서 반도체 웨이퍼를 연마테이블의 연마 패드와 접촉되도록 소정의 압력으로 가압한다. 이때, 연마테이블과 가압 헤드를 상대 운동시킴으로써 반도체 웨이퍼가 연마면에 접촉하여 반도체 웨이퍼의 표면이 평탄화되어 경면으로 연마된다.This polishing apparatus includes a polishing table having a polishing surface made of a polishing pad, and a pressing head for pressing the semiconductor wafer. In the case of polishing a semiconductor wafer using such a polishing apparatus, the semiconductor wafer is pressed to a predetermined pressure so as to contact the polishing pad of the polishing table while pressing the semiconductor wafer by the pressing head. At this time, the semiconductor wafer is brought into contact with the polishing surface by the relative movement of the polishing table and the pressure head, and the surface of the semiconductor wafer is flattened and polished to the mirror surface.
실시예는 웨이퍼의 이탈에 따른 웨이퍼의 파손을 방지하는 웨이퍼 연마장치를 제공하고자 한다.Embodiments provide a wafer polishing apparatus that prevents wafer breakage due to detachment of a wafer.
실시예에 따른 웨이퍼 연마장치는 헤드 몸체; 상기 헤드 몸체에 결합되는 러버척; 상기 러버척에 부착되고, 웨이퍼를 수용하는 템플레이트 어셈블리; 및 상기 러버척 또는 상기 헤드 몸체에 체결되고 상기 템플레이트 어셈블리를 지지하는 결합 보강 부재를 포함한다.Wafer polishing apparatus according to the embodiment includes a head body; A rubber chuck coupled to the head body; A template assembly attached to the rubber chuck and containing a wafer; And a coupling reinforcing member fastened to the rubber chuck or the head body and supporting the template assembly.
실시예에 따른 웨이퍼 연마장치는 결합 보강 부재를 포함한다. 상기 결합 보강 부재는 템플레이트 어셈블리를 지지하고, 상기 헤드 몸체 또는 상기 러버척에 결합될 수 있다.The wafer polishing apparatus according to the embodiment includes a bond reinforcing member. The coupling reinforcing member may support a template assembly and be coupled to the head body or the rubber chuck.
이에 따라서, 실시예에 따른 웨이퍼 연마장치는 결합 보강 부재를 사용하여, 템플레이트 어셈블리를 러버척 또는 헤드 몸체에 견고하게 결합시킬 수 있다.Accordingly, the wafer polishing apparatus according to the embodiment can firmly couple the template assembly to the rubber chuck or the head body by using a bond reinforcing member.
특히, 상기 결합 보강 부재는 탄성을 가질 수 있고, 상기 템플레이트 어셈블리 및 상기 러버척을 잡는 형태로 서로 결합시킬 수 있다.In particular, the coupling reinforcing member may have elasticity, and may be coupled to each other in a form of holding the template assembly and the rubber chuck.
도 1은 실시예에 따른 화학적 기계적 연마 장치의 가압 헤드의 일 단면을 도시한 단면도이다.
도 2는 가압 헤드의 템플레이트 어셈블리를 도시한 사시도이다.
도 3은 도 2에서 A-A`를 따라서 절단한 단면을 도시한 단면도이다.
도 4는 결합 보강 부재를 도시한 사시도이다.
도 5는 결합 보강 부재를 도시한 측면도이다.1 is a cross-sectional view showing one cross section of a pressure head of a chemical mechanical polishing apparatus according to an embodiment.
2 is a perspective view illustrating a template assembly of the pressurizing head.
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 2.
4 is a perspective view of the coupling reinforcing member.
5 is a side view illustrating the bond reinforcing member.
실시 예의 설명에 있어서, 각 패드, 플레이트, 웨이퍼 또는 영역 등이 각 패드, 플레이트, 웨이퍼 또는 영역 등의 "상(on)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상(on)"과 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 구성요소를 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 구성요소의 상 또는 하부에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다. 도면에서의 각 구성요소들의 크기는 설명을 위하여 과장될 수 있으며, 실제로 적용되는 크기를 의미하는 것은 아니다.In the description of the embodiment, in the case where each pad, plate, wafer, or region is described as being formed "on" or "under" of each pad, plate, wafer, or region, "On" and "under" include both being formed "directly" or "indirectly" through other components. In addition, the upper or lower reference of each component is described with reference to the drawings. The size of each component in the drawings may be exaggerated for the sake of explanation and does not mean the size actually applied.
도 1은 실시예에 따른 화학적 기계적 연마(chemical mechanical polishing;CMP) 장치의 가압 헤드의 일 단면을 도시한 단면도이다. 도 2는 가압 헤드의 템플레이트 어셈블리를 도시한 사시도이다. 도 3은 도 2에서 A-A`를 따라서 절단한 단면을 도시한 단면도이다. 도 4는 결합 보강 부재를 도시한 사시도이다. 도 5는 결합 보강 부재를 도시한 측면도이다.1 is a cross-sectional view showing one cross section of a pressure head of a chemical mechanical polishing (CMP) apparatus according to an embodiment. 2 is a perspective view illustrating a template assembly of the pressurizing head. FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line A-A 'of FIG. 2. 4 is a perspective view of the coupling reinforcing member. 5 is a side view illustrating the bond reinforcing member.
도 1 내지 도 5를 참조하면, 실시예에 따른 CMP 장치의 가압 헤드(10)는 헤드 몸체(100), 백플레이트(200), 러버척(300), 템플레이트 어셈블리(400) 및 다수 개의 결합 보강 부재들(500)을 포함한다.1 to 5, the pressurized
상기 헤드 몸체(100)는 상기 압축 공기가 유입될 수 있는 유입구(110)가 형성된다. 즉, 상기 유입구(110)를 통하여, 상기 헤드 몸체(100) 내로 압축 공기가 유입될 수 있다. 상기 유입구(110)는 상기 헤드 몸체(100) 내의 공기를 흡입하는 흡입구일 수 있다.The
즉, 상기 유입구(110)를 통하여, 상기 헤드 몸체(100) 내의 압력, 더 자세하게, 상기 헤드 몸체(100) 및 상기 백플레이트(200) 사이의 압력이 증가되거나, 감소될 수 있다.That is, through the
상기 헤드 몸체(100)는 세라믹 또는 스테인레스 스틸 등으로 이루어질 수 있다. 상기 헤드 몸체(100)는 실시예에 따는 CMP 장차에 회전 및 승강이 가능하도록 설치될 수 있다.The
상기 백플레이트(200)는 상기 헤드 몸체(100)에 설치된다. 더 자세하게, 상기 백플레이트(200)는 상기 헤드 몸체(100)의 중앙 하단에 설치될 수 있다. 상기 백플레이트(200)는 상기 헤드 몸체(100)에 볼트 등에 의해서 고정될 수 있다.The
또한, 상기 백플레이트(200) 및 상기 헤드 몸체(100) 사이에 압축 공기가 유입될 수 있는 제 1 공간(101)이 형성된다. 상기 유입구(110)를 통하여, 상기 제 1 공간(101)으로 압축 공기가 유입되거나, 상기 제 1 공간(101)으로부터 상기 유입구(110)를 통하여 공기가 빠져나갈 수 있다.In addition, a
상기 백플레이트(200)는 중앙부(210) 및 에지부(220)를 포함한다.The
상기 중앙부(210)는 상기 백플레이트(200)의 중앙 부분에 정의된다. 상기 중앙부(210)는 상기 에지부(220)보다 더 두꺼울 수 있다. 상기 중앙부(210)는 원형 플레이트 형상을 가질 수 있다.The
상기 에지부(220)는 상기 중앙부(210)와 일체로 형성될 수 있다. 상기 에지부(220)는 상기 중앙부(210)를 둘러싼다. 상기 에지부(220)는 평면에서 보았을 때, 폐루프 형상을 가질 수 있다. 상기 에지부(220)는 상기 중앙부(210)보다 더 얇을 수 있다.The
상기 백플레이트(200)에는 제 1 유로(211)가 형성된다. 상기 제 1 유로(211)는 상기 중앙부(210)에 형성된다. 더 자세하게, 상기 제 1 유로(211)는 상기 중앙부(210)를 관통하는 관통홀이다. 상기 제 1 유로(211)는 상기 제 1 공간(101) 및 상기 백플레이트(200) 및 상기 러버척(300) 사이의 제 2 공간(301)을 연결시킨다. 상기 제 1 유로(211)는 상기 중앙부(210)의 한가운데 형성될 수 있다.A
상기 러버척(300)은 상기 백플레이트(200) 아래에 배치된다. 또한, 상기 러버척(300)은 상기 백플레이트(200)의 외주면을 둘러싼다. 상기 러버척(300)은 멤브레인(310) 및 러버 가이드링(320)을 포함한다.The
상기 멤브레인(310)은 상기 백플레이트(200) 아래에 배치된다. 상기 멤브레인(310)은 상기 제 1 유로(211) 및 상기 제 2 유로들(221)을 통하여 유입되는 압축 공기에 의한 압력을 상기 템플레이트 어셈블리(400)에 전달한다.The
상기 멤브레인(310)은 탄성을 가지고, 상기 백플레이트(200)에 비하여 매우 얇은 두께를 가질 수 있다. 상기 멤브레인(310)은 상기 제 1 유로(211)를 통하여 유입되는 압축 공기에 의해서 하방으로 팽창된다. 이에 따라서, 상기 템플레이트 어셈블리(400)는 웨이퍼에 압력을 가할 수 있다.The
또한, 상기 제 1 공간(101)의 압력이 낮아짐에 따라서, 상기 멤브레인(310)은 상방으로 팽창될 수 있다. 이에 따라서, 상기 템플레이트 어셈블리(400)는 상기 웨이퍼를 흡착할 수 있다.In addition, as the pressure of the
상기 러버 가이드링(320)은 상기 헤드 몸체(100)에 체결된다. 또한, 상기 러버 가이드링(320)은 상기 멤브레인(310)을 지지할 수 있다. 상기 러버 가이드링(320)은 상기 멤브레인(310)을 지지하는 틀이다. 상기 러버 가이드링(320)은 스테인레스 스틸로 이루어질 수 있다. The
상기 템플레이트 어셈블리(400)는 상기 멤브레인(310) 아래에 배치된다. 상기 템플레이트 어셈블리(400)는 상기 웨이퍼를 수용한다. 상기 템플레이트 어셈블리(400)는 상기 웨이퍼를 흡착하고, 상기 웨이퍼를 가압한다.The
상기 템플레이트 어셈블리(400)는 상기 멤브레인(310)에 접착될 수 있다. 도 2 및 도 3을 참조하면, 상기 템플레이트 어셈블리(400)는 템플레이트(410) 및 가이드 부재(420)를 포함한다.The
상기 템플레이트(410)는 상기 멤브레인(310) 아래에 배치된다. 상기 템플레이트(410)는 상기 멤브레인(310)과 직접 접촉될 수 있다. 상기 템플레이트(410)는 상기 웨이퍼의 상면에 접촉하여, 상기 웨이퍼의 상면에 직접 압력을 가할 수 있다.The
상기 템플레이트(410)는 상기 웨이퍼를 흡착할 수 있는 넌-슬립 패드의 일종으로, 폴리우레탄으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 템플레이트(410)는 자체에 형성된 기공을 통하여, 상기 웨이퍼를 흡착할 수 있다.The
상기 가이드 부재(420)는 상기 템플레이트(410)에 접착된다. 또한, 상기 가이드 부재(420)는 상기 웨이퍼를 둘러싼다. 즉, 상기 가이드 부재(420)는 상기 웨이퍼의 외곽을 가이드한다. 상기 가이드 부재(420)는 상기 웨이퍼보다 더 큰 두께를 가질 수 있다. 상기 가이드 부재(420)는 에폭시 글라스 등으로 형성될 수 있다.The
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 가이드 부재(420)에는 하나 이상의 안착 홈들(421)이 형성된다. 상기 안착 홈들(421)은 상기 가이드 부재(420)를 관통하지 않는다. 즉, 상기 안착 홈들(421)은 상기 템플레이트(410)의 상면을 노출시키지 않고, 상기 가이드 부재(420)의 두께보다 작은 소정의 깊이(D)로 형성될 수 있다.2 and 3, one or more mounting
예를 들어, 상기 안착 홈(421)의 깊이(D)는 상기 가이드 부재(420)의 두께보다 작으면서, 상기 가이드 부재(420)의 두께는 약 950㎛ 내지 약 800㎛이고, 상기 안착 홈(421)의 깊이(D)는 약 750㎛ 내지 약 900㎛일 수 있다. 더 자세하게, 상기 가이드 부재(420)의 두께는 약 850㎛일 수 있고, 상기 안착 홈의 깊이(D)는 약 800㎛일 수 있다.For example, the depth D of the mounting
상기 안착 홈들(421)은 서로 일정한 간격으로 이격될 수 있다. 즉, 상기 안착 홈들(421) 사이의 간격은 서로 대응될 수 있다. 또한, 상기 안착 홈들(421)의 개수는 상기 템플레이트 어셈블리(400)의 크기 등을 고려하여 다양하게 달라질 수 있다. 예를 들어, 상기 안착 홈들(421)의 개수는 3개 내지 6개 일 수 있다.The
더 자세하게, 상기 웨이퍼의 직경이 약 300㎜이고, 상기 템플레이트 어셈블리(400)가 상기 웨이퍼의 직경에 맞도록 제작되는 경우, 상기 안착 홈들(421)의 개수는 4개일 수 있다.In more detail, when the diameter of the wafer is about 300 mm and the
상기 웨이퍼의 직경이 약 450㎜이고, 상기 템플레이트 어셈블리(400)가 상기 웨이퍼의 직경에 맞도록 제작되는 경우, 상기 안착 홈들(421)의 개수는 약 6개일 수 있다.When the diameter of the wafer is about 450 mm and the
이때, 상기 결합 보강 부재들(500)의 개수는 상기 안착 홈들(421)의 개수와 실질적으로 동일할 수 있다.In this case, the number of the
상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 템플레이트 어셈블리(400)를 지지한다. 상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 러버척(300) 또는 상기 헤드 몸체(100)에 체결된다. 더 자세하게, 상기 결합 보강 부재들(500)은 볼트(600) 등에 의해서, 상기 러버척(300) 또는 상기 헤드 몸체(100)에 체결된다.The
도면에서는 상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 러버 가이드링(320)에 체결되는 것으로 기재되어 있으나, 이에 한정되지 않고, 상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 헤드 몸체(100)에도 볼트 등에 의해서 체결될 수 있다.Although the
또한, 상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 안착 홈들(421)에 각각 배치된다. 즉, 각각의 결합 보강 부재(500)의 일부가 각각의 안착 홈(421)에 안착되고, 상기 템플레이트 어셈블리(400)를 지지한다.In addition, the
또한, 상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 러버척(300)의 측면 및 상기 템플레이트 어셈블리(400)의 측면으로 연장되고, 상기 러버척(300) 및 상기 헤드 몸체(100) 사이까지 연장된다.In addition, the
도 4 및 도 5를 참조하면, 상기 결합 보강 부재(500)는 지지부(510), 연장부(520) 및 체결부(530)를 포함한다.4 and 5, the
상기 지지부(510)는 상기 안착 홈에 배치된다. 상기 지지부(510)는 상기 안착 홈(421)에 안착되어, 상기 템플레이트 어셈블리(400)를 지지한다. 상기 지지부(510)의 두께(T)는 상기 안착 홈(421)의 깊이(D)보다 더 작거나 같을 수 있다. 더 자세하게, 상기 지지부(510)의 두께(T)는 상기 안착 홈(421)의 깊이(D)에 대응될 수 있다.The
예를 들어, 상기 결합 보강 부재(500)의 두께(T), 즉, 상기 지지부(510)의 두께(T)는 약 900㎛이하일 수 있다. 더 자세하게, 상기 지지부(510)의 두께(T)는 약 500㎛ 내지 약 900㎛일 수 있다.For example, the thickness T of the
상기 연장부(520)는 상기 지지부(510)로부터 상방으로 연장된다. 상기 연장부(520)는 상기 지지부(510)로부터 상기 러버척(300)의 측면 및 상기 템플레이트 어셈블리(400)의 측면에 연장된다. 즉, 상기 연장부(520)는 상기 러버척(300) 및 상기 템플레이트 어셈블리(400)의 일 측에 배치된다.The
상기 체결부(530)는 상기 연장부(520)로부터 측방으로 연장된다. 상기 체결부(530)는 상기 연장부(520)로부터 상기 헤드 몸체(100) 및 상기 러버척(300) 사이에 연장된다. 즉, 상기 체결부(530)는 상기 러버척(300) 상에 배치된다.The
상기 체결부(530)에는 상기 볼트(600)가 관통되기 위한 체결 홈(531)이 형성된다. 즉, 상기 볼트(600)는 상기 체결 홈(531)을 관통하여, 상기 러버척(300) 또는 상기 헤드 몸체(100)에 체결된다. 상기 볼트(600)에 의해서, 상기 결합 보강 부재(500)는 상기 헤드 몸체(100) 또는 상기 러버척(300)에 견고하게 고정될 수 있다.A
상기 지지부(510), 상기 연장부(520) 및 상기 체결부(530)는 일체로 형성될 수 있다. 또한, 상기 지지부(510) 및 상기 연장부(520) 사이의 각도(θ1)는 약 89° 내지 약 91°이고, 상기 연장부(520) 및 상기 체결부(530) 사이의 각도(θ2)는 약 84° 내지 약 86°일 수 있다.The
더 자세하게, 상기 지지부(510) 및 상기 연장부(520) 사이의 각도(θ1)는 약 90°이고, 상기 연장부(520) 및 상기 체결부(530) 사이의 각도(θ2)는 약 85°일 수 있다.More specifically, the angle θ1 between the
상기 결합 보강 부재들(500)로 사용되는 물질의 예로서는 스테인레스 스틸 등과 같은 금속 등을 들 수 있다. 이에 따라서, 상기 결합 보강 부재들(500)은 자체적으로 탄성을 가질 수 있다.Examples of the material used as the
상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 러버척(300)에 상기 템플레이트 어셈블리(400)를 견고하게 결합시킬 수 있다. 즉, 상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 템플레이트 어셈블리(400)를 지지하고, 상기 러버척(300) 또는 상기 헤드 몸체(100)에 체결되어, 상기 템플레이트 어셈블리(400)의 이탈을 방지할 수 있다.The
즉, 상기 결합 보강 부재들(500)은 상기 러버척(300) 및 상기 템플레이트 어셈블리(400)를 꽉 잡는 형태로, 상기 템플레이트 어셈블리(400)의 탈착 및 이탈을 방지할 수 있다.That is, the
특히, 상기 결합 보강 부재들(500) 탄성을 가지고, 상기 체결부(530)는 상기 연장부(520)에 대하여 90°보다 더 많이 구브러지므로, 상기 템플레이트 어셈블리(400)를 상기 러버척(300)에 견고하게 결합시킬 수 있다.In particular, since the
또한, 이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.In addition, the features, structures, effects and the like described in the embodiments are included in at least one embodiment of the present invention, and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments may be combined or modified with respect to other embodiments by those skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.
이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, It will be understood that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments can be modified and implemented. It is to be understood that all changes and modifications that come within the meaning and range of equivalency of the claims are therefore intended to be embraced therein.
Claims (8)
상기 헤드 몸체에 결합되는 러버척;
상기 러버척에 부착되고, 웨이퍼를 수용하는 템플레이트 어셈블리; 및
상기 러버척 또는 상기 헤드 몸체에 체결되고 상기 템플레이트 어셈블리를 지지하는 결합 보강 부재를 포함하는 웨이퍼 연마 장치.Head body;
A rubber chuck coupled to the head body;
A template assembly attached to the rubber chuck and containing a wafer; And
And a bond reinforcing member fastened to the rubber chuck or the head body and supporting the template assembly.
상기 결합 보강 부재에는 상기 볼트가 관통하기 위한 체결 홈이 형성되는 웨이퍼 연마 장치.The method of claim 1, wherein the coupling reinforcing member is fastened to the rubber chuck or the head body by a bolt,
And a coupling groove for penetrating the bolt is formed in the coupling reinforcing member.
상기 러버척에 부착되는 템플레이트; 및
상기 템플레이트에 부착되고, 상기 웨이퍼의 주위를 따라서 연장되는 가이드 부재를 포함하고,
상기 가이드 부재에는 상기 결합 보강 부재의 일부가 배치되기 위한 안착 홈이 형성되는 웨이퍼 연마 장치.The method of claim 1, wherein the template assembly
A template attached to the rubber chuck; And
A guide member attached to the template and extending along the periphery of the wafer,
And a seating groove is formed in the guide member so that a part of the coupling reinforcing member is disposed.
상기 안착 홈의 깊이는 상기 가이드 부재의 두께보다 작은 웨이퍼 연마장치.The method of claim 3, wherein
And a depth of the seating groove is smaller than a thickness of the guide member.
상기 템플레이트 어셈블리를 지지하는 지지부;
상기 지지부로부터 연장되고, 상기 템플레이트 어셈블리 및 상기 러버척의 일측에 배치되는 연장부; 및
상기 연장부로부터 연장되고, 상기 러버척 상에 배치되는 체결부를 포함하는 웨이퍼 연마장치.The method of claim 1, wherein the coupling reinforcing member
A support for supporting the template assembly;
An extension part extending from the support part and disposed at one side of the template assembly and the rubber chuck; And
And a fastening portion extending from the extension portion and disposed on the rubber chuck.
상기 결합 보강 부재는 금속을 포함하는 웨이퍼 연마장치.The method of claim 6, wherein the support portion, the extension portion and the fastening portion are integrally formed,
And the bond reinforcing member comprises a metal.
상기 연장부 및 상기 체결부 사이의 각도는 84° 내지 86°인 웨이퍼 연마장치.The method of claim 6, wherein the angle between the support and the extension is 89 ° to 91 °,
Wafer polishing apparatus of the angle between the extension portion and the fastening portion 84 ° to 86 °.
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KR1020110013115A KR101201571B1 (en) | 2011-02-15 | 2011-02-15 | Wafer polishing apparatus |
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